JP2005148681A - Antireflection film, polarizing plate and picture display device using the antireflection film - Google Patents
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 118
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 36
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 21
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 21
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 17
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 claims abstract description 14
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims abstract description 11
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 claims abstract description 6
- -1 R 14 Chemical compound 0.000 claims description 64
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 60
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 claims description 52
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 51
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 50
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 41
- 150000001282 organosilanes Chemical class 0.000 claims description 38
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 claims description 33
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 33
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 31
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- 125000000732 arylene group Chemical group 0.000 claims description 27
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 claims description 26
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 18
- 125000003808 silyl group Chemical group [H][Si]([H])([H])[*] 0.000 claims description 18
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 claims description 16
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 claims description 16
- 229920000831 ionic polymer Polymers 0.000 claims description 14
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 12
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 12
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 claims description 11
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims description 10
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 125000004450 alkenylene group Chemical group 0.000 claims description 9
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 claims description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 claims description 6
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims description 6
- 125000005647 linker group Chemical group 0.000 claims description 6
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229920006317 cationic polymer Polymers 0.000 claims description 4
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 4
- 125000001453 quaternary ammonium group Chemical group 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 3
- 150000003839 salts Chemical group 0.000 claims description 3
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 249
- 239000010408 film Substances 0.000 description 235
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 113
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 106
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 69
- 238000000034 method Methods 0.000 description 69
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 67
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 46
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 44
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 43
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 39
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 32
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 31
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical group OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 29
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 28
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 25
- 229920002284 Cellulose triacetate Polymers 0.000 description 24
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N [(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-diacetyloxy-3-[(2s,3r,4s,5r,6r)-3,4,5-triacetyloxy-6-(acetyloxymethyl)oxan-2-yl]oxy-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-triacetyloxy-2-(acetyloxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-2-yl]methyl acetate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@@H](COC(C)=O)O1)OC(C)=O)COC(=O)C)[C@@H]1[C@@H](COC(C)=O)O[C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N 0.000 description 24
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 23
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 23
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 23
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 22
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 21
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 20
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 19
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 18
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 18
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 17
- XDLMVUHYZWKMMD-UHFFFAOYSA-N 3-trimethoxysilylpropyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCOC(=O)C(C)=C XDLMVUHYZWKMMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 16
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 16
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 15
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 15
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 14
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 14
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 14
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 13
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 12
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 12
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 10
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 9
- 125000003647 acryloyl group Chemical group O=C([*])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 9
- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 description 9
- BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N methyltrimethoxysilane Chemical compound CO[Si](C)(OC)OC BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 9
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 9
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 9
- BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N Methyl acrylate Chemical compound COC(=O)C=C BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- JJQZDUKDJDQPMQ-UHFFFAOYSA-N dimethoxy(dimethyl)silane Chemical compound CO[Si](C)(C)OC JJQZDUKDJDQPMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 8
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 8
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 8
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 8
- CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N triethoxy(methyl)silane Chemical compound CCO[Si](C)(OCC)OCC CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- MPIAGWXWVAHQBB-UHFFFAOYSA-N [3-prop-2-enoyloxy-2-[[3-prop-2-enoyloxy-2,2-bis(prop-2-enoyloxymethyl)propoxy]methyl]-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C MPIAGWXWVAHQBB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 7
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 7
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 description 7
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 7
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 7
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 7
- 238000007127 saponification reaction Methods 0.000 description 7
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 6
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 6
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 6
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 6
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 239000003504 photosensitizing agent Substances 0.000 description 6
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 6
- KBQVDAIIQCXKPI-UHFFFAOYSA-N 3-trimethoxysilylpropyl prop-2-enoate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCOC(=O)C=C KBQVDAIIQCXKPI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 5
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 5
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M Propionate Chemical compound CCC([O-])=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 5
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N Vinyl ether Chemical class C=COC=C QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 235000010724 Wisteria floribunda Nutrition 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 5
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 5
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000003373 anti-fouling effect Effects 0.000 description 5
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 5
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 5
- YYLGKUPAFFKGRQ-UHFFFAOYSA-N dimethyldiethoxysilane Chemical compound CCO[Si](C)(C)OCC YYLGKUPAFFKGRQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 5
- 150000008282 halocarbons Chemical class 0.000 description 5
- HCDGVLDPFQMKDK-UHFFFAOYSA-N hexafluoropropylene Chemical group FC(F)=C(F)C(F)(F)F HCDGVLDPFQMKDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 150000002430 hydrocarbons Chemical group 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 5
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 5
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 5
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 5
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 5
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 5
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 5
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 5
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 5
- ZLGWXNBXAXOQBG-UHFFFAOYSA-N triethoxy(3,3,3-trifluoropropyl)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCC(F)(F)F ZLGWXNBXAXOQBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N Acrylamide Chemical compound NC(=O)C=C HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N Butylmethacrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C(C)=C SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 4
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 4
- 125000000129 anionic group Chemical group 0.000 description 4
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 4
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 4
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 4
- FJKIXWOMBXYWOQ-UHFFFAOYSA-N ethenoxyethane Chemical compound CCOC=C FJKIXWOMBXYWOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000003709 fluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 4
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 4
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 4
- TZIHFWKZFHZASV-UHFFFAOYSA-N methyl formate Chemical compound COC=O TZIHFWKZFHZASV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 4
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 4
- WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N pentaerythritol Chemical compound OCC(CO)(CO)CO WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000002978 peroxides Chemical class 0.000 description 4
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 4
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 4
- 239000011164 primary particle Substances 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 4
- 229930195734 saturated hydrocarbon Natural products 0.000 description 4
- RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N silicic acid Chemical compound O[Si](O)(O)O RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 4
- VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N tetrachloromethane Chemical compound ClC(Cl)(Cl)Cl VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 229920001567 vinyl ester resin Polymers 0.000 description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 4
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 4
- VUIWJRYTWUGOOF-UHFFFAOYSA-N 2-ethenoxyethanol Chemical compound OCCOC=C VUIWJRYTWUGOOF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 3
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WVDDGKGOMKODPV-UHFFFAOYSA-N Benzyl alcohol Chemical compound OCC1=CC=CC=C1 WVDDGKGOMKODPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QGJOPFRUJISHPQ-UHFFFAOYSA-N Carbon disulfide Chemical compound S=C=S QGJOPFRUJISHPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 3
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KXKVLQRXCPHEJC-UHFFFAOYSA-N acetic acid trimethyl ester Natural products COC(C)=O KXKVLQRXCPHEJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 3
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 3
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N diethylene glycol Chemical compound OCCOCCO MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000011978 dissolution method Methods 0.000 description 3
- UIWXSTHGICQLQT-UHFFFAOYSA-N ethenyl propanoate Chemical compound CCC(=O)OC=C UIWXSTHGICQLQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- NKSJNEHGWDZZQF-UHFFFAOYSA-N ethenyl(trimethoxy)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)C=C NKSJNEHGWDZZQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 3
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 3
- 238000010528 free radical solution polymerization reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 3
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 3
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 3
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 3
- 239000002609 medium Substances 0.000 description 3
- 125000004123 n-propyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 3
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 3
- 125000003566 oxetanyl group Chemical group 0.000 description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 3
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 3
- 239000003505 polymerization initiator Substances 0.000 description 3
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 3
- NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M potassium iodide Chemical compound [K+].[I-] NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 3
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 3
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 3
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 3
- SKYXLDSRLNRAPS-UHFFFAOYSA-N 1,2,4-trifluoro-5-methoxybenzene Chemical compound COC1=CC(F)=C(F)C=C1F SKYXLDSRLNRAPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MYRTYDVEIRVNKP-UHFFFAOYSA-N 1,2-Divinylbenzene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1C=C MYRTYDVEIRVNKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JJRUAPNVLBABCN-UHFFFAOYSA-N 2-(ethenoxymethyl)oxirane Chemical compound C=COCC1CO1 JJRUAPNVLBABCN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol Chemical compound OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FDSUVTROAWLVJA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.OC(=O)C=C.OC(=O)C=C.OC(=O)C=C.OC(=O)C=C.OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO FDSUVTROAWLVJA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LWRBVKNFOYUCNP-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-1-(4-methylsulfanylphenyl)-2-morpholin-4-ylpropan-1-one Chemical compound C1=CC(SC)=CC=C1C(=O)C(C)(C)N1CCOCC1 LWRBVKNFOYUCNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 4,4'-Bis(dimethylamino)benzophenone Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(=O)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HMBNQNDUEFFFNZ-UHFFFAOYSA-N 4-ethenoxybutan-1-ol Chemical compound OCCCCOC=C HMBNQNDUEFFFNZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical compound CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000004342 Benzoyl peroxide Substances 0.000 description 2
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N Butyl acetate Natural products CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N Butyric acid Chemical compound CCCC(O)=O FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L Calcium carbonate Chemical compound [Ca+2].[O-]C([O-])=O VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229920001747 Cellulose diacetate Polymers 0.000 description 2
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 2
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acrylate Chemical compound CCOC(=O)C=C JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N Fumaric acid Chemical compound OC(=O)\C=C\C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OWYWGLHRNBIFJP-UHFFFAOYSA-N Ipazine Chemical compound CCN(CC)C1=NC(Cl)=NC(NC(C)C)=N1 OWYWGLHRNBIFJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YIVJZNGAASQVEM-UHFFFAOYSA-N Lauroyl peroxide Chemical compound CCCCCCCCCCCC(=O)OOC(=O)CCCCCCCCCCC YIVJZNGAASQVEM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 2
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 2
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 235000000126 Styrax benzoin Nutrition 0.000 description 2
- 244000028419 Styrax benzoin Species 0.000 description 2
- 235000008411 Sumatra benzointree Nutrition 0.000 description 2
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N [2-(hydroxymethyl)-3-prop-2-enoyloxy-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(CO)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000008062 acetophenones Chemical class 0.000 description 2
- 150000008065 acid anhydrides Chemical class 0.000 description 2
- HFBMWMNUJJDEQZ-UHFFFAOYSA-N acryloyl chloride Chemical compound ClC(=O)C=C HFBMWMNUJJDEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 2
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 2
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 2
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 description 2
- XYLMUPLGERFSHI-UHFFFAOYSA-N alpha-Methylstyrene Chemical compound CC(=C)C1=CC=CC=C1 XYLMUPLGERFSHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002216 antistatic agent Substances 0.000 description 2
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 150000008366 benzophenones Chemical class 0.000 description 2
- 235000019400 benzoyl peroxide Nutrition 0.000 description 2
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N butan-1-amine Chemical compound CCCCN HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NMJJFJNHVMGPGM-UHFFFAOYSA-N butyl formate Chemical compound CCCCOC=O NMJJFJNHVMGPGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- OSGAYBCDTDRGGQ-UHFFFAOYSA-L calcium sulfate Chemical compound [Ca+2].[O-]S([O-])(=O)=O OSGAYBCDTDRGGQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 description 2
- 235000013339 cereals Nutrition 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011362 coarse particle Substances 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N crotonic acid Chemical compound C\C=C\C(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- ZQMIGQNCOMNODD-UHFFFAOYSA-N diacetyl peroxide Chemical compound CC(=O)OOC(C)=O ZQMIGQNCOMNODD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 150000008049 diazo compounds Chemical class 0.000 description 2
- PKTOVQRKCNPVKY-UHFFFAOYSA-N dimethoxy(methyl)silicon Chemical compound CO[Si](C)OC PKTOVQRKCNPVKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 208000028659 discharge Diseases 0.000 description 2
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 2
- AFOSIXZFDONLBT-UHFFFAOYSA-N divinyl sulfone Chemical compound C=CS(=O)(=O)C=C AFOSIXZFDONLBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- SUPCQIBBMFXVTL-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCOC(=O)C(C)=C SUPCQIBBMFXVTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SBRXLTRZCJVAPH-UHFFFAOYSA-N ethyl(trimethoxy)silane Chemical compound CC[Si](OC)(OC)OC SBRXLTRZCJVAPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007765 extrusion coating Methods 0.000 description 2
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 description 2
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004811 fluoropolymer Substances 0.000 description 2
- WBJINCZRORDGAQ-UHFFFAOYSA-N formic acid ethyl ester Natural products CCOC=O WBJINCZRORDGAQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004313 glare Effects 0.000 description 2
- 125000003055 glycidyl group Chemical group C(C1CO1)* 0.000 description 2
- 235000019382 gum benzoic Nutrition 0.000 description 2
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N hexanoic acid Chemical compound CCCCCC(O)=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N hydrazine group Chemical group NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 2
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N isocyanate group Chemical group [N-]=C=O IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 2
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 2
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 2
- FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N methacrylamide Chemical compound CC(=C)C(N)=O FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XJRBAMWJDBPFIM-UHFFFAOYSA-N methyl vinyl ether Chemical compound COC=C XJRBAMWJDBPFIM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001570 methylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])[*:2] 0.000 description 2
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 2
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 2
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 2
- MPQXHAGKBWFSNV-UHFFFAOYSA-N oxidophosphanium Chemical class [PH3]=O MPQXHAGKBWFSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N pent‐4‐en‐2‐one Natural products CC(=O)CC=C PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 2
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 2
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 2
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 2
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 2
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012673 precipitation polymerization Methods 0.000 description 2
- HJWLCRVIBGQPNF-UHFFFAOYSA-N prop-2-enylbenzene Chemical compound C=CCC1=CC=CC=C1 HJWLCRVIBGQPNF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003847 radiation curing Methods 0.000 description 2
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 2
- 238000007142 ring opening reaction Methods 0.000 description 2
- 239000005268 rod-like liquid crystal Substances 0.000 description 2
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 241000894007 species Species 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 150000003440 styrenes Chemical class 0.000 description 2
- 239000012756 surface treatment agent Substances 0.000 description 2
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 2
- LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N tetramethyl orthosilicate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)OC LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 2
- LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N trans-crotonic acid Natural products CC=CC(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- DENFJSAFJTVPJR-UHFFFAOYSA-N triethoxy(ethyl)silane Chemical compound CCO[Si](CC)(OCC)OCC DENFJSAFJTVPJR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DQZNLOXENNXVAD-UHFFFAOYSA-N trimethoxy-[2-(7-oxabicyclo[4.1.0]heptan-4-yl)ethyl]silane Chemical compound C1C(CC[Si](OC)(OC)OC)CCC2OC21 DQZNLOXENNXVAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 2
- 210000002268 wool Anatomy 0.000 description 2
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- QNODIIQQMGDSEF-UHFFFAOYSA-N (1-hydroxycyclohexyl)-phenylmethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1(O)CCCCC1 QNODIIQQMGDSEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VLTYTTRXESKBKI-UHFFFAOYSA-N (2,4-dichlorophenyl)-phenylmethanone Chemical compound ClC1=CC(Cl)=CC=C1C(=O)C1=CC=CC=C1 VLTYTTRXESKBKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CLECMSNCZUMKLM-UHFFFAOYSA-N (4-ethenylphenyl)methanol Chemical compound OCC1=CC=C(C=C)C=C1 CLECMSNCZUMKLM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BSSNZUFKXJJCBG-OWOJBTEDSA-N (e)-but-2-enediamide Chemical compound NC(=O)\C=C\C(N)=O BSSNZUFKXJJCBG-OWOJBTEDSA-N 0.000 description 1
- BSSNZUFKXJJCBG-UPHRSURJSA-N (z)-but-2-enediamide Chemical compound NC(=O)\C=C/C(N)=O BSSNZUFKXJJCBG-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- AXSXFXHYWGEMTF-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,7,7,7-hexafluoroheptan-4-yloxy(dimethoxy)silane Chemical compound FC(CCC(O[SiH](OC)OC)CCC(F)(F)F)(F)F AXSXFXHYWGEMTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SCYULBFZEHDVBN-UHFFFAOYSA-N 1,1-Dichloroethane Chemical compound CC(Cl)Cl SCYULBFZEHDVBN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCIDUSAKPWEOX-UHFFFAOYSA-N 1,1-Difluoroethene Chemical compound FC(F)=C BQCIDUSAKPWEOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MYWOJODOMFBVCB-UHFFFAOYSA-N 1,2,6-trimethylphenanthrene Chemical compound CC1=CC=C2C3=CC(C)=CC=C3C=CC2=C1C MYWOJODOMFBVCB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WSLDOOZREJYCGB-UHFFFAOYSA-N 1,2-Dichloroethane Chemical compound ClCCCl WSLDOOZREJYCGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MSAHTMIQULFMRG-UHFFFAOYSA-N 1,2-diphenyl-2-propan-2-yloxyethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OC(C)C)C(=O)C1=CC=CC=C1 MSAHTMIQULFMRG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WNXJIVFYUVYPPR-UHFFFAOYSA-N 1,3-dioxolane Chemical compound C1COCO1 WNXJIVFYUVYPPR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WEERVPDNCOGWJF-UHFFFAOYSA-N 1,4-bis(ethenyl)benzene Chemical compound C=CC1=CC=C(C=C)C=C1 WEERVPDNCOGWJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DURPTKYDGMDSBL-UHFFFAOYSA-N 1-butoxybutane Chemical compound CCCCOCCCC DURPTKYDGMDSBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PAOHAQSLJSMLAT-UHFFFAOYSA-N 1-butylperoxybutane Chemical compound CCCCOOCCCC PAOHAQSLJSMLAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AKUNSTOMHUXJOZ-UHFFFAOYSA-N 1-hydroperoxybutane Chemical compound CCCCOO AKUNSTOMHUXJOZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012956 1-hydroxycyclohexylphenyl-ketone Substances 0.000 description 1
- IGGDKDTUCAWDAN-UHFFFAOYSA-N 1-vinylnaphthalene Chemical compound C1=CC=C2C(C=C)=CC=CC2=C1 IGGDKDTUCAWDAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 2,2'-azo-bis-isobutyronitrile Substances N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QJEJDNMGOWJONG-UHFFFAOYSA-N 2,2,3,3,4,4,5,5,6,6,7,7-dodecafluoroheptyl prop-2-enoate Chemical compound FC(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)COC(=O)C=C QJEJDNMGOWJONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PIZHFBODNLEQBL-UHFFFAOYSA-N 2,2-diethoxy-1-phenylethanone Chemical compound CCOC(OCC)C(=O)C1=CC=CC=C1 PIZHFBODNLEQBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BTJPUDCSZVCXFQ-UHFFFAOYSA-N 2,4-diethylthioxanthen-9-one Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC(CC)=CC(CC)=C3SC2=C1 BTJPUDCSZVCXFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KTIBRDNFZLYLNA-UHFFFAOYSA-N 2-(2-hydroxyethenoxy)ethenol Chemical compound OC=COC=CO KTIBRDNFZLYLNA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 2-(3-fluorophenyl)-1h-imidazole Chemical compound FC1=CC=CC(C=2NC=CN=2)=C1 JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 2-(3-phenylmethoxyphenyl)-1,3-thiazole-4-carbaldehyde Chemical compound O=CC1=CSC(C=2C=C(OCC=3C=CC=CC=3)C=CC=2)=N1 OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 2-butoxyethanol Chemical compound CCCCOCCO POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PGYJSURPYAAOMM-UHFFFAOYSA-N 2-ethenoxy-2-methylpropane Chemical compound CC(C)(C)OC=C PGYJSURPYAAOMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CEYHHQSTMVVZQP-UHFFFAOYSA-N 2-ethenoxyethanamine Chemical compound NCCOC=C CEYHHQSTMVVZQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GNUGVECARVKIPH-UHFFFAOYSA-N 2-ethenoxypropane Chemical compound CC(C)OC=C GNUGVECARVKIPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KMNCBSZOIQAUFX-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxy-1,2-diphenylethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OCC)C(=O)C1=CC=CC=C1 KMNCBSZOIQAUFX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWCABPJBWOSCPN-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxy-1,2-diphenylethanone;phenylmethanesulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)CC1=CC=CC=C1.C=1C=CC=CC=1C(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCABPJBWOSCPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000954 2-hydroxyethyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])O[H] 0.000 description 1
- BQZJOQXSCSZQPS-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-1,2-diphenylethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OC)C(=O)C1=CC=CC=C1 BQZJOQXSCSZQPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LPNSCOVIJFIXTJ-UHFFFAOYSA-N 2-methylidenebutanamide Chemical compound CCC(=C)C(N)=O LPNSCOVIJFIXTJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003504 2-oxazolinyl group Chemical group O1C(=NCC1)* 0.000 description 1
- ZHAOQAFQMBDZGX-UHFFFAOYSA-N 3-(1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-undecafluorocyclohexyl)oxypropylsilane Chemical compound FC1(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(OCCC[SiH3])C(F)(F)C1(F)F ZHAOQAFQMBDZGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FRIBMENBGGCKPD-UHFFFAOYSA-N 3-(2,3-dimethoxyphenyl)prop-2-enal Chemical compound COC1=CC=CC(C=CC=O)=C1OC FRIBMENBGGCKPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XATDOBSAOBZFCA-UHFFFAOYSA-N 3-[4-(2-carboxyethenyl)cyclohexyl]prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=CC1CCC(C=CC(O)=O)CC1 XATDOBSAOBZFCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KSCAZPYHLGGNPZ-UHFFFAOYSA-N 3-chloropropyl(triethoxy)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCCCl KSCAZPYHLGGNPZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OXYZDRAJMHGSMW-UHFFFAOYSA-N 3-chloropropyl(trimethoxy)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCCl OXYZDRAJMHGSMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZXABMDQSAABDMG-UHFFFAOYSA-N 3-ethenoxyprop-1-ene Chemical compound C=CCOC=C ZXABMDQSAABDMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KHJBJHGLAJOTTL-UHFFFAOYSA-N 3-oxopent-4-enyl 4-ethenylbenzoate Chemical compound C=CC(=O)CCOC(=O)C1=CC=C(C=C)C=C1 KHJBJHGLAJOTTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DCQBZYNUSLHVJC-UHFFFAOYSA-N 3-triethoxysilylpropane-1-thiol Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCCS DCQBZYNUSLHVJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- URDOJQUSEUXVRP-UHFFFAOYSA-N 3-triethoxysilylpropyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCCOC(=O)C(C)=C URDOJQUSEUXVRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UUEWCQRISZBELL-UHFFFAOYSA-N 3-trimethoxysilylpropane-1-thiol Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCS UUEWCQRISZBELL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKISUZLXOYGIFP-UHFFFAOYSA-N 4,4'-dichlorobenzophenone Chemical compound C1=CC(Cl)=CC=C1C(=O)C1=CC=C(Cl)C=C1 OKISUZLXOYGIFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YSYRISKCBOPJRG-UHFFFAOYSA-N 4,5-difluoro-2,2-bis(trifluoromethyl)-1,3-dioxole Chemical compound FC1=C(F)OC(C(F)(F)F)(C(F)(F)F)O1 YSYRISKCBOPJRG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DBCAQXHNJOFNGC-UHFFFAOYSA-N 4-bromo-1,1,1-trifluorobutane Chemical compound FC(F)(F)CCCBr DBCAQXHNJOFNGC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UGVRJVHOJNYEHR-UHFFFAOYSA-N 4-chlorobenzophenone Chemical compound C1=CC(Cl)=CC=C1C(=O)C1=CC=CC=C1 UGVRJVHOJNYEHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FMHKPLXYWVCLME-UHFFFAOYSA-N 4-hydroxy-valeric acid Chemical compound CC(O)CCC(O)=O FMHKPLXYWVCLME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GZVHEAJQGPRDLQ-UHFFFAOYSA-N 6-phenyl-1,3,5-triazine-2,4-diamine Chemical compound NC1=NC(N)=NC(C=2C=CC=CC=2)=N1 GZVHEAJQGPRDLQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N Acrylonitrile Chemical compound C=CC#N NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002012 Aerosil® Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005995 Aluminium silicate Substances 0.000 description 1
- 229910017008 AsF 6 Inorganic materials 0.000 description 1
- OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N Benzoylperoxide Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)OOC(=O)C1=CC=CC=C1 OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-M Butyrate Chemical compound CCCC([O-])=O FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- GAWIXWVDTYZWAW-UHFFFAOYSA-N C[CH]O Chemical group C[CH]O GAWIXWVDTYZWAW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical class S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZAFNJMIOTHYJRJ-UHFFFAOYSA-N Diisopropyl ether Chemical compound CC(C)OC(C)C ZAFNJMIOTHYJRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001050985 Disco Species 0.000 description 1
- 239000004386 Erythritol Substances 0.000 description 1
- UNXHWFMMPAWVPI-UHFFFAOYSA-N Erythritol Natural products OCC(O)C(O)CO UNXHWFMMPAWVPI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DRMVVZWKZFRHGZ-UHFFFAOYSA-N FC(CCC(CO[SiH](OCC)OCC)CCC(F)(F)F)(F)F Chemical compound FC(CCC(CO[SiH](OCC)OCC)CCC(F)(F)F)(F)F DRMVVZWKZFRHGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004640 Melamine resin Substances 0.000 description 1
- CNCOEDDPFOAUMB-UHFFFAOYSA-N N-Methylolacrylamide Chemical compound OCNC(=O)C=C CNCOEDDPFOAUMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WHNWPMSKXPGLAX-UHFFFAOYSA-N N-Vinyl-2-pyrrolidone Chemical compound C=CN1CCCC1=O WHNWPMSKXPGLAX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SUCNOSWPZATEPD-UHFFFAOYSA-N OC(=O)C=C.CO[Si](CCCOC(=O)C=C)(OC)OC Chemical class OC(=O)C=C.CO[Si](CCCOC(=O)C=C)(OC)OC SUCNOSWPZATEPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- CYTYCFOTNPOANT-UHFFFAOYSA-N Perchloroethylene Chemical group ClC(Cl)=C(Cl)Cl CYTYCFOTNPOANT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GMPDOIGGGXSAPL-UHFFFAOYSA-N Phenyl vinyl sulfide Chemical compound C=CSC1=CC=CC=C1 GMPDOIGGGXSAPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018286 SbF 6 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M Sodium acetate Chemical compound [Na+].CC([O-])=O VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 235000021355 Stearic acid Nutrition 0.000 description 1
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N Trichloroethylene Chemical group ClC=C(Cl)Cl XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane Chemical compound CCC(CO)(CO)CO ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003848 UV Light-Curing Methods 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZVQCMJNVPIDEA-UHFFFAOYSA-N [CH2]CN(CC)CC Chemical group [CH2]CN(CC)CC MZVQCMJNVPIDEA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZFBKHCHWCYNSO-UHFFFAOYSA-N [acetyloxy(phenyl)silyl] acetate Chemical compound CC(=O)O[SiH](OC(C)=O)C1=CC=CC=C1 MZFBKHCHWCYNSO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002777 acetyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)=O 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 150000003926 acrylamides Chemical class 0.000 description 1
- 150000008360 acrylonitriles Chemical class 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 125000002252 acyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004423 acyloxy group Chemical group 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000007754 air knife coating Methods 0.000 description 1
- 125000003172 aldehyde group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002723 alicyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 150000001336 alkenes Chemical class 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000005907 alkyl ester group Chemical group 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000012211 aluminium silicate Nutrition 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 229920003180 amino resin Polymers 0.000 description 1
- BFNBIHQBYMNNAN-UHFFFAOYSA-N ammonium sulfate Chemical compound N.N.OS(O)(=O)=O BFNBIHQBYMNNAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052921 ammonium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011130 ammonium sulphate Nutrition 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 150000008064 anhydrides Chemical class 0.000 description 1
- 150000004056 anthraquinones Chemical class 0.000 description 1
- 239000002519 antifouling agent Substances 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004069 aziridinyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000007611 bar coating method Methods 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- RBTOVELVJLGISG-UHFFFAOYSA-N benzenesulfonic acid;2-hydroxy-1,2-diphenylethanone Chemical compound OS(=O)(=O)C1=CC=CC=C1.C=1C=CC=CC=1C(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 RBTOVELVJLGISG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N benzophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000019445 benzyl alcohol Nutrition 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- LRHPSIAOZILDQN-UHFFFAOYSA-N bis(1-hydroxy-5,6-dimethylcyclohexa-2,4-dien-1-yl)methanone Chemical compound CC1C(C)=CC=CC1(O)C(=O)C1(O)C(C)C(C)=CC=C1 LRHPSIAOZILDQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MQDJYUACMFCOFT-UHFFFAOYSA-N bis[2-(1-hydroxycyclohexyl)phenyl]methanone Chemical compound C=1C=CC=C(C(=O)C=2C(=CC=CC=2)C2(O)CCCCC2)C=1C1(O)CCCCC1 MQDJYUACMFCOFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006664 bond formation reaction Methods 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 description 1
- 238000012662 bulk polymerization Methods 0.000 description 1
- SOKKGFZWZZLHEK-UHFFFAOYSA-N butoxy(dimethyl)silane Chemical compound CCCCO[SiH](C)C SOKKGFZWZZLHEK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N butyl acrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C=C CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000019 calcium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011089 carbon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000011203 carbon fibre reinforced carbon Substances 0.000 description 1
