JP2004244115A - 電子部品のキャリアテープ用カバーフィルム及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】最外層である第1層が二軸延伸ポリエチレンテレフタレート層、第2層がポリエチレン樹脂層、第3層がポリオレフィン系樹脂層、第4層がシーラント層からなるヘーズが30%以下であって、第4層のシーラント層が30μm未満の厚みを有し下記成分(a)〜(c)の合計が50〜100重量%と成分(d)の0〜50重量%とを含む樹脂組成物からなる電子部品のキャリアテープ用カバーフィルム。(a)スチレン系炭化水素50〜95重量%と共役ジエン系炭化水素5〜50重量%とのブロック共重合体5〜50重量%(b)エチレン−αオレフィンランダム共重合体5〜50重量%(c)スチレン系炭化水素10〜50重量%と共役ジエン系炭化水素90〜50重量%とのブロック共重合体5〜70重量%(d)耐衝撃性ポリスチレン。
【選択図】なし
Description
このような電子部品のキャリアテープ用カバーフィルムには、基本的な特性として、以下を有することが必要とされている。
(1)実用的な剥離強度を容易に得るためのヒートシール性、及び
(2)開封時に内容物の飛散がなく、容易に取り出せる易開封性。
近年さらに(3)透明性も望まれている。これは透明性が良好であると充填した内容物の確認が容易であり、それによって、点検作業の効率化、信頼性の向上、及び安心感が得られる。
(a)スチレン系炭化水素50〜95重量%と共役ジエン系炭化水素5〜50重量%とのブロック共重合体5〜50重量%、
(b)エチレン−αオレフィンランダム共重合体5〜50重量%、
(c)スチレン系炭化水素10〜50重量%と共役ジエン系炭化水素90〜50重量%とのブロック共重合体5〜70重量%、
(d)耐衝撃性ポリスチレン。
また、本発明は、上記電子部品のキャリアテープ用カバーフィルムの製造方法であって、以下の(イ)又は(ロ)からなるおことを特徴とする製造方法にある。
(イ)第1層に対して第2層のポリエチレン樹脂を押出コーティングする工程、及び得られた2層フィルムの第2層に対して第3層のポリオレフィン系樹脂層と第4層のシーラント層を共押出コーティングする工程からなる。
(ロ)第1層に対して第3層とのポリエチレン系樹脂層と第4層のシーラント層の共押出フィルムを第2層のポリエチレン樹脂層を介して押出ラミネートする工程からなる。
これは、成分(a)が5重量%未満であるとフィルム化が困難となり、50重量%を超えると剥離強度の温度依存性が顕著となり、易開封性が損なわれる。
成分(b)は5重量%未満であると十分な剥離強度が得られず、50重量%を超えると成膜時のロールへの粘着性が大きくフィルム化が困難となる。
成分(c)が5重量%未満であると易開封性を付与するために必要なシール条件が得にくくなり、70重量%を超えるとフィルム化が困難になる。
成分(d)においては50重量%を超えると透明性が得られなくなる。
あるいは、最外層である第1層の二軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルムに好ましくはAC剤を塗布する工程、この第1層に対して第3層のポリオレフィン系樹脂層と第4層のシーラント層の共押出フィルムを第2層のポリエチレン樹脂を介して押出ラミネートする工程を含むプロセスにより製造することもできる。
(a)スチレン系炭化水素50〜95重量%と共役ジエン系炭化水素5〜50重量%とのブロック共重合体5〜50重量%、
(b)エチレン−α−オレフィンランダム共重合体5〜50重量%、
(c)スチレン系炭化水素10〜50重量%と共役ジエン系炭化水素90〜50重量%とのブロック共重合体5〜70重量%の混合物50〜100重量%、及び
(d)耐衝撃性ポリスチレン0〜50重量%。
ポリオレフィン系樹脂層とシーラント層とを共押出しするラミネーターのダイは、共押出に一般的に使用されているフィードブロックを備えたT−ダイ、マルチマニホールドダイ、デュアルスロットダイ等を用いることができる。
実施例1〜6
