JP2006092070A - ディスクアレイ装置及びその制御方法並びに制御プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】 ディスクアレイ装置を構成する各物理ディスクの性能劣化を精度よく検出し、障害の発生を未然に防ぐこと。
【解決手段】 複数の物理ディスクを装備したディスクアレイ装置であって、各物理ディスクへのアクセスに対する応答時間をそれぞれ計測する応答時間計測手段と、各物理ディスクの応答時間と、複数の物理ディスクのうち特定の物理ディスクの応答時間とに基づいて、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する性能劣化判断手段と、を備えた。
【選択図】図１

Description

本発明は、ディスクアレイ装置にかかり、特に、性能劣化したディスクの検出を行うディスクアレイ装置に関する。また、上記検出を行うディスクアレイ装置の制御方法、及び、制御プログラムに関する。

近年、オンデマンドの映像配信サービスに見られるように、記憶装置に記憶された大量のデータに対して遅延なくアクセスする必要性が高まっている。そして、映像配信ほどではないにしろ、オンライントランザクション処理においてもサーバの性能向上に合わせ、ストレージに要求される処理性能も厳しくなっている。このような要求に対して複数のディスクを並列にアクセスすることで処理性能を上げるＲＡＩＤを使ったディスクアレイ装置が注目を浴び、広く使用されている。ＲＡＩＤはさまざまな種類が研究されているが、機能を大きく２つに分けると、１つ目はデータに冗長性を持たせることでデータの損失確率を減らすことであり、２つ目は複数のディスクへの並列アクセスで性能を向上させることである。

従来のディスクアレイ装置ではデータの保持に重点が置かれており、ディスクが発行するなんらかのエラーイベントを検知して、障害ディスクを決定し、交換していた。例えば、下記の特許文献１には、ディスクアレイ装置のエラー発生頻度に応じてディスクを自動交換する技術が開示されている。

ところが、エラーイベントは検知できなくとも性能劣化が発生することはあるため、この性能劣化を早急に検知することが必要とされている。そのような技術として、下記の特許文献２に示すように、ディスクの応答時間を計測して基準値と比較し、性能劣化を検出する、という手法が公開されている。また、性能劣化を検出した後に、ブロック障害であるとして、当該一部のブロックを予備と交換する手法も知られている。

特開平１１−３４５０９５号公報 特開平４−３０５８６５号公報

しかしながら、上記従来例には、以下のような問題があった。まず、第１の問題は、従来の性能劣化を判断する方法は、物理ディスクへの各ＩＯ要求の時間を測定し、それを基準値と比較するという方法であるため、ディスクの種類、ＩＯのサイズ負荷状況など様々な条件によって劣化と判断する応答時間の絶対値が変化し、基準値の設定が容易でないことである。すなわち、仮に基準値を設定したとしても、性能劣化が生じたか否かを精度よく判断することができない、という問題が生じる。

また、第２の問題は、性能劣化の原因がブロック障害以外にあった場合に、性能劣化を改善できないということである。すなわち、ディスクアレイ装置に発生している性能劣化は、非常に大規模なＯＬＴＰ環境で発生しており、ランダムアクセス時に定常的に発生することから、一部のブロック障害では原因を説明できない性能劣化現象が発生することがある。

このため、本発明では、ディスクアレイ装置を構成する各物理ディスクの性能劣化を精度よく検出し、障害の発生を未然に防ぐ、ことをその目的とする。

そこで、本発明であるディスクアレイ装置は、
複数の物理ディスクを装備したディスクアレイ装置であって、
各物理ディスクへのアクセスに対する応答時間をそれぞれ計測する応答時間計測手段と、
各物理ディスクの応答時間と、複数の物理ディスクのうち特定の物理ディスクの応答時間とに基づいて、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する性能劣化判断手段と、
を備えたことを特徴としている。

