JP2006032436A - Electronic device manufacturing method, soldering method, and heat shielding jig - Google Patents
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Abstract
【課題】リフロー温度の高いはんだを用いても、耐熱温度220℃程度の低耐熱性部品を実装できる。
【解決手段】表面実装部品12上に、熱吸収部材11を備える熱遮蔽治具20を、熱吸収部材11が表面実装部品12に接触する状態で積載して加熱することによりはんだ付けを行う。
【選択図】 図3A low heat-resistant component having a heat resistant temperature of about 220 ° C. can be mounted even using solder having a high reflow temperature.
A heat shielding jig 20 including a heat absorbing member 11 is mounted on the surface mounting component 12 and soldered by loading and heating in a state where the heat absorbing member 11 is in contact with the surface mounting component 12.
[Selection] Figure 3
Description
本発明は、混載実装、特に、毒性の少ないPbフリーはんだ合金を用いたはんだ付けに好適なはんだ付け方法と、それに用いられる熱遮蔽治具と、それを用いる電子装置の製造方法法とに関する。 The present invention relates to a soldering method suitable for mixed mounting, particularly soldering using a Pb-free solder alloy with low toxicity, a heat shielding jig used therefor, and a method for manufacturing an electronic device using the same.
有機基板等の回路基板へのはんだ付けに従来より用いられている方法としては、大別して、回路基板に熱風を吹き付け、電極に印刷されたはんだペーストを溶融させて表面実装部品のはんだ付けを行うリフローはんだ付け工程と、溶融したはんだの噴流を回路基板に接触させて挿入実装部品やチップ部品などの一部の表面実装部品のはんだ付けを行うフローはんだ付け工程とがある。これらのはんだ付け方法のことを混載実装方法と称する。 Conventional methods for soldering to circuit boards such as organic substrates are broadly classified as follows: hot air is blown onto the circuit board, and solder paste printed on the electrodes is melted to solder the surface mount components. There are a reflow soldering process and a flow soldering process in which a molten solder jet is brought into contact with a circuit board to solder part of surface mount components such as insertion mounted components and chip components. These soldering methods are referred to as a mixed mounting method.
近年、この混載実装方法において用いられるはんだ(リフローはんだ付け工程でははんだペースト、フローはんだ付け工程にでは溶融したはんだの噴流)には、毒性の少ないPbフリーはんだ合金を使用するという要求が生じてきている。このPbフリーはんだ合金は、有機基板等の回路基板への電子部品の接続に適用でき、220℃付近でのはんだ付けに用いられているSn−37Pbはんだ(単位:質量%)の代替品である。 In recent years, there has been a demand for using a Pb-free solder alloy with low toxicity for the solder used in this mixed mounting method (a solder paste in the reflow soldering process and a molten solder jet in the flow soldering process). Yes. This Pb-free solder alloy is applicable to the connection of electronic components to circuit boards such as organic substrates, and is an alternative to Sn-37Pb solder (unit: mass%) used for soldering at around 220 ° C. .
Pbフリーはんだを用いた実装方法に関する従来技術としては、特開平10−166178号公報(従来技術1)、特開平11−179586号公報(従来技術2)、特開平11−221694号公報(従来技術3)、特開平11−354919号公報(従来技術4)、特開2001−168519号公報(従来技術5)、特開2001−36233号公報(従来技術6)などが知られている。 As conventional techniques related to a mounting method using Pb-free solder, Japanese Patent Laid-Open Nos. 10-166178 (prior art 1), Japanese Patent Laid-Open No. 11-179586 (prior art 2), Japanese Patent Laid-Open No. 11-221694 (prior art). 3), JP-A No. 11-354919 (prior art 4), JP-A No. 2001-168519 (prior art 5), JP-A No. 2001-36233 (prior art 6), and the like are known.
従来技術1には、Pbフリーはんだとして、Sn−Ag−Bi系はんだ、或いはSn−Ag−Bi−Cu系はんだ合金が記載されている。従来技術2には、Pbフリーはんだとして有力なSn−Ag−Bi系はんだを、表面にSn−Bi系層を施した電極と接続することが記載されている。従来技術3には、電子部品を、有機基板の第1面及び第2面からなる両面の各々に、Snを主成分とし、Biを0〜65質量%、Agを0.5〜4.0質量%、Cu若しくは/及びInを合計0〜3.0質量%含有するPbフリーはんだによってリフローはんだ付けすることが記載されている。 Prior art 1 describes Sn—Ag—Bi solder or Sn—Ag—Bi—Cu solder alloy as Pb-free solder. Prior art 2 describes connecting Sn-Ag-Bi solder, which is effective as Pb-free solder, to an electrode having a Sn-Bi layer on its surface. In Prior Art 3, the electronic component is composed of Sn as a main component on each of the first surface and the second surface of the organic substrate, Bi is 0 to 65 mass%, and Ag is 0.5 to 4.0. It is described that reflow soldering is performed with Pb-free solder containing 0 to 3.0% by mass of Cu, and / or In by mass%.
