JP2005148988A - パラメータ推定方法とその装置、プログラム及び記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】画像データに含まれるオブジェクトの識別およびオブジェクトのパラメータを推定する。特徴抽出部102は入力された画像データに含まれるオブジェクトの特徴を抽出する。部分空間作成部103は主成分分析によりオブジェクトの部分空間を作成する。パラメータ推定関数作成部106はサポートベクトル回帰によりパラメータを推定するための関数を作成する。部分空間射影部109は未知のオブジェクトを撮像したときの画像データから抽出された特徴量をオブジェクト毎の部分空間に射影する。パラメータ推定識別部110は前記作成された関数に基づきパラメータを算出し、学習したオブジェクトのどれに該当するかを識別する。
【選択図】 図1
Description
入力された画像データに含まれるオブジェクトの特徴を抽出する特徴抽出手段と、
主成分分析によりオブジェクトの部分空間を作成する部分空間作成手段と、
サポートベクトル回帰によりパラメータを推定するための関数を作成するパラメータ推定関数作成手段と、
未知のオブジェクトを撮像したときの画像データから抽出された特徴量をオブジェクト毎の部分空間に射影する部分空間射影手段と、
前記作成された関数に基づきパラメータを算出し、学習したオブジェクトのどれに該当するかを識別するパラメータ推定識別手段を備える。
推定したいパラメータ値が周期的である場合(例えば撮影角度)このパラメータ値の正弦関数及び余弦関数を新たな中問パラメータとして推定する中問パラメータ推定関数作成手段と、前記中間パラメータに基づき前記パラメータ値を算出するパラメータ変換手段を備えるものがある。
周期的であるパラメータ値の正弦関数及び余弦関数を算出した後、これらの関数の自乗値の和を算出する識別変数計算手段と、前記和の値に基づきオブジェクトを識別する識別変数判定手段を備えるものがある。
特徴抽出手段が入力された画像データに含まれるオブジェクトの特徴を抽出する工程と、部分空間作成手段が主成分分析によりオブジェクトの部分空間を作成する工程と、パラメータ推定関数作成手段がサポートベクトル回帰によりパラメータを算出するための関数を作成する工程と、部分空間射影手段が未知のオブジェクトを撮像したときの画像データから抽出された特徴量をオブジェクト毎の部分空間に射影する工程と、パラメータ推定識別手段が前記作成された関数に基づきパラメータを算出し予め学習したオブジェクトのどれに該当するかを識別する工程を有する。
推定したいパラメータ値が周期的である場合(例えば撮影角度)このパラメータ値の正弦関数及び余弦関数を新たな中問パラメータとして算出する工程と、前記中間パラメータに基づき前記パラメータ値を算出する工程とを有するものがある。
周期的であるパラメータ値に対する正弦関数及び余弦関数を算出した後、これらの関数の自乗値の和を算出する工程と、前記和の値に基づきオブジェクトを識別する工程を有するものがある。
(b)推定したBからθ=sin-1Bの演算によってθを算出する。
112…中間パラメータ推定関数作成部、113…パラメータ変換部
114…識別変数計算部、115…識別変数判定部
Claims (10)
- 画像データに含まれるオブジェクトの識別およびオブジェクトのパラメータを推定するパラメータ推定装置であって、
入力された画像データに含まれるオブジェクトの特徴を抽出する特徴抽出手段と、
主成分分析によりオブジェクトの部分空間を作成する部分空間作成手段と、
サポートベクトル回帰によりパラメータを推定するための関数を作成するパラメータ推定関数作成手段と、
未知のオブジェクトを撮像したときの画像データから抽出された特徴量をオブジェクト毎の部分空間に射影する部分空間射影手段と、
前記作成された関数に基づきパラメータを算出し、学習したオブジェクトのどれに該当するかを識別するパラメータ推定識別手段と
を備えることを特徴とするパラメータ推定装置。 - 前記パラメータ推定関数作成手段は、
推定したいパラメータ値が周期的である場合このパラメータ値の正弦関数及び余弦関数を新たな中問パラメータとして推定する中問パラメータ推定関数作成手段と、
前記中間パラメータに基づき前記パラメータ値を算出するパラメータ変換手段と
を備えることを特徴とする請求項1記載のパラメータ推定装置。 - パラメータ推定識別手段は、
周期的であるパラメータ値の正弦関数及び余弦関数を算出した後、これらの関数の自乗値の和を算出する識別変数計算手段と、
前記和の値に基づきオブジェクトを識別する識別変数判定手段を
備える請求項2記載のパラメータ推定装置。 - 前記識別変数判定手段は、前記和の値をS、予め設定した定数δとした場合、Sの値が1−δ≦S≦1+δであるか否か判断し、この結果に基づきオブジェクトの識別を行うこと
を請求項3記載のパラメータ推定装置。 - 画像データに含まれるオブジェクトの識別およびオブジェクトのパラメータを推定するパラメータ推定方法であって、
特徴抽出手段と、パラメータ推定関数作成手段と、部分空間射影手段と、パラメータ推定識別手段とを有し、
