JP2007088218A - Method for producing translucent electromagnetic wave shielding film, translucent electromagnetic wave shielding film obtained by the production method, film for display panel, optical filter for display panel, and plasma display panel - Google Patents
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Abstract
【課題】 耐久性、電磁波シールド性、光透過性に優れ、光散乱が小さい透過性電磁波シールド膜を、安価で大量に製造できる製造方法、それにより得られる透光性電磁波シールド膜、ディスプレイ用フィルム、ディスプレイパネル用光学フィルター及びプラズマディスプレイパネルを提供すること。
【解決手段】 透明基材上に設けられた銀塩含有層を露光し、現像処理することにより金属銀部と光透過性部とを形成し、さらに前記金属銀部を物理現像及び/又はメッキ処理することにより前記金属銀部に導電性金属を担持させた導電性金属部を形成し、かつ、前記導電性金属部を有機メルカプト化合物にて変色防止処理を施すことを特徴とする透光性電磁波シールド膜の製造方法、該製造方法により得られる透光性電磁波シールド膜、これを有するディスプレイ用フィルム、ディスプレイパネル用光学フィルター及びプラズマディスプレイパネル。
【選択図】 なしPROBLEM TO BE SOLVED: To produce a transparent electromagnetic shielding film excellent in durability, electromagnetic shielding properties and light transmittance and having a small light scattering at a low cost in large quantities, and a translucent electromagnetic shielding film and display film obtained thereby An optical filter for a display panel and a plasma display panel are provided.
A silver salt-containing layer provided on a transparent substrate is exposed and developed to form a metallic silver portion and a light transmitting portion, and the metallic silver portion is further subjected to physical development and / or plating. Forming a conductive metal part in which a conductive metal is supported on the metal silver part by processing, and applying a discoloration preventing process to the conductive metal part with an organic mercapto compound; Production method of electromagnetic wave shielding film, translucent electromagnetic wave shielding film obtained by the production method, display film having the same, optical filter for display panel, and plasma display panel.
[Selection figure] None
Description
本発明は、CRT(陰極線管)、PDP(プラズマディスプレイパネル)、液晶、EL(エレクトロルミネッセンス)、FED(フィールドエミッションディスプレイ)などのディスプレイ前面、電子レンジ、電子機器、プリント配線板などから発生する電磁波を遮蔽し、かつ、光透過性を有する透光性電磁波シールド膜の製造方法、該製造方法により得られた透光性電磁波シールド膜、ディスプレイパネル用フィルム、ディスプレイパネル用光学フィルター及びプラズマディスプレイパネルに関する。 The present invention relates to electromagnetic waves generated from the front surface of a display such as a CRT (cathode ray tube), PDP (plasma display panel), liquid crystal, EL (electroluminescence), FED (field emission display), microwave oven, electronic device, printed wiring board, etc. The present invention relates to a method for manufacturing a light-transmitting electromagnetic wave shielding film having a light-transmitting property, a light-transmitting electromagnetic wave shielding film obtained by the manufacturing method, a film for display panel, an optical filter for display panel, and a plasma display panel .
近年、各種の電気設備や電子応用設備の利用の増加に伴い、電磁波障害(Electro−Magnetic Interference:EMI)が急増している。上記EMIは、電子、電気機器の誤動作、障害の原因になることが分かっている。このため、電子電気機器では、電磁波放出の強さを規格または規制内に抑えることが要求されている。 2. Description of the Related Art In recent years, with the increase in use of various electric facilities and electronic application facilities, electromagnetic interference (Electro-Magnetic Interference: EMI) has increased rapidly. The EMI has been found to cause malfunction and failure of electronic and electrical equipment. For this reason, electronic and electrical equipment is required to keep the intensity of electromagnetic wave emission within the standard or regulation.
上記EMIの対策のためには電磁波をシールドする必要があるが、それには金属の電磁波を貫通させない性質を利用すればよいことは自明である。例えば、筐体を金属体または高導電体にする方法や、回路基板と回路基板との間に金属板を挿入する方法、ケーブルを金属箔で覆う方法などが採用されている。しかし、CRT、PDPなどではオペレーターが画面に表示される文字等を認識する必要があるため、ディスプレイにおける透明性が要求される。このため、前記の方法では、いずれもディスプレイ前面が不透明になることが多く、電磁波のシールド法としては不適切なものであった。 Although it is necessary to shield the electromagnetic wave in order to take measures against the EMI, it is obvious that a property that does not allow the metal electromagnetic wave to penetrate may be used. For example, a method of making the casing a metal body or a high conductor, a method of inserting a metal plate between the circuit board and the circuit board, a method of covering the cable with a metal foil, and the like are adopted. However, in CRT, PDP, etc., since the operator needs to recognize characters displayed on the screen, transparency in the display is required. For this reason, in any of the above methods, the front surface of the display often becomes opaque, which is inappropriate as an electromagnetic wave shielding method.
特に、PDPは、CRT等と比較すると多量の電磁波を発生するため、より強い電磁波シールド能が求められている。電磁波シールド能は、簡便には表面抵抗値で表すことができる。例えば、CRT用の透光性電磁波シールド材料では、表面抵抗値は凡そ300Ω/sq以下であることが要求されるのに対し、PDP用の透光性電磁波シールド材料では、2.5Ω/sq以下が要求され、PDPを用いた民生用プラズマテレビにおいては、1.5Ω/sq以下とする必要性が高く、より望ましくは0.1Ω/sq以下という極めて高い導電性が要求されている。
また、透明性に関する要求レベルは、CRT用として凡そ70%以上(全可視光透過率)、PDP用として80%以上が要求されており、さらにより高い透明性が望まれている。
Particularly, since PDP generates a large amount of electromagnetic waves as compared with CRT or the like, stronger electromagnetic shielding ability is required. The electromagnetic wave shielding ability can be simply expressed by a surface resistance value. For example, in a translucent electromagnetic shielding material for CRT, the surface resistance value is required to be about 300 Ω / sq or less, whereas in a translucent electromagnetic shielding material for PDP, it is 2.5 Ω / sq or less. In consumer plasma televisions using PDPs, there is a high need for 1.5 Ω / sq or less, and a very high conductivity of 0.1 Ω / sq or less is more desirable.
Further, the required level for transparency is about 70% or more (total visible light transmittance) for CRT and 80% or more for PDP, and further higher transparency is desired.
上記の問題を解決するために、以下に示されるように、開口部を有する金属メッシュを利用して電磁波シールド性と光透過性とを両立させる種々の材料・方法がこれまで提案されており、その代表的なものとして、フォトリソグラフィー法を利用したエッチング加工メッシュがある。従来のフォトリソグラフィー法を利用したエッチング加工メッシュは、微細加工が可能であるため、高開口率(高透過率)のメッシュを作成することができ、強力な電磁波放出も遮蔽できるという利点を有する。その一方で、製造工程が複雑であり、高コストである問題を抱えており、改善が要望されている。 In order to solve the above problems, as shown below, various materials and methods have been proposed so far that achieve both electromagnetic shielding properties and light transmittance using a metal mesh having openings, A typical example is an etching mesh using a photolithography method. An etching mesh using a conventional photolithography method can be finely processed, and therefore has an advantage that a mesh with a high aperture ratio (high transmittance) can be created and strong electromagnetic wave emission can be shielded. On the other hand, the manufacturing process is complicated and has a problem of high cost, and improvement is demanded.
この要望に対応する低コストで金属メッシュを製造する方法として、銀塩写真の原理を利用した方法が提案されている。
例えば、特許文献1には、ハロゲン化銀感光材料を作成して、これをメッシュ状に露光、現像処理し、更にめっき処理することで、電磁波シールド材を製造する方法が開示されている。
A method using the principle of silver salt photography has been proposed as a method for producing a metal mesh at a low cost corresponding to this demand.
For example, Patent Document 1 discloses a method for producing an electromagnetic wave shielding material by preparing a silver halide photosensitive material, exposing and developing it in a mesh shape, and further performing a plating treatment.
上記のような銀塩写真法を利用して得られる金属メッシュは、フォトリソグラフィーを利用したエッチング加工メッシュの製造プロセスに比べ、少ない工程数で製造でき、製造コストを低減可能な特長を有する。その一方で、次のような問題を有していた。
即ち、ディスプレイに利用される電磁波シールド材料に要求される耐久性が十分ではなく、改善が望まれていた。
The metal mesh obtained by using the silver salt photography method as described above can be manufactured with a smaller number of steps and can reduce the manufacturing cost compared to the manufacturing process of the etching mesh using photolithography. On the other hand, it had the following problems.
That is, the durability required for the electromagnetic shielding material used for the display is not sufficient, and improvement has been desired.
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、耐久性に優れ、高い電磁波シールド性を有し、光散乱が小さく高い光透過率を有する透過性電磁波シールド膜を、安価で大量に製造できる製造方法を提供することにある。また、本発明の目的は、上記製造方法により得られる透光性電磁波シールド膜を提供することにある。さらに本発明の別の目的は、上記透光性電磁波シールド膜を含んでなるディスプレイ用フィルム、ディスプレイパネル用光学フィルター及びプラズマディスプレイパネルを提供することにある。 The present invention has been made in view of such circumstances, and its object is to provide a low-cost transmissive electromagnetic shielding film having excellent durability, high electromagnetic shielding properties, small light scattering, and high light transmittance. It is providing the manufacturing method which can be manufactured in large quantities by. Moreover, the objective of this invention is providing the translucent electromagnetic wave shielding film obtained by the said manufacturing method. Still another object of the present invention is to provide a display film, an optical filter for a display panel, and a plasma display panel, each of which includes the translucent electromagnetic wave shielding film.
本発明者らは、耐久性に優れ、かつ高い電磁波シールド性と高い透明性とを同時に満たす透光性電磁波シールド膜を得る観点から鋭意検討した結果、耐久性は、有機メルカプト化合物で処理することが有効であることを認め、上記目的は、以下の構成により効果的に達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち本発明は、以下のとおりである。
As a result of earnest investigation from the viewpoint of obtaining a light-transmitting electromagnetic wave shielding film that has excellent durability and high electromagnetic shielding properties and high transparency at the same time, the inventors have treated the durability with an organic mercapto compound. Has been found to be effective, the inventors have found that the above object can be effectively achieved by the following constitution, and have completed the present invention.
That is, the present invention is as follows.
1.透明基材上に設けられた銀塩含有層を露光し、現像処理することにより金属銀部と光透過性部とを形成し、さらに前記金属銀部を物理現像及び/又はメッキ処理することにより前記金属銀部に導電性金属を担持させた導電性金属部を形成し、かつ、前記導電性金属部を有機メルカプト化合物にて変色防止処理を施すことを特徴とする透光性電磁波シールド膜の製造方法。
2. 前記有機メルカプト化合物が、下記一般式(2)で表されることを特徴とする1.に記載の透光性電磁波シールド膜の製造方法。
一般式(2)
Z−SM
〔一般式(2)において、Zはアルキル基、芳香族基若しくはヘテロ環基であって、ヒドロキシル基、−SO3M2基、−COOM2基(ここでM2は水素原子、アルカリ金属原子またはアンモニウム基を表す)、アミノ基およびアンモニオ基からなる群から選ばれる少なくとも1つまたは、この群より選ばれる少なくとも1つを有する置換基によって置換されているものを表す。Mは水素原子、アルカリ金属原子、またはアミジノ基(これはハロゲン化水素酸塩もしくはスルホン酸塩を形成していてもよい)を表す。〕
3. 前記有機メルカプト化合物が下記一般式(1)、(3)〜(5)から選択された1種以上の有機メルカプト化合物であることを特徴とする1.または2.に記載の透光性電磁波シールド膜の製造方法。
一般式(1)
1. By exposing and developing the silver salt-containing layer provided on the transparent substrate to form a metallic silver part and a light transmitting part, and further subjecting the metallic silver part to physical development and / or plating treatment A translucent electromagnetic wave shielding film characterized in that a conductive metal part in which a conductive metal is supported on the metal silver part is formed, and the conductive metal part is subjected to a discoloration prevention treatment with an organic mercapto compound. Production method.
2. The organic mercapto compound is represented by the following general formula (2): The manufacturing method of the translucent electromagnetic wave shielding film as described in any one of.
General formula (2)
Z-SM
[In General Formula (2), Z is an alkyl group, an aromatic group, or a heterocyclic group, and is a hydroxyl group, —SO 3 M 2 group, or —COOM 2 group (where M 2 is a hydrogen atom or an alkali metal atom) Or an ammonium group), a group substituted with a substituent having at least one selected from the group consisting of an amino group and an ammonio group, or at least one selected from this group. M represents a hydrogen atom, an alkali metal atom, or an amidino group (which may form a hydrohalide salt or a sulfonate salt). ]
3. The organic mercapto compound is one or more organic mercapto compounds selected from the following general formulas (1) and (3) to (5): Or 2. The manufacturing method of the translucent electromagnetic wave shielding film as described in any one of.
General formula (1)
[一般式(1)において、−D=および−E=は各々独立に−CH=基、−C(R0)=基、または−N=基を表し、R0は置換基を表す。L1、L2およびL3は各々独立に水素原子、ハロゲン原子、または炭素原子、窒素原子、酸素原子、硫黄原子もしくはリン原子のいずれかで環に結合する任意の置換基を表す。但しL1、L2、L3およびR0の少なくとも1つは、−SM基(Mはアルカリ金属原子、水素原子またはアンモニウム基を表す)を表す。]
一般式(3)、一般式(4)
[In the general formula (1), -D = and -E = each independently -CH = group, -C (R 0) = represents a group or -N = group,, R 0 represents a substituent. L 1 , L 2 and L 3 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, or an arbitrary substituent bonded to the ring through any of a carbon atom, nitrogen atom, oxygen atom, sulfur atom or phosphorus atom. Provided that at least one of L 1, L 2, L 3 and R 0 is representative of the -SM group (M represents an alkali metal atom, a hydrogen atom or an ammonium group). ]
General formula (3), general formula (4)
〔一般式(3)、(4)中、R21及びR22はそれぞれ水素原子又はアルキル基を表す。但し、R21とR22は同時に水素原子であることはなく、また上記アルキル基は置換基を有していてもよい。R23及びR24はそれぞれ水素原子又はアルキル基を表し、R25はヒドロキシル基(またはその塩)、アミノ基、アルキル基又はフェニル基を表す。R26及びR27はそれぞれ水素原子、アルキル基、アシル基又は−COOM22を表す。但しR26とR27は同時に水素原子であることはない。M21は水素原子、アルカリ金属原子又はアンモニウム基を表す。M22は水素原子、アルキル基、アルカリ金属原子、アリール基又はアラルキル基を表す。mは0、1又は2を表す。nは2を表す。〕
一般式(5)
[In General Formulas (3) and (4), R 21 and R 22 each represent a hydrogen atom or an alkyl group. However, R 21 and R 22 are not simultaneously a hydrogen atom, and the alkyl group may have a substituent. R 23 and R 24 each represent a hydrogen atom or an alkyl group, and R 25 represents a hydroxyl group (or a salt thereof), an amino group, an alkyl group, or a phenyl group. R 26 and R 27 each represent a hydrogen atom, an alkyl group, an acyl group, or —COOM 22 . However, R 26 and R 27 are not simultaneously hydrogen atoms. M 21 represents a hydrogen atom, an alkali metal atom or an ammonium group. M 22 represents a hydrogen atom, an alkyl group, an alkali metal atom, an aryl group or an aralkyl group. m represents 0, 1 or 2. n represents 2. ]
General formula (5)
〔一般式(5)中、X40は水素原子、ヒドロキシル基、低級アルキル基、低級アルコキシ基、ハロゲン原子、カルボキシル基又はスルホ基を表し、M41及びMaはそれぞれ水素原子、アルカリ金属原子又はアンモニウム基を表す。〕
4. 1.〜3.のいずれかに記載の製造方法により製造された透光性電磁波シールド膜。
5. 赤外線遮蔽性、ハードコート性、反射防止性、妨眩性、静電気防止性、防汚性、紫外線カット性、ガスバリア性及び表示パネル破損防止性から選択された1つ以上の機能を有する機能性透明層をさらに備えてなることを特徴とする4.に記載の透光性電磁波シールド膜。
6. 4.または5.に記載の透光性電磁波シールド膜を用いることを特徴とするディスプレイパネル用フィルム。
7. 6.に記載のディスプレイパネル用フィルムを用いることを特徴とするプラズマディスプレイパネル用光学フィルター。
8. 6.に記載のディスプレイパネル用フィルムまたは7.に記載のプラズマディスプレイパネル用光学フィルターを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネル。
[In the general formula (5), X 40 represents a hydrogen atom, a hydroxyl group, a lower alkyl group, a lower alkoxy group, a halogen atom, a carboxyl group or a sulfo group, and M 41 and Ma are a hydrogen atom, an alkali metal atom or ammonium, respectively. Represents a group. ]
4). 1. ~ 3. A translucent electromagnetic wave shielding film produced by the production method according to any one of the above.
