JP2005189275A - 電気光学装置用基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、検査方法及び電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】
電気的検査をより容易にし、且つ、その検査に要するコストを低減する電気光学装置用基板、電気光学装置、その電気光学装置の製造方法、その電気光学装置の検査方法及びその電気光学装置を用いた電子機器を提供すること。
【解決手段】
コモン電極１２に電気的に接続されたコモン電極用配線１８ｂの一部が、検査領域３２として所定の方向に並ぶように設けられ、更に第１の基板５上の液晶駆動用ＩＣ１９の実装領域Ｂ内にその検査領域３２の所定の方向と同じ方向に検査用端子２２を並んで設けることとしたので、検査用端子２２のみならず同じ方向に並んでいるコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２にも、検査用ピン３８を容易に当接させ検査することができる。
【選択図】 図３

Description

本発明は、パーソナルコンピュータや携帯電話機に用いられる電気光学装置用基板、電気光学装置、その電気光学装置の製造方法、その電気光学装置の検査方法及びその電気光学装置を用いた電子機器に関する。

従来、パーソナルコンピュータや携帯電話機等といった電子機器の表示装置として液晶装置等の電気光学装置が広く用いられているが、その製造工程では高度な薄膜形成技術や微細な配線技術等が必要となり、それらの配線等において断線やショート等を完全になくすことが容易ではないとして、液晶を駆動させるドライバ等を実装する前に、それらの配線等の電気的検査を行っていた。

しかし、最近のように液晶装置の表示解像度の高精細化により配線や検査用端子等のピッチが小さくなってくると、正確なショート検査等の電気的検査が容易ではなくなってきており、そのような問題を改善する方策が提案されている。（例えば、特許文献１参照。）。
特開平１０−２５３９８０号公報（段落[００１４]から[００１９]、図１）

しかしながら、更に液晶装置の表示解像度の高精細化により配線や検査用端子等のピッチが小さくなってくると、検査用端子の配置やそこまでの配線の引き回し等がより困難となって大きな問題となってきた。

また、液晶装置の電気的検査の複雑化は勿論、プローブ端子も検査用端子等の高精細化に伴ってより高価となっており、その検査方法の容易化及びコストの低減が望まれている。

本発明は、上述の課題に鑑みてなされたもので、電気的検査をより容易にし、且つ、その検査に要するコストを低減する電気光学装置用基板、電気光学装置、その電気光学装置の製造方法、その電気光学装置の検査方法及びその電気光学装置を用いた電子機器を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明の主たる観点に係る電気光学装置用基板は、第１の接続用端子群と、第２の接続用端子群と、前記第２の接続用端子群と電気的に接続されてなる配線群と、前記第１の接続用端子群と電気的に接続されてなり、前記配線群と対応する検査用端子群と、を備え、前記配線群は、延在方向が並行であり、所定の間隔で配列されてなる検査領域を有し、前記検査用端子群は、前記検査領域と平行で、且つ、離間して配列されてなり、前記配線同士の間隔及び前記検査用端子同士の間隔のうち狭いほうの間隔に対して他方が整数倍であり、前記離間した間隔は、前記配線同士の間隔及び前記検査用端子同士の間隔のうち狭いほうの間隔の整数倍であることを特徴とする。ここで、「電気光学装置用基板」とは、例えばＥＬ装置の基板や検査用端子群や電気配線等が配置されたガラス基板等をいう。

本発明は、第２の接続用端子群と電気的に接続されてなる配線群と、第１の接続用端子群と電気的に接続されてなり、その配線群と対応する検査用端子群と、を備え、配線群は、延在方向が並行であり、所定の間隔で配列されてなる検査領域を有し、検査用端子群は、その検査領域と平行で、且つ、離間して配列することとしたので、検査用端子群のみならず平行する検査領域にも電気的検査用のプローブ端子を容易に当接させ、検査することができる。

この結果、例えば第１の基板上に実装される電子部品の該実装領域に第１及び第２の接続用端子群に対応した検査用端子を配置しなくてもよく、検査用端子等の配置や配線の引き回し等が容易になり、コストも低減できる。

また、配線同士の間隔及び検査用端子同士の間隔のうち狭いほうの間隔に対して他方が整数倍であるとしたので、検査用のプローブ端子のピッチを狭いほうの間隔に合わせれば全ての検査対象に正確にアライメントできることとなると共に、引き回し配線の自由度が増大する。更に検査用端子と検査領域とが離間していても、例えば検査用のプローブ端子のピッチを狭いほうの間隔に合わせることで検査用端子と検査領域との両方を確実に検査できると共に、そのプローブ端子の製造が容易となりかつ、共用化をより図ることができる。また、配線群に対応する検査用端子群としたので、上述したような関係が無い検査用端子が一部にあってもよく、その適用範囲を拡大でき、より多種多様な電気光学装置用基板に適用できる。更に配線同士の間隔及び検査用端子同士の間隔のうち狭いほうとしたので、配線同士の間隔のほうが狭い場合にも対応できより多種多様な電気光学装置用基板に対応できる。

本発明の一の形態によれば、前記検査領域は、前記検査用端子群と同一線上に並んで設けられていることを特徴とする。これにより、検査用のプローブ端子との位置合わせがより容易になり、電気的検査のコストの低減も可能となる。

本発明の他の観点にかかる電気光学装置は、電気光学材料を狭持する第１及び第２の基板と、前記第１及び第２の基板上に夫々設けられた第１及び第２の電極と、前記第１の基板上に設けられ、前記第１の電極に電気的に接続された第１の配線と、前記第１の基板上に設けられ、前記第２の電極に電気的に接続され、少なくとも一部が所定の方向に並んで設けられた第２の配線と、前記第１の基板上に設けられ、前記第１及び第２の配線に夫々電気的に接続された第１及び第２の接続用端子群と、前記第１の基板上に実装され、前記第１及び第２の接続用端子群に電気的に接続された第３の接続用端子群を実装面に有する電子部品と、前記第１の基板上の前記実装面に対応する領域内に前記所定の方向と同じ方向に並んで設けられ、少なくとも前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子とを具備することを特徴とする。

ここで、「第１の電極」とは、例えばセグメント電極等をいい、「第２の電極」とは、例えばコモン電極等をいう。また、「第３の接続用端子群」とは、例えばバンプ等をいい、「電子部品」とは、例えば液晶駆動用ＩＣ等をいう。

本発明は、第２の電極に電気的に接続された第２の配線の少なくとも一部を所定の方向に並んで設けると共に、第１の基板上の電子部品の実装領域内にその第２の配線の所定の方向と同じ方向に検査用端子を並んで設けることとしたので、検査用端子のみならず同じ方向に並んでいる第２の配線にも電気的検査用のプローブ端子を容易に当接させ、検査することができる。

この結果、例えば第１の基板上の電子部品の実装領域内に第１及び第２の電極のすべてに対応した検査用端子を配置しなくてもよくなるので、検査端子等の配置や配線の引き回し等が容易になり、コストも低減できる。

本発明の一の形態によれば、前記第２の配線の一部は、前記検査用端子と同一直線上に並んで設けられていることを特徴とする。これにより、第２の配線の少なくとも一部が検査用端子と同一直線上に並べられているので、検査用端子及び第２の配線の少なくとも一部と検査用のプローブ端子との位置合わせがより容易となり、電気的検査のコストの低減も可能となる。

