JP2007068574A

JP2007068574A - 検眼装置

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Publication number: JP2007068574A
Application number: JP2005255577A
Authority: JP
Inventors: Yuichiro Kanazawa; 雄一郎金澤
Original assignee: Nidek Co Ltd
Current assignee: Nidek Co Ltd
Priority date: 2005-09-02
Filing date: 2005-09-02
Publication date: 2007-03-22
Anticipated expiration: 2025-09-02
Also published as: JP4794951B2

Abstract

【課題】簡単な構成でバックラッシュの影響を抑えることのできる検眼装置を提供する。
【解決手段】検眼窓に種々の光学素子を切換え配置して被検眼の屈折力を自覚的に検査する検眼装置において、回転駆動により光学素子を検眼窓に配置させる，または／および検眼窓に配置された光学素子を検査光軸中心に回転駆動させるパルスモータと、パルスモータの回転を光学素子に伝達する回転伝達手段であってバックラッシュが存在する回転伝達手段と、バックラッシュに対応するパルスモータのパルス数を記憶する記憶手段と、光学素子の回転位置制御をパルスモータのパルス数に基づいて制御する制御手段と、を有し、回転伝達手段の駆動方向の逆転時において，制御手段は駆動開始から記憶手段に記憶されているパルス数分だけを光学素子の回転位置制御に用いるためのパルス数に含めないようにする。
【選択図】図３

Description

本発明は、被検眼の視機能検査に好適な検眼装置に関する。

被検眼に屈折異常がありこれを矯正する場合には、種々の光学特性の光学素子を回転動作により検査窓に切り替え配置し、被検眼の屈折力を自覚的に検査する検眼装置がある。この種の検眼装置においては、所定の光学素子の度数を滑らかに変化させることができるように、モータ、ギヤの減速比を高くし、より精密な呈示位置合せと駆動を可能とした検眼装置が知られている（特許文献１参照）。
特開２００４−２２９７８９号公報

前述した検眼装置のようにモータ、ギヤの減速比を高くした場合、所定方向へのみ回転（正回転）を行う場合には、より精密な呈示位置合せが可能となるが、反対の回転（逆回転）を行う場合には、それに伴ってバックラッシュの影響を受けやすくなる。
上記従来技術の問題点に鑑み、簡単な構成でバックラッシュの影響を抑えることのできる検眼装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
（１）検眼窓に種々の光学素子を切換え配置して被検眼の屈折力を自覚的に検査する検眼装置において、回転駆動により前記光学素子を検眼窓に配置させる，または／および前記検眼窓に配置された前記光学素子を検査光軸中心に回転駆動させるパルスモータと、該パルスモータの回転を前記光学素子に伝達する回転伝達手段であってバックラッシュが存在する回転伝達手段と、前記バックラッシュに対応する前記パルスモータのパルス数を記憶する記憶手段と、前記光学素子の回転位置制御をパルスモータのパルス数に基づいて制御する制御手段と、を有し、前記回転伝達手段の駆動方向の逆転時において，前記制御手段は駆動開始から前記記憶手段に記憶されているパルス数分だけを前記光学素子の回転位置制御に用いるためのパルス数に含めないことを特徴とする。
（２）（１）の検眼装置は、前記記憶手段に記憶する前記パルス数を変更するための変更手段を有することを特徴とする。
（３）（１）の検眼装置において、前記回転伝達手段は前記光学素子を複数個配置する回転ディスクを複数枚有し、前記記憶手段に記憶される前記パルス数は前記各回転ディスクに対して個々に設定されることを特徴とする。
（４）（１）の検眼装置において、前記光学素子はロータリープリズムであり、前記制御手段は前記パルスモータを５パルス／秒以上の速度、かつ０．１〜１．０プリズム／秒の速度で前記ロータリープリズムのプリズム度数を変化させるように駆動させることを特徴とする。

