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JP2005268488A - Substrate supporting device - Google Patents

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JP2005268488A
JP2005268488A JP2004078029A JP2004078029A JP2005268488A JP 2005268488 A JP2005268488 A JP 2005268488A JP 2004078029 A JP2004078029 A JP 2004078029A JP 2004078029 A JP2004078029 A JP 2004078029A JP 2005268488 A JP2005268488 A JP 2005268488A
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JP
Japan
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substrate
edge
gas
holding
holding apparatus
Prior art date
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Pending
Application number
JP2004078029A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiko Sudo
義彦 須藤
Toshiro Hiroe
敏朗 廣江
Koji Hasegawa
公二 長谷川
Hiroaki Uchida
博章 内田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To facilitate processing and assembling, while preventing contamination of a substrate, by devising the falling prevention of a substrate. <P>SOLUTION: Since gas is injected towards both sides of a substrate W from a gas injector 29 at the time when the substrate W is transferred to a substrate supporting device 1, the substrate W will be supported by the member like a gaseous cushion. Therefore, it will be supported without contacting the gas injector 29. As a result, falling of the substrate W can be prevented by non-contact. Accordingly, particle generation can be prevented so that the contamination of the substrate W can be prevented. Since falling of the substrate W is controlled by the gas injector 29 without using a guide groove in a conventional example, there is no restrictions derived from a guide groove in processing and assembling operation. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体ウエハや液晶表示装置用のガラス基板(以下、単に基板と称する)等の基板を保持する基板保持装置に係り、特に、基板の下縁を保持する保持部と、この保持部を挟む位置に設けられた倒れ防止部とを備えた基板保持装置に関する。   The present invention relates to a substrate holding device that holds a substrate such as a semiconductor wafer or a glass substrate (hereinafter simply referred to as a substrate) for a liquid crystal display device, and in particular, a holding portion that holds a lower edge of a substrate, and the holding portion. The present invention relates to a substrate holding device provided with a fall prevention portion provided at a position sandwiching the substrate.

従来、この種の装置として、基板の下縁に当接して基板を保持する保持部と、この保持部を挟む基板の側縁位置の二カ所に倒れ防止部とを備え、保持部で基板を起立姿勢に支えるとともに、二カ所の倒れ防止部により基板の倒れを防止する基板保持装置が挙げられる(例えば、特許文献1参照)。この装置では、保持部がローラを備え、倒れ防止部が基板の厚みよりも幅広のガイド溝を備えており、ローラの回転により基板が起立姿勢を崩しても、基板が倒れ防止部のガイド溝に案内されて基板の起立姿勢が保たれるようになっている。
特開平10−4133号公報(図1、図3)
Conventionally, as this type of apparatus, a holding unit that abuts the lower edge of the substrate and holds the substrate, and a fall prevention unit at two positions on the side edge of the substrate that sandwich the holding unit are provided. There is a substrate holding device that supports the standing posture and prevents the substrate from falling by two falling prevention portions (see, for example, Patent Document 1). In this apparatus, the holding portion includes a roller, the fall prevention portion includes a guide groove wider than the thickness of the substrate, and even if the substrate loses its standing posture due to rotation of the roller, the substrate does not fall over the guide groove of the fall prevention portion. So that the standing posture of the substrate is maintained.
Japanese Patent Laid-Open No. 10-4133 (FIGS. 1 and 3)

しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。   However, the conventional example having such a configuration has the following problems.

すなわち、従来の装置は、倒れ防止部のガイド溝に基板の表裏両面や端縁が当接するので、この部分からパーティクルが発生し、基板が汚染されるという問題がある。また、倒れ防止部における溝の精度が基板の倒れ量に直結するので、加工及び組み立てにおける制約が多くなるという問題もある。   That is, the conventional apparatus has a problem that both the front and back surfaces and the edge of the substrate come into contact with the guide groove of the fall prevention portion, so that particles are generated from this portion and the substrate is contaminated. In addition, since the accuracy of the groove in the fall prevention part is directly linked to the fall amount of the substrate, there is a problem that restrictions in processing and assembly increase.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、基板の倒れ防止を工夫することにより、基板の汚染を防止しつつ、加工及び組み立てが容易にできる基板保持装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a substrate holding device that can be easily processed and assembled while preventing contamination of the substrate by devising prevention of the substrate from falling. With the goal.

本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。   In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.