本発明の一の形態によれば、前記第２の配線の一部は、前記検査用端子と平行な一直線上に並んで設けられていることを特徴とする。これにより、第２の配線を所定の方向に並べる場所の選択の自由度が高く配線の引き回しがより容易となる。

本発明の一の形態によれば、前記第２の配線の一部は、前記検査用端子のピッチの整数倍のピッチで設けられていることを特徴とする。これにより、例えば第１の電極からの第１の配線に比べ第２の配線の引き回しが長くなって配線抵抗が大きくなっても、配線の幅を広くすることが容易である。また、そのため第２の配線のピッチと検査用端子のピッチが異なることとなっても、第２の配線のピッチを検査用端子のピッチの整数倍とすれば、検査用のプローブ端子を全ての検査対象に正確にアライメントできることとなる。

本発明の一の形態によれば、前記検査用端子のピッチの整数倍は、１であることを特徴とする。これにより、検査用端子及び第２の配線の一部の配列のピッチが全て同じとなり、検査用のプローブ端子の共用化を図ることができ、プローブ端子のコストを下げることも可能となる。また、プローブ端子の検査用端子等への当接もその位置合わせ等が全てのピッチが同じであるため極めて容易となる。

本発明の一の形態によれば、前記第２の配線の一部とその第２の配線の一部に隣り合う前記検査用端子との距離が、前記検査用端子のピッチの整数倍であることを特徴とする。これにより、検査用端子と第２の配線の一部が離れて設けられている場合も、例えば検査用のプローブ端子を検査用端子のピッチに全て揃えることができ、そのプローブ端子の製造が容易となると共に共用化をより図ることが可能となる。

本発明の他の観点にかかる電気光学装置の製造方法は、第１及び第２の基板の間に電気光学材料を狭持する電気光学装置の製造方法において、前記第１及び第２の基板上に夫々第１及び第２の電極を設ける工程と、前記第１の基板上に、前記第１の電極に電気的に接続された第１の配線を設ける工程と、前記第１の基板上に、前記第２の電極に電気的に接続された少なくとも一部が所定の方向に並ぶように第２の配線を設ける工程と、前記第１の基板上に、前記第１及び第２の配線に夫々電気的に接続された第１及び第２の接続用端子群を設ける工程と、前記第１及び第２の接続用端子群に電気的に接続された第３の接続用端子群を実装面に有する電子部品の前記実装面に対応する第１の基板上の領域内に、前記所定の方向と同じ方向に並ぶと共に少なくとも前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子を設ける工程と、前記検査用端子及び前記第２の配線の一部に検査用のプローブ端子を当接して少なくとも前記第１及び第２の電極の電気的検査を行う工程と、前記実装面に対応する第１の基板上の領域に前記電子部品を実装する工程とを具備することを特徴とする。

本発明は、第２の電極に電気的に接続された少なくとも一部が所定の方向に並ぶように第２の配線を設ける工程と、第１及び第２の配線に夫々電気的に接続された第１及び第２の接続用端子群を設ける工程と、第１及び第２の接続用端子群に電気的に接続された第３の接続用端子群を実装面に有する電子部品の実装面に対応する領域内に、当該所定の方向と同じ方向に並ぶと共に少なくとも第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子を設ける工程と、その検査用端子及び第２の配線の一部に検査用のプローブ端子を当接して少なくとも第１及び第２の電極の電気的検査を行う工程等を具備することとしたので、検査用端子のみならず同じ方向に並んでいる第２の配線の一部にも電気的検査用のプローブ端子を容易に当接させ検査することができ、より低コストで品質を向上させた電気光学装置を製造することが可能となる。

本発明の他の観点にかかる検査方法は、第１及び第２の基板の間に電気光学材料を狭持する電気光学装置の検査方法において、前記第１及び第２の基板上に夫々第１及び第２の電極を設ける工程と、前記第１の基板上に、前記第１の電極に電気的に接続された第１の配線を設ける工程と、前記第１の基板上に、前記第２の電極に電気的に接続された少なくとも一部が所定の方向に並ぶように第２の配線を設ける工程と、前記第１の基板上に、前記第１及び第２の配線に夫々電気的に接続された第１及び第２の接続用端子群を設ける工程と、前記第１及び第２の接続用端子群に電気的に接続された第３の接続用端子群を実装面に有する電子部品の前記実装面に対応する第１の基板上の領域内に、前記所定の方向と同じ方向に並ぶと共に少なくとも前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子を設ける工程と、前記検査用端子及び前記第２の配線の一部に検査用のプローブ端子を位置合わせする工程と、前記位置合わせする工程により位置合わせされた前記プローブ端子を前記検査用端子及び前記第２の配線の一部に当接する工程と、前記プローブ端子に所定の電圧を印加することにより、少なくとも前記第１及び第２の電極の電気的良否を検出する工程とを具備することを特徴とする。

本発明は、第２の電極に電気的に接続された少なくとも一部が所定の方向に並ぶように第２の配線を設ける工程と、第１及び第２の配線に夫々電気的に接続された第１及び第２の接続用端子群を設ける工程と、第１及び第２の接続用端子群に電気的に接続された第３の接続用端子群を実装面に有する電子部品のその実装面に対応する第１の基板上の領域内に、当該所定の方向と同じ方向に並ぶと共に少なくとも第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子を設ける工程等を具備することとしたので、検査用端子のみならず同じ方向に並んでいる第２の配線の一部にも電気的検査用のプローブ端子を容易に当接させ検査することができる。

また、検査用端子や第２の配線の一部を例えば同一直線上に配置することも可能となり、プローブ端子を使用して容易に電気光学装置の検査をすることができると共に、プローブ端子の共用化がより容易となる。

本発明の他の観点にかかる電子機器は、上述に記載の電気光学装置又は電気光学装置の製造方法により製造された電気光学装置を備えたことを特徴とする。

本発明は、電気的検査をより容易にし、且つ、その検査に要するコストを低減する電気光学装置を備えるので、容易に電子機器の性能の信頼性を高めることができる。

以下、本発明の実施形態を図面に基づき説明する。なお、以下実施形態を説明するにあたっては、電気光学装置の例として液晶装置、具体的には反射半透過型のパッシブマトリックス方式の液晶装置、またその液晶装置を用いた電子機器について説明するがこれに限られるものではない。また、以下の図面においては各構成をわかりやすくするために、実際の構造と各構造における縮尺や数等が異なっている。

（第１の実施形態）

図１は本発明の第１の実施形態に係る液晶装置の概略斜視図、図２は図１のＡ−Ａ線断面図（液晶駆動用ＩＣは切断していない。）、図３は液晶駆動用ＩＣが実装される前の液晶装置の張り出し部分を中心に説明する平面図、図４は図３のＣ−Ｃ線断面図及び図５は図３の検査用端子等の部分拡大図である。

（液晶装置の構成）

液晶装置１は、例えば図１に示すように液晶パネル２と、当該液晶パネル２に接続された回路基板３とを有する。ここで、液晶装置１には、回路基板３の他にも、バックライト等の照明装置やその他の付帯機構が必要に応じて付設される（図示しない）。

