JP2006011045A - Total reflection microscope - Google Patents
Total reflection microscope Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006011045A JP2006011045A JP2004188010A JP2004188010A JP2006011045A JP 2006011045 A JP2006011045 A JP 2006011045A JP 2004188010 A JP2004188010 A JP 2004188010A JP 2004188010 A JP2004188010 A JP 2004188010A JP 2006011045 A JP2006011045 A JP 2006011045A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cover
- total reflection
- microscope
- stage
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 44
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 43
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 14
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 10
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 8
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 238000000492 total internal reflection fluorescence microscopy Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
Description
本発明は、全反射照明により発生するエバネッセント光を用いて蛍光観察を行なうための全反射顕微鏡に関する。 The present invention relates to a total reflection microscope for performing fluorescence observation using evanescent light generated by total reflection illumination.
近年、生物顕微鏡の蛍光観察方法として、全反射蛍光顕鏡法(TIRFM:Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy)と呼ばれる顕鏡法が注目されている。これは、カバーガラスと標本の境界面で照明光を全反射させたときに、標本側に数100nm程度のわずかな範囲に浸み出すエバネッセント光と呼ばれる光を用いて蛍光物質を励起する方法であり、カバーガラス近傍のわずかな範囲の蛍光物質だけが照明されるので、バックグラウンドが非常に暗く、コントラストの高い蛍光観察や微弱な蛍光の観察が可能である。 In recent years, a microscope method called total internal reflection fluorescence microscopy (TIRFM) has attracted attention as a fluorescence observation method of a biological microscope. This is a method of exciting a fluorescent substance using light called evanescent light that immerses in a slight range of about several hundreds of nanometers on the specimen side when the illumination light is totally reflected at the interface between the cover glass and the specimen. In addition, since only a small range of fluorescent material in the vicinity of the cover glass is illuminated, the background is very dark, and high-contrast fluorescent observation and weak fluorescent observation are possible.
全反射蛍光顕微鏡用の光源には、一般に、十分な強度の単色光を発するレーザー光源が用いられる。実際の装置では、通常操作のレボルバーの転換や、その他の誤操作により、カバーガラスと標本の境界面で全反射しなくなり、直接の屈折光や散乱光が外部に漏れる可能性がある。 Generally, a laser light source that emits monochromatic light with sufficient intensity is used as a light source for a total reflection fluorescent microscope. In an actual apparatus, there is a possibility that direct refracted light or scattered light leaks to the outside due to the change of the revolver in normal operation or other misoperations, resulting in no total reflection at the interface between the cover glass and the specimen.
このため、ユーザーの安全を考慮して、ユーザー操作に伴い起こりえる各部のあらゆる状態で、直接の屈折光や散乱光が外部に漏れないように、ステージ全体をおおうようにステージカバーによるユーザーインターロック部が設けられている。標本の交換やオイルの点着時には、このステージカバーのフタが開くと、レーザー光路中にシャッターが入り、標本へのレーザー光の導入が遮断される。一方、ステージカバーのフタを閉じると、レーザー光路中にシャッターが開放され、標本へレーザー光が導入される。 For this reason, in consideration of user safety, the user can use the stage cover to cover the entire stage so that direct refracted light and scattered light do not leak to the outside in every state that can occur during user operations. Is provided. When changing the specimen or spotting oil, if the lid of the stage cover is opened, the shutter enters the laser beam path and the introduction of laser light to the specimen is blocked. On the other hand, when the lid of the stage cover is closed, the shutter is opened in the laser beam path, and the laser beam is introduced into the specimen.
特開平11−326774号公報は、顕微鏡用光源心出し装置を開示している。この装置では、底面にスクリーンを設けた透明なプラスチックでできた筒状体をレボルバーに装着することにより、スクリーン面の光源像を観察することができる。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-326774 discloses a microscope light source centering device. In this apparatus, a light source image on the screen surface can be observed by attaching a cylindrical body made of transparent plastic having a screen on the bottom surface to the revolver.
特開平10−83060号公報は暗箱用明視装置を開示している。この装置では、作業空間である暗箱内部に赤外線照明器とCCDカメラとを設けており、外部に配置したモニターで暗箱内部の様子を確認することができる。
しかし従来技術には以下のような不具合がある。 However, the prior art has the following problems.
標本へレーザー光を導入する全反射蛍光観察中はステージをステージカバーで覆っているため、ステージカバー内の様子が分からない。この状態で、ステージを操作して対物レンズと標本との位置関係を大きく変更すると、標本やステージ中座と、対物レンズやコンデンサーレンズの先球とが接触する恐れがある。 During the total reflection fluorescence observation in which laser light is introduced into the specimen, the stage is covered with a stage cover, so the state inside the stage cover is unknown. In this state, if the positional relationship between the objective lens and the specimen is greatly changed by operating the stage, the specimen or stage center may come into contact with the tip of the objective lens or condenser lens.
