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JP2005141874A - Magnetic disk unit - Google Patents

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JP2005141874A
JP2005141874A JP2003379744A JP2003379744A JP2005141874A JP 2005141874 A JP2005141874 A JP 2005141874A JP 2003379744 A JP2003379744 A JP 2003379744A JP 2003379744 A JP2003379744 A JP 2003379744A JP 2005141874 A JP2005141874 A JP 2005141874A
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JP
Japan
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read
magnetic disk
temperature
head
offset amount
Prior art date
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Pending
Application number
JP2003379744A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichi Kadokawa
浩一 角川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2003379744A priority Critical patent/JP2005141874A/en
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  • Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve performance of a whole device by setting optimum read-write offset quantity under use environment in accordance with variation of environment temperature at the time of use in a magnetic disk device using a head utilizing magneto-resistance effect. <P>SOLUTION: This device has a temperature detecting means 13 detecting temperature variation of the magnetic disk device, read-write offset quantity is measured by an offset measuring means in accordance with variation of detection temperature of the temperature detecting means 13, and read-write offset quantity between a read head used for compensation and the write-head is changed depending on the offset value. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は磁気抵抗効果を利用したヘッドを使用して磁気ディスクにデータを記録再生する磁気ディスク装置(国際特許分類 G11B 21/10)に関するものであり、その磁気抵抗効果型ヘッドの制御方法を改善することにより装置全体の性能を高めんとするものである。   The present invention relates to a magnetic disk device (international patent classification G11B 21/10) that records and reproduces data on a magnetic disk using a head using the magnetoresistive effect, and improves the control method of the magnetoresistive head. By doing so, the performance of the entire apparatus is improved.

近年、磁気ディスク装置(HDD:ハードディスクドライブ)の大半は、年々増加する記録密度の要求に伴いさまざまな要素技術が高められてきた。HDDの記録密度を決定する要素としては磁気ヘッド、記録媒体,記録再生チャンネル、位置決め機構などがある。今後更に記録密度の向上を現状トレンドに沿って持続していくためには、個々の要素技術を改善するだけではなくそれぞれの要素技術をシステムとして組み合わせ、トータルの効果として検討をすることが肝要と思われる。具体的には、超高密度化を達成するにはディスクの線記録密度方向(BPI)と半径方向(TPI)ともに記録密度を飛躍的に向上させる必要が生じてくる。   In recent years, various elemental technologies have been enhanced in most magnetic disk devices (HDD: hard disk drives) in response to the demand for recording density that increases year by year. Elements that determine the recording density of the HDD include a magnetic head, a recording medium, a recording / reproducing channel, and a positioning mechanism. In order to continue further improvements in recording density in line with current trends, it is important not only to improve individual elemental technologies, but also to combine each elemental technology as a system and study the total effect. Seem. Specifically, in order to achieve ultra-high density, it is necessary to dramatically improve the recording density in both the linear recording density direction (BPI) and the radial direction (TPI) of the disk.

磁気ヘッド技術に関して言えば、リードヘッドとライトヘッドが分離された状態で同じスライダーに実装された構造の形態が取られている。そしてリードヘッドとしてはGMR(巨大磁気抵抗)ヘッドを採用し、またライトヘッドとしては誘導型ヘッドを使用している。GMRヘッドを採用したことは、磁気記録信号の再生能力を高めることに成功し、また主としてディスクの線記録方向への高密度化に大きく寄与してきた。このGMRヘッドにより読み出されるデータを記録する磁気メディアについてはローノイズ化や高保磁力化等の技術が、そしてHDI(ヘッドディスクインターフェース)やメカサーボ系ではヘッドの低浮上量やヘッド位置決め技術が高められてきてディスク半径方向の記録密度向上に大きく貢献してきた。   Regarding the magnetic head technology, the read head and the write head are separated and mounted on the same slider. A GMR (giant magnetoresistive) head is used as the read head, and an inductive head is used as the write head. The adoption of the GMR head has succeeded in enhancing the reproduction capability of the magnetic recording signal, and has largely contributed to increasing the density in the linear recording direction of the disk. For magnetic media that records data read by this GMR head, technologies such as low noise and high coercive force have been improved, and in HDI (head disk interface) and mechanical servo systems, low head flying height and head positioning technology have been enhanced. It has greatly contributed to improving the recording density in the radial direction of the disc.

図11(A)はハードディスクドライブの磁気ヘッド浮上概念を示す斜視図であり、ヘッドを実装しているスライダー110は、ヘッドアクチュエータのサスペンション111によって磁気ディスク112の上を浮上した状態にて保持されている。このスライダー110の先端部には、同図(B)に示すように磁気ヘッド113が実装されている。磁気ヘッド113は同図(C)に示されるように、ライトヘッドのライトギャップ114とリードヘッドのリードギャップ115が分離された構造になっており、物理的に異なる位置に配置されている。   FIG. 11A is a perspective view showing a magnetic head floating concept of a hard disk drive. A slider 110 mounting the head is held in a state of floating above the magnetic disk 112 by a suspension 111 of a head actuator. Yes. A magnetic head 113 is mounted on the tip of the slider 110 as shown in FIG. As shown in FIG. 2C, the magnetic head 113 has a structure in which the write gap 114 of the write head and the read gap 115 of the read head are separated from each other, and are arranged at physically different positions.

