JP2007140371A - Surface mirror - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、金属膜と酸化物膜とが積膜されてなる表面鏡に関し、特にスクリーンの背面から画像を投影するリアプロジェクションテレビに用いる表面鏡に関する。 The present invention relates to a surface mirror in which a metal film and an oxide film are stacked, and more particularly to a surface mirror used in a rear projection television that projects an image from the back of a screen.
近年、大画面表示装置としてリアプロジェクションテレビ、フラットパネルディスプレイおよびプロジェクションテレビなどがあるが、中でもリアプロジェクションテレビは、安価であるという理由から、かなりの普及がみられる。 In recent years, there are rear projection televisions, flat panel displays, projection televisions, and the like as large-screen display devices. Among them, rear projection televisions are considerably popular because they are inexpensive.
リアプロジェクションテレビは、CRT等の表示画面を、光学系を用いてスクリーンに映すものであり、鏡を用いて表示光を反射させることにより、小さい奥行きで光路を長くして、大きなスクリーンに映すようにしている。 The rear projection television is a screen that displays a display screen such as a CRT on the screen using an optical system. By reflecting the display light using a mirror, the optical path is extended with a small depth and projected on a large screen. I have to.
リアプロジェクションテレビに用いられる鏡として、ガラス基板に銀鏡反応でAg膜を成膜し、Ag膜上に保護膜を形成してなる、いわゆる裏面鏡といわれるものと、ガラスの表面に金属膜を形成してその上に酸化物膜を形成して、酸化物膜の面から光を入射して、金属膜で反射させる表面鏡とが用いられている。 As mirrors used in rear projection televisions, an Ag film is formed on a glass substrate by a silver mirror reaction, and a protective film is formed on the Ag film, a so-called back mirror, and a metal film is formed on the glass surface. A surface mirror is used in which an oxide film is formed thereon, light is incident from the surface of the oxide film, and is reflected by a metal film.
裏面鏡は、反射膜が耐久性のある保護膜を用いて保護されており、浴室などに用いることができるほど耐久性は良いが、光は、Ag膜で反射する他にガラス面でも反射をするため、スクリーンに映し出される表示には2重像が生じるという問題や、ガラス基板による表示光の吸収のため、反射率が低いといった問題点がある。 The back mirror is protected with a durable protective film, and the durability is so good that it can be used in bathrooms, etc., but light reflects on the glass surface as well as on the Ag film. Therefore, there is a problem that a double image is generated in the display displayed on the screen and a problem that the reflectance is low due to absorption of display light by the glass substrate.
物理蒸着法などでガラス面に金属膜を成膜されてなる表面鏡は反射率が大きく、金属膜が表示光を、ガラスを通過させずに、直接反射させるため、2重像の問題もない。 A surface mirror formed by depositing a metal film on the glass surface by physical vapor deposition or the like has a high reflectivity, and the metal film directly reflects display light without passing through the glass, so there is no problem of a double image. .
例えば、特許文献1には、Agを主成分としてPd、AuおよびRuを添加した金属膜をスパッタリング法で作成される表面鏡が開示されている。
For example,
しかし、このような鏡は、一般家庭用で使用されるリアプロジェクションテレビに使用するには、貴金属を用いるため高価であり、また、高温・高湿雰囲気に対する耐久性に問題がある。 However, such a mirror is expensive because it uses a precious metal for use in a rear projection television used in general homes, and has a problem in durability against a high temperature and high humidity atmosphere.
そこで、最近は金属膜にAlを用いた表面鏡が用いられている。例えば、Alを用いた表面鏡として特許文献2では、基板にTiO2、AlO2、Al、TiO2の順に薄膜を積膜した反射鏡が提案しされている。この表面鏡の反射率は90%以下であり、また、反射膜の硬度に難点がある。
Therefore, recently, a surface mirror using Al for the metal film has been used. For example,
また特許文献3には、基板にSiO2、Al、Cr、Al2O3の順に薄膜を積膜した反射鏡が提案されているが、この表面鏡の反射率も低く、リアプロジェクタテレビに用いることはできない。
そこで、一般的に用いられている表面鏡は、ガラス基板にAl、SiO2、TiO2の順に成膜した増反射タイプの反射鏡が使用されているが、この膜構成は、耐磨耗性能が劣り、表面が汚れた場合に布等で拭く事ができない。 Therefore, the commonly used surface mirror is a reflection mirror of increasing reflection type, which is formed on a glass substrate in the order of Al, SiO 2 , TiO 2 , but this film configuration is wear resistant. If the surface is dirty, it cannot be wiped with a cloth.