すなわち、請求項1に記載の発明は、基板の下縁を保持する保持部と、この保持部を挟む位置に倒れ防止部とを備え、基板を起立姿勢に保持する基板保持装置において、前記倒れ防止部は、基板の表裏両面に向けて気体を噴射する気体噴射部を備えていることを特徴とするものである。   That is, the invention according to claim 1 includes the holding unit that holds the lower edge of the substrate, and the fall prevention unit at a position sandwiching the holding unit, and the substrate holding device that holds the substrate in an upright position. The prevention unit includes a gas injection unit that injects gas toward both the front and back surfaces of the substrate.

[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、気体噴射部から気体を噴射することにより、基板の表裏両面に気体が噴射されるので、基板の倒れを非接触で防止することができる。したがって、パーティクルの発生を防止できるので、基板の汚染を防止することができる。また、ガイド溝ではなく気体噴射部によって基板の倒れを規制するので、ガイド溝に起因する加工や組み立てにおける制約をなくすことができる。   [Operation / Effect] According to the invention described in claim 1, by injecting the gas from the gas injection unit, the gas is injected to both the front and back surfaces of the substrate, so that it is possible to prevent the substrate from collapsing without contact. it can. Therefore, generation of particles can be prevented, so that contamination of the substrate can be prevented. In addition, since the substrate is not tilted by the gas injection portion rather than the guide groove, restrictions on processing and assembly due to the guide groove can be eliminated.

なお、倒れ防止部は、基板の面方向にて保持部を挟む位置に設けられ、好ましくは少なくとも二カ所に設けられる。   In addition, the fall prevention part is provided in the position which pinches | interposes a holding | maintenance part in the surface direction of a board | substrate, Preferably it is provided in at least two places.

本発明において、気体噴射部は、気体を噴射する複数個のノズルを備えていることが好ましい(請求項2)。複数個のノズルによって確実に基板の倒れ防止を図ることができる。   In this invention, it is preferable that the gas injection part is provided with the some nozzle which injects gas (Claim 2). The plurality of nozzles can reliably prevent the substrate from falling.

また、本発明において、複数個のノズルは、基板の外形に沿って配置され、かつ基板の外縁から基板の中心側に入り込んだ位置にわたって配置されていることが好ましい(請求項3)。基板の外縁からやや中心側に入り込んだ位置にまで、基板の外形に沿って帯状に複数個のノズルを配置することで、広い面積で基板の倒れを図ることができるので、安定して基板の倒れ防止を図ることができる。   In the present invention, it is preferable that the plurality of nozzles be disposed along the outer shape of the substrate and disposed over a position that enters the center side of the substrate from the outer edge of the substrate. By arranging a plurality of nozzles in a strip shape along the outer shape of the substrate from the outer edge of the substrate to a position slightly entering the center side, the substrate can be tilted over a wide area, so that the substrate can be stably The fall can be prevented.

また、本発明において、前記保持部は、基板の端縁に当接して基板を一定方向に回転させる回転ローラを備え、前記回転ローラは、基板の端縁における所定位置にて回転が停止することが好ましい(請求項4)。回転ローラで基板が回転され、基板の端縁における所定位置、例えば、基板のノッチやオリエンテーションフラットにて回転が停止する。したがって、清浄度高く保ちつつ、基板の位置合わせを行うことができる。   In the present invention, the holding unit includes a rotation roller that contacts the edge of the substrate and rotates the substrate in a certain direction, and the rotation roller stops at a predetermined position on the edge of the substrate. (Claim 4). The substrate is rotated by the rotating roller, and the rotation stops at a predetermined position on the edge of the substrate, for example, a notch or an orientation flat of the substrate. Therefore, the substrate can be aligned while keeping the cleanness high.

また、本発明において、保持部は、基板の端縁に向けて気体を噴射する端縁気体噴射部を備えていることが好ましい(請求項5)。基板の端縁(側面)が保持部に接触する度合いを軽減することができるので、この部分におけるパーティクルの発生も低減することができる。   Moreover, in this invention, it is preferable that the holding | maintenance part is equipped with the edge gas injection part which injects gas toward the edge of a board | substrate (Claim 5). Since the degree of contact of the edge (side surface) of the substrate with the holding portion can be reduced, the generation of particles in this portion can also be reduced.