ハードディスクドライブの構造としては、図12に磁気ディスク周辺の機構部の概略平面図を示すように、ヘッド構造物120はアクチェータ121の回動軸121aを支点にして回転運動をしながら磁気ディスク112上をアクセスする。なお図12において、aはアクチュエータ121の回動軸121aからの磁気ディスク中心の距離、Lはアクチュエーターの回動軸121aからのヘッドギャップまでの距離、rは磁気ディスク中心からのアクセスしているデータトラックまでの距離である。磁気ディスク112上のデータトラックの接線方向sと、ヘッド構造部120の中の、信号を記録するライトヘッドと、再生信号を感知し読み出すリードヘッド114がある部分により作られる、いわゆるヘッドギャップ122とアクチェータ121のセンターを結ぶ直線tとの間にはスキュー角123(θ)が生じる。スキュー角123はヘッド構造物120がアクセスするデータトラックによって、それぞれ固有の値を有する。そしてこの光学的オフセット量とスキュー角123等によって、光学的オフセット量が発生するのである。ヘッドギャップ122が磁気ディスク112の内周側に位置する場合と外周側に位置する場合では、同一のトラック位置に対してライトヘッドとリードヘッドは磁気ディスク112の半径方向に対し物理的に異なる位置関係となる。すなわち、ライトヘッドがトラックセンターとなる物理的位置とリードヘッドがトラックセンターになる物理的位置が異なる。このためリードライトの特性を高めるためには1つはスライダー内にリードヘッドとライトヘッドを精度良く取り付けることである。しかしながら実際のヘッドではリードヘッドとライトヘッドにてリードライトオフセット量が発生する。したがって、ヘッドが複数存在する機種についてはそれぞれのヘッドに対して最適なリードライトオフセット量を設定する。   As the structure of the hard disk drive, as shown in the schematic plan view of the mechanism around the magnetic disk in FIG. 12, the head structure 120 is mounted on the magnetic disk 112 while rotating around the rotating shaft 121a of the actuator 121 as a fulcrum. To access. In FIG. 12, a is the distance from the rotation axis 121a of the actuator 121 to the center of the magnetic disk, L is the distance from the rotation axis 121a of the actuator to the head gap, and r is the data accessed from the center of the magnetic disk. The distance to the track. A tangential direction s of the data track on the magnetic disk 112, a so-called head gap 122 formed by a portion of the head structure 120 having a write head for recording a signal and a read head 114 for sensing and reading a reproduction signal. A skew angle 123 (θ) occurs between the straight line t connecting the centers of the actuators 121. The skew angle 123 has a unique value depending on the data track accessed by the head structure 120. The optical offset amount is generated by the optical offset amount and the skew angle 123 or the like. When the head gap 122 is located on the inner circumference side and the outer circumference side of the magnetic disk 112, the write head and the read head are physically different positions with respect to the radial direction of the magnetic disk 112 with respect to the same track position. It becomes a relationship. That is, the physical position where the write head becomes the track center and the physical position where the read head becomes the track center are different. For this reason, in order to improve the characteristics of the read / write, one is to attach the read head and the write head in the slider with high accuracy. However, in an actual head, a read / write offset amount is generated between the read head and the write head. Therefore, for a model having a plurality of heads, an optimum read / write offset amount is set for each head.

そこで、現在提案されている、TPI方向に対するヘッド構造部120のリードライトオフセット量の補正を行う方法について、図13を参照しつつ、簡単に説明する。   Therefore, a method of correcting the read / write offset amount of the head structure unit 120 in the TPI direction that is currently proposed will be briefly described with reference to FIG.

まず、磁気ディスク112の各ゾーンにおける任意のポイントでのヘッド構造部120のリードライトオフセット量を実測する。次いで、その実測値をそのゾーン全体におけるヘッド構造部120のリードライトオフセット量として決定する。この値は、固定磁気記録装置を製造して出荷する際に、予め固定磁気記録装置に記憶させておき、実際に固定磁気記録装置を用いる時にこの値を利用する。この方法では、実際には、あるデータトラックに対するオフセット量は、そのデータトラックが含まれるゾーンで実測されたリードライトオフセット量が適用されている。また以上の方法に加え、更に、測定ポイント以外のデータトラックに関しては直線補完を行う方法に関する提案もある。   First, the read / write offset amount of the head structure 120 at an arbitrary point in each zone of the magnetic disk 112 is measured. Next, the actually measured value is determined as the read / write offset amount of the head structure 120 in the entire zone. This value is stored in advance in the fixed magnetic recording device when the fixed magnetic recording device is manufactured and shipped, and this value is used when the fixed magnetic recording device is actually used. In this method, the read / write offset amount actually measured in the zone including the data track is applied to the offset amount for a certain data track. In addition to the above methods, there is also a proposal regarding a method of performing linear interpolation for data tracks other than measurement points.

図13において実線で示したものが、上記方法で採用されたオフセット量であり、破線で示したものが直線補完をおこなったオフセット量である。尚、直線補完の方法について、ここでは説明を省略する。   In FIG. 13, the solid line indicates the offset amount employed by the above method, and the broken line indicates the offset amount subjected to the linear interpolation. Note that the description of the method of linear interpolation is omitted here.

従来のリードライトオフセット量自体を測定する方法としてはリードチャンネルを使いMSE(Mean Square Error)を分析して行う方法がある。(例えば特許文献1参照)
しかしながらデータ記憶装置の温度変化に対する対応については具体化されていなかった。また、温度を検知する手段としてはリードヘッド温度監視の手段として使う方法が提案されている。(例えば特許文献2参照)
特開11−353828号公報 特開2000−235701号公報
As a conventional method for measuring the read / write offset amount itself, there is a method of analyzing MSE (Mean Square Error) using a read channel. (For example, see Patent Document 1)
However, the response to the temperature change of the data storage device has not been realized. As a means for detecting the temperature, a method of using as a read head temperature monitoring means has been proposed. (For example, see Patent Document 2)
JP 11-353828 A JP 2000-235701 A

磁気ヘッドや磁気ディスクの周辺温度が変化すると磁気ディスクの保磁力が変化する。図14に磁気ディスク保磁力の温度依存性の例を示す。図14において、横軸が温度変化で縦軸が磁気ディスクの磁性層の保磁力(Hc)であり、温度が低いほど保磁力は大きくなることがわかり、逆に温度が高くなるにつれて保磁力は小さくなっていく傾向にある。この例では温度1度につき約20Oeの変化がある。一般的に、保磁力が大きくなることは磁気ディスクにデータを書き込みにくくなることであるから、磁気的なトラック幅は低温で小さくなり高温では大きくなる傾向にある。また磁気的なトラック幅の変化は線形的に変化するものではない。したがって磁気的なトラック幅だけでなくリードライトオフセット量に関しても温度で変化する。現状では工場出荷時にある1つの温度にて計測したリードライトオフセット量を、ユーザーが使用するときにたとえ温度が変化してもそのまま使用している。例として工場出荷時に60℃の温度でリードライトオフセット量を計測した場合は、ユーザーが5℃の環境下で使用したとしても60℃でのリードライトオフセット量の値を採用することになる。特にモバイル用途のハードディスク装置などでは従来のPC用途に使われるものに比べてユーザーが使用する温度範囲は拡大している。よって常にある1つの温度で設定された値を使うことは好ましくない。また年々記録密度が上昇しトラック幅が0.2um以下になってきている状況では、適切なリードライトオフセット量でないとデータ読出の際にエラーが生じる可能性が従来以上に高くなり、やはり好ましくない。即ち、従来の方法であれば、磁気ディスクドライブ装置の最適なパフォーマンスを引き出せずにいることになり問題であった。   When the ambient temperature of the magnetic head or the magnetic disk changes, the coercive force of the magnetic disk changes. FIG. 14 shows an example of the temperature dependence of the magnetic disk coercivity. In FIG. 14, the horizontal axis represents the temperature change and the vertical axis represents the coercivity (Hc) of the magnetic layer of the magnetic disk. It can be seen that the lower the temperature, the greater the coercivity. It tends to get smaller. In this example, there is a change of about 20 Oe per temperature. Generally, an increase in coercive force makes it difficult to write data on a magnetic disk, and therefore, the magnetic track width tends to decrease at a low temperature and increase at a high temperature. Further, the change in magnetic track width does not change linearly. Therefore, not only the magnetic track width but also the read / write offset amount changes with temperature. At present, the read / write offset amount measured at one temperature at the time of factory shipment is used as it is even if the temperature changes when the user uses it. For example, when the read / write offset amount is measured at a temperature of 60 ° C. at the time of shipment from the factory, the read / write offset value at 60 ° C. is adopted even if the user uses the device in an environment of 5 ° C. In particular, hard disk devices for mobile use have a wider temperature range for users than those used for conventional PC use. Therefore, it is not preferable to always use a value set at a certain temperature. Further, in a situation where the recording density increases year by year and the track width has become 0.2 μm or less, if the read / write offset amount is not appropriate, the possibility of an error in data reading becomes higher than before, which is also not preferable. . In other words, the conventional method has been a problem because the optimum performance of the magnetic disk drive device cannot be obtained.

