[go: up one dir, main page]

JP2004349139A - Ion trap mass spectrometer - Google Patents

Ion trap mass spectrometer Download PDF

Info

Publication number
JP2004349139A
JP2004349139A JP2003145599A JP2003145599A JP2004349139A JP 2004349139 A JP2004349139 A JP 2004349139A JP 2003145599 A JP2003145599 A JP 2003145599A JP 2003145599 A JP2003145599 A JP 2003145599A JP 2004349139 A JP2004349139 A JP 2004349139A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
ions
ion trap
parameter setting
display screen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003145599A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshihiro Ishizuka
利博 石塚
Masaru Tomioka
勝 富岡
Shinji Nagai
伸治 永井
Tsukasa Shishika
司 獅子鹿
Toyoji Okumoto
豊治 奥本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp, Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2003145599A priority Critical patent/JP2004349139A/en
Publication of JP2004349139A publication Critical patent/JP2004349139A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

【課題】パラメータの設定値を容易に設定することが出来るイオントラップ質量分析装置を提供する。
【解決手段】イオントラップ質量分析装置において、表示部は、少なくともリング電極に印加する主RF電圧とエンドキャップに印加する補助RF電圧を時間軸に沿ってグラフ化して表示し設定するためのパラメータ設定画面と、a=−8eU/
mr Ωとq=−4eV/mr Ω の2軸で表されるマチューの安定領域を表示する安定領域表示画面が表示され、制御部は、前記パラメータ設定画面の質量分析を行う期間における前記主RF電圧及び補助RF電圧の設定値から共鳴イオンを算出し、前記安定領域表示画面に当該算出された共鳴イオンが表される線分を重畳表示する。
【効果】パラメータ設定が原理的に最適な設定になっているかを容易に確認しながら設定することが出来る。
【選択図】 図1
An ion trap mass spectrometer capable of easily setting parameter setting values is provided.
In an ion trap mass spectrometer, a display unit sets a parameter for displaying and setting at least a main RF voltage applied to a ring electrode and an auxiliary RF voltage applied to an end cap in a graph along a time axis. Screen and az = -8eU /
A stable area display screen displaying a stable area of Mathieu represented by two axes of mr 0 2 Ω 2 and q z = -4 eV / mr 0 2 Ω 2 is displayed, and the control unit performs mass analysis on the parameter setting screen. The resonance ions are calculated from the set values of the main RF voltage and the auxiliary RF voltage during the period of performing the above, and the line segment representing the calculated resonance ions is superimposed on the stable region display screen.
[Effect] The parameter can be set while easily confirming whether the parameter setting is optimally set in principle.
[Selection diagram] Fig. 1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、質量分析装置に関する。特に、イオントラップ技術を用いる質量分析装置の制御,分析パラメータ設定に関する。
【0002】
【従来の技術】
イオントラップ質量分析装置は、1950年代にDr. Paulにより発明され、その後、多くの研究者やメーカーにより、イオントラップ質量分析装置に関して様々な改良が成されてきた。例えば,マススペクトルの取得の基本的手法は、下記特許文献1に示されている。更に下記特許文献2や特許文献3には、補助交流電圧(Supplementary AC voltage)を印加してイオンを共鳴的に放出して検出する方法が開発された。また、イオントラップ空間に圧力1mTorr(10−3Torr)程度のHeガスを導入することで、分解能や感度が大幅に改善されることも示された。
【0003】
現在使用されているイオントラップ質量分析装置には、MS/MS測定やMS測定など様々な測定を行うことができ、それに応じて、イオントラップ内に蓄積する質量範囲の指定,特定質量数範囲以外の質量数のイオンをイオントラップ電極外へ排出するアイソレーションの指定,積算時間や回数,MS/MS時のCID(Collision−induced dissociation:衝突誘起解離)電圧など、非常に多くの測定用のパラメータを設定する必要がある。
【0004】
イオントラップ質量分析装置において、最も基本的なものは、下記特許文献2のFig.2や特許文献3の図2にも示されている安定化包絡線(いわゆるMathieu安定曲線である。)であり、a=−(8eU)/(mr ω),q=(4eV)/(mr ω)の2式で表される。この線内が安定領域とされ、イオントラップ電極の大きさ、及び印加される電圧によってこれらのパラメータが決まり、イオンがイオントラップ空間内にトラップされるか否かが決まる。
【0005】
【特許文献1】
米国特許第4,540,884号
【特許文献2】
米国特許第4,736,101号
【特許文献3】
特開平6−76790号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
現在の装置においては、これら数々のパラメータの設定方法は、予め装置に標準で用意されているパラメータを使用するか、またはこの標準で用意されたパラメータの数値を使用者が変更することで行われる。
【0007】
使用者がパラメータを設定する場合、装置に付属のデータ処理装置のモニタ及び入力装置(キーボード,ポインティングデバイスなど)を用いて、パラメータの数値を直接入力することで設定変更が行われることが通常である。しかしながら、数値を入力するのみでは、そのパラメータが原理的に最適な設定になっているかどうかの確認を使用者が認識するのは困難である。
【0008】
さらに、イオンをイオントラップ電極から質量分散させて出射させる際に、イオントラップ電極への印加電圧をスキャンするが、このスキャン時の条件を変更しようとした時に、現在の装置では、使用者が自らの意図するような条件で自由にスキャン条件を組む事が容易に出来なかった。この場合、使用者は、スキャン条件のプログラムそのものを変更しなければならなかった。そのため、新たに所望のスキャン条件のプログラムを多大な労力を掛けて作成しなければならなかった。