液晶パネル２は、図１、図２及び図３に示すようにシール材４を介して貼り合わされた一対の基板である第１の基板５及び第２の基板６と、両基板の間隙に封入された電気光学材料例えばＳＴＮ（Ｓｕｐｅｒ Ｔｗｉｓｔｅｄ Ｎｅｍａｔｉｃ）型の液晶７とを有する。

第１の基板５には、例えば図２に示すようにその液晶側表面に、第１の電極である複数のセグメント電極８が所定のパターンで形成されている。

また、そのセグメント電極８の上にはオーバーコート層９が形成されており、更にその上に配向膜１０が形成されている。また、第１の基板５の外側（液晶７と反対側）には偏光板１１等が配置されている。

一方、第２の基板６には例えば図２に示すようにその液晶側表面に第２の電極である複数のコモン電極１２が所定のパターンで形成されており、そのコモン電極１２の上にはオーバーコート層１３が形成され、更にその上に配向膜１４が形成されている。また、第２の基板６の外側（液晶７と反対側）には偏光板１５等が配置されている。

第１の基板５及び第２の基板６のいずれか一方の内側表面には図示しないが必要に応じて下地層、反射層、着色層及び光遮蔽層等を形成する。

ここで、第１の基板５及び第２の基板６は、図１、図２及び図３に示すように例えばガラスや合成樹脂といった光透過性材料から形成された板状部材であり、第１の基板５は他方の基板に対し外側へ突出した張り出し領域（以下「張り出し部」という。）１６を有している。

セグメント電極８は、例えばＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ Ｔｉｎ Ｏｘｉｄｅ）の透明導電材料により形成されており、図１、図２及び図３に示すように一方向（図中のＹ軸方向）で平行になるようにストライプ形状で複数形成されている。

また、コモン電極１２はセグメント電極８と同様にＩＴＯ等の透明導電材料でストライプ状に複数形成されているが、図１、図２及び図３に示すようにセグメント電極８と交差するように図中のＸ軸方向に形成されている。これらのセグメント電極８及びコモン電極１２が交差する所が像を表示する画素となる。

なお、図１及び図３ではセグメント電極８及びコモン電極１２等を判り易くするために各電極等の間隔を実際より広く模式的に表しているが、実際は非常に狭い間隔で多数本形成されている。

また、オーバーコート層９，１３は例えば酸化ケイ素、酸化チタンまたはこれらの混合物により形成され、配向膜１０，１４は例えばポリイミド系樹脂により形成される。

次に、張り出し部１６は図１、図２及び図３に示すようにセグメント電極８及びコモン電極１２がシール材４で囲まれる領域（以下「液晶領域」という。）から当該張り出し部１６に延びた第１の配線であるセグメント電極用配線１７及び第２の配線（或は配線群）であるコモン電極用配線１８（１８ａ，１８ｂ）、その各電極用配線に例えば液晶駆動用電流を供給する電子部品である液晶駆動用ＩＣ１９等を有する。

また、張り出し部１６には液晶駆動用ＩＣ１９の実装面に対応する第１の基板５上の実装領域Ｂ（図３中の中央付近の点線で囲まれた領域）内に設けられた第１及び第２の接続用端子群として複数のセグメント接続用端子２０及びコモン接続用端子２１（２１ａ，２１ｂ）と、そのセグメント接続用端子２０及び一部のコモン接続用端子２１に電気的に接続された複数の検査用端子２２、更に回路基板３からの電流を液晶駆動用ＩＣ１９に入力する複数の入力接続用端子２３を有する。

更に張り出し部１６は、回路基板３からの電流を受け取る外部接続用端子２４、その外部からの電流を入力接続用端子２３に供給する入力用配線２５等を有する。

ここで、液晶駆動用ＩＣ１９は、例えば回路基板３及び入力用配線２５を介して表示画像等に関わる各種の信号を受信すると、この信号に応じた駆動信号を生成するものであり、その駆動信号はセグメント電極用配線１７及びコモン電極用配線１８に供給される。

また、液晶駆動用ＩＣ１９は、例えば図１に示すようにＸ軸方向に長辺が来るように略長方形の外形を有し、その張り出し部１６への実装面である裏面にはセグメント接続用端子２０及びコモン接続用端子２１と入力接続用端子２３とに電気的に接続するためのバンプ２７を有する。

更にセグメント接続用端子２０は、実装領域Ｂ内に例えば図３に示すように第１の基板５上に液晶領域側で当該実装領域Ｂの長辺の周縁中央付近に複数、一定の間隔でＸ軸方向に並んで設けられている。また、その複数のセグメント接続用端子２０を挟むように当該実装領域Ｂの長辺の左右周縁付近にコモン接続用端子２１ａが、一定の間隔でＸ軸方向に並んで設けられている。更に左右の短辺の周縁付近に複数のコモン接続用端子２１ｂが、やはり一定の間隔でＹ軸方向に並んで設けられている。

これにより、液晶駆動用ＩＣ１９からの信号電流が各バンプ２７を介しセグメント接続用端子２０及びコモン接続用端子２１に出力され、セグメント電極８及びコモン電極１２に供給されることとなる。

なお、セグメント接続用端子２０及びコモン接続用端子２１は夫々セグメント電極用配線１７及びコモン電極用配線１８に電気的に接続されている。また、図３に示されたセグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１、セグメント電極用配線１７及びコモン電極用配線１８等はその一部を模式的に現したものであり、実際はもっと細かく且つ多数設けられている。

また、図３では省略しているが例えば図２に示すように各バンプ２７とセグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１及び入力接続用端子２３との間にはＡＣＦ（Ａｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃ Ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ Ｆｉｌｍ）２８を介在させ圧着させることにより電気的導通を図っている。

更に検査用端子２２は、実装領域Ｂ内に例えば図３に示すようにその略中央に複数の細長い短冊状で図中Ｘ軸方向に一直線上に、後述する検査用のプローブ端子を当接させる部分が位置するように同一ピッチで複数並べられている。これにより、プローブ端子の位置合わせやプローブ端子の製造そのものが容易となる。

また、検査用端子２２は例えば図４に示すように第１の基板５の上に下地層としてタンタルによるＴａ層２９を形成し、その上に検査用端子の本体としてクロムによるＣｒ層３０を積層し、更にその上をインジウムスズ酸化物によるＩＴＯ層３１で被覆する構造となっている。Ｔａ層２９を形成することによりＣｒ層３０をより安定して形成できると共に、ＩＴＯ層３１で覆うことにより検査用のプローブ端子の接触が良好となり、Ｃｒ層３０に傷がつくことを防ぐことができる。勿論、検査用端子２２はこの構成に限られるものではない。

また、複数並んで設けられた検査用端子２２は、例えば図３に示すように中央部分にセグメント接続用端子２０に引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２が配置され、その両外側（左右）にコモン接続用端子２１ａが引き回し配線により電気的に接続された検査用端子２２が配置されている。

次に、セグメント電極用配線１７は例えば図３に示すようにセグメント電極８に張り出し部１６と液晶領域との境界付近で電気的に接続され液晶駆動用ＩＣ１９に向けて延設されたものであり、図３中略中央部に配線され、その端部でセグメント接続用端子２０に電気的に接続されている。