- 125000002915 carbonyl group Chemical group [*:2]C([*:1])=O 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 239000003093 cationic surfactant Substances 0.000 description 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000001447 compensatory effect Effects 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003851 corona treatment Methods 0.000 description 1
- 235000021438 curry Nutrition 0.000 description 1
- 238000007766 curtain coating Methods 0.000 description 1
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 1
- NLCKLZIHJQEMCU-UHFFFAOYSA-N cyano prop-2-enoate Chemical class C=CC(=O)OC#N NLCKLZIHJQEMCU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- MEWFSXFFGFDHGV-UHFFFAOYSA-N cyclohexyl(trimethoxy)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)C1CCCCC1 MEWFSXFFGFDHGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010908 decantation Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 1
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 229920005994 diacetyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- AONDIGWFVXEZGD-UHFFFAOYSA-N diacetyloxy(methyl)silicon Chemical compound CC(=O)O[Si](C)OC(C)=O AONDIGWFVXEZGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005520 diaryliodonium group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012954 diazonium Substances 0.000 description 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-O diazynium Chemical compound [NH+]#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- KTQYJQFGNYHXMB-UHFFFAOYSA-N dichloro(methyl)silicon Chemical compound C[Si](Cl)Cl KTQYJQFGNYHXMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XNAFLNBULDHNJS-UHFFFAOYSA-N dichloro(phenyl)silicon Chemical compound Cl[Si](Cl)C1=CC=CC=C1 XNAFLNBULDHNJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZMAPKOCENOWQRE-UHFFFAOYSA-N diethoxy(diethyl)silane Chemical compound CCO[Si](CC)(CC)OCC ZMAPKOCENOWQRE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZZNQQQWFKKTOSD-UHFFFAOYSA-N diethoxy(diphenyl)silane Chemical compound C=1C=CC=CC=1[Si](OCC)(OCC)C1=CC=CC=C1 ZZNQQQWFKKTOSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HZLIIKNXMLEWPA-UHFFFAOYSA-N diethoxy(dipropyl)silane Chemical compound CCC[Si](CCC)(OCC)OCC HZLIIKNXMLEWPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GAURFLBIDLSLQU-UHFFFAOYSA-N diethoxy(methyl)silicon Chemical compound CCO[Si](C)OCC GAURFLBIDLSLQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IEMUNGFKPOYWHY-UHFFFAOYSA-N diethoxy-bis(3,3,3-trifluoropropyl)silane Chemical compound FC(F)(F)CC[Si](OCC)(CCC(F)(F)F)OCC IEMUNGFKPOYWHY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VSYLGGHSEIWGJV-UHFFFAOYSA-N diethyl(dimethoxy)silane Chemical compound CC[Si](CC)(OC)OC VSYLGGHSEIWGJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- AHUXYBVKTIBBJW-UHFFFAOYSA-N dimethoxy(diphenyl)silane Chemical compound C=1C=CC=CC=1[Si](OC)(OC)C1=CC=CC=C1 AHUXYBVKTIBBJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JVUVKQDVTIIMOD-UHFFFAOYSA-N dimethoxy(dipropyl)silane Chemical compound CCC[Si](OC)(OC)CCC JVUVKQDVTIIMOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CIQDYIQMZXESRD-UHFFFAOYSA-N dimethoxy(phenyl)silane Chemical compound CO[SiH](OC)C1=CC=CC=C1 CIQDYIQMZXESRD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YQGOWXYZDLJBFL-UHFFFAOYSA-N dimethoxysilane Chemical compound CO[SiH2]OC YQGOWXYZDLJBFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZIDTUTFKRRXWTK-UHFFFAOYSA-N dimethyl(dipropoxy)silane Chemical compound CCCO[Si](C)(C)OCCC ZIDTUTFKRRXWTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BEHPKGIJAWBJMV-UHFFFAOYSA-N dimethyl(propoxy)silane Chemical compound CCCO[SiH](C)C BEHPKGIJAWBJMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- VFHVQBAGLAREND-UHFFFAOYSA-N diphenylphosphoryl-(2,4,6-trimethylphenyl)methanone Chemical compound CC1=CC(C)=CC(C)=C1C(=O)P(=O)(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 VFHVQBAGLAREND-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- POLCUAVZOMRGSN-UHFFFAOYSA-N dipropyl ether Chemical compound CCCOCCC POLCUAVZOMRGSN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004815 dispersion polymer Substances 0.000 description 1
- 238000010130 dispersion processing Methods 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 150000002019 disulfides Chemical class 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000000635 electron micrograph Methods 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007720 emulsion polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- UNXHWFMMPAWVPI-ZXZARUISSA-N erythritol Chemical compound OC[C@H](O)[C@H](O)CO UNXHWFMMPAWVPI-ZXZARUISSA-N 0.000 description 1
- 229940009714 erythritol Drugs 0.000 description 1
- 235000019414 erythritol Nutrition 0.000 description 1
- WGXGKXTZIQFQFO-CMDGGOBGSA-N ethenyl (e)-3-phenylprop-2-enoate Chemical compound C=COC(=O)\C=C\C1=CC=CC=C1 WGXGKXTZIQFQFO-CMDGGOBGSA-N 0.000 description 1
- FWDBOZPQNFPOLF-UHFFFAOYSA-N ethenyl(triethoxy)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)C=C FWDBOZPQNFPOLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DRUOQOFQRYFQGB-UHFFFAOYSA-N ethoxy(dimethyl)silicon Chemical compound CCO[Si](C)C DRUOQOFQRYFQGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XYIBRDXRRQCHLP-UHFFFAOYSA-N ethyl acetoacetate Chemical compound CCOC(=O)CC(C)=O XYIBRDXRRQCHLP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- STVZJERGLQHEKB-UHFFFAOYSA-N ethylene glycol dimethacrylate Substances CC(=C)C(=O)OCCOC(=O)C(C)=C STVZJERGLQHEKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000816 ethylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- MDQRDWAGHRLBPA-UHFFFAOYSA-N fluoroamine Chemical class FN MDQRDWAGHRLBPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUCNUKMRBVNAPB-UHFFFAOYSA-N fluoroethene Chemical group FC=C XUCNUKMRBVNAPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001530 fumaric acid Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000004817 gas chromatography Methods 0.000 description 1
- VOZRXNHHFUQHIL-UHFFFAOYSA-N glycidyl methacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1CO1 VOZRXNHHFUQHIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 1
- CZWLNMOIEMTDJY-UHFFFAOYSA-N hexyl(trimethoxy)silane Chemical compound CCCCCC[Si](OC)(OC)OC CZWLNMOIEMTDJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical class I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005660 hydrophilic surface Effects 0.000 description 1
- 125000002768 hydroxyalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 1
- 150000008040 ionic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- GJRQTCIYDGXPES-UHFFFAOYSA-N iso-butyl acetate Natural products CC(C)COC(C)=O GJRQTCIYDGXPES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FGKJLKRYENPLQH-UHFFFAOYSA-M isocaproate Chemical compound CC(C)CCC([O-])=O FGKJLKRYENPLQH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- JMMWKPVZQRWMSS-UHFFFAOYSA-N isopropanol acetate Natural products CC(C)OC(C)=O JMMWKPVZQRWMSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940011051 isopropyl acetate Drugs 0.000 description 1
- GWYFCOCPABKNJV-UHFFFAOYSA-N isovaleric acid Chemical compound CC(C)CC(O)=O GWYFCOCPABKNJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OQAGVSWESNCJJT-UHFFFAOYSA-N isovaleric acid methyl ester Natural products COC(=O)CC(C)C OQAGVSWESNCJJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N kaolin Chemical compound O.O.O=[Al]O[Si](=O)O[Si](=O)O[Al]=O NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005453 ketone based solvent Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JDSHMPZPIAZGSV-UHFFFAOYSA-N melamine Chemical compound NC1=NC(N)=NC(N)=N1 JDSHMPZPIAZGSV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002734 metacrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- MDLRQEHNDJOFQN-UHFFFAOYSA-N methoxy(dimethyl)silicon Chemical compound CO[Si](C)C MDLRQEHNDJOFQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZQMHJBXHRFJKOT-UHFFFAOYSA-N methyl 2-[(1-methoxy-2-methyl-1-oxopropan-2-yl)diazenyl]-2-methylpropanoate Chemical compound COC(=O)C(C)(C)N=NC(C)(C)C(=O)OC ZQMHJBXHRFJKOT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RJMRIDVWCWSWFR-UHFFFAOYSA-N methyl(tripropoxy)silane Chemical compound CCCO[Si](C)(OCCC)OCCC RJMRIDVWCWSWFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005048 methyldichlorosilane Substances 0.000 description 1
- LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N methylenebutanedioic acid Natural products OC(=O)CC(=C)C(O)=O LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- ZIUHHBKFKCYYJD-UHFFFAOYSA-N n,n'-methylenebisacrylamide Chemical compound C=CC(=O)NCNC(=O)C=C ZIUHHBKFKCYYJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YKYONYBAUNKHLG-UHFFFAOYSA-N n-Propyl acetate Natural products CCCOC(C)=O YKYONYBAUNKHLG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GKTNLYAAZKKMTQ-UHFFFAOYSA-N n-[bis(dimethylamino)phosphinimyl]-n-methylmethanamine Chemical class CN(C)P(=N)(N(C)C)N(C)C GKTNLYAAZKKMTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001280 n-hexyl group Chemical group C(CCCCC)* 0.000 description 1
- GCGQYJSQINRKQL-UHFFFAOYSA-N n-hexylprop-2-enamide Chemical compound CCCCCCNC(=O)C=C GCGQYJSQINRKQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000740 n-pentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- ALIFPGGMJDWMJH-UHFFFAOYSA-N n-phenyldiazenylaniline Chemical compound C=1C=CC=CC=1NN=NC1=CC=CC=C1 ALIFPGGMJDWMJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XFHJDMUEHUHAJW-UHFFFAOYSA-N n-tert-butylprop-2-enamide Chemical compound CC(C)(C)NC(=O)C=C XFHJDMUEHUHAJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005487 naphthalate group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- LQNUZADURLCDLV-UHFFFAOYSA-N nitrobenzene Chemical compound [O-][N+](=O)C1=CC=CC=C1 LQNUZADURLCDLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000006502 nitrobenzyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 1
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 1
- JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N norbornene Chemical compound C1[C@@H]2CC[C@H]1C=C2 JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N 0.000 description 1
- QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC(O)=O QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Natural products CCCCCCCC(C)CCCCCCCCC(O)=O OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 150000001451 organic peroxides Chemical class 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000005459 perfluorocyclohexyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000951 phenoxy group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(O*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- 125000004437 phosphorous atom Chemical group 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920001228 polyisocyanate Polymers 0.000 description 1
- 239000005056 polyisocyanate Substances 0.000 description 1
- 238000001955 polymer synthesis method Methods 0.000 description 1
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 1
- 229920005862 polyol Polymers 0.000 description 1
- 150000003077 polyols Chemical class 0.000 description 1
- 150000007519 polyprotic acids Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 229920000036 polyvinylpyrrolidone Polymers 0.000 description 1
- 239000001267 polyvinylpyrrolidone Substances 0.000 description 1
- 235000013855 polyvinylpyrrolidone Nutrition 0.000 description 1
- USHAGKDGDHPEEY-UHFFFAOYSA-L potassium persulfate Chemical compound [K+].[K+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O USHAGKDGDHPEEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 description 1
- FBCQUCJYYPMKRO-UHFFFAOYSA-N prop-2-enyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC=C FBCQUCJYYPMKRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTECDUFMBMSHKR-UHFFFAOYSA-N prop-2-enyl prop-2-enoate Chemical compound C=CCOC(=O)C=C QTECDUFMBMSHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FVSKHRXBFJPNKK-UHFFFAOYSA-N propionitrile Chemical compound CCC#N FVSKHRXBFJPNKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940090181 propyl acetate Drugs 0.000 description 1
- 125000004805 propylene group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- 238000005510 radiation hardening Methods 0.000 description 1
- 239000007870 radical polymerization initiator Substances 0.000 description 1
- 229920005604 random copolymer Polymers 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 230000001846 repelling effect Effects 0.000 description 1
- 238000001226 reprecipitation Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
- 238000007151 ring opening polymerisation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007761 roller coating Methods 0.000 description 1
- SPNAQSNLZHHUIJ-UHFFFAOYSA-N s-[4-[4-(2-methylprop-2-enoylsulfanyl)phenyl]sulfanylphenyl] 2-methylprop-2-enethioate Chemical compound C1=CC(SC(=O)C(=C)C)=CC=C1SC1=CC=C(SC(=O)C(C)=C)C=C1 SPNAQSNLZHHUIJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002914 sec-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 1
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001632 sodium acetate Substances 0.000 description 1
- 235000017281 sodium acetate Nutrition 0.000 description 1
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000008117 stearic acid Substances 0.000 description 1
- 125000005504 styryl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000005846 sugar alcohols Polymers 0.000 description 1
- 125000000020 sulfo group Chemical group O=S(=O)([*])O[H] 0.000 description 1
- 150000003460 sulfonic acids Chemical class 0.000 description 1
- 125000004434 sulfur atom Chemical group 0.000 description 1
- 238000010557 suspension polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000000454 talc Substances 0.000 description 1
- 229910052623 talc Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- OQTSOKXAWXRIAC-UHFFFAOYSA-N tetrabutan-2-yl silicate Chemical compound CCC(C)O[Si](OC(C)CC)(OC(C)CC)OC(C)CC OQTSOKXAWXRIAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UQMOLLPKNHFRAC-UHFFFAOYSA-N tetrabutyl silicate Chemical compound CCCCO[Si](OCCCC)(OCCCC)OCCCC UQMOLLPKNHFRAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229950011008 tetrachloroethylene Drugs 0.000 description 1
- BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N tetrafluoroethene Chemical group FC(F)=C(F)F BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000383 tetramethylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- ZUEKXCXHTXJYAR-UHFFFAOYSA-N tetrapropan-2-yl silicate Chemical compound CC(C)O[Si](OC(C)C)(OC(C)C)OC(C)C ZUEKXCXHTXJYAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZQZCOBSUOFHDEE-UHFFFAOYSA-N tetrapropyl silicate Chemical compound CCCO[Si](OCCC)(OCCC)OCCC ZQZCOBSUOFHDEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BCLLLHFGVQKVKL-UHFFFAOYSA-N tetratert-butyl silicate Chemical compound CC(C)(C)O[Si](OC(C)(C)C)(OC(C)(C)C)OC(C)(C)C BCLLLHFGVQKVKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 1
- YRHRIQCWCFGUEQ-UHFFFAOYSA-N thioxanthen-9-one Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC=CC=C3SC2=C1 YRHRIQCWCFGUEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 125000005369 trialkoxysilyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000005409 triarylsulfonium group Chemical group 0.000 description 1
- GYZQBXUDWTVJDF-UHFFFAOYSA-N tributoxy(methyl)silane Chemical compound CCCCO[Si](C)(OCCCC)OCCCC GYZQBXUDWTVJDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N tributylphosphine Chemical compound CCCCP(CCCC)CCCC TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UBOXGVDOUJQMTN-UHFFFAOYSA-N trichloroethylene Natural products ClCC(Cl)Cl UBOXGVDOUJQMTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N trichlorosilane Chemical compound Cl[SiH](Cl)Cl ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005052 trichlorosilane Substances 0.000 description 1
- MLXDKRSDUJLNAB-UHFFFAOYSA-N triethoxy(3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,10,10,10-heptadecafluorodecyl)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F MLXDKRSDUJLNAB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JCVQKRGIASEUKR-UHFFFAOYSA-N triethoxy(phenyl)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)C1=CC=CC=C1 JCVQKRGIASEUKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NBXZNTLFQLUFES-UHFFFAOYSA-N triethoxy(propyl)silane Chemical compound CCC[Si](OCC)(OCC)OCC NBXZNTLFQLUFES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JXUKBNICSRJFAP-UHFFFAOYSA-N triethoxy-[3-(oxiran-2-ylmethoxy)propyl]silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCCOCC1CO1 JXUKBNICSRJFAP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QQQSFSZALRVCSZ-UHFFFAOYSA-N triethoxysilane Chemical compound CCO[SiH](OCC)OCC QQQSFSZALRVCSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQYALQRYBUJWDH-UHFFFAOYSA-N trimethoxy(propyl)silane Chemical compound CCC[Si](OC)(OC)OC HQYALQRYBUJWDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPSIOYPQMFLKFR-UHFFFAOYSA-N trimethoxy-[3-(oxiran-2-ylmethoxy)propyl]silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCOCC1CO1 BPSIOYPQMFLKFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YUYCVXFAYWRXLS-UHFFFAOYSA-N trimethoxysilane Chemical compound CO[SiH](OC)OC YUYCVXFAYWRXLS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QXJQHYBHAIHNGG-UHFFFAOYSA-N trimethylolethane Chemical compound OCC(C)(CO)CO QXJQHYBHAIHNGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006097 ultraviolet radiation absorber Substances 0.000 description 1
- NQPDZGIKBAWPEJ-UHFFFAOYSA-N valeric acid Chemical compound CCCCC(O)=O NQPDZGIKBAWPEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLVXSWCKKBEXTG-UHFFFAOYSA-N vinylsulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)C=C NLVXSWCKKBEXTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Laminated Bodies (AREA)
- Polarising Elements (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
Abstract
Description
本発明は、反射防止フィルム、該反射防止フィルムを用いた偏光板および画像表示装置に関する。 The present invention relates to an antireflection film, a polarizing plate using the antireflection film, and an image display device.
反射防止フィルムは、一般に、陰極管表示装置(CRT)、プラズマディスプレイ(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)や液晶表示装置(LCD)のようなディスプレイ装置において、外光の反射によるコントラスト低下や像の映りこみを防止するために、光学干渉の原理を用いて反射率を低減するようにディスプレイの最表面に配置される。
従来、反射防止膜としては、金属酸化物の透明薄膜を、様々な波長の光の反射を防止するために複数層積層させた多層膜が普通に用いられている。金属酸化物の透明薄膜は、化学蒸着(CVD)法や物理蒸着(PVD)法、特に物理蒸着法の一種である真空蒸着法により形成されている。この金属酸化物の透明薄膜は、反射防止膜として優れた光学的性能を有しているが、蒸着による形成方法は生産性が低く大量生産に適していないので、蒸着法に代えて、無機微粒子の塗布により反射防止膜を形成する方法が提案されている(例えば、特許文献1〜7参照)。
In general, antireflection films are used for display devices such as cathode ray tube display (CRT), plasma display (PDP), electroluminescence display (ELD), and liquid crystal display (LCD). In order to prevent reflection of light, it is arranged on the outermost surface of the display so as to reduce the reflectance by using the principle of optical interference.
Conventionally, a multilayer film obtained by laminating a plurality of metal oxide transparent thin films in order to prevent reflection of light of various wavelengths is usually used as the antireflection film. The transparent thin film of metal oxide is formed by a chemical vapor deposition (CVD) method or a physical vapor deposition (PVD) method, particularly a vacuum vapor deposition method which is a kind of physical vapor deposition method. This metal oxide transparent thin film has excellent optical performance as an antireflection film, but the formation method by vapor deposition is low in productivity and is not suitable for mass production. There has been proposed a method of forming an antireflection film by coating (see, for example, Patent Documents 1 to 7).
しかしながら、例えば高屈折率層と低屈折率層を積層させたような多層膜からなる反射防止フィルムにおいては、基材や塗膜上にゴミ、ほこりなどの異物が存在したときに、その部分の膜厚の乱れが生じると、大きく色味、反射率が変わることになり、その部分が塗膜の輝点欠陥として目立ちやすくなることが問題であった。特に、蒸着方式に比べ塗布により膜形成を行う塗布方式では、塗布液に流動性があるため、異物が存在する部分で、異物部への液のより、はじき等が発生し、膜厚の乱れる部分が大きくなり、核となる異物に対して塗膜の輝点欠陥が大きく、目立ちやすくなる。この輝点欠陥の数が多いと、製造時の得率が低くなり、特に画面の大型化が進んでいる近年においては大きな問題であった。 更に画面を黒表示した時には、グレイに近く色味を感じないことが好まれるが、グレイ付近ではわずかな輝点欠陥でも目立ってしまうので問題であった。
このような輝点欠陥の原因となる異物の塗布層への混入を防ぐ方法として、製造設備の塵埃を取り除くことが考えられるが、そのためには大型かつ高価な設備が必要となってしまいコスト面で問題があった。
It is conceivable to remove dust from the manufacturing equipment as a method for preventing foreign matter that causes such bright spot defects from being mixed into the coating layer, but this requires a large and expensive equipment, which is costly. There was a problem.
本発明の目的は、反射率が低くかつ輝点欠陥の数が少なく、しかも生産性よく低コストで製造できる反射防止フィルムを提供することにある。本発明の他の目的は、該反射防止フィルムを用いた偏光板を提供することにある。
また、本発明のさらなる目的は、輝点欠陥が少なく、映りこみが少ない画像表示装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an antireflection film that has a low reflectance, has a small number of bright spot defects, and can be manufactured with high productivity and low cost. Another object of the present invention is to provide a polarizing plate using the antireflection film.
A further object of the present invention is to provide an image display device with few bright spot defects and little reflection.
本発明者らは鋭意検討の結果、下記構成の反射防止フィルム、偏光板、画像表示装置により上記目的が達成できることを見出した。
(1)透明支持体上に、少なくとも光拡散層と低屈折率層とを有する反射防止フィルムであって、該光拡散層が、少なくとも透光性樹脂からなるマトリックス中に、少なくとも1種の透光性粒子が分散してなり、該マトリックスと該透光性粒子との屈折率差が0.02〜0.2であり、該低屈折率層の屈折率が1.20〜1.50であり、50μm以上の大きさの輝点欠陥の数が20個/m2以下であることを特徴とする反射防止フィルム。
(2)透明支持体上に少なくとも1層の帯電防止層を有することを特徴とする上記(1)に記載の反射防止フィルム。
(3)波長380nmから780nmまでの領域におけるCIE標準光源D65の5度入射光に対する正反射光のCIE1976L*a*b*色空間のa*、b*値が、それぞれ−7≦a*≦7、−10≦b*≦10であることを特徴とする上記(1)または(2)に記載の反射防止フィルム。
(4)帯電防止層が、導電性材料として、イオン性高分子化合物および導電性無機微粒子から選ばれる少なくとも1種を含有することを特徴とする上記(1)〜(3)のいずれかに記載の反射防止フィルム。
(5)イオン性高分子化合物が分子架橋を有する4級アンモニウムカチオンポリマーであることを特徴とする上記(1)〜(4)のいずれかに記載の反射防止フィルム。
(6)イオン性高分子化合物が下記一般式(1)、(1a)および(1b)で表される構造のユニットを有するポリマーであることを特徴とする上記(1)〜(5)のいずれかに記載の反射防止フィルム。
As a result of intensive studies, the present inventors have found that the above object can be achieved by an antireflection film, a polarizing plate and an image display device having the following constitution.
(1) An antireflection film having at least a light diffusion layer and a low refractive index layer on a transparent support, wherein the light diffusion layer is at least one kind of transparent material in a matrix made of at least a light-transmitting resin. The optical particles are dispersed, the refractive index difference between the matrix and the translucent particles is 0.02 to 0.2, and the refractive index of the low refractive index layer is 1.20 to 1.50. An antireflection film, wherein the number of bright spot defects having a size of 50 μm or more is 20 / m 2 or less.
(2) The antireflection film as described in (1) above, which has at least one antistatic layer on a transparent support.
(3) The CIE1976L * a * b * color space a * and b * values of specularly reflected light with respect to the incident light of 5 degrees of the CIE standard light source D65 in the wavelength range of 380 nm to 780 nm are −7 ≦ a * ≦ 7, respectively. -10 <= b * <= 10, The antireflection film as described in said (1) or (2) characterized by the above-mentioned.
(4) The antistatic layer contains at least one selected from an ionic polymer compound and conductive inorganic fine particles as a conductive material, according to any one of (1) to (3) above Antireflection film.
(5) The antireflection film as described in any one of (1) to (4) above, wherein the ionic polymer compound is a quaternary ammonium cationic polymer having molecular crosslinking.
(6) Any of the above (1) to (5), wherein the ionic polymer compound is a polymer having a unit having a structure represented by the following general formulas (1), (1a) and (1b) An antireflection film according to claim 1.
一般式(1)中、R1は水素原子、炭素数1〜4のアルキル基、ハロゲン原子または−CH2COO-M+を表す。Yは水素原子または−COO-M+を表す。Lは−CONH−、−COO−、−CO−または−O−を表す。Jは炭素数1〜12のアルキレン基またはアリーレン基を表す。Qは下記群Aから選ばれる基を表す。 In the general formula (1), R 1 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, a halogen atom, or —CH 2 COO − M + . Y represents a hydrogen atom or —COO − M + . L represents -CONH-, -COO-, -CO- or -O-. J represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or an arylene group. Q represents a group selected from the following group A.
M+はプロトンまたはカチオンを表す。R2、R2'およびR2"はそれぞれ独立に炭素数1〜4のアルキル基を表す。X-はアニオンを表す。pおよびqはそれぞれ独立に0または1を表す。 M + represents a proton or a cation. R 2 , R 2 ′ and R 2 ″ each independently represents an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. X − represents an anion. P and q each independently represent 0 or 1.
一般式(1a)、(1b)中、R3、R4、R5およびR6は炭素数1〜4の置換または未置換のアルキル基を表し、R3とR4、R5とR6はそれぞれ互いに結合して含窒素複素環を形成してもよい。A、BおよびDはそれぞれ独立に炭素数2〜10の置換または無置換のアルキレン基、アリーレン基、アルケニレン基、アリーレンアルキレン基、−R7COR8−、−R9COOR10OCOR11−、−R12OCR13COOR14−、−R15−(OR16)m−、−R17CONHR18NHCOR19−、−R20OCONHR21NHCOR22−または―R23NHCONHR24NHCONHR25−を表す。R7、R8、R9、R11、R12、R14、R15、R16、R17、R19、R20、R22、R23およびR25はアルキレン基を表す。R10、R13、R18、R21およびR24はそれぞれ置換または無置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレン基、アリーレンアルキレン基およびアルキレンアリーレン基から選ばれる連結基を表す。mは1〜4の正の整数を表す。X‐はアニオンを表す。Eは単結合、−NHCOR26CONH−および前記Dから選ばれる基を表す。R26は置換あるいは無置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレン基、アリーレンアルキレン基またはアルキレンアリーレン基を表す。Z1、Z2は−N=C−基とともに5員または6員環を形成するのに必要な非金属原子群を表し、≡N+[X-]−なる4級塩の形でEに連結してもよい。nは5〜300の整数を表す。
In the general formulas (1a) and (1b), R 3 , R 4 , R 5 and R 6 represent a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, R 3 and R 4 , R 5 and R 6. May be bonded to each other to form a nitrogen-containing heterocycle. A, B and D are each independently a substituted or unsubstituted alkylene group having 2 to 10 carbon atoms, an arylene group, an alkenylene group, an arylene alkylene group, —R 7 COR 8 —, —R 9 COOR 10 OCOR 11 —, — R 12 OCR 13 COOR 14 -, - R 15 - (oR 16) m -, -
(7)低屈折率層が、下記一般式(2)で示されるオルガノシラン化合物(A)の加水分解物および/またはその部分縮合物を含有する組成物から形成されたことを特徴とする上記(1)〜(6)のいずれかに記載の反射防止フィルム。 (7) The low refractive index layer is formed from a composition containing a hydrolyzate of the organosilane compound (A) represented by the following general formula (2) and / or a partial condensate thereof: The antireflection film according to any one of (1) to (6).
一般式(2) (R)m1Si(X)m2 General formula (2) (R) m1 Si (X) m2
一般式(2)中、Xは−OH、ハロゲン原子、−OR30または−OCOR30を表す。RおよびR30はそれぞれ炭素数1〜10のアルキル基を表す。m1およびm2はそれぞれ整数を表し、m1+m2=4を満たす。 In general formula (2), X represents —OH, a halogen atom, —OR 30 or —OCOR 30 . R and R 30 each represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. m1 and m2 each represent an integer and satisfy m1 + m2 = 4.
(8)前記オルガノシラン化合物(A)の加水分解物および/またはその部分縮合物を含有する組成物が、下記オルガノシラン(B)および(C)の加水分解物および/またはその部分縮合物を含有し、該組成物中にオルガノシラン(C)の加水分解物および/またはその部分縮合物をオルガノシラン(B)のそれに対し2〜150質量%含み、オルガノシラン(B)および(C)の少なくとも一方が一般式中のR31にフッ素原子を有することを特徴とする上記(7)に記載の反射防止フィルム。
(B)一般式(2b):R31Si(X1)3(式中、R31は炭素数1〜10の有機基、X1は前記一般式(2)中のXと同一の内容を表す。)で表されるオルガノシラン。
(C)一般式(2c):(R31)2Si(X1)2(式中、R31、X1は前記(B)で定義されたと同一の内容を表す。)で表されるオルガノシラン。
(9)前記オルガノシラン化合物(A)の加水分解物および/またはその部分縮合物を含有する組成物が、末端あるいは側鎖に加水分解性基および/または水酸基と結合したケイ素原子を有するシリル基を重合体中に少なくとも1個有するシリル基含有ビニルポリマー(D)を含有することを特徴とする上記(8)に記載の反射防止フィルム。
(8) The composition containing the hydrolyzate of the organosilane compound (A) and / or a partial condensate thereof comprises the following hydrolyzate of organosilanes (B) and (C) and / or a partial condensate thereof: The composition contains a hydrolyzate of organosilane (C) and / or a partial condensate thereof in an amount of 2 to 150% by weight based on that of organosilane (B), and contains organosilane (B) and (C). At least one has a fluorine atom in R < 31 > in general formula, The antireflection film as described in said (7) characterized by the above-mentioned.
(B) General formula (2b): R 31 Si (X 1 ) 3 (wherein R 31 is an organic group having 1 to 10 carbon atoms, and X 1 has the same contents as X in the general formula (2)). Organosilane represented by:
(C) Organo represented by general formula (2c): (R 31 ) 2 Si (X 1 ) 2 (wherein R 31 and X 1 represent the same contents as defined in (B) above). Silane.
(9) A silyl group having a silicon atom bonded to a hydrolyzable group and / or a hydroxyl group at a terminal or a side chain, wherein the composition containing the hydrolyzate of the organosilane compound (A) and / or a partial condensate thereof The antireflection film as described in (8) above, which contains a silyl group-containing vinyl polymer (D) having at least one in the polymer.
(10)光拡散層および低屈折率層が、米国連邦規定209Eにおける空気清浄の規定に基づいたクラス10以上の清浄度の空気雰囲気下で形成されたことを特徴とする請求項1〜9に記載の反射防止フィルム。
(11)偏光子が2枚の保護フィルムに挟持された偏光板であって、少なくとも1枚の保護フィルムが上記(1)〜(10)のいずれかに記載の反射防止フィルムであることを特徴とする偏光板。
(12)上記(1)〜(10)のいずれかに記載の反射防止フィルムまたは上記(11)に記載の偏光板をディスプレイの最表面に備えることを特徴とする画像表示装置。
(10) The light diffusing layer and the low-refractive index layer are formed in an air atmosphere having a cleanliness of class 10 or higher based on air cleanliness regulations in US Federal Regulations 209E. The antireflection film as described.
(11) The polarizer is a polarizing plate sandwiched between two protective films, and at least one protective film is the antireflection film according to any one of (1) to (10) above. A polarizing plate.
(12) An image display device comprising the antireflection film according to any one of (1) to (10) or the polarizing plate according to (11) on an outermost surface of a display.
本発明の反射防止フィルムは、反射率が低くかつ輝点欠陥の数が少なく、しかも生産性よく低コストで製造できる点に優れている。また、本発明の反射防止フィルムは、防汚性や耐擦傷性にも優れたフィルムとすることができる。
さらに、本発明の反射防止フィルムは、偏光板の保護フィルムとしても好適に用いることでき、それにより反射防止性を備えた偏光板を提供することができる。これらの、本発明の反射防止フィルム、偏光板を用いた画像表示装置では、視認性に優れ、表示品位の高い画像表示を行うことができる。
The antireflection film of the present invention is excellent in that it has a low reflectance, has a small number of bright spot defects, and can be produced with high productivity and low cost. Moreover, the antireflection film of the present invention can be a film having excellent antifouling properties and scratch resistance.
Furthermore, the antireflection film of the present invention can be suitably used as a protective film for a polarizing plate, thereby providing a polarizing plate having antireflection properties. In these image display apparatuses using the antireflection film and polarizing plate of the present invention, it is possible to perform image display with excellent visibility and high display quality.
以下、本発明について更に説明する。
まず、本発明の反射防止フィルムの好適な一実施形態を図面を参照しながら説明する。
図1(a)に、本発明に係る反射防止フィルムの一実施形態の断面図を模式的に示す。図1(a)に示すように、本実施形態の反射防止フィルムは、透明支持体1上に、光拡散層6そして低屈折率層4をこの順序で有する層構成を有する。光拡散層6は、少なくとも透光性樹脂からなるマトリックス中に少なくとも1種の透光性粒子7が分散してなり、光拡散層6の透光性粒子7とマトリックスとの屈折率差は0.02〜0.2である。低屈折率層4の屈折率は1.20〜1.50の範囲である。
本発明の反射防止フィルムにおいては、ハードコート層や帯電防止層などの機能層を設けてもよい。図1(b)に示すように、例えば、透明支持体1と光拡散層6の間に機能層2は設けることができる。機能層2は、1層でもよいし、複数層、例えば2層〜4層で構成されていてもよい。低屈折率層4は最外層に塗設される。
以下、各層について説明する。なお、本願明細書において、「数値A」〜「数値B」という記載は、「数値A以上数値B以下」の意味を表す。
The present invention will be further described below.
First, a preferred embodiment of the antireflection film of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1A schematically shows a cross-sectional view of one embodiment of the antireflection film according to the present invention. As shown in FIG. 1A, the antireflection film of this embodiment has a layer structure having a
In the antireflection film of the present invention, a functional layer such as a hard coat layer or an antistatic layer may be provided. As shown in FIG. 1B, for example, the
Hereinafter, each layer will be described. In the present specification, the description “numerical value A” to “numerical value B” represents the meaning of “numerical value A to numerical value B”.
[光拡散層]
光拡散層は、少なくとも透光性樹脂からなるマトリックス中に透光性粒子が分散されて形成される。透光性樹脂は主にバインダーとして機能し、層にハードコート性を付与する。マトリックス中には、層の高屈折率化、架橋収縮防止、高強度化のための無機フィラーを有してもよい。透光性粒子は、主に防眩性を付与あるいは視野角依存性を低減するために添加される。
[Light diffusion layer]
The light diffusion layer is formed by dispersing translucent particles in a matrix made of at least translucent resin. The translucent resin mainly functions as a binder and imparts hard coat properties to the layer. The matrix may have an inorganic filler for increasing the refractive index of the layer, preventing crosslinking shrinkage, and increasing the strength. The translucent particles are added mainly for imparting antiglare properties or reducing viewing angle dependency.
透光性樹脂としては、飽和炭化水素鎖またはポリエーテル鎖を主鎖として有するポリマーであることが好ましく、飽和炭化水素鎖を主鎖として有するポリマーであることがさらに好ましい。また、バインダーポリマーとしては架橋構造を有することが好ましい。
飽和炭化水素鎖を主鎖として有するバインダーポリマーとしては、エチレン性不飽和モノマーの重合体が好ましい。飽和炭化水素鎖を主鎖として有し、かつ架橋構造を有するバインダーポリマーとしては、二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーの(共)重合体が好ましい。
層を高屈折率にするためには、このモノマーの構造中に芳香族環や、フッ素以外のハロゲン原子、硫黄原子、リン原子、及び窒素原子から選ばれた少なくとも1種の原子を含むことが好ましい。
The translucent resin is preferably a polymer having a saturated hydrocarbon chain or a polyether chain as a main chain, and more preferably a polymer having a saturated hydrocarbon chain as a main chain. The binder polymer preferably has a crosslinked structure.
As the binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as a main chain, a polymer of an ethylenically unsaturated monomer is preferable. As the binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as the main chain and having a crosslinked structure, a (co) polymer of monomers having two or more ethylenically unsaturated groups is preferable.
In order to make the layer have a high refractive index, the monomer structure must contain at least one atom selected from an aromatic ring, a halogen atom other than fluorine, a sulfur atom, a phosphorus atom, and a nitrogen atom. preferable.
二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーとしては、多価アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル(例、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−シクロヘキサンジアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート)、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,2,3−シクロヘキサンテトラメタクリレート、ポリウレタンポリアクリレート、ポリエステルポリアクリレート)、ビニルベンゼンおよびその誘導体(例、1,4−ジビニルベンゼン、4−ビニル安息香酸−2−アクリロイルエチルエステル、1,4−ジビニルシクロヘキサノン)、ビニルスルホン(例、ジビニルスルホン)、アクリルアミド(例、メチレンビスアクリルアミド)およびメタクリルアミドが挙げられる。上記モノマーは2種以上併用してもよい。 Examples of the monomer having two or more ethylenically unsaturated groups include esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid (eg, ethylene glycol di (meth) acrylate, 1,4-cyclohexanediacrylate, pentaerythritol tetra ( (Meth) acrylate), pentaerythritol tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, trimethylolethane tri (meth) acrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, di Pentaerythritol hexa (meth) acrylate, pentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,2,3-cyclohexanetetramethacrylate, polyurethane polyacrylate, polyester polymer Acrylate), vinylbenzene and its derivatives (eg, 1,4-divinylbenzene, 4-vinylbenzoic acid-2-acryloylethyl ester, 1,4-divinylcyclohexanone), vinylsulfone (eg, divinylsulfone), acrylamide (eg, , Methylenebisacrylamide) and methacrylamide. Two or more of these monomers may be used in combination.
高屈折率モノマーの具体例としては、ビス(4−メタクリロイルチオフェニル)スルフィド、ビニルナフタレン、ビニルフェニルスルフィド、4−メタクリロキシフェニル−4'−メトキシフェニルチオエーテル等が挙げられる。これらのモノマーも2種以上併用してもよい。 Specific examples of the high refractive index monomer include bis (4-methacryloylthiophenyl) sulfide, vinyl naphthalene, vinyl phenyl sulfide, 4-methacryloxyphenyl-4′-methoxyphenyl thioether, and the like. Two or more of these monomers may be used in combination.
これらのエチレン性不飽和基を有するモノマーの重合は、光ラジカル開始剤あるいは熱ラジカル開始剤の存在下、電離放射線の照射または加熱により行うことができる。
従って、この場合に光拡散層は、例えば、エチレン性不飽和基を有するモノマー、光ラジカル開始剤あるいは熱ラジカル開始剤、透光性粒子および無機フィラーを含有する塗液を調製し、該塗液を透明支持体または下層上に塗布、乾燥後、電離放射線または熱による重合反応により硬化して形成することができる。
Polymerization of these monomers having an ethylenically unsaturated group can be carried out by irradiation with ionizing radiation or heating in the presence of a photo radical initiator or a thermal radical initiator.
Therefore, in this case, the light diffusion layer is prepared by preparing a coating liquid containing, for example, a monomer having an ethylenically unsaturated group, a photo radical initiator or a thermal radical initiator, translucent particles, and an inorganic filler. Is coated on a transparent support or a lower layer, dried, and then cured by a polymerization reaction with ionizing radiation or heat.
光ラジカル重合開始剤としては、アセトフェノン類、ベンゾイン類、ベンゾフェノン類、ホスフィンオキシド類、ケタール類、アントラキノン類、チオキサントン類、アゾ化合物、過酸化物類、2,3−ジアルキルジオン化合物類、ジスルフィド化合物類、フルオロアミン化合物類や芳香族スルホニウム類が挙げられる。アセトフェノン類の例には、2,2−ジエトキシアセトフェノン、p−ジメチルアセトフェノン、1−ヒドロキシジメチルフェニルケトン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−4−メチルチオ−2−モルフォリノプロピオフェノンおよび2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノンが含まれる。ベンゾイン類の例には、ベンゾインベンゼンスルホン酸エステル、ベンゾイントルエンスルホン酸エステル、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテルおよびベンゾインイソプロピルエーテルが含まれる。ベンゾフェノン類の例には、ベンゾフェノン、2,4−ジクロロベンゾフェノン、4,4−ジクロロベンゾフェノンおよびp−クロロベンゾフェノンが含まれる。ホスフィンオキシド類の例には、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキシドが含まれる。
最新UV硬化技術(P.159,発行人;高薄一弘,発行所;(株)技術情報協会,1991年発行)にも種々の例が記載されており本発明に有用である。
市販の光開裂型の光ラジカル重合開始剤としては、日本チバガイギー(株)製のイルガキュア(651,184,907)等が好ましい例として挙げられる。
光重合開始剤は、多官能モノマー100質量部に対して、0.1〜15質量部の範囲で使用することが好ましく、より好ましくは1〜10質量部の範囲である。
光重合開始剤に加えて、光増感剤を用いてもよい。光増感剤の具体例として、n?ブチルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン、ミヒラーのケトンおよびチオキサントンを挙げることができる。
As radical photopolymerization initiators, acetophenones, benzoins, benzophenones, phosphine oxides, ketals, anthraquinones, thioxanthones, azo compounds, peroxides, 2,3-dialkyldione compounds, disulfide compounds And fluoroamine compounds and aromatic sulfoniums. Examples of acetophenones include 2,2-diethoxyacetophenone, p-dimethylacetophenone, 1-hydroxydimethylphenyl ketone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-methyl-4-methylthio-2-morpholinopropiophenone and 2 -Benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone is included. Examples of benzoins include benzoin benzene sulfonate, benzoin toluene sulfonate, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether and benzoin isopropyl ether. Examples of the benzophenones include benzophenone, 2,4-dichlorobenzophenone, 4,4-dichlorobenzophenone and p-chlorobenzophenone. Examples of phosphine oxides include 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide.