特開平11−326774号公報の装置では、レボルバーに装着した筒状体のみであり、ステージ上面全体を覆っていない。 In the apparatus disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 11-326774, only the cylindrical body mounted on the revolver is used, and the entire upper surface of the stage is not covered.
特開平10−83060号公報の装置では、暗箱内部に専用のCCDカメラと、外部に専用のモニターとが必要であり、システムが高価になってしまう。 In the apparatus disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 10-83060, a dedicated CCD camera inside the dark box and a dedicated monitor outside are necessary, and the system becomes expensive.
本発明は、このような実状を考慮して成されたものであり、その目的は、全反射蛍光観察時にステージカバーの内部の様子を目視することが可能な全反射顕微鏡を提供することである。 The present invention has been made in consideration of such a situation, and an object of the present invention is to provide a total reflection microscope capable of visually observing the inside of the stage cover during total reflection fluorescence observation. .
本発明の全反射顕微鏡は、標本を載置するためのステージを有する顕微鏡と、標本を全反射照明するための全反射照明光学系と、顕微鏡のステージをおおうように設けられたステージカバーと、ステージカバーの内部を単色波長の光で照明する補助照明光源部とを備えている。顕微鏡は標本を観察するための観察光学系を有し、観察光学系は対物レンズと吸収フィルターとを含んでいる。ステージカバーは固定カバーと着脱カバーとからなる。補助照明光源部は少なくとも一部が固定カバーに固定されている。着脱カバーは観察者がステージカバーの内部の様子を目視することを可能にするバンドパスフィルターを有し、バンドパスフィルターは、補助照明光源部が発する単色波長の光を透過するが、全反射照明光学系の光を透過せず、バンドパスフィルターの透過域は観察光学系内の吸収フィルターの透過域と重複していない。 The total reflection microscope of the present invention includes a microscope having a stage for placing a sample, a total reflection illumination optical system for total reflection illumination of the sample, a stage cover provided to cover the stage of the microscope, And an auxiliary illumination light source unit that illuminates the interior of the stage cover with light of a monochromatic wavelength. The microscope has an observation optical system for observing the specimen, and the observation optical system includes an objective lens and an absorption filter. The stage cover includes a fixed cover and a detachable cover. At least a part of the auxiliary illumination light source unit is fixed to the fixed cover. The detachable cover has a bandpass filter that allows an observer to visually observe the inside of the stage cover. The bandpass filter transmits monochromatic wavelength light emitted from the auxiliary illumination light source unit, but is totally reflected. The light of the optical system is not transmitted, and the transmission range of the bandpass filter does not overlap with the transmission range of the absorption filter in the observation optical system.
本発明によれば、全反射蛍光観察時にステージカバーの内部の様子を目視することが可能な全反射顕微鏡が提供される。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the total reflection microscope which can visually observe the state inside a stage cover at the time of total reflection fluorescence observation is provided.
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[第一実施形態]
図1は、本発明の第一実施形態による倒立型の全反射蛍光顕微鏡の縦断面図である。
[First embodiment]
FIG. 1 is a longitudinal sectional view of an inverted total reflection fluorescent microscope according to the first embodiment of the present invention.
本実施形態の倒立型の全反射蛍光顕微鏡は、倒立顕微鏡と、標本を全反射照明するための全反射照明光学系と、インターロック部と、補助照明部とを備えている。 The inverted total reflection fluorescent microscope of this embodiment includes an inverted microscope, a total reflection illumination optical system for total reflection illumination of a specimen, an interlock unit, and an auxiliary illumination unit.
