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JP2006352034A - ヒューズ回路及び電子回路 - Google Patents

ヒューズ回路及び電子回路 Download PDF

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JP2006352034A
JP2006352034A JP2005179636A JP2005179636A JP2006352034A JP 2006352034 A JP2006352034 A JP 2006352034A JP 2005179636 A JP2005179636 A JP 2005179636A JP 2005179636 A JP2005179636 A JP 2005179636A JP 2006352034 A JP2006352034 A JP 2006352034A
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Hiroyuki Kimura
宏之 木村
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Abstract

【課題】 切断したヒューズの抵抗値にばらつきがある場合にも、より確実に、切断されたヒューズに応じた信号を出力するとともに、リーク電流を少なくし、更に消費電力を抑えることのできるヒューズ回路及び電子回路を提供する。
【解決手段】 ヒューズ回路40−nは、低電位の接地GNDラインと、MOSトランジスタ61〜6m及び定電流源71〜7mを介して高電位VCCラインとに接続されるヒューズ51〜5mを有した複数のヒューズラインと、各MOSトランジスタ61〜6mと定電流源71〜7mとの間に入力端子が接続されているインバータ81〜8mとを備える。高電位VCC側から順番に電流源70、トランジスタ60及び抵抗器Rが直列に接続された基準回路をヒューズラインと並列に設ける。トランジスタ60の入力端子を、その制御端子及びMOSトランジスタ61〜6mのそれぞれの制御端子に接続する。
【選択図】 図2

Description

本発明は、例えば半導体装置などにおいて電気的特性を調整するために用いるトリミング回路に用いられるヒューズ回路及びこのヒューズ回路を用いた電子回路に関する。
半導体集積回路において、トリミングや所望の動作を設定するために、ヒューズ回路を設ける場合がある。例えば、半導体装置などの電子回路の特性を調整するために、トランジスタのスイッチ動作により抵抗値を変化させるトリミング回路が用いられており、このトリミング回路には、そのスイッチ動作を行なわせるためのヒューズ回路が設けられている。このヒューズ回路は、複数のヒューズの未切断・切断により、このヒューズに対応するトリミング回路の各段のトランジスタのスイッチ動作を制御する。
また、変造不可能な任意の固有識別番号を、ヒューズの切断の有無により表示する技術が開示されている(例えば、特許文献1参照。)。この技術において用いられた回路は、例えば図5(a)に示すヒューズ回路である。図5(a)に示すヒューズ回路では、高電位VCCのラインと、低電位としての接地GNDのラインとの間にヒューズが設けられた複数のヒューズラインが並列に設けられている。各ヒューズラインのヒューズと高電位VCCとの間には、それぞれインバータの入力端子に接続されている。このインバータの出力端子はトランジスタのゲート端子に接続されている。
各ヒューズラインのヒューズが完全に切断された場合、その抵抗は無限大になる。しかし、この切断が不完全な場合、抵抗値が有限値になる。例えば、図5(a)のヒューズ回路のように、各ヒューズラインにプルアップ抵抗が設けられている場合、各ヒューズラインの電圧Vfuseは、ヒューズ抵抗値Rfuseとプルアップ抵抗値とで分圧された値となり、これらの抵抗値の比に応じて変化する。このため、ヒューズ抵抗値Rfuseが不完全に切断されている場合には、ヒューズ抵抗値Rfuseの比が有限となるため、ヒューズラインの電圧Vfuseは、高電位VCCと接地GNDとの中間的な電圧が発生する。