従来技術4には、Biを含有するPbフリーはんだを用いて電子部品と回路基板とを接続する方法において、はんだを約10〜20℃/sの冷却速度で冷却することが記載されている。従来技術5には、基板のA面でリフローはんだ付けによって電子部品を表面接続実装し、ついで基板のB面でフローはんだ付けにより、A面側から挿入した電子部品のリードを電極にフローはんだ付けして接続実装する方法において、A面側でリフローはんだ付けに用いるはんだを、Sn−(1.5〜3.5wt%)Ag−(0.2〜0.8wt%)Cu−(0〜4wt%)In−(0〜2wt%)Biの組成で構成されるPbフリーはんだであり、B面側でフローはんだ付けに用いるはんだを、Sn−(0〜3.5wt%)Ag−(0.2〜0.8wt%)Cuの組成で構成されるPbフリーはんだであることが記載されている。 Prior art 4 describes that in a method of connecting an electronic component and a circuit board using Pb-free solder containing Bi, the solder is cooled at a cooling rate of about 10 to 20 ° C./s. In the prior art 5, electronic parts are surface-mounted by reflow soldering on the A side of the board, and then the solder of the electronic parts inserted from the A side is flow soldered to the electrodes by flow soldering on the B side of the board. In the connection mounting method, the solder used for reflow soldering on the A side is Sn- (1.5 to 3.5 wt%) Ag- (0.2 to 0.8 wt%) Cu- (0 to 4 wt. %) In- (0 to 2 wt%) Bi, which is a Pb-free solder having a composition of Sn- (0 to 3.5 wt%) Ag- (0. 2 to 0.8 wt%) Pb-free solder composed of Cu.
従来技術6には、フローはんだ付けを従来のSn−37Pbよりも高融点の共晶組成のPbフリーはんだを用いて行う際、部品本体と基板との間に熱伝導材料を設けることにより、はんだ付け後の基板冷却時に有機基板と電子部品本体との間の温度差が大きくならないようにすることが記載されている。 In prior art 6, when performing flow soldering using a Pb-free solder having a eutectic composition having a melting point higher than that of conventional Sn-37Pb, a heat conductive material is provided between the component main body and the substrate to provide solder. It is described that the temperature difference between the organic substrate and the electronic component main body is not increased when the substrate is cooled after being attached.
これらPbフリーはんだとしてよく用いられるSn−Ag−Cu−In系はんだは、表1に示すように、Inの含有量が多いほど、低い温度でリフローすることができるため表面実装部品の温度上昇を抑えることができる。 As shown in Table 1, Sn-Ag-Cu-In solder often used as Pb-free solder can be reflowed at a lower temperature as the In content increases. Can be suppressed.
そこで本発明は、Inを含まないSn−3Ag−0.5CuはんだやIn含有量の低いSn−Ag−Cu−In系はんだのようにリフロー温度の高いはんだを用いても、低耐熱性部品を実装することのできる実装部品のはんだ付け方法及び熱遮蔽治具と、それらを用いた電子装置の製造方法とを提供することを目的とする。 Therefore, the present invention provides a low heat-resistant component even when a solder having a high reflow temperature such as a Sn-3Ag-0.5Cu solder not containing In or a Sn-Ag-Cu-In solder having a low In content is used. It is an object of the present invention to provide a mounting component soldering method and a heat shielding jig that can be mounted, and an electronic device manufacturing method using them.
上記目的を達成するため、本発明では、表面実装部品上に、熱吸収部材を備える熱遮蔽治具を、熱吸収部材が該表面実装部品に接触する状態で積載して加熱することによりはんだ付けを行うことはんだ付け方法が提供される。本発明で用いられる熱遮蔽治具は、熱吸収部材の表面実装部品に接触する面に設けられた高さ規定治具をさらに備えることが望ましい。なお、はんだ付けした後のはんだバンプ高さは、熱遮蔽治具を積載せずにはんだ付けした後のはんだバンプ高さの65%以上95%以下であることが望ましい。 In order to achieve the above object, in the present invention, a heat shielding jig provided with a heat absorbing member is mounted on a surface mount component and soldered by loading and heating in a state where the heat absorption member is in contact with the surface mount component. A soldering method is provided. It is desirable that the heat shielding jig used in the present invention further includes a height defining jig provided on the surface of the heat absorbing member that contacts the surface-mounted component. The solder bump height after soldering is desirably 65% or more and 95% or less of the solder bump height after soldering without mounting the heat shielding jig.