倒立顕微鏡は、標本112を入れたディッシュ113を載置するためのステージと、ステージに載置されるディッシュ113の下方に位置する対物レンズ110と、対物レンズ110を含む標本112を観察するための観察光学系と、対物レンズ110を保持するためのレボルバー111と、レボルバー111を対物レンズ110の光軸Tに沿って移動させるための準焦機構(図示せず)とを備えている。
The inverted microscope is a stage for placing a
対物レンズ110は、レボルバー111に取り付けられている。レボルバー111は、準焦機構によって対物レンズ110の光軸Tに沿って移動可能である。
The
ステージは、上ステージ117と下ステージ118とステージ固定部119とから構成されている。上ステージ117は、ボールガイド機構(図示せず)などを介して下ステージ118に連結されている。下ステージ118は、ボールガイド機構(図示せず)などを介してステージ固定部119に連結されている。下ステージ118は、対物レンズの光軸Tと垂直な平面内で、紙面の垂直方向に移動可能である。上ステージ117は、対物レンズの光軸Tと垂直な平面内で、紙面の横の方向に移動可能である。
The stage includes an
上ステージ117の中央部の開口に中座116が設けられている。従って、中座116は、対物レンズ110の光軸Tと垂直な平面内で移動可能である。中座116の上に標本112を入れたディッシュ113が載置される。ディッシュ113は、透明なプラスチック製で、底面をくりぬいてできた開口をふさいでいるカバーガラス114を有している。標本112は、カバーガラス114の上面に培養されている。ディッシュ113の内部は、培養液115で浸されている。対物レンズ110の先端とカバーガラス114の間にはオイル120が浸されている。
A
観察光学系は、対物レンズ110と吸収フィルター121と結像レンズ122とCCDカメラ123とを備えている。吸収フィルター121と結像レンズ122とCCDカメラ123は、対物レンズ110の光軸T上に、対物レンズ110から順に配置されている。
The observation optical system includes an
全反射照明光学系は、レーザーヘッド101と、レーザー投光管107と、観察光学系内の対物レンズ110とから構成されている。またインターロック部は、固定カバー124と着脱カバー125とからなるステージカバーと、インターロックボックス102とを有している。
The total reflection illumination optical system includes a
レーザーヘッド101にはインターロックボックス102がビス(図示せず)などで固定され、インターロックボックス102にはファイバー固定部103がビス(図示せず)で固定されている。ファイバー固定部103にはファイバー105の導入部104が装着されており、ファイバー105の他端の射出部106はレーザー投光管107にビス(図示せず)などで固定されている。レーザー投光管107は、内部に、集光レンズ108と反射ミラー109とを備えている。集光レンズ108は、ファイバー105からの射出光を対物レンズ110の後側焦点位置に集光する焦点距離を有している。レーザー投光管107の光軸Mは対物レンズ110の光軸Tに直交している。反射ミラー109は、レーザー投光管107の光軸Mに対して45度の角度をなしており、レーザー投光管107に導入された光を対物レンズ110の外周部に向けて反射するように配置されている。反射ミラー109は、直動機構(図示せず)とバネ(図示せず)などにより、レーザー投光管107の光軸M方向に対物レンズ110の外周部あたりで移動可能である。
An
上ステージ117には、アルミなどの金属製の固定カバー124が上ステージ117の上面のほぼ全体をおおうようにビス(図示せず)などで固定されている。固定カバー124は上部に開口部を有している。固定カバー124の上には、アルミなどの金属製の着脱カバー125が装着される。着脱カバー125は固定カバー124に対して着脱可能である。着脱カバー125は上部に開口部を有し、この開口部にはバンドパスフィルター126が接着などによって固定されている。着脱カバー125を固定カバー124に装着した状態では、着脱カバー125と固定カバー124が一体となって箱型形状となる。固定カバー124の内側面には、スイッチ127がビス(図示せず)などで固定されている。スイッチ127はON/OFF切り換えのためのレバー128を有している。着脱カバー125の裏面にはピン129がビス(図示せず)で固定されている。ピン129は、着脱カバー125が固定カバー124に装着されたときに、スイッチ127のレバー128を押す。スイッチ127には、ON/OFF信号を送信するためのケーブル130が接続されている。スイッチ127からのON/OFF信号は、ケーブル130を通して、インターロックボックス102の内部の回路(図示せず)に送られて、内部のモーター(図示せず)などで駆動されるシャッター131を開閉させる。
A
補助照明部は、小型なLED光源であるLEDヘッド132と、ケーブル133を介してLEDヘッド132に接続されているハンドスイッチ134とから構成されている。LEDヘッド132は、固定カバー124の後側の内側面に設けられている。LEDヘッド132から発せられる照明光は、単色波長の光であり、ステージカバー(固定カバー124と着脱カバー125)の内部を照明する。具体的にはディッシュ113と中座116と対物レンズ110の先端を照明する。LEDヘッド132はケーブル133を介して接続されているハンドスイッチ134によってON/OFF制御が可能である。
The auxiliary illumination unit includes an
全反射照明光学系内のレーザーヘッド101からの単色光の波長をλL、LEDヘッド132からの単色光の波長をλ0、吸収フィルター121の透過域をλ1〜λ2、バンドパスフィルター126の透過域をλ3〜λ4とする。観察光学系内の吸収フィルター121の透過域λ1〜λ2とバンドパスフィルター126の透過域λ3〜λ4は重複していない。バンドパスフィルター126は、LEDヘッド132からの単色光を透過する。つまり、λ3<λ0<λ4である。さらにバンドパスフィルター126は、レーザーヘッド101からの単色光を透過しない。つまり、λL<λ3またはλ4<λLである。
The wavelength of monochromatic light from the
次に本実施形態の作用について述べる。 Next, the operation of this embodiment will be described.
