JP2005100558A - 光ディスク装置およびその制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ＯＰＣを効率よく実行してＰＣＡへの無駄な書き込みを抑える。
【解決手段】光ディスクに応じたレーザー光のＰＷ１と評価を行うためのＴβを決定し、ＰＷ１に基づくテスト記録の結果を示するβ１を取得し、β１がＴβを含めた所定範囲内に含まれない場合に、ＰＷ１とは異なるＰＷ２を決定し、ＰＷ２に基づくテスト記録の結果を示すβ２を取得し、β２が所定範囲内に含まれない場合に、ＰＷ１及びβ１と、ＰＷ２及びβ２と、に基づいてＰＷ３を決定し、ＰＷ３に基づくテスト記録の結果を示すβ３が所定範囲内に含まれない場合に、ＰＷ２をＰＷ１、ＰＷ３をＰＷ２、β２をβ１、β３をβ２、と置き換えてＰＷ３を新たに決定するとともに当該新たに決定したＰＷ３に基づくテスト記録の評価を行うようリトライする制御手段、を備えた光ディスク装置。
【選択図】 図３

Description

本発明は、光ディスク装置およびその制御方法に関する。

近年、記録可能な光ディスクとして、ライトワンス（Write Once）タイプの追記型光ディスク（ＣＤ−Ｒメディアや、ＤＶＤ±Ｒメディアなど）が普及している。この追記型光ディスクでは、実際の記録に先立って、アシンメトリ値βに基づいたＯＰＣ（Optimum Power Control）が必ず実施される。ＯＰＣでは、光ディスクのＰＣＡ（Power Calibration Area）に所定のテストデータの記録を行った後、そのＰＣＡより再生した当該テストデータに基づいて得られるアシンメトリ値β（『評価値』）が、当該光ディスクに応じたターゲットＴβ（『基準値』）を含む所定範囲内（Ｔβ±１％など）であるか否かを判定することで行われる（例えば、以下に示す特許文献１参照）。

図６は、従来のＯＰＣ動作を説明するフローチャートである。まず、光ディスクに予め記録されているディスク識別情報や、過去のＯＰＣで今回と同一の記録条件で設定されたＯＰＣの履歴情報などから、今回記録を行う光ディスクに応じたターゲットＴβ及び記録パワーの初期値ＰＷ１が決定される（Ｓ６００）。そして、初期値ＰＷ１に基づいて１回目のテスト記録が行われて、その結果、アシンメトリ値β１が算定される。さらに、初期値ＰＷ１に所定値αを加算した記録パワー値ＰＷ２に基づいて２回目のテスト記録が行われて、その結果、アシンメトリ値β２が算定される（Ｓ６０１）。

つぎに、３回目のテスト記録として、１回目のテスト記録における初期値ＰＷ１及びアシンメトリ値β１と、２回目のテスト記録における記録パワー値ＰＷ２及びアシンメトリ値β２と、ターゲットＴβに基づいた、直線近似式“（ＰＷ２−ＰＷ１）×（Ｔβ−β１）÷（β２−β１）＋ＰＷ１”によって記録パワー値ＰＷ３を算定する（Ｓ６０２）。そして、記録パワー値ＰＷ３に基づいて３回目のテスト記録が行われて、アシンメトリ値β３が算定される（Ｓ６０３）。

ここで、アシンメトリ値β３、β２、β１の順でターゲットＴβ±１％の範囲内か否かが判定される（Ｓ６０４）。そして、ターゲットＴβ±１％範囲内である場合には（Ｓ６０５：ＹＥＳ）、最適記録パワー値が確定して当該最適記録パワー値に基づいて実際の記録が行われる（Ｓ６０６）。また、ターゲットＴβ±１％範囲内でなければ（Ｓ６０５：ＮＯ）、初期値ＰＷ１及び記録パワー値ＰＷ２を一定値（（ＰＷ２−ＰＷ１）÷２等）ずらして、Ｓ６０１以降の処理を再び繰り返していくことになる。
特開平７−２８７８４７号公報

