JP2006201629A - 焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】劣化速度が経時変化により変動するため、使用時間が長くなると焼き付き現象の正確な補正が難しくなる。
【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置として、（ａ）経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、（ｂ）各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、（ｃ）累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する補正量を逐次決定する処理と、（ｄ）自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理とを有するものを提案する。
【選択図】図２

Description

発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。

フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。

ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。

現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
特開２００３−２２８３２９号公報 この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。

特開２００３−２９５８２７号公報 この文献には、静止画の表示時にのみ表示データと表示時間を記憶し、その表示データと最大輝度との差ΔＹと、静止画が表示された時間Ｔとの積算量ΔＹ・Ｔを補正データに設定する方法が開示されている。また、この文献には、蓋が閉じられた状態や非使用状態の場合にのみ補正用の表示を実行することで、焼き付き現象を補正する方法が開示されている。 特開２０００−１３２１３９号公報 この文献には、画素毎に入力データを積算し、補正テーブルを用いて積算値を補正値に変換する方法が開示されている。また、求められた補正値により各画素の入力データを補正し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。

特開２００１−１７５２２１号公報 この文献には、画素の中で一番輝度が劣化した画素にあわせて、その他の画素の輝度データを下げるように補正値を決定する方法が開示されている。また、得られた補正値で各画素の輝度データを変換し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。 特開２００２−１６９５０９号公報 この文献には、静止画表示時にパネル全体の輝度を抑制したり、待機モード時にデバイスに逆バイアスを印加したりして、発光素子の電極間に不要な電荷が蓄積するのを抑制し、表示特性の劣化スピードを遅くして焼き付き現象の発生を抑制する方法が開示されている。

特開２０００−３５６９８１号公報 この文献には、パネルが発光している時間を累積し、その時間に応じて全体輝度を抑制する補正方法が開示されている。この補正方法の場合、発光特性の劣化速度を抑制することにより、焼き付き現象の軽減を図る。 特開２００３−３０８０４１号公報 この文献には、画面上で動画領域と静止画領域を判定し、静止画領域のみの輝度を抑制することで、静止画領域の焼き付きの発生を遅らせる補正方法が開示されている。 特開２００３−２７４３１５号公報 この文献には、ある周期で画面全体を画素単位でずらすことにより、焼き付き部分の輪郭にぼかし効果を生じさせ、焼き付き現象を目立たなくする補正方法が開示されている。

ところで、既存の処理は、劣化進行の度合いにかかわらず劣化の進行速度が同じであるとの仮定に基づいて補正値を求めている。
しかし、自発光素子の劣化の進行速度は、劣化の進行度合いに応じて変化する特性がある。すなわち、劣化の進行した自発光素子の劣化は、発光初期の劣化に比して進行速度が低下する特性がある。
従って、この速度の違いを無視して画素間の劣化量差を算出すると、誤差の累積効果によって正確な補正動作が期待できなくなる可能性がある。

発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
すなわち、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、
（ａ）経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
（ｂ）各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
（ｃ）累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する補正量を逐次決定する処理と、
（ｄ）自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理と
を有するものを提案する。
なお、自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含むものとする。

発明に係る方法の場合、経時変化を反映した劣化特性に基づいて劣化量差を算出できる。すなわち、劣化の進行速度の変化を、焼き付き現象の補正に直接的に反映できる。この結果、補正処理の信頼性を一段と向上できる。

以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。

（Ａ）劣化の進行特性
図１に、同一の駆動条件で自発光素子の発光を継続した場合の輝度劣化の進行特性を示す。図１に示すように、輝度劣化は常に一定ではなく、輝度劣化の進行につれて進行速度が次第に低下する特性が認められる。これは、初期値から半減するまでの変化が直線でなく曲線となることから分かる。
従って、初期特性のままで劣化量差を算出することは（累積劣化量差を算出することは）、実際以上に算出された誤差を次第に含むことになり、劣化量差の正確な補正動作が実現できない問題がある。

（Ｂ）焼き付き現象補正装置の形態例
（ａ）形態例１
図２に、焼き付き現象補正装置の一つの形態例を示す。以下、焼き付き現象補正装置を「補正装置」という。ここで、補正装置１は、同色で発光する画素について配置される。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。
補正装置１は、劣化特性調整部３、劣化量差算出部５、累積劣化量差算出部７、補正量決定部９、補正効果予測部１１、累積劣化量差蓄積部１３、劣化量差補正部１５を主要な構成要素とする。