本発明に係る基板保持装置によれば、気体噴射部から気体を噴射することにより、基板の表裏両面に気体が噴射されるので、基板の倒れを非接触で防止できる。したがって、パーティクルの発生を防止できるので、基板の汚染を防止することができる。また、ガイド溝ではなく気体噴射部によって基板の倒れを規制するので、ガイド溝に起因する加工や組み立てにおける制約を解消できる。   According to the substrate holding device according to the present invention, since the gas is ejected from the gas ejection unit to the front and back surfaces of the substrate, the substrate can be prevented from falling down in a non-contact manner. Therefore, generation of particles can be prevented, so that contamination of the substrate can be prevented. In addition, since the substrate is not tilted by the gas injection portion instead of the guide groove, the restrictions in processing and assembly caused by the guide groove can be eliminated.

以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1は、実施例に係る基板保持装置を備えた基板整列装置の概略構成を示す図であり、図2は、図1におけるA−A矢視断面図である。   FIG. 1 is a diagram illustrating a schematic configuration of a substrate alignment apparatus including a substrate holding device according to an embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG.

この基板整列装置は、基板Wの周縁における一部位に形成されたノッチやオリエンテーションフラットを検出し、基板Wの周縁位置を一定方向に揃える機能を備えている。複数枚の基板Wは、基板整列装置が備えている基板保持装置1に対して全て起立姿勢で保持されている。   This substrate alignment apparatus has a function of detecting notches and orientation flats formed at a part of the periphery of the substrate W and aligning the periphery of the substrate W in a certain direction. The plurality of substrates W are all held in a standing posture with respect to the substrate holding device 1 provided in the substrate alignment device.

基板保持装置1は、基板Wの下縁を保持する保持部3と、この保持部3を挟む左右位置に倒れ防止部5とを備えている。これらのうち保持部3は、基板Wの下縁に当接して基板Wを保持する。一方、二つの倒れ防止部5は、紙面方向における基板Wの倒れを非接触で防止するとともに、基板Wの面方向(図1の左右方向)における倒れを当接して防止する。   The substrate holding device 1 includes a holding unit 3 that holds the lower edge of the substrate W, and a fall prevention unit 5 at the left and right positions sandwiching the holding unit 3. Of these, the holding unit 3 holds the substrate W in contact with the lower edge of the substrate W. On the other hand, the two fall prevention units 5 prevent the fall of the substrate W in the paper direction in a non-contact manner, and abut against the fall in the plane direction of the substrate W (left and right direction in FIG. 1).

二つの倒れ防止部5は、基板Wごとに図1の紙面方向に並設されているとともに、基板整列装置のベース7上に立設されている。このベース7内には、制御部9と、モータ11と、配管13と、流量調節弁15とが備えられている。   The two fall prevention units 5 are arranged side by side in the paper surface direction of FIG. 1 for each substrate W, and are erected on the base 7 of the substrate alignment apparatus. In the base 7, a control unit 9, a motor 11, a pipe 13, and a flow rate adjustment valve 15 are provided.

モータ11は、保持部3を構成している回転ローラ17を、プーリ19を介して一定方向に回転駆動する。その回転駆動は、制御部9によって制御される。配管13は、この装置外に配置されたり、クリーンルームのユーティリティとして用意されたりしている気体供給源21と、二つの倒れ防止部5とを連通接続している。この配管13のうち、二つの倒れ防止部5に分岐した部分には、それぞれ流量調節弁15が取り付けられている。二つの流量調節弁15は、それぞれ二つの倒れ防止部5に供給される気体(例えば、窒素や空気など)の流量を制御部9の制御の下で調整する。   The motor 11 rotationally drives the rotating roller 17 constituting the holding unit 3 in a certain direction via a pulley 19. The rotational drive is controlled by the control unit 9. The pipe 13 communicates the gas supply source 21 arranged outside the apparatus or prepared as a clean room utility and the two fall-preventing units 5. A flow rate adjusting valve 15 is attached to each portion of the pipe 13 branched to the two falling prevention portions 5. The two flow rate control valves 15 adjust the flow rates of gases (for example, nitrogen and air) supplied to the two fall prevention units 5 under the control of the control unit 9.