ところで、従来のＯＰＣ動作では、３回のテスト記録を行った結果得られたアシンメトリ値β１、β２、β３が、ターゲットＴβを含めた所定範囲内に収まらなければ、新たに３回分のテスト記録を行わなければならない。そして、１回目のテスト記録における初期値ＰＷ１が、最適記録パワーと比べてかけ離れた値である場合には、テスト記録の回数が増加してしまい、限られた領域であるＰＣＡを無駄に消費する恐れがある。
本発明は、ＯＰＣを効率よく実行可能な光ディスク装置及びその制御方法を提供することを目的とする。

前述した課題を解決するための主たる本発明は、光ディスクの所定領域にテスト記録を行った後、前記光ディスクに応じた基準値をもとに当該テスト記録を評価した結果に基づいて、前記光ディスクへ出射するレーザー光の記憶パワー値を設定するように構成された光ディスク装置において、前記光ディスクに応じた前記レーザー光の第１の記録パワー値と前記基準値を決定し、前記第１の記録パワー値に基づく前記テスト記録の結果を示す第１の評価値を取得し、前記第１の評価値が前記基準値を含めた所定範囲内に含まれない場合に、前記第１の記録パワー値とは異なる第２の記録パワー値を決定し、前記第２の記録パワー値に基づく前記テスト記録の結果を示す第２の評価値を取得し、前記第２の評価値が前記所定範囲内に含まれない場合に、前記第１の記録パワー値及び前記第１の評価値と、前記第２の記録パワー値及び前記第２の評価値と、に基づいて第３の記録パワー値を決定し、前記第３の記録パワー値に基づく前記テスト記録の結果を示す第３の評価値が、前記所定範囲内に含まれない場合に、前記第２の記録パワー値を前記第１の記録パワー値、前記第３の記録パワー値を前記第２の記録パワー値、前記第２の評価値を前記第１の評価値、
前記第３の評価値を前記第２の評価値、と置き換えて前記第３の記録パワー値を新たに決定するとともに当該新たに決定した第３の記録パワー値に基づく前記テスト記録の評価を行うようリトライする制御手段、を備えることとする。

本発明に係る光ディスク装置では、従来の光ディスク装置におけるＯＰＣ動作とは異なり、３回のテスト記録を行った結果得られた第１乃至第３の評価値が所定範囲内に収まらなかった場合に、１回目のテスト記録よりは所定範囲内に収まっていることが見込まれる２回目のテスト記録における（第２の記録パワー値及び第２の評価値）と、３回目のテスト記録における（第３の記録パワー値及び第３の評価値）と、を有効利用して、新たな第３の記録パワー値を決定して１回分のテスト記録を行う。このため、本発明に係る光ディスク装置は、従来の光ディスク装置におけるＯＰＣ動作のように新たに３回分のテスト記録を行う必要がなくなるので、ＯＰＣ動作における負荷が軽減されるとともに、光ディスクの所定領域を無駄に消費することがなくなる。

本発明の他の特徴については、添付図面及び本明細書の記載により明らかにする。

本発明によれば、ＯＰＣを効率よく実行可能な光ディスク装置及びその制御方法を提供することができる。

＝＝＝ 実施例 ＝＝＝
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて具体的に説明する。

＜光ディスク装置の概要＞
本発明の一実施形態としての図１に示す光ディスク装置１００について説明する。なお、光ディスク装置１００は、ＣＤ−ＲメディアやＤＶＤ±Ｒメディアなどの追記型光ディスク全般を記録再生対象とする。

光ディスク２００は、図２に示すように、内周側から外周側に向かってＰＣＡ（Power Calibration Area）４００ａ、ＰＭＡ（Program Management Area）、リードインエリア、データエリア、リードアウトエリアを有している。ここで、ＰＣＡ（『所定領域』）４００ａは、実際の記録に先立って、製造メーカーや記録速度などに応じた発光素子１ａの最適記録パワー値を設定するために予約された記録領域である。なお、最適記録パワー値の設定は、ＯＰＣ（Optimum Power Control）と呼ばれる。

