JP2007300085A - Light source, light source control method and light source replacement method - Google Patents
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Abstract
【課題】交換作業を容易かつ短時間で実現可能な、レーザダイオードを複数備えて構成される光源、この光源の全体の発光出力を制御する光源制御方法、および、この光源において複数のレーザダイオードのうちのいずれかを交換する光源交換方法を実現する。
【解決手段】レーザダイオードLDを複数備える光源1は、レーザダイオードLDと当該レーザダイオードLDの発光出力を制御する専用の制御ボード47とからなる組毎に生成された校正データであって、制御ボード47を駆動させるための制御値とこの制御値に基づいて制御ボード47が駆動したときのレーザダイオードLDの発光出力の測定値との対応関係が規定された校正データ、に基づいて光源1全体の発光出力が制御され、この光源1内のレーザダイオードLDのうちのいずれかを交換する際は、レーザダイオードLDとこれに対応する制御ボード47とこれに対応する校正データとを一組として交換する。
【選択図】図1A light source comprising a plurality of laser diodes that can be easily and quickly replaced, a light source control method for controlling the overall light emission output of the light source, and a plurality of laser diodes in the light source. A light source replacement method for replacing one of them is realized.
A light source 1 having a plurality of laser diodes LD is calibration data generated for each set of a laser diode LD and a dedicated control board 47 for controlling the light emission output of the laser diode LD, The calibration of the light source 1 as a whole is based on calibration data that defines the correspondence between the control value for driving 47 and the measured value of the light emission output of the laser diode LD when the control board 47 is driven based on this control value. When the light emission output is controlled and one of the laser diodes LD in the light source 1 is replaced, the laser diode LD, the control board 47 corresponding thereto, and the calibration data corresponding thereto are exchanged as a set. .
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、レーザダイオードを複数備えて構成される光源、この光源の全体の発光出力を制御する光源制御方法、および、この光源において複数のレーザダイオードのうちのいずれかを交換する光源交換方法に関し、特に、直接露光装置において用いられる光源、この光源の全体の発光出力を制御する光源制御方法、および、この光源において複数のレーザダイオードのうちのいずれかを交換する光源交換方法に関する。 The present invention relates to a light source including a plurality of laser diodes, a light source control method for controlling the overall light emission output of the light source, and a light source replacement method for replacing any of the plurality of laser diodes in the light source. In particular, the present invention relates to a light source used in a direct exposure apparatus, a light source control method for controlling the overall light emission output of the light source, and a light source replacement method for replacing any of a plurality of laser diodes in the light source.
レーザダイオード(LD)を有する半導体レーザ光源は、その内部に、レーザダイオードの発光強度を制御するための、レーザダイオードの発する光を受光するフォトダイオード(PD)を有する。このような半導体レーザ光源の構成を容易にするため、例えば、レーザダイオードとフォトダイオードとが互いに近接して配置されたモジュール構造の形を有するものがある(例えば、特許文献1)。 A semiconductor laser light source having a laser diode (LD) has a photodiode (PD) that receives light emitted from the laser diode for controlling the light emission intensity of the laser diode. In order to facilitate the configuration of such a semiconductor laser light source, for example, there is one having a module structure in which a laser diode and a photodiode are arranged close to each other (for example, Patent Document 1).
半導体レーザ光源を駆動するための制御ボード(制御回路)では、フォトダイオードによるレーザダイオードの発光強度の検知結果を用いて負帰還制御を実現し、レーザダイオードの発光強度を一定に保つ。このような負帰還制御を実行する制御ボードは、一般にAPC(Automatic Power Control)回路と呼ばれる。なお、モジュール化されていない単体のレーザダイオードの場合では、当該レーザダイオードに近接する位置にフォトダイオードを設置して負帰還回路を構成する必要がある。 In the control board (control circuit) for driving the semiconductor laser light source, negative feedback control is realized by using the detection result of the emission intensity of the laser diode by the photodiode, and the emission intensity of the laser diode is kept constant. A control board that performs such negative feedback control is generally called an APC (Automatic Power Control) circuit. In the case of a single laser diode that is not modularized, it is necessary to configure a negative feedback circuit by installing a photodiode at a position close to the laser diode.
図8は、半導体レーザを駆動するための制御ボードの一従来例を示す図である。以降、異なる図面において同じ参照符号が付されたものは同じ機能を有する構成要素であることを意味するものとする。 FIG. 8 is a diagram showing a conventional example of a control board for driving a semiconductor laser. Hereinafter, components having the same reference numerals in different drawings mean components having the same functions.
