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JP2007219365A - Method for manufacturing liquid crystal device, liquid crystal device, and electronic apparatus - Google Patents

Method for manufacturing liquid crystal device, liquid crystal device, and electronic apparatus Download PDF

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JP2007219365A
JP2007219365A JP2006042107A JP2006042107A JP2007219365A JP 2007219365 A JP2007219365 A JP 2007219365A JP 2006042107 A JP2006042107 A JP 2006042107A JP 2006042107 A JP2006042107 A JP 2006042107A JP 2007219365 A JP2007219365 A JP 2007219365A
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Japan
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liquid crystal
crystal device
crystal layer
film
coating film
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Application number
JP2006042107A
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Inventor
Satoshi Suzuki
聡 鈴木
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Seiko Epson Corp
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Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

【課題】電極に起因する不具合を防止して、信頼性の高いものを得る、液晶装置の製造方法、液晶装置、及び該液晶装置を備えた電子機器を提供する。
【解決手段】液晶層50と、液晶層50を挟持する一対の基板10,20と、一対の基板10,20における液晶層50側にそれぞれ配置された一対の電極9,21と、を備えた液晶装置の製造方法である。原子層堆積法により、一対の電極9,21の少なくとも一方が覆われるように基板表面に被覆膜41,61を形成する。そして、被覆膜41,61上に無機材料からなる配向膜40,60を形成する。
【選択図】図4
A method for manufacturing a liquid crystal device, a liquid crystal device, and an electronic apparatus including the liquid crystal device, which can prevent defects caused by electrodes and obtain a highly reliable device.
A liquid crystal layer 50, a pair of substrates 10 and 20 sandwiching the liquid crystal layer 50, and a pair of electrodes 9 and 21 disposed on the liquid crystal layer 50 side of the pair of substrates 10 and 20, respectively. It is a manufacturing method of a liquid crystal device. By the atomic layer deposition method, the coating films 41 and 61 are formed on the substrate surface so that at least one of the pair of electrodes 9 and 21 is covered. Then, alignment films 40 and 60 made of an inorganic material are formed on the coating films 41 and 61.
[Selection] Figure 4

Description

本発明は、液晶装置の製造方法、液晶装置、及び電子機器に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a liquid crystal device, a liquid crystal device, and an electronic apparatus.

液晶プロジェクタ等の投射型表示装置に搭載される光変調手段や、携帯電話等に搭載される直視型表示装置として用いられる液晶装置は、液晶層を挟持して対向配置され、液晶層に電圧を印加するための電極を具備する一対の基板を主体として構成されたものである。また、液晶装置を構成する一対の基板の液晶層側には、各々、電圧無印加時における液晶分子の配列を制御する配向膜が形成されて、電界無印加時における液晶分子の配向状態を規制することが可能となっている。   A light modulation means mounted on a projection display device such as a liquid crystal projector or a liquid crystal device used as a direct-view display device mounted on a mobile phone or the like is disposed opposite to each other with a liquid crystal layer interposed therebetween, and a voltage is applied to the liquid crystal layer. It is mainly composed of a pair of substrates each having an electrode for application. In addition, an alignment film that controls the alignment of liquid crystal molecules when no voltage is applied is formed on the liquid crystal layer side of the pair of substrates constituting the liquid crystal device, thereby regulating the alignment state of the liquid crystal molecules when no electric field is applied. It is possible to do.

このような配向膜としては、一般にポリイミドなどの配向性高分子などからなり、表面にラビング処理を施されたものが用いられている。
しかしながら、上記配向性高分子からなる配向膜は、例えば液晶プロジェクタの光変調手段として用いた場合、光源からの強い光や熱によって劣化してしまう。このように配向膜が劣化すると液晶分子の配向規制力が低下し、液晶分子の配向状態が乱れて液晶装置の表示品質が低下してしまう。そのため、近年では、耐光性、及び耐熱性のある、例えば酸化珪素(SiO)等の無機材料からなる無機配向膜が用いられている。一般的に無機配向膜は、斜方蒸着法を用いて形成されることから蒸着方向に傾いた柱状構造を有したものとなっている。
As such an alignment film, a film made of an alignment polymer such as polyimide is generally used, and the surface thereof is subjected to a rubbing treatment.
However, the alignment film made of the alignment polymer is deteriorated by strong light or heat from a light source, for example, when used as a light modulation means of a liquid crystal projector. When the alignment film deteriorates in this way, the alignment regulating force of the liquid crystal molecules is reduced, the alignment state of the liquid crystal molecules is disturbed, and the display quality of the liquid crystal device is deteriorated. Therefore, in recent years, an inorganic alignment film made of an inorganic material such as silicon oxide (SiO 2 ) having light resistance and heat resistance has been used. In general, the inorganic alignment film is formed using an oblique vapor deposition method, and thus has a columnar structure inclined in the vapor deposition direction.

ところで、一般に液晶装置を駆動すると、パネル内部の熱等により液晶層に電圧を印加する電極から金属元素や金属イオン等が液晶層側に拡散して不純物となる。特に、無機配向膜は上述したように柱状構造を有していることから隙間が多く、前記不純物が無機配向膜中を通り抜けて液晶層中に拡散する。このように液晶層中に不純物が拡散すると、液晶層が劣化し液晶装置の表示品質が低下してしまう。   By the way, in general, when a liquid crystal device is driven, a metal element, a metal ion, or the like diffuses from the electrode that applies a voltage to the liquid crystal layer due to heat or the like inside the panel, and becomes an impurity. In particular, since the inorganic alignment film has a columnar structure as described above, there are many gaps, and the impurities pass through the inorganic alignment film and diffuse into the liquid crystal layer. When impurities are diffused in the liquid crystal layer in this way, the liquid crystal layer is deteriorated and the display quality of the liquid crystal device is deteriorated.

そこで、電極上に物理的蒸着法により垂直蒸着膜を形成し、該垂直蒸着膜上に斜方蒸着によって形成した無機配向膜を形成することで、該垂直蒸着膜により電極から発生した不純物の液晶層への拡散の防止を図る技術がある(例えば、特許文献1参照)。
特開2005−77901号公報
Therefore, by forming a vertical vapor deposition film on the electrode by physical vapor deposition and forming an inorganic alignment film formed by oblique vapor deposition on the vertical vapor deposition film, liquid crystal of impurities generated from the electrode by the vertical vapor deposition film. There is a technique for preventing diffusion into a layer (see, for example, Patent Document 1).
JP-A-2005-77901

しかしながら、物理的蒸着法によって形成された上記垂直配向膜は、電極から発生した不純物の液晶層側への拡散を防止できる程度の緻密性を備えていない。よって、無機配向膜(配向膜)を通って不純物が液晶層中に拡散し、液晶の劣化が生じて液晶装置の信頼性を低下させてしまうという問題があった。また、無機配向膜を厚膜化することで液晶層への不純物の拡散を防止することも考えられるが、この場合、無機配向膜の厚みが増すことによって結果的に、無機配向膜に含まれたキャリア(電子、ホール等)が増加してしまい、電圧印加時に液晶層にキャリアが多く注入されて液晶装置の信頼性の低下を招くおそれがある。   However, the vertical alignment film formed by physical vapor deposition does not have a density sufficient to prevent diffusion of impurities generated from the electrodes toward the liquid crystal layer. Therefore, there is a problem that impurities diffuse through the inorganic alignment film (alignment film) into the liquid crystal layer, causing deterioration of the liquid crystal and reducing the reliability of the liquid crystal device. In addition, it may be possible to prevent the diffusion of impurities into the liquid crystal layer by increasing the thickness of the inorganic alignment film. In this case, however, the increase in the thickness of the inorganic alignment film results in inclusion in the inorganic alignment film. The number of carriers (electrons, holes, etc.) increases, and there is a possibility that many carriers are injected into the liquid crystal layer when a voltage is applied, leading to a decrease in the reliability of the liquid crystal device.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、電極に起因する不具合を防止して、信頼性の高いものを得る、液晶装置の製造方法、液晶装置、及び該液晶装置を備える電子機器を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and a liquid crystal device manufacturing method, a liquid crystal device, and an electronic apparatus including the liquid crystal device can be obtained by preventing defects caused by electrodes and obtaining a highly reliable one. The purpose is to provide.

本発明の液晶装置の製造方法は、液晶層と、該液晶層を挟持する一対の基板と、該一対の基板における前記液晶層側にそれぞれ配置された一対の電極と、を備えた液晶装置の製造方法において、原子層堆積法により、前記一対の電極の少なくとも一方を覆って前記基板表面に被覆膜を形成する工程と、該被覆膜上に無機材料からなる配向膜を形成する工程と、を備えることを特徴とする。   A method of manufacturing a liquid crystal device according to the present invention includes a liquid crystal layer, a pair of substrates that sandwich the liquid crystal layer, and a pair of electrodes that are respectively disposed on the liquid crystal layer side of the pair of substrates. In the manufacturing method, a step of forming a coating film on the substrate surface so as to cover at least one of the pair of electrodes by an atomic layer deposition method, and a step of forming an alignment film made of an inorganic material on the coating film It is characterized by providing.

