JP2005241607A - Apparatus for measuring angle - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、角度測定装置に関する。 The present invention relates to an angle measuring device.
従来、CDやDVD等のディスクや板ガラス或いは鏡面体等の被検査体における傾斜角度、平面性、面粗さ等を光学的に測定するための角度測定装置としてオートコリメータと呼ばれるものがある。例えば、特許文献1に示されるようなものでは、光源から出射された光をコリメータレンズで平行光にして被測定対象物の被測定面に投射し、被測定面からの反射光を再度コリメータレンズを通すことで、このコリメータレンズで集光され、その焦点位置付近に配置される撮像手段により、この撮像手段上に結像したスポット像を観察するように構成されている。
一方、従来においては、被測定対象物の大きさに応じてこの被測定面に照射する平行光のビーム径を可変できる機能(いわゆる投光径アパーチャ機能)を持つものが提案されており、例えば、特許文献2に示すようなものがある。しかしながら上記アパーチャ機能を有する構成であっても、オートコリメータの光源に使用される可視波長の半導体レーザの発光量は、作業者からは視認できないような暗い光であるため、照射面上のスポットを見てビーム径を可変することは困難である。
On the other hand, in the past, there has been proposed one having a function (so-called projection diameter aperture function) capable of changing the beam diameter of parallel light irradiated onto the measurement surface according to the size of the measurement object. There is something as shown in
仮に、半導体レーザの発光量を上げるなどして、照射面上のスポットを視認しやすいレベルにしたとしても、結局、作業者がそのスポットを見ながらビーム径を可変しなければならないため、感覚的な作業とならざるをえず、作業性、正確性に問題がある。特にオートコリメータでは、元々のビーム径自体が細いこともあり、作業者の視認レベルで径の違いがわからない場合が多々あるので正確にビーム径の設定・把握が行えなかった。 Even if the spot on the irradiated surface is made easily visible by increasing the light emission amount of the semiconductor laser, the operator must change the beam diameter while looking at the spot. The work is unavoidable, and there are problems with workability and accuracy. In particular, in the autocollimator, the original beam diameter itself may be thin, and there are many cases where the difference in diameter is not known at the worker's visual recognition level, so the beam diameter cannot be set or grasped accurately.
本発明は上記のような事情に基づいてなされたものであって、ユーザがビーム径を正確に把握できる構成を提供することを目的とする。 The present invention has been made based on the above circumstances, and an object thereof is to provide a configuration in which a user can accurately grasp a beam diameter.
上記の目的を達成するための手段として、請求項1の発明は、投光手段からの光を光分岐手段を介して透過及び反射のうちの一方により導くと共に、コリメータレンズを介して平行光に変換して、その平行光を被測定対象物に照射し、前記被測定対象物からの反射光を前記光分岐手段を介して透過及び反射のうちの他方により前記投光手段からの光とは別の向きに分岐させて撮像手段の撮像面に集光し、この撮像面における集光スポット位置に応じて出力される前記撮像手段からの撮像信号に基づいて前記被測定対象物の傾きを測定する演算手段を備える角度測定装置であって、
前記投光手段と、前記光分岐手段との間の投光経路において前記光分岐手段より手前側に配置され、かつ、前記コリメータレンズを介して出射される平行光のビーム径を可変するビーム径可変手段と、
前記光分岐手段からの方向が前記撮像手段とは別の方向となるように配置されると共に、そのビーム径可変手段によりビーム径が変更された後の光を直接的に受光する受光手段と、
表示手段とを備え、
前記光分岐手段は、前記投光手段からの光を透過及び反射のうちの前記他方により前記受光手段に導くように構成され、
前記表示手段は、前記受光手段からの受光信号に基づき、ビーム径可変手段によりビーム径が変更された後の光のビーム径に対応したビーム径情報を表示することを特徴とする。
As a means for achieving the above object, the invention of
A beam diameter that is arranged on the front side of the light branching unit in the light projecting path between the light projecting unit and the light branching unit and that changes the beam diameter of the parallel light emitted through the collimator lens. Variable means;
A light receiving means that is arranged so that the direction from the light branching means is different from the imaging means, and that directly receives the light after the beam diameter is changed by the beam diameter varying means;
Display means,
The light branching unit is configured to guide the light from the light projecting unit to the light receiving unit by the other of transmission and reflection,
The display means displays beam diameter information corresponding to the beam diameter of the light after the beam diameter has been changed by the beam diameter varying means based on the light reception signal from the light receiving means.