そこで本発明はこのような問題点に鑑みて為されたものであり、その目的は、ヘッド構造部のオフセット量を常により最適なものとなるように調整可能とすることで、GMRヘッドからの再生効率を高められたり、またシーク時間を抑え、データ読出時のエラー発生率を低減させることを可能にせんとするものである。   Therefore, the present invention has been made in view of such problems, and the object of the present invention is to make it possible to adjust the offset amount of the head structure portion so as to be always more optimal, so that the GMR head can be adjusted. This makes it possible to increase the reproduction efficiency, reduce the seek time, and reduce the error occurrence rate at the time of data reading.

本発明の磁気ディスク装置は、磁気ディスク装置に、その磁気ディスク装置の温度変化を検知する温度検知手段を設け、その温度検知手段の検知温度にもとづいて、補正に使用されるリードヘッドとライトヘッド間のリードライトオフセット量を変更することを特徴とする磁気ディスク装置であり、それぞれのユーザーの使う環境下において最も良いエラーレートを引き出すことができ製品自体の信頼性を高めることができる。   The magnetic disk apparatus of the present invention is provided with temperature detecting means for detecting a temperature change of the magnetic disk apparatus, and a read head and a write head used for correction based on the detected temperature of the temperature detecting means. The read / write offset amount is changed, and the best error rate can be derived in the environment used by each user, and the reliability of the product itself can be improved.

以上のように本発明によると、本発明の磁気ディスク装置によれば、ヘッド構造部のオフセット量を常に最適なものとなるように調整可能とすることで、GMRヘッドからの再生効率を高められたり、またシーク時間を抑え、データ読出時のエラー発生率を低減させることが可能となる。   As described above, according to the present invention, according to the magnetic disk device of the present invention, it is possible to improve the reproduction efficiency from the GMR head by making the offset amount of the head structure portion always adjustable. In addition, the seek time can be suppressed and the error occurrence rate at the time of data reading can be reduced.

本発明の請求項1に記載の発明は、リードヘッドとライトヘッドが分離している磁気抵抗効果型ヘッドを使用し、前記ライトヘッドにより磁気ディスクにデータを記録し、前記リードヘッドにより前記磁気ディスクからのデータを読み取る磁気ディスク装置において、磁気ディスク装置の温度変化を検知する温度検知手段を有し、その温度検知手段の検知温度にもとづいて、補正に使用される前記リードヘッドと前記ライトヘッド間のリードライトオフセット量を変更することを特徴とする磁気ディスク装置であり、この構成により従来の装置に比べてユーザーが使用する温度が変化しても使用環境下での最適なリードライトオフセット量を設定することが可能となる。   According to the first aspect of the present invention, a magnetoresistive head in which a read head and a write head are separated is used, data is recorded on a magnetic disk by the write head, and the magnetic disk is recorded by the read head. In the magnetic disk device that reads data from the disk, the magnetic disk device has temperature detection means for detecting a temperature change of the magnetic disk device, and based on the detected temperature of the temperature detection means, between the read head and the write head used for correction This is a magnetic disk drive characterized by changing the read / write offset amount of the disk, and with this configuration, the optimum read / write offset amount in the operating environment can be obtained even if the temperature used by the user changes compared to conventional devices. It becomes possible to set.

本発明の請求項2に記載の発明は、前記検知温度にもとづいて変更されるリードライトオフセット量は、磁気ディスク装置内に予めデータとして検知温度に対応して格納保持されていることを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク装置であり、この構成により従来の装置に比べてユーザーが使用する温度が変化しても速やかに使用環境下での最適なリードライトオフセット量を設定することが可能となる。   The invention according to claim 2 of the present invention is characterized in that the read / write offset amount changed based on the detected temperature is stored and held in advance in the magnetic disk device as data corresponding to the detected temperature. The magnetic disk apparatus according to claim 1, wherein the configuration allows an optimum read / write offset amount to be quickly set in a use environment even if the temperature used by a user changes compared to a conventional apparatus. It becomes.

本発明の請求項3に記載の発明は、リードライトオフセット量を測定するオフセット量測定手段を有しており、前記温度検知手段から検知温度が予め定められた複数の温度領域内に成った際に、前記オフセット量測定手段によりリードライトオフセット量を測定し、その測定されたリードライトオフセット量を使用することを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク装置であり、比べてユーザーが使用する温度が変化しても速やかに使用環境下での最適なリードライトオフセット量を設定することが可能となる。   According to a third aspect of the present invention, there is provided an offset amount measuring means for measuring a read / write offset amount, and when the detected temperature is within a plurality of predetermined temperature ranges from the temperature detecting means. 2. The magnetic disk apparatus according to claim 1, wherein the read / write offset amount is measured by the offset amount measuring means, and the measured read / write offset amount is used. Even if the value changes, it becomes possible to set the optimum read / write offset amount in the use environment promptly.

本発明の請求項4に記載の発明は、前記オフセツト量測定手段により測定された各温度領域ごとのリードライトオフセツト量は、データとしてそれぞれ格納保持されており、次に前記温度検知手段がそれらの温度領域の温度を示す際には、前記格納保持されたリードライトオフセット量をそれぞれ使用することを特徴とする請求項3記載の磁気ディスク装置であり、オフセツト量測定手段により測定された各温度領域ごとのリードライトオフセツト量は、データとしてそれぞれ格納保持されているため、次に前記温度検知手段がそれらの温度領域の温度を示す際には、前記格納保持されたリードライトオフセット量をそれぞれ使用するのでより速やかに使用環境下での最適なリードライトオフセット量を設定することが可能となる。   According to a fourth aspect of the present invention, the read / write offset amount for each temperature region measured by the offset amount measuring means is stored and held as data, and then the temperature detecting means 4. The magnetic disk apparatus according to claim 3, wherein the stored and held read / write offset amounts are used respectively for indicating the temperature in the temperature range of each of the temperatures measured by the offset amount measuring means. Since the read / write offset amount for each region is stored and held as data, the next time the temperature detection means indicates the temperature of those temperature regions, the read / write offset amount stored and held is respectively set. Since it is used, it is possible to set the optimum read / write offset amount in the use environment more quickly.