着脱カバー125を固定カバー124に装着すると、ピン129がスイッチ127のレバー128を押してスイッチ127からON信号が出力される。ON信号はケーブル130を通してインターロックボックス102の内部の回路に送られて、シャッター131を開く。レーザーヘッド101からのレーザービームはファイバー105に導入され、レーザー投光管107の集光レンズ108で集光され、反射ミラー109で反射されたのち、全反射状態で標本112を照明する。全反射照明により境界面近くにエバネッセント光が生じ、生じたエバネッセント光が標本112を励起する。エバネッセント光により励起された標本112は蛍光を発する。標本112からの蛍光は、対物レンズ110で集光されたのち、不要な光が吸収フィルター121でカットされ、結像レンズ122によりCCD123の受光面に結像される。
When the
このような全反射蛍光照明観察状態で、ハンドスイッチ134をONにしてLEDヘッド132で照明する。これにより、バンドパスフィルター126を通して観察者135がステージカバー(固定カバー124と着脱カバー125)の内部の様子を目視観察できるようになる。具体的には対物レンズ110とディッシュ113と中座116の位置関係を観察者135が把握できるようになる。従って、中座116や準焦部を動かした際に、対物レンズ110の先端の外周部との中座116の中央開口部の内壁面との位置関係、対物レンズ110がディッシュ113底面を持ち上げているかどうかを認識することができる。
In such a total reflection fluorescent illumination observation state, the
以上に述べたように、本実施形態では、倒立型の全反射蛍光顕微鏡において、対物レンズの先端周辺部を目視することができるため、対物レンズの先端とディッシュ底面、対物レンズ先端の側面と中座の内壁面との接触を避けることができる。また、ステージの移動やピント合わせを迅速に行なえるため、作業性の向上につながる。 As described above, in the present embodiment, in the inverted total reflection fluorescent microscope, the periphery of the tip of the objective lens can be visually observed, so the tip of the objective lens and the bottom surface of the dish, the side surface of the tip of the objective lens, and the middle Contact with the inner wall surface of the seat can be avoided. In addition, the stage can be moved and focused quickly, leading to improved workability.
[第二実施形態]
図2は、本発明の第二実施形態による正立型の全反射蛍光顕微鏡の縦断面図である。図2において、図1に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。
[Second Embodiment]
FIG. 2 is a longitudinal sectional view of an upright total reflection fluorescence microscope according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 2, members indicated by the same reference numerals as those shown in FIG. 1 are similar members, and detailed description thereof is omitted.
本実施形態の正立型の全反射蛍光顕微鏡は、ステージ固定式正立顕微鏡と、標本を全反射照明するための全反射照明光学系と、インターロック部と、補助照明部とを備えている。 The upright total reflection fluorescent microscope of this embodiment includes a stage-fixed upright microscope, a total reflection illumination optical system for total reflection illumination of a specimen, an interlock unit, and an auxiliary illumination unit. .