Various examples are described in the latest UV curing technology (P.159, issuer; Kazuhiro Takasagi, publisher; Technical Information Association, Inc., published in 1991), which is useful for the present invention.
Preferable examples of commercially available photocleavable photoradical polymerization initiators include Irgacure (651, 184, 907) manufactured by Nippon Ciba-Geigy Co., Ltd.
It is preferable to use a photoinitiator in the range of 0.1-15 mass parts with respect to 100 mass parts of polyfunctional monomers, More preferably, it is the range of 1-10 mass parts.
In addition to the photopolymerization initiator, a photosensitizer may be used. As a specific example of the photosensitizer, n? Mention may be made of butylamine, triethylamine, tri-n-butylphosphine, Michler's ketone and thioxanthone.
熱ラジカル開始剤としては、有機あるいは無機過酸化物、有機アゾ及びジアゾ化合物等を用いることができる。
具体的には、有機過酸化物として過酸化ベンゾイル、過酸化ハロゲンベンゾイル、過酸化ラウロイル、過酸化アセチル、過酸化ジブチル、クメンヒドロぺルオキシド、ブチルヒドロぺルオキシド、無機過酸化物として、過酸化水素、過硫酸アンモニウム、過硫酸カリウム等、アゾ化合物として2−アゾービスーイソブチロニトリル、2−アゾ−ビス−プロピオニトリル、2−アゾ−ビスーシクロヘキサンジニトリル等、ジアゾ化合物としてジアゾアミノベンゼン、p−ニトロベンゼンジアゾニウム等を挙げることができる。熱ラジカル開始剤は、多官能モノマー100質量部に対して、0.1〜15質量部の範囲で使用することが好ましく、より好ましくは1〜10質量部の範囲である。
As the thermal radical initiator, organic or inorganic peroxides, organic azo, diazo compounds, and the like can be used.
Specifically, benzoyl peroxide, halogen benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, acetyl peroxide, dibutyl peroxide, cumene hydroperoxide, butyl hydroperoxide as organic peroxides, hydrogen peroxide, peroxides as inorganic peroxides. Ammonium sulfate, potassium persulfate, etc., 2-azo-bis-isobutyronitrile, 2-azo-bis-propionitrile, 2-azo-bis-cyclohexanedinitrile, etc. as diazo compounds, diazoaminobenzene, p-nitrobenzene And diazonium. The thermal radical initiator is preferably used in the range of 0.1 to 15 parts by mass, more preferably in the range of 1 to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the polyfunctional monomer.
ポリエーテルを主鎖として有するポリマーは、多官能エポシキシ化合物の開環重合体が好ましい。多官能エポシキ化合物の開環重合は、光酸発生剤あるいは熱酸発生剤の存在下、電離放射線の照射または加熱により行うことができる。
従って、この場合に光拡散層は、例えば、多官能エポキシ化合物、光酸発生剤あるいは熱酸発生剤、透光性粒子および無機フィラーを含有する塗液を調製し、該塗液を透明支持体または下層上に塗布、乾燥後、電離放射線または熱による重合反応により硬化して形成することができる。光の作用によってカチオンを発生させる光酸発生剤としては、トリアリールスルホニウム塩やジアリールヨードニウム塩などのイオン性の化合物やスルホン酸のニトロベンジルエステルなどの非イオン性の化合物が挙げられ、有機エレクトロニクス材料研究会編、イメージング用有機材料ぶんしん出版社刊(1997)などに記載されている化合物等種々の公知の光酸発生剤が使用できる。この中で特に好ましくはスルホニウム塩もしくはヨードニウム塩であり、対イオンとしてはPF6 -、SbF6 -、AsF6 -、B(C6F5)4 -などが好ましい。光酸発生剤は多官能エポキシ化合物の総質量に対して、0.1乃至15質量%の範囲で使用することが好ましく、1乃至10質量%の範囲で使用することがさらに好ましい。
The polymer having a polyether as the main chain is preferably a ring-opening polymer of a polyfunctional epoxy compound. The ring-opening polymerization of the polyfunctional epoxy compound can be performed by irradiation with ionizing radiation or heating in the presence of a photoacid generator or a thermal acid generator.
Accordingly, in this case, the light diffusion layer is prepared by preparing a coating liquid containing, for example, a polyfunctional epoxy compound, a photoacid generator or a thermal acid generator, translucent particles, and an inorganic filler, and using the coating liquid as a transparent support. Alternatively, after coating and drying on the lower layer, it can be formed by curing by a polymerization reaction with ionizing radiation or heat. Examples of photoacid generators that generate cations by the action of light include ionic compounds such as triarylsulfonium salts and diaryliodonium salts, and nonionic compounds such as nitrobenzyl esters of sulfonic acids. Various known photoacid generators such as the compounds described in the study group, published by Organic Materials for Imaging, Inc. (1997) can be used. Among these, a sulfonium salt or an iodonium salt is particularly preferable, and PF 6 − , SbF 6 − , AsF 6 − , B (C 6 F 5 ) 4 − and the like are preferable as a counter ion. The photoacid generator is preferably used in the range of 0.1 to 15% by mass, more preferably 1 to 10% by mass, based on the total mass of the polyfunctional epoxy compound.
二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーの代わりにまたはそれに加えて、架橋性官能基を有するモノマーを用いてポリマー中に架橋性官能基を導入し、この架橋性官能基の反応により、架橋構造をバインダーポリマーに導入してもよい。
架橋性官能基の例には、イソシアナート基、エポキシ基、アジリジン基、オキサゾリン基、アルデヒド基、カルボニル基、ヒドラジン基、カルボキシル基、メチロール基および活性メチレン基が含まれる。ビニルスルホン酸、酸無水物、シアノアクリレート誘導体、メラミン、エーテル化メチロール、エステルおよびウレタン、テトラメトキシシランのような金属アルコキシドも、架橋構造を導入するためのモノマーとして利用できる。ブロックイソシアナート基のように、分解反応の結果として架橋性を示す官能基を用いてもよい。すなわち、本発明において架橋性官能基は、すぐには反応を示すものではなくとも、分解した結果反応性を示すものであってもよい。
これら架橋性官能基を有するバインダーポリマーは塗布後、加熱することによって架橋構造を形成することができる。
Instead of or in addition to a monomer having two or more ethylenically unsaturated groups, a monomer having a crosslinkable functional group is used to introduce a crosslinkable functional group into the polymer, and by reaction of this crosslinkable functional group, A crosslinked structure may be introduced into the binder polymer.
Examples of the crosslinkable functional group include isocyanate group, epoxy group, aziridine group, oxazoline group, aldehyde group, carbonyl group, hydrazine group, carboxyl group, methylol group and active methylene group. Vinylsulfonic acid, acid anhydride, cyanoacrylate derivative, melamine, etherified methylol, ester and urethane, and metal alkoxide such as tetramethoxysilane can also be used as a monomer for introducing a crosslinked structure. A functional group that exhibits crosslinkability as a result of the decomposition reaction, such as a block isocyanate group, may be used. That is, in the present invention, the crosslinkable functional group may not react immediately but may exhibit reactivity as a result of decomposition.
These binder polymers having a crosslinkable functional group can form a crosslinked structure by heating after coating.
光拡散層は、防眩性付与あるいは視野角依存性低減の目的で少なくとも1種の透光性粒子を含有する。透光性粒子の平均粒径は0.5〜5μmが好ましく、さらに1.0〜4μmが好ましい。例えば無機化合物の粒子または樹脂粒子が使用される。
透光性粒子の具体例としては、例えばシリカ粒子、TiO2粒子等の無機化合物の粒子;アクリル粒子、架橋アクリル粒子、ポリスチレン粒子、架橋スチレン粒子、メラミン樹脂粒子、ベンゾグアナミン樹脂粒子等の樹脂粒子が好ましく挙げられる。なかでも架橋スチレン粒子、架橋アクリル粒子、シリカ粒子が好ましい。
透光性粒子の形状は、真球あるいは不定形のいずれも使用できるが真球が好ましい。
The light diffusion layer contains at least one kind of translucent particles for the purpose of imparting antiglare properties or reducing the viewing angle dependency. The average particle diameter of the translucent particles is preferably 0.5 to 5 μm, more preferably 1.0 to 4 μm. For example, inorganic compound particles or resin particles are used.
Specific examples of translucent particles include inorganic compound particles such as silica particles and TiO 2 particles; resin particles such as acrylic particles, crosslinked acrylic particles, polystyrene particles, crosslinked styrene particles, melamine resin particles, and benzoguanamine resin particles. Preferably mentioned. Of these, crosslinked styrene particles, crosslinked acrylic particles, and silica particles are preferred.
As the shape of the translucent particles, either a true sphere or an indefinite shape can be used, but a true sphere is preferable.
また、光拡散層には2種類以上の透光性粒子を含有させてもよく、粒子径の異なる2種以上の粒子を含有させることが好ましく、より大きな粒子径の粒子で防眩性を付与し、より小さな粒子径の粒子で別の光学特性を付与することが可能である。例えば、133ppi以上の高精細ディスプレイに反射防止フィルムを貼り付けた場合に、ギラツキと呼ばれる光学性能上の不具合のないことが要求される。このギラツキは、フィルム表面に存在する凹凸(防眩性に寄与)により、画素が拡大もしくは縮小され、輝度の均一性を失うことに由来するが、防眩性を付与する粒子より小さな粒子径で、バインダーの屈折率と異なる粒子を併用することにより大きく改善することができる。 In addition, the light diffusion layer may contain two or more kinds of translucent particles, preferably two or more kinds of particles having different particle diameters, and particles having a larger particle diameter give antiglare properties. However, it is possible to impart other optical characteristics with particles having a smaller particle diameter. For example, when an antireflection film is attached to a high-definition display of 133 ppi or higher, it is required that there is no problem in optical performance called glare. This glare originates from the fact that the pixels are enlarged or reduced due to unevenness existing on the film surface (contributing to anti-glare properties) and loses uniformity of brightness, but with a particle size smaller than the particles that impart anti-glare properties. By using particles different from the refractive index of the binder, it can be greatly improved.
さらに、透光性粒子の粒子径分布としては単分散であることが好ましく、各粒子の粒子径はそれぞれ同一に近ければ近いほど良い。例えば平均粒子径よりも20%以上粒子径が大きな粒子を粗大粒子と規定した場合には、この粗大粒子の割合は全粒子数の1%以下であることが好ましく、より好ましくは0.1%以下であり、さらに好ましくは0.01%以下である。このような粒子径分布を持つマット粒子は通常の合成反応後に、分級によって得られ、分級の回数を上げることやその程度を強くすることにより、より好ましい分布の透光性粒子を得ることができる。 Furthermore, the particle size distribution of the translucent particles is preferably monodisperse, and the closer the particle size of each particle is, the better. For example, when particles having a particle size of 20% or more than the average particle size are defined as coarse particles, the proportion of coarse particles is preferably 1% or less of the total number of particles, more preferably 0.1%. Or less, more preferably 0.01% or less. Matt particles having such a particle size distribution are obtained by classification after a normal synthesis reaction, and by increasing the number of classifications or increasing the degree thereof, translucent particles having a more preferable distribution can be obtained. .
透光性粒子は、光拡散層の全固形分中に3〜30質量%含有されるのが好ましい。特に好ましくは10〜20質量%である。
透光性粒子の粒度分布はコールターカウンター法により測定し、測定された分布を粒子数分布に換算する。
It is preferable that 3-30 mass% of translucent particle | grains are contained in the total solid of a light-diffusion layer. Especially preferably, it is 10-20 mass%.
The particle size distribution of the translucent particles is measured by a Coulter counter method, and the measured distribution is converted into a particle number distribution.
光拡散層には、層の屈折率を高めるために、上記の透光性粒子に加えて、チタン、ジルコニウム、アルミニウム、インジウム、亜鉛、錫、アンチモンのうちより選ばれる少なくとも1種の金属の酸化物からなり、平均粒径が0.2μm以下、好ましくは0.1μm以下、より好ましくは0.06μm以下である無機フィラーが含有されることが好ましい。
また逆に、透光性粒子と層のマトリックスとの屈折率差を大きくするために、高屈折率の透光性粒子を用いた光拡散層では層のマトリックスの屈折率を低目に保つためにケイ素の酸化物を用いることも好ましい。好ましい粒径は前述の無機フィラーと同じである。
光拡散層に用いられる無機フィラーの具体例としては、TiO2、ZrO2、Al2O3、In2O3、ZnO、SnO2、Sb2O3、ITOとSiO2等が挙げられる。TiO2およびZrO2が高屈折率化の点で特に好ましい。該無機フィラーは表面をシランカップリング処理又はチタンカップリング処理されることも好ましく、フィラー表面にバインダー種と反応できる官能基を有する表面処理剤が好ましく用いられる。
これらの無機フィラーの添加量は、光拡散層の全質量の10〜90%であることが好ましく、より好ましくは20〜80%であり、特に好ましくは30〜75%である。
なお、このようなフィラーは、粒径が光の波長よりも十分小さいために散乱が生じず、バインダーポリマーに該フィラーが分散した分散体であるマトリックスは光学的に均一な物質として振舞う。
In order to increase the refractive index of the layer, the light diffusing layer includes an oxidation of at least one metal selected from titanium, zirconium, aluminum, indium, zinc, tin, and antimony in addition to the above light-transmitting particles. It is preferable that an inorganic filler having an average particle diameter of 0.2 μm or less, preferably 0.1 μm or less, more preferably 0.06 μm or less is contained.
Conversely, in order to increase the refractive index difference between the translucent particles and the layer matrix, the light diffusion layer using the high refractive index translucent particles keeps the refractive index of the layer matrix low. It is also preferable to use a silicon oxide. The preferred particle size is the same as that of the aforementioned inorganic filler.
Specific examples of the inorganic filler used in the light diffusion layer include TiO 2 , ZrO 2 , Al 2 O 3 , In 2 O 3 , ZnO, SnO 2 , Sb 2 O 3 , ITO and SiO 2 . TiO 2 and ZrO 2 are particularly preferable from the viewpoint of increasing the refractive index. The surface of the inorganic filler is preferably subjected to a silane coupling treatment or a titanium coupling treatment, and a surface treatment agent having a functional group capable of reacting with a binder species on the filler surface is preferably used.
The amount of these inorganic fillers added is preferably 10 to 90% of the total mass of the light diffusion layer, more preferably 20 to 80%, and particularly preferably 30 to 75%.
Such a filler does not scatter because the particle size is sufficiently smaller than the wavelength of light, and the matrix, which is a dispersion in which the filler is dispersed in the binder polymer, behaves as an optically uniform substance.
本発明の光拡散層のマトリックス(透光性樹脂、必要に応じて添加される無機フィラーなどとの混合物)の屈折率と透光性粒子の屈折率の差は0.02〜0.2であることが好ましく、光拡散層のマトリックスの屈折率は1.48〜2.00であることが好ましい。より好ましい前記屈折率差は0.04〜0.15であり、光拡散層のマトリックスのより好ましい屈折率は1.50〜1.80である。光拡散層のマトリックスの屈折率を上記範囲とするには、透光性樹脂及び無機フィラーの種類及び量割合を適宜選択すればよい。どのように選択するかは、予め実験的に容易に知ることができる。 The difference between the refractive index of the matrix of the light diffusion layer of the present invention (translucent resin, a mixture with an inorganic filler added if necessary) and the refractive index of the translucent particles is 0.02 to 0.2. It is preferable that the refractive index of the matrix of the light diffusion layer is 1.48 to 2.00. The refractive index difference is more preferably 0.04 to 0.15, and the refractive index of the light diffusion layer matrix is more preferably 1.50 to 1.80. In order to set the refractive index of the matrix of the light diffusion layer within the above range, the kind and amount ratio of the light-transmitting resin and the inorganic filler may be appropriately selected. How to select can be easily known experimentally in advance.
光拡散層の膜厚は1〜10μmが好ましく、1.2〜6μmがより好ましい。 The film thickness of the light diffusion layer is preferably 1 to 10 μm, and more preferably 1.2 to 6 μm.
本発明の反射防止フィルムは光拡散層を有するので、例えば液晶表示装置などの視野角改良にも効果を有する。本発明者等は、ゴニオフォトメーターで測定される散乱光の強度分布が視野角改良効果に相関することを確認した。すなわち、バックライトから出射された光が視認側表面に設置された本発明の反射防止フィルムで拡散されればされるほど視野角特性がよくなる。しかし、あまり拡散されすぎると、後方散乱が大きくなり、正面輝度が減少する、あるいは、散乱が大きすぎて画像鮮明性が劣化する等の問題が生じる。従って、散乱光強度分布をある範囲に制御することが必要となる。そこで、鋭意検討の結果、所望の視認特性を達成するには、散乱光プロファイルの出射角0°の光強度に対して、特に視認角改良効果と相関ある30°の散乱光強度が0.01%〜0.2%であることが好ましく、0.02%〜0.15%が更に好ましく、0.03%〜0.1%が特に好ましい。
散乱光プロファイルは、作成した反射防止フィルムについて、(株)村上色彩技術研究所製の自動変角光度計GP−5型を用いて測定できる。
Since the antireflection film of the present invention has a light diffusion layer, it is also effective for improving the viewing angle of, for example, a liquid crystal display device. The present inventors have confirmed that the intensity distribution of scattered light measured with a goniophotometer correlates with the viewing angle improvement effect. That is, the more the light emitted from the backlight is diffused by the antireflection film of the present invention installed on the viewing side surface, the better the viewing angle characteristics. However, if it is diffused too much, backscattering will increase and the front luminance will decrease, or the scattering will be too great and the image clarity will deteriorate. Therefore, it is necessary to control the scattered light intensity distribution within a certain range. Therefore, as a result of intensive studies, in order to achieve the desired visual characteristics, the scattered light intensity at 30 °, which correlates particularly with the visual angle improvement effect, is 0.01 with respect to the light intensity at the output angle 0 ° of the scattered light profile. % To 0.2% is preferable, 0.02% to 0.15% is more preferable, and 0.03% to 0.1% is particularly preferable.
The scattered light profile can be measured using the automatic goniophotometer GP-5 manufactured by Murakami Color Research Laboratory Co., Ltd. for the prepared antireflection film.
[帯電防止層]
本発明においては、帯電防止層を設けることがフイルム表面での静電気を防止し、輝点欠陥の数を減少させる点で好ましい。帯電防止層を形成する方法は、例えば、導電性微粒子と反応性硬化樹脂を含む導電性塗工液を塗工する方法、或いは透明膜を形成する金属や金属酸化物等を蒸着やスパッタリングして導電性薄膜を形成する方法等の従来公知の方法を挙げることができる。
本発明の反射防止フィルムにおいて、帯電防止層は、透明支持体に直接又は透明支持体との接着を強固にするプライマー層を介して形成することができる。また、帯電防止層を反射防止膜の一部として使用することもできる。この場合、最表層から近い層で使用する場合には、膜の厚さが薄くても十分に帯電防止性を得ることができる。
塗工方法は、特に限定されず、塗工液の特性や塗工量に応じて、例えば、ロールコート、グラビアコート、バーコート、押出しコート等の公知の方法より最適な方法を選択して行えばよい。
[Antistatic layer]
In the present invention, it is preferable to provide an antistatic layer from the viewpoint of preventing static electricity on the film surface and reducing the number of bright spot defects. The antistatic layer can be formed by, for example, applying a conductive coating solution containing conductive fine particles and a reactive curable resin, or depositing or sputtering a metal or metal oxide that forms a transparent film. Conventionally known methods such as a method of forming a conductive thin film can be listed.
In the antireflection film of the present invention, the antistatic layer can be formed directly on the transparent support or via a primer layer that strengthens the adhesion to the transparent support. Further, the antistatic layer can be used as a part of the antireflection film. In this case, when used in a layer close to the outermost layer, sufficient antistatic properties can be obtained even if the film is thin.
The coating method is not particularly limited, and an optimum method is selected from known methods such as roll coating, gravure coating, bar coating, and extrusion coating according to the characteristics of the coating liquid and the coating amount. Just do it.
帯電防止層の厚さは、0.01〜10μmが好ましく、0.03〜7μmであることがより好ましく、0.05〜5μmであることがさらに好ましい。帯電防止層の表面抵抗は、105〜1012Ω/sqであることが好ましく、105〜109Ω/sqであることがさらに好ましく、105〜108Ω/sqであることが最も好ましい。帯電防止層の表面抵抗は、四探針法により測定することができる。
帯電防止層は、実質的に透明であることが好ましい。具体的には、帯電防止層のヘイズが、10%以下であることが好ましく、5%以下であることがより好ましく、3%以下であることがさらに好ましく、1%以下であることが最も好ましい。波長550nmの光の透過率が、50%以上であることが好ましく、60%以上であることがより好ましく、65%以上であることがさらに好ましく、70%以上であることが最も好ましい。
本発明の帯電防止層は、強度に優れていることが好ましく、具体的な帯電防止層の強度は、1kg荷重の鉛筆硬度(JIS−K−5400の規定)で、H以上であることが好ましく、2H以上であることがより好ましく、3H以上であることがさらに好ましく、4H以上であることが最も好ましい。
The thickness of the antistatic layer is preferably from 0.01 to 10 μm, more preferably from 0.03 to 7 μm, and even more preferably from 0.05 to 5 μm. The surface resistance of the antistatic layer is preferably from 10 5 ~10 12 Ω / sq, more preferably from 10 5 ~10 9 Ω / sq, most be 10 5 ~10 8 Ω / sq preferable. The surface resistance of the antistatic layer can be measured by a four probe method.
The antistatic layer is preferably substantially transparent. Specifically, the haze of the antistatic layer is preferably 10% or less, more preferably 5% or less, further preferably 3% or less, and most preferably 1% or less. . The transmittance of light having a wavelength of 550 nm is preferably 50% or more, more preferably 60% or more, further preferably 65% or more, and most preferably 70% or more.
The antistatic layer of the present invention is preferably excellent in strength, and the specific strength of the antistatic layer is preferably not less than H with a pencil hardness of 1 kg load (as defined in JIS-K-5400). It is more preferably 2H or more, further preferably 3H or more, and most preferably 4H or more.
本発明では、帯電防止層には導電性材料として導電性無機微粒子およびイオン性高分子化合物から選ばれる少なくとも1種を含有することが好ましい。 In the present invention, the antistatic layer preferably contains at least one selected from conductive inorganic fine particles and ionic polymer compounds as a conductive material.
(導電性無機微粒子)
導電性無機微粒子の比表面積は、10〜400m2/gであることが好ましく、20〜200m2/gであることがさらに好ましく、30〜150m2/gであることがより好ましい。
(Conductive inorganic fine particles)
The specific surface area of the conductive inorganic fine particles is preferably from 10 to 400 m 2 / g, more preferably from 20 to 200 m 2 / g, and more preferably 30 to 150 m 2 / g.
導電性無機微粒子は、金属の酸化物または窒化物から形成することが好ましい。金属の酸化物または窒化物の例には、酸化錫、酸化インジウム、酸化亜鉛および窒化チタンが含まれる。酸化錫および酸化インジウムが特に好ましい。導電性無機微粒子は、これらの金属の酸化物または窒化物を主成分とし、さらに他の元素を含むことができる。主成分とは、粒子を構成する成分の中で最も含有量(質量%)が多い成分を意味する。他の元素の例には、Ti、Zr、Sn、Sb、Cu、Fe、Mn、Pb、Cd、As、Cr、Hg、Zn、Al、Mg、Si、P、S、B、Nb、In、Vおよびハロゲン原子が含まれる。酸化錫および酸化インジウムの導電性を高めるために、Sb、P、B、Nb、In、Vおよびハロゲン原子を添加することが好ましい。Sbを含有する酸化錫(ATO)およびSnを含有する酸化インジウム(ITO)が特に好ましい。ATO中のSbの割合は、3〜20質量%であることが好ましい。ITO中のSnの割合は、5〜20質量%であることが好ましい。 The conductive inorganic fine particles are preferably formed from a metal oxide or nitride. Examples of metal oxides or nitrides include tin oxide, indium oxide, zinc oxide and titanium nitride. Tin oxide and indium oxide are particularly preferred. The conductive inorganic fine particles are mainly composed of oxides or nitrides of these metals, and can further contain other elements. The main component means a component having the largest content (mass%) among the components constituting the particles. Examples of other elements include Ti, Zr, Sn, Sb, Cu, Fe, Mn, Pb, Cd, As, Cr, Hg, Zn, Al, Mg, Si, P, S, B, Nb, In, V and halogen atoms are included. In order to increase the conductivity of tin oxide and indium oxide, it is preferable to add Sb, P, B, Nb, In, V and a halogen atom. Particularly preferred are tin oxide containing Sb (ATO) and indium oxide containing Sn (ITO). The ratio of Sb in ATO is preferably 3 to 20% by mass. The ratio of Sn in ITO is preferably 5 to 20% by mass.
帯電防止層に用いる導電性無機微粒子の一次粒子の平均粒子径は、1〜150nmであることが好ましく、5〜100nmであることがさらに好ましく、5〜70nmであることが最も好ましい。形成される帯電防止層中の導電性無機微粒子の平均粒子径は、1〜200nmであることが好ましく、5〜150nmであることがより好ましく、10〜100nmであることがさらに好ましく、10〜80nmであることが最も好ましい。導電性無機微粒子の平均粒子径は、粒子の質量を重みとした平均径であり、光散乱法や電子顕微鏡写真により測定できる。 The average primary particle diameter of the conductive inorganic fine particles used in the antistatic layer is preferably 1 to 150 nm, more preferably 5 to 100 nm, and most preferably 5 to 70 nm. The average particle diameter of the conductive inorganic fine particles in the formed antistatic layer is preferably 1 to 200 nm, more preferably 5 to 150 nm, still more preferably 10 to 100 nm, and more preferably 10 to 80 nm. Most preferably. The average particle diameter of the conductive inorganic fine particles is an average diameter weighted by the mass of the particles, and can be measured by a light scattering method or an electron micrograph.
導電性無機微粒子を表面処理してもよい。表面処理は、無機化合物または有機化合物を用いて実施する。表面処理に用いる無機化合物の例には、アルミナおよびシリカが含まれる。シリカ処理が特に好ましい。表面処理に用いる有機化合物の例には、ポリオール、アルカノールアミン、ステアリン酸、シランカップリング剤およびチタネートカップリング剤が含まれる。シランカップリング剤が最も好ましい。二種類以上の表面処理を組み合わせて実施してもよい。
導電性無機微粒子の形状は、米粒状、球形状、立方体状、紡錘形状あるいは不定形状であることが好ましい。
二種類以上の導電性無機微粒子を帯電防止層内で併用してもよい。
The conductive inorganic fine particles may be surface-treated. The surface treatment is performed using an inorganic compound or an organic compound. Examples of inorganic compounds used for the surface treatment include alumina and silica. Silica treatment is particularly preferred. Examples of organic compounds used for the surface treatment include polyols, alkanolamines, stearic acid, silane coupling agents, and titanate coupling agents. Silane coupling agents are most preferred. Two or more kinds of surface treatments may be performed in combination.
The shape of the conductive inorganic fine particles is preferably a rice grain shape, a spherical shape, a cubic shape, a spindle shape or an indefinite shape.
Two or more kinds of conductive inorganic fine particles may be used in combination in the antistatic layer.
帯電防止層中の導電性無機微粒子の割合は、20〜90質量%であることが好ましく、25〜85質量%であることが好ましく、30〜80質量%であることがさらに好ましい。 The proportion of the conductive inorganic fine particles in the antistatic layer is preferably 20 to 90% by mass, preferably 25 to 85% by mass, and more preferably 30 to 80% by mass.
導電性無機微粒子は、分散物の状態で帯電防止層の形成に使用する。導電性無機微粒子の分散媒体は、沸点が60〜170℃の液体を用いることが好ましい。分散媒体の例には、水、アルコール(例、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ベンジルアルコール)、ケトン(例、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン)、エステル(例、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、蟻酸メチル、蟻酸エチル、蟻酸プロピル、蟻酸ブチル)、脂肪族炭化水素(例、ヘキサン、シクロヘキサン)、ハロゲン化炭化水素(例、メチレンクロライド、クロロホルム、四塩化炭素)、芳香族炭化水素(例、ベンゼン、トルエン、キシレン)、アミド(例、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、n−メチルピロリドン)、エーテル(例、ジエチルエーテル、ジオキサン、テトラハイドロフラン)、エーテルアルコール(例、1−メトキシ−2−プロパノール)が含まれる。なかでも、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンおよびブタノールが特に好ましい。 The conductive inorganic fine particles are used for forming an antistatic layer in the form of a dispersion. As the dispersion medium for the conductive inorganic fine particles, a liquid having a boiling point of 60 to 170 ° C. is preferably used. Examples of dispersion media include water, alcohol (eg, methanol, ethanol, isopropanol, butanol, benzyl alcohol), ketone (eg, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone), ester (eg, methyl acetate, ethyl acetate, Propyl acetate, butyl acetate, methyl formate, ethyl formate, propyl formate, butyl formate), aliphatic hydrocarbons (eg, hexane, cyclohexane), halogenated hydrocarbons (eg, methylene chloride, chloroform, carbon tetrachloride), aromatic Hydrocarbon (eg, benzene, toluene, xylene), amide (eg, dimethylformamide, dimethylacetamide, n-methylpyrrolidone), ether (eg, diethyl ether, dioxane, tetrahydrofuran), ether alcohol (eg, 1-methyl) Carboxymethyl-2-propanol) are included. Of these, toluene, xylene, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone and butanol are particularly preferable.
導電性無機微粒子は、分散機を用いて媒体中に分散できる。分散機の例には、サンドグラインダーミル(例、ピン付きビーズミル)、高速インペラーミル、ペッブルミル、ローラーミル、アトライターおよびコロイドミルが含まれる。サンドグラインダーミルおよび高速インペラーミルが特に好ましい。また、予備分散処理を実施してもよい。予備分散処理に用いる分散機の例には、ボールミル、三本ロールミル、ニーダーおよびエクストルーダーが含まれる。 The conductive inorganic fine particles can be dispersed in the medium using a disperser. Examples of dispersers include sand grinder mills (eg, pinned bead mills), high speed impeller mills, pebble mills, roller mills, attritors and colloid mills. A sand grinder mill and a high-speed impeller mill are particularly preferred. Further, preliminary dispersion processing may be performed. Examples of the disperser used for the preliminary dispersion treatment include a ball mill, a three-roll mill, a kneader, and an extruder.
(イオン性高分子化合物)
本発明の帯電防止層に使用することのできるイオン性高分子化合物としては、4級アンモニウムカチオンポリマーが挙げられる。なかでも、分子架橋する4級アンモニウムカチオンポリマーが、フィルムの防汚性や耐擦傷性(膜強度)も高めることができるので、好ましい。また、好ましいイオン性高分子化合物としては、下記一般式(1)、(1a)および(1b)で表される構造のユニットを有するポリマーも挙げられる。
(Ionic polymer compound)
Examples of the ionic polymer compound that can be used in the antistatic layer of the present invention include quaternary ammonium cationic polymers. Among them, a quaternary ammonium cationic polymer that undergoes molecular crosslinking is preferable because it can improve the antifouling property and scratch resistance (film strength) of the film. Examples of preferable ionic polymer compounds also include polymers having units having structures represented by the following general formulas (1), (1a) and (1b).
一般式(1)中、R1は水素原子、炭素数1〜4のアルキル基、ハロゲン原子または−CH2COO-M+を表す。Yは水素原子または−COO-M+を表す。Lは−CONH−、−COO−、−CO−または−O−を表す。Jは炭素数1〜12のアルキレン基またはアリーレン基を表す。Qは下記群Aから選ばれる基を表す。 In the general formula (1), R 1 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, a halogen atom, or —CH 2 COO − M + . Y represents a hydrogen atom or —COO − M + . L represents -CONH-, -COO-, -CO- or -O-. J represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or an arylene group. Q represents a group selected from the following group A.
M+はプロトンまたはカチオン(例えばアルカリ金属及びCaが好ましく、特にLi、Na、およびKが好ましい。)を表す。R2、R2'およびR2"はそれぞれ独立に炭素数1〜4のアルキル基を表す。X-はアニオン(例えば、ハロゲンイオン、スルホン酸アニオン、カルボン酸アニオンなどが挙げられる。)を表す。pおよびqはそれぞれ独立に0または1を表す。 M + represents a proton or a cation (for example, alkali metal and Ca are preferable, and Li, Na, and K are particularly preferable). R 2 , R 2 ′ and R 2 ″ each independently represents an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. X − represents an anion (for example, a halogen ion, a sulfonate anion, a carboxylate anion, etc.). P and q each independently represents 0 or 1;
一般式(1a)、(1b)中、R3、R4、R5およびR6は炭素数1〜4の置換または未置換のアルキル基を表し、R3とR4、R5とR6はそれぞれ互いに結合して含窒素複素環を形成してもよい。
A、BおよびDはそれぞれ独立に炭素数2〜10の置換または無置換のアルキレン基、アリーレン基、アルケニレン基、アリーレンアルキレン基、−R7COR8−、−R9COOR10OCOR11−、−R12OCR13COOR14−、−R15−(OR16)m−、−R17CONHR18NHCOR19−、−R20OCONHR21NHCOR22−または―R23NHCONHR24NHCONHR25−を表す。R7、R8、R9、R11、R12、R14、R15、R16、R17、R19、R20、R22、R23およびR25はアルキレン基を表す。R10、R13、R18、R21およびR24はそれぞれ置換または無置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレン基、アリーレンアルキレン基およびアルキレンアリーレン基から選ばれる連結基を表す。mは1〜4の正の整数を表す。X‐はアニオン(例えば、ハロゲンイオン、スルホン酸アニオン、カルボン酸アニオンなどが挙げられる。)を表す。
In the general formulas (1a) and (1b), R 3 , R 4 , R 5 and R 6 represent a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, R 3 and R 4 , R 5 and R 6. May be bonded to each other to form a nitrogen-containing heterocycle.
A, B and D are each independently a substituted or unsubstituted alkylene group having 2 to 10 carbon atoms, an arylene group, an alkenylene group, an arylene alkylene group, —R 7 COR 8 —, —R 9 COOR 10 OCOR 11 —, — R 12 OCR 13 COOR 14 -, - R 15 - (oR 16) m -, -
ただし、Aがアルキレン基、ヒドロキシアルキレン基またはアリーレンアルキレン基であるときには、Bがアルキレン基、ヒドロキシアルキレン基またはアリーレンアルキレン基ではないことが好ましい。 However, when A is an alkylene group, a hydroxyalkylene group or an arylenealkylene group, it is preferable that B is not an alkylene group, a hydroxyalkylene group or an arylenealkylene group.
Eは単結合、−NHCOR26CONH−および前記Dから選ばれる基を表す。R26は置換あるいは無置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレン基、アリーレンアルキレン基またはアルキレンアリーレン基を表す。 E represents a single bond, —NHCOR 26 CONH— or a group selected from the above D. R 26 represents a substituted or unsubstituted alkylene group, alkenylene group, arylene group, arylene alkylene group or alkylene arylene group.
