JP2005010039A - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005010039A JP2005010039A JP2003175111A JP2003175111A JP2005010039A JP 2005010039 A JP2005010039 A JP 2005010039A JP 2003175111 A JP2003175111 A JP 2003175111A JP 2003175111 A JP2003175111 A JP 2003175111A JP 2005010039 A JP2005010039 A JP 2005010039A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peripheral surface
- outer peripheral
- workpiece
- end portion
- axial
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【解決手段】搬送方向の軸心まわりに回転しながら搬送される円柱状の検査対象物Wの外観検査装置1であって、回転している検査対象物Wの外周面を撮像して、当該検査対象物Wの展開外周面20の画像を得る撮像部2と、前記撮像部2によって得た画像中の展開外周面20を、所定の基準位置を基準とした一定の範囲を走査して外観検査処理を行う処理部4と、を備え、前記処理部4は、前記展開外周面20の軸心方向端部25aの局所変動が緩和された軸心方向端部の近似線f(yn)を前記基準位置として設定可能とされている。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、外観検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
外観検査装置としては、円柱状の検査対象物を所定の位置で回転させながら外周面をカメラで撮像し、撮像した画像を処理して検査対象物の傷を検査するものがあり、例えば、特許文献1に記載されている。
【0003】
【特許文献1】
特開2001−335150号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
検査対象物を所定の位置において検査する場合、多くの検査対象物を検査する場合、検査に時間がかかる。そこで、本出願人らは、検査対象物を回転させながら搬送して検査時間の短縮を図ることを先の出願(特願2002−51778号)で提案している。
【0005】
回転しながら搬送されている検査対象物の外周面を撮像すると、その画像中の検査対象物の外周面は、展開状の像となり、しかも軸心方向両端部が傾きを持つ。このような画像から検査対象である展開外周面の範囲を決定するには、展開外周面の軸心方向両端部の一方の端部を基準とし、この軸心方向端部から所定の軸心方向幅分を検査対象範囲とすることが考えられる。
【0006】
しかし、一方の軸心方向端部を基準とすると、この一方の軸心方向端部自体に欠陥などがあっても、欠陥した形状をそのまま基準として使うことになり、基準とした一方の軸心方向端部に欠陥があっても、それが検出されることがない。
しかも、一方の軸心方向端部に欠陥があっても、それを基準として、所定の軸心方向幅を検査するため検査対象範囲が乱れ、他方の軸心方向端部に欠陥がなくても欠陥であると判定してしまうおそれがある。つまり、本来の欠陥個所とは異なる位置を欠陥と判定することになって欠陥の原因究明が困難となる。
そこで、本発明は、展開外周面の軸心方向端部を基準としても当該軸心方向端部にある欠陥を検出できるようにすることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明は、搬送方向の軸心まわりに回転しながら搬送される円柱状の検査対象物の外観検査装置であって、回転している検査対象物の外周面を撮像して、当該検査対象物の展開外周面の画像を得る撮像部と、前記撮像部によって得た画像中の展開外周面を、所定の基準位置を基準とした一定の範囲を走査して外観検査処理を行う処理部と、を備え、前記処理部は、前記展開外周面の軸心方向端部の局所変動が緩和された軸心方向端部の近似線を前記基準位置として設定可能とされていることを特徴とする。
【0008】
本発明によれば、検査対象物の軸心方向端部に欠陥があって、展開外周面の軸心方向端部の位置に局所的変動があっても、その局所的変動が緩和された近似線を基準位置として展開外周面の走査が行われるため、当該軸心方向端部にある欠陥を確実に検出できる。
【0009】
前記近似線は、軸心方向端部に近似する一次直線として算出されるのが好ましい。この場合、近似線を容易に算出することができる。
【0010】
また、前記軸心方向端部と当該軸心方向端部に基づき算出された前記近似線との誤差が、許容値よりも大きい場合には、軸心方向端部の位置が前記基準位置として設定されるのが好ましい。軸心方向端部と近似線との誤差が大きくなってしまう場合には、近似線を用いずに、軸心方向端部の位置をそのまま用いることで、検査範囲が大きく乱れることを防止できる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施形態を図面に基づいて説明する。
