JP2005129187A - Semiconductor device - Google Patents
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Abstract
【課題】 電源投入から電源の立ち上りを確認して、動作を開始するまでの時間を短縮する。
【解決手段】 所定レベルに電源が立ち上がった時点で通常動作が可能となる通常動作用制御回路9と、この通常動作用制御回路9の電源立ち上げ時に、通常動作用制御回路9に接続された動作確認用シーケンサ5へ動作確認信号を送出する動作確認用シーケンサ制御回路4と、この動作確認信号によって行われる通常動作用制御回路9の動作確認の結果に基づき、通常動作用制御回路9へ通常動作を指令する確認指示・判定回路6とを備える。
【選択図】 図1PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten the time from the start of power supply to the confirmation of power supply rise to the start of operation.
SOLUTION: A normal operation control circuit 9 capable of normal operation when a power source rises to a predetermined level, and connected to the normal operation control circuit 9 when the normal operation control circuit 9 is powered on. Based on the result of the operation confirmation of the operation confirmation sequencer control circuit 4 for sending the operation confirmation signal to the operation confirmation sequencer 5 and the normal operation control circuit 9 performed by this operation confirmation signal, the normal operation control circuit 9 is And a confirmation instruction / determination circuit 6 for instructing the operation.
[Selection] Figure 1
Description
この発明は、間欠的に動作する部分を有するLSI等の半導体装置に関するものであり、消費電力の削減に関する。 The present invention relates to a semiconductor device such as an LSI having a part that operates intermittently, and relates to reduction of power consumption.
従来、間欠的に動作する部分を有するLSI等の半導体装置は、その部分(以下、「通常動作回路」という)について、非動作時は電源を切断し、必要時に電源を投入することにして、消費電力の節約を図っていた。 Conventionally, a semiconductor device such as an LSI having a part that operates intermittently, the part (hereinafter referred to as a “normal operation circuit”) is turned off when not in operation and turned on when necessary. I was trying to save power consumption.
また、通常動作回路の動作の開始は、通常動作回路の電圧が十分に立ち上がってから行う必要がある。そのような技術として、半導体装置の電源投入時から予め定める時間が経過した時に通常動作を開始させる技術(以下、「第1従来技術」という)や、LSI上に設けられたメモリ内部にダミーデータを格納しておき、LSIの電源投入後に上記メモリから読み出した上記ダミーデータを適当に処理できたか否かで、LSI内部の電源が安定的に立ち上がっている状態であることを確認し、通常動作を開始する技術(以下、「第2従来技術」という)があった。なお、第1及び第2従来技術は下記特許文献1に記載されている。 In addition, the operation of the normal operation circuit needs to be started after the voltage of the normal operation circuit sufficiently rises. As such a technique, a technique for starting a normal operation when a predetermined time has elapsed since the power-on of the semiconductor device (hereinafter referred to as “first conventional technique”), or a dummy data in a memory provided on the LSI is provided. And confirm that the LSI's internal power supply is in a stable state based on whether or not the dummy data read from the memory has been properly processed after the LSI's power is turned on. There is a technology (hereinafter referred to as “second conventional technology”) that starts the process. The first and second prior arts are described in Patent Document 1 below.
しかし、第1の従来技術は、確実に電圧が立ち上がってから通常動作を開始させるため、ある程度の余裕を持たせて通常動作の開始タイミングを設定する必要がある。したがって、通常動作回路は、電圧が立ち上がってから通常動作を開始するまでの時間に余裕が生じ、電力を消費する時間が長くなるという課題がある。 However, since the first conventional technique starts normal operation after the voltage has risen reliably, it is necessary to set the start timing of normal operation with a certain margin. Therefore, the normal operation circuit has a problem that there is a margin in the time from when the voltage rises to the start of normal operation, and the time for consuming the power becomes long.