さらに本発明では、熱吸収部材と、該熱吸収部材の表裏一方の面に設けられた高さ規定治具とを備えるはんだ付け用熱遮蔽治具が提供される。本発明で用いられる熱吸収部材は、アルミニウム又はアルミニウム合金からなることが望ましい。 Furthermore, in this invention, the heat shielding jig for soldering provided with a heat absorption member and the height prescription | regulation jig | tool provided in one surface of the front and back of this heat absorption member is provided. The heat absorbing member used in the present invention is preferably made of aluminum or an aluminum alloy.
また本発明では、表面実装部品を回路基板に搭載する部品搭載工程を備え、該部品搭載工程が、上述した本発明のはんだ付け方法を用いて表面実装部品を回路基板にはんだ付けする工程を備える電子装置の製造方法が提供される。部品搭載工程以外の工程については、特に制限されるものではなく、通常の工程をそのまま適用することができる。 The present invention further includes a component mounting step of mounting the surface mount component on the circuit board, and the component mounting step includes a step of soldering the surface mount component to the circuit substrate using the soldering method of the present invention described above. A method for manufacturing an electronic device is provided. Processes other than the component mounting process are not particularly limited, and normal processes can be applied as they are.
本発明によれば、リフロー温度の高いはんだを用いても、耐熱温度220℃程度の低耐熱性部品を実装することができる。 According to the present invention, it is possible to mount a low heat resistant component having a heat resistant temperature of about 220 ° C. even when using a solder having a high reflow temperature.
本発明では、例えば、バンプ接続を行う低耐熱部品(耐熱温度220℃)を含む表面実装部品12を回路基板15上にはんだペースト14を用いてはんだ付けを行うリフローはんだ付け工程において、図1(a)のようにバンプ接続を行う表面実装部品12のパッケージ上面に大熱容量のバルク材である熱吸収部材11を積載し、表面実装部品12と接触させて、表面実装部品12の外部接続端子13を基板15にリフローはんだ付けすることにより、図1(b)に示すようにリフローはんだ付けした後の表面実装部品12のはんだバンプ16の高さが、バルク材を積載せずリフローはんだ付けした後の平均はんだバンプ高さの65%〜95%となるようにする。
In the present invention, for example, in a reflow soldering process in which a
なお、65%未満の場合、バンプが過度にパッケージに押しつぶされた状態となり、バンプが基板と低耐熱部品のパッケージの間に生ずるひずみの緩和が困難となるため、温度サイクル試験をしたときの接続部破断寿命面が著しく低下することがある。 If it is less than 65%, the bumps are excessively crushed by the package, and it becomes difficult to relieve the strain that the bumps cause between the substrate and the package of the low heat resistant parts. The partial fracture life may be significantly reduced.
また、95%を越える場合には、載置した熱吸収部材11が軽すぎる(すなわちバルク材の熱容量が小さすぎる)ため、リフローはんだ付け中バルク材の温度が急速に上昇してしまい十分な熱遮蔽ができなくなることが多い。また、高さ規定治具を用いるなどして十分な熱容量の熱吸収部材11を用いている場合であっても、このようにバンプの沈み込みが少ない場合は、リフローはんだ付け中にバンプ高さが局所的に一定でなくなる際、最もバンプ高さが低くなる場所でバルク材とパッケージが離れてしまう瞬間があるため、パッケージの熱をバルク材が十分に吸収しきれず、熱遮蔽が不十分となる場合がある。
On the other hand, if it exceeds 95%, the mounted
この熱吸収部材11を用いない場合の65%〜95%というバンプ高さを実現するため、本発明では、図2に示す熱遮蔽治具20を用いることができる。この治具20を図3(a)に示すように表面実装部品12上に載置してはんだリフローを行うことで、リフローはんだ付けした後の表面実装部品12のはんだバンプ16の高さが所定の値(バルク材11を積載せずにリフローはんだ付けした後の平均はんだバンプ高さの65%〜95%程度が望ましい)に達すると、図3(b)に示すように治具20に設けられた高さ規定部材21の端部が基板15に接触することでパッケージの沈みこみが抑えられる。これにより、本発明では、バンプ高さ及び実装部品の上面の高さを一定に保つことができるとともに、実装部品が傾くことも回避できる。
In order to realize a bump height of 65% to 95% when this
