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JP2006291284A - Partial plating method and method for manufacturing circuit board - Google Patents

Partial plating method and method for manufacturing circuit board Download PDF

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JP2006291284A
JP2006291284A JP2005113173A JP2005113173A JP2006291284A JP 2006291284 A JP2006291284 A JP 2006291284A JP 2005113173 A JP2005113173 A JP 2005113173A JP 2005113173 A JP2005113173 A JP 2005113173A JP 2006291284 A JP2006291284 A JP 2006291284A
Authority
JP
Japan
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plated
plating method
electroless
catalyst
photoreactive layer
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2005113173A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenichi Mimori
健一 三森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Alps Electric Co Ltd filed Critical Alps Electric Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To partially form an electroless-plated film superior in adhesiveness on the surface of an inorganic oxide with high accuracy. <P>SOLUTION: This partial plating method comprises the steps of: forming a photoreactive layer 2 on the surface of an article 1 to be plated; selectively exposing the photoreactive layer 2 to ultra-violet rays UV; removing an exposed part of the photoreactive layer 2 from the surface of the article 1; imparting a catalyst 4 to the part of the article 1, in which the photoreactive layer 2 has been removed; and forming the electroless-plated film 5 on the part of the article 1, to which the catalyst 4 has been imparted. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、被めっき物の表面に無電解めっき被膜を部分的に形成する部分めっき方法、並びにそのような部分めっき方法を用いて、無電解めっき被膜からなる回路パターンを回路基板上に形成する回路基板の製造方法に関する。   The present invention provides a partial plating method for partially forming an electroless plating film on the surface of an object to be plated, and a circuit pattern made of an electroless plating film on a circuit board by using such a partial plating method. The present invention relates to a method for manufacturing a circuit board.

従来、無電解めっき被膜からなる回路パターンを回路基板上に形成する場合には、先ず、この回路基板となる基材の表面に無電解めっき法によって無電解めっき被膜を形成する。次に、この無電解めっき被膜上にフォトリソグラフィ技術によりパターニングされたレジスト層を形成する。次に、このレジスト層をマスクとして無電解めっき被膜をエッチングした後にレジスト層を除去する。これにより、所定の形状にパターニングされた無電解めっき被膜からなる回路パターンを回路基板上に形成することができる。また、回路基板となる基材の表面にフォトリソグラフィ技術によりパターニングされたレジスト層を形成し、この上に無電解めっき法によって無電解めっき被膜を成膜した後に、レジスト層をリフトオフすることによって、所定の形状にパターニングされた無電解めっき被膜からなる回路パターンを回路基板上に形成することもできる。   Conventionally, when a circuit pattern made of an electroless plating film is formed on a circuit board, first, an electroless plating film is formed on the surface of a base material to be the circuit board by an electroless plating method. Next, a resist layer patterned by a photolithography technique is formed on the electroless plating film. Next, after etching the electroless plating film using this resist layer as a mask, the resist layer is removed. Thereby, the circuit pattern which consists of an electroless-plating film patterned by the predetermined shape can be formed on a circuit board. In addition, by forming a resist layer patterned by photolithography technology on the surface of a base material to be a circuit board, and forming an electroless plating film thereon by an electroless plating method, the resist layer is lifted off, A circuit pattern made of an electroless plating film patterned in a predetermined shape can also be formed on the circuit board.

しかしながら、何れの場合も、全面に亘ってめっき被膜を形成した後に、このめっき被膜をパターンに従って部分的に除去する方法であるため、めっき後にリフトオフされるめっき被膜や、エッチングによって除去されるめっき被膜が無駄となってしまうといった欠点がある。また、エッチング後にめっき被膜上からレジスト層を除去する際や、めっき後にレジスト層をリフトオフする際に、このレジスト層が完全に除去されずに残ったり、めっき被膜の表面が粗れてしまうなどの欠点もある。   However, in any case, after the plating film is formed over the entire surface, this plating film is partially removed according to the pattern. Therefore, the plating film lifted off after plating or the plating film removed by etching. Has the disadvantage of becoming useless. In addition, when the resist layer is removed from the plating film after etching, or when the resist layer is lifted off after plating, the resist layer is not completely removed or the surface of the plating film is roughened. There are also drawbacks.

そこで、めっき後にめっき被膜をパターニングすることなく、直接基板の表面に所定の形状に従ってめっき被膜を形成する部分めっき方法が提案されている(例えば、特許文献1を参照。)。具体的に、この特許文献1に記載される部分めっき方法では、先ず、酸化物基板の表面に1個又は数個の感光性シラン単分子層を形成する。次に、この感光性シラン層をパターンに従って露光する。次に、少なくとも1個のフッ素原子を有するアルコールで露光部分をエステル化して、この露光部分を強疎水性にする。次に、未露光区域を露光して、この区域を親水性にする。次に、この親水性区域を無電解法で金属化して、金属パターンを形成する。以上のような部分めっき方法によれば、親水性区域のみめっき被膜を形成することができるため、直接酸化物基板の表面をパターンに従って部分めっきすることができる。   Therefore, a partial plating method has been proposed in which a plating film is formed directly on the surface of a substrate according to a predetermined shape without patterning the plating film after plating (see, for example, Patent Document 1). Specifically, in the partial plating method described in Patent Document 1, first, one or several photosensitive silane monolayers are formed on the surface of an oxide substrate. Next, this photosensitive silane layer is exposed according to a pattern. Next, the exposed portion is esterified with an alcohol having at least one fluorine atom to render the exposed portion highly hydrophobic. Next, the unexposed area is exposed to make it hydrophilic. Next, this hydrophilic area is metallized by an electroless method to form a metal pattern. According to the partial plating method as described above, since the plating film can be formed only in the hydrophilic area, the surface of the oxide substrate can be directly plated according to the pattern.