上記発明によると、まず、複数の物理ディスクに対してアクセスしたときの応答時間をそれぞれ計測する。そして、複数の物理ディスクの応答時間と、特定の物理ディスクの応答時間とを比較して、当該特定の物理ディスクの性能が劣化しているか否かを判断する。従って、特定の物理ディスクの性能劣化を、他の物理ディスクの性能と比較することで検出するため、絶対値との比較により劣化を判断する従来例とは異なり、ディスクの種類や負荷状況に依存することなく、高精度に性能劣化を検出することができる。

また、性能劣化判断手段は、各物理ディスクの応答時間の平均値を算出すると共に、この平均値と特定の物理ディスクの応答時間とを比較して、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、ことを特徴としている。このとき、性能劣化判断手段は、応答時間の平均値を算出する際に、特定の物理ディスクを除いた他の物理ディスクの応答時間の平均値を算出する、という構成にすると望ましい。このように、応答時間の平均値を比較対象とすることで、標準的な応答時間との対比のもとで性能劣化判断を行うことができ、より高精度に性能劣化判断を行うことができる。

また、性能劣化判断手段は、各物理ディスクの応答時間の平均値と、特定の物理ディスクの応答時間との比に基づいて、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、ことを特徴としている。このとき、性能劣化判断手段は、各物理ディスクの応答時間の平均値と特定の物理ディスクの応答時間との比と、予め設定された基準比とを比較して、その比較結果に基づいて特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、ことを特徴としている。

また、性能劣化判断手段は、特定の物理ディスクの応答時間Ｔの各物理ディスクの応答時間の平均値Ｔａに対する比（Ｔ／Ｔａ）と、予め設定された基準比（例えば、２）とを比較して、当該基準比よりも上記比（Ｔ／Ｔａ）が高い場合に特定の物理ディスクの性能が劣化したと判断する、ことを特徴としている。

これにより、特定の物理ディスクの応答時間と平均値との比を算出して、かかる値に基づいて判断することにより、劣化判断が容易かつ高速となる。特に、算出した比を予め設定された基準比と比較することにより性能の劣化を判断することで、より確実かつ迅速に、性能が劣化した物理ディスクの検出を行うことができる。

さらに、上記構成に加えて、
アクセス対象となる各物理ディスクのほかに少なくとも１つの予備物理ディスクを備えると共に、
性能劣化判断手段にて、特定の物理ディスクの性能が劣化していると判断されたときに、当該特定の物理ディスクに換えて予備物理ディスクを使用可能なよう交換処理を行うディスク交換手段を備えた、ことを特徴としている。

これにより、性能劣化の物理ディスクが自動的に交換されるため、物理ディスクに依存する全ての性能劣化により生じうるディスクアレイ装置の障害を事前に回避することができる。

また、本発明では、複数の物理ディスクを装備したディスクアレイ装置の動作を制御する制御部に、
各物理ディスクへのアクセスに対する応答時間をそれぞれ計測する応答時間計測手段と、
各物理ディスクの応答時間と、複数の物理ディスクのうち特定の物理ディスクの応答時間とに基づいて、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する性能劣化判断手段と、
を実現するためのディスクアレイ装置の制御プログラムをも提供している。

そして、上記プログラムにより実現される性能劣化判断手段は、各物理ディスクの応答時間の平均値を算出すると共に、この平均値と特定の物理ディスクの応答時間とを比較して、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、
ことを特徴としている。

さらに、本発明では、ディスクアレイ装置の制御方法をも提供しており、
ディスクアレイ装置に装備された複数の物理ディスクへのアクセスに対する応答時間をそれぞれ計測し、
各物理ディスクの応答時間と、複数の物理ディスクのうち特定の物理ディスクの応答時間とに基づいて、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、ことを特徴としている。このとき、特定の物理ディスクの性能劣化判断を、各物理ディスクの応答時間の平均値を算出し、この平均値と特定の物理ディスクの応答時間とを比較して行う、ことを特徴としている。

以上のような構成の制御プログラム、制御方法であっても、上述したディスクアレイ装置と同様に作用するため、ディスクアレイ装置を構成する各物理ディスクの性能劣化を精度よく検出する、という上記目的を達成することができる。

