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JP2006069151A - 圧電膜型アクチュエータの製造方法及び液体噴射ヘッド - Google Patents

圧電膜型アクチュエータの製造方法及び液体噴射ヘッド Download PDF

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剛士 岡部
Nobuhiko Sato
信彦 佐藤
Makoto Kurotobi
誠 黒飛
Kenichi Takeda
憲一 武田
Toshihiro Ifuku
俊博 伊福
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Abstract

【課題】 振動板の厚み制御性がよく、SOIウェーハを用いず、また熱工程に影響されない、圧電膜型アクチュエータ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 圧力発生手段と振動板構造体を中間転写体上に形成する工程と、中間転写体上の圧力発生手段及び振動板構造体と第2の基板を接合する工程と、中間転写体を圧力発生手段と振動板構造体から剥離する工程によって製造する。また、中間転写体はシリコン基板とする。また、中間転写体はシリコン基板であり、且つ、多孔質層を有するものとする。
【選択図】 図1

Description

本発明は,圧電膜型アクチュエータの製造方法及びその圧電膜型アクチュエータを用いた液体噴射ヘッドに関するものである。
従来の液体噴射ヘッドとしては、以下のものが挙げられる。
(1)特開2002−134806号公報(特許文献1)
同公報のものは、以下の工程により振動板と圧電膜をキャビティ部に形成する。即ち、圧電膜を中間転写体上に形成→圧電膜と振動板構造体を接合→中間転写体を剥離し、圧電体を振動板構造体へ転写する。
(2)特開2002−234156号公報(特許文献2)
同公報のものは、振動板が単結晶ないし多結晶で、且つ、酸化物層でサンドイッチされており、圧電膜は単一配向結晶ないし単結晶である圧電素子構造体である。
液体噴射ヘッドとしては、SOI基板の表面に順にSiO,YSZ,Pt,PZT膜を形成する。このPZT膜が圧電膜として機能する。その後、基板Siの一部をエッチングで除去し、圧力室を形成する。その後、圧力室の一部をなすSi中間基板とオリフィスプレートを接合することで、液体噴射ヘッドを得る。
(3)特許第2976479号公報(特許文献3)
同公報のものは、ノズルが形成されたノズル基板と、ノズルに連通するキャビティとキャビティに対応する薄膜部が形成されたシリコン基板と、薄膜部上に接着工程を経ずに一体的に形成した圧力発生手段とを備えている。
(4)特開平10−286953号公報(特許文献4)
同公報のものは、MgO基板上に電極、鉛系誘電体層、電極、振動板を形成する。振動板の上に圧力室を形成する樹脂かガラスを形成した後、MgO基板の一部ないし全部を除去する。圧力室はパターニング等で形成する。
特開2002−134806号公報 特開2002−234156号公報 特許第2976479号公報 特開平10−286953号公報
課題1:特許文献1のものでは、圧電膜を振動板構造体に転写後に、圧電膜に対する電気経路等の配線工程を行う必要が発生する。これに伴い、配線工程の形成時にインクキャビティの崩壊を防ぐ等の制約が発生するため、微細化及び熱工程等のフレキシビリティに対応する事が困難となる。
課題2:特許文献2のものでは、以下の2点の課題がある。
(1)SOIウエハを用いること
SOIウエハは通常のシリコンウエハより価格が高い、即ち、製造コストが高い。
(2)埋め込み酸化シリコンとの選択エッチングでSiウエハをエッチングして圧力室を形成すること
埋め込み酸化シリコンとの選択エッチ性を確保しようとして、アルカリエッチングを用いると、圧力室の開口部寸法L2は、振動板部の寸法L1より大きくなってしまうので、圧力室を高密度の配置する上で課題となる。
課題3:特許文献3のものでは、振動板の厚み制御性の課題がある。即ち、インクジェットプリンタの解像度、階調を高めるため、吐出する液滴の量が微量化している。これに伴い、印刷紙面上の単位面積当たりのインクドット数も増加し、これに対応し、印字スピードを維持するため、振動板の応答性を高めるため、例えば、振動板を薄くすることが求められる。しかるに、シリコンの不純物濃度差による選択エッチでは選択比が低いため、振動板たるシリコンを薄膜化すると、膜厚制御性に課題を生じることがある。