しかしながら、この特許文献1に記載される部分めっき方法では、汎用的な銅めっき液が強塩基性であり、この銅めっき液によって上述した感光シラン単分子層が加水分解してしまう虞があるため、例えば回路基板上に回路パターンを形成する際に必要な銅めっき被膜を形成することができない。また、上述した未露光区域を露光した際に、最初の露光によってエステル化した露光部分の一部が親水化してしまう虞もあるため、回路基板上に回路パターンを高精度に形成することができない。
特開平6−202343号公報
However, in the partial plating method described in Patent Document 1, a general-purpose copper plating solution is strongly basic, and the above-described photosensitive silane monolayer may be hydrolyzed by the copper plating solution. For example, a copper plating film necessary for forming a circuit pattern on a circuit board cannot be formed. In addition, when the above-mentioned unexposed area is exposed, there is a possibility that a part of the exposed portion esterified by the first exposure may become hydrophilic, so that a circuit pattern cannot be formed on the circuit board with high accuracy. .
JP-A-6-202343

そこで、本発明は、かかる問題に鑑みてなされたもので、その目的は、密着性に優れた無電解めっき被膜を被めっき物の表面に精度良く部分めっきすることが可能な部分めっき方法を提供することにある。
また、本発明の目的は、そのような部分めっき方法を用いることによって、無電解めっき被膜からなる回路パターンを回路基板上に高精度に形成することが可能な回路基板の製造方法を提供することにある。
Therefore, the present invention has been made in view of such problems, and its purpose is to provide a partial plating method capable of accurately partially plating an electroless plating film having excellent adhesion on the surface of an object to be plated. There is to do.
Another object of the present invention is to provide a circuit board manufacturing method capable of forming a circuit pattern made of an electroless plating film on a circuit board with high accuracy by using such a partial plating method. It is in.

本発明に係る部分めっき方法は、少なくとも表面が酸化物からなる被めっき物の表面に光反応層を形成する光反応層形成工程と、光反応層を紫外線で選択的に露光する露光工程と、光反応層の露光部分を被めっき物の表面から除去する除去工程と、被めっき物の光反応層が除去された部分に触媒を付与する触媒付与工程と、被めっき物の触媒が付与された部分に無電解めっき被膜を形成する無電解めっき工程とを含むことを特徴とする。
また、光反応層形成工程においては、トリフルオロシランを含有するシランカップリング剤を用いて、被めっき物の表面に光反応層となる感光性シラン単分子膜を形成することを特徴とする。
また、シランカップリング剤は、トリフルオロメトキシシラン又はトリフルオロエトキシシランを含有することを特徴とする。
また、被めっき物は、ガラス、セラミックス、又はこれらを1種以上含む混合基材からなる無機酸化物であることを特徴とする。
また、露光工程においては、被めっき物上にマスクを配して紫外線を照射し、マスクのパターンを光反応層に投影露光することを特徴とする。
また、除去工程においては、希弗酸、バッファード弗酸、弗酸と過酸化水素水との混合液、弗酸とヨウ素酸との混合液の中から選ばれる溶液を用いて、光反応層の露光部分を除去することを特徴とする。
また、触媒付与工程においては、金属パラジウムを触媒として付与することを特徴とする。
また、無電解めっき工程においては、被めっき物の触媒が付与された部分に、銅めっき被膜、ニッケルめっき被膜、金めっき被膜の中から選ばれる少なくとも1種又は2種以上の無電解めっき被膜を形成することを特徴とする。
また、無電解めっき工程においては、Niイオンを含む銅めっき液を用いて、被めっき物の触媒が付与された部分に無電解銅めっき被膜を形成することを特徴とする。
また、無電解めっき工程の後には、被めっき物に対して熱処理を行う熱処理工程を含むことを特徴とする。
また、熱処理工程においては、不活性ガス雰囲気又は真空雰囲気中で、200℃以上、被めっき物のガラス転移温度未満の範囲で、被めっき物に対して熱処理を行うことを特徴とする。
また、熱処理工程においては、熱処理時間を10分〜12時間の範囲とすることを特徴とする。
また、本発明に係る回路基板の製造方法は、本発明に係る部分めっき方法を用いて、無電解めっき被膜からなる回路パターンを回路基板上に形成することを特徴とする。
The partial plating method according to the present invention includes a photoreactive layer forming step of forming a photoreactive layer on the surface of an object to be plated at least having an oxide surface, an exposure step of selectively exposing the photoreactive layer with ultraviolet rays, A removal step of removing the exposed portion of the photoreactive layer from the surface of the object to be plated, a catalyst applying step of applying a catalyst to the portion of the object to be plated where the photoreactive layer has been removed, and a catalyst of the object to be plated were provided. And an electroless plating step of forming an electroless plating film on the portion.
In the photoreactive layer forming step, a photosensitive silane monomolecular film that becomes a photoreactive layer is formed on the surface of the object to be plated using a silane coupling agent containing trifluorosilane.
The silane coupling agent contains trifluoromethoxysilane or trifluoroethoxysilane.
Further, the object to be plated is an inorganic oxide composed of glass, ceramics, or a mixed base material containing one or more of these.
In the exposure step, a mask is arranged on the object to be plated and irradiated with ultraviolet rays, and the mask pattern is projected and exposed to the photoreactive layer.
In the removing step, a photoreactive layer is prepared using a solution selected from dilute hydrofluoric acid, buffered hydrofluoric acid, a mixed liquid of hydrofluoric acid and hydrogen peroxide, and a mixed liquid of hydrofluoric acid and iodic acid. The exposed portion is removed.
In the catalyst application step, metal palladium is applied as a catalyst.
Further, in the electroless plating step, at least one or two or more types of electroless plating films selected from a copper plating film, a nickel plating film, and a gold plating film are provided on the portion of the object to be plated that is provided with the catalyst. It is characterized by forming.
In the electroless plating step, an electroless copper plating film is formed on a portion of the object to be plated with a catalyst using a copper plating solution containing Ni ions.
Moreover, after the electroless-plating process, the heat processing process of heat-processing with respect to a to-be-plated object is included.
In the heat treatment step, the object to be plated is heat-treated in an inert gas atmosphere or a vacuum atmosphere at a temperature of 200 ° C. or higher and lower than the glass transition temperature of the object to be plated.
In the heat treatment step, the heat treatment time is in the range of 10 minutes to 12 hours.
The circuit board manufacturing method according to the present invention is characterized in that a circuit pattern made of an electroless plating film is formed on a circuit board using the partial plating method according to the present invention.

