JP2005062155A - コヒーレントラマン散乱顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 波長成分が異なるパルス光を発生させる第一及び第二のパルスレーザ発生手段101、102と、第一及び第二のパルス光を同時に標本120に照射する照射手段110と、標本120から発生した散乱光を集光する集光手段130と、集光された散乱光から少なくとも第一及び第二の波長成分を阻止しコヒーレントラマン散乱光を通過させる波長帯域阻止手段140と、コヒーレントラマン散乱光を検出する検出手段150とを含むコヒーレントラマン散乱顕微鏡において、波長帯域阻止手段140は分光手段を含む。
【選択図】 図1
Description
ωAS=ωP +ωV =2ωP −ωS
の関係がある。
このように、アンチストークス光374は、標本内におけるポンプ光とストークス光の集光位置においてのみ強く発生する。
つまり、従来の長波長阻止フィルタには、特許文献1や特許文献2に示されているように、干渉フィルタ又はガラスフィルタが用いられていた。
本発明による第一実施例の落射検出型CARS顕微鏡について説明する。
本発明による第二実施例の透過偏光検出型CARS顕微鏡を説明する。
本発明による第三実施例の透過検出型CARS顕微鏡を説明する。
ωS =ωAS−2ωV
したがって、波長制御装置470は、ωASを一定値のままωP とωS を上式に従うように、ポンプ光レーザ光源401とストークス光レーザ光源402の発振波長を同時に制御する。
本発明による第四実施例の透過検出型CARS顕微鏡を説明する。
102…第二のパルスレーザ発生手段
110…照明手段
120…標本
130…集光手段
140…波長帯域阻止手段
150…検出手段
240…長波長阻止フィルタユニット
370…基底状態レベル
371…振動状態レベル
372…ポンプ光のエネルギー
373…ストークス光のエネルギー
374…アンチストークス光のエネルギー
375…分子振動のエネルギー
401…ポンプ光レーザ光源
402…ストークス光レーザ光源
403…励起レーザ
404…同調器
405…パルス選択器
406…光路長調整器
407…オートコリレータ
408…波長モニタ
410…透過型顕微鏡本体
412…第一の対物レンズ
420…標本
421…標本保持台
422…走査ユニット
430…第二の対物レンズ
440…分光フィルタユニット
441…分散素子
442…分散投影レンズ
443…遮光板
446…ビームエキスパンダ
447…ピンホール
450…光検出器
460…適応光学系
461…集光位置センサ
462…焦点位置補正装置
463…集光位置補正装置
470…波長制御装置
472…ポンプ光のスペクトル
473…ストークス光のスペクトル
474…アンチストークス光のスペクトル
476…長波長阻止手段の分光透過率
477…長波長阻止手段の立ち上がり幅
501…ポンプ光レーザ光源
502…ストークス光レーザ光源
503…励起レーザ
505…パルス選択器
506…光路長調整器
510…落射型顕微鏡本体
525…走査ユニット
526…ガルバノミラーx
527…ガルバノミラーy
540…分光フィルタユニットA
541…分散素子A
542…分散投影レンズA
543…遮光板A
544…分散補償レンズA
546…ビームエキスパンダA
547…ピンホールA
560…分光フィルタユニットB
561…分散素子B
562…分散投影レンズB
563…遮光板B
564…分散補償レンズB
565…補償素子B
566…ビームエキスパンダB
567…ピンホールB
601…ポンプ光レーザ光源
602…ストークス光レーザ光源
603…励起レーザ
605…パルス選択器
606…光路長調整器
609…偏光子
610…透過型顕微鏡本体
622…標本位置走査装置
631…検光子
640…分光フィルタユニットA
663…遮光スリットB
664…反射板B
666…ビームエキスパンダB
667…ピンホールB
668…導入ミラーB
669…導出ミラーB
670…分光フィルタユニットC
671…分散素子C
672…分散投影レンズC
673…遮光スリットC
674…反射板C
675…ガルバノ走査装置C
676…ビームエキスパンダC
677…ピンホールC
1101…第一のパルスレーザ発生手段
1102…第二のパルスレーザ発生手段
1110…照射手段
1130…集光手段
1120…標本
1140…波長分散型分光手段
1150…散乱光検出手段
1160…補正光学手段
1201…第一のパルスレーザ発生手段