5. Functional transparency with one or more functions selected from infrared shielding properties, hard coat properties, antireflection properties, antiglare properties, antistatic properties, antifouling properties, UV protection properties, gas barrier properties, and display panel damage prevention properties 3. further comprising a layer; The translucent electromagnetic wave shielding film as described in 1.
6). 4). Or 5. A translucent electromagnetic wave shielding film as described in 1 above is used.
7). 6). An optical filter for a plasma display panel, characterized by using the film for a display panel described in 1.
8). 6). 6. Film for display panel as described in 7. A plasma display panel comprising the optical filter for plasma display panels described in 1.
本発明によれば、耐久性に優れ、高い電磁波シールド性を有し、光散乱が小さく高い光透過率を有する透過性電磁波シールド膜を、安価で大量に製造できる製造方法を提供することができる。また本発明によれば、上記製造方法により得られる透光性電磁波シールド膜、これを有するディスプレイ用フィルム、ディスプレイパネル用光学フィルター及びプラズマディスプレイパネルを提供することができる。
更に、意外なことに、本発明における有機メルカプト化合物による処理が、着色を防止するという予想外の効果が得られる。
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it can provide the manufacturing method which can manufacture the transmissive electromagnetic wave shielding film which is excellent in durability, has a high electromagnetic shielding property, and has a small light scattering and a high light transmittance at a low cost and in large quantities. . Moreover, according to this invention, the translucent electromagnetic wave shielding film obtained by the said manufacturing method, the film for displays which has this, the optical filter for display panels, and a plasma display panel can be provided.
Furthermore, surprisingly, the treatment with the organic mercapto compound in the present invention has an unexpected effect of preventing coloring.
以下、本発明をさらに詳細に説明する。
なお、本明細書において「〜」は、その前後に記載される数値を下限値および上限値として含む意味として使用される。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail.
In the present specification, “to” is used as a meaning including numerical values described before and after the lower limit value and the upper limit value.
[透明基材]
本発明に用いられる透明基材としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、およびポリエチレンナフタレートなどのポリエステル類;ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリスチレン、EVAなどのポリオレフィン類;ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデンなどのビニル系樹脂;その他、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリサルホン(PSF)、ポリエーテルサルホン(PES)、ポリカーボネート(PC)、ポリアミド、ポリイミド、アクリル樹脂、トリアセチルセルロース(TAC)などの透明プラスチック基材を用いることができる。
本発明においては、透明性、耐熱性、取り扱いやすさおよび価格の点から、上記透明プラスチック基材はポリエチレンテレフタレートフィルムであることが好ましい。この透明プラスチック基材の厚みは、薄いと取扱性が悪く、厚いと可視光の透過率が低下するため5〜200μmが好ましい。さらに好ましくは、10〜130μm、より好ましくは、40〜80μmである。
[Transparent substrate]
Examples of the transparent substrate used in the present invention include polyesters such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate; polyolefins such as polyethylene (PE), polypropylene (PP), polystyrene, and EVA; polyvinyl chloride, Vinyl resins such as polyvinylidene chloride; polyether ether ketone (PEEK), polysulfone (PSF), polyether sulfone (PES), polycarbonate (PC), polyamide, polyimide, acrylic resin, triacetyl cellulose (TAC) A transparent plastic substrate such as can be used.
In the present invention, the transparent plastic substrate is preferably a polyethylene terephthalate film from the viewpoint of transparency, heat resistance, ease of handling, and cost. The thickness of the transparent plastic substrate is preferably 5 to 200 μm because the handleability is poor if it is thin, and the transmittance of visible light decreases if it is thick. More preferably, it is 10-130 micrometers, More preferably, it is 40-80 micrometers.
ディスプレイパネル用の電磁波シールド膜では透明性が要求されるため、透明基材の透明性は高いことが望ましい。この場合における透明プラスチック基材の全可視光透過率は70〜100%が好ましく、さらに好ましくは85〜100%であり、特に好ましくは90〜100%である。また本発明では、前記透明プラスチック基材として本発明の目的を妨げない程度に着色したものを用いることもできる。
本発明における透明プラスチック基材は、単層で用いることもできるが、2層以上を組み合わせた多層フィルムとして用いることも可能である。
Since the electromagnetic shielding film for display panels requires transparency, it is desirable that the transparency of the transparent substrate is high. In this case, the total visible light transmittance of the transparent plastic substrate is preferably 70 to 100%, more preferably 85 to 100%, and particularly preferably 90 to 100%. Moreover, in this invention, what was colored to such an extent that the objective of this invention is not disturbed as said transparent plastic base material can also be used.
The transparent plastic substrate in the present invention can be used as a single layer, but it can also be used as a multilayer film in which two or more layers are combined.
また本発明では、透明基材としてガラス板を用いることもできる。ガラス板の種類は特に限定されないが、ディスプレイ用電磁波シールド膜の用途として用いる場合、表面に強化層を設けた強化ガラスを用いることが好ましい。強化ガラスは、強化処理していないガラスに比べて破損を防止できる可能性が高い。さらに、風冷法により得られる強化ガラスは、万一破損してもその破砕破片が小さく、かつ端面も鋭利になることはないため、安全上好ましい。 In the present invention, a glass plate can also be used as the transparent substrate. Although the kind of glass plate is not specifically limited, When using as a use of the electromagnetic wave shielding film for a display, it is preferable to use the tempered glass which provided the reinforced layer on the surface. There is a high possibility that tempered glass can prevent damage compared to glass that has not been tempered. Furthermore, the tempered glass obtained by the air cooling method is preferable from the viewpoint of safety because even if it is broken, the crushed pieces are small and the end face is not sharp.
[銀塩含有層]
本発明では、銀塩を含有する層(銀塩含有層)が透明基材上に設けられる。銀塩含有層は、銀塩のほか、バインダー、溶媒等を含有することができる。
[Silver salt-containing layer]
In the present invention, a layer containing a silver salt (silver salt-containing layer) is provided on the transparent substrate. A silver salt content layer can contain a binder, a solvent, etc. besides silver salt.
<銀塩>
本発明で用いられる銀塩としては、ハロゲン化銀などの無機銀塩及び酢酸銀などの有機銀塩が挙げられるが、光センサーとしての特性に優れるハロゲン化銀を用いることが好ましい。
<Silver salt>
Examples of the silver salt used in the present invention include inorganic silver salts such as silver halide and organic silver salts such as silver acetate, but it is preferable to use silver halide having excellent characteristics as an optical sensor.
本発明で好ましく用いられるハロゲン化銀についてさらに説明する。
本発明では、光センサーとして機能させるためにハロゲン化銀を使用する。ハロゲン化銀に関する銀塩写真フィルムや印画紙、印刷製版用フィルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等で用いられる技術は、本発明においてもそのまま用いることもできる。
The silver halide preferably used in the present invention will be further described.
In the present invention, silver halide is used to function as an optical sensor. Techniques used in silver halide photographic films, photographic papers, printing plate-making films, emulsion masks for photomasks, etc. relating to silver halide can also be used as they are in the present invention.
ハロゲン化銀に含有されるハロゲン元素は、塩素、臭素、ヨウ素及びフッ素のいずれであってもよく、これらを組み合わせでもよい。例えば、AgCl、AgBr、AgIを主体としたハロゲン化銀が好ましく用いられ、さらにAgBrを主体としたハロゲン化銀が好ましく用いられる。 The halogen element contained in the silver halide may be any of chlorine, bromine, iodine and fluorine, or a combination thereof. For example, silver halide mainly composed of AgCl, AgBr, and AgI is preferably used, and silver halide mainly composed of AgBr is preferably used.
ここで、「AgBr(臭化銀)を主体としたハロゲン化銀」とは、ハロゲン化銀組成中に占める臭化物イオンのモル分率が50%以上のハロゲン化銀をいう。このAgBrを主体としたハロゲン化銀粒子は、臭化物イオンのほかに沃化物イオン、塩化物イオンを含有していてもよい。 Here, “silver halide mainly composed of AgBr (silver bromide)” refers to silver halide in which the molar fraction of bromide ions in the silver halide composition is 50% or more. The silver halide grains mainly composed of AgBr may contain iodide ions and chloride ions in addition to bromide ions.
ハロゲン化銀は固体粒子状であり、露光、現像処理後に形成されるパターン状金属銀層の画像品質の観点からは、ハロゲン化銀の平均粒子サイズは、球相当径で0.1〜1000nm(1μm)であることが好ましく、0.1〜100nmであることがより好ましく、1〜50nmであることがさらに好ましい。尚、ハロゲン化銀粒子の球相当径とは、粒子形状が球形の同じ体積を有する粒子の直径である。 Silver halide is in the form of solid grains. From the viewpoint of image quality of the patterned metallic silver layer formed after exposure and development, the average grain size of silver halide is 0.1 to 1000 nm in terms of sphere equivalent diameter ( 1 μm) is preferred, 0.1 to 100 nm is more preferred, and 1 to 50 nm is even more preferred. Incidentally, the sphere equivalent diameter of silver halide grains is the diameter of grains having the same volume and a spherical shape.
ハロゲン化銀粒子の形状は特に限定されず、例えば、球状、立方体状、平板状(6角平板状、三角形平板状、4角形平板状など)、八面体状、14面体状など様々な形状であることができる。 The shape of the silver halide grains is not particularly limited, and may be various shapes such as a spherical shape, a cubic shape, a flat plate shape (hexagonal flat plate shape, triangular flat plate shape, tetragonal flat plate shape, etc.), octahedron shape, and tetrahedron shape. Can be.
本発明で用いられるハロゲン化銀は、さらに他の元素を含有していてもよい。例えば、写真乳剤において、硬調な乳剤を得るために用いられる金属イオンをドープすることも有用である。特にロジウムイオンやイリジウムイオンなどの遷移金属イオンは、金属銀像の生成の際に露光部と未露光部の差が明確に生じやすくなるため好ましく用いられる。ロジウムイオン、イリジウムイオンに代表される遷移金属イオンは、各種の配位子を有する化合物であることもできる。そのような配位子としては、例えば、シアン化物イオンやハロゲンイオン、チオシアナートイオン、ニトロシルイオン、水、水酸化物イオンなどを挙げることができる。具体的な化合物の例としては、K3Rh2Br9及びK2IrCl6などが挙げられる。
本発明において、ハロゲン化銀に含有されるロジウム化合物及び/又はイリジウム化合物の含有率は、ハロゲン化銀の銀のモル数に対して、10−10〜10−2モル/モルAgであることが好ましく、10−9〜10−3モル/モルAgであることがさらに好ましい。
The silver halide used in the present invention may further contain other elements. For example, in a photographic emulsion, it is also useful to dope metal ions used to obtain a high-contrast emulsion. In particular, transition metal ions such as rhodium ions and iridium ions are preferably used because a difference between an exposed portion and an unexposed portion tends to occur clearly when a metallic silver image is generated. Transition metal ions represented by rhodium ions and iridium ions can also be compounds having various ligands. Examples of such a ligand include cyanide ions, halogen ions, thiocyanate ions, nitrosyl ions, water, hydroxide ions, and the like. Specific examples of the compound include K 3 Rh 2 Br 9 and K 2 IrCl 6 .
In the present invention, the content of the rhodium compound and / or iridium compound contained in the silver halide is 10 −10 to 10 −2 mol / mol Ag with respect to the number of moles of silver in the silver halide. Preferably, it is more preferably 10 −9 to 10 −3 mol / mol Ag.
その他、本発明では、Pd(II)イオン及び/又はPd金属を含有するハロゲン化銀も好ましく用いることができる。Pdはハロゲン化銀粒子内に均一に分布していてもよいが、ハロゲン化銀粒子の表層近傍に含有させることが好ましい。ここで、Pdが「ハロゲン化銀粒子の表層近傍に含有する」とは、ハロゲン化銀粒子の表面から深さ方向に50nm以内において、他層よりもパラジウムの含有率が高い層を有することを意味する。このようなハロゲン化銀粒子は、ハロゲン化銀粒子を形成する途中でPdを添加することにより作製することができ、銀イオンとハロゲンイオンとをそれぞれ総添加量の50%以上添加した後に、Pdを添加することが好ましい。またPd(II)イオンを後熟時に添加するなどの方法でハロゲン化銀表層に存在させることも好ましい。
このPd含有ハロゲン化銀粒子は、物理現像や無電解メッキの速度を速め、所望の透過性電磁波シールド膜の生産効率を上げ、生産コストの低減に寄与する。Pdは、無電解メッキ触媒としてよく知られて用いられているが、本発明では、ハロゲン化銀粒子の表層にPdを偏在させることが可能なため、極めて高価なPdを節約することが可能である。
本発明において、ハロゲン化銀に含まれるPdイオン及び/又はPd金属の含有率は、ハロゲン化銀の銀のモル数に対して10−4〜0.5モル/モルAgであることが好ましく、0.01〜0.3モル/モルAgであることがさらに好ましい。
使用するPd化合物の例としては、PdCl4やNa2PdCl4等が挙げられる。
In addition, in the present invention, silver halide containing Pd (II) ions and / or Pd metal can also be preferably used. Pd may be uniformly distributed in the silver halide grains, but is preferably contained in the vicinity of the surface layer of the silver halide grains. Here, Pd “contains in the vicinity of the surface layer of the silver halide grains” means that the Pd content is higher than the other layers within 50 nm in the depth direction from the surface of the silver halide grains. means. Such silver halide grains can be prepared by adding Pd in the course of forming silver halide grains. After adding silver ions and halogen ions to 50% or more of the total addition amount, Pd Is preferably added. It is also preferred that Pd (II) ions be present in the surface layer of the silver halide by a method such as addition at the time of post-ripening.
The Pd-containing silver halide grains increase the speed of physical development and electroless plating, increase the production efficiency of a desired transmissive electromagnetic wave shielding film, and contribute to the reduction of production cost. Pd is well known and used as an electroless plating catalyst. However, in the present invention, Pd can be unevenly distributed on the surface layer of silver halide grains, so that extremely expensive Pd can be saved. is there.
In the present invention, the content of Pd ions and / or Pd metals contained in the silver halide is preferably 10 −4 to 0.5 mol / mol Ag with respect to the number of moles of silver in the silver halide, More preferably, it is 0.01-0.3 mol / mol Ag.
Examples of the Pd compound to be used include PdCl 4 and Na 2 PdCl 4 .