回転ローラ17は、基板Wごとに設けられ、プーリ19に連結された回転軸23に緩挿されている。そして、一定以上の負荷が加わると、回転軸23による駆動に係わらず空転して回転が停止する。ここでいう一定以上の負荷は、基板Wのノッチやオリエンテーションフラットが回転ローラ17の外周面に係止された状態で生じる。   The rotating roller 17 is provided for each substrate W and is loosely inserted into a rotating shaft 23 connected to the pulley 19. When a certain load or more is applied, the rotation is stopped regardless of the driving by the rotating shaft 23 and the rotation is stopped. The load above a certain level is generated when the notch or orientation flat of the substrate W is locked to the outer peripheral surface of the rotating roller 17.

ベース7に立設された二つの延出部材25の間には、基板Wを保持するための間隔を形成するスペーサ27が配設されている。このスペーサ27の厚みは、基板Wの厚みよりも若干厚く形成されている。延出部材25の上部であって、基板Wが載置される側には、気体噴射部29が取り付けられている。   A spacer 27 that forms an interval for holding the substrate W is disposed between the two extending members 25 erected on the base 7. The spacer 27 is formed to be slightly thicker than the substrate W. A gas injection unit 29 is attached to the upper part of the extending member 25 and on the side on which the substrate W is placed.

気体噴射部29は、板状の噴射部本体31に、上記の延出部材25が取り付けられる切り欠き部33が形成されてなる。噴射部本体31は、その一方面側(スペーサ27側)に、合計10個のノズル35を備えている。これらのノズル35は、基板Wの外形に沿って配置されて、かつ基板Wの外縁から内側に入り込んだ位置にわたって設けられている。このように、ノズル35を配設していることにより、広い面積で基板Wの倒れを図ることができるので、安定して基板Wの倒れ防止を図ることができる。   The gas injection unit 29 is formed by forming a notch 33 in which the extending member 25 is attached to a plate-like injection unit main body 31. The ejection unit main body 31 includes a total of ten nozzles 35 on one surface side (spacer 27 side). These nozzles 35 are arranged along the outer shape of the substrate W, and are provided over a position entering the inside from the outer edge of the substrate W. As described above, since the nozzles 35 are disposed, the substrate W can be tilted over a wide area, so that the substrate W can be stably prevented from falling.

各ノズル35は、基板W側から見て円形状に開口したノズル本体37と、その中心部に連通した連通穴39とを備えている。各連通穴39は、切り欠き部33に向かって噴射部本体31に横方向に穿たれた供給通路41を備え、延出部材25に形成されている中継通路43を介して配管13に連通接続されている。したがって、配管13を通して気体供給源21から供給された気体は、各ノズル35から噴出されるようになっている。   Each nozzle 35 includes a nozzle body 37 that opens in a circular shape when viewed from the substrate W side, and a communication hole 39 that communicates with the central portion of the nozzle body 37. Each communication hole 39 includes a supply passage 41 formed in the injection unit main body 31 in the lateral direction toward the notch 33, and is connected to the pipe 13 through a relay passage 43 formed in the extending member 25. Has been. Therefore, the gas supplied from the gas supply source 21 through the pipe 13 is ejected from each nozzle 35.

上記のように構成されている基板整列装置の動作について以下に説明する。   The operation of the substrate aligning apparatus configured as described above will be described below.

まず、複数枚の基板Wが図示しない搬送装置によって搬送され、基板整列装置の基板保持装置1に渡される。複数枚の基板Wが基板保持装置1に載置されるとともに、制御部9は所定流量で気体を配管13に流通させ始める。すると、図2におけるB−B矢視図である図3に示すように、気体噴射部29から気体が基板Wの両面に向けて噴射される。このような状態にてモータ11を駆動し、回転ローラ17を所定方向(例えば、図1のように時計方向)に回転させる。すると、基板Wが回転するが、基板Wに形成されているノッチまたはオリエンテーションフラットが回転ローラ17の部分に位置すると、回転ローラ17に負荷がかかり、回転ローラ17が回転軸23に対して空転するので、基板Wの回転が停止して基板Wの位置決めが完了する。このような処理が全ての基板Wに対して行われて、全ての基板Wの回転が停止すると整列処理が完了する。   First, a plurality of substrates W are transported by a transport device (not shown) and transferred to the substrate holding device 1 of the substrate alignment device. While the plurality of substrates W are placed on the substrate holding device 1, the control unit 9 starts to circulate gas through the pipe 13 at a predetermined flow rate. Then, as shown in FIG. 3 which is a BB arrow view in FIG. 2, the gas is jetted from the gas jetting part 29 toward both surfaces of the substrate W. In this state, the motor 11 is driven, and the rotating roller 17 is rotated in a predetermined direction (for example, clockwise as shown in FIG. 1). Then, the substrate W rotates, but when the notch or the orientation flat formed on the substrate W is positioned at the portion of the rotating roller 17, a load is applied to the rotating roller 17, and the rotating roller 17 idles with respect to the rotating shaft 23. Therefore, the rotation of the substrate W is stopped and the positioning of the substrate W is completed. Such a process is performed on all the substrates W, and when all the substrates W stop rotating, the alignment process is completed.