本発明の請求項5に記載の発明は、前記温度検知手段が、前記リードヘッドであることを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク装置であり、温度検知手段として新たに検知素子を配置する必要なく、リアルタイムで温度の検出が可能ないものである。   The invention according to claim 5 of the present invention is the magnetic disk apparatus according to claim 1, wherein the temperature detecting means is the read head, and a detecting element is newly arranged as the temperature detecting means. It is not necessary and cannot detect temperature in real time.

本発明の請求項6に記載の発明は、前記オフセツト量測定手段のリードライトオフセット量の測定は、磁気ディスク装置のアイドル時に実行されることを特徴とする請求項3記載の磁気ディスク装置であり、オフセツト量測定動作によって、ユーザーが使用するときに影響を与えないようにリードライトオフセット量の測定が可能なものである。   According to a sixth aspect of the present invention, in the magnetic disk apparatus according to the third aspect, the measurement of the read / write offset amount of the offset amount measuring means is executed when the magnetic disk apparatus is idle. The read / write offset amount can be measured by the offset amount measuring operation so as not to affect when the user uses it.

本発明の請求項7に記載の発明は、磁気ディスクに対する磁気ヘッドの相対的な位置を元に計算した幾何学的なリードライトオフセット量を計算する手段を有し、その計算した幾何学的なリードライトオフセット量を使用して、前記オフセット量測定手段によりリードライトオフセット量の測定を実行することを特徴とする請求項3記載の磁気ディスク装置であり、実効的なリードライトオフセット量を測る前に、予めその値がどの辺りに存在するかを推測することができ、より速やかな測定が可能となる。   According to a seventh aspect of the present invention, there is provided means for calculating a geometric read / write offset amount calculated based on the relative position of the magnetic head with respect to the magnetic disk. 4. The magnetic disk apparatus according to claim 3, wherein the read / write offset amount is measured by the offset amount measuring means using the read / write offset amount, before measuring the effective read / write offset amount. In addition, it is possible to estimate in advance where the value exists, so that quicker measurement is possible.

以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明をする。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(実施の形態1)
図1は、本発明における実施の形態1の磁気ディスク装置の構成を示すブロック図であり、10は磁気ディスク、11は磁気ヘッド、12は増幅器、13は温度検知手段、14はAD変換器、15は温度算出手段、17は最適化判定手段、18はオフセット測定手段、16はデータ格納手段である。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the magnetic disk device according to the first embodiment of the present invention. 10 is a magnetic disk, 11 is a magnetic head, 12 is an amplifier, 13 is a temperature detecting means, 14 is an AD converter, Reference numeral 15 denotes temperature calculation means, 17 denotes optimization determination means, 18 denotes offset measurement means, and 16 denotes data storage means.

磁気ディスク10はユーザーの情報やサーボ情報などの磁気信号を記録している。磁気ヘッド11はリードヘッド及びライトヘッドを含み磁気ディスク10とのデータの読み書きを行う。増幅器12は磁気ヘッド11の信号を増幅する。温度検知手段13は磁気ディスク10の近傍に配置されており温度を検知する。温度が変わると温度検知手段から出力されるアナログの値が変わる。この温度検知手段13として、具体的には磁気ヘッド11にあるリードヘッドを用いても或いは温度センサーを配備しても差し支えない。   The magnetic disk 10 records magnetic signals such as user information and servo information. The magnetic head 11 includes a read head and a write head, and reads / writes data from / to the magnetic disk 10. The amplifier 12 amplifies the signal from the magnetic head 11. The temperature detecting means 13 is disposed in the vicinity of the magnetic disk 10 and detects the temperature. When the temperature changes, the analog value output from the temperature detection means changes. As the temperature detection means 13, specifically, a read head in the magnetic head 11 or a temperature sensor may be provided.

図2に温度検知手段13として例えばリードヘッドを用いたとき、リードヘッドの温度に対する抵抗値のアナログ値の変化の様子を示す。温度が変化するとこれに応じて、ヘッドの抵抗値がアナログ的に変化する。なお温度の監視は例えばヘッドがリードライトしていないサーボやデータ領域以外の磁気ディスク10上の場所を通過しているとき、あるいは複数のヘッドが存在する装置では使用していないヘッドで行うことによってリアルタイムに行うことができる。AD変換手段14ではリードヘッドの温度変化に伴う抵抗値の値をデジタル値に変換する。温度算出手段15ではAD変換手段から送られてきているリードヘッド抵抗値のデジタル値を分析し現状の温度を算出する。図2に示されるような抵抗値の温度依存性の相関を全ての磁気ヘッドについて予め工場出荷時に把握しておけば抵抗値を基に温度を算出することができる。また温度検知手段13として温度センサーを採用した場合でも同様に温度を把握できる。   FIG. 2 shows a change in the analog value of the resistance value with respect to the temperature of the read head when, for example, a read head is used as the temperature detecting means 13. When the temperature changes, the resistance value of the head changes in an analog manner accordingly. The temperature is monitored when, for example, the head passes through a location on the magnetic disk 10 other than the servo or data area where the head is not read / written, or by a head that is not used in an apparatus having a plurality of heads. Can be done in real time. The AD conversion means 14 converts the resistance value accompanying the temperature change of the read head into a digital value. The temperature calculation means 15 analyzes the digital value of the read head resistance value sent from the AD conversion means and calculates the current temperature. If the correlation of the temperature dependence of the resistance value as shown in FIG. 2 is grasped in advance for all magnetic heads at the time of shipment from the factory, the temperature can be calculated based on the resistance value. Further, even when a temperature sensor is employed as the temperature detecting means 13, the temperature can be grasped similarly.

データ格納手段16では工場出荷時に作成された図2に示されるような抵抗値を温度に換算するテーブルや、図3のような工場出荷時に測定された各ヘッドの各半径ごとにある固有のリードライトオフセット量のテーブルをそれぞれ格納している。最適化判定手段17では温度算出手段15にて算出された温度が現在設定されているリードライトオフセット量に対して妥当かどうかを判断する。例えば工場出荷時にリードライトオフセット量を測定した温度が25度であるとする。最適なリードライトオフセット量を再測定するかどうかの判断は下記対応表に基づく。このテーブルもデータ格納手段16に収められる。   In the data storage means 16, a table for converting the resistance value created at the time of factory shipment into a temperature as shown in FIG. 2 or a unique read for each radius of each head measured at the time of factory shipment as shown in FIG. Each table of write offset amount is stored. The optimization determination means 17 determines whether the temperature calculated by the temperature calculation means 15 is appropriate for the currently set read / write offset amount. For example, assume that the temperature at which the read / write offset amount is measured at the time of factory shipment is 25 degrees. Judgment whether or not to re-measure the optimum read / write offset amount is based on the following correspondence table. This table is also stored in the data storage means 16.