また、第2従来技術は、メモリの電圧がデータを読み出せる程度に立ち上がるまでに時間を要し、通常動作回路の電圧が十分立ち上がった時点で必ずしもメモリの電圧が十分立ち上がっているとは限らない。したがって、通常動作回路は、電圧が立ち上がってからダミーデータが読み出されるまでの時間を要し、電力を消費する時間が長くなるという課題がある。 The second prior art requires time until the memory voltage rises to such an extent that data can be read, and the memory voltage does not necessarily rise sufficiently when the voltage of the normal operation circuit rises sufficiently. . Therefore, the normal operation circuit has a problem that it takes a time from when the voltage rises until the dummy data is read, and the time for consuming the power becomes long.
そこで、この発明は、上記のような課題を解決するために成されたもので、通常動作回路の電圧が動作可能な程度に立ち上がってから、実際に通常動作を開始するまでの時間を短縮することによって、半導体装置の消費電力を削減することを目的とする。 Therefore, the present invention has been made to solve the above-described problems, and shortens the time until the normal operation actually starts after the voltage of the normal operation circuit rises to an operable level. Accordingly, an object is to reduce power consumption of the semiconductor device.
この発明に係る半導体装置は、動作開始時電源供給され、電源が所定レベルに立ち上がった時点で通常動作が可能となる通常動作回路、この通常動作回路の電源立ち上げ時に、該通常動作回路へ動作確認信号を送出する確認信号送出手段、この確認信号送出手段の送出した動作確認信号による上記通常動作回路の動作結果に基づき上記通常動作回路へ通常動作を指令する指令手段を備えるものである。 The semiconductor device according to the present invention is supplied with power at the start of operation and can operate normally when the power source rises to a predetermined level, and operates on the normal operation circuit when the power supply of the normal operation circuit is started. Confirmation signal sending means for sending a confirmation signal, and command means for commanding the normal operation circuit to the normal operation circuit based on the operation result of the normal operation circuit based on the operation confirmation signal sent from the confirmation signal sending means.
この発明によれば、通常動作回路の電圧が立ち上がっていることを確認してから通常動作回路に動作指令を出力するので、通常動作回路は、電圧が十分立ち上がってから動作を開始するまでの間に余裕を持たせる必要がない。また、通常動作回路の動作指令は、必ず通常動作回路の電圧が立ち上がってから出力されるので、確実に動作を開始させることができる。さらに、確認信号送出手段が通常動作回路の電圧立ち上げ時に通常動作回路へ動作確認信号を送出するので、通常動作回路の電圧が立ち上がった後、指令手段は通常動作回路の通常動作を迅速に開始させることができるという効果がある。 According to the present invention, since the operation command is output to the normal operation circuit after confirming that the voltage of the normal operation circuit has risen, the normal operation circuit is in a period from when the voltage rises sufficiently until the operation is started. There is no need to make room. Further, since the operation command for the normal operation circuit is always output after the voltage of the normal operation circuit rises, the operation can be reliably started. Further, since the confirmation signal sending means sends an operation confirmation signal to the normal operation circuit when the voltage of the normal operation circuit rises, the command means starts the normal operation of the normal operation circuit quickly after the voltage of the normal operation circuit rises. There is an effect that can be made.
以下、この発明の実施の一形態を説明する。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1による半導体装置の概略構成を示すブロック図である。図示した半導体装置1は、例えば、その内部を常時電源が供給される領域2と、通常動作に使用する回路を備えた領域3との二つの電源領域に分離して、各領域にそれぞれ個別に電源が供給されるように構成したものである。領域2には動作確認用シーケンサ制御回路(確認信号送出手段)4と確認指示・判定回路(指令手段)6が備えられ、領域3には通常動作用制御回路(通常動作回路)9と複数の動作確認用シーケンサ(動作確認手段)5が備えられ、図1には動作確認用シーケンサ5が五つ備えられたものを例示している。
An embodiment of the present invention will be described below.
Embodiment 1 FIG.