本発明の液晶装置の製造方法によれば、少なくとも一方の電極を覆う被覆膜が原子層堆積法により形成されているので、該被覆膜は緻密性の高いものとなる。そして、前記電極と液晶層とが被覆膜を介して接触した状態となるので、前記電極から発生する金属元素や金属イオン等の不純物は前記被覆膜によって遮られ、液晶層側に拡散するのが防止される。被覆膜は、例えば緻密性が高いので、その厚みを薄くすることができ、該被覆膜が透過率、コントラスト比を低下させることがない。また、不純物の拡散を緻密性の高い被覆膜のみで防止できるので、配向膜を薄くすることができ、予め配向膜中に含まれたキャリア(電子、ホール)が少なくなって、これにより、前記電極に電圧を印加した際に液晶層に注入されるキャリア量を低減できる。また、上記被覆膜は緻密性が高いことから絶縁膜として採用することもでき、この場合に電極側から液晶層側への電子注入を抑制することができる。さらに、電極が上記被覆膜に覆われているので、液晶層と電極とが直接接触することがないので、前記電極上で光触媒反応の発生を防止し、該光触媒反応に起因する液晶層の劣化が防止できる。したがって、電極に起因する不具合が防止することにより、信頼性の高い液晶装置を提供することができる。   According to the method for manufacturing a liquid crystal device of the present invention, since the coating film covering at least one of the electrodes is formed by the atomic layer deposition method, the coating film is highly dense. Since the electrode and the liquid crystal layer are in contact with each other through the coating film, impurities such as metal elements and metal ions generated from the electrode are blocked by the coating film and diffuse to the liquid crystal layer side. Is prevented. Since the coating film has high density, for example, its thickness can be reduced, and the coating film does not lower the transmittance and contrast ratio. In addition, since the diffusion of impurities can be prevented only with a highly dense coating film, the alignment film can be thinned, and carriers (electrons, holes) contained in the alignment film in advance are reduced. The amount of carriers injected into the liquid crystal layer when a voltage is applied to the electrode can be reduced. Further, since the coating film has high density, it can also be employed as an insulating film. In this case, electron injection from the electrode side to the liquid crystal layer side can be suppressed. Furthermore, since the electrode is covered with the coating film, the liquid crystal layer and the electrode are not in direct contact with each other, so that the photocatalytic reaction is prevented from occurring on the electrode, and the liquid crystal layer resulting from the photocatalytic reaction is prevented. Deterioration can be prevented. Therefore, a liquid crystal device with high reliability can be provided by preventing problems caused by the electrodes.

また、上記液晶装置の製造方法においては、無機材料を斜方蒸着することにより前記配向膜を形成するのが好ましい。
このようにすれば、ラビング処理等を行うことなく、配向膜によって液晶分子にプレチルト角を良好に付与することが可能となる。また、配向膜が無機材料から構成されたものとなるので、耐熱性及び耐光性を備えたものとなり、この配向膜を備えた液晶装置をプロジェクタの光変調素子として好適に採用することができる。
In the method for manufacturing the liquid crystal device, the alignment film is preferably formed by oblique deposition of an inorganic material.
In this way, it is possible to satisfactorily give a pretilt angle to the liquid crystal molecules by the alignment film without performing a rubbing treatment or the like. Further, since the alignment film is made of an inorganic material, the alignment film has heat resistance and light resistance, and a liquid crystal device including the alignment film can be suitably used as a light modulation element of a projector.

また、上記液晶装置の製造方法においては、前記被覆膜を珪素酸化物を用いて形成するのが好ましい。
このようにすれば、被覆膜と基板上に形成された電極との密着性を向上させることができる。
In the method for manufacturing the liquid crystal device, the coating film is preferably formed using silicon oxide.
In this way, the adhesion between the coating film and the electrode formed on the substrate can be improved.

本発明の液晶装置は、液晶層と、該液晶層を挟持する一対の基板と、該一対の基板における前記液晶層側にそれぞれ配置された一対の電極と、を備えた液晶装置において、前記一対の電極の少なくとも一方が、原子堆積法により形成された被覆膜によって覆われ、該被覆膜上には無機材料からなる配向膜が形成されていることを特徴とする。   The liquid crystal device of the present invention is a liquid crystal device comprising a liquid crystal layer, a pair of substrates sandwiching the liquid crystal layer, and a pair of electrodes respectively disposed on the liquid crystal layer side of the pair of substrates. At least one of the electrodes is covered with a coating film formed by an atomic deposition method, and an alignment film made of an inorganic material is formed on the coating film.

本発明の液晶装置によれば、原子層堆積法により形成された非常に緻密な被覆膜によって少なくとも一方の電極が覆われているので、前記電極と液晶層とが被覆膜を介して接触した状態となっている。そして、この被覆膜により前記電極から発生した金属元素や金属イオン等の不純物が液晶層側にまで拡散するのが防止される。また、被覆膜は緻密性が高いために厚みを薄くすることができ、被覆膜を備えたことで液晶装置の透過率、及びコントラスト比が低下することはない。また、不純物の拡散を被覆膜のみで防止できるので、配向膜を薄くすることができ、予め配向膜中に含まれたキャリア(電子、ホール)が少なくなって、これにより、前記電極に電圧を印加した際に液晶層に注入されるキャリア量を低減できる。また、上記被覆膜は緻密性が高いことから絶縁膜として採用することもでき、この場合に電極側から液晶層側への電子注入を抑制することができる。さらに、電極が上記被覆膜に覆われているので、液晶層と電極とが直接接触することがないので、前記電極上で光触媒反応の発生を防止し、該光触媒反応に起因する液晶層の劣化が防止されたものとなる。したがって、電極に起因する不具合が防止された信頼性の高い液晶装置となる。   According to the liquid crystal device of the present invention, since at least one electrode is covered with a very dense coating film formed by atomic layer deposition, the electrode and the liquid crystal layer are in contact with each other through the coating film. It has become a state. The coating film prevents impurities such as metal elements and metal ions generated from the electrodes from diffusing to the liquid crystal layer side. In addition, since the coating film has high density, the thickness can be reduced. By providing the coating film, the transmittance and contrast ratio of the liquid crystal device are not reduced. In addition, since the diffusion of impurities can be prevented only by the coating film, the alignment film can be thinned, and carriers (electrons, holes) previously contained in the alignment film are reduced. It is possible to reduce the amount of carriers injected into the liquid crystal layer when applying. Further, since the coating film has high density, it can also be employed as an insulating film. In this case, electron injection from the electrode side to the liquid crystal layer side can be suppressed. Furthermore, since the electrode is covered with the coating film, the liquid crystal layer and the electrode are not in direct contact with each other, so that the photocatalytic reaction is prevented from occurring on the electrode, and the liquid crystal layer resulting from the photocatalytic reaction is prevented. Deterioration is prevented. Accordingly, a highly reliable liquid crystal device in which defects due to the electrodes are prevented is obtained.

また、上記液晶装置においては、前記被覆膜の膜厚は、5〜50nmであるのが好ましい。
このよれば、膜厚が光の波長(400nm)に比べて十分小さいので、被覆膜内で光が反射されることが防止され、液晶装置における透過率、及びコントラスト比が低下することがなく、しかも上述したような液晶層への不純物の拡散、電子注入、光触媒反応に起因する不具合を確実に防止できる。
Moreover, in the said liquid crystal device, it is preferable that the film thickness of the said coating film is 5-50 nm.
According to this, since the film thickness is sufficiently smaller than the wavelength of light (400 nm), light is prevented from being reflected in the coating film, and the transmittance and contrast ratio in the liquid crystal device are not reduced. Moreover, it is possible to reliably prevent the problems caused by impurity diffusion, electron injection, and photocatalytic reaction as described above.

本発明の電子機器は、上記液晶装置を備えたことを特徴とする。   An electronic apparatus according to the present invention includes the above-described liquid crystal device.

本発明の電子機器によれば、上述したような液晶層への不純物の拡散、電子注入、光触媒反応に起因する不具合が防止された液晶装置を備えているので、電子機器自体も信頼性の高いものとなる。   According to the electronic device of the present invention, the electronic device itself is highly reliable because it includes the liquid crystal device in which the problems due to the diffusion of impurities into the liquid crystal layer, the electron injection, and the photocatalytic reaction are prevented. It will be a thing.

次に、本発明に係る実施形態について詳細に説明する。なお、各実施形態においては、図面を参照しながら説明するが、各図において、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。   Next, an embodiment according to the present invention will be described in detail. In each embodiment, description will be made with reference to the drawings. In each drawing, each layer and each member have different scales so that each layer and each member can be recognized on the drawing. is there.

(液晶装置の概略構成)
以下に、図1〜図5に基づいてスイッチング素子としてTFT(Thin-Film Transistor)素子を用いた、垂直配向モードのアクティブマトリクス型の透過型液晶装置を例として、本発明の一実施形態に係る液晶装置の構造について説明する。
(Schematic configuration of the liquid crystal device)
In the following, an embodiment of the present invention will be described by taking an active matrix type transmissive liquid crystal device of a vertical alignment mode using TFT (Thin-Film Transistor) elements as switching elements based on FIGS. 1 to 5 as an example. The structure of the liquid crystal device will be described.

図1は、本発明の液晶装置の製造方法により製造された液晶装置を示す図である。図1(a)は、同液晶装置の平面構成図、(b)は(a)図のH−H’線に沿う断面構成図である。図2は本実施形態の液晶装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に配置された複数の画素におけるスイッチング素子、信号線等の等価回路図である。図3はデータ線、走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ基板の相隣接する複数の画素群の構造を示す平面図である。図4は本実施形態の液晶装置の構造を示す断面図であって、図2のA−A’線断面図である。   FIG. 1 is a diagram showing a liquid crystal device manufactured by the method for manufacturing a liquid crystal device of the present invention. FIG. 1A is a plan configuration diagram of the liquid crystal device, and FIG. 1B is a sectional configuration diagram taken along line H-H ′ in FIG. FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of switching elements, signal lines and the like in a plurality of pixels arranged in a matrix constituting the image display area of the liquid crystal device of the present embodiment. FIG. 3 is a plan view showing the structure of a plurality of pixel groups adjacent to each other on a TFT array substrate on which data lines, scanning lines, pixel electrodes and the like are formed. FIG. 4 is a cross-sectional view showing the structure of the liquid crystal device of this embodiment, and is a cross-sectional view taken along the line A-A ′ of FIG. 2.

