[go: up one dir, main page]

JP2005129187A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device Download PDF

Info

Publication number
JP2005129187A
JP2005129187A JP2003366400A JP2003366400A JP2005129187A JP 2005129187 A JP2005129187 A JP 2005129187A JP 2003366400 A JP2003366400 A JP 2003366400A JP 2003366400 A JP2003366400 A JP 2003366400A JP 2005129187 A JP2005129187 A JP 2005129187A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
normal operation
control circuit
circuit
confirmation
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003366400A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Norio Komota
典夫 古茂田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2003366400A priority Critical patent/JP2005129187A/en
Publication of JP2005129187A publication Critical patent/JP2005129187A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

【課題】 電源投入から電源の立ち上りを確認して、動作を開始するまでの時間を短縮する。
【解決手段】 所定レベルに電源が立ち上がった時点で通常動作が可能となる通常動作用制御回路9と、この通常動作用制御回路9の電源立ち上げ時に、通常動作用制御回路9に接続された動作確認用シーケンサ5へ動作確認信号を送出する動作確認用シーケンサ制御回路4と、この動作確認信号によって行われる通常動作用制御回路9の動作確認の結果に基づき、通常動作用制御回路9へ通常動作を指令する確認指示・判定回路6とを備える。
【選択図】 図1
PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten the time from the start of power supply to the confirmation of power supply rise to the start of operation.
SOLUTION: A normal operation control circuit 9 capable of normal operation when a power source rises to a predetermined level, and connected to the normal operation control circuit 9 when the normal operation control circuit 9 is powered on. Based on the result of the operation confirmation of the operation confirmation sequencer control circuit 4 for sending the operation confirmation signal to the operation confirmation sequencer 5 and the normal operation control circuit 9 performed by this operation confirmation signal, the normal operation control circuit 9 is And a confirmation instruction / determination circuit 6 for instructing the operation.
[Selection] Figure 1

Description

この発明は、間欠的に動作する部分を有するLSI等の半導体装置に関するものであり、消費電力の削減に関する。   The present invention relates to a semiconductor device such as an LSI having a part that operates intermittently, and relates to reduction of power consumption.

従来、間欠的に動作する部分を有するLSI等の半導体装置は、その部分(以下、「通常動作回路」という)について、非動作時は電源を切断し、必要時に電源を投入することにして、消費電力の節約を図っていた。   Conventionally, a semiconductor device such as an LSI having a part that operates intermittently, the part (hereinafter referred to as a “normal operation circuit”) is turned off when not in operation and turned on when necessary. I was trying to save power consumption.

また、通常動作回路の動作の開始は、通常動作回路の電圧が十分に立ち上がってから行う必要がある。そのような技術として、半導体装置の電源投入時から予め定める時間が経過した時に通常動作を開始させる技術(以下、「第1従来技術」という)や、LSI上に設けられたメモリ内部にダミーデータを格納しておき、LSIの電源投入後に上記メモリから読み出した上記ダミーデータを適当に処理できたか否かで、LSI内部の電源が安定的に立ち上がっている状態であることを確認し、通常動作を開始する技術(以下、「第2従来技術」という)があった。なお、第1及び第2従来技術は下記特許文献1に記載されている。   In addition, the operation of the normal operation circuit needs to be started after the voltage of the normal operation circuit sufficiently rises. As such a technique, a technique for starting a normal operation when a predetermined time has elapsed since the power-on of the semiconductor device (hereinafter referred to as “first conventional technique”), or a dummy data in a memory provided on the LSI is provided. And confirm that the LSI's internal power supply is in a stable state based on whether or not the dummy data read from the memory has been properly processed after the LSI's power is turned on. There is a technology (hereinafter referred to as “second conventional technology”) that starts the process. The first and second prior arts are described in Patent Document 1 below.

特開2002−208300号公報(第2頁、図1)Japanese Unexamined Patent Publication No. 2002-208300 (second page, FIG. 1)

しかし、第1の従来技術は、確実に電圧が立ち上がってから通常動作を開始させるため、ある程度の余裕を持たせて通常動作の開始タイミングを設定する必要がある。したがって、通常動作回路は、電圧が立ち上がってから通常動作を開始するまでの時間に余裕が生じ、電力を消費する時間が長くなるという課題がある。   However, since the first conventional technique starts normal operation after the voltage has risen reliably, it is necessary to set the start timing of normal operation with a certain margin. Therefore, the normal operation circuit has a problem that there is a margin in the time from when the voltage rises to the start of normal operation, and the time for consuming the power becomes long.