図8に示すモジュール20内にはレーザダイオードLDとフォトダイオードPDとが近接して配置されており、レーザダイオードLDとフォトダイオードPDとは、光学的に結合される。レーザダイオードLDは、電流源26から供給される電流ILDによって発光する。フォトダイオードPDは、レーザダイオードLDが発する光を受光し、レーザダイオードLDの発光出力に比例した電流IPDを出力する。電流増幅器23は、フォトダイオードPDからの出力電流IPDを増幅するが、電流から電圧に変換する機能も有するものでもあり、入力されたフォトダイオードPDの出力電流IPDを電圧に変換して出力する。電流増幅器23は極めて小さな入力インピーダンスを有していることから、電流増幅器23の出力電圧は、レーザダイオードLDの発光出力に対して、広い範囲にわたって線形に変化する。誤差増幅器24は電流増幅器23の出力電圧と制御電圧設定器25によって設定された基準電圧Vref1とを比較する。誤差増幅器24の出力を用いて電流源26の電流ILDを制御する。
In the
図8に示す半導体レーザを駆動するための制御ボードにおいて、例えば、レーザダイオードLDの発光出力が増加する場合の一連の負帰還制御は次のとおりである。レーザダイオードLDの発光出力が増加すると、フォトダイオードPDの出力電流IPDは増加し、電流増幅器23の出力電圧が増加する。すると、誤差増幅器24の出力が減少するので、電流源26の電流ILDが減少し、その結果、レーザダイオードLDの発光出力が減少する。以上の制御により、レーザダイオードLDの発光出力が基準電圧Vrefに対応した一定値になるように制御される。
In the control board for driving the semiconductor laser shown in FIG. 8, for example, a series of negative feedback control when the light emission output of the laser diode LD increases is as follows. When the light emission output of the laser diode LD increases, the output current I PD of the photodiode PD increases and the output voltage of the
このようなレーザダイオード(半導体レーザ)を複数備えて構成される光源がある(例えば、非特許文献1参照)。図9は、レーザダイオードを複数備えて構成される光源の一従来例を示す図である。図示の例では、フォトダイオードおよびレーザダイオード(ともに図示せず)を含むモジュール20をn個(ただし、nは自然数)備える。各モジュール20はコネクタ12を介して光ファイバ13に接続される。各光ファイバ13の他の一端にはコネクタ14が接続される。各モジュール20内のレーザダイオードから発せられた光は光ファイバ13を介してコネクタ14において収束される。一般的なレーザダイオードの発光出力は数百ミリワット程度であるが、複数のレーザダイオードを用いて上記のように構成された光源では例えば数ワット以上の発光出力を得ることができる。各モジュール20内のレーザダイオードの発光出力は、制御ボード10によって上記のように負帰還制御される。
There is a light source that includes a plurality of such laser diodes (semiconductor lasers) (for example, see Non-Patent Document 1). FIG. 9 is a diagram showing a conventional example of a light source configured with a plurality of laser diodes. In the illustrated example, n modules 20 (where n is a natural number) including photodiodes and laser diodes (both not shown) are provided. Each
図10は、図9に示す光源を駆動するための制御ボードの一従来例を示す図である。動作原理は上述した図8に示す制御ボードと同じである。図示の例では、レーザダイオードLDおよびフォトダイオードPDを含むモジュール20をn個備える。各モジュール20内のフォトダイオードPDの出力電流IPDは合算されて電流増幅器23に入力される。また、誤差増幅器24の出力はn本に分岐され、各モジュール20内のレーザダイオードLDへ電流ILDを供給するための電流源26−1、26−nへそれぞれ接続される。このように複数のレーザダイオードで光源を構成する場合は、各モジュール20内のフォトダイオードPDの出力電流IPDの合算値を用いて、光源の発光出力を一定に保つように制御する。すなわち、各モジュール20内のフォトダイオードPDの出力電流IPDの合算値が増加した場合は、電流源26−1、26−nが供給する各モジュール20内のレーザダイオードLDへ電流ILDは減少し、各モジュール20内のフォトダイオードPDの出力電流IPDの合算値が減少した場合は、電流源26−1、26−nが供給する各モジュール20内のレーザダイオードLDへ電流ILDは増加することで、光源全体の発光出力が、所望の一定値を保つように制御される。
FIG. 10 is a diagram showing a conventional example of a control board for driving the light source shown in FIG. The operation principle is the same as that of the control board shown in FIG. In the illustrated example,
上述のような光源は、例えば、相対移動する露光対象物の露光面上に直接露光により所望の露光パターンを形成する直接露光装置(すなわちマスクレス露光装置)において、前記露光面上を露光するための光を発生するのに用いられる。直接露光装置では、露光処理のために、強力な発光出力(例えば数ワット以上)を有する光源が必要である。 The light source as described above is used, for example, to expose the exposure surface in a direct exposure apparatus (that is, a maskless exposure apparatus) that forms a desired exposure pattern by direct exposure on an exposure surface of an exposure object that is relatively moved. Used to generate light. In the direct exposure apparatus, a light source having a strong light emission output (for example, several watts or more) is necessary for the exposure process.
直接露光装置として、例えばディジタルマイクロミラーデバイス(DMD)を用いて露光パターンを直接露光処理により形成する装置がある(例えば、特許文献2参照)。図11は、ディジタルマイクロミラーデバイスを用いた直接露光装置の一従来例を例示する図である。ディジタルマイクロミラーデバイス(DMD)151に対して相対移動する露光対象基板103上に形成したレジストを直接露光するにあたり、露光すべきパターンに対応したパターンデータがパターン生成器152で生成され、このパターンデータはDMD151に入力される。パターン生成器152は、相対移動する露光対象基板103の位置を検出する位置センサ153と連動しており、露光対象基板103の位置に同期してパターンデータを生成することになる。光源102は、拡散板154、レンズ155を介してDMD151に光を照射する。DMD151は、その複数の各マイクロミラーをパターンデータに応じて傾動させることにより、DMD151中の各マイクロミラーに入射した光が反射する方向を適宜変え、この光を露光対象基板103上のレジストにレンズ156を介して照射してパターンデータに対応した露光パターンを形成する。
As a direct exposure apparatus, there is an apparatus that forms an exposure pattern by direct exposure processing using, for example, a digital micromirror device (DMD) (see, for example, Patent Document 2). FIG. 11 is a diagram illustrating a conventional example of a direct exposure apparatus using a digital micromirror device. When the resist formed on the
このような直接露光装置においては、露光対象基板に光を照射する光源は、良好な露光効果を得るため、露光対象基板面上に照射する光をムラのない均一なものにする必要がある。 In such a direct exposure apparatus, a light source that irradiates light on an exposure target substrate needs to have uniform and uniform light irradiated on the exposure target substrate surface in order to obtain a good exposure effect.