また、コモン電極用配線１８は液晶領域で左右に分かれて引き回されたコモン電極１２に、張り出し部１６と液晶領域との境界付近から電気的に接続され、液晶駆動用ＩＣ１９に向けて延設されたものである。更にその配線の一部が、例えば所定の方向に並ぶように形成されており、後述するプローブ端子で電気的検査をする領域（以下「検査領域」という。）３２となる。なお、図３中では分かり易くするため、検査領域３２はコモン電極用配線１８等より幅が広く現されているが、実際は例えばコモン電極用配線１８と同じ幅である。検査用端子２２についても同様である。

以下当該コモン電極用配線１８について図３の張り出し部１６の右側を図５により詳説する。勿論、張り出し部１６の左側も同様に構成されている。

コモン電極用配線１８は、例えば図５に示すように実装領域Ｂの長辺側のコモン接続用端子２１ａに電気的に接続されたコモン電極用配線１８ａと短辺側のコモン接続用端子２１ｂに電気的に接続されたコモン電極用配線１８ｂとにより構成されている。

ここで、短辺側のコモン接続用端子２１ｂに電気的に接続された複数のコモン電極用配線１８ｂは、張り出し部１６でコモン電極１２に電気的に接続し例えば図５に示すようにそのまま略直線的に所定の長さ延びている。

そして、コモン電極用配線１８ｂはその途中で検査用端子２２の上端２２ａと略同じ位置（Ｙ軸方向で）から同様に検査用端子２２の下端２２ｂと略同じ位置までを検査領域３２として形成されている。更にその検査領域３２は、各コモン電極用配線１８ｂで検査用端子２２が並ぶ方向、図５のＤ−Ｄ線方向の当該Ｄ−Ｄ線上に並ぶように形成されている。これにより、後述する検査用のプローブ端子の位置合わせ等が容易になり、プローブ端子自体もコストを下げることが可能となる。

また、図５に示すように同じ線上に並んでいる検査用端子２２のピッチＰ１とコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２のピッチＰ２とは同一ピッチになるように形成されている。

更にコモン電極用配線１８ｂは例えば図５に示すように検査領域３２の先（図中下方）で半円状に引き回され図中で上方に戻るように配線されている。

このとき、戻りのコモン電極用配線１８ｂで一番検査領域３２に近い配線でもその検査領域３２との間隔が、例えば数個の検査用のプローブ端子が入る程度にコモン電極用配線１８ｂを引き回す。これによって、多少プローブ端子が複数の検査領域３２より多くても、プローブ端子がコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２以外の配線に当接することを防ぐことができるとともに、無理な引き回しを防ぐことができる。

そして、コモン電極用配線１８ｂは最終的に短辺側のコモン接続用端子２１ｂに夫々電気的に接続されている。

なお、上述の説明ではコモン接続用端子２１の一部が実装領域Ｂの長辺側にコモン接続用端子２１ａとして設けられた状態を説明したが、これに限られるものではなく例えばコモン接続用端子２１は全て短辺側に設けられるものであってもよい。この場合は、コモン電極用配線１８も当然全て短辺側のコモン接続用端子２１に電気的に接続されることとなり、全てのコモン電極用配線１８は実装領域Ｂの外側に検査領域３２を有することとなる。

次に、入力接続用端子２３は例えば図３に示すように実装領域Ｂ内の回路基板側の長辺周縁に、回路基板３からの信号を液晶駆動用ＩＣ１９に入力するために複数、図中Ｘ軸方向に略一直線上に並べられている。

また、回路基板３には図２に示すようにベース基板３３の上に配線パターン３４等が形成、実装されている。

ここで、ベース基板３３は可撓性を有するフィルム状の部材であり、配線パターン３４は例えば銅等から形成されていて、張り出し部１６側の端に接続用端子（図示しない）が形成されている。その接続用端子は外部接続用端子２４に外部接続用ＡＣＦ３５を介して電気的に接続されている。

（液晶装置の製造方法及び検査方法）

次に、液晶装置１の製造方法及び検査方法を張り出し部１６を中心に簡単に説明する。

図６は液晶装置の製造方法のフローチャート図、図７はプローブ端子を検査用端子等に当接した状態の説明図及び図８は他の検査用のプローブ端子の説明図である。

まず、図６に示すように第１の基板５の上（液晶側）にセグメント電極８の材料であるＩＴＯ等をスパッタリング法により被着し、フォトリソグラフィ法によってパターニングして図１、図２及び図３のようにＹ軸方向でストライプ状に、セグメント電極８を形成する。また、その上にオーバーコート層９を形成し、更にその上に配向膜１０を形成し、ラビング処理を施して第１の基板側を形成する（ＳＴ１０１）。なお、このセグメント電極８を形成する際に張り出し部１６のセグメント電極用配線１７、コモン電極用配線１８、セグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１、検査用端子２２、入力接続用端子２３、外部接続用端子２４及び入力用配線２５等を同様にスパッタリング法により成膜し、フォトリソグラフィ法等により形成してもよい。また、検査用端子２２は図４のように張り出し部１６の上にまず下地層としてタンタルによるＴａ層２９を形成し、その上に検査用端子の本体としてクロムによるＣｒ層３０を積層し、更にその上をインジウムスズ酸化物によるＩＴＯ層３１で被覆して形成する。

次に、第２の基板６の上（液晶側）に同様にしてコモン電極１２を図１、図２及び図３のようにＸ軸方向にストライプ状に形成し、更にオーバーコート層１３及び配向膜１４を形成し第２の基板上にギャップ材３６をドライ散布等により散布し、シール材４を介して第１の基板側と第２の基板側とを貼り合わせる。その後、例えばスクライブ&ブレーク工程を経て分割された第１の基板５及び第２の基板６のシール材４の開口部から液晶７を注入し、シール材４の開口部を紫外線硬化性樹脂等の封止材によって封止する（ＳＴ１０３）。更に、偏光板１１，１５等を第１の基板５及び第２の基板６の各外面（液晶側と反対側）に貼着等の方法により取り付ける。

ここまでの工程により、セグメント電極８及びコモン電極１２、セグメント電極用配線１７、コモン電極用配線１８、セグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１、検査用端子２２等が形成されているので、例えばセグメント電極８及びコモン電極１２等の点灯試験や断線及びショート検査等の電気的検査をすることができることとなる。以下の工程は実質上検査方法の工程となる。

まず、検査装置３７の検査用のプローブ端子例えば検査用ピン３８を張り出し部１６上に制御部３９の制御下、移動装置（図示しない）により移動させ、更に複数の検査用端子２２及び複数のコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２に当接できるように検査用ピン３８をアライメントマーク等を利用して正確に検査用端子等に位置合わせする（ＳＴ１０４）。

また、検査用ピン３８が各検査用端子等に位置合わせできたら、例えば制御部３９は検査用ピン３８を検査用端子２２及び検査領域３２に移動装置により降下させ図７に示すように当接させる（ＳＴ１０５）。なお、検査用ピン３８は例えば図７に示すようにコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２以外の配線部分に接触することが無いように、検査用端子２２に当接する検査用ピン３８と検査領域３２に当接する検査用ピン３８との間には、予備のための数本を除き検査用ピンは設けられていない。