このうち、劣化特性調整部３が、経時変化に応じた劣化特性の調整を実現する処理デバイスに相当する。図３に、劣化特性調整部３の形態例を示す。この形態例の場合、劣化特性調整部３は、累積劣化量算出部３Ａ、補正値決定部３Ｂ、補正値保持部３Ｃで構成される。
累積劣化量算出部３Ａは、劣化量差の算出基準に用いる基準画素についての劣化量の累積値を算出する処理デバイスである。累積劣化量算出部３Ａには、算出された累積劣化量を保存する記憶デバイスと、新たに算出された劣化量で累積劣化量を更新する演算部とが設けられている。

この形態例の場合、自発光装置の経時変化の特定に基準画素を使用する。これは、焼き付き現象の補正処理は、各画素と基準画素との劣化量差をゼロにする方向で実施されるため、各画素の累積劣化量は基準画素の累積劣化量とほぼ同じになると推測されるためである。
この結果、経時変化の特定に必要な累積劣化量の監視負荷は格段に軽減されることになる。すなわち、全画素について累積劣化量を監視する必要がなく、メモリ容量などのシステム負荷が軽減される。

なお、基準画素には、例えば全画素のうち最も劣化が進んだ画素、最も劣化が遅れた画素、任意の実在する画素を想定する。もっとも、基準画素には、例えば累積劣化量の平均値を与える仮想的な画素を想定することも可能である。
また、累積劣化量算出部３Ａは、基準画素に対応する累積劣化量を入力信号に基づいて算出する。ここでの入力信号は、自発光素子の駆動条件に関する信号である。例えば各自発光素子（画素）に対応する階調値、階調値の累積値、階調値から導出される劣化率、駆動電流値である。
これらのデータは、いずれも自発光素子の発光輝度や劣化量を与えるパラメータとして既存の技術においても利用されている。なお、特定のパラメータについての形態例は後述する。

補正値決定部３Ｂは、算出された累積劣化量に応じ、劣化特性の補正に使用する補正値を決定する処理デバイスである。
ここでは、図４に示す累積劣化量−補正値変換テーブルを使用する。図４は、この種の変換テーブルの一例である。図４の場合、等間隔に累積劣化量の区分を設定し、各区分に補正値Ｘを対応付けている。勿論、この対応関係は、輝度劣化の進行特性の実測値に基づいて設定する。
補正値決定部３Ｂは、算出された累積劣化量が属する区分を検索し、検索結果に応じた補正値を読み出すものとする。
補正値保持部３Ｃは、決定された補正値を保持する記憶デバイスである。補正値は、この補正値保持部３Ｃを通じて累積劣化量算出部３Ａ、劣化量差算出部５、補正量決定部９へと与えられる。この補正値Ｘ（０≦Ｘ≦１）を入力信号に基づいて算出された劣化量に乗算すれば、経時変化を反映した劣化量を算出できる。

劣化量差算出部５は、補正処理前の入力信号に基づいて各画素と基準画素との劣化量差を算出する処理デバイスである。基準画素に対して劣化が進んでいる場合、劣化量差はプラスで与えられ、基準画素に対して劣化が遅れている場合、劣化量差はマイナスで与えられる。
劣化量の算出には任意の手法を適用できる。例えば、ある期間内に入力された入力信号を画素毎に累積加算したものを劣化量とする手法を適用する。なお、劣化量差は、各画素の劣化量と基準画素の劣化量との差分として与えられる。
更に、この劣化量差算出部５は、算出された劣化量差に経時変化を反映させる。例えば、劣化特性調整部３から与えられる補正値を劣化量差に乗算し、算出される劣化量差の精度を向上させる。なお、補正値は劣化量差の算出前に、各劣化量に乗算しても良い。
累積劣化量差算出部７には、補正済みの劣化量差が与えられる。