温度算出手段による検知温度 リードライトオフセット量再測定の要否
0℃〜10℃ 再測定
10℃〜20℃ 再測定
20℃〜30℃ 工場出荷時の値を使用
30℃〜40℃ 再測定
40℃〜50℃ 再測定
50℃〜60℃ 再測定
この例では温度の範囲を10℃で設定しているが開発段階での製品設計の仕様やリードヘッドの特性により機種や個々の磁気ヘッドによって可変にすることは差し支えない。温度算出手段15での検知温度が35度の場合では上記の対応表により再測定必要と判定される。オフセット測定手段18では、最適化判定手段17にて再測定が必要であると判断された場合にリードライトオフセット量を測定する。たとえばユーザーがデータを書き込んだり、読み出していないアイドル時に行えば使用に際して差し障りがない。
Detection temperature by temperature calculation means Read / write offset amount need to be remeasured 0 ° C to 10 ° C Remeasurement 10 ° C to 20 ° C Remeasurement 20 ° C to 30 ° C Use factory default value 30 ° C to 40 ° C Remeasurement 40 ° C ~ 50 ℃ Re-measurement 50 ~ 60 ℃ Re-measurement In this example, the temperature range is set at 10 ℃, but it can be changed depending on the model and individual magnetic head depending on the product design specifications and read head characteristics at the development stage. You can do it. When the temperature detected by the temperature calculating means 15 is 35 degrees, it is determined that remeasurement is necessary according to the correspondence table. The offset measuring unit 18 measures the read / write offset amount when the optimization determining unit 17 determines that remeasurement is necessary. For example, if the user writes data or idles when data is not read, there is no problem in use.

図3にリードライトオフセット量の測定アルゴリズムの例を示す。まずVCM(ボイスコイルモータ)を駆動して、磁気ヘッドを測定する位置に大まかにシークする(ステップS02)。そして測定のする領域周辺の場所をDCイレーズし、すでに書き込まれている信号が今回の計測に影響を及ぼさないように初期化する(ステップS03)。通常書込みヘッドのメカニカルなトラック幅の5倍程度の領域をイレーズすれば十分である。例えばヘッドのトラック幅が0.3μmであるならば0.3×5=1.5μmDCイレーズすればよい。次に測定する場所に微細にシーク(マイクロシーク)する(ステップS04)。その次に測定データを現在オントラックしてある位置で書き込む(ステップS05)。   FIG. 3 shows an example of a read / write offset measurement algorithm. First, a VCM (voice coil motor) is driven to seek roughly to the position where the magnetic head is measured (step S02). Then, the area around the area to be measured is DC erased and initialized so that the already written signal does not affect the current measurement (step S03). It is sufficient to erase an area about five times the mechanical track width of the normal write head. For example, if the head track width is 0.3 μm, 0.3 × 5 = 1.5 μm DC erase may be performed. Next, a minute seek (micro seek) is performed at a place to be measured (step S04). Then, the measurement data is written at the position where the current on-track is performed (step S05).

通常は実際にその半径位置で使用するデータ周波数の中で低い周波数(LF)を使って書き込む。同じ半径に於いても記録したいデータによってあるときは例えば10000001のように0が1と1の間に6つあるときがあり、また10001のように3つある場合が生じる。試験の周波数としては1と1の間の間隔が広い(1の間に0が多い)LFを採用するということである。またこの書き込む範囲は必ずしもトラック全周である必要はない。例えばインデックスからLFの20周期分を測定するように設定する。そして今書き込んだ位置をセンター基準として内周にマイクロシークする(ステップS06)。この値はメカニカルなトラック幅が例えば0.5μmであるならば1.0μm内周側にマイクロシークするというように行う。なお今回はまず内周側にシークするように説明してあるが外周側からシークしても構わない。続いてそのマイクロシークした場所で予めセンター位置でLFで書き込んである試験信号のTAA(Track Average Amplitude)を測定する(ステップS07)。このデータをバッファ等のメモリーに格納しておく。次に外周側にマイクロステップする(ステップS08)。   Normally, writing is performed using a lower frequency (LF) among data frequencies actually used at the radial position. There are cases where there are six 0's between 1 and 1, such as 10000001, and there are three cases such as 10001, depending on the data to be recorded even at the same radius. As the frequency of the test, LF having a wide interval between 1 and 1 (a lot of 0 between 1) is adopted. Further, this writing range does not necessarily have to be the entire track circumference. For example, it is set to measure 20 periods of LF from the index. Then, a micro seek is performed on the inner circumference with the position thus written as a center reference (step S06). This value is determined such that if the mechanical track width is 0.5 μm, for example, the micro seek is performed on the inner periphery side of 1.0 μm. In this example, the seek is first performed on the inner circumference side, but the seek may be performed from the outer circumference side. Subsequently, the TAA (Track Average Amplitude) of the test signal written in advance by LF at the center position at the micro seek position is measured (step S07). This data is stored in a memory such as a buffer. Next, microstep is performed on the outer peripheral side (step S08).

このマイクロステップ量は実効トラック幅を測定する時の分解能であるので小さければ小さいほど測定精度は上がる。しかしながら小さくするほど逆に測定に時間を要するので適当な値を設定する必要がある。例えばメカニカルなトラック幅が0.5μmであるならばマイクロステップは0.05μm程度にすれば十分である。最初に設定したマイクロシークが限界に達したかどうかを判定する(ステップS09)。   Since the microstep amount is a resolution when measuring the effective track width, the smaller the microstep amount, the higher the measurement accuracy. However, the smaller the value is, the more time is required for measurement, so it is necessary to set an appropriate value. For example, if the mechanical track width is 0.5 μm, it is sufficient that the microstep is about 0.05 μm. It is determined whether or not the initially set micro seek has reached the limit (step S09).

そして、マイクロシークが限界に達していなければ再びステップS07とステップS08を繰り返す。このデータをまたバッファ等のメモリーに格納しておく。そしてマイクロシークの限界に達したらステップS10でリードライトオフセット量を計算する。リードライトオフセット量とはデータを書き込んだ位置を原点としたときの、TAAの値が最も大きいときのマイクロシーク量である。これで一連のリードライトオフセット量測定の動作を終える。   If the micro seek has not reached the limit, steps S07 and S08 are repeated again. This data is also stored in a memory such as a buffer. When the micro seek limit is reached, the read / write offset amount is calculated in step S10. The read / write offset amount is the micro seek amount when the TAA value is the largest when the position where data is written is the origin. This completes the series of read / write offset measurement operations.

図4にある温度でのTAAの測定結果例を示す。3つグラフがあるがディスクのID(内周)、MD1(中周)、OD(外周)での結果である。グラフの横軸がマイクロステップ量で縦軸がそれぞれの位置において測定したTAAの値である。なお個々のヘッドではTPI方向の位置を変えた時のTAAの特性が異なっている。無論それぞれの磁気ヘッドでリードライトオフセット量は異なる。   FIG. 4 shows an example of TAA measurement results at a certain temperature. Although there are three graphs, the results are for the disc ID (inner circumference), MD1 (middle circumference), and OD (outer circumference). The horizontal axis of the graph is the microstep amount, and the vertical axis is the TAA value measured at each position. The individual heads have different TAA characteristics when the position in the TPI direction is changed. Of course, the read / write offset amount differs for each magnetic head.