ＰＣＡ４００ａの内部では、所定のテストデータを記録するためのテストエリアと、テストエリアのアドレスやテストデータの記録・未記録状態を示すフラグ値が記憶されるカウントエリアに区分されており、それぞれ１００個のパーティションを有している。ＯＰＣのテスト記録としては、通常、テストエリアの１パーティションに対して１５段階の記録パワー値で１回分のテスト記録が行われる。

光ディスク装置１００は、光ディスク２００に対して記録再生が可能なドライブ装置である。図１に示すとおり、光ディスク装置１００は、光学ヘッド１、フロントエンド処理部２、光学ヘッドサーボ回路３、レベル検出回路４、デコーダ５、エンコーダ６、インタフェース部７、ＲＡＭ８、システム制御マイコン（『制御手段』）９、ＲＯＭ１０、レーザー出力制御回路１１、レーザー駆動回路１２、スピンドルモーター１３、モーター駆動回路１４、モーター制御回路１５、を備えている。

光学ヘッド１は、対物レンズ（不図示）と、レーザー光を出射する発光素子１ａと、光ディスク２００からの反射光を受光する受光素子（不図示）などが組み込まれている。また、光学ヘッド１には、光学ヘッド１を記録・再生対象の記録トラックに移動させるためのスライド機構、光ディスク２００に出射したレーザー光を記録・再生対象の記録トラックに追従させる制御（トラッキング制御）を行うためのトラッキング機構、光ディスク２００に出射したレーザー光の焦点ずれを補正する制御（フォーカス制御）を行うためのフォーカス機構、などが組み込まれている（いずれも不図示）。

フロントエンド処理部２は、ＲＦアンプ、トラッキング誤差信号生成回路、フォーカス誤差信号生成回路などを備える（いずれも不図示）。なお、ＲＦアンプは、光学ヘッド１の受光素子（不図示）にて受光光量に応じて生成された電気信号に基づいて、記録・再生対象の記録トラック上にある記録マークの有無を判別するためのＲＦ信号を生成する。

光学ヘッドサーボ回路３は、フロントエンド処理部２にて生成された各種誤差信号（トラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号等）に基づいて、光学ヘッド１に組み込まれたサーボ機構（トラッキングサーボ機構やフォーカスサーボ機構等）を駆動するためのサーボ制御信号を生成する。そして、そのサーボ制御信号に基づいてサーボ機構の駆動を制御する。

レベル検出回路４は、システム制御マイコン９がＯＰＣでの評価で使用するアシンメトリ値β（（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）、『評価値』）を算定するために備えられた回路であり、ピークホールド回路４ａ及びボトムホールド回路４ｂで構成される。光ディスク２００のＰＣＡに記録されたテストデータを再生したときＲＦアンプで生成されたＲＦ信号を受信し、当該ＲＦ信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。

なお、レベル検出回路４は、ゼロクロスコンパレータ及びＬＰＦ（Low Pass Filter）回路（いずれも不図示）による構成としてもよい。この構成によるレベル検出回路４は、光ディスク２００のＰＣＡに記録されたテストデータを再生したときＲＦアンプで生成されるＲＦ信号を受信して、ゼロクロスコンパレータ及びＬＰＦ回路を介して当該ＲＦ信号の直流電圧レベルを検出する。そして、ＬＰＦ回路から受信した直流電圧のレベルとターゲットＴβとなる時のターゲット直流電圧レベルとの対照に基づいたＯＰＣの評価が行われることになる。

デコーダ５は、光ディスク２００再生時に、光ディスク２００のデータフォーマットに対応したデコード処理を行う。例えば、ＣＤメディアのデータフォーマットの場合、変調コードとしてＥＦＭ（８／１４変調）、誤り訂正符号としてＣＩＲＣを採用している。そこで、デコーダ５は、フロントエンド処理部２にて生成されたＲＦ信号に基づいて、前述の変調コード及び誤り訂正符号に基づいたデコード処理を行う。

エンコーダ６は、パソコン等の情報処理装置（不図示）からインタフェース部７を介して入力される記録データに関して、光ディスク２００のデータフォーマットに対応したエンコード処理を行う。例えば、ＣＤメディアのデータフォーマットの場合、ＣＩＲＣ符号化処理や、ＥＦＭ変調処理及びスクランブル処理などが該当し、これらの処理が施された後の記録用変調信号をレーザー出力制御回路１１に送信する。