以上のように、本発明に係る部分めっき方法では、被めっき物の表面に光反応層を形成し、この光反応層を紫外線で選択的に露光し、この光反応層の露光部分を被めっき物の表面から除去し、この被めっき物の光反応層が除去された部分に触媒を付与し、この触媒が付与された部分に無電解めっき被膜を形成することによって、この無電解めっき被膜を被めっき物の表面に精度良く部分めっきすることができる。
また、本発明に係る回路基板の製造方法では、そのような部分めっき方法を用いることによって、無電解めっき被膜からなる回路パターンを回路基板上に高精度に形成することができる。
As described above, in the partial plating method according to the present invention, the photoreactive layer is formed on the surface of the object to be plated, the photoreactive layer is selectively exposed with ultraviolet rays, and the exposed part of the photoreactive layer is plated. The electroless plating film is formed by applying a catalyst to the portion where the photoreactive layer of the object to be plated is removed and forming an electroless plating film on the portion where the catalyst is applied. Partial plating can be performed with high accuracy on the surface of the object to be plated.
Moreover, in the method for manufacturing a circuit board according to the present invention, by using such a partial plating method, a circuit pattern made of an electroless plating film can be formed on the circuit board with high accuracy.

以下、本発明を適用した部分めっき方法及び回路基板の製造方法について、図面を参照して詳細に説明する。   Hereinafter, a partial plating method and a circuit board manufacturing method to which the present invention is applied will be described in detail with reference to the drawings.

本発明を適用した部分めっき方法は、図1に示すように、回路基板となる無機酸化物基板1上に、例えば無電解銅(Cu)めっき被膜からなる配線等の回路パターンを形成する回路基板の製造方法に用いられる。無機酸化物基板1には、例えば、ガラス、セラミックス、又はこれらを1種以上含む混合基材等を用いることができる。また、無機酸化物は、このような基板状のものに必ずしも限定されるものではなく、所定の形状に加工されたものであってもよい。さらに、被めっき物としては、少なくとも表面が酸化物からなるものであればよく、表面に酸素があれば金属や有機物等であっても、後述する部分めっきを施すことができる。   As shown in FIG. 1, a partial plating method to which the present invention is applied is a circuit board in which a circuit pattern such as a wiring made of an electroless copper (Cu) plating film is formed on an inorganic oxide substrate 1 to be a circuit board. Used in the manufacturing method. For the inorganic oxide substrate 1, for example, glass, ceramics, or a mixed base material including one or more of these can be used. In addition, the inorganic oxide is not necessarily limited to such a substrate shape, and may be processed into a predetermined shape. Furthermore, as the object to be plated, it is sufficient that at least the surface is made of an oxide, and if there is oxygen on the surface, even if it is a metal or an organic material, partial plating described later can be performed.

そして、この無機酸化物基板1に部分めっきを施す前には、無機酸化物基板1の表面にOH基を多く配置させるための処理として、酸(硫酸過水)やアルカリ、温水(純水)などを用いた超音波洗浄や、紫外線を用いた洗浄を無機酸化物基板1に対して行っておくことが望ましい。これにより、無機酸化物基板1の表面から密着性を阻害する油脂や塵埃などを取り除くと共に、後述するシランカップリング剤が無機酸化物基板1の表面に強固に付着し結合できる素地を形成しておくことができる。   And before performing partial plating on this inorganic oxide substrate 1, as a process for arranging many OH groups on the surface of the inorganic oxide substrate 1, acid (sulfuric acid / hydrogen peroxide), alkali, hot water (pure water) Desirably, the inorganic oxide substrate 1 is subjected to ultrasonic cleaning using UV or the like or cleaning using ultraviolet rays. This removes oils and fats and the like that hinder adhesion from the surface of the inorganic oxide substrate 1 and forms a substrate on which a silane coupling agent, which will be described later, firmly adheres to and binds to the surface of the inorganic oxide substrate 1. I can leave.

このような無機酸化物基板1の表面に部分めっきを施す際は、先ず、図2に示す光反応層形成工程として、無機酸化物基板1の表面に光反応層2を形成する。具体的には、シランカップリング剤を用いて、無機酸化物基板1の表面に光反応層2となる感光性シラン単分子膜を形成する。シランカップリング剤には、トリフルオロメトキシシランや、トリフルオロエトキシシラン等のトリフルオロシランを含有するもの、例えばトリフルオロプロピルトリメトキシシランや、トリフルオロプロピルトリエトキシシラン等を用いることができる。   When performing partial plating on the surface of the inorganic oxide substrate 1, first, as the photoreactive layer forming step shown in FIG. 2, the photoreactive layer 2 is formed on the surface of the inorganic oxide substrate 1. Specifically, a photosensitive silane monomolecular film that becomes the photoreactive layer 2 is formed on the surface of the inorganic oxide substrate 1 using a silane coupling agent. As the silane coupling agent, those containing trifluorosilane such as trifluoromethoxysilane and trifluoroethoxysilane such as trifluoropropyltrimethoxysilane and trifluoropropyltriethoxysilane can be used.