Z1、Z2は−N=C−基とともに5員または6員環を形成するのに必要な非金属原子群を表し、≡N+[X-]−なる4級塩の形でEに連結してもよい。nは5〜300の整数を表す。 Z 1 and Z 2 represent a nonmetallic atom group necessary for forming a 5-membered or 6-membered ring together with the —N═C— group, and are represented by E in the form of a quaternary salt of ≡N + [X − ] —. You may connect. n represents an integer of 5 to 300.
以下に、一般式(1)、(1a)および(1b)で表される構造のユニットを有するポリマーを含めイオン性高分子化合物の具体例を挙げるが、本発明はこれらに限定されるわけではない。なお、下記の具体例IP−7〜21における添え字(m、p、q(q1、q2、q3含む)、r、x、y、z)は、高分子中での各繰り返し単位のモル比を表す。 Specific examples of the ionic polymer compound including the polymer having a unit having a structure represented by the general formulas (1), (1a) and (1b) are shown below, but the present invention is not limited to these. Absent. In addition, the subscripts (m, p, q (including q1, q2, q3), r, x, y, z) in the following specific examples IP-7 to 21 are molar ratios of each repeating unit in the polymer. Represents.
また、特開平6−248092号公報に記載のホスファゼン化合物も好ましく使用できる。 Further, phosphazene compounds described in JP-A-6-248092 can also be preferably used.
本発明においては、1種類のイオン性高分子化合物を単独で用いてもよいし、数種類のイオン性高分子化合物を組み合わせて使用してもよい。イオン性高分子化合物の帯電防止層中での含有量は、0.005〜2.0g/m2が好ましく、0.01〜1.0g/m2がより好ましい。 In the present invention, one kind of ionic polymer compound may be used alone, or several kinds of ionic polymer compounds may be used in combination. The content of the antistatic layer of the ionic polymer compound is preferably 0.005~2.0g / m 2, 0.01~1.0g / m 2 is more preferable.
[ハードコート層]
本発明の反射防止フィルムには、フィルムに物理強度を付与するために、いわゆる平滑なハードコート層を設けることも好ましく、透明支持体の表面に設けることができる。特に、透明支持体と光拡散層の間に設けることが好ましい。
[Hard coat layer]
The antireflection film of the present invention is preferably provided with a so-called smooth hard coat layer in order to impart physical strength to the film, and can be provided on the surface of the transparent support. In particular, it is preferably provided between the transparent support and the light diffusion layer.
ハードコート層は、電離放射線硬化性化合物の架橋反応、又は、重合反応により形成されることが好ましい。例えば、電離放射線硬化性の多官能モノマーや多官能オリゴマーを含む塗布組成物を透明支持体上に塗布し、多官能モノマーや多官能オリゴマーを架橋反応、又は、重合反応させることにより形成することができる。
電離放射線硬化性の多官能モノマーや多官能オリゴマーの官能基としては、光、電子線、放射線重合性のものが好ましく、中でも光重合性官能基が好ましい。
光重合性官能基としては、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基等の不飽和の重合性官能基等が挙げられ、中でも、(メタ)アクリロイル基が好ましい。
The hard coat layer is preferably formed by a crosslinking reaction or a polymerization reaction of an ionizing radiation curable compound. For example, it may be formed by applying a coating composition containing an ionizing radiation-curable polyfunctional monomer or polyfunctional oligomer on a transparent support and subjecting the polyfunctional monomer or polyfunctional oligomer to a crosslinking reaction or a polymerization reaction. it can.
The functional group of the ionizing radiation curable polyfunctional monomer or polyfunctional oligomer is preferably a light, electron beam, or radiation polymerizable group, and among them, a photopolymerizable functional group is preferable.
Examples of the photopolymerizable functional group include unsaturated polymerizable functional groups such as a (meth) acryloyl group, a vinyl group, a styryl group, and an allyl group. Among them, a (meth) acryloyl group is preferable.
光重合性官能基を有する光重合性多官能モノマーの具体例としては、光拡散層の説明で例示したものが挙げられ、光重合開始剤、光増感剤を用いて重合することが好ましい。光重合反応は、ハードコート層の塗布および乾燥後、紫外線照射により行うことが好ましい。 Specific examples of the photopolymerizable polyfunctional monomer having a photopolymerizable functional group include those exemplified in the description of the light diffusion layer, and it is preferable to perform polymerization using a photopolymerization initiator and a photosensitizer. The photopolymerization reaction is preferably performed by ultraviolet irradiation after the hard coat layer is applied and dried.
ハードコート層は、一次粒子の平均粒径が200nm以下の無機微粒子を含有することが好ましい。ここでいう平均粒径は質量平均径である。一次粒子の平均粒径を200nm以下にすることで透明性を損なわないハードコート層を形成できる。
無機微粒子はハードコート層の硬度を高くすると共に、塗布層の硬化収縮を抑える機能がある。また、ハードコート層の屈折率を制御する目的にも添加される。
無機微粒子としては、高屈折率層で例示した無機微粒子に加え、二酸化珪素、酸化アルミニウム、炭酸カルシウム、硫酸バリウム、タルク、カオリン、硫酸カルシウム、二酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化錫、ITO、酸化亜鉛などの微粒子が挙げられる。好ましくは、二酸化珪素、二酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化アルミニウム、酸化錫、ITO、酸化亜鉛である。
The hard coat layer preferably contains inorganic fine particles having an average primary particle size of 200 nm or less. The average particle diameter here is a mass average diameter. By setting the average particle size of the primary particles to 200 nm or less, a hard coat layer that does not impair the transparency can be formed.
The inorganic fine particles have functions of increasing the hardness of the hard coat layer and suppressing curing shrinkage of the coating layer. It is also added for the purpose of controlling the refractive index of the hard coat layer.
As inorganic fine particles, in addition to the inorganic fine particles exemplified in the high refractive index layer, silicon dioxide, aluminum oxide, calcium carbonate, barium sulfate, talc, kaolin, calcium sulfate, titanium dioxide, zirconium oxide, tin oxide, ITO, zinc oxide, etc. Fine particles. Preferred are silicon dioxide, titanium dioxide, zirconium oxide, aluminum oxide, tin oxide, ITO, and zinc oxide.
無機微粒子の一次粒子の好ましい平均粒径は5〜200nm、より好ましくは10〜150nmであり、さらに好ましくは20〜100nm、特に好ましくは20〜50nmである。
ハードコート層の中において、無機微粒子はなるべく微細に分散されていることが好ましい。
ハードコート層の中における無機微粒子の粒子サイズは、好ましくは平均粒径で5〜300nm、より好ましくは10〜200nmであり、さらに好ましくは20〜150nm、特に好ましくは20〜80nmである。
The preferable average particle diameter of the primary particles of the inorganic fine particles is 5 to 200 nm, more preferably 10 to 150 nm, still more preferably 20 to 100 nm, and particularly preferably 20 to 50 nm.
In the hard coat layer, the inorganic fine particles are preferably dispersed as finely as possible.
The particle size of the inorganic fine particles in the hard coat layer is preferably 5 to 300 nm, more preferably 10 to 200 nm, more preferably 20 to 150 nm, and particularly preferably 20 to 80 nm in terms of average particle diameter.
ハードコート層における無機微粒子の含有量は、ハードコート層の全質量に対し10〜90質量%であることが好ましく、より好ましくは15〜80質量%、特に好ましくは15〜75質量%である。 The content of the inorganic fine particles in the hard coat layer is preferably 10 to 90% by mass, more preferably 15 to 80% by mass, and particularly preferably 15 to 75% by mass with respect to the total mass of the hard coat layer.
ハードコート層の膜厚は用途により適切に設計することができる。ハードコート層の膜厚は、0.2〜10μmであることが好ましく、より好ましくは0.5〜7μm、特に好ましくは0.7〜5μmである。 The film thickness of the hard coat layer can be appropriately designed depending on the application. The film thickness of the hard coat layer is preferably 0.2 to 10 μm, more preferably 0.5 to 7 μm, and particularly preferably 0.7 to 5 μm.
ハードコート層の強度は、JIS K5400に従う鉛筆硬度試験で、H以上であることが好ましく、2H以上であることがさらに好ましく、3H以上であることが最も好ましい。また、JIS K5400に従うテーバー試験で、試験前後の試験片の摩耗量が少ないほど好ましい。これらの特性は、光拡散層および帯電防止層が有することも好ましい。 The strength of the hard coat layer is preferably H or higher, more preferably 2H or higher, and most preferably 3H or higher in a pencil hardness test according to JIS K5400. Further, in the Taber test according to JIS K5400, the smaller the wear amount of the test piece before and after the test, the better. It is also preferable that the light diffusion layer and the antistatic layer have these characteristics.
ハードコート層の形成において、電離放射線硬化性の化合物の架橋反応、又は、重合反応により形成される場合、架橋反応、又は、重合反応は酸素濃度が10体積%以下の雰囲気で実施することが好ましい。酸素濃度が10体積%以下の雰囲気で形成することにより、物理強度や耐薬品性に優れたハードコート層を形成することができる。好ましくは酸素濃度が6体積%以下の雰囲気で電離放射線硬化性化合物の架橋反応、又は、重合反応により形成することであり、更に好ましくは酸素濃度が4体積%以下、特に好ましくは酸素濃度が2体積%以下、最も好ましくは1体積%以下である。架橋反応又は重合反応を上記のような酸素濃度下で行うことは、光拡散層および帯電防止層においても好ましい。
酸素濃度を10体積%以下にする手法としては、大気(窒素濃度約79体積%、酸素濃度約21体積%)を別の気体で置換することが好ましく、特に好ましくは窒素で置換(窒素パージ)することである。
ハードコート層は、透明支持体の表面に、ハードコート層形成用の塗布組成物を塗布することで構築することが好ましい。
In the formation of the hard coat layer, when formed by a crosslinking reaction or a polymerization reaction of an ionizing radiation curable compound, the crosslinking reaction or the polymerization reaction is preferably performed in an atmosphere having an oxygen concentration of 10% by volume or less. . By forming in an atmosphere having an oxygen concentration of 10% by volume or less, a hard coat layer excellent in physical strength and chemical resistance can be formed. Preferably, it is formed by a crosslinking reaction or polymerization reaction of an ionizing radiation curable compound in an atmosphere having an oxygen concentration of 6% by volume or less, more preferably an oxygen concentration of 4% by volume or less, particularly preferably an oxygen concentration of 2 Volume% or less, most preferably 1 volume% or less. It is preferable for the light diffusion layer and the antistatic layer to perform the crosslinking reaction or the polymerization reaction under the oxygen concentration as described above.
As a method of reducing the oxygen concentration to 10% by volume or less, it is preferable to replace the atmosphere (nitrogen concentration of about 79% by volume, oxygen concentration of about 21% by volume) with another gas, particularly preferably replacement with nitrogen (nitrogen purge). It is to be.
The hard coat layer is preferably constructed by applying a coating composition for forming a hard coat layer on the surface of the transparent support.
[低屈折率層]
本発明の反射防止フィルムの低屈折率層の屈折率は、1.20〜1.50であり、好ましくは1.30〜1.48である。低屈折率層の膜厚は、50〜200nmが好ましく、70〜130nmがより好ましい。
さらに、低屈折率層は下記数式(VII)を満たすことが低反射率化の点で好ましい。
[Low refractive index layer]
The refractive index of the low refractive index layer of the antireflection film of the present invention is 1.20 to 1.50, preferably 1.30 to 1.48. The film thickness of the low refractive index layer is preferably 50 to 200 nm, more preferably 70 to 130 nm.
Further, the low refractive index layer preferably satisfies the following formula (VII) from the viewpoint of reducing the reflectance.
数式(VII) (m/4)×0.7<n1d1<(m/4)×1.3 Formula (VII) (m / 4) × 0.7 <n 1 d 1 <(m / 4) × 1.3
式中、mは正の奇数であり、n1は低屈折率層の屈折率であり、そして、d1は低屈折率層の膜厚(nm)である。また、λは波長であり、500〜550nmの範囲の値である。
なお、上記数式(VII)を満たすとは、上記波長の範囲において数式(VII)を満たすm(正の奇数、通常1である)が存在することを意味している。
In the formula, m is a positive odd number, n 1 is the refractive index of the low refractive index layer, and d 1 is the film thickness (nm) of the low refractive index layer. Further, λ is a wavelength, which is a value in the range of 500 to 550 nm.
In addition, satisfy | filling said numerical formula (VII) means that m (positive odd number, usually 1) which satisfy | fills numerical formula (VII) exists in the said wavelength range.
本発明の反射防止フィルムの低屈折率層は、下記一般式(2)で示されるオルガノシラン化合物(A)の加水分解物および/またはその部分縮合物から構成される組成物(以下、低屈折率層用組成物ともいう。)より形成されることが、フィルムの防汚性や耐擦傷性(膜強度)も向上させることができるので、好ましい。 The low refractive index layer of the antireflection film of the present invention comprises a composition composed of a hydrolyzate of an organosilane compound (A) represented by the following general formula (2) and / or a partial condensate thereof (hereinafter referred to as low refraction). It is also preferable that the film is formed from the composition for the rate layer, since the antifouling property and scratch resistance (film strength) of the film can be improved.
一般式(2) (R)m1Si(X)m2 General formula (2) (R) m1 Si (X) m2
一般式(2)中、Xは−OH、ハロゲン原子、−OR30または−OCOR30を表す。RおよびR30はそれぞれ炭素数1〜10のアルキル基を表す。m1およびm2はそれぞれ整数を表し、m1+m2=4を満たす。 In general formula (2), X represents —OH, a halogen atom, —OR 30 or —OCOR 30 . R and R 30 each represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. m1 and m2 each represent an integer and satisfy m1 + m2 = 4.
上記組成物より形成される低屈折率層はいわゆるゾル−ゲル法によって形成されるSiO2ゲル層である。該SiO2ゲル層の形成に使用する低級珪素アルコキシドは、RaSi(OR')bで表される化合物であり、ここでRおよびR'はそれぞれ炭素数1〜10のアルキル基を表し、a+bは4である。さらに具体的にはテトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ−iso−プロポキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトラ−n−ブトキシシラン、テトラ−sec−ブトキシシラン、テトラ−tert−ブトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリプロポキシシラン、メチルトリブトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジメチルエトキシシラン、ジメチルメトキシシラン、ジメチルプロポキシシラン、ジメチルブトキシシラン、メチルジメトキシシラン、メチルジエトキシシラン、ヘキシルトリメトキシシランなどが挙げられる。 The low refractive index layer formed from the above composition is a SiO 2 gel layer formed by a so-called sol-gel method. The lower silicon alkoxide used for forming the SiO 2 gel layer is a compound represented by R a Si (OR ′) b , wherein R and R ′ each represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a + b is 4. More specifically, tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetra-iso-propoxysilane, tetra-n-propoxysilane, tetra-n-butoxysilane, tetra-sec-butoxysilane, tetra-tert-butoxysilane, methyltri Methoxysilane, methyltriethoxysilane, methyltripropoxysilane, methyltributoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, dimethylethoxysilane, dimethylmethoxysilane, dimethylpropoxysilane, dimethylbutoxysilane, methyldimethoxysilane, methyldiethoxy Examples thereof include silane and hexyltrimethoxysilane.
上記低屈折率層用組成物が、下記オルガノシラン(B)および(C)の加水分解物および/またはその部分縮合物を含有することが好ましく、この場合、該組成物中にオルガノシラン(C)の加水分解物および/またはその部分縮合物をオルガノシラン(B)のそれに対し2〜150質量%含み、オルガノシラン(B)および(C)の少なくとも一方が一般式中のR31にフッ素原子を有することが好ましい。 The composition for a low refractive index layer preferably contains a hydrolyzate of the following organosilanes (B) and (C) and / or a partial condensate thereof. In this case, an organosilane (C 2) to 150 mass% of the organosilane (B), and at least one of the organosilanes (B) and (C) is a fluorine atom at R 31 in the general formula It is preferable to have.
(B)一般式(2b):R31Si(X1)3(式中、R31は炭素数1〜10の有機基、X1は前記一般式(2)中のXと同一の内容を表す。)で表されるオルガノシラン。
(C)一般式(2c):(R31)2Si(X1)2(式中、R31、X1は前記(B)で定義されたと同一の内容を表す。)で表されるオルガノシラン。
(B) General formula (2b): R 31 Si (X 1 ) 3 (wherein R 31 is an organic group having 1 to 10 carbon atoms, and X 1 has the same contents as X in the general formula (2)). Organosilane represented by:
(C) Organo represented by general formula (2c): (R 31 ) 2 Si (X 1 ) 2 (wherein R 31 and X 1 represent the same contents as defined in (B) above). Silane.
更に、上記低屈折率層用組成物が、末端あるいは側鎖に加水分解性基および/または水酸基と結合したケイ素原子を有するシリル基を重合体中に少なくとも1個有するシリル基含有ビニルポリマー(D)を含有することが好ましい。
以下、オルガノシラン(B)、(C)およびシリル基含有ビニルポリマー(D)について説明する。
Furthermore, the composition for a low refractive index layer is a silyl group-containing vinyl polymer (D) having at least one silyl group having a silicon atom bonded to a hydrolyzable group and / or a hydroxyl group at a terminal or a side chain. ) Is preferably contained.
Hereinafter, the organosilanes (B) and (C) and the silyl group-containing vinyl polymer (D) will be described.
(オルガノシラン(B))
オルガノシラン(B)は、一般式(2b'):R31Si(OR32)3で表されるオルガノシランであることが好ましく、低屈折率層用組成物中では、加水分解、縮合して得られる加水分解物および/または部分縮合物となり該組成物中における結合剤としての働きをするものである。かかるオルガノシラン中のR31は、炭素数1〜10の有機基であり、例えばメチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基などのアルキル基、そのほかγ−クロロプロピル基、ビニル基、CF3CH2CH2CH2-、C2F5CH2CH2CH2-、C3F7CH2CH2CH2-、C2F5CH2CH2-、CF3OCH2CH2CH2-、C2F5OCH2CH2CH2-、C3F7OCH2CH2CH2-、(CF3)2CHOCH2CH2CH2-、C4F9CH2OCH2CH2CH2-、3−(パーフルオロシクロヘキシルオキシ)プロピル、H(CF2)4CH2OCH2CH2CH2-、H(CF2)4CH2CH2CH2-、γ−グリシドキシプロピル基、γ−メタクリルオキシプロピル基、γ−メルカプトプロピル基、フェニル基、3,4−エポキシシクロヘキシルエチル基などが挙げられる。また、オルガノシラン中のR32は、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜4のアシル基であり、例えばメチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、sec-ブチル基、tert−ブチル基、アセチル基などが挙げられる。
(Organosilane (B))
The organosilane (B) is preferably an organosilane represented by the general formula (2b ′): R 31 Si (OR 32 ) 3. In the composition for a low refractive index layer, it is hydrolyzed and condensed. The resulting hydrolyzate and / or partial condensate serves as a binder in the composition. R 31 in the organosilane is an organic group having 1 to 10 carbon atoms, for example, an alkyl group such as methyl group, ethyl group, n-propyl group, i-propyl group, γ-chloropropyl group, vinyl group, etc. , CF 3 CH 2 CH 2 CH 2- , C 2 F 5 CH 2 CH 2 CH 2- , C 3 F 7 CH 2 CH 2 CH 2- , C 2 F 5 CH 2 CH 2- , CF 3 OCH 2 CH 2 CH 2- , C 2 F 5 OCH 2 CH 2 CH 2- , C 3 F 7 OCH 2 CH 2 CH 2- , (CF 3 ) 2 CHOCH 2 CH 2 CH 2- , C 4 F 9 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2- , 3- (perfluorocyclohexyloxy) propyl, H (CF 2 ) 4 CH 2 OCH 2 CH 2 CH 2- , H (CF 2 ) 4 CH 2 CH 2 CH 2- , γ-glycid A xylpropyl group, γ-methacryloxypropyl group, γ-mercaptopropyl group, phenyl group, 3,4-epoxycyclohexylethyl group and the like can be mentioned. R 32 in the organosilane is an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or an acyl group having 1 to 4 carbon atoms, such as methyl group, ethyl group, n-propyl group, i-propyl group, n-butyl. Group, sec-butyl group, tert-butyl group, acetyl group and the like.
これらのオルガノシランの具体例としては、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラン、i−プロピルトリメトキシシラン、i−プロピルトリエトキシシラン、γ−クロロプロピルトリメトキシシラン、γ−クロロプロピルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、γ−メタクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、γ−メタクリルオキシプロピルトリエトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、3,4−エポキシシクロヘキシルエチルトリメトキシシラン、3,4−エポキシシクロヘキシルエチルトリエトキシシラン、CF3CH2CH2CH2Si(OCH3)3、C2H5CH2CH2CH2Si(OCH3)3、C2F5CH2CH2Si(OCH3)3、C3F7CH2CH2CH2Si(OCH3)3、C2F5OCH2CH2CH2Si(OCH3)3、C3F7OCH2CH2CH2Si(OC2H5)3、(CF3)2CHOCH2CH2CH2Si(OCH3)3、C4F9CH2OCH2CH2CH2Si(OCH3)3、H(CF2)4CH2OCH2CH2CH2Si(OCH3)3、3−(パーフルオロシクロヘキシルオキシ)プロピルシラン等を挙げることができる。
Specific examples of these organosilanes include methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, ethyltrimethoxysilane, ethyltriethoxysilane, n-propyltrimethoxysilane, n-propyltriethoxysilane, i-propyltrimethoxysilane. I-propyltriethoxysilane, γ-chloropropyltrimethoxysilane, γ-chloropropyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyl Triethoxysilane, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, γ-methacryloxypropyltriethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropyltriethoxysilane, Cycloalkenyl trimethoxysilane, phenyl triethoxysilane, 3,4-epoxy cyclohexylethyl trimethoxysilane, 3,4-
このうち、フッ素原子を有するオルガノシランが好ましい。また、R31としてフッ素原子を有さないオルガノシランを用いる場合、メチルトリメトキシシランまたはメチルトリエトキシシランを用いる事が好ましい。上記のオルガノシランは1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用することもできる。 Among these, organosilane having a fluorine atom is preferable. In the case of using the organosilane having no fluorine atom as R 31, it is preferable to use methyltrimethoxysilane or methyltriethoxysilane. Said organosilane may be used individually by 1 type, and can also use 2 or more types together.
(オルガノシラン(C))
オルガノシラン(C)は、一般式(2c'):(R31)2Si(OR32)2(式中、R31およびR32は前記オルガノシラン(B)の説明で定義されたR31およびR32と同じ)で表されるジオルガノシランであることが好ましい。ただし、R31およびR32はオルガノシラン(B)と同じ置換基でなくてもよい。低屈折率層用組成物中では加水分解、縮合して得られる加水分解物および/または部分縮合物となり、該組成物中における結合剤としての働きをするとともに、塗膜を柔軟化し耐アルカリ性を向上させるものである。かかるジオルガノシラン中のR31およびR32は、前記オルガノシランのR31およびR32と同様である。
(Organosilane (C))
Organosilane (C) of the
これらのジオルガノシランの具体例は、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチルジエトキシシラン、ジ−n−プロピルジメトキシシラン、ジ−n−プロピルジエトキシシラン、ジ−i−プロピルジメトキシシラン、ジ−i−プロピルジエトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラン、(CF3CH2CH2)2Si(OCH3)2、(CF3CH2CH2CH2)2Si(OCH3)2、(C3F7OCH2CH2CH2)2Si(OCH3)2、〔H(CF2)6CH2OCH2CH2CH2〕2Si(OCH3)2、(C2F5CH2CH2)2Si(OCH3)2などを挙げることができ、好ましくはフッ素原子を有するオルガノシランである。またR31としてフッ素原子有さないオルガノシランを用いる場合には、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシランが好ましい。このような(R31)2Si(OR32)2で表されるオルガノシランは、1種単独で用いてもよいし、あるいは2種以上を併用することもできる。オルガノシラン(C)の加水分解物および/または部分縮合物の低屈折率層用組成物中における割合は、オルガノシラン(B)の加水分解物および/または部分縮合物に対して2〜150質量%、好ましくは5〜100質量%、さらに好ましくは10〜60質量%である。150質量%を超えると得られる塗膜の密着性、硬化性が低下しやすくなる。
Specific examples of these diorganosilanes are dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, diethyldimethoxysilane, diethyldiethoxysilane, di-n-propyldimethoxysilane, di-n-propyldiethoxysilane, di-i-propyl. dimethoxysilane, di -i- propyl diethoxy silane, diphenyl dimethoxy silane, diphenyl diethoxy silane, (CF 3 CH 2 CH 2 ) 2 Si (OCH 3) 2, (CF 3
(シリル基含有ビニルポリマー(D))
シリル基含有ビニルポリマー(D)は、主鎖がビニル系重合体からなり、末端あるいは側鎖に加水分解性基および/または水酸基と結合したケイ素原子を有するシリル基を重合体1分子中に少なくとも1個、好ましくは2個以上含有するものであり、該シリル基の多くは、下記一般式(2d)で表される。
(Silyl group-containing vinyl polymer (D))
The silyl group-containing vinyl polymer (D) has a main chain composed of a vinyl polymer, and has at least one silyl group having a silicon atom bonded to a hydrolyzable group and / or a hydroxyl group at a terminal or a side chain in one polymer molecule. One, preferably two or more are contained, and most of the silyl groups are represented by the following general formula (2d).
一般式(2d)中、Zはハロゲン原子、アルコキシ基、アシロキシ基、フェノキシ基、アミノ基などの加水分解性基および/または水酸基、R36は水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、または炭素数1〜10のアラルキル基、aは1〜3の整数である。 In general formula (2d), Z is a hydrolyzable group such as a halogen atom, an alkoxy group, an acyloxy group, a phenoxy group, an amino group and / or a hydroxyl group, R 36 is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, or C1-C10 aralkyl group, a is an integer of 1-3.
シリル基含有ビニルポリマー(D)は、(イ)ヒドロシラン化合物を炭素−炭素二重結合を有するビニル系樹脂と反応させることにより製造してもよく、また(ロ)下記一般式(2d')で表されるシラン化合物と、各種ビニル系化合物とを重合することにより製造してもよく、その製造方法は限定されるものではない。 The silyl group-containing vinyl polymer (D) may be produced by reacting (i) a hydrosilane compound with a vinyl resin having a carbon-carbon double bond, and (b) represented by the following general formula (2d ′). You may manufacture by superposing | polymerizing the silane compound represented and various vinyl type compounds, and the manufacturing method is not limited.
一般式(2d')中、Z、R36、aは一般式(2d)のものと同じ、R37は重合性二重結合を有する有機基である。 In general formula (2d ′), Z, R 36 and a are the same as those in general formula (2d), and R 37 is an organic group having a polymerizable double bond.
ここで、前記(イ)で示される製造方法で使用されるヒドロシラン化合物としては、例えばメチルジクロルシラン、トリクロルシラン、フェニルジクロルシランなどのハロゲン化シラン類;メチルジエトキシシラン、メチルジメトキシシラン、フェニルジメトキシシラン、トリメトキシシラン、トリエトキシシランなどのアルコキシシラン類;メチルジアセトキシシラン、フェニルジアセトキシシラン、トリアセトキシシランなどのアシロキシシラン類が挙げられる。 Here, examples of the hydrosilane compound used in the production method shown in (a) above include halogenated silanes such as methyldichlorosilane, trichlorosilane, and phenyldichlorosilane; methyldiethoxysilane, methyldimethoxysilane, Examples include alkoxysilanes such as phenyldimethoxysilane, trimethoxysilane, and triethoxysilane; and acyloxysilanes such as methyldiacetoxysilane, phenyldiacetoxysilane, and triacetoxysilane.
また、(イ)で示される製造方法で使用されるビニル系樹脂としては、水酸基を含むビニル系樹脂を除く以外に特に限定はなく、例えば(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸ブチル、(メタ)アクリル酸イソブチル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、ベンジル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレートなどの(メタ)アクリル酸エステル;(メタ)アクリル酸、イタコン酸、フマル酸などのカルボン酸および無水マレイン酸などの酸無水物;グリシジル(メタ)アクリレートなどのエポキシ化合物;ジエチルアミノエチル(メタ)アクリレート、アミノエチルビニルエーテルなどのアミノ化合物;(メタ)アクリルアミド、N−t−ブチル(メタ)アクリルアミド、イタコン酸ジアミド、α−エチルアクリルアミド、クロトンアミド、フマル酸ジアミド、マレイン酸ジアミド、N−ブトキシメチル(メタ)アクリルアミドなどのアミド化合物;アクリロニトリル、スチレン、ビニルトルエン、α−メチルスチレン、塩化ビニル、酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、N−ビニルピロリドン、下記FM−1〜FM−23で表される化合物などから選ばれるビニル系化合物をアリルメタクリレートのような側鎖に二重結合を有するモノマーと共重合したビニル系樹脂が好ましく、共重合モノマーとして含フッ素モノマーを少なくとも1種用いたものが特に好ましい。 In addition, the vinyl resin used in the production method shown in (a) is not particularly limited except that the vinyl resin containing a hydroxyl group is excluded. For example, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, (Meth) acrylic acid esters such as butyl (meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate; (meth) acrylic acid, itacon Acids, carboxylic acids such as fumaric acid and acid anhydrides such as maleic anhydride; epoxy compounds such as glycidyl (meth) acrylate; amino compounds such as diethylaminoethyl (meth) acrylate and aminoethyl vinyl ether; (meth) acrylamide, N- t-Butyl (meth) acrylamide, Itako Amide compounds such as acid diamide, α-ethylacrylamide, crotonamide, fumaric acid diamide, maleic acid diamide, N-butoxymethyl (meth) acrylamide; acrylonitrile, styrene, vinyltoluene, α-methylstyrene, vinyl chloride, vinyl acetate, A vinyl compound obtained by copolymerizing a vinyl compound selected from vinyl propionate, N-vinyl pyrrolidone, and compounds represented by the following FM-1 to FM-23 with a monomer having a double bond in a side chain such as allyl methacrylate. Resins are preferred, and those using at least one fluorine-containing monomer as a copolymerization monomer are particularly preferred.
一方、(ロ)で示される製造方法で使用されるシラン化合物としては、次のものが挙げられる。 On the other hand, the following are mentioned as a silane compound used with the manufacturing method shown by (b).
また、(ロ)で示される製造方法で使用されるビニル系化合物としては、前記(イ)の製造方法でビニル系樹脂の重合時に用いられるビニル系化合物を使用することが可能であるが、かかる(イ)の製造方法に記載された以外に、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシビニルエーテル、N−メチロールアクリルアミドなどの水酸基を含むビニル系化合物を挙げることもできる。また、含フッ素モノマーを1種用いたものが特に好ましい。 Further, as the vinyl compound used in the production method shown in (b), it is possible to use a vinyl compound used at the time of polymerization of the vinyl resin in the production method of (a). In addition to being described in the production method of (A), vinyl compounds containing hydroxyl groups such as 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxyvinyl ether, N-methylolacrylamide and the like are listed. You can also. Moreover, what used 1 type of fluorine-containing monomers is especially preferable.
以上のようなシリル基含有ビニルポリマーの好ましい具体例としては、例えば下記一般式(2d")で表されるトリアルコキシシリル基含有アクリル重合体を挙げることができる。 Preferable specific examples of the silyl group-containing vinyl polymer as described above include, for example, trialkoxysilyl group-containing acrylic polymers represented by the following general formula (2d ″).
一般式(2d")中、R38、R40は水素原子、フッ素原子またはメチル基、R39は水素原子、炭素数1〜12のアルキル基(例えば、メチル、エチル、n−プロピル、アリル、n−ブチル、i−ブチル、n−ペンテル、n−ヘキシル、ベンジル、(CF3)2CH-、CF3CH2-、C7F15CH2-、C2F15CH2CH2-、等の前記オルガノシラン(B)の説明で挙げたフッ素原子を含むアルキル基)を表し、R41はメチレン基、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基などの炭素数1〜4のアルキレン基、R42はR39と同様であり、r/(1+r)=0.01〜0.4(モル比)、好ましくは0.02〜0.2(モル比)である。 In the general formula (2d ″), R 38 and R 40 are a hydrogen atom, a fluorine atom or a methyl group, R 39 is a hydrogen atom, and an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms (for example, methyl, ethyl, n-propyl, allyl, n-butyl, i-butyl, n-pentyl, n-hexyl, benzyl, (CF 3 ) 2 CH-, CF 3 CH 2- , C 7 F 15 CH 2- , C 2 F 15 CH 2 CH 2- , R 41 represents an alkylene group having 1 to 4 carbon atoms such as a methylene group, an ethylene group, a propylene group, or a butylene group, and R 42. is the same as R 39, r / (1 + r) = 0.01~0.4 ( molar ratio), preferably 0.02 to 0.2 (molar ratio).
このシリル基含有ビニルポリマーの数平均分子量は、好ましくは2,000から100,000、さらに好ましくは4,000〜50,000である。 The number average molecular weight of the silyl group-containing vinyl polymer is preferably 2,000 to 100,000, more preferably 4,000 to 50,000.
以上のような本発明に使用されるシリル基含有ビニルポリマー(D)の具体例としては、鐘淵化学工業(株)製、カネカゼムラックや下記のポリマーを挙げることができるが、これらに限定されるものではない。下記の具体例において、括弧内の数値は重合組成比(質量比)である。 Specific examples of the silyl group-containing vinyl polymer (D) used in the present invention as described above include Kanekazemulac and the following polymers manufactured by Kaneka Chemical Co., Ltd., but are not limited thereto. Is not to be done. In the following specific examples, the numerical value in parentheses is the polymerization composition ratio (mass ratio).