磁気ディスク上の同じ場所でもたとえば、温度が5℃、25℃、45℃になっているときでのリードライトオフセット量は図5のようになる。図1で、温度算出手段15にて示された温度により、最適化判定手段17が再測定必要と判断した場合は磁気ディスク上のあるポイント(たとえばID)でリードライトオフセット量を再計測し、その結果をオフセットテーブルに更新する。MD、ODに関してはIDでの温度に対するリードライトオフセット量の変化を分析することによってオフセット量の温度依存性を実測することなく推測することにもできる。これによりアイドル状態にオフセット量を再計測する時間を短縮できる。そして規定以上の温度変化が検出され、再び最適化判定手段17が再測定必要と判断するまでこの値を使用する。このような方法を用いることによって最適なリードライトオフセット量を、現在使用している温度環境に沿ってリアルタイムに設定することができる。   For example, the read / write offset amount when the temperature is 5 ° C., 25 ° C., and 45 ° C. at the same location on the magnetic disk is as shown in FIG. In FIG. 1, when the optimization determination unit 17 determines that remeasurement is necessary based on the temperature indicated by the temperature calculation unit 15, the read / write offset amount is remeasured at a certain point (for example, ID) on the magnetic disk. The result is updated in the offset table. Regarding MD and OD, it is also possible to estimate the temperature dependence of the offset amount without actually measuring it by analyzing the change in the read / write offset amount with respect to the temperature at the ID. Thereby, the time for re-measurement of the offset amount in the idle state can be shortened. Then, this value is used until a temperature change exceeding a specified value is detected and the optimization determination means 17 determines again that remeasurement is necessary. By using such a method, the optimum read / write offset amount can be set in real time according to the temperature environment currently used.

(実施の形態2)
本発明における実施の形態2の磁気ディスク装置は、予めリードヘッドと前記ライトヘッド間のリードライトオフセット量を複数の温度にて測定しておき、その複数の温度にてリードライトオフセット量を測定したときのデータを格納し、その複数の温度にて測定した時に対応するリードライトオフセット量を参照し温度に対するリードライトオフセット量の相関テーブルを生成する相関テーブル生成する機能を有している。図6はその流れを示すフローである。
(Embodiment 2)
In the magnetic disk device according to the second embodiment of the present invention, the read / write offset amount between the read head and the write head is measured in advance at a plurality of temperatures, and the read / write offset amount is measured at the plurality of temperatures. Data is stored, and a correlation table is generated to generate a correlation table of the read / write offset amount with respect to the temperature by referring to the corresponding read / write offset amounts when measured at a plurality of temperatures. FIG. 6 is a flowchart showing the flow.

図6において、まず磁気ヘッド、磁気ディスク周辺の温度に関連する情報を検知する(ステップS13)。たとえば検知する手段としてヘッドを採用した場合はリードヘッドの抵抗値のアナログデータを使う。次にステップ13で得たアナログの温度に関連する情報をデジタルデータに変換する(ステップS14)。それからデジタル化された情報を元に現状の温度を算出する(ステップS15)。たとえば図2のようなヘッド抵抗値と温度の相関関係をもとに現状の温度を計算する。そして現状の温度環境下にて図4に示されるようなトラックプロファイルを作成しリードライトオフセット量を磁気ディスク上の数ポイントにて作成する(ステップS16)。ステップ16で各ヘッドごとに磁気ディスク上の数ポイントにて測定したリードライトオフセット量を格納する。このとき測定した温度条件のデータも同時に記録しておく。格納するデータ例としては以下のような表になる。

リードライトオフセット(um) 温度(℃)
磁気ディスク半径 ヘッド1 ヘッド2
ID 0.167 0.129 25
MD1 −0.353 −0.393 25
MD2 −0.693 −0.733 25
OD −0.972 −1.013 25
次に、磁気ディスク装置周辺の温度を恒温槽(チャンバー)などを使い温度を変更する。温度をたとえば45℃に変更しステップS18にて設定の確認をする。再びステップS13に戻り温度を磁気ディスク装置自身で確認し同様なステップを行う。45℃においても上記各ヘッドに対応するオフセット対応表を作成し格納する。このようにして、図5のように各温度でのリードライトオフセット量が求まるからオフセット相関テーブルが作成できる(ステップS19)。図7にステップS19にて作成した磁気ディスクIDでのオフセット相関テーブルの例を示す。このテーブルによって、個々のヘッドに関して現状の温度でのリードライトオフセット量が求められる。このようなデータを同様に磁気ディスクMDやODなどのポイントで記録しておく。
In FIG. 6, first, information related to the temperature around the magnetic head and the magnetic disk is detected (step S13). For example, when a head is used as the detecting means, analog data of the resistance value of the read head is used. Next, the information related to the analog temperature obtained in step 13 is converted into digital data (step S14). Then, the current temperature is calculated based on the digitized information (step S15). For example, the current temperature is calculated based on the correlation between the head resistance value and the temperature as shown in FIG. Then, a track profile as shown in FIG. 4 is created under the current temperature environment, and a read / write offset amount is created at several points on the magnetic disk (step S16). In step 16, the read / write offset amount measured at several points on the magnetic disk is stored for each head. The temperature condition data measured at this time is also recorded at the same time. The following table is an example of data to be stored.

Read / write offset (um) Temperature (℃)
Magnetic disk radius Head 1 Head 2
ID 0.167 0.129 25
MD1 -0.353 -0.393 25
MD2 -0.693 -0.733 25
OD -0.972 -1.013 25
Next, the temperature around the magnetic disk device is changed using a thermostatic chamber (chamber) or the like. The temperature is changed to 45 ° C., for example, and the setting is confirmed in step S18. Returning to step S13 again, the temperature is confirmed by the magnetic disk device itself, and the same steps are performed. An offset correspondence table corresponding to each head is created and stored even at 45 ° C. Thus, since the read / write offset amount at each temperature is obtained as shown in FIG. 5, an offset correlation table can be created (step S19). FIG. 7 shows an example of the offset correlation table with the magnetic disk ID created in step S19. From this table, the read / write offset amount at the current temperature is obtained for each head. Such data is similarly recorded at points such as the magnetic disk MD and OD.

以上一連のステップを工場出荷時において実施しておけばデータ記憶装置自身がリードライトオフセット量の温度依存性をユーザーの手元に行く前に持っていることができる。すなわち以後ユーザーの手に渡ったあと温度が変わったときのオフセット量を再測定する必要がなくなる。   If the above-described series of steps are performed at the time of shipment from the factory, the data storage device itself can have the temperature dependence of the read / write offset amount before going to the user. That is, it is no longer necessary to re-measure the offset when the temperature changes after reaching the user's hand.