上記のように、全ての基板Wが基板保持装置1に渡された時点で、気体噴射部29から基板Wの両面に向けて気体が噴射されるので、基板Wが気体のクッションのようなもので保持されることになる。したがって、基板Wの両面が、図3に示すように二つの気体噴射部29のいずれにも接触しない状態で保持されることになる。その結果、基板Wの倒れを非接触で防止することができる。よって、基板Wを整列させるために回転させても、基板Wの表裏面が倒れ防止部5に接触することがなく、パーティクルが発生することを防止できるので、基板Wの汚染を防止することができる。また、従来例のようにガイド溝ではなく気体噴射部29によって基板Wの倒れを規制するので、ガイド溝に起因する加工や組み立てにおける制約をなくすことができる。   As described above, when all the substrates W are transferred to the substrate holding device 1, the gas is ejected from the gas ejection unit 29 toward both surfaces of the substrate W, so that the substrate W is like a gas cushion. Will be held at. Therefore, both surfaces of the substrate W are held in a state where they do not come into contact with any of the two gas injection units 29 as shown in FIG. As a result, the fall of the substrate W can be prevented without contact. Therefore, even if the substrate W is rotated to align it, the front and back surfaces of the substrate W do not come into contact with the fall prevention unit 5 and the generation of particles can be prevented, so that contamination of the substrate W can be prevented. it can. In addition, since the substrate W is not tilted by the gas injection portion 29 instead of the guide groove as in the conventional example, restrictions on processing and assembly due to the guide groove can be eliminated.

なお、上述した保持部3の回転ローラ17を図4に示すように構成するのが好ましい。図4は、回転ローラの縦断面図である。   In addition, it is preferable to comprise the rotation roller 17 of the holding | maintenance part 3 mentioned above as shown in FIG. FIG. 4 is a longitudinal sectional view of the rotating roller.

保持部3Aの回転ローラ17Aは、基板Wの下縁にも気体を噴出させる構成を採用している。   The rotating roller 17 </ b> A of the holding unit 3 </ b> A employs a configuration in which gas is also ejected to the lower edge of the substrate W.

すなわち、回転ローラ17Aは、その全周にわたって形成された凹溝45と、この凹溝45に連通した噴出口47を備え、噴出口47に連通した連絡通路49が横方向に形成されている。この連絡通路49は、図示しない流量調整弁を介して気体供給源21に連通接続されている。また、流量調整弁は、制御部9によって気体の流量が調整可能になっている。その気体流量は、基板Wが回転ローラ17Aの凹溝45に軽く接触して、回転ローラ17Aの回転に伴って基板Wが回転する程度に調整されている。   That is, the rotating roller 17A includes a concave groove 45 formed over the entire circumference thereof and a jet outlet 47 that communicates with the concave groove 45, and a communication passage 49 that communicates with the jet outlet 47 is formed in the lateral direction. The communication passage 49 is connected to the gas supply source 21 through a flow rate adjusting valve (not shown). In addition, the flow rate adjusting valve can adjust the gas flow rate by the control unit 9. The gas flow rate is adjusted such that the substrate W comes into light contact with the concave groove 45 of the rotating roller 17A and the substrate W rotates with the rotation of the rotating roller 17A.

このように回転ローラ17Aを構成することにより、保持部3Aと基板Wの周縁との当接及び回転による発塵を抑制することができ、より基板Wの汚染を防止することができる。   By configuring the rotation roller 17A in this manner, dust generation due to contact and rotation between the holding portion 3A and the peripheral edge of the substrate W can be suppressed, and contamination of the substrate W can be further prevented.

また、上述した倒れ防止部5は、図5のように構成してもよい。なお、図5は、倒れ防止部の一部を拡大した断面図である。   Moreover, you may comprise the fall prevention part 5 mentioned above as shown in FIG. FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view of a part of the fall prevention portion.