請求項2の発明は、投光手段からの光を光分岐手段を介して透過及び反射のうちの一方により導くと共に、コリメータレンズを介して平行光に変換して、その平行光を被測定対象物に照射し、前記被測定対象物からの反射光を前記光分岐手段を介して透過及び反射のうちの他方により前記投光手段からの光とは別の向きに分岐させて撮像手段の撮像面に集光し、この撮像面における集光スポット位置に応じて出力される前記撮像手段からの撮像信号に基づいて前記被測定対象物の傾きを測定する演算手段を備える角度測定装置であって、
前記投光手段と、前記光分岐手段との間の投光経路において前記光分岐手段より手前側に配置され、かつ、前記コリメータレンズを介して出射される平行光のビーム径を可変するビーム径可変手段と、
前記ビーム径を設定するビーム径設定手段と、
前記ビーム径設定手段にて設定可能となるビーム径に応じた基準レベルを特定するためのレベル特定情報を記憶する記憶手段と、
前記受光手段からの受光信号と前記レベル特定情報とに基づいて、前記ビーム径設定手段により設定されるビーム径に応じた基準レベルを取得すると共に、この基準レベルと前記受光手段からの受光信号に応じたレベルとが一致するように、前記ビーム径可変手段に対しビーム径を可変させるように制御を行う制御手段とを備えたことを特徴とする。
According to the second aspect of the invention, the light from the light projecting means is guided by one of transmission and reflection through the light branching means, and converted into parallel light through the collimator lens, and the parallel light is measured. The imaging means irradiates an object and branches the reflected light from the object to be measured in the direction different from the light from the light projecting means by the other of transmission and reflection through the light branching means. An angle measuring device comprising a computing means for focusing on a surface and measuring an inclination of the object to be measured based on an imaging signal from the imaging means that is output according to a focused spot position on the imaging surface. ,
A beam diameter that is arranged on the front side of the light branching unit in the light projecting path between the light projecting unit and the light branching unit and that changes the beam diameter of the parallel light emitted through the collimator lens. Variable means;
Beam diameter setting means for setting the beam diameter;
Storage means for storing level specifying information for specifying a reference level corresponding to a beam diameter that can be set by the beam diameter setting means;
Based on the light reception signal from the light receiving means and the level specifying information, a reference level corresponding to the beam diameter set by the beam diameter setting means is acquired, and the reference level and the light reception signal from the light receiving means are obtained. Control means for controlling the beam diameter varying means so as to vary the beam diameter so that the corresponding levels coincide with each other is provided.
請求項3の発明は、請求項2に記載の角度測定装置において、前記受光手段は、一列状又は2次元状に配列される複数の素子からなり、
前記基準レベルは、基準ビーム径であり、
前記制御手段は、
前記受光手段からの受光信号と前記レベル特定情報とに基づいて、前記ビーム径設定手段により設定されるビーム径に応じた基準ビーム径を取得すると共に、この取得された基準ビーム径と、前記複数の撮像素子からの受光信号から算出されるビーム径とが一致するように、前記ビーム径可変手段によりビーム径を可変させることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the angle measurement device according to the second aspect, the light receiving means includes a plurality of elements arranged in a single row or in a two-dimensional shape,
The reference level is a reference beam diameter;
The control means includes
Based on the light reception signal from the light receiving means and the level specifying information, a reference beam diameter corresponding to the beam diameter set by the beam diameter setting means is acquired, and the acquired reference beam diameter and the plurality The beam diameter is varied by the beam diameter varying means so that the beam diameter calculated from the received light signal from the imaging element matches.
請求項4の発明は、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の角度測定装置において、前記ビーム径設定手段にて設定可能となるビーム径に対応した補正係数をを特定するための補正係数情報を記憶する補正係数情報記憶手段を有し、
前記制御手段は、前記受光手段からの受光信号に基づいて前記ビーム径可変手段を可変させるとともに、前記設定手段により設定されるビーム径に対応する補正係数を、前記補正係数情報記憶手段に記憶される前記補正係数情報に基づいて取得し、
前記演算手段は、
前記撮像手段の撮像面における集光スポット位置に応じて出力される撮像信号から前記被測定対象物の傾きを演算する際に、この読み出された補正係数により補正演算して前記被測定対象物の傾きを測定することを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the angle measuring device according to any one of the first to third aspects, a correction for specifying a correction coefficient corresponding to a beam diameter that can be set by the beam diameter setting means. Correction coefficient information storage means for storing coefficient information;
The control means varies the beam diameter varying means based on a light reception signal from the light receiving means, and stores a correction coefficient corresponding to the beam diameter set by the setting means in the correction coefficient information storage means. Obtained based on the correction coefficient information
The computing means is
When calculating the inclination of the object to be measured from the imaging signal output according to the condensing spot position on the imaging surface of the imaging means, the object to be measured is corrected and calculated by the read correction coefficient. It is characterized by measuring the slope of the.
請求項5の発明は、請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の角度測定装置において、
前記投光手段は、直線偏光の光を出射するように構成され、
前記光分岐手段は、偏光ビームスプリッタからなり、
さらに、前記投光手段を光軸中心に回転可能に支持する投光回転手段と、
ビーム径を調整するビーム径調整モードと、測定を行う測定モードとに切換可能なモード切換手段と、
前記ビーム径調整モードに設定される場合に、前記投光手段から出射される直線偏光の偏光方向を、前記偏光ビームスプリッタを介して前記受光手段に導かれる第1偏光方向となるように、前記投光回転手段を制御し、前記測定モードに設定される場合に、前記偏光方向が、前記第1偏光方向とは異なる、前記偏光ビームスプリッタを介して前記撮像手段に導かれる第2偏光方向となるように制御を行う回転制御手段と、
を備えたことを特徴とする。
The invention according to claim 5 is the angle measuring device according to any one of
The light projecting means is configured to emit linearly polarized light,
The light branching means comprises a polarizing beam splitter,
Further, a light projecting and rotating means for rotatably supporting the light projecting means about the optical axis,
Mode switching means capable of switching between a beam diameter adjustment mode for adjusting the beam diameter and a measurement mode for performing measurement;
When the beam diameter adjustment mode is set, the polarization direction of linearly polarized light emitted from the light projecting unit is set to the first polarization direction guided to the light receiving unit via the polarization beam splitter. When the projection rotation means is controlled and set to the measurement mode, the polarization direction is different from the first polarization direction, and the second polarization direction is guided to the imaging means via the polarization beam splitter. Rotation control means for controlling so that
It is provided with.