更に制御部３９は、電圧印加部４０により所定の電圧を検査用ピン３８に印加する（ＳＴ１０６）。この際、例えば図７に示すように各検査用端子２２に当接する検査用ピン３８は、図中のＥ１の検査用ピン３８とそれから３本の検査用ピン３８を飛ばしてＥ５の検査用ピン３８、同様にＥ９の検査用ピン３８等が一つに纏められている。同様にＥ２の検査用ピン３８は、Ｅ６等の検査用ピン３８と一つに纏められており、更にＥ３の検査用ピン３８は、Ｅ７等の検査用ピン３８と一つに纏められている。同じようにＥ４の検査用ピン３８は、３本の検査用ピン３８を飛ばしてＥ８の検査用ピン３８と一つに纏められている。勿論、検査領域３２も上述と同様に検査用ピン３８が当接することとなる。

これにより、例えば少なくとも連続して隣り合う４つの検査用端子２２及びコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２のショート検査は可能であると共に通常はそれで十分であり、全検査用端子等を独立して検査する検査装置に比べ低コストにできることとなる。勿論、４本ずつ纏めない全検査端子等を独立して検査する検査装置としてもよいし、４本ではなく３本や２本ずつ等に検査用ピン３８を纏めてもよい。

夫々一つに纏められた検査用ピン３８からの配線は図７に示すようにＦ１からＦ４として電圧印加部４０に接続されている。ここで、Ｆ１とＦ２との間に所定の電圧が印加されるので、検査用ピン３８の例えばＥ１とＥ２とに当接している検査用端子２２間でセグメント電極８等がショートしていると、電流が流れ電圧印加部４０はその情報を制御部３９に伝える。制御部３９は、その情報等により電気的良否（この場合は、ショートの有無）を判定し（ＳＴ１０７）、例えばランプ等（図示せず）に表示する。

以上で実質的に電気光学装置の電気的検査（検査方法の説明）は終了し、検査の結果正常な第１の基板及び第２の基板５，６に対し以下の工程により液晶装置１を完成させる。

具体的には、まずＡＣＦ２８を例えば図２に示すように張り出し部１６のセグメント接続用端子２０、コモン接続用端子２１（２１ａ，２１ｂ）、入力接続用端子２３等を覆うように配置し、その上にセグメント接続用端子２０等に液晶駆動用ＩＣ１９のバンプ２７が対応するように液晶駆動用ＩＣ１９を配置し、押圧して加熱する。これにより、バンプ２７とセグメント接続用端子２０等との間で単一方向の導電性を持たせ接続することができる。

更に、回路基板３に必要な電子部品を実装し、回路基板３の配線パターン３４の一端に形成された接続用端子（図示せず）を例えば図２に示すように外部接続用ＡＣＦ３５を介して外部接続用端子２４に電気的に接続させ、液晶パネル２に回路基板３を接続させる（ＳＴ１０８）。

最後に、そのほかの照明装置やケース体等を取り付けて電気光学装置である液晶装置１が完成する（ＳＴ１０９）。

なお、検査用のプローブ端子としては上述の検査用ピン３８に限られるものではなく、例えば図８に示すようにフレキシブル基板等のフィルム４１上（図８で検査用端子２２側）に検査用端子２２や検査領域３２のピッチと同一のピッチに配線４２を形成し、その上にプローブ端子であるプローブ端子バンプ４３が形成されている。また、その一つの配線４２及びプローブ端子バンプ４３と、その隣の配線４２及びプローブ端子バンプ４３との間にはポリイミド等の絶縁層４４が形成された構造となっている。

これを検査用端子２２及びコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２の上に図８に示すように（図８では検査用端子２２に当接している状態を示している）プローブ端子バンプ４３を当接することによっても、電気的検査は可能である。特に、精細な検査用端子２２や検査領域３２のような場合は、フィルム４１上にプローブ端子バンプ４３を形成するほうが容易でしかも低コストにできる。

このように本実施形態によれば、コモン電極１２に電気的に接続されたコモン電極用配線１８ｂの一部が、検査領域３２として所定の方向に並ぶように設けられ、更に第１の基板５上の液晶駆動用ＩＣ１９の実装領域Ｂ内にその検査領域３２の所定の方向と同じ方向に検査用端子２２を並んで設けることとしたので、検査用端子２２のみならず同じ方向に並んでいるコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２にも、検査用ピン３８を容易に当接させ検査することができる。

また、例えば第１の基板５上の液晶駆動用ＩＣ１９の実装領域Ｂ内にセグメント電極８及びコモン電極１２のすべてに対応した検査用端子２２を配置しなくてもいいので、検査端子等の配置や配線の引き回し等が容易になり、コストも低減できる。

更にコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２は、検査用端子２２と同一直線上に並んで設けられているので、検査用端子２２及び検査領域３２と検査用ピン３８との位置合わせがより容易となり、電気的検査のコストの低減も可能となる。

また、検査用端子２２のピッチと検査領域３２のピッチが同一であるので検査用ピン３８の共用化がより図れ、電気的検査のコストを低減できる。

（第２の実施形態）

次に、本発明に係る液晶装置の第２の実施形態について説明する。本実施形態においては、第１の実施形態と検査用端子２２とその隣に設けられた検査領域３２との距離が検査用端子２２のピッチの整数倍である点が異なるのでその点を中心に説明する。なお、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。

図９は本発明の第２の実施形態に係る液晶装置の液晶駆動用ＩＣが実装される前の張り出し部の部分拡大図である。

（液晶装置の構成）

コモン電極用配線１８ｂの検査領域３２は、例えば図９に示すように複数の検査用端子２２が所定のピッチで並ぶ直線上に、同様に並んでいる。また、コモン電極用配線１８ｂの検査領域３２は検査用端子２２とコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２との距離が、検査用端子２２の当該ピッチの整数倍となるように形成されている。

具体的には、例えば図９に示すようにコモン接続用端子２１ａに電気的に接続された検査用端子２２で一番検査領域３２に近い検査用端子（図中の検査用端子で一番右端にあるもの）とコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２で一番検査用端子２２に近い検査領域３２（図中の検査領域で一番左端にあるもの）との距離Ｐ４が、検査用端子２２のピッチＰ３の整数倍となるように形成されている。

（液晶装置の製造方法及び検査方法）

本実施形態にかかる液晶装置の製造方法及び検査方法は、略第１の実施形態と同様であるが検査用端子とコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２との距離が検査用端子のピッチの整数倍となる点で異なるので、検査用ピンが検査用端子及び検査領域に当接されるところを中心に説明する。

図１０は検査用ピンが検査用端子及び検査領域に当接している状態の説明図である。

まず、検査装置３７の検査用のプローブ端子例えば検査用ピン３８を張り出し部１６上に制御部３９の制御下、移動装置（図示しない）により移動させ、更に検査用端子２２及び検査領域３２に当接できるように検査用ピン３８をアライメントマーク等を利用して正確に検査用端子等に位置合わせする（ＳＴ１０４）。