正立顕微鏡は、標本112を入れたディッシュ113を載置するためのステージと、ステージに載置されるディッシュ113の上方に位置する対物レンズ110と、対物レンズ110を含む標本112を観察するための観察光学系と、対物レンズ110を光軸Tに沿って移動させるための準焦機構(図示せず)とを備えている。
The erecting microscope is for observing the
ステージの構成は、第一実施形態と同様である。観察光学系の構成は、全反射照明光学系と標本を挟んで上方向に、第一実施形態と同様に、対物レンズ110から、吸収フィルター121、結像レンズ122、CCDカメラ123が順に配置されている。
The configuration of the stage is the same as in the first embodiment. The configuration of the observation optical system is such that the
全反射照明光学系は、レーザーヘッド101と、レーザー投光管107と、コンデンサーレンズ136とから構成されている。またインターロック部は、固定カバー137と着脱カバー138とからなるステージカバーと、インターロックボックス102とを有している。
The total reflection illumination optical system includes a
レーザーヘッド101の構成とインターロックボックス102の構成は第一実施形態と同様である。
The configuration of the
コンデンサーレンズ136は、ステージに載置されるディッシュ113の下方に位置し、コンデンサーベース141に固定されている。コンデンサーベース141は、コンデンサーレンズ136の光軸T方向にラックアンドピニオン方式などによって移動可能で、ステージ固定式正立顕微鏡に固定されている。コンデンサーレンズ136の先端とカバーガラス114の間にはオイル120が浸されている。
The
レーザー投光管107内の集光レンズ108は、ファイバー105からの射出光をコンデンサーレンズ136の後側焦点位置に集光する焦点距離を有している。レーザー投光管107の光軸Mはコンデンサーレンズ136の光軸Tに直交している。反射ミラー109は、レーザー投光管107の光軸Mに対して45度の角度をなしており、レーザー投光管107に導入された光をコンデンサーレンズ136の外周部に向けて反射するように配置されている。反射ミラー109は、直動機構(図示せず)とバネ(図示せず)などにより、レーザー投光管107の光軸M方向にコンデンサーレンズ136の外周部あたりで移動可能である。
The condensing
上ステージ117には、アルミなどの金属製の固定カバー137が上ステージ117の上面後部をおおうようにビス(図示せず)などで固定されている。アルミなどの金属製の着脱カバー138は、固定カバー137に対して着脱可能である。着脱カバー138は観察者側に開口部を有し、この開口部にはバンドパスフィルター140が接着(図示せず)などよって固定されている。着脱カバー138を固定カバー137に装着させると、着脱カバー138と固定カバー137が一体となって、上ステージ117の上面のほぼ全体と対物レンズ110をおおう箱型形状となる。固定カバー137にはスイッチ127が固定されている。スイッチ127はON/OFF切り換えのためのレバー128を有している。着脱カバー138にはピン129がビス(図示せず)などで固定されている。ピン129は、着脱カバー138が固定カバー137に装着されたときに、スイッチ127のレバー128を押す。スイッチ127からのON/OFF信号は、ケーブル130を通して、インターロックボックス102の内部の回路(図示せず)に送られて、内部のモーター(図示せず)などで駆動されるシャッター131を開閉させる。
A fixed
補助照明部は、小型なLED光源であるLEDヘッド132と、ケーブル133を介してLEDヘッド132に接続されているハンドスイッチ134とから構成されている。LEDヘッド132は、固定カバー137の後側の内側面に設けられている。LEDヘッド132から発せられる照明光は、単色波長の光であり、ステージカバー(固定カバー137と着脱カバー138)の内部を照明する。具体的にはディッシュ113と中座116と対物レンズ110の先端を照明する。LEDヘッド132はケーブル133を介して接続されているハンドスイッチ134によってON/OFF制御が可能である。
The auxiliary illumination unit includes an
次に本実施形態の作用について述べる。 Next, the operation of this embodiment will be described.
着脱カバー138を固定カバー137に装着すると、ピン129がスイッチ127のレバー128を押してスイッチ127からON信号が出力される。ON信号はケーブル130を通してインターロックボックス102の内部の回路に送られて、シャッター131を開く。レーザーヘッド101からのレーザービームはファイバー105に導入され、レーザー投光管107の集光レンズ108で集光され、反射ミラー109で反射されたのち、全反射状態で標本112を照明する。全反射照明により境界面近くにエバネッセント光が生じ、生じたエバネッセント光が標本112を励起する。エバネッセント光により励起された標本112は蛍光を発する。標本112からの蛍光は、対物レンズ110で集光されたのち、不要な光が吸収フィルター121でカットされ、結像レンズ122によりCCD123の受光面に結像される。
When the
このような全反射蛍光照明観察状態で、ハンドスイッチ134をONにしてLEDヘッド132で照明する。これにより、バンドパスフィルター140を通して観察者135がステージカバー(固定カバー137と着脱カバー138)の内部の様子を目視観察できるようになる。具体的には対物レンズ110とディッシュ113と中座116の位置関係を観察者135が把握できるようになる。従って、中座116や準焦部を動かした際に、対物レンズ110先端の外周部との中座116の中央開口の内壁面との位置関係、対物レンズ110と標本112と位置を認識することができる。
In such a total reflection fluorescent illumination observation state, the
以上に述べたように、本実施形態では、正立型の全反射蛍光顕微鏡において、対物レンズの先端周辺部を目視することができるため、対物レンズの先端とディッシュ底面、対物レンズ先端の側面と中座の内壁面との接触を避けることができる。また、ステージの移動やピント合わせを迅速に行なえるため、作業性の向上につながる。 As described above, in the present embodiment, in the upright type total reflection fluorescent microscope, since the peripheral portion of the tip of the objective lens can be visually observed, the tip of the objective lens, the bottom surface of the dish, the side surface of the tip of the objective lens, Contact with the inner wall surface of the center seat can be avoided. In addition, the stage can be moved and focused quickly, leading to improved workability.