このような高さ規定部材21を備える治具20を用いる場合には、バンプ高さが用いない場合の95%を越える場合でも、載置した熱吸収部材11が軽すぎる(すなわちバルク材の熱容量が小さすぎる)わけではないため熱容量の点では問題とならない。
When using the
なお、熱遮蔽治具20の熱吸収部材11には、熱容量の点からアルミニウム又はアルミニウム系合金を用いることが望ましい。アルミニウム又はアルミニウム系合金は、金属材料の中で比較的比熱が大きく低耐熱部品から多くの熱を吸収できるためである。また、一般的なリフロー炉は赤外線ヒーターと熱風の併用により基板や部品の加熱がなされるが、アルミニウム又はアルミニウム系合金は赤外線反射率が金や銀と同様に大きく、さらに材料の表面に不導態の形成がなされるため表面の状態が変化しにくい上、低コストであることが利点として挙げられる。
The
また、耐熱温度220℃程度の低耐熱部品は熱容量の小さい小型のものが多く、多くの場合リフローはんだ付けする際に基板内で最高温度となるため、板材の積載では部品から十分な熱を吸収できない場合がある。このため、熱吸収部材11はある程度の高さ及び体積を有するバルク材とすることが望ましい。さらに、バンプ接続を行う表面実装部品12と基板15との間を流れるリフロー炉の熱風を妨げないよう、熱吸収部材は部品12の上面(基板とは反対側の面)に載置することが望ましい。
In addition, many heat-resistant parts with a heat-resistant temperature of around 220 ° C are small and have a small heat capacity. In many cases, the maximum temperature is reached in the circuit board when reflow soldering is performed. There are cases where it is not possible. For this reason, it is desirable that the
以下、本発明の実施の形態について、具体例を用いて詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。また、ここでははんだリフローによるはんだ付けを例にとって説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、フローはんだ付けなど他の混載実装方法を用いる場合にも適用可能である。 Hereinafter, although an embodiment of the present invention is described in detail using a specific example, the present invention is not limited to this. In addition, here, soldering by solder reflow has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and can also be applied to the case of using other mixed mounting methods such as flow soldering.
低耐熱部品であるフルグリッドBGA(耐熱温度:220℃、部品サイズ:17mm×17mm、バンプピッチ:1mm、バンプ数:256、バンプはんだ組成:Sn−37Pb)パッケージ12を、はんだペースト(組成:Sn−3Ag−0.5Cu−5In、供給厚:0.15mm)14を印刷した回路基板15に載置し、このフルグリッドBGAのパッケージ部上に熱遮断治具20としてアルミニウム製のバルク材11(サイズ:17mm×17mm、厚み:4mm)を積載してリフローはんだ付けをした。リフローの条件は、Sn−3Ag−0.5Cuはんだペーストでリフローできる条件とした。このフルグリッドBGA上にバルク材11を搭載しない状態でリフローすると平均バンプ高さは0.75mmとなることがわかっている。
Full grid BGA (heat resistant temperature: 220 ° C., component size: 17 mm × 17 mm, bump pitch: 1 mm, bump number: 256, bump solder composition: Sn-37Pb), which is a low heat resistant component, is packaged with solder paste (composition: Sn -3Ag-0.5Cu-5In, supply thickness: 0.15 mm) 14 is placed on a printed
また、比較のため(1)フルグリッドBGA全体を完全に覆いBGAには非接触の厚さ1mmのアルミニウム製のカバー型熱遮蔽治具を用いる場合、(2)熱遮蔽治具を用いない場合についても、リフローはんだ付けを行った。 For comparison, (1) when the full grid BGA is completely covered and a non-contact aluminum cover type heat shield jig with a thickness of 1 mm is used for the BGA, and (2) when no heat shield jig is used. Also, reflow soldering was performed.
はんだ付けに際しては、低耐熱部品(フルグリッドBGA)12のパッケージ部が耐熱温度の220℃を超えないようにはんだ付けを行う前に温度プロファイルの調整を行った。リフローはんだ付けの際の、部品周辺の各部の温度を表2に示す。 During soldering, the temperature profile was adjusted before soldering so that the package portion of the low heat resistant component (full grid BGA) 12 did not exceed the heat resistant temperature of 220 ° C. Table 2 shows the temperature of each part around the part during reflow soldering.