図5(b)は、ヒューズ抵抗値Rfuseのヒストグラムを示す。ヒューズを切断してない場合には、理想的にはヒューズの抵抗値は0であるが、実際には微小な値の抵抗があり、図5(b)の左側に示すような分布を示す。一方、ヒューズを切断した場合には、理想的にはヒューズの抵抗値は無限大であるが、実際には、ヒューズが完全に切断されていないことがあり、図5(b)の右側に示すような分布を示す。このような回路においてインバータの相補的動作が不完全な場合、リーク電流が生じる。特に、電圧Vfuseがヒューズの抵抗値に応じてなだらかに変化する場合、図5(c)に示すように、広い範囲でインバータの相補的動作が不完全になり、リーク電流が生じる。
一方、ヒューズが切断されているか否かを判定するときの境界値である臨界抵抗の依存度及び温度依存度の小さいヒューズ判定回路についての技術が開示されている(例えば、特許文献2参照。)。この特許文献2の技術を、本実施形態にあわせて書き直すと、図6(a)に示す回路になる。図6(a)に示すヒューズ回路は、図5(a)に示すヒューズ回路において、プルアップ抵抗の代わりにプルアップ電流源を設けた構成となっている。この図6(a)に示す回路においては、プルアップ電流源は定電流源であるため、ヒューズラインの電圧Vfuseは、そのヒューズラインの全体の抵抗値の大きさに比例する値となる。
従って、この回路構成では、ヒューズラインの抵抗値に比例して直線的に電圧Vfuseが
高くなり、プルアップ電流とヒューズ抵抗値Rfuseとの積が高電位VCCの電圧より大きいときには、ヒューズラインの電圧Vfuseは高電位VCCの電圧と等しくなる。このため、ヒューズ抵抗値Rfuseに対応する電圧Vfuseに対して、インバータのリーク電流が生じる範囲は図6(c)のようになり、狭くすることができる。
特開2000−68458号公報(図1〜図4) 特開2000−200497号公報(図1、図2)
ところで、図5(a)におけるヒューズ回路では、ヒューズラインにおける消費電流を少なくするためには、プルアップ抵抗の抵抗値を高くすることが望ましい。しかし、この場合には、切断したヒューズの抵抗値とプルアップ抵抗の抵抗値とが近くなるため、電圧Vfuseの変化が更になだらかになり、ヒューズ抵抗のバラツキによってはインバータのリーク電流が大きくなることがあり、インバータの消費電力を小さくすることができなかった。
また、図6(a)の回路においては、図5(a)の回路に比べてインバータの相補的動作が不完全な範囲は改善されているが、その電圧範囲は広く、インバータのリーク電流を生じる場合がある。ここで、プルアップ電流を増加させると、インバータにおけるリーク電流が生じる範囲を狭めることはできる。しかし、ヒューズラインにおける消費電流も増加する可能性があり、またプルアップ電流の精度も要求される。従って、インバータにおけるリーク電流を低減させたまま、ヒューズラインにおける消費電流を減らすことは難しい。
本発明は、上述した課題に鑑みてなされ、その目的は、切断したヒューズの抵抗値にばらつきがある場合にも、より確実に、切断されたヒューズに応じた信号を出力するとともに、リーク電流を少なくし、更に消費電力を抑えることのできるヒューズ回路及び電子回路を提供することにある。
上記問題点を解決するために、本発明は、高電位ラインと低電位ラインとの間に、定電流源、制御トランジスタ及びヒューズを直列に接続した複数のヒューズラインを備え、前記定電流源と前記制御トランジスタとの間の接続ノードの電位に応じてヒューズライン毎に信号を出力するヒューズ回路であって、前記制御トランジスタに基準バイアスを供給する基準回路を設けたことを要旨とする。制御トランジスタには基準バイアスが供給されるため、ヒューズの抵抗値が小さい場合には、制御トランジスタの出力可能電流は大きく、定電流源から供給される電流は低電位ラインに流れ込む。このため、接続ノードの電位は低電位ラインの電位に張り付くことになる。一方、ヒューズを切断し、ヒューズの抵抗値が大きくなった場合には、制御トランジスタの出力可能電流は小さくなり、定電流源から供給される電流を流すことができなくなる。この場合には、接続ノードの電位は高電位ラインの電位に張り付くことになる。このように制御トランジスタの制御端子に供給される基準バイアスにより、ヒューズの抵抗値に対応させて接続ノードの電位を変化させるため、高電位と低電位との中間値となる範囲を狭くすることができる。これにより、接続ノードにインバータなどの論理回路を接続した場合には、この論理回路におけるリーク電流を低減することができる。ヒューズの抵抗値にバラツキを生じる場合や、定電流源の電流値を小さくした場合においても、的確に信号を出力することができ、消費電力の低減を図ることができる。