図12は、直接露光装置において用いられる光源の一従来例を示す図である。直接露光装置に用いられる光源102は、均一な照射光を得るために点光源158を複数配列して面状に構成される。各点光源158からの平行光線を拡散板154に通して「照度のムラ」を除去した上で、図11におけるDMD151に照射する。
FIG. 12 is a diagram showing a conventional example of a light source used in a direct exposure apparatus. The
図10に示すように、レーザダイオードを複数備えて構成される光源を駆動するための制御ボードを、n個のモジュール20内のフォトダイオードPDの出力電流IPDの合算値に基づいて、光源の発光出力を一定に保つように制御する場合、すべてのレーザダイオードLDが正常に動作しているときは特に問題は生じない。しかし、仮にm個(ただし、mは自然数、かつ1≦m<n)のレーザダイオードLDが故障したとすると光源全体の発光出力は極端に減少する。レーザダイオードLDの故障の有無にかかわらず、制御ボードは、依然として光源全体の発光出力が所望の一定値を保つように制御し続ける。この結果、正常な「n−m」個のレーザダイオードLDだけで光源全体としての発光出力を一定に保つように動作することとなり、正常なレーザダイオードLDに対する負担は増大する。この負担の増大は、正常なレーザダイオードLDの寿命劣化もしくは故障に連鎖する。結果として、より多くのレーザダイオードLDを交換しなければならない事態に陥ることになり得る。例えば直接露光装置の稼働中にこのような状態が生じた場合は、故障の特定や交換作業のために露光処理ラインが長期間にわたって停止することになり、経済的損失が非常に大きい。
As shown in FIG. 10, a control board for driving a light source comprising a plurality of laser diodes is arranged on the basis of the sum of output currents I PD of the photodiodes PD in the
また、レーザダイオードLDの故障が発生していても、光源全体としての発光出力は所望の一定値が得られているので、そもそもレーザダイオードLDの故障の発生に気づきにくい。また、仮に故障に気づいたとしても故障したレーザダイオードLDの特定も困難であり、場合によっては、故障したレーザダイオードLDを特定できず、光源全体を交換しなければならなくなる。 Even if a failure of the laser diode LD occurs, the light emission output of the entire light source has a desired constant value, so that it is difficult to notice the failure of the laser diode LD in the first place. Also, even if a failure is noticed, it is difficult to identify the failed laser diode LD. In some cases, the failed laser diode LD cannot be identified, and the entire light source must be replaced.
従って本発明の目的は、上記問題に鑑み、交換作業を容易かつ短時間で実現可能な、レーザダイオードを複数備えて構成される光源、この光源の全体の発光出力を制御する光源制御方法、および、この光源において複数のレーザダイオードのうちのいずれかを交換する光源交換方法を提供することにある。 Therefore, in view of the above problems, an object of the present invention is to provide a light source comprising a plurality of laser diodes that can be easily and quickly replaced, a light source control method for controlling the overall light emission output of this light source, and An object of the present invention is to provide a light source replacement method for replacing any of a plurality of laser diodes in this light source.
上記目的を実現するために、本発明においては、レーザダイオードを複数備えて構成される光源は、レーザダイオードと当該レーザダイオードの発光出力を制御する当該レーザダイオード専用の制御ボードとからなる組ごとに予め生成された校正データであって、制御ボードを駆動させるための制御値と、この制御値に基づいて制御ボードが駆動したときにおけるレーザダイオードの実際の発光出力の測定値と、の対応関係が規定された校正データ、に基づいて光源全体の発光出力が制御される光源である。 In order to achieve the above object, in the present invention, a light source configured with a plurality of laser diodes is provided for each set of a laser diode and a control board dedicated to the laser diode for controlling the light emission output of the laser diode. Calibration data generated in advance, and the correspondence between the control value for driving the control board and the measured value of the actual light emission output of the laser diode when the control board is driven based on this control value is It is a light source in which the light emission output of the entire light source is controlled on the basis of prescribed calibration data.
また、本発明によれば、レーザダイオードを複数備えて構成される光源の全体の発光出力を制御する光源制御方法は、レーザダイオードと当該レーザダイオードの発光出力を制御する当該レーザダイオード専用の制御ボードとからなる組ごとに、制御ボードを駆動するための制御値と、この制御値に基づいて制御ボードが駆動したときにおけるレーザダイオードの実際の発光出力の測定値と、の対応関係が規定された校正データを、予め生成する生成ステップと、上記組ごとの校正データに基づいて光源全体の発光出力を制御する制御ステップと、を備える。 According to the present invention, a light source control method for controlling the overall light emission output of a light source comprising a plurality of laser diodes includes a laser diode and a control board dedicated to the laser diode for controlling the light emission output of the laser diode. For each set consisting of the above, the correspondence between the control value for driving the control board and the measured value of the actual light output of the laser diode when the control board is driven based on this control value was defined. A generation step of generating calibration data in advance, and a control step of controlling the light emission output of the entire light source based on the calibration data for each set.
また、本発明によれば、このような光源における複数のレーザダイオードのうちのいずれかを交換する光源交換方法において、(1)交換すべきレーザダイオードおよび当該交換すべきレーザダイオードの発光出力を制御する当該交換すべきレーザダイオード専用の制御ボードを、新たなるレーザダイオードおよび当該新たなるレーザダイオードの発光出力を制御する当該新たなるレーザダイオード専用の新たなる制御ボードに交換するとともに、(2)制御ボードを駆動するための制御値と、この制御値に基づいて制御ボードが駆動したときにおけるレーザダイオードの実際の発光出力の測定値との対応関係がレーザダイオードと当該レーザダイオードの発光出力を制御する当該レーザダイオード専用の制御ボードとからなる組ごとに規定された、光源全体の発光出力を制御するのに用いられる各校正データのうち、交換すべきレーザダイオードの発光出力の制御に用いられていた校正データを、新たなるレーザダイオードと当該新たなるレーザダイオードの発光出力を制御する当該新たなるレーザダイオード専用の新たなる制御ボードとからなる組のために規定された校正データに交換する。 According to the present invention, in the light source replacement method for replacing any of the plurality of laser diodes in such a light source, (1) the laser diode to be replaced and the light emission output of the laser diode to be replaced are controlled. The control board dedicated to the laser diode to be replaced is replaced with a new laser diode and a new control board dedicated to the new laser diode that controls the light emission output of the new laser diode, and (2) the control board The correspondence between the control value for driving the laser diode and the measured value of the actual light emission output of the laser diode when the control board is driven based on this control value is the control value for controlling the light emission output of the laser diode and the laser diode. Specified for each set consisting of a laser diode dedicated control board Among the calibration data used to control the light emission output of the entire light source, the calibration data used for controlling the light emission output of the laser diode to be replaced is replaced with a new laser diode and the new laser diode. Are exchanged for calibration data defined for a set consisting of a new control board dedicated to the new laser diode for controlling the light emission output.