累積劣化量差算出部７は、画素毎に基準画素との累積劣化量差を算出する処理デバイスである。
累積劣化量差算出部７は、入力信号に基づいて算出された劣化量差（補正済み）を、累積劣化量差に対する加算情報として扱う。
一方、累積劣化量差算出部７は、補正効果予測部１１から与えられる劣化量差（補正効果）を、累積劣化量差に対する減算情報として扱う。
補正効果予測部１１は、補正量決定部９で決定された補正量の補正効果を予測する処理デバイスである。補正効果は劣化量差として予測される。
累積劣化量差蓄積部１３は、算出された累積劣化量差を保存する記憶デバイスである。なお、保存対象とする累積劣化量差の内容は、累積劣化量差算出部７において逐次更新される。

補正量決定部９は、入力信号に対する補正量を画素毎に決定する処理デバイスである。補正量決定部９は、現存する累積劣化量差がある期間内に解消される方向で補正量を決定する。なお、補正量決定部９は、決定した補正量を補正効果予測部１１に与える。
ここで、補正量は、補正装置１で採用する補正方法に応じて決定する。なお、劣化量差の補正には任意の手法を適用できる。
例えば、最も劣化の進んだ基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正値を決定しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を上げるように補正値が決定される。
また例えば、最も劣化の遅れた基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正値を決定しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を下げるように補正値が決定される。

また、補正量決定部９は、決定された補正量に劣化特性調整部３から与えられた補正値の逆数１／Ｘを乗算して経時変化を反映した補正量を算出する。
これは、算出された補正量をそのまま入力信号の補正に用いたのでは、実際の補正効果が想定した補正効果に対して小さく現れるためである。従って、補正量決定部９は、このように経時変化を反映した補正量を劣化量差補正部１５に与える。

劣化量差補正部１５は、与えられた補正量に基づいて入力信号を補正する処理デバイスである。例えば、入力信号に対して補正量を加減算することで入力信号を補正する。また例えば、補正量に応じて調整したゲインで入力信号を増幅又は減衰する。
補正後の入力信号は、自発光素子が配列された表示パネルの駆動信号として出力される。
以上の構成に係る補正装置１を用いれば、使用時間が長くなっても劣化量差の発生を正確に監視して補正することができる。すなわち、補正時期によらず、焼き付き現象を確実に解消できる。

（ｂ）形態例２
図５に、焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す。図５は、図２と対応する部分に同一符号を付して示している。
この補正装置２１は、劣化特性調整部３、劣化量差算出部５、累積劣化量差算出部７、補正量決定部９、累積劣化量差蓄積部１３、劣化量差補正部１５を主要な構成要素とする。
補正装置２１（図５）と、補正装置１（図２）との違いは、劣化量差の算出に使用する入力信号の取り込み位置である。すなわち、補正装置２１は、焼き付き補正後の入力信号を入力する点で補正装置１と異なっている。因みに、補正装置１は、焼き付き補正前の入力信号を劣化量差算出部５に入力している。

以上のように、焼き付き補正後の入力信号を用いて画素間の劣化量差を算出する場合、算出される劣化量差に実際の発光状態を直接的に反映できる利点がある。このため、形態例１に比べて更に正確な劣化量差の算出が可能になる。
また、補正装置２１の場合には、実際の発光状態を劣化量差に直接反映できるため、補正効果を別途予測して累積劣化量差に反映する処理を不要にできる。すなわち、補正装置１のように、補正効果予測部１１を設ける必要がなくなり、システム規模の削減とコストダウンを実現できる。

（ｃ）形態例３
次に、劣化量の算出に劣化率を使用する場合の形態例を説明する。これは、発光特性の劣化が、入力信号値に比例して進行しない場合に非常に有効な処理手法であり、発明者らが提案する算出手法である。
ここで、劣化率とは、発光量の低下を単位時間当たりに換算した値をいい、発光特性の実測値より求められる。例えば、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる。

この形態例に係る焼き付き補正装置３１の構成は、基本的に形態例１の補正装置１や形態例２の補正装置２１と同じである。すなわち、補正装置３１は、劣化量を焼き付き補正前の階調値（入力信号）を取り込んで算出する方式の装置としても実現できるし、焼き付き補正後の階調値（入力信号）を取り込んで算出する方式の装置としても実現できる。
。
以下では、重複した説明を省略するため、この形態例に特徴的な構成部分についてのみ説明する。