本発明によれば、簡単な構成でバックラッシュの影響を抑えることができ、正逆回転の何れにおいても精密な位置合せと駆動を行うことができる。

以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。図１は実施例である検眼装置の全体構成を示す外観図である。
１は被検者と検者の間に配置される検眼テ−ブル、２は自覚式屈折力測定装置である。自覚式屈折力測定装置２は、種々の光学素子を検眼窓１１に電動で切換え配置する左右一対のレンズユニット１０と、左右のレンズユニット１０を吊り下げる吊り下げ部１２を備える。レンズユニット１０は、右眼測定用のレンズユニット１０ａと左眼測定用のレンズユニット１０ｂから成る。
４は検査視標を呈示する投影式の視標呈示装置である。５は自覚式屈折力測定装置２及び投影式視標呈示装置４を操作するためのコントロ−ラ、６は各装置の通信中継を行うリレ−ユニットである。

図２はコントロ−ラ５を上から見た図である。３０は検眼情報を表示する液晶のディスプレイである。３１はスイッチ部であり、次のようなスイッチ類を持つ。３２は設定切換えスイッチ群であり、ディスプレイ３０の表示画面をメニュ−画面に切り替えて各種のパラメ−タの設定等を行うときに使用するスイッチを持つ。３３は視標呈示装置４に呈示させる視標を切換える視標スイッチ群、３４は呈示視標に必要なマスクをかけるマスクスイッチ群、３５はプログラム検眼を実行するスタ−トスイッチ、３７は変更する測定デ−タ等のモ−ドを指定する変更モ−ド指定スイッチ群、３８はデ−タを入力する際のモ−ド又は測定するモ−ドを指定する入力デ−タ指定スイッチ群、３９は他覚式眼屈折力測定装置やレンズメ−タ等からのデ−タを入力するときに使用するデ−タ入力スイッチ、４１は測定眼指定スイッチである。

４３ａ、４３ｂはクロスシリンダテストやロータリプリズムを使用した解散テスト及び輻輳テストのときに使用するスイッチであり、解散テスト及び輻輳テストのときには、スイッチ４３ａによりプリズム度数が増加する方向にロータリプリズムが回転され、スイッチ４３ｂによりプリズム度数を減少する方向にロータリプリズムが回転される。また、スイッチ４３ａ、４３ｂはプリズム度数の変化を停止するためのスイッチ信号を入力する手段としても兼用されている。４２は測定値や軸角度の変更や数値入力のときに使用するダイヤルスイッチであり、解散テスト及び輻輳テストのときには、プリズム度数の指定にも兼用される。４５はファンクションスイッチ群であり、ディスプレイ３０の画面下方の所定位置に表示される種々のスイッチ表示に対応したものを選択するときに使用する。

図３は、左眼測定用のレンズユニット１０ｂを上側から見た部分断面図である。Ｌは検査光軸であり、Ｅは被検眼を示す。左眼測定用のレンズユニット１０ｂのカバー１００内には、それぞれ開口及び複数の光学素子を備える６枚の回転ディスク１２１〜１２６が軸１３０を回転中心にして配置されている。各ディスクの配置は、被検眼Ｅ側から近い順に強球面レンズディスク１２１、弱球面レンズディスク１２２、第１補助レンズディスク１２３、強円柱レンズディスク１２４、弱円柱レンズディスク１２５、第２補助レンズディスク１２６となっている。各ディスクの外周にはギヤが形成されており、それぞれパルスモータ１１１〜１１６により回転され、光軸Ｌに配置する光学素子の切換えが行われる。なお、各ディスクとパルスモータと間には、減速比を高めるための図示無きリレー歯車が介在しており、これらにより回転伝達機構が形成されている。