また、第2従来技術は、メモリの電圧がデータを読み出せる程度に立ち上がるまでに時間を要し、通常動作回路の電圧が十分立ち上がった時点で必ずしもメモリの電圧が十分立ち上がっているとは限らない。したがって、通常動作回路は、電圧が立ち上がってからダミーデータが読み出されるまでの時間を要し、電力を消費する時間が長くなるという課題がある。   The second prior art requires time until the memory voltage rises to such an extent that data can be read, and the memory voltage does not necessarily rise sufficiently when the voltage of the normal operation circuit rises sufficiently. . Therefore, the normal operation circuit has a problem that it takes a time from when the voltage rises until the dummy data is read, and the time for consuming the power becomes long.

そこで、この発明は、上記のような課題を解決するために成されたもので、通常動作回路の電圧が動作可能な程度に立ち上がってから、実際に通常動作を開始するまでの時間を短縮することによって、半導体装置の消費電力を削減することを目的とする。   Therefore, the present invention has been made to solve the above-described problems, and shortens the time until the normal operation actually starts after the voltage of the normal operation circuit rises to an operable level. Accordingly, an object is to reduce power consumption of the semiconductor device.

この発明に係る半導体装置は、動作開始時電源供給され、電源が所定レベルに立ち上がった時点で通常動作が可能となる通常動作回路、この通常動作回路の電源立ち上げ時に、該通常動作回路へ動作確認信号を送出する確認信号送出手段、この確認信号送出手段の送出した動作確認信号による上記通常動作回路の動作結果に基づき上記通常動作回路へ通常動作を指令する指令手段を備えるものである。   The semiconductor device according to the present invention is supplied with power at the start of operation and can operate normally when the power source rises to a predetermined level, and operates on the normal operation circuit when the power supply of the normal operation circuit is started. Confirmation signal sending means for sending a confirmation signal, and command means for commanding the normal operation circuit to the normal operation circuit based on the operation result of the normal operation circuit based on the operation confirmation signal sent from the confirmation signal sending means.

この発明によれば、通常動作回路の電圧が立ち上がっていることを確認してから通常動作回路に動作指令を出力するので、通常動作回路は、電圧が十分立ち上がってから動作を開始するまでの間に余裕を持たせる必要がない。また、通常動作回路の動作指令は、必ず通常動作回路の電圧が立ち上がってから出力されるので、確実に動作を開始させることができる。さらに、確認信号送出手段が通常動作回路の電圧立ち上げ時に通常動作回路へ動作確認信号を送出するので、通常動作回路の電圧が立ち上がった後、指令手段は通常動作回路の通常動作を迅速に開始させることができるという効果がある。   According to the present invention, since the operation command is output to the normal operation circuit after confirming that the voltage of the normal operation circuit has risen, the normal operation circuit is in a period from when the voltage rises sufficiently until the operation is started. There is no need to make room. Further, since the operation command for the normal operation circuit is always output after the voltage of the normal operation circuit rises, the operation can be reliably started. Further, since the confirmation signal sending means sends an operation confirmation signal to the normal operation circuit when the voltage of the normal operation circuit rises, the command means starts the normal operation of the normal operation circuit quickly after the voltage of the normal operation circuit rises. There is an effect that can be made.

以下、この発明の実施の一形態を説明する。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1による半導体装置の概略構成を示すブロック図である。図示した半導体装置1は、例えば、その内部を常時電源が供給される領域2と、通常動作に使用する回路を備えた領域3との二つの電源領域に分離して、各領域にそれぞれ個別に電源が供給されるように構成したものである。領域2には動作確認用シーケンサ制御回路(確認信号送出手段)4と確認指示・判定回路(指令手段)6が備えられ、領域3には通常動作用制御回路(通常動作回路)9と複数の動作確認用シーケンサ(動作確認手段)5が備えられ、図1には動作確認用シーケンサ5が五つ備えられたものを例示している。
An embodiment of the present invention will be described below.
Embodiment 1 FIG.
1 is a block diagram showing a schematic configuration of a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention. The illustrated semiconductor device 1 is, for example, divided into two power source regions, that is, a region 2 to which power is constantly supplied and a region 3 having a circuit used for normal operation. The power supply is configured to be supplied. The area 2 is provided with an operation confirmation sequencer control circuit (confirmation signal sending means) 4 and a confirmation instruction / determination circuit (command means) 6, and the area 3 has a normal operation control circuit (normal operation circuit) 9 and a plurality of An operation confirmation sequencer (operation confirmation means) 5 is provided, and FIG. 1 shows an example in which five operation confirmation sequencers 5 are provided.