図1に示すように、外観検査装置1は、搬送されている検査対象物(以下、「ワーク」という)Wを撮像する撮像部2と、撮像部2による撮像範囲におけるワークWへ光を照射する照明部3と、撮像部2からの画像の取り込み処理及び画像処理等を行う処理部4と、を備えている。
【0012】
また、外観検査装置1は、ワークWを撮像部2による撮像範囲へ送る搬送部5と、撮像範囲にあるワークWを回転させる回転部6と、を備えている。ワークWは、搬送部5及び回転部6によって、複数個が軸心方向Xに整列した状態で軸心方向Xと平行な搬送方向Aに送られながら軸心回りに回転する。
【0013】
搬送部5は、回転部6の上流側に位置しており、ワークWを下流側の回転部6側へ送り出すものである。この搬送部5は、ワーク搬送ベルト8と、ワーク押出ローラ9とを具備しており、整列した複数のワークWの下側に配置された搬送ベルト8と、ワークWの上側に配置された押出ローラ9と、でワークWを挟み込むように配置されている。両者8,9の回転によって、軸心方向Xに整列したワークWは、撮像部2による撮像範囲へ向けて搬送方向A側へ送り出され、撮像範囲を通り抜ける。すなわち、この外観検査装置1は、スルーフィード方式となっている。なお、搬送部5は、左右からワークWを挟み込んで回転することによってワークWを送り出すものであってもよく、その具体的構成は限定されない。
【0014】
この搬送部5は、ワークWを止めることなく、ほぼ一定の速度で連続的に送る。したがって、ワークWが撮像部2の撮像範囲に来ても、ワークWは停止せず、常時移動して撮像範囲を通り抜ける。このため、ワークWは撮像範囲を次々に通過して効率よく検査をすることができる。
【0015】
回転部6は、搬送部5から送られてきたワークWを軸心X回りに回転させるものであり、軸心がワークWの軸心方向Xと同方向に向けられた一対のワーク回転ローラ10,10を備えている。一対の回転ローラ10,10は、水平方向に並置されており、同方向に回転駆動される。ワークWは、搬送部5によって一対の回転ローラ10,10上に押し出され、回転ローラ10,10の回転によって所定方向に回転する。また、回転ローラ10,10上に押し出されたワークWは、後方のワークWによって搬送方向Aに押されることで、回転ローラ10,10上を搬送方向Aに移動する。すなわち、ワークWは、回転部6において、軸心回りに回転しながら搬送方向Aに移動する。
なお、本実施形態では、搬送部5と回転部とを別々の機構によって構成したが、ワークWの搬送機能と回転機能とを一体化した単一の機構によって構成してもよい。
【0016】
前記撮像部2は、回転しながら搬送されているワークWを撮像できるように、回転部6の上方に配置されている。この撮像部2は、ラインセンサカメラによって構成されており、撮像時のカメラ走査方向がX方向に一致するように設けられ、ワークWの頂部付近のX方向の線画像を取得する走査を行う。X方向の走査は、繰り返し行われるため、ワークWの回転に伴い、撮像部2はワークWの周方向に異なる位置を走査する。したがって、ワークWが1回転するとワークW外周面を展開した2次元画像が得られる。なお、ワークWが、X方向へ移動することなく回転だけしている場合には、展開外周面は矩形状となるが、回転とともにX方向へ移動している場合、展開外周面はX方向へ傾いたものとなる。
【0017】
外観検査装置1は、撮像部2による撮像タイミング取得するためのタイミング取得部としてワーク間検出部12を備えている。ワーク間検出部12は、撮像部2よりも搬送方向A後方側に配置されており、検出位置13を通過するワーク隙間部を検知するための接触センサや光センサなどで構成される。この検出位置13をワーク隙間部が通過すると、ワーク間検出部12は、処理部4に対してワーク間を検出したことを示す検出信号を出力する。ワーク間を検出することで、ワーク1個分の移動時間ごとのタイミングが得られ、ワークWの移動速度が変化しても、常にワーク1個分移動時間に相当するタイミングが得られる。なお、前記タイミングは、撮像部2によって得られた画像に基づいてワーク間位置を検出することで取得してもよい。
【0018】
図2は、外観検査処理の際に、撮像された画像を示している。撮像の際には、複数のワークWが搬送方向に並んで連続的に搬送され、軸心回りに回転している。撮像で得られた画像は、ワークWのほぼ一回転分の画像である。図2において、白抜きの範囲20はワークWの展開外周面であり、中央の白抜き範囲20の左右両側にある範囲21はワークW間のワーク隙間部である。この画像には、検査対象となるワークWだけでなく、搬送方向の前後に隣接する他のワークWの展開外周面20,20の一部も映っている。
【0019】
画像において、展開外周面20は明るく映っているが、ワーク隙間部21は暗く映っており、この明暗差によって、展開外周面20の軸心方向端部(展開外周面と隙間部21との境界)25aを検出することができる。図2の画像は、ワーク搬送中に撮像したものであるため、軸方向端部25aが傾いている。つまり、図2において右から左に向かう方向が搬送方向であり、上側が時間的に早い位置であり、下側に行くほど搬送方向(左方)に外周面の位置がずれている。このずれの分だけ、軸心方向両端部25a,25bは、傾いており、傾斜端部となっている。なお、図2におけるx,y座標は、図1のX,Y方向と一致している。
【0020】