[第三実施形態]
図3は、本発明の第三実施形態による倒立型の全反射蛍光顕微鏡の縦断面図である。図3において、図1に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。
[Third embodiment]
FIG. 3 is a longitudinal sectional view of an inverted total reflection fluorescent microscope according to the third embodiment of the present invention. In FIG. 3, members indicated by the same reference numerals as those shown in FIG. 1 are similar members, and detailed description thereof is omitted.
本実施形態は、補助照明部の構成が第一実施形態と相違している。 In the present embodiment, the configuration of the auxiliary illumination unit is different from that of the first embodiment.
固定カバー124の後側の内側面に、LEDヘッド132が設けられている。LEDヘッド132から発せられる照明光は、ディッシュ113と中座116と対物レンズ110先端を照明する。LEDヘッド132はケーブル142通してインターロックボックス102の回路(図示せず)に接続されている。インターロックボックス102の内部の回路はケーブル142を通してLEDヘッド132に、シャッター131が閉じた状態のときにOFF信号を送り、シャッター131が開いた状態のときにON信号を送る。
An
次に本実施形態の作用について述べる。 Next, the operation of this embodiment will be described.
着脱カバー125の固定カバーへ124の着脱に連動して、LEDヘッド132がON/OFFされる。
The
以上から分かるように、本実施形態は、第一実施形態の利点に加えて、LEDヘッド132のON/OFFの手間が省けるという利点を有している。これにより、全反射蛍光観察をよりいっそう迅速に行なえる。
As can be seen from the above, this embodiment has the advantage of saving the trouble of turning on / off the
本実施形態は、倒立型の全反射蛍光顕微鏡に適用されている例であるが、第二実施形態で述べた正立型の全反射蛍光顕微鏡に適用されてもよい。 The present embodiment is an example applied to an inverted total reflection fluorescence microscope, but may be applied to the upright total reflection fluorescence microscope described in the second embodiment.
[第四実施形態]
図4は、本発明の第四実施形態による倒立型の全反射蛍光顕微鏡の縦断面図である。図4において、図1に示された部材と同一の参照符号で指示された部材は同様の部材であり、その詳しい説明は省略する。
[Fourth embodiment]
FIG. 4 is a longitudinal sectional view of an inverted total reflection fluorescent microscope according to the fourth embodiment of the present invention. In FIG. 4, members indicated by the same reference numerals as those shown in FIG. 1 are similar members, and detailed description thereof is omitted.
本実施形態は、補助照明部の構成が第一実施形態と相違している。 In the present embodiment, the configuration of the auxiliary illumination unit is different from that of the first embodiment.
固定カバー124の後側面にはバンドパスフィルター145が設けられている。このバンドパスフィルター145は、着脱カバー125のバンドパスフィルター126と同様な透過域を有している。つまり、バンドパスフィルター145の透過域はλ3〜λ4である。また、連続波長の光を発するハロゲン光源144がビーム射出側をバンドパスフィルター145側に向けて配置されている。ハロゲン光源144はアダプター143を介して固定カバー124の外側側面にビス(図示せず)などで固定されている。
A
次に本実施形態の作用について述べる。 Next, the operation of this embodiment will be described.
ハロゲン光源144からの射出光はバンドパスフィルター145を通過して、λ3〜λ4の波長成分だけの光になり、ディッシュ113と中座116と対物レンズ110の先端を照明する。このため、バンドパスフィルター126を通してディッシュ113と中座116と対物レンズ110の先端の位置関係を観察者が把握することができるようになる。
Light emitted from the
以上に述べたように、本実施形態では、連続波長の光を発する通常のハロゲン光源を用いてステージカバー(固定カバー124と着脱カバー125)の内部の様子を目視することができる。
As described above, in this embodiment, the inside of the stage cover (fixed
[変形例]
変形例では、バンドパスフィルター145に代えて別のバンドパスフィルターが、観察者135側の固定カバー124の側面に設けられている。バンドパスフィルターはバンドパスフィルター145同様な透過域を有している。さらに、ハロゲン光源144などの専用の補助照明光源は配置せずに、懐中電灯などでバンドパスフィルターを通してステージカバーの内部を照明する。
[Modification]
In the modification, another band pass filter is provided on the side surface of the fixed
本変形例では、専用の補助照明光源を必要とせずに、ステージカバーの内部の様子を目視観察することができる。 In this modification, the internal state of the stage cover can be visually observed without the need for a dedicated auxiliary illumination light source.
本実施形態は、倒立型の全反射蛍光顕微鏡に適用されている例であるが、第二実施形態で述べた正立型の全反射蛍光顕微鏡に適用されてもよい。 The present embodiment is an example applied to an inverted total reflection fluorescence microscope, but may be applied to the upright total reflection fluorescence microscope described in the second embodiment.