PP−1:メチルメタクリレート/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(90/10)
PP−2:メチルメタクリレート/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(85/15)
PP−3:メチルメタクリレート/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(80/20)
PP−4:メチルメタクリレート/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(70/30)
PP−5:メチルメタクリレート/エチルアクリレート/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(50/35/15)
PP-1: Methyl methacrylate / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (90/10)
PP-2: Methyl methacrylate / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (85/15)
PP-3: Methyl methacrylate / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (80/20)
PP-4: Methyl methacrylate / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (70/30)
PP-5: Methyl methacrylate / ethyl acrylate / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (50/35/15)
PP−6:エチルメタクリレート/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(85/15)
PP−7:n−ブチルメタクリレート/スチレン/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(50/35/15)
PP−8:メチルメタクリレート/メチルアクリレート/γ−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン(35/40/15)
PP−9:メチルメタクリレート/メチルアクリレート/γ−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン(40/40/20)
P−10:メチルメタクリレート/n−ブチルアクリレート/ビニルトリメトキシシラン(60/30/10)
PP-6: Ethyl methacrylate / γ-methacryloxypropyl trimethoxysilane (85/15)
PP-7: n-butyl methacrylate / styrene / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (50/35/15)
PP-8: Methyl methacrylate / methyl acrylate / γ-acryloxypropyltrimethoxysilane (35/40/15)
PP-9: methyl methacrylate / methyl acrylate / γ-acryloxypropyltrimethoxysilane (40/40/20)
P-10: Methyl methacrylate / n-butyl acrylate / vinyl trimethoxysilane (60/30/10)
PP−11:FM-1/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(85/15)
PP−12:FM-4/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(90/10)
PP−13:FM-4/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(85/15)
PP−14:FM-4/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(70/30)
PP−15:FM-4/FM-7/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(30/55/15)
PP-11: FM-1 / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (85/15)
PP-12: FM-4 / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (90/10)
PP-13: FM-4 / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (85/15)
PP-14: FM-4 / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (70/30)
PP-15: FM-4 / FM-7 / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (30/55/15)
PP−16:FM-2/FM-4/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(30/50/20)
PP−17:FM-3/FM-4/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(25/60/15)
PP−18:FM-4/メチルメタクリレート/γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(60/25/15)
PP−19:FM-7/メチルメタクリレート/γ−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン(40/45/15)
PP−20:FM-4/メチルメタクリレート/ビニルトリメトキシシラン(65/20/15)
PP-16: FM-2 / FM-4 / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (30/50/20)
PP-17: FM-3 / FM-4 / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (25/60/15)
PP-18: FM-4 / methyl methacrylate / γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (60/25/15)
PP-19: FM-7 / methyl methacrylate / γ-acryloxypropyltrimethoxysilane (40/45/15)
PP-20: FM-4 / methyl methacrylate / vinyltrimethoxysilane (65/20/15)
低屈折率層形成用組成物中のシリル基含有ビニルポリマー(D)の割合は、オルガノシラン(B)に対し、好ましくは2〜300質量%、より好ましくは5〜200質量%、さらに好ましくは10〜100質量%である。2質量%未満では得られる塗膜の耐アルカリ性が低下しやすく、一方、300質量%を超えると得られる塗膜の耐久性が悪化しやすい。 The ratio of the silyl group-containing vinyl polymer (D) in the composition for forming a low refractive index layer is preferably 2 to 300% by mass, more preferably 5 to 200% by mass, and still more preferably, with respect to the organosilane (B). 10 to 100% by mass. If it is less than 2% by mass, the alkali resistance of the resulting coating film tends to decrease, while if it exceeds 300% by mass, the durability of the resulting coating film tends to deteriorate.
本発明の低屈折率層は上述の方法で調製した有機珪素を主成分とする網目高分子構造により形成されている。この網目構造を構築する主成分(モノマー)は上述のオルガノシラン(B)ないしオルガノシラン(C)である。これら有機珪素モノマー化合物の本発明における好ましい組み合わせについて下記および実施例に例示する。混合比は使用した各化合物の質量(g)を示す。 The low refractive index layer of the present invention is formed of a network polymer structure mainly composed of organosilicon prepared by the above-described method. The main component (monomer) for constructing this network structure is the aforementioned organosilane (B) or organosilane (C). Preferred combinations of these organosilicon monomer compounds in the present invention are exemplified below and in the examples. The mixing ratio indicates the mass (g) of each compound used.
SP−1:メチルトリメトキシシラン 10g、ジメチルジメトキシシラン 5g、3,3,3−トリフルオロプロピルトリエトキシシラン 2g、化合物(PP−2) 2.5g
SP−2:メチルトリメトキシシラン 12g、ジメチルジエトキシシラン 8g、3,3,3−トリフルオロプロピルトリエトキシシラン 2g、化合物(PP−2) 3g
SP−3:エチルトリエトキシシラン 15g、ジメチルジエトキシシラン 5g、3,3,3−トリフルオロブチルトリエトキシシラン 2g、化合物(PP−2) 2g
SP−4:メチルトリメトキシシラン 10g、ジメチルジメトキシシラン 5g、3,3,3−トリフルオロプロピルトリエトキシシラン 2g、化合物(PP−2) 1.5g
SP−5:メチルトリメトキシシラン 10g、ジメチルジメトキシシラン 5g、3−パーフルオロエトキシプロピルトリメトキシシラン 5g、化合物(PP−5) 2.5g
SP−6:エチルトリメトキシシラン 20g、3,3,3−トリフルオロブチルトリエトキシシラン 7g、ビス(3,3,3−トリフルオロプロピル)ジエトキシシラン 5g、化合物(PP−7) 3g
SP−7:テトラエトキシシラン 2g、メチルトリメトキシシラン 10g、ジメチルジメトキシシラン 5g、3,3,3−トリフルオロプロピルトリエトキシシラン 2g、化合物(PP−2) 2.5g
SP−8:シクロヘキシルトリメトキシシラン 18g、ビス(3,3,3−トリフルオロプロピル)トリエトキシシラン 12g、テトラエトキシシラン 3g、化合物(PP−12) 5g
SP−9:メチルトリメトキシシラン 12g、ジメチルジプロポキシシラン 10g、3,3,3−トリフルオロプロピルトリエトキシシラン 5g、化合物(PP−8) 2.5g
SP−10:メチルトリエトキシシラン 12g、ジメチルジメトキシシラン 5g、ビス(3,3,3−トリフルオロプロピル)トリメトキシシラン 5g、化合物(PP−8) 4.5g
SP-1: 10 g of methyltrimethoxysilane, 5 g of dimethyldimethoxysilane, 2 g of 3,3,3-trifluoropropyltriethoxysilane, 2.5 g of compound (PP-2)
SP-2: methyltrimethoxysilane 12 g, dimethyldiethoxysilane 8 g, 3,3,3-trifluoropropyltriethoxysilane 2 g, compound (PP-2) 3 g
SP-3: 15 g of ethyltriethoxysilane, 5 g of dimethyldiethoxysilane, 2 g of 3,3,3-trifluorobutyltriethoxysilane, 2 g of compound (PP-2)
SP-4: 10 g of methyltrimethoxysilane, 5 g of dimethyldimethoxysilane, 2 g of 3,3,3-trifluoropropyltriethoxysilane, 1.5 g of compound (PP-2)
SP-5: methyltrimethoxysilane 10 g, dimethyldimethoxysilane 5 g, 3-perfluoroethoxypropyltrimethoxysilane 5 g, compound (PP-5) 2.5 g
SP-6: Ethyltrimethoxysilane 20 g, 3,3,3-trifluorobutyltriethoxysilane 7 g, bis (3,3,3-trifluoropropyl) diethoxysilane 5 g, compound (PP-7) 3 g
SP-7: tetraethoxysilane 2 g, methyltrimethoxysilane 10 g, dimethyldimethoxysilane 5 g, 3,3,3-trifluoropropyltriethoxysilane 2 g, compound (PP-2) 2.5 g
SP-8: 18 g of cyclohexyltrimethoxysilane, 12 g of bis (3,3,3-trifluoropropyl) triethoxysilane, 3 g of tetraethoxysilane, 5 g of compound (PP-12)
SP-9: methyltrimethoxysilane 12 g, dimethyldipropoxysilane 10 g, 3,3,3-trifluoropropyltriethoxysilane 5 g, compound (PP-8) 2.5 g
SP-10: 12 g of methyltriethoxysilane, 5 g of dimethyldimethoxysilane, 5 g of bis (3,3,3-trifluoropropyl) trimethoxysilane, 4.5 g of compound (PP-8)
本発明の低屈折率層には、低屈折率バインダーとして、含フッ素ポリマーを含むことが好ましい。フッ素ポリマーとしては動摩擦係数0.03〜0.15、水に対する接触角90〜120°の熱または電離放射線により架橋する含フッ素ポリマーが好ましい。膜強度向上のための無機フィラーを用いることもできる。 The low refractive index layer of the present invention preferably contains a fluorine-containing polymer as a low refractive index binder. The fluoropolymer is preferably a fluoropolymer that is crosslinked by heat or ionizing radiation having a coefficient of dynamic friction of 0.03 to 0.15 and a contact angle with water of 90 to 120 °. An inorganic filler for improving the film strength can also be used.
低屈折率層に用いられる含フッ素ポリマーとしてはパーフルオロアルキル基含有シラン化合物(例えば(ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2−テトラヒドロデシル)トリエトキシシラン)の加水分解、脱水縮合物の他、含フッ素モノマー単位と架橋反応性付与のための構成単位を構成成分とする含フッ素共重合体が挙げられる。 Examples of the fluorine-containing polymer used in the low refractive index layer include hydrolysis and dehydration condensate of perfluoroalkyl group-containing silane compounds (for example, (heptadecafluoro-1,1,2,2-tetrahydrodecyl) triethoxysilane). And a fluorine-containing copolymer having a fluorine-containing monomer unit and a structural unit for imparting crosslinking reactivity as structural components.
含フッ素モノマー単位の具体例としては、例えばフルオロオレフィン類(例えばフルオロエチレン、ビニリデンフルオライド、テトラフルオロエチレン、パーフルオロオクチルエチレン、ヘキサフルオロプロピレン、パーフルオロ−2,2−ジメチル−1,3−ジオキソール等)、(メタ)アクリル酸の部分または完全フッ素化アルキルエステル誘導体類(例えばビスコート6FM(大阪有機化学製)やM−2020(ダイキン製)等)、完全または部分フッ素化ビニルエーテル類等が挙げられるが、好ましくはパーフルオロオレフィン類であり、屈折率、溶解性、透明性、入手性等の観点から特に好ましくはヘキサフルオロプロピレンである。 Specific examples of the fluorine-containing monomer unit include, for example, fluoroolefins (for example, fluoroethylene, vinylidene fluoride, tetrafluoroethylene, perfluorooctylethylene, hexafluoropropylene, perfluoro-2,2-dimethyl-1,3-dioxole. Etc.), partially (meth) acrylic acid or fully fluorinated alkyl ester derivatives (for example, Biscoat 6FM (manufactured by Osaka Organic Chemical), M-2020 (manufactured by Daikin), etc.), fully or partially fluorinated vinyl ethers, etc. However, perfluoroolefins are preferred, and hexafluoropropylene is particularly preferred from the viewpoints of refractive index, solubility, transparency, availability, and the like.
架橋反応性付与のための構成単位としてはグリシジル(メタ)アクリレート、グリシジルビニルエーテルのように分子内にあらかじめ自己架橋性官能基を有するモノマーの重合によって得られる構成単位、カルボキシル基やヒドロキシ基、アミノ基、スルホ基等を有するモノマー(例えば(メタ)アクリル酸、メチロール(メタ)アクリレート、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、アリルアクリレート、ヒドロキシエチルビニルエーテル、ヒドロキシブチルビニルエーテル、マレイン酸、クロトン酸等)の重合によって得られる構成単位、これらの構成単位に高分子反応によって(メタ)アクリルロイル基等の架橋反応性基を導入した構成単位(例えばヒドロキシ基に対してアクリル酸クロリドを作用させる等の手法で導入できる)が挙げられる。 As structural units for imparting crosslinking reactivity, structural units obtained by polymerization of monomers having a self-crosslinkable functional group in advance in the molecule such as glycidyl (meth) acrylate and glycidyl vinyl ether, carboxyl groups, hydroxy groups, amino groups , Obtained by polymerization of a monomer having a sulfo group or the like (for example, (meth) acrylic acid, methylol (meth) acrylate, hydroxyalkyl (meth) acrylate, allyl acrylate, hydroxyethyl vinyl ether, hydroxybutyl vinyl ether, maleic acid, crotonic acid, etc.) And a structural unit obtained by introducing a crosslinking reactive group such as a (meth) acryloyl group into these structural units by a polymer reaction (for example, it can be introduced by a technique such as allowing acrylic acid chloride to act on a hydroxy group) And the like.
また上記含フッ素モノマー単位、架橋反応性付与のための構成単位以外に溶剤への溶解性、皮膜の透明性等の観点から適宜フッ素原子を含有しないモノマーを共重合することもできる。併用可能なモノマー単位には特に限定はなく、例えばオレフィン類(エチレン、プロピレン、イソプレン、塩化ビニル、塩化ビニリデン等)、アクリル酸エステル類(アクリル酸メチル、アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸2−エチルヘキシル)、メタクリル酸エステル類(メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチル、メタクリル酸ブチル、エチレングリコールジメタクリレート等)、スチレン誘導体(スチレン、ジビニルベンゼン、ビニルトルエン、α−メチルスチレン等)、ビニルエーテル類(メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、シクロヘキシルビニルエーテル等)、ビニルエステル類(酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、桂皮酸ビニル等)、アクリルアミド類(N−tertブチルアクリルアミド、N−シクロヘキシルアクリルアミド等)、メタクリルアミド類、アクリロ二トリル誘導体等を挙げることができる。 In addition to the above-mentioned fluorine-containing monomer units and structural units for imparting crosslinking reactivity, monomers not containing fluorine atoms can be copolymerized as appropriate from the viewpoints of solubility in solvents and film transparency. There are no particular limitations on the monomer units that can be used in combination. For example, olefins (ethylene, propylene, isoprene, vinyl chloride, vinylidene chloride, etc.), acrylic esters (methyl acrylate, methyl acrylate, ethyl acrylate, acrylic acid 2) -Ethylhexyl), methacrylates (methyl methacrylate, ethyl methacrylate, butyl methacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, etc.), styrene derivatives (styrene, divinylbenzene, vinyltoluene, α-methylstyrene, etc.), vinyl ethers (methyl) Vinyl ether, ethyl vinyl ether, cyclohexyl vinyl ether, etc.), vinyl esters (vinyl acetate, vinyl propionate, vinyl cinnamate etc.), acrylamides (N-tertbutylacrylamide, N-silane) B hexyl acrylamide), methacrylamides, and acrylonitrile derivatives.
上記のポリマーに対しては特開平10−25388号および特開平10−147739号各公報に記載のごとく適宜硬化剤を併用してもよい。 As described in JP-A-10-25388 and JP-A-10-147739, a curing agent may be appropriately used in combination with the above polymer.
本発明の低屈折率層のバインダーとして特に有用な含フッ素ポリマーは、パーフルオロオレフィンとビニルエーテル類またはビニルエステル類のランダム共重合体である。特に単独で架橋反応可能な基((メタ)アクリロイル基等のラジカル反応性基、エポキシ基、オキセタニル基等の開環重合性基等)を有していることが好ましい。これらの架橋反応性基含有重合単位はポリマーの全重合単位の5〜70mol%を占めていることが好ましく、特に好ましくは30〜60mol%を占めていることである。 The fluorine-containing polymer particularly useful as a binder for the low refractive index layer of the present invention is a random copolymer of perfluoroolefin and vinyl ethers or vinyl esters. In particular, it preferably has a group capable of undergoing a crosslinking reaction alone (a radical reactive group such as a (meth) acryloyl group, a ring-opening polymerizable group such as an epoxy group or an oxetanyl group). These cross-linking reactive group-containing polymer units preferably occupy 5 to 70 mol%, particularly preferably 30 to 60 mol% of the total polymer units of the polymer.
上記共重合体の好ましい形態として下記一般式(3)のものが挙げられる。
一般式(3)
A preferable form of the copolymer includes the following general formula (3).
General formula (3)
一般式(3)中、Lは炭素数1〜10の連結基を表し、より好ましくは炭素数1〜6の連結基であり、特に好ましくは2〜4の連結基であり、直鎖であっても分岐構造を有していてもよく、環構造を有していてもよく、O、N、Sから選ばれるヘテロ原子を有していてもよい。
好ましい例としては、*‐(CH2)2-O-**, *-(CH2)2-NH-**, *-(CH2)4-O-**, *-(CH2)6-O-**, *-(CH2)2-O-(CH2)2-O-**, *-CONH-(CH2)3-O-**, *-CH2CH(OH)CH2-O-**, *-CH2CH2OCONH(CH2)3-O-**(*はポリマー主鎖側の連結部位を表し、**は(メタ)アクリロイル基側の連結部位を表す。)等が挙げられる。m3は0または1を表わす。
In General Formula (3), L represents a linking group having 1 to 10 carbon atoms, more preferably a linking group having 1 to 6 carbon atoms, and particularly preferably a linking group having 2 to 4 carbon atoms, which is linear. Alternatively, it may have a branched structure, may have a ring structure, and may have a heteroatom selected from O, N, and S.
Preferred examples include *-(CH 2 ) 2 -O-**, *-(CH 2 ) 2 -NH-**, *-(CH 2 ) 4 -O-**, *-(CH 2 ) 6 -O-**, *-(CH 2 ) 2 -O- (CH 2 ) 2 -O-**, * -CONH- (CH 2 ) 3 -O-**, * -CH 2 CH (OH ) CH 2 -O-**, * -CH 2 CH 2 OCONH (CH 2 ) 3 -O-** (* represents the linking site on the polymer main chain side, ** is the linking on the (meth) acryloyl group side) Represents a part). m 3 represents 0 or 1.
X1は水素原子またはメチル基を表す。硬化反応性の観点から、より好ましくは水素原子である。 X 1 represents a hydrogen atom or a methyl group. From the viewpoint of curing reactivity, a hydrogen atom is more preferable.
Aは任意のビニルモノマーから導かれる繰返し単位を表わし、ヘキサフルオロプロピレンと共重合可能な単量体の構成成分であれば特に制限はなく、基材への密着性、ポリマーのTg(皮膜硬度に寄与する)、溶剤への溶解性、透明性、滑り性、防塵・防汚性等種々の観点から適宜選択することができ、目的に応じて単一あるいは複数のビニルモノマーによって構成されていてもよい。
好ましい例としては、メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、t−ブチルビニルエーテル、シクロへキシルビニルエーテル、イソプロピルビニルエーテル、ヒドロキシエチルビニルエーテル、ヒドロキシブチルビニルエーテル、グリシジルビニルエーテル、アリルビニルエーテル等のビニルエーテル類、酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、酪酸ビニル等のビニルエステル類、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、グリシジルメタアクリレート、アリル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン等の(メタ)アクリレート類、スチレン、p−ヒドロキシメチルスチレン等のスチレン誘導体、クロトン酸、マレイン酸、イタコン酸等の不飽和カルボン酸およびその誘導体等を挙げることができるが、より好ましくはビニルエーテル誘導体、ビニルエステル誘導体であり、特に好ましくはビニルエーテル誘導体である。
A represents a repeating unit derived from an arbitrary vinyl monomer, and is not particularly limited as long as it is a constituent component of a monomer copolymerizable with hexafluoropropylene. Adhesion to a substrate, Tg of a polymer (in terms of film hardness) Can be selected from various viewpoints such as solubility in solvents, transparency, slipperiness, dustproof / antifouling properties, etc., even if it is composed of one or more vinyl monomers depending on the purpose Good.
Preferred examples include methyl vinyl ether, ethyl vinyl ether, t-butyl vinyl ether, cyclohexyl vinyl ether, isopropyl vinyl ether, hydroxyethyl vinyl ether, hydroxybutyl vinyl ether, glycidyl vinyl ether, vinyl ethers such as allyl vinyl ether, vinyl acetate, vinyl propionate, butyric acid. (Meth) such as vinyl esters such as vinyl, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, hydroxyethyl (meth) acrylate, glycidyl methacrylate, allyl (meth) acrylate, (meth) acryloyloxypropyltrimethoxysilane Acrylates, styrene, styrene derivatives such as p-hydroxymethylstyrene, crotonic acid, maleic acid, itaconic acid Can be mentioned unsaturated carboxylic acids and derivatives thereof, more preferably ether derivatives, vinyl ester derivatives, particularly preferably a vinyl ether derivative.
x、y、zはそれぞれの構成成分のモル%を表わし、30≦x≦60、5≦y≦70、0≦z≦65を満たす値を表す。好ましくは、35≦x≦55、30≦y≦60、0≦z≦20の場合であり、特に好ましくは40≦x≦55、40≦y≦55、0≦z≦10の場合である。 x, y, and z represent mol% of each constituent component, and represent values satisfying 30 ≦ x ≦ 60, 5 ≦ y ≦ 70, and 0 ≦ z ≦ 65. Preferably, 35 ≦ x ≦ 55, 30 ≦ y ≦ 60, and 0 ≦ z ≦ 20, and particularly preferably 40 ≦ x ≦ 55, 40 ≦ y ≦ 55, and 0 ≦ z ≦ 10.
一般式(3)で表される共重合体のなかでも、特に好ましい形態として下記一般式(4)が挙げられる。
一般式(4)
Among the copolymers represented by the general formula (3), the following general formula (4) may be mentioned as a particularly preferred form.
General formula (4)
一般式(4)においてX、x、yは一般式(3)と同じ意味を表わし、好ましい範囲も同じである。
n1は2≦n1≦10の整数を表わし、2≦n1≦6であることが好ましく、2≦n1≦4であることが特に好ましい。
Bは任意のビニルモノマーから導かれる繰返し単位を表し、単一組成であっても複数の組成によって構成されていてもよい。例としては、前記一般式(3)におけるAの例として説明したものが当てはまる。
Z1およびZ2はそれぞれの繰返し単位mol%を表し、0≦z1≦65、0≦z2≦65を満たす値を表わす。それぞれ0≦z1≦30、0≦z2≦10であることが好ましく、0≦z1≦10、0≦z2≦5であることが特に好ましい。
In the general formula (4), X, x, and y have the same meaning as in the general formula (3), and the preferred range is also the same.
n 1 represents an integer of 2 ≦ n 1 ≦ 10, preferably 2 ≦ n 1 ≦ 6, and particularly preferably 2 ≦ n 1 ≦ 4.
B represents a repeating unit derived from an arbitrary vinyl monomer, and may be composed of a single composition or a plurality of compositions. As an example, what was demonstrated as an example of A in the said General formula (3) is applicable.
Z1 and Z2 represent respective repeating units mol%, and represent values satisfying 0 ≦ z1 ≦ 65 and 0 ≦ z2 ≦ 65. It is preferable that 0 ≦ z1 ≦ 30 and 0 ≦ z2 ≦ 10 respectively, and it is particularly preferable that 0 ≦ z1 ≦ 10 and 0 ≦ z2 ≦ 5.
一般式(3)または(4)で表わされる共重合体は、例えば、ヘキサフルオロプロピレン成分とヒドロキシアルキルビニルエーテル成分とを含んでなる共重合体に高分子反応により(メタ)アクリロイル基を導入することにより合成できる。 In the copolymer represented by the general formula (3) or (4), for example, a (meth) acryloyl group is introduced into a copolymer comprising a hexafluoropropylene component and a hydroxyalkyl vinyl ether component by a polymer reaction. Can be synthesized.
以下に本発明の低屈折率層のバインダーとして有用な共重合体の好ましい例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。 Although the preferable example of a copolymer useful as a binder of the low refractive index layer of this invention below is shown, this invention is not limited to these.
上記共重合体の合成は、種々の重合方法、例えば溶液重合、沈澱重合、懸濁重合、沈殿重合、塊状重合、乳化重合によって水酸基含有重合体等の前駆体を合成した後、高分子反応によって(メタ)アクリロイル基を導入することにより行なうことができる。重合反応は回分式、半連続式、連続式等の公知の操作で行なうことができる。 The copolymer is synthesized by synthesizing precursors such as a hydroxyl group-containing polymer by various polymerization methods such as solution polymerization, precipitation polymerization, suspension polymerization, precipitation polymerization, bulk polymerization, and emulsion polymerization, and then polymer reaction. This can be done by introducing a (meth) acryloyl group. The polymerization reaction can be performed by a known operation such as a batch system, a semi-continuous system, or a continuous system.
重合の開始方法はラジカル開始剤を用いる方法、光または放射線を照射する方法等がある。これらの重合方法、重合の開始方法は、例えば鶴田禎二「高分子合成方法」改定版(日刊工業新聞社刊、1971)や大津隆行、木下雅悦共著「高分子合成の実験法」化学同人、昭和47年刊、124〜154頁に記載されている。 The polymerization initiation method includes a method using a radical initiator, a method of irradiating light or radiation, and the like. These polymerization methods and polymerization initiation methods are, for example, the revised version of Tsuruta Junji “Polymer Synthesis Method” (published by Nikkan Kogyo Shimbun, 1971), Takatsu Otsu, Masato Kinoshita, “Experimental Methods for Polymer Synthesis” It is described in pp. 47-154 published in 1972.
上記重合方法のうち、特にラジカル開始剤を用いた溶液重合法が好ましい。溶液重合法で用いられる溶剤は、例えば酢酸エチル、酢酸ブチル、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、テトラヒドロフラン、ジオキサン、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、ベンゼン、トルエン、アセトニトリル、塩化メチレン、クロロホルム、ジクロロエタン、メタノール、エタノール、1−プロパノール、2−プロパノール、1−ブタノールのような種々の有機溶剤の単独あるいは2種以上の混合物でもよいし、水との混合溶媒としてもよい。 Among the above polymerization methods, a solution polymerization method using a radical initiator is particularly preferable. Solvents used in the solution polymerization method include, for example, ethyl acetate, butyl acetate, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, tetrahydrofuran, dioxane, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, benzene, toluene, acetonitrile, A single organic organic solvent such as methylene chloride, chloroform, dichloroethane, methanol, ethanol, 1-propanol, 2-propanol, 1-butanol, or a mixture of two or more thereof may be used, or a mixed solvent with water may be used.
重合温度は生成するポリマーの分子量、開始剤の種類などと関連して設定する必要があり0℃以下から100℃以上まで可能であるが、50〜100℃の範囲で重合を行なうことが好ましい。 The polymerization temperature needs to be set in relation to the molecular weight of the polymer to be produced, the type of initiator, etc., and can be from 0 ° C. or lower to 100 ° C. or higher, but it is preferable to carry out the polymerization in the range of 50 to 100 ° C.
反応圧力は、適宜選定可能であるが、通常は、1〜100kg/cm2、特に、1〜30kg/cm2程度が望ましい。反応時間は、5〜30時間程度である。 The reaction pressure can be selected as appropriate, but it is usually 1-100 kg / cm 2 , particularly about 1-30 kg / cm 2 . The reaction time is about 5 to 30 hours.
得られたポリマーの再沈殿溶媒としては、イソプロパノール、ヘキサン、メタノール等が好ましい。 As the reprecipitation solvent for the obtained polymer, isopropanol, hexane, methanol and the like are preferable.
次に本発明の低屈折率層中に、含有することのできる無機微粒子(無機フィラー)について、以下に記載する。
無機微粒子の塗設量は、1mg/m2〜100mg/m2が好ましく、より好ましくは5mg/m2〜80mg/m2、更に好ましくは10mg/m2〜60mg/m2である。少なすぎると、耐擦傷性の改良効果が減り、多すぎると、低屈折率層表面に微細な凹凸ができ、黒の締まりなどの外観や積分反射率が悪化する。
該無機微粒子は、低屈折率層に含有させることから、低屈折率であることが望ましい。例えば、フッ化マグネシウムやシリカの微粒子が挙げられる。特に、屈折率、分散安定性、コストの点で、シリカ微粒子が好ましい。シリカ微粒子の平均粒径は、低屈折率層の厚みの30%以上150%以下が好ましく、より好ましくは35%以上80%以下、更に好ましくは40%以上60%以下である。即ち、低屈折率層の厚みが100nmであれば、シリカ微粒子の粒径は30nm以上150nm以下が好ましく、より好ましくは35nm以上80nm以下、更に好ましくは、40nm以上60nm以下である。
シリカ微粒子の粒径が小さすぎると、耐擦傷性の改良効果が少なくなり、大きすぎると低屈折率層表面に微細な凹凸ができ、黒の締まりといった外観、積分反射率が悪化する。シリカ微粒子は、結晶質でも、アモルファスのいずれでも良く、また単分散粒子でも、所定の粒径を満たすならば凝集粒子でも構わない。形状は、球径が最も好ましいが、不定形であっても問題無い。
ここで、無機微粒子の平均粒径はコールターカウンターにより測定される。
Next, the inorganic fine particles (inorganic filler) that can be contained in the low refractive index layer of the present invention are described below.
The coating amount of the inorganic fine particles is preferably 1mg / m 2 ~100mg / m 2 , more preferably 5mg / m 2 ~80mg / m 2 , more preferably from 10mg / m 2 ~60mg / m 2 . If the amount is too small, the effect of improving the scratch resistance is reduced. If the amount is too large, fine irregularities are formed on the surface of the low refractive index layer, and the appearance such as black tightening and the integrated reflectance are deteriorated.
Since the inorganic fine particles are contained in the low refractive index layer, it is desirable that the inorganic fine particles have a low refractive index. Examples thereof include fine particles of magnesium fluoride and silica. In particular, silica fine particles are preferable in terms of refractive index, dispersion stability, and cost. The average particle diameter of the silica fine particles is preferably 30% or more and 150% or less of the thickness of the low refractive index layer, more preferably 35% or more and 80% or less, and further preferably 40% or more and 60% or less. That is, when the thickness of the low refractive index layer is 100 nm, the particle diameter of the silica fine particles is preferably 30 nm to 150 nm, more preferably 35 nm to 80 nm, and still more preferably 40 nm to 60 nm.
If the particle size of the silica fine particles is too small, the effect of improving the scratch resistance is reduced. If it is too large, fine irregularities are formed on the surface of the low refractive index layer, and the appearance such as black tightening and the integrated reflectance are deteriorated. The silica fine particles may be either crystalline or amorphous, and may be monodispersed particles or aggregated particles as long as a predetermined particle size is satisfied. The shape is most preferably a spherical diameter, but there is no problem even if the shape is indefinite.
Here, the average particle diameter of the inorganic fine particles is measured by a Coulter counter.
低屈折率層の屈折率上昇をより一層少なくするために、中空のシリカ微粒子を用いることが好ましく、該中空シリカ微粒子は屈折率が1.17〜1.40、より好ましくは1.17〜1.35、さらに好ましくは1.17〜1.30である。ここでの屈折率は粒子全体として屈折率を表し、中空シリカ粒子を形成している外殻のシリカのみの屈折率を表すものではない。この時、粒子内の空腔の半径をa、粒子外殻の半径をbとすると、数式(VIII)[x=(4πa3/3)/(4πb3/3)×100]で表される空隙率xは、好ましくは10〜60%、さらに好ましくは20〜60%、最も好ましくは30〜60%である。
中空のシリカ粒子をより低屈折率に、より空隙率を大きくしようとすると、外殻の厚みが薄くなり、粒子の強度としては弱くなるため、耐擦傷性の観点から1.17未満の低屈折率の粒子は成り立たない。
なお、これら中空シリカ粒子の屈折率はアッベ屈折率計(アタゴ(株)製)にて測定をおこなった。
In order to further reduce the increase in the refractive index of the low refractive index layer, it is preferable to use hollow silica fine particles, and the hollow silica fine particles have a refractive index of 1.17 to 1.40, more preferably 1.17 to 1. .35, more preferably 1.17 to 1.30. The refractive index here represents the refractive index of the entire particle, and does not represent the refractive index of only the outer shell silica forming the hollow silica particles. At this time, represented the radius of the cavity inside the particle a, in When the radius of the outer shell of the particle b, formula (VIII) [x = (4πa 3/3) / (4πb 3/3) × 100] The porosity x is preferably 10 to 60%, more preferably 20 to 60%, and most preferably 30 to 60%.
If the hollow silica particles are made to have a lower refractive index and a higher porosity, the thickness of the outer shell becomes thinner and the strength of the particles becomes weaker. From the viewpoint of scratch resistance, the low refractive index is less than 1.17. Rate particles do not hold.
The refractive index of these hollow silica particles was measured with an Abbe refractometer (manufactured by Atago Co., Ltd.).
また、平均粒径が低屈折率層の厚みの25%未満であるシリカ微粒子(「小サイズ粒径のシリカ微粒子」と称す)の少なくとも1種を上記の粒径のシリカ微粒子(「大サイズ粒径のシリカ微粒子」と称す)と併用することが好ましい。
小サイズ粒径のシリカ微粒子は、大サイズ粒径のシリカ微粒子同士の隙間に存在することができるため、大サイズ粒径のシリカ微粒子の保持剤として寄与することができる。
小サイズ粒径のシリカ微粒子の平均粒径は、低屈折率層が100nmの場合、1nm以上20nm以下が好ましく、5nm以上15nm以下が更に好ましく、10nm以上15nm以下が特に好ましい。このようなシリカ微粒子を用いると、原料コストおよび保持剤効果の点で好ましい。
Further, at least one kind of silica fine particles having an average particle size of less than 25% of the thickness of the low refractive index layer (referred to as “small size particle size silica particles”) is used as silica fine particles having the above particle size (“large size particles”). It is preferably used in combination with “silica fine particles having a diameter”.
Since the fine silica particles having a small size can be present in the gaps between the fine silica particles having a large size, the fine particles can contribute as a retaining agent for the fine silica particles having a large size.
When the low refractive index layer is 100 nm, the average particle size of the silica fine particles having a small size is preferably from 1 nm to 20 nm, more preferably from 5 nm to 15 nm, and particularly preferably from 10 nm to 15 nm. Use of such silica fine particles is preferable in terms of raw material costs and a retaining agent effect.
シリカ微粒子は、分散液中あるいは塗布液中で、分散安定化を図るために、あるいはバインダー成分との親和性、結合性を高めるために、プラズマ放電処理やコロナ放電処理のような物理的表面処理、界面活性剤やカップリング剤等による化学的表面処理がなされていても良い。カップリング剤の使用が特に好ましい。カップリング剤としては、アルコキシメタル化合物(例、チタンカップリング剤、シランカップリング剤)が好ましく用いられる。なかでも、シランカップリング処理が特に有効である。
上記カップリング剤は、低屈折率層の無機フィラーの表面処理剤として該層塗布液調製以前にあらかじめ表面処理を施すために用いられるが、該層塗布液調製時にさらに添加剤として添加して該層に含有させることが好ましい。
シリカ微粒子は、表面処理前に、媒体中に予め分散されていることが、表面処理の負荷軽減のために好ましい。
以上シリカ微粒子について述べたことは、他の無機微粒子についても適用される。
Silica fine particles are treated with a physical surface treatment such as plasma discharge treatment or corona discharge treatment in order to stabilize dispersion in the dispersion or coating solution, or to increase the affinity and binding to the binder component. Further, chemical surface treatment with a surfactant, a coupling agent or the like may be performed. The use of a coupling agent is particularly preferred. As the coupling agent, an alkoxy metal compound (eg, titanium coupling agent, silane coupling agent) is preferably used. Among these, silane coupling treatment is particularly effective.
The above coupling agent is used as a surface treatment agent for the inorganic filler of the low refractive index layer in advance for surface treatment prior to the preparation of the layer coating solution, and is further added as an additive during preparation of the layer coating solution. It is preferable to make it contain in a layer.
The silica fine particles are preferably dispersed in the medium in advance before the surface treatment in order to reduce the load of the surface treatment.
What has been described above for silica fine particles also applies to other inorganic fine particles.
本発明の低屈折率層形成組成物は、通常、液の形態をとり前記共重合体を必須の構成成分とし、必要に応じて各種添加剤およびラジカル重合開始剤を適当な溶剤に溶解して作製される。この際固形分の濃度は、用途に応じて適宜選択されるが一般的には0.01〜60質量%程度であり、好ましくは0.5〜50質量%、特に好ましくは1%〜20質量%程度である。 The composition for forming a low refractive index layer of the present invention is usually in the form of a liquid, and the copolymer is an essential constituent, and various additives and a radical polymerization initiator are dissolved in an appropriate solvent as necessary. Produced. At this time, the concentration of the solid content is appropriately selected according to the use, but is generally about 0.01 to 60% by mass, preferably 0.5 to 50% by mass, particularly preferably 1% to 20% by mass. %.