インタフェース部７は、光ディスク装置１００とパソコン等の情報処理装置（不図示）との間における記録・再生データの送受信を制御する。

ＲＡＭ８は、当該情報処理装置（不図示）からインタフェース部７を介して再生要求コマンドを受信した場合、デコーダ５においてデコード処理中にあるデータを一時記憶する。この一時記憶されたデータは、インタフェース部７を介して当該情報処理装置（不図示）に送信される。また、ＲＡＭ８は、当該情報処理装置（不図示）からインタフェース部７を介して受信した記録データを一時記憶する。この一時記憶された記録データは、エンコーダ６でのエンコード処理時にアクセスされる。

システム制御マイコン９は、光ディスク２００の記録再生に係る光ディスク装置１００全般のシステム制御を司る。例えば、システム制御マイコン９は、光ディスク２００に対して記録再生を行う場合に、光ディスク１０に応じた変調／復調処理を施すために、エンコーダ６／デコーダ５の起動を制御する。なお、システム制御マイコン９は、以下のＯＰＣ処理部９ａの機能を、ファームウェア（プログラム）又はハードウェアによって実現している。

ＯＰＣ処理部９ａは、実際の記録に先立って、光ディスク２００から読み出した当該光ディスク２００の識別情報（製造メーカーや記録速度など）に基づいて、ＲＯＭ１０に記憶されてある過去のＯＰＣで設定された最適記録パワー値の中で、当該識別情報に対応づけられた最適記録パワー値の検索を実行する。ここで、所望の最適記録パワー値が検索されたとき、検索された最適記録パワー値が初期値に設定されて一回目のテスト記録が光ディスク２００のＰＣＡに対して実行される。なお、所望の最適記録パワー値が検索されなかった場合には、予め用意しておいた初期値が記録パワー値として設定される。

また、ＯＰＣ処理部９ａは、レベル検出回路４からピークレベルＡ１及びボトムレベルＡ２を受信して、“（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）”の演算によってアシンメトリ値βを算定する。そして、この算定したアシンメトリ値βと、光ディスク２００の識別情報に対応づけられたターゲットＴβと、を対照し、例えば “｜β−Ｔβ｜／１００≦１％”の最適基準を満足するか否かを判定する。ＯＰＣ処理部９ａは、この判定結果に基づき、レーザー出力制御回路１１を介して発光素子１ａの記録パワー値を調整していき、光ディスク２００のＰＣＡへのテスト記録を行っていく。そして、算定されたアシンメトリ値βが最適基準を満たすと判定された時の記録パワー値が、最適記録パワー値として設定される。そして、この最適記録パワー値は、次回以降のＯＰＣで有効利用されるように、履歴情報としてＲＯＭ１０に記憶される。

ＲＯＭ１０は、光ディスク２００の識別情報に対応づけられるターゲットＴβ及びＯＰＣの履歴情報として過去に設定された最適記録パワー値が記憶される。なお、ＯＰＣの履歴情報ではなくて、ＯＰＣの初期値として推奨される記録パワー値がＲＯＭ１０に予め記憶されていてもよい。

レーザー出力制御回路１１は、エンコーダ６から受信した記録用変調信号に基づいて、発光素子１ａを駆動するためのパルス信号を生成してレーザー駆動回路１２に送信する。
レーザー駆動回路１２は、レーザー出力制御回路１１から受信したパルス信号に基づいて発光素子１ａを駆動する。この駆動によって、発光素子１ａからレーザー光が出射されて、エンコーダ６出力の記録用変調信号に応じた記録マークが光ディスクの記録トラックに形成される。また、レーザー駆動回路１２は、不図示のＡＰＣ（Automatic Power Control）回路の制御下で、発光素子１ａを駆動する。