強球面レンズディスク１２１は、強度数（−３〜−１８Ｄ、＋３〜＋１５Ｄ）の球面レンズ１３１を保持するものであり、弱球面レンズディスク１２２は、弱度数（−０．２５〜−１Ｄ、＋０．２５〜＋１．７５Ｄ）の球面レンズ１３２を保持するものである。第１補助レンズディスク１２３は、補助レンズ１３３を保持するものであり、開口以外の穴には、遮蔽板（ＢＬ）、偏光板（Ｐ１３５，Ｐ４５）、マドックスレンズ（ＭＲ）、ピンホール（ＰＨ）、緑フィルタ／赤フィルタ（Ｒ／Ｇ）、分散プリズム（６／１０△）、眼幅調整用のマークが付された素通しのレンズ（ＰＤ）、＋１０Ｄの球面レンズ、−１０Ｄの球面レンズ、等が設けられている。
強円柱レンズディスク１２４は、強度数（−１．５〜−７．５Ｄ）の円柱レンズ１３４を保持するものであり、弱円柱レンズディスク１２５は、弱度数（−０．２５〜−１．２５Ｄ）の円柱レンズ１３５を保持するものである。また、この円柱レンズ１３４及び１３５は、光軸Ｌを中心にそれぞれ回転可能に設けられている。

第２補助レンズディスク１２６には、ロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂ、クロスシリンダレンズ１３６ｃ等の補助レンズが配置されている。ロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂ、クロスシリンダレンズ１３６ｃは、検査光軸Ｌを中心にそれぞれ回転可能に設けられている。ロータリープリズム１３６ａ、１３６ｂは、同一度数の一対のプリズムが歯車等を介して連結されており、一対のプリズムを反対方向に同一角度回転することによって、プリズム度数が変化する。

図４は、円柱レンズ１３４、１３５、及びロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂの回転機構を説明する図である。
円柱レンズ１３４は歯車を持つホルダ１４０により、光軸１０を中心に回転可能に強円柱ディスク１２４に取り付けられている。同様に、円柱レンズ１３５は歯車が形成されたホルダ１４１により、光軸Ｌを中心に回転可能に弱円柱ディスク１２５に取り付けられている。ホルダ１４０及び１４１の歯車は、軸１３０を中心に回転する太陽歯車２００に噛み合っており、太陽歯車２００に連結した歯車２０１、リレー歯車２０２を介してパルスモータ２０３の回転が円柱レンズ１３４及び１３５に同時に伝達される。なお、パルスモータ２０３には減速比が１／５０のギヤヘッド２０４が取り付けられ、ギヤヘッド２０４の出力軸に固定されたギヤ２０５とリレー歯車とが噛みあっている。
このような構成により、パルスモータ２０３の回転を減速して、円柱レンズ１３４、１３５に伝達する回転伝達機構が構成されている。この回転伝達機構による減速により、パルスモータ２０３は、７パルス分の駆動に対して、円柱レンズの軸角度を１°変化するように構成されている。

また、ロータリプリズム１３６ａは、歯車を持つホルダ１４６により、光軸Ｌを中心に回転可能に第２補助レンズディスク１２６に取り付けられている。ホルダ１４６の歯車は、軸１３０を中心に回転する太陽歯車１７６に噛み合っており、太陽歯車１７６に連結した歯車１７６ａ、リレー歯車１７８を介してパルスモータ１８１の回転がロータリプリズム１３６ａに伝達される。パルスモータ１８１には減速比が１／５０のギヤヘッド１８２が取付けられ、ギヤヘッド１８２の出力軸に固定されたギヤ１８３とリレー歯車１７８が噛みあっている。

また、ロータリプリズム１３６ｂは、ロータリプリズム１３６ａの反対側に光軸Ｌを中心に回転可能なホルダ１４７に取り付けられている。そのホルダ１４７の歯車を太陽歯車１７７に噛み合わせる。太陽歯車１７７には歯車１７７ａが連結しており、この歯車１７７ａにリレー歯車１７９を介してパルスモータ１８４の回転を伝達する。パルスモータ１８４には減速比が１／５０のギヤヘッド１８５が取付けられ、ギヤヘッド１８５の出力軸に固定されたギヤ１８６とリレー歯車１７９が噛みあっている。

このような構成により、パルスモータ１８１，１８４の回転を減速して、ロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂに伝達する回転伝達機構が構成されている。この回転伝達機構による減速は、ステップ角が大きい（7.5°/STEP）パルスモータ１８１，１８４を使用した場合にも、各パルスモータの１ステップ当たり（１パルス当たり）回転によるプリズム変化量が０．０５プリズム以下のステップ、さらに好ましくは０．０１プリズム以下のステップで変化するように構成されている。