この欠陥を解決するものとして、特許文献4は、基板にAl、SiO2、TiO2、SixNyの順に薄膜を積膜した表面鏡が提案されている。この膜構成の表面鏡は、耐磨耗性の改善が見られるが、Al膜の構造は改善されていないので、十分な硬度や耐久性が得られていない。
As a solution to this defect,
最近、プロジェクションテレビは、そのサイズが60インチ以上と、大型化が進み、また、Degital Light Processinng(テキサツインストルメント社、登録商標)や反射型液晶パネルなどの表示輝度や画像の精密さが向上した光源が用いられるようになり、従来確認できなかった表面鏡の膜欠陥に起因する微細なピンホールがスクリーン上に汚れとして見え画面品質を損なう問題が出てきた。 Recently, projection televisions have grown in size to 60 inches or more, and display brightness and image precision have improved, such as Digital Light Processing (Texa Twin Strument, registered trademark) and reflective liquid crystal panels. As a result, a fine pinhole caused by a film defect of a surface mirror, which could not be confirmed in the past, appears as dirt on the screen and impairs the screen quality.
すなわち、従来、表面鏡の膜欠陥は、直径0.5mm以下であれば問題無しとされていたが、直径0.3mm程度の微細なピンホールも問題となることが判明しており、このようなピンホールの無い大サイズの表面鏡が求められている。
直径0.3mm程度の微細なピンホールの無い、大サイズの表面鏡を提供する。 A large-sized surface mirror without a fine pinhole having a diameter of about 0.3 mm is provided.
本発明の表面反射鏡は、ガラス基板に金属膜と金属酸化物膜とが成膜されてなる表面鏡において、ガラス基板の上にAl膜、SiNxOy膜、Nb2O5膜を順次積層してなることを特徴とする表面鏡である。 Surface reflector of the present invention is a surface mirror to a glass substrate and a metal film and a metal oxide film formed by deposition, Al film on a glass substrate, SiN x O y film are sequentially laminated Nb 2 O 5 film It is a surface mirror characterized by becoming.
また、本発明の表面反射鏡は、前記表面鏡において、ガラス基板とAl膜との間にSiNxOyが成膜されてあることを特徴とする表面鏡である。 The surface reflecting mirror of the present invention is a surface mirror characterized in that SiNxOy is formed between a glass substrate and an Al film in the surface mirror.
本発明の表面鏡は、リアプロジェクションテレビが必要とする微細なピンホールが少ない表面鏡を提供することを可能にする。 The surface mirror of the present invention makes it possible to provide a surface mirror with few fine pinholes required for a rear projection television.
微細なピンホールが無い表面鏡を得るために、ガラス基板、Al膜、SiO2膜、Nb2O5の順に構成される表面鏡において、ピンホールの発生を調査したところ、直径0.5mm以下のピンホールは、Al膜及びNb2O5膜単層膜ではピンホールが発生していないこと、SiO2の成膜時に発生していることが判明した。 In order to obtain a surface mirror without a fine pinhole, the occurrence of pinholes in a surface mirror composed of a glass substrate, an Al film, a SiO 2 film, and Nb 2 O 5 was investigated. It has been found that no pinhole is generated in the Al film and the Nb 2 O 5 single layer film, and that the pinhole is generated when the SiO 2 film is formed.