課題4:特許文献4のものでは、MgOを基板として選んだ際には、単結晶シリコンを活性層とする駆動回路等の周辺回路を形成することは難しい。これにより、インクジェットヘッドにおいては、微細化に対して課題が生じる。インクジェットヘッドの微細化は高集積化と相まって実施するが、その場合には、より高速な駆動回路が必要であり、移動度の高い単結晶シリコン上に形成することが望ましい。
また、Siを基板と選んだ際には、振動板をSiにする事ができないため、高品質な単結晶の感度のよい振動板を得る事が難しい。
本発明は、上記従来の課題に鑑みなされたもので、その目的は、振動板の厚み制御性がよく、SOIウエハを用いず、また熱工程に影響されない、圧電膜型アクチュエータ及びその製造方法を提供することにある。
本発明の圧電膜型アクチュエータの製造方法は、上記目的を達成するため、圧力発生手段と振動板構造体とが形成された圧電膜型アクチュエータの製造方法において、前記圧力発生手段と前記振動板構造体を中間転写体上に形成する工程と、前記中間転写体上の圧力発生手段及び前記振動板構造体と第2の基板を接合する工程と、前記中間転写体を前記圧力発生手段と振動板構造体から剥離する工程とを含むことを特徴とする。
また、本発明の液体噴射ヘッドは、シリコンでないノズル構造体と、シリコン基板上に形成した振動板構造体及び圧力発生手段をはり合わせることを特徴とする。
また、本発明の液体噴射ヘッドは、ノズル構造体と、少なくとも一部がシリコンで構成される振動板構造体を持ち、ノズルに対応する圧力発生手段は圧力室側に備えた構造を有することを特徴とする。
本発明によれば、中間転写体上に振動板構造体を積層により形成するため、振動板構造体の厚さ制御が容易であり、均一性の向上も期待できる。これにより圧力発生手段の性能により、任意に調整した膜を得ることができる利点がある。また通常の半導体設備を利用する事が可能である。
また、圧力発生手段及び振動板構造体とキャビティ及びノズル構造体を作製する工程を分離することより、アクチュエータとしての振動板構造体の材料を幅広く選択でき、またノズル構造体の材質を任意に選択できるという利点がある。
更に、ノズル基板と接合する際には、駆動回路等の配線工程はすでに完了しているため、配線工程時の取り扱い及び熱工程の制約を受けない。
また、中間転写体を、多孔質層を介して機械的にあるいはレーザ光の照射により、振動体構造体を損傷させることなく容易に剥離することができ、中間転写体を再利用することが可能となる。
このように本発明は、低駆動電圧で大変位が得られ、応答速度が速く、発生力の大きい、大面積化・高集積化が可能な圧電膜型アクチュエータを得ることができる。更に、低駆動電圧で大変位が得られ、高速応答が可能で安定した信頼性の高い長尺で高密度の液体噴射ヘッドを作製することができる。
次に、発明を実施するための最良の形態について図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の圧電膜型アクチュエータの製造方法における主要工程を示す工程図である。本発明の圧電膜型アクチュエータ(以下、単にアクチュエータともいう)の製造方法の主要工程は、図1に示すように中間転写体であるシリコン基板上に多孔質シリコン層を形成する工程と、振動板構造体を中間転写体上に形成する工程と、中間転写体上の振動板構造体上に圧電膜を形成する工程と、中間転写体を振動体構造板及び圧電膜から剥離する工程とを含んでいる。以下、本発明による各工程を具体的に説明する。
1.振動板・圧電体・電極の形成
(1)多孔質シリコン層形成(図1(a))
図1(a)に示すように、両面研磨した厚さ625μmのSi単結晶基板10の一方の主面に多孔質層11を形成する。振動板構造体と圧電膜をキャビティに接合した後に中間転写体を剥離する際に容易に剥離できるように形成するものである。多孔質シリコン層11は、例えば、陽極化成法により形成する。陽極化成法は、HFを含む水溶液中で、Si単結晶基板の主面を陰極として、電流を印加することで形成する。