<請求項1の発明>
請求項1の構成によれば、作業者がビーム幅を正確に把握できることとなる。したがって、例えば調整作業時において作業者は表示されるビーム幅の情報を見て正確なビーム幅を絶えず把握しながら調整を行うことができることとなり、調整作業の作業性、利便性を高めることができる。
<Invention of
According to the configuration of
<請求項2の発明>
請求項2の構成によれば、自動的に所望のビーム幅に正確に設定することができ、利便性をより向上することができる。
<Invention of
According to the configuration of the second aspect, it is possible to automatically set the desired beam width accurately, and the convenience can be further improved.
<請求項3の発明>
請求項3の構成によれば、ビーム径を測定することで、受光量から間接的に求める場合に比べて、正確にビーム径を微調整することができる。
<Invention of
According to the configuration of the third aspect, by measuring the beam diameter, the beam diameter can be finely adjusted more accurately than in the case where it is obtained indirectly from the amount of received light.
<請求項4の発明>
請求項4の構成によれば、ビーム径に応じて受光スポットのプロファイルが変化するような場合であっても適切に処理することができる。
<Invention of Claim 4>
According to the configuration of the fourth aspect, even when the profile of the light receiving spot changes according to the beam diameter, it can be appropriately processed.
<請求項5の発明>
請求項5の構成によれば、測定モードと、ビーム径調整モードの各々において各モードに応じた適切な制御が可能となる。
<Invention of Claim 5>
According to the structure of Claim 5, appropriate control according to each mode is attained in each of the measurement mode and the beam diameter adjustment mode.
<実施形態1>
本発明に係る角度測定装置1の一実施形態について図1及び図2を参照して説明する。この角度測定装置は、レーザ光源10(レーザ光源10は特許請求の範囲でいう投光手段に相当する)、発散レンズ20、光通過孔30Aを有する開口板30(開口板は、ビーム径可変手段に相当するものであり、具体的にはピンホール板やスリット板などによって構成できる)、コリメータレンズ40、ビームスプリッタ50(ビームスプリッタ50は特許請求の範囲でいう光分岐手段に相当する)、収束レンズ60、2次元CCD70(二次元CCD70は特許請求の範囲でいう撮像手段に相当する)及びCPU80を備えている。
<
An embodiment of an
レーザ光源10から出射された光は発散レンズ20により発散光とされ、この発散光の一部が開口板30の光通過孔30Aを通過してコリメータレンズ40により平行光とされる。そして、この平行光はビームスプリッタ50で反射して装置外部に出射し、ワークW(ワークWが特許請求の範囲でいう被測定対象物に相当する)に照射される。ワークWからの反射光は装置内部に入射し、ビームスプリッタ50を介して収束レンズ60により集光されてCCD70の撮像面に受光スポットを形成する。CCD70は撮像面を構成する各画素の受光量に基づいたディジタル信号列からなる撮像信号をCPU80に出力している。尚、コリメータレンズ40からの平行光のビーム径がワークWのうち光が照射される面よりも大きくされるように、例えば開口板30とコリメータレンズ40との距離が調整されている。
The light emitted from the
CPU80は、CCD70から受けた撮像信号に基づいてワークWの傾き角を検出する。具体的な検出方法としては、例えばワークWに傾きが無いとするときの撮像面における集光スポット位置を基準位置(撮像面の中央とするのが望ましい。)にして測定時の集光スポット位置と基準位置との距離から傾き角を検出する。ところで、受光スポットは複数画素に亘って構成されるのが一般的であるから、実際には受光スポットを構成する画素のうち1つの画素を代表して受光スポットの中心として決定し、上記の方法で傾き角を測定している。上記受光スポットの中心の決定方法としては、撮像面上における面積重心位置又は体積重心位置を求め、この重心位置に相当する画素を受光スポットの中心とする方法と、最大受光量とされる画素を受光スポットの中心として決定する方法とがあり、どちらの方法を用いても良い。なお、上記のように重心位置に相当する画素を受光スポットの中心とする方法、或いは、最大受光量とされる画素を受光スポットの中心として決定する方法に換えて、重心位置を幾何学的に算出してもよい。即ち、撮像面上における面積重心位置又は体積重心位置を求めその位置をそのまま受光スポットの中心として決定(即ち、重心位置に近似する画素の位置を受光スポットの中心として決定するのではなく、算出された面積重心位置又は体積重心位置の値をそのまま採用)してもよい。
The
上記レーザ光源10、発散レンズ20、開口板30及びコリメータレンズ40は次のように配置されている。即ち、レーザ光源10から出射される光の光軸と、発散レンズ20の中心軸と、光通過孔30Aの中心軸と、コリメータレンズ40の中心軸とがが一致するように配置されているとともに、レーザ光源10は出射される光の光軸が、前記中心軸に一致するように配されている。
The
本実施形態では、レーザ光源10(投光手段)と、ビームスプリッタ50(光分岐手段)との間の投光経路においてビームスプリッタ50より手前側(レーザ光源10側)に配置され、かつ、コリメータレンズ40を介して出射される平行光のビーム径を開口板30によって可変できるようになっている。即ち、孔径の異なる開口板30を交換することによって結果的に平行光のビーム径が変更されるようになっている。
In the present embodiment, the collimator is disposed on the front side (
さらに本実施形態では、ビームスプリッタ50からの方向が撮像手段70とは別の方向となるように受光手段100が配置されると共に、その開口板30(ビーム径可変手段)によりビーム径が変更された後の光を受光するように構成されている。ビームスプリッタ50は、レーザ光源10からの光を透過により受光手段100に導くように構成され、受光手段100からの受光信号に基づき、開口板30(ビーム径可変手段)によりビーム径が変更された後の光のビーム径に対応したビーム径情報を表示手段110にて表示するように構成されている。ビーム径情報としてはビーム径の値を表示するようにしてもよく、ビーム径に対応したレベルを表示するようにしてもよい。
Further, in the present embodiment, the light receiving means 100 is arranged so that the direction from the