図1(a)及び図1(b)に示すように、本実施形態の液晶装置100は、TFTアレイ基板10と、対向基板20とが平面視略矩形枠状のシール材52を介して貼り合わされ、このシール材52に囲まれた領域内に液晶層50を封入してなる構成を備えている。シール材52内周側に沿って平面視矩形枠状の周辺見切り53が形成され、この周辺見切りの内側の領域が画像表示領域10aとなっている。シール材52の外側の領域には、データ線駆動回路101及び外部回路実装端子102がTFTアレイ基板10の1辺(図示下辺)に沿って形成されており、この1辺に隣接する2辺に沿ってそれぞれ走査線駆動回路104,104が形成されて周辺回路を構成している。   As shown in FIG. 1A and FIG. 1B, the liquid crystal device 100 according to the present embodiment has a TFT array substrate 10 and a counter substrate 20 attached to each other via a sealing material 52 having a substantially rectangular frame shape in plan view. In addition, the liquid crystal layer 50 is sealed in a region surrounded by the sealing material 52. A peripheral parting line 53 having a rectangular frame shape in plan view is formed along the inner peripheral side of the sealing material 52, and an area inside the peripheral parting part is an image display area 10a. In the area outside the sealing material 52, the data line driving circuit 101 and the external circuit mounting terminal 102 are formed along one side (the lower side in the drawing) of the TFT array substrate 10, and the two sides adjacent to this one side are formed. Scanning line driving circuits 104 and 104 are formed along the lines to constitute peripheral circuits.

TFTアレイ基板10の残る1辺(図示上辺)には、画像表示領域10aの両側の走査線駆動回路104,104間を接続する複数の配線105が設けられている。また、対向基板20の各角部においては、TFTアレイ基板10と対向基板20との間の電気的導通をとるための基板間導通材106が配設されている。本実施形態の液晶装置100は、透過型の液晶装置として構成され、TFTアレイ基板10側に配置された光源(図示略)からの光を変調し、対向基板20側から表示光として射出するようになっている。   The remaining one side (the upper side in the figure) of the TFT array substrate 10 is provided with a plurality of wirings 105 that connect between the scanning line drive circuits 104 on both sides of the image display region 10a. In addition, an inter-substrate conductive material 106 for providing electrical continuity between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 is disposed at each corner of the counter substrate 20. The liquid crystal device 100 of the present embodiment is configured as a transmissive liquid crystal device, and modulates light from a light source (not shown) arranged on the TFT array substrate 10 side and emits it as display light from the counter substrate 20 side. It has become.

図1(b)に示すように、TFTアレイ基板10の内面側(液晶層側)に、複数の画素電極9が配列形成されており、これら画素電極9を覆うように配向膜40が形成されている。対向基板20の内面側には、周辺見切り53及び遮光膜23が形成され、その上に平面ベタ状の対向電極21が形成されている。そして、対向電極21を覆うように配向膜60が形成されている。   As shown in FIG. 1B, a plurality of pixel electrodes 9 are arranged on the inner surface side (liquid crystal layer side) of the TFT array substrate 10, and an alignment film 40 is formed so as to cover these pixel electrodes 9. ing. A peripheral parting 53 and a light shielding film 23 are formed on the inner surface side of the counter substrate 20, and a planar solid counter electrode 21 is formed thereon. An alignment film 60 is formed so as to cover the counter electrode 21.

なお、上記TFTアレイ基板10及び対向基板20の内面側にそれぞれ設けられた配向膜40,60は、後述するように無機材料を斜方蒸着することで形成されたもので、前記配向膜40,60の下には原子層堆積法により形成された被覆膜が形成されている。   The alignment films 40 and 60 provided on the inner surfaces of the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are formed by oblique deposition of an inorganic material as will be described later. Under 60, a coating film formed by an atomic layer deposition method is formed.

本実施形態の液晶装置において、図2に示すように、画像表示領域を構成するマトリクス状に配置された複数の画素には、画素電極9と当該画素電極9を制御するためのスイッチング素子であるTFT素子30がそれぞれ形成されており、画像信号が供給されるデータ線6aが当該TFT素子30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、…、Snは、この順に線順次に供給されるか、あるいは相隣接する複数のデータ線6aに対してグループ毎に供給される。   In the liquid crystal device of the present embodiment, as shown in FIG. 2, a plurality of pixels arranged in a matrix that forms an image display area are a pixel electrode 9 and a switching element for controlling the pixel electrode 9. Each TFT element 30 is formed, and a data line 6 a to which an image signal is supplied is electrically connected to the source of the TFT element 30. Image signals S1, S2,..., Sn to be written to the data line 6a are supplied line-sequentially in this order, or are supplied for each group to a plurality of adjacent data lines 6a.

また、走査線3aがTFT素子30のゲートに電気的に接続されており、複数の走査線3aに対して走査信号G1、G2、…、Gmが所定のタイミングでパルス的に線順次で印加される。また、画素電極9はTFT素子30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT素子30を一定期間だけオンすることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、…、Snを所定のタイミングで書き込む。   In addition, the scanning line 3a is electrically connected to the gate of the TFT element 30, and scanning signals G1, G2,..., Gm are applied to the plurality of scanning lines 3a in a pulse-sequential manner at predetermined timing. The Further, the pixel electrode 9 is electrically connected to the drain of the TFT element 30, and the image signal S1, S2,... Supplied from the data line 6a is turned on by turning on the TFT element 30 as a switching element for a certain period. , Sn is written at a predetermined timing.

画素電極9を介して液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、後述する共通電極との間で一定期間保持される。液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能にする。ここで、保持された画像信号がリークすることを防止するために、画素電極9と共通電極との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量70が付加されている。   A predetermined level of image signals S1, S2,..., Sn written to the liquid crystal via the pixel electrode 9 is held for a certain period with the common electrode described later. The liquid crystal modulates light by changing the orientation and order of the molecular assembly according to the applied voltage level, thereby enabling gradation display. Here, in order to prevent the held image signal from leaking, a storage capacitor 70 is added in parallel with the liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 9 and the common electrode.

(平面構造)
次に、図3に基づいて、本実施形態の液晶装置100の平面構造について説明する。
図3に示すように、TFTアレイ基板上に、インジウム錫酸化物(以下、「ITO」と略す。)等の透明導電性材料からなる矩形状の画素電極9(点線部9Aにより輪郭を示す)が複数、マトリクス状に設けられており、画素電極9の縦横の境界に各々沿ってデータ線6a、走査線3a及び容量線3bが設けられている。本実施形態において、各画素電極9及び各画素電極9を囲むように配設されたデータ線6a、走査線3a、容量線3b等が形成された領域が画素であり、マトリクス状に配置された画素毎に表示を行うことが可能な構造になっている。
(Planar structure)
Next, a planar structure of the liquid crystal device 100 of the present embodiment will be described based on FIG.
As shown in FIG. 3, a rectangular pixel electrode 9 made of a transparent conductive material such as indium tin oxide (hereinafter abbreviated as “ITO”) on the TFT array substrate (the outline is indicated by a dotted line portion 9A). Are provided in a matrix, and a data line 6a, a scanning line 3a, and a capacitor line 3b are provided along vertical and horizontal boundaries of the pixel electrode 9, respectively. In the present embodiment, each pixel electrode 9 and the area where the data line 6a, the scanning line 3a, the capacitor line 3b, etc. are arranged so as to surround each pixel electrode 9 are pixels, and are arranged in a matrix. The display can be displayed for each pixel.

データ線6aは、TFT素子30を構成する例えばポリシリコン膜からなる半導体層1aのうち、後述のソース領域にコンタクトホール5を介して電気的に接続されており、画素電極9は、半導体層1aのうち、後述のドレイン領域にコンタクトホール8を介して電気的に接続されている。また、半導体層1aのうち、後述のチャネル領域(図中左上がりの斜線の領域)に対向するように走査線3aが配置されており、走査線3aはチャネル領域に対向する部分でゲート電極として機能する。   The data line 6a is electrically connected to a source region (described later) through a contact hole 5 in the semiconductor layer 1a made of, for example, a polysilicon film constituting the TFT element 30, and the pixel electrode 9 is connected to the semiconductor layer 1a. Among these, it is electrically connected to a drain region described later via a contact hole 8. In addition, the scanning line 3a is disposed so as to face a channel region (a region with a diagonal line rising to the left in the figure), which will be described later, in the semiconductor layer 1a, and the scanning line 3a serves as a gate electrode at a portion facing the channel region. Function.

容量線3bは、走査線3aに沿って略直線状に伸びる本線部(すなわち、平面的に見て、走査線3aに沿って形成された第1領域)と、データ線6aと交差する箇所からデータ線6aに沿って前段側(図中上向き)に突出した突出部(すなわち、平面的に見て、データ線6aに沿って延設された第2領域)とを有する。
そして、図3中、右上がりの斜線で示した領域には、複数の第1遮光膜11aが設けられている。
The capacitor line 3b is formed from a main line portion extending in a substantially straight line along the scanning line 3a (that is, a first region formed along the scanning line 3a in a plan view) and a portion intersecting the data line 6a. And a protruding portion (that is, a second region extending along the data line 6 a when viewed in a plan view) protruding toward the previous stage (upward in the drawing) along the data line 6 a.
In FIG. 3, a plurality of first light shielding films 11 a are provided in a region indicated by a diagonal line rising to the right.

