[go: up one dir, main page]

JP2004363640A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2004363640A
JP2004363640A JP2003155873A JP2003155873A JP2004363640A JP 2004363640 A JP2004363640 A JP 2004363640A JP 2003155873 A JP2003155873 A JP 2003155873A JP 2003155873 A JP2003155873 A JP 2003155873A JP 2004363640 A JP2004363640 A JP 2004363640A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
supply voltage
supplied
circuit
semiconductor integrated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003155873A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Seki
浩 関
Fumiko Katsuno
文子 勝野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2003155873A priority Critical patent/JP2004363640A/ja
Publication of JP2004363640A publication Critical patent/JP2004363640A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路において、入力バッファに電源電圧が供給されていない場合に、次段回路に貫通電流が流れないようにする。
【解決手段】この半導体集積回路は、第1の電源電圧が供給されたときに、入力端子に入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファ10と、第1の電源電圧が供給されているか否かを検出する検出回路30と、第2の電源電圧が供給されて動作する次段回路であって、第1の電源電圧が供給されていることを検出回路が検出したときに、入力バッファから出力される信号に基づいて信号を出力し、第1の電源電圧が供給されていないことを検出回路が検出したときに、出力レベルを固定する次段回路40とを具備する。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般に、ICやLSI等の半導体集積回路に関し、特に、複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、各種の電子機器の高速動作や低消費電力を実現するために、これらの電子機器において使用されるICやLSI等の半導体集積回路の高集積化や低電圧化が進んでいる。しかし、全ての半導体集積回路の動作電圧を一律に低電圧化することは、デバイス固有の特性を考慮すると、極めて困難である。従って、異なる電源電圧で動作する複数の半導体集積回路が互いに接続される場合が生じる。
【0003】
そのような場合に対応するために、高い電源電圧が供給されて動作する入力バッファと低い電源電圧が供給されて動作する次段回路とを含む入力回路を有する半導体集積回路が開発されている。図6に、従来の半導体集積回路における入力回路の例を示す。この例においては、入力バッファ及び次段回路として、インバータが用いられている。
【0004】
図6に示す入力回路は、高い電源電圧HVDD(例えば、3.3V)が供給される入力バッファ10と、低い電源電圧LVDD(例えば、1.8V)が供給される次段回路20とを含んでいる。外部回路から外部入力端子(パッド)PDを介して入力バッファ10に入力信号が供給されると、入力バッファ10は、この入力信号に基づいて電流増幅を行い、出力信号を次段回路20に供給する。
【0005】
このような半導体集積回路において、外部回路とのアクセスを行わないときには、消費電力低減等の理由により、電源電圧LVDDが供給されたまま電源電圧HVDDの供給が停止される場合がある。そのような場合には、入力バッファ10の出力がハイインピーダンス状態となるので、次段回路20の入力電位が不定状態となってしまう。その電位によっては、次段回路20において直列接続されているPチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルMOSトランジスタの両方が共にオンして、貫通電流Iが流れてしまうという問題があった。
【0006】
ところで、下記の特許文献1には、多電源系をもつ半導体集積回路の電源電圧オフ時のICの出力を安定させるために、制御電圧検出回路を出力電源系で構成し、その出力をレベルホールド回路の出力に接続される出力固定回路へ入力するようにした半導体集積回路が開示されている。しかしながら、特許文献1には、入力回路の動作を安定させることについては開示されていない。
【0007】
【特許文献1】
特開平6−19412号公報(第1頁、図1)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、上記の点に鑑み、本発明の目的は、複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路において、入力バッファに電源電圧が供給されていない場合に、次段回路に貫通電流が流れないようにすることである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
以上の課題を解決するため、本発明に係る半導体集積回路は、複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路であって、第1の電源電圧が供給されたときに、入力端子に入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファと、第1の電源電圧が供給されているか否かを検出する検出回路と、第2の電源電圧が供給されて動作する次段回路であって、第1の電源電圧が供給されていることを検出回路が検出したときに、入力バッファから出力される信号に基づいて信号を出力し、第1の電源電圧が供給されていないことを検出回路が検出したときに、出力レベルを固定する次段回路とを具備する。
【0010】
ここで、検出回路が、第2の電源電圧に一端が接続されたインピーダンス素子と、インピーダンス素子の他端にドレインが接続され、第1の電源電圧がゲートに供給されてスイッチング動作を行うトランジスタとを含むようにしても良い。