【0009】
さらに、新たなスキャン条件のプログラムを組んでも、装置上の電源電圧の制約,メモリの制約などがあり、また、これらの制約を満たしても、測定対象のイオンを安定な状態で効率良く溜め込みイオントラップから出射するための条件、すなわち原理的に最適な条件の検討(即ち、Mathieu の安定曲線等に適合した条件なのか)も容易ではなかった。
【0010】
上記従来技術では、パラメータ設定に対する原理的な最適値の確認手段、パラメータ設定に対するスキャンプログラムの生成機能がなく、使用者が自由にスキャン方式、パラメータを変更することへの配慮がされておらず、スキャン方式の変更などによる分析の妨げとなる問題があった。
【0011】
本発明の目的は、分析に使用する適切なパラメータの設定値を容易に設定することが出来るイオントラップ質量分析装置を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するための本発明の特徴は、リング電極と一対のエンドキャップ電極を有し、当該電極に高周波電圧を印加することでイオンをトラップするトラップ空間を形成するイオントラップ部と、当該イオントラップ部から排出されたイオンを検出する検出部と、前記イオントラップへの印加電圧の制御を行う制御部と、前記検出部によって得られる検出結果および前記イオントラップ部への印加電圧の設定値を表示する表示部を有するイオントラップ質量分析装置において、前記表示部は、少なくとも前記リング電極に印加する主RF電圧と前記エンドキャップに印加する補助RF電圧を時間軸に沿ってグラフ化して表示し設定するためのパラメータ設定画面と、a=−8eU/mr Ωとq=−4eV/mr Ω(当該数式において、U=DC電圧,V=RF電圧,m=質量,e=電荷,Ω=RF周波数,r =イオントラップ空間の回転半径とする。)の2軸で表されるマチューの安定領域を表示する安定領域表示画面が表示され、前記制御部は、前記パラメータ設定画面の質量分析を行う期間における前記主RF電圧及び補助RF電圧の設定値から共鳴イオンを算出し、前記安定領域表示画面に当該算出された共鳴イオンが表される線分を重畳表示することである。
【0013】
上記構成により、パラメータ設定が原理的に最適な設定になっているかを容易に確認しながら設定することが出来る。
【0014】
【発明の実施の形態】
本発明の実施例を図1,図3を用いて説明する。
【0015】
図3は本発明が適用されるイオントラップ質量分析装置の概略構成図である。イオントラップは、対向して配置された2つのエンドキャップ電極3111と3112と、このエンドキャップ電極間に配置されたリング電極301から構成される。これらの電極へ電圧を印加することにより、電極に囲まれた空間にイオンを蓄積することの出来るイオントラップ空間が形成される。リング電極301には、RF電圧111がRFジェネレータ及びアンプ303から印加される。同様に、エンドキャップ電極3111と3112には、補助RFジェネレータ及びアンプ313からAUX(補助電界)電圧121が印加される。RFジェネレータ及びアンプ303及び補助RFジェネレータ及びアンプ313の制御は、制御部330によって成される。イオントラップへの印加電圧の制御により、イオンの蓄積,排出の制御が行われる。
【0016】
イオントラップ空間に外部から導入されるか、又はイオントラップ空間内部で生成されたイオンは、イオントラップ空間で蓄積された後、各電極への印加電圧の制御により、イオントラップ空間から排出される。排出されたイオンは、エンドキャップ電極3112に空けられた出射口より出射し、検出器321で検出される。検出信号はプリ・アンプ322で増幅され、制御部330に取り込まれ、データ処理が行われ、モニタ画面331に検出結果として表示される。
【0017】
図1は、本装置で質量分析を行う場合のモニタ画面331に表示されるスキャン設定画面の例である。パラメータ設定画面101と測定信号表示画面102から構成されている。尚、以降に説明するモニタ画面331における表示画面の制御や、オペレータからの指示入力に基づくパラメータの再計算などの演算は、全て制御部330によって行われる。
【0018】
パラメータ設定画面101は、MSの分析を行う場合の設定例を示しており、リング電極301に印加されるRF電圧111及びDC電圧112と、エンドキャップ電極3111,3112に印加されるAUX(補助電界)電圧121及びDC電圧122が設定される。それぞれ、横軸が時間、縦軸が電圧値で示される。このパラメータ設定画面101では、時間軸上で早い時間帯(左側)から順に、イオンのインジェクション期間(イオントラップ空間へイオンを導入する期間)114,アイソレーション期間(必要なイオンのみをトラップし、不要なイオンを排除する期間)115,アクティベーション期間(トラップされているイオンを開裂させるMS/MSを行う期間)116,マス・アナリシス期間(質量分析を行う期間)117に分けられ、それぞれの期間において、図に示すようにリング及ぶエンドキャップ電極に印加する電圧が設定されている。この表示でそれぞれ太い実線で示している電圧値が任意に設定出来るパラメータとなる。具体的には、マウス等のポインティングデバイスによってマウスカーソル(図示せず)を変更したい箇所の実線へ移動させドラッグし、任意の箇所へ移動後ドロップすることで設定値を変更することが出来る。
【0019】
また、RF電圧111及びDC電圧112とAUX(補助電界)電圧121及びDC電圧122は同一画面で同一時間軸上に配置する。これによって設定の誤りを防止し、時間タイミングも容易に正確に設定可能となる。
【0020】
さらに、この画面内には、信号取り込みボタン201と安定領域表示ボタン202を配置している。例えば、RF電圧111のアイソレーション期間115の電圧設定値を破線1151のように変更する場合、使用者がポインティングデバイスを用いてドラッグ&ドロップによって設定線を変更した後、信号取り込みボタン201を押すと、変更後の電圧値が予め格納されている装置の許容電圧と比較される。変更後の電圧が装置の許容電圧内であれば、変更された後の設定線を分析プログラムとして登録し、分析を実行する。変更後の電圧が装置の許容電圧を越えている場合には、設定パラメータに対するエラー・メッセージ103で示すように「アイソレーション電圧が高すぎます。××V以下の電圧に設定して下さい。」と表示する。また、条件によっては、「RF電圧が高過ぎます。」や「AUX電圧が高過ぎます。」や「RF電圧とAUX電圧との正負の整合が取れていません。」等の表示を行う。
【0021】
パラメータ設定画面101で設定された条件に沿って分析が行われ、イオンの検出が行われると、m/z(質量対電荷比)が取得された順に測定信号表示画面102に表示される。測定信号表示画面102は、縦軸が信号強度、横軸が時間である。図1では、スペクトル1341,1342,1343が取得された場合の例を示している。パラメータ設定画面101と測定信号表示画面102の時間軸は同一となるように表示されている。
【0022】
尚、パラメータ設定画面101と測定信号表示画面102は同一画面上ではなく、それぞれ独立したウィンドウに表示するようにしても良いし、パラメータ変更毎に測定データを保存し並列に表示しても良い。また、測定データを信号強度軸,時間軸のそれぞれもしくは、両方を拡大,縮小し表示する機能を有しても良い。また、測定データ毎に同時に測定パラメータを保存する機能を有していても良い。また、設定パラメータ毎にパラメータ設定画面101に名前を付けて保存する機能を有しても良い。これにより、標準プロトコールとして呼び出し、これの一部を変更する事で容易に所望のパラメータに使用可能となる。
【0023】
パラメータ設定画面101の安定領域表示ボタン202を押した場合について説明する。
【0024】
まず、イオンの安定領域について説明する。
【0025】
マチュー(Mathieu)の方程式からイオンの挙動は、次のようになる。
【0026】
u/dξ+(a+2qcos2ξ)u=0
u=x,y,z
ξ=Ωt/2
+y=r
=−2a=−2a=−16eU/m(r +2z )Ω
=−2q=−2q=−8eV/m(r +2z )Ω
=r/√2(ピュアなクアドラポールの時)
=−2a=−2a=−8eU/mr Ω …(1)
=−2q=−2q=−4eV/mr Ω …(2)
ここで、U=DC電圧,V=RF電圧,m=質量(mass),e=電荷(charge),Ω=RF周波数,r=イオントラップ空間の回転半径(radial radius),