また、本実施形態においては、ビーム径設定手段を設け、制御によってビーム径を可変するようなこともできる。例えば、作業者からの入力に基づき複数の開口板30を自動的に変更させるような機構(例えば、CPU80に接続される図示しない入力手段からの入力に基づき、アクチュエータを駆動して複数の開口板30を自動的に変更するような機構(或いは同一の板に径の異なる複数の孔を設け、アクチュエータによる駆動によって当該板を変位させて使用する孔を変更するような機構)を構成した場合、入力手段がビーム径設定手段に相当する。また、図7(後述)のようにレンズを移動させてビーム径を設定する構成においては、レンズの移動量(あるいはそれに対応した情報)を入力するための入力手段(例えば、図7のCPU80に接続される入力手段)がビーム径設定手段に相当する。さらに、角度測定装置1は、ビーム径設定手段にて設定可能となるビーム径に対応した補正係数を特定するための補正係数情報を記憶する補正係数情報記憶手段(例えば、CPU80に接続される図示しないROM等)を有し、制御手段たるCPU80は、上記のようなビーム径設定手段により設定されるビーム径に対応する補正係数を、補正係数情報記憶手段に記憶される補正係数情報に基づいて取得し、演算手段たるCPU80は、撮像手段70の撮像面における集光スポット位置に応じて出力される撮像信号から被測定対象物の傾きを演算する際に、この読み出された補正係数により補正演算して被測定対象物の傾きを測定するように構成されている。
In the present embodiment, a beam diameter setting means may be provided and the beam diameter may be varied by control. For example, a mechanism that automatically changes a plurality of
例えば、図3に示すように、補正係数としてビーム径設定手段にて設定可能となる径の範囲に応じたスレッショルドレベルの情報を補正係数情報として用意しておき、撮像信号から傾きを演算する際に受光信号に応じた適切な閾値レベルを用いて演算を行うようにすることができる。また、図3(b)に示すように補正係数として径の範囲に応じた(即ち設定される径の範囲に対応した)検出領域のサイズを用意しておき、受光信号に応じた適切な検出領域のサイズを用いて演算を行うようにすることができる。なお、ここでは、径の範囲に応じたスレッショルドレベルや検出領域のサイズなどの補正係数情報をテーブルとして記憶する例を示しており、ビーム径に応じた補正係数情報を補正係数情報記憶手段(ROM等)にて取得する構成を例示しているが、補正係数情報は径に応じた補正係数を特定可能な情報であれば別の情報でもよい。例えば、ビーム径をパラメータとする、補正係数を算出する補正式(例えば、ビーム径に応じてスレッショルドレベルを算出する補正式、或いはビーム径に応じて検出領域のサイズを算出する補正式)を補正係数情報として記憶手段に記憶しておき、ビーム径に基づいて補正係数を算出するような構成であってもよい。 For example, as shown in FIG. 3, threshold level information corresponding to a range of diameters that can be set by the beam diameter setting means as the correction coefficient is prepared as correction coefficient information, and the tilt is calculated from the imaging signal. The calculation can be performed using an appropriate threshold level corresponding to the received light signal. Further, as shown in FIG. 3B, a detection area size corresponding to the diameter range (that is, corresponding to the set diameter range) is prepared as a correction coefficient, and appropriate detection according to the light reception signal is prepared. An operation can be performed using the size of the region. Here, an example is shown in which correction coefficient information such as a threshold level corresponding to the diameter range and the size of the detection area is stored as a table, and correction coefficient information corresponding to the beam diameter is stored as correction coefficient information storage means (ROM). Etc.), the correction coefficient information may be other information as long as it is information that can specify the correction coefficient corresponding to the diameter. For example, a correction formula for calculating a correction coefficient using a beam diameter as a parameter (for example, a correction formula for calculating a threshold level according to the beam diameter or a correction formula for calculating the size of the detection region according to the beam diameter) is corrected. A configuration may be used in which the correction coefficient is calculated based on the beam diameter by being stored in the storage unit as coefficient information.
本実施形態の構成は以上であり、以下その作用について説明する。
レーザ光源10から出射された光は上述したように平行光とされてワークWに照射され、その反射光がビームスプリッタ50及び集光レンズ60を介してCCD70の撮像面に照射されて、受光スポットを形成する。そして、CPU80はCCD70からの撮像信号に基づいてワークWの傾き角の測定を行なう。
The configuration of the present embodiment is as described above, and the operation thereof will be described below.