本発明の光源は、相対移動する露光対象物の露光面上に直接露光により所望の露光パターンを形成する直接露光装置において、露光面上を露光するための光を発生するのに用いられてもよい。特にこの直接露光装置が、光源からの光をディジタルマイクロミラーデバイスに照射し、このディジタルマイクロミラーデバイスにおいて反射した光を、ディジタルマイクロミラーデバイスに対して相対移動する露光対象物の露光面上に照射することで、露光面上に所望の露光パターンを形成する装置である場合は、本発明による光源がディジタルマイクロミラーデバイスの照射面へ均一な光を照射することになるように、上記光源を構成する各レーザダイオードは制御される。 The light source of the present invention may be used to generate light for exposing an exposure surface in a direct exposure apparatus that forms a desired exposure pattern by direct exposure on an exposure surface of a relatively moving exposure object. Good. In particular, the direct exposure apparatus irradiates light from a light source onto a digital micromirror device, and irradiates light reflected on the digital micromirror device onto an exposure surface of an exposure object that moves relative to the digital micromirror device. Thus, in the case of an apparatus for forming a desired exposure pattern on the exposure surface, the light source is configured so that the light source according to the present invention emits uniform light to the irradiation surface of the digital micromirror device. Each laser diode is controlled.
本発明によれば、レーザダイオードを複数備えて構成される光源について、複数のレーザダイオードのうちのいずれかを交換する交換作業を容易かつ短時間で実現することができる。また、劣化もしくは故障したレーザダイオードを的確に交換することができるので、ランニングコストを最小限にすることができる。また、レーザダイオードの発光バラツキを抑制し、光照度を均一化することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, about the light source comprised by providing two or more laser diodes, the exchange operation | work which replaces | exchanges either of several laser diodes is realizable easily and in a short time. In addition, since the deteriorated or failed laser diode can be accurately replaced, the running cost can be minimized. Moreover, the light emission variation of a laser diode can be suppressed and light illuminance can be made uniform.
図1は、本発明の第1の実施例による光源およびこの光源を駆動するための制御ボードのブロック図である。第1の実施例では、n個のレーザダイオードで光源1が構成されるものとする。したがって、レーザダイオードLDおよびフォトダイオードPDを含むモジュール20は合計n個設けられる。
FIG. 1 is a block diagram of a light source and a control board for driving the light source according to the first embodiment of the present invention. In the first embodiment, the
レーザダイオードLDをn個備えて構成される光源1を駆動するために、レーザダイオードLDのそれぞれに、当該レーザダイオードの発光出力を制御する専用の制御ボード47が設けられる。したがって、制御ボード47も合計n個設けられる。n個のレーザダイオードLDをそれぞれ個別に制御するn個の制御ボード47は、システムバス46を共有して接続される。
In order to drive the
各制御ボード47は、マザーボード2上に設けられる。マザーボード2上にはさらに、外部のコントロールPC(参照符号3)との通信を担当する通信コントローラ45と、マザーボード2上における制御全体を統括するシステムコントローラ44と、が設けられる。通信コントローラ45は、システムコントローラ44からの命令を受け、外部のコントロールPC3と各制御ボード47とのデータ送受信を制御する。
Each
コントロールPC3上の制御ソフトウェアは、後述する校正データを読み込み、マザーボード2と通信してn個のレーザダイオードLDの発光出力を制御する。
The control software on the control PC 3 reads calibration data, which will be described later, and communicates with the
ここで、本発明における校正データ(Calibration Data)について説明する。 Here, calibration data in the present invention will be described.
制御ボードは、入力された制御値に基づいて駆動する。この制御値とは、レーザダイオードLDが所望の発光出力で発光するようにユーザが予め入力設定するパラメータである。したがって、同一の制御値を用いて複数のレーザダイオードLDを発光させれば、各レーザダイオードLDの発光出力は理想的には同一となる。 The control board is driven based on the input control value. This control value is a parameter input and set in advance by the user so that the laser diode LD emits light with a desired light emission output. Therefore, if a plurality of laser diodes LD are caused to emit light using the same control value, the light emission output of each laser diode LD is ideally the same.
しかしながら、実際には、モジュール20内におけるフォトダイオードPDの出力電流IPDは、フォトダイオードPDの光検知感度により若干異なる。同様に、モジュール20内のレーザダイオードLDの発光特性についても、レーザダイオードLDの個体差がある。さらには、モジュール20ごとに(すなわちレーザダイオードLDごとに)設けられる制御ボード47についても、制御ボード47を構成する各種素子に起因する回路パラメータの個体差が存在する。したがって、同一の制御値であったとしても、実際には、レーザダイオードLD、フォトダイオードPDおよび制御ボード47の組み合わせ如何によって、各レーザダイオードLDの発光出力は異なってくることになる。従来は、このようなレーザダイオードLDの発光出力のバラツキを、制御ボード内の抵抗値や増幅率などの回路パラメータを1つ1つ手動で調整することによって解消していた。
However, actually, the output current I PD of the photodiode PD in the
そこで本発明では、このような調整の手間をなくすために、校正データを用いる。この校正データとは、制御ボード47を駆動するための制御値と、この制御値に基づいて制御ボード47が駆動したときにおけるレーザダイオードLDの実際の発光出力の測定値と、の対応関係が規定されたテーブルである。なお、校正データを生成するにあたっては、制御ボード47に実際に制御値を入力してそのときのレーザダイオードLDの実際の発光出力を測定する必要があるが、そのような測定装置、制御値を制御ボード47に入力するための装置(例えばコンピュータ)の実現は公知技術で十分可能であることは当業者であれば容易に理解できよう。
Therefore, in the present invention, calibration data is used in order to eliminate such adjustment work. The calibration data defines the correspondence between the control value for driving the