本発明では、さらに光センサーとしての感度を向上させるため、写真乳剤で行われる化学増感を施すこともできる。化学増感としては、例えば、金増感などの貴金属増感、イオウ増感などのカルコゲン増感、還元増感等を利用することができる。
本発明で使用できる乳剤としては、例えば、特開平11−305396号公報、特開2000−321698号公報、特開平13−281815号公報、特開2002−72429号公報の実施例に記載されたカラーネガフィルム用乳剤、特開2002−214731号公報に記載されたカラーリバーサルフィルム用乳剤、特開2002−107865号公報に記載されたカラー印画紙用乳剤などを好適に用いることができる。
In the present invention, in order to further improve the sensitivity as an optical sensor, chemical sensitization performed with a photographic emulsion can be performed. As chemical sensitization, for example, noble metal sensitization such as gold sensitization, chalcogen sensitization such as sulfur sensitization, reduction sensitization or the like can be used.
Examples of emulsions that can be used in the present invention include color negatives described in Examples of JP-A-11-305396, JP-A-2000-321698, JP-A-13-281815, and JP-A-2002-72429. A film emulsion, a color reversal film emulsion described in JP-A No. 2002-214731, a color photographic paper emulsion described in JP-A No. 2002-107865, and the like can be suitably used.
<バインダー>
本発明の銀塩含有層において、バインダーは、銀塩粒子を均一に分散させ、かつ銀塩含有層と透明基材との密着を補助する目的で用いることができる。本発明においては、非水溶性ポリマー及び水溶性ポリマーのいずれもバインダーとして用いることができるが、水溶性ポリマーを用いることが好ましい。
バインダーとしては、例えば、ゼラチン、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリビニルピロリドン(PVP)、澱粉等の多糖類、セルロース及びその誘導体、ポリエチレンオキサイド、ポリビニルアミン、キトサン、ポリリジン、ポリアクリル酸、ポリアルギン酸、ポリヒアルロン酸、カルボキシセルロース等が挙げられる。これらは、官能基のイオン性によって中性、陰イオン性、陽イオン性の性質を有する。
<Binder>
In the silver salt-containing layer of the present invention, the binder can be used for the purpose of uniformly dispersing the silver salt particles and assisting the adhesion between the silver salt-containing layer and the transparent substrate. In the present invention, both a water-insoluble polymer and a water-soluble polymer can be used as a binder, but a water-soluble polymer is preferably used.
Examples of the binder include gelatin, polyvinyl alcohol (PVA), polyvinyl pyrrolidone (PVP), starch and other polysaccharides, cellulose and derivatives thereof, polyethylene oxide, polyvinylamine, chitosan, polylysine, polyacrylic acid, polyalginic acid, polyhyaluron. An acid, carboxycellulose, etc. are mentioned. These have neutral, anionic, and cationic properties depending on the ionicity of the functional group.
本発明の銀塩含有層中に含有されるバインダーの含有量は、特に限定されず、分散性と密着性を発揮し得る範囲で適宜決定することができる。銀塩含有層中のバインダーの含有量は、Ag/バインダー体積比で1/4〜100であることが好ましく、1/3〜10であることがより好ましく、1/2〜2であることがさらに好ましく、1/1〜2であることが最も好ましい。銀塩含有層中にバインダーをAg/バインダー体積比で1/4以上含有すれば、物理現像及び/又はメッキ処理工程において金属粒子同士が互いに接触しやすく、高い導電性を得ることが可能であるため好ましい。 Content of the binder contained in the silver salt content layer of this invention is not specifically limited, It can determine suitably in the range which can exhibit a dispersibility and adhesiveness. The content of the binder in the silver salt-containing layer is preferably 1/4 to 100 in terms of Ag / binder volume ratio, more preferably 1/3 to 10, and more preferably 1/2 to 2. More preferably, it is most preferably 1/1 to 2. If the silver salt-containing layer contains a binder in an Ag / binder volume ratio of 1/4 or more, the metal particles can easily come into contact with each other in the physical development and / or plating process, and high conductivity can be obtained. Therefore, it is preferable.
<溶媒>
本発明の銀塩含有層で用いられる溶媒は、特に限定されるものではないが、例えば、水、有機溶媒(例えば、メタノールなどのアルコール類、アセトンなどのケトン類、ホルムアミドなどのアミド類、ジメチルスルホキシドなどのスルホキシド類、酢酸エチルなどのエステル類、エーテル類等)、イオン性液体、及びこれらの混合溶媒を挙げることができる。
本発明の銀塩含有層に用いられる溶媒の含有量は、前記銀含有層に含まれる銀塩、バインダー等の合計の質量に対して30〜90質量%の範囲であることが好ましく、50〜80質量%の範囲であることがより好ましい。
<Solvent>
The solvent used in the silver salt-containing layer of the present invention is not particularly limited. For example, water, organic solvents (for example, alcohols such as methanol, ketones such as acetone, amides such as formamide, dimethyl, etc. Sulfoxides such as sulfoxide, esters such as ethyl acetate, ethers and the like), ionic liquids, and mixed solvents thereof.
The content of the solvent used in the silver salt-containing layer of the present invention is preferably in the range of 30 to 90% by mass with respect to the total mass of the silver salt and binder contained in the silver-containing layer, A range of 80% by mass is more preferable.
[露光]
本発明では、透明基材上に設けられた銀塩含有層の露光を行う。露光は、電磁波を用いて行うことができる。電磁波としては、例えば、可視光線、紫外線などの光、X線などの放射線等が挙げられる。さらに露光には波長分布を有する光源を利用してもよく、特定の波長の光源を用いてもよい。
[exposure]
In the present invention, the silver salt-containing layer provided on the transparent substrate is exposed. The exposure can be performed using electromagnetic waves. Examples of the electromagnetic wave include light such as visible light and ultraviolet light, and radiation such as X-rays. Furthermore, a light source having a wavelength distribution may be used for exposure, or a light source having a specific wavelength may be used.
上記光源としては、例えば、陰極線(CRT)を用いた走査露光を挙げることができる。陰極線管露光装置は、レーザーを用いた装置に比べて、簡便でかつコンパクトであり、低コストになる。また、光軸や色の調整も容易である。画像露光に用いる陰極線管には、必要に応じてスペクトル領域に発光を示す各種発光体が用いられる。例えば、赤色発光体、緑色発光体、青色発光体のいずれか1種又は2種以上が混合されて用いられる。スペクトル領域は、上記の赤色、緑色及び青色に限定されず、黄色、橙色、紫色或いは赤外領域に発光する蛍光体も用いられる。特に、これらの発光体を混合して白色に発光する陰極線管がしばしば用いられる。また、紫外線ランプも好ましく、水銀ランプのg線、水銀ランプのi線等も利用される。 Examples of the light source include scanning exposure using a cathode ray (CRT). The cathode ray tube exposure apparatus is simpler and more compact and less expensive than an apparatus using a laser. Also, the adjustment of the optical axis and color is easy. As the cathode ray tube used for image exposure, various light emitters that emit light in the spectral region are used as necessary. For example, any one or two or more of a red light emitter, a green light emitter, and a blue light emitter are used. The spectral region is not limited to the above red, green, and blue, and phosphors that emit light in the yellow, orange, purple, or infrared region are also used. In particular, a cathode ray tube that emits white light by mixing these light emitters is often used. An ultraviolet lamp is also preferable, and g-line of a mercury lamp, i-line of a mercury lamp, etc. are also used.
また本発明では、露光は種々のレーザービームを用いて行うことができる。例えば、本発明における露光は、ガスレーザー、発光ダイオード、半導体レーザー、半導体レーザー又は半導体レーザーを励起光源に用いた固体レーザーと非線形光学結晶を組合わせた第二高調波発光光源(SHG)等の単色高密度光を用いた走査露光方式を好ましく用いることができ、さらにKrFエキシマレーザー、ArFエキシマレーザー、F2レーザー等も用いることができる。システムをコンパクトで、安価なものにするために、露光は、半導体レーザー、半導体レーザーあるいは固体レーザーと非線形光学結晶を組合わせた第二高調波発生光源(SHG)を用いて行うことが好ましい。特にコンパクトで、安価、さらに寿命が長く、安定性が高い装置を設計するためには、露光は半導体レーザーを用いて行うことが好ましい。 In the present invention, exposure can be performed using various laser beams. For example, the exposure in the present invention is a monochromatic light source such as a gas laser, a light emitting diode, a semiconductor laser, a semiconductor laser, or a second harmonic light source (SHG) that combines a solid-state laser using a semiconductor laser as an excitation light source and a nonlinear optical crystal. A scanning exposure method using high-density light can be preferably used, and a KrF excimer laser, ArF excimer laser, F2 laser, or the like can also be used. In order to make the system compact and inexpensive, exposure is preferably performed using a semiconductor laser, a semiconductor laser, or a second harmonic generation light source (SHG) that combines a solid-state laser and a nonlinear optical crystal. In order to design an apparatus that is particularly compact, inexpensive, long-life, and highly stable, it is preferable to perform exposure using a semiconductor laser.
レーザー光源としては、具体的には、波長430〜460nmの青色半導体レーザー(2001年3月の第48回応用物理学関係連合講演会で日亜化学発表)、半導体レーザー(発振波長約1060nm)を導波路状の反転ドメイン構造を有するLiNbO3のSHG結晶により波長変換して取り出した約530nmの緑色レーザー、波長約685nmの赤色半導体レーザー(日立タイプNo.HL6738MG)、波長約650nmの赤色半導体レーザー(日立タイプNo.HL6501MG)などが好ましく用いられる。 Specifically, as a laser light source, a blue semiconductor laser with a wavelength of 430 to 460 nm (announced by Nichia Chemical at the 48th Applied Physics Related Conference in March 2001), a semiconductor laser (oscillation wavelength of about 1060 nm) is used. About 530 nm green laser, wavelength about 685 nm red semiconductor laser (Hitachi type No. HL6738MG), wavelength about 650 nm red semiconductor laser (wavelength converted by LiNbO 3 SHG crystal with waveguide inversion domain structure) Hitachi type No. HL6501MG) is preferably used.
銀塩含有層をパターン状に露光する方法は、フォトマスクを利用した面露光で行ってもよいし、レーザービームによる走査露光で行ってもよい。この際、レンズを用いた屈折式露光でも反射鏡を用いた反射式露光でもよく、コンタクト露光、プロキシミティー露光、縮小投影露光、反射投影露光などの露光方式を用いることができる。 The method for exposing the silver salt-containing layer in a pattern may be performed by surface exposure using a photomask or by scanning exposure using a laser beam. At this time, refractive exposure using a lens or reflection exposure using a reflecting mirror may be used, and exposure methods such as contact exposure, proximity exposure, reduced projection exposure, and reflection projection exposure can be used.
[現像処理]
本発明では、銀塩含有層を露光した後、さらに現像処理が行われる。現像処理は、銀塩写真フィルムや印画紙、印刷製版用フィルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等に用いられる通常の現像処理の技術を用いることができる。現像液については特に限定はしないが、PQ現像液、MQ現像液、MAA現像液等を用いることもでき、例えば、富士フィルム社製のCN−16、CR−56、CP45X、FD−3、パピトール、KODAK社製のC−41、E−6、RA−4、D−19、D−72などの現像液、又はそのキットに含まれる現像液、また、D−85などのリス現像液を用いることができる。
本発明では、上記の露光及び現像処理を行うことにより金属銀部、好ましくはパターン状金属銀部が形成されると共に、後述する光透過性部が形成される。
[Development processing]
In the present invention, after the silver salt-containing layer is exposed, development processing is further performed. The development processing can be performed by a normal development processing technique used for silver salt photographic film, photographic paper, printing plate-making film, photomask emulsion mask, and the like. The developer is not particularly limited, but a PQ developer, MQ developer, MAA developer, etc. can also be used. For example, CN-16, CR-56, CP45X, FD-3, Papitol manufactured by Fuji Film Co., Ltd. A developer such as C-41, E-6, RA-4, D-19, D-72 manufactured by KODAK, or a developer included in the kit, or a lith developer such as D-85 is used. be able to.
In the present invention, by performing the above exposure and development treatment, a metallic silver portion, preferably a patterned metallic silver portion is formed, and a light transmissive portion described later is formed.
本発明における現像処理は、未露光部分の銀塩を除去して安定化させる目的で行われる定着処理を含むことができる。本発明における定着処理は、銀塩写真フィルムや印画紙、印刷製版用フィルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等に用いられる定着処理の技術を用いることができる。 The development processing in the present invention can include a fixing processing performed for the purpose of removing and stabilizing the silver salt in the unexposed portion. For the fixing process in the present invention, a fixing process technique used for a silver salt photographic film, photographic paper, a printing plate-making film, a photomask emulsion mask, or the like can be used.
現像処理で用いられる現像液は、画質を向上させる目的で、画質向上剤を含有することができる。画質向上剤としては、例えば、ベンゾトリアゾールなどの含窒素へテロ環化合物を挙げることができる。また、リス現像液を利用する場合特に、ポリエチレングリコールを使用することも好ましい。 The developer used in the development process can contain an image quality improver for the purpose of improving the image quality. Examples of the image quality improver include nitrogen-containing heterocyclic compounds such as benzotriazole. In addition, it is also preferable to use polyethylene glycol, particularly when a lith developer is used.
現像処理後の露光部に含まれる金属銀の質量は、露光前の露光部に含まれていた銀の質量に対して50質量%以上の含有率であることが好ましく、80質量%以上であることがさらに好ましい。露光部に含まれる銀の質量が露光前の露光部に含まれていた銀の質量に対して50質量%以上であれば、高い導電性を得ることができるため好ましい。 The mass of the metallic silver contained in the exposed portion after the development treatment is preferably a content of 50% by mass or more, and 80% by mass or more with respect to the mass of silver contained in the exposed portion before exposure. More preferably. If the mass of silver contained in the exposed portion is 50% by mass or more based on the mass of silver contained in the exposed portion before exposure, it is preferable because high conductivity can be obtained.
本発明における現像処理後の階調は、特に限定されるものではないが、4.0を超えることが好ましい。現像処理後の階調が4.0を超えると、光透過性部の透明性を高く保ったまま、導電性金属部の導電性を高めることができる。階調を4.0以上にする手段としては、例えば、前述のロジウムイオン、イリジウムイオンのドープが挙げられる。 The gradation after development processing in the present invention is not particularly limited, but is preferably more than 4.0. When the gradation after the development processing exceeds 4.0, the conductivity of the conductive metal portion can be increased while keeping the transparency of the light transmissive portion high. Examples of means for setting the gradation to 4.0 or higher include the aforementioned doping of rhodium ions and iridium ions.
[物理現像及びメッキ処理]
本発明では、前記露光及び現像処理により形成された金属銀部に導電性を付与する目的で、前記金属銀部に導電性金属粒子を担持させるための物理現像及び/又はメッキ処理を行う。本発明では物理現像又はメッキ処理のみで導電性金属粒子を金属性部に担持させることが可能であるが、さらに物理現像とメッキ処理を組み合わせて導電性金属粒子を金属銀部に担持させることもできる。
本発明における「物理現像」とは、金属や金属化合物の核上に、銀イオンなどの金属イオンを還元剤で還元して金属粒子を析出させることをいう。この物理現象は、インスタントB&Wフィルム、インスタントスライドフィルムや、印刷版製造等に利用されており、本発明ではその技術を用いることができる。
また、物理現像は、露光後の現像処理と同時に行っても、現像処理後に別途行ってもよい。
[Physical development and plating]
In the present invention, for the purpose of imparting conductivity to the metal silver portion formed by the exposure and development processing, physical development and / or plating treatment for supporting the conductive metal particles on the metal silver portion is performed. In the present invention, it is possible to support the conductive metal particles on the metallic part only by physical development or plating treatment, but it is also possible to support the conductive metal particles on the metallic silver part by combining physical development and plating treatment. it can.