The light emitted from the
さて、ワークWに照射される平行光のうちA軸(光軸LCと直交する軸)上における光強度Iの分布(以下、光強度分布という)は図1の下部に示すように略均一とされている。これは、レーザ光源10からの光を発散レンズ20により発散させ、発散光のうち光軸部分の光(光束中心部分の光)を光通過孔30Aに通したことで実現されており、以下に平行光の光強度分布が均一とされるまでの過程を示す。
Now, the distribution of light intensity I (hereinafter referred to as light intensity distribution) on the A-axis (axis orthogonal to the optical axis LC) of the parallel light irradiated onto the workpiece W is substantially uniform as shown in the lower part of FIG. Has been. This is realized by diverging the light from the
レーザ光源10から出射される光の強度分布は図2に示すように一般にガウシアンである。レーザ光源10からの光が発散レンズにより発散されたことで、光強度分布は光軸LCに対して直交方向に引き伸ばされて光強度Iのピーク領域が広がる(図1中(1)の部分、図2(A)参照)。この発散光のうち、光強度Iがピークとされている光(図中Aに示す領域)のみを光通過孔30Aに通しているから、これを通過した光の強度分布は略均一とされる(図1中(2)の部分、図2(B)参照)。従って、この発散光をコリメータレンズ40に通しても光強度Iの均一性は保たれたままで平行光とされる(図1中(3)の部分、図2(C)参照)。
尚、本実施形態では、開口板30によりレーザ光源10(投光素子)からの光のうち光軸部分の光(光束中心部分の光)を光通過孔30Aに通過させるとともにコリメータレンズ40へ入射させ、それ以外の光は開口板30で遮断してコリメータレンズへの入射を禁止している。これは、光軸部分の光(光束中心部分に光)以外の光がコリメータレンズ40に入射すると出射される平行光の光強度分布に偏りが生じるからであり、これを防止するために開口板30により光軸部分の光以外の光を遮断することが必要とされる。
The intensity distribution of light emitted from the
In the present embodiment, the
ここで、ワークWを従来技術の説明で示した光ピックアップレンズLとした場合、装置から出射された平行光は環状平面部Fを有するレンズLの全体に照射され、環状平面部Fからの反射光によりCCD70の撮像面上に受光スポットが形成される。このとき、平行光の光軸LCとレンズLの中心軸とが一致しているか否かに関係無く環状平面部Fの各部には均等に光が照射される。従って、レンズLが水平状態であれば、撮像面の基準位置にある画素が受光スポットに決定されるから、傾き角が0°と判断される。また、レンズLが傾いている場合には、撮像面上の受光スポットが基準位置からずれるから、そのずれ量に基づいて傾き角が測定される。
Here, when the workpiece W is the optical pickup lens L shown in the description of the prior art, the parallel light emitted from the apparatus is irradiated on the entire lens L having the annular flat surface portion F and reflected from the annular flat surface portion F. A light receiving spot is formed on the imaging surface of the
なお、受光手段100によってビーム径の情報を得るためには、図1のように集光レンズを介さず、受光手段100に入射する光の幅情報或いは受光量情報によってビーム径を得るようにしてもよく、図4のように集光レンズ102を介して受光手段100に入射させるように構成し、受光量レベルに基づいてビーム径を得るようにしてもよい。
In order to obtain the beam diameter information by the light receiving means 100, the beam diameter is obtained from the width information or the received light quantity information of the light incident on the light receiving means 100 without using the condenser lens as shown in FIG. Alternatively, as shown in FIG. 4, it may be configured to enter the light receiving means 100 via the
<実施形態2>
次に、図5及び図6を参照して実施形態2について説明する。
実施形態2では、投光手段たるレーザ光源10は、直線偏光の光を出射するように構成され、光分岐手段は、偏光ビームスプリッタ80にて構成されている。そして、レーザ光源10を光軸LCを中心に回転可能に支持する投光回転手段M(例えばステッピングモータ等)を備えている。本構成では、例えばユーザの入力に基づいて、ビーム径を調整するビーム径調整モードと、測定を行う測定モードとに切換可能に構成されている。本実施形態では、CPU80に接続される図示しない入力手段によってCPU80がモード切り替えを行うようになっており、CPU80がモード切換手段に相当する。
<
Next,
In the second embodiment, the
そして、ビーム径調整モードに設定される場合に、レーザ光源10から出射される直線偏光の偏光方向を、偏光ビームスプリッタ80を介して受光手段100に導かれる第1偏光方向となるように(図6参照)、投光回転手段Mを制御し、測定モードに設定される場合に、偏光方向が、第1偏光方向とは異なる、偏光ビームスプリッタ80を介して撮像手段70に導かれる第2偏光方向となるように(図5参照)制御を行う。CPU80は特許請求の範囲でいう回転制御手段に相当する。偏光ビームスプリッタ80とワークWの間には1/4波長板82が設けられ、円偏光に変えられて例えば鏡面体のワークWに照射されるようになっている。
When the beam diameter adjustment mode is set, the polarization direction of the linearly polarized light emitted from the
<実施形態3>
次に、図7を参照して実施形態3について説明する。
実施形態3では、レーザ光源10と、ビームスプリッタ50との間の投光経路においてビームスプリッタ50より手前側に配置され、かつ、コリメータレンズ(集光レンズ92)を介して出射される平行光のビーム径を可変するビーム径可変手段として集光レンズ91、92が設けられており、いずれか一方、若しくは双方が光軸方向に変位可能に構成されている。なお、変位するレンズがビーム径可変手段に相当しており、集光レンズ91が変位する場合にはこの集光レンズ91ビーム径可変手段に相当し、集光レンズ92が変位する場合にはこれがビーム径可変手段に相当する。双方のレンズ91,92が片にする場合には双方のレンズ91,92がビーム径可変手段に相当する。また、集光レンズ92は特許請求の範囲でいうコリメータレンズに相当する。
<
Next,
In the third embodiment, parallel light emitted through a collimator lens (condensing lens 92) is disposed on the near side of the
