JP2006208153A - 診断機能付スイッチ回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】リレーに代えてFETスイッチを用いることにより上記課題を解消し、スイッチの状態も常時監視することが可能な診断機能付スイッチ回路を提供する。
【解決手段】直流電圧の供給側とこの直流電圧を受ける受信側の間に接続されるスイッチ回路であって、直列に接続した2つのFETスイッチを2系統有するFETスイッチ部と、前記FETスイッチ部を、通常時は2系統共にONにし、診断時は1系統単位でOFFにする制御回路と、前記直列接続したFET間とGNDとの間に接続した診断用の抵抗と、前記制御回路の動作状態を認識して、前記診断用の抵抗の電圧レベルを検出し、通常時は前記FETスイッチ部に印加されている電圧が検出されるとき、また診断時は0Vが検出されるときを、それぞれ正常と判定し、それ以外の電圧レベルが検出されるときは異常と判定する診断回路を備える。
【選択図】 図1
【解決手段】直流電圧の供給側とこの直流電圧を受ける受信側の間に接続されるスイッチ回路であって、直列に接続した2つのFETスイッチを2系統有するFETスイッチ部と、前記FETスイッチ部を、通常時は2系統共にONにし、診断時は1系統単位でOFFにする制御回路と、前記直列接続したFET間とGNDとの間に接続した診断用の抵抗と、前記制御回路の動作状態を認識して、前記診断用の抵抗の電圧レベルを検出し、通常時は前記FETスイッチ部に印加されている電圧が検出されるとき、また診断時は0Vが検出されるときを、それぞれ正常と判定し、それ以外の電圧レベルが検出されるときは異常と判定する診断回路を備える。
【選択図】 図1
Description
本発明は、稼動中の動作診断が可能な診断機能付スイッチ回路に関するものである。
電圧を負荷に供給する等の回路において、供給電圧と負荷との間に、接点スイッチを用いたスイッチ回路を設け、通常時はオン(ON)状態であるが、まれに発生する緊急事態等ではオフ(OFF)状態にするようにしたものがある。このようなスイッチ回路では、緊急事態等でオフ(OFF)状態にすべきときに、スイッチがON状態に固着されたままでOFF状態に切換えできないときは、事前にその異常を検知し、しかるべき対応がとれるようにするための自己診断機能を有するものがある。
この種のスイッチ回路に関連する先行技術文献としては次のようなものがある。
図3は特許文献1に記載の診断回路に同等な従来のスイッチ回路の一例を示す構成図である。このスイッチ回路は、2組のc接点リレー(以下単にリレーという)1と2、各リレーを制御する制御回路3と、各リレーのb接点にそれぞれ接続された抵抗R1とR2、この抵抗R1とR2に発生する電圧レベルを診断する診断回路4から構成される。なお、診断回路4は前記制御回路3の動作に同期して動作するように構成されている。
このスイッチ回路は、電圧Eボルト(以下ボルトをVと表記する)の直流電源10の高圧側と負荷11の間に挿入接続される。なお、直流電源10の低圧側と、負荷11の他端および前記抵抗R1とR2の他端は共通接続されている。
このような構成において、通常時は、制御回路3の制御により、リレー1,2のc接点(共通接点)は共にa接点側にオン(ON)している。診断時は、制御回路3の制御により、リレー1,2を1点ずつb接点側にONさせる。リレー1,2を同時にb接点側にONにはしない。
スイッチ回路が正常であれば、診断回路4では、a接点側ON時には0V、b接点側へONしたときには当該リレー側に接続された抵抗(R1またはR2)に生じる所定電圧が観測できる。診断回路4は、抵抗に生じた所定電圧値が異常であればリレーの異常と診断し、対応した処置、例えば表示や警報出力を行う。
スイッチ回路が正常であれば、診断回路4では、a接点側ON時には0V、b接点側へONしたときには当該リレー側に接続された抵抗(R1またはR2)に生じる所定電圧が観測できる。診断回路4は、抵抗に生じた所定電圧値が異常であればリレーの異常と診断し、対応した処置、例えば表示や警報出力を行う。
しかし、このような従来のスイッチ回路では次のような課題がある。
(1)リレーの使用に下記のようなデメリットがある。
・実装面積や体積が大であり、チャタリングが発生し、消費電力が大である。
・寿命があり、使用温度範囲が狭く、信頼性が低い。
・動作速度が遅い。
・価格が高い。
(2)リレーが動作することは診断できるが、b接点側に正常に接触しているかどうかが不明確である。
(1)リレーの使用に下記のようなデメリットがある。
・実装面積や体積が大であり、チャタリングが発生し、消費電力が大である。
・寿命があり、使用温度範囲が狭く、信頼性が低い。
・動作速度が遅い。
・価格が高い。
(2)リレーが動作することは診断できるが、b接点側に正常に接触しているかどうかが不明確である。
本発明の目的は、このような課題を解消するものであり、リレーに代えてFETスイッチを用いることにより上記課題を解消し、スイッチの状態も常時監視することが可能な診断機能付スイッチ回路を提供することにある。
このような課題を達成するために、本発明の請求項1に記載の発明は、
直流電圧の供給側とこの直流電圧を受ける受信側の間に接続されるスイッチ回路であって、
直列に接続した2つのFETスイッチを2系統有するFETスイッチ部と、
前記FETスイッチ部を、通常時は2系統共にONにし、診断時は1系統単位でOFFにする制御回路と、
前記直列接続したFET間とGNDとの間に接続した診断用の抵抗と、