“Physical development” in the present invention means that metal particles such as silver ions are reduced with a reducing agent on metal or metal compound nuclei to deposit metal particles. This physical phenomenon is used for instant B & W film, instant slide film, printing plate manufacturing, and the like, and the technology can be used in the present invention.
Further, the physical development may be performed simultaneously with the development processing after exposure or separately after the development processing.
本発明において、メッキ処理は、無電解メッキ(化学還元メッキや置換メッキ)、電解メッキ、又は無電解メッキと電解メッキの両方を用いることができる。本発明における無電解メッキは、公知の無電解メッキ技術を用いることができ、例えば、プリント配線板などで用いられている無電解メッキ技術を用いることができ、無電解メッキは無電解銅メッキであることが好ましい。
無電解銅メッキ液に含まれる化学種としては、硫酸銅や塩化銅、還元剤としてホルマリンやグリオキシル酸、銅の配位子としてEDTAやトリエタノールアミン等、その他、浴の安定化やメッキ皮膜の平滑性を向上させるための添加剤としてポリエチレングリコール、黄血塩、ビピリジン等が挙げられる。電解銅メッキ浴としては、硫酸銅浴やピロリン酸銅浴が挙げられる。
In the present invention, the plating treatment can be performed using electroless plating (chemical reduction plating or displacement plating), electrolytic plating, or both electroless plating and electrolytic plating. For the electroless plating in the present invention, a known electroless plating technique can be used. For example, an electroless plating technique used for a printed wiring board can be used, and the electroless plating is an electroless copper plating. Preferably there is.
Chemical species contained in the electroless copper plating solution include copper sulfate and copper chloride, formalin and glyoxylic acid as the reducing agent, EDTA and triethanolamine as the copper ligand, and other bath stabilization and plating film Examples of the additive for improving the smoothness include polyethylene glycol, yellow blood salt, and bipyridine. Examples of the electrolytic copper plating bath include a copper sulfate bath and a copper pyrophosphate bath.
本発明におけるメッキ処理時のメッキ速度は、緩やかな条件で行うことができ、さらに5μm/hr以上の高速メッキも可能である。メッキ処理において、メッキ液の安定性を高める観点からは、例えば、EDTAなどの配位子など種々の添加剤を用いることができる。 The plating speed at the time of plating in the present invention can be performed under moderate conditions, and high-speed plating of 5 μm / hr or more is also possible. In the plating treatment, various additives such as a ligand such as EDTA can be used from the viewpoint of improving the stability of the plating solution.
[酸化処理]
本発明では、現像処理後の金属銀部、並びに物理現像及び/又はメッキ処理後に形成される導電性金属部には、好ましくは酸化処理が行われる。酸化処理を行うことにより、例えば、光透過性部に金属が僅かに沈着していた場合に、該金属を除去し、光透過性部の透過性をほぼ100%にすることができる。
酸化処理としては、例えば、Fe(III)イオン処理など、種々の酸化剤を用いた公知の方法が挙げられる。酸化処理は、銀塩含有層の露光及び現像処理後、あるいは物理現像又はメッキ処理後に行うことができ、さらに現像処理後と物理現像又はメッキ処理後のそれぞれで行ってもよい。
[Oxidation treatment]
In the present invention, oxidation treatment is preferably performed on the metallic silver portion after the development treatment and the conductive metal portion formed after the physical development and / or plating treatment. By performing the oxidation treatment, for example, when a metal is slightly deposited on the light transmissive portion, the metal can be removed and the light transmissive portion can be made almost 100% transparent.
Examples of the oxidation treatment include known methods using various oxidizing agents such as Fe (III) ion treatment. The oxidation treatment can be performed after exposure and development processing of the silver salt-containing layer, or after physical development or plating treatment, and may be performed after development processing and after physical development or plating treatment.
本発明では、さらに露光及び現像処理後の金属銀部を、Pdを含有する溶液で処理することもできる。Pdは、2価のパラジウムイオンであっても金属パラジウムであってもよい。この処理により無電解メッキ又は物理現像速度を促進させることができる。 In the present invention, the metallic silver portion after the exposure and development treatment can be further treated with a solution containing Pd. Pd may be a divalent palladium ion or metallic palladium. This treatment can accelerate electroless plating or physical development speed.
本発明における光透過性部は、前記銀塩含有層を露光及び現像処理することにより、金属銀部と共に形成される。光透過性部は、透過性を向上させる観点から、前記現像処理後、さらには物理処理又はメッキ処理後に酸化処理を行うことが好ましい。 The light transmissive part in the present invention is formed together with the metal silver part by exposing and developing the silver salt-containing layer. The light transmissive portion is preferably subjected to an oxidation treatment after the development treatment, and further after the physical treatment or plating treatment, from the viewpoint of improving the transparency.
次に本発明に用いられる、有機メルカプト化合物について説明する。
有機メルカプト化合物としては、アルキルメルカプト化合物や、アリールメルカプト化合物、ヘテロ環メルカプト化合物などが挙げられる。
Next, the organic mercapto compound used in the present invention will be described.
Examples of the organic mercapto compound include alkyl mercapto compounds, aryl mercapto compounds, and heterocyclic mercapto compounds.
有機メルカプト化合物としては、好ましくは、下記一般式(2)で表される化合物である。
一般式(2)
Z−SM
〔一般式(2)において、Zはアルキル基、芳香族基若しくはヘテロ環基であって、ヒドロキシル基、−SO3M2基、−COOM2基(ここでM2は水素原子、アルカリ金属原子またはアンモニウム基を表す)、アミノ基およびアンモニオ基からなる群から選ばれる少なくとも1つまたは、この群より選ばれる少なくとも1つを有する置換基によって置換されているものを表す。Mは水素原子、アルカリ金属原子、またはアミジノ基(これはハロゲン化水素酸塩もしくはスルホン酸塩を形成していてもよい)を表す。〕
The organic mercapto compound is preferably a compound represented by the following general formula (2).
General formula (2)
Z-SM
[In General Formula (2), Z is an alkyl group, an aromatic group, or a heterocyclic group, and is a hydroxyl group, —SO 3 M 2 group, or —COOM 2 group (where M 2 is a hydrogen atom or an alkali metal atom) Or an ammonium group), a group substituted with a substituent having at least one selected from the group consisting of an amino group and an ammonio group, or at least one selected from this group. M represents a hydrogen atom, an alkali metal atom, or an amidino group (which may form a hydrohalide salt or a sulfonate salt). ]
また、有機メルカプト化合物として、下記一般式(1)、(3)〜(5)で表される化合物も好ましい。 Moreover, as an organic mercapto compound, the compounds represented by the following general formulas (1) and (3) to (5) are also preferable.
一般式(1) General formula (1)
[一般式(1)において、−D=および−E=は各々独立に−CH=基、−C(R0)=基、または−N=基を表し、R0は置換基を表す。L1、L2およびL3は各々独立に水素原子、ハロゲン原子、または炭素原子、窒素原子、酸素原子、硫黄原子もしくはリン原子のいずれかで環に結合する任意の置換基を表す。但しL1、L2、L3およびR0の少なくとも1つは、−SM基(Mはアルカリ金属原子、水素原子またはアンモニウム基を表す)を表す。] [In the general formula (1), -D = and -E = each independently -CH = group, -C (R 0) = represents a group or -N = group,, R 0 represents a substituent. L 1 , L 2 and L 3 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, or an arbitrary substituent bonded to the ring through any of a carbon atom, nitrogen atom, oxygen atom, sulfur atom or phosphorus atom. However, at least one of L 1 , L 2 , L 3 and R 0 represents a —SM group (M represents an alkali metal atom, a hydrogen atom or an ammonium group). ]
一般式(3)、一般式(4) General formula (3), general formula (4)
〔一般式(3)、(4)中、R21及びR22はそれぞれ水素原子又はアルキル基を表す。但し、R21とR22は同時に水素原子であることはなく、また上記アルキル基は置換基を有していてもよい。R23及びR24はそれぞれ水素原子又はアルキル基を表し、R25はヒドロキシル基、アミノ基、アルキル基又はフェニル基を表す。R26及びR27はそれぞれ水素原子、アルキル基、アシル基又は−COOM22を表す。但しR26とR27は同時に水素原子であることはない。M21は水素原子、アルカリ金属原子又はアンモニウム基を表す。M22は水素原子、アルキル基、アルカリ金属原子、アリール基又はアラルキル基を表す。mは0、1又は2を表す。nは2を表す。〕 [In General Formulas (3) and (4), R 21 and R 22 each represent a hydrogen atom or an alkyl group. However, R 21 and R 22 are not simultaneously a hydrogen atom, and the alkyl group may have a substituent. R 23 and R 24 each represent a hydrogen atom or an alkyl group, and R 25 represents a hydroxyl group, an amino group, an alkyl group or a phenyl group. R 26 and R 27 each represent a hydrogen atom, an alkyl group, an acyl group, or —COOM 22 . However, R 26 and R 27 are not simultaneously hydrogen atoms. M 21 represents a hydrogen atom, an alkali metal atom or an ammonium group. M 22 represents a hydrogen atom, an alkyl group, an alkali metal atom, an aryl group or an aralkyl group. m represents 0, 1 or 2. n represents 2. ]
一般式(5) General formula (5)
〔一般式(5)中、X40は水素原子、ヒドロキシル基、低級アルキル基、低級アルコキシ基、ハロゲン原子、カルボキシル基又はスルホ基を表し、M41及びMaはそれぞれ水素原子、アルカリ金属原子又はアンモニウム基を表す。〕 [In the general formula (5), X 40 represents a hydrogen atom, a hydroxyl group, a lower alkyl group, a lower alkoxy group, a halogen atom, a carboxyl group or a sulfo group, and M 41 and Ma are a hydrogen atom, an alkali metal atom or ammonium, respectively. Represents a group. ]
一般式(2)で表される化合物についてさらに説明する。 The compound represented by the general formula (2) will be further described.
一般式(2)において、Zで表されるアルキル基は好ましくは、炭素数1〜30のものであって特に炭素数2〜20の直鎖、分岐、または環状のアルキル基であって上記の置換基の他に置換基を有していてもよい。Zで表される芳香族基は好ましくは炭素数6〜32の単環または縮合環のものであって上記の置換基の他に置換基を有していてもよい。Zで表されるヘテロ環基は好ましくは炭素数1〜32の単環または縮合環であり、窒素、酸素、硫黄のうちから独立に選ばれるヘテロ原子を1つの環中に1〜6個有する5または6員環であり、上記の他に置換基を有していてもよい。但し、ヘテロ環基がテトラゾールの場合、置換基として、置換もしくは無置換のナフチル基を有さない。一般式(2)で表される化合物のうち好ましくは、Zが2個以上の窒素原子を有するヘテロ環基である化合物である。 In the general formula (2), the alkyl group represented by Z is preferably one having 1 to 30 carbon atoms, particularly a linear, branched or cyclic alkyl group having 2 to 20 carbon atoms, the above-mentioned You may have a substituent other than a substituent. The aromatic group represented by Z is preferably a monocyclic or condensed ring having 6 to 32 carbon atoms, and may have a substituent in addition to the above-described substituents. The heterocyclic group represented by Z is preferably a monocyclic or condensed ring having 1 to 32 carbon atoms, and has 1 to 6 heteroatoms independently selected from nitrogen, oxygen and sulfur in one ring. It is a 5- or 6-membered ring and may have a substituent in addition to the above. However, when the heterocyclic group is tetrazole, it does not have a substituted or unsubstituted naphthyl group as a substituent. Among the compounds represented by the general formula (2), a compound in which Z is a heterocyclic group having two or more nitrogen atoms is preferable.
一般式(2)で表される化合物で好ましいものは下記式(2−a)で表される。 A preferable compound represented by the general formula (2) is represented by the following formula (2-a).
一般式中、Zは窒素原子を有する不飽和の5員ヘテロ環または、6員ヘテロ環(ピロール環、イミダゾール環、ピラゾール環、ピリミジン環、ピリダジン環、ピラジン環等)を形成するのに必要な基であり、少なくとも一つの−SM基またはチオン基を有する化合物であって、且つヒドロキシル基、−COOM基、−SO3M基、置換若しくは無置換のアミノ基、置換若しくは無置換のアンモニオ基からなる群から選ばれた少なくとも一つの置換基を有する。式中、R11、R12は、各々独立に水素原子、−SM基、ハロゲン原子、アルキル基(置換基を有するものを含む)、アルコキシ基(置換基を有するものを含む)、ヒドロキシル基、−COOM基、−SO3M基、アルケニル基(置換基を有するものを含む)、アミノ基(置換基を有するものを含む)、カルバモイル基(置換基を有するものを含む)、フェニル基(置換基を有するものを含む)であり、R11とR12で環を形成してもよい。形成できる環としては、5員環または6員環であり、好ましくは含窒素ヘテロ環である。Mは、前記一般式(2)で定義されたMと同義である。好ましくはZは二つ以上の窒素原子を含むヘテロ環化合物を形成する基であり、前記−SM基若しくはチオン基以外の置換基を有していてもよく、該置換基としては、ハロゲン原子、低級アルキル基(置換基を有するものを含む。メチル基、エチル基等の炭素数5以下のものが好ましい。)、低級アルコキシ基(置換基を有するものを含む。メトキシ、エトキシ、ブトキシ等の炭素数5以下のものが好ましい。)、低級アルケニル基(置換基を有するものを含む。炭素数5以下のものが好ましい。)、カルバモイル基、フェニル基等が挙げられる。さらに一般式(2−a)において次の式A〜Fで表される化合物が特に好ましい。 In the general formula, Z is necessary for forming an unsaturated 5-membered heterocycle having a nitrogen atom or a 6-membered heterocycle (pyrrole ring, imidazole ring, pyrazole ring, pyrimidine ring, pyridazine ring, pyrazine ring, etc.). A compound having at least one —SM group or thione group, and from a hydroxyl group, a —COOM group, a —SO 3 M group, a substituted or unsubstituted amino group, a substituted or unsubstituted ammonio group Having at least one substituent selected from the group consisting of In the formula, R 11 and R 12 are each independently a hydrogen atom, —SM group, halogen atom, alkyl group (including those having a substituent), alkoxy group (including those having a substituent), a hydroxyl group, -COOM group, -SO 3 M group, (including those having a substituent) alkenyl group (including those having a substituent) amino group, (including those having a substituent) carbamoyl group, a phenyl group (substituted Including a group having a group), and R 11 and R 12 may form a ring. The ring that can be formed is a 5-membered ring or a 6-membered ring, preferably a nitrogen-containing heterocycle. M is synonymous with M defined in the general formula (2). Z is preferably a group that forms a heterocyclic compound containing two or more nitrogen atoms, and may have a substituent other than the -SM group or thione group, and the substituent includes a halogen atom, Lower alkyl groups (including those having substituents, preferably those having 5 or less carbon atoms such as methyl and ethyl groups), lower alkoxy groups (including those having substituents; carbons such as methoxy, ethoxy and butoxy) And a lower alkenyl group (including those having a substituent. Preferred are those having 5 or less carbon atoms), a carbamoyl group, a phenyl group, and the like. Furthermore, the compounds represented by the following formulas A to F in the general formula (2-a) are particularly preferable.