これまで、図面を参照しながら本発明の実施形態を述べたが、本発明は、これらの実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において様々な変形や変更が施されてもよい。 The embodiments of the present invention have been described above with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications and changes can be made without departing from the scope of the present invention. Also good.
101…レーザーヘッド、102…インターロックボックス、103…ファイバー固定部、104…導入部、105…ファイバー、106…射出部、107…レーザー投光管、108…集光レンズ、109…反射ミラー、110…対物レンズ、111…レボルバー、112…標本、113…ディッシュ、114…カバーガラス、115…培養液、116…中座、117…上ステージ、118…下ステージ、119…ステージ固定部、120…オイル、121…吸収フィルター、122…結像レンズ、123…CCDカメラ、124…固定カバー、125…着脱カバー、126…バンドパスフィルター、127…スイッチ、128…レバー、129…ピン、130…ケーブル、131…シャッター、132…LEDヘッド、133…ケーブル、134…ハンドスイッチ、135…観察者、136…コンデンサーレンズ、137…固定カバー、138…着脱カバー、140…バンドパスフィルター、141…コンデンサーベース、142…ケーブル、143…アダプター、144…ハロゲン光源、145…バンドパスフィルター。
DESCRIPTION OF
Claims (6)
標本を全反射照明するための全反射照明光学系と、
顕微鏡のステージをおおうように設けられたステージカバーと、
ステージカバーの内部を単色波長の光で照明する補助照明光源部とを備えており、
顕微鏡は標本を観察するための観察光学系を有し、観察光学系は対物レンズと吸収フィルターとを含んでおり、ステージカバーは固定カバーと着脱カバーとからなり、補助照明光源部は少なくとも一部が固定カバーに固定されており、着脱カバーは観察者がステージカバーの内部の様子を目視することを可能にするバンドパスフィルターを有し、バンドパスフィルターは、補助照明光源部が発する単色波長の光を透過するが、全反射照明光学系の光を透過せず、バンドパスフィルターの透過域は観察光学系内の吸収フィルターの透過域と重複していない、全反射顕微鏡。 A microscope having a stage for placing a specimen;
A total reflection illumination optical system for total reflection illumination of the specimen;
A stage cover provided to cover the microscope stage;
An auxiliary illumination light source unit that illuminates the interior of the stage cover with light of a monochromatic wavelength,
The microscope has an observation optical system for observing the specimen, the observation optical system includes an objective lens and an absorption filter, the stage cover includes a fixed cover and a removable cover, and the auxiliary illumination light source unit is at least partly Is fixed to the fixed cover, and the detachable cover has a bandpass filter that allows an observer to visually observe the inside of the stage cover, and the bandpass filter has a monochromatic wavelength emitted by the auxiliary illumination light source unit. A total reflection microscope that transmits light but does not transmit light from the total reflection illumination optical system, and the transmission range of the bandpass filter does not overlap the transmission range of the absorption filter in the observation optical system.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004188010A JP4643182B2 (en) | 2004-06-25 | 2004-06-25 | Total reflection microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004188010A JP4643182B2 (en) | 2004-06-25 | 2004-06-25 | Total reflection microscope |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006011045A true JP2006011045A (en) | 2006-01-12 |
| JP4643182B2 JP4643182B2 (en) | 2011-03-02 |
Family
ID=35778385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004188010A Expired - Fee Related JP4643182B2 (en) | 2004-06-25 | 2004-06-25 | Total reflection microscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4643182B2 (en) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010066344A (en) * | 2008-09-09 | 2010-03-25 | Nikon Corp | Shield cover for microscope illumination light |
| CN102621117A (en) * | 2012-03-09 | 2012-08-01 | 福建师范大学 | Living cell laser scanning co-focusing microscope imaging system |
| WO2012102140A1 (en) | 2011-01-24 | 2012-08-02 | ナノフォトン株式会社 | Light-blocking member which is applicable to microscope |
| JP2014115596A (en) * | 2012-12-12 | 2014-06-26 | Olympus Corp | Protection device and microscope system |
| JP2015114578A (en) * | 2013-12-13 | 2015-06-22 | 株式会社島津製作所 | Light measuring device and safety device used therefor |
| WO2023032299A1 (en) * | 2021-08-31 | 2023-03-09 | 株式会社島津製作所 | Microscopic raman device |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1083060A (en) * | 1996-09-06 | 1998-03-31 | Kyoritsu Denki Kk | Clear vision device for dark box |
| JPH1090610A (en) * | 1996-09-17 | 1998-04-10 | Olympus Optical Co Ltd | Scan type probe microscope |
| JPH11142745A (en) * | 1997-11-11 | 1999-05-28 | Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk | Microscope equipment |
| JPH11326774A (en) * | 1999-04-22 | 1999-11-26 | Olympus Optical Co Ltd | Light source aligning device for microscope |