更に、本発明のヒューズ回路において、前記基準回路は、前記高電位ライン及び前記低電位ラインとの間に、基準電流源、基準トランジスタ及び基準抵抗を直列に接続して構成
し、前記基準トランジスタの制御端子と、前記制御トランジスタの制御端子とを共通にして、前記基準トランジスタのバイアスを基準バイアスとして前記制御トランジスタに供給することを要旨とする。このため、ヒューズラインと基準回路とは相似した回路となるため、簡易な構成で実現する。この場合、接続ノードの電位は、基準抵抗とヒューズ抵抗との大小関係によって決定されるため、ヒューズラインの定電流源や基準回路の電流源の電流値には精度が要求されない。すなわち、これらの電流源との比を一定の範囲に維持することができれば、出力に影響を与えない。
本発明のヒューズ回路において、基準トランジスタの素子入力端子を、この基準トランジスタの制御端子に接続したことを要旨とする。素子入力端子(例えば、NチャネルMOSトランジスタのドレイン端子)を制御端子(例えば、ゲート端子)に接続することにより、簡単な構成で、制御トランジスタに供給する基準バイアスを生成することができる。
更に、本発明のヒューズ回路において、前記基準トランジスタ及び前記制御トランジスタは、Nチャンネル又はPチャンネルのMOSトランジスタを用いて構成したことを要旨とする。これらのMOSトランジスタを用いてヒューズ回路を実現することができる。
本発明のヒューズ回路において、前記基準回路が供給する基準バイアスを可変とすることを要旨とする。ヒューズラインの接続ノードに電位のヒューズ抵抗値依存性は、この基準バイアスにより変化する。このため、基準バイアスを可変とすることにより、ヒューズラインの出力電圧特性を変更することができる。従って、消費電力を少なくしたまま安定して使用できる基準抵抗の抵抗値に設定することができる。
本発明のヒューズ回路において、接続ノードには論理回路を接続したことを要旨とする。論理回路として、例えば相補型回路を用いた場合、入力信号が中間値となった場合、動作が不完全になり消費電力が大きくなる。このため、この論理回路の入力信号を、確実に高電位又は低電位とすることにより、論理回路の動作を確実にして、リーク電流を抑制することができる。
本発明のヒューズ回路において、前記論理回路はインバータであり、前記インバータの出力信号が、トリミング回路のスイッチ動作を行なうトランジスタに供給されていることを要旨とする。これにより、インバータの動作を確実にして、トリミング回路を確実に制御できる。
上記問題点を解決するために、本発明は、請求項1〜7のいずれか1つに記載のヒューズ回路を用いたことを要旨とする。このため、ヒューズの切断に応じた信号を、より確実に制御することができる電子回路にできるとともに、リーク電流を少なくして、消費電力を抑えることができる。
本発明によれば、切断したヒューズの抵抗値にばらつきがある場合にも、より確実に、切断されたヒューズに応じた信号を出力するとともに、リーク電流を少なくし、更に消費電力を抑えることができる。
(第1実施形態)
以下、本発明を具体化した第1実施形態について図1〜図3に基づいて説明する。本実施形態では、本発明のヒューズ回路を、図1に示す電子回路としての基準電圧供給回路に適用した場合について説明する。
まず、ヒューズ回路が適用される基準電圧供給回路について、図1を用いて説明する。この基準電圧供給回路は、カレントミラー回路10を備え、このカレントミラー回路10には基準電流Iref が供給される。カレントミラー回路10は、レギュレータ20−1〜20−nにそれぞれ接続されており、供給された基準電流Iref に基づいて出力電流(Iref1〜Irefn)がレギュレータ20−1〜20−nに供給される。カレントミラー回路10とレギュレータ20−1〜20−nとを接続するラインには、トリミング回路30−1〜30−nが接続されている。