図６に、補正装置３１で使用する劣化特性調整部３３の形態例を示す。この形態例の場合、劣化特性調整部３３は、累積劣化量算出部３３Ａ、補正値決定部３３Ｂ、変換テーブル書き換え部３３Ｃ、階調値−劣化率変換テーブル３３Ｄで構成される。
累積劣化量算出部３３Ａは、劣化量差の算出基準に用いる基準画素についての劣化量の累積値を算出する処理デバイスである。累積劣化量算出部３３Ａには、算出された累積劣化量を保存する記憶デバイスと、新たに算出された劣化量で累積劣化量を更新する演算部とが設けられている。

ここで、累積劣化量算出部３３Ａは、基準画素についての階調値を入力すると、階調値−劣化率変換テーブル３３Ｄを参照し、当該階調値に対応する劣化率を読み出す。そして、読み出された劣化率に発光時間ｔを乗算することにより、基準画素についての劣化量を算出する。
図７に変換テーブルの一例を示す。この変換テーブルは、階調値が８ビットの場合の例である。勿論、テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定されている。

因みに、最大階調値（２５５）の劣化率は０．０３％であり、中間階調値（１２７）の劣化率は０．０１％である。また、発光期間が１の場合の劣化量は、それぞれ３００×１０^-4％と１００×１０^-4％である。
図７に示す変換テーブルの場合であれば、入力された階調値から劣化量を直接読み出すことができる。
また、階調数が多い場合、変換テーブルには適当にサンプリングした階調値のみが保存される場合もある。この場合、保存されていない階調値に対応する劣化率又は劣化量は、補間演算によって算出する。

補正値決定部３３Ｂは、算出された累積劣化量に応じ、劣化特性を補正する補正値を決定する処理デバイスである。
ここでは、図８に示す累積劣化量−補正値変換テーブルを使用する。図８は、この種の変換テーブルの一例である。図８の場合、等間隔に累積劣化量の区分を設定し、各区分に補正値Ｘを対応付けている。
補正値Ｘは、図９に示す累積劣化量と輝度低下特性から導出される勾配の変化に基づいて決定される。

すなわち、初期の劣化傾向（劣化勾配）ａに対する相対値として決定する。例えば、劣化率が９５％の時点の劣化傾向（劣化勾配）をｂとすると、この時点での補正値はｂ／ａで与えられる。同様に、劣化率が９０％の時点の劣化傾向（劣化勾配）をｃとすると、この時点での補正値はｃ／ａで与えられる。なお、各時点の劣化傾向（劣化勾配）は、図９に示す特性曲線の接線の勾配で定義する。
図８に示す変換テーブルは、このように決定した補正値が保存されている。

変換テーブル書き換え部３３Ｃは、基準画素の累積劣化量に応じて決定された補正値に基づいて変換テーブルの情報を書き換える処理デバイスである。変換テーブル書き換え部３３Ｃには、自発光素子の初期特性値に応じた劣化率を階調値別に保存した変換テーブル３３Ｃ’が内蔵されている。変換テーブル３３Ｃ’は、階調値−劣化率変換テーブル３３Ｄと同様の構成でなる。
変換テーブル書き換え部３３Ｃは、変換テーブル３３Ｃ’の各値に補正値を乗算し、階調値−劣化率変換テーブル３３Ｄの内容を更新する。すなわち、階調値に対応する劣化率（場合によっては、劣化量も含む。）を補正後の値に書き換える。

以上説明した劣化特性調整部３３の処理内容をまとめると、図１０に示すようになる。
まず、累積劣化量算出部３３Ａにおいて、現時点までに積算された基準画素についての累積劣化量が確認される（Ｓ１）。
次に、補正値決定部３３Ｂにおいて、累積劣化量に対する補正値が図８に示す累積劣化量−補正値変換テーブルを用いて決定される（Ｓ２）。
この後、変換テーブル書き換え部３３Ｃは、劣化率の初期値に補正値を一律に乗算し、乗算結果を階調値−劣化率変換テーブル３３Ｄの現在値として書き込む（Ｓ３）。