また、検査用ピン３８が各検査用端子２２及び各検査領域３２に位置合わせできたら、制御部３９は検査用ピン３８を検査用端子等に移動装置により降下させ、図１０に示すように当接させる（ＳＴ１０５）。この際、図１０に示すように検査用ピン３８の等ピッチが、検査用端子のピッチにあわせてあるので、全ての検査用端子２２及び検査領域３２にいずれかの検査用ピン３８が当接されることとなる。

このように本実施形態によれば、コモン電極用配線１８ｂの検査領域３２とその検査領域３２に隣り合う検査用端子２２との距離を、検査用端子２２のピッチの整数倍としたので、検査用端子２２とコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２とが離れて設けられている場合も、確実に検査用ピン３８を検査用端子２２及び検査領域３２に全て当接させることができる。

また、検査用ピン３８のピッチが検査用端子２２のピッチで揃えられるので、そのプローブ端子の製造が容易となると共に共用化をより図ることが可能となる。更にコモン電極用配線１８等の引き回しの自由度が増し液晶装置の製造が容易となる。

（第３の実施形態）

次に、本発明に係る液晶装置の第３の実施形態について説明する。本実施形態においては、第１の実施形態の検査用端子及び検査領域が全て等ピッチで並んでいたのに対し、検査領域のピッチが検査用端子のピッチの整数倍である点で異なるので、その点を中心に説明する。なお、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。

図１１は本発明の第３の実施形態に係る液晶装置の液晶駆動用ＩＣが実装される前の張り出し部の部分拡大図である。

（液晶装置の構成）

図１１に示すようにコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２のピッチＰ６は、セグメント接続用端子２０及びコモン接続用端子２１ａに電気的に接続された検査用端子２２のピッチＰ５の整数倍となるように同一直線上に並んで設けられている。

例えば図１１では検査領域３２のピッチＰ６は、検査用端子２２のピッチＰ５の２倍となっている。勿論、２倍に限られるわけではなく３倍でも４倍でも、検査領域３２のピッチＰ６が、検査用端子２２のピッチＰ５の整数倍となっていればよい。ただし、１倍であると第１の実施形態と同じになるので実際上は１を除く整数倍となる。

（液晶装置の製造方法及び検査方法）

本実施形態にかかる液晶装置の製造方法及び検査方法は、略第１の実施形態と同様であるが検査用端子とコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２とのピッチが異なるので、検査用ピンが検査用端子及び検査領域に当接されるところを中心に説明する。

図１２は検査用ピンが検査用端子及び検査領域に当接している状態の説明図である。

まず、検査装置３７の検査用のプローブ端子例えば検査用ピン３８を張り出し部１６上に制御部３９の制御下、移動装置（図示しない）により移動させ、更に検査用端子２２及び検査領域３２に当接できるように検査用ピン３８をアライメントマーク等を利用して正確に検査用端子等に位置合わせする（ＳＴ１０４）。

また、検査用ピン３８が各検査用端子２２及び各検査領域３２に位置合わせできたら、制御部３９は検査用ピン３８を検査用端子等に移動装置により降下させ、図１２に示すように検査領域３２では検査用ピン３８が１本おきに当接することとなる（ＳＴ１０５）。

このように本実施形態によれば、コモン電極用配線１８ｂの検査領域３２は、検査用端子２２のピッチの整数倍のピッチで並んで設けることとしたので、例えばセグメント電極８からのセグメント電極用配線１７に比べコモン電極用配線１８ｂの引き回しが長くなって配線抵抗が大きくなっても、配線の幅を広くすることが容易である。また、そのためコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２のピッチと検査用端子２２のピッチとが異なることとなっても、コモン電極用配線１８ｂの検査領域３２のピッチを検査用端子２２のピッチの整数倍としているので、例えば検査用ピン３８を容易に全ての検査対象に正確にアライメントできることとなる。

（第４の実施形態）

次に、本発明に係る液晶装置の第４の実施形態について説明する。本実施形態においては、第１の実施形態の検査用端子と検査領域とが同一直線上に並んでいたのに対し、異なる直線上に並んでいる点で異なるので、その点を中心に説明する。なお、第１の実施形態の構成要素と共通する構成要素については、第１の実施形態の構成要素と同一の符号を付しその説明を省略する。

図１３は本発明の第４の実施形態に係る液晶装置の液晶駆動用ＩＣが実装される前の張り出し部の部分拡大図である。

（液晶装置の構成）

コモン電極用配線１８は、例えば図１３に示すようにコモン電極用配線１８ａもコモン電極用配線１８ｂと共に一部が所定の方向の直線上に同一ピッチで並んで、検査領域３２となるように形成されており、セグメント接続用端子２０に電気的に接続された検査用端子２２はその所定の方向の直線と平行な方向の直線上に同一ピッチで形成されている。

具体的には図１３に示すように複数のセグメント電極用配線１７は実装領域Ｂ内に設けられたセグメント接続用端子２０に電気的に接続されており、セグメント接続用端子２０はＤ−Ｄ線上に等ピッチで並んでいる各検査用端子２２に電気的に接続されている。

一方、コモン電極用配線１８はコモン電極１２と電気的に接続され張り出し部１６に延設されたコモン電極用配線１８ａ及びコモン電極用配線１８ｂとが夫々図中下方に略一直線に延び、所定の長さの所で略半円状に実装領域Ｂ側に曲がって最終的にコモン電極用配線１８ａは長辺側のコモン接続用端子２１ａに、コモン電極用配線１８ｂは短辺側のコモン接続用端子２１ｂに夫々電気的に接続されている。

ここで、そのコモン電極用配線１８ａ及びコモン電極用配線１８ｂの各配線の一部が図１３中のＨ−Ｈ線上に等ピッチで並ぶように形成され夫々検査領域３２となり、その検査領域３２のうちで液晶領域に近い検査領域上端３２ａと液晶領域に遠い検査領域下端３２ｂとの距離は、例えば検査用端子２２の上端２２ａと下端２２ｂとの距離と略同一に形成されている。これにより、検査用端子２２と検査領域３２とで検査用ピン３８の共用化がより図れ、コストをより低減できる。

このとき、コモン電極用配線１８ａの検査領域３２は例えばコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２と一直線上に隣に並んで設けられているが、コモン電極用配線１８ａの検査領域３２は図１３に示すようにコモン電極用配線１８ｂの検査領域３２より検査用端子２２に近くなるように配置されている。これにより、配線同士が交差せずより効率的に引き回すことができる。

また、検査用端子２２が並ぶ直線Ｄ−Ｄ線と検査領域３２が並ぶ直線Ｈ−Ｈ線とは平行であり、例えば検査領域３２の並ぶ直線Ｈ−Ｈ線の方が液晶領域に近くなるように形成されている。これにより、コモン接続用端子２１ａ等からの引き回しの配線距離が短くすみより配線抵抗を小さくできる。勿論、これに限られるものではなく直線Ｈ−Ｈ線の方が直線Ｄ−Ｄ線より液晶領域に遠くなるように形成してもよい。

（液晶装置の製造方法及び検査方法）

本実施形態にかかる液晶装置の製造方法及び検査方法は、略第１の実施形態と同様であるが検査用端子とコモン電極用配線１８の検査領域３２とが同一直線上にないので、検査用ピンが検査用端子及び検査領域に当接されるところを中心に説明する。