このトリミング回路30−1〜30−nの抵抗値を微調整することにより、各レギュレータ20−1〜20−nのそれぞれに供給される基準電圧Vref1〜Vrefnが調整されている。そして、各レギュレータ20−1〜20−nは、基準電圧Vref1〜Vrefnを用いて各動作回路(図示せず)に、必要に応じて調整した電圧Vout1〜Voutnを供給する。
トリミング回路30−1〜30−nは、例えば、図2に示すように、複数の抵抗ユニットが直列に接続されており、各抵抗ユニットには、スイッチ素子としてのMOSトランジスタと抵抗器とが並列に接続されている。そして、MOSトランジスタがオンとなっている抵抗ユニットの抵抗値は0となる。従って、トリミング回路30−nの抵抗値は、MOSトランジスタをオフさせた抵抗ユニットの抵抗値を合計した値に変化する。そして、このトリミング回路30−1〜30−nには、それぞれに対応してヒューズ回路40−1〜40−nが設けられている。
次に、本発明に関わるヒューズ回路40−1〜40−nについて、図2を用いて説明する。ヒューズ回路は、高電位VCCラインと低電圧の接地GNDラインとの間に複数のヒューズラインが並列に設けられている。各ヒューズラインには、ヒューズ51,52,・・・,5mがそれぞれ設けられている。
各ヒューズラインにおけるヒューズ51,52,・・・,5mの高電位VCC側には、MOSトランジスタ61,62,・・・,6mが設けられている。このMOSトランジスタ61〜6mは、NチャンネルのMOSトランジスタである。具体的には、MOSトランジスタ61〜6mのソース端子は、それぞれ対応するヒューズ51〜5mを介して、接地GNDラインに接続されている。MOSトランジスタ61〜6mのドレイン端子は、それぞれ対応する定電流源71,72,・・・,7mを介して、高電位VCCラインに接続されている。この定電流源71〜7mは、高電位VCCラインの電圧を用いて、そのヒューズラインに一定の電流を流すためのプルアップ電流源である。更に、MOSトランジスタ61,62,・・・,6mのドレイン端子は、対応するインバータ81,82,・・・,8mの入力端子に接続されている。
本実施形態においては、インバータ81〜8mは、特許請求範囲における論理回路に相当し、それぞれトリミング回路30−nのMOSトランジスタのゲート端子に接続されている。このインバータ81〜8mは、PMOSトランジスタとNMOSトランジスタとから構成された相補型回路である。従って、インバータ81〜8mは、その入力信号が切り替わる過渡状態のときにはリーク電流を生じることなく、出力信号が「H」レベル又は「L」レベルとなる。そして、この出力信号により、トリミング回路30−nのMOSトランジスタのスイッチ動作を制御する。
一方、本発明に関わるヒューズ回路40−1〜40−nには、ヒューズラインに並列に、基準回路としての基準ラインが設けられている。この基準ラインには、基準抵抗としての抵抗器Rが設けられている。この抵抗器Rにおける基準抵抗値は抵抗値Rsetとなって
いる。抵抗値Rsetは、ヒューズ51〜5mの切断前後の抵抗値の中間的な値に設定され
る。例えば、切断されるヒューズ51〜5mの抵抗値は、切断が不完全であっても数MΩ
(オーム)以上であり、未切断のヒューズ51〜5mの抵抗値は、数十Ω〜数百Ω以下になる。従って、切断前後の抵抗値の比を10000程度にすることは容易である。そこで、本実施形態では、基準抵抗値は、どちらか一方の抵抗値からの10倍から100倍程度に離した値を用いる。
抵抗器Rの高電位VCC側には、スイッチ素子としてのNチャンネルのMOSトランジスタ60が直列に接続されている。そして、このMOSトランジスタ60の制御端子としてのゲート端子は、素子入力端子としてのドレイン端子と接続されているとともに、MOSトランジスタ61〜6mのすべての制御端子としてのゲート端子に接続されている。また、この基準ラインには、基準電流源としての電流源70が設けられている。この電流源70は、それぞれのヒューズラインに接続された各定電流源と同じ電流を、基準ラインに供給する。
次に、図2のヒューズ回路40−nの動作について説明する。
各ヒューズラインには、基準ラインの抵抗値Rset に対するヒューズの抵抗値に反比例する値の電流が流れる。具体的には、ヒューズラインには、基準ラインの抵抗器Rの高電位VCC側の端子の電圧と、ヒューズ51〜5mの高電位VCC側の端子の電圧とが、同じとなるような電流が流れる。