図3〜図5は、外観検査処理のための走査基準位置を設定するための処理を示している。外観検査処理は、走査基準位置を基準として、画像の一定の範囲を走査することによって行うため、初期処理として走査基準位置を設定する必要がある。走査基準位置は、傾斜端部25aの位置にほぼ一致するが、軸方向端部25a自体の欠陥を検出するため、走査基準位置としては軸方向端部25aの近似線が用いられる。
【0021】
ここで、傾斜端部25aの傾きは、ワークWの搬送速度が変化すると変化する。また、傾斜端部25aの位置は、ワークWが撮像されるタイミングによって、x方向に変動する。傾斜端部25aが変化すると、検査対象である展開外周面20の位置・形状も変化することになる。このように、位置・形状が変化することがある展開外周面20であっても、走査基準位置を傾斜端部25aに基づいて決定し、走査基準位置から一定の範囲を走査することで、展開外周面20の範囲を確実に検査することができる。
【0022】
図3に示すように、走査基準位置を設定するには、まず、走査基準配列arr_x[yn]に傾斜端部25aの位置を格納する(ステップS1)。走査基準配列arr_x[yn]は、1次元配列であり、ynは図2のy座標を示し、配列値arr_x[yn]として、y座標がynのときのx座標が格納される。図4に示すように、傾斜端部25aの座標は、傾斜端部25aに欠損などの欠陥30があれば、欠陥形状をそのまま反映し、傾斜端部25aの位置に欠陥による局所的な変動が生じている。なお、図4及び図5においては、簡略化のためワーク隙間部21が省略されている。
【0023】
続いて、走査基準配列arr_x[yn]に格納された傾斜端部25aの位置に基づいて、傾斜端部25aの欠陥による局所的変動を緩和した近似線(一次直線)f(yn)の算出が行われる(ステップS2)。この近似線f(yn)は、x座標値を示している。近似線f(yn)は、例えば、傾斜端部25aの任意の2点を通る直線として算出される。より具体的には、走査基準配列の最初の値arr_x[0]で示される点と、最後の値arr_x[ymax]で示される点とを通る直線として算出される。
また、最初の値arr_x[0]に代えて、最初から20番目までの値arr_x[0]〜arr_x[19]の最小値、最大値、又は平均値を採用してもよい。さらに、最後の値arr_x[ymax]に代えて、最後から20番目までの値arr_x[ymax−19]〜arr_x[ymax]の最小値、最大値、又は平均値を採用してもよい。このようにすることで、近似線の正確性がより向上する。
【0024】
次に、走査基準配列arr_x[yn]と、近似線f(yn)との比較を行う(ステップS3)。この比較は、yn:0〜ymaxの各点(画素)ごとに行われる。ある値ynについて、走査基準配列値arr_x[yn]と近似線f(yn)との(x方向の)差がe画素以下あれば、カウント数Cが増加する。なお、eの値は、例えば2〜3程度である。
走査基準配列arr_x[yn]と近似線f(yn)とが一致しているほど、カウント数Cは大きくなり、異なればカウント数Cは小さくなる。
【0025】
さらに、カウント数Cに基づき、走査基準配列arr_x[yn]と近似線f(yn)との差がしきい値を超えるか否かの判定を行う(ステップS4)。つまり、走査基準配列arr_x[yn]と近似線f(yn)との差がe画素以内である部分がT[%]以上である場合、両者は、ほぼ一致しており、軸心方向端部25a(走査基準配列値arr_x[yn])は良好な直線性を持っていると判定できる。なお、Tの値は、例えば97〜98程度である。なお、欠陥部分を原因とする走査基準配列arr_x[yn]と近似線f(yn)との不一致は、わずかな範囲にしか生じないため、ステップS3,S4での判定にはほとんど影響しない。
【0026】
軸心方向端部25a(走査基準配列値arr_x[yn])が良好な直線性を持っている場合には、直線によって近似した近似線f(yn)は、軸心方向端部25aに対して、局所変動が緩和された優れた近似性を持っているものと評価でき、直線f(yn)の値が走査基準配列arr_x[yn]に代入される(ステップS5)。
軸心方向端部25aは、搬送速度が変動せず一定していれば、ほぼ直線的になる。したがって、通常のケースでは、ワーク搬送速度は一定であるため、ほとんどの場合、近似線f(yn)が走査基準配列arr_x[yn]に代入される。
【0027】
一方、走査基準配列arr_x[yn]と近似線f(yn)との差がe画素以内である部分がT[%]未満である場合には、近似線f(yn)は、軸心方向端部25aに対する誤差が許容値よりも大きく、軸心方向端部25aへの近似性が低いものと評価できる。この場合、直線f(yn)の走査基準配列arr_x[yn]への代入は行われない。つまり、走査基準配列arr_x[yn]には、軸心方向端部25aの位置が格納されたままになる。このようなケースは、図6に示すように、搬送速度の変動によって軸心方向端部25aが、曲線となっている場合等であり、この場合、直線として算出された近似線f(yn)は、軸心方向端部25aとの近似性が低いため、基準としては用いずに、軸心方向端部25aを基準として用いる。
【0028】