(実施の形態3)
本発明における実施の形態3の磁気ディスク装置は、温度に対応する前記相関テーブルを使用することにより、前記磁気ディスク装置の測定された温度が1つの動作温度範囲から他の動作温度範囲に変化する毎に、前記相関テーブルの異なった1つをロードするステップと、前記更新されたテーブルを使用することにより次回のリードを行うステップを有するデータ記憶方法であり、図8にその流れのフローを示す。
(Embodiment 3)
In the magnetic disk device according to the third embodiment of the present invention, the measured temperature of the magnetic disk device changes from one operating temperature range to another operating temperature range by using the correlation table corresponding to the temperature. FIG. 8 is a data storage method having a step of loading a different one of the correlation tables every time and a step of performing a next read by using the updated table. .

工場出荷時の時点では、たとえば25℃でのリードライトオフセット量を設定して出荷される(ステップS22)。その後ユーザーが使用しているとき、すなわちデータ記憶装置の電源がオンされているときに常に実施例1のように温度を監視する(ステップS23)。現状の温度をステップ23にて把握した後、実施例2で示した方法にて予め工場出荷時に作成しておいたオフセット相関テーブルを参照する(ステップS24)。そして現在の温度での最適なオフセット量を相関テーブルから調べ、その値を実際のデータ記憶装置のデータの読み出しに使うように設定する(ステップS25)。S21からS26の動作をリアルタイムに行うことによって常に現在の温度での最適なリードライトオフセット量を各々の磁気ヘッドで設定することができる。   At the time of factory shipment, for example, a read / write offset amount at 25 ° C. is set and shipped (step S22). Thereafter, when the user is using it, that is, when the data storage device is powered on, the temperature is always monitored as in the first embodiment (step S23). After grasping the current temperature in step 23, the offset correlation table created at the time of factory shipment by the method shown in the embodiment 2 is referred to (step S24). Then, the optimum offset amount at the current temperature is checked from the correlation table, and the value is set to be used for reading data in the actual data storage device (step S25). By performing the operations from S21 to S26 in real time, the optimum read / write offset amount at the current temperature can always be set in each magnetic head.

(実施の形態4)
本発明における実施の形態4の磁気ディスク装置は、磁気ディスクに対する磁気ヘッドの相対的な位置を元に計算した幾何学的なリードライトオフセット量を計算するステップを、リードライトオフセット量を測定する前に実行することを特徴とするものであり、図9にその流れのフローを示す。
(Embodiment 4)
In the magnetic disk apparatus according to the fourth embodiment of the present invention, the step of calculating the geometric read / write offset amount calculated based on the relative position of the magnetic head with respect to the magnetic disk is performed before the read / write offset amount is measured. FIG. 9 shows the flow of the flow.

まずディスクの幾何学的なオフセット量を計算する(ステップS22)。図12におけるスキュー角θは、磁気ディスク中心からのアクセスしているデータトラックまでの距離r、アクチュエーターからのヘッドギャップまでの距離L、アクチュエーターからの磁気ディスク中心の距離aが解れば計算することが可能である。すなわち下記計算式
θ=π/2−acos{(L2+r2−a2)/(2xLxr)}
により算術的に求められる。スキュー角θが求まると、図11のヘッドの寸法仕様をもとに幾何学的に求められたリードライトオフセット量が計算できる。すなわち下記計算式である。
First, the geometric offset amount of the disk is calculated (step S22). The skew angle θ in FIG. 12 can be calculated if the distance r from the magnetic disk center to the accessed data track, the distance L from the actuator to the head gap, and the distance a from the actuator to the magnetic disk center are known. Is possible. That is, the following calculation formula θ = π / 2-acos {(L2 + r2-a2) / (2 × Lxr)}
Is calculated arithmetically. When the skew angle θ is obtained, the read / write offset amount obtained geometrically based on the dimensional specifications of the head shown in FIG. 11 can be calculated. That is, the following calculation formula.

(R―W distance)xsinθ
このようにして、計算された理論的なオフセット量でまずシークする(ステップS23)。その後TAA1を計測する(ステップS24)。TAA1を測定した後、TAA1を測定した位置に対して外周側にシークする(ステップS25)。シークする量はトラックピッチの20%程度が望ましい。この位置でTAA2を測定する(ステップS26)。次にTAA2を測定した後、TAA1を測定した位置に対して内周側にシークする(ステップS27)。内周側もやはりシークする量はトラックピッチの20%程度を目安とする。この位置でTAA3を測定する(ステップS28)。TAA1、TAA2、TAA3が求められたら次に3つの値の大小を比較する。case2はピークより外周側にある。case3はピークの近傍にある。まずcase1としてTAA1<TAA2、TAA1>TAA3に該当するかどうか判定する(ステップS29)。該当すればピークより内周側にあるということなので外周側にシークし再びステップS24へ移行する。ステップS29で該当しなければ、次にcase2としてTAA1>TAA2、TAA1<TAA3に該当するかどうか判定する(ステップS30)。該当すればピークより外周側にあるということなので内周側にシークし再びステップS24へ移行する。ステップS30で該当しなければ、次にcase3としてTAA1>TAA2、TAA1>TAA3に該当するかどうか判定する(ステップS31)。該当すればピーク近傍にあるということなので処理を終了する(ステップS32)。図10にcase1、case2、case3の3つの場合のトラックプロファイルの中の位置関係を模式的に示す。case1はリードライトオフトラック量を示すピークより内周側にある。このように実際にトラックプロファイルを測定する計算から求めたリードライトオフトラック量を求め、ピークの近傍の位置に目星をつけることで計測時間の効率化を図れ、ピーク周辺を重点的に調べられる。
(R-W distance) xsinθ
In this way, seek is first performed with the calculated theoretical offset amount (step S23). Thereafter, TAA1 is measured (step S24). After measuring TAA1, seek to the outer peripheral side with respect to the position where TAA1 is measured (step S25). The seek amount is preferably about 20% of the track pitch. TAA2 is measured at this position (step S26). Next, after measuring TAA2, seek to the inner circumference side with respect to the position where TAA1 is measured (step S27). The amount of seek on the inner peripheral side is also about 20% of the track pitch. TAA3 is measured at this position (step S28). When TAA1, TAA2, and TAA3 are obtained, the three values are compared. Case2 is on the outer peripheral side from the peak. Case3 is in the vicinity of the peak. First, it is determined whether or not the case 1 corresponds to TAA1 <TAA2, TAA1> TAA3 (step S29). If applicable, it means that it is on the inner peripheral side from the peak, so seek to the outer peripheral side and go to step S24 again. If it does not correspond in step S29, then it is determined whether case 2 corresponds to TAA1> TAA2 and TAA1 <TAA3 (step S30). If applicable, it means that it is on the outer peripheral side from the peak, so seek to the inner peripheral side and proceed to step S24 again. If it does not correspond in step S30, then it is determined as case 3 whether TAA1> TAA2 and TAA1> TAA3 are satisfied (step S31). If it corresponds, it is in the vicinity of the peak, so the process is terminated (step S32). FIG. 10 schematically shows the positional relationship in the track profile in the three cases of case1, case2, and case3. Case 1 is on the inner peripheral side from the peak indicating the read / write off-track amount. In this way, the read / write off-track amount obtained from the actual measurement of the track profile is obtained, and an eye is placed near the peak to improve the measurement time, and the periphery of the peak can be focused on. .