本発明は、以上のように構成され機能するので、これによると、特定の物理ディスクの性能劣化を、他の物理ディスクの性能と比較することで検出するため、絶対値との比較により劣化を判断する従来例とは異なり、ディスクの種類や負荷状況に依存することなく、高精度に性能劣化を検出することができる。そして、実際にディスクに障害が生じる前に性能劣化を検出できるため、適切な障害対策を採ることができ、ディスクアレイ装置の信頼性の向上を図ることができる、という従来にない優れた効果を有する。

本発明は、複数ディスクでＲＡＩＤを構成しているディスクアレイ装置において、特定の物理ディスクの性能劣化を、同じＲＡＩＤを構成する他の物理ディスクと応答時間を比較して検出する、ことに特徴を有する。これにより、ディスクの種類や負荷状況に依存することなく、性能劣化を判断でき、また、交換単位をディスクとすることでディスクに関わる全ての障害を改善できる。以下、具体的な構成を、実施例にて説明する。

本発明の第１の実施例を、図１乃至図４を参照して説明する。図１は、ディスクアレイ装置の構成を示すブロック図である。図２は、ディスクアレイ装置内のプロセッサの構成を示す機能ブロック図である。図３乃至図４は、ディスクアレイ装置の動作を示すフローチャートである。

＜構成＞
図１に示すように、本発明のディスクアレイ装置１は、ＩＯを要求するホストコンピュータ２と接続されており、このホストコンピュータ２からＩＯ要求を受けて、物理ディスクへＩＯを制御するコントローラ１０と、複数の物理ディスクから構成される物理ディスクグループ２０と、を備えて構成されている。

物理ディスクグループ２０は、ＲＡＩＤ構成に使用されていて実際のアクセスが発生するＲＡＩＤ構成済みの物理ディスク２１（２１ａ，２１ｂ，２１ｎ等）と、ＲＡＩＤに使用されておらず障害発生時の交換用の予備物理ディスクであるスペア物理ディスク２２（２２ａ，２２ｂ等）との集合として構成されている。なお、物理ディスク２１及びスペア物理ディスク２２の装備数は、図示する数に限定されない。

コントローラ１０は、プロセッサ１００とイベントを記録するイベントログ１１０とを含んで構成される。プロセッサ１００は、演算装置（制御装置）であり、ディスクアレイ装置１の制御用プログラムが組み込まれることで、図２に示すように、ＩＯ処理部１０１、応答時間測定部１０２、性能劣化判断処理部１０３、イベント処理部１０４、ディスク交換処理部１０５が構築される。ここで、上記各処理部１０１〜１０５による機能を詳述する。

ＩＯ処理部１０１は、ホストコンピュータ２からの指令に応じて、ＲＡＩＤ構成済みの各物理ディスク２１に対してアクセスし、データの記録再生処理を行う。また、各物理ディスク２１に対するアクセスする際に、アクセス開始時と物理アクセスからの応答受取時に、その旨を応答時間測定部１０２に通知する。なお、このＩＯ処理部１０１は、通常のＩＯ機能も果たすことから、物理ディスク２１に対するデータの記録再生結果をホストコンピュータ２に通知する。

応答時間測定部１０２は、ＩＯ処理部１０１からの通知に応じて、各物理ディスク２１の応答時間を計測する。すなわち、上記ＩＯ処理部１０１とこの応答時間測定部１０２とにより、各物理ディスク２１へのアクセスに対する応答時間をそれぞれ計測する応答時間計測手段が構成されている。そして、応答時間測定部１０２は、計測した応答時間を、性能劣化判断処理部１０３に通知する。