多孔質シリコン層の膜厚は陽極化成の時間を制御する等して規定する。多孔質層は、表面側に多孔度の低い第1層、その下層に第1層より多孔度の高い第2層を含む構造とすると、第1層と第2層の界面近傍の第2層に応力が集中し、当該部分で選択的に分離させることができるので、より好ましい。
多孔質層の膜厚は特に限定されないが、膜厚を厚くするとウエハの反りが増大し、プロセスの支障となる場合があるので、0.01〜200μm以下、より好ましくは0.5〜10μm以下である。第1層と第2層の2層構造とする場合には、第1層が概ね20μm以下、より好ましくは、10μm以下、第2層は概ね10μm以下、より好ましくは5μm以下である。第1層の多孔度が高いとエピ層の品質(結晶欠陥密度、表面ラフネス)を劣化せしめるので、概ね60%以下、より好ましくは30%以下である。
なお、多孔質の密度は、陽極化成前後のウエハ重量変化、及び、多孔質層の膜厚から判定することができる。
(2)振動板の形成(図1(b))
陽極化成を形成した後、多孔質層上に振動板12となる膜を形成する。振動板12の材料としては、シリコンが特に好適に用いられるがこれに限定されない。振動板12の形成方法は、熱CVD,プラズマCVD,MBE、液相エピタキシー等の方法が好適に用いられる。
振動板12としては、ヤング率が50GPa以上の材料で、例えば、SUS、Ti、ジルコニア、Si、Cu、SiO、ガラス、Cr等が挙げられる。振動板12は一層構成であっても複数の層構成であっても良い。複数の層構成の場合でも全体でヤング率が50GPa以上であることが必要である。振動板12の膜厚は、0.5μm〜20μmで、好ましくは1μm〜10μmである。また、振動板12は、Y,B等の微量金属でドーピングされたものを用いることもできる。
振動板にSiを用いた際には、駆動回路等を通常のSiプロセスで形成することが可能であるため、特に好適に用いられる。
(3)圧力発生手段の形成(図1(c))
多孔質シリコン上に形成された非多孔質単結晶膜上に、PZTよりなる圧電体層とこれに付帯する電極層を例えば以下のようにして形成する。
Si単結晶膜12上にPt、Cr、Ni等よりなる厚さ1μmの共通電極層21、厚さ10μmのPZTよりなる圧電体層20、Pt、Cr、Ni等よりなる個別電極層22をスパッタリングあるいはイオンプレーティングによって形成する。そして、個別電極層22上にレジスト膜によるパターンを形成し、これをマスクとしたイオンエッチングあるいは反応性イオンエッチングにより、共通電極層21、個別電極層22、圧電体層20をエッチングし、共通電極21′、個別電極22′、及び圧電体20′を形成する。また同時に、振動体部、配線部が形成される。
2.ノズルの形成及びインクジェットヘッドの形成
(4)ノズル基板の形成(図2)
次に、図2を用いてノズル基板A2の製造プロセス及び構造を説明する。ノズル基板A2の材料は特に限定されない。具体的には、ノズルが形成できればよく、ガラス、樹脂、単結晶Si基板等が挙げられる。より好ましくは熱膨張係数が圧電体基板と同じで、経時変化の少ない単結晶Si基板が好適である。ノズルの作製方法は例えば以下のような方法による。
図2において、60は両面研磨した厚さ100μmのSi単結晶基板であり、熱酸化により両面に0.1μmのSiO膜61を形成する。更にレジスト層63を、一方の面には[110]の方向に辺を持つように圧電体基板A1のキャビティ部の開口と同寸法の領域64を除いて、また、もう一方の面には全面に形成する(図2(a))。
エッチングにより正方形部分64のSiO膜61を除去し、しかる後、レジスト層63も除去する。続いて、ピロカテコール、エチレンジアミンと水の混合液を用いてSi単結晶基板60を異方性エッチングする(図2(b))。この後、SiO膜も除去する。このようにして出口71がキャビティ側開口よりも小さいノズル70が形成される(図2(c))。
ノズル基板は、二つの異なる物質あるいは同種の物質を、はり合わせることにより形成することも可能で、この場合はキャビティ部とノズル部に分けて形成することが可能となる。この場合の材料としては、ガラス、樹脂、単結晶Si基板等が挙げられるが、より好ましくは熱膨張係数が圧電体基板と同じで、経時変化の少ないものが好ましい。
(5)圧電体基板A1とノズル基板の接合(図3(a))
以上のようにして作った圧電体基板A1とノズル基板A2を圧電体層20及びノズル出口71が外側を向くように接触させて接合させる。基板の接合に関しては、陽極接合、活性金属法による接合、接着剤による接合、共有結合を用いた接合等を用いることができる。