1 is a block diagram showing a schematic configuration of a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention. The illustrated semiconductor device 1 is, for example, divided into two power source regions, that is, a
動作確認用シーケンサ5は、領域3に備えられた通常動作用制御回路9の動作を確認するもので、動作確認対象の回路特性、あるいは用途・構成に適合する機能を有し、各動作確認用シーケンサ5の詳細な構成及びシーケンス内容は、確認対象の回路に応じてそれぞれ異なる。例えば、通常動作用制御回路9の確認対象回路がカウンタである場合には、動作確認用シーケンサ5は、そのカウンタを動作させて所望のタイミングで所望のカウント値が得られることを確認する。なお、領域3に備えられる動作確認用シーケンサ5は、動作を確認する回路に応じた個数が備えられるもので、前述のように五つに限定されるものではない。また、通常動作用制御回路9は、例えば携帯電話機の送信機、受信機、変調器、復調器、符号化器、復号化器等であってもよい。
The
次に、動作について説明する。
図2は、実施の形態1による半導体装置の動作を示すフローチャートである。実施の形態1による半導体装置1の動作を、図2を用いて説明する。図2に示したものは、確認指示・判定回路6が、通常動作用制御回路9の動作を確認するための指示信号を出力してから、当該通常動作用制御回路9、即ち、半導体装置1が通常動作に至るまでの過程を示している。半導体装置1の領域2は、常時電源が供給され、確認指示・判定回路6及び動作確認用シーケンサ制御回路4が起動している。半導体装置1を通常動作させる電源が投入されると、すでに起動している確認指示・判定回路6は、領域3へ電源供給が開始されたことを検知して、領域3の通常動作用制御回路9の動作を確認するように、動作確認用シーケンサ制御回路4へ指示信号を出力する(ステップST1)。この指示信号を入力した動作確認用シーケンサ制御回路4は、動作確認信号を領域3に備えられた各動作確認用シーケンサ5へ出力する(ステップST2)。動作確認信号を入力した動作確認用シーケンサ5は、領域3の通常動作用制御回路9の動作確認を行うシーケンス処理を開始する(ステップST3)。
Next, the operation will be described.
FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the semiconductor device according to the first embodiment. The operation of the semiconductor device 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIG. 2, after the confirmation instruction /
各動作確認用シーケンサ5は、通常動作用制御回路9に対して所定の各シーケンス処理による確認処理を行い、当該回路の動作を確認して、その結果を示す信号を生成し、領域2の動作確認用シーケンサ制御回路4へ出力する。動作確認用シーケンサ制御回路4は、全ての動作確認用シーケンサ5から入力した確認結果が「良好」か、あるいは否かを判定する(ステップST4)。動作確認用シーケンサ制御回路4は、全ての動作確認の結果が「良好」を示していると判定した場合、即ち、領域3に備えられた動作確認対象の全ての回路が正常に動作することを確認したとき、当該内容の判定結果を確認指示・判定回路6へ返送する(ステップST5)。また、ステップST4において、一つでも動作確認対象の回路が正常に動作することを確認できなかった場合は、ステップST2の過程へ戻り、動作確認用シーケンサ制御回路4は、再度その正常な動作が確認できなかった回路を担当する動作確認用シーケンサ5に対して確認指示信号を出力し、動作確認結果が「良好」と判定されるまでステップST2〜ST4の過程を繰り返す。
Each
確認指示・判定回路6は、動作確認用シーケンサ制御回路4から入力した判定結果から、領域3の電源が立ち上がっていると判定すると、通常動作を行うように通常動作用制御回路9へ指令を送る。例えば、領域3の電源が立ち上がっていると判定した確認指示・判定回路6は、動作確認用シーケンサ5が通常動作用制御回路9を成す各回路の動作処理の障害とならないように、これらの回路から動作確認用シーケンサ5が電気的に回路上で切り離されるように各制御信号の出力や所定のパラメータ等の設定を行う。このようにして通常動作へ制御を移行し(ステップST6)、通常動作用制御回路9、即ち半導体装置1の通常動作を開始する(ステップST7)。
When the confirmation instruction /