動作確認用シーケンサ5は、領域3に備えられた通常動作用制御回路9の動作を確認するもので、動作確認対象の回路特性、あるいは用途・構成に適合する機能を有し、各動作確認用シーケンサ5の詳細な構成及びシーケンス内容は、確認対象の回路に応じてそれぞれ異なる。例えば、通常動作用制御回路9の確認対象回路がカウンタである場合には、動作確認用シーケンサ5は、そのカウンタを動作させて所望のタイミングで所望のカウント値が得られることを確認する。なお、領域3に備えられる動作確認用シーケンサ5は、動作を確認する回路に応じた個数が備えられるもので、前述のように五つに限定されるものではない。また、通常動作用制御回路9は、例えば携帯電話機の送信機、受信機、変調器、復調器、符号化器、復号化器等であってもよい。   The operation confirmation sequencer 5 is for confirming the operation of the normal operation control circuit 9 provided in the area 3 and has a function suitable for the circuit characteristics or application / configuration of the operation confirmation target. The detailed configuration and sequence contents of the sequencer 5 differ depending on the circuit to be confirmed. For example, when the confirmation target circuit of the normal operation control circuit 9 is a counter, the operation confirmation sequencer 5 operates the counter to confirm that a desired count value is obtained at a desired timing. Note that the number of operation check sequencers 5 provided in the region 3 is provided according to the number of circuits for checking the operation, and is not limited to five as described above. The normal operation control circuit 9 may be, for example, a transmitter, a receiver, a modulator, a demodulator, an encoder, a decoder, or the like of a mobile phone.

次に、動作について説明する。
図2は、実施の形態1による半導体装置の動作を示すフローチャートである。実施の形態1による半導体装置1の動作を、図2を用いて説明する。図2に示したものは、確認指示・判定回路6が、通常動作用制御回路9の動作を確認するための指示信号を出力してから、当該通常動作用制御回路9、即ち、半導体装置1が通常動作に至るまでの過程を示している。半導体装置1の領域2は、常時電源が供給され、確認指示・判定回路6及び動作確認用シーケンサ制御回路4が起動している。半導体装置1を通常動作させる電源が投入されると、すでに起動している確認指示・判定回路6は、領域3へ電源供給が開始されたことを検知して、領域3の通常動作用制御回路9の動作を確認するように、動作確認用シーケンサ制御回路4へ指示信号を出力する(ステップST1)。この指示信号を入力した動作確認用シーケンサ制御回路4は、動作確認信号を領域3に備えられた各動作確認用シーケンサ5へ出力する(ステップST2)。動作確認信号を入力した動作確認用シーケンサ5は、領域3の通常動作用制御回路9の動作確認を行うシーケンス処理を開始する(ステップST3)。
Next, the operation will be described.
FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the semiconductor device according to the first embodiment. The operation of the semiconductor device 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIG. 2, after the confirmation instruction / determination circuit 6 outputs an instruction signal for confirming the operation of the normal operation control circuit 9, the normal operation control circuit 9, i.e., the semiconductor device 1. Shows the process up to normal operation. The region 2 of the semiconductor device 1 is always supplied with power, and the confirmation instruction / determination circuit 6 and the operation confirmation sequencer control circuit 4 are activated. When the power for normally operating the semiconductor device 1 is turned on, the confirmation instruction / determination circuit 6 that has already been activated detects that the power supply to the region 3 has started, and the normal operation control circuit for the region 3 An instruction signal is output to the operation confirmation sequencer control circuit 4 so as to confirm the operation 9 (step ST1). The operation check sequencer control circuit 4 receiving this instruction signal outputs the operation check signal to each operation check sequencer 5 provided in the area 3 (step ST2). The operation check sequencer 5 having received the operation check signal starts a sequence process for checking the operation of the normal operation control circuit 9 in the region 3 (step ST3).

各動作確認用シーケンサ5は、通常動作用制御回路9に対して所定の各シーケンス処理による確認処理を行い、当該回路の動作を確認して、その結果を示す信号を生成し、領域2の動作確認用シーケンサ制御回路4へ出力する。動作確認用シーケンサ制御回路4は、全ての動作確認用シーケンサ5から入力した確認結果が「良好」か、あるいは否かを判定する(ステップST4)。動作確認用シーケンサ制御回路4は、全ての動作確認の結果が「良好」を示していると判定した場合、即ち、領域3に備えられた動作確認対象の全ての回路が正常に動作することを確認したとき、当該内容の判定結果を確認指示・判定回路6へ返送する(ステップST5)。また、ステップST4において、一つでも動作確認対象の回路が正常に動作することを確認できなかった場合は、ステップST2の過程へ戻り、動作確認用シーケンサ制御回路4は、再度その正常な動作が確認できなかった回路を担当する動作確認用シーケンサ5に対して確認指示信号を出力し、動作確認結果が「良好」と判定されるまでステップST2〜ST4の過程を繰り返す。   Each operation confirmation sequencer 5 performs a confirmation process by a predetermined sequence process on the normal operation control circuit 9, confirms the operation of the circuit, generates a signal indicating the result, and operates in the region 2. Output to the confirmation sequencer control circuit 4. The operation confirmation sequencer control circuit 4 determines whether the confirmation results input from all the operation confirmation sequencers 5 are “good” or not (step ST4). The operation check sequencer control circuit 4 determines that all the operation check target circuits provided in the area 3 operate normally when it is determined that all the operation check results indicate “good”. When confirmed, the determination result of the content is returned to the confirmation instruction / determination circuit 6 (step ST5). In step ST4, if even one of the operation confirmation target circuits cannot be confirmed to operate normally, the process returns to step ST2, and the operation confirming sequencer control circuit 4 performs the normal operation again. A confirmation instruction signal is output to the operation confirmation sequencer 5 in charge of the circuit that could not be confirmed, and the processes of steps ST2 to ST4 are repeated until the operation confirmation result is determined to be “good”.