低屈折率層の皮膜硬度の観点からは硬化剤等の添加剤を添加することは必ずしも有利ではないが、他の層との界面密着性等の観点から、多官能(メタ)アクリレート化合物、多官能エポキシ化合物、ポリイソシアネート化合物、アミノプラスト、多塩基酸またはその無水物等の硬化剤、あるいはシリカ等の無機微粒子を少量添加することもできる。これらを添加する場合には低屈折率層皮膜の全固形分に対して0〜30質量%の範囲であることが好ましく、0〜20質量%の範囲であることがより好ましく、0〜10質量%の範囲であることが特に好ましい。 From the viewpoint of film hardness of the low refractive index layer, it is not always advantageous to add an additive such as a curing agent, but from the viewpoint of interfacial adhesion with other layers, a polyfunctional (meth) acrylate compound, A small amount of a curing agent such as a functional epoxy compound, a polyisocyanate compound, an aminoplast, a polybasic acid or an anhydride thereof, or inorganic fine particles such as silica may be added. When adding these, it is preferable that it is the range of 0-30 mass% with respect to the total solid of a low refractive index layer membrane | film | coat, It is more preferable that it is the range of 0-20 mass%, 0-10 mass % Range is particularly preferred.
防汚性、耐水性、耐薬品性、滑り性等の特性を付与する目的で、公知のシリコーン系あるいはフッ素系の防汚剤、滑り剤等を適宜添加することもできる。これらの添加剤を添加する場合には低屈折率層全固形分の0.01〜20質量%の範囲で添加されることが好ましく、より好ましくは0.05〜10質量%の範囲で添加される場合であり、特に好ましくは0.1〜5質量%の場合である。 For the purpose of imparting properties such as antifouling properties, water resistance, chemical resistance, and slipping properties, known silicone-based or fluorine-based antifouling agents, slipping agents, and the like can be appropriately added. When these additives are added, it is preferably added in the range of 0.01 to 20% by mass of the total solid content of the low refractive index layer, more preferably in the range of 0.05 to 10% by mass. Particularly preferred is 0.1 to 5% by mass.
シリコーン系化合物の好ましい例としてはジメチルシリルオキシ単位を繰り返し単位として複数個含む化合物鎖の末端および/または側鎖に置換基を有するものが挙げられる。ジメチルシリルオキシを繰り返し単位として含む化合物鎖中にはジメチルシリルオキシ以外の構造単位を含んでもよい。置換基は同一であっても異なっていてもよく、複数個あることが好ましい。好ましい置換基の例としてはアクリロイル基、メタクリロイル基、ビニル基、アリール基、シンナモイル基、エポキシ基、オキセタニル基、水酸基、フルオロアルキル基、ポリオキシアルキレン基、カルボキシル基、アミノ基などを含む基が挙げられる。分子量に特に制限はないが、10万以下であることが好ましく、5万以下であることが特に好ましく、3000〜30000であることが最も好ましい。シリコーン系化合物のシリコーン原子含有量には特に制限はないが18.0質量%以上であることが好ましく、25.0〜37.8質量%であることが特に好ましく、30.0〜37.0質量%であることが最も好ましい。好ましいシリコーン系化合物の例としては信越化学(株)製、X-22-174DX、X-22-2426、X-22-164B、X22-164C、X-22-170DX、X-22-176D、X-22-1821(以上商品名)やチッソ(株)製、FM-0725、FM-7725、DMS-U22、RMS-033、RMS-083、UMS-182(以上商品名)などが挙げられるがこれらに限定されるものではない。 Preferable examples of the silicone compound include those having a substituent at the terminal and / or side chain of a compound chain containing a plurality of dimethylsilyloxy units as repeating units. The compound chain containing dimethylsilyloxy as a repeating unit may contain a structural unit other than dimethylsilyloxy. The substituents may be the same or different, and a plurality of substituents are preferable. Examples of preferred substituents include acryloyl group, methacryloyl group, vinyl group, aryl group, cinnamoyl group, epoxy group, oxetanyl group, hydroxyl group, fluoroalkyl group, polyoxyalkylene group, carboxyl group, amino group and the like. It is done. Although there is no restriction | limiting in particular in molecular weight, It is preferable that it is 100,000 or less, It is especially preferable that it is 50,000 or less, It is most preferable that it is 3000-30000. Although there is no restriction | limiting in particular in silicone atom content of a silicone type compound, it is preferable that it is 18.0 mass% or more, it is especially preferable that it is 25.0-37.8 mass%, and 30.0-37.0. Most preferably, it is mass%. Examples of preferable silicone compounds include X-22-174DX, X-22-2426, X-22-164B, X22-164C, X-22-170DX, X-22-176D, X, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. -22-1821 (named above), Chisso Corporation, FM-0725, FM-7725, DMS-U22, RMS-033, RMS-083, UMS-182 (named above), etc. It is not limited to.
フッ素系化合物としては、フルオロアルキル基を有する化合物が好ましい。該フルオロアルキル基は炭素数1〜20であることが好ましく、より好ましくは1〜10であり、直鎖(例えば-CF2CF3,-CH2(CF2)4H,-CH2(CF2)8CF3,-CH2CH2(CF2)4H等)であっても、分岐構造(例えばCH(CF3)2,CH2CF(CF3)2,CH(CH3)CF2CF3,CH(CH3)(CF2)5CF2H等)であっても、脂環式構造(好ましくは5員環または6員環、例えばパーフルオロシクロへキシル基、パーフルオロシクロペンチル基またはこれらで置換されたアルキル基等)であってもよく、エーテル結合を有していてもよい(例えばCH2OCH2CF2CF3, CH2CH2OCH2C4F8H, CH2CH2OCH2CH2C8F17, CH2CH2OCF2CF2OCF2CF2H等)。該フルオロアルキル基は同一分子中に複数含まれていてもよい。
フッ素系化合物は、さらに低屈折率層皮膜との結合形成あるいは相溶性に寄与する置換基を有していることが好ましい。該置換基は同一であっても異なっていてもよく、複数個あることが好ましい。好ましい置換基の例としてはアクリロイル基、メタクリロイル基、ビニル基、アリール基、シンナモイル基、エポキシ基、オキセタニル基、水酸基、ポリオキシアルキレン基、カルボキシル基、アミノ基などが挙げられる。フッ素系化合物はフッ素原子を含まない化合物とのポリマーであってもオリゴマーであってもよく、分子量に特に制限はない。フッ素系化合物のフッ素原子含有量には特に制限は無いが20質量%以上であることが好ましく、30〜70質量%であることが特に好ましく、40〜70質量%であることが最も好ましい。好ましいフッ素系化合物の例としてはダイキン化学工業(株)製、R-2020、M-2020、R-3833、M-3833(以上商品名)、大日本インキ(株)製、メガファックF-171、F-172、F-179A、ディフェンサMCF-300(以上商品名)などが挙げられるがこれらに限定されるものではない。
As the fluorine compound, a compound having a fluoroalkyl group is preferable. The fluoroalkyl group preferably has 1 to 20 carbon atoms, more preferably 1 to 10 carbon atoms, and a straight chain (for example, —CF 2 CF 3 , —CH 2 (CF 2 ) 4 H, —CH 2 (CF 2 ) 8 CF 3 , -CH 2 CH 2 (CF 2 ) 4 H, etc.), even branched structures (eg, CH (CF 3 ) 2 , CH 2 CF (CF 3 ) 2 , CH (CH 3 ) CF 2 CF 3 , CH (CH 3 ) (CF 2 ) 5 CF 2 H, etc.), but alicyclic structures (preferably 5-membered or 6-membered rings such as perfluorocyclohexyl group, perfluorocyclopentyl, etc. Group or an alkyl group substituted with these, and may have an ether bond (for example, CH 2 OCH 2 CF 2 CF 3 , CH 2 CH 2 OCH 2 C 4 F 8 H, CH 2 CH 2 OCH 2 CH 2 C 8 F 17 , CH 2 CH 2 OCF 2 CF 2 OCF 2 CF 2 H, etc.). A plurality of the fluoroalkyl groups may be contained in the same molecule.
It is preferable that the fluorine-based compound further has a substituent that contributes to bond formation or compatibility with the low refractive index layer film. The substituents may be the same or different, and a plurality of substituents are preferable. Examples of preferred substituents include acryloyl group, methacryloyl group, vinyl group, aryl group, cinnamoyl group, epoxy group, oxetanyl group, hydroxyl group, polyoxyalkylene group, carboxyl group, amino group and the like. The fluorine-based compound may be a polymer or an oligomer with a compound not containing a fluorine atom, and the molecular weight is not particularly limited. Although there is no restriction | limiting in particular in fluorine atom content of a fluorine-type compound, It is preferable that it is 20 mass% or more, It is especially preferable that it is 30-70 mass%, It is most preferable that it is 40-70 mass%. Examples of preferred fluorine-based compounds include Daikin Chemical Industries, R-2020, M-2020, R-3833, M-3833 (named above), Dainippon Ink, Megafac F-171. , F-172, F-179A, Defender MCF-300 (named above), but not limited thereto.
防塵性、帯電防止等の特性を付与する目的で、公知のカチオン系界面活性剤あるいはポリオキシアルキレン系化合物のような防塵剤、帯電防止剤等を適宜添加することもできる。これら防塵剤、帯電防止剤は前述したシリコーン系化合物やフッ素系化合物にその構造単位が機能の一部として含まれていてもよい。これらを添加剤として添加する場合には低屈折率層全固形分の0.01〜20質量%の範囲で添加されることが好ましく、より好ましくは0.05〜10質量%の範囲で添加される場合であり、特に好ましくは0.1〜5質量%の場合である。好ましい化合物の例としては大日本インキ(株)製、メガファックF-150(商品名)、東レダウコーニング(株)製、SH-3748(商品名)などが挙げられるが、これらに限定されるわけではない。 For the purpose of imparting properties such as dust resistance and antistatic properties, a known cationic surfactant or a dustproof agent such as a polyoxyalkylene compound, an antistatic agent, or the like can be appropriately added. These dustproofing agent and antistatic agent may contain the structural unit as a part of the function in the above-mentioned silicone compound or fluorine compound. When these are added as additives, it is preferably added in the range of 0.01 to 20% by mass, more preferably in the range of 0.05 to 10% by mass of the total solid content of the low refractive index layer. Particularly preferred is 0.1 to 5% by mass. Examples of preferable compounds include, but are not limited to, Dainippon Ink Co., Ltd., MegaFuck F-150 (trade name), Toray Dow Corning Co., Ltd., SH-3748 (trade name), and the like. Do not mean.
[塗布溶媒]
本発明の反射防止フィルムにおいて、光拡散層、帯電防止層、および低屈折率層を形成するために用いる塗布液の溶媒組成としては、ケトン系溶剤または芳香族炭化水素系溶剤を用いることが好ましく、ケトン系溶剤が特に好ましい。溶剤は単独および混合のいずれでもよく、混合のときはケトン系溶媒の含有量が塗布組成物に含まれる全溶媒の10質量%以上であることが好ましい。好ましくは30質量%以上、さらに好ましくは60質量%以上である。
[Coating solvent]
In the antireflection film of the present invention, the solvent composition of the coating solution used for forming the light diffusion layer, the antistatic layer, and the low refractive index layer is preferably a ketone solvent or an aromatic hydrocarbon solvent. Particularly preferred are ketone solvents. The solvent may be either alone or mixed, and when mixed, the content of the ketone solvent is preferably 10% by mass or more of the total solvent contained in the coating composition. Preferably it is 30 mass% or more, More preferably, it is 60 mass% or more.
塗布溶媒は、ケトン系溶媒以外の溶媒を含んでいてもよい。例えば、沸点が100℃以下の溶媒としては、ヘキサン(沸点68.7℃、以下「℃」を省略する)、ヘプタン(98.4)、シクロヘキサン(80.7)、ベンゼン(80.1)などの炭化水素類、ジクロロメタン(39.8)、クロロホルム(61.2)、四塩化炭素(76.8)、1,2−ジクロロエタン(83.5)、トリクロロエチレン(87.2)などのハロゲン化炭化水素類、ジエチルエーテル(34.6)、ジイソプロピルエーテル(68.5)、ジプロピルエーテル(90.5)、テトラヒドロフラン(66)などのエーテル類、ギ酸エチル(54.2)、酢酸メチル(57.8)、酢酸エチル(77.1)、酢酸イソプロピル(89)などのエステル類、アセトン(56.1)、2?ブタノン(=メチルエチルケトン、79.6)などのケトン類、メタノール(64.5)、エタノール(78.3)、2−プロパノール(82.4)、1−プロパノール(97.2)などのアルコール類、アセトニトリル(81.6)、プロピオニトリル(97.4)などのシアノ化合物類、二硫化炭素(46.2)、などがある。このうちケトン類、エステル類が好ましく、特に好ましくはケトン類である。ケトン類の中では2−ブタノンが特に好ましい。 The coating solvent may contain a solvent other than the ketone solvent. For example, as a solvent having a boiling point of 100 ° C. or lower, hexane (boiling point 68.7 ° C., hereinafter “° C.” is omitted), heptane (98.4), cyclohexane (80.7), benzene (80.1), etc. Hydrocarbons such as dichloromethane (39.8), chloroform (61.2), carbon tetrachloride (76.8), 1,2-dichloroethane (83.5), trichloroethylene (87.2), etc. Hydrogens, diethyl ether (34.6), diisopropyl ether (68.5), dipropyl ether (90.5), ethers such as tetrahydrofuran (66), ethyl formate (54.2), methyl acetate (57. 8), esters such as ethyl acetate (77.1), isopropyl acetate (89), acetone (56.1), 2? Ketones such as butanone (= methyl ethyl ketone, 79.6), alcohols such as methanol (64.5), ethanol (78.3), 2-propanol (82.4), 1-propanol (97.2), And cyano compounds such as acetonitrile (81.6) and propionitrile (97.4), carbon disulfide (46.2), and the like. Of these, ketones and esters are preferable, and ketones are particularly preferable. Among the ketones, 2-butanone is particularly preferable.
沸点が100℃以上の溶媒としては、例えば、オクタン(125.7)、トルエン(110.6)、キシレン(138)、テトラクロロエチレン(121.2)、クロロベンゼン(131.7)、ジオキサン(101.3)、ジブチルエーテル(142.4)、酢酸イソブチル(118)、シクロヘキサノン(155.7)、2−メチル−4−ペンタノン(=MIBK、115.9)、1−ブタノール(117.7)、N,N−ジメチルホルムアミド(153)、N,N−ジメチルアセトアミド(166)、ジメチルスルホキシド(189)、などがある。好ましくは、シクロヘキサノン、2−メチル−4−ペンタノン、である。 Examples of the solvent having a boiling point of 100 ° C. or higher include, for example, octane (125.7), toluene (110.6), xylene (138), tetrachloroethylene (121.2), chlorobenzene (131.7), dioxane (101.3). ), Dibutyl ether (142.4), isobutyl acetate (118), cyclohexanone (155.7), 2-methyl-4-pentanone (= MIBK, 115.9), 1-butanol (117.7), N, N-dimethylformamide (153), N, N-dimethylacetamide (166), dimethyl sulfoxide (189), and the like. Cyclohexanone and 2-methyl-4-pentanone are preferable.
本発明の光拡散層、帯電防止層および低屈折率層成分を前述の組成の溶媒で希釈することにより、それらの層用塗布液が調製される。塗布液濃度は、塗布液の粘度、層素材の比重などを考慮して適宜調節されることが好ましいが、0.1〜20質量%が好ましく、より好ましくは1〜10質量%である。
また各々の機能層と低屈折率層の溶媒は同一組成であってもよいし、異なっていてもよい。
By diluting the light diffusing layer, the antistatic layer and the low refractive index layer component of the present invention with the solvent having the above-mentioned composition, a coating solution for these layers is prepared. The concentration of the coating solution is preferably adjusted as appropriate in consideration of the viscosity of the coating solution and the specific gravity of the layer material, but is preferably 0.1 to 20% by mass, more preferably 1 to 10% by mass.
Moreover, the solvent of each functional layer and the low refractive index layer may be the same composition, and may differ.
[無機フィラー]
本発明の反射防止フィルムは、透明支持体上の各層に無機フィラーを添加することが好ましい。各層に添加する無機フィラーはそれぞれ同じでも異なっていてもよく、各層の屈折率、膜強度、膜厚、塗布性などの必要性能に応じて、種類、添加量、は適宜調節されることが好ましい。
[Inorganic filler]
In the antireflection film of the present invention, an inorganic filler is preferably added to each layer on the transparent support. The inorganic filler added to each layer may be the same or different, and the type and amount added are preferably adjusted appropriately according to the required performance such as the refractive index, film strength, film thickness, and coatability of each layer. .
本発明に使用する上記無機フィラーの形状は、特に制限されるものではなく、例えば、球状、板状、繊維状、棒状、不定形、中空等のいずれも好ましく用いられるが、球状であると分散性がよく、より好ましい。また、上記無機フィラーの種類についても特に制限されるものではないが、非晶質のものが好ましく用いられ、金属の酸化物、窒化物、硫化物またはハロゲン化物からなるものが好ましく、金属酸化物が特に好ましい。金属原子としては、Na、K、Mg、Ca、Ba、Al、Zn、Fe、Cu、Ti、Sn、In、W、Y、Sb、Mn、Ga、V、Nb、Ta、Ag、Si、B、Bi、Mo、Ce、Cd、Be、Pb、ZrおよびNi等が挙げられる。無機フィラーの平均粒子径は、添加する層によっても異なるが、透明な硬化膜を得るためには、0.001〜0.2μmの範囲内の値とするのが好ましく、より好ましくは0.001〜0.1μm、さらに好ましくは0.001〜0.06μmである。ここで、粒子の平均粒径はコールターカウンターにより測定される。
本発明における無機フィラーの使用方法は特に制限されるものではないが、例えば、乾燥状態で使用することができるし、あるいは水もしくは有機溶媒に分散した状態で使用することもできる。
The shape of the inorganic filler used in the present invention is not particularly limited, and for example, any of a spherical shape, a plate shape, a fiber shape, a rod shape, an indeterminate shape, a hollow shape, and the like are preferably used. Good and more preferable. Further, the kind of the inorganic filler is not particularly limited, but an amorphous one is preferably used, and a metal oxide, nitride, sulfide or halide is preferably used. Is particularly preferred. As metal atoms, Na, K, Mg, Ca, Ba, Al, Zn, Fe, Cu, Ti, Sn, In, W, Y, Sb, Mn, Ga, V, Nb, Ta, Ag, Si, B Bi, Mo, Ce, Cd, Be, Pb, Zr, Ni and the like. Although the average particle diameter of an inorganic filler changes with layers to add, in order to obtain a transparent cured film, it is preferable to set it as the value within the range of 0.001-0.2 micrometer, More preferably, it is 0.001. It is -0.1 micrometer, More preferably, it is 0.001-0.06 micrometer. Here, the average particle diameter of the particles is measured by a Coulter counter.
Although the usage method of the inorganic filler in this invention is not restrict | limited in particular, For example, it can use in a dry state or can also be used in the state disperse | distributed to water or the organic solvent.
本発明において、無機フィラーの凝集、沈降を抑制する目的で、各層を形成するための塗布液に分散安定化剤を併用することも好ましい。分散安定化剤としては、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン、セルロース誘導体、ポリアミド、リン酸エステル、ポリエーテル、界面活性剤および、シランカップリング剤、チタンカップリング剤等を使用することができる。特にシランカップリング剤が硬化後の皮膜が強いため好ましい。分散安定化剤としてのシランカップリング剤の添加量は特に制限されるものではないが、例えば、無機フィラー100質量部に対して、1質量部以上の値とするのが好ましい。また、分散安定化剤の添加方法も特に制限されるものではないが、予め加水分解したものを添加することもできるし、あるいは、分散安定化剤であるシランカップリング剤と無機フィラーとを混合後、さらに加水分解および縮合する方法を採ることができるが、後者の方がより好ましい。 In the present invention, for the purpose of suppressing aggregation and sedimentation of the inorganic filler, it is also preferable to use a dispersion stabilizer in combination with the coating solution for forming each layer. As the dispersion stabilizer, polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone, cellulose derivative, polyamide, phosphate ester, polyether, surfactant, silane coupling agent, titanium coupling agent and the like can be used. In particular, a silane coupling agent is preferable because the film after curing is strong. Although the addition amount of the silane coupling agent as a dispersion stabilizer is not particularly limited, for example, the value is preferably 1 part by mass or more with respect to 100 parts by mass of the inorganic filler. Also, the method of adding the dispersion stabilizer is not particularly limited, but a hydrolyzed one can be added, or a dispersion stabilizer silane coupling agent and an inorganic filler are mixed. Thereafter, a method of further hydrolysis and condensation can be employed, but the latter is more preferable.
[透明支持体]
本発明の反射防止フィルムの透明支持体としては、プラスチックフィルムを用いることが好ましい。プラスチックフィルムを形成するポリマーとしては、セルロースエステル(例、トリアセチルセルロース、ジアセチルセルロース、代表的には富士写真フイルム社製TAC−TD80U,TD80UFなど)、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリエステル(例、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート)、ポリスチレン、ポリオレフィン、ノルボルネン系樹脂(アートン:商品名、JSR社製)、非晶質ポリオレフィン(ゼオネックス:商品名、日本ゼオン社製)、などが挙げられる。このうちトリアセチルセルロース、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、が好ましく、特にトリアセチルセルロースが好ましい。
[Transparent support]
As the transparent support of the antireflection film of the present invention, a plastic film is preferably used. Examples of the polymer forming the plastic film include cellulose esters (eg, triacetyl cellulose, diacetyl cellulose, typically TAC-TD80U, TD80UF, etc. manufactured by Fuji Photo Film), polyamide, polycarbonate, polyester (eg, polyethylene terephthalate, polyethylene). Naphthalate), polystyrene, polyolefin, norbornene-based resin (Arton: trade name, manufactured by JSR Corporation), amorphous polyolefin (ZEONEX: trade name, manufactured by Nippon Zeon Corporation), and the like. Of these, triacetyl cellulose, polyethylene terephthalate, and polyethylene naphthalate are preferable, and triacetyl cellulose is particularly preferable.
トリアセチルセルロースは、単層または複数の層からなる。単層のトリアセチルセルロースは、特開平7−11055号等で開示されているドラム流延、あるいはバンド流延等により作成され、後者の複数の層からなるトリアセチルセルロースは、公開特許公報の特開昭61−94725号、特公昭62−43846号等で開示されている、いわゆる共流延法により作成される。すなわち、原料フレークをハロゲン化炭化水素類(ジクロロメタン等、アルコール類(メタノール、エタノール、ブタノール等)、エステル類(蟻酸メチル、酢酸メチル等)、エーテル類(ジオキサン、ジオキソラン、ジエチルエーテル等)等の溶剤にて溶解し、これに必要に応じて可塑剤、紫外線吸収剤、劣化防止剤、滑り剤、剥離促進剤等の各種の添加剤を加えた溶液(ドープと称する)を、水平式のエンドレスの金属ベルトまたは回転するドラムからなる支持体の上に、ドープ供給手段(ダイと称する)により流延する際、単層ならば単一のドープを単層流延し、複数の層ならば高濃度のセルロースエステルドープの両側に低濃度ドープを共流延し、支持体上である程度乾燥して剛性が付与されたフィルムを支持体から剥離し、次いで各種の搬送手段により乾燥部を通過させて溶剤を除去することからなる方法である。 Triacetyl cellulose consists of a single layer or a plurality of layers. Single-layer triacetyl cellulose is prepared by drum casting or band casting disclosed in JP-A-7-11055, and the latter triacetyl cellulose is a special feature of the published patent publication. It is prepared by the so-called co-casting method disclosed in Japanese Utility Model Publication Nos. 61-94725 and 62-43846. That is, the raw material flakes are solvents such as halogenated hydrocarbons (dichloromethane, alcohols (methanol, ethanol, butanol, etc.), esters (methyl formate, methyl acetate, etc.), ethers (dioxane, dioxolane, diethyl ether, etc.), etc. A solution (called a dope) with various additives such as a plasticizer, an ultraviolet absorber, an anti-degradation agent, a slipping agent, and a peeling accelerator is added to the horizontal endless as necessary. When casting by a dope supply means (called a die) on a support composed of a metal belt or a rotating drum, a single dope is cast in a single layer if it is a single layer, and a high concentration in the case of multiple layers. A low-concentration dope is co-cast on both sides of the cellulose ester dope, and the film is dried to some extent on the support to release the rigid film, and then peeled off from the support. A process comprising passed through a drying section by species of the conveying means to remove the solvent.
上記のような、トリアセチルセルロースを溶解するための溶剤としては、ジクロロメタンが代表的である。しかし地球環境や作業環境の観点から、溶剤はジクロロメタン等のハロゲン化炭化水素を実質的に含まないことが好ましい。「実質的に含まない」とは、有機溶剤中のハロゲン化炭化水素の割合が5質量%未満(好ましくは2質量%未満)であることを意味する。ジクロロメタン等を実質的に含まない溶剤を用いてトリアセチルセルロースのドープを調製する場合には、後述するような特殊な溶解法が必須となる。 A typical solvent for dissolving triacetylcellulose as described above is dichloromethane. However, from the viewpoint of the global environment and working environment, the solvent preferably does not substantially contain a halogenated hydrocarbon such as dichloromethane. “Substantially free” means that the proportion of halogenated hydrocarbon in the organic solvent is less than 5% by mass (preferably less than 2% by mass). In preparing a triacetyl cellulose dope using a solvent substantially free of dichloromethane or the like, a special dissolution method as described later is essential.
第一の溶解法は、冷却溶解法と称され、以下に説明する。まず室温近辺の温度(−10〜40℃)で溶剤中にトリアセチルセルロースを撹拌しながら徐々に添加する。次に、混合物は−100〜?10℃(好ましくは−80〜−10℃、さらに好ましくは−50〜−20℃、最も好ましくは−50〜−30℃)に冷却する。冷却は、例えば、ドライアイス・メタノール浴(−75℃)や冷却したジエチレングリコール溶液(−30〜−20℃)中で実施できる。このように冷却すると、トリアセチルセルロースと溶剤の混合物は固化する。さらに、これを0〜200℃(好ましくは0〜150℃、さらに好ましくは0〜120℃、最も好ましくは0〜50℃)に加温すると、溶剤中にトリアセチルセルロースが流動する溶液となる。昇温は、室温中に放置するだけでもよし、温浴中で加温してもよい。 The first dissolution method is called a cooling dissolution method and will be described below. First, triacetyl cellulose is gradually added to a solvent at a temperature around room temperature (-10 to 40 ° C.) while stirring. Next, the mixture is -100 ~? Cool to 10 ° C (preferably -80 to -10 ° C, more preferably -50 to -20 ° C, most preferably -50 to -30 ° C). The cooling can be performed, for example, in a dry ice / methanol bath (−75 ° C.) or a cooled diethylene glycol solution (−30 to −20 ° C.). When cooled in this manner, the mixture of triacetyl cellulose and solvent solidifies. Furthermore, when this is heated to 0 to 200 ° C. (preferably 0 to 150 ° C., more preferably 0 to 120 ° C., most preferably 0 to 50 ° C.), a solution in which triacetyl cellulose flows in the solvent is obtained. The temperature can be raised by simply leaving it at room temperature or in a warm bath.
第二の方法は、高温溶解法と称され、以下に説明する。まず室温近辺の温度(−10〜40℃)で溶剤中にトリアセチルセルロースを撹拌しながら徐々に添加される。本発明のトリアセチルセルロース溶液は、各種溶剤を含有する混合溶剤中にトリアセチルセルロースを添加し予め膨潤させることが好ましい。本法において、トリアセチルセルロースの溶解濃度は30質量%以下が好ましいが、フィルム製膜時の乾燥効率の点から、なるべく高濃度であることが好ましい。次に有機溶剤混合液は、0.2MPa〜30MPaの加圧下で70〜240℃に加熱される(好ましくは80〜220℃、更に好ましく100〜200℃、最も好ましくは100〜190℃)。次にこれらの加熱溶液はそのままでは塗布できないため、使用された溶剤の最も低い沸点以下に冷却する必要がある。その場合、?10〜50℃に冷却して常圧に戻すことが一般的である。冷却はトリアセチルセルロース溶液が内蔵されている高圧高温容器やラインを、室温に放置するだけでもよく、更に好ましくは冷却水などの冷媒を用いて該装置を冷却してもよい。ジクロロメタン等のハロゲン化炭化水素を実質的に含まないセルロースアセテートフィルムおよびその製造法については発明協会公開技報(公技番号2001−1745、2001年3月15日発行、以下公開技報2001−1745号と略す)に記載されている。 The second method is called a high temperature melting method and will be described below. First, triacetyl cellulose is gradually added to a solvent at a temperature around room temperature (-10 to 40 ° C.) while stirring. The triacetyl cellulose solution of the present invention is preferably swollen beforehand by adding triacetyl cellulose to a mixed solvent containing various solvents. In this method, the dissolution concentration of triacetyl cellulose is preferably 30% by mass or less, but is preferably as high as possible from the viewpoint of drying efficiency during film formation. Next, the organic solvent mixed solution is heated to 70 to 240 ° C. under a pressure of 0.2 MPa to 30 MPa (preferably 80 to 220 ° C., more preferably 100 to 200 ° C., most preferably 100 to 190 ° C.). Next, since these heated solutions cannot be applied as they are, it is necessary to cool them below the lowest boiling point of the solvent used. In that case,? It is common to cool to 10-50 degreeC and to return to a normal pressure. For cooling, the high-pressure and high-temperature vessel or line containing the triacetylcellulose solution may be left at room temperature, and more preferably, the apparatus may be cooled using a coolant such as cooling water. A cellulose acetate film substantially free of halogenated hydrocarbons such as dichloromethane and a process for producing the same are disclosed in JIII Journal of Technical Disclosure (Publication No. 2001-1745, published on March 15, 2001, hereinafter Published Technical Report 2001-1745). (Abbreviated as No.).
本発明の反射防止フィルムを液晶表示装置に用いる場合、片面に粘着層を設ける等してディスプレイの最表面に配置する。該透明支持体がトリアセチルセルロースの場合は偏光板の偏光層を保護する保護フィルムとしてトリアセチルセルロースが用いられるため、本発明の反射防止フィルムをそのまま保護フィルムに用いることがコストの上では好ましい。 When the antireflection film of the present invention is used in a liquid crystal display device, it is disposed on the outermost surface of the display by providing an adhesive layer on one side. When the transparent support is triacetylcellulose, triacetylcellulose is used as a protective film for protecting the polarizing layer of the polarizing plate. Therefore, it is preferable in terms of cost to use the antireflection film of the present invention as it is for the protective film.
本発明の反射防止フィルムは、片面に粘着層を設ける等してディスプレイの最表面に配置したり、そのまま偏光板用保護フィルムとして使用される場合には、十分に接着させるためには透明支持体上に含フッ素ポリマーを主体とする最外層を形成した後、鹸化処理を実施することが好ましい。鹸化処理は、公知の手法、例えば、アルカリ液の中に該フィルムを適切な時間浸漬して実施される。アルカリ液に浸漬した後は、該フィルムの中にアルカリ成分が残留しないように、水で十分に水洗したり、希薄な酸に浸漬してアルカリ成分を中和することが好ましい。
鹸化処理することにより、最外層を有する側とは反対側の透明支持体の表面が親水化される。
親水化された表面は、ポリビニルアルコールを主成分とする偏向膜との接着性を改良するのに特に有効である。また、親水化された表面は、空気中の塵埃が付着しにくくなるため、偏向膜と接着させる際に偏向膜と反射防止フィルムの間に塵埃が入りにくく、塵埃による点欠陥を防止するのに有効である。
鹸化処理は、最外層を有する側とは反対側の透明支持体の表面の水に対する接触角が40゜以下になるように実施することが好ましい。更に好ましくは30゜以下、特に好ましくは20゜以下である。
When the antireflection film of the present invention is disposed on the outermost surface of a display by providing an adhesive layer on one side or used as it is as a protective film for a polarizing plate, it is a transparent support for sufficient adhesion. It is preferable to carry out a saponification treatment after forming an outermost layer mainly composed of a fluorine-containing polymer. The saponification treatment is performed by a known method, for example, by immersing the film in an alkali solution for an appropriate time. After being immersed in the alkali solution, it is preferable to sufficiently wash with water or neutralize the alkali component by immersing in a dilute acid so that the alkali component does not remain in the film.
By the saponification treatment, the surface of the transparent support opposite to the side having the outermost layer is hydrophilized.
The hydrophilized surface is particularly effective for improving the adhesion with a deflection film containing polyvinyl alcohol as a main component. In addition, the hydrophilic surface makes it difficult for dust in the air to adhere to it, so it is difficult for dust to enter between the deflection film and the antireflection film when bonded to the deflection film, thus preventing point defects due to dust. It is valid.
The saponification treatment is preferably carried out so that the contact angle of water on the surface of the transparent support opposite to the side having the outermost layer is 40 ° or less. More preferably, it is 30 ° or less, particularly preferably 20 ° or less.
アルカリ鹸化処理の具体的手段としては、以下の(1)及び(2)の2つの手段から選択することができる。汎用のトリアセチルセルロースフィルムと同一の工程で処理できる点で(1)が優れているが、反射防止膜面まで鹸化処理されるため、表面がアルカリ加水分解されて膜が劣化する点、鹸化処理液が残ると汚れになる点が問題になり得る。その場合には、特別な工程となるが、(2)が優れる。
(1)透明支持体上に反射防止層を形成後に、アルカリ液中に少なくとも1回浸漬することで、該フィルムの裏面を鹸化処理する。
(2)透明支持体上に反射防止層を形成する前または後に、アルカリ液を該反射防止フィルムの反射防止フィルムを形成する面とは反対側の面に塗布し、加熱、水洗および/または中和することで、該フィルムの裏面だけを鹸化処理する。
Specific means for the alkali saponification treatment can be selected from the following two means (1) and (2). (1) is superior in that it can be processed in the same process as a general-purpose triacetylcellulose film, but since the surface of the antireflection film is saponified, the surface is alkali-hydrolyzed and the film deteriorates. The point that it becomes dirty when the liquid remains can be a problem. In that case, although it becomes a special process, (2) is excellent.
(1) After the antireflection layer is formed on the transparent support, the back surface of the film is saponified by immersing it in an alkaline solution at least once.
(2) Before or after the formation of the antireflection layer on the transparent support, an alkaline solution is applied to the surface of the antireflection film opposite to the surface on which the antireflection film is formed, and is heated, washed and / or washed. By summing, only the back surface of the film is saponified.
[反射防止フィルムの製造方法]
本発明の反射防止フィルムは以下の方法で形成することができるが、この方法に制限されない。
まず、各層を形成するための成分を含有した塗布液が調製される。次に、ハードコート層を形成する場合には、該ハードコート層を形成するための塗布液を、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ローラーコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法やエクストルージョンコート法(米国特許2681294号明細書参照)により透明支持体上に塗布し、加熱・乾燥するが、マイクログラビアコート法が特に好ましい。その後、光照射あるいは加熱して、ハードコート層を形成するためのモノマーを重合して硬化する。これによりハードコート層が形成される。
ここで、必要であればハードコート層を複数層とし、光拡散層塗布の前に同様な方法で平滑なハードコート層塗布および硬化を行うことができる。
次に、同様にして光拡散層を形成するための塗布液をハードコート層上に塗布し、光照射あるいは加熱し光拡散層を形成する。続いて、低屈折率層を形成するための塗布液を光拡散層上に塗布し、光照射あるいは加熱し低屈折率層が形成する。このようにして、本発明の反射防止フィルムが得られる。
[Method for producing antireflection film]
The antireflection film of the present invention can be formed by the following method, but is not limited to this method.