このとき、図3(a)に示すように、抵抗値Rset に比べてヒューズ抵抗値Rfuseが大きい場合には、MOSトランジスタ61〜6mには電流が流れ難くなる。具体的には、ヒューズ抵抗値Rfuseに反比例する電流が流れる。従って、定電流源71〜7mの出力電圧は高くなり、インバータ81〜8mの入力端子に接続されるノードの電圧Vfuseは、高電位VCCラインの電圧に張り付くことなる。結果として、インバータ81〜8mは、高電位VCCラインの電圧の「H」レベルの信号が入力されるので、「L」レベルの信号を出力する。
一方、抵抗値Rset に比べてヒューズ抵抗値Rfuseが小さい場合には、MOSトランジスタ61〜6mには電流が流れ易くなる。従って、定電流源71〜7mの出力電圧は低くなり、インバータ81〜8mの入力端子に接続されるノードの電圧Vfuseは、接地GNDラインの電圧(0V)に張り付くことなる。結果として、インバータ81〜8mは、0Vの「L」レベルの信号が入力されるので、「H」レベルの信号を出力する。未切断のヒューズ抵抗値Rfuseは、図3(b)に示すように抵抗値Rset に比べてごく小さいため、そのヒューズが設けられたヒューズラインの電圧は0Vとなる。
以上により、このときのヒューズラインの電圧Vfuseは、図3(a)に示すように、抵抗値Rset を中心とするごく狭い範囲で変化し、この範囲を超えるとヒューズ回路40−nの出力がすぐに反転することになる。そして、図3(c)で示すように、電圧Vfuseが変化する範囲においてインバータ81〜8mにおけるリーク電流が発生する。従って、インバータ81〜8mにおいてリーク電流が発生する範囲も限定される。上述したように、ヒューズ51〜5mが未切断の場合には電圧が0Vである。また、不完全であってもヒューズが切断されている場合には、電流が流れない。従って、各ヒューズラインに入力端子が接続されたインバータ81〜8mの消費電力を小さくすることができる。
本実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
・ 本実施形態では、ヒューズ51〜5mがそれぞれ設けられた各ヒューズラインは、一端が接地GNDラインに接続されており、他端がMOSトランジスタ61〜6m及び定電流源71〜7mを介して、高電位VCCラインに接続されている。また、MOSトランジスタ61〜6mと定電流源71〜7mとの接続ノードには、対応するインバータ81〜8mの入力端子が接続されている。更に、ヒューズラインに並行して抵抗値Rset の抵抗
器R及びMOSトランジスタ60が直列に接続された基準ラインが設けられている。このMOSトランジスタ60のゲート端子は、そのドレイン端子と接続されているとともに、MOSトランジスタ61〜6mのすべてのゲート端子に接続されている。従って、MOSトランジスタ61〜6mには基準回路による基準バイアスが供給される。このため、抵抗器Rの抵抗値Rset に比べてヒューズの抵抗値が小さい場合には、MOSトランジスタ61〜6mの出力可能電流は大きく、定電流源71〜7mから供給される電流は接地GNDラインに流れ込む。よって、接続ノードの電圧Vfuseは接地GNDラインの電位(0V)に張り付くことになる。また、ヒューズを切断し、抵抗器Rの抵抗値Rset に比べてヒューズの抵抗値が大きい場合には、MOSトランジスタ61〜6mの出力可能電流は小さくなり、定電流源71〜7mから供給される電流を流すことができなくなる。この場合には、接続ノードの電位は高電位VCCラインの電位に張り付くことになる。このようにMOSトランジスタ61〜6mのゲート端子に供給される基準バイアスにより、ヒューズの抵抗値に対応させて接続ノードの電位を変化させるため、高電位と低電位との中間値となる範囲を狭くすることができる。これにより、接続ノードにインバータ81〜8mを接続した場合には、この81〜8mにおけるリーク電流を低減することができる。
また、インバータ81〜8mの入力端子の電圧は、基準抵抗とヒューズ抵抗との大小関係によって決定される。このため、ヒューズラインの定電流源71〜7mの電流値や基準回路の電流源70の電流値に精度が要求されない。すなわち、これらの電流源70と定電流源71〜7mとの比を一定の範囲に維持することができれば、接続ノードの電圧に影響を与えない。すなわち、ヒューズの抵抗値にバラツキを生じる場合や、定電流源の電流値を小さくした場合においても、的確に信号を出力することができ、消費電力の低減を図ることができる。