確認指示・判定回路6は、動作確認用シーケンサ制御回路4から入力した判定結果から、領域3の電源が立ち上がっていると判定すると、通常動作を行うように通常動作用制御回路9へ指令を送る。例えば、領域3の電源が立ち上がっていると判定した確認指示・判定回路6は、動作確認用シーケンサ5が通常動作用制御回路9を成す各回路の動作処理の障害とならないように、これらの回路から動作確認用シーケンサ5が電気的に回路上で切り離されるように各制御信号の出力や所定のパラメータ等の設定を行う。このようにして通常動作へ制御を移行し(ステップST6)、通常動作用制御回路9、即ち半導体装置1の通常動作を開始する(ステップST7)。   When the confirmation instruction / determination circuit 6 determines from the determination result input from the operation confirmation sequencer control circuit 4 that the power supply in the area 3 is on, it sends a command to the normal operation control circuit 9 to perform normal operation. . For example, the confirmation instruction / determination circuit 6 that has determined that the power supply of the region 3 has been started up is such that the operation confirmation sequencer 5 does not interfere with the operation processing of each circuit that constitutes the normal operation control circuit 9. The operation check sequencer 5 is set so that each control signal is output and predetermined parameters are set so that the operation check sequencer 5 is electrically disconnected from the circuit. In this way, control is transferred to normal operation (step ST6), and normal operation of the normal operation control circuit 9, that is, the semiconductor device 1, is started (step ST7).

なお、領域2に備えられた動作確認用シーケンサ制御回路4及び確認指示・判定回路6は、半導体装置1の外部に備えられても同様な作用効果が得られる。また、動作確認用シーケンサ制御回路4を領域3に備えても同様な作用効果が得られる。また、ここでは内部を二つの電源領域に分離して構成された半導体装置1について説明したが、三つ以上の電源領域に分離して各領域に個別の電源が供給されるように半導体装置を構成し、常時電源が供給されている領域に、図1に示した領域2のように動作確認用シーケンサ制御回路4と確認指示・判定回路6とを備え、当該半導体装置に電源が投入されると電源供給が開始される各領域に備えられた各回路の動作確認を行うようにしても同様な作用効果が得られる。   It should be noted that even if the operation confirmation sequencer control circuit 4 and the confirmation instruction / determination circuit 6 provided in the region 2 are provided outside the semiconductor device 1, the same effects can be obtained. Further, even if the operation check sequencer control circuit 4 is provided in the area 3, the same effect can be obtained. Further, here, the semiconductor device 1 configured by separating the inside into two power supply regions has been described. However, the semiconductor device is separated into three or more power supply regions so that individual power is supplied to each region. As shown in the area 2 shown in FIG. 1, the operation confirmation sequencer control circuit 4 and the confirmation instruction / determination circuit 6 are provided in an area where power is constantly supplied, and the semiconductor device is turned on. Even if the operation of each circuit provided in each region where power supply is started is confirmed, the same effect can be obtained.

以上のように、実施の形態1によれば、通常動作用制御回路9への供給電圧が立ち上がっていることを確認指示・判定回路6が確認したとき、動作指令を通常動作用制御回路9へ出力するようにしたので、供給電圧が十分立ち上がってから通常動作用制御回路9が動作を開始するまでの間に余裕を持たせる必要がないという効果がある。   As described above, according to the first embodiment, when the confirmation instruction / determination circuit 6 confirms that the supply voltage to the normal operation control circuit 9 has risen, the operation command is transmitted to the normal operation control circuit 9. Since the output is performed, there is an effect that it is not necessary to provide a margin between the supply voltage sufficiently rising and the normal operation control circuit 9 starting the operation.

また、確認指示・判定回路6は、通常動作用制御回路9への動作指令を、必ず通常動作用制御回路9への供給電圧が立ち上がってから出力するようにしたので、通常動作用制御回路9の動作を確実に開始させることができるという効果がある。   Further, since the confirmation instruction / determination circuit 6 always outputs the operation command to the normal operation control circuit 9 after the supply voltage to the normal operation control circuit 9 rises, the normal operation control circuit 9 There is an effect that the operation can be started reliably.