=イオントラップ空間の軸半径(axial radius)である。
【0027】
以上により、測定対象のイオンは式1,2に従い、あるa値とq値を持つ。これらa、q値からイオンがトラップ内に安定に捕捉されるか、不安定になるかは簡単に求められる。もし、a値q値が共にマチューの安定領域内に位置するなら、イオンは安定に捕捉される。もしa値かq値のどちらか、または両方とも安定領域の外に位置した場合、イオンは不安定となり,電極に衝突するかトラップ外に放出されたりしてイオンは消滅する。
【0028】
図4を用いて説明する。図4は、安定領域表示ボタン202を押した後に表示される安定領域表示画面400であり、マチューの安定領域が表示される。横軸は、(2)式で示すq軸、縦軸は(1)式で示すa軸である。安定領域410は、前述のrの安定領域、zの安定領域に囲まれた範囲であり、βr=0のライン411,βz=1のライン412,βr=1のライン413,βz=0のライン414に囲まれた範囲である。
【0029】
ここで、図1のマス・アナリシス期間117では、RF電圧111とAUX(補助電界)電圧121との関係で、イオンが出射される共鳴点が変化していく。そこで、安定領域表示画面400が表示される際には、マス・アナリシス期間117におけるRF電圧設定値1171,DC電圧設定値128,AUX電圧設定値127及びDC電圧設定値129から質量掃引における共鳴出射ポイントが自動的に計算され、図4の安定領域内にU/V=y(一定値)430の直線として自動的に表示する。
【0030】
また、RF電圧設定値1171上に、オペレータがマウス等のポインティングデバイスを用いて任意のポイントを指定すると、指定したポイントで共鳴出射されるイオンと同じイオンの位置が連動して安定領域表示画面400上にも表示される。例えばRF電圧設定値1171上でポイント1191,ポイント1192,ポイント1193が指定されると、各ポイントでは、それぞれm/z=x1,m/z=x2,m/z=x3(x1<x2<x3)のイオンが共鳴するものとする。安定領域表示画面400上では、U/V=0の場合には、x1,x2,x3の各イオンに対応するポイント420,ポイント421,ポイント422が共鳴出射ポイントとして表示される。このような表示を行うことにより、マス・アナリシス期間117のどの部分までが安定領域410内であり、どこまでのイオンが安定にトラップされるのかを容易に知ることが出来る。
【0031】
また、U/V=y(一定値)430の場合には、共鳴出射ポイントは、図示で示すようにそれぞれポイント4201,ポイント4211,ポイント4221となりポイント4201,ポイント4211は安定領域内であるがポイント4221は安定領域外である事が分かり、m/z=x1,m/z=x2はトラップされるがm/z=x3はトラップされないことが分かる。そこで、x1,x2,x3の全てのイオンをトラップしたい場合、U/V=y(一定値)430のyの直線を使用者がマウスカーソルを用いたドラッグ&ドロップにより、値を変えて、すなわちU/Vの直線の傾きを任意に変えて、ポイント4201,ポイント4211,ポイント4221が全て安定領域内に入るようにすれば良い。
【0032】
直線yの片端は、a=q=0のポイントに固定であるため、直線yは、a=q=0 のポイントを中心軸にして回転させるように変更することが出来る。このように、直線yの位置を変更することにより、トラップすべきイオンを容易に設定することが出来る。
【0033】
一方、図4の安定領域表示画面400内で設定したU/V=yに連動して、図1で示すマス・アナリシス期間117内のRF電圧設定値1171,DC電圧設定値128,AUX電圧設定値127及びDC電圧設定値129の電圧はそれぞれ自動的に変更される。例えば、RF電圧設定値1171の電圧印加パターンが固定の場合は、AUX電圧設定値127の電圧印加パターンを自動的に変更する。AUX電圧設定値127の電圧印加パターンが固定の場合は、RF電圧設定値1171及びDC電圧設定値128の電圧印加パターンを自動的に変更する。また、安定領域表示画面400内のU/V=y(一定値)430がU/V=0で設定された場合には、DC電圧設定値128及び129は、電圧値0に設定される。安定領域表示画面400には、基準電圧選択ボックス450が設けられており、RF電圧かAUX電圧の何れかのチェックボックスをチェックすることで固定する電圧を選択する。「再計算」のボックスを押下することで、上記のRF電圧設定値1171あるいはAUX電圧設定値127の変更を行う。
【0034】
また、マス・アナリシス期間117のRF電圧設定値1171の隣には、質量数をある範囲で指定する質量数指定バー1194が設けられており、このバーの範囲をポインティングデバイスによってオペレータが操作,指定することで、図4の安定領域表示画面400で表示すべき共鳴出射ポイントを点ではなく、所定の範囲として指定することが出来る。安定領域表示画面400においては、共鳴出射領域423が質量数指定バー1194で指定された領域に対応するものである。
【0035】
また、測定信号表示画面102には、パラメータ設定画面101の質量数指定バー1194の指定範囲に連動して表示される質量数確認バー1195が設けられる。質量数指定バー1194の質量範囲が変更されると、この範囲に応じて、質量数確認バー1195も範囲(横方向の長さ)が変更されるように表示される。この質量数確認バー1195を表示することにより、検出の結果得られたマススペクトルの内、どのスペクトルが質量数指定バー1194で指定した範囲であるのかを容易に確認することが出来、また質量数(m/z)と時間軸との対応も分かり、便利である。
【0036】
以上のように、パラメータ設定画面101と安定領域表示画面400を用いることで、トラップ可能なイオンを確認しながらパラメータを設定することができ、効率良く最適なパラメータを設定して分析することが可能となる。
【0037】
また、本発明の第2の実施例を図2を用いて説明する。本例では、パラメータ設定画面101において、変更したRF電圧設定値1171を設定した例であり、直線ではなく曲線となっている。当然不連続に変化させる折れ線であっても、任意の時間関数であれば設定可能である。よって、図4の安定領域表示画面400に示すように、自動的に計算してU/V=y(t)431のような曲線を表示する。前述と同様にU/V=y(t)431の形状をマウス等のポインティングデバイスによってドラッグなどして変更することで、自動的に計算してパラメータ設定画面101のRF電圧設定値1171,DC電圧設定値128,AUX電圧設定値127、及びDC電圧設定値129の電圧設定値を変更することができる。
【0038】
本発明の第3の実施例を図5を用いて説明する。
【0039】
図5の例では、グラフの軸は、縦軸がDC電圧(U)軸、横軸がRF電圧(V)軸としている。
【0040】
前述の式(1),(2)から
U=amr Ω/8e=−amr Ω/8e
V=qmr Ω/4e=−qmr Ω/4e
と表すことができ、U軸,V軸での質量数に対応したイオンの安定領域の表示を行ったものである。
【0041】
この例では、パラメータ設定は前述と同様に図1のパラメータ設定画面101で行い、安定領域表示ボタン202を押すことで、図5の安定領域表示画面4001が表示されるものとする。尚、図4の安定領域表示画面400と併用しても良い。
【0042】
図5の場合では、各質量数毎に安定領域の図形の大きさが相似的に異なる。例えば、x1<x2<x3の場合、質量数m/z=x1の安定領域415,質量数m/z=x2の安定領域416,質量数m/z=x3の安定領域417となる。ここで、U/V=0の場合、共鳴出射ポイントは、それぞれポイント420,421,422となる。また、U/V=y(一定値)430の直線の場合には、質量数m/z=x1,m/z=x2,m/z=x3の共鳴出射ポイントは、それぞれポイント4201,4211,4221となり、ポイント4221が安定領域外であるためトラップされないのが分かる。安定領域表示画面4001のU/V直線430とパラメータ設定画面101のAUX電圧設定値127の電圧パターンないしRF電圧設定値1171のパターンとの自動変更の関係は前述と同様である。
【0043】
本例は、イオントラップ質量分析装置ではなく、オクタポールでのイオンの透過を検討し、同時にオクタポールにおけるイオンのトラップを検討する場合に便利である。
【0044】
【発明の効果】