展開外周面20に対する外観検査処理は、走査基準配列arr_x[yn]を基準としてx方向に所定範囲W1(=ワークWの軸心方向長さ)走査することによって行われる。図5に示すように、走査基準配列arr_x[yn]の値が近似線f(yn)の値である場合、軸心方向端部25aにある欠陥30は、その軸心方向端部25aにある欠陥として検出することができる。したがって、欠陥個所を正確に検出することができる。
これに対し、走査基準配列arr_x[yn]の値が軸心方向端部25aの位置を示している場合、当該軸心方向端部25aにある欠陥30を含んだ位置が、走査基準となるため、当該軸心方向端部25aに欠陥30があるとは判定されない。そればかりか、欠陥30の位置から走査範囲W1離れた位置が、他方の軸心方向端部25bの位置と一致しないため、本来欠陥のない他方の軸心方向端部25bに欠陥があると判定される結果を招く。このような問題に対し、本実施形態では、近似線f(yn)を基準に用いているので、欠陥30の位置を正確に検出できる。
【0029】
図6のように、軸心方向端部25aが曲線である場合、近似線f(yn)を基準として用いると、近似線f(yn)は軸心方向端部25aをうまく近似していないため、軸心方向端部25aに欠陥がなくても欠陥があると判定してしまう。このように軸心方向端部25aの直線性が低い場合には、軸心方向端部25a自体を基準として用いて、欠陥がないのに欠陥があるとする誤検出を防止している。前述のように軸心方向端部25a自体を基準として用いると、欠陥の位置が正確にわからないが、欠陥があれば位置の正確性はともかく欠陥を検出できることから、ここでは誤検出防止が優先されている。
【0030】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。例えば、上記実施形態では、軸心方向端部25aに基づき近似線を決定したが、他方の軸心方向端部25bに基づいてもよい。また、近似線は、直線だけでなく、曲線であってもよく、特に、軸心方向端部が曲線である場合に、局所変動が緩和された曲線の近似線を基準位置とすることで、より正確性が向上する。
また、外観検査処理の際の走査範囲は、基準位置から展開外周面の全範囲であってもよいし、基準位置に基づき展開外周面の一部範囲だけであってもよい。
【0031】
【発明の効果】
本発明によれば、検査対象物の軸心方向端部に欠陥があって、展開外周面の軸心方向端部の位置に局所的変動があっても、その局所的変動が緩和された近似線を基準位置として展開外周面の走査が行われるため、当該軸心方向端部にある欠陥を確実に検出できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】外観検査装置の模式図である。
【図2】外観検査時のワーク画像である。
【図3】走査基準配列設定処理のフローチャートである。
【図4】軸心方向端部に欠陥のあるワーク画像である。
【図5】軸心方向端部の近似直線を示す図である。
【図6】軸心方向端部が曲線である場合の近似直線を示す図である。
【符号の説明】
1 外観検査装置
2 撮像部
4 処理部
20 展開外周面
25a 軸心方向端部
f(yn) 近似線
Claims (3)
- 搬送方向の軸心まわりに回転しながら搬送される円柱状の検査対象物の外観検査装置であって、
回転している検査対象物の外周面を撮像して、当該検査対象物の展開外周面の画像を得る撮像部と、
前記撮像部によって得た画像中の展開外周面を、所定の基準位置を基準とした一定の範囲を走査して外観検査処理を行う処理部と、
を備え、
前記処理部は、前記展開外周面の軸心方向端部の局所変動が緩和された軸心方向端部の近似線を前記基準位置として設定可能とされていることを特徴とする外観検査装置。 - 前記近似線は、軸心方向端部に近似する一次直線として算出されることを特徴とする請求項1記載の外観検査装置。
- 前記軸心方向端部と当該軸心方向端部に基づき算出された前記近似線との誤差が、許容値よりも大きい場合には、軸心方向端部の位置が前記基準位置として設定されることを特徴とする請求項1又は2記載の外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003175111A JP2005010039A (ja) | 2003-06-19 | 2003-06-19 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003175111A JP2005010039A (ja) | 2003-06-19 | 2003-06-19 | 外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005010039A true JP2005010039A (ja) | 2005-01-13 |
Family
ID=34098408
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003175111A Pending JP2005010039A (ja) | 2003-06-19 | 2003-06-19 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2005010039A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005024431A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Koyo Seiko Co Ltd | 外観検査装置 |