また、各ディスク１２１〜１２６及びリレー歯車１７８，１７９，２０２の近傍には図示無きフォトセンサ（または磁気センサ）が各々設けられており、各ディスクの基準位置、及び円柱レンズ１３４，１３５やロータリープリズム１３６ａ，１３６ｂの基準位置が求められるようになっている。本実施形態では各ディスクの開口部中心が光軸Ｌ上に位置する回転角度、また円柱レンズでは軸角度が０°、ロータリープリズムではプリズム度数が０となる回転角度を基準位置としている。
なお、右眼測定用のレンズユニット１０ａは、左眼測定用のレンズユニット１０ｂと同様の構成であるので、その説明は割愛する。

図５は装置の制御を説明するためのブロック図である。コントローラ５のスイッチ部３１からのスイッチ信号は、所定の処理が施された後にマイクロコンピュ−タ回路５０に入力される。マイクロコンピュ−タ回路５０には、検眼プログラム等の制御プログラムを記憶したメモリ５１と他覚値デ−タ等を記憶するメモリ５２が接続されており、マイクロコンピュ−タ回路５０は、スイッチ信号をメモリ５１に記憶された制御プログラムに基づき各種デ−タに変換し、表示回路５３を介してディスプレイ３０の画面を制御する。また、変換信号をリレ−ユニット６のマイクロコンピュ−タ回路５５に入力したり、屈折力やレンズユニット１０の移動に関するデ−タを自覚式屈折力検査装置２に送る。マイクロコンピュ−タ回路５５は、視標に関するデ−タを視標呈示装置４に送る。

屈折力に関するデ−タを受けた自覚式屈折力検査装置２のマイクロコンピュ−タ回路６０は、右眼測定用のレンズユニット１０ａと左眼測定用のレンズユニット１０ｂをそれぞれ制御する。左眼測定用のレンズユニット１０ｂでは、マイクロコンピュ−タ回路６０は、駆動回路１０１を介してパルスモ−タ１１１を駆動し、強球面ディスク１２１を回転させ、所定の光学素子を検査窓に配置する。また、同様にマイクロコンピュ−タ回路６０は、駆動回路１０２〜１０６を介してパルスモ−タ１１２〜１１６を駆動し、ディスク１２２〜１２６を回転させ、所定の光学素子を検査窓に配置する。

６１はメモリであり、マイクロコンピュータ回路６０に接続されている。メモリ６１は、前述した回転伝達機構において、逆回転を行った際に生じるバックラッシュに対応するために必要なパルスモータのパルス数が予め記憶されている。メモリ６１に記憶されているパルス数は、回転伝達機構がバックラッシュを有した状態で、パルスモータが実際に各ディスク１２１〜１２６、円柱レンズ、ロータリープリズム等を回転始動させるのに必要なパルス数（言い換えると、バックラッシュによる遊び量を相殺するだけのパルス数）となる。メモリ６１に記憶させるパルス数は、例えば検眼装置の出荷前に、逆回転時におけるバックラッシュを補正するための検査を行うことによって求めることができる。
また、メモリ６１に記憶されるパルス数は、各ディスク及び光軸Ｌ上にて回転させることが必要な光学素子の各々に対して個別に用意される。なお、パルス数をメモリ６１に記憶させるには、コントローラ５を用いる。また、メモリ６１には、各ディスクの基準位置に対する、各ディスク上に配置される光学素子の位置情報もまた記憶されている。
なお、マイクロコンピュータ回路６０は、メモリ６１に記憶された各光学素子の位置情報と、現在のディスクの回転位置情報に基づいて、駆動回路１０２〜１０６を介してパルスモータ１１２〜１１６を所定パルス数だけ駆動させて各光学素子の回転位置を制御する。