さらに、動作確認用シーケンサ制御回路4が、通常動作用制御回路9の供給電圧立ち上げ時に通常動作用制御回路9へ動作確認信号を送出するようにしたので、通常動作用制御回路9の電圧が立ち上がった後、確認指示・判定回路6は、通常動作用制御回路9の通常動作を迅速に開始させることができるという効果がある。   Further, since the operation confirmation sequencer control circuit 4 sends an operation confirmation signal to the normal operation control circuit 9 when the supply voltage of the normal operation control circuit 9 rises, the voltage of the normal operation control circuit 9 is After the start-up, the confirmation instruction / determination circuit 6 has an effect that the normal operation of the normal operation control circuit 9 can be started quickly.

実施の形態2.
図3は、この発明の実施の形態2による半導体装置の概略構成を示すブロック図である。図1に示したものと同一あるいは相当する部分に同じ符号を使用し、その説明を省略する。図3に示した半導体装置1aは、常時電源が供給されている領域2にプロセッサ等から成るメモリ制御回路(指令手段)7と複数のテストデータ等を格納するメモリ8とを備える。また、半導体装置1aへの電源投入によって電源が供給される領域3には、半導体装置1aが通常動作を行う場合に各処理を行う通常動作用制御回路9が備えられる。通常動作用制御回路9は、例えばカウンタ、セレクタなどのデジタル回路、またはアナログ回路から成る。なお、ここでは説明を簡単にするため、通常動作用制御回路9を一つのブロックとして図示しているが、実施の形態1で説明したものと同様なもので、上記カウンタなどの通常動作で用いる回路を複数備えたものでもよい。
Embodiment 2. FIG.
FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a semiconductor device according to the second embodiment of the present invention. The same reference numerals are used for the same or corresponding parts as shown in FIG. The semiconductor device 1a shown in FIG. 3 includes a memory control circuit (command means) 7 composed of a processor or the like and a memory 8 for storing a plurality of test data and the like in a region 2 to which power is always supplied. The region 3 to which power is supplied by turning on the power to the semiconductor device 1a is provided with a normal operation control circuit 9 that performs each process when the semiconductor device 1a performs normal operation. The normal operation control circuit 9 is composed of, for example, a digital circuit such as a counter and a selector, or an analog circuit. Here, for simplicity of explanation, the normal operation control circuit 9 is shown as one block, but it is the same as that described in the first embodiment, and is used in normal operation of the counter and the like. It may be provided with a plurality of circuits.

次に、動作について説明する。
図4は、実施の形態2による半導体装置の動作を示すフローチャートである。実施の形態2による半導体装置1aの動作を、図4を用いて説明する。図4に示したものは、メモリ制御回路7が、通常動作用制御回路9の動作を確認する指示信号を出力してから、当該半導体装置1aが通常動作に至るまでの過程を示している。メモリ8には、予め動作確認に使用するテストデータを格納しておく。常に電源が供給されている領域2のメモリ制御回路7は、メモリ8からテストデータを読み出すことが可能な状態で待機している。半導体装置1aに通常動作を行う電源が投入されると、図3には図示を省略した半導体装置1a内部に備えられた電源投入指令部が、電源供給が開始された領域3の通常動作用制御回路9へ指令信号を出力し、通常動作用制御回路9を起動させる。また、電源投入指令部は、この指令信号を領域2のメモリ制御回路7へ同時に出力する。メモリ制御回路7は、この指令信号を入力することにより、領域3に電源が投入されたことを検知する(ステップST10)。メモリ制御回路7は、領域3に電源供給が開始されたことを検知すると、メモリ8から所定のテストデータを読み出し(ステップST11)、このテストデータを処理するように通常動作用制御回路9へ動作指示を与え、所定の動作を行わせる(ステップST12)。
Next, the operation will be described.
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the semiconductor device according to the second embodiment. The operation of the semiconductor device 1a according to the second embodiment will be described with reference to FIG. 4 shows a process from when the memory control circuit 7 outputs an instruction signal for confirming the operation of the normal operation control circuit 9 to when the semiconductor device 1a reaches a normal operation. Test data used for operation confirmation is stored in the memory 8 in advance. The memory control circuit 7 in the region 2 to which power is always supplied is on standby in a state where test data can be read from the memory 8. When the power for performing the normal operation is turned on to the semiconductor device 1a, the power-on command unit provided in the semiconductor device 1a (not shown in FIG. 3) controls the normal operation in the region 3 where the power supply is started. A command signal is output to the circuit 9 to activate the normal operation control circuit 9. Further, the power-on command unit outputs this command signal to the memory control circuit 7 in the area 2 at the same time. The memory control circuit 7 receives this command signal and detects that power is supplied to the area 3 (step ST10). When the memory control circuit 7 detects that the power supply to the area 3 is started, the memory control circuit 7 reads predetermined test data from the memory 8 (step ST11), and operates the normal operation control circuit 9 so as to process the test data. An instruction is given to perform a predetermined operation (step ST12).

メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9からの応答、即ち通常動作用制御回路9からテストデータの処理結果を入力し、この処理結果から通常動作用制御回路9の動作が良好か否かを判定する(ステップST13)。予め期待されている所定の結果が得られなかった場合は、通常動作用制御回路9が十分に起動していないと考えられることから、再びステップST12の過程へ戻り、メモリ制御回路7は、このテストデータを処理するように通常動作用制御次回路9へ動作指示を行う。   The memory control circuit 7 receives a response from the normal operation control circuit 9, that is, the test data processing result from the normal operation control circuit 9, and determines whether the normal operation control circuit 9 is good or not based on this processing result. Is determined (step ST13). If the predetermined result expected in advance is not obtained, it is considered that the normal operation control circuit 9 is not sufficiently activated, so the process returns to step ST12 again, and the memory control circuit 7 An operation instruction is given to the normal operation control next circuit 9 so as to process the test data.

メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9に複数の異なるテストデータを通常動作用制御回路9に実行させ、動作確認を行うものである。ステップST13において、予め期待されている所定の結果が通知された場合には、最終の動作確認か否かを判定する(ステップST14)。メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9にテストデータを与えたとき、どのテストデータを処理させかを認識することから、所定の複数のテストデータを処理させたか否かをステップST14にて判定する。まだ処理させていないテストデータがある場合には、ステップST11の過程に戻り、まだ処理させていないテストデータをメモリ8から読み出し、ステップST11からステップST14の過程を繰り返し、所定の複数のテストデータを通常動作用制御回路9に処理させる。ステップST14において、メモリ制御回路7は、最後のテストデータを通常動作用制御回路9に実行させたことを確認すると、通常動作用制御回路9に対して通常動作を開始するように動作指令を出力する。詳しくは、メモリ制御回路7が、通常動作を行うときの所定の操作が可能な状態に通常動作用制御回路9を設定する(ステップST15)。通常動作用制御回路9は通常動作を開始し(ステップST16)、前述の操作が行われることにより、半導体装置1aが当該操作に基づいた通常動作を開始する。   The memory control circuit 7 causes the normal operation control circuit 9 to execute a plurality of different test data in the normal operation control circuit 9 to confirm the operation. In step ST13, when a predetermined result expected in advance is notified, it is determined whether or not the final operation confirmation is made (step ST14). The memory control circuit 7 recognizes which test data is to be processed when the test data is supplied to the normal operation control circuit 9, so whether or not a plurality of predetermined test data has been processed is determined in step ST14. judge. When there is test data that has not been processed yet, the process returns to the process of step ST11, the test data that has not been processed yet is read from the memory 8, and the process of step ST11 to step ST14 is repeated to obtain a predetermined plurality of test data. The control circuit 9 for normal operation is processed. In step ST14, when confirming that the last test data has been executed by the normal operation control circuit 9, the memory control circuit 7 outputs an operation command to the normal operation control circuit 9 so as to start normal operation. To do. Specifically, the memory control circuit 7 sets the normal operation control circuit 9 in a state in which a predetermined operation when performing the normal operation is possible (step ST15). The normal operation control circuit 9 starts normal operation (step ST16), and the semiconductor device 1a starts normal operation based on the operation by performing the above-described operation.

なお、半導体装置1aの領域2に備えられたメモリ制御回路7及びメモリ8は、半導体装置1aの外部に備えられた構成でも同様な作用効果が得られる。また、領域2に備えられたメモリ制御回路7及びメモリ8を領域3に備えた構成としたときにも、半導体装置1aに電源が投入されてから通常動作を開始するまでの時間は、上述の半導体装置1aに比べて短縮できないが、半導体装置の通常動作で用いられる各回路の動作の是非を確認することができる。   Note that the memory control circuit 7 and the memory 8 provided in the region 2 of the semiconductor device 1a can obtain the same function and effect even in a configuration provided outside the semiconductor device 1a. Even when the memory control circuit 7 and the memory 8 provided in the region 2 are provided in the region 3, the time from when the semiconductor device 1a is turned on until the normal operation is started is as described above. Although it cannot be shortened as compared with the semiconductor device 1a, it is possible to confirm the pros and cons of the operation of each circuit used in the normal operation of the semiconductor device.

また、通常動作用制御回路9の各要所に図1に示した動作確認用シーケンサ5を組み込んで構成し、動作確認用シーケンサ5を用いて通常動作用制御回路9の動作をシーケンス制御により確認して、領域3に電源が供給されたことを確認するようにしてもよい。また、ここでは実施の形態1の説明と同様に内部を二つの電源領域に分離して構成された半導体装置1aについて説明したが、三つ以上の電源領域に内部を分離して各領域に個別の電源を供給し、常時電源が供給される領域にメモリ制御回路7及びメモリ8を備えて構成した半導体装置でも同様な作用効果が得られる。   Further, the operation check sequencer 5 shown in FIG. 1 is incorporated in each point of the normal operation control circuit 9 and the operation check sequencer 5 is used to check the operation of the normal operation control circuit 9 by sequence control. Then, it may be confirmed that power is supplied to the region 3. Further, here, the semiconductor device 1a is described in which the interior is separated into two power supply regions in the same manner as in the description of the first embodiment. However, the interior is separated into three or more power supply regions, and each region is individually separated. A similar effect can be obtained even in a semiconductor device that is configured to include the memory control circuit 7 and the memory 8 in a region where the power is constantly supplied and in which the power is always supplied.