さらに、Siターゲットを用いてSiO2を成膜する際に、Si表面にSiO2の絶縁膜が生成し電荷が蓄積された結果発生する、マイクロアーキングと呼ばれる微細な異常放電が局所的に発生しているのが観察された。また、マイクロアーキングの発生頻度とピンホールの発生個数とに相関関係のあることがわかった。 Furthermore, when depositing SiO 2 using a Si target, a fine abnormal discharge called micro-arcing, which occurs as a result of the formation of a SiO 2 insulating film on the Si surface and the accumulation of electric charges, occurs locally. It was observed. It was also found that there is a correlation between the frequency of micro arcing and the number of pinholes.
従って、表面鏡の直径0.5mm以下のピンホールは、このSiO2膜を成膜時のマイクロアーキングが原因である事が特定された。 Therefore, it has been specified that pinholes having a diameter of 0.5 mm or less on the surface mirror are caused by micro-arcing when the SiO 2 film is formed.
そこでSiO2を成膜時にこのマイクロアーキングを無くす方法を検討した。
その結果、SiO2の代わりに同じ屈折率、吸収を有するSiNxOy膜を用いることにより、マイクロアーキングを減少させることに成功した。またこのSiNxOyを用いた表面鏡は、SiO2を用いた表面鏡と同じ光学特性と耐久性を有することも確認された。
Therefore, a method for eliminating this micro arcing during the deposition of SiO 2 was studied.
As a result, the same refractive index, instead of SiO 2, by using the SiNxOy film having absorption, succeeded in reducing the micro arcing. It was also confirmed that the surface mirror using SiNxOy has the same optical characteristics and durability as the surface mirror using SiO 2 .
このSiNxOy膜が、マイクロアーキングを防止するメカニズムは、Siターゲット表面にマイクロアーキングの発生源となるSiO2の生成を防止する事で成膜時の電圧を低下させマイクロアーキングを発生しにくくする効果がある。 The mechanism by which this SiNxOy film prevents micro arcing has the effect of reducing the voltage at the time of film formation and making it difficult to generate micro arcing by preventing the generation of SiO 2 which is the source of micro arcing on the Si target surface. is there.
本発明の表面鏡は、これらのピンホールが非常に少ない表面鏡として、ガラス基板の上にAl膜、SiNxOy、Nb2O5からなる膜構成の表面鏡を見出したものである。 Surface mirror of the present invention, as these pinholes is very little surface mirror, it has been found Al film on a glass substrate, SiN x O y, a front surface mirror film structure composed of Nb 2 O 5.
図3は、本発明の表面鏡が用いられる、リアプロジェクションテレビ1の構成を示す概略図である。リアプロジェクションテレビ1は、主に、ケーシング5の中に、映像投射装置2と、映像投射装置2から投射される映像を反射する反射鏡3、反射鏡3で反射される映像を映すスクリーン4等で構成される。映像投射装置2は、CRT等の表示装置と映像を投射するための光学系で構成されている。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a configuration of the
本発明の表面鏡3は、図1に示すような、ガラス基板11に、Al膜13、SiNxOy膜14、Nb2O5膜15が、この順に物理蒸着法で積膜されて、反射膜10を形成する表面鏡3′、または、図2に示すように、ガラス基板11に、SiNxOy膜12、Al膜13、SiNxOy膜14、Nb2O5膜15、がこの順に物理蒸着法で積膜されて、反射膜10′を形成する表面鏡3″である。
In the
ガラス基板11にはフロート法で製作される板ガラスを用いることができ、Al膜13あるいはSiNxOy膜12を成膜するガラス表面を、成膜する前にイオンエッチング処理したものを好適に用いることができる。 The glass substrate 11 can be a plate glass manufactured by a float process, and a glass surface on which the Al film 13 or the SiNxOy film 12 is formed can be suitably used by performing an ion etching process before forming the film. .
また、高平坦度ガラスと呼ばれる表面のうねりの少ないガラスや、研磨した平坦度が優れたガラスを用いることが好ましい。 In addition, it is preferable to use a glass called a high flatness glass with less surface waviness or a glass having excellent polished flatness.