First, a coating solution containing components for forming each layer is prepared. Next, in the case of forming a hard coat layer, a coating solution for forming the hard coat layer is prepared by using a dip coating method, an air knife coating method, a curtain coating method, a roller coating method, a wire bar coating method, a gravure coating. The coating is applied onto a transparent support by a method or an extrusion coating method (see U.S. Pat. No. 2,681,294), followed by heating and drying. A microgravure coating method is particularly preferred. Thereafter, the monomer for forming the hard coat layer is polymerized and cured by light irradiation or heating. Thereby, a hard coat layer is formed.
Here, if necessary, a plurality of hard coat layers can be formed, and smooth hard coat layer application and curing can be performed by the same method before the light diffusion layer application.
Next, in the same manner, a coating liquid for forming a light diffusion layer is applied on the hard coat layer, and light irradiation or heating is performed to form the light diffusion layer. Subsequently, a coating liquid for forming a low refractive index layer is applied onto the light diffusion layer, and light irradiation or heating is performed to form the low refractive index layer. In this way, the antireflection film of the present invention is obtained.
本発明で用いられるマイクログラビアコート法とは、直径が約10〜100mm、好ましくは約20〜50mmで全周にグラビアパターンが刻印されたグラビアロールを支持体の下方に、かつ支持体の搬送方向に対してグラビアロールを逆回転させると共に、該グラビアロールの表面からドクターブレードによって余剰の塗布液を掻き落として、定量の塗布液を前記支持体の上面が自由状態にある位置におけるその支持体の下面に塗布液を転写させて塗工することを特徴とするコート法である。ロール形態の透明支持体を連続的に巻き出し、該巻き出された支持体の一方の側に、少なくともハードコート層乃至含フッ素ポリマーを含む低屈折率層の内の少なくとも一層をマイクログラビアコート法によって塗工することができる。 The micro gravure coating method used in the present invention is a gravure roll having a diameter of about 10 to 100 mm, preferably about 20 to 50 mm and engraved with a gravure pattern on the entire circumference, below the support and in the transport direction of the support. The gravure roll is rotated in reverse with respect to the gravure roll, the excess coating liquid is scraped off from the surface of the gravure roll by a doctor blade, and a fixed amount of the coating liquid is removed from the support in a position where the upper surface of the support is in a free state. The coating method is characterized in that the coating liquid is transferred onto the lower surface for coating. A roll-shaped transparent support is continuously unwound, and at least one layer of at least one of a hard coat layer or a low refractive index layer containing a fluorine-containing polymer is provided on one side of the unwound support. Can be applied by.
マイクログラビアコート法による塗工条件としては、グラビアロールに刻印されたグラビアパターンの線数は50〜800本/インチが好ましく、100〜300本/インチがより好ましく、グラビアパターンの深度は1〜600μmが好ましく、5〜200μmがより好ましく、グラビアロールの回転数は3〜800rpmであることが好ましく、5〜200rpmであることがより好ましく、支持体の搬送速度は0.5〜100m/分であることが好ましく、1〜50m/分がより好ましい。 As coating conditions by the micro gravure coating method, the number of gravure patterns imprinted on the gravure roll is preferably 50 to 800 lines / inch, more preferably 100 to 300 lines / inch, and the depth of the gravure pattern is 1 to 600 μm. Is preferable, 5 to 200 μm is more preferable, the rotation speed of the gravure roll is preferably 3 to 800 rpm, more preferably 5 to 200 rpm, and the conveyance speed of the support is 0.5 to 100 m / min. It is preferably 1 to 50 m / min.
本発明の反射防止フィルムにおいては、光拡散層と低屈折率層を塗布により積層するので、ゴミ、ほこり等の異物が存在したとき、輝点欠陥が目立ち易い。本発明における輝点欠陥とは目視により、塗膜上の反射で見える欠陥のことで、塗布後の反射防止フィルムの裏面を黒塗りする等の操作により目視で検出できる。目視により見える輝点欠陥は、一般的に50μm以上の大きさである。(以下このような輝点欠陥を「輝点欠陥」という)。
本発明の反射防止フィルムは輝点欠陥の数が1平方メートル当たり20個以下、好ましくは10個以下、さらに好ましくは5個以下、特に好ましくは1個以下とする。輝点欠陥の数を1平方メートル当たり20個以下とすることで、フィルム全体として輝点欠陥を目立たなくすることができる。特に反射光の色味がニュートラルな場合(後述するa*、b*値を有する場合)にこの効果は顕著である。
In the antireflection film of the present invention, since the light diffusion layer and the low refractive index layer are laminated by coating, bright spot defects are easily noticeable when foreign matters such as dust and dust are present. The bright spot defect in the present invention is a defect that is visually observed by reflection on the coating film, and can be detected by an operation such as black coating on the back surface of the antireflection film after coating. The bright spot defects that can be visually observed are generally 50 μm or more in size. (Hereinafter, such bright spot defects are referred to as “bright spot defects”).
In the antireflection film of the present invention, the number of bright spot defects is 20 or less per square meter, preferably 10 or less, more preferably 5 or less, and particularly preferably 1 or less. By setting the number of bright spot defects to 20 or less per square meter, the bright spot defects can be made inconspicuous as a whole film. This effect is particularly remarkable when the color of the reflected light is neutral (having a * and b * values described later).
本発明の反射防止フィルムを連続的に製造するために、ロール状の支持体フィルムを連続的に送り出す工程、塗布液を塗布・乾燥する工程、塗膜を硬化する工程、硬化した層を有する支持体フィルムを巻き取る工程が行われる。このような工程の一例を図2に示した。 In order to continuously produce the antireflection film of the present invention, a process of continuously feeding a roll-shaped support film, a process of applying and drying a coating liquid, a process of curing a coating film, and a support having a cured layer A step of winding the body film is performed. An example of such a process is shown in FIG.
図2において、ロール状のフィルム支持体11からフィルム支持体がクリーン室15に連続的に送り出され、クリーン室15内で、フィルム支持体に帯電している静電気を静電除電装置12により除電し、引き続きフィルム支持体上に付着している異物を、除塵装置13により除去する。引き続きクリーン室15内に設置されている塗布部14で塗布液がフィルム支持体上に塗布され、塗布されたフィルム支持体は乾燥室16に送られて乾燥される。乾燥した塗布層を有するフィルム支持体は乾燥室16から放射線硬化室17へ送り出され、放射線が照射されて塗布層に含有されるモノマーが重合して硬化する。さらに、放射線により硬化した層を有するフィルム支持体は熱硬化部18へ送られ、加熱されて硬化を完結させ、硬化が完結した層を有するフィルム支持体19は巻き取られてロール状となる。
In FIG. 2, the film support is continuously sent out from the roll-shaped
上記工程は、各層の形成毎に行ってもよいし、塗布部−乾燥室−放射線硬化部−熱硬化室を複数設けて、各層の形成を連続的に行うことも可能である。 The above steps may be performed every time each layer is formed, or a plurality of coating units-drying chambers-radiation curing units-thermosetting chambers may be provided to continuously form each layer.
本発明における、輝点欠陥の少ない反射防止フィルムを作成するためには、上記の塗布部14における塗布工程および乾燥室16で行われる乾燥工程が高い清浄度の空気雰囲気下で行われ、かつ塗布が行われる前に、フィルム支持体上のゴミ、ほこりが充分に除かれていることが好ましい。塗布工程および乾燥工程の空気清浄度は、米国連邦規格209Eにおける空気清浄度の規格に基づき、クラス10(0.5μm以上の粒子が353個/(立方メートル)以下)以上であることが望ましく、更に好ましくはクラス1(0.5μm以上の粒子が35.5個/(立方メートル)以下)以上であることが望ましい。また、空気清浄度は、塗布−乾燥工程以外の送り出し、巻き取り部等においても高いことがより好ましい。
In order to produce an antireflection film with few bright spot defects in the present invention, the coating process in the
塗布が行われる前工程としての除塵工程に用いられる除塵方法として、特開昭59−150571号公報に記載のフィルム表面に不織布や、ブレード等を押しつける方法、特開平10−309553号公報に記載の清浄度の高い空気を高速で吹き付けて付着物をフィルム表面から剥離させ、近接した吸い込み口で吸引する方法、特開平7−333613号公報に記載される超音波振動する圧縮空気を吹き付けて付着物を剥離させ、吸引する方法(伸興社製、ニューウルトラクリーナー等)等の乾式除塵法が挙げられる。また、洗浄槽中にフィルムを導入し、超音波振動子により付着物を剥離させる方法、特公昭49−13020号公報に記載されているフィルムに洗浄液を供給したあと、高速空気の吹き付け、吸い込みを行なう方法、特開2001−38306号公報に記載のように、ウェブを液体でぬらしたロールで連続的に擦った後、擦った面に液体を噴射して洗浄する方法等の湿式除塵法を用いることができる。このような除塵方法の内、超音波除塵による方法もしくは湿式除塵による方法が、除塵効果の点で特に好ましい。 As a dust removal method used in a dust removal step as a pre-process for coating, a method of pressing a nonwoven fabric, a blade or the like against the film surface described in JP-A-59-150571, described in JP-A-10-309553 Highly clean air is blown at a high speed to peel off the deposit from the film surface, and suction is performed at a suction port adjacent to the film. Ultrasonic-vibrated compressed air described in JP-A-7-333613 is sprayed to deposit. And a dry dust removal method such as a method of peeling and suctioning (manufactured by Shinkosha, New Ultra Cleaner, etc.). In addition, a method of introducing a film into a cleaning tank and peeling off deposits with an ultrasonic vibrator, supplying a cleaning liquid to the film described in Japanese Patent Publication No. 49-13020, and then blowing and sucking high-speed air As described in JP-A-2001-38306, a wet dust removal method such as a method in which a web is continuously rubbed with a roll wetted with a liquid and then the liquid is sprayed onto the rubbed surface for cleaning. be able to. Among such dust removal methods, a method using ultrasonic dust removal or a method using wet dust removal is particularly preferable in terms of dust removal effect.
また、このような除塵工程を行う前に、フィルム支持体上の静電気を除電しておくことは、除塵効率を上げ、ゴミの付着を抑える点で特に好ましい。このような除電方法としては、コロナ放電式のイオナイザ、UV、軟X線等の光照射式のイオナイザ等を用いることができる。除塵、塗布前後のフィルム支持体の帯電圧は、1000V以下が望ましく、好ましくは300V以下、特に好ましくは、100V以下である。 In addition, it is particularly preferable to remove static electricity on the film support before performing such a dust removal step from the viewpoint of increasing dust removal efficiency and suppressing adhesion of dust. As such a static elimination method, a corona discharge ionizer, a light irradiation ionizer such as UV or soft X-ray, or the like can be used. The charged voltage of the film support before and after dust removal and coating is desirably 1000 V or less, preferably 300 V or less, and particularly preferably 100 V or less.
また、塗布に用いる塗布液は、塗布直前にろ過することが好ましい。ろ過のフィルターは、塗布液中の成分が除去されない範囲でできるだけ孔径の小さいものを使うことが好ましい。 Moreover, it is preferable to filter the coating liquid used for application | coating just before application | coating. As a filter for filtration, it is preferable to use a filter having a pore diameter as small as possible within a range in which components in the coating solution are not removed.
[反射防止フィルムの諸性能]
本発明の反射防止フィルムは、ヘイズ値が3〜70%であることが好ましく、4〜60%であることがより好ましい。また、450nmから650nmの平均反射率が3.0%以下であることが好ましく、より好ましくは2.5%以下である。
本発明の反射防止フィルムが上記範囲のヘイズ値及び平均反射率であることにより、透過画像の劣化を伴なわずに良好な防眩性および反射防止性が得られる。
[Various performances of antireflection film]
The antireflection film of the present invention preferably has a haze value of 3 to 70%, more preferably 4 to 60%. The average reflectance from 450 nm to 650 nm is preferably 3.0% or less, more preferably 2.5% or less.
When the antireflection film of the present invention has a haze value and an average reflectance in the above range, good antiglare properties and antireflection properties can be obtained without causing deterioration of the transmitted image.
本発明の反射防止フィルムは、波長380nmから780nmまでの領域におけるCIE標準光源D65の5度入射光に対する正反射光のCIE1976L*a*b*色空間のa*、b*値を、それぞれ−7≦a*≦7、−10≦b*≦10とすることが好ましく、0≦a*≦5、−7≦b*≦0とすることがより好ましい。反射防止フィルムからの上記正反射光の色味を上記範囲とすることにより、該フィルムを液晶表示装置に適用した場合、室内の蛍光灯のような輝度の高い外光が映りこんだ場合にも、色味がニュートラルで気にならないので好ましい。a*>7では赤味が強く、a*<−7ではシアン味が強くなり好ましくない。またb*<−7では青味が強く、b*>0では黄味が強くなり好ましくない。
反射防止フィルムの色味の測定(a*、b*値の測定)は、分光光度計V−550(商品名、日本分光(株)製)にアダプターARV−474(商品名)を装着して、380〜780nmの波長領域において、入射角5度における出射角−5度の鏡面反射率を測定し、測定された反射スペクトルから、CIE標準光源D65の5度入射光に対する正反射光の色味を表すCIE1976L*a*b*色空間のa*、b*値を算出することで行うことができる。
The antireflection film of the present invention has CIE1976L * a * b * color space a * and b * values of specular reflection light with respect to 5 degree incident light of CIE standard light source D65 in the wavelength range of 380 nm to 780 nm, respectively. ≦ a * ≦ 7, −10 ≦ b * ≦ 10 is preferable, and 0 ≦ a * ≦ 5 and −7 ≦ b * ≦ 0 are more preferable. By setting the color of the specularly reflected light from the antireflection film in the above range, when the film is applied to a liquid crystal display device, even when bright external light such as an indoor fluorescent lamp is reflected. It is preferable because the color is neutral and not concerned. When a * > 7, redness is strong, and when a * <− 7, cyan is strong, which is not preferable. Further, b * <-7 is not preferable because bluish color is strong, and b * > 0 is not preferable because yellow color becomes strong.
Measurement of the color of the antireflection film (measurement of a * , b * value) is performed by attaching an adapter ARV-474 (trade name) to a spectrophotometer V-550 (trade name, manufactured by JASCO Corporation). In the wavelength region of 380 to 780 nm, the specular reflectance at an incident angle of -5 degrees at an incident angle of 5 degrees is measured, and from the measured reflection spectrum, the color of specularly reflected light with respect to 5 degrees incident light of the CIE standard light source D65 This can be done by calculating the a * and b * values of the CIE 1976L * a * b * color space that represents.
[偏光板]
本発明の偏光板は、偏光子と該偏光子を両面から挟む2枚の保護フィルムとで主に構成される。本発明の反射防止フィルムは、偏光子を両面から挟む2枚の保護フィルムのうち少なくとも1枚に用いることが好ましい。本発明の反射防止フィルムが保護フィルムを兼ねることで、偏光板の製造コストを低減できる。また、本発明の反射防止フィルムを最表層に使用することにより、外光の映り込み等が防止され、防眩性等も優れた偏光板とすることができる。
[Polarizer]
The polarizing plate of the present invention is mainly composed of a polarizer and two protective films sandwiching the polarizer from both sides. The antireflection film of the present invention is preferably used for at least one of the two protective films sandwiching the polarizer from both sides. Since the antireflection film of the present invention also serves as a protective film, the production cost of the polarizing plate can be reduced. In addition, by using the antireflection film of the present invention as the outermost layer, reflection of external light and the like can be prevented, and a polarizing plate excellent in antiglare property and the like can be obtained.
偏光子としては公知の偏光膜や、偏光膜の吸収軸が長手方向に平行でも垂直でもない長尺の偏光膜から切り出された偏光膜を用いてもよい。偏光膜の吸収軸が長手方向に平行でも垂直でもない長尺の偏光膜は以下の方法により作成される。
即ち、連続的に供給されるポリマーフィルムの両端を保持手段により保持しつつ張力を付与して延伸した偏光膜で、少なくともフィルム幅方向に1.1〜20.0倍に延伸し、フィルム両端の保持装置の長手方向進行速度差が3%以内であり、フィルム両端を保持する工程の出口におけるフィルムの進行方向と、フィルムの実質延伸方向のなす角が、20〜70゜傾斜するようにフィルム進行方向を、フィルム両端を保持させた状態で屈曲させてなる延伸方法によって製造することができる。特に45°傾斜させたものが生産性の観点から好ましく用いられる。
As the polarizer, a known polarizing film or a polarizing film cut out from a long polarizing film whose absorption axis is neither parallel nor perpendicular to the longitudinal direction may be used. A long polarizing film whose absorption axis is neither parallel nor perpendicular to the longitudinal direction is produced by the following method.
That is, with a polarizing film stretched by applying tension while holding both ends of a continuously supplied polymer film by a holding means, stretched at least 1.1 to 20.0 times in the film width direction, The progress of the film is such that the difference between the moving speeds in the longitudinal direction of the holding device is within 3%, and the angle formed between the moving direction of the film at the exit of the process of holding both ends of the film and the substantial stretching direction of the film is inclined by 20 to 70 °. It can be produced by a stretching method in which the direction is bent while holding both ends of the film. In particular, those inclined by 45 ° are preferably used from the viewpoint of productivity.
ポリマーフィルムの延伸方法については、特開2002−86554号公報の段落0020〜0030に詳しい記載がある。 The method for stretching the polymer film is described in detail in paragraphs 0020 to 0030 of JP-A-2002-86554.
本発明の反射防止フィルムは、液晶表示装置(LCD)、プラズマディスプレイパネル(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)や陰極管表示装置(CRT)のような画像表示装置に適用することができる。本発明の反射防止フィルムは透明支持体を有しているので、透明支持体側を画像表示装置の画像表示面に接着して用いられる。 The antireflection film of the present invention can be applied to an image display device such as a liquid crystal display device (LCD), a plasma display panel (PDP), an electroluminescence display (ELD), or a cathode ray tube display device (CRT). Since the antireflection film of the present invention has a transparent support, the transparent support side is adhered to the image display surface of the image display device.
本発明の反射防止フィルムは、偏光膜の表面保護フィルムの片側として用いた場合、ツイステットネマチック(TN)、スーパーツイステットネマチック(STN)、バーティカルアライメント(VA)、インプレインスイッチング(IPS)、オプティカリーコンペンセイテットベンドセル(OCB)等のモードの透過型、反射型、または半透過型の液晶表示装置に好ましく用いることができる。 The antireflection film of the present invention, when used as one side of the surface protective film of the polarizing film, is twisted nematic (TN), super twisted nematic (STN), vertical alignment (VA), in-plane switching (IPS), optical It can be preferably used for a transmissive, reflective, or transflective liquid crystal display device of a mode such as a curry compensate bend cell (OCB).
VAモードの液晶セルには、(1)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直に配向させ、電圧印加時に実質的に水平に配向させる狭義のVAモードの液晶セル(特開平2−176625号公報記載)に加えて、(2)視野角拡大のため、VAモードをマルチドメイン化した(MVAモードの)液晶セル(SID97、Digest of tech. Papers(予稿集)28(1997)845記載)、(3)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直配向させ、電圧印加時にねじれマルチドメイン配向させるモード(n−ASMモード)の液晶セル(日本液晶討論会の予稿集58〜59(1998)記載)および(4)SURVAIVALモードの液晶セル(LCDインターナショナル98で発表)が含まれる。 The VA mode liquid crystal cell includes (1) a narrowly defined VA mode liquid crystal cell in which rod-like liquid crystalline molecules are aligned substantially vertically when no voltage is applied, and substantially horizontally when a voltage is applied (Japanese Patent Laid-Open No. Hei 2-). (2) In addition to (2) Liquid crystal cell (SID97, Digest of tech. Papers (Preliminary Collection) 28 (1997) 845 in which the VA mode is converted into a multi-domain (MVA mode) for viewing angle expansion ), (3) A liquid crystal cell in a mode (n-ASM mode) in which rod-like liquid crystalline molecules are substantially vertically aligned when no voltage is applied and twisted multi-domain alignment is applied when a voltage is applied (Preliminary collections 58-59 of the Japan Liquid Crystal Society) (1998)) and (4) SURVAVAL mode liquid crystal cells (announced at LCD International 98).
OCBモードの液晶セルは、棒状液晶性分子を液晶セルの上部と下部とで実質的に逆の方向に(対称的に)配向させるベンド配向モードの液晶セルを用いた液晶表示装置であり、米国特許4583825号、同5410422号の各明細書に開示されている。棒状液晶性分子が液晶セルの上部と下部とで対称的に配向しているため、ベンド配向モードの液晶セルは、自己光学補償機能を有する。そのため、この液晶モードは、OCB(Optically Compensatory Bend) 液晶モードとも呼ばれる。ベンド配向モードの液晶表示装置は、応答速度が速いとの利点がある。 The OCB mode liquid crystal cell is a liquid crystal display device using a bend alignment mode liquid crystal cell in which rod-like liquid crystalline molecules are aligned in a substantially opposite direction (symmetrically) between the upper part and the lower part of the liquid crystal cell. It is disclosed in the specifications of Japanese Patent Nos. 45882525 and 5410422. Since the rod-like liquid crystal molecules are symmetrically aligned at the upper and lower portions of the liquid crystal cell, the bend alignment mode liquid crystal cell has a self-optical compensation function. Therefore, this liquid crystal mode is also called an OCB (Optically Compensatory Bend) liquid crystal mode. The bend alignment mode liquid crystal display device has an advantage of high response speed.
ECBモードの液晶セルでは、電圧無印加時に棒状液晶性分子が実質的に水平配向しており、カラーTFT液晶表示装置として最も多く利用されており、多数の文献に記載がある。例えば「EL、PDP、LCDディスプレイ」東レリサーチセンター発行(2001)などに記載されている。 In an ECB mode liquid crystal cell, rod-like liquid crystal molecules are substantially horizontally aligned when no voltage is applied, and is most frequently used as a color TFT liquid crystal display device, and is described in many documents. For example, it is described in “EL, PDP, LCD display” published by Toray Research Center (2001).
特にTNモードやIPSモードの液晶表示装置に対しては、特開2001−100043等に記載されているように、視野角拡大効果を有する光学補償フィルムを偏光膜の裏表2枚の保護フィルムの内の本発明の反射防止フィルムとは反対側の面に用いることにより、1枚の偏光板の厚みで反射防止効果と視野角拡大効果を有する偏光板を得ることができ、特に好ましい。 In particular, for TN mode and IPS mode liquid crystal display devices, as described in JP-A-2001-100043, an optical compensation film having a viewing angle widening effect is included in the two protective films on the back and front of the polarizing film. By using it on the surface opposite to the antireflection film of the present invention, a polarizing plate having an antireflection effect and a viewing angle expansion effect can be obtained with the thickness of one polarizing plate, which is particularly preferable.
本発明を詳細に説明するために、以下に実施例を挙げて説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお、特別の断りの無い限り、「部」及び「%」は質量基準である。 In order to describe the present invention in detail, examples will be described below, but the present invention is not limited thereto. Unless otherwise specified, “part” and “%” are based on mass.
(パーフルオロオレフィン共重合体(1)の合成)
内容量100mlのステンレス製撹拌機付オートクレーブに酢酸エチル40ml、ヒドロキシエチルビニルエーテル14.7gおよび過酸化ジラウロイル0.55gを仕込み、系内を脱気して窒素ガスで置換した。さらにヘキサフルオロプロピレン(HFP)25gをオートクレーブ中に導入して65℃まで昇温した。オートクレーブ内の温度が65℃に達した時点の圧力は5.4kg/cm2であった。該温度を保持し8時間反応を続け、圧力が3.2kg/cm2に達した時点で加熱をやめ放冷した。室温まで内温が下がった時点で未反応のモノマーを追い出し、オートクレーブを開放して反応液を取り出した。得られた反応液を大過剰のヘキサンに投入し、デカンテーションにより溶剤を除去することにより沈殿したポリマーを取り出した。さらにこのポリマーを少量の酢酸エチルに溶解してヘキサンから2回再沈殿を行うことによって残存モノマーを完全に除去した。乾燥後ポリマー28gを得た。次に該ポリマーの20gをN,N−ジメチルアセトアミド100mlに溶解、氷冷下アクリル酸クロライド11.4gを滴下した後、室温で10時間攪拌した。反応液に酢酸エチルを加え水洗、有機層を抽出後濃縮し、得られたポリマーをヘキサンで再沈殿させることによりパーフルオロオレフィン共重合体(1)を19g得た。得られたポリマーの屈折率は1.421であった。
(Synthesis of perfluoroolefin copolymer (1))
Into a stainless steel autoclave with a stirrer of 100 ml, 40 ml of ethyl acetate, 14.7 g of hydroxyethyl vinyl ether and 0.55 g of dilauroyl peroxide were charged, and the inside of the system was deaerated and replaced with nitrogen gas. Furthermore, 25 g of hexafluoropropylene (HFP) was introduced into the autoclave and the temperature was raised to 65 ° C. The pressure when the temperature in the autoclave reached 65 ° C. was 5.4 kg / cm 2 . The reaction was continued for 8 hours while maintaining the temperature, and when the pressure reached 3.2 kg / cm 2 , the heating was stopped and the mixture was allowed to cool. When the internal temperature dropped to room temperature, unreacted monomers were driven out, the autoclave was opened, and the reaction solution was taken out. The obtained reaction solution was poured into a large excess of hexane, and the polymer was precipitated by removing the solvent by decantation. Further, this polymer was dissolved in a small amount of ethyl acetate and reprecipitated twice from hexane to completely remove the residual monomer. After drying, 28 g of polymer was obtained. Next, 20 g of the polymer was dissolved in 100 ml of N, N-dimethylacetamide, and 11.4 g of acrylic acid chloride was added dropwise under ice cooling, followed by stirring at room temperature for 10 hours. Ethyl acetate was added to the reaction solution, washed with water, the organic layer was extracted and concentrated, and the resulting polymer was reprecipitated with hexane to obtain 19 g of perfluoroolefin copolymer (1). The resulting polymer had a refractive index of 1.421.
(フッ素系表面改質剤FP−1の合成)
攪拌機、還流冷却器を備えた反応器に、1H,1H,7H−ドデカフルオロヘプチルアクリレート 39.93g、ジメチル2,2’−アゾビスイソブチレート 1.1g、2−ブタノン 30gを加え窒素雰囲気下で6時間78℃に加熱して反応を完結させた。質量平均分子量は2.9×104であった。
(Synthesis of fluorine-based surface modifier FP-1)
In a reactor equipped with a stirrer and a reflux condenser, 39.93 g of 1H, 1H, 7H-dodecafluoroheptyl acrylate, 1.1 g of
(ゾル液aの調製)
攪拌機、還流冷却器を備えた反応器、メチルエチルケトン120部、アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(KBM−5103、信越化学工業(株)製)100部、ジイソプロポキシアルミニウムエチルアセトアセテート3部を加え混合したのち、イオン交換水30部を加え、60℃で4時間反応させたのち、室温まで冷却し、ゾル液aを得た。質量平均分子量は1600であり、オリゴマー成分以上の成分のうち、分子量が1000〜20000の成分は100%であった。また、ガスクロマトグラフィー分析から、原料のアクリロイルオキシプロピルトリメトキシシランは全く残存していなかった。
(Preparation of sol solution a)
A stirrer, a reactor equipped with a reflux condenser, 120 parts of methyl ethyl ketone, 100 parts of acryloyloxypropyltrimethoxysilane (KBM-5103, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), 3 parts of diisopropoxyaluminum ethyl acetoacetate were added and mixed. After that, 30 parts of ion-exchanged water was added and reacted at 60 ° C. for 4 hours, and then cooled to room temperature to obtain sol solution a. The mass average molecular weight was 1600, and among the components higher than the oligomer component, the component having a molecular weight of 1000 to 20000 was 100%. Further, from the gas chromatography analysis, the raw material acryloyloxypropyltrimethoxysilane did not remain at all.
(光拡散層用塗布液Aの調製)
ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレートの混合物(PETA、日本化薬(株)製)50gをトルエン38.5gで希釈した。更に、重合開始剤(イルガキュア184、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製)を2g添加し、混合攪拌した。この溶液を塗布、紫外線硬化して得られた塗膜の屈折率は1.51であった。
さらにこの溶液にポリトロン分散機にて10000rpmで20分分散した平均粒径3.5μmの架橋ポリスチレン粒子(屈折率1.60、SX−350、綜研化学(株)製)の30%トルエン分散液を1.7gおよび平均粒径3.5μmの架橋アクリル−スチレン粒子(屈折率1.55、綜研化学(株)製)の30%トルエン分散液を13.3g加え、最後に、フッ素系表面改質剤FP−1、0.75g、シランカップリング剤(KBM−5103、信越化学工業(株)製)を10gを加え、完成液とした。
上記混合液を孔径30μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して光拡散層の塗布液Aを調製した。
(Preparation of coating solution A for light diffusion layer)
50 g of a mixture of pentaerythritol triacrylate and pentaerythritol tetraacrylate (PETA, Nippon Kayaku Co., Ltd.) was diluted with 38.5 g of toluene. Furthermore, 2 g of a polymerization initiator (Irgacure 184, manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.) was added and mixed and stirred. The refractive index of the coating film obtained by applying this solution and curing with ultraviolet rays was 1.51.
Further, a 30% toluene dispersion of crosslinked polystyrene particles having an average particle size of 3.5 μm (refractive index: 1.60, SX-350, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.) dispersed in this solution for 20 minutes at 10,000 rpm with a Polytron disperser. Add 13.3 g of a 30% toluene dispersion of 1.7 g and crosslinked acrylic-styrene particles having an average particle size of 3.5 μm (refractive index 1.55, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.), and finally, fluorine-based surface modification Agent FP-1, 0.75 g, and 10 g of silane coupling agent (KBM-5103, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) were added to obtain a finished solution.
The mixture solution was filtered through a polypropylene filter having a pore diameter of 30 μm to prepare a coating solution A for the light diffusion layer.
(光拡散層用塗布液Bの調製)
市販ジルコニア含有UV硬化型ハードコート液(デソライトZ7404、JSR(株)製、固形分濃度約61%、固形分中ZrO2含率約70%、重合性モノマー、重合開始剤含有)285g、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(DPHA、日本化薬(株)製)85gを混合し、更に、メチルイソブチルケトン60g、メチルエチルケトン17gで希釈した。更に、シランカップリング剤(KBM−5103、信越化学(株)製)28gを混合攪拌した。この溶液を塗布、紫外線硬化して得られた塗膜の屈折率は1.61であった。
さらにこの溶液に平均粒径3.0μmの分級強化架橋PMMA粒子(屈折率1.49、MXS−300、綜研化学(株)製)の30%メチルイソブチルケトン分散液をポリトロン分散機にて10000rpmで20分分散した分散液を35g加え、次いで、平均粒径1.5μmのシリカ粒子(屈折率1.46、シーホスタKE-P150、日本触媒(株)製)の30%メチルエチルケトン分散液をポリトロン分散機にて10000rpmで30分分散した分散液を90g加え、最後に、フッ素系表面改質剤(FP−1)0.12gを混合攪拌し、完成液とした。
上記混合液を孔径30μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して光拡散層の塗布液Bを調製した。
(Preparation of coating solution B for light diffusion layer)
285 g of commercially available zirconia-containing UV curable hard coat liquid (Desolite Z7404, manufactured by JSR Corporation, solid content concentration of about 61%, ZrO 2 content of solid content of about 70%, polymerizable monomer, polymerization initiator contained), dipenta 85 g of a mixture of erythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate (DPHA, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) was mixed, and further diluted with 60 g of methyl isobutyl ketone and 17 g of methyl ethyl ketone. Furthermore, 28 g of a silane coupling agent (KBM-5103, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was mixed and stirred. The refractive index of the coating film obtained by applying this solution and curing with ultraviolet rays was 1.61.
Further, a 30% methyl isobutyl ketone dispersion of classified strengthened crosslinked PMMA particles (refractive index: 1.49, MXS-300, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.) having an average particle size of 3.0 μm was added to this solution at 10,000 rpm with a Polytron disperser. 35 g of a dispersion dispersed for 20 minutes was added, and then a 30% methyl ethyl ketone dispersion of silica particles having an average particle diameter of 1.5 μm (refractive index 1.46, Seahosta KE-P150, manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd.) 90 g of a dispersion dispersed at 10,000 rpm for 30 minutes was added, and finally 0.12 g of a fluorine-based surface modifier (FP-1) was mixed and stirred to obtain a finished solution.
The mixture solution was filtered through a polypropylene filter having a pore size of 30 μm to prepare a coating solution B for the light diffusion layer.
(光拡散層用塗布液Cの調製)
上記光拡散層用塗布液Bにおいて平均粒径3.0μmの架橋PMMA、平均粒径1.5μmのシリカ粒子の代わりに、平均粒径3.5μmの架橋ポリスチレン粒子(屈折率1.61、SX−350、綜研化学(株)製)の30%トルエン分散液を等質量で置き換えただけの光拡散層用塗布液Cを作成した。
(光拡散層用塗布液D〜Fの調製)
上記光拡散層用塗布液Cにおいてジルコニア含有率を適宜変更し、架橋ポリスチレン粒子を除いた硬化皮膜の屈折率が、1.55、1.70、1.82となる光拡散層用塗布液D〜Fを作成した。
(Preparation of coating solution C for light diffusion layer)
Instead of the crosslinked PMMA having an average particle size of 3.0 μm and the silica particles having an average particle size of 1.5 μm in the coating solution B for light diffusion layer, crosslinked polystyrene particles having an average particle size of 3.5 μm (refractive index 1.61, SX -350, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.) A light diffusion layer coating solution C was prepared by simply replacing the 30% toluene dispersion with an equal mass.
(Preparation of coating solutions D to F for light diffusion layer)
In the light diffusion layer coating liquid C, the zirconia content is appropriately changed, and the refractive index of the cured film excluding the crosslinked polystyrene particles is 1.55, 1.70, 1.82. ~ F was created.
(低屈折率層用塗布液Aの調整)
屈折率1.42の熱架橋性含フッ素ポリマー(JN7228A、固形分濃度6%、JSR(株)製)13g、シリカゾル(シリカ、MEK−STの粒子サイズ違い、平均粒径45nm、固形分濃度30%、日産化学(株)製)1.3g、ゾル液a0.6gおよびメチルエチルケトン5g、シクロヘキサノ0.6gを添加、攪拌の後、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して、低屈折率層用塗布液Aを調製した。硬化膜の屈折率は1.42であった。
(Adjustment of coating solution A for low refractive index layer)
Thermally crosslinkable fluorine-containing polymer having a refractive index of 1.42 (JN7228A,
(低屈折率層用塗布液Bの調整)
上記低屈折率層用塗布液Aにおいて、シリカゾルの代わりに中空シリカゾル(屈折率1.31、平均粒径60nm、固形分濃度20%)を1.95g用いた以外は添加量も含め上記塗布液Aと同様にして、低屈折率層用塗布液Bを作成した。硬化膜の屈折率は1.39であった。
(Adjustment of coating liquid B for low refractive index layer)
In the coating liquid A for the low refractive index layer, the coating liquid including the addition amount is used except that 1.95 g of hollow silica sol (refractive index 1.31, average particle size 60 nm, solid content concentration 20%) is used instead of silica sol. In the same manner as A, a coating solution B for a low refractive index layer was prepared. The refractive index of the cured film was 1.39.