また、マイクロコンピュ−タ回路６０は、光学素子を回転させる信号、例えば、プリズム度数を変化させる信号が入力されたときは、駆動回路１０７、１０８を介してパルスモ−タ１８１、１８４を駆動してロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂを互いに反対方向に回転させる。マイクロコンピュ−タ回路６０は、右眼測定用のレンズユニット１０ａも同様に制御する。

一方、視標に関するデ−タを受けた視標呈示装置４は、所定の検査視標を被検眼の前方に置かれた図示なきスクリ−ンに投影する。また、マイクロコンピュ−タ回路５５には、他覚式眼屈折力測定装置３やレンズメ−タ９が接続され、送られてくる測定デ−タをメモリ５６に格納する。コントロ−ラ５側のマイクロコンピュ−タ回路５０から読み出し指令信号が入力されると、マイクロコンピュ−タ回路５５は指定された測定デ−タをメモリ５６から読み出し、コントロ−ラ５側に転送する。

以上のような構成の装置において、その動作を説明する。
本装置には、検査項目及び検査手順が予め設定された検眼プログラムがメモリ５１に記憶されているので、スタ−トスイッチ３５を押して検眼プログラムを実行する。ここでは、自覚検査の検眼プログラムを使用した自覚検査において、両眼共に完全矯正度数が処方された以後の輻輳／開散検査の動作を例に挙げ、以下に説明する。

＜開散検査＞
ファンクションキー４５に設けられた「カイサン」ボタン４５ａを押すと、自覚式屈折力検査装置２の両検査窓には、両眼側に、プリズム基底方向がB.I.／B.O.方向になるようにロータリープリズム１３６ａ、１３６ｂが配置され、視標には被検者が正読できる最も小さい文字、あるいはそれよりもやや大きめの文字が縦一列に呈示される。

開散検査では、スイッチ４３ａを押すことにより、B.I.プリズム度数を増加する方向にロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂを回転する回転開始の指令信号が入力され、マイクロコンピュ−タ回路６０の制御により、パルスモータ１８１，１８４の駆動が開始される。なお、自覚式屈折力測定装置２の回転伝達機構は、電源投入時における初期動作により予め所定の基準位置に置かれており、マイクロコンピュータ回路６０は、次に駆動させる回転方向がバックラッシュを伴うか否かを判断することができる状態となっている。また、マイクロコンピュータ回路６０は、随時送られてくる指令信号に基づいて、配置する光学素子が早く検査窓に配置される方向に回転伝達機構を正回転または逆回転させる駆動制御を行う。したがって、マイクロコンピュータ回路６０は、次に動かす方向がバックラッシュを伴う回転方向か否かを常に判断できる状態となっている。

図６は回転伝達機構の一部（歯車１７６ａ、リレー歯車１７８）の嵌合状態を概略的に示した図である。ここで、B.I.プリズム度数を増加するようにリレー歯車１７８が回転する方向が、図６に示すＡ方向（バックラッシュがない状態）である場合、マイクロコンピュータ回路６０は、通常の回転駆動制御を行う。また、スイッチ４３ａを押すことにより、ロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂの回転を停止する指令信号が入力され、パルスモータ１８１，１８４の駆動が停止される。

次に、スイッチ４３ｂを押した場合は、B.I.プリズム度数を減らす方向にロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂを回転する回転開始の指令信号が入力される。この場合、図６に示すＢ方向（バックラッシュがある状態）にリレー歯車１７８が逆回転することとなる。このようにバックラッシュを有している場合、マイクロコンピュータ回路６０は、パルスモータ１８１の駆動により得られるパルス数を順次カウントするとともに、メモリ６１に記憶されているバックラッシュ補正用のパルス数に基づいて、逆回転の開始から記憶されているパルス数分だけを光学素子の回転位置制御に用いるためのパルス数に含めない（位置決め用のカウントとして用いない）ようにする。バックラッシュ補正用のパルス数の経過後は、通常の駆動制御を行う。再びスイッチ４３ｂを押すことにより、ロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂの回転を停止する指令信号が入力される。