本発明によれば、新たなスキャンを行う場合に、RF電圧などのパラメータ設定が原理的に最適な設定になっているかを容易に確認しながら設定することが出来る。また、マチューの安定領域を用いて設定を変更した場合でも、パラメータにフィードバックさせ変更することができ、容易にパラメータの設定変更が可能である。
【0045】
以上により、パラメータ設定作業における操作効率の大幅な短縮を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】パラメータ設定画面と信号表示画面の例を示す図である。
【図2】パラメータ設定画面と信号表示画面の別の例を示す図である。
【図3】本発明で用いる装置の概略構成図である。
【図4】イオン安定領域の表示画面例を示す図である。
【図5】イオン安定領域の別の表示画面例を示す図である。
【符号の説明】
101…パラメータ設定画面、102…測定信号表示画面、103…エラー・メッセージ、111…RF電圧、114…インジェクション期間、115…アイソレーション期間、116…アクティベーション期間、117…マス・アナリシス期間、121…AUX(補助電界)電圧、126,127…AUX電圧設定値、131…測定信号(マススペクトル)、201…信号取り込みボタン、202…安定領域表示ボタン、301…リング電極、303…RFジェネレータ及びアンプ、313…補助RFジェネレータ及びアンプ、321…検出器、322…プリ・アンプ、330…制御部、331…モニタ画面、400,4001…安定領域表示画面、1171…RF電圧設定値、1194…質量数指定バー、3111,3112…エンドキャップ電極。
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a mass spectrometer. In particular, it relates to control of a mass spectrometer using an ion trap technique and analysis parameter setting.
[0002]
[Prior art]
Ion trap mass spectrometers were introduced in the 1950's by Dr. It was invented by Paul, and since then many researchers and manufacturers have made various improvements on ion trap mass spectrometers. For example, a basic method of acquiring a mass spectrum is disclosed in Patent Document 1 below. Further, in Patent Documents 2 and 3 below, a method has been developed in which an auxiliary AC voltage (Supplementary AC voltage) is applied to detect ions by resonating them. It was also shown that the introduction of He gas at a pressure of about 1 mTorr (10 −3 Torr) into the ion trap space significantly improved the resolution and sensitivity.
[0003]
The ion trap mass spectrometer in current use, it is possible to perform a variety of measurements such as MS / MS measurement and MS n measurements, accordingly, the specified mass range to accumulate in the ion trap, a particular mass range A large number of measurements, such as the designation of isolation for discharging ions with mass numbers other than those outside the ion trap electrode, the integration time and number of times, and the CID (Collision-induced dissociation) voltage during MS / MS. You need to set parameters.
[0004]
The most basic ion trap mass spectrometer is shown in FIG. 2 and a stabilizing envelope (so-called Mathieu stability curve) also shown in FIG. 2 of Patent Document 3, where az = − (8 eU) / (mr 0 2 ω 2 ) and q z = ( 4 eV) / (mr 0 2 ω 2 ). The inside of this line is a stable region, and the size of the ion trap electrode and the applied voltage determine these parameters, and determine whether or not ions are trapped in the ion trap space.
[0005]
[Patent Document 1]
US Patent No. 4,540,884 [Patent Document 2]
US Patent No. 4,736,101 [Patent Document 3]
JP-A-6-76790
[Problems to be solved by the invention]
In the current device, the setting method of these various parameters is performed by using a parameter prepared as a standard in the device in advance or by changing the numerical value of the parameter prepared in the standard by the user. .
[0007]
When a user sets a parameter, the setting is usually changed by directly inputting a numerical value of the parameter using a monitor and an input device (a keyboard, a pointing device, etc.) of a data processing device attached to the device. is there. However, it is difficult for the user to recognize whether or not the parameters are optimally set in principle only by inputting numerical values.
[0008]
Furthermore, when ions are mass-dispersed and emitted from the ion trap electrode, the voltage applied to the ion trap electrode is scanned. It was not easy to freely set the scanning conditions under the conditions intended by the company. In this case, the user has to change the scan condition program itself. Therefore, it is necessary to newly create a program with desired scanning conditions with a great deal of effort.