以上のように、実施の形態2によれば、メモリ制御回路7が、通常動作用制御回路9にテストデータを処理させ、その処理結果から通常動作用制御回路9が動作可能か否かを判定し、動作可能であれば通常動作用制御回路9に動作指令を出力するようにしたので、供給電圧が十分立ち上がってから通常動作用制御回路9が動作を開始するまでの間に余裕を持たせる必要がないという効果がある。   As described above, according to the second embodiment, the memory control circuit 7 causes the normal operation control circuit 9 to process the test data, and determines whether the normal operation control circuit 9 is operable from the processing result. If the operation is possible, an operation command is output to the normal operation control circuit 9, so that there is a margin between the supply voltage sufficiently rising and the normal operation control circuit 9 starting the operation. There is an effect that it is not necessary.

また、メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9への動作指令を、必ず通常動作用制御回路9への供給電圧が立ち上がってから出力するようにしたので、通常動作用制御回路9の動作を確実に開始させることができるという効果がある。   Further, since the memory control circuit 7 always outputs the operation command to the normal operation control circuit 9 after the supply voltage to the normal operation control circuit 9 rises, the operation of the normal operation control circuit 9 is performed. There is an effect that can be started reliably.

さらに、メモリ制御回路7が、通常動作用制御回路9の供給電圧立ち上げ時に通常動作用制御回路9へテストデータを送出するようにしたので、通常動作用制御回路9の電圧が立ち上がった後、メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9の通常動作を迅速に開始させることができるという効果がある。   Further, since the memory control circuit 7 sends test data to the normal operation control circuit 9 when the supply voltage of the normal operation control circuit 9 rises, after the voltage of the normal operation control circuit 9 rises, The memory control circuit 7 has an effect that the normal operation of the normal operation control circuit 9 can be started quickly.

また、通常動作用制御回路9の動作を確認する動作確認手段を備えることなく電源立ち上げを確認することができ、半導体装置1aの構成を簡素にすることができるという効果がある。   In addition, it is possible to confirm the start-up of the power supply without providing an operation confirmation unit for confirming the operation of the normal operation control circuit 9, and there is an effect that the configuration of the semiconductor device 1a can be simplified.

この発明の実施の形態1による半導体装置の概略構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a schematic configuration of a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention. 実施の形態1による半導体装置の動作を示すフローチャートである。3 is a flowchart showing the operation of the semiconductor device according to the first embodiment. この発明の実施の形態2による半導体装置の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the semiconductor device by Embodiment 2 of this invention. 実施の形態2による半導体装置の動作を示すフローチャートである。6 is a flowchart showing the operation of the semiconductor device according to the second embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1,1a 半導体装置、2,3 領域、4 動作確認用シーケンサ制御回路(確認信号送出手段)、5 動作確認用シーケンサ(動作確認手段)、6 確認指示・判定回路(指令手段)、7 メモリ制御回路(指令手段)、8 メモリ、9 通常動作用制御回路(通常動作回路)。   1, 1a Semiconductor device, 2, 3 area, 4 operation confirmation sequencer control circuit (confirmation signal sending means), 5 operation confirmation sequencer (operation confirmation means), 6 confirmation instruction / determination circuit (command means), 7 memory control Circuit (command means), 8 memory, 9 control circuit for normal operation (normal operation circuit).

Claims (5)