基準画素についての新たな階調値が確定すると、累積劣化量算出部３３Ａが階調値に対応する劣化率を階調値−劣化率変換テーブル３３Ｄから導出する（Ｓ４）。
累積劣化量算出部３３Ａは、導出された劣化率に基づいて発光期間に対応する劣化量を算出し、これを前回算出された累積劣化量に加算することで、累積劣化量を更新する（Ｓ５）。
この後、劣化特性調整部３３は、ステップＳ１の処理に戻り、一連の処理を繰り返す。
この一連の処理により、自発光素子の経時変化と階調値の違いに応じた適切な劣化率を常に用意する。

なお、階調値−劣化率変換テーブル３３Ｄは、劣化量差算出部５及び補正量決定部９において適時参照され、画素間の累積劣化量差の算出や入力信号（階調値）に対する補正量の算出に使用される。
図１１に、この形態例に係る補正装置３１の焼き付き現象の補正動作を示す。
まず、劣化量差算出部５が、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて、表示階調値とその階調値での発光期間ｔ１を検出する（Ｓ１１）。

次に、劣化量差算出部５は、劣化特性調整部３（階調値−劣化率変換テーブル３３Ｄ）から各画素の階調値に対応する劣化率を導出する（Ｓ１２）。勿論、ここでの劣化率は、経時変化を反映して補正された劣化率である。補正対象画素に対応する劣化率をＸ１で表し、基準画素に対応する劣化率をＸ２で表す。
続いて、劣化量差算出部５は、導出された劣化率に発光期間を乗算し、各画素に対応する劣化量Ｒを算出する。ここで、補正対象画素に対応する劣化量をＲ１、基準画素に対応する劣化量をＲ２で表現すると、各劣化量は次式で算出される（Ｓ１３）。
Ｒ１＝Ｘ１・ｔ１
Ｒ２＝Ｘ２・ｔ１

次に、劣化量差算出部５は、補正対象画素と基準画素の劣化量差ΔＲ（＝Ｒ１−Ｒ２）を算出する（Ｓ１４）。
累積劣化量差算出部７は、各画素について劣化量差ΔＲが算出されると、対応する累積劣化量差に劣化量差ΔＲを加算し、累積劣化量差を更新する（Ｓ１５）。
補正量決定部９は、累積劣化量差蓄積部１３に蓄積されている累積劣化量差がゼロか否か判定する（Ｓ１６）。
ゼロの場合、補正量決定部９は、焼き付き現象の補正動作は不要と判定する。この結果、当該画素についての補正動作はステップＳ１に戻る。
一方、ゼロ以外の場合、補正量決定部９は、補正対象画素と基準画素との間の劣化量差を縮小できる劣化率を決定する。劣化率は、例えば補正すべき累積劣化量差を補正期間ｔ２で除算して算出する。

次に、補正量決定部９は、劣化特性調整部３（階調値−劣化率変換テーブル３３Ｄ）から算出した劣化率に対応する階調値を導出する（Ｓ１７）。この補正値は、経時変化を反映した値である。
この後、劣化量差補正部１５は、導出された階調値を補正値として入力し、表示デバイスに出力される対象画像の階調値を補正する。この補正処理により、焼き付き現象は経時変化を問わず確実に補正される。
なお、この形態例の場合は、補正効果を累積劣化量差に反映させる必要がある。そこで、補正値としての階調値の補正効果が補正効果予測部１１において予測される。具体的には、補正期間ｔ２に縮小される劣化量差ΔＲ２が算出され、累積劣化量差算出部７に出力される。

累積劣化量差算出部７は、この劣化量差ΔＲ２を対応する累積劣化量差から減算し、補正効果を反映させる（Ｓ１８）。
この処理が終了すると、補正量決定部９によるステップＳ１６の判定処理が再び実行される。以上一連の処理動作の繰り返しにより、対象画素間の累積劣化量差はどの時点でも確実に補正される。

（Ｄ）自発光装置への搭載例
図１２に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置４１は、筐体４３に焼き付き現象補正装置４５と表示デバイス４７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置４５は、前述した補正装置１、２１、３１のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置４５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。

また、表示デバイス４７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図１２の場合、自発光装置４１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置４５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。

（Ｆ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、発光期間ｔ１と補正期間ｔ２が任意長の場合について説明した。
しかし、発光期間ｔ１と補正期間ｔ２は同じでも良い。例えば、単位フィールド又は単位フレームでも良い。この場合、劣化量は、各入力信号値又はその換算値（例えば劣化率）で算出できる。