次に、図3に示す露光工程として、光反応層2が形成された無機酸化物基板1上にマスク3を配して紫外線UVを照射し、このマスク3のパターンを光反応層2に投影露光する。このマスク3には、上述した回路パターンに対応した形状の開口部3aが設けられている。したがって、光反応層2は、このマスク3の開口部3aを通過する紫外線UVによって選択的に露光されることになる。   Next, as an exposure process shown in FIG. 3, a mask 3 is arranged on the inorganic oxide substrate 1 on which the photoreactive layer 2 is formed and irradiated with ultraviolet UV, and the pattern of the mask 3 is projected onto the photoreactive layer 2. Exposure. The mask 3 is provided with an opening 3a having a shape corresponding to the circuit pattern described above. Therefore, the photoreactive layer 2 is selectively exposed by the ultraviolet rays UV that pass through the openings 3 a of the mask 3.

次に、図4に示す除去工程として、光反応層2の露光部分を無機酸化物基板1の表面から洗浄により除去する。具体的に、この光反応層2を形成する感光性シラン単分子膜のうち、未露光部分は超撥水性を維持したまま無機酸化物基板1上に残り、露光部分は紫外線UVによって分解されて、洗浄により無機酸化物基板1上から除去される。この洗浄には、例えば、希弗酸や、バッファード弗酸、弗酸と過酸化水素水との混合液、弗酸とヨウ素酸との混合液等の溶液を用いることができる。   Next, as the removing step shown in FIG. 4, the exposed portion of the photoreactive layer 2 is removed from the surface of the inorganic oxide substrate 1 by washing. Specifically, in the photosensitive silane monomolecular film forming the photoreactive layer 2, the unexposed portion remains on the inorganic oxide substrate 1 while maintaining super water repellency, and the exposed portion is decomposed by ultraviolet UV. The inorganic oxide substrate 1 is removed by cleaning. For this cleaning, for example, a solution such as dilute hydrofluoric acid, buffered hydrofluoric acid, a mixed liquid of hydrofluoric acid and hydrogen peroxide, a mixed liquid of hydrofluoric acid and iodic acid, or the like can be used.

次に、図5に示す触媒付与工程として、無機酸化物基板1を例えばパラジウム(Pd)を含む触媒液に液浸させることによって、この無機酸化物基板1の光反応層2が除去された部分に少なくとも金属パラジウムを触媒4として付与する。具体的に、無機酸化物基板1の光反応層2が除去された部分は、上述した洗浄によって触媒4を付与するのに良好な面となる一方、無機酸化物基板1の光反応層2が残った部分(光反応層2の未露光部分)は、超撥水性を有する感光性シラン単分子膜によって触媒4の付着が阻止される。これにより、無機酸化物基板1の光反応層2が除去された部分にのみ触媒4を付与することができる。また、この触媒処理としては、例えば、塩化錫を含む溶液と塩化パラジウムを含む溶液とを用いた触媒処理や、塩化パラジウムと塩化錫とのコロイド溶液等を用いた触媒処理等を挙げることができる。   Next, as the catalyst application step shown in FIG. 5, the portion of the inorganic oxide substrate 1 from which the photoreactive layer 2 has been removed by immersing the inorganic oxide substrate 1 in a catalyst solution containing palladium (Pd), for example. At least metal palladium is added as catalyst 4 to the catalyst. Specifically, the portion of the inorganic oxide substrate 1 from which the photoreactive layer 2 has been removed becomes a good surface for applying the catalyst 4 by the above-described cleaning, while the photoreactive layer 2 of the inorganic oxide substrate 1 is The remaining portion (the unexposed portion of the photoreactive layer 2) is prevented from adhering to the catalyst 4 by the photosensitive silane monomolecular film having super water repellency. Thereby, the catalyst 4 can be provided only to the portion of the inorganic oxide substrate 1 from which the photoreactive layer 2 has been removed. Examples of the catalyst treatment include a catalyst treatment using a solution containing tin chloride and a solution containing palladium chloride, and a catalyst treatment using a colloidal solution of palladium chloride and tin chloride. .

次に、図6に示す無電解めっき工程として、無機酸化物基板1を例えばニッケル(Ni)イオンを含む銅めっき液に液浸させることによって、この無機酸化物基板1の触媒4が付与された部分に無電解銅めっき被膜5を形成する。これにより、無電解銅めっき被膜5を無機酸化物基板1の触媒4が付与された部分に部分めっきすることができる。   Next, as the electroless plating step shown in FIG. 6, the inorganic oxide substrate 1 was immersed in a copper plating solution containing, for example, nickel (Ni) ions, whereby the catalyst 4 of the inorganic oxide substrate 1 was applied. An electroless copper plating film 5 is formed on the portion. Thereby, the electroless copper plating film 5 can be partially plated on the portion of the inorganic oxide substrate 1 provided with the catalyst 4.

次に、図7に示す熱処理工程として、この無電解銅めっき被膜5が部分めっきされた無機酸化物基板1に対して熱処理を行う。具体的に、この無機酸化物1に対しては、不活性ガス雰囲気又は真空雰囲気中で、200℃以上、且つ、無機酸化物基板1のガラス転移温度未満の範囲で、熱処理を行うことが望ましい。また、熱処理時間は、10分〜12時間の範囲とすることが望ましい。そして、このような条件で熱処理を行うことによって、無電解銅めっき被膜5の無機酸化物基板1に対する密着力を発現させることができる。   Next, as a heat treatment step shown in FIG. 7, heat treatment is performed on the inorganic oxide substrate 1 on which the electroless copper plating film 5 is partially plated. Specifically, the inorganic oxide 1 is preferably heat-treated in an inert gas atmosphere or a vacuum atmosphere at a temperature of 200 ° C. or higher and lower than the glass transition temperature of the inorganic oxide substrate 1. . The heat treatment time is desirably in the range of 10 minutes to 12 hours. And by performing heat processing on such conditions, the adhesive force with respect to the inorganic oxide board | substrate 1 of the electroless copper plating film 5 can be expressed.

以上のように、本発明を適用した部分めっき方法では、無機酸化物基板1上に光反応層2を形成し、この光反応層2を紫外線UVで選択的に露光し、この光反応層2の露光部分を無機酸化物基板1上から除去し、この無機酸化物基板1の光反応層2が除去された部分に触媒4を付与し、この触媒4が付与された部分に無電解銅めっき被膜5を形成することによって、この無電解銅めっき被膜5を無機酸化物基板1上に精度良く部分めっきすることができる。
また、この部分めっき方法では、上記無電解めっき工程において、強塩基性の銅めっき液によってシラン単分子膜からなる光反応層2が加水分解してしまう虞がある場合でも、無電解銅めっき被膜5は無機酸化物基板1の触媒4が付与された部分にのみ形成されるために、このような光反応層2の加水分解に関係なく、無電解銅めっき被膜5を無機酸化物基板1の触媒4が付与された部分に精度良く部分めっきすることができる。
また、この部分めっき方法では、上記熱処理工程を経ることによって、無電解銅めっき被膜5の無機酸化物基板1に対する密着力を向上させることができる。
As described above, in the partial plating method to which the present invention is applied, the photoreactive layer 2 is formed on the inorganic oxide substrate 1, the photoreactive layer 2 is selectively exposed with ultraviolet UV, and the photoreactive layer 2 The exposed portion is removed from the inorganic oxide substrate 1, the catalyst 4 is applied to the portion of the inorganic oxide substrate 1 where the photoreactive layer 2 is removed, and the electroless copper plating is applied to the portion where the catalyst 4 is applied. By forming the coating 5, the electroless copper plating coating 5 can be partially plated with high precision on the inorganic oxide substrate 1.
Further, in this partial plating method, even when the photoreactive layer 2 made of a silane monomolecular film may be hydrolyzed by the strongly basic copper plating solution in the electroless plating step, the electroless copper plating film 5 is formed only on the portion of the inorganic oxide substrate 1 to which the catalyst 4 is applied. Therefore, the electroless copper plating film 5 is formed on the inorganic oxide substrate 1 regardless of the hydrolysis of the photoreactive layer 2. The portion plated with the catalyst 4 can be partially plated with high accuracy.
Moreover, in this partial plating method, the adhesive force with respect to the inorganic oxide board | substrate 1 of the electroless copper plating film 5 can be improved by passing through the said heat processing process.

以上のようにして、本発明を適用した部分めっき方法では、密着性に優れた無電解銅めっき被膜5を無機酸化物基板1上に精度良く部分めっきすることができる。また、本発明を適用した回路基板の製造方法では、そのような部分めっき方法を用いることによって、密着性に優れた無電解銅めっき被膜5からなる回路パターンを回路基板となる無機酸化物基板1上に高精度に形成することができる。   As described above, in the partial plating method to which the present invention is applied, the electroless copper plating film 5 excellent in adhesion can be partially plated on the inorganic oxide substrate 1 with high accuracy. Further, in the method for manufacturing a circuit board to which the present invention is applied, by using such a partial plating method, an inorganic oxide substrate 1 which becomes a circuit board from a circuit pattern made of an electroless copper plating film 5 having excellent adhesion. It can be formed on the top with high accuracy.

なお、本発明を適用した部分めっき方法では、上記無電解めっき工程において、無機酸化物基板1の触媒4が付与された部分に、上述した無電解銅めっき被膜5の他にも、ニッケルめっき被膜や、金めっき被膜、又は、これらの中から選ばれる少なくとも2種以上の無電解めっき被膜を形成することができる。   In the partial plating method to which the present invention is applied, in the electroless plating step, the portion of the inorganic oxide substrate 1 to which the catalyst 4 is applied is applied to the nickel plating film in addition to the electroless copper plating film 5 described above. Alternatively, a gold plating film or at least two or more electroless plating films selected from these can be formed.

以下、実施例により本発明の効果をより明らかなものとするが、以下の実施例は本発明の技術範囲を限定するものではない。
(実施例1)
実施例1では、先ず、被めっき物として直径100mm、厚さ0.7mmのホウ珪酸ガラス基板を用意し、この基板を濃度6.5%の水酸化ナトリウム(NaOH)水溶液に、50℃の温度で3分間液浸させてからリンスすることによって、基板表面の洗浄を行った。次に、基板を濃度0.01容量%のトリフルオロプロピルトリメトキシシラン水溶液に3分間液浸させてからリンスし、この基板を120℃の温度で1時間熱処理することによって、基板の表面に感光性シラン単分子膜を形成した。次に、基板に波長172nmの紫外線を10mW/cmの強さで5分照射した。次に、基板を濃度1.33%の塩化錫水溶液と、濃度0.54%の塩酸とを含む塩酸酸性溶液に常温で3分間液浸してからリンスした後に、濃度0.015%の塩化パラジウム水溶液に30℃の温度で2分間液浸させてからリンスすることによって、この基板の表面に金属パラジウムを触媒として付与した。次に、銅が約0.25g/L(0.0039mol/L)、ニッケルが約0.023g/L(0.00039mol/L)添加され、還元剤として約0.2%のホルムアルデヒドを含み、錯化剤として酒石酸ナトリウムカリウム4水和物(ロッシェル塩)を含み、キレート剤を約0.1%含むめっき浴に、基板を36℃の温度で1時間液浸させることによって、この基板の表面に膜厚約2.0μmの無電解銅めっき被膜を形成した。また、このめっき液のpH調整は、NaOHで行い、約1.5g/L添加することによって、pHは約12.6とした。次に、基板を約1Torrの真空雰囲気下で300℃の温度で1時間熱処理を行った。
Hereinafter, the effects of the present invention will be clarified by examples. However, the following examples do not limit the technical scope of the present invention.
Example 1
In Example 1, first, a borosilicate glass substrate having a diameter of 100 mm and a thickness of 0.7 mm was prepared as an object to be plated, and this substrate was placed in a sodium hydroxide (NaOH) aqueous solution having a concentration of 6.5% at a temperature of 50 ° C. The substrate surface was cleaned by immersing for 3 minutes and then rinsing. Next, the substrate is immersed in a 0.01% by volume trifluoropropyltrimethoxysilane aqueous solution for 3 minutes, rinsed, and this substrate is heat treated at a temperature of 120 ° C. for 1 hour, so that the surface of the substrate is exposed to light. A functional silane monomolecular film was formed. Next, the substrate was irradiated with ultraviolet light having a wavelength of 172 nm at an intensity of 10 mW / cm 2 for 5 minutes. Next, the substrate was immersed in a hydrochloric acid acidic solution containing a tin chloride aqueous solution having a concentration of 1.33% and hydrochloric acid having a concentration of 0.54% for 3 minutes at room temperature and rinsed, and then palladium chloride having a concentration of 0.015%. By immersing in an aqueous solution at a temperature of 30 ° C. for 2 minutes and rinsing, metal palladium was applied to the surface of the substrate as a catalyst. Next, about 0.25 g / L (0.0039 mol / L) of copper, about 0.023 g / L (0.00039 mol / L) of nickel are added, and about 0.2% formaldehyde is included as a reducing agent, The surface of this substrate was immersed in a plating bath containing sodium potassium tartrate tetrahydrate (Rochelle salt) as a complexing agent and containing about 0.1% of a chelating agent at a temperature of 36 ° C. for 1 hour. An electroless copper plating film having a thickness of about 2.0 μm was formed. The pH of the plating solution was adjusted with NaOH, and the pH was adjusted to about 12.6 by adding about 1.5 g / L. Next, the substrate was heat-treated at a temperature of 300 ° C. for 1 hour in a vacuum atmosphere of about 1 Torr.

(実施例2)
実施例2では、先ず、被めっき物として直径100mm、厚さ0.7mmのホウ珪酸ガラス基板を用意し、この基板を濃度6.5%の水酸化ナトリウム(NaOH)水溶液に、50℃の温度で3分間液浸させてからリンスすることによって、基板表面の洗浄を行った。次に、基板を濃度0.01容量%のトリフルオロプロピルトリメトキシシラン水溶液に3分間液浸させてからリンスし、この基板を120℃の温度で1時間熱処理することによって、基板の表面に感光性シラン単分子膜を形成した。次に、基板上にマスクを配して、波長172nmの紫外線を10mW/cmの強さで5分照射し、このマスクのパターンを感光性シラン単分子膜に投影露光した。次に、基板を濃度0.5%の希弗酸水溶液に1分間液浸させてからリンスすることによって、感光性シラン単分子膜の露光部分を基板の表面から洗浄により除去した。次に、基板を濃度1.33%の塩化錫水溶液と、濃度0.54%の塩酸とを含む塩酸酸性溶液に常温で3分間液浸してからリンスした後に、濃度0.015%の塩化パラジウム水溶液に30℃の温度で2分間液浸してからリンスすることによって、この基板の感光性シラン単分子膜が除去された部分に金属パラジウムを触媒として付与した。次に、銅が約0.25g/L(0.0039mol/L)、ニッケルが約0.023g/L(0.00039mol/L)添加され、還元剤として約0.2%のホルムアルデヒドを含み、錯化剤として酒石酸ナトリウムカリウム4水和物(ロッシェル塩)を含み、キレート剤を約0.1%含むめっき浴に、基板を36℃の温度で1時間液浸させることによって、この基板の触媒が付与された部分に膜厚約2.0μmの無電解銅めっき被膜を形成した。また、このめっき液のpH調整は、NaOHで行い、約1.5g/L添加することによって、pHは約12.6とした。次に、濃度0.015%の塩化パラジウム水溶液に30℃の温度で2分間液浸してからリンスすることによって、この基板の無電解銅めっき被膜が形成された部分に金属パラジウムを触媒として付与した。次に、Ni−Pめっき液(奥野製薬工業社製のニコロンGM−MP)に基板を80℃の温度で20分間液浸させることによって、この基板の無電解銅めっき被膜が形成された部分に無電解ニッケルめっき被膜を形成した。さらに、金めっき液(奥野製薬工業社製のムデンノーブル)に基板を60℃の温度で10分間液浸させることによって、この基板の無電解ニッケルめっき被膜が形成された部分に無電解金めっき被膜を形成した。次に、基板を約1Torrの真空雰囲気下で300℃の温度で1時間熱処理を行った。
(Example 2)
In Example 2, first, a borosilicate glass substrate having a diameter of 100 mm and a thickness of 0.7 mm was prepared as an object to be plated, and this substrate was placed in a sodium hydroxide (NaOH) aqueous solution having a concentration of 6.5% at a temperature of 50 ° C. The substrate surface was cleaned by immersing for 3 minutes and then rinsing. Next, the substrate is immersed in a 0.01% by volume trifluoropropyltrimethoxysilane aqueous solution for 3 minutes, rinsed, and this substrate is heat treated at a temperature of 120 ° C. for 1 hour, so that the surface of the substrate is exposed to light. A functional silane monomolecular film was formed. Next, a mask was placed on the substrate, and ultraviolet rays having a wavelength of 172 nm were irradiated at an intensity of 10 mW / cm 2 for 5 minutes, and the pattern of this mask was projected and exposed to a photosensitive silane monomolecular film. Next, the substrate was immersed in a dilute hydrofluoric acid aqueous solution having a concentration of 0.5% for 1 minute and rinsed to remove the exposed portion of the photosensitive silane monomolecular film from the surface of the substrate by washing. Next, the substrate was immersed in a hydrochloric acid acidic solution containing a tin chloride aqueous solution having a concentration of 1.33% and hydrochloric acid having a concentration of 0.54% for 3 minutes at room temperature and rinsed, and then palladium chloride having a concentration of 0.015%. By immersing in an aqueous solution at a temperature of 30 ° C. for 2 minutes and rinsing, metal palladium was applied as a catalyst to the portion of the substrate where the photosensitive silane monomolecular film was removed. Next, about 0.25 g / L (0.0039 mol / L) of copper, about 0.023 g / L (0.00039 mol / L) of nickel are added, and about 0.2% formaldehyde is included as a reducing agent, The substrate catalyst was immersed in a plating bath containing sodium potassium tartrate tetrahydrate (Rochelle salt) as a complexing agent and containing about 0.1% of a chelating agent at a temperature of 36 ° C. for 1 hour. An electroless copper plating film having a film thickness of about 2.0 μm was formed on the portion provided with. The pH of the plating solution was adjusted with NaOH, and the pH was adjusted to about 12.6 by adding about 1.5 g / L. Next, the substrate was immersed in an aqueous palladium chloride solution having a concentration of 0.015% at a temperature of 30 ° C. for 2 minutes, and then rinsed to give metallic palladium as a catalyst to the portion of the substrate on which the electroless copper plating film was formed. . Next, the substrate is immersed in Ni-P plating solution (Nicolon GM-MP manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) for 20 minutes at a temperature of 80 ° C., so that the portion of the substrate on which the electroless copper plating film is formed is applied. An electroless nickel plating film was formed. Further, the substrate is immersed in a gold plating solution (Muden Noble manufactured by Okuno Seiyaku Kogyo Co., Ltd.) for 10 minutes at a temperature of 60 ° C., so that the electroless gold plating film is formed on the portion of the substrate where the electroless nickel plating film is formed. Formed. Next, the substrate was heat-treated at a temperature of 300 ° C. for 1 hour in a vacuum atmosphere of about 1 Torr.

以上のような実施例1及び実施例2の各基板上に形成されためっき被膜の基板に対する密着力について測定を行ったところ、何れも50MPaを超える密着力を得た。なお、この密着力の測定には、QUAD GROUP社製のセバスチャンIV型を用い、標準のスタッドピンを接触して測定を行った。以上のことからも、実施例1及び実施例2では、めっき被膜が十分な密着性を得ていることがわかる。   When the adhesion strength of the plating film formed on each substrate of Example 1 and Example 2 as described above was measured, the adhesion force exceeding 50 MPa was obtained. For the measurement of the adhesion, Sebastian IV type manufactured by QUAD GROUP was used and contacted with a standard stud pin. From the above, it can be seen that in Example 1 and Example 2, the plating film has sufficient adhesion.

なお、本発明を適用した部分めっき方法は、上述した回路基板上に回路パターンを形成する場合に必ずしも限定されるものではなく、被めっき物の表面に無電解めっき被膜を部分めっきする場合に広く適用することができる。また、本発明は、上述した部分めっきに限らず、被めっき物の表面に無電解めっき被膜を全面に亘って形成する場合にも適用することができる。   Note that the partial plating method to which the present invention is applied is not necessarily limited to the case where the circuit pattern is formed on the circuit board described above, but is widely used when the electroless plating film is partially plated on the surface of the object to be plated. Can be applied. Further, the present invention is not limited to the above-described partial plating, and can be applied to the case where an electroless plating film is formed over the entire surface of the object to be plated.

図1は、本発明を適用した部分めっき方法を説明するための図であり、無機酸化物基板を示す断面図である。FIG. 1 is a view for explaining a partial plating method to which the present invention is applied, and is a sectional view showing an inorganic oxide substrate. 図2は、本発明を適用した部分めっき方法を説明するための図であり、無機酸化物基板上に光反応層が形成された状態を示す断面図である。FIG. 2 is a view for explaining a partial plating method to which the present invention is applied, and is a cross-sectional view showing a state in which a photoreactive layer is formed on an inorganic oxide substrate. 図3は、本発明を適用した部分めっき方法を説明するための図であり、光反応層を紫外線で選択的に露光する状態を示す断面図である。FIG. 3 is a view for explaining a partial plating method to which the present invention is applied, and is a cross-sectional view showing a state in which a photoreactive layer is selectively exposed with ultraviolet rays. 図4は、本発明を適用した部分めっき方法を説明するための図であり、光反応層の露光部分を無機酸化物基板上から除去した状態を示す断面図である。FIG. 4 is a diagram for explaining a partial plating method to which the present invention is applied, and is a cross-sectional view showing a state where an exposed portion of the photoreactive layer is removed from the inorganic oxide substrate. 図5は、本発明を適用した部分めっき方法を説明するための図であり、無機酸化物基板の光反応層が除去された部分に触媒を付与した状態を示す断面図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a partial plating method to which the present invention is applied, and is a cross-sectional view showing a state in which a catalyst is applied to a portion of the inorganic oxide substrate from which the photoreactive layer has been removed. 図6は、本発明を適用した部分めっき方法を説明するための図であり、無機酸化物基板の触媒が付与された部分に無電解銅めっき被膜を形成した状態を示す断面図である。FIG. 6 is a view for explaining a partial plating method to which the present invention is applied, and is a cross-sectional view showing a state in which an electroless copper plating film is formed on a portion of the inorganic oxide substrate provided with a catalyst. 図7は、本発明を適用した部分めっき方法を説明するための図であり、無機酸化物基板に対して熱処理を行った状態を示す断面図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a partial plating method to which the present invention is applied, and is a cross-sectional view showing a state in which a heat treatment is performed on an inorganic oxide substrate.

符号の説明Explanation of symbols

1…無機酸化物基板、2…光反応層、3…マスク、4…触媒、5…無電解銅めっき被膜   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Inorganic oxide substrate, 2 ... Photoreaction layer, 3 ... Mask, 4 ... Catalyst, 5 ... Electroless copper plating film

Claims (13)

少なくとも表面が酸化物からなる被めっき物の表面に光反応層を形成する光反応層形成工程と、
前記光反応層を紫外線で選択的に露光する露光工程と、
前記光反応層の露光部分を前記被めっき物の表面から除去する除去工程と、
前記被めっき物の前記光反応層が除去された部分に触媒を付与する触媒付与工程と、
前記被めっき物の前記触媒が付与された部分に無電解めっき被膜を形成する無電解めっき工程とを含む部分めっき方法。
A photoreactive layer forming step of forming a photoreactive layer on the surface of the object to be plated at least having an oxide surface;
An exposure step of selectively exposing the photoreactive layer with ultraviolet rays;
A removal step of removing the exposed portion of the photoreactive layer from the surface of the object to be plated;
A catalyst application step of applying a catalyst to the portion of the object to be plated from which the photoreactive layer has been removed;
A partial plating method including an electroless plating step of forming an electroless plating film on a portion of the object to be plated to which the catalyst is applied.
前記光反応層形成工程において、トリフルオロシランを含有するシランカップリング剤を用いて、前記被めっき物の表面に前記光反応層となる感光性シラン単分子膜を形成することを特徴とする請求項1に記載の部分めっき方法。   In the photoreactive layer forming step, a photosensitive silane monomolecular film to be the photoreactive layer is formed on the surface of the object to be plated using a silane coupling agent containing trifluorosilane. Item 2. The partial plating method according to Item 1. 前記シランカップリング剤は、トリフルオロメトキシシラン又はトリフルオロエトキシシランを含有することを特徴とする請求項2に記載の部分めっき方法。   The partial plating method according to claim 2, wherein the silane coupling agent contains trifluoromethoxysilane or trifluoroethoxysilane. 前記被めっき物は、ガラス、セラミックス、又はこれらを1種以上含む混合基材からなる無機酸化物であることを特徴とする請求項2又は3に記載の部分めっき方法。   The partial plating method according to claim 2 or 3, wherein the object to be plated is an inorganic oxide composed of glass, ceramics, or a mixed base material containing one or more of them. 前記露光工程において、前被めっき物上にマスクを配して紫外線を照射し、前記マスクのパターンを前記光反応層に投影露光することを特徴とする請求項2又は3に記載の部分めっき方法。   4. The partial plating method according to claim 2, wherein, in the exposure step, a mask is arranged on the object to be plated and irradiated with ultraviolet rays, and the pattern of the mask is projected and exposed onto the photoreactive layer. 5. . 前記除去工程において、希弗酸、バッファード弗酸、弗酸と過酸化水素水との混合液、弗酸とヨウ素酸との混合液の中から選ばれる溶液を用いて、前記光反応層の露光部分を除去することを特徴とする請求項2又は3に記載の部分めっき方法。   In the removing step, the photoreactive layer is formed using a solution selected from dilute hydrofluoric acid, buffered hydrofluoric acid, a mixed liquid of hydrofluoric acid and hydrogen peroxide, and a mixed liquid of hydrofluoric acid and iodic acid. 4. The partial plating method according to claim 2, wherein the exposed portion is removed. 前記触媒付与工程において、金属パラジウムを前記触媒として付与することを特徴とする請求項2又は3に記載の部分めっき方法。   The partial plating method according to claim 2 or 3, wherein in the catalyst application step, metal palladium is applied as the catalyst. 前記無電解めっき工程において、前記被めっき物の前記触媒が付与された部分に、銅めっき被膜、ニッケルめっき被膜、金めっき被膜の中から選ばれる少なくとも1種又は2種以上の無電解めっき被膜を形成することを特徴とする請求項2又は3に記載の部分めっき方法。   In the electroless plating step, at least one or two or more types of electroless plating films selected from a copper plating film, a nickel plating film, and a gold plating film are provided on the portion of the object to be plated that is provided with the catalyst. The partial plating method according to claim 2, wherein the partial plating method is formed. 前記無電解めっき工程において、Niイオンを含む銅めっき液を用いて、前記被めっき物の前記触媒が付与された部分に無電解銅めっき被膜を形成することを特徴とする請求項2又は3に記載の部分めっき方法。   In the said electroless-plating process, an electroless copper plating film is formed in the part to which the said catalyst of the said to-be-plated object was provided using the copper plating solution containing Ni ion. The partial plating method described. 前記無電解めっき工程の後に、前記被めっき物に対して熱処理を行う熱処理工程を含むことを特徴とする請求項2又は3に記載の部分めっき方法。   The partial plating method according to claim 2, further comprising a heat treatment step of performing a heat treatment on the object to be plated after the electroless plating step. 前記熱処理工程において、不活性ガス雰囲気又は真空雰囲気中で、200℃以上、前記被めっき物のガラス転移温度未満の範囲で、前記被めっき物に対して熱処理を行うことを特徴とする請求項10に記載の部分めっき方法。   The heat treatment step is characterized in that the object to be plated is heat-treated in an inert gas atmosphere or a vacuum atmosphere at a temperature of 200 ° C. or higher and lower than the glass transition temperature of the object to be plated. The partial plating method as described in. 前記熱処理工程において、熱処理時間を10分〜12時間の範囲とすることを特徴とする請求項10に記載の部分めっき方法。   The partial plating method according to claim 10, wherein, in the heat treatment step, a heat treatment time is in a range of 10 minutes to 12 hours. 前記請求項1〜12の何れか1項に記載の部分めっき方法を用いて、前記無電解めっき被膜からなる回路パターンを回路基板上に形成する回路基板の製造方法。   The manufacturing method of the circuit board which forms the circuit pattern which consists of the said electroless-plating film on the circuit board using the partial plating method of any one of the said Claims 1-12.
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