また、入力バッファが、直列に接続されたPチャネルトランジスタ及びNチャネルトランジスタによって構成されるインバータを含むようにしても良い。
【0011】
さらに、次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにハイレベルとなる制御信号と入力バッファから出力される信号との論理積を反転して出力するNAND回路を含むようにしても良い。あるいは、次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにローレベルとなる制御信号と入力バッファから出力される信号との論理和を反転して出力するNOR回路を含むようにしても良い。
以上において、第1の電源電圧が、第2の電源電圧よりも高くなるようにしても良い。
【0012】
以上の様に構成した本発明によれば、第1の電源電圧が供給されていないことを検出回路が検出したときに、次段回路の出力レベルを固定するようにしたので、入力バッファに第1の電源電圧が供給されていない場合に、次段回路に貫通電流が流れないようにすることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の要素には同一の番号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体集積回路に含まれている入力回路の構成を示す図である。この半導体集積回路は、複数の電源電圧として、第1の電源電圧HVDD(本実施形態においては、3.3Vとする)と、第2の電源電圧LVDD(本実施形態においては、1.8Vとする)とが供給されて動作する。
【0014】
図1に示すように、この半導体集積回路に含まれている入力回路は、電源電圧HVDDが供給されたときに、外部回路から外部入力端子(パッド)PDに入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファ10と、電源電圧HVDDが供給されているか否かを検出する電源電圧検出回路30と、電源電圧LVDDが供給されて動作する次段回路40とを有している。
【0015】
電源電圧検出回路30は、図2に示すように、電源電圧LVDDに一端が接続されたインピーダンス素子としての抵抗R1と、抵抗R1の他端にドレインが接続され、電源電圧HVDDがゲートに供給されてスイッチング動作を行うNチャネルMOSトランジスタQN21と、トランジスタQN21のドレインに接続され、電源電圧LVDDが供給されて動作するインバータ31とを含んでいる。
【0016】
ここで、電源電圧HVDDが供給されているときには、トランジスタQN21がオンして、トランジスタQN21のドレインから出力される反転制御信号CNバーがローレベルとなり、インバータ31から出力される制御信号CNがハイレベルとなる。一方、電源電圧HVDDが供給されていないときには、トランジスタQN21がオフして、トランジスタQN21のドレインから出力される反転制御信号CNバーがハイレベルとなり、インバータ31から出力される制御信号CNがローレベルとなる。
【0017】
入力バッファ10としては、図3に示すように、直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタQP31とNチャネルMOSトランジスタQN31とによって構成されるインバータが用いられている。このインバータは、電源電圧HVDDが供給されたときに、入力端子に入力される信号Aを反転して、出力信号Xとして出力する。
【0018】
次段回路40としては、図4に示すように、PチャネルMOSトランジスタQP41及びQP41とNチャネルMOSトランジスタQN41及びQN41とによって構成されるNAND回路が用いられている。このNAND回路は、電源電圧LVDDが供給されたときに、2つの入力端子に入力される信号B1及びB2の論理積を反転して、出力信号Yとして出力する。
【0019】
再び図1を参照すると、次段回路40の一方の入力端子には、入力バッファ10から出力される信号が供給され、次段回路40の他方の入力端子には、電源電圧検出回路30から出力される制御信号CNが供給される。
【0020】
電源電圧HVDDが供給されていることが検出され、制御信号CNがハイレベルであるときに、次段回路40は、入力バッファ10から入力された信号を反転して内部回路に供給する。一方、電源電圧HVDDが供給されていないことが検出され、制御信号CNがローレベルであるときに、次段回路40は、出力をハイレベルに固定する。
【0021】
このような入力回路によれば、電源電圧LVDDが供給されたまま電源電圧HVDDの供給が停止される場合においても、次段回路において貫通電流Iが流れてしまうおそれがなくなる。
【0022】
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図5は、本発明の第2の実施形態に係る半導体集積回路に含まれている入力回路の構成を示す図である。本発実施形態においては、次段回路として、第1の実施形態におけるNAND回路の替わりにNOR回路を用いている。
【0023】
図5に示すように、この入力回路は、電源電圧HVDDが供給されたときに動作する入力バッファ10と、電源電圧HVDDが供給されているか否かを検出する電源電圧検出回路30と、電源電圧LVDDが供給されて動作する次段回路50とを有している。
【0024】
次段回路50としては、電源電圧LVDDが供給されたときに、2つの入力端子に入力される信号の論理和を反転して出力するNOR回路が用いられている。次段回路50の一方の入力端子には、入力バッファ10から出力される信号が供給され、次段回路50の他方の入力端子には、電源電圧検出回路30から出力される反転制御信号CNバーが供給される。
【0025】
電源電圧HVDDが供給されていることが検出され、反転制御信号CNバーがローレベルであるときに、次段回路50は、入力バッファ10から入力された信号を反転して内部回路に供給する。一方、電源電圧HVDDが供給されていないことが検出され、反転制御信号CNバーがハイレベルであるときに、次段回路40は、出力をローレベルに固定する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態における入力回路の構成を示す図。
【図2】電源電圧検出回路の具体的な回路例を示す図。
【図3】入力バッファの具体的な回路例を示す図。
【図4】次段回路の具体的な回路例を示す図。
【図5】本発明の第2の実施形態における入力回路の構成を示す図。
【図6】従来の半導体集積回路における入力回路の例を示す図。
【符号の説明】
10 入力バッファ、 30 電源電圧検出回路、 31 インバータ、 40、50 次段回路、 PD 外部入力端子(パッド)、 R1 抵抗、 QP31〜QP42 PチャネルMOSトランジスタ、 QN21〜QN42 NチャネルMOSトランジスタ