性能劣化判断処理部１０３（性能劣化判断手段）は、計測した各物理ディスク２１の応答時間の平均値Ｔａを算出する。ここでは、ＲＡＩＤを構成している物理ディスク２１全ての応答時間の平均を算出することとする。その後、各物理ディスク（例えば、符号２１ａにて示すもの）を特定の物理ディスクとして、当該特定の物理ディスクの応答時間Ｔの上記平均値Ｔａに対する比（Ｔ／Ｔａ）（以下、「劣化比」という）を算出する。そして、この劣化比（Ｔ／Ｔａ）を、予め性能劣化判断処理部１０３に組み込まれた基準比と比較し、その大小を調べる。このとき、特定の物理ディスク２１ａの応答時間Ｔが、平均値Ｔａよりも遅延している場合には、上記算出した劣化比（Ｔ／Ｔａ）の値が１以上となり、その遅延が大きくなるにつれて比の値が大きくなる。従って、性能劣化を判断しうる基準比の値として、性能劣化と判断しうる値を予め理論式や実験に求めて設定しておく。

そして、性能劣化判断処理部１０４は、上記算出した劣化比（Ｔ／Ｔａ）が基準比よりも大きい（あるいは等しい）場合に、現在対象としている特定の物理ディスク２１ａの性能が劣化したと判断する。そして、特定の物理ディスクを他の物理ディスクに変更して（例えば、次は符号２１ｂに示す物理ディスク）、上記性能劣化の判断処理を行い、全ての物理ディスクが終了するまで繰り返す。すなわち、各物理ディスクごとに上記劣化比（Ｔ／Ｔａ）をそれぞれ求めて基準比と比較して、各物理ディスクの性能が劣化しているか否かを判断する。そして、各物理ディスクごとの判断結果を、イベント処理部１０４に通知する。

なお、上記のように、本発明にて、同じＲＡＩＤを構成している他の物理ディスクと応答時間を比較する手法を採っている理由は、以下のとおりである。これは同じＲＡＩＤを構成している物理ディスクは同じ種類のディスクが使用されており、同じストライプサイズでＲＡＩＤを構成することからＩＯのサイズは一様、負荷状況も同じであり、比較対象として適切であることが理由である。また実験より、負荷特性によっては正常なディスク同士であっても、応答時間は物理ディスクごとに最大と最小で１．５倍程度の差分があることがわかっている。そこで判定の正確性を向上させるために、ＲＡＩＤで使用される物理ディスクの応答時間の平均を計算し、それと各物理ディスクの応答時間を比較する。実験ベースでは平均値と比較して正常なディスクの応答時間が２倍以上長くなる現象は見られず、これを性能劣化の判断基準とする。すなわち、上記基準比の値を「２」として、劣化比がこれより大きい場合には、性能劣化と判断するとよい。但し、基準比の値は、かかる値に限定されるものではない。

ここで、上記劣化判断処理部１０４による性能劣化判断処理は、上記手法に限定されない。例えば、物理ディスク２１全てにおける応答時間の平均値Ｔａは、劣化判断対象となる特定の物理ディスクを除いた他の物理ディスクの応答時間の平均値Ｔａであってもよい。従って、符号２１ａの物理ディスクの劣化を判断する際には、他の物理ディスク２１ｂ，２１ｎ等の平均値Ｔａを求めて、これと符号２１ａに示す物理ディスクの応答時間の劣化比を用いてもよい。さらには、上述したように劣化比を算出して性能劣化を判断することに限定されず、他の演算にて判断を行ってもよい。例えば、各物理ディスク２１の応答時間と、特定の物理ディスクの応答時間とに基づいて、それらの大小を比較するなど、他の演算を行うことで、特定の物理ディスクの性能劣化を判断するよう作動してもよい。

そして、上記イベント処理部１０４は、上記性能劣化判断処理部１０３からの通知に応じて、イベントログ１１０に性能劣化と判断された物理ディスクに対するイベントを記録する。また、さらに、上記イベントに関する情報、すなわち、性能劣化と判断された物理ディスクを特定する情報と、そのときの劣化比（Ｔ／Ｔａ）をディスク交換処理部１０５に通知する。