なお、光学ヘッド１には、発光素子１ａから出射されるレーザー光の記録パワー値若しくは再生パワー値を検出するためのフロントモニタダイオード（不図示）が備わっており、ＡＰＣ回路は、このフロントモニタダイオードにてモニターされたレーザー光の記録パワー値若しくは再生パワー値に基づいて、発光素子１ａから出射されるレーザー光の記録パワー値若しくは再生パワー値を一定とするためのＡＰＣを実行する。

スピンドルモーター１３は、光ディスク２００を回転駆動するモーターであり、モーター駆動回路１４は、スピンドルモーター１３を回転駆動するための回路である。モーター制御回路１５は、ＷＢＬ検出部５から受信したＷＢＬ信号に基づくウォブリング周波数の情報を用いて、ＣＤ規格による線速度一定方式にてスピンドルモーター１３の回転駆動制御を行うための回路である。あるいは、スピンドルモーター１３の回転に応じて発生するパルス信号を用いて、角速度一定方式にてスピンドルモーター１３の回転駆動制御を行ってもよい。

＜光ディスク装置のＯＰＣ動作＞
光ディスク装置のＯＰＣ動作について、図３のフローチャートを用いて説明する。なお、以下の動作は、特に断らないかぎり、システム制御マイコン９によって行われるものとする。

まず、光ディスク装置１００は、光ディスク２００から読み出した信号に対して所定のデコード処理を施すことで、光ディスク２００の識別情報を取得する。引き続いて、光ディスク装置１００は、パソコンなどの情報処理装置（不図示）からインタフェース部７を介して記録要求コマンドを受信すると、光ディスク２００への記録に先立ってＯＰＣの実行を開始する。

システム制御マイコン９は、光ディスク２００の回転速度が指定された記録速度となるように、モーター制御回路１５を介してスピンドルモーター１３の回転駆動を制御する。また、システム制御マイコン９は、ＲＯＭ１０に記憶されている光ディスク２００の識別情報に対応づけられたターゲットＴβ及び最適記録パワー値を検索する。なお、最適記録パワー値が検索されなかった場合には、予め用意された初期値が利用される。このようにして、ターゲットＴβ（『基準値』）及び発光素子１ａの記録パワーの初期値ＰＷ１（『第１の記録パワー値』）が決定される（Ｓ３００）。

つぎに、システム制御マイコン９は、決定した初期値ＰＷ１を、発光素子１ａの記録パワー値に設定して、ＰＣＡに１回目のテスト記録を実行する。この１回目のテスト記録が行われた後に、ＰＣＡより記録されたテストデータの再生が行われる。そして、システム制御マイコン９は、レベル検出回路４を介して当該テストデータの再生信号についてのピークレベルＡ１及びボトムレベルＡ２を受信し、アシンメトリ値β１を算定する（Ｓ３０１）。

つぎに、システム制御マイコン９は、ＲＯＭ１０から読み出したターゲットＴβとＳ３０１で算定したアシンメトリ値β１とを対照することで、ＯＰＣの評価を実行する。なお、このＯＰＣの評価としては、Ｓ３０１で算定されたアシンメトリ値β１が、ターゲットＴβの±１％の範囲内に収まっているか否かの判定を行う（Ｓ３０２）。ここで、アシンメトリ値β１がターゲットＴβの±１％以内に収まる場合（Ｓ３０２：ＹＥＳ）には、システム制御マイコン９は、現状の発光素子１ａの記録パワー値ＰＷ１を最適記録パワー値として決定する。そして、この最適記録パワー値に基づいた光ディスク２００への記録を開始すべく、エンコーダ６などを制御する（Ｓ３０９）。

一方、アシンメトリ値β１がターゲットＴβの±１％以内に収まらない場合（Ｓ３０２：ＮＯ）には、システム制御マイコン９は、発光素子１ａの記録パワー値の調整ならびにＯＰＣの評価を改めて行う必要がある。このため、システム制御マイコン９は、初期値ＰＷ１に所定の調整値Δを加算（若しくは減算）したものを記録パワー値ＰＷ２（『第２の記録パワー値』）として、この記録パワー値ＰＷ２に基づいて２回目のテスト記録を実行する。そして、１回目のテスト記録と同様に、２回目のテスト記録の結果としてアシンメトリ値β２（『第２の評価値』）が算定され（Ｓ３０３）、このアシンメトリ値β２がターゲットＴβの±１％の範囲内に収まっているか否かの判定が行われる（Ｓ３０４）。

