JP2006148070A - センサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法 - Google Patents
センサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006148070A JP2006148070A JP2005290468A JP2005290468A JP2006148070A JP 2006148070 A JP2006148070 A JP 2006148070A JP 2005290468 A JP2005290468 A JP 2005290468A JP 2005290468 A JP2005290468 A JP 2005290468A JP 2006148070 A JP2006148070 A JP 2006148070A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor data
- sensor
- drift
- interlock
- time slot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/02—Regulating electric characteristics of arcs
- G05F1/08—Regulating electric characteristics of arcs by means of semiconductor devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L27/00—Testing or calibrating of apparatus for measuring fluid pressure
- G01L27/002—Calibrating, i.e. establishing true relation between transducer output value and value to be measured, zeroing, linearising or span error determination
- G01L27/005—Apparatus for calibrating pressure sensors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L27/00—Testing or calibrating of apparatus for measuring fluid pressure
- G01L27/007—Malfunction diagnosis, i.e. diagnosing a sensor defect
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【課題】 統計的なドリフト補正アルゴリズムを通じて、同種設備に対するインターロック設定及び管理を単純化し、設備の異常有無をより正確に判定することができるセンサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法を提供する。
【解決手段】 センサデータの補正方法は所定のドリフト上限値及びドリフト下限値を設定する段階と;基準モデルに対する基準パターン情報を生成する段階と;前記センサデータに対するセンサパターン情報を生成する段階と;前記センサパターン情報が前記ドリフト上限値及び前記ドリフト下限値を満たすか否かを判定する段階と;前記センサパターン情報が前記ドリフト上限値及び前記ドリフト下限値を満たす場合、前記基準パターン情報及び前記センサパターン情報に基づいてドリフトオフセットを算出する段階と;算出された前記ドリフトオフセットに基づいて前記センサデータを補正する段階とを含む。
【選択図】 図3
【解決手段】 センサデータの補正方法は所定のドリフト上限値及びドリフト下限値を設定する段階と;基準モデルに対する基準パターン情報を生成する段階と;前記センサデータに対するセンサパターン情報を生成する段階と;前記センサパターン情報が前記ドリフト上限値及び前記ドリフト下限値を満たすか否かを判定する段階と;前記センサパターン情報が前記ドリフト上限値及び前記ドリフト下限値を満たす場合、前記基準パターン情報及び前記センサパターン情報に基づいてドリフトオフセットを算出する段階と;算出された前記ドリフトオフセットに基づいて前記センサデータを補正する段階とを含む。
【選択図】 図3
Description
本発明は、センサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法に関し、より詳しくは、センサデータにドリフトオフセット及び/またはシフトオフセットを反映し、正確なインターロックの発生を保障することができる、センサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法に関する。
半導体製造工程は各単位工程の所要費用が大きく、品質及び生産性は製造設備の状態によって多くの影響を受けるため、設備の異常有無を早期に発見して適切な措置をとるのが不良ウエハーの生産と不必要な生産資源の浪費をなくすために好ましい。これは費用節減及び収率向上においても非常に重要な事項として認識されている。
半導体製造工程上の設備の異常有無を判断するために、従来は、設備の異常有無を過去発生したデータを分析し、予め設定された適正範囲値を根拠として比較する方式を使用した。
しかし、半導体製造工程に使用される各種設備は、工程の進行によってその特性が持続的に変動する場合が多い。そして、同様に設定された設備の場合にも偏差が存在する場合が発生することがある。
この場合、正確な判断のためには作業者が随時に変動または偏差を修正及び入力しなければならないなが、これは現実的に適切でない。特に、近来、周期性を有するパラメターの基準情報に対する適切な補正方法と、同一性を有する設備の適正な評価方法が強力に要求されることによって、近来では基準情報をリアルタイムで検討し、工程内の状況に応じて自動的に適切に基準情報を更新するインターロックシステムが開発され、半導体製造工程に導入されている傾向にある。
このようなインターロックシステムは、使用者が予め設定した基準情報に基づいて運用する。しかし、インターロックシステムは工程の進行によって変動する各種センサ情報の変動または設備内部的な変動量を反映できないので、設備間の偶然的な差を反映できないという問題点がある。そのために、各設備に対して個別的に基準設定をしなければならないので、多くの時間及び費用がかかるという短所がある。