[0009]
Furthermore, even if a program for a new scan condition is set, there are restrictions on the power supply voltage on the apparatus and restrictions on the memory. Even when these restrictions are satisfied, ions to be measured are stored efficiently in a stable state and efficiently. It was not easy to study conditions for emission from the trap, that is, conditions that were optimal in principle (that is, conditions suitable for Mathieu's stability curve, etc.).
[0010]
In the above prior art, there is no means for confirming the principle optimum value for the parameter setting, and there is no function of generating a scan program for the parameter setting, and no consideration is given to the user freely changing the scanning method and parameters. There was a problem that hindered analysis due to a change in the scanning method.
[0011]
An object of the present invention is to provide an ion trap mass spectrometer capable of easily setting appropriate parameter setting values used for analysis.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
A feature of the present invention for achieving the above object is that an ion trap portion having a ring electrode and a pair of end cap electrodes, and forming a trap space for trapping ions by applying a high-frequency voltage to the electrode, A detection unit for detecting ions discharged from the ion trap unit, a control unit for controlling the voltage applied to the ion trap, a detection result obtained by the detection unit, and a set value of the voltage applied to the ion trap unit In the ion trap mass spectrometer having a display unit for displaying, the display unit graphs and displays at least a main RF voltage applied to the ring electrode and an auxiliary RF voltage applied to the end cap along a time axis. a parameter setting screen for setting, a z = -8eU / mr 0 2 Ω 2 and q z = -4eV / mr 0 2 Ω Mathieu represented by two axes of 2 (where U = DC voltage, V = RF voltage, m = mass, e = charge, Ω = RF frequency, and r 0 = rotational radius of the ion trap space). A stable area display screen for displaying the stable area of the parameter setting screen is displayed, and the control unit calculates resonance ions from the set values of the main RF voltage and the auxiliary RF voltage during a period in which the mass analysis of the parameter setting screen is performed. This is to superimpose a line segment representing the calculated resonance ion on the region display screen.
[0013]
With the above configuration, it is possible to set while easily confirming whether the parameter setting is optimally set in principle.
[0014]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
[0015]
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of an ion trap mass spectrometer to which the present invention is applied. The ion trap is composed of two end cap electrodes 3111 and 3112 arranged facing each other, and a ring electrode 301 arranged between the end cap electrodes. By applying a voltage to these electrodes, an ion trap space capable of accumulating ions in a space surrounded by the electrodes is formed. An RF voltage 111 is applied to the ring electrode 301 from an RF generator and an amplifier 303. Similarly, an AUX (auxiliary electric field) voltage 121 is applied to the end cap electrodes 3111 and 3112 from the auxiliary RF generator and the amplifier 313. The control of the RF generator / amplifier 303 and the auxiliary RF generator / amplifier 313 is performed by the control unit 330. By controlling the voltage applied to the ion trap, accumulation and discharge of ions are controlled.
[0016]
Ions introduced from the outside into the ion trap space or generated inside the ion trap space are accumulated in the ion trap space and then discharged from the ion trap space by controlling the voltage applied to each electrode. The ejected ions are emitted from the emission opening provided in the end cap electrode 3112 and detected by the detector 321. The detection signal is amplified by the pre-amplifier 322, taken into the control unit 330, subjected to data processing, and displayed on the monitor screen 331 as a detection result.
[0017]
FIG. 1 is an example of a scan setting screen displayed on the monitor screen 331 when mass spectrometry is performed by the present apparatus. It comprises a parameter setting screen 101 and a measurement signal display screen 102. The control section 330 performs all operations such as control of the display screen on the monitor screen 331 and recalculation of parameters based on an instruction input from an operator.
[0018]
Parameter setting screen 101 shows a setting example for the analysis of MS n, the RF voltage 111 and a DC voltage 112 which is applied to the ring electrode 301, AUX (auxiliary applied to the end cap electrodes 3111,3112 An electric field voltage 121 and a DC voltage 122 are set. The horizontal axis represents time, and the vertical axis represents voltage. On the parameter setting screen 101, an ion injection period (a period for introducing ions into the ion trap space) 114 and an isolation period (only necessary ions are trapped, 115), an activation period (period for performing MS / MS for cleaving trapped ions) 116, and a mass analysis period (period for performing mass spectrometry) 117. In each period, As shown in the figure, a voltage to be applied to the end cap electrode extending over the ring is set. In this display, the voltage values indicated by thick solid lines are parameters that can be arbitrarily set. More specifically, the setting value can be changed by moving a mouse cursor (not shown) to a solid line at a position to be changed with a pointing device such as a mouse, dragging the mouse cursor to an arbitrary position, and dropping it after moving to an arbitrary position.
[0019]
The RF voltage 111 and the DC voltage 112, and the AUX (auxiliary electric field) voltage 121 and the DC voltage 122 are arranged on the same screen and on the same time axis. As a result, setting errors can be prevented, and time timing can be easily and accurately set.
[0020]
Further, in this screen, a signal capture button 201 and a stable area display button 202 are arranged. For example, when changing the voltage setting value of the isolation period 115 of the RF voltage 111 as shown by a broken line 1151, when the user changes the setting line by dragging and dropping using a pointing device, and then presses the signal capture button 201. The changed voltage value is compared with a previously stored allowable voltage of the device. If the changed voltage is within the allowable voltage of the device, the changed setting line is registered as an analysis program and the analysis is executed. If the voltage after the change exceeds the allowable voltage of the device, as indicated by the error message 103 for the setting parameter, "The isolation voltage is too high. Set the voltage to XXV or less." Is displayed. Further, depending on the condition, a display such as "RF voltage is too high", "AUX voltage is too high", or "Positive / negative matching between RF voltage and AUX voltage" is not displayed.
[0021]
When the analysis is performed according to the conditions set on the parameter setting screen 101 and the ions are detected, they are displayed on the measurement signal display screen 102 in the order in which m / z (mass-to-charge ratio) is obtained. In the measurement signal display screen 102, the vertical axis represents the signal intensity and the horizontal axis represents the time. FIG. 1 shows an example in which spectra 1341, 1342, and 1343 are acquired. The time axes of the parameter setting screen 101 and the measurement signal display screen 102 are displayed so as to be the same.