式中、R21、R22、R23、R24は各々独立に、水素原子、−SM基、ハロゲン原子、低級アルキル基(置換基を有するものを含む。メチル基、エチル基等の炭素数5以下のものが好ましい。)、低級アルコキシ基(置換基を有するものを含む。炭素数5以下のものが好ましい。)、ヒドロキシ基、−COOM2、−SO3M5基、低級アルケニル基(置換基を有するものを含む。炭素数5以下のものが好ましい。)、アミノ基、カルバモイル基、フェニル基であり、少なくとも一つは−SM基である。M、M2、M5は各々水素原子、アルカリ金属原子またはアンモニウム基を表す。特に、−SM以外の置換基としてはヒドロキシ基、−COOM2、−SO3M5基、アミノ基等の水溶性基を持つことが好ましい。 In the formula, R 21 , R 22 , R 23 , and R 24 are each independently a hydrogen atom, —SM group, halogen atom, lower alkyl group (including those having a substituent. Carbon number such as methyl group, ethyl group, etc. 5 or less are preferred), a lower alkoxy group (including those having a substituent, preferably those having 5 or less carbon atoms), a hydroxy group, —COOM 2 , —SO 3 M 5 group, a lower alkenyl group ( Including those having a substituent, preferably those having 5 or less carbon atoms), an amino group, a carbamoyl group, and a phenyl group, at least one of which is an -SM group. M, M 2 and M 5 each represent a hydrogen atom, an alkali metal atom or an ammonium group. In particular, hydroxy groups as substituents other than -SM, -COOM 2, -SO 3 M 5 group, it preferably has a water-soluble group such as an amino group.
R21、R22、R23、R24で表されるアミノ基は置換または非置換のアミノ基を表し、好ましい置換基としては低級アルキル基である。アンモニウム基としては置換または非置換のアンモニウム基であり、好ましくは非置換のアンモニウム基である。 The amino group represented by R 21 , R 22 , R 23 , R 24 represents a substituted or unsubstituted amino group, and a preferred substituent is a lower alkyl group. The ammonium group is a substituted or unsubstituted ammonium group, preferably an unsubstituted ammonium group.
以下に一般式(2)で表される化合物の具体例を示すが、これらに限定されるものではない。 Although the specific example of a compound represented by General formula (2) below is shown, it is not limited to these.
一般式(1)、(3)〜(5)で表される化合物についてさらに説明する。 The compounds represented by the general formulas (1) and (3) to (5) will be further described.
一般式(1)で表される化合物について詳細に説明する。一般式(1)において、−D=および−E=は各々独立に−CH=基、−C(R0)=基、または−N=基を表し、ここにR0は置換基を表す。L1、L2、L3は各々独立に水素原子、ハロゲン原子、または炭素原子、窒素原子、酸素原子、硫黄原子もしくはリン原子のいずれかで環に結合する任意の置換基を表し、L1〜L3は同じでも異なっていてもよい。但しL1、L2、L3、およびR1の少なくとも1つは、−SM基(Mはアルカリ金属原子、水素原子、アンモニウム基)を表す。 The compound represented by the general formula (1) will be described in detail. In the general formula (1), -D = and -E = each independently -CH = group, -C (R 0) = represents a group or -N = group, wherein the R 0 is a substituent. L 1, L 2, L 3 each independently represent a hydrogen atom, he represents a halogen atom or a carbon atom, a nitrogen atom, an oxygen atom, an optional substituent attached to the ring either sulfur or phosphorus atom, L 1 ~L 3 may be the same or different. However, at least one of L 1 , L 2 , L 3 and R 1 represents a —SM group (M is an alkali metal atom, a hydrogen atom, or an ammonium group).
L1、L2、L3で表される任意の置換基およびR0で表される置換基としては、具体的には、ハロゲン原子(フッ素原子、塩素原子、臭素原子、または沃素原子)、アルキル基(アラルキル基、シクロアルキル基、活性メチン基等を含む)、アルケニル基、アルキニル基、アリール基、複素環基、4級化された窒素原子を含むヘテロ環基(たとえばピリジニオ基)、アシル基、アルコキシカルボニル基、アリールオキシカルボニル基、カルバモイル基、カルボキシ基またはその塩、スルホニルカルバモイル基、アシルカルバモイル基、スルファモイルカルバモイル基、カルバゾイル基、オキサリル基、オキサモイル基、シアノ基、チオカルバモイル基、ヒドロキシ基、アルコキシ基(エチレンオキシ基もしくはプロピレンオキシ基単位を繰り返し含む基を含む)、アリールオキシ基、ヘテロ環オキシ基、アシルオキシ基、(アルコキシもしくはアリールオキシ)カルボニルオキシ基、カルバモイルオキシ基、スルホニルオキシ基、アミノ基、(アルキル、アリールまたはヘテロ環)アミノ基、ヒドロキシアミノ基,N−置換の飽和もしくは不飽和の含窒素ヘテロ環基、アシルアミノ基、スルホンアミド基、ウレイド基、チオウレイド基、イミド基、(アルコキシもしくはアリールオキシ)カルボニルアミノ基、スルファモイルアミノ基、セミカルバジド基、チオセミカルバジド基、ヒドラジノ基、アンモニオ基、オキサモイルアミノ基、(アルキルもしくはアリール)スルホニルウレイド基、アシルウレイド基、アシルスルファモイルアミノ基、ニトロ基、メルカプト基、(アルキル、アリールまたはヘテロ環)チオ基、(アルキルまたはアリール)スルホニル基、(アルキルまたはアリール)スルフィニル基、スルホ基またはその塩、スルファモイル基、アシルスルファモイル基、スルホニルスルファモイル基またはその塩、リン酸アミドもしくはリン酸エステル構造を含む基、等が挙げられる。これらの置換基は、さらにこれらの置換基で置換されていてもよい。 Specific examples of the optional substituent represented by L 1 , L 2 , and L 3 and the substituent represented by R 0 include a halogen atom (a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, or an iodine atom), Alkyl group (including aralkyl group, cycloalkyl group, active methine group, etc.), alkenyl group, alkynyl group, aryl group, heterocyclic group, heterocyclic group containing quaternized nitrogen atom (for example, pyridinio group), acyl Group, alkoxycarbonyl group, aryloxycarbonyl group, carbamoyl group, carboxy group or a salt thereof, sulfonylcarbamoyl group, acylcarbamoyl group, sulfamoylcarbamoyl group, carbazoyl group, oxalyl group, oxamoyl group, cyano group, thiocarbamoyl group, Hydroxy group, alkoxy group (ethyleneoxy group or propyleneoxy group unit Aryloxy group, heterocyclic oxy group, acyloxy group, (alkoxy or aryloxy) carbonyloxy group, carbamoyloxy group, sulfonyloxy group, amino group, (alkyl, aryl or heterocyclic) amino group , Hydroxyamino group, N-substituted saturated or unsaturated nitrogen-containing heterocyclic group, acylamino group, sulfonamide group, ureido group, thioureido group, imide group, (alkoxy or aryloxy) carbonylamino group, sulfamoylamino Group, semicarbazide group, thiosemicarbazide group, hydrazino group, ammonio group, oxamoylamino group, (alkyl or aryl) sulfonylureido group, acylureido group, acylsulfamoylamino group, nitro group, mercapto group, ( (Alkyl, aryl or heterocyclic) thio group, (alkyl or aryl) sulfonyl group, (alkyl or aryl) sulfinyl group, sulfo group or salt thereof, sulfamoyl group, acylsulfamoyl group, sulfonylsulfamoyl group or salt thereof, And a group containing a phosphoric acid amide or phosphoric acid ester structure. These substituents may be further substituted with these substituents.
L1、L2、L3で表される任意の置換基およびR0で表される置換基としてより好ましくは、炭素数0〜15の置換基で、塩素原子、アルキル基、アリール基、複素環基、アシル基、アルコキシカルボニル基、カルバモイル基、カルボキシ基またはその塩、シアノ基、アルコキシ基、アリールオキシ基、アシルオキシ基、アミノ基、(アルキル、アリールまたはヘテロ環)アミノ基、ヒドロキシアミノ基、N−置換の飽和もしくは不飽和の含窒素ヘテロ環基、アシルアミノ基、スルホンアミド基、ウレイド基、チオウレイド基、スルファモイルアミノ基、ニトロ基、メルカプト基、(アルキル、アリール、またはヘテロ環)チオ基、スルホ基またはその塩、スルファモイル基であり、さらに好ましくは、アルキル基、アリール基、複素環基、アルコキシカルボニル基、カルバモイル基、カルボキシ基またはその塩、アルコキシ基、アリールオキシ基、アシルオキシ基、アミノ基、(アルキル、アリールまたはヘテロ環)アミノ基、ヒドロキシアミノ基、N−置換の飽和もしくは不飽和の含窒素ヘテロ環基、アシルアミノ基、スルホンアミド基、ウレイド基、チオウレイド基、スルファモイルアミノ基、メルカプト基、(アルキル、アリール、またはヘテロ環)チオ基、スルホ基またはその塩であり、最も好ましくはアミノ基、アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アリールオキシ基、アルキルアミノ基、アリールアミノ基、アルキルチオ基、アルールチオ基、メルカプト基、カルボキシ基またはその塩、スルホ基またはその塩である。一般式(1)においてL1、L2、L3およびR0は、互いに結合して炭化水素環、ヘテロ環、芳香環が縮合した縮合環を形成していてもよい。 More preferably, the arbitrary substituents represented by L 1 , L 2 and L 3 and the substituent represented by R 0 are a substituent having 0 to 15 carbon atoms, such as a chlorine atom, an alkyl group, an aryl group, a complex A cyclic group, an acyl group, an alkoxycarbonyl group, a carbamoyl group, a carboxy group or a salt thereof, a cyano group, an alkoxy group, an aryloxy group, an acyloxy group, an amino group, an (alkyl, aryl or heterocyclic ring) amino group, a hydroxyamino group, N-substituted saturated or unsaturated nitrogen-containing heterocyclic group, acylamino group, sulfonamide group, ureido group, thioureido group, sulfamoylamino group, nitro group, mercapto group, (alkyl, aryl, or heterocyclic) thio Group, a sulfo group or a salt thereof, and a sulfamoyl group, and more preferably an alkyl group, an aryl group, a complex Group, alkoxycarbonyl group, carbamoyl group, carboxy group or a salt thereof, alkoxy group, aryloxy group, acyloxy group, amino group, (alkyl, aryl or heterocyclic) amino group, hydroxyamino group, N-substituted saturated or unsaturated A saturated nitrogen-containing heterocyclic group, acylamino group, sulfonamido group, ureido group, thioureido group, sulfamoylamino group, mercapto group, (alkyl, aryl, or heterocyclic) thio group, sulfo group or a salt thereof; Most preferred are amino group, alkyl group, aryl group, alkoxy group, aryloxy group, alkylamino group, arylamino group, alkylthio group, arylthio group, mercapto group, carboxy group or salt thereof, sulfo group or salt thereof. In the general formula (1), L 1 , L 2 , L 3 and R 0 may be bonded to each other to form a condensed ring in which a hydrocarbon ring, a hetero ring, or an aromatic ring is condensed.
一般式(1)においてL1、L2、L3およびR0の少なくとも1つは、−SM基(Mはアルカリ金属原子、水素原子またはアンモニウム基を表す)を表す。ここにアルカリ金属原子とは具体的に、Na、K、Li、Mg、Ca等であり、これらは−S−の対カチオンとして存在する。Mとして好ましくは、水素原子、アンモニウム基、Na+、またはK+であり、特に好ましくは水素原子である。一般式(1)の化合物のうち、次の一般式(1−A)一般式(1−B)で表される化合物が好ましい。 In the general formula (1), at least one of L 1 , L 2 , L 3 and R 0 represents an —SM group (M represents an alkali metal atom, a hydrogen atom or an ammonium group). Here specifically the alkali metal atom is Na, K, Li, Mg, Ca, etc., it -S - present as a counter cation. M is preferably a hydrogen atom, an ammonium group, Na + , or K + , and particularly preferably a hydrogen atom. Of the compounds represented by the general formula (1), compounds represented by the following general formula (1-A) and general formula (1-B) are preferable.
つぎに一般式(1−A)について詳細に説明する。R1〜R4は各々独立に水素原子、ハロゲン原子、または炭素原子、窒素原子、酸素原子、硫黄原子もしくはリン原子で環に結合する任意の置換基を表すが、これは一般式(1)のL1、L2、L3と同義の基であり、その好ましい範囲もまた同じである。但し、R1およびR3がヒドロキシ基を表すことはない。R1〜R4は同じでも異なっていてもよいが、これらのうち少なくとも一つは−SM基である。Mは水素原子、アルカリ金属原子、アンモニウム基を表す。また、R1とR2は互いに結合して炭化水素環、ヘテロ環、芳香環が縮合した縮合環を形成していてもよい。 Next, the general formula (1-A) will be described in detail. R 1 to R 4 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, or an arbitrary substituent bonded to the ring by a carbon atom, a nitrogen atom, an oxygen atom, a sulfur atom, or a phosphorus atom, which is represented by the general formula (1) And L 1 , L 2 , and L 3 have the same meanings, and preferred ranges thereof are also the same. However, R 1 and R 3 do not represent a hydroxy group. R 1 to R 4 may be the same or different, but at least one of them is a —SM group. M represents a hydrogen atom, an alkali metal atom, or an ammonium group. R 1 and R 2 may be bonded to each other to form a condensed ring in which a hydrocarbon ring, a hetero ring, or an aromatic ring is condensed.
一般式(1−A)においてR1〜R4の少なくとも1つは−SM基であるが、より好ましくはR1〜R4の少なくとも2つが−SM基である。R1〜R4の少なくとも2つが−SM基である場合、好ましくはR4とR1、もしくはR4とR3が−SM基である。 In general formula (1-A), at least one of R 1 to R 4 is an —SM group, and more preferably at least two of R 1 to R 4 are —SM groups. When at least two of R 1 to R 4 are —SM groups, preferably R 4 and R 1 , or R 4 and R 3 are —SM groups.
本発明においては、一般式(1−A)で表される化合物のうち、下記一般式(1−A−1)〜(1−A−3)で表される化合物が特に好ましい。 In the present invention, among the compounds represented by the general formula (1-A), compounds represented by the following general formulas (1-A-1) to (1-A-3) are particularly preferable.
一般式(1−A−1)において、R10はメルカプト基、水素原子、または任意の置換基を表し、Xは水溶性基もしくは水溶性基で置換された置換基を表す。一般式(1−A−2)においてY1は水溶性基もしくは水溶性基で置換された置換基を表し、R20は水素原子または任意の置換基を表す。一般式(1−A−3)においてY2は水溶性基もしくは水溶性基で置換された置換基を表し、R30は水素原子または任意の置換基を表す。但し、R10およびY1がヒドロキシ基を表すことはない。 In the general formula (1-A-1), R 10 represents a mercapto group, a hydrogen atom, or an arbitrary substituent, and X represents a water-soluble group or a substituent substituted with a water-soluble group. In the general formula (1-A-2), Y 1 represents a water-soluble group or a substituent substituted with a water-soluble group, and R 20 represents a hydrogen atom or an arbitrary substituent. In General Formula (1-A-3), Y 2 represents a water-soluble group or a substituent substituted with a water-soluble group, and R 30 represents a hydrogen atom or an arbitrary substituent. However, R 10 and Y 1 do not represent a hydroxy group.