更に、ヒューズライン及び基準回路は、それぞれ電流源(70と71〜7m)、トランジスタ(60と61〜6m)及び抵抗(ヒューズラインではヒューズが抵抗となる)で構成される。このように、両者を相似形の回路で構成するため、少ない素子で、本発明のヒューズ回路を実現することができる。
・ 本実施形態では、ヒューズ回路40−nのインバータ81〜8mは、トリミング回路のスイッチ動作を行なうMOSトランジスタに供給されている。このため、ヒューズ51〜5mが不完全に切断された場合であっても、トリミング回路30−1〜30−nのMOSトランジスタは、その切断に応じて信号を、より確実に出力することができ、より確実に所望の抵抗値を出力することができる。そして、このトリミング回路を用いた基準電圧供給回路において、基準電圧を供給するという所望の動作を、より確実に行なうことができる。
(第2実施形態)
次に、本発明の第2実施形態について説明する。上記第1実施形態と同様な部分については、同一の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
本実施形態では、図4に示すように、基準ラインの抵抗器Rとして可変抵抗器を用いことにより、その抵抗値Rset を変更できるようにする。また、基準ラインの電流源70には、可変電流源を用いることにより、供給される電流値Iset を変更できるようにする。
ここで、各ヒューズラインの定電流源71,72,・・・,7mに供給される電流値をIpull-up とし、基準ラインの電流源70が供給する電流値をIset とすると、図4(b)に示すように、ヒューズ抵抗値Rfuseに対するヒューズラインの電圧Vfuseは変化し、その出力電圧特性は抵抗値Rcal を中心として平行移動する。ここで、抵抗値Rcal は、次式で示される。
Rcal =Rset ×Iset /Ipull-up
従って、本実施形態では、抵抗値Rset又は電流値Isetを可変にして、ヒューズラインの電圧Vfuseの出力電圧特性を変化させることにより、抵抗値Rcal を変更して、ヒューズ回路40−nの出力が反転する臨界抵抗値を把握する。具体的には、抵抗値Rcal を低下させることにより、未切断のヒューズにより、インバータ81〜8mの出力が反転する下限の臨界抵抗値を検出する。また、抵抗値Rcal を上昇させて、不完全に切断されたヒューズにより、インバータ81〜8mの出力が反転する上限の臨界抵抗値を検出する。そして、ヒューズ回路におけるヒューズの未切断及び不完全な切断による臨界抵抗値を把握した場合には、上限及び下限の臨界抵抗値までの余裕を十分に確保するように、抵抗値Rset 又は電流値Iset の少なくとも一方を調整する。
本実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
・ 本実施形態では、基準ラインの抵抗器Rをその抵抗値Rset が変更できる可変抵抗器にする。又は、基準ラインの電流源70を供給される電流値Iset が変更できる可変電流源にする。このため、抵抗値Rset 及び電流値Iset の少なくとも一方を変更することにより出力電圧特性を変化させて、ヒューズ回路40−nの出力が反転する臨界抵抗値を把握することができる。また、把握できた下限の臨界抵抗値及び上限の臨界抵抗値の中間の抵抗値となるように、抵抗値Rset 又は電流値Iset の少なくとも一方を調整する。これにより、上限及び下限の臨界抵抗値までの余裕を十分に確保することができるので、より確実にヒューズ回路のインバータ81〜8mのスイッチ動作を行なうことができる。
また、上記実施形態は以下のように変更してもよい。
○ 上記実施形態のヒューズ回路40−1〜40−nにおいては、NチャンネルのMOSトランジスタ60、61〜6mを用いた。これに限らず、例えば、PチャンネルMOSトランジスタやバイポーラトランジスタ等他の種類のトランジスタを用いてもよい。なお、PチャンネルMOSトランジスタを用いる場合には、VCCラインを、接地電位よりも低い電位とする。
○ 上記実施形態において、ヒューズ回路40−1〜40−nは、内蔵するインバータ81〜8mを介してトリミング回路30−1〜30−nに接続した。これに限らず、ヒューズ回路40−1〜40−nは、インバータ以外の論理回路、例えばNAND等の回路を有する構成としてもよい。この場合であっても、論理回路におけるリーク電流を抑えて、消費電力を少なくすることができる。