前記制御回路の動作状態を認識して、前記診断用の抵抗の電圧レベルを検出し、通常時は前記FETスイッチ部に印加されている電圧が検出されるとき、また診断時は0Vが検出されるときを、それぞれ正常と判定し、それ以外の電圧レベルが検出されるときは異常と判定する診断回路
を備えたことを特徴とする。
直流電圧の供給側とこの直流電圧を受ける受信側の間に接続されるスイッチ回路であって、
直列に接続した2つのFETスイッチを2系統有するFETスイッチ部と、
前記FETスイッチ部を、通常時は2系統共にONにし、診断時は1系統単位でOFFにする制御回路と、
前記直列接続したFET間とGNDとの間に接続した診断用の抵抗と、
前記制御回路の動作状態を認識して、前記診断用の抵抗の電圧レベルを検出し、通常時は前記FETスイッチ部に印加されている電圧が検出されるとき、また診断時は0Vが検出されるときを、それぞれ正常と判定し、それ以外の電圧レベルが検出されるときは異常と判定する診断回路
を備えたことを特徴とする。
このような構成により次のような効果が発揮される。すなわち、実装面積や体積が小さく、チャタリングが発生せず、消費電力が小さく、また、寿命が長く、使用温度範囲が広く、信頼性が高い。また安価であり、動作速度が速い。さらに、スイッチの状態も常時監視することができる。
請求項2に記載の発明は、
請求項1に記載の診断機能付スイッチ回路において、
前記直列に接続した各2つのFETスイッチは、ソース極同士を接続したNチャンネル同士、およびPチャンネルのMOSFETであり、
この2系統の前記MOSFETと前記制御回路間に、絶縁用のフォトMOSドライバがそれぞれ接続されたことを特徴とする。
請求項1に記載の診断機能付スイッチ回路において、
前記直列に接続した各2つのFETスイッチは、ソース極同士を接続したNチャンネル同士、およびPチャンネルのMOSFETであり、
この2系統の前記MOSFETと前記制御回路間に、絶縁用のフォトMOSドライバがそれぞれ接続されたことを特徴とする。
このような構成によれば、FETに存在する既成ダイオードの向きが逆向きにでき、電流の回り込みをなくし、診断の検出率を上げることができる。
この場合、請求項3のように、前記FETスイッチ部と前記フォトMOSドライバを一体化したフォトMOSリレーを使用することもできる。
また、請求項4のように、前記診断用の抵抗の接続基準を、前記GNDではなく、前記電圧の供給側へ接続するようにもできる。
また、請求項5のように、前記診断用の抵抗は、複数にして分圧できるように構成することができる。これにより診断回路の動作電圧を小さくすることができる。
また、請求項4のように、前記診断用の抵抗の接続基準を、前記GNDではなく、前記電圧の供給側へ接続するようにもできる。
また、請求項5のように、前記診断用の抵抗は、複数にして分圧できるように構成することができる。これにより診断回路の動作電圧を小さくすることができる。
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
実装面積や体積が小さく、チャタリングが発生せず、消費電力が小さく、また、寿命が長く、使用温度範囲が広く、信頼性が高い。また安価であり、動作速度も速く、さらに、スイッチの状態も常時監視することができる。
実装面積や体積が小さく、チャタリングが発生せず、消費電力が小さく、また、寿命が長く、使用温度範囲が広く、信頼性が高い。また安価であり、動作速度も速く、さらに、スイッチの状態も常時監視することができる。
以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。図1は本発明に係る診断機能付スイッチ回路の一実施例を示す構成図である。図1において図3と異なる所は、FETスイッチの部である。なお、図3と同一の構成要素についてはその説明を省略する。
FETスイッチ部は、従来のリレー1,2に代わるもので、直列に接続した2つのFETスイッチを2系統有する。1組は直列接続された2つのスイッチSW11とSW12であり、他の1組は直列接続された2つのスイッチSW21とSW22である。そしてこの2組のスイッチは、並列接続されている。
抵抗R1はスイッチSW11とSW12の共通接続点に、また抵抗R2はスイッチSW21とSW22の共通接続点に、それぞれ接続されている。
抵抗R1はスイッチSW11とSW12の共通接続点に、また抵抗R2はスイッチSW21とSW22の共通接続点に、それぞれ接続されている。
このような構成における動作を次に説明する。スイッチSW11とSW12の組と、スイッチSW21とSW22の組とは、通常時は共にONである。このとき、抵抗R1とR2の電圧レベルは診断回路4にて測定される。
診断時は、スイッチSW11とSW12、またはSW21とSW22のいずれか一方を、OFFにする。OFFにした方のスイッチに接続されている抵抗(R1またはR2)の電圧レベルは0Vとなり、診断回路4にて観測される。
診断時は、スイッチSW11とSW12、またはSW21とSW22のいずれか一方を、OFFにする。OFFにした方のスイッチに接続されている抵抗(R1またはR2)の電圧レベルは0Vとなり、診断回路4にて観測される。
上記スイッチのON固着時あるいはOFF固着時に、上記以外の電圧レベルが観測されれば、それは故障が発生したことを意味し、診断回路4は測定電圧からその故障発生を検出することができる。
なお、本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
例えば、図2に示すような構成としてもよい。図1の構成と異なるところは、フォトMOSドライバを使用することにより、スイッチ部と制御回路3間を絶縁した点である。