物理蒸着法としては、スパッタリング法、真空蒸着法、電子ビーム蒸着法等の方法を用いることができる。なかでも、成膜が容易なこと、膜の密着性が良好なこと等から、スパッタリング法が推奨される。 As physical vapor deposition, methods such as sputtering, vacuum vapor deposition, and electron beam vapor deposition can be used. Among these, the sputtering method is recommended because of easy film formation and good film adhesion.
図2に示す、ガラス基板11の表面に成膜されるSiNxOy膜12は、その上に形成されるAl膜13を直接ガラス基板に積膜するものより、Al膜の結晶性を更に高めて、ガラス基板11とAl膜13との密着性を向上させるのために成膜するもので、1〜50nmの膜厚とすることが好ましい。さらに、SiNxOy膜12の厚みは、100nm程度と厚くした場合も特に問題はないが、Alの結晶性は、50nm以上では殆んど変わらないので、コスト的に50nm以下とすることが望ましい。 The SiNxOy film 12 formed on the surface of the glass substrate 11 shown in FIG. 2 further improves the crystallinity of the Al film than the film on which the Al film 13 formed thereon is directly deposited. The film is formed in order to improve the adhesion between the glass substrate 11 and the Al film 13, and the film thickness is preferably 1 to 50 nm. Further, there is no particular problem even when the thickness of the SiNxOy film 12 is as thick as about 100 nm, but the Al crystallinity is hardly changed at 50 nm or more, so that it is desirable to make it 50 nm or less in terms of cost.
Al膜13は、60nm以上の膜厚にすれば90%以上の可視光線反射率が得られ、また、60nm以上で厚みを増やしても反射率は大きくならないので、膜厚は60nmとすれば十分である。但しそれ以上の膜厚としても、特に問題はない。 If the Al film 13 has a thickness of 60 nm or more, a visible light reflectance of 90% or more can be obtained, and even if the thickness is increased at 60 nm or more, the reflectance does not increase. It is. However, there is no particular problem even if the film thickness is larger than that.
Al膜は、アルミニウムターゲットを用い、Arガスなどの不活性雰囲気下でスパッタリングして得ることができる。 The Al film can be obtained by sputtering using an aluminum target in an inert atmosphere such as Ar gas.
Al膜には、Alの耐食性向上対策として、0〜5重量%以下のMn、Mg、Si、Ndから選ばれる1種以上の金属を含んだものを用いることができる。Mn、Mg、Si、Ndを含ませるには、アルミニウムターゲットにMn、Mg、Si、Ndを含有させたターゲットを用い、Arガス等の不活性雰囲気中で成膜することによって得られる。 As the Al film, as a countermeasure for improving the corrosion resistance of Al, a film containing one or more metals selected from Mn, Mg, Si, and Nd of 0 to 5% by weight or less can be used. In order to contain Mn, Mg, Si, and Nd, it is obtained by forming a film in an inert atmosphere such as Ar gas using a target in which Mn, Mg, Si, and Nd are contained in an aluminum target.
但し、Al膜に含ませるMn、Mg、Si、Ndが5重量%を越えると、Alの結晶性が損なわれ反射率が低下するので好ましくない。 However, if Mn, Mg, Si, or Nd contained in the Al film exceeds 5% by weight, the Al crystallinity is impaired and the reflectance is lowered, which is not preferable.
また、耐久性能を向上させるためにAl膜に含有させる、Mn、Mg、Si、Ndは、Al膜の結晶の構造を崩し、反射率の低下となるので、含有量はできるだけ抑えることが好ましい。 Further, Mn, Mg, Si, and Nd contained in the Al film in order to improve the durability performance destroys the crystal structure of the Al film and lowers the reflectivity. Therefore, the content is preferably suppressed as much as possible.