(低屈折率層用塗布液Cの調製)
上記低屈折率層用塗布液において、熱架橋性含フッ素ポリマーの一部をジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(DPHA、日本化薬(株)製)に置き換えることにより、硬化膜の屈折率が1.51になるように調製し、低屈折率層用塗布液Cを作成した。
(Preparation of coating solution C for low refractive index layer)
In the coating solution for the low refractive index layer, curing is achieved by replacing a part of the thermally crosslinkable fluorine-containing polymer with a mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate (DPHA, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.). The film was prepared so that the refractive index of the film was 1.51, and a coating liquid C for low refractive index layer was prepared.
(低屈折率層用塗布液Dの調製)
メチルトリエトキシシラン(MTEOS)が理想的にSiO2またはMeSiO1.5に加水分解および縮合したと仮定した時の固形分濃度が3重量%になるように、MTEOSを溶媒であるメチルエチルケトンに溶解し、液温が25℃に安定するまで30分間攪拌した(A液)。A液中に触媒である濃度0.005mol/lの塩酸をMTEOSのアルコキシド基と等モル量加え、25℃で3時間加水分解を行った(B液)。このB液に硬化剤として酢酸ナトリウムと酢酸とを混合したものを加え、25℃で1時間攪拌し、SiO2ゾル液を得た。硬化膜の屈折率は1.40であった。
(Preparation of coating solution D for low refractive index layer)
MTEOS is dissolved in methyl ethyl ketone as a solvent so that the solid content concentration becomes 3% by weight when it is assumed that methyltriethoxysilane (MTEOS) is ideally hydrolyzed and condensed to SiO 2 or MeSiO 1.5. The mixture was stirred for 30 minutes until the temperature was stabilized at 25 ° C. (A solution). Hydrochloric acid having a concentration of 0.005 mol / l as a catalyst was added to the A liquid in an equimolar amount with the alkoxide group of MTEOS and hydrolyzed at 25 ° C. for 3 hours (liquid B). A mixture of sodium acetate and acetic acid as a curing agent was added to this B liquid and stirred at 25 ° C. for 1 hour to obtain a SiO 2 sol liquid. The refractive index of the cured film was 1.40.
(低屈折率層用塗布液E調製)
パーフルオロオレフィン共重合体(1)の15.2g、シリカゾル(シリカ、MEK−STの粒子径違い品、平均粒径45nm、固形分濃度30%、日産化学社製)1.4g、反応性シリコーンX−22−164B(商品名;信越化学工業社製)0.3g、ゾル液a7.3g、光重合開始剤(イルガキュア907(商品名)、チバガイギー社製)0.76g、メチルエチルケトン301g、シクロヘキサノン9.0gを添加、攪拌の後、孔径5μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して、低屈折率層用塗布液Dを調製した。硬化膜の屈折率は1.42であった。
(Preparation of coating solution E for low refractive index layer)
15.2 g of perfluoroolefin copolymer (1), silica sol (silica, MEK-ST with different particle size, average particle size 45 nm, solid content concentration 30%, manufactured by Nissan Chemical Co., Ltd.) 1.4 g, reactive silicone X-22-164B (trade name; manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 0.3 g, sol solution a 7.3 g, photopolymerization initiator (Irgacure 907 (trade name), manufactured by Ciba Geigy) 0.76 g, methyl ethyl ketone 301 g, cyclohexanone 9 After adding 0.0 g and stirring, the mixture was filtered through a polypropylene filter having a pore size of 5 μm to prepare a coating solution D for a low refractive index layer. The refractive index of the cured film was 1.42.
[実施例1]
(1)光拡散層の塗設
80μmの厚さのトリアセチルセルロースフィルム(TAC−TD80U、富士写真フイルム(株)製)をロール形態で巻き出して、上記の光拡散層用塗布液Aを線数180本/インチ、深度40μmのグラビアパターンを有する直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて、グラビアロール回転数30rpm、搬送速度30m/分の条件で塗布し、60℃で150秒乾燥の後、さらに窒素パージ下で160W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度400mW/cm2、照射量250mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させ、厚さ6μmの機能層を形成し、巻き取った。
[Example 1]
(1) Coating of light diffusion layer An 80 μm-thick triacetyl cellulose film (TAC-TD80U, manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) is unwound in the form of a roll, and the light diffusion layer coating liquid A is lined up. Using a gravure roll with a diameter of 40 mm and a doctor blade with a gravure pattern of several 180 lines / inch and a depth of 40 μm, it was applied at a gravure roll rotation speed of 30 rpm and a conveying speed of 30 m / min, and dried at 60 ° C. for 150 seconds. Then, using a 160 W / cm air-cooled metal halide lamp (manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) under a nitrogen purge, the coating layer is cured by irradiating ultraviolet rays with an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 250 mJ / cm 2. A functional layer having a thickness of 6 μm was formed and wound up.
(2)低屈折率層の塗設
該光拡散層を塗設したトリアセチルセルロースフィルムを再び巻き出して、上記低屈折率層用塗布液Aを線数180本/インチ、深度40μmのグラビアパターンを有する直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて、グラビアロール回転数30rpm、搬送速度15m/分の条件で塗布し、120℃で150秒乾燥の後、更に140℃で8分乾燥させてから窒素パージ下で240W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度400mW/cm2、照射量900mJ/cm2の紫外線を照射し、厚さ100nmの低屈折率層を形成し、巻き取った(試料1)。
(2) Coating of low refractive index layer The triacetyl cellulose film coated with the light diffusing layer is unwound again, and the low refractive index layer coating solution A is a gravure pattern with 180 lines / inch and a depth of 40 μm. Using a micro gravure roll having a diameter of 50 mm and a doctor blade having a gravure roll rotation number of 30 rpm and a conveying speed of 15 m / min, applying at 120 ° C. for 150 seconds and further drying at 140 ° C. for 8 minutes. Using a 240 W / cm air-cooled metal halide lamp (manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) under a nitrogen purge, UV light with an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 900 mJ / cm 2 is used and a low refractive index of 100 nm is obtained. A layer was formed and wound up (Sample 1).
光拡散層と低屈折率層の塗布液を下記表1に示すように変更した以外は、上記試料1と同様にして、試料2〜14の反射防止フィルムを作製した。
試料1〜14の各試料とも、光拡散層および低屈折率層の厚さは微調節し、色味をa*=2、b*=−3とした。
Antireflection films of
In each of the samples 1 to 14, the thicknesses of the light diffusion layer and the low refractive index layer were finely adjusted, and the colors were set to a * = 2 and b * =-3.
試料1〜10のについては、上記において塗布、乾燥工程は0.5μm以上の粒子として30個/立方メートル以下の空気清浄度(米国連邦規格209Eにおける空気清浄度クラス1以下)の空気雰囲気下で行われ、塗布直前に特開平10−309553号に記載の清浄度の高い空気を高速で吹きつけて付着物をフィルム表面から剥離させ、近接した吸い込み口で吸引する方法で除塵しながら塗布を行った。除塵前のベースの帯電圧は200V以下であった。上記の塗布は一層ごとに、送り出し−除塵−塗布−乾燥−(UVまたは熱)硬化−巻取りの各工程で行った(条件1)。
試料11〜14の作成は塗布・乾燥ゾーンの空気清浄度が0.5μm以上の粒子として10000個/立方メートル以上(米国連邦規格209Eにおける空気清浄度クラス100〜1000)である以外は試料1、7、9、10と同様にして反射防止フィルムを作成した(条件2)。
作成した試料の光拡散層と低屈折率層の塗布液、および塗布、乾燥時の空気清浄度の条件を表1に示す。
For samples 1 to 10, the coating and drying steps are performed in an air atmosphere having an air cleanliness of 30 particles / cubic meter or less (air cleanliness class 1 or lower in US Federal Standard 209E) as particles of 0.5 μm or more. Immediately before coating, the coating was performed by removing dust from the surface of the film by blowing high-clean air described in JP-A-10-309553 at a high speed and removing the dust from the film by sucking it through the adjacent suction port. . The charged voltage of the base before dust removal was 200V or less. The above coating was performed for each layer in each step of feeding-dust removal-coating-drying- (UV or heat) curing-winding (condition 1).
Table 1 shows the coating liquid for the light diffusion layer and the low refractive index layer of the prepared sample, and the conditions of air cleanliness during coating and drying.
(反射防止フィルムの鹸化処理)
製膜後、各試料について、以下の処理を行った。
1.5mol/lの水酸化ナトリウム水溶液を調製し、55℃に保温した。0.01mol/lの希硫酸水溶液を調製し、35℃に保温した。 作製した反射防止フィルムを上記の水酸化ナトリウム水溶液に2分間浸漬した後、水に浸漬し水酸化ナトリウム水溶液を十分に洗い流した。次いで、上記の希硫酸水溶液に1分間浸漬した後、水に浸漬し希硫酸水溶液を十分に洗い流した。最後に試料を120℃で十分に乾燥させた。
このようにして、鹸化処理済み反射防止フィルムを作成し、以下の評価を行った。
(Saponification treatment of antireflection film)
After film formation, each sample was subjected to the following treatment.
A 1.5 mol / l aqueous sodium hydroxide solution was prepared and kept at 55 ° C. A 0.01 mol / l dilute sulfuric acid aqueous solution was prepared and kept at 35 ° C. The prepared antireflection film was immersed in the aqueous sodium hydroxide solution for 2 minutes, and then immersed in water to sufficiently wash away the aqueous sodium hydroxide solution. Subsequently, after being immersed in the above-mentioned dilute sulfuric acid aqueous solution for 1 minute, it was immersed in water to sufficiently wash away the dilute sulfuric acid aqueous solution. Finally, the sample was thoroughly dried at 120 ° C.
In this way, a saponified antireflection film was prepared and evaluated as follows.
(反射防止フィルムの評価)
得られた反射防止フィルムについて、以下の項目の評価を行った。結果を表2に示した。
(Evaluation of antireflection film)
About the obtained antireflection film, the following items were evaluated. The results are shown in Table 2.
(1)平均反射率
分光光度計(日本分光(株)製)を用いて、380〜780nmの波長領域において、入射角5°における分光反射率を測定した。結果には450〜650nmの積分球平均反射率を用いた。
(2)スチールウール耐傷性評価
ラビングテスターを用いて、以下の条件で擦りテストを行った。
・評価環境条件:25℃、60%RH
・こすり材:試料と接触するテスターのこすり先端部(1cm×1cm)にスチールウール(日本スチールウール(株)製、グレードNo.0000)を巻いて、動かないようバンド固定した。
・移動距離(片道):13cm、こすり速度:13cm/秒、荷重:500g/cm2、先端部接触面積:1cm×1cm、こすり回数:10往復。
こすり終えた試料の裏側に油性黒インキを塗り、反射光で目視観察して、こすり部分の傷を、以下の基準で評価した。
◎ :非常に注意深く見ても、全く傷が見えない。
○ :非常に注意深く見ると僅かに弱い傷が見える。
○△:弱い傷が見える。
△ :中程度の傷が見える。
△×〜×:一目見ただけで分かる傷がある。
(1) Average reflectance Using a spectrophotometer (manufactured by JASCO Corporation), the spectral reflectance at an incident angle of 5 ° was measured in a wavelength region of 380 to 780 nm. For the results, an integrating sphere average reflectance of 450 to 650 nm was used.
(2) Steel wool scratch resistance evaluation A rubbing test was performed using a rubbing tester under the following conditions.
-Evaluation environmental conditions: 25 ° C, 60% RH
・ Rubbing material: Steel wool (manufactured by Nippon Steel Wool Co., Ltd., grade No. 0000) was wound around the rubbing tip (1 cm × 1 cm) of a tester that was in contact with the sample, and the band was fixed so as not to move.
Travel distance (one way): 13 cm, rubbing speed: 13 cm / sec, load: 500 g / cm 2 , tip contact area: 1 cm × 1 cm, rubbing frequency: 10 reciprocations.
An oil-based black ink was applied to the back side of the rubbed sample and visually observed with reflected light, and scratches on the rubbed portion were evaluated according to the following criteria.
A: Even if looked very carefully, no scratches were visible.
○: Slightly weak scratches are visible when viewed very carefully.
○ △: Weak scratches are visible.
Δ: Medium scratches are visible.
Δ × ˜ ×: There is a scratch that can be seen at first glance.
(3)水綿棒こすり耐性評価
ラビングテスターのこすり先端部に綿棒を固定し、平滑皿中で試料の上下をクリップで固定し、室温25℃で、試料と綿棒を25℃の水に浸し、綿棒に500gの荷重をかけて、こすり回数を変えてこすりテストを行った。こすり距離(片道):1cm、こすり速度:約2往復/秒の条件で行った。
こすり終えた試料を観察して、膜剥がれが起こった回数で、こすり耐性を以下のように評価した。
× :0〜10往復で膜剥がれ
×△:10〜30往復で膜剥がれ
△ :30〜50往復で膜剥がれ
○△:50〜100往復で膜剥がれ
○ :100〜150往復で膜剥がれ
◎ :150往復でも膜剥がれなし
(3) Evaluation of resistance to rubbing with a cotton swab A cotton swab is fixed to the rubbing tip of a rubbing tester, and the upper and lower sides of the sample are fixed with clips in a smooth dish, and the sample and the swab are immersed in water at 25 ° C at room temperature 25 ° C. A rubbing test was performed by applying a load of 500 g and changing the number of rubbing. Rubing distance (one way): 1 cm, rubbing speed: about 2 reciprocations / second.
The rubbed sample was observed, and the rub resistance was evaluated as follows based on the number of times film peeling occurred.
X: film peeling with 0-10 reciprocation xΔ: film peeling with 10-30 reciprocation △: film peeling with 30-50 reciprocation ○ △: film peeling with 50-100 reciprocation ○: film peeling with 100-150 reciprocation ◎: 150 No film peeling even when reciprocating
(4)輝点欠陥
全層塗布した後のフィルムの裏面をマジックインキで黒塗りした後塗膜上の輝点欠点を目視で判定、「1平方メートルあたりの個数をカウントした。
(4) Bright spot defects The back side of the film after coating all the layers was black-coated with magic ink, and then the bright spot defects on the coating film were visually determined. “The number per square meter was counted.
表2より、本発明の反射防止フィルムは、輝点欠陥が少なく低反射率であり、液晶表示装置に適用することで画質(コントラスト、視野角依存性)を向上させることができることは明らかである。 From Table 2, it is clear that the antireflection film of the present invention has few bright spot defects and low reflectance, and can improve image quality (contrast and viewing angle dependency) when applied to a liquid crystal display device. .
[実施例2]
[帯電防止層用分散物の調製]
(ATO分散物の調製)
ATO(アンチモン含有酸化錫、比表面積:95m2/g、粉体比抵抗:2Ω・cm)20質量部、下記のアニオン性モノマー(1)3質量部、下記のアニオンモノマー(2)3質量部およびシクロヘキサノン74質量部をサンドグラインダーミルにより分散し、ATO分散物を調製した。
[Example 2]
[Preparation of dispersion for antistatic layer]
(Preparation of ATO dispersion)
20 parts by mass of ATO (antimony-containing tin oxide, specific surface area: 95 m 2 / g, powder specific resistance: 2 Ω · cm), 3 parts by mass of the following anionic monomer (1), 3 parts by mass of the following anionic monomer (2) And 74 parts by mass of cyclohexanone was dispersed by a sand grinder mill to prepare an ATO dispersion.
(帯電防止層用塗布液Aの調製)
ATO分散物に、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(DPHA、日本化薬(株)製)、光重合開始剤(イルガキュア907、チバガイギー社製)、光増感剤(カヤキュアーDETX、日本化薬(株)製)、メチルエチルケトンおよびシクロヘキサノンを添加して帯電防止層用塗布液を調製した。添加量は、モノマーの合計量(ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、アニオン性モノマー(1)およびアニオン性モノマー(2)の合計量)とATOとの質量比が65/35、光重合開始剤と光増感剤との質量比が3/1、光重合開始剤と光増感剤の合計量とモノマーの合計量との質量比が6/100、そしてメチルエチルケトンとシクロヘキサノンとの質量比が1/1になるように調節した。
(Preparation of coating solution A for antistatic layer)
In ATO dispersion, a mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate (DPHA, Nippon Kayaku Co., Ltd.), photopolymerization initiator (Irgacure 907, Ciba Geigy), photosensitizer (Kayacure DETX) Nippon Kayaku Co., Ltd.), methyl ethyl ketone and cyclohexanone were added to prepare a coating solution for an antistatic layer. The added amount is 65/35 in the mass ratio of the total amount of monomers (total amount of dipentaerythritol hexaacrylate, anionic monomer (1) and anionic monomer (2)) and ATO, photoinitiator and photosensitizer. The mass ratio to the sensitizer is 3/1, the mass ratio of the total amount of photopolymerization initiator and photosensitizer to the total amount of monomers is 6/100, and the mass ratio of methyl ethyl ketone to cyclohexanone is 1/1. It adjusted so that it might become.
(帯電防止層の形成)
実施例1で作成した試料1、9、10、11、13、14において光拡散層を塗設する前に帯電防止層用塗布液をバーコーターで均一に塗布し、紫外線を照射して層を硬化させ、厚さ(乾燥膜厚)が6μmの帯電防止層を形成し、試料15〜20を作成した。これらについて実施例1と同様にして輝点欠陥を調べた。結果を表3に示す。試料15〜20は輝点少なく防塵性に優れる以外の性能は帯電防止層のない試料1、9、10、11、13、14と同等であった。
(Formation of antistatic layer)
Before applying the light diffusing layer in
[実施例3]
(帯電防止用塗布液Bの調製)
・導電性ポリマー分散物(IP−24の5%メタノール分散液、平均粒径0.2μm)
10質量部
・セルロースジアセテート樹脂
(商品名:アセテートフレークスL−AC、ダイセル化学工業(株)製)
0.2質量部
・メタノール 20質量部
・アセトン 40質量部
・酢酸エチル 25質量部
・イソプロピルアルコール 5質量部
[Example 3]
(Preparation of antistatic coating solution B)
Conductive polymer dispersion (IP-24 5% methanol dispersion, average particle size 0.2 μm)
10 parts by mass of cellulose diacetate resin (trade name: Acetate Flakes L-AC, manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.)
0.2 parts by mass, 20 parts by mass of methanol, 40 parts by mass of acetone, 25 parts by mass of ethyl acetate, 5 parts by mass of isopropyl alcohol
(帯電防止用塗布液Cの調製)
・セルロースジアセテート樹脂
(商品名:アセテートフレークスL−AC、ダイセル化学工業(株)製)
0.1質量部
・1%アセトン分散微粒子シリカ
(商品名:アエロジル200V、日本アエロジル(株)製) 0.05質量部
・メチルエチルケトン 40質量部
・酢酸エチル 30質量部
・イソプロピレングリコール 30質量部
(Preparation of antistatic coating solution C)
・ Cellulose diacetate resin (trade name: Acetate Flakes L-AC, manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.)
0.1 parts by mass, 1% acetone-dispersed fine particle silica (trade name: Aerosil 200V, manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.) 0.05 parts by mass, methyl ethyl ketone 40 parts by mass, ethyl acetate 30 parts by mass, isopropylene glycol 30 parts by mass
実施例2で作成した試料15〜20の帯電防止層の作成において、B液を塗布量22ml/m2となるように塗布して形成した帯電防止層の上に、更にC液を塗布量16ml/m2塗布し、帯電防止層を形成した試料21〜26を作成した。実施例2と同様に輝点少なくが少なく防塵性に優れる以外の性能は帯電防止層のない試料1、9、10、11、13、14と同等であった。さらにB液の導電性ポリマーをIP−11にかえても同様の効果が得られた。
In the preparation of the antistatic layer of
[実施例4]
(低屈折率層用塗布液Fの調製)
・メチルトリメトキシシラン 100質量部
・ジメチルジメトキシシラン 50質量部
・シリル基含有ビニルポリマー(50%固形分):化合物PP−2 50質量部
・ジイソプロポキシアルミニウムエチルアセトアセテート 20質量部
・イソプロピルアルコール 40質量部
・イオン交換水 30質量部
[Example 4]
(Preparation of coating solution F for low refractive index layer)
-Methyltrimethoxysilane 100 parts by mass-
(低屈折率層用塗布液G、Hの調製)
上記F液の調製においてシリル基含有ビニルポリマー(50%固形分)を化合物PP−2から化合物PP−12、PP−15に変えることで低屈折率層用塗布液G、Hをそれぞれ調製した。
F〜H液を硬化して得られる硬化膜の屈折率は、いずれも1.40であった。
実施例2の試料15の作成において低屈折率層用塗布液をA液からF〜H液に変えることにより試料27、28、29をそれぞれ作成した。なお低屈折率層用塗布液を塗設後100℃で1時間乾燥、硬化を行った。
これら試料に実施例1と同様の評価を行った。結果を表4に示す。
(Preparation of coating solutions G and H for low refractive index layer)
Coating liquids G and H for the low refractive index layer were prepared by changing the silyl group-containing vinyl polymer (50% solid content) from compound PP-2 to compounds PP-12 and PP-15 in the preparation of the F solution.
The refractive index of the cured film obtained by curing the F to H liquids was 1.40.
Samples 27, 28, and 29 were prepared by changing the coating liquid for the low refractive index layer from the A liquid to the F to H liquids in the preparation of the
These samples were evaluated in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 4.
表4により、本発明の反射防止フィルムは、輝点欠陥が少なく低反射率であり、液晶表示装置に適用することで画質(コントラスト、視野角依存性)を向上させることができることは明らかである。 From Table 4, it is clear that the antireflection film of the present invention has few bright spot defects and low reflectance, and can improve image quality (contrast and viewing angle dependency) when applied to a liquid crystal display device. .
[実施例5]
実施例2で作成した試料15を作製する際の塗布時の空気清浄度を変えることにより試料21を作製し、さらに各層の屈折率および膜厚の微調整することにより、色味の異なる試料22〜25を作成し、輝点欠陥の目立ち易さを評価した。
[Example 5]
Sample 21 was prepared by changing the air cleanliness at the time of application when preparing
これら試料を液晶表示装置の最表層に装着し、色味の好ましさ、輝点欠陥の目立ち易さを評価した。
色味は、液晶表示装置の電源OFF時の画面に蛍光灯を反射させて、その反射光のニュートラリティーを官能評価した(5:好ましい〜1:好ましくない)。
輝点欠陥の目立ち易さは、液晶表示装置の電源OFF時の画面を観察し、5点評価とした(5:全く気づかない〜1:容易に気づく)。
These samples were mounted on the outermost layer of a liquid crystal display device to evaluate the preference for color and the conspicuousness of bright spot defects.
For the color tone, a fluorescent lamp was reflected on the screen when the power of the liquid crystal display device was turned off, and the neutrality of the reflected light was subjected to sensory evaluation (5: preferred to 1: not preferred).
The visibility of the bright spot defect was evaluated by observing the screen of the liquid crystal display device when the power was turned off to give a 5-point evaluation (5: not noticed at all: 1: easily noticed).
表6より、CIE1976L*a*b*色空間のa*、b*値がそれぞれ−7≦a*≦7、−10≦b*≦10とであっても、輝点欠陥数が20個/m2を超える試料(試料11、18)では、輝点欠陥は目立ってしまうが、輝点欠陥数を20個/m2以下にすることで気にならなくなり、これにより、色味と輝点欠陥の目立ち易さを両立することができることがわかる。
From Table 6, even if the a * and b * values of the CIE1976L * a * b * color space are −7 ≦ a * ≦ 7 and −10 ≦ b * ≦ 10, respectively, the number of bright spot defects is 20 / In the samples exceeding m 2 (
[実施例6]
PVAフィルムをヨウ素2.0g/l、ヨウ化カリウム4.0g/lの水溶液に25℃にて240秒浸漬し、さらにホウ酸10g/lの水溶液に25℃にて60秒浸漬後、特開2002−86554号公報の図2に記載の形態のテンター延伸機に導入し、5.3倍に延伸し、テンターを延伸方向に対し上記公報の図2の如く屈曲させ、以降幅を一定に保った。80℃雰囲気で乾燥させた後テンターから離脱した。左右のテンタークリップの搬送速度差は、0.05%未満であり、導入されるフィルムの中心線と次工程に送られるフィルムの中心線のなす角は、46゜であった。テンター出口における実質延伸方向は、次工程へ送られるフィルムの中心線22に対し45゜傾斜していた。テンター出口におけるシワ、フィルム変形は観察されなかった。
さらに、PVA((株)クラレ製PVA−117H)3%水溶液を接着剤としてケン化処理した富士写真フィルム(株)製TD80U(セルローストリアセテート、レターデーション値3.0nm)と貼り合わせ、さらに80℃で乾燥して有効幅650mmの偏光板を得た。得られた偏光板の吸収軸方向は、長手方向に対し45゜傾斜していた。この偏光板の550nmにおける透過率は43.7%、偏光度は99.97%であった。さらに図2の如く310×233mmサイズに裁断したところ、91.5%の面積効率で辺に対し45゜吸収軸が傾斜した偏光板を得た。
次に、実施例1〜4で作製した本発明の反射防止フィルム(鹸化処理済み)を上記偏光板と貼り合わせて防眩性反射防止付き偏光板を作製した。この偏光板を用いて反射防止フィルムが最表層になるように配置した液晶表示装置を作製したところ、外光の映り込みがないために優れたコントラストが得られ、防眩性により反射像が目立たず優れた視認性を有していた。
[Example 6]
The PVA film was immersed in an aqueous solution of 2.0 g / l iodine and 4.0 g / l potassium iodide at 25 ° C. for 240 seconds, and further immersed in an aqueous solution of boric acid 10 g / l at 25 ° C. for 60 seconds. Introduced into a tenter stretching machine of the form shown in FIG. 2 of 2002-86554, stretched 5.3 times, bent the tenter in the stretching direction as shown in FIG. 2 of the above publication, and thereafter kept the width constant. It was. After drying in an atmosphere of 80 ° C., it was detached from the tenter. The difference in transport speed between the left and right tenter clips was less than 0.05%, and the angle between the center line of the introduced film and the center line of the film sent to the next process was 46 °. The substantial stretching direction at the tenter outlet was inclined by 45 ° with respect to the center line 22 of the film sent to the next process. Wrinkles and film deformation at the tenter exit were not observed.
Further, it was bonded to TD80U (cellulose triacetate, retardation value: 3.0 nm) manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd., which had been saponified using an aqueous solution of PVA (manufactured by Kuraray Co., Ltd., PVA-117H) 3%, and further 80 ° C. And dried to obtain a polarizing plate having an effective width of 650 mm. The absorption axis direction of the obtained polarizing plate was inclined 45 ° with respect to the longitudinal direction. The polarizing plate had a transmittance at 550 nm of 43.7% and a polarization degree of 99.97%. Further, as shown in FIG. 2, when the substrate was cut into a size of 310 × 233 mm, a polarizing plate having an absorption efficiency of 91.5% and a 45 ° absorption axis inclined with respect to the side was obtained.
Next, the antireflection film of the present invention prepared in Examples 1 to 4 (saponified) was bonded to the above polarizing plate to prepare a polarizing plate with antiglare antireflection. Using this polarizing plate, a liquid crystal display device in which the antireflection film was arranged as the outermost layer was produced. As a result, there was no reflection of external light, and an excellent contrast was obtained, and the reflected image was conspicuous due to antiglare properties. It had excellent visibility.
[実施例7]
1.5mol/l、55℃のNaOH水溶液中に2分間浸漬したあと中和、水洗した、80μmの厚さのトリアセチルセルロースフイルム(TAC−TD80U、富士写真フイルム(株)製)と、実施例1で作製した試料1の反射防止フィルム(裏面のトリアセチルセルロースフィルム面(偏光子との接着面)を鹸化処理済み)とを、ポリビニルアルコールにヨウ素を吸着させ、延伸して作製した偏光子の両面を接着、保護して偏光板を作製した。このようにして作製した偏光板を、反射防止フィルム側が最表面となるように透過型TN液晶表示装置搭載のノートパソコンの液晶表示装置(偏光選択層を有する偏光分離フィルムである住友3M(株)製のD−BEFをバックライトと液晶セルとの間に有する)の視認側の偏光板と貼り代えたところ、背景の映りこみが極めて少なく、表示品位の非常に高い表示装置が得られた。
[Example 7]
An 80 μm-thick triacetylcellulose film (TAC-TD80U, manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.), immersed in a 1.5 mol / l, 55 ° C. NaOH aqueous solution for 2 minutes, neutralized and washed with water, and Examples 1 was prepared by adsorbing iodine to polyvinyl alcohol and stretching the antireflective film of Sample 1 prepared in 1 (the saponification treatment of the triacetylcellulose film surface (adhesive surface with the polarizer) on the back surface). A polarizing plate was prepared by adhering and protecting both sides. The thus-prepared polarizing plate is a liquid crystal display device of a notebook personal computer equipped with a transmission type TN liquid crystal display device so that the antireflection film side is the outermost surface (Sumitomo 3M Co., Ltd., which is a polarization separation film having a polarization selection layer). When the polarizing plate on the viewing side of D-BEF made of D-BEF (having between the backlight and the liquid crystal cell) was replaced, a display device with extremely high display quality was obtained with very little background reflection.
[実施例8]
透過型TN液晶セルの視認側偏光板の視認側保護フィルム(液晶セル側とは反対側の保護フィルム)として実施例1〜4で作製した本発明の反射防止フィルムを貼りつけた。該視認側偏光板の液晶セル側の保護フィルム、およびバックライト側の偏光板の液晶セル側の保護フィルムとして、ディスコティック構造単位の円盤面が透明支持体面に対して傾いており、且つ該ディスコティック構造単位の円盤面と透明支持体面とのなす角度が、光学異方層の深さ方向において変化している光学補償層を有する視野角拡大フィルム(ワイドビューフィルムSA 12B、富士写真フイルム(株)製)を用いたところ、明室でのコントラストに優れ、且つ上下左右の視野角が非常に広く、極めて視認性に優れ、表示品位の高い液晶表示装置が得られた。
また、実施例1で作製した試料2(光拡散層用塗布液B)の反射防止フィルムを用いた場合、出射角0°に対する30°の散乱光強度が0.06%であり、この光拡散性により、特に下方向の視野角アップ、左右方向の黄色味が改善され、非常に良好な液晶表示装置であった。比較として、該光拡散層用塗布液Bから、架橋PMMA粒子、シリカ粒子を除去した以外は、試料2と全く同様にして作製した反射防止フィルムを用いた場合では、出射角0°に対する30°の散乱光強度が実質0%であり、下方向視野角アップ、黄色味改善効果は全く得られなかった。
[Example 8]
The antireflection film of this invention produced in Examples 1-4 was affixed as a visual recognition side protective film (protective film on the opposite side to the liquid crystal cell side) of the visual recognition side polarizing plate of a transmission type TN liquid crystal cell. As the protective film on the liquid crystal cell side of the viewing side polarizing plate and the protective film on the liquid crystal cell side of the polarizing plate on the backlight side, the disc surface of the discotic structural unit is inclined with respect to the transparent support surface, and the disco Viewing angle widening film (Wide View Film SA12B, Fuji Photo Film Co., Ltd.) having an optical compensation layer in which the angle formed by the disk surface of the tick structural unit and the transparent support surface changes in the depth direction of the optical anisotropic layer. As a result, a liquid crystal display device having excellent contrast in a bright room, extremely wide viewing angles in the vertical and horizontal directions, extremely excellent visibility, and high display quality was obtained.
In addition, when the antireflection film of Sample 2 (light diffusion layer coating liquid B) prepared in Example 1 was used, the scattered light intensity at 30 ° with respect to the emission angle of 0 ° was 0.06%. In particular, the viewing angle is improved in the downward direction and the yellowness in the left-right direction is improved, and the liquid crystal display device is very good. As a comparison, when an antireflection film produced in exactly the same manner as
[実施例9]
実施例1〜4で作製した本発明の反射防止フィルムを、有機EL表示装置の表面のガラス板に粘着剤を介して貼り合わせたところ、ガラス表面での反射が抑えられ、視認性の高い表示装置が得られた。
[Example 9]
When the antireflection film of the present invention produced in Examples 1 to 4 is bonded to a glass plate on the surface of an organic EL display device via an adhesive, reflection on the glass surface is suppressed, and display with high visibility is achieved. A device was obtained.
[実施例10]
実施例1〜4で作製した本発明の反射防止フィルムを用いて、片面反射防止フィルム付き偏光板を作製し、偏光板の反射防止フィルムを有している側の反対面にλ/4板を張り合わせ、有機EL表示装置の表面のガラス板に貼り付けたところ、表面反射および、表面ガラスの内部からの反射がカットされ、極めて視認性の高い表示が得られた。
[Example 10]
Using the antireflection film of the present invention prepared in Examples 1 to 4, a polarizing plate with a single-sided antireflection film was prepared, and a λ / 4 plate was placed on the opposite side of the polarizing plate having the antireflection film. When pasted and pasted on the glass plate on the surface of the organic EL display device, surface reflection and reflection from the inside of the surface glass were cut, and a display with extremely high visibility was obtained.
1 透明支持体
2 機能層
4 低屈折率層
6 光拡散層
7 透光性粒子
11 フィルム支持体
12 静電気除電装置
13 除塵装置
14 塗布部
15 クリーン室
16 乾燥室
17 放射線硬化部
18 熱硬化室
19 フィルム支持体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (12)
一般式(2) (R)m1Si(X)m2
一般式(2)中、Xは−OH、ハロゲン原子、−OR30または−OCOR30を表す。RおよびR30はそれぞれ炭素数1〜10のアルキル基を表す。m1およびm2はそれぞれ整数を表し、m1+m2=4を満たす。 The low refractive index layer is formed from a composition containing a hydrolyzate of an organosilane compound (A) represented by the following general formula (2) and / or a partial condensate thereof: The antireflection film according to any one of 6.
General formula (2) (R) m1 Si (X) m2
In general formula (2), X represents —OH, a halogen atom, —OR 30 or —OCOR 30 . R and R 30 each represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. m1 and m2 each represent an integer and satisfy m1 + m2 = 4.
(B)一般式(2b):R31Si(X1)3(式中、R31は炭素数1〜10の有機基、X1は前記一般式(2)中のXと同一の内容を表す。)で表されるオルガノシラン。
(C)一般式(2c):(R31)2Si(X1)2(式中、R31、X1は前記(B)で定義されたと同一の内容を表す。)で表されるオルガノシラン。 The composition containing the hydrolyzate of the organosilane compound (A) and / or its partial condensate contains the hydrolyzate of the following organosilanes (B) and (C) and / or its partial condensate: The composition contains a hydrolyzate of organosilane (C) and / or a partial condensate thereof in an amount of 2 to 150% by weight based on that of organosilane (B), and at least one of organosilane (B) and (C) is contained. The antireflection film according to claim 7, wherein R 31 in the general formula has a fluorine atom.
(B) General formula (2b): R 31 Si (X 1 ) 3 (wherein R 31 is an organic group having 1 to 10 carbon atoms, and X 1 has the same contents as X in the general formula (2)). Organosilane represented by:
(C) Organo represented by general formula (2c): (R 31 ) 2 Si (X 1 ) 2 (wherein R 31 and X 1 represent the same contents as defined in (B) above). Silane.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Country Status (1)
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| JP (1) | JP2005148681A (en) |
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