ディスク交換処理部１０５（ディスク交換手段）は、通知された劣化比（Ｔ／Ｔａ）を調べ、予め設定されている交換基準比と比較する。この交換基準比は、例えば「３」であり、上述した劣化と判断される基準比よりもはるかに大きい値であり、特定の物理ディスクの応答時間が平均値よりも３倍も遅延していることを意味している。そして、この値以上となると、ディスク交換処理部１０５は、特定の物理ディスク２１に換えてスペア物理ディスク２２を使用可能なよう交換処理を行う。例えば、ＲＡＩＤを構成している物理ディスク２１ａが上記のように交換が必要であると判断されると、当該物理ディスク２１ａ内のデータをスペア物理ディスク２２ａにコピーし、当該スペア物理ディスク２２ａを物理ディスク２１ａと交換してＲＡＩＤを構成するよう設定する。但し、実際に交換処理を実行するとなると、当該交換処理は物理ディスクの単位で実施するため時間がかかることから、ユーザが交換のタイミングを設定しておく。例えば、予め業務停止の時間を自動交換可能時間帯として設定しておくことで、上述したように交換処理を行うと判断された物理ディスク２１ａは、設定された業務停止時間となったタイミングで実行される。なお、交換時期などは、さまざまな条件にてユーザに設定されてもよい。

なお、上記では、算出した比（Ｔ／Ｔａ）が平均値の３倍以上となった場合に、交換処理が実行される場合を例示したが、交換基準比は上記値に限定されない。また、上述したように、性能劣化判断処理部１０３にて性能劣化と判断された時点で、ディスク交換処理が実行されるよう設定されていてもよい。

＜動作＞
次に、上記構成のディスクアレイ装置１の動作を、図３乃至図４のフローチャートを参照して説明する。図３は、主に、性能劣化判断処理の動作を示すフローチャートであり、図４は、主に、ディスク交換処理の動作を示すフローチャートである。

まず、プロセッサ１００、つまり、ＩＯ処理部１０１は、ホストコンピュータ２からＩＯ要求を受信すると（ステップＳ１）、構成中のＲＡＩＤ情報からＩＯを発行する物理ディスク２１を決定し、各ＲＡＩＤ構成中の物理ディスク２１へ並列にＩＯを発行する（ステップＳ２）。そして、応答時間測定部１０２と連携して、各ＲＡＩＤ構成中の物理ディスク２１に対するＩＯの応答時間の測定を開始する（ステップＳ３）。

その後、ＩＯ処理部１０１が各ＲＡＩＤ構成中の物理ディスク２１からの結果を受け取る（ステップＳ４）と、応答時間測定部１０２と連携して、各ＲＡＩＤ構成中の物理ディスク２１に対するＩＯの応答時間の測定も終了させる（ステップＳ５）。そして、ＩＯ処理部１０１は、ホストコンピュータ２へＩＯの結果を送信する（ステップＳ６）。

その後、応答時間測定部１０２にて計測された応答時間は、性能劣化判断処理部１０３に通知され、当該性能劣化判断処理部１０３では、各ＲＡＩＤ構成中の物理ディスク２１の応答時間の平均値を計算（ステップＳ７）し、平均値とＲＡＩＤ構成中のそれぞれの物理ディスク２１の応答時間との比（劣化比）を求める（ステップＳ８）。そして、それぞれの物理ディスク２１に対する応答時間とそれらの平均値との劣化比が、２以上の物理ディスクがあるかどうかを判断し、２未満であれば性能劣化はないと判断し（ステップＳ８にて否定判断）、ＩＯ処理部１０１に通知して、ＩＯ処理が終了でなければ(ステップＳ１０にて否定判断）ステップＳ１へ戻り、ＩＯの処理を継続する。一方、劣化比が２以上のディスクがあれば、そのディスクと特定する情報と共に応答時間の性能が劣化していると判断し、その旨をイベント処理部１０４に通知する。そして、イベント処理部１０４では、通知をうけた内容のイベントを、コントローラ１０のイベントログ１１０に記録する(ステップＳ９）。