ここで、アシンメトリ値β２がターゲットＴβの±１％以内に収まる場合（Ｓ３０４：ＹＥＳ）には、システム制御マイコン９は、記録パワー値ＰＷ２を最適記録パワー値に決定して光ディスク２００への記録を開始する（Ｓ３０９）。一方、アシンメトリ値β２がターゲットＴβの±１％以内に収まらない場合（Ｓ３０４：ＮＯ）には、３回目のテスト記録用として、１回目のテスト記録における初期値ＰＷ１及びアシンメトリ値β１と、２回目のテスト記録における記録パワー値ＰＷ２及びアシンメトリ値β２と、ターゲットＴβに基づいた、直線近似式“（ＰＷ２−ＰＷ１）×（Ｔβ−β１）÷（β２−β１）＋ＰＷ１”によって記録パワー値ＰＷ３（『第３の記録パワー値』）を算定する（Ｓ３０５）。

なお、この直線近似式“（ＰＷ２−ＰＷ１）×（Ｔβ−β１）÷（β２−β１）＋ＰＷ１”は、図６に示した従来の直線近似式を演算するための仕組みの有効利用を図ったものであるが、勿論これに限定されるものではなく、例えば、当該直線近似式に係数が乗算されてもよいし、種々の近似アルゴリズムに基づく近似式を採用してもよい。

つぎに、記録パワー値ＰＷ３に基づいて３回目のテスト記録が行われて、１回目及び２回目のテスト記録と同様に、３回目のテスト記録の結果としてアシンメトリ値β３（『第３の評価値』）が算定され（Ｓ３０６）、このアシンメトリ値β３がターゲットＴβの±１％の範囲内に収まっているか否かの判定が行われる（Ｓ３０７）。ここで、アシンメトリ値β３がターゲットＴβの±１％以内に収まる場合（Ｓ３０７：ＹＥＳ）には、システム制御マイコン９は、記録パワー値ＰＷ３を最適記録パワー値として決定して光ディスク２００への記録を開始する（Ｓ３０９）。

一方、アシンメトリ値β３がターゲットＴβの±１％以内に収まらない場合（Ｓ３０７：ＮＯ）には、直線近似式“（ＰＷ２−ＰＷ１）×（Ｔβ−β１）÷（β２−β１）＋ＰＷ１”におけるターゲットＴβ以外のパラメータを更新する。その更新内容としては、１回目のテスト記録よりもターゲットＴβ近傍であることが見込まれる２回目及び３回目のテスト記録結果の有効利用を図るために、ＰＷ２をＰＷ１、ＰＷ３をＰＷ２、β２をβ１、β３をβ２に置き換えることとする（Ｓ３０８）。そして、このパラメータ更新した後に、当該直線近似式の演算を実行して、その演算結果を記録パワー値ＰＷ３としてＳ３０５以降の処理をリトライする。

以上が、本発明に係る光ディスク装置１００のＯＰＣ動作の概要である。ここで、本発明に係る光ディスク装置１００のＯＰＣ動作と、図６のフローチャートをもとに説明した従来の光ディスク装置のＯＰＣ動作とを対照するために、図４及び図５を用いて説明する。

まず、図５は、従来の光ディスク装置のＯＰＣ動作を説明する図であり、図中の括弧（）内の数値は、ＰＷ１、ＰＷ２及びＰＷ３の記録パワー値による計３回分のテスト記録を１回の制御ループとして、その制御ループの回数を示している。すなわち、図５では、３回目の制御ループにおいて、ＰＷ１（３）、ＰＷ２（３）及びＰＷ３（３）によるテスト記録によって得られたアシンメトリ値β３（３）が、ターゲットＴβの±１％以内に収まった例であり、計９回分のテスト記録が行われたことになる。