また、マイクロコンピュ−タ回路６０は、ロータリープリズム１３６ａ、１３６ｂを回転するとき、パルスモータ１８１，１８４を５パルス／秒（ｐｐｓ）以上の速度で回転し、かつ、プリズム度数が０．１〜１．０プリズム／秒の速度でゆっくり変化するように、駆動パルス信号を出力する。パルスモータ１８１，１８４を５パルス／秒以上の速度で駆動すれば、プリズム度数が５回／秒以上の速さで変化するので、その変化が連続的にスムーズな動きとして見える。また、この時、各パルスモータの１ステップ当たり回転によるプリズム変化量は、０．０５プリズム以下のステップが好ましく、さらに好ましくは０．０１プリズム以下のステップであるとよい。プリズム度数が０．１〜１．０プリズム／秒の速度で変化させるのは、この検査において、被検者の反応を確認しやすい速度だからである。例えば、パルスモータ１８１，１８４の回転によるプリズムステップが０．０１プリズム／パルスとなるように回転伝達機構を構成した場合には、１０〜１００パルス／秒の速度でパルスモータ１８１，１８４を駆動する。なお、この速度は、予めファンクションスイッチ１１７により設定しておく。スイッチ１１７を押すことにより、０．１〜１．０プリズム／秒の範囲で０．１プリズム／秒のステップ毎に切換できる。
このように本実施形態では、モータ、ギヤの減速比を高めることにより、細かな駆動制御を行い、細密な位置決めとスムーズな光学的なパワーの変化を実現させるとともに、上述した駆動制御を行うことにより、減速比を高めることによって大きくなるバックラッシュの影響を抑制することができる。

検者は、スイッチ４３ａを一度押し、ロータリープリズム１３６ａ、１３６ｂを回転させてB.I.プリズムを連続的にゆっくりと加え、被検者に視標がボヤケたかどうかを確認する。ボヤケが確認できたところで、スイッチ４３ａを押してロータリープリズム１３６ａ、１３６ｂの回転を停止させた後、ファンクションキー４５の「ボヤケ」４５ｃを押し、ボヤケ点のプリズム量（プリズム度数）の値を記憶させる。
次に、スイッチ４３ａを一度押して、さらにB.I.プリズムを連続的にゆっくりと加え、被検者に視標が２つに見えたかどうかを確認する。視標が２つに見えたところで、スイッチ４３ａを押した後、ファンクションキー４５の「ブンリ（分離）」４５ｄを押し、分離点のプリズム量の値を記憶させる。
今度は、スイッチ４３ｂを一度押してB.I.プリズムを連続的にゆっくりと減らし、被検者に視標が１つに見えた（戻った）かどうかを確認する。視標が１つに見えたところで、スイッチ４３ｂを押した後、ファンクションキー４５の「カイフク（回復）」４５ｅを押し、回復点のプリズム量の値を記憶させる。

＜輻輳検査＞
ファンクションキー４５の「フクソウ」１１２を押すと、自覚式屈折力検査装置２の両検査窓には、両眼側に、プリズム基底方向がB.I.／B.O.方向になるようにロータリープリズム１３６ａ、１３６ｂが配置される。視標には被検者が正読できる最も小さい文字、あるいはそれよりもやや大きめの文字が縦一列に呈示される。

輻輳検査では、スイッチ４３ｂを押すことにより、B.O.プリズム度数を増加する方向にロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂを回転する回転開始の指令信号が入力される。また、スイッチ４３ａを押すことにより、B.O.プリズム度数を減少する方向にロータリプリズム１３６ａ、１３６ｂを回転する回転開始の指令信号が入力される。そして、それぞれ再びスイッチ４３ｂ、４３ａを押すことにより、回転停止の指令信号が入力される。
開散検査と同じように各種スイッチを用いてボヤケ点，ブンリ点，カイフク点のプリズム量の値を記憶させる。
このような一連の検査の流れにおいても、マイクロコンピュータ回路６０は、バックラッシュが存在する回転方向に回転伝達機構を動作させる場合には、上述した駆動制御を行いバックラッシュの影響を抑制する。