この際、駆動回路等はすでに形成されているので、接着剤は耐熱性の低いものであっても好適に用いる事が可能である。
(6)振動板及び圧電素子と中間転写体の分離(図3(b))
振動板及び圧電膜を中間転写体から剥離する工程は、図3(b)に示すように圧電膜20と振動板構造体12を接合して構成するアクチュエータから中間転写体(Si単結晶基板)10を切り離す工程である。中間転写体10を剥離する手法としては、中間転写体10と振動板構造体12の間に多孔質層11を設けてこの多孔質層11を機械的に破壊して中間転写体2を剥離する手法と、ウォータージェット法により破壊して中間転写体10を剥離する手法と、レーザ光を照射し急速加熱により中間転写体10を剥離する手法等がある。なお、レーザ光を照射し剥離する手法では、多孔質層11がなくても良い。
また、本願出願人は、流体を利用して貼り合わせ基板等の複合部材を分離する方法を特許第2877800号公報において開示している。
(7)多孔質層の除去(図3(c))
多孔質層形成時に既に多孔質層が露出している場合には、同露出工程は特に必要ない。露出していない場合には、ラッピング、グラインディング等の研削、研磨、エッチング等の手法によって多孔質シリコン層を露出させる。
引き続いて、例えば、フッ化水素酸を含む溶液を用いて、多孔質シリコン11をエッチングする。エッチング液はフッ化水素酸を含む液が好適に用いられる。特に事前に多孔質層に酸化処理を施した場合に好適である。しかし、エッチング液はこれに限定されず、多孔質層の孔壁に形成された酸化物がないか、予め除去すれば、アルカリ水溶液等でもよい。
(8)貫通電極の形成(図3(d))
多孔質除去後に、圧力発生手段はノズル基板中にあるため必要に応じて上部より電気的経路を確保する。この際、振動板は0.2μm程度の薄膜である場合には貫通電極を容易に使用することが可能である。
貫通電極13の形成方法は特に限定されないが、Ni,Sn,W,Fe,Cu,Au,Pt等の金属を使用する事ができる。
次に、本発明を実施例に基づき説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されない。
図3乃至図5は本発明の圧電膜型アクチュエータを用いた液体噴射ヘッドの製造方法の具体的な実施例における各工程を示す概略図である。
(1)多孔質シリコンの形成
中間転写体表面に多孔質層を形成する工程においては、中間転写体として、板厚625μmのSi結晶基板を用いた。多孔質Si層は、HF水溶液(HF濃度=49wt%)とエタノールを体積比2:1で混合した混合液中で、電流密度8mA/cm、処理時間5〜11minの条件で第1層(表面側)を生成し、次いで、電流密度23〜33mA/cm、処理時間80sec〜2minの条件で第2層(内部側)を生成した。この時、第1の多孔度は約20%で、第2の多孔度は50%、厚さはそれぞれ6μm、3μm程度である。
(2)振動板の形成
多孔質Si層上にCVD法を用いて振動板となる単結晶Si層を成長させた。成長の初期段階で非多孔質層の原料物質の供給を20nm/min以下の微少量として、低速度で非多孔質膜を成長させることにより、多孔質Si層の表面の孔を封止した後、成長速度1μm/minで10μmの単結晶Siを形成した。
(3)圧力発生手段の形成
図4は圧力発生手段を形成した後の圧電体基板A1の状態図であり、図4(a)は上面図、図4(b)は図4(a)のm−m′線における断面図である。Si膜11上にPt、Cr、Ni等よりなる厚さ1μmの共通電極層21、厚さ10μmのPZTよりなる圧電体層20、Pt、Cr、Ni等よりなる個別電極層22をスパッタリング或いはイオンプレーティングによって形成した。そして、個別電極層22上にレジスト膜23を形成した。レジスト膜23(振動体形成部26)のサイズは425μm×800μmであり、図中矢印X−X′、Y−Y′の方向に辺を持つように形成した。
図5は次の工程における圧電体基板A1の状態図であり、図5(a)は上面図、図5(b)は図5(a)のm−m′における断面図である。図4の状態において、レジスト膜23のパターンを用いてイオンエッチングあるいは反応性イオンエッチングを行い、共通電極層21、個別電極層22、圧電体層20をエッチングし、共通電極21′、個別電極22′、及び、圧電体20′を形成した。