より具体的には、第1遮光膜11aは、各々、半導体層1aのチャネル領域を含むTFT素子30をTFTアレイ基板側から見て覆う位置に設けられており、さらに、容量線3bの本線部に対向して走査線3aに沿って直線状に伸びる本線部と、データ線6aと交差する箇所からデータ線6aに沿って隣接する後段側(すなわち、図中下向き)に突出した突出部とを有する。第1遮光膜11aの各段(画素行)における下向きの突出部の先端は、データ線6a下において次段における容量線3bの上向きの突出部の先端と重なっている。この重なった箇所には、第1遮光膜11aと容量線3bとを相互に電気的に接続するコンタクトホール13が設けられている。すなわち、本実施形態では、第1遮光膜11aは、コンタクトホール13により前段あるいは後段の容量線3bに電気的に接続されている。   More specifically, each of the first light shielding films 11a is provided at a position covering the TFT element 30 including the channel region of the semiconductor layer 1a when viewed from the TFT array substrate side, and further, the main line portion of the capacitor line 3b. And a main line portion that extends linearly along the scanning line 3a and a protruding portion that protrudes from the portion intersecting the data line 6a to the rear side adjacent to the data line 6a (that is, downward in the figure). Have. The tip of the downward protruding portion in each stage (pixel row) of the first light shielding film 11a overlaps the tip of the upward protruding portion of the capacitor line 3b in the next stage under the data line 6a. A contact hole 13 for electrically connecting the first light-shielding film 11a and the capacitor line 3b to each other is provided at the overlapping portion. In other words, in the present embodiment, the first light shielding film 11a is electrically connected to the upstream or downstream capacitor line 3b through the contact hole 13.

(断面構造)
次に、図4に基づいて、本実施形態の液晶装置の断面構造について説明する。図4に示すように、本実施形態の液晶装置においては、TFTアレイ基板10と、これに対向配置される対向基板20との間に液晶層50が挟持されている。TFTアレイ基板10は、石英等の透光性材料からなる基板本体10Aとその液晶層50側表面に形成された画素電極9、TFT素子30、配向膜40を主体として構成されており、対向基板20はガラスや石英等の透光性材料からなる基板本体20Aとその液晶層50側表面に形成された対向電極21と配向膜60とを主体として構成されている。
(Cross-section structure)
Next, a cross-sectional structure of the liquid crystal device of the present embodiment will be described based on FIG. As shown in FIG. 4, in the liquid crystal device of this embodiment, a liquid crystal layer 50 is sandwiched between the TFT array substrate 10 and a counter substrate 20 disposed to face the TFT array substrate 10. The TFT array substrate 10 is mainly composed of a substrate body 10A made of a translucent material such as quartz, a pixel electrode 9 formed on the surface of the liquid crystal layer 50, a TFT element 30, and an alignment film 40. Reference numeral 20 mainly includes a substrate body 20A made of a light-transmitting material such as glass or quartz, a counter electrode 21 formed on the surface of the liquid crystal layer 50, and an alignment film 60.

より詳細には、TFTアレイ基板10において、基板本体10Aの液晶層50側表面には画素電極9が設けられ、各画素電極9に隣接する位置に、各画素電極9をスイッチング制御する画素スイッチング用TFT素子30が設けられている。
画素スイッチング用TFT素子30は、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有しており、走査線3a、当該走査線3aからの電界によりチャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1a’、走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶縁膜2、データ線6a、半導体層1aの低濃度ソース領域1b及び低濃度ドレイン領域1c、半導体層1aの高濃度ソース領域1d及び高濃度ドレイン領域1eを備えている。
More specifically, in the TFT array substrate 10, a pixel electrode 9 is provided on the surface of the substrate body 10 </ b> A on the liquid crystal layer 50 side, and for pixel switching for switching control of each pixel electrode 9 at a position adjacent to each pixel electrode 9. A TFT element 30 is provided.
The pixel switching TFT element 30 has an LDD (Lightly Doped Drain) structure, and includes a scanning line 3a, a channel region 1a ′ of the semiconductor layer 1a in which a channel is formed by an electric field from the scanning line 3a, and the scanning line 3a. A gate insulating film 2 that insulates the semiconductor layer 1a, a data line 6a, a low concentration source region 1b and a low concentration drain region 1c of the semiconductor layer 1a, and a high concentration source region 1d and a high concentration drain region 1e of the semiconductor layer 1a. ing.

また、上記走査線3a上、ゲート絶縁膜2上を含む基板本体10A上には、高濃度ソース領域1dへ通じるコンタクトホール5、及び高濃度ドレイン領域1eへ通じるコンタクトホール8が開孔した第2層間絶縁膜4が形成されている。つまり、データ線6aは、第2層間絶縁膜4を貫通するコンタクトホール5を介して高濃度ソース領域1dに電気的に接続されている。さらに、データ線6a上及び第2層間絶縁膜4上には、高濃度ドレイン領域1eへ通じるコンタクトホール8が開孔した第3層間絶縁膜7が形成されている。つまり、高濃度ドレイン領域1eは、第2層間絶縁膜4及び第3層間絶縁膜7を貫通するコンタクトホール8を介して画素電極9に電気的に接続されている。   Further, a second contact hole 5 leading to the high concentration source region 1d and a contact hole 8 leading to the high concentration drain region 1e are formed on the substrate main body 10A including the scanning line 3a and the gate insulating film 2. An interlayer insulating film 4 is formed. That is, the data line 6 a is electrically connected to the high concentration source region 1 d through the contact hole 5 that penetrates the second interlayer insulating film 4. Further, on the data line 6a and the second interlayer insulating film 4, a third interlayer insulating film 7 having a contact hole 8 leading to the high concentration drain region 1e is formed. That is, the high concentration drain region 1 e is electrically connected to the pixel electrode 9 through the contact hole 8 that penetrates the second interlayer insulating film 4 and the third interlayer insulating film 7.

また、本実施形態では、ゲート絶縁膜2を走査線3aに対向する位置から延設して誘電体膜として用い、半導体膜1aを延設して第1蓄積容量電極1fとし、更にこれらに対向する容量線3bの一部を第2蓄積容量電極とすることにより、蓄積容量70が構成されている。   In the present embodiment, the gate insulating film 2 is extended from a position facing the scanning line 3a and used as a dielectric film, the semiconductor film 1a is extended to form the first storage capacitor electrode 1f, and further opposed thereto. The storage capacitor 70 is configured by using a part of the capacitor line 3b to be a second storage capacitor electrode.

また、TFTアレイ基板10の基板本体10Aの液晶層50側表面において、各画素スイッチング用TFT素子30が形成された領域には、TFTアレイ基板10を透過し、TFTアレイ基板10の図示下面(TFTアレイ基板10と空気との界面)で反射されて、液晶層50側に戻る戻り光が、少なくとも半導体層1aのチャネル領域1a’及び低濃度ソース、ドレイン領域(LDD領域)1b、1cに入射することを防止するための第1遮光膜11aが設けられている。また、第1遮光膜11aと画素スイッチング用TFT素子30との間には、画素スイッチング用TFT素子30を構成する半導体層1aを第1遮光膜11aから電気的に絶縁するための第1層間絶縁膜12が形成されている。また、図3に示したように、TFTアレイ基板10に第1遮光膜11aを設けるのに加えて、コンタクトホール13を介して第1遮光膜11aは、前段あるいは後段の容量線3bに電気的に接続するように構成されている。   Further, on the surface of the TFT array substrate 10 on the liquid crystal layer 50 side of the substrate main body 10A, the region where the pixel switching TFT elements 30 are formed is transmitted through the TFT array substrate 10, and the lower surface (TFT) of the TFT array substrate 10 is illustrated. Return light reflected by the interface between the array substrate 10 and air and returning to the liquid crystal layer 50 is incident on at least the channel region 1a ′ and the low concentration source / drain regions (LDD regions) 1b and 1c of the semiconductor layer 1a. A first light-shielding film 11a for preventing this is provided. Further, a first interlayer insulation for electrically insulating the semiconductor layer 1a constituting the pixel switching TFT element 30 from the first light shielding film 11a is provided between the first light shielding film 11a and the pixel switching TFT element 30. A film 12 is formed. As shown in FIG. 3, in addition to providing the first light-shielding film 11a on the TFT array substrate 10, the first light-shielding film 11a is electrically connected to the capacitor line 3b at the preceding stage or the subsequent stage through the contact hole 13. Configured to connect to.

また、TFTアレイ基板10の液晶層50側最表面には、画素電極9及び画素電極9が形成されていない領域の第3層間絶縁膜7を覆うように、電圧無印加時における液晶層50内の液晶分子の配向を制御するための配向膜40が形成されている。   In addition, the inner surface of the TFT array substrate 10 on the liquid crystal layer 50 side covers the pixel electrode 9 and the third interlayer insulating film 7 in the region where the pixel electrode 9 is not formed. An alignment film 40 for controlling the alignment of the liquid crystal molecules is formed.