表1は、制御値Xは0〜1023の整数(すなわち離散値)とし、制御値Xと、この制御値Xに基づいて制御ボード47が駆動したときにおけるレーザダイオードLDの実際の発光出力の測定値P0(X)との対応関係を例示するテーブルである。
Table 1 shows that the control value X is an integer of 0 to 1023 (that is, a discrete value), and the actual light output of the laser diode LD when the
レーザダイオードLD、フォトダイオードPDおよび制御ボード47の組み合わせが決まれば、制御値XとレーザダイオードLDの実際の発光出力の測定値P0(X)とは1対1に決まるので、校正データは、レーザダイオードLDと当該レーザダイオードの発光出力を制御する当該レーザダイオード専用の制御ボード47とからなる組ごとに、個別に生成する。
If the combination of the laser diode LD, the photodiode PD, and the
このように生成された、レーザダイオードLDと当該レーザダイオード専用の制御ボード47とからなる組ごとの校正データは、図1のコントロールPC3に接続されたデータベース内に予め保持しておく。コントロールPC3上の制御ソフトウェアは、組ごとの校正データを読み込み、マザーボード2と通信して対応するレーザダイオードLDの発光出力を制御する。
The calibration data for each set including the laser diode LD and the
本発明の第1の実施例においては、光源1における複数のレーザダイオードLDのうちのいずれかを交換する際には、レーザダイオードLDと当該レーザダイオード専用の制御ボード47とこれらに対応する校正データとを一組として交換する。より詳細には次のとおりである。すなわち、交換すべきレーザダイオードおよび当該交換すべきレーザダイオード専用の制御ボードについては、新たなるレーザダイオードおよび当該新たなるレーザダイオード専用の新たなる制御ボードに交換する。一方、校正データについては、交換すべきレーザダイオードの発光出力の制御に用いられていた校正データを、新たなるレーザダイオードと当該新たなるレーザダイオード専用の新たなる制御ボードとからなる組のために規定された校正データに交換する。校正データの交換は、例えばユーザがコントロールPC3を用いて入力操作を行うことで実現できるようにすればよい。
In the first embodiment of the present invention, when any one of the plurality of laser diodes LD in the
このように、本発明の第1の実施例によれば、劣化もしくは故障したレーザダイオードを交換する際には、レーザダイオードLDと当該レーザダイオード専用の制御ボード47とこれらに対応する校正データとを一組として交換するので、交換作業時のパラメータ調整は必要なく、交換作業を容易かつ短時間で実現することができる。また、図9および10を参照して説明した従来例と比較すれば、劣化もしくは故障したレーザダイオードのみを交換することができるので、ランニングコストを最小限にすることができる。
As described above, according to the first embodiment of the present invention, when a deteriorated or failed laser diode is replaced, the laser diode LD, the
図2は、図1に示す制御ボードの構成を示すブロック図である。図示の例では、モジュール20に接続される1つの制御ボード47について示している。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of the control board shown in FIG. In the illustrated example, one
PD出力電流増幅器51は、フォトダイオードPDからの出力電流IPDを増幅すると同時に、レベルシフトをかけ、プラス電位からディジタルポテンショメータ52に流れ込む定電流源として動作する。PD出力電流増幅器51は、半固定の抵抗を使って電流増幅ゲインを調整することができるが、詳細については後述する。
The PD output
ディジタルポテンショメータ52は、システムバスインタフェース57を介して受信されるディジタル信号により抵抗値を変えることのできる集積回路である。図2に示す例ではディジタルポテンショメータ52としてAnalog Devices社のADN2850を使用している。ディジタルポテンショメータ52の抵抗値は、上述の制御値に比例する。制御値が小さいほど、誤差増幅器55の反転入力端子に印加される電圧が小さくなるので、レーザダイオードLDへ入力される電流ILDが増加してレーザダイオードLDの発光出力も増大する。より具体的には、レーザダイオードLDの実際の発光出力の測定値P0(X)は制御値Xに逆比例し、式(1)が成り立つ。
The
ここで、Aは定数であり、ADN2850の場合、Xは0〜1023の整数である。なお、式(1)においてX=0のとき、理論上P0(X)は無限大となるが、実際はADN2850内に数十Ω程度の内部抵抗が残留し、また、レーザダイオードLDへ流れ込む電流ILDも回路構成上制約されるので、レーザダイオードLDの発光出力が無限大となることはない。 Here, A is a constant, and in the case of ADN2850, X is an integer from 0 to 1023. Note that when X = 0 in the formula (1), P 0 (X) is theoretically infinite, but in reality, an internal resistance of about several tens of Ω remains in the ADN 2850, and the current flowing into the laser diode LD Since I LD is also restricted by the circuit configuration, the light emission output of the laser diode LD does not become infinite.
PD出力電流増幅器51の出力は、フォトダイオードPDからの出力電流IPDに比例した定電流源であるので、一方の端子が接地されたディジタルポテンショメータ52の抵抗の両端には、フォトダイオードPDからの出力電流IPDに比例した電圧、すなわち発光出力に比例した電圧が発生する。
The output of the PD output
ディジタルポテンショメータ52で生成された電圧は、誤差増幅器55の反転入力端子に印加される。一方、誤差増幅器55の非反転入力端子には、基準電圧設定器54で設定された制御電圧Vrefが印加される。図2に示す例では、誤差増幅器55および基準電圧設定器54を集積したLD出力制御用集積回路53として、Analog Devices社のADN2830を使用している。
The voltage generated by the
LD出力制御用集積回路53の出力電流は、電流ブースター56により増幅されると同時に、プラス電位からグランドに向かって流れ込むよう、レベルシフトがかけられ、レーザダイオードLDを駆動する。
The output current of the LD output control integrated
ディジタルポテンショメータ52は、抵抗値を変化させるためのディジタル信号をシステムバスインタフェース57を経由して受信し、またラッチした数値を送信することができる。ADN2850の場合、SPI(Serial Periperal Interface)と呼ばれる規格の通信プロトコルをサポートしているので、この通信プロトコルに従ったデータの送受信を行う。
The
LD出力制御用集積回路53を構成するADN2830は、出力電流のオン/オフや、レーザダイオードLDの劣化もしくは故障を検出する機能を有している。出力電流のオン/オフや、レーザダイオードLDの劣化もしくは故障に関する情報はディジタル信号として入出力可能であり、本発明の第1の実施例では、この情報もシステムバスインタフェース57を経由して送受信する。このADN2830を使用することにより、個々のレーザダイオードLDの劣化もしくは故障をリアルタイムに判定することができる。この判定結果に基づいて、正常なレーザダイオードLDの発光出力を増加させて劣化もしくは故障したレーザダイオードLDの発光出力の分を補償して光源1全体の発光出力を保つか、あるいは、動作を直ちに停止させてレーザダイオードLDを交換するか、といった「ユーザ自身の判断」を考慮できるようになる。
The ADN 2830 constituting the LD output control integrated
ここで、制御ボード47の回路パラメータの調整について説明する。図3〜5は、本発明の第1の実施例における制御ボードの回路パラメータの調整を説明する図である。
式(1)において、P0(X)をXの連続関数とみなしてXで微分すると、式(2)のようになる。
Here, adjustment of circuit parameters of the
In Formula (1), when P 0 (X) is regarded as a continuous function of X and differentiated by X, Formula (2) is obtained.