なお、領域2に備えられた動作確認用シーケンサ制御回路4及び確認指示・判定回路6は、半導体装置1の外部に備えられても同様な作用効果が得られる。また、動作確認用シーケンサ制御回路4を領域3に備えても同様な作用効果が得られる。また、ここでは内部を二つの電源領域に分離して構成された半導体装置1について説明したが、三つ以上の電源領域に分離して各領域に個別の電源が供給されるように半導体装置を構成し、常時電源が供給されている領域に、図1に示した領域2のように動作確認用シーケンサ制御回路4と確認指示・判定回路6とを備え、当該半導体装置に電源が投入されると電源供給が開始される各領域に備えられた各回路の動作確認を行うようにしても同様な作用効果が得られる。
It should be noted that even if the operation confirmation
以上のように、実施の形態1によれば、通常動作用制御回路9への供給電圧が立ち上がっていることを確認指示・判定回路6が確認したとき、動作指令を通常動作用制御回路9へ出力するようにしたので、供給電圧が十分立ち上がってから通常動作用制御回路9が動作を開始するまでの間に余裕を持たせる必要がないという効果がある。
As described above, according to the first embodiment, when the confirmation instruction /
また、確認指示・判定回路6は、通常動作用制御回路9への動作指令を、必ず通常動作用制御回路9への供給電圧が立ち上がってから出力するようにしたので、通常動作用制御回路9の動作を確実に開始させることができるという効果がある。
Further, since the confirmation instruction /
さらに、動作確認用シーケンサ制御回路4が、通常動作用制御回路9の供給電圧立ち上げ時に通常動作用制御回路9へ動作確認信号を送出するようにしたので、通常動作用制御回路9の電圧が立ち上がった後、確認指示・判定回路6は、通常動作用制御回路9の通常動作を迅速に開始させることができるという効果がある。
Further, since the operation confirmation
実施の形態2.
図3は、この発明の実施の形態2による半導体装置の概略構成を示すブロック図である。図1に示したものと同一あるいは相当する部分に同じ符号を使用し、その説明を省略する。図3に示した半導体装置1aは、常時電源が供給されている領域2にプロセッサ等から成るメモリ制御回路(指令手段)7と複数のテストデータ等を格納するメモリ8とを備える。また、半導体装置1aへの電源投入によって電源が供給される領域3には、半導体装置1aが通常動作を行う場合に各処理を行う通常動作用制御回路9が備えられる。通常動作用制御回路9は、例えばカウンタ、セレクタなどのデジタル回路、またはアナログ回路から成る。なお、ここでは説明を簡単にするため、通常動作用制御回路9を一つのブロックとして図示しているが、実施の形態1で説明したものと同様なもので、上記カウンタなどの通常動作で用いる回路を複数備えたものでもよい。
FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a semiconductor device according to the second embodiment of the present invention. The same reference numerals are used for the same or corresponding parts as shown in FIG. The semiconductor device 1a shown in FIG. 3 includes a memory control circuit (command means) 7 composed of a processor or the like and a
次に、動作について説明する。
図4は、実施の形態2による半導体装置の動作を示すフローチャートである。実施の形態2による半導体装置1aの動作を、図4を用いて説明する。図4に示したものは、メモリ制御回路7が、通常動作用制御回路9の動作を確認する指示信号を出力してから、当該半導体装置1aが通常動作に至るまでの過程を示している。メモリ8には、予め動作確認に使用するテストデータを格納しておく。常に電源が供給されている領域2のメモリ制御回路7は、メモリ8からテストデータを読み出すことが可能な状態で待機している。半導体装置1aに通常動作を行う電源が投入されると、図3には図示を省略した半導体装置1a内部に備えられた電源投入指令部が、電源供給が開始された領域3の通常動作用制御回路9へ指令信号を出力し、通常動作用制御回路9を起動させる。また、電源投入指令部は、この指令信号を領域2のメモリ制御回路7へ同時に出力する。メモリ制御回路7は、この指令信号を入力することにより、領域3に電源が投入されたことを検知する(ステップST10)。メモリ制御回路7は、領域3に電源供給が開始されたことを検知すると、メモリ8から所定のテストデータを読み出し(ステップST11)、このテストデータを処理するように通常動作用制御回路9へ動作指示を与え、所定の動作を行わせる(ステップST12)。
Next, the operation will be described.