[0022]
Note that the parameter setting screen 101 and the measurement signal display screen 102 may be displayed in independent windows instead of on the same screen, or the measurement data may be stored and displayed in parallel for each parameter change. Further, a function of enlarging or reducing the signal intensity axis and / or the time axis and displaying the measurement data may be provided. Further, a function of simultaneously storing measurement parameters for each measurement data may be provided. Further, a function may be provided for assigning a name to the parameter setting screen 101 for each setting parameter and storing the name. This makes it possible to easily use a desired parameter by calling it as a standard protocol and changing a part of the standard protocol.
[0023]
A case where the stable area display button 202 on the parameter setting screen 101 is pressed will be described.
[0024]
First, the ion stable region will be described.
[0025]
From Mathieu's equation, the behavior of ions is as follows.
[0026]
d 2 u / dξ 2 + ( a u + 2q u cos2ξ) u = 0
u = x, y, z
ξ = Ωt / 2
x 2 + y 2 = r 0 2
a z = -2a x = -2a y = -16eU / m (r 0 2 + 2z 0 2) Ω 2
q z = -2q x = -2q y = -8eV / m (r 0 2 + 2z 0 2) Ω 2
z 0 = r 0 / √2 (for pure quadrapole)
a z = -2a x = -2a y = -8eU / mr 0 2 Ω 2 ... (1)
q z = -2q x = -2q y = -4eV / mr 0 2 Ω 2 ... (2)
Where U = DC voltage, V = RF voltage, m = mass, e = charge, Ω = RF frequency, r 0 = radial radius of ion trap space,
zo = axial radius of the ion trap space.
[0027]
As described above, the ion to be measured has a certain a value and a certain q value in accordance with Expressions 1 and 2. From these a and q values, it can be easily determined whether the ions are stably trapped or unstable in the trap. If both the a value and the q value are within the stable region of Mathieu, ions are stably captured. If either the a-value or the q-value, or both, are outside the stable region, the ions become unstable and disappear due to collision with the electrodes or ejection out of the trap.
[0028]
This will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a stable area display screen 400 displayed after the stable area display button 202 is pressed, and the stable area of Mathieu is displayed. The horizontal axis is the qz axis shown by the equation (2), and the vertical axis is the az axis shown by the equation (1). The stable region 410 is a range surrounded by the above-mentioned stable region of r and the stable region of z. The line 411 of βr = 0, the line 412 of βz = 1, the line 413 of βr = 1, and the line of βz = 0 414.
[0029]
Here, in the mass analysis period 117 of FIG. 1, the resonance point from which ions are emitted changes depending on the relationship between the RF voltage 111 and the AUX (auxiliary electric field) voltage 121. Therefore, when the stable region display screen 400 is displayed, resonance emission in mass sweep is performed based on the RF voltage set value 1171, the DC voltage set value 128, the AUX voltage set value 127, and the DC voltage set value 129 during the mass analysis period 117. The points are automatically calculated and automatically displayed as a straight line of U / V = y (constant value) 430 in the stable region of FIG.
[0030]
When the operator designates an arbitrary point on the RF voltage set value 1171 by using a pointing device such as a mouse, the same ion position as the ion that is resonated and emitted at the designated point is linked, and the stable area display screen 400 is displayed. Also displayed above. For example, when a point 1191, a point 1192, and a point 1193 are specified on the RF voltage set value 1171, m / z = x1, m / z = x2, m / z = x3 (x1 <x2 <x3) at each point. ) Ions resonate. On the stable region display screen 400, when U / V = 0, points 420, 421, and 422 corresponding to the ions x1, x2, and x3 are displayed as resonance emission points. By performing such a display, it is possible to easily know which part of the mass analysis period 117 is within the stable region 410 and how many ions are stably trapped.
[0031]
When U / V = y (constant value) 430, the resonance emission points are point 4201, point 4211, and point 4221 as shown in the figure, respectively. 4221 is outside the stable region, and it can be seen that m / z = x1 and m / z = x2 are trapped, but m / z = x3 is not trapped. Therefore, when it is desired to trap all the ions of x1, x2, and x3, the user changes the value of the straight line of y of U / V = y (constant value) 430 by dragging and dropping using the mouse cursor. The slope of the U / V straight line may be changed arbitrarily so that all of the points 4201, 4211 and 4221 fall within the stable region.
[0032]
One end of the line y are the fixed point of a z = q z = 0, the straight line y can be changed so as to rotate about axis points a z = q z = 0. Thus, by changing the position of the straight line y, ions to be trapped can be easily set.
[0033]
On the other hand, in conjunction with U / V = y set in the stable area display screen 400 in FIG. 4, the RF voltage set value 1171, the DC voltage set value 128, and the AUX voltage set in the mass analysis period 117 shown in FIG. The voltage of the value 127 and the voltage of the DC voltage set value 129 are automatically changed. For example, when the voltage application pattern of the RF voltage set value 1171 is fixed, the voltage application pattern of the AUX voltage set value 127 is automatically changed. When the voltage application pattern of the AUX voltage set value 127 is fixed, the voltage application pattern of the RF voltage set value 1171 and the DC voltage set value 128 is automatically changed. When U / V = y (constant value) 430 in the stable region display screen 400 is set with U / V = 0, the DC voltage setting values 128 and 129 are set to the voltage value 0. A reference voltage selection box 450 is provided on the stable region display screen 400, and a voltage to be fixed is selected by checking either the RF voltage or the AUX voltage check box. By pressing the box of “recalculation”, the above-mentioned RF voltage set value 1171 or AUX voltage set value 127 is changed.
[0034]
Further, a mass number designation bar 1194 for designating a mass number within a certain range is provided next to the RF voltage set value 1171 in the mass analysis period 117, and the operator operates and designates the range of this bar by a pointing device. By doing so, the resonance emission point to be displayed on the stable area display screen 400 in FIG. 4 can be designated as a predetermined range instead of a point. In the stable region display screen 400, the resonance emission region 423 corresponds to the region designated by the mass number designation bar 1194.
[0035]
Further, the measurement signal display screen 102 is provided with a mass number confirmation bar 1195 displayed in association with the designated range of the mass number designation bar 1194 on the parameter setting screen 101. When the mass range of the mass number designation bar 1194 is changed, the mass number confirmation bar 1195 is also displayed so that the range (length in the horizontal direction) is changed in accordance with this range. By displaying the mass number confirmation bar 1195, it is possible to easily confirm which of the mass spectra obtained as a result of the detection is in the range designated by the mass number designation bar 1194. The correspondence between (m / z) and the time axis can be understood, which is convenient.