式(2)は、制御値Xの変化に対するレーザダイオードLDの実際の発光出力の測定値P0の変化率を意味しており、その絶対値については制御値Xの値が小さいほど急激に大きくなる。 Equation (2) means the rate of change in the measured value P 0 of the actual light emission output of the laser diode LD with respect to the change in the control value X, and the absolute value thereof increases rapidly as the control value X decreases. Become.
上記のとおり、制御値Xは離散値であるので、「Xの値が1だけ減少した場合のP0(X)の増加分のP0(X)に対する割合」を、「P0(X)の分解能R(X)[%]」と定義すると、式(3)のように定義できる。 As described above, since the control value X is a discrete value, the "ratio P 0 (X) increase in P when the value of X is decreased by 1 0 (X)", "P 0 (X) Defined as R (X) [%] ”, it can be defined as shown in Equation (3).
R(X)の値が大きいことは、微調整が難しいことを意味する。式(3)に式(1)を代入すると式(4)が得られる。 A large value of R (X) means that fine adjustment is difficult. Substituting equation (1) into equation (3) yields equation (4).
式(4)は単調減少関数である。ここで、最も粗い分解能として例えば1%が必要な場合は、式(4)から制御値Xは101以上である必要があることがわかる。また、最も粗い分解能として例えば0.5%が必要な場合は、式(4)から制御値Xは201以上である必要があることがわかる。つまり、本発明の第1の実施例では、必要とする分解能が決まれば、制御値Xの下限値が自動的に決まるのである。例えば、表1では、その下限値が101であり、100以下の制御値が使用できないことを、対応するP0(X)の値に負の値を与えることで示している。 Equation (4) is a monotonically decreasing function. Here, when 1% is required as the coarsest resolution, for example, it can be seen from the equation (4) that the control value X needs to be 101 or more. Further, when 0.5% is required as the coarsest resolution, for example, it can be seen from the equation (4) that the control value X needs to be 201 or more. That is, in the first embodiment of the present invention, when the required resolution is determined, the lower limit value of the control value X is automatically determined. For example, Table 1 shows that the lower limit value is 101 and that a control value of 100 or less cannot be used by giving a negative value to the corresponding P 0 (X) value.
レーザダイオードLDと制御ボード47との組み合わせ次第で、レーザダイオードLDの実際の発光出力の測定値が異なってくることはすでに説明したとおりである。図3のグラフでは、異なるレーザダイオードLDと制御ボード47との組み合わせ(α、βで表す)により、P0(X)−X特性が異なることを示している。
As described above, the measured value of the actual light emission output of the laser diode LD varies depending on the combination of the laser diode LD and the
このとき、「分解能の最悪値を保証する」という制約が加わると、図4に示すように、式(4)から決まる制御値Xの下限値において、必要な発光出力P0(X)の最大値P0maxが得られることも同時に保証しなくてはならない。図4のβのP0(X)−X特性は、XminにおいてP0maxに到達しておらず、このままでは制御値Xmin近傍では所望の発光出力を得ることができない。一方、図4のαのP0(X)−X特性は、XminにおいてP0maxに到達しているが、P0(X)の制御可能範囲が狭い。そこで、図5に示すように、βのP0(X)−X特性についてはカーブを「押し上げ」るように、αのP0(X)−X特性についてはカーブを「押し下げ」るように、調整する。すなわち、本発明の第1の実施例では、全てのP0(X)−X特性についてが、X=XminでP0(X)=P0maxとなるように調整する。なお、厳密にP0(X)=P0maxとなるように調整する以外に、おおよそP0(X)=P0maxとなるように調整してもよい。 At this time, if the constraint of “guaranteeing the worst value of resolution” is added, as shown in FIG. 4, the maximum required light emission output P 0 (X) at the lower limit value of the control value X determined from Equation (4) is obtained. At the same time, it must be ensured that the value P 0 max is obtained. The P 0 (X) -X characteristic of β in FIG. 4 does not reach P 0 max at Xmin, and a desired light emission output cannot be obtained near the control value Xmin. On the other hand, the P 0 (X) -X characteristic of α in FIG. 4 reaches P 0 max at Xmin, but the controllable range of P 0 (X) is narrow. Therefore, as shown in FIG. 5, the curve is “pushed” for the P 0 (X) -X characteristic of β, and the curve is “pushed” for the P 0 (X) -X characteristic of α. ,adjust. That is, in the first embodiment of the present invention, all P 0 (X) -X characteristics are adjusted so that P 0 (X) = P 0 max when X = Xmin. It should be noted that, in addition to adjusting so that P 0 (X) = P 0 max strictly, adjustment may be made so that approximately P 0 (X) = P 0 max.