（ｂ）前述の形態例３では、自発光素子の初期特性値に応じた劣化率を階調値別に保存した変換テーブル３３Ｃ’を用意し、補正値決定部３３Ｂで算出された補正値を乗算することで経時変化を劣化率に反映する方法について説明した。
しかし、全ての階調値について経時変化を反映した劣化率を対応付けた変換テーブルを累積劣化量の区分毎に複数用意し、累積劣化量の区分に対応する一つの変換テーブルを選択する手法を採用しても良い。

（ｃ）前述の形態例３では、変換テーブルとして単位フレームの階調値と劣化率の対応関係を保存する場合について説明した。
しかし、複数フレームに対応する階調値の積算値と劣化率の対応関係を保存しても良い。この場合、発光期間ｔ１と補正期間ｔ２をそれぞれ複数フレームで与える場合に効果的である。
（ｄ）前述の形態例では、使用状態のまま焼き付き現象を補正する場合について説明したが、非使用状態において焼き付きを補正することもできる。
（ｅ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。

輝度劣化の進行特性を示す図である。 焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。 劣化特性調整部の形態例を示す図である。 累積劣化量−補正値変換テーブルを示す図である。 焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。 劣化特性調整部の他の形態例を示す図である。 階調値と劣化率との対応関係を保持する変換テーブル例を示す図である。 累積劣化量−補正値変換テーブルを示す図である。 経時変化による劣化量と階調値との対応関係を示す図である。 劣化特性調整部の処理動作例を示すフローチャートである。 補正装置の焼き付き補正動作例を示すフローチャートである。 自発光装置の構成例を示す図である。

符号の説明

１、２１、３１ 焼き付き現象補正装置
３、３３ 劣化特性調整部
３Ａ、３３Ａ 累積劣化量算出部
３Ｂ、３３Ｂ 補正値決定部
３Ｃ 補正値保持部
５ 劣化量差算出部
７ 累積劣化量差算出部
９ 補正量決定部
１１ 補正効果予測部
１３ 累積劣化量差蓄積部
１５ 劣化量差補正部
３３Ｃ 変換テーブル書き換え部
３３Ｄ 階調値−劣化率変換テーブル

Claims (17)

1. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
   経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
   各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
   前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する処理と、
   自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理と
   を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
2. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記劣化量差は、前記補正量による補正処理前の入力信号に基づいて算出される
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
3. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記劣化量差は、前記補正量による補正処理後の入力信号に基づいて算出される
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
4. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記経時変化を反映した劣化特性は、基準画素の累積劣化量に関連づけられた変換情報である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
5. 請求項４に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記変換情報は、入力信号から算出される劣化量差に乗算される補正係数である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
6. 請求項６に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記変換情報は、入力信号に対応付けられた換算値である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
7. 請求項４に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記換算値は、個々の入力信号値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した劣化率として与えられる
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
8. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記基準画素は、同色で発光する複数の自発光素子毎に設定される
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
9. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
   前記基準画素は、補正量の算出用に仮想的に設定された画素である
   ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
10. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
    前記入力信号は、輝度を指定する階調値である
    ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
11. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
    前記入力信号は、自発光素子に印加される駆動電流値である
    ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
12. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置であって、
    経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
    各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
    前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する補正量決定部と、
    自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する入力信号補正部と
    を有することを特徴とする自発光装置。
13. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象補正装置であって、
    経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
    各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
    前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する補正量決定部と、
    自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する入力信号補正部と
    を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
14. 請求項１３に記載の焼き付き現象補正装置は、
    経時変化に応じて劣化特性を調整する劣化特性調整部
    を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
15. 請求項１４に記載の焼き付き現象補正装置において、
    前記劣化特性調整部は、
    基準画素の累積劣化量を算出する累積劣化量算出部と、
    算出された累積劣化量に応じ、劣化特性を選択する劣化特性選択部と
    を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
16. 請求項１４に記載の焼き付き現象補正装置において、
    前記劣化特性調整部は、
    基準画素の累積劣化量を算出する累積劣化量算出部と、
    算出された累積劣化量に応じ、劣化特性を補正する劣化特性補正部と
    を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
17. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
    経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
    各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
    前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する処理と、
    自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理と
    を実行させることを特徴とするプログラム。
    

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