なお、以上の実施形態では、輻輳／開散検査の動作を例に挙げ、ロータリープリズムの回転について説明したが、これに限るものではなく、各ディスクを回転させて所定の光学素子を検眼窓に配置させる際や、検眼窓に配置された光学素子を検査光軸中心に回転駆動させる際に生じるバックラッシュにも同様の駆動制御が行われることは言うまでもない。

なお、メモリ６１に記憶されるバックラッシュ補正用のパルス数は、コントローラ５にて変更することが可能である。変更するには、コントローラ５の設定切換えスイッチ群３２を用いて、バックラッシュ補正設定画面をディスプレイ３０に呼び出しておく。図７は設定画面３００の一例を示した図である。図中、Ｒ／Ｌはレンズユニットの左右を示し、Ｓ２，Ｓ１は強球面レンズディスク用，弱球面レンズディスク用の設定項目を表す。Ｃ２，Ｃ１は強円柱レンズディスク用，弱円柱レンズディスク用の設定項目を表す。Ａ１，Ａ２は第１補助レンズディスク用，第２補助レンズディスク用の設定項目を表す。ＣＡは円柱レンズの軸角度用、Ｐ１，Ｐ２はロータリープリズム用の設定項目を表す。３０１は各項（Ｓ２，Ｓ１等）目に対するパルス数変更欄であり、各項目におけるパルスモータから回転伝達機構の最終のギヤまでに生じるバックラッシュを補正（相殺）するためのパルス数が入力される。ディスプレイ３０はタッチパネルとなっており、変更したいパルス数変更欄３０１をタッチすることにより選択し、コントローラ５のダイヤルスイッチ４２を用いて変更を行う。設定は設定ボタン３０２をタッチすることにより、確定する。確定した内容は、メモリ６１に記憶される。

本実施形態における検眼装置の外観を示した概略図である。コントローラの構成を示した図である。レンズユニットの構成を示した図である。ディスクに設けられた光学素子の回転機構を説明する図である。本実施形態における検眼装置の制御系を示したブロック図である。本実施形態における回転伝達機構の一部の嵌合状態を概略的に示した図である。バックラッシュを補正するための画面の構成を示した図である。

符号の説明

２自覚式屈折力測定装置
５コントローラ
１０レンズユニット
６０マイクロコンピュータ回路
６１メモリ
１２１強球面レンズディスク
１２２弱球面レンズディスク
１２３第１補助レンズディスク
１２４強円柱レンズディスク
１２５弱円柱レンズディスク
１２６第２補助レンズディスク
１８１パルスモータ
１８４パルスモータ

Claims

検眼窓に種々の光学素子を切換え配置して被検眼の屈折力を自覚的に検査する検眼装置において、回転駆動により前記光学素子を検眼窓に配置させる，または／および前記検眼窓に配置された前記光学素子を検査光軸中心に回転駆動させるパルスモータと、該パルスモータの回転を前記光学素子に伝達する回転伝達手段であってバックラッシュが存在する回転伝達手段と、前記バックラッシュに対応する前記パルスモータのパルス数を記憶する記憶手段と、前記光学素子の回転位置制御をパルスモータのパルス数に基づいて制御する制御手段と、を有し、前記回転伝達手段の駆動方向の逆転時において，前記制御手段は駆動開始から前記記憶手段に記憶されているパルス数分だけを前記光学素子の回転位置制御に用いるためのパルス数に含めないことを特徴とする検眼装置。
請求項１の検眼装置は、前記記憶手段に記憶する前記パルス数を変更するための変更手段を有することを特徴とする検眼装置。
請求項１の検眼装置において、前記回転伝達手段は前記光学素子を複数個配置する回転ディスクを複数枚有し、前記記憶手段に記憶される前記パルス数は前記各回転ディスクに対して個々に設定されることを特徴とする検眼装置。
請求項１の検眼装置において、前記光学素子はロータリープリズムであり、前記制御手段は前記パルスモータを５パルス／秒以上の速度、かつ０．１〜１．０プリズム／秒の速度で前記ロータリープリズムのプリズム度数を変化させるように駆動させることを特徴とする検眼装置。