この場合、スイッチSW11とSW12はN型MOSFET同士、SW21とSW22もN型MOSFET同士である。なお、すべてのスイッチがP型、あるいはスイッチSW11とSW12はN型でSW21とSW22がP型同士、またはその逆にしてもよい。
そして直列接続のFET(SW11とSW12、およびSW21とSW22)はソース・ドレインの向きが逆になるようにソース極同士を接続し、FETに存在する既成ダイオードの向きが逆向きになるようにする。これにより、電流の回り込みをなくし、診断の検出率を上げることができる。
また、診断用の各抵抗を、図示のように、それぞれ2つにして分圧することにより、診断回路4の動作電圧を小さくすることもできる。
そして直列接続のFET(SW11とSW12、およびSW21とSW22)はソース・ドレインの向きが逆になるようにソース極同士を接続し、FETに存在する既成ダイオードの向きが逆向きになるようにする。これにより、電流の回り込みをなくし、診断の検出率を上げることができる。
また、診断用の各抵抗を、図示のように、それぞれ2つにして分圧することにより、診断回路4の動作電圧を小さくすることもできる。
また、図1および図2における診断抵抗R1とR2(またはR12とR22)の基準はGNDに限るものではなく、例えば、電圧の供給側へ接続してもよい。
また、実施例では、本発明のスイッチ回路の入力には直流電源、出力には負荷が接続された例を用いたが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、入力には直流電圧、出力にはその直流電圧を受信する回路や装置であっても構わない。
また、実施例では、本発明のスイッチ回路の入力には直流電源、出力には負荷が接続された例を用いたが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、入力には直流電圧、出力にはその直流電圧を受信する回路や装置であっても構わない。
3 制御回路
4 診断回路
10 直流電源
11 負荷
7、8 フォトMOSドライバ
SW11、SW12、SW21、SW22 スイッチ
R1、R2 抵抗
R11、R12、R21、R22 抵抗
4 診断回路
10 直流電源
11 負荷
7、8 フォトMOSドライバ
SW11、SW12、SW21、SW22 スイッチ
R1、R2 抵抗
R11、R12、R21、R22 抵抗
Claims (5)
- 電圧の供給側とこの電圧を受ける受信側の間に接続されるスイッチ回路であって、
直列に接続した2つのFETスイッチを2系統有するFETスイッチ部と、
前記FETスイッチ部を、通常時は2系統共にONにし、診断時は1系統単位でOFFにする制御回路と、
前記直列接続したFET間とGNDとの間に接続した診断用の抵抗と、
前記制御回路の動作状態を認識して、前記診断用の抵抗の電圧レベルを検出し、通常時は前記FETスイッチ部に印加されている電圧が検出されるとき、また診断時は0Vが検出されるときを、それぞれ正常と判定し、それ以外の電圧レベルが検出されるときは異常と判定する診断回路
を備え、稼動中の動作診断が可能であることを特徴とする診断機能付スイッチ回路。 - 請求項1に記載の診断機能付スイッチ回路において、
前記直列に接続した各2つのFETスイッチは、ソース極同士を接続したNチャンネル同士、またはPチャンネル同士のMOSFETであり、
この2系統の前記MOSFETと前記制御回路間に、絶縁用のフォトMOSドライバがそれぞれ接続された
ことを特徴とする診断機能付スイッチ回路。 - 前記FETスイッチ部と前記フォトMOSドライバが一体化されたフォトMOSリレーを使用することを特徴とする請求項2に記載の診断機能付スイッチ回路。
- 前記診断用の抵抗の接続基準は、前記GNDではなく前記電圧の供給側へ接続したことを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の診断機能付スイッチ回路。
- 前記診断用の抵抗は、複数にして分圧できるように構成し、診断回路の動作電圧を低くすることを可能にしたことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の診断機能付スイッチ回路。
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| JP2005019787A JP2006208153A (ja) | 2005-01-27 | 2005-01-27 | 診断機能付スイッチ回路 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010108131A (ja) * | 2008-10-29 | 2010-05-13 | Yokogawa Electric Corp | スイッチング装置 |
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| US12136839B2 (en) | 2019-10-21 | 2024-11-05 | Lg Energy Solution, Ltd. | Pre-charge circuit and battery system having the same |
| WO2025225307A1 (ja) * | 2024-04-25 | 2025-10-30 | 株式会社デンソー | 電池インピーダンス計測装置 |
-
2005
- 2005-01-27 JP JP2005019787A patent/JP2006208153A/ja not_active Withdrawn
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