例えばまず、検査装置３７の検査用ピン３８を張り出し部１６上に制御部３９の制御下、移動装置（図示しない）により移動させ、検査用端子２２及び検査領域３２のいずれか一方、例えば検査用端子２２に検査用ピン３８を当接できるようにアライメントマーク等を利用して正確に位置合わせする（ＳＴ１０４）。

また、検査用ピン３８が各検査用端子２２に位置合わせできたら、制御部３９は検査用ピン３８を検査用端子２２に移動装置により降下させ当接させる（ＳＴ１０５）。その後所定の電圧を検査用ピン３８に印加させ、電気的良否の判定を制御部３９がして検査用端子２２の実質的な電気的検査例えばショート検査は終了する。

この後、検査領域３２の電気的検査をするために再びＳＴ１０４に戻り検査領域３２に検査用ピン３８を位置合わせ、当接させて所定の電圧を印加し電気的良否の判定をして検査領域３２の実質的な電気的検査例えばショート検査は終了する。

勿論、検査用端子用の検査用ピン３８と検査領域用の検査用ピン３８とを用意し、両方を同時に検査してもよい。これにより、検査のスピードアップを図れる。

このように本実施形態によれば、コモン電極用配線１８の一部である検査領域３２は、検査用端子２２と平行な一直線上に並んで設けることとしたので、検査すべき電極の全てに対応する検査用端子２２は設けることができない場合でも、コモン電極用配線１８で容易に電気的検査ができる。また、そのコモン電極用配線１８の一部である検査領域３２を所定の方向に並べる場所の選択の自由度が高く配線の引き回しがより容易となる。

更に検査用端子２２のピッチと検査領域３２のピッチとを同一ピッチとしたので、検査用端子２２に用いられる検査用ピン３８と検査領域３２に用いられる検査用ピン３８とを共用でき、コストの低減と検査の容易化を図ることができる。

（第５の実施形態）

（電子機器）

次に、上述した液晶装置１を備えた本発明の第５の実施形態に係る電子機器について説明する。

図１４は本発明の第５の実施形態に係る電子機器の表示制御系の全体構成を示す概略構成図である。

電子機器３００は、表示制御系として例えば図１４に示すように液晶パネル２及び表示制御回路３９０などを備え、その表示制御回路３９０は表示情報出力源３９１、表示情報処理回路３９２、電源回路３９３及びタイミングジェネレータ３９４などを有する。

また、液晶パネル２には表示領域Ｇを駆動する駆動回路３６１を有する。

表示情報出力源３９１は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）などからなるメモリと、磁気記録ディスクや光記録ディスクなどからなるストレージユニットと、デジタル画像信号を同調出力する同調回路とを備えている。更に表示情報出力源３９１は、タイミングジェネレータ３９４によって生成された各種のクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号などの形で表示情報を表示情報処理回路３９２に供給するように構成されている。

また、表示情報処理回路３９２はシリアル−パラレル変換回路、増幅・反転回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路などの周知の各種回路を備え、入力した表示情報の処理を実行して、その画像情報をクロック信号ＣＬＫと共に駆動回路３６１へ供給する。駆動回路３６１は、走査線駆動回路、データ線駆動回路及び検査回路を含む。また、電源回路３９３は、上述した各構成要素に夫々所定の電圧を供給する。

このように本実施形態によれば、電子機器３００に用いられている液晶装置１は、コモン電極１２に電気的に接続されたコモン電極用配線１８を、少なくとも一部が検査領域３２として所定の方向に並ぶように設けると共に、第１の基板５上の液晶駆動用ＩＣ１９の実装領域Ｂ内にそのコモン電極用配線１８の所定の方向と同じ方向に検査用端子２２を並んで設けることとしたので、検査用端子２２のみならず同じ方向に並んでいる検査領域３２にも例えば検査用ピン３８を容易に当接させ、検査することができる。

この結果、例えば第１の基板５上の実装領域Ｂ内にセグメント電極８及びコモン電極１２のすべてに対応した検査用端子２２を配置しなくてもよくなるので、検査端子等の配置や配線の引き回し等が容易になり、コストも低減できる。

特に携帯可能な電子機器にあっては、小型で且つ正確な機能を発揮できることが求められており、電極配線等の電気的検査を容易にかつ、低コストでできる本発明の意義は大きいといえる。

具体的な電子機器としては、携帯電話機やパーソナルコンピュータなどの他に液晶装置が搭載されたタッチパネル、プロジェクタ、液晶テレビやビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、上述した例えば液晶装置１が適用可能なのは言うまでもない。

なお、本発明の電気光学装置及び電子機器は、上述した例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更を加え得ることは勿論である。

例えば、上述した電気光学装置はいずれも液晶パネルを有する液晶装置であるが、無機或は有機エレクトロルミネッセンス装置、プラズマディスプレイ装置、電気泳動ディスプレイ装置、電子放出素子を用いた装置（Ｆｉｅｌｄ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ Ｄｉｓｐｌａｙ及びＳｕｒｆａｃｅ‐Ｃｏｎｄｕｃｔｉｏｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ‐Ｅｍｉｔｔｅｒ Ｄｉｓｐｌａｙ等）などの各種電気光学装置であってもよい。

以上、好ましい実施形態を上げて本発明を説明したが、本発明は上述したいずれの実施形態にも限定されず、本発明の技術思想の範囲内で適宜変更して実施できる。

例えば、上述の実施形態ではパッシブマトリクス型の液晶装置について説明したがこれに限られるものではなく、例えば薄膜トランジスタ素子アクティブマトリクス型、薄膜ダイオード素子アクティブマトリクス型の液晶装置であってもよい。更には、半透過型に限らず反射型、透過型であってもよい。これにより、多種多様な液晶装置についても、電極配線等の電気的検査をより低コストでしかも容易に実施できる。

また、上述の実施形態では例えばとして張り出し部１６に実装される液晶駆動用ＩＣ１９の実装領域に設けられた検査用端子等で説明したが、これに限られるものではなく例えば回路基板３に電子部品を実装するときについても同様に適用できる。更には電気光学装置に限らず半導体装置等にも適用可能である。これにより、より多様な電気光学装置や半導体装置等の電気的検査をより低コストでしかも容易に実施できることとなる。

更に上述の実施形態では例えばとしてコモン電極用配線１８の検査領域３２に検査用ピン３８を当接させるときに、各配線を絶縁材でモールドせずそのまま露出した状態で電気的検査をすることとしたが、これに限られるものではなく例えば検査用ピン３８が当接する部分だけ露出し、そのほかの配線部分は絶縁材でモールドしてもよい。これにより、最終的に絶縁材でモールドするまで検査領域３２でない配線部分が、酸化等により劣化する可能性を排除できる。また、検査用ピン３８を検査用端子用と検査領域用との間にも連続して配置でき、より共用化が図れる。