従って、治具不使用の場合や、カバー型熱遮蔽治具の使用の場合は、パッケージ部の温度を218℃乃至219℃の耐熱温度以下でリフローはんだ付けする場合、はんだ付けが行われるバンプ部は、216℃乃至217℃にしか到達せず、Sn−3Ag−0.5Cu−5Inがはんだ付けできる最低温度である215℃に対して1℃乃至2℃のマージンしか確保できないことになる(表1)。 Therefore, when the jig is not used or when the cover type heat shield jig is used, when reflow soldering is performed at a temperature of the package portion below the heat resistant temperature of 218 ° C. to 219 ° C., the bump portion to be soldered is performed. Can reach only 216 ° C. to 217 ° C., and only a margin of 1 ° C. to 2 ° C. can be secured with respect to 215 ° C. which is the lowest temperature at which Sn-3Ag-0.5Cu-5In can be soldered (Table 1).
一方、バルク状熱遮蔽治具20を使用する場合、はんだ付けが行われるバンプ部は、222℃乃至223℃に到達し、7℃乃至8℃のマージンが得られる。
On the other hand, when the bulk
また、バルク状熱遮蔽治具20を使用する場合、リフローはんだ付けした後の表面実装部品のはんだバンプ高さが、バルク材を積載せずリフローはんだ付けした後の平均はんだバンプ高さの70%となり、著しい接続信頼性の低下を引き起こさない通常の接続部形状が得られることも確認した。
When the bulk
用いる熱遮蔽治具の形状が異なる以外は実施例1と同様にしてフルグリッドBGAのリフローはんだ付けを行った。本実施例で用いた熱遮蔽治具20は、図2に示すように、熱吸収部材11の下面四隅に円柱状の高さ規定部材21を4本備える。なお、図2(a)は上面すなわち積載時に上になる面の側から見た斜視図であり、図2(b)は下面すなわち積載時に実装部品に接触する面の側から見た斜視図である。
Full grid BGA reflow soldering was performed in the same manner as in Example 1 except that the shape of the heat shielding jig used was different. As shown in FIG. 2, the
本実施例においても、実施例1と同様、フルグリッドBGAのパッケージ部が上に積載されたバルク状熱吸収部材11によって熱遮蔽される。また、本実施例では、実施例1の場合と異なり、熱遮蔽部材20が高さ規定部材21を備えているため、リフローはんだ付けした後の表面実装部品のはんだバンプ高さが、バルク材を積載せずリフローはんだ付けした後の平均はんだバンプ高さの90%に達すると、治具21の端部が基板15に接触することによりパッケージの沈みこみが抑えられる。
Also in the present embodiment, as in the first embodiment, the package portion of the full grid BGA is thermally shielded by the bulk
本実施例では、第1の実施の形態で得られた結果との比較のために、低耐熱部品(フルグリッドBGA)12のパッケージ部が耐熱温度の218℃になるように、はんだ付けを行う前に温度プロファイルの調整を行った。本実施例におけるリフローはんだ付けの際の、部品周辺の各部の温度を表3に示す。 In this example, for comparison with the result obtained in the first embodiment, soldering is performed so that the package portion of the low heat resistant component (full grid BGA) 12 has a heat resistant temperature of 218 ° C. The temperature profile was adjusted before. Table 3 shows the temperature of each part around the component during reflow soldering in this example.
また、本実施例の熱遮蔽治具20を使用する場合、リフローはんだ付けした後の表面実装部品のはんだバンプ高さが、バルク材を積載せずリフローはんだ付けした後の平均はんだバンプ高さの90%となり、著しい接続信頼性の低下を引き起こさない通常の接続部形状が得られることも確認された。
Moreover, when using the
11…熱吸収部材、12…表面実装部品、13…外部接続端子(はんだバンプ)、14…はんだペースト、15…回路基板、16…はんだバンプ、20…熱遮蔽治具、21…高さ規定部材。
DESCRIPTION OF
Claims (7)
上記熱吸収部材の上記表面実装部品に接触する面に設けられた高さ規定治具をさらに備えることを特徴とする請求項1記載のはんだ付け方法。 The heat shielding jig is
The soldering method according to claim 1, further comprising a height defining jig provided on a surface of the heat absorbing member that contacts the surface-mounted component.
上記熱吸収部材の表裏一方の面に設けられた高さ規定治具とを備えることを特徴とするはんだ付け用熱遮蔽治具。 A heat absorbing member;
A heat shielding jig for soldering, comprising: a height defining jig provided on one of the front and back surfaces of the heat absorbing member.
上記部品搭載工程は、
請求項1〜4のいずれかに記載のはんだ付け方法を用いて上記表面実装部品を上記回路基板にはんだ付けする工程を備えることを特徴とする電子装置の製造方法。
It has a component mounting process for mounting surface mount components on a circuit board.
The component mounting process
A method for manufacturing an electronic device, comprising the step of soldering the surface-mounted component to the circuit board using the soldering method according to claim 1.
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