本発明の実施の形態1の磁気ディスク装置の構成を示すブロック図1 is a block diagram showing a configuration of a magnetic disk device according to a first embodiment of the present invention. 同磁気ディスク装置のリードヘッドの抵抗値の温度依存性を示す図The temperature dependence of the resistance value of the read head of the magnetic disk device 同磁気ディスク装置のトラックプロファイル作成の処理の流れを示すフローチャートA flowchart showing a flow of processing for creating a track profile of the magnetic disk device 同磁気ディスク装置のオフトラック量を示す図The figure which shows the off track quantity of the same magnetic disk unit 同磁気ディスク装置のトラックプロファイルの温度依存性を示す図Diagram showing the temperature dependence of the track profile of the magnetic disk device 本発明の実施の形態2の磁気ディスク装置の処理の流れのフローチャートFlowchart of the process flow of the magnetic disk device according to the second embodiment of the present invention. 同磁気ディスク装置のオフトラック量の温度依存性を示す図The temperature dependence of the off-track amount of the magnetic disk device 本発明の実施の形態3の磁気ディスク装置の処理の流れのフローチャートFlowchart of processing flow of the magnetic disk device according to the third embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態4の磁気ディスク装置の処理の流れのフローチャートFlowchart of the process flow of the magnetic disk device according to the fourth embodiment of the present invention. 同磁気ディスク装置のトラックプロファイルピークを検出過程を示す図The figure which shows the detection process of the track profile peak of the magnetic disk device 一般的な磁気ディスク装置ヘッド浮上概念を示す斜視図及び一部拡大平面図A perspective view and a partially enlarged plan view showing a general magnetic disk device head flying concept 一般的な磁気ディスク装置の平面図Top view of a typical magnetic disk unit 一般的な磁気ディスク装置におけるオフセット量を示す図The figure which shows the amount of offset in a general magnetic disk unit 磁気ディスクの保磁力の温度依存性を示す図Diagram showing temperature dependence of coercivity of magnetic disk

符号の説明Explanation of symbols

10 磁気ディスク
11 磁気ヘッド
12 増幅器
13 温度検知手段
14 AD変換手段
15 温度算出手段
16 データ格納手段
17 最適化判定手段
18 オフセット測定手段
110 スライダー
111 サスペンション
112 磁気ディスク
113 磁気ヘッド
114 ライトギャップ
115 リードギャップ
120 ヘッド構造物
121 アクチュエータ
122 ヘッドギャップ
123 スキュー角

DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Magnetic disk 11 Magnetic head 12 Amplifier 13 Temperature detection means 14 AD conversion means 15 Temperature calculation means 16 Data storage means 17 Optimization determination means 18 Offset measurement means 110 Slider 111 Suspension 112 Magnetic disk 113 Magnetic head 114 Write gap 115 Read gap 120 Head structure 121 Actuator 122 Head gap 123 Skew angle

Claims (7)

リードヘッドとライトヘッドが分離している磁気抵抗効果型ヘッドを使用し、前記ライトヘッドにより磁気ディスクにデータを記録し、前記リードヘッドにより前記磁気ディスクからのデータを読み取る磁気ディスク装置において、磁気ディスク装置の温度変化を検知する温度検知手段を有し、その温度検知手段の検知温度にもとづいて、補正に使用される前記リードヘッドと前記ライトヘッド間のリードライトオフセット量を変更することを特徴とする磁気ディスク装置。 In a magnetic disk device, which uses a magnetoresistive head in which a read head and a write head are separated, records data on the magnetic disk by the write head, and reads data from the magnetic disk by the read head, the magnetic disk It has a temperature detection means for detecting a temperature change of the apparatus, and the read / write offset amount between the read head and the write head used for correction is changed based on the detected temperature of the temperature detection means, Magnetic disk unit to be used. 前記検知温度にもとづいて変更されるリードライトオフセツト量は、磁気ディスク装置内に予めデータとして検知温度に対応して格納保持されていることを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク装置。 2. The magnetic disk apparatus according to claim 1, wherein the read / write offset amount changed based on the detected temperature is stored and held in advance in the magnetic disk apparatus as data corresponding to the detected temperature. リードライトオフセツト量を測定するオフセツト量測定手段を有しており、前記温度検知手段から検知温度が予め定められた複数の温度領域内に成った際に、前記オフセツト量測定手段によりリードライトオフセット量を測定し、その測定されたリードライトオフセット量を使用することを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク装置。 An offset amount measuring means for measuring the read / write offset amount is provided, and when the detected temperature falls within a plurality of predetermined temperature ranges from the temperature detecting means, a read / write offset is set by the offset amount measuring means. 2. The magnetic disk apparatus according to claim 1, wherein the quantity is measured and the measured read / write offset quantity is used. 前記オフセツト量測定手段により測定された各温度領域ごとのリードライトオフセツト量は、データとしてそれぞれ格納保持されており、次に前記温度検知手段がそれらの温度領域の温度を示す際には、前記格納保持されたリードライトオフセット量をそれぞれ使用することを特徴とする請求項3記載の磁気ディスク装置。 The read / write offset amount for each temperature region measured by the offset amount measuring means is stored and held as data, and then when the temperature detecting means indicates the temperature of those temperature regions, 4. The magnetic disk apparatus according to claim 3, wherein the read / write offset amount stored and held is used. 前記温度検知手段が、前記リードヘッドであることを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク装置。 2. The magnetic disk apparatus according to claim 1, wherein the temperature detecting means is the read head. 前記オフセツト量測定手段のリードライトオフセット量の測定は、磁気ディスク装置のアイドル時に実行されることを特徴とする請求項3記載の磁気ディスク装置。 4. The magnetic disk device according to claim 3, wherein the measurement of the read / write offset amount by the offset amount measuring means is performed when the magnetic disk device is idle. 磁気ディスクに対する磁気ヘッドの相対的な位置を元に計算した幾何学的なリードライトオフセット量を計算する手段を有し、その計算した幾何学的なリードライトオフセット量を使用して、前記オフセット量測定手段によりリードライトオフセット量の測定を実行することを特徴とする請求項3記載の磁気ディスク装置。 Means for calculating a geometric read / write offset amount calculated based on the relative position of the magnetic head to the magnetic disk, and using the calculated geometric read / write offset amount, the offset amount 4. The magnetic disk apparatus according to claim 3, wherein the read / write offset is measured by the measuring means.
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