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the semiconductor device according to the second embodiment. The operation of the semiconductor device 1a according to the second embodiment will be described with reference to FIG. 4 shows a process from when the memory control circuit 7 outputs an instruction signal for confirming the operation of the normal
メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9からの応答、即ち通常動作用制御回路9からテストデータの処理結果を入力し、この処理結果から通常動作用制御回路9の動作が良好か否かを判定する(ステップST13)。予め期待されている所定の結果が得られなかった場合は、通常動作用制御回路9が十分に起動していないと考えられることから、再びステップST12の過程へ戻り、メモリ制御回路7は、このテストデータを処理するように通常動作用制御次回路9へ動作指示を行う。
The memory control circuit 7 receives a response from the normal
メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9に複数の異なるテストデータを通常動作用制御回路9に実行させ、動作確認を行うものである。ステップST13において、予め期待されている所定の結果が通知された場合には、最終の動作確認か否かを判定する(ステップST14)。メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9にテストデータを与えたとき、どのテストデータを処理させかを認識することから、所定の複数のテストデータを処理させたか否かをステップST14にて判定する。まだ処理させていないテストデータがある場合には、ステップST11の過程に戻り、まだ処理させていないテストデータをメモリ8から読み出し、ステップST11からステップST14の過程を繰り返し、所定の複数のテストデータを通常動作用制御回路9に処理させる。ステップST14において、メモリ制御回路7は、最後のテストデータを通常動作用制御回路9に実行させたことを確認すると、通常動作用制御回路9に対して通常動作を開始するように動作指令を出力する。詳しくは、メモリ制御回路7が、通常動作を行うときの所定の操作が可能な状態に通常動作用制御回路9を設定する(ステップST15)。通常動作用制御回路9は通常動作を開始し(ステップST16)、前述の操作が行われることにより、半導体装置1aが当該操作に基づいた通常動作を開始する。
The memory control circuit 7 causes the normal
なお、半導体装置1aの領域2に備えられたメモリ制御回路7及びメモリ8は、半導体装置1aの外部に備えられた構成でも同様な作用効果が得られる。また、領域2に備えられたメモリ制御回路7及びメモリ8を領域3に備えた構成としたときにも、半導体装置1aに電源が投入されてから通常動作を開始するまでの時間は、上述の半導体装置1aに比べて短縮できないが、半導体装置の通常動作で用いられる各回路の動作の是非を確認することができる。
Note that the memory control circuit 7 and the
また、通常動作用制御回路9の各要所に図1に示した動作確認用シーケンサ5を組み込んで構成し、動作確認用シーケンサ5を用いて通常動作用制御回路9の動作をシーケンス制御により確認して、領域3に電源が供給されたことを確認するようにしてもよい。また、ここでは実施の形態1の説明と同様に内部を二つの電源領域に分離して構成された半導体装置1aについて説明したが、三つ以上の電源領域に内部を分離して各領域に個別の電源を供給し、常時電源が供給される領域にメモリ制御回路7及びメモリ8を備えて構成した半導体装置でも同様な作用効果が得られる。
Further, the
以上のように、実施の形態2によれば、メモリ制御回路7が、通常動作用制御回路9にテストデータを処理させ、その処理結果から通常動作用制御回路9が動作可能か否かを判定し、動作可能であれば通常動作用制御回路9に動作指令を出力するようにしたので、供給電圧が十分立ち上がってから通常動作用制御回路9が動作を開始するまでの間に余裕を持たせる必要がないという効果がある。
As described above, according to the second embodiment, the memory control circuit 7 causes the normal
また、メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9への動作指令を、必ず通常動作用制御回路9への供給電圧が立ち上がってから出力するようにしたので、通常動作用制御回路9の動作を確実に開始させることができるという効果がある。
Further, since the memory control circuit 7 always outputs the operation command to the normal
さらに、メモリ制御回路7が、通常動作用制御回路9の供給電圧立ち上げ時に通常動作用制御回路9へテストデータを送出するようにしたので、通常動作用制御回路9の電圧が立ち上がった後、メモリ制御回路7は、通常動作用制御回路9の通常動作を迅速に開始させることができるという効果がある。
Further, since the memory control circuit 7 sends test data to the normal