そして、ビーム径設定手段(例えば図示しない入力手段)によってビーム径が設定可能になっている。ここではレンズの移動量(あるいはそれに対応した情報)を入力するための入力手段(例えば、図7のCPU80に接続される図示しない入力手段)がビーム径設定手段に相当する。このビーム径設定手段にて設定可能となるビーム径に応じた基準レベルを特定するためのレベル特定情報を記憶する記憶手段(CPU80に接続される図示しないROM等)が設けられている。
The beam diameter can be set by beam diameter setting means (for example, input means not shown). Here, input means (for example, input means (not shown) connected to the
本実施形態では、受光手段100からの受光信号とレベル特定情報と基づいて、ビーム径設定手段により設定されるビーム径に応じた基準レベルを取得すると共に、この基準レベルと受光手段100からの受光信号に応じたレベルとが一致するようにビーム径可変手段(レンズ91及び/又は92)に対しビーム径を可変させるように制御を行う。即ち、集光レンズ91、92のいずれか一方、又は双方の駆動制御を行う。
In the present embodiment, a reference level corresponding to the beam diameter set by the beam diameter setting unit is acquired based on the light reception signal from the
本実施形態では、受光手段100は、一列状又は2次元状に配列される複数の素子(例えば、一次元CCD、又は2次元CCD等)からなり、上記基準レベルとしては基準ビーム径が採用されている。具体的には、受光手段100からの受光信号とレベル特定情報とに基づいて、ビーム径設定手段により設定されるビーム径に応じた基準ビーム径を取得すると共に、この取得された基準ビーム径と、複数の撮像素子からの受光信号から算出されるビーム径とが一致するように、ビーム径可変手段によりビーム径を可変させることとなる。なお、図8では、ビーム径に対応して基準ビーム径(ビーム径可変の際の基準となるビーム径であり、基準レベルに相当する)を定める情報がレベル特定情報として、テーブルとして記憶される例を示している。なお、図8では、ビーム径に応じた基準ビーム径を記憶手段(ROM等)にて取得する構成を例示しているが、レベル特定情報は径に応じた基準レベルを特定可能な情報であれば別の情報でもよい。例えば、ビーム径をパラメータとする、基準レベルを算出する補正式(例えば、設定されるビーム径に応じて基準ビーム径を算出する補正式、或いは設定されるビーム径に応じて基準受光量を算出する補正式)を基準レベル情報として記憶手段に記憶しておき、ビーム径に基づいて基準レベルを算出するような構成であってもよい。
また、本実施形態においても、実施形態1と同様に図3に示すように、補正係数としてビーム径設定手段にて設定される径の範囲に応じたスレッショルドレベルの情報を補正係数情報として用意しておき、撮像信号から傾きを演算する際に受光信号に応じた適切な閾値レベルを用いて演算を行うようにすることができる。また、図3(b)に示すように補正係数として設定される径の範囲に応じた検出領域のサイズを用意しておき、受光信号に応じた適切な検出領域のサイズを用いて演算を行うようにすることができる。なお、ここでは、径の範囲に応じたスレッショルドレベルや検出領域のサイズなどの補正係数情報をテーブルとして記憶する例を示しており、ビーム径に応じた補正係数情報を補正係数情報記憶手段(ROM等)にて取得する構成を例示しているが、補正係数情報は径に応じた補正係数を特定可能な情報であれば別の情報でもよい。例えば、ビーム径をパラメータとする、補正係数を算出する補正式(例えば、ビーム径に応じてスレッショルドレベルを算出する補正式、或いはビーム径に応じて検出領域のサイズを算出する補正式)を補正係数情報として記憶手段に記憶しておき、ビーム径に基づいて補正係数を算出するような構成であってもよい。
In the present embodiment, the light receiving means 100 is composed of a plurality of elements (for example, a one-dimensional CCD or a two-dimensional CCD) arranged in a line or two-dimensionally, and a reference beam diameter is adopted as the reference level. ing. Specifically, based on the light reception signal from the light receiving means 100 and the level specifying information, a reference beam diameter corresponding to the beam diameter set by the beam diameter setting means is acquired, and the acquired reference beam diameter and The beam diameter is varied by the beam diameter varying means so that the beam diameters calculated from the light reception signals from the plurality of image sensors coincide with each other. In FIG. 8, information defining a reference beam diameter (a beam diameter serving as a reference when the beam diameter is changed and corresponding to a reference level) corresponding to the beam diameter is stored as level specifying information as a table. An example is shown. FIG. 8 illustrates a configuration in which the reference beam diameter corresponding to the beam diameter is acquired by a storage unit (ROM or the like). However, the level specifying information may be information that can specify the reference level corresponding to the diameter. Other information may be used. For example, a correction formula for calculating a reference level using a beam diameter as a parameter (for example, a correction formula for calculating a reference beam diameter according to a set beam diameter, or a reference received light amount according to a set beam diameter) The correction formula) may be stored in the storage means as reference level information, and the reference level may be calculated based on the beam diameter.