次に、プロセッサ１００が物理ディスクの交換処理を行う際の動作を図４を参照して説明する。すなわち、イベント処理部１０４からイベント発生の通知を受けたディスク交換処理部１０５による動作である。

まず、プロセッサ１００は交換処理をするためにイベントを待ちつつ、既に交換が必要な物理ディスク２１が存在するか否かを調べる（ステップＳ２１）。ここでは、まだ交換すべき物理ディスク２１は存在しない（ステップＳ２１にて否定判断）。

そして、上述したように、特定の物理ディスク２１の上記劣化比（Ｔ／Ｔａ）が２以上となると性能劣化イベントが発生し、これを検知すると(ステップＳ２３にて肯定判断）、交換が必要かどうかの判断を行う（ステップＳ２４）。具体的には、上記劣化比（Ｔ／Ｔａ）と、ユーザが予め設定した交換基準比（例えば、「３」に設定された値）を比較し、当該交換基準比を越えていなければ（ステップＳ２４にて否定判断）、イベント待ち状態に戻る（ステップＳ２１，Ｓ２３）。一方、ユーザの設定した交換基準比を越えていると判断されると（ステップＳ２４にて肯定判断）、ユーザの設定した交換のタイミング条件を満たしているか否かを調べる(ステップＳ２５）。例えば、予め業務停止の時間を自動交換可能時間帯として設定されている場合には、かかる時間帯であるか否かを調べる。

そして、交換タイミング条件が成立すると（ステップＳ２５にて肯定判断）、交換が必要と判断された物理ディスク２１内のデータをスペア物理ディスク２２にコピーし、当該スペア物理ディスク２２を物理ディスク２１と交換してＲＡＩＤを構成するよう設定し、ディスク交換処理を実行する（ステップＳ２６）。なお、交換タイミング条件が成立していない場合（ステップＳ２５にて否定判断）、例えば、業務停止時間でない場合には、ステップＳ２１に戻り、上述同様の処理が繰り返される。このとき、性能劣化イベントが発生しなくても（ステップＳ２３にて否定判断）、常に交換必要ディスクがあるかどうか調べられ（ステップＳ２１）、交換ディスクが存在するため（ステップＳ２１にて肯定判断）、交換タイミングとなるか否かが常に監視されることとなる（ステップＳ２２）。そして、交換タイミングとなると（ステップＳ２２にて肯定判断）、上述したようにディスク交換処理が実行される（ステップＳ２６）。

以上より、上記構成のディスクアレイ装置によると、特定の物理ディスクの性能劣化を、他の物理ディスクの性能と比較することで検出するため、絶対値との比較により劣化を判断する従来例とは異なり、ディスクの種類や負荷状況に依存することなく、高精度に性能劣化を検出することができる。特に、応答時間の平均値を比較対象とすることで、標準的な応答時間との対比のもとで性能劣化判断を行うことができ、より高精度に性能劣化判断を行うことができる。

そして、性能劣化の検出に応じて、物理ディスクに障害が発生する前に当該ディスクの交換などの対応を採ることができ、あるいは、性能劣化の物理ディスクが自動的に交換されるため、物理ディスクに依存する全ての性能劣化により生じうるディスクアレイ装置の障害を未然に防ぐことができる。

本発明をディスクアレイ装置に組み込むことにより、当該ディスクアレイ装置に生じうる障害を未然に防止することができるため、当該装置の信頼性も向上し、産業上の利用可能性を有する。

ディスクアレイ装置の構成を示すブロック図である。 プロセッサの構成を示す機能ブロック図である。 ディスクアレイ装置の動作を示すフローチャートである。 ディスクアレイ装置の動作を示すフローチャートである。

符号の説明

１ ディスクアレイ装置
２ ホストコンピュータ
１０ コントローラ
２０ 物理ディスクグループ
２１ 物理ディスク
２２ スペア物理ディスク
１００ プロセッサ
１０１ ＩＯ処理部
１０２ 応答時間測定部
１０３ 性能劣化判断処理部
１０４ イベント処理部
１０５ ディスク交換処理部
１１０ イベントログ