Al膜の上のSiNxOy膜14は、Al膜13と最上膜のNb2O5膜15との密着性を向上させる効果もある。
The
SiNxOy膜14の厚みを30nm以上にすれば、Al膜に直接Nb2O5膜を積膜したもの比べ、十分な硬度と耐高温・高湿性を有する表面鏡が得られる。またNb2O5との屈折率の違いによる反射率の増反射効果を得るには、SiNxOy膜14の厚みは、80±40nmとすることが好ましい。
If the thickness of the
SiNxOy膜14は、Siターゲットを用い、Arガス、酸素ガス、窒素ガスの混合ガス雰囲気下でスパッタリングすることにより得られる。Siターゲットには、一般的にBやAlが含まれたものが使用される。Arガス、酸素ガス、窒素ガスの比率は、容積比で、Arガス:35〜80%、酸素ガス:15〜45%、窒素ガス:5〜25%とすることが最適である。
The
但し窒素が酸素に対して少なすぎるとSiO2の膜となってしまい。アーキングが発生しピンホールが増加する。また多すぎるとSi3N4となり、表面鏡の光学特性や耐久性に悪い影響を与える。 However, if the amount of nitrogen is too small relative to oxygen, a SiO 2 film is formed. Arcing occurs and pinholes increase. On the other hand, if it is too much, Si 3 N 4 is formed , which adversely affects the optical properties and durability of the surface mirror.
また、成膜されるSiNxOy膜14は、0.5≦x≦1.5、0.5≦y≦1.9とすることが好ましい。
Further, it is preferable that the
Nb2O5膜15は、ニオブターゲットを用い、Arガスに対して50〜100重量%の酸素含有雰囲気下でスパッタリングすることにより得られ、金属膜の保護と増反射を目的として成膜される。 The Nb 2 O 5 film 15 is obtained by using a niobium target and performing sputtering in an atmosphere containing 50 to 100% by weight of oxygen with respect to Ar gas, and is formed for the purpose of protecting the metal film and increasing reflection. .
表面鏡13をリアプロジェクションテレビに用いるためには、Nb2O5膜15の厚みを30nm以上とすることにより、十分な耐高温・高湿性と耐摩耗性が得られる。またSiNxOyとの屈折率の違いによる反射率の増反射効果を得るには、Nb2O5膜15の厚みは60±40nmとすることが好ましい。 In order to use the surface mirror 13 for a rear projection television, by setting the thickness of the Nb 2 O 5 film 15 to 30 nm or more, sufficient high temperature resistance / high humidity resistance and wear resistance can be obtained. In order to obtain the effect of increasing the reflectivity due to the difference in refractive index from SiNxOy, the thickness of the Nb 2 O 5 film 15 is preferably 60 ± 40 nm.
以下本発明の一例として、成膜方法にスパッタリング法を採用した実施例を詳述するが、本発明の反射鏡は、この成膜法に限定されるものではない。 Hereinafter, as an example of the present invention, an embodiment in which a sputtering method is employed as a film forming method will be described in detail. However, the reflecting mirror of the present invention is not limited to this film forming method.
実施例1
洗浄、乾燥した厚み3mm、サイズ600mm×600mmのフロート法板ガラスを用いて図2に示す膜構成の表面鏡3″を作製した。成膜は全てスパッタリング法で行った。
Example 1
A
最初に、Ar100(sccm)、酸素70(sccm)で真空圧0.10paの雰囲気において、高周波電源装置(出力3k、2A)を用い、電圧は1000vを印加して反応性プラズマを発生させ、反応性プラズマの下を、約1(mm/min)の速度でガラスを通過させ、ガラス表面の改質を行った。 First, in an atmosphere of Ar100 (sccm), oxygen 70 (sccm) and a vacuum pressure of 0.10 pa, a high-frequency power supply (output 3k, 2A) is used, and a voltage of 1000 V is applied to generate reactive plasma, The glass surface was modified by passing the glass under a neutral plasma at a speed of about 1 (mm / min).
次に、中周波電源を用いて、Siターゲットを取り付けたデュアルカソード用いて、アルゴン120(sccm)、酸素60(sccm)窒素35(sccm)で真空度0.30(pa)の雰囲気において厚み30nmのSiNx0y膜12を成膜した。 Next, using a dual cathode with a Si target attached using a medium frequency power source, a thickness of 30 nm in an atmosphere of argon 120 (sccm), oxygen 60 (sccm), nitrogen 35 (sccm) and a degree of vacuum of 0.30 (pa). A SiNx0y film 12 was formed.
次いで、SiNxOy膜の上に、同様の電源を用いて、Alターゲットを取り付けたデュアルカソード用いて、Ar300(sccm)の雰囲気で厚み80nmのAl膜13を成膜した。 Next, on the SiNxOy film, an Al film 13 having a thickness of 80 nm was formed in an Ar300 (sccm) atmosphere using a dual cathode with an Al target attached using the same power supply.
次いで、厚み80nmのSiNxOy膜14を、同様の電源、カソードを使用しSiターゲットを用いて、Ar120(sccm)、酸素70(sccm)、窒素35(sccm)圧力0.46(pa)の雰囲気で成膜した。
Next, the
さらに、SiNxOy膜14の上に、Nbターゲットを用いて、Nb2O5膜を60nm成膜した。成膜は同様の電源、カソードを使用しNbターゲットを用いてAr300(sccm)、酸素120(sccm)、圧力0.28(pa)の雰囲気で成膜した。
Further, an Nb 2 O 5 film was formed to 60 nm on the
実施例2
図1に示す、ガラス基板11とAl膜13との間にSiNxOyを成膜しない、実施例1とは異なる反射鏡3′を作製した。この反射鏡の作製は、ガラス基板11とAl膜13との間にSiNxOyを成膜しないことを除いて、実施例1と全く同じ条件で行った。
Example 2
A reflecting
比較例1
実施例1のSiNxOyの代わりにSiO2膜をSiターゲットを用いて成膜した以外は、全て実施例1と同様の成膜を行い、表面鏡を作製した。SiO2膜の厚みはSiNxOyの厚みと同じにした。
Comparative Example 1
A surface mirror was fabricated in the same manner as in Example 1, except that a SiO 2 film was formed using a Si target instead of SiNxOy in Example 1. The thickness of the SiO 2 film was the same as the thickness of SiNxOy.
〔ピンホールの評価〕
実施例1、実施例2、比較例1の表面鏡に関して、ピンホールの発生を評価した。評価方法は、1000mm×600mmサイズのガラス基板10枚において直径0.3mm〜0.5mmのピンホールの発生個数を確認した。発生個数の確認は、成膜開始直後、成膜開始から経過した時間が6時間後、12時間後、24時間後に行った。
[Evaluation of pinhole]
Regarding the surface mirrors of Example 1, Example 2, and Comparative Example 1, the occurrence of pinholes was evaluated. The evaluation method confirmed the generation | occurrence | production number of the pinhole of diameter 0.3mm-0.5mm in ten glass substrates of 1000 mm x 600 mm size. Confirmation of the number of occurrences was performed immediately after the start of film formation, after 6 hours, 12 hours, and 24 hours after the start of film formation.
確認されたピンホールの発生個数を表1に示す。表1のピンホールの発生個数はサンプル10枚に確認されたピンホールの個数である。 Table 1 shows the number of confirmed pinholes. The number of generated pinholes in Table 1 is the number of pinholes confirmed in 10 samples.
表1に示すように、SiNxOyを用いた表面鏡の実施例1、2は、24時間経過後もピンホールの発生は、非常に少なかったが、SiO2を用いた比較例1は、成膜直後のピンホールは少ないが、時間と共にピンホールの個数が増加し、12時間経過後にはピンホール無しの表面鏡を作製できないことが判明した。 As shown in Table 1, Examples 1 and 2 of a surface mirror with SiNxOy, the occurrence of pinholes after 24 hours, but was very small, Comparative Example 1 using the SiO 2 is deposited The number of pinholes immediately after is small, but the number of pinholes increases with time, and it was found that a surface mirror without a pinhole cannot be produced after 12 hours.
〔反射率の評価〕
実施例1、実施例2、比較例1に対して、分光光度計 (U−400 型.日立製作所製)により入射角度8度の可視光線波長による反射率を測定した。反射率の測定結果を表2に示す。
[Evaluation of reflectivity]
With respect to Example 1, Example 2, and Comparative Example 1, the reflectance by the visible light wavelength at an incident angle of 8 degrees was measured with a spectrophotometer (U-400 type, manufactured by Hitachi, Ltd.). The measurement results of the reflectance are shown in Table 2.