Also in this embodiment, as shown in FIG. 3, as in the first embodiment, threshold level information corresponding to the diameter range set by the beam diameter setting means is prepared as correction coefficient information. In addition, when calculating the inclination from the imaging signal, the calculation can be performed using an appropriate threshold level corresponding to the received light signal. Further, as shown in FIG. 3B, a detection area size corresponding to the diameter range set as the correction coefficient is prepared, and calculation is performed using an appropriate detection area size corresponding to the light reception signal. Can be. Here, an example is shown in which correction coefficient information such as a threshold level corresponding to the diameter range and the size of the detection area is stored as a table, and correction coefficient information corresponding to the beam diameter is stored as correction coefficient information storage means (ROM). Etc.), the correction coefficient information may be other information as long as it is information that can specify the correction coefficient corresponding to the diameter. For example, a correction formula for calculating a correction coefficient using a beam diameter as a parameter (for example, a correction formula for calculating a threshold level according to the beam diameter or a correction formula for calculating the size of the detection region according to the beam diameter) is corrected. A configuration may be used in which the correction coefficient is calculated based on the beam diameter by being stored in the storage unit as coefficient information.
<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
(1)上記実施形態では、光ピックアップ装置の光ピックアップレンズの傾き測定に適用した例を示したが、これ以外のものの傾きを測定するために使用することもできる。
<Other embodiments>
The present invention is not limited to the embodiments described with reference to the above description and drawings. For example, the following embodiments are also included in the technical scope of the present invention, and further, within the scope not departing from the gist of the invention other than the following. Various modifications can be made.
(1) Although the example applied to the measurement of the tilt of the optical pickup lens of the optical pickup device has been described in the above embodiment, it can also be used to measure the tilt of other things.
(2)実施形態1では開口板によってビーム径を変更するようにしていたが、例えばアイリス絞り構造をなすビーム径変更手段を用いてもよい。 (2) In the first embodiment, the beam diameter is changed by the aperture plate. However, for example, beam diameter changing means having an iris diaphragm structure may be used.
(3)なお、実施形態1では、ビーム径可変手段たる開口板30がコリメータレンズ30よりも手前側(投光経路において投光素子側)に配置されていたが、図9のようにコリメータレンズ40を手前側に配置し、平行光とした後にビーム径を可変させるような構成であってもよい。
(4)なお、実施形態1では、投光経路においてレーザ光源10とビームスプリッタ50との間にコリメータレンズ40を配置したが、図10のようにビームスプリッタから反射された光を平行光とするようにコリメータレンズ40を配置してもよい。図10では、ビーム径可変手段により径が設定された後の光がビームスプリッタ50にて反射されてコリメータレンズ40に入射し、平行光とされた後にワークに入射されるようになっている。ワークから反射される光は同じくコリメータレンズ40に入射し、当該コリメータレンズ40によって集光されて撮像手段70に入射するようになっている。一方、ビーム径可変手段によって可変され、ビームスプリッタ50を透過する光は、集光レンズ104を介し、ビーム径可変手段にて可変されたビーム径に応じた幅の平行光にて受光手段10に入射される。なお、集光レンズ104と受光手段100の間にさらに集光レンズを設、集光した光を受光手段100に入射させるようにしてもよい。
(3) In the first embodiment, the
(4) In the first embodiment, the
1…角度測定装置
10…レーザ光源(投光手段)
30…開口板(ビーム径可変手段)
40…コリメータレンズ
50…ビームスプリッタ(光分岐手段)
70…CCD(撮像手段)
80…CPU(演算手段、制御手段)
100…受光手段
110…表示手段
W…ワーク(被測定対象物)
DESCRIPTION OF
30 ... aperture plate (beam diameter variable means)
40 ...
70: CCD (imaging means)
80 ... CPU (calculation means, control means)
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記投光手段と、前記光分岐手段との間の投光経路において前記光分岐手段より手前側に配置され、かつ、前記コリメータレンズを介して出射される平行光のビーム径を可変するビーム径可変手段と、
前記光分岐手段からの方向が前記撮像手段とは別の方向となるように配置されると共に、そのビーム径可変手段によりビーム径が変更された後の光を直接的に受光する受光手段と、
表示手段とを備え、
前記光分岐手段は、前記投光手段からの光を透過及び反射のうちの前記他方により前記受光手段に導くように構成され、
前記表示手段は、前記受光手段からの受光信号に基づき、ビーム径可変手段によりビーム径が変更された後の光のビーム径に対応したビーム径情報を表示することを特徴とする角度測定装置。 The light from the light projecting means is guided by one of transmission and reflection through the light branching means, converted into parallel light through the collimator lens, and irradiated with the parallel light on the object to be measured. The reflected light from the object to be measured is branched in the direction different from the light from the light projecting means by the other of transmission and reflection through the light branching means, and condensed on the imaging surface of the imaging means. An angle measuring device comprising a calculating means for measuring an inclination of the object to be measured based on an imaging signal from the imaging means that is output according to a condensing spot position on an imaging surface,
A beam diameter that is arranged on the front side of the light branching unit in the light projecting path between the light projecting unit and the light branching unit and that changes the beam diameter of the parallel light emitted through the collimator lens. Variable means;
A light receiving means that is arranged so that the direction from the light branching means is different from the imaging means, and that directly receives the light after the beam diameter is changed by the beam diameter varying means;
Display means,
The light branching unit is configured to guide the light from the light projecting unit to the light receiving unit by the other of transmission and reflection,
The angle measuring apparatus according to claim 1, wherein the display means displays beam diameter information corresponding to the beam diameter of the light after the beam diameter is changed by the beam diameter varying means based on the light reception signal from the light receiving means.