一方、図４は、本発明に係る光ディスク装置１００のＯＰＣ動作を説明する図であり、図中の括弧（）内の数値はＯＰＣの制御ループの回数を示している。なお、光ディスク２００の製造メーカーや記録速度などの記録条件が図５に示した例と同一、すなわち、記録パワー値Ｐとアシンメトリ値βの特性（図４及び図５の太線）は同一とする。

図４では、２回目の制御ループにおいて、１回目の制御ループで得られたＰＷ２（１）及びＰＷ３（１）とβ２（１）及びβ３（１）を用いて直線近似式“（ＰＷ２−ＰＷ１）×（Ｔβ−β１）÷（β２−β１）＋ＰＷ１”のパラメータが更新される。そして、そのパラメータ更新後の直線近似式の演算によってＰＷ３（２）が求まり、このＰＷ３（２）に基づく４回目のテスト記録によって得られたβ３（２）が、ターゲットＴβの±１％以内に収まった例を示している。すなわち、計４回分のテスト記録が行われたことになり、従来の光ディスク装置と比べて少ないテスト記録回数で、アシンメトリ値βをターゲットＴβの±１％以内に収めることができる。

以上、本発明に係る光ディスク装置１００及びその制御方法によれば、従来の光ディスク装置におけるＯＰＣ動作とは異なり、３回のテスト記録の結果得られるβ１乃至β３がターゲットＴβの所定範囲内に収まらなかった場合、１回目のテスト記録の結果と比べてターゲットＴβの所定範囲内に収まっていることが見込まれる、２回目のテスト記録におけるデータ（ＰＷ２及びβ２）と、３回目のテスト記録におけるデータ（ＰＷ３及びβ３）と、を有効利用することで、新たなＰＷ３を決定して１回分のテスト記録を行う。このため、本発明に係る光ディスク装置１００は、従来の光ディスク装置におけるＯＰＣ動作のように新たに３回分のテスト記録を行う必要がなくなるので、ＯＰＣ動作における負荷が軽減されるとともに、光ディスク２００のＰＣＡを無駄に消費することがなくなる。

＜その他の実施形態＞
以上、本発明の実施形態について、その実施形態に基づき具体的に説明したが、これに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。

例えば、前述した実施形態において、Ｓ３０１で算定したβ１、Ｓ３０３で算定したβ２、及びＳ３０６で算定したβ３に対して、上限値及び下限値を設定してもよい。すなわち、発光素子１ａに設定する記録パワー値が大きすぎる場合や、逆に小さすぎる場合では、光ディスク２００からの反射光によって得られるＲＦ信号がピーク側やボトム側にレベルが固定されてしまう。この場合、ＯＰＣのテスト記録の結果得られたアシンメトリ値βが記録パワー値に対して飽和した状態に陥ってしまい、ターゲットＴβ近傍に収束しづらくなってしまい、その結果、何回もテスト記録が行われる恐れがある。

そこで、Ｓ３０１、Ｓ３０３及びＳ３０６において、例えば、ターゲットＴβの＋３０％（上限値）より大きいアシンメトリ値βが得られた場合、このアシンメトリ値βをターゲットＴβの“＋３０％”に置き換えることとする。同様に、ターゲットＴβの−３０％（下限値）より小さいアシンメトリ値が得られた場合、このアシンメトリ値βをターゲットＴβの“−３０％”に置き換えることとする。

なお、上限値及び下限値としては、ターゲットＴβの“±３０％”に限定されるものではなく、記録パワー値Ｐに対してアシンメトリ値βが線形関係を満たし、飽和しない状態にある数値を採用することが好ましい。

このように上限値及び下限値を設定したことによって、ＯＰＣのテスト記録によって得られたアシンメトリ値βに関して、ターゲットＴβ近傍への収束率が向上する。

本発明の実施形態に係る光ディスク装置のシステム構成図である。 光ディスクのディスクフォーマットを説明する図である。 本発明の実施形態に係る光ディスク装置のＯＰＣ動作を説明するフローチャートである。 本発明の実施形態に係る光ディスク装置のＯＰＣ動作を説明する図である。 従来の光ディスク装置のＯＰＣ動作を説明する図である。 従来の光ディスク装置のＯＰＣ動作を説明するフローチャートである。