| JP2001013413A (en) * | 1999-07-02 | 2001-01-19 | Nikon Corp | microscope |
| JP2002236258A (en) * | 2001-01-25 | 2002-08-23 | Olympus Optical Co Ltd | Total reflection fluorescent microscope having white light source |
-
2004
- 2004-06-25 JP JP2004188010A patent/JP4643182B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1083060A (en) * | 1996-09-06 | 1998-03-31 | Kyoritsu Denki Kk | Clear vision device for dark box |
| JPH1090610A (en) * | 1996-09-17 | 1998-04-10 | Olympus Optical Co Ltd | Scan type probe microscope |
| JPH11142745A (en) * | 1997-11-11 | 1999-05-28 | Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk | Microscope equipment |
| JPH11326774A (en) * | 1999-04-22 | 1999-11-26 | Olympus Optical Co Ltd | Light source aligning device for microscope |
| JP2001013413A (en) * | 1999-07-02 | 2001-01-19 | Nikon Corp | microscope |
| JP2002236258A (en) * | 2001-01-25 | 2002-08-23 | Olympus Optical Co Ltd | Total reflection fluorescent microscope having white light source |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010066344A (en) * | 2008-09-09 | 2010-03-25 | Nikon Corp | Shield cover for microscope illumination light |
| WO2012102140A1 (en) | 2011-01-24 | 2012-08-02 | ナノフォトン株式会社 | Light-blocking member which is applicable to microscope |
| US9612373B2 (en) | 2011-01-24 | 2017-04-04 | Nanophoton Corporation | Light blocking member applicable to microscope |
| CN102621117A (en) * | 2012-03-09 | 2012-08-01 | 福建师范大学 | Living cell laser scanning co-focusing microscope imaging system |
| JP2014115596A (en) * | 2012-12-12 | 2014-06-26 | Olympus Corp | Protection device and microscope system |
| US9354435B2 (en) | 2012-12-12 | 2016-05-31 | Olympus Corporation | Protection device and microscope system |
| JP2015114578A (en) * | 2013-12-13 | 2015-06-22 | 株式会社島津製作所 | Light measuring device and safety device used therefor |
| WO2023032299A1 (en) * | 2021-08-31 | 2023-03-09 | 株式会社島津製作所 | Microscopic raman device |
| JPWO2023032299A1 (en) * | 2021-08-31 | 2023-03-09 | ||
| JP7772073B2 (en) | 2021-08-31 | 2025-11-18 | 株式会社島津製作所 | Raman microscope |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4643182B2 (en) | 2011-03-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6924930B2 (en) | Microscope illumination device | |
| EP1731941B1 (en) | Observing device and fluorescent light observing device | |
| US7480046B2 (en) | Scanning microscope with evanescent wave illumination | |
| JP2000330029A (en) | Laser microscope | |
| US8208202B2 (en) | Focus detection apparatus, microscope | |
| JP2011118264A (en) | Microscope device | |
| CN100416333C (en) | observation device | |
| JP4643182B2 (en) | Total reflection microscope | |
| JP4285807B2 (en) | Epi-illumination microscope | |
| JPH09203864A (en) | NFM integrated microscope | |
| JP4474859B2 (en) | Microscope with dispenser | |
| JP4128387B2 (en) | Microscope equipment | |
| JPWO2009142312A1 (en) | Microscope equipment | |
| US9140886B2 (en) | Inverted microscope including a control unit configured to synchronize a switching operation between absorption filters with a switching operation between excitation filters | |
| US20180045940A1 (en) | Microscope and optical unit | |
| US7035002B2 (en) | Reflector turret for an inverted microscope | |
| JP2001013413A (en) | microscope | |
| US20010008462A1 (en) | Illuminating light selection device for a microscope | |
| JP2005062219A (en) | Optical member switching device and microscope using the same | |
| JP4681814B2 (en) | Total reflection fluorescence microscope | |
| JP2008170873A (en) | Microscope lens barrel | |
| JPH05203880A (en) | Microscope lighting device | |
| JP2006178199A (en) | Dark field illumination components and microscope | |
| JP2000075212A (en) | Microscope equipment | |
| JP2010145586A (en) | Microscope device and fluorescence cube |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070625 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100929 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101124 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101202 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4643182 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131210 Year of fee payment: 3 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |