JP2004363640A - 半導体集積回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路において、入力バッファに電源電圧が供給されていない場合に、次段回路に貫通電流が流れないようにする。
【解決手段】この半導体集積回路は、第1の電源電圧が供給されたときに、入力端子に入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファ10と、第1の電源電圧が供給されているか否かを検出する検出回路30と、第2の電源電圧が供給されて動作する次段回路であって、第1の電源電圧が供給されていることを検出回路が検出したときに、入力バッファから出力される信号に基づいて信号を出力し、第1の電源電圧が供給されていないことを検出回路が検出したときに、出力レベルを固定する次段回路40とを具備する。
【選択図】 図1
【解決手段】この半導体集積回路は、第1の電源電圧が供給されたときに、入力端子に入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファ10と、第1の電源電圧が供給されているか否かを検出する検出回路30と、第2の電源電圧が供給されて動作する次段回路であって、第1の電源電圧が供給されていることを検出回路が検出したときに、入力バッファから出力される信号に基づいて信号を出力し、第1の電源電圧が供給されていないことを検出回路が検出したときに、出力レベルを固定する次段回路40とを具備する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般に、ICやLSI等の半導体集積回路に関し、特に、複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、各種の電子機器の高速動作や低消費電力を実現するために、これらの電子機器において使用されるICやLSI等の半導体集積回路の高集積化や低電圧化が進んでいる。しかし、全ての半導体集積回路の動作電圧を一律に低電圧化することは、デバイス固有の特性を考慮すると、極めて困難である。従って、異なる電源電圧で動作する複数の半導体集積回路が互いに接続される場合が生じる。
【0003】
そのような場合に対応するために、高い電源電圧が供給されて動作する入力バッファと低い電源電圧が供給されて動作する次段回路とを含む入力回路を有する半導体集積回路が開発されている。図6に、従来の半導体集積回路における入力回路の例を示す。この例においては、入力バッファ及び次段回路として、インバータが用いられている。
【0004】
図6に示す入力回路は、高い電源電圧HVDD(例えば、3.3V)が供給される入力バッファ10と、低い電源電圧LVDD(例えば、1.8V)が供給される次段回路20とを含んでいる。外部回路から外部入力端子(パッド)PDを介して入力バッファ10に入力信号が供給されると、入力バッファ10は、この入力信号に基づいて電流増幅を行い、出力信号を次段回路20に供給する。
【0005】
このような半導体集積回路において、外部回路とのアクセスを行わないときには、消費電力低減等の理由により、電源電圧LVDDが供給されたまま電源電圧HVDDの供給が停止される場合がある。そのような場合には、入力バッファ10の出力がハイインピーダンス状態となるので、次段回路20の入力電位が不定状態となってしまう。その電位によっては、次段回路20において直列接続されているPチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルMOSトランジスタの両方が共にオンして、貫通電流I0が流れてしまうという問題があった。
【0006】
ところで、下記の特許文献1には、多電源系をもつ半導体集積回路の電源電圧オフ時のICの出力を安定させるために、制御電圧検出回路を出力電源系で構成し、その出力をレベルホールド回路の出力に接続される出力固定回路へ入力するようにした半導体集積回路が開示されている。しかしながら、特許文献1には、入力回路の動作を安定させることについては開示されていない。
【0007】
【特許文献1】
特開平6−19412号公報(第1頁、図1)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、上記の点に鑑み、本発明の目的は、複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路において、入力バッファに電源電圧が供給されていない場合に、次段回路に貫通電流が流れないようにすることである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
以上の課題を解決するため、本発明に係る半導体集積回路は、複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路であって、第1の電源電圧が供給されたときに、入力端子に入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファと、第1の電源電圧が供給されているか否かを検出する検出回路と、第2の電源電圧が供給されて動作する次段回路であって、第1の電源電圧が供給されていることを検出回路が検出したときに、入力バッファから出力される信号に基づいて信号を出力し、第1の電源電圧が供給されていないことを検出回路が検出したときに、出力レベルを固定する次段回路とを具備する。
【0010】
ここで、検出回路が、第2の電源電圧に一端が接続されたインピーダンス素子と、インピーダンス素子の他端にドレインが接続され、第1の電源電圧がゲートに供給されてスイッチング動作を行うトランジスタとを含むようにしても良い。
また、入力バッファが、直列に接続されたPチャネルトランジスタ及びNチャネルトランジスタによって構成されるインバータを含むようにしても良い。
【0011】
さらに、次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにハイレベルとなる制御信号と入力バッファから出力される信号との論理積を反転して出力するNAND回路を含むようにしても良い。あるいは、次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにローレベルとなる制御信号と入力バッファから出力される信号との論理和を反転して出力するNOR回路を含むようにしても良い。
以上において、第1の電源電圧が、第2の電源電圧よりも高くなるようにしても良い。
【0012】
以上の様に構成した本発明によれば、第1の電源電圧が供給されていないことを検出回路が検出したときに、次段回路の出力レベルを固定するようにしたので、入力バッファに第1の電源電圧が供給されていない場合に、次段回路に貫通電流が流れないようにすることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の要素には同一の番号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体集積回路に含まれている入力回路の構成を示す図である。この半導体集積回路は、複数の電源電圧として、第1の電源電圧HVDD(本実施形態においては、3.3Vとする)と、第2の電源電圧LVDD(本実施形態においては、1.8Vとする)とが供給されて動作する。
【0014】
図1に示すように、この半導体集積回路に含まれている入力回路は、電源電圧HVDDが供給されたときに、外部回路から外部入力端子(パッド)PDに入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファ10と、電源電圧HVDDが供給されているか否かを検出する電源電圧検出回路30と、電源電圧LVDDが供給されて動作する次段回路40とを有している。
【0015】
電源電圧検出回路30は、図2に示すように、電源電圧LVDDに一端が接続されたインピーダンス素子としての抵抗R1と、抵抗R1の他端にドレインが接続され、電源電圧HVDDがゲートに供給されてスイッチング動作を行うNチャネルMOSトランジスタQN21と、トランジスタQN21のドレインに接続され、電源電圧LVDDが供給されて動作するインバータ31とを含んでいる。
【0016】
ここで、電源電圧HVDDが供給されているときには、トランジスタQN21がオンして、トランジスタQN21のドレインから出力される反転制御信号CNバーがローレベルとなり、インバータ31から出力される制御信号CNがハイレベルとなる。一方、電源電圧HVDDが供給されていないときには、トランジスタQN21がオフして、トランジスタQN21のドレインから出力される反転制御信号CNバーがハイレベルとなり、インバータ31から出力される制御信号CNがローレベルとなる。
【0017】
入力バッファ10としては、図3に示すように、直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタQP31とNチャネルMOSトランジスタQN31とによって構成されるインバータが用いられている。このインバータは、電源電圧HVDDが供給されたときに、入力端子に入力される信号Aを反転して、出力信号Xとして出力する。
【0018】
次段回路40としては、図4に示すように、PチャネルMOSトランジスタQP41及びQP41とNチャネルMOSトランジスタQN41及びQN41とによって構成されるNAND回路が用いられている。このNAND回路は、電源電圧LVDDが供給されたときに、2つの入力端子に入力される信号B1及びB2の論理積を反転して、出力信号Yとして出力する。
【0019】
再び図1を参照すると、次段回路40の一方の入力端子には、入力バッファ10から出力される信号が供給され、次段回路40の他方の入力端子には、電源電圧検出回路30から出力される制御信号CNが供給される。
【0020】
電源電圧HVDDが供給されていることが検出され、制御信号CNがハイレベルであるときに、次段回路40は、入力バッファ10から入力された信号を反転して内部回路に供給する。一方、電源電圧HVDDが供給されていないことが検出され、制御信号CNがローレベルであるときに、次段回路40は、出力をハイレベルに固定する。
【0021】
このような入力回路によれば、電源電圧LVDDが供給されたまま電源電圧HVDDの供給が停止される場合においても、次段回路において貫通電流I0が流れてしまうおそれがなくなる。
【0022】
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図5は、本発明の第2の実施形態に係る半導体集積回路に含まれている入力回路の構成を示す図である。本発実施形態においては、次段回路として、第1の実施形態におけるNAND回路の替わりにNOR回路を用いている。
【0023】
図5に示すように、この入力回路は、電源電圧HVDDが供給されたときに動作する入力バッファ10と、電源電圧HVDDが供給されているか否かを検出する電源電圧検出回路30と、電源電圧LVDDが供給されて動作する次段回路50とを有している。
【0024】
次段回路50としては、電源電圧LVDDが供給されたときに、2つの入力端子に入力される信号の論理和を反転して出力するNOR回路が用いられている。次段回路50の一方の入力端子には、入力バッファ10から出力される信号が供給され、次段回路50の他方の入力端子には、電源電圧検出回路30から出力される反転制御信号CNバーが供給される。
【0025】
電源電圧HVDDが供給されていることが検出され、反転制御信号CNバーがローレベルであるときに、次段回路50は、入力バッファ10から入力された信号を反転して内部回路に供給する。一方、電源電圧HVDDが供給されていないことが検出され、反転制御信号CNバーがハイレベルであるときに、次段回路40は、出力をローレベルに固定する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態における入力回路の構成を示す図。
【図2】電源電圧検出回路の具体的な回路例を示す図。
【図3】入力バッファの具体的な回路例を示す図。
【図4】次段回路の具体的な回路例を示す図。
【図5】本発明の第2の実施形態における入力回路の構成を示す図。
【図6】従来の半導体集積回路における入力回路の例を示す図。
【符号の説明】
10 入力バッファ、 30 電源電圧検出回路、 31 インバータ、 40、50 次段回路、 PD 外部入力端子(パッド)、 R1 抵抗、 QP31〜QP42 PチャネルMOSトランジスタ、 QN21〜QN42 NチャネルMOSトランジスタ
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般に、ICやLSI等の半導体集積回路に関し、特に、複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、各種の電子機器の高速動作や低消費電力を実現するために、これらの電子機器において使用されるICやLSI等の半導体集積回路の高集積化や低電圧化が進んでいる。しかし、全ての半導体集積回路の動作電圧を一律に低電圧化することは、デバイス固有の特性を考慮すると、極めて困難である。従って、異なる電源電圧で動作する複数の半導体集積回路が互いに接続される場合が生じる。
【0003】
そのような場合に対応するために、高い電源電圧が供給されて動作する入力バッファと低い電源電圧が供給されて動作する次段回路とを含む入力回路を有する半導体集積回路が開発されている。図6に、従来の半導体集積回路における入力回路の例を示す。この例においては、入力バッファ及び次段回路として、インバータが用いられている。
【0004】
図6に示す入力回路は、高い電源電圧HVDD(例えば、3.3V)が供給される入力バッファ10と、低い電源電圧LVDD(例えば、1.8V)が供給される次段回路20とを含んでいる。外部回路から外部入力端子(パッド)PDを介して入力バッファ10に入力信号が供給されると、入力バッファ10は、この入力信号に基づいて電流増幅を行い、出力信号を次段回路20に供給する。
【0005】
このような半導体集積回路において、外部回路とのアクセスを行わないときには、消費電力低減等の理由により、電源電圧LVDDが供給されたまま電源電圧HVDDの供給が停止される場合がある。そのような場合には、入力バッファ10の出力がハイインピーダンス状態となるので、次段回路20の入力電位が不定状態となってしまう。その電位によっては、次段回路20において直列接続されているPチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルMOSトランジスタの両方が共にオンして、貫通電流I0が流れてしまうという問題があった。
【0006】
ところで、下記の特許文献1には、多電源系をもつ半導体集積回路の電源電圧オフ時のICの出力を安定させるために、制御電圧検出回路を出力電源系で構成し、その出力をレベルホールド回路の出力に接続される出力固定回路へ入力するようにした半導体集積回路が開示されている。しかしながら、特許文献1には、入力回路の動作を安定させることについては開示されていない。
【0007】
【特許文献1】
特開平6−19412号公報(第1頁、図1)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、上記の点に鑑み、本発明の目的は、複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路において、入力バッファに電源電圧が供給されていない場合に、次段回路に貫通電流が流れないようにすることである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
以上の課題を解決するため、本発明に係る半導体集積回路は、複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路であって、第1の電源電圧が供給されたときに、入力端子に入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファと、第1の電源電圧が供給されているか否かを検出する検出回路と、第2の電源電圧が供給されて動作する次段回路であって、第1の電源電圧が供給されていることを検出回路が検出したときに、入力バッファから出力される信号に基づいて信号を出力し、第1の電源電圧が供給されていないことを検出回路が検出したときに、出力レベルを固定する次段回路とを具備する。
【0010】
ここで、検出回路が、第2の電源電圧に一端が接続されたインピーダンス素子と、インピーダンス素子の他端にドレインが接続され、第1の電源電圧がゲートに供給されてスイッチング動作を行うトランジスタとを含むようにしても良い。
また、入力バッファが、直列に接続されたPチャネルトランジスタ及びNチャネルトランジスタによって構成されるインバータを含むようにしても良い。
【0011】
さらに、次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにハイレベルとなる制御信号と入力バッファから出力される信号との論理積を反転して出力するNAND回路を含むようにしても良い。あるいは、次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにローレベルとなる制御信号と入力バッファから出力される信号との論理和を反転して出力するNOR回路を含むようにしても良い。
以上において、第1の電源電圧が、第2の電源電圧よりも高くなるようにしても良い。
【0012】
以上の様に構成した本発明によれば、第1の電源電圧が供給されていないことを検出回路が検出したときに、次段回路の出力レベルを固定するようにしたので、入力バッファに第1の電源電圧が供給されていない場合に、次段回路に貫通電流が流れないようにすることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の要素には同一の番号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体集積回路に含まれている入力回路の構成を示す図である。この半導体集積回路は、複数の電源電圧として、第1の電源電圧HVDD(本実施形態においては、3.3Vとする)と、第2の電源電圧LVDD(本実施形態においては、1.8Vとする)とが供給されて動作する。
【0014】
図1に示すように、この半導体集積回路に含まれている入力回路は、電源電圧HVDDが供給されたときに、外部回路から外部入力端子(パッド)PDに入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファ10と、電源電圧HVDDが供給されているか否かを検出する電源電圧検出回路30と、電源電圧LVDDが供給されて動作する次段回路40とを有している。
【0015】
電源電圧検出回路30は、図2に示すように、電源電圧LVDDに一端が接続されたインピーダンス素子としての抵抗R1と、抵抗R1の他端にドレインが接続され、電源電圧HVDDがゲートに供給されてスイッチング動作を行うNチャネルMOSトランジスタQN21と、トランジスタQN21のドレインに接続され、電源電圧LVDDが供給されて動作するインバータ31とを含んでいる。
【0016】
ここで、電源電圧HVDDが供給されているときには、トランジスタQN21がオンして、トランジスタQN21のドレインから出力される反転制御信号CNバーがローレベルとなり、インバータ31から出力される制御信号CNがハイレベルとなる。一方、電源電圧HVDDが供給されていないときには、トランジスタQN21がオフして、トランジスタQN21のドレインから出力される反転制御信号CNバーがハイレベルとなり、インバータ31から出力される制御信号CNがローレベルとなる。
【0017】
入力バッファ10としては、図3に示すように、直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタQP31とNチャネルMOSトランジスタQN31とによって構成されるインバータが用いられている。このインバータは、電源電圧HVDDが供給されたときに、入力端子に入力される信号Aを反転して、出力信号Xとして出力する。
【0018】
次段回路40としては、図4に示すように、PチャネルMOSトランジスタQP41及びQP41とNチャネルMOSトランジスタQN41及びQN41とによって構成されるNAND回路が用いられている。このNAND回路は、電源電圧LVDDが供給されたときに、2つの入力端子に入力される信号B1及びB2の論理積を反転して、出力信号Yとして出力する。
【0019】
再び図1を参照すると、次段回路40の一方の入力端子には、入力バッファ10から出力される信号が供給され、次段回路40の他方の入力端子には、電源電圧検出回路30から出力される制御信号CNが供給される。
【0020】
電源電圧HVDDが供給されていることが検出され、制御信号CNがハイレベルであるときに、次段回路40は、入力バッファ10から入力された信号を反転して内部回路に供給する。一方、電源電圧HVDDが供給されていないことが検出され、制御信号CNがローレベルであるときに、次段回路40は、出力をハイレベルに固定する。
【0021】
このような入力回路によれば、電源電圧LVDDが供給されたまま電源電圧HVDDの供給が停止される場合においても、次段回路において貫通電流I0が流れてしまうおそれがなくなる。
【0022】
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図5は、本発明の第2の実施形態に係る半導体集積回路に含まれている入力回路の構成を示す図である。本発実施形態においては、次段回路として、第1の実施形態におけるNAND回路の替わりにNOR回路を用いている。
【0023】
図5に示すように、この入力回路は、電源電圧HVDDが供給されたときに動作する入力バッファ10と、電源電圧HVDDが供給されているか否かを検出する電源電圧検出回路30と、電源電圧LVDDが供給されて動作する次段回路50とを有している。
【0024】
次段回路50としては、電源電圧LVDDが供給されたときに、2つの入力端子に入力される信号の論理和を反転して出力するNOR回路が用いられている。次段回路50の一方の入力端子には、入力バッファ10から出力される信号が供給され、次段回路50の他方の入力端子には、電源電圧検出回路30から出力される反転制御信号CNバーが供給される。
【0025】
電源電圧HVDDが供給されていることが検出され、反転制御信号CNバーがローレベルであるときに、次段回路50は、入力バッファ10から入力された信号を反転して内部回路に供給する。一方、電源電圧HVDDが供給されていないことが検出され、反転制御信号CNバーがハイレベルであるときに、次段回路40は、出力をローレベルに固定する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態における入力回路の構成を示す図。
【図2】電源電圧検出回路の具体的な回路例を示す図。
【図3】入力バッファの具体的な回路例を示す図。
【図4】次段回路の具体的な回路例を示す図。
【図5】本発明の第2の実施形態における入力回路の構成を示す図。
【図6】従来の半導体集積回路における入力回路の例を示す図。
【符号の説明】
10 入力バッファ、 30 電源電圧検出回路、 31 インバータ、 40、50 次段回路、 PD 外部入力端子(パッド)、 R1 抵抗、 QP31〜QP42 PチャネルMOSトランジスタ、 QN21〜QN42 NチャネルMOSトランジスタ
Claims (6)
- 複数の電源電圧が供給されて動作する半導体集積回路であって、
第1の電源電圧が供給されたときに、入力端子に入力される信号に基づいて信号を出力する入力バッファと、
第1の電源電圧が供給されているか否かを検出する検出回路と、
第2の電源電圧が供給されて動作する次段回路であって、第1の電源電圧が供給されていることを前記検出回路が検出したときに、前記入力バッファから出力される信号に基づいて信号を出力し、第1の電源電圧が供給されていないことを前記検出回路が検出したときに、出力レベルを固定する前記次段回路と、
を具備する半導体集積回路。 - 前記検出回路が、
第2の電源電圧に一端が接続されたインピーダンス素子と、
前記インピーダンス素子の他端にドレインが接続され、第1の電源電圧がゲートに供給されてスイッチング動作を行うトランジスタと、
を含む、請求項1記載の半導体集積回路。 - 前記入力バッファが、直列に接続されたPチャネルトランジスタ及びNチャネルトランジスタによって構成されるインバータを含む、請求項1又は2記載の半導体集積回路。
- 前記次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにハイレベルとなる制御信号と前記入力バッファから出力される信号との論理積を反転して出力するNAND回路を含む、請求項1〜3のいずれか1項記載の半導体集積回路。
- 前記次段回路が、第1の電源電圧が供給されているときにローレベルとなる制御信号と前記入力バッファから出力される信号との論理和を反転して出力するNOR回路を含む、請求項1〜3のいずれか1項記載の半導体集積回路。
- 前記第1の電源電圧が、前記第2の電源電圧よりも高い、請求項1〜5のいずれか1項記載の半導体集積回路。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003155873A JP2004363640A (ja) | 2003-05-30 | 2003-05-30 | 半導体集積回路 |
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|---|---|---|---|
| JP2003155873A JP2004363640A (ja) | 2003-05-30 | 2003-05-30 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004363640A true JP2004363640A (ja) | 2004-12-24 |
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ID=34050147
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP (1) | JP2004363640A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1684430A1 (en) * | 2005-01-24 | 2006-07-26 | Fujitsu Limited | Buffer circuit and integrated circuit |
| US7567111B2 (en) | 2005-06-14 | 2009-07-28 | Seiko Epson Corporation | Potential fixing circuit for integrated circuit having multiple supply potentials |
-
2003
- 2003-05-30 JP JP2003155873A patent/JP2004363640A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1684430A1 (en) * | 2005-01-24 | 2006-07-26 | Fujitsu Limited | Buffer circuit and integrated circuit |
| US7414442B2 (en) | 2005-01-24 | 2008-08-19 | Fujitsu Limited | Buffer circuit and integrated circuit |
| US7567111B2 (en) | 2005-06-14 | 2009-07-28 | Seiko Epson Corporation | Potential fixing circuit for integrated circuit having multiple supply potentials |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060801 |