Claims (12)

1. 複数の物理ディスクを装備したディスクアレイ装置であって、
   前記各物理ディスクへのアクセスに対する応答時間をそれぞれ計測する応答時間計測手段と、
   前記各物理ディスクの応答時間と、前記複数の物理ディスクのうち特定の物理ディスクの応答時間とに基づいて、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する性能劣化判断手段と、
   を備えたことを特徴とするディスクアレイ装置。
2. 前記性能劣化判断手段は、前記各物理ディスクの応答時間の平均値を算出すると共に、この平均値と前記特定の物理ディスクの応答時間とを比較して、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、ことを特徴とする請求項１記載のディスクアレイ装置。
3. 前記性能劣化判断手段は、前記応答時間の平均値を算出する際に、前記特定の物理ディスクを除いた他の前記物理ディスクの応答時間の平均値を算出する、ことを特徴とする請求項２記載のディスクアレイ装置。
4. 前記性能劣化判断手段は、前記各物理ディスクの応答時間の平均値と、前記特定の物理ディスクの応答時間との比に基づいて、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、ことを特徴とする請求項２又は３記載のディスクアレイ装置。
5. 前記性能劣化判断手段は、前記各物理ディスクの応答時間の平均値と前記特定の物理ディスクの応答時間との比と、予め設定された基準比とを比較して、その比較結果に基づいて前記特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、ことを特徴とする請求項４記載のディスクアレイ装置。
6. 前記性能劣化判断手段は、前記特定の物理ディスクの応答時間Ｔの前記各物理ディスクの応答時間の平均値Ｔａに対する比（Ｔ／Ｔａ）と、予め設定された基準比とを比較して、当該基準比よりも前記比（Ｔ／Ｔａ）が高い場合に前記特定の物理ディスクの性能が劣化したと判断する、ことを特徴とする請求項４記載のディスクアレイ装置。
7. 前記基準比は２である、ことを特徴とする請求項６記載のディスクアレイ装置。
8. アクセス対象となる前記各物理ディスクのほかに少なくとも１つの予備物理ディスクを備えると共に、
   前記性能劣化判断手段にて、前記特定の物理ディスクの性能が劣化していると判断されたときに、当該特定の物理ディスクに換えて前記予備物理ディスクを使用可能なよう交換処理を行うディスク交換手段を備えた、ことを特徴とする請求項１，２，３，４，５，６又は７記載のディスクアレイ装置。
9. 複数の物理ディスクを装備したディスクアレイ装置の動作を制御する制御部に、
   前記各物理ディスクへのアクセスに対する応答時間をそれぞれ計測する応答時間計測手段と、
   前記各物理ディスクの応答時間と、前記複数の物理ディスクのうち特定の物理ディスクの応答時間とに基づいて、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する性能劣化判断手段と、
   を実現するためのディスクアレイ装置の制御プログラム。
10. 前記性能劣化判断手段は、前記各物理ディスクの応答時間の平均値を算出すると共に、この平均値と前記特定の物理ディスクの応答時間とを比較して、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、
    ことを特徴とする請求項９記載のディスクアレイ装置の制御プログラム。
11. ディスクアレイ装置に装備された複数の物理ディスクへのアクセスに対する応答時間をそれぞれ計測し、
    前記各物理ディスクの応答時間と前記複数の物理ディスクのうち特定の物理ディスクの応答時間とに基づいて、当該特定の物理ディスクの性能劣化を判断する、
    ことを特徴とするディスクアレイ装置の制御方法。
12. 前記特定の物理ディスクの性能劣化判断を、前記各物理ディスクの応答時間の平均値を算出し、この平均値と前記特定の物理ディスクの応答時間とを比較して行う、ことを特徴とする請求項１１記載のディスクアレイ装置の制御方法。
    

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