[0036]
As described above, by using the parameter setting screen 101 and the stable area display screen 400, parameters can be set while confirming trappable ions, and optimal parameters can be efficiently set and analyzed. It becomes.
[0037]
A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This example is an example in which the changed RF voltage set value 1171 is set on the parameter setting screen 101, and is not a straight line but a curve. Naturally, even a broken line that changes discontinuously can be set as long as it has an arbitrary time function. Therefore, as shown on the stable area display screen 400 in FIG. 4, a curve such as U / V = y (t) 431 is automatically calculated and displayed. As described above, by changing the shape of U / V = y (t) 431 by dragging with a pointing device such as a mouse or the like, it is automatically calculated, and the RF voltage set value 1171 on the parameter setting screen 101 and the DC voltage The voltage set values of the set value 128, the AUX voltage set value 127, and the DC voltage set value 129 can be changed.
[0038]
A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
[0039]
In the example of FIG. 5, the axis of the graph is a DC voltage (U) axis on the vertical axis and an RF voltage (V) axis on the horizontal axis.
[0040]
The aforementioned formula (1), (2) from U = a x mr 0 2 Ω 2 / 8e = -a y mr 0 2 Ω 2 / 8e
V = q x mr 0 2 Ω 2 / 4e = -q y mr 0 2 Ω 2 / 4e
The stable region of ions corresponding to the mass numbers on the U axis and the V axis is displayed.
[0041]
In this example, it is assumed that the parameter setting is performed on the parameter setting screen 101 in FIG. 1 in the same manner as described above, and the stable area display screen 4001 in FIG. 5 is displayed by pressing the stable area display button 202. Incidentally, it may be used together with the stable area display screen 400 of FIG.
[0042]
In the case of FIG. 5, the size of the graphic in the stable region is different for each mass number. For example, when x1 <x2 <x3, the stable region 415 has a mass number m / z = x1, the stable region 416 has a mass number m / z = x2, and the stable region 417 has a mass number m / z = x3. Here, when U / V = 0, the resonance emission points are points 420, 421, and 422, respectively. In the case of a straight line of U / V = y (constant value) 430, the resonance emission points of mass numbers m / z = x1, m / z = x2, and m / z = x3 are points 4201, 4211, 4221, which indicates that the point 4221 is not trapped because it is outside the stable region. The relationship of the automatic change between the U / V straight line 430 on the stable area display screen 4001 and the voltage pattern of the AUX voltage set value 127 or the pattern of the RF voltage set value 1171 on the parameter setting screen 101 is the same as described above.
[0043]
This example is convenient not when examining the permeation of ions at the octapole but at the same time when examining the trapping of ions at the octapole, instead of the ion trap mass spectrometer.
[0044]
【The invention's effect】
According to the present invention, when performing a new scan, it is possible to set parameters such as an RF voltage while easily confirming whether or not parameters are optimally set in principle. Further, even when the setting is changed using the Mathieu stable area, the parameter can be fed back and changed, and the parameter setting can be easily changed.
[0045]
As described above, the operation efficiency in the parameter setting operation can be significantly reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an example of a parameter setting screen and a signal display screen.
FIG. 2 is a diagram showing another example of a parameter setting screen and a signal display screen.
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of an apparatus used in the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing an example of a display screen of an ion stable region.
FIG. 5 is a diagram showing another example of a display screen of an ion stable region.
[Explanation of symbols]
101: Parameter setting screen, 102: Measurement signal display screen, 103: Error message, 111: RF voltage, 114: Injection period, 115: Isolation period, 116: Activation period, 117: Mass analysis period, 121 ... AUX (auxiliary electric field) voltage, 126, 127 AUX voltage set value, 131 measurement signal (mass spectrum), 201 signal acquisition button, 202 stable area display button, 301 ring electrode, 303 RF generator and amplifier, 313: auxiliary RF generator and amplifier, 321: detector, 322: preamplifier, 330: control unit, 331: monitor screen, 400, 4001: stable area display screen, 1171: RF voltage set value, 1194: mass number designation Bar, 3111, 3112 ... Endoki -Up electrode.

Claims (8)

リング電極と一対のエンドキャップ電極を有し、当該電極に高周波電圧を印加することでイオンをトラップするトラップ空間を形成するイオントラップ部と、当該イオントラップ部から排出されたイオンを検出する検出部と、前記イオントラップへの印加電圧の制御を行う制御部と、前記検出部によって得られる検出結果および前記イオントラップ部への印加電圧の設定値を表示する表示部を有するイオントラップ質量分析装置において、
前記表示部は、少なくとも前記リング電極に印加する主RF電圧と前記エンドキャップに印加する補助RF電圧を時間軸に沿ってグラフ化して表示し設定するためのパラメータ設定画面と、a=−8eU/mr Ωとq=−4eV/mr Ω(当該数式において、U=DC電圧,V=RF電圧,m=質量,e=電荷,Ω=RF周波数,r =イオントラップ空間の回転半径とする。)の2軸で表されるマチューの安定領域を表示する安定領域表示画面が表示され、
前記制御部は、前記パラメータ設定画面の質量分析を行う期間における前記主RF電圧及び補助RF電圧の設定値から共鳴イオンを算出し、前記安定領域表示画面に当該算出された共鳴イオンが表される線分を重畳表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
An ion trap section having a ring electrode and a pair of end cap electrodes, forming a trap space for trapping ions by applying a high-frequency voltage to the electrodes, and a detection section for detecting ions discharged from the ion trap section A control unit for controlling the voltage applied to the ion trap, and a display unit for displaying a detection result obtained by the detection unit and a set value of the voltage applied to the ion trap unit. ,
The display unit is a parameter setting screen for displaying and setting at least the main RF voltage applied to the ring electrode and the auxiliary RF voltage applied to the end cap in a graph along a time axis, and az = -8 eU / Mr 0 2 Ω 2 and q z = -4 eV / mr 0 2 Ω 2 (where U = DC voltage, V = RF voltage, m = mass, e = charge, Ω = RF frequency, r 0 = ion A stable area display screen that displays the Mathieu stable area represented by the two axes of the trap space is displayed.
The control unit calculates resonance ions from the set values of the main RF voltage and the auxiliary RF voltage during a period in which the mass analysis of the parameter setting screen is performed, and the calculated resonance ions are displayed on the stable region display screen. An ion trap mass spectrometer characterized by superimposing and displaying line segments.
請求項1において、
前記パラメータ設定画面は、イオントラップ空間へイオンを導入する期間、必要なイオンのみをトラップし、不要なイオンを排除する期間、トラップされているイオンを開裂させるMS/MSを行う期間、質量分析を行う期間に区分され、それぞれの期間ごとに主RF電圧及び補助RF電圧の電圧値の設定及び変更が行われることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
In claim 1,
The parameter setting screen includes a period for introducing ions into the ion trap space, a period for trapping only necessary ions and eliminating unnecessary ions, a period for performing MS / MS for cleaving trapped ions, and a mass analysis. The ion trap mass spectrometer is characterized in that the operation is divided into periods in which the main RF voltage and the auxiliary RF voltage are set and changed in each period.
請求項1において、
前記主RF電圧の質量分析を行う期間のグラフ上の任意の箇所が指定されると、当該指定箇所に対応する共鳴イオンを算出し、前記安定領域表示画面の前記線分上に、当該算出された共鳴イオンと対応するポイントを表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
In claim 1,
When an arbitrary point on the graph during the period of performing the mass analysis of the main RF voltage is specified, a resonance ion corresponding to the specified point is calculated, and the calculated ion is calculated on the line segment of the stable region display screen. An ion trap mass spectrometer, which displays points corresponding to the resonance ions.
請求項1において
前記安定領域表示画面の前記線分の片端はa軸とq軸の交点に接続され、当該線分位置は前記交点を固定点として変更可能であり、当該線分位置が変更されると、前記制御部は変更後の線分の位置に応じて前記パラメータ設定画面の質量分析を行う期間における前記主RF電圧或いは補助RF電圧の設定値を変更することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
The line segment of one end of the stable region display screen according to claim 1 is connected to the intersection of a z-axis and q z-axis, the line segment position can be changed to the intersection point as a fixed point, is the segment position When changed, the control unit changes the set value of the main RF voltage or the auxiliary RF voltage during a period in which the mass analysis of the parameter setting screen is performed according to the position of the changed line segment. Trap mass spectrometer.
請求項4において、
前記安定領域表示画面は、前期線分位置変更後に再計算する際に、前記主RF電圧或いは補助RF電圧のいずれを変更するのかを指定する指定領域を表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
In claim 4,
The stable area display screen displays a designated area for designating whether to change the main RF voltage or the auxiliary RF voltage when recalculating after changing the position of the line segment. apparatus.
請求項1において、
前記表示部は、前記検出部によって検出されたマススペクトルを表示する測定表示画面を表示し、当該測定表示画面は前記パラメータ設定画面と同一時間上に表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
In claim 1,
The ion trap mass spectrometer, wherein the display unit displays a measurement display screen displaying a mass spectrum detected by the detection unit, and the measurement display screen is displayed on the same time as the parameter setting screen. .
請求項6において、
前記パラメータ設定画面の主RF電圧を設定するグラフ上に、前記質量分析を行う期間内の共鳴イオンを前記安定領域表示画面に反映させる範囲を指定する質量数指定バーを有し、
前記測定表示画面は、マススペクトル上に前記質量数指定バーの指定範囲を示す質量数確認バーを表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
In claim 6,
On the graph for setting the main RF voltage of the parameter setting screen, having a mass number designation bar to specify the range to reflect the resonance ions in the period of performing the mass analysis on the stable region display screen,
The measurement display screen displays a mass number confirmation bar indicating a designated range of the mass number designation bar on a mass spectrum.
請求項1において、
前記制御部は、前記パラメータ設定画面で設定される各パラメータの設定値についての閾値を記憶し、パラメータ設定時に、前記パラメータ設定画面で設定された設定値が前記閾値内かを計算し、その結果を前記表示部に表示することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
In claim 1,
The control unit stores a threshold for a set value of each parameter set on the parameter setting screen, and at the time of parameter setting, calculates whether a set value set on the parameter setting screen is within the threshold, and as a result Is displayed on the display unit.
JP2003145599A 2003-05-23 2003-05-23 Ion trap mass spectrometer Pending JP2004349139A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003145599A JP2004349139A (en) 2003-05-23 2003-05-23 Ion trap mass spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003145599A JP2004349139A (en) 2003-05-23 2003-05-23 Ion trap mass spectrometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004349139A true JP2004349139A (en) 2004-12-09

Family

ID=33532686

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003145599A Pending JP2004349139A (en) 2003-05-23 2003-05-23 Ion trap mass spectrometer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004349139A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019032245A (en) * 2017-08-08 2019-02-28 株式会社島津製作所 Operation sequence editing device, analysis control system, analysis system and operation sequence editing method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019032245A (en) * 2017-08-08 2019-02-28 株式会社島津製作所 Operation sequence editing device, analysis control system, analysis system and operation sequence editing method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2598602B2 (en) Ion detection method in ion trap mass spectrometer
US5075547A (en) Quadrupole ion trap mass spectrometer having two pulsed axial excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning and selected reaction monitoring
US9698002B2 (en) Method and apparatus for mass analysis utilizing ion charge feedback
JP5462935B2 (en) Ion separation method and mass spectrometer
CN102842479B (en) Mass spectrometry method
US10600625B2 (en) Method of calibrating a mass spectrometer
JP4200092B2 (en) Mass spectrometer and calibration method thereof
EP0617837B1 (en) Mass spectrometry method using filtered noise signal
JP3413079B2 (en) Ion trap type mass spectrometer
EP0883894B1 (en) Method of operating an ion trap mass spectrometer
US20040245461A1 (en) Space charge adjustment of activation frequency
JP3496458B2 (en) Ion trap mass spectrometer and ion trap mass spectrometry method
US5451782A (en) Mass spectometry method with applied signal having off-resonance frequency
JP2004349139A (en) Ion trap mass spectrometer
JP4369454B2 (en) Ion trap mass spectrometry method
JP6377740B2 (en) Flow through MS3 for improved sorting
CA2166207C (en) Quadrupole with applied signal having off-resonance frequency
JP2000323090A (en) Ion trap type mass spectrometer
JP2009295588A (en) Ion trap mass spectroscope
JP4156609B2 (en) Ion trap mass spectrometry method
JP5206605B2 (en) Ion trap mass spectrometer
JP2007179865A (en) Ion trap mass spectrometry method and apparatus
JP2001093462A (en) Ion trap type mass spectrometer
JP2000173532A (en) Inductively coupled plasma three-dimensional quadrupole mass spectrometer
JP2007121178A (en) Mass spectrometer