また、従来のインターロックシステムにおいては、同一設備内でも時間の流れによって変動する変動率を反映できないので、誤ったアラームの発生を誘発する可能性が高い。この時、誤ったアラームの発生を減らそうとする場合には、許容変動量の大きさを増加させなければならないが、一部センサについては実質的な不良を探知するのが難しい状況を招くようになる。
したがって、本発明の目的は、半導体製造工程内のインターロックシステムにおいて、統計的なドリフト補正アルゴリズムを通じて、同種設備に対するインターロック設定及び管理を単純化し、ウエハー間の許容変動量の大きさを最小化させることによって、不良ウエハーに対する検定力を増加させることができるセンサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、統計的なシフト補正アルゴリズムを通じて、設備の駆動時間、RF時間及びウエハー数などに従属的に変化するセンサの許容変動量の大きさを最小化させることによって、不良ウエハーに対する検定力を増加させたセンサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法を提供することにある。
前記目的は、本発明によって、インターロックシステムに使用されるセンサデータの補正方法において、所定のドリフト上限値及びドリフト下限値を設定する段階と;基準モデルに対する基準パターン情報を生成する段階と;前記センサデータに対するセンサパターン情報を生成する段階と;前記センサパターン情報が前記ドリフト上限値及び前記ドリフト下限値を満たすか否かを判定する段階と;前記センサパターン情報が前記ドリフト上限値及び前記ドリフト下限値を満たす場合、前記基準パターン情報及び前記センサパターン情報に基づいてドリフトオフセットを算出する段階と;算出された前記ドリフトオフセットに基づいて前記センサデータを補正する段階とを含むことを特徴とするセンサデータの補正方法によってよって達成される。
ここで、前記基準モデルに対するパターン情報を生成する段階は、各々少なくとも一つのウエハーを含む複数のサンプルポイントを設定する段階と;前記各サンプルポイントの代表値を算出する段階と;前記各サンプルポイントでの最大値及び最小値に基づいて、前記各サンプルポイントでの標準偏差を算出する段階と;前記各サンプルポイントの前記代表値及び前記標準偏差に基づいて、前記各サンプルポイントの管理レンジを算出する段階と;を含むことができる。
そして、前記各サンプルポイントでの前記標準偏差を算出する段階は、前記各サンプルポイントでの最大値及び最小値に基づいて、前記各サンプルポイントに対するレンジ値を算出する段階と;前記レンジ値の平均を算出する段階と;前記レンジ値の平均と所定の係数に基づいて、前記標準偏差を算出する段階とを含むことができる。
ここで、前記代表値は、前記各サンプルポイント内の前記センサデータの平均値を含むことができる。
そして、前記センサパターン情報を生成する段階は、前記センサデータを前記サンプルポイント単位で区分する段階と;前記サンプルポイント単位内の前記センサデータの代表値を算出する段階と;を含むことができる。
ここで、前記代表値は、前記サンプルポイント単位内の前記センサデータの平均値を含むことができる。
そして、前記ドリフトオフセットは、前記基準モデルの前記代表値と前記センサデータの前記代表値間の偏差に基づいて算出できる。
そして、前記ドリフトオフセットは、前記各サンプルポイントに対して算出されることもできる。
一方、前記目的は、本発明の他の実施形態によって、インターロックシステムに使用されるセンサデータの補正方法において、補正対象センサを選択する段階と;所定回数のPMサイクル期間の間に前記補正対象センサから発生したセンサデータを収集する段階と;前記収集されたセンサデータを単位PMサイクルを基準として、少なくとも一つのタイムスロットに分割する段階と;前記タイムスロットのうちのいずれか一つを基準タイムスロットとして選択する段階と;前記基準タイムスロットの基準データと、それ以外の前記タイムスロットのデータに基づいて、前記各タイムスロットに対するシフトオフセットを算出する段階と;算出された前記シフトオフセットに基づいて、前記補正対象センサからのセンサデータを補正する段階と;を含むことを特徴とするセンサデータの補正方法によっても達成できる。
ここで、前記補正対象センサは、PM(Preventative Maintenance、予防保全)センサの増加によってセンシング値の範囲が可変するセンサを含むことができる。
そして、前記少なくとも一つのタイムスロットに分割する段階で前記収集されたセンサデータは、クラスタ化アルゴリズム、K−ミーンズ方法、回帰分析モデル、数理モデル及び人工神経網の解釈のうちのいずれか一つを通じて、前記少なくとも一つのタイムスロットに分割できる。
ここで、前記基準タイムスロットの前記基準データと、それ以外の前記タイムスロットの前記データは、前記各タイムスロットの前記センサデータの平均値を含むことができる。
そして、回帰分析を利用して、センサデータを含まないタイムスロットに対するシフトオフセットを算出する段階をさらに含むことができる。
また、新たなPMサイクルの間に新たなセンサデータが入力される段階と;前記新たなセンサデータが対応する前記タイムスロットの前記シフトオフセットと一致するか否かを検査する段階と;前記新たなセンサデータが対応する前記シフトオフセットと一致せず、対応する前記タイムスロットにシフトオフセットが存在しない場合、前記新たなPMサイクルに対してタイムスロットを分割し、前記各タイムスロットに対してシフトオフセットを算出する段階と;を含むことができる。
一方、前記目的は、本発明の他の実施形態によって、インターロックシステムのインターロック評価方法において、(a)センサデータを収集する段階と;(b)前記収集されたセンサデータに基づいてインターロックであるか否かを判定する段階と;(c)前記(b)段階でインターロックと判定される場合、前記収集されたセンサデータを前記センサデータの補正方法によって補正する段階と;(d)前記(c)段階で補正されたセンサデータに基づいてインターロックであるか否かを判定する段階とを含むことを特徴とするインターロック評価方法によっても達成できる。
本発明によれば、統計的なドリフト補正アルゴリズムを通じて、同種設備に対するインターロック設定及び管理を単純化し、ウエハー間の許容変動量の大きさを最小化させることによって、不良ウエハーに対する検定力を増加させることができるセンサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法が提供される。
また、統計的なシフト補正アルゴリズムを通じて、設備の駆動時間、RF時間及びウエハー数などに従属的に変化するセンサの許容変動量の大きさを最小化させることによって、不良ウエハーに対する検定力を増加させたセンサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法が提供される。
以下、添付図面を参照して、本発明について詳細に説明する。
図1は、本発明によるインターロックシステムの構成を示した図である。図面に示されているように、本発明によるインターロックシステムは、センサ20と、設備制御部30と、エラー検出及び分類(以下、‘FDC’という)システム10と、MES(Manufacturing Execution System)制御部40とを含む。
センサ20は、半導体製造工程上の半導体設備に設置され、各種センシングデータを出力する。
設備制御部30は半導体設備の駆動を制御し、センサ20によって監視された原始資料形態のセンシングデータをFDCシステム10に伝達する。
本発明によるFDCシステム10は、図1に示されているように、インターロック設定部11、設定データベース12、データ加工部13、インターロック評価部14及びアラーム部16を含むことができる。
データ加工部13は、設備制御部30から提供される原始資料形態のセンサデータを受信し、FDCシステム10内部、特にインターロック評価部14で使用可能なフォーマットのセンサデータに変換する。データ加工部13によって変換されたセンサデータはインターロック評価部14に伝達される。
インターロック設定部11は、使用者から管理対象となるセンサ20に対する多様な設定データを受信する。ここで、インターロック設定部11を通じて入力される設定データは、設定データベース12に保存される。
ここで、インターロック設定部11を通じて入力される設定データは、ドリフト上限値とドリフト下限値を含むことができる。
インターロック評価部14は、データ加工部13から伝えられるセンサデータと、設定データベース12に保存された設定データとを比較し、インターロックであるか否かを判断する。ここで、インターロック評価部14は、半導体設備にインターロックが発生したと判断される場合、アラーム部16にこれを通報する。
アラーム部16は、インターロック評価部14からインターロック発生に対する情報が入力される場合、多様な方法によって使用者に知らせる。そして、アラーム部16は、インターロック評価部14からインターロック発生に対する情報が入力される場合、入力されるインターロック発生に対する情報の特性を把握し、必要に応じてMES制御部40にこれを通報する。例えば、アラーム部16は、インターロック発生に対する情報が当該設備の駆動を中断しなければならないものと判断される場合、これをMES制御部40に通報することによって、MES制御部40が当該設備の駆動を中断するようにする。
図1の未説明参照符号15は、表示部15であって、インターロック評価部14からの評価結果を使用者が認識できる形態で知らせるための装置であって、モニターのようなディスプレイ装置を含むことができる。
図2は、本発明によるインターロック評価部14の構成を示した図である。図面に示されているように、本発明によるインターロック評価部14は、ドリフトオフセット管理部14aと、シフトオフセット管理部14c及びインターロック判定部14bを含む。
ドリフトオフセット管理部14aは、ドリフト特性を有するセンサ20に対してドリフトオフセットを算出する。
シフトオフセット管理部14cは、シフト特性を有するレシピ、設備またはセンサ20に対する評価に必要な各種データを収集する。そして、収集されたデータに基づいて当該センサ20とタイムスロットを設定し、シフトオフセットを算出及び更新する。
インターロック判定部14bは、ドリフトオフセット管理部14a及びシフトオフセット管理部14cからのドリフトオフセット及び/またはシフトオフセットと、当該センサデータに基づいて当該設備がインターロックであるか否かを判断する。
以下では、ドリフトオフセット管理部14a及びインターロック判定部14bによって、ドリフト特性を有するセンサ20からのセンサデータに基づいてインターロックであるか否かを判断する過程について、図3を参照して説明する。
ここで、ドリフト特性を有するセンサ20は、同一設備で同一機能を遂行するセンサ20でも設備によってその基準水準値が変わることがあり、当該基準値に基づいたセンサデータに対してインターロックであるか否かを判定する場合、誤ったアラームを誘発するおそれがあるセンサ20を意味する。例えば、スロットルバリュー、オプティカルエミッションスペクトロメータバリューなどのセンサ20は、測定を行うとき毎に基準となる値が変わることがあり、同一設備でも基準値が変わることがあり、設備間にも測定によって基準値が変わることがあるので、本発明によるオフセット特性を有するセンサ20に含まれることができる。
まず、使用者はドリフト評価のための設定データであるドリフト上限値及びドリフト下限値を、インターロック設定部11を通じて設定/入力する(S10)。設定/入力されたドリフト上限値及び下限値は設定データベース12に保存される(S10)。ここで、ドリフト上限値及びドリフト下限値は各設備の特性を考慮して、センサ20単位で設定できる。
また、ドリフト上限値及びドリフト下限値は、ドリフトオフセット管理部14aによって設定されることもできる。つまり、ドリフトオフセット管理部14aは同一モデルに該当する設備間に存在する偏差を予め算出し、当該センサ20に対してドリフト上限値及びドリフト下限値を設定することもできる。ここで、同一設備は同一のテンプレート(Template)情報を使用する設備を意味する。ここで、テンプレート情報は、モデル設備に登録されたレシピが含まれるセンサ20目録と、各センサ20の特性情報(例えば、評価方法、パターン模型など)、モデル設備に登録されたレシピが含まれるステップシークエンスネームと、各ステップ別サンプルの個数に対する情報などを含むことができる。
さらに、図3を参照して説明すれば、ドリフト上限値及びドリフト下限治が設定及び保存された状態で、FDCシステム10はドリフト特性を有するセンサ20で発生したセンサデータを収集する(S11)。
次に、FDCシステム10のインターロック評価部14は、ドリフト特性を考慮しない状態でセンサデータを評価する(S12)。
ここで、センサデータの評価は、基準モデルに対して算出されたパターン情報と、評価対象センサ20から入力されるセンサデータに基づいたパターン情報が、統計的に類似しているか否かによって決定される(S13)。ここで、二つのパターン間の統計的な評価方法は多様な方法が適用可能であり、その一例は次の通りである。
まず、センサデータの評価に先立って、基準モデルに対するパターン情報の算出過程について説明する。ここで、一つ以上のレシピステップを有するウエハー単位のパターン情報を生成することを一例として説明する。図4は4つレシピステップを有するパターン情報を生成することを一例として示している。図4の横方向はサンプルポイントを、縦方向はウエハーを示す。
同一設備及びBINで指定されたレシピを用いて作業を行った複数個のロット(LOT)を選択する。そして、各ロットで所定個数の適正ウエハー情報(n)を選択する。この時、各ロット別にウエハーの位置あるいは順序は同一であるのが好ましい。
次に、基準モデルとして用いる適用対象レシピステップ(Active Recipe Step)を決定し、各レシピステップに対する標準サンプルの個数を決定する。ここで、テンプレートの設定が完了すれば、各ステップ内の個別サンプルポイントに対し、次のような過程を行う。
まず、各サンプルポイントの代表値を決定する。ここで、各サンプルポイントの代表値は、当該センサデータの平均値(図4の‘RF’)を使用することを一例とする。次に、各ロット別に最大値及び最小値を基準としてロット単位のレンジ値を計算する。そして、ロット別レンジ値の平均を計算する。ここで、ロット単位はサンプルポイント単位と理解されることができ、図4では10個のロットを一例としている。
そして、所定の係数を利用して標準偏差を推定する。ここで、係数は推定値を不偏推定値とする値を使用する。係数の選択は主要統計的品質管理に関する文献、例えば、‘キム、イン−ソン、統計的品質管理、バクヨンシャ、1989’や‘D.Montgomery,‘Introduction to Statistical Quality Control,、4th ed.,Nov. 2000’などを通じて当該場合に対する値を算出することができる。
そして、平均及び標準偏差を利用して各サンプルポイントの管理上限線及び管理下限線を計算する。そして、各サンプルポイントの管理上限線及び管理下限線に基づいて管理レンジを設定する。このような方法を通じて、設定された管理レンジ情報を設定データベース12に保存する。
一方、前記方法を通じ、設定された管理レンジ情報を利用してセンシングデータを評価する過程について説明すれば、次の通りである。
まず、設定された管理レンジ情報に基づく場合、一つのサンプルポイントは各々独立的な管理図の概念を有する。これに基づいて、本発明の実施例ではセンサデータの各サンプルポイントと基準モデルのサンプルポイントを一致させ、各センサデータは当該サンプルポイントに該当する管理図の評価と同様な方法で評価される。
例えば、図4のサンプルポイント‘A’に該当するセンサデータは、当該サンプルポイントで表現された分布を基盤として指定された留意水準に基づいて、当該センサデータが設定された管理レンジ情報に符合しているか否かを判断する。ここで、サンプルポイント‘A’でのセンサデータの代表値もまた、サンプルポイント‘A’でのセンサデータの平均値を用いることができる。
このような方法によって、評価の対象となる各センサデータは評価され、各サンプルポイントでの評価は‘適合’または‘不適合’の2つの結果のうちの一つを得るようになる。このような評価結果は、二項分布を有する独立施行の評価と同一になる。
したがって、各サンプルポイントに対する評価後、全体的に一つのセンサ20のパターンに対する評価は、予め設定された有意水準(または危険率、Level of Significance)に基づいて行われ、二項分布の正規近似法を利用して正規分布による評価を行うようになる。ここで、所定回数以上のサンプル位置で‘不適合’の結果を得る場合、当該センサ20でのセンサデータ全体は図3のS13段階で‘不適合’と判断される。
図4と関連して説明すれば、図4では全体レシピステップ数が4つであり、サンプルポイントの個数は10個である。ここで、各サンプルポイントに対して適合及び不適合を判定するので、適合及び不適合の判定を連続的に10回行うようになる。一般に、半導体製造工程上でサンプルポイントの個数は100より大きい値と設定されるので、連続された二項分布の評価は正規分布に近似化することができる。例えば、200個のサンプルポイントの中で留意水準で計算されたサンプルポイントの個数を10と仮定すれば、200個のサンプルポイントに対して適合及び不適合の評価を行い、この時、5つ以上のサンプルポイントが管理上限値または管理下限値を外れる場合、不適合と判定される。
さらに、図3を参照して説明するに、S13段階で‘適合’と判断される場合、インターロック判定部14bはインターロックと判定する(S19)。
反面、センサデータがS13段階で‘非適合’と判断される場合、ドリフトオフセット管理部14aは設定データベース12に保存された当該センサ20に対するドリフト上限値及びドリフト下限値を読出し、センサデータがドリフト上限値及びドリフト下限値内に含まれているか否かを判断する(S14)。ここで、センサデータがドリフト上限値及びドリフト下限値内に含まれているか否かは、当該ロットの個別センサデータ単位で評価することができ、当該ロットの平均によって評価されることもできる。
ここで、センサデータがドリフト上限値及びドリフト下限値内に含まれることと判断される場合、ドリフトオフセット管理部14aはセンサデータに基づいてドリフトオフセットを算出する(S15)。
ドリフトオフセット管理部14aは、基準モデルのパターン情報とセンサデータのパターン情報間の差の平均的な差によって、各ロットに対するドリフトオフセットを算出する。ここで、ドリフトオフセット管理部14aはドリフトオフセットを算出する時、センサデータの急激な変動(ハンチング)やサンプリングエラーなどによるアンダー/オーバーエスティメーションが発生し得るので、最大及び最少α%のデータを除いてドリフトオフセットを算出することができる。
そして、インターロック判定部14bは、算出されたドリフトオフセットをセンサデータに反映し、ドリフトオフセットが反映されたセンサデータに基づいて前述したS12段階での評価方法を通じ、‘適合’または‘不適合’の判断結果によってインターロックであるか否かを判断する(S16、S17、S18及びS19)。
上述のように、ドリフト補正アルゴリズムを通じて同種設備に対するインターロックの設定及び管理を単純化し、ウエハー間の許容変動量の大きさを最小化させることによって、不良ウエハーに対する検定力を増加させることができる。
以下では、シフトオフセット管理部14cによって、シフト特性を有するセンサ20からのセンサデータの適否判定を行う過程について説明する。
ここで、シフト特性を有するセンサ20は、例えば、ウエハーの累積生産枚数を感知するセンサ20のように、PMセンサの増加によってその値の範囲が変化する特性を有するセンサ20を意味する。
まず、本発明によるシフトオフセットを算出する過程について説明する。本発明によるシフトオフセットを算出する過程は、初期算出過程とシフトオフセットの更新過程を含むことができる。
シフトオフセットの初期算出過程は、次の通りである。ここで、シフトオフセットの初期算出は、指定された比率のタイムスロットに対するシフトオフセットが設定される前までの算出過程を意味する。ここで、指定された比率のタイムスロットは、全体タイムスロットの個数のうち、シフトオフセットが決定されたタイムスロットの比率を意味する。したがって、初期算出過程は、シフトオフセットが算出されたタイムスロットがない段階から、一定部分のタイムスロットに対するシフトオフセットが算出されるまで適用される。
まず、シフトオフセットを設定するための設備と工程レシピ及びPMセンサ20を選択する(S30)。次に、選択されたレシピ内のセンサ20の目録のうち、シフト特性を有するセンサ20(以下、‘シフトセンサ20’という)を選択する(S31)。
その後、PMセンサ20を基準としてシフトセンサ20に対し、所定回数のPMサイクルの間に発生したセンサデータを収集する(S32)。
次に、収集されたセンサデータを利用して、1PMサイクル基準でタイムスロットを分割する(S33)。ここで、本発明の実施例によるタイムスロットの分割は、クラスタ化アルゴリズムを適用する。
ここで、クラスタ化アルゴリズムは、一つのPMサイクルで統計的に同一データを有することと推定される区間を、同一タイムスロットに分割することができる。例えば、PMサイクル1〜100区間のうち、1〜20区間で特定センサ20のデータが50〜60の間の値を有し、20〜100区間で40〜50の間の値を有する場合には、当該センサ20に対するタイムスロットを1〜20区間と20〜100区間に分割することができる。
ここで、クラスタ化アルゴリズムを利用したタイムスロットを分割する過程について説明すれば、タイムスロットで許容可能な変動基準量と、最大ロット個数及び最少ロット個数を設定する。ここで、PMセンサ20開始地点から開始し、データが存在する区間と存在しない区間の全てを個別的なタイムスロットと設定する。
この時、データが存在する各タイムスロットに対しては、次のような過程を反復遂行する。まず、各タイムスロットに対する変動量を計算する。そして、タイムスロット内の変動量が基準変動量より小さい場合、当該タイムスロットは再び分割せず、タイムスロットに割り当てる。
反面、タイムスロット内の変動量が基準変動量より大きい場合、タイムスロット内のデータを最大ロット個数から最少ロット個数まで減少させながら、許容変動量以下の変動量を有する最大ロット個数をタイムスロットと設定する。
このようなクラスタ化アルゴリズムの以外に、1PMサイクル基準でタイムスロットを分割する方法として、K−Kミーンズ方法、回帰分析モデル、数理モデル、人工神経網などのような方法を使用することもできる。
さらに、図5を参照して、分割されたM個のタイムスロットのうち、基準情報として使用される基準タイムスロットを選択する(S34)。ここで、基準タイムスロットはシフトオフセットが‘ゼロ’となるタイムスロットと選択することができ、PMセンサ20のパターンを最もよく代弁できるタイムスロットを選択することもできる。
次に、基準タイムスロット内の基準データと、それ以外のタイムスロット内のデータとを各々比較し、各タイムスロットに対するシフトオフセットを算出する(S35)。ここで、各タイムスロットでのシフトオフセットは、基準タイムスロット内の基準データと当該タイムスロット内のデータ間の差によって算出できる。そして、各タイムスロットでのデータは、各タイムスロットに含まれるセンサデータの平均値を使用することができる。
その後、データが存在するタイムスロットでのデータと、S35段階で算出されたシフトオフセットに基づいて、センサデータが存在しないタイムスロットに対するシフトオフセットを算出する(S36)。ここで、センサデータが存在しないタイムスロットに対するシフトオフセットは、算出されたシフトオフセットを利用した回帰分析などのフィッティング技法を利用して予測することができる。
次に、算出された各タイムスロットに対するシフトオフセットを設定データベース12に保存する。ここで、S31段階で複数のシフトセンサ20が選択される場合、シフトセンサ20とタイムスロット間のシフトオフセットを定義するために、図6に示されたようなテーブル形態で設定データベース12に保存されることができる。
以下では、シフトオフセットの更新過程について説明する。ここで、シフトオフセットの更新は、PMサイクルの間に新たなデータが入力されれば、既存のシフトオフセットと比較し、新しく算出されたシフトオフセットが既存のシフトオフセットと所定範囲以上の差が出る場合、新たなシフトオフセットに更新する。その過程は次の通りである。
まず、新しく収集されたセンサデータを、図6に示されているように、予め設定されたタイムスロットに対応させる。次に、予め設定されたタイムスロットのシフトオフセットと、新しく収集されたセンサデータとが符合しているか否かを検査する。
次に、既存にデータが存在しなかったタイムスロットに新たなセンサデータが収集されたか否かを判断する。ここで、新たなセンサデータが収集された場合、当該タイムスロットにシフトオフセットが存在しているか否かを判断する。
ここで、当該タイムスロットにシフトオフセットが存在しない場合、全体PMサイクルをタイムスロットに分割する。
そして、全てのタイムスロットに対する検査が完了するまで上記過程を繰り返した後、タイムスロットに対し前述したような方法を通じて、シフトオフセットを算出する。
一方、このような方法を通じて算出/更新されたシフトオフセットは、ドリフトオフセットを反映したセンサデータの評価方法での同様に適用される。但し、ドリフトオフセットの場合、一つのウエハー単位のセンサデータ、つまり、生データの評価時に各サンプルポイントに対する補正を行うことであるから、各ウエハー評価時、ウエハー別にドリフトオフセットが異なって計算され得る。反面、シフトオフセットの場合には、タイムスロット別にシフトオフセットが算出され、各シフトオフセットは予め算出され、設定データベース12に図6に示されたようなテーブル形態で保存される。そして、シフトオフセットに対するテーブル値は周期的に変更またはアップデートが可能であるが、ドリフトオフセットのようにリアルタイムで算出され、反映されないことが分かる。
前記のように、統計的なシフト補正アルゴリズムを通じて、設備の駆動時間、RF時間及びウエハー数などに従属的に変化するセンサ20の許容変動量の大きさを最小化させることによって、不良ウエハーに対する検定力を増加させることができる。
このように、本発明によるインターロックシステムはリアルタイムで運営されるシステムであるので、パフォーマンス側面から多量の設備を運営する量産工程に該当し、センサ20のドリフト特性及び/またはシフト特性などの分析情報を利用して運営状態を点検することができるようになる。
また、設備の消耗性部品あるいは設備特性によって周期的にPMを遂行する場合、PM時点を前後として設備の特性が変動する時、PM基準で設備の特性を確認することができので、PM以後の設備の同一性を保証することができるようになる。
10 エラー検出及び分類システム
11 インターロック設定部
12 設定データベース
13 データ加工部
14 インターロック評価部
14a ドリフトオフセット管理部
14b インターロック判定部
14c シフトオフセット管理部
16 アラーム部
20 センサ
30 設備制御部
40 MES制御部
11 インターロック設定部
12 設定データベース
13 データ加工部
14 インターロック評価部
14a ドリフトオフセット管理部
14b インターロック判定部
14c シフトオフセット管理部
16 アラーム部
20 センサ
30 設備制御部
40 MES制御部
Claims (16)
- インターロックシステムに使用されるセンサデータの補正方法において、
所定のドリフト上限値及びドリフト下限値を設定する段階と;
基準モデルに対する基準パターン情報を生成する段階と;
前記センサデータに対するセンサパターン情報を生成する段階と;
前記センサパターン情報が前記ドリフト上限値及び前記ドリフト下限値を満たすか否かを判定する段階と;
前記センサパターン情報が前記ドリフト上限値及び前記ドリフト下限値を満たす場合、前記基準パターン情報及び前記センサパターン情報に基づいてドリフトオフセットを算出する段階と;
算出された前記ドリフトオフセットに基づいて前記センサデータを補正する段階と;を含むことを特徴とする、センサデータの補正方法。 - 前記基準モデルに対するパターン情報を生成する段階は、
各々少なくとも一つのウエハーを含む複数のサンプルポイントを設定する段階と;
前記各サンプルポイントの代表値を算出する段階と;
前記各サンプルポイントでの最大値及び最小値に基づいて、前記各サンプルポイントでの標準偏差を算出する段階と;
前記各サンプルポイントの前記代表値及び前記標準偏差に基づいて、前記各サンプルポイントの管理レンジを算出する段階とを含むことを特徴とする請求項1に記載のセンサデータの補正方法。 - 前記各サンプルポイントでの前記標準偏差を算出する段階は、
前記各サンプルポイントでの最大値及び最小値に基づいて、前記各サンプルポイントに対するレンジ値を算出する段階と;
前記レンジ値の平均を算出する段階と;
前記レンジ値の平均と所定の係数に基づいて前記標準偏差を算出する段階とを含むことを特徴とする請求項2に記載のセンサデータの補正方法。 - 前記代表値は、前記各サンプルポイント内の前記センサデータの平均値を含むことを特徴とする請求項2に記載のセンサデータの補正方法。
- 前記センサパターン情報を生成する段階は、
前記センサデータを前記サンプルポイント単位で区分する段階と;
前記サンプルポイント単位内の前記センサデータの代表値を算出する段階とを含むことを特徴とする請求項2に記載のセンサデータの補正方法。 - 前記センサデータの代表値は、前記サンプルポイント単位内の前記センサデータの平均値を含むことを特徴とする請求項5に記載のセンサデータの補正方法。
- 前記ドリフトオフセットは、前記基準モデルの前記代表値と前記センサデータの前記代表値間の偏差に基づいて算出されることを特徴とする請求項5に記載のセンサデータの補正方法。
- 前記ドリフトオフセットは、前記各サンプルポイントに対して算出されることを特徴とする請求項7に記載のセンサデータの補正方法。
- インターロックシステムに使用されるセンサデータの補正方法において、
補正対象センサを選択する段階と;
所定回数のPMサイクル期間の間に前記補正対象センサから発生したセンサデータを収集する段階と;
前記収集されたセンサデータを単位PMサイクルを基準として、少なくとも一つのタイムスロットに分割する段階と;
前記タイムスロットのうちのいずれか一つを基準タイムスロットとして選択する段階と;
前記基準タイムスロットの基準データと、それ以外の前記タイムスロットのデータに基づいて、前記各タイムスロットに対するシフトオフセットを算出する段階と;
算出された前記シフトオフセットに基づいて、前記補正対象センサからのセンサデータを補正する段階とを含むことを特徴とするセンサデータの補正方法。 - 前記補正対象センサは、PMセンサの増加によってセンシング値の範囲が可変するセンサを含むことを特徴とする請求項9に記載のセンサデータの補正方法。
- 前記少なくとも一つのタイムスロットに分割する段階で前記収集されたセンサデータは、クラスタ化アルゴリズム、K−ミーンズ方法、回帰分析モデル、数理モデル及び人工神経網の解釈のうちのいずれか一つを通じ、前記少なくとも一つのタイムスロットに分割されることを特徴とする請求項9に記載のセンサデータの補正方法。
- 前記基準タイムスロットの前記基準データと、それ以外の前記タイムスロットの前記データは、前記各タイムスロットの前記センサデータの平均値を含むことを特徴とする請求項9に記載のセンサデータの補正方法。
- 回帰分析を利用して、センサデータを含まないタイムスロットに対するシフトオフセットを算出する段階をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載のセンサデータの補正方法。
- 新たなPMサイクルの間に新たなセンサデータが入力される段階と;
前記新たなセンサデータが対応する前記タイムスロットの前記シフトオフセットと一致するか否かを検査する段階と;
前記新たなセンサデータが対応する前記シフトオフセットと一致せず、対応する前記タイムスロットにシフトオフセットが存在しない場合、前記新たなPMサイクルに対してタイムスロットを分割し、前記各タイムスロットに対してシフトオフセットを算出する段階とを含むことを特徴とする請求項9に記載のセンサデータの補正方法。 - インターロックシステムのインターロック評価方法において、
(a)センサデータを収集する段階と;
(b)前記収集されたセンサデータに基づいてインターロックであるか否かを判定する段階と;
(c)前記(b)段階でインターロックと判定される場合、前記収集されたセンサデータを請求項1によるセンサデータの補正方法によって補正する段階と;