Claims (6)

  1. 複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路であって、
    第1の電源電圧が供給されたときに、入力端子に入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファと、
    第1の電源電圧が供給されているか否かを検出する検出回路と、
    第2の電源電圧が供給されて動作する次段回路であって、第1の電源電圧が供給されていることを前記検出回路が検出したときに、前記入力バッファから出力される信号に基づいて信号を出力し、第1の電源電圧が供給されていないことを前記検出回路が検出したときに、出力レベルを固定する前記次段回路と、
    を具備する半導体集積回路。
  2. 前記検出回路が、
    第2の電源電圧に一端が接続されたインピーダンス素子と、
    前記インピーダンス素子の他端にドレインが接続され、第1の電源電圧がゲートに供給されてスイッチング動作を行うトランジスタと、
    を含む、請求項1記載の半導体集積回路。
  3. 前記入力バッファが、直列に接続されたPチャネルトランジスタ及びNチャネルトランジスタによって構成されるインバータを含む、請求項1又は2記載の半導体集積回路。
  4. 前記次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにハイレベルとなる制御信号と前記入力バッファから出力される信号との論理積を反転して出力するNAND回路を含む、請求項1〜3のいずれか1項記載の半導体集積回路。
  5. 前記次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにローレベルとなる制御信号と前記入力バッファから出力される信号との論理和を反転して出力するNOR回路を含む、請求項1〜3のいずれか1項記載の半導体集積回路。
  6. 前記第1の電源電圧が、前記第2の電源電圧よりも高い、請求項1〜5のいずれか1項記載の半導体集積回路。
JP2003155873A 2003-05-30 2003-05-30 半導体集積回路 Withdrawn JP2004363640A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003155873A JP2004363640A (ja) 2003-05-30 2003-05-30 半導体集積回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003155873A JP2004363640A (ja) 2003-05-30 2003-05-30 半導体集積回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004363640A true JP2004363640A (ja) 2004-12-24

Family

ID=34050147

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003155873A Withdrawn JP2004363640A (ja) 2003-05-30 2003-05-30 半導体集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004363640A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1684430A1 (en) * 2005-01-24 2006-07-26 Fujitsu Limited Buffer circuit and integrated circuit
US7567111B2 (en) 2005-06-14 2009-07-28 Seiko Epson Corporation Potential fixing circuit for integrated circuit having multiple supply potentials

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1684430A1 (en) * 2005-01-24 2006-07-26 Fujitsu Limited Buffer circuit and integrated circuit
US7414442B2 (en) 2005-01-24 2008-08-19 Fujitsu Limited Buffer circuit and integrated circuit
US7567111B2 (en) 2005-06-14 2009-07-28 Seiko Epson Corporation Potential fixing circuit for integrated circuit having multiple supply potentials

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2004297462A (ja) 差動増幅器
JP3204690B2 (ja) マルチモード入力回路
US20030122581A1 (en) Semiconductor integrated circuit
JP2006352195A (ja) 半導体集積回路
US7161386B2 (en) Signal-level converter
US7719347B2 (en) Semiconductor integrated circuit and method of controlling the same
JP5116454B2 (ja) 電力ゲート論理を有する低電力レベル・センシティブ・スキャン設計ラッチに関する方法及びシステム
JP2004356779A (ja) 半導体集積回路
US7567111B2 (en) Potential fixing circuit for integrated circuit having multiple supply potentials
JP2002185299A (ja) 半導体装置
JP2009260804A (ja) パワーオン検知回路およびレベル変換回路
JP2004363640A (ja) 半導体集積回路
US7656210B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JP5838743B2 (ja) 半導体装置及びそれを用いた電子機器
US7598791B2 (en) Semiconductor integrated apparatus using two or more types of power supplies
JP2004356778A (ja) 半導体集積回路
JP2003258621A (ja) インタフェースバッファ
JP2011250189A (ja) レベル変換回路及び電子機器
JPH06224732A (ja) イネーブル端子付き出力バッファ回路
JP4104634B2 (ja) 半導体装置
JP2006352204A (ja) 電位検出回路及びそれを備える半導体集積回路
JPH08274606A (ja) 出力バッファ回路
JP4350575B2 (ja) 電圧検出回路
JP4370891B2 (ja) 半導体集積回路
JP2005159697A (ja) 半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20060801