図2に示すPD出力電流増幅器51において、半固定の抵抗を使って電流増幅ゲインを調整することにより、上記P0(X)−X特性の調整が可能である。すなわち、PD出力電流増幅器51の電流増幅率を大きくすると、負帰還量が増加するのでP0(X)−X特性は下がる。一方、PD出力電流増幅器51の電流増幅率を小さくすると、負帰還量が減少するのでP0(X)−X特性は上がる。
In the PD output
上記のように制御ボード47の回路パラメータの調整すなわちP0(X)−X特性の調整を行うことで、所定の制御値すなわち下限値Xminに基づいて制御ボード47が駆動したときにおけるレーザダイオードLDの実際の発光出力が、光源1を構成する全てのレーザダイオードLDについて同一となるかあるいは近接するようにする。この調整後、校正データを生成する。
By adjusting the circuit parameters of the
なお、上述のように本発明の第1の実施例は、劣化もしくは故障したレーザダイオードLDは、対応する制御ボード47と一緒に交換するものである。この変形例として、レーザダイオードLDが劣化もしくは故障したとしても、対応する制御ボード47自体に故障がなければこの制御ボード47を新たなレーザダイオードLDと組み合わせ、上記のように制御ボード47の回路パラメータを調整し、この調整後、校正データを生成すれば、当該制御ボード47については再利用することができるので、経済的である。
As described above, in the first embodiment of the present invention, the deteriorated or failed laser diode LD is replaced together with the
上述の本発明の第1の実施例においては、図1に示したように、レーザダイオードLDと当該レーザダイオード専用の制御ボード47とからなる組ごとの校正データは、図1のコントロールPC3に接続されたデータベース内に予め保持される。コントロールPC3上の制御ソフトウェアは、組ごとの校正データを読み込み、マザーボード2と通信して対応するレーザダイオードLDの発光出力を制御する。本発明の第1の実施例によれば、劣化もしくは故障したレーザダイオードを交換する際には、レーザダイオードLDと当該レーザダイオード専用の制御ボード47とこれらに対応する校正データとを一組として交換する。
In the first embodiment of the present invention described above, as shown in FIG. 1, the calibration data for each set comprising the laser diode LD and the
本発明の第1の実施例では校正データは、コントロールPC3に接続されたデータベース内に保存されるが、本発明の第2の実施例では、校正データは、マザーボード内の制御ボード上に存在する不揮発性メモリに保存される。図6は、本発明の第2の実施例による光源およびこの光源を駆動するための制御ボードのブロック図である。図7は、図6に示す制御ボードの構成を示すブロック図である。 In the first embodiment of the present invention, the calibration data is stored in a database connected to the control PC 3. However, in the second embodiment of the present invention, the calibration data exists on the control board in the motherboard. Stored in non-volatile memory. FIG. 6 is a block diagram of a light source and a control board for driving the light source according to the second embodiment of the present invention. FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of the control board shown in FIG.
本発明の第2の実施例では、図6の制御ボード47’は、図7に示すように、校正データを保存するための校正データ用ROM(参照符号58)をさらに備える。校正データ用ROM58は、システムバスインタフェース57に接続される。校正データ用ROM58は、例えばEEPROMのような不揮発性メモリである。校正データは、モジュール20およびお制御ボード47’の校正時に、校正データ用ROM58に保存される。なお、校正データの内容については、表1を参照して説明したとおりである。
In the second embodiment of the present invention, the control board 47 'of FIG. 6 further includes a calibration data ROM (reference numeral 58) for storing calibration data, as shown in FIG. The
コントロールPC3上の制御ソフトウェアは、電源立ち上げ時に、システムバス46を経由して、各校正データ用ROM58に保存されている校正データを読み込む。そして、コントロールPC3上の制御ソフトウェアは、マザーボード2と通信して対応するレーザダイオードLDの発光出力を制御する。
The control software on the control PC 3 reads calibration data stored in each
このように、本発明の第2の実施例によれば、制御ボード47’が、該制御ボード47’に対応するモジュール20を制御するために必要な情報を把握しているので、ユーザは、校正データを設定したり置き換えたりする作業を別途行う必要がない利点がある。
As described above, according to the second embodiment of the present invention, the
以上説明した第1および第2の実施例では、レーザダイオードとフォトダイオードとが互いに近接して配置されたモジュール構造の形を有するものについて説明した。なお、モジュール化されていない単体のレーザダイオードの場合は、当該レーザダイオードに近接する位置または受光照度を安定させたい場合にフォトダイオードを設置した上で本発明を適用すればよい。 In the first and second embodiments described above, the laser diode and the photodiode having a module structure in which the photodiodes are arranged close to each other have been described. In the case of a single laser diode that is not modularized, the present invention may be applied after a photodiode is installed in order to stabilize the position close to the laser diode or the light receiving illuminance.
本発明の光源は、相対移動する露光対象物の露光面上に直接露光により所望の露光パターンを形成する直接露光装置において、露光面上を露光するための光を発生するのに用いられてもよい。特にこの直接露光装置は、光源からの光をディジタルマイクロミラーデバイスに照射し、このディジタルマイクロミラーデバイスにおいて反射した光を、ディジタルマイクロミラーデバイスに対して相対移動する露光対象物の露光面上に照射することで、露光面上に所望の露光パターンを形成する装置である場合は、本発明による光源がディジタルマイクロミラーデバイスの照射面へ均一な光を照射することになるように、光源を構成する各レーザダイオードは制御される。 The light source of the present invention may be used to generate light for exposing an exposure surface in a direct exposure apparatus that forms a desired exposure pattern by direct exposure on an exposure surface of a relatively moving exposure object. Good. In particular, this direct exposure apparatus irradiates light from a light source onto a digital micromirror device, and irradiates light reflected by the digital micromirror device onto an exposure surface of an exposure object that moves relative to the digital micromirror device. Thus, in the case of an apparatus for forming a desired exposure pattern on the exposure surface, the light source is configured so that the light source according to the present invention irradiates the irradiation surface of the digital micromirror device with uniform light. Each laser diode is controlled.
本発明は、レーザダイオードを複数備えて構成される光源に適用することができる。本発明によれば、複数のレーザダイオードのうちのいずれかを交換する際には、レーザダイオードと当該レーザダイオード専用の制御ボードとこれらに対応する校正データとを一組として交換するので、交換作業時のパラメータ調整は必要なく、交換作業を容易かつ短時間で実現することができる。劣化もしくは故障したレーザダイオードを的確に交換することが容易であるので、ランニングコストを最小限にすることができる。 The present invention can be applied to a light source including a plurality of laser diodes. According to the present invention, when replacing any of the plurality of laser diodes, the laser diode, the control board dedicated to the laser diode, and the calibration data corresponding thereto are exchanged as a set. There is no need to adjust parameters at the time, and the replacement work can be realized easily and in a short time. Since it is easy to accurately replace a deteriorated or failed laser diode, the running cost can be minimized.
また、本発明による光源は、直接露光装置の光源として適用することができる。直接露光装置によれば、露光対象物(露光対象基板)の伸縮、歪み、ずれなどに対処するための補正を、露光データの生成の段階で予め行うことができ、あるいはリアルタイムで行うことができるので、製造精度の向上、歩留まりの向上、納期の短縮、製造コストの低減などの利点がもたらされる。 The light source according to the present invention can be applied as a light source of a direct exposure apparatus. According to the direct exposure apparatus, correction for dealing with expansion / contraction, distortion, displacement, etc. of the exposure object (exposure target substrate) can be performed in advance at the stage of generating the exposure data, or can be performed in real time. Therefore, advantages such as improved manufacturing accuracy, improved yield, shorter delivery time, and reduced manufacturing cost are brought about.