(d)前記(c)段階で補正されたセンサデータに基づいて、インターロックであるか否かを判定する段階とを含むことを特徴とするインターロックの評価方法。 - インターロックシステムのインターロック評価方法において、
請求項9によるセンサデータの補正方法によって補正されたセンサデータに基づいて、インターロックであるか否かを判定するインターロックの評価方法。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020040084757A KR100598398B1 (ko) | 2004-10-22 | 2004-10-22 | 센서 데이터의 보정방법 및 인터락 시스템의 인터락평가방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006148070A true JP2006148070A (ja) | 2006-06-08 |
Family
ID=36204955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005290468A Pending JP2006148070A (ja) | 2004-10-22 | 2005-10-03 | センサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7184910B2 (ja) |
| JP (1) | JP2006148070A (ja) |
| KR (1) | KR100598398B1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20110075506A (ko) * | 2009-12-28 | 2011-07-06 | 삼성전자주식회사 | 비패턴 웨이퍼 검사 장치 |
| JP2020522887A (ja) * | 2017-06-14 | 2020-07-30 | エスケー ホールディングス コー リミテッド | 装備信頼指数に基づいたロット(Lot)リスクスコア基盤の動的ロット計測制御方法及びシステム |
| JP2025519014A (ja) * | 2022-05-19 | 2025-06-24 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 基板処理システムにおけるガードバンド |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8154308B2 (en) | 2006-11-13 | 2012-04-10 | The Boeing Company | Method for characterizing integrated circuits for identification or security purposes |
| KR101435125B1 (ko) * | 2007-06-13 | 2014-08-29 | 삼성전자 주식회사 | 인터락시스템 및 그 평가방법 |
| WO2012000505A2 (en) * | 2010-06-29 | 2012-01-05 | Vestas Wind Systems A/S | Callibration of wind turbine sensor |
| CN104020724B (zh) * | 2013-03-01 | 2017-02-08 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 告警监控方法和装置 |
| US20170205795A1 (en) * | 2016-01-15 | 2017-07-20 | Yokogawa Electric Corporation | Method for process operators to personalize settings for enabling detection of abnormal process behaviors |
| KR102456898B1 (ko) | 2016-03-17 | 2022-10-19 | 삼성에스디에스 주식회사 | 데이터 신호의 표준 패턴 생성 방법 및 그 장치 |
| WO2018038892A1 (en) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | Applied Materials, Inc. | Self-healing semiconductor wafer processing |
| US10380863B2 (en) * | 2017-04-03 | 2019-08-13 | Oneevent Technologies, Inc. | System and method for monitoring a building |
| KR102045745B1 (ko) * | 2018-05-16 | 2019-11-18 | 주식회사 이엠따블유 | 범죄 관련 이벤트 등급 기반 시계열 데이터 분할 방법 및 시스템 |
| CN112461442A (zh) * | 2020-11-19 | 2021-03-09 | 李慧 | 一种直观简易的压力表检定记录方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10332420A (ja) * | 1997-05-30 | 1998-12-18 | Satoshi Kiyono | センサの自律校正方法 |
| KR19990074696A (ko) | 1998-03-13 | 1999-10-05 | 윤종용 | 공정 조건 레시피 변경에 의한 반도체 공정불량 방지 방법 |
| US6577976B1 (en) * | 1999-09-17 | 2003-06-10 | Hrl Laboratories, Llc | Method for dynamic autocalibration of a multi-sensor tracking system and apparatus incorporating it therein |
| US6486661B2 (en) * | 2001-02-12 | 2002-11-26 | Delphi Technologies, Inc. | Sensor bias drift compensation |
| US6712265B2 (en) * | 2001-07-30 | 2004-03-30 | United Microelectronics, Corp. | System and method for interlocking management in semiconductor material supply equipment |