1202…第二のパルスレーザ発生手段
1210…照射手段
1220…標本
1230…集光手段
1240…波長分散型分光手段
1270…波長走査手段
1301…第一のパルスレーザ発生手段
1302…第二のパルスレーザ発生手段
1310…照射手段
1320…標本
1330…集光手段
1340…波長分散型分光手段
1350…散乱光検出手段
1380…波長分散駆動手段
1501…ポンプ光レーザ光源
1502…ストークス光レーザ光源
1503…励起レーザ
1504…同調器
1505…パルス選択器
1506…光路長調整器
1507…オートコリレータ
1508…波長モニタ
1580…波長分散駆動器
1610…透過型顕微鏡本体
1611…第一の対物レンズ
1620…標本
1621…標本保持台
1622…走査ユニット
1630…第二の対物レンズ
1640…分光フィルタユニット
1641…分散素子
1650…光検出器
1660…波面検出器
1661…マイクロレンズアレイ
1662…CCD
1663…波面計算器
1670…波面補正器
1675…ガルバノ走査装置
4611…結像レンズ
4612…ハーフミラー
4613A、4613B…エリアセンサ
4614…制御装置
Claims (4)
- 第一の波長成分を持つ第一のパルス光を発生される第一のパルスレーザ発生手段と、前記第一の波長成分と異なる第二の波長成分を持つ第二のパルス光を発生させる第二のパルスレーザ発生手段と、前記第一のパルス光と前記第二のパルス光を同時に標本に照射する照射手段と、前記標本から発生した散乱光を集光する集光手段と、集光された前記散乱光から少なくとも前記第一の波長成分と前記第二の波長成分を阻止しコヒーレントラマン散乱光を通過させる波長帯域阻止手段と、前記コヒーレントラマン散乱光を検出する検出手段とを含むコヒーレントラマン散乱顕微鏡において、前記波長帯域阻止手段は分光手段を含むことを特徴とするコヒーレントラマン散乱顕微鏡。
- 第一の波長成分を持つ第一のパルス光を発生させる第一のパルスレーザ発生手段と、前記第一の波長成分と異なる第二の波長成分を持つ第二のパルス光を発生させる第二のパルスレーザ発生手段と、前記第一のパルス光と前記第二のパルス光を同時に標本に照射する照射手段と、前記標本を透過した前記第一のパルス光及び前記第二のパルス光と前記標本から発生した散乱光を集光する集光手段と、前記集光手段による集光位置を調節するための補正光学手段と、集光された前記散乱光から少なくとも前記第一の波長成分と前記第二の波長成分を阻止しコヒーレントラマン散乱光を通過させる波長分散型分光手段と、前記コヒーレントラマン散乱光を検出する検出手段とを有することを特徴とするコヒーレントラマン散乱顕微鏡。
- 第一の波長成分を持つ波長可変な第一のパルス光を発生させる第一のパルスレーザ発生手段と、前記第一の波長成分と異なる第二の波長成分を持つ波長可変な第二のパルス光を発生させる第二のパルスレーザ発生手段と、前記第一のパルス光と前記第二のパルス光を同時に標本に照射する照射手段と、前記標本を透過した前記第一のパルス光及び前記第二のパルス光と前記標本から発生した散乱光を集光する集光手段と、集光された前記散乱光から少なくとも前記第一の波長成分と前記第二の波長成分を阻止しコヒーレントラマン散乱光を通過させる波長分散型分光手段と、前記コヒーレントラマン散乱光を検出する散乱光検出手段と、前記コヒーレントラマン散乱光の波長が常に一定になるように前記第一のパルス光の波長と前記第二のパルス光の波長を同時に制御して走査する波長走査手段とを有することを特徴とするコヒーレントラマン散乱顕微鏡。
- 第一の波長成分を持つ第一のパルス光を発生させる第一のパルスレーザ発生手段と、前記第一の波長成分と異なる第二の波長成分を持つ第二のパルス光を発生させる第二のパルスレーザ発生手段と、前記第一のパルス光と前記第二のパルス光を同時に標本に照射する照射手段と、前記標本を透過した前記第一のパルス光及び前記第二のパルス光と前記標本から発生した散乱光を集光する集光手段と、集光された前記散乱光から少なくとも前記第一の波長成分と前記第二の波長成分を阻止しコヒーレントラマン散乱光を通過させる波長分散型分光手段と、前記コヒーレントラマン散乱光を検出する散乱光検出手段と、前記散乱光が前記散乱光検出手段に入射するように前記第二のパルス光の波長に同期して前記波長分散型分光手段を駆動する波長分散駆動手段とを有することを特徴とするコヒーレントラマン散乱顕微鏡。
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