本実施形態においては、前記配向膜40は、SiOやSiO等の珪素酸化物、又はAl、ZnO、MgOやITO等の金属酸化物等を用いて、厚さ0.02〜0.3μm(好ましくは、0.02〜0.08μm)程度に形成されたものである。本実施形態では、SiOを主とする珪素酸化物を、従来公知の斜方蒸着することにより配向膜40が形成されたものとなっている。なお、前記配向膜40の製造には、イオンビームスパッタ法やマグネトロンスパッタ法等のスパッタ法を採用することも可能である。 In the present embodiment, the alignment film 40 has a thickness of 0.02 to 0 using a silicon oxide such as SiO 2 or SiO, or a metal oxide such as Al 2 O 3 , ZnO, MgO, or ITO. .3 μm (preferably 0.02 to 0.08 μm). In the present embodiment, the alignment film 40 is formed by obliquely vapor-depositing a silicon oxide mainly composed of SiO 2 . For the production of the alignment film 40, a sputtering method such as an ion beam sputtering method or a magnetron sputtering method may be employed.

また、前記配向膜40は、図5に示すように無数の柱状構造物40aから構成され、柱状構造物40aの一部は隣接する柱状構造物との間に間隙を有して形成されている。また、これらの柱状構造物40aは斜方蒸着法により形成されるため、柱状構造物40aのそれぞれは基板本体10Aの面に対し所定の傾斜角度θで配列されている。これにより、配向膜40上に配置される液晶の配向制御を行うことができるようになっている。   As shown in FIG. 5, the alignment film 40 is composed of an infinite number of columnar structures 40a, and a part of the columnar structures 40a is formed with a gap between adjacent columnar structures. . Since these columnar structures 40a are formed by oblique vapor deposition, each of the columnar structures 40a is arranged at a predetermined inclination angle θ with respect to the surface of the substrate body 10A. Thereby, alignment control of the liquid crystal arrange | positioned on the alignment film 40 can be performed now.

そして、前記配向膜40の直下、すなわち、画素電極9及び第3層間絶縁膜7と配向膜40との間には、少なくとも前記画素電極9を覆うようにして被覆膜41が形成されている。なお、上述したように配向膜40は柱状構造物を多数具備して構成されていて、隣接する柱状構造物間に空隙を有したものとなっている。これに対して、被覆膜41は後述するように原子層堆積((Atomic Layer Deposition)法、「以下、ALD法」とも呼ぶ。)により形成された、SiO(ただし、xは1以上の整数)等の酸化珪素から構成されたものである。なお、前記酸化珪素にボロン、リン、カーボン、及び窒素等を添加したものを用いてもよい。
そして、被覆膜41は、前記画素電極9から金属元素や金属イオン等の不純物が液晶層50側に拡散するのを防止する機能を発揮するためのもので、前記配向膜40と比較して空隙のない非常に緻密性の高い膜から構成されたものとなっている。
A coating film 41 is formed immediately below the alignment film 40, that is, between the pixel electrode 9 and the third interlayer insulating film 7 and the alignment film 40 so as to cover at least the pixel electrode 9. . As described above, the alignment film 40 includes a large number of columnar structures, and has a gap between adjacent columnar structures. On the other hand, the coating film 41 is formed by atomic layer deposition ((Atomic Layer Deposition) method, hereinafter also referred to as “ALD method”) as described later, and SiO X (where x is 1 or more) It is composed of silicon oxide such as an integer). Note that a material obtained by adding boron, phosphorus, carbon, nitrogen, or the like to the silicon oxide may be used.
The covering film 41 serves to prevent the impurities such as metal elements and metal ions from diffusing from the pixel electrode 9 to the liquid crystal layer 50 side. It is composed of a very dense film having no voids.

ここで、従来の液晶装置は時間の経過とともに、パネル内部の熱等により画素電極9から発生した金属元素や金属イオンが液晶層に拡散して不純物となる。このような不純物のうち、特に金属イオンが液晶層にまで拡散してしまうと、金属イオンによって液晶層が破壊されて液晶装置の表示特性が低下し、信頼性が低下してしまうといった問題が起こっていた。また、画素電極側から液晶層中に電子が注入されたり、液晶層とITOからなる画素電極とが接触することで前記画素電極上で生じた光触媒反応により、液晶層が劣化して液晶装置の表示特性、及び信頼性を低下させていた。   Here, in the conventional liquid crystal device, with the passage of time, metal elements and metal ions generated from the pixel electrode 9 due to heat inside the panel diffuse into the liquid crystal layer and become impurities. Among these impurities, particularly when metal ions diffuse into the liquid crystal layer, the liquid crystal layer is destroyed by the metal ions, resulting in a problem that the display characteristics of the liquid crystal device are deteriorated and reliability is lowered. It was. Further, electrons are injected into the liquid crystal layer from the pixel electrode side, or the liquid crystal layer is deteriorated by a photocatalytic reaction generated on the pixel electrode due to contact between the liquid crystal layer and the pixel electrode made of ITO. The display characteristics and reliability were reduced.

そこで、本実施形態に係る構成を採用すれば、前記画素電極9と液晶層50とが被覆膜41を介して接触した状態となっているので、この被覆膜41により画素電極9から発生した金属元素や金属イオン等の不純物が液晶層50側にまで拡散するのを防止している。
前記被覆膜41は物理的蒸着法を用いて形成された膜に比べて緻密性が高く厚みを薄くできる。具体的に本実施形態では、前記被覆膜41の膜厚を5〜50nmとしている。このようにすれば、液晶層50への不純物の拡散を確実に防止しつつ、膜厚が光の波長(400nm)に比べて十分小さいので、被覆膜41によって光が反射されるのを防止でき、液晶装置100における透過率、及びコントラスト比の低下が防止されたものとなる。
Therefore, if the configuration according to the present embodiment is employed, the pixel electrode 9 and the liquid crystal layer 50 are in contact with each other via the coating film 41, and thus the coating film 41 generates from the pixel electrode 9. This prevents the impurities such as the metal elements and metal ions from diffusing to the liquid crystal layer 50 side.
The coating film 41 is denser and thinner than a film formed by physical vapor deposition. Specifically, in the present embodiment, the coating film 41 has a thickness of 5 to 50 nm. In this way, the diffusion of impurities into the liquid crystal layer 50 is reliably prevented, and the film thickness is sufficiently smaller than the wavelength of light (400 nm), so that light is not reflected by the coating film 41. Thus, the transmittance and the contrast ratio in the liquid crystal device 100 are prevented from being lowered.

また、上述したように、珪素酸化物(SiO(ただし、xは1以上の整数))からなる被覆膜41は緻密性が高いことから絶縁膜として採用することもでき、この場合に画素電極9側から液晶層50側への電子注入を抑制することができる。さらに、被覆膜41によって画素電極9を覆っているので、液晶層50と画素電極9とが直接接触することがないので、画素電極9上で光触媒反応が起こるのを防止し、該光触媒反応に起因する液晶層50の劣化が防止されたものとなる。 Further, as described above, the coating film 41 made of silicon oxide (SiO X (where x is an integer of 1 or more)) has a high density and can be employed as an insulating film. Electron injection from the electrode 9 side to the liquid crystal layer 50 side can be suppressed. Furthermore, since the pixel electrode 9 is covered with the coating film 41, the liquid crystal layer 50 and the pixel electrode 9 are not in direct contact with each other, so that the photocatalytic reaction is prevented from occurring on the pixel electrode 9, and the photocatalytic reaction is prevented. The liquid crystal layer 50 is prevented from being deteriorated due to the above.

一方、対向基板20には、基板本体20Aの液晶層50側表面であって、データ線6a、走査線3a、画素スイッチング用TFT素子30の形成領域に対向する領域、すなわち各画素部の開口領域以外の領域に、入射光が画素スイッチング用TFT素子30の半導体層1aのチャネル領域1a’や低濃度ソース領域1b、低濃度ドレイン領域1cに侵入することを防止するための第2遮光膜23が設けられている。さらに、第2遮光膜23が形成された基板本体20Aの液晶層50側には、そのほぼ全面に渡って、ITO等からなる対向電極21が形成されている。   On the other hand, the counter substrate 20 has a surface facing the liquid crystal layer 50 side of the substrate body 20A and is opposed to the formation region of the data line 6a, the scanning line 3a, and the pixel switching TFT element 30, that is, the opening region of each pixel portion. The second light-shielding film 23 for preventing incident light from entering the channel region 1a ′, the low-concentration source region 1b, and the low-concentration drain region 1c of the semiconductor layer 1a of the pixel switching TFT element 30 in the other regions. Is provided. Further, on the liquid crystal layer 50 side of the substrate body 20A on which the second light shielding film 23 is formed, the counter electrode 21 made of ITO or the like is formed over almost the entire surface.

また、対向基板20の液晶層50側最表面には、電圧無印加時における液晶層50内の液晶分子の配向を制御するための配向膜60が形成されている。また、対向電極21と配向膜60との間には、金属元素や金属イオン等の不純物が対向電極21から液晶層50側に拡散することを防止するための被覆膜61が形成されている。これら配向膜60、被覆膜61は、各々、TFTアレイ基板10の配向膜40、被覆膜41と同等の構造を有するものである。   An alignment film 60 for controlling the alignment of liquid crystal molecules in the liquid crystal layer 50 when no voltage is applied is formed on the outermost surface of the counter substrate 20 on the liquid crystal layer 50 side. A coating film 61 is formed between the counter electrode 21 and the alignment film 60 to prevent impurities such as metal elements and metal ions from diffusing from the counter electrode 21 toward the liquid crystal layer 50 side. . The alignment film 60 and the coating film 61 have structures equivalent to the alignment film 40 and the coating film 41 of the TFT array substrate 10, respectively.