第１の実施形態に係る液晶装置の概略斜視図である。 図１のＡ−Ａ線断面図である。 第１の実施形態に係る液晶駆動用ＩＣが実装される前の平面図である。 図３のＣ−Ｃ線断面図である。 図３の検査用端子等の部分拡大図である。 第１の実施形態に係る液晶装置の製造方法のフローチャート図である。 第１の実施形態のプローブ端子を検査用端子等に当接した状態の説明図である。 他の検査用のプローブ端子の説明図である。 第２の実施形態に係る液晶駆動用ＩＣが実装される前の部分拡大図である。 第２の実施形態に係る検査用ピンが検査用端子等に当接する説明図である。 第３の実施形態に係る液晶駆動用ＩＣが実装される前の部分拡大図である。 第３の実施形態に係る検査用ピンが検査用端子等に当接する説明図である。 第４の実施形態に係る液晶駆動用ＩＣが実装される前の部分拡大図である。 第５の実施形態に係る電子機器の表示制御系の概略構成図である。

符号の説明

１ 液晶装置、 ２ 液晶パネル、 ３ 回路基板、 ４ シール材、 ５ 第１の基板、 ６ 第２の基板、 ７ 液晶、 ８ セグメント電極、 ９，１３ オーバーコート層、 １０，１４ 配向膜、 １１，１５ 偏光板、 １２ コモン電極、 １６ 張り出し部、 １７ セグメント電極用配線、 １８（１８ａ，１８ｂ） コモン電極用配線、 １９ 液晶駆動用ＩＣ、 ２０ セグメント接続用端子、 ２１（２１ａ，２１ｂ） コモン接続用端子、 ２２ 検査用端子、 ２２ａ 上端、 ２２ｂ 下端、 ２３ 入力接続用端子、 ２４ 外部接続用端子、 ２５ 入力用配線、 ２７ バンプ、 ２８ ＡＣＦ、 ２９ Ｔａ層、 ３０ Ｃｒ層、 ３１ ＩＴＯ層、 ３２ 検査領域、 ３２ａ 検査領域上端、 ３２ｂ 検査領域下端、 ３３ ベース基板、 ３４ 配線パターン、 ３５ 外部接続用ＡＣＦ、 ３６ ギャップ材、 ３７ 検査装置、 ３８ 検査用ピン、 ３９ 制御部、 ４０ 電圧印加部、 ４１ フィルム、 ４２ 配線、 ４３ プローブ端子バンプ、 ４４ 絶縁層、 ３００ 電子機器、 ３６１ 駆動回路、 ３９０ 表示制御回路

Claims (11)

1. 第１の接続用端子群と、
   第２の接続用端子群と、
   前記第２の接続用端子群と電気的に接続されてなる配線群と、
   前記第１の接続用端子群と電気的に接続されてなり、前記配線群と対応する検査用端子群と、
   を備え、
   前記配線群は、延在方向が並行であり、所定の間隔で配列されてなる検査領域を有し、
   前記検査用端子群は、前記検査領域と平行で、且つ、離間して配列されてなり、
   前記配線同士の間隔及び前記検査用端子同士の間隔のうち狭いほうの間隔に対して他方が整数倍であり、
   前記離間した間隔は、前記配線同士の間隔及び前記検査用端子同士の間隔のうち狭いほうの間隔の整数倍であることを特徴とする電気光学装置用基板。
2. 前記検査領域は、前記検査用端子群と同一線上に並んで設けられていることを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置用基板。
3. 電気光学材料を狭持する第１及び第２の基板と、
   前記第１及び第２の基板上に夫々設けられた第１及び第２の電極と、
   前記第１の基板上に設けられ、前記第１の電極に電気的に接続された第１の配線と、
   前記第１の基板上に設けられ、前記第２の電極に電気的に接続され、少なくとも一部が所定の方向に並んで設けられた第２の配線と、
   前記第１の基板上に設けられ、前記第１及び第２の配線に夫々電気的に接続された第１及び第２の接続用端子群と、
   前記第１の基板上に実装され、前記第１及び第２の接続用端子群に電気的に接続された第３の接続用端子群を実装面に有する電子部品と、
   前記第１の基板上の前記実装面に対応する領域内に前記所定の方向と同じ方向に並んで設けられ、少なくとも前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子と
   を具備することを特徴とする電気光学装置。
4. 前記第２の配線の一部は、前記検査用端子と同一直線上に並んで設けられていることを特徴とする請求項３に記載の電気光学装置。
5. 前記第２の配線の一部は、前記検査用端子と平行な一直線上に並んで設けられていることを特徴とする請求項３に記載の電気光学装置。
6. 前記第２の配線の一部は、前記検査用端子のピッチの整数倍のピッチで設けられていることを特徴とする請求項３から請求項５のうちいずれか一項に記載の電気光学装置。
7. 前記検査用端子のピッチの整数倍は、１であることを特徴とする請求項６に記載の電気光学装置。
8. 前記第２の配線の一部とその第２の配線の一部に隣り合う前記検査用端子との距離が、前記検査用端子のピッチの整数倍であることを特徴とする請求項３から請求項７のうちいずれか一項に記載の電気光学装置。
9. 第１及び第２の基板の間に電気光学材料を狭持する電気光学装置の製造方法において、
   前記第１及び第２の基板上に夫々第１及び第２の電極を設ける工程と、
   前記第１の基板上に、前記第１の電極に電気的に接続された第１の配線を設ける工程と、
   前記第１の基板上に、前記第２の電極に電気的に接続された少なくとも一部が所定の方向に並ぶように第２の配線を設ける工程と、
   前記第１の基板上に、前記第１及び第２の配線に夫々電気的に接続された第１及び第２の接続用端子群を設ける工程と、
   前記第１及び第２の接続用端子群に電気的に接続された第３の接続用端子群を実装面に有する電子部品の前記実装面に対応する第１の基板上の領域内に、前記所定の方向と同じ方向に並ぶと共に少なくとも前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子を設ける工程と、
   前記検査用端子及び前記第２の配線の一部に検査用のプローブ端子を当接して少なくとも前記第１及び第２の電極の電気的検査を行う工程と、
   前記実装面に対応する第１の基板上の領域に前記電子部品を実装する工程と
   を具備することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
10. 第１及び第２の基板の間に電気光学材料を狭持する電気光学装置の検査方法において、
    前記第１及び第２の基板上に夫々第１及び第２の電極を設ける工程と、
    前記第１の基板上に、前記第１の電極に電気的に接続された第１の配線を設ける工程と、
    前記第１の基板上に、前記第２の電極に電気的に接続された少なくとも一部が所定の方向に並ぶように第２の配線を設ける工程と、
    前記第１の基板上に、前記第１及び第２の配線に夫々電気的に接続された第１及び第２の接続用端子群を設ける工程と、
    前記第１及び第２の接続用端子群に電気的に接続された第３の接続用端子群を実装面に有する電子部品の前記実装面に対応する第１の基板上の領域内に、前記所定の方向と同じ方向に並ぶと共に少なくとも前記第１の接続用端子群に電気的に接続された検査用端子を設ける工程と、
    前記検査用端子及び前記第２の配線の一部に検査用のプローブ端子を位置合わせする工程と、
    前記位置合わせする工程により位置合わせされた前記プローブ端子を前記検査用端子及び前記第２の配線の一部に当接する工程と、
    前記プローブ端子に所定の電圧を印加することにより、少なくとも前記第１及び第２の電極の電気的良否を検出する工程と
    を具備することを特徴とする検査方法。
11. 請求項３から請求項８のうちいずれか一項に記載の電気光学装置又は請求項９に記載の電気光学装置の製造方法により製造された電気光学装置を備えたことを特徴とする電子機器。

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