| JP2013019792A (ja) * | 2011-07-12 | 2013-01-31 | Ntn Corp | 円筒部材の検査法および検査装置 |
| CN103357595A (zh) * | 2012-04-09 | 2013-10-23 | 大进合紧固件(昆山)有限公司 | 自动筛选机 |
-
2003
- 2003-06-19 JP JP2003175111A patent/JP2005010039A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005024431A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Koyo Seiko Co Ltd | 外観検査装置 |
| JP2013019792A (ja) * | 2011-07-12 | 2013-01-31 | Ntn Corp | 円筒部材の検査法および検査装置 |
| CN103357595A (zh) * | 2012-04-09 | 2013-10-23 | 大进合紧固件(昆山)有限公司 | 自动筛选机 |
| CN103357595B (zh) * | 2012-04-09 | 2015-11-18 | 大进合紧固件(昆山)有限公司 | 自动筛选机 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20070237385A1 (en) | Defect inspection apparatus | |
| JP2018017639A (ja) | 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置 | |
| EP3399302A1 (en) | Egg surface inspection apparatus | |
| US20200408698A1 (en) | Apparatus and method for inspecting a glass sheet | |
| JP2001255275A (ja) | 表面欠陥検査方法及び装置 | |
| JP3871944B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| JP4252381B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| JP2005010039A (ja) | 外観検査装置 | |
| JP2008025990A (ja) | 鋼帯表面欠陥の検出方法及び検出装置 | |
| JP2005010036A (ja) | 外観検査装置 | |
| JP2005351825A (ja) | 欠陥検査装置 | |
| JP4023295B2 (ja) | 表面検査方法及び表面検査装置 | |
| JP2015059854A (ja) | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | |
| JP2010002232A (ja) | 鍛造品の検査方法 | |
| JP2005010038A (ja) | 外観検査装置 | |
| JP2002303583A (ja) | 容器の検査方法及び容器の検査装置 | |
| JP2000081396A (ja) | 巻取ロール側面の品質自動判定方法及び装置 | |
| JP2000266514A (ja) | 金属板の検査方法及び装置 | |
| JP2016148520A (ja) | キズ欠点検査装置およびキズ欠点検査方法 | |
| JP4266887B2 (ja) | 果菜類の検査装置 | |
| JP2002162363A (ja) | 欠陥検出装置用蛇行追従装置 | |
| JP2015059855A (ja) | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | |
| JP3682249B2 (ja) | ガラスびんのねじ部検査装置 | |
| JP2003240729A (ja) | 表面検査方法及び装置 | |
| WO2011101893A1 (ja) | 可撓性を有する検査対象物の表面の傷を検査する方法および装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20050609 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070910 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071002 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20071129 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080304 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20080507 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080812 |