また、両基板10、20の外側(液晶層50と反対側の表面)には、ポリビニルアルコール(PVA)にヨウ素をドープした材料等からなる偏光板15,25が配置されている。各偏光板15,25は、その吸収軸方向の直線偏光を吸収し、透過軸方向の直線偏光を透過する機能を有する。また、TFTアレイ基板10側の偏光板15は、その透過軸が配向膜40の配向規制方向と略一致するように配置され、対向基板20側の偏光板25は、その透過軸が配向膜60の配向規制方向と略一致するように配置されている。   In addition, polarizing plates 15 and 25 made of a material obtained by doping polyvinyl alcohol (PVA) with iodine or the like are disposed outside the substrates 10 and 20 (the surface opposite to the liquid crystal layer 50). Each of the polarizing plates 15 and 25 has a function of absorbing linearly polarized light in the absorption axis direction and transmitting linearly polarized light in the transmission axis direction. Further, the polarizing plate 15 on the TFT array substrate 10 side is arranged so that the transmission axis thereof substantially coincides with the alignment regulating direction of the alignment film 40, and the transmission axis of the polarizing plate 25 on the counter substrate 20 side has the alignment film 60. It is arrange | positioned so that it may correspond with the orientation control direction of this.

液晶層50に用いる液晶としては、垂直配向し得るものであればいかなる液晶を用いても良いが、例えば、液晶分子の短軸方向が長軸方向に比較して分極しやすい、負の誘電率異方性を有する液晶を用いることができ、配向膜40、60の表面形状と液晶とを適宜組み合わせることにより、電圧無印加時において、液晶層50内の各液晶分子をTFTアレイ基板10(対向基板20)の表面に対して略垂直な方向、具体的にはTFTアレイ基板10(対向基板20)の法線方向に対して所定のチルト角の配向膜40を形成している。   As the liquid crystal used in the liquid crystal layer 50, any liquid crystal can be used as long as it can be vertically aligned. For example, a negative dielectric constant in which the minor axis direction of the liquid crystal molecules is more easily polarized than the major axis direction. An anisotropic liquid crystal can be used, and by appropriately combining the surface shape of the alignment films 40 and 60 and the liquid crystal, each liquid crystal molecule in the liquid crystal layer 50 can be transferred to the TFT array substrate 10 (opposing) when no voltage is applied. An alignment film 40 having a predetermined tilt angle with respect to a direction substantially perpendicular to the surface of the substrate 20), specifically, a normal direction of the TFT array substrate 10 (opposing substrate 20) is formed.

本実施形態に係る液晶装置100によれば、後述するように、原子層堆積法により形成された非常に緻密性の高い被覆膜41を備えているので、液晶装置100の駆動時に画素電極9及び対向電極21から発生した金属元素や金属イオン等の不純物が液晶層に拡散するのが防止される。また、上記被覆膜41,61は絶縁膜としても機能するので、電極9,21側から液晶層50側への電子注入を抑制できる。さらに、上記上記被覆膜41,61により液晶層50と電極9,21とが直接接触することがないため、光触媒反応に起因する液晶層50の劣化を防止できる。したがって、信頼性の高い液晶装置100となる。   According to the liquid crystal device 100 according to the present embodiment, as described later, the pixel electrode 9 is provided when the liquid crystal device 100 is driven because the coating film 41 having a very high density formed by the atomic layer deposition method is provided. In addition, impurities such as metal elements and metal ions generated from the counter electrode 21 are prevented from diffusing into the liquid crystal layer. Moreover, since the said coating films 41 and 61 function also as an insulating film, the electron injection from the electrodes 9 and 21 side to the liquid crystal layer 50 side can be suppressed. Furthermore, since the liquid crystal layer 50 and the electrodes 9 and 21 are not in direct contact with the coating films 41 and 61, it is possible to prevent deterioration of the liquid crystal layer 50 due to the photocatalytic reaction. Therefore, the liquid crystal device 100 with high reliability is obtained.

(液晶装置の製造方法)
次に、本発明の液晶装置の製造方法の一実施形態として、上記液晶装置100を製造する工程について説明する。特に、本実施形態の液晶装置は、上述したように配向膜40,60の下層に設けられた画素電極9及び対向電極21を覆って被覆膜41,61を備えた構造を特徴としている。
(Manufacturing method of liquid crystal device)
Next, a process for manufacturing the liquid crystal device 100 will be described as an embodiment of the method for manufacturing a liquid crystal device of the present invention. In particular, the liquid crystal device of the present embodiment is characterized by the structure including the coating films 41 and 61 covering the pixel electrode 9 and the counter electrode 21 provided below the alignment films 40 and 60 as described above.

一対の基板をなす、TFTアレイ基板10及び対向基板20を製造する。ここでは、TFTアレイ基板10を製造する場合を例に挙げて説明する。
はじめに、基板本体10Aの表面に、第1遮光膜11a、TFT素子30、層間絶縁膜(第1層間絶縁膜12、第2層間絶縁膜4、第3層間絶縁膜7)等を公知の方法によって形成する。そして、図3に示したように、前記第3層間絶縁膜7にコンタクトホール8を形成し、該コンタクトホール8を介して前記TFT素子30に接続するITOからなる画素電極9をスパッタ法やCVD法等の公知の方法を用いることで形成する。
The TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 forming a pair of substrates are manufactured. Here, a case where the TFT array substrate 10 is manufactured will be described as an example.
First, a first light shielding film 11a, a TFT element 30, an interlayer insulating film (first interlayer insulating film 12, second interlayer insulating film 4, third interlayer insulating film 7) and the like are formed on the surface of the substrate body 10A by a known method. Form. As shown in FIG. 3, a contact hole 8 is formed in the third interlayer insulating film 7, and the pixel electrode 9 made of ITO connected to the TFT element 30 through the contact hole 8 is formed by sputtering or CVD. It forms by using well-known methods, such as a method.

その後、前記画素電極9を覆うようにして被覆膜41を前記基板本体10A上に形成する。なお、前記被覆膜41を形成する方法としては、ALD法(原子層堆積法)を用いている。このALD法とは、非常に薄い膜を形成する場合に適しており、高精度の膜厚制御や組成制御を可能とする方法である。具体的には、原料ガスが被蒸着体(画素電極9、第3層間絶縁膜7)の表面上を流れることによって、前記被蒸着体の表面にある反応基と原料ガスとが反応することにより吸着層を形成し、被蒸着体の表面に1原子層ずつ成膜していく技術である。そのため、ALD法により形成された膜は、緻密性及び均一性が高く、しかもステップカバレッジに優れたものとなる。   Thereafter, a coating film 41 is formed on the substrate body 10A so as to cover the pixel electrode 9. As a method of forming the coating film 41, an ALD method (atomic layer deposition method) is used. This ALD method is suitable for forming a very thin film, and enables high-precision film thickness control and composition control. Specifically, when the source gas flows on the surface of the deposition target (pixel electrode 9, third interlayer insulating film 7), the reactive group on the surface of the deposition target reacts with the source gas. In this technique, an adsorption layer is formed, and one atomic layer is formed on the surface of the deposition target. Therefore, a film formed by the ALD method has high density and uniformity, and excellent step coverage.

本実施形態では、例えば、窒素雰囲気の反応室内に基板本体10Aを配置し、該基板本体10A上に珪素酸化物(SiO)からなる単分子膜を形成するべく、最適な原料ガスを反応室に供給する。被覆膜41を珪素酸化物によって形成することで、基板本体10A上に形成された画素電極9との密着性を高めることができる。 In the present embodiment, for example, the substrate main body 10A is disposed in a reaction chamber in a nitrogen atmosphere, and an optimal source gas is supplied to the reaction chamber in order to form a monomolecular film made of silicon oxide (SiO 2 ) on the substrate main body 10A. To supply. By forming the coating film 41 of silicon oxide, it is possible to improve the adhesion with the pixel electrode 9 formed on the substrate body 10A.

その後、原料ガスの流れを停止し、基板本体10Aに吸着しないで残った原料ガスを堆積反応室内からすべて除去するための不活性パージガスを流す。このような工程を繰り返すことで、所望の厚さの被覆膜41を形成することができる。
以上の工程により、被覆膜41が画素電極9を覆った状態に基板本体10Aの前面に形成される。なお、各ステップごとに原料ガスを切り替えることで、複数の材料が1原子層づつ積層された被覆膜を形成してもよい。
Thereafter, the flow of the source gas is stopped, and an inert purge gas for removing all the source gas remaining without being adsorbed on the substrate body 10A from the deposition reaction chamber is supplied. By repeating such steps, the coating film 41 having a desired thickness can be formed.
Through the above steps, the coating film 41 is formed on the front surface of the substrate body 10A so as to cover the pixel electrode 9. In addition, you may form the coating film in which several materials were laminated | stacked by 1 atomic layer by switching source gas for every step.