特徴抽出手段が入力された画像データに含まれるオブジェクトの特徴を抽出する工程と、
部分空間作成手段が主成分分析によりオブジェクトの部分空間を作成する工程と、
パラメータ推定関数作成手段がサポートベクトル回帰によりパラメータを算出するための関数を作成する工程と、
部分空間射影手段が未知のオブジェクトを撮像したときの画像データから抽出された特徴量をオブジェクト毎の部分空間に射影する工程と、
パラメータ推定識別手段が前記作成された関数に基づきパラメータを算出し予め学習したオブジェクトのどれに該当するかを識別する工程を有すること
を特徴とするパラメータ推定方法。 - 前記パラメータ推定関数作成手段の実行する工程においては、
推定したいパラメータ値が周期的である場合このパラメータ値の正弦関数及び余弦関数を新たな中問パラメータとして算出する工程と、前記中間パラメータに基づき前記パラメータ値を算出する工程とを有すること
を特徴とする請求項5記載のパラメータ推定方法。 - 前記パラメータ推定識別手段の実行する工程においては、
周期的であるパラメータ値の正弦関数及び余弦関数を算出した後、これらの関数の自乗値の和を算出する工程と、前記和の値に基づきオブジェクトを識別する工程を有すること
を特徴とする請求項6記載のパラメータ推定方法。 - 前記オブジェクトを識別する工程においては、
前記和の値をS、予め設定した定数δとした場合、Sの値が1−δ≦S≦1+δであるか否か判断し、この結果に基づきオブジェクトの識別を行うこと
を請求項7記載のパラメータ推定方法。 - 請求項5から8いずれか1項に記載のパラメータ推定方法をコンピュータに実行させるためのパラメータ推定プログラム。
- 請求項5から8のいずれか1項に記載のパラメータ推定方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003383580A JP4394930B2 (ja) | 2003-11-13 | 2003-11-13 | パラメータ推定方法とその装置、プログラム及び記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2003383580A JP4394930B2 (ja) | 2003-11-13 | 2003-11-13 | パラメータ推定方法とその装置、プログラム及び記録媒体 |
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|---|---|
| JP2005148988A true JP2005148988A (ja) | 2005-06-09 |
| JP4394930B2 JP4394930B2 (ja) | 2010-01-06 |
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ID=34692262
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003383580A Expired - Lifetime JP4394930B2 (ja) | 2003-11-13 | 2003-11-13 | パラメータ推定方法とその装置、プログラム及び記録媒体 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4394930B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008191754A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 異常検出装置および異常検出方法 |
| JP2008217521A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | パラメータ推定装置,パラメータ推定方法,その方法を実装したプログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体 |
-
2003
- 2003-11-13 JP JP2003383580A patent/JP4394930B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008191754A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 異常検出装置および異常検出方法 |
| JP2008217521A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | パラメータ推定装置,パラメータ推定方法,その方法を実装したプログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4394930B2 (ja) | 2010-01-06 |
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