1 光源
2 マザーボード
3 コントロールPC
20 モジュール
44 システムコントローラ
45 通信コントローラ
46 システムバス
47 制御ボード
51 PD出力電流増幅器
52 ディジタルポテンショメータ
53 LD出力制御用集積回路
54 基準電圧設定器
55 誤差増幅器
56 電流ブースター
57 システムバスインタフェース
LD レーザダイオード
PD フォトダイオード
1
20
Claims (12)
前記レーザダイオードと当該レーザダイオードの発光出力を制御する当該レーザダイオード専用の制御ボードとからなる組ごとに、前記制御ボードを駆動するための制御値と、該制御値に基づいて前記制御ボードが駆動したときにおける前記レーザダイオードの実際の発光出力の測定値と、の対応関係が規定された校正データを、予め生成する生成ステップと、
前記組ごとの前記校正データに基づいて前記光源全体の発光出力を制御する制御ステップと、
を備えることを特徴とする光源制御方法。 A light source control method for controlling the overall light emission output of a light source comprising a plurality of laser diodes,
A control value for driving the control board for each set of the laser diode and a control board dedicated to the laser diode that controls the light emission output of the laser diode, and the control board is driven based on the control value A calibration step in which a correspondence relationship between the measured value of the actual light emission output of the laser diode and the correspondence relationship is defined in advance is generated, and
A control step of controlling the light emission output of the entire light source based on the calibration data for each set;
A light source control method comprising:
前記光源が前記ディジタルマイクロミラーデバイスの照射面へ均一な光を照射することになるように、前記光源を構成する各前記レーザダイオードは制御される請求項3に記載の光源制御方法。 The direct exposure apparatus irradiates a digital micromirror device with light from the light source, and reflects light reflected by the digital micromirror device on an exposure surface of an exposure object that moves relative to the digital micromirror device. An apparatus for forming a desired exposure pattern on the exposure surface by irradiating,
The light source control method according to claim 3, wherein each of the laser diodes constituting the light source is controlled so that the light source emits uniform light to an irradiation surface of the digital micromirror device.
前記交換すべきレーザダイオードおよび当該交換すべきレーザダイオードの発光出力を制御する当該交換すべきレーザダイオード専用の制御ボードを、新たなるレーザダイオードおよび当該新たなるレーザダイオードの発光出力を制御する当該新たなるレーザダイオード専用の新たなる制御ボードに交換するとともに、
前記制御ボードを駆動するための制御値と、該制御値に基づいて前記制御ボードが駆動したときにおける前記レーザダイオードの実際の発光出力の測定値との対応関係が前記レーザダイオードと当該レーザダイオードの発光出力を制御する当該レーザダイオード専用の制御ボードとからなる組ごとに規定された、前記光源全体の発光出力を制御するのに用いられる各校正データのうち、前記交換すべきレーザダイオードの発光出力の制御に用いられていた前記校正データを、前記新たなるレーザダイオードと当該新たなるレーザダイオードの発光出力を制御する当該新たなるレーザダイオード専用の新たなる制御ボードとからなる組のために規定された前記校正データに交換することを特徴とする光源交換方法。 In a light source comprising a plurality of laser diodes, a light source replacement method for replacing any of the plurality of laser diodes,
The laser diode to be replaced and the control board dedicated to the laser diode to be replaced for controlling the light emission output of the laser diode to be replaced, the new laser diode and the new control board for controlling the light emission output of the new laser diode. In addition to replacing with a new control board dedicated to laser diode,
The correspondence between the control value for driving the control board and the measured value of the actual light output of the laser diode when the control board is driven based on the control value is the relationship between the laser diode and the laser diode. Of the calibration data used to control the light emission output of the entire light source, defined for each set comprising a control board dedicated to the laser diode for controlling the light emission output, the light emission output of the laser diode to be replaced The calibration data used to control the new laser diode and a new control board dedicated to the new laser diode that controls the light emission output of the new laser diode are defined for the set. A method of exchanging light sources, wherein the calibration data is exchanged.
各前記レーザダイオードは、前記光源が前記ディジタルマイクロミラーデバイスの照射面へ均一な光を照射することになるように制御されるレーザダイオードである請求項7に記載の光源交換方法。 The direct exposure apparatus irradiates a digital micromirror device with light from the light source, and reflects light reflected by the digital micromirror device on an exposure surface of an exposure object that moves relative to the digital micromirror device. An apparatus for forming a desired exposure pattern on the exposure surface by irradiating,
The light source replacement method according to claim 7, wherein each of the laser diodes is a laser diode that is controlled so that the light source emits uniform light to an irradiation surface of the digital micromirror device.
前記レーザダイオードと当該レーザダイオードの発光出力を制御する当該レーザダイオード専用の制御ボードとからなる組ごとに予め生成された校正データであって、前記制御ボードを駆動させるための制御値と、該制御値に基づいて前記制御ボードが駆動したときにおける前記レーザダイオードの実際の発光出力の測定値と、の対応関係が規定された校正データ、に基づいて前記光源全体の発光出力が制御されることを特徴とする光源。 A light source comprising a plurality of laser diodes,
Calibration data generated in advance for each set of the laser diode and a control board dedicated to the laser diode for controlling the light emission output of the laser diode, a control value for driving the control board, and the control The light emission output of the entire light source is controlled based on calibration data that defines the correspondence between the measured value of the actual light emission output of the laser diode when the control board is driven based on the value. Characteristic light source.
前記光源が前記ディジタルマイクロミラーデバイスの照射面へ均一な光を照射することになるように、前記光源を構成する各前記レーザダイオードは制御される請求項11に記載の光源。 The direct exposure apparatus irradiates a digital micromirror device with light from the light source, and reflects light reflected by the digital micromirror device on an exposure surface of an exposure object that moves relative to the digital micromirror device. An apparatus for forming a desired exposure pattern on the exposure surface by irradiating,
The light source according to claim 11, wherein each of the laser diodes constituting the light source is controlled so that the light source emits uniform light to an irradiation surface of the digital micromirror device.
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