ALD法によって形成された被覆膜41は、上述したようにステップカバレッジに優れている(付きまわりがよい)ので、図4に示したように、コンタクトホール8内に設けられた画素電極9の表面上にも均一に形成することができ、コンタクトホール8内でも液晶層50と画素電極9とが直接接触することがない。よって、画素電極9上での光触媒反応を防止し、該光触媒反応に起因する液晶層50の劣化が防止できる。
このように、特に膜厚のバラツキが生じやすい画素電極9と第3層間絶縁膜との境界部分、あるいはコンタクトホール8の内部であっても均一かつ緻密性の高い被覆膜41により確実に覆うことができるので、液晶装置の駆動時に電界集中が生じることもなく、電界集中に起因する液晶層50内でのディスクリネーション等の発生を防止でき、これに起因するコントラスト低下を防止ないし抑制することが可能となる。
Since the coating film 41 formed by the ALD method is excellent in step coverage as described above (it is easy to follow), as shown in FIG. 4, the pixel electrode 9 provided in the contact hole 8 is formed. The liquid crystal layer 50 and the pixel electrode 9 are not in direct contact with each other even in the contact hole 8. Therefore, photocatalytic reaction on the pixel electrode 9 can be prevented, and deterioration of the liquid crystal layer 50 due to the photocatalytic reaction can be prevented.
In this way, even the boundary portion between the pixel electrode 9 and the third interlayer insulating film, where the film thickness tends to vary, or the inside of the contact hole 8 is surely covered with the uniform and dense coating film 41. Therefore, the electric field concentration does not occur when the liquid crystal device is driven, and the occurrence of disclination or the like in the liquid crystal layer 50 due to the electric field concentration can be prevented, and the decrease in contrast due to this can be prevented or suppressed. It becomes possible.

次に、被覆膜41を形成した基板本体10Aに対して、所定の方向、すなわち、図5中に示した基板本体10Aの面に所定の傾斜角度θなす方向から、酸化シリコン(SiO、SiO等)などの無機材料を斜方蒸着することにより、特定の方向に傾斜して配列した多数の柱状構造物40aを具備する配向膜40を形成する。なお、配向膜40を形成する際の傾斜角度θを制御することにより、電圧無印加時の液晶のプレチルト角を制御することができる。 Next, with respect to the substrate main body 10A on which the coating film 41 is formed, silicon oxide (SiO, SiO2) is formed from a predetermined direction, that is, a direction that forms a predetermined inclination angle θ with the surface of the substrate main body 10A shown in FIG. The alignment film 40 having a large number of columnar structures 40a arranged in a specific direction is formed by oblique deposition of an inorganic material such as 2 ). Note that the pretilt angle of the liquid crystal when no voltage is applied can be controlled by controlling the tilt angle θ when the alignment film 40 is formed.

具体的には、蒸着源(図示しない)から昇華した上記無機材料を基板本体10Aに対して略一定の入射角度(傾斜角度θ)で連続入射させる。すると、基板本体10Aには図5に示したように配向膜材料が斜め柱状に堆積し、これによって無機材料(珪素酸化物)の柱状構造体40aが形成される。そして、この柱状構造体40aが基板本体10Aの表面に無数に形成されたことにより、配向膜40が形成される。このように柱状構造体40aが所定の傾斜角度で形成され、これによって配向膜40が形成されると、液晶装置100では、柱状構造体40aに沿って液晶分子が配向することにより、液晶分子にプレチルト角が付与される。すなわち、前述したように液晶分子は、非選択電圧印加時に、配向膜40によって所定方向に配向規制されるようになる。本実施形態では、蒸着角度(蒸着方向と基板法線Lとのなす角)を40〜65°として、配向膜40を形成している。   Specifically, the inorganic material sublimated from a vapor deposition source (not shown) is continuously incident on the substrate body 10A at a substantially constant incident angle (tilt angle θ). Then, as shown in FIG. 5, the alignment film material is deposited in an oblique column shape on the substrate body 10A, thereby forming a columnar structure 40a of an inorganic material (silicon oxide). The columnar structure 40a is formed innumerably on the surface of the substrate body 10A, whereby the alignment film 40 is formed. Thus, when the columnar structure 40a is formed at a predetermined inclination angle, and thereby the alignment film 40 is formed, in the liquid crystal device 100, the liquid crystal molecules are aligned along the columnar structure 40a. A pretilt angle is given. That is, as described above, the alignment of liquid crystal molecules is regulated in a predetermined direction by the alignment film 40 when a non-selection voltage is applied. In the present embodiment, the alignment film 40 is formed with an evaporation angle (an angle formed between the evaporation direction and the substrate normal L) of 40 to 65 °.

このように、斜方蒸着により配向膜を形成することにより、ラビング処理等を行うことなく、配向膜40によって液晶分子にプレチルト角を良好に付与することが可能となる。また、配向膜40が無機材料から構成され、耐熱性及び耐光性を備えたものとなるので、後述するように、この配向膜40を備えた液晶装置100を特にプロジェクタの光変調素子として好適に採用することができる。
以上のようにして、偏光板15以外の必要な要素が形成されたTFTアレイ基板10を製造できる。
Thus, by forming the alignment film by oblique vapor deposition, it is possible to favorably impart a pretilt angle to the liquid crystal molecules by the alignment film 40 without performing a rubbing process or the like. In addition, since the alignment film 40 is made of an inorganic material and has heat resistance and light resistance, the liquid crystal device 100 including the alignment film 40 is particularly suitable as a light modulation element of a projector, as will be described later. Can be adopted.
As described above, the TFT array substrate 10 on which necessary elements other than the polarizing plate 15 are formed can be manufactured.

そして、上述したTFTアレイ基板10を製造する工程と同様に、基板本体20A上にITOからなる対向電極21を公知の方法により形成した後、ALD法を用いて被覆膜61を形成し、該被覆膜61上に多数の柱状構造物を具備する無機斜方蒸着膜からなる配向膜60を製造する。このようにして、偏光板25以外の必要な要素が形成された対向基板20を製造できる。このようにして得られたTFTアレイ基板10及び対向基板20間に液晶層50を挟持するとともに、シール材52を介して両基板10,20を貼り合わせることで液晶装置100を製造することができる。   Then, similarly to the process of manufacturing the TFT array substrate 10 described above, the counter electrode 21 made of ITO is formed on the substrate body 20A by a known method, and then the coating film 61 is formed using the ALD method, An alignment film 60 made of an inorganic oblique deposition film having a number of columnar structures is manufactured on the coating film 61. In this way, the counter substrate 20 on which necessary elements other than the polarizing plate 25 are formed can be manufactured. The liquid crystal device 100 can be manufactured by sandwiching the liquid crystal layer 50 between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 obtained in this manner and bonding the substrates 10 and 20 together through the sealing material 52. .

なお、本実施形態では、画素電極9及び対向電極21の両方とも被覆膜41,61により覆われた構成としているが、前記電極9,21のいずれか一方側のみに被覆膜を設け、該被覆膜上に配向膜を形成してもよい。これにより、少なくとも被覆膜によって覆われた側の電極からの不純物の拡散を防止でき、液晶装置の信頼性を向上できる。   In the present embodiment, both the pixel electrode 9 and the counter electrode 21 are covered with the coating films 41 and 61. However, a coating film is provided only on one side of the electrodes 9 and 21, An alignment film may be formed on the coating film. Thereby, at least diffusion of impurities from the electrode covered by the coating film can be prevented, and the reliability of the liquid crystal device can be improved.

本実施形態に係る液晶装置100の製造方法によれば、配向膜40と画素電極9との間に被覆膜41を備えているので、該被覆膜41を介して画素電極9と液晶層50とが接触した状態となる。よって、画素電極9から拡散した金属元素や金属イオン等の不純物は緻密性の高い膜である被覆膜41によって遮断されて、これら不純物が液晶層50側に拡散することを防止できる。ALD法によって形成された緻密性の高い被覆膜は、物理的蒸着法で形成された場合に比べてその厚みを十分に薄くすることができる。このように、厚みの薄い被覆膜41は、液晶装置100における透過率、及びコントラスト比を低下させることがない。また、不純物の拡散を緻密性の高い被覆膜41,61のみで防止できるので、配向膜40,60を薄くすることができ、予め配向膜40,60中に含まれたキャリア(電子、ホール)が少なくなって、これにより、前記電極9,21に電圧を印加した際に液晶層50に注入されるキャリア量が低減し、液晶装置100の信頼性を向上できる。また、上記被覆膜41,61が絶縁膜としても機能することにより電極9,21側から液晶層50側への電子注入を抑制できる。さらに、液晶層50と電極9,21とが直接接触することがないため、光触媒反応に起因する液晶層50の劣化を防止できる。したがって、電極9,21に起因する不具合が防止した、信頼性の高い液晶装置100を提供することができる。   According to the method for manufacturing the liquid crystal device 100 according to the present embodiment, since the coating film 41 is provided between the alignment film 40 and the pixel electrode 9, the pixel electrode 9 and the liquid crystal layer are interposed via the coating film 41. 50 comes into contact. Therefore, impurities such as metal elements and metal ions diffused from the pixel electrode 9 are blocked by the coating film 41 which is a highly dense film, and these impurities can be prevented from diffusing to the liquid crystal layer 50 side. The highly dense coating film formed by the ALD method can be made sufficiently thin as compared with the case where it is formed by the physical vapor deposition method. Thus, the thin coating film 41 does not reduce the transmittance and contrast ratio in the liquid crystal device 100. Further, since diffusion of impurities can be prevented only by the highly dense coating films 41 and 61, the alignment films 40 and 60 can be thinned, and carriers (electrons, holes) previously contained in the alignment films 40 and 60 can be reduced. This reduces the amount of carriers injected into the liquid crystal layer 50 when a voltage is applied to the electrodes 9 and 21, thereby improving the reliability of the liquid crystal device 100. In addition, since the coating films 41 and 61 also function as insulating films, electron injection from the electrodes 9 and 21 side to the liquid crystal layer 50 side can be suppressed. Furthermore, since the liquid crystal layer 50 and the electrodes 9 and 21 are not in direct contact with each other, the deterioration of the liquid crystal layer 50 due to the photocatalytic reaction can be prevented. Therefore, it is possible to provide a highly reliable liquid crystal device 100 in which problems due to the electrodes 9 and 21 are prevented.