この倒れ防止部5は、スペーサ27Aの構成が相違している。   This fall prevention part 5 is different in the structure of the spacer 27A.

すなわち、スペーサ27Aは、二つの気体噴射部29の間に向けて、換言すると、基板Wの外周縁(側面)に向けて気体を噴射するノズル51(端縁気体噴射部)をさらに備えている。このノズル51は、スペーサ27Aの側面に連通した開口53と、この開口53に連通するとともに、図示しない流量調整弁を介して気体供給源21に連通した連絡通路55とを備えている。   That is, the spacer 27 </ b> A further includes a nozzle 51 (edge gas injection unit) that injects gas toward the outer peripheral edge (side surface) of the substrate W toward the two gas injection units 29. . The nozzle 51 includes an opening 53 that communicates with the side surface of the spacer 27A, and a communication passage 55 that communicates with the opening 53 and communicates with the gas supply source 21 via a flow rate adjusting valve (not shown).

このように基板Wの周縁にも気体を供給することにより、基板Wの両側面がスペーサ27Aに接触することを防止できる。したがって、この部分からの発塵を防止でき、より基板Wの汚染を防止することができる。   Thus, by supplying gas also to the periphery of the substrate W, it is possible to prevent both side surfaces of the substrate W from contacting the spacer 27A. Therefore, dust generation from this portion can be prevented, and contamination of the substrate W can be further prevented.

上述した実施例は、基板整列装置に基板保持装置1を採用したものであるが、図6に示すように基板保持装置1Aだけに本発明を適用してもよい。   In the embodiment described above, the substrate holding device 1 is adopted as the substrate alignment device, but the present invention may be applied only to the substrate holding device 1A as shown in FIG.

すなわち、この基板保持装置1Aは、基板Wを回転させて整列させる機能を備えず、単に基板Wを起立姿勢に保持するだけの機能を有する。具体的には、上述した実施例におけるモータ11と、回転ローラ17と、プーリ19と、回転軸23を備えていない。また、保持部3に代えて保持部3Bを備えている。この保持部3Bは、基板Wの端縁を案内する案内面57と、基板Wの下縁が当接して基板Wを保持する当接面59とを備えている。   That is, the substrate holding apparatus 1A does not have a function of rotating and aligning the substrates W, but has a function of simply holding the substrates W in an upright posture. Specifically, the motor 11, the rotating roller 17, the pulley 19, and the rotating shaft 23 in the above-described embodiment are not provided. Further, a holding unit 3B is provided instead of the holding unit 3. The holding unit 3 </ b> B includes a guide surface 57 that guides the edge of the substrate W and a contact surface 59 that holds the substrate W by contacting the lower edge of the substrate W.

このように基板Wの下縁を当接して保持する基板保持装置1Aであっても本発明を適用することができる。   Thus, the present invention can be applied even to the substrate holding apparatus 1A that holds the lower edge of the substrate W in contact with each other.

本発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。   The present invention is not limited to the above embodiment, and can be modified as follows.

(1)本発明に係る基板保持装置は、円形状の基板Wに限定されるものではなく、矩形上のものであっても保持可能である。   (1) The substrate holding device according to the present invention is not limited to the circular substrate W, and can hold even a rectangular substrate.

(2)複数枚の基板Wを保持する基板保持装置だけでなく、一枚の基板を保持する装置であってもよい。   (2) Not only a substrate holding device that holds a plurality of substrates W, but also a device that holds a single substrate.

(3)倒れ防止部5に形成されているノズル35の数は、上記実施例のように10個に限定されるものではなく、それ以下またはそれ以上の個数を配設してもよい。また、ノズル35は、基板Wの外形に沿わない配置を採用してもよい。   (3) The number of nozzles 35 formed in the fall prevention unit 5 is not limited to 10 as in the above-described embodiment, and the number of nozzles 35 or less may be provided. Further, the nozzle 35 may adopt an arrangement that does not follow the outer shape of the substrate W.

(4)上記実施例のように倒れ防止部5を二カ所に設けるのではなく、例えば、3カ所または4カ所以上にわたって配設してもよい。   (4) Instead of providing the two fall prevention portions 5 as in the above embodiment, for example, the fall prevention portions 5 may be provided at three or four or more locations.

(5)図7に示す基板搬送装置に対して本発明を適用することもできる。   (5) The present invention can also be applied to the substrate transfer apparatus shown in FIG.