動作確認時電源供給され、電源が所定レベルに立ち上がった時点で通常動作が可能となる通常動作回路、
この通常動作回路の電源立ち上げ時に、該通常動作回路へ動作確認信号を送出する確認信号送出手段、
この確認信号送出手段の送出した動作確認信号による上記通常動作回路の動作結果に基づき上記通常動作回路へ通常動作を指令する指令手段を備えたことを特徴とする半導体装置。
Normal operation circuit that is supplied with power at the time of operation check and can perform normal operation when the power rises to a predetermined level,
Confirmation signal sending means for sending an operation confirmation signal to the normal operation circuit when the power supply of the normal operation circuit is turned on;
A semiconductor device comprising command means for instructing a normal operation to the normal operation circuit based on an operation result of the normal operation circuit based on an operation confirmation signal sent from the confirmation signal sending means.
確認信号送出手段は、通常動作回路に接続された複数の動作確認手段へ動作確認信号を送出し、上記複数の動作確認手段による上記通常動作回路の動作結果が良好と判定したとき、当該動作結果を指令手段へ送ることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。   The confirmation signal sending means sends an operation confirmation signal to a plurality of operation confirmation means connected to the normal operation circuit, and when the operation result of the normal operation circuit by the plurality of operation confirmation means is determined to be good, the operation result The semiconductor device according to claim 1, wherein: is sent to the command means. 確認信号送出手段は、通常動作回路から良好な動作結果が得られなかったとき、動作確認手段に対して再度動作確認信号を送出し、上記動作結果が良好となるまで動作確認を行わせることを特徴とする請求項2記載の半導体装置。   The confirmation signal sending means sends an operation confirmation signal to the operation confirmation means again when a good operation result is not obtained from the normal operation circuit, and confirms the operation until the operation result becomes good. The semiconductor device according to claim 2, wherein: 動作確認時電源供給され、電源が所定レベルに立ち上がった時点で通常動作が可能となる通常動作回路、
この通常動作回路の電源立ち上げ時に、該通常動作回路へテストデータを送出し、該テストデータの処理結果に基づき上記通常動作回路へ通常動作を指令する指令手段を備えたことを特徴とする半導体装置。
Normal operation circuit that is supplied with power at the time of operation check and can perform normal operation when the power rises to a predetermined level,
A semiconductor device comprising: command means for sending test data to the normal operation circuit when the power supply of the normal operation circuit is turned on, and instructing the normal operation circuit to perform a normal operation based on a processing result of the test data apparatus.
指令手段は、複数のテストデータを順次送出し、全てのテストデータの処理結果が良好なとき、通常動作を指令することを特徴とする請求項4記載の半導体装置。   5. The semiconductor device according to claim 4, wherein the command means sequentially sends a plurality of test data, and commands a normal operation when the processing results of all the test data are good.
JP2003366400A 2003-10-27 2003-10-27 Semiconductor device Pending JP2005129187A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003366400A JP2005129187A (en) 2003-10-27 2003-10-27 Semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003366400A JP2005129187A (en) 2003-10-27 2003-10-27 Semiconductor device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005129187A true JP2005129187A (en) 2005-05-19

Family

ID=34644758

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003366400A Pending JP2005129187A (en) 2003-10-27 2003-10-27 Semiconductor device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005129187A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012146390A (en) * 2005-11-01 2012-08-02 Sandisk Il Ltd Method, system, and computer-readable code for testing flash memory
CN111474876A (en) * 2019-01-23 2020-07-31 瑞萨电子株式会社 Semiconductor device and semiconductor system
WO2023007974A1 (en) * 2021-07-30 2023-02-02 ローム株式会社 Semiconductor device, in-vehicle device, and consumer equipment

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012146390A (en) * 2005-11-01 2012-08-02 Sandisk Il Ltd Method, system, and computer-readable code for testing flash memory
CN111474876A (en) * 2019-01-23 2020-07-31 瑞萨电子株式会社 Semiconductor device and semiconductor system
WO2023007974A1 (en) * 2021-07-30 2023-02-02 ローム株式会社 Semiconductor device, in-vehicle device, and consumer equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100459476C (en) Semiconductor devices and portable terminal equipment
KR101664322B1 (en) Computing device and start-up method therefor
US20110151930A1 (en) Apparatus and method for supporting sim card in mobile communication terminal having multiple modems
US8341307B2 (en) Semiconductor storage device, electronic apparatus, and mode setting method
JP2009020861A (en) Processing device and clock control method
JP2005129187A (en) Semiconductor device
WO2014128815A1 (en) Wireless communication apparatus and method for activating this wireless communication apparatus
JP2006190132A (en) Control program download device
JP2011254159A (en) Mobile communication terminal device and timer control method thereof
KR101602225B1 (en) System and method for reprogramming of vehicle
JP4389308B2 (en) Memory control device and control method
JP3056083B2 (en) Radio selective call receiver
CN113703850A (en) BIOS program starting method, system and related components
JP2010039543A (en) Processing apparatus, method of determining clock frequency, and computer program
CN110018852B (en) A system secondary boot method, device and storage medium
JP2010101644A (en) Semiconductor device
JP2000010954A5 (en) Digital signal processor and processor self-test method
CN111489679A (en) Control method and device of time schedule controller and electronic equipment
JP2007272943A (en) Nonvolatile semiconductor memory device
JP5368231B2 (en) How to start the program
JP2007202068A (en) Control apparatus, radio base station, and program update method
CN109691030B (en) Sensor system and method for operating a sensor system
JP2008236870A (en) Controller for actuator, electric bed, data communication method of computing device, and drive method of the electric bed
JP2002290547A (en) Method of controlling image processing integrated circuit
US9724949B2 (en) Printing apparatus system, and connection device, control method and computer readable medium for the same having authentication process for identifying connection of multistage connections

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060303

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20071018

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20080710

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080811

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080916

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090127