(電子機器)
次に、本発明の電子機器の一実施形態としてのプロジェクタについて、図6を用いて説明する。図6は、プロジェクタの要部を示す概略構成図である。このプロジェクタは、前記実施形態に係る液晶装置100を光変調手段として備えたものである。
(Electronics)
Next, a projector as an embodiment of the electronic apparatus of the invention will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing a main part of the projector. This projector includes the liquid crystal device 100 according to the above-described embodiment as light modulation means.

図6において、810は光源、813、814はダイクロイックミラー、815、816、817は反射ミラー、818は入射レンズ、819はリレーレンズ、820は出射レンズ、822、823、824は本発明の液晶装置からなる光変調手段、825はクロスダイクロイックプリズム、826は投射レンズである。光源810は、メタルハライド等のランプ811とランプの光を反射するリフレクタ812とからなる。   6, 810 is a light source, 813 and 814 are dichroic mirrors, 815, 816 and 817 are reflection mirrors, 818 is an incident lens, 819 is a relay lens, 820 is an exit lens, and 822, 823 and 824 are liquid crystal devices of the present invention. 825 is a cross dichroic prism, and 826 is a projection lens. The light source 810 includes a lamp 811 such as a metal halide and a reflector 812 that reflects the light of the lamp.

ダイクロイックミラー813は、光源810からの白色光に含まれる赤色光を透過させるとともに、青色光と緑色光とを反射する。透過した赤色光は反射ミラー817で反射されて、赤色光用光変調手段822に入射される。また、ダイクロイックミラー813で反射された緑色光は、ダイクロイックミラー814によって反射され、緑色光用光変調手段823に入射される。さらに、ダイクロイックミラー813で反射された青色光は、ダイクロイックミラー814を透過する。青色光に対しては、長い光路による光損失を防ぐため、入射レンズ818、リレーレンズ819及び出射レンズ820を含むリレーレンズ系からなる導光手段821が設けられている。この導光手段821を介して、青色光が青色光用光変調手段824に入射される。   The dichroic mirror 813 transmits red light contained in white light from the light source 810 and reflects blue light and green light. The transmitted red light is reflected by the reflection mirror 817 and is incident on the light modulation means 822 for red light. The green light reflected by the dichroic mirror 813 is reflected by the dichroic mirror 814 and is incident on the light modulating means 823 for green light. Further, the blue light reflected by the dichroic mirror 813 passes through the dichroic mirror 814. For blue light, in order to prevent light loss due to a long optical path, a light guide means 821 including a relay lens system including an incident lens 818, a relay lens 819, and an exit lens 820 is provided. Blue light is incident on the light modulating means 824 for blue light through the light guiding means 821.

各光変調手段822、823、824により変調された3つの色光は、クロスダイクロイックプリズム825に入射する。このクロスダイクロイックプリズム825は4つの直角プリズムを貼り合わせたものであり、その界面には赤光を反射する誘電体多層膜と青光を反射する誘電体多層膜とがX字状に形成されている。これらの誘電体多層膜により3つの色光が合成されて、カラー画像を表す光が形成される。合成された光は、投射光学系である投射レンズ826によってスクリーン827上に投影され、画像が拡大されて表示される。   The three color lights modulated by the respective light modulation means 822, 823, and 824 are incident on the cross dichroic prism 825. The cross dichroic prism 825 is formed by bonding four right-angle prisms. A dielectric multilayer film that reflects red light and a dielectric multilayer film that reflects blue light are formed in an X shape at the interface. Yes. These dielectric multilayer films combine the three color lights to form light representing a color image. The synthesized light is projected onto the screen 827 by the projection lens 826 which is a projection optical system, and the image is enlarged and displayed.

このような構成からなるプロジェクタは、前記の液晶装置を光変調手段として備えているので、液晶層の劣化が防止され、表示品質の優れた信頼性の高いものとなる。
また、本発明の液晶装置を、プロジェクタ以外の電子機器に適用することも可能である。その具体例として、携帯電話を挙げることができる。この携帯電話は、前述した各実施形態又はその変形例に係る液晶装置を表示部に備えたものである。また、その他の電子機器としては、例えばICカード、ビデオカメラ、パーソナルコンピュータ、ヘッドマウントディスプレイ、さらに表示機能付きファックス装置、デジタルカメラのファインダ、携帯型TV、DSP装置、PDA、電子手帳、電光掲示盤、宣伝公告用ディスプレイ等が挙げられる。
Since the projector having such a configuration includes the liquid crystal device as a light modulation unit, the liquid crystal layer is prevented from being deteriorated and the display quality is excellent and the reliability is high.
The liquid crystal device of the present invention can also be applied to electronic devices other than projectors. A specific example is a mobile phone. This mobile phone includes the liquid crystal device according to each of the above-described embodiments or modifications thereof in a display unit. Other electronic devices include, for example, IC cards, video cameras, personal computers, head-mounted displays, fax machines with display functions, digital camera finders, portable TVs, DSP devices, PDAs, electronic notebooks, and electronic bulletin boards. And advertising announcement displays.

なお、本発明の技術的範囲は、前述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、前述した実施形態に種々の変更を加えたものを含む。例えば、上記実施形態では、垂直配向モードの液晶装置についてのみ説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明は、STN(Super Twisted Nematic)モード、TN(Twisted Nematic)モードなど、電圧無印加時の液晶分子の配向状態がいかなる液晶装置にも適用することができる。また、実施形態では3板式の投射型表示装置(プロジェクタ)を例にして説明したが、単板式の投射型表示装置や直視型表示装置に本発明を適用することも可能である。   It should be noted that the technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and includes those in which various modifications are made to the above-described embodiment without departing from the gist of the present invention. For example, in the above-described embodiment, only the vertical alignment mode liquid crystal device has been described. However, the present invention is not limited to this, and the present invention includes an STN (Super Twisted Nematic) mode, a TN (Twisted Nematic) mode, and the like. The alignment state of liquid crystal molecules when no voltage is applied can be applied to any liquid crystal device. Further, in the embodiment, the description has been given by taking a three-plate projection display device (projector) as an example, but the present invention can also be applied to a single-plate projection display device or a direct-view display device.

(a),(b)は、液晶装置の概略構成を示す模式図である。(A), (b) is a schematic diagram which shows schematic structure of a liquid crystal device. 液晶装置における等価回路図である。It is an equivalent circuit diagram in a liquid crystal device. 複数の画素群の構造を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of a several pixel group. 液晶装置の構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of a liquid crystal device. 配向膜の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of an alignment film. プロジェクタの要部を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the principal part of a projector.

符号の説明Explanation of symbols

9…画素電極(電極)、10…TFTアレイ基板(基板)、20…対向基板(基板)、21…対向電極(電極)、40…配向膜、41…被覆膜、50…液晶層、60…配向膜、61…被覆膜、100…液晶装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 9 ... Pixel electrode (electrode), 10 ... TFT array substrate (substrate), 20 ... Counter substrate (substrate), 21 ... Counter electrode (electrode), 40 ... Alignment film, 41 ... Cover film, 50 ... Liquid crystal layer, 60 ... Alignment film 61 ... Coating film 100 ... Liquid crystal device

Claims (6)

液晶層と、該液晶層を挟持する一対の基板と、該一対の基板における前記液晶層側にそれぞれ配置された一対の電極と、を備えた液晶装置の製造方法において、
原子層堆積法により、前記一対の電極の少なくとも一方を覆って前記基板表面に被覆膜を形成する工程と、
該被覆膜上に無機材料からなる配向膜を形成する工程と、を備えることを特徴とする液晶装置の製造方法。
In a method for manufacturing a liquid crystal device, comprising: a liquid crystal layer; a pair of substrates sandwiching the liquid crystal layer; and a pair of electrodes respectively disposed on the liquid crystal layer side of the pair of substrates.
Forming a coating film on the surface of the substrate so as to cover at least one of the pair of electrodes by an atomic layer deposition method;
And a step of forming an alignment film made of an inorganic material on the coating film.
無機材料を斜方蒸着することにより前記配向膜を形成することを特徴とする請求項1に記載の液晶装置の製造方法。   The method of manufacturing a liquid crystal device according to claim 1, wherein the alignment film is formed by oblique deposition of an inorganic material. 前記被覆膜を珪素酸化物を用いて形成することを特徴とする請求項1又は2に記載の液晶装置の製造方法。   The method for manufacturing a liquid crystal device according to claim 1, wherein the coating film is formed using silicon oxide. 液晶層と、該液晶層を挟持する一対の基板と、該一対の基板における前記液晶層側にそれぞれ配置された一対の電極と、を備えた液晶装置において、
前記一対の電極の少なくとも一方が、原子堆積法により形成された被覆膜によって覆われ、該被覆膜上には無機材料からなる配向膜が形成されていることを特徴とする液晶装置。
In a liquid crystal device comprising a liquid crystal layer, a pair of substrates sandwiching the liquid crystal layer, and a pair of electrodes respectively disposed on the liquid crystal layer side of the pair of substrates,
At least one of the pair of electrodes is covered with a coating film formed by an atomic deposition method, and an alignment film made of an inorganic material is formed on the coating film.
前記被覆膜の膜厚は、5〜50nmであることを特徴とする請求項4に記載の液晶装置。   The liquid crystal device according to claim 4, wherein the coating film has a thickness of 5 to 50 nm. 請求項4又は5に記載の液晶装置を備えたことを特徴とする電子機器。

An electronic apparatus comprising the liquid crystal device according to claim 4.

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