実施例1、2の反射鏡は、比較例1とほとんど差異が無く、SiO2膜をSiNxOy膜に変更しても、反射率に大きな変化の無いことが確認された。
〔耐久性の評価〕
実施例1、実施例2、比較例1に対して以下の各評価項目の耐久性を評価した。
The reflectors of Examples 1 and 2 were almost the same as Comparative Example 1, and it was confirmed that there was no significant change in reflectivity even when the SiO 2 film was changed to a SiNxOy film.
[Evaluation of durability]
The durability of the following evaluation items was evaluated with respect to Example 1, Example 2, and Comparative Example 1.
密着性:接着テープ (スコッチメンディングテープ 3M#800)を膜上に貼着後、これを引き剥がし、45mmφ当たりの成膜した膜の剥離、膜に発生したピンホール数(個数)を顕微鏡で観察、測定する。 Adhesion: Adhesive tape (Scotch Mending Tape 3M # 800) is attached to the film, then peeled off, and the film formed per 45 mmφ is peeled off. The number of pinholes (number) generated in the film is measured with a microscope. Observe and measure.
硬度:膜表面に6枚重ねのネルを介在させて450g/cm2の重錘を乗せ、これをストローク距離100mmで500回往復摺動して、該摺動部の透過率の変化を測定する。 Hardness: A weight of 450 g / cm 2 is placed on the film surface with a nell of 6 sheets stacked, and this is reciprocated 500 times at a stroke distance of 100 mm, and the change in transmittance of the sliding part is measured. .
耐湿性能:50℃、95%RHの雰囲気中に24時間放置する。その後、洗浄しテスト前後で外観品質の異常が無い事を確認する。 Moisture resistance: leave in an atmosphere of 50 ° C. and 95% RH for 24 hours. Then, clean and confirm that there is no abnormality in appearance quality before and after the test.
耐高温性能:70℃の雰囲気中に24時間放置する。その後、洗浄しテスト前後で外観品質の異常が無い事を確認する。 High temperature resistance: Leave in an atmosphere at 70 ° C. for 24 hours. Then, clean and confirm that there is no abnormality in appearance quality before and after the test.
耐高低温性能:40℃、30%RHの雰囲気中に24時間放置後、1時間自然放置後、−10℃の雰囲気中に24時間放置後、1時間自然放置するというサイクルを1サイクルとして2サイクル実施する。その後、洗浄しテスト前後で外観品質の異常が無い事を確認する。 High and low temperature resistance: 1 cycle is a cycle of standing in an atmosphere of 40 ° C. and 30% RH for 24 hours, allowing to stand for 1 hour, leaving in an atmosphere of −10 ° C. for 24 hours, and then allowing to stand for 1 hour. Perform cycle. Then, clean and confirm that there is no abnormality in appearance quality before and after the test.
耐塩水性能:35℃の雰囲気中に5%塩水雰囲気に240時間放置する。その後洗浄しテスト前後で外観品質の異常が無い事を確認する(塩水噴霧試験ISO 9227)。 Salt water resistance performance: Leave in a 5% salt water atmosphere at 35 ° C. for 240 hours. Thereafter, it is washed and it is confirmed that there is no abnormality in appearance quality before and after the test (salt spray test ISO 9227).
表3に、耐久性の評価結果を示す。 Table 3 shows the durability evaluation results.
実施例1、2と比較例1との耐久性はほとんど差異が無く、SiO2膜をSiNxOyに変更しても、耐久性的に問題のないことが確認された。 There was almost no difference in durability between Examples 1 and 2 and Comparative Example 1, and it was confirmed that there was no problem in durability even when the SiO 2 film was changed to SiNxOy.
1 リアプロジェクションテレビ
2 映像投射装置
3 表面鏡
4 スクリーン
5 ケーシング
10 反射膜
11 ガラス基板
12 SiNxOy膜
13 Al膜
14 SiNxOy膜
15 Nb2O5膜
16 SiO2膜
1
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