つぎに、一般式(1−A−1)〜(1−A−3)で表される化合物について詳しく説明する。
一般式(1−A−1)において、R10はメルカプト基、水素原子または任意の置換基を表す。ここで任意の置換基とは、一般式(1−A)のR1〜R4について説明したものと同じものが挙げられる。R10として好ましくは、メルカプト基、水素原子、または炭素数0〜15の以下の置換基から選ばれる基である。すなわち、アミノ基、アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アリールオキシ基、アシルアミノ基、スルホンアミド基、アルキルチオ基、アリールチオ基、アルキルアミノ基、アリールアミノ基等が挙げられる。一般式(1−A−1)においてXは水溶性基もしくは水溶性基で置換された置換基を表す。ここに水溶性基とはスルホン酸もしくはカルボン酸およびそれらの塩、アンモニオ基のような塩、またはアルカリ性の現像液によって一部もしくは完全に解離しうる解離性基を含む基のことで、具体的にはスルホ基(またはその塩)、カルボキシ基(またはその塩)、ヒドロキシ基、メルカプト基、アミノ基、アンモニオ基、スルホンアミド基、アシルスルファモイル基、スルホニルスルファモイル基、活性メチン基、またはこれらの基を含む置換基を表す。なお本発明において活性メチン基とは、2つの電子吸引性基で置換されたメチル基のことで、具体的にはジシアノメチル、α−シアノ−α−エトキシカルボニルメチル、α−アセチル−α−エトキシカルボニルメチル等の基が挙げられる。一般式(1−A−1)のXで表される置換基とは、上述した水溶性基、または上述の水溶性基で置換された置換基であり、その置換基としては、炭素数0〜15の置換基で、アルキル基、アリール基、ヘテロ環基、アルコキシ基、アリールオキシ基、ヘテロ環オキシ基、アシルオキシ基、(アルキル、アリールまたはヘテロ環)アミノ基、アシルアミノ基、スルホンアミド基、ウレイド基、チオウレイド基、イミド基、スルファモイルアミノ基、(アルキル、アリールまたはヘテロ環)チオ基、(アルキル、アリール)スルホニル基、スルファモイル基、アミノ基等が挙げられ、好ましくは炭素数1〜10のアルキル基(特にアミノ基で置換されたメチル基)、アリール基、アリールオキシ基、アミノ基、(アルキル、アリール、またはヘテロ環)アミノ基、(アルキル、アリールまたはヘテロ環)チオ基等の基である。
Next, the compounds represented by the general formulas (1-A-1) to (1-A-3) will be described in detail.
In General Formula (1-A-1), R 10 represents a mercapto group, a hydrogen atom, or an arbitrary substituent. Here, the arbitrary substituents are the same as those described for R 1 to R 4 in the general formula (1-A). R 10 is preferably a mercapto group, a hydrogen atom, or a group selected from the following substituents having 0 to 15 carbon atoms. That is, amino group, alkyl group, aryl group, alkoxy group, aryloxy group, acylamino group, sulfonamido group, alkylthio group, arylthio group, alkylamino group, arylamino group and the like can be mentioned. In general formula (1-A-1), X represents a water-soluble group or a substituent substituted with a water-soluble group. Here, the water-soluble group means a group containing a dissociable group that can be partially or completely dissociated by an alkaline developer, or a salt such as a sulfonic acid or carboxylic acid and a salt thereof, an ammonio group, or the like. Includes a sulfo group (or a salt thereof), a carboxy group (or a salt thereof), a hydroxy group, a mercapto group, an amino group, an ammonio group, a sulfonamido group, an acylsulfamoyl group, a sulfonylsulfamoyl group, an active methine group, Or the substituent containing these groups is represented. In the present invention, the active methine group means a methyl group substituted with two electron-withdrawing groups, specifically, dicyanomethyl, α-cyano-α-ethoxycarbonylmethyl, α-acetyl-α-ethoxy. Examples include groups such as carbonylmethyl. The substituent represented by X in the general formula (1-A-1) is the above-described water-soluble group or a substituent substituted with the above-mentioned water-soluble group, and the substituent has 0 carbon atoms. ˜15 substituents, an alkyl group, an aryl group, a heterocyclic group, an alkoxy group, an aryloxy group, a heterocyclic oxy group, an acyloxy group, an (alkyl, aryl or heterocyclic) amino group, an acylamino group, a sulfonamide group, Examples include ureido group, thioureido group, imide group, sulfamoylamino group, (alkyl, aryl or heterocyclic) thio group, (alkyl, aryl) sulfonyl group, sulfamoyl group, amino group and the like. 10 alkyl groups (especially methyl groups substituted with amino groups), aryl groups, aryloxy groups, amino groups, (alkyl, aryl, or Ring) amino group, an (alkyl, aryl or heterocyclic) group such as thio group.
一般式(1−A−1)で表される化合物の中で、さらに好ましいものは下記一般式(1−A−1−a)で表される化合物である。
一般式(1−A−1−a)
Among the compounds represented by the general formula (1-A-1), a compound represented by the following general formula (1-A-1-a) is more preferable.
General formula (1-A-1-a)
式中R11は、一般式(1−A−1)のR10と同義であり、好ましい範囲も同じである。R12、R13はそれぞれ同じでも異なっていてもよく、水素原子、アルキル基、アリール基、またはヘテロ環基を表す。ただし、R12およびR13の少なくとも一方は、少なくとも1つの水溶性基を有する。ここに水溶性基とは、スルホ基(またはその塩)、カルボキシ基(またはその塩)、ヒドロキシ基、メルカプト基、アミノ基、アンモニオ基、スルホンアミド基、アシルスルファモイル基、スルホニルスルファモイル基、活性メチン基、またはこれらの基を含む置換基を表し、好ましくはスルホ基(またはその塩)、カルボキシ基(またはその塩)、ヒドロキシ基、アミノ基等の基が挙げられる。R12およびR13は、好ましくはアルキル基またはアリール基であり、R12およびR13がアルキル基であるとき、アルキル基としては炭素数1〜4の置換もしくは無置換のアルキル基が好ましく、その置換基としては水溶性基、特にスルホ基(またはその塩)、カルボキシ基(またはその塩)、ヒドロキシ基、またはアミノ基が好ましい。R12およびR13がアリール基であるとき、アリール基としては炭素数が6〜10の置換もしくは無置換のフェニル基が好ましく、その置換基としては水溶性基、特にスルホ基(またはその塩)、カルボキシ基(またはその塩)、ヒドロキシ基、またはアミノ基が好ましい。R12およびR13がアルキル基またはアリール基を表すとき、これらは互いに結合して環状構造を形成していてもよい。また環状構造により飽和のヘテロ環を形成してもよい。 Wherein R 11 has the same meaning as R 10 in formula (1-A-1), and the preferred range is also the same. R 12 and R 13 may be the same or different and each represents a hydrogen atom, an alkyl group, an aryl group, or a heterocyclic group. However, at least one of R 12 and R 13 has at least one water-soluble group. Here, the water-soluble group is a sulfo group (or a salt thereof), a carboxy group (or a salt thereof), a hydroxy group, a mercapto group, an amino group, an ammonio group, a sulfonamide group, an acylsulfamoyl group, or a sulfonylsulfamoyl group. Represents a group, an active methine group, or a substituent containing these groups, and preferred examples include a sulfo group (or a salt thereof), a carboxy group (or a salt thereof), a hydroxy group, an amino group, and the like. R 12 and R 13 are preferably an alkyl group or an aryl group, and when R 12 and R 13 are an alkyl group, the alkyl group is preferably a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, As the substituent, a water-soluble group, particularly a sulfo group (or a salt thereof), a carboxy group (or a salt thereof), a hydroxy group, or an amino group is preferable. When R 12 and R 13 are an aryl group, the aryl group is preferably a substituted or unsubstituted phenyl group having 6 to 10 carbon atoms, and the substituent is a water-soluble group, particularly a sulfo group (or a salt thereof). , A carboxy group (or a salt thereof), a hydroxy group, or an amino group is preferable. When R 12 and R 13 represent an alkyl group or an aryl group, they may be bonded to each other to form a cyclic structure. A saturated heterocyclic ring may be formed by a cyclic structure.
一般式(1−A−2)においてY1は水溶性基もしくは水溶性基で置換された置換基を表し、一般式(1−A−1)のXと同義である。一般式(1−A−2)においてY1で表される水溶性基もしくは水溶性基で置換された置換基としてさらに好ましくは、活性メチン基、または水溶性基で置換された以下の基、即ちアミノ基、アルコキシ基、アリールオキシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基、アルキル基、アリール基である。Y1としてさらに好ましくは、活性メチン基、または水溶性基で置換された(アルキル、アリール、もしくはヘテロ環)アミノ基であり、ここに水溶性基としてはヒドロキシ基、カルボキシ基またはその塩、スルホ基またはその塩が特に好ましい。Y1 として特に好ましくは、ヒドロキシ基、カルボキシ基(またはその塩)、またはスルホ基(またはその塩)で置換された(アルキル、アリール、もしくはヘテロ環)アミノ基であり、−N(R01)(R02)基で表される。ここにR01、R02は、それぞれ一般式(1−A)のR12、R13と同義の基であり、その好ましい範囲もまた同じである。 In General Formula (1-A-2), Y 1 represents a water-soluble group or a substituent substituted with a water-soluble group, and has the same meaning as X in General Formula (1-A-1). In the general formula (1-A-2), the water-soluble group represented by Y 1 or the substituent substituted with the water-soluble group is more preferably an active methine group or the following group substituted with a water-soluble group, That is, an amino group, an alkoxy group, an aryloxy group, an alkylthio group, an arylthio group, an alkyl group, and an aryl group. Y 1 is more preferably an active methine group or an amino group (alkyl, aryl, or heterocyclic) substituted with a water-soluble group, wherein the water-soluble group includes a hydroxy group, a carboxy group or a salt thereof, sulfo A group or a salt thereof is particularly preferred. Y 1 is particularly preferably an (alkyl, aryl, or heterocyclic) amino group substituted with a hydroxy group, a carboxy group (or a salt thereof), or a sulfo group (or a salt thereof), and —N (R 01 ) It is represented by (R 02 ) group. R 01 and R 02 are groups having the same meanings as R 12 and R 13 in the general formula (1-A), respectively, and preferred ranges thereof are also the same.
一般式(1−A−2)においてR20は水素原子または任意の置換基を表すが、ここで任意の置換基とは、一般式(1−A)のR1〜R4について説明したものと同じものが挙げられる。R20として好ましくは、水素原子または炭素数0〜15の以下の置換基から選ばれる基である。すなわち、ヒドロキシ基、アミノ基、アルキル基、アリール基、アルコキシ基、アリールオキシ基、アシルアミノ基、スルホンアミド基、アルキルチオ基、アリールチオ基、アルキルアミノ基、アリールアミノ基、ヒドロキシルアミノ基等が挙げられる。R20として最も好ましくは水素原子である。 In the general formula (1-A-2), R 20 represents a hydrogen atom or an arbitrary substituent, and here, the arbitrary substituent is the one described for R 1 to R 4 in the general formula (1-A). The same thing is mentioned. R 20 is preferably a hydrogen atom or a group selected from the following substituents having 0 to 15 carbon atoms. That is, a hydroxy group, an amino group, an alkyl group, an aryl group, an alkoxy group, an aryloxy group, an acylamino group, a sulfonamide group, an alkylthio group, an arylthio group, an alkylamino group, an arylamino group, a hydroxylamino group and the like can be mentioned. R 20 is most preferably a hydrogen atom.
一般式(1−A−3)においてY2は水溶性基もしくは水溶性基で置換された置換基を表し、R30は水素原子または任意の置換基を表す。一般式(1−A−3)におけるY2、R30はそれぞれ式(1−A−2)のY1、一般式(1−A−2)のR20と同義の基であり、その好ましい範囲もまた同じである。 In General Formula (1-A-3), Y 2 represents a water-soluble group or a substituent substituted with a water-soluble group, and R 30 represents a hydrogen atom or an arbitrary substituent. Y 2 and R 30 in formula (1-A-3) are the same groups as Y 1 in formula (1-A-2) and R 20 in formula (1-A-2), respectively. The range is also the same.
つぎに、一般式(1−B)について詳細に説明する。一般式(1−B)におけるR5〜R7は、各々独立に一般式(1−A)のR1〜R4と同義であり、その好ましい範囲もまた同じである。一般式(1−B)で表される化合物のうち一般式(1−B−1)で表される化合物が特に好ましい。
一般式(1−B−1)
Next, the general formula (1-B) will be described in detail. R 5 to R 7 in the formula (1-B) has the same meaning as R 1 to R 4 of formula (1-A) independently, the preferred range thereof is also the same. Of the compounds represented by the general formula (1-B), the compound represented by the general formula (1-B-1) is particularly preferable.
Formula (1-B-1)
一般式(1−B−1)において、R50は一般式(1−B)のR5〜R7と同義であり、より好ましくは一般式(1−A−1)〜(1−A−3)のX、Y1、Y2と同義の水溶性基もしくは水溶性基で置換された基である。さらに、一般式(1−B−1)の化合物のうち最も好ましくは一般式(1−B−1−a)で表される化合物である。
一般式(1−B−1−a)
In the general formula (1-B-1), R 50 has the same meaning as R 5 to R 7 in the general formula (1-B), and more preferably the general formulas (1-A-1) to (1-A- 3) a water-soluble group having the same meaning as X, Y 1 , and Y 2 or a group substituted with a water-soluble group. Furthermore, among the compounds of general formula (1-B-1), the compound represented by general formula (1-B-1-a) is most preferable.
General formula (1-B-1-a)
一般式(1−B−1−a)においてR51、R52は一般式(1−A−1−a)のR12、R13と同義の基であり、その好ましい範囲もまた同じである。 In the general formula (1-B-1-a), R 51 and R 52 are groups having the same meanings as R 12 and R 13 in the general formula (1-A-1-a), and preferred ranges thereof are also the same. .
以下に、一般式(1)で表される化合物の具体例を挙げるが、本発明で用いることができる一般式(1)で表される化合物はこれらに限定されるものではない。 Specific examples of the compound represented by the general formula (1) are shown below, but the compound represented by the general formula (1) that can be used in the present invention is not limited to these.
一般式(3)及び(4)において、R21、R22、R23、R24及びR25で表されるアルキル基としては、好ましくは炭素数1〜3であり、例えばメチル基、エチル基、プロピル基等が挙げられ、R26及びR27で表されるアルキル基としては、好ましくは炭素数1〜5であり、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基等が、アシル基としては好ましくは炭素数1〜18であり、例えばアセチル基、ベンゾイル基等が挙げられる。M22で表されるアルキル基としては、好ましくは炭素数1〜4であり、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等が、アリール基としては好ましくはフェニル基、ナフチル基等が、アラルキル基としては、好ましくは炭素数15以下であり、例えばベンジル基、フェネチル基等が挙げられる。 In the general formula (3) and (4), the alkyl group represented by R 21, R 22, R 23 , R 24 and R 25, preferably 1 to 3 carbon atoms, such as methyl group, ethyl group And an alkyl group represented by R 26 and R 27 preferably has 1 to 5 carbon atoms, such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, and a pentyl group. The acyl group preferably has 1 to 18 carbon atoms, and examples thereof include an acetyl group and a benzoyl group. The alkyl group represented by M 22 preferably has 1 to 4 carbon atoms, such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, or a butyl group, and the aryl group preferably includes a phenyl group or a naphthyl group. The aralkyl group preferably has 15 or less carbon atoms, and examples thereof include a benzyl group and a phenethyl group.
一般式(3)又は(4)で表される化合物は種々の合成法が知られているが、例えばアミノ酸合成法として知られているシュトレッカーアミノ酸合成法を用いてもよく、アミノ酸のアセチル化は水溶液中でアルカリと無水酢酸を交互に添加して行う。 Various synthetic methods are known for the compound represented by the general formula (3) or (4). For example, a Strecker amino acid synthesis method known as an amino acid synthesis method may be used. Is performed by alternately adding alkali and acetic anhydride in an aqueous solution.
次に、一般式(3)又は(4)で表される化合物の具体例を示すが、本発明はこれらのみに限定されるものではない。 Next, although the specific example of a compound represented by General formula (3) or (4) is shown, this invention is not limited only to these.