符号の説明

１ 光学ヘッド
１ａ 発光素子
２ フロントエンド処理部
３ 光学ヘッドサーボ回路
４ レベル検出回路
４ａ ピークホールド回路
４ｂ ボトムホールド回路
５ デコーダ
６ エンコーダ
７ インタフェース部
８ ＲＡＭ
９ システム制御マイコン
９ａ ＯＰＣ処理部
１０ ＲＯＭ
１１ レーザー出力制御回路
１２ レーザー駆動回路
１３ スピンドルモーター
１４ モーター駆動回路
１５ モーター制御回路
１００ 光ディスク装置
２００ 光ディスク

Claims (4)

1. 光ディスクの所定領域にテスト記録を行った後、前記光ディスクに応じた基準値をもとに当該テスト記録を評価した結果に基づいて、前記光ディスクへ出射するレーザー光の記憶パワー値を設定するように構成された光ディスク装置において、
   前記光ディスクに応じた前記レーザー光の第１の記録パワー値及び前記基準値を決定し、
   前記第１の記録パワー値に基づく前記テスト記録の結果を示す第１の評価値を取得し、
   前記第１の評価値が前記基準値を含めた所定範囲内に含まれない場合に、前記第１の記録パワー値とは異なる第２の記録パワー値を決定し、
   前記第２の記録パワー値に基づく前記テスト記録の結果を示す第２の評価値を取得し、
   前記第２の評価値が前記所定範囲内に含まれない場合に、前記第１の記録パワー値及び前記第１の評価値と、前記第２の記録パワー値及び前記第２の評価値と、に基づいて第３の記録パワー値を決定し、
   前記第３の記録パワー値に基づく前記テスト記録の結果を示す第３の評価値が、前記所定範囲内に含まれない場合に、
   前記第２の記録パワー値を前記第１の記録パワー値、
   前記第３の記録パワー値を前記第２の記録パワー値、
   前記第２の評価値を前記第１の評価値、
   前記第３の評価値を前記第２の評価値、
   と置き換えて前記第３の記録パワー値を新たに決定するとともに当該新たに決定した第３の記録パワー値に基づく前記テスト記録の評価を行うようリトライする制御手段、
   を備えることを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記制御手段は、（前記第２の記録パワー値−前記第１の記録パワー値）×（前記基準値−前記第１の評価値）÷（前記第２の評価値−前記第１の評価値）、を算定して前記第３の記録パワー値を決定することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 前記制御手段は、前記第１乃至第３の評価値について上限値及び下限値を設定することを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
4. 光ディスクの所定領域にテスト記録を行った後、前記光ディスクに応じた基準値をもとに当該テスト記録を評価した結果に基づいて、前記光ディスクへ出射するレーザー光の記憶パワー値を設定するように構成された光ディスク装置の制御方法において、
   前記光ディスクに応じた前記レーザー光の第１の記録パワー値及び前記基準値を決定し、
   前記第１の記録パワー値に基づく前記テスト記録の結果を示す第１の評価値を取得し、
   前記第１の評価値が前記基準値を含めた所定範囲内に含まれない場合に、前記第１の記録パワー値とは異なる第２の記録パワー値を決定し、
   前記第２の記録パワー値に基づく前記テスト記録の結果を示す第２の評価値を取得し、
   前記第２の評価値が前記所定範囲内に含まれない場合に、前記第１の記録パワー値及び前記第１の評価値と、前記第２の記録パワー値及び前記第２の評価値と、に基づいて第３の記録パワー値を決定し、
   前記第３の記録パワー値に基づく前記テスト記録の結果を示す第３の評価値が、前記所定範囲内に含まれない場合に、
   前記第２の記録パワー値を前記第１の記録パワー値、
   前記第３の記録パワー値を前記第２の記録パワー値、
   前記第２の評価値を前記第１の評価値、
   前記第３の評価値を前記第２の評価値、
   と置き換えて前記第３の記録パワー値を新たに決定するとともに当該新たに決定した第３の記録パワー値に基づく前記テスト記録の評価を行うようリトライすること、
   を特徴とする光ディスク装置の制御方法。

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