この基板搬送装置は、移動可能に構成され、基板Wを両側から挟み込んで保持する機能を有する。この場合には、基板Wの下縁二カ所を保持部3Cで当接支持し、基板Wの両側二カ所を倒れ防止部5Aによって面方向を非接触で保持する。このような構成により、基板Wの汚染を防止しつつ搬送が可能となる。   This substrate transfer device is configured to be movable and has a function of holding the substrate W by sandwiching it from both sides. In this case, two lower edge portions of the substrate W are abutted and supported by the holding portion 3C, and two side portions of the substrate W are held in a non-contact manner by the fall prevention portion 5A. With such a configuration, the substrate W can be transferred while preventing contamination.

実施例に係る基板保持装置を備えた基板整列装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the board | substrate alignment apparatus provided with the board | substrate holding apparatus which concerns on an Example. 図1におけるA−A矢視断面図である。It is AA arrow sectional drawing in FIG. 図2におけるB−B矢視図である。It is a BB arrow line view in FIG. 回転ローラの縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of a rotating roller. 倒れ防止部の一部を拡大した断面図である。It is sectional drawing to which a part of fall prevention part was expanded. 基板保持装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of a substrate holding device. 基板搬送装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of a board | substrate conveyance apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

W … 基板
1 … 基板保持装置
3 … 保持部
5 … 倒れ防止部
7 … ベース
13 … 配管
15 … 流量調整弁
17 … 回転ローラ
19 … プーリ
23 … 回転軸
25 … 延出部材
27 … スペーサ
29 … 気体噴射部
31 … 噴射部本体
35 … ノズル
37 … ノズル本体
43 … 中継通路
W ... Substrate 1 ... Substrate holding device 3 ... Holding part 5 ... Falling prevention part 7 ... Base 13 ... Pipe 15 ... Flow rate adjusting valve 17 ... Rotating roller 19 ... Pulley 23 ... Rotating shaft 25 ... Extending member 27 ... Spacer 29 ... Gas Injecting portion 31 ... Injecting portion main body 35 ... Nozzle 37 ... Nozzle main body 43 ... Relay passage

Claims (5)

基板の下縁を保持する保持部と、この保持部を挟む位置に倒れ防止部とを備え、基板を起立姿勢に保持する基板保持装置において、
前記倒れ防止部は、基板の表裏両面に向けて気体を噴射する気体噴射部を備えていることを特徴とする基板保持装置。
In a substrate holding apparatus that includes a holding unit that holds the lower edge of the substrate, and a fall prevention unit at a position sandwiching the holding unit, and holds the substrate in an upright posture.
The said board | substrate fall prevention part is equipped with the gas injection part which injects gas toward the front and back both surfaces of a board | substrate, The board | substrate holding apparatus characterized by the above-mentioned.
請求項1に記載の基板保持装置において、
前記気体噴射部は、気体を噴射する複数個のノズルを備えていることを特徴とする基板保持装置。
The substrate holding apparatus according to claim 1,
The said gas injection part is equipped with the some nozzle which injects gas, The board | substrate holding apparatus characterized by the above-mentioned.
請求項2に記載の基板保持装置において、
前記複数個のノズルは、基板の外形に沿って配置され、かつ基板の外縁から基板の中心側に入り込んだ位置にわたって配置されていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate holding apparatus according to claim 2, wherein
The substrate processing apparatus, wherein the plurality of nozzles are arranged along an outer shape of the substrate, and are arranged over a position entering the center side of the substrate from an outer edge of the substrate.
請求項1ないし3のいずれかに記載の基板保持装置において、
前記保持部は、基板の端縁に当接して基板を一定方向に回転させる回転ローラを備え、
前記回転ローラは、基板の端縁における所定位置にて回転が停止することを特徴とする基板保持装置。
The substrate holding apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The holding unit includes a rotating roller that contacts the edge of the substrate and rotates the substrate in a certain direction.
The substrate holding apparatus, wherein the rotation roller stops rotating at a predetermined position on an edge of the substrate.
請求項4に記載の基板保持装置において、
前記保持部は、基板の端縁に向けて気体を噴射する端縁気体噴射部を備えていることを特徴とする基板保持装置。

The substrate holding apparatus according to claim 4, wherein
The said holding | maintenance part is equipped with the edge gas injection part which injects gas toward the edge of a board | substrate, The board | substrate holding apparatus characterized by the above-mentioned.

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