一般式(5)中のX40の表す低級アルキル基は、好ましくは炭素数1〜5の直鎖、または分岐のアルキル基であり、例えばメチル基、エチル基、イソプロピル基などが挙げられる。次に、一般式(5)で表される具体的化合物例を示すが、これらに限定されるものではない。 The lower alkyl group represented by X 40 in the general formula (5) is preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and examples thereof include a methyl group, an ethyl group, and an isopropyl group. Next, although the example of a specific compound represented by General formula (5) is shown, it is not limited to these.
本発明で使用される有機メルカプト化合物は、例えば水溶液とした後、該水溶液に導電性金属部を形成させた透明基材を浸漬すること等により導電性金属部に適用される。このときに使用される有機メルカプト化合物水溶液は、例えば前記の一般式(1)〜(5)で表される化合物を、1リットル中、10−6〜10−1molの濃度、好ましくは10−5〜10−2molの濃度として含有するのが好ましい。浸漬時間は、2秒〜30分、好ましくは5秒〜10分である。
水溶液のpHは、有機メルカプト化合物を溶解する観点から、2〜12に調整することが好ましく、pH調整は通常の水酸化ナトリウムや硫酸などのアルカリや酸のほか、緩衝剤として、リン酸やその塩、炭酸塩、酢酸やその塩、ホウ酸やその塩などを用いることができる。
The organic mercapto compound used in the present invention is applied to the conductive metal part by, for example, immersing a transparent base material in which the conductive metal part is formed in the aqueous solution after making the aqueous solution. The organic mercapto compound aqueous solution used at this time is, for example, a compound represented by the above general formulas (1) to (5) at a concentration of 10 −6 to 10 −1 mol in 1 liter, preferably 10 −. It is preferable to contain as a concentration of 5 to 10 −2 mol. The immersion time is 2 seconds to 30 minutes, preferably 5 seconds to 10 minutes.
The pH of the aqueous solution is preferably adjusted to 2 to 12 from the viewpoint of dissolving the organic mercapto compound, and the pH adjustment is not limited to ordinary alkalis and acids such as sodium hydroxide and sulfuric acid, but also as phosphoric acid and its buffer. A salt, carbonate, acetic acid or a salt thereof, boric acid or a salt thereof can be used.
[導電性金属部]
次に、本発明における導電性金属部について説明する。
本発明では、導電性金属部は、前述した露光及び現像処理により形成された金属銀部を物理現像又はメッキ処理することにより前記金属銀部に導電性金属粒子を担持させることにより形成される。
金属銀は、露光部に形成させる場合と、未露光部に形成させる場合がある。物理現像核を利用した銀塩拡散転写法(DTR法)は、未露光部に金属銀を形成させるものである。本発明においては、透明性を高めるために露光部に金属銀を形成させることが好ましい。
前記金属部に担持させる導電性金属粒子としては、上述した銀のほか、銅、アルミニウム、ニッケル、鉄、金、コバルト、スズ、ステンレス、タングステン、クロム、チタン、パラジウム、白金、マンガン、亜鉛、ロジウムなどの金属、又はこれらを組み合わせた合金の粒子を挙げることができる。導電性、価格等の観点から導電性金属粒子は、銅、アルミニウム又はニッケルの粒子であることが好ましい。また、磁場シールド性を付与する場合、導電性金属粒子として常磁性金属粒子を用いることが好ましい。
[Conductive metal part]
Next, the conductive metal part in the present invention will be described.
In the present invention, the conductive metal portion is formed by supporting the conductive metal particles on the metal silver portion by subjecting the metal silver portion formed by the above-described exposure and development processing to physical development or plating treatment.
Metal silver may be formed in an exposed part or in an unexposed part. The silver salt diffusion transfer method (DTR method) using physical development nuclei is to form metallic silver in unexposed areas. In the present invention, it is preferable to form metallic silver in the exposed portion in order to increase transparency.
As the conductive metal particles supported on the metal part, in addition to the above-mentioned silver, copper, aluminum, nickel, iron, gold, cobalt, tin, stainless steel, tungsten, chromium, titanium, palladium, platinum, manganese, zinc, rhodium And particles of metals such as these, or alloys of these in combination. From the viewpoint of conductivity, cost, etc., the conductive metal particles are preferably copper, aluminum or nickel particles. Moreover, when providing magnetic field shielding properties, it is preferable to use paramagnetic metal particles as the conductive metal particles.
上記導電性金属部において、コントラストを高くし、かつ導電性金属部が経時的に酸化され退色されるのを防止する観点からは、導電性金属部に含まれる導電性金属粒子は銅粒子であることが好ましく、少なくともその表面が黒化処理されたものであることがさらに好ましい。黒化処理は、プリント配線板分野で行われている方法を用いて行うことができる。例えば、亜塩素酸ナトリウム(31g/l)、水酸化ナトリウム(15g/l)、リン酸三ナトリウム(12g/l)の水溶液中で、95℃で2分間処理することにより黒化処理を行うことができる。 In the conductive metal part, the conductive metal particles contained in the conductive metal part are copper particles from the viewpoint of increasing the contrast and preventing the conductive metal part from being oxidized and discolored over time. It is more preferable that at least the surface thereof is blackened. The blackening treatment can be performed using a method performed in the printed wiring board field. For example, blackening treatment is performed by treating at 95 ° C. for 2 minutes in an aqueous solution of sodium chlorite (31 g / l), sodium hydroxide (15 g / l), and trisodium phosphate (12 g / l). Can do.
上記導電性金属部は、該導電性金属部に含まれる金属の全質量に対して、銀を50質量%以上含有することが好ましく、60質量%以上含有することがさらに好ましい。銀を50質量%以上含有すれば、物理現像及び/又はメッキ処理に要する時間を短縮し、生産性を向上させ、かつ低コストとすることができる。
さらに、導電性金属部を形成する導電性金属粒子として銅及びパラジウムが用いられる場合、銀、銅及びパラジウムの合計の質量が導電性金属部に含まれる金属の全質量に対して80質量%以上であることが好ましく、90質量%以上であることがさらに好ましい。
The conductive metal part preferably contains 50% by mass or more, and more preferably 60% by mass or more of silver with respect to the total mass of the metal contained in the conductive metal part. When silver is contained in an amount of 50% by mass or more, the time required for physical development and / or plating can be shortened, productivity can be improved, and cost can be reduced.
Furthermore, when copper and palladium are used as the conductive metal particles forming the conductive metal part, the total mass of silver, copper and palladium is 80% by mass or more based on the total mass of the metal contained in the conductive metal part. It is preferable that it is 90 mass% or more.
本発明における導電性金属部は、導電性金属粒子を担持するため良好な導電性が得られる。このため、本発明の透光性電磁波シールド膜(導電性金属部)の表面抵抗値は、10Ω/sq以下であることが好ましく、2.5Ω/sq以下であることがより好ましく、1.5Ω/sq以下であることがさらに好ましく、0.1Ω/sq以下であることが最も好ましい。 Since the conductive metal portion in the present invention carries conductive metal particles, good conductivity can be obtained. For this reason, the surface resistance value of the translucent electromagnetic wave shielding film (conductive metal part) of the present invention is preferably 10Ω / sq or less, more preferably 2.5Ω / sq or less, and 1.5Ω. / Sq or less is more preferable, and 0.1 Ω / sq or less is most preferable.
本発明における導電性金属部は、透光性電磁波シールド膜としての用途である場合、正三角形、二等辺三角形、直角三角形などの三角形、正方形、長方形、菱形、平行四辺形、台形などの四角形、(正)六角形、(正)八角形などを組み合わせた幾何学図形であることが好ましく、これらの幾何学図形からなるメッシュ状であることがさらに好ましい。
本発明においては正方形からなる格子状のメッシュ形態であることが最も好ましい。
When the conductive metal part in the present invention is used as a light-transmitting electromagnetic wave shielding film, a triangle such as a regular triangle, an isosceles triangle, a right triangle, a square, a rectangle, a rhombus, a parallelogram, a quadrangle such as a trapezoid, It is preferably a geometric figure combining (positive) hexagons, (positive) octagons, etc., and more preferably a mesh shape composed of these geometric figures.
In the present invention, it is most preferable to have a grid-like mesh form composed of squares.
透光性電磁波シールド膜の用途において、上記導電性金属部の線幅は20μm以下であることが好ましく、線間隔は100μm以上であることが好ましい。また、導電性金属部は、アース接続などの目的においては、その線幅が20μmより広い部分を有していてもよい。また画像を目立たせなくする観点からは、導電性金属部の線幅は15μm未満であることがさらに好ましい。 In the use of the translucent electromagnetic wave shielding film, the line width of the conductive metal part is preferably 20 μm or less, and the line interval is preferably 100 μm or more. The conductive metal portion may have a portion whose line width is wider than 20 μm for the purpose of ground connection or the like. Further, from the viewpoint of making the image inconspicuous, the line width of the conductive metal portion is more preferably less than 15 μm.
導電性金属部の厚さは、ディスプレイの電磁波シールド材の用途としては、薄いほどディスプレイの視野角が広がるため好ましい。1μm以上20μm以下であることが好ましく、1μm以上13μm以下であることがより好ましく、2〜10μmであることがさらに好ましく、3〜7μmであることが最も好ましい。また、金属銀部はパターン状であることが好ましい。金属部は1層でもよく、2層以上の重層構成であってもよい。 The thickness of the conductive metal part is preferable as the use of the electromagnetic shielding material for the display because the viewing angle of the display increases as the thickness decreases. It is preferably 1 μm or more and 20 μm or less, more preferably 1 μm or more and 13 μm or less, further preferably 2 to 10 μm, and most preferably 3 to 7 μm. Moreover, it is preferable that a metal silver part is pattern shape. The metal part may be a single layer or a multilayer structure of two or more layers.
本発明における導電性金属部は、可視光透過率の点から開口率は85%以上であることが好ましく、90%以上であることがさらに好ましく、95%以上であることが最も好ましい。また、「開口率」とは、メッシュをなす細線のない部分が全体に占める割合であり、例えば、線幅10μm、ピッチ200μmの正方形の格子状メッシュの開口率は、90%である。尚、本発明における金属銀部の開口率について特に上限の限定はないが、表面抵抗値および線幅値との関係から、上記開口率としては、98%以下であることが好ましい。 The conductive metal portion in the present invention has an aperture ratio of preferably 85% or more, more preferably 90% or more, and most preferably 95% or more from the viewpoint of visible light transmittance. Further, the “aperture ratio” is a ratio of a portion having no fine line forming the mesh to the whole. For example, the aperture ratio of a square lattice mesh having a line width of 10 μm and a pitch of 200 μm is 90%. In addition, although there is no restriction | limiting of an upper limit in particular regarding the aperture ratio of the metal silver part in this invention, As said aperture ratio, it is preferable that it is 98% or less from the relationship between a surface resistance value and a line | wire width value.
[光透過性部]
本発明における「光透過性部」とは、透光性電磁波シールド膜のうち導電性金属部以外の透明性を有する部分を意味する。光透過性部における透過率は、前述のとおり、透明基材の光吸収及び反射の寄与を除いた380〜780nmの波長領域における透過率の最小値で示される透過率が90%以上、好ましくは95%以上、さらに好ましくは97%以上であり、さらにより好ましくは98%以上であり、最も好ましくは99%以上である。
[Light transmissive part]
The “light transmitting part” in the present invention means a part having transparency other than the conductive metal part in the light transmitting electromagnetic wave shielding film. As described above, the transmittance in the light transmissive part is 90% or more, preferably the transmittance indicated by the minimum value of the transmittance in the wavelength region of 380 to 780 nm excluding the contribution of light absorption and reflection of the transparent substrate. 95% or more, more preferably 97% or more, even more preferably 98% or more, and most preferably 99% or more.
本発明の光透過性部は、透過性を向上させる観点から実質的に物理現像核を有しないことが好ましい。本発明は、従来の銀錯塩拡散転写法とは異なり、未露光のハロゲン化銀を溶解し、可溶性銀錯化合物に変換させた後、拡散させる必要がないため、光透過性部には物理現像核を実質的に有しないことが好ましい。
ここに、「実質的に物理現像核を有しない」とは、光透過性部における物理現像核の存在率が0〜5%の範囲であることをいう。
The light transmissive part of the present invention preferably has substantially no physical development nucleus from the viewpoint of improving the transparency. Unlike the conventional silver complex diffusion transfer method, the present invention does not require diffusion after dissolving unexposed silver halide and converting it to a soluble silver complex compound. It is preferable that it has substantially no nucleus.
Here, “substantially no physical development nuclei” means that the abundance of physical development nuclei in the light-transmitting portion is in the range of 0 to 5%.
[機能性膜]
上記のような本発明の製造方法により得られた透光性電磁波シールド膜には、必要に応じて、所望の機能を有する機能性透明層を設けていてもよい。例えば、ディスプレイ用パネルの用途としては、赤外線を吸収する化合物や金属からなる赤外線遮蔽性を有する層;傷のつき難いハードコート層;屈折率や膜厚を調整した反射防止性を付与した反射防止層;ぎらつき防止機能などの妨眩性を有するノングレアー層またはアンチグレアー層;静電気を防止する層;指紋などの汚れを除去しやすい機能を有した防汚性層;紫外線をカットする層;ガスバリア性を有する層;例えばガラス破損時のガラス飛散防止機能を有する表示パネル破損防止層などを設けることができる。これらの機能層は、導電性金属部の上に設けてもよく、透明基材を介して導電性金属部の反対側に設けてもよい。
[Functional membrane]
The translucent electromagnetic wave shielding film obtained by the production method of the present invention as described above may be provided with a functional transparent layer having a desired function, if necessary. For example, display panel applications include infrared-shielding layers composed of infrared-absorbing compounds and metals; hard-coating layers that are not easily scratched; antireflection with antireflection properties adjusted for refractive index and film thickness Non-glare layer or anti-glare layer with antiglare properties such as glare prevention function; Antistatic layer; Antifouling layer with function of easily removing dirt such as fingerprints; Layer that cuts UV rays; Gas barrier A layer having a property; for example, a display panel breakage preventing layer having a function of preventing glass scattering when the glass is broken can be provided. These functional layers may be provided on the conductive metal part, or may be provided on the opposite side of the conductive metal part via a transparent substrate.
上記機能性透明層のいくつかについてさらに説明する。 Some of the functional transparent layers will be further described.
赤外線遮蔽性を有する層、例えば近赤外線吸収層は、金属錯体化合物等の近赤外線吸収色素を含有する層、または、銀スパッタ層等である。ここで銀スパッタ層は、誘電体層と金属層を基材上に交互にスパッタリング等で積層させることで、近赤外線、遠赤外線から電磁波まで1000nm以上の光をカットすることもできる。誘電体層は誘電体として酸化インジウム、酸化亜鉛等の透明な金属酸化物等を含む。上記金属層に含まれる金属としては銀或いは銀−パラジウム合金が一般的である。上記銀スパッタ層は、通常、誘電体層よりはじまり3層、5層、7層或いは11層程度積層した構成を有する。
PDPにおいては、青色を発光する蛍光体は青色以外に僅かであるが赤色を発光する特性を有している為、青色に表示されるべき部分が紫がかった色で表示されるという問題がある。上記特定の波長域の可視光を吸収する色調調節機能をもった層は、この対策として発色光の補正を行う層であり、595nm付近の光を吸収する色素を含有する。
The layer having infrared shielding properties, for example, the near infrared absorbing layer is a layer containing a near infrared absorbing dye such as a metal complex compound, or a silver sputtered layer. Here, the silver sputter layer can cut light of 1000 nm or more from near infrared rays, far infrared rays to electromagnetic waves by alternately laminating dielectric layers and metal layers on the substrate by sputtering or the like. The dielectric layer includes a transparent metal oxide such as indium oxide or zinc oxide as a dielectric. The metal contained in the metal layer is generally silver or a silver-palladium alloy. The sputtered silver layer generally has a structure in which about 3, 5, 7 or 11 layers are laminated, starting from the dielectric layer.