| KR20040014072A (ko) | 2002-08-09 | 2004-02-14 | 삼성전자주식회사 | 인터락 기능을 보완한 반도체 제조 설비 운용 방법 |
| KR20040024793A (ko) | 2002-09-16 | 2004-03-22 | 삼성전자주식회사 | 반도체 제조 장치의 인터락 시스템 및 그 구동방법 |
| US6850859B1 (en) * | 2003-12-03 | 2005-02-01 | Watlow Electric Manufacturing Company | Sensor drift compensation by lot |
-
2004
- 2004-10-22 KR KR1020040084757A patent/KR100598398B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-08-04 US US11/196,351 patent/US7184910B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-10-03 JP JP2005290468A patent/JP2006148070A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20110075506A (ko) * | 2009-12-28 | 2011-07-06 | 삼성전자주식회사 | 비패턴 웨이퍼 검사 장치 |
| KR101678043B1 (ko) * | 2009-12-28 | 2016-11-22 | 삼성전자 주식회사 | 비패턴 웨이퍼 검사 장치 |
| JP2020522887A (ja) * | 2017-06-14 | 2020-07-30 | エスケー ホールディングス コー リミテッド | 装備信頼指数に基づいたロット(Lot)リスクスコア基盤の動的ロット計測制御方法及びシステム |
| JP2025519014A (ja) * | 2022-05-19 | 2025-06-24 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 基板処理システムにおけるガードバンド |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US7184910B2 (en) | 2007-02-27 |
| US20060086172A1 (en) | 2006-04-27 |
| KR100598398B1 (ko) | 2006-07-07 |
| KR20060035316A (ko) | 2006-04-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN115293667B (zh) | 一种工程进度及造价管理系统的管理方法 | |
| CN112384924B (zh) | 产品性能预测模型的建立方法和装置、计算机设备、计算机可读存储介质、产品性能预测方法及预测系统 | |
| TWI649650B (zh) | 模型化系統或執行諸如微影系統之系統之預測維修的方法及相關聯微影系統 | |
| TWI672565B (zh) | 模型化系統或執行諸如微影系統之系統之預測維修之方法及相關聯微影系統 | |
| WO2002031613A9 (en) | System and method for monitoring process quality control | |
| CN105793789B (zh) | 用于过程单元中的全部过程区段的自动的监视和状态确定的计算机实现的方法和系统 | |
| JP2006148070A (ja) | センサデータの補正方法及びインターロックシステムのインターロック評価方法 | |
| CN113420061B (zh) | 炼油和化工生产装置的稳态工况分析方法、优化调试方法及系统 | |
| CN113424119A (zh) | 作业效率评价方法、作业效率评价装置以及程序 | |
| KR20140113153A (ko) | 통계적 동일성 검정방법 및 시스템 | |
| JP4355193B2 (ja) | 半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイス製造システム | |
| CN119026886B (zh) | 一种基于工业边缘网关的生产调度控制方法 | |
| CN120338618B (zh) | 基于实时数据驱动的动态关键区域过程检验方法和系统 | |
| CN116802579A (zh) | 使用测量违规分析的处理异常识别 | |
| CN109816191A (zh) | 多工作站系统的质量预测方法及其系统 | |
| CN111095143A (zh) | “实时”且在线审查眼科镜片数字制造过程品质的方法 | |
| CN114341755A (zh) | 用于分析流程过程的方法和设备 | |
| JP2008177534A (ja) | 半導体製造装置の管理方法、および半導体製造装置の管理システム | |
| CN101118422A (zh) | 半导体制造的虚拟量测预估与建立预估模型的方法与系统 | |
| JP2019159365A (ja) | 状態変動検出装置及び状態変動検出用プログラム | |
| KR102700155B1 (ko) | 반도체 증착공정 설비의 자동적 메인터넌스시점 결정방법 | |
| US20250155885A1 (en) | Fault detection and classification device, process management system including the same, and method of recommending optimal operating range | |
| CN120223515B (zh) | 一种物联网设备的远程管控与故障诊断方法及系统 | |
| CN121117644A (zh) | 一种基于大数据的血液检测设备性能评估方法及系统 | |
| CN121032344A (zh) | 一种半导体大数据溯源分析方法、系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080916 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080930 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090127 |