(4)ノズル基板の形成
図2に示すように、60は両面研磨した厚さ100μmのSi単結晶基板であり、熱酸化により両面に0.1μmのSiO膜61を形成した。更にレジスト層63を、一方の面には[110]の方向に辺を持つように圧電体基板A1のキャビティ部の開口と同寸法の領域64を除いて、また、もう一方の面には全面に形成した(図2(a))。次いで、エッチングにより正方形部分64のSiO膜61を除去し、しかる後、レジスト層63も除去した。続いて、ピロカテコール、エチレンジアミンと水の混合液を用いてSi単結晶基板60を異方性エッチングした(図2(b))。この後、SiO膜も除去した。このようにして出口71がキャビティ側開口よりも小さいノズル70を形成した(図2(c))。
(5)接合
次の中間転写体上の圧力発生手段及び振動板構造体とノズル基板を接合する工程において、圧電体基板A1とノズル基板A2を圧電体層20及びノズル出口71が外側を向くように接触させ、400℃に保ちながら、圧電体基板A1をマイナス電位にノズル基板A2をプラス電位にし、両者間に1000Vの電圧を印加して、陽極接合をした。
(6)分離
ウォータージェット法で15×10kPaの圧力でウォータージェットを多孔質層に噴射して、多孔質層中で剥離した。これにより、中間転写体を容易に剥離することができた。
(7)電極の形成
エッチング後の振動板構造体上に開口部をSiOでマスクを施した後に、ウエハ表面から10μmまでドライエッチングを行った。この時、開口部は圧力発生手段直上に10μm角とした。その後、この孔にCuメッキを充填し、続いて、平坦部のCuを機械的研磨にて除去した後にSiO膜を除去することにより電極を形成した。
以上のように作製した液体噴射ヘッドにおいては、20Vの駆動電圧、15kHzの周波数で、液体を11m/sの速度で安定して吐出させることができた。
本発明に係る圧電膜型アクチュエータの製造方法の主要な工程を説明する図である。 本発明に係るノズル基板の製造工程を説明する図である。 本発明に係る圧電体基板とノズル基板を用いて圧電膜型アクチュエータを作製する工程を説明する図である。 本発明の実施例における圧力発生手段を形成した後の圧電体基板A1を示す図である。 図4の次の工程における圧電体基板A1を示す図である。
符号の説明
10 Si単結晶基板
11 多孔質層
12 振動板
20(20′) 圧電体層
21(21′) 共通電極層
22(22′) 個別電極層
23 レジスト膜
60 Si単結晶基板
61 SiO
63 レジスト層
70 ノズル
71 出口
A1 圧電体基板
A2 ノズル基板

Claims (8)

  1. 圧力発生手段と振動板構造体とが形成された圧電膜型アクチュエータの製造方法において、前記圧力発生手段と前記振動板構造体を中間転写体上に形成する工程と、前記中間転写体上の圧力発生手段及び前記振動板構造体と第2の基板を接合する工程と、前記中間転写体を前記圧力発生手段と振動板構造体から剥離する工程とを含むことを特徴とする圧電膜型アクチュエータの製造方法。
  2. 前記中間転写体は、シリコン基板であることを特徴とする請求項1に記載の圧電膜型アクチュエータの製造方法。
  3. 前記中間転写体は、シリコン基板であり、且つ、多孔質層を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の圧電膜型アクチュエータの製造方法。
  4. 前記多孔質層は少なくともシリコンを含む材料で構成されていることを特徴とする請求項3に記載の圧電膜型アクチュエータの製造方法。
  5. シリコンでないノズル構造体と、シリコン基板上に形成した振動板構造体及び圧力発生手段をはり合わせることを特徴とする液体噴射ヘッド。
  6. 前記振動板構造体と中間転写体との間に多孔質層を形成することを特徴とする請求項5に記載の液体噴射ヘッド。
  7. ノズル構造体と、少なくとも一部がシリコンで構成される振動板構造体を持ち、ノズルに対応する圧力発生手段は圧力室側に備えた構造を有することを特徴とする液体噴射ヘッド。
  8. 前記圧力発生手段を作動させるための電気経路及び電極に、前記振動板構造体を貫通する構造を有することを特徴とする請求項7に記載の液体噴射ヘッド。
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