前記投光手段と、前記光分岐手段との間の投光経路において前記光分岐手段より手前側に配置され、かつ、前記コリメータレンズを介して出射される平行光のビーム径を可変するビーム径可変手段と、
前記ビーム径を設定するビーム径設定手段と、
前記ビーム径設定手段にて設定可能となるビーム径に応じた基準レベルを特定するためのレベル特定情報を記憶する記憶手段と、
前記受光手段からの受光信号と前記レベル特定情報とに基づいて、前記ビーム径設定手段により設定されるビーム径に応じた基準レベルを前記記憶手段にて取得すると共に、この基準レベルと前記受光手段からの受光信号に応じたレベルとが一致するように、前記ビーム径可変手段に対しビーム径を可変させるように制御を行う制御手段とを備えたことを特徴とする角度測定装置。 The light from the light projecting means is guided by one of transmission and reflection through the light branching means, converted into parallel light through the collimator lens, and irradiated with the parallel light on the object to be measured. The reflected light from the object to be measured is branched in the direction different from the light from the light projecting means by the other of transmission and reflection through the light branching means, and condensed on the imaging surface of the imaging means. An angle measuring device comprising a calculating means for measuring an inclination of the object to be measured based on an imaging signal from the imaging means that is output according to a condensing spot position on an imaging surface,
A beam diameter that is arranged on the front side of the light branching unit in the light projecting path between the light projecting unit and the light branching unit and that changes the beam diameter of the parallel light emitted through the collimator lens. Variable means;
Beam diameter setting means for setting the beam diameter;
Storage means for storing level specifying information for specifying a reference level corresponding to a beam diameter that can be set by the beam diameter setting means;
Based on the light reception signal from the light receiving means and the level specifying information, a reference level corresponding to the beam diameter set by the beam diameter setting means is acquired by the storage means, and the reference level and the light receiving means are obtained. An angle measuring apparatus comprising: control means for controlling the beam diameter varying means so as to vary the beam diameter so that the level according to the received light signal from the same coincides.
前記基準レベルは、基準ビーム径であり、
前記制御手段は、
前記受光手段からの受光信号と前記レベル特定情報とに基づいて、前記ビーム径設定手段により設定されるビーム径に応じた基準ビーム径を取得すると共に、この取得された基準ビーム径と、前記複数の撮像素子からの受光信号から算出されるビーム径とが一致するように、前記ビーム径可変手段によりビーム径を可変させることを特徴とする請求項2に記載の角度測定装置。 The light receiving means is composed of a plurality of elements arranged in a line or two dimensions,
The reference level is a reference beam diameter;
The control means includes
Based on the light reception signal from the light receiving means and the level specifying information, a reference beam diameter corresponding to the beam diameter set by the beam diameter setting means is acquired, and the acquired reference beam diameter and the plurality 3. The angle measuring device according to claim 2, wherein the beam diameter is varied by the beam diameter varying means so that the beam diameter calculated from the received light signal from the imaging element matches.
前記制御手段は、前記受光手段からの受光信号に基づいて前記ビーム径可変手段を可変させるとともに、前記ビーム径設定手段により設定されるビーム径に対応する補正係数を、前記補正係数情報記憶手段に記憶される前記補正係数情報に基づいて取得し、
前記演算手段は、
前記撮像手段の撮像面における集光スポット位置に応じて出力される撮像信号から前記被測定対象物の傾きを演算する際に、この読み出された補正係数により補正演算して前記被測定対象物の傾きを測定することを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の角度測定装置。 Correction coefficient information storage means for storing correction coefficient information for specifying a correction coefficient corresponding to a beam diameter that can be set by the beam diameter setting means;
The control means varies the beam diameter varying means based on a light reception signal from the light receiving means, and a correction coefficient corresponding to the beam diameter set by the beam diameter setting means is stored in the correction coefficient information storage means. Obtained based on the stored correction coefficient information,
The computing means is
When calculating the inclination of the object to be measured from the imaging signal output according to the condensing spot position on the imaging surface of the imaging means, the object to be measured is corrected and calculated by the read correction coefficient. The angle measuring device according to claim 2, wherein the angle is measured.
前記光分岐手段は、偏光ビームスプリッタからなり、
さらに、前記投光手段を光軸中心に回転可能に支持する投光回転手段と、
ビーム径を調整するビーム径調整モードと、測定を行う測定モードとに切換可能なモード切換手段と、
前記ビーム径調整モードに設定される場合に、前記投光手段から出射される直線偏光の偏光方向を、前記偏光ビームスプリッタを介して前記受光手段に導かれる第1偏光方向となるように、前記投光回転手段を制御し、前記測定モードに設定される場合に、前記偏光方向が、前記第1偏光方向とは異なる、前記偏光ビームスプリッタを介して前記撮像手段に導かれる第2偏光方向となるように制御を行う回転制御手段と、
を備えたことを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の角度測定装置。 The light projecting means is configured to emit linearly polarized light,
The light branching means comprises a polarizing beam splitter,
Further, a light projecting and rotating means for rotatably supporting the light projecting means about the optical axis,
Mode switching means capable of switching between a beam diameter adjustment mode for adjusting the beam diameter and a measurement mode for performing measurement;
When the beam diameter adjustment mode is set, the polarization direction of linearly polarized light emitted from the light projecting unit is set to the first polarization direction guided to the light receiving unit via the polarization beam splitter. When the projection rotation means is controlled and set to the measurement mode, the polarization direction is different from the first polarization direction, and the second polarization direction is guided to the imaging means via the polarization beam splitter. Rotation control means for controlling so that
The angle measuring device according to any one of claims 1 to 4, further comprising:
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