○ 上記実施形態においては、ヒューズ回路40−1〜40−nにインバータ81〜8mを設け、このインバータ81〜8mを介して、ヒューズ回路40−1〜40−nの出力を行なった。これに限らず、インバータ81〜8mを省略したヒューズ回路40−1〜40−nとしてもよい。
○ 上記実施形態においては、ヒューズ回路40−1〜40−nは、例えば半導体装置に搭載された基準電圧生成回路に適用されるトリミング回路30−1〜30−nに接続される回路として説明した。これに限らず、本発明のヒューズ回路を、電気的特性を微調整するための回路として他の電子回路に適用してもよい。
本発明の実施形態における電子回路の配線回路図。 本発明の第1実施形態におけるヒューズ回路の配線回路図。 本発明の第1実施形態におけるグラフであり、(a)は電圧と抵抗値のグラフ、(b)は抵抗値のヒストグラム、(c)はリーク電流と抵抗値のグラフである。 本発明の第2実施形態を説明する図であり、(a)はヒューズ回路の配線回路図、(b)は電圧と抵抗値のグラフ、(c)は抵抗値のヒストグラムである。 第1従来技術を説明する概略説明図であり、(a)はヒューズ回路の配線回路図、(b)は電圧と抵抗値のグラフ、(c)は抵抗値のヒストグラム、(d)はリーク電流と抵抗値のグラフである。 第2従来技術を説明する概略説明図であり、(a)はヒューズ回路の配線回路図、(b)は電圧と抵抗値のグラフ、(c)は抵抗値のヒストグラム、(d)はリーク電流と抵抗値のグラフである。
符号の説明
GND…低電位としての接地、Iset …電流値、R…基準抵抗としての抵抗器、30−1〜30−n…トリミング回路、40−1〜40−n…ヒューズ回路、51〜5m…ヒューズ、60…基準トランジスタとしてのMOSトランジスタ、61〜6m…制御トランジスタとしてのMOSトランジスタ、70…基準電流源としての電流源、71〜7m…定電流源、81〜8m…論理回路としてのインバータ。

Claims (8)

  1. 高電位ラインと低電位ラインとの間に、定電流源、制御トランジスタ及びヒューズを直列に接続した複数のヒューズラインを備え、
    前記定電流源と前記制御トランジスタとの間の接続ノードの電位に応じてヒューズライン毎に信号を出力するヒューズ回路であって、
    前記制御トランジスタに基準バイアスを供給する基準回路を設けたことを特徴とするヒューズ回路。
  2. 請求項1に記載のヒューズ回路において、
    前記基準回路は、前記高電位ライン及び前記低電位ラインとの間に、基準電流源、基準トランジスタ及び基準抵抗を直列に接続して構成し、
    前記基準トランジスタの制御端子と、前記制御トランジスタの制御端子とを共通にして、前記基準トランジスタのバイアスを基準バイアスとして前記制御トランジスタに供給することを特徴とするヒューズ回路。
  3. 請求項2に記載のヒューズ回路において、
    前記基準トランジスタの素子入力端子を、この基準トランジスタの制御端子に接続したことを特徴とするヒューズ回路。
  4. 請求項2又は3に記載のヒューズ回路において、
    前記基準トランジスタ及び前記制御トランジスタは、Nチャンネル又はPチャンネルのMOSトランジスタを用いて構成したことを特徴とするヒューズ回路。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項に記載のヒューズ回路において、
    前記基準回路が供給する基準バイアスを可変とすることを特徴とするヒューズ回路。
  6. 請求項1〜5のいずれか1項に記載のヒューズ回路において、
    前記接続ノードには論理回路を接続したことを特徴とするヒューズ回路。
  7. 請求項6に記載のヒューズ回路において、
    前記論理回路はインバータであり、
    前記インバータの出力信号が、トリミング回路のスイッチ動作を行なうトランジスタに供給されていることを特徴とするヒューズ回路。
  8. 請求項1〜7のいずれか1つに記載のヒューズ回路を用いた電子回路。
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