In the PDP, the phosphor that emits blue light has a characteristic of emitting red light in addition to blue, but has a problem that a portion to be displayed in blue is displayed in a purplish color. . The layer having a color tone adjusting function that absorbs visible light in the specific wavelength range is a layer that corrects the colored light as a countermeasure, and contains a dye that absorbs light in the vicinity of 595 nm.
反射防止性を付与した反射防止層を形成する方法としては、外光の反射を抑えてコントラストの低下を抑えるために、金属酸化物、フッ化物、ケイ化物、ホウ化物、炭化物、窒化物、硫化物等の無機物を、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、またはイオンビームアシスト法等で単層或いは多層に積層させる方法やアクリル樹脂、フッ素樹脂等の屈折率の異なる樹脂を単層或いは多層に機能性層上に積層させる方法等がある。また、反射防止処理を施したフィルムを膜上に貼り付けることもできる。 As a method of forming an antireflection layer imparted with antireflection properties, metal oxides, fluorides, silicides, borides, carbides, nitrides, sulfides are used in order to suppress reflection of external light and suppress a decrease in contrast. A method of laminating an inorganic substance such as a single layer or multiple layers by a vacuum deposition method, a sputtering method, an ion plating method, or an ion beam assist method, or a single layer or a resin having a different refractive index such as an acrylic resin or a fluororesin There is a method of laminating on a functional layer in multiple layers. Moreover, the film which gave the antireflection process can also be affixed on a film | membrane.
ノングレアー層やアンチグレアー層を形成する方法としては、シリカ、メラミン、アクリル等の微粉体をインキ化して、表面にコーティングする方法等を用いることができる。この際、インキの硬化は熱硬化或いは光硬化等を用いることができる。また、ノングレア処理またはアンチグレア処理をしたフィルムを膜上に貼り付けることもできる。 As a method for forming the non-glare layer or the anti-glare layer, a method of forming a fine powder such as silica, melamine, or acrylic into an ink and coating the surface can be used. At this time, the ink can be cured by thermal curing or photocuring. In addition, a film that has been subjected to non-glare treatment or anti-glare treatment can be attached to the film.
本発明の透光性電磁波シールド膜は、良好な電磁波シールド性および透光性を有するため、とくにディスプレイパネル用フィルムとして有用である。本発明の透光性電磁波シールド膜からなるディスプレイパネル用フィルムは、例えば前記の機能性透明層を設けてプラズマディスプレイパネル用光学フィルターとして使用することもできる。これらの部材は、CRT、PDP、液晶、ELなどのディスプレイ前面、電子レンジ、電子機器、プリント配線板などに適用することができ、特にPDPに有用である。
本発明のPDPは、高電磁波シールド能、高コントラストおよび高明度であり、且つ低コストで作製することができる。
The translucent electromagnetic wave shielding film of the present invention is particularly useful as a display panel film because it has good electromagnetic wave shielding properties and translucency. The film for a display panel comprising the translucent electromagnetic wave shielding film of the present invention can be used as an optical filter for a plasma display panel, for example, by providing the functional transparent layer. These members can be applied to the front surface of displays such as CRT, PDP, liquid crystal, and EL, microwave ovens, electronic devices, printed wiring boards, and the like, and are particularly useful for PDP.
The PDP of the present invention has high electromagnetic shielding ability, high contrast and high brightness, and can be produced at low cost.
以下に本発明の実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する。なお、以下の実施例に示される材料、使用量、割合、処理内容、処理手順等は、本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更することができる。したがって、本発明の範囲は以下に示す具体例により限定的に解釈されるべきものではない。 Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples of the present invention. In addition, the material, usage-amount, ratio, processing content, processing procedure, etc. which are shown in the following Examples can be changed suitably unless it deviates from the meaning of this invention. Therefore, the scope of the present invention should not be construed as being limited by the specific examples shown below.
(実施例1)
水媒体中のAg60gに対してゼラチン7.5gを含む、球相当径平均0.05μmの沃臭化銀粒子(I=2モル%)を含有する乳剤を調製した。この際、Ag/ゼラチン体積比は1/1とし、ゼラチン種としては平均分子量2万の低分子量ゼラチンを用いた。
また、この乳剤中にはK3Rh2Br9及びK2IrCl6を濃度が10−7(モル/モル銀)になるように添加し、臭化銀粒子にRhイオンとIrイオンをドープした。この乳剤にNa2PdCl4を添加し、更に塩化金酸とチオ硫酸ナトリウムを用いて金硫黄増感を行った後、ゼラチン硬膜剤と共に、銀の塗布量が1g/m2となるようにポリエチレンテレフタレート(PET)上に塗布した。PETは塗布前にあらかじめ親水化処理したものを用いた。乾燥させた塗布膜にライン/スペース=5μm/195μmの現像銀像を与えうる格子状のフォトマスク(ライン/スペース=195μm/5μm(ピッチ200μm)の、スペースが格子状であるフォトマスク)を介して紫外線ランプを用いて露光し、下記の現像液を用いて25℃で45秒間現像し、さらに定着液(スーパーフジフィックス:富士写真フイルム社製)を用いて3分間定着処理を行った後、純水でリンスした。
Example 1
An emulsion containing silver iodobromide grains (I = 2 mol%) having an average equivalent sphere diameter of 0.05 μm and containing 7.5 g of gelatin per 60 g of Ag in an aqueous medium was prepared. At this time, the Ag / gelatin volume ratio was 1/1, and a low molecular weight gelatin having an average molecular weight of 20,000 was used as the gelatin species.
In this emulsion, K 3 Rh 2 Br 9 and K 2 IrCl 6 were added so as to have a concentration of 10 −7 (mol / mol silver), and silver bromide grains were doped with Rh ions and Ir ions. . After adding Na 2 PdCl 4 to this emulsion and further performing gold-sulfur sensitization using chloroauric acid and sodium thiosulfate, together with the gelatin hardener, the coating amount of silver was 1 g / m 2. It was coated on polyethylene terephthalate (PET). The PET used was hydrophilized before application. Via a lattice-shaped photomask (line / space = 195 μm / 5 μm (pitch 200 μm), space is a lattice-shaped photomask) capable of giving a developed silver image of line / space = 5 μm / 195 μm to the dried coating film After exposure using an ultraviolet lamp, development was performed at 25 ° C. for 45 seconds using the following developer, and further a fixing treatment (super Fujifix: manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) was performed for 3 minutes. Rinse with pure water.
[現像液の組成]
現像液1リットル中に、以下の化合物が含まれる。
ハイドロキノン 0.037mol/L
N−メチルアミノフェノール 0.016mol/L
メタホウ酸ナトリウム 0.140mol/L
水酸化ナトリウム 0.360mol/L
臭化ナトリウム 0.031mol/L
メタ重亜硫酸カリウム 0.187mol/L
[Developer composition]
The following compounds are contained in 1 liter of developer.
Hydroquinone 0.037mol / L
N-methylaminophenol 0.016 mol / L
Sodium metaborate 0.140 mol / L
Sodium hydroxide 0.360 mol / L
Sodium bromide 0.031 mol / L
Potassium metabisulfite 0.187 mol / L
さらに、メッキ液(硫酸銅0.06モル/L,ホルマリン0.22モル/L,トリエタノールアミン0.12モル/L,ポリエチレングリコール100ppm、黄血塩50ppm、α,α’−ビピリジン20ppmを含有する、pH=12.5の無電解Cuメッキ液)を用い、45℃にて無電解銅メッキ処理を行った。ただし、ppmはmg/Lと同義である。更に、表1記載の本発明の化合物0.1モル/L)を含有する水溶液にて、変色防止処理を行った。なお該処理は、上記の水溶液に3分間浸漬することにより行った。
変色防止処理後は、水洗、乾燥し、本発明のサンプルを得た。
Further, plating solution (copper sulfate 0.06 mol / L, formalin 0.22 mol / L, triethanolamine 0.12 mol / L, polyethylene glycol 100 ppm, yellow blood salt 50 ppm, α, α′-bipyridine 20 ppm is contained. The electroless copper plating process was performed at 45 ° C. using an electroless Cu plating solution having a pH of 12.5. However, ppm is synonymous with mg / L. Furthermore, the anti-discoloration treatment was carried out with an aqueous solution containing 0.1 mol / L of the compound of the present invention described in Table 1. In addition, this process was performed by immersing in said aqueous solution for 3 minutes.
After the discoloration preventing treatment, the sample of the present invention was obtained by washing with water and drying.
(比較例1)
変色防止処理を行わない以外は、実施例1と同様にして、サンプルを作成した。
(Comparative Example 1)
A sample was prepared in the same manner as in Example 1 except that no discoloration prevention treatment was performed.
<評価法>
(表面抵抗)
三菱化学製抵抗率計ロレスタにて、表面抵抗率を測定した。
下記表1に記載のサンプルは、0.3Ω/□であった。
(耐湿熱性/導電性金属部の変色)
80℃、90%RHの条件下にて2日間の耐湿熱性試験を行い、試験後の導電性金属部の変色を目視評価した。変色は、金属銅の色が、緑色ないし褐色に変色する現象を観察することにより、耐湿熱性を判定した。
変色が認められたものを×とし、認められなかったものを○とした。
(耐熱性/光透過性部の着色)
100℃にて1週間の耐熱性試験を行い、試験後410nmの透過率の減少が3%以上のものを×とした。
<Evaluation method>
(Surface resistance)
The surface resistivity was measured with a Mitsubishi Chemical resistivity meter Loresta.
The sample described in Table 1 below was 0.3Ω / □.
(Moisture and heat resistance / discoloration of conductive metal parts)
A two-day wet heat resistance test was performed under the conditions of 80 ° C. and 90% RH, and the discoloration of the conductive metal part after the test was visually evaluated. The discoloration was determined by observing the phenomenon that the color of metallic copper changes from green to brown, thereby determining the resistance to moist heat.
Those in which discoloration was observed were rated as x, and those in which discoloration was not recognized were marked as ◯.
(Coloring of heat-resistant / light-transmitting parts)
A heat resistance test was conducted at 100 ° C. for one week, and a test piece with a decrease in transmittance of 410 nm after the test of 3% or more was evaluated as x.
表1から判るように、実施例1に示した本発明のサンプルは、金属線部の変色が起こり難いことが分った。更に、意外なことに、導電性金属部を形成しておらず錆びることの考えられない光透過性部に対し、本発明における処理が、着色を防止するという予想外の効果を有することが判明した。 As can be seen from Table 1, it was found that the sample of the present invention shown in Example 1 hardly causes discoloration of the metal wire portion. Furthermore, surprisingly, it has been found that the treatment in the present invention has an unexpected effect of preventing coloration on a light-transmitting part that is not considered to rust because it does not form a conductive metal part. did.
Claims (8)
一般式(2)
Z−SM
〔一般式(2)において、Zはアルキル基、芳香族基若しくはヘテロ環基であって、ヒドロキシル基、−SO3M2基、−COOM2基(ここでM2は水素原子、アルカリ金属原子またはアンモニウム基を表す)、アミノ基およびアンモニオ基からなる群から選ばれる少なくとも1つまたは、この群より選ばれる少なくとも1つを有する置換基によって置換されているものを表す。Mは水素原子、アルカリ金属原子、またはアミジノ基(これはハロゲン化水素酸塩もしくはスルホン酸塩を形成していてもよい)を表す。〕 The said organic mercapto compound is represented by following General formula (2), The manufacturing method of the translucent electromagnetic wave shielding film of Claim 1 characterized by the above-mentioned.
General formula (2)
Z-SM
[In General Formula (2), Z is an alkyl group, an aromatic group, or a heterocyclic group, and is a hydroxyl group, —SO 3 M 2 group, or —COOM 2 group (where M 2 is a hydrogen atom or an alkali metal atom) Or an ammonium group), a group substituted with a substituent having at least one selected from the group consisting of an amino group and an ammonio group, or at least one selected from this group. M represents a hydrogen atom, an alkali metal atom, or an amidino group (which may form a hydrohalide salt or a sulfonate salt). ]
一般式(1)
[一般式(1)において、−D=および−E=は各々独立に−CH=基、−C(R0)=基、または−N=基を表し、R0は置換基を表す。L1、L2およびL3は各々独立に水素原子、ハロゲン原子、または炭素原子、窒素原子、酸素原子、硫黄原子もしくはリン原子のいずれかで環に結合する任意の置換基を表す。但しL1、L2、L3およびR0の少なくとも1つは、−SM基(Mはアルカリ金属原子、水素原子またはアンモニウム基を表す)を表す。]
一般式(3)、一般式(4)
〔一般式(3)、(4)中、R21及びR22はそれぞれ水素原子又はアルキル基を表す。但し、R21とR22は同時に水素原子であることはなく、また上記アルキル基は置換基を有していてもよい。R23及びR24はそれぞれ水素原子又はアルキル基を表し、R25はヒドロキシル基(またはその塩)、アミノ基、アルキル基又はフェニル基を表す。R26及びR27はそれぞれ水素原子、アルキル基、アシル基又は−COOM22を表す。但しR26とR27は同時に水素原子であることはない。M21は水素原子、アルカリ金属原子又はアンモニウム基を表す。M22は水素原子、アルキル基、アルカリ金属原子、アリール基又はアラルキル基を表す。mは0、1又は2を表す。nは2を表す。〕
一般式(5)
〔一般式(5)中、X40は水素原子、ヒドロキシル基、低級アルキル基、低級アルコキシ基、ハロゲン原子、カルボキシル基又はスルホ基を表し、M41及びMaはそれぞれ水素原子、アルカリ金属原子又はアンモニウム基を表す。〕 The translucent electromagnetic wave shield according to claim 1 or 2, wherein the organic mercapto compound is one or more organic mercapto compounds selected from the following general formulas (1) and (3) to (5). A method for producing a membrane.
General formula (1)
[In the general formula (1), -D = and -E = each independently -CH = group, -C (R 0) = represents a group or -N = group,, R 0 represents a substituent. L 1 , L 2 and L 3 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, or an arbitrary substituent bonded to the ring through any of a carbon atom, nitrogen atom, oxygen atom, sulfur atom or phosphorus atom. However, at least one of L 1 , L 2 , L 3 and R 0 represents a —SM group (M represents an alkali metal atom, a hydrogen atom or an ammonium group). ]
General formula (3), general formula (4)
[In General Formulas (3) and (4), R 21 and R 22 each represent a hydrogen atom or an alkyl group. However, R 21 and R 22 are not simultaneously a hydrogen atom, and the alkyl group may have a substituent. R 23 and R 24 each represent a hydrogen atom or an alkyl group, and R 25 represents a hydroxyl group (or a salt thereof), an amino group, an alkyl group, or a phenyl group. R 26 and R 27 each represent a hydrogen atom, an alkyl group, an acyl group, or —COOM 22 . However, R 26 and R 27 are not simultaneously hydrogen atoms. M 21 represents a hydrogen atom, an alkali metal atom or an ammonium group. M 22 represents a hydrogen atom, an alkyl group, an alkali metal atom, an aryl group or an aralkyl group. m represents 0, 1 or 2. n represents 2. ]
General formula (5)
[In the general formula (5), X 40 represents a hydrogen atom, a hydroxyl group, a lower alkyl group, a lower alkoxy group, a halogen atom, a carboxyl group or a sulfo group, and M 41 and Ma are a hydrogen atom, an alkali metal atom or ammonium, respectively. Represents a group. ]
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