また、通常動作用制御回路9の動作を確認する動作確認手段を備えることなく電源立ち上げを確認することができ、半導体装置1aの構成を簡素にすることができるという効果がある。
In addition, it is possible to confirm the start-up of the power supply without providing an operation confirmation unit for confirming the operation of the normal
1,1a 半導体装置、2,3 領域、4 動作確認用シーケンサ制御回路(確認信号送出手段)、5 動作確認用シーケンサ(動作確認手段)、6 確認指示・判定回路(指令手段)、7 メモリ制御回路(指令手段)、8 メモリ、9 通常動作用制御回路(通常動作回路)。 1, 1a Semiconductor device, 2, 3 area, 4 operation confirmation sequencer control circuit (confirmation signal sending means), 5 operation confirmation sequencer (operation confirmation means), 6 confirmation instruction / determination circuit (command means), 7 memory control Circuit (command means), 8 memory, 9 control circuit for normal operation (normal operation circuit).
Claims (5)
この通常動作回路の電源立ち上げ時に、該通常動作回路へ動作確認信号を送出する確認信号送出手段、
この確認信号送出手段の送出した動作確認信号による上記通常動作回路の動作結果に基づき上記通常動作回路へ通常動作を指令する指令手段を備えたことを特徴とする半導体装置。 Normal operation circuit that is supplied with power at the time of operation check and can perform normal operation when the power rises to a predetermined level,
Confirmation signal sending means for sending an operation confirmation signal to the normal operation circuit when the power supply of the normal operation circuit is turned on;
A semiconductor device comprising command means for instructing a normal operation to the normal operation circuit based on an operation result of the normal operation circuit based on an operation confirmation signal sent from the confirmation signal sending means.
この通常動作回路の電源立ち上げ時に、該通常動作回路へテストデータを送出し、該テストデータの処理結果に基づき上記通常動作回路へ通常動作を指令する指令手段を備えたことを特徴とする半導体装置。 Normal operation circuit that is supplied with power at the time of operation check and can perform normal operation when the power rises to a predetermined level,
A semiconductor device comprising: command means for sending test data to the normal operation circuit when the power supply of the normal operation circuit is turned on, and instructing the normal operation circuit to perform a normal operation based on a processing result of the test data apparatus.
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|---|---|---|---|---|
| JP2012146390A (en) * | 2005-11-01 | 2012-08-02 | Sandisk Il Ltd | Method, system, and computer-readable code for testing flash memory |
| CN111474876A (en) * | 2019-01-23 | 2020-07-31 | 瑞萨电子株式会社 | Semiconductor device and semiconductor system |
| WO2023007974A1 (en) * | 2021-07-30 | 2023-02-02 | ローム株式会社 | Semiconductor device, in-vehicle device, and consumer equipment |
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2003
- 2003-10-27 JP JP2003366400A patent/JP2005129187A/en active Pending
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