ヒートシール用樹脂混合物(シーラント層)として、(a)スチレン−ブタジエンブロック共重合体樹脂(電気化学工業社製、「デンカクリアレン」、スチレン含量80重量%、ブタジエン含量20重量%)、(b)エチレン−ブテン−1ランダム共重合体(三井化学社製、「タフマーA」)、(c)スチレン−ブタジエンブロック共重合体(日本合成ゴム社製、「STRレジン」、スチレン含量40重量%、ブタジエン含量60重量%)、(d)耐衝撃性ポリスチレン樹脂(電気化学工業社製、「デンカスチロールHI−E6」)を表1に示された組成になるように各々ハンドブレンドし、40mm単軸押出機にて200℃でコンパウンド化し樹脂組成物を得た。
この樹脂組成物と、ポリオレフィン系樹脂として低密度ポリエチレンとをT−ダイ法によって共押出しを行い、表2に挙げたシーラント厚みを有する2層フィルム(総厚30μm)を得た。この2層フィルムを押出ラミネート法によりポリエチレン樹脂(厚み15μm)を介して、二軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルム(厚み12μm)と積層させてそれぞれ電子部品のキャリアテープ用カバーフィルムを得た。
上記と同様に、表1に示した組成をもつように、成分(a)〜(d)を配合しヒートシール用樹脂混合物をそれぞれ得た。次に、この混合物を低密度ポリエチレンとともに共押出して表2に示した厚みのフィルムを製造し、このフィルムをドライラミネート法により二軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルムと積層して透明積層電子部品のキャリアテープ用カバーフィルム(比較例5のみ総厚40μm、それ以外は総厚30μm)を得た。
透明性の評価(ヘーズの測定)
JIS−K7105(1998)に準ずる測定法Aによる積分球式測定装置を用いてヘーズ(曇価)を測定した。単位は%である。これを表2に示す。
ヒートシール性及び易開封性の評価
シールヘッド幅0.5mm×2、シール圧力0.4MPa、シール速度2回/秒の条件にて150℃でフィルムを電子包装材用のポリスチレン系キャリアテープにシールした。平均剥離強度が0.2N〜0.6Nの範囲にあるものを○とし、上記範囲外の平均剥離強度のものを×とした。結果を表2の「ヒートシール性」のコラムに示す。また剥離強度の最大値と最小値の差が0.4N以下であるものを○とし、それ以外の差のものを×とした。結果を表2の「易開封性」のコラムに示す。
シーラント層用ポリスチレン系樹脂の製造
(a)スチレン−ブタジエンブロック共重合体樹脂(電気化学工業社製、商品名:デンカクリアレン、スチレン含量80重量%、ブタジエン含量20重量%)、(b)エチレン−ブテン−1ランダム共重合体(三井化学社製、商品名:タフマーA)、(c)スチレン−ブタジエンブロック共重合体樹脂(日本合成ゴム社製、商品名:STRレジン、スチレン含量40重量%、ブタジエン含量80重量%)、(d)耐衝撃性ポリスチレン樹脂(電気化学工業社製、商品名:デンカスチロールHI−E6)をそれぞれ40、25、25、10重量%となるようにブレンドし、40mm単軸押出機にて200℃で溶融混練し、目的とするシーラント層用樹脂ペレットを得た。
タンデムラミネーターを用いて、二軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルム(東洋紡績社製、商品名:東洋紡エステルフィルム、厚み16μm)を繰り出し、ACコーターによりイソシアネート系二液硬化型AC剤(武田薬品工業社製、商品名:タケラックA971、タケネートA3)をコーティングし乾燥することによりコートフィルムを得た。このフィルムに、T−ダイを備えた65mm押出ラミネーターにより温度320℃で押し出した低密度ポリエチレン樹脂(日本ポリケム社製、商品名:ノバテックLD)を、厚み13μmとなるようにコーティングした。更にこのフィルムに、マルチマニホールドダイを備えた65mm押出ラミネーターにより、低密度ポリエチレン(宇部興産社製、商品名:UBEポリエチレン)と前記の通り製造したシーラント層用ポリスチレン系樹脂とを、ポリエチレン、ポリスチレン系樹脂の厚みがそれぞれ30、10μmとなるように、温度230℃で共押出コーティングして4層の電子部品のキャリアテープ用カバーフィルムを得た。
タンデムラミネーターを用いて、二軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルム(東洋紡績社製、商品名:東洋紡エステルフィルム、厚み16μm)を供給し、ACコーターによりイソシアネート系二液硬化型AC剤(武田薬品工業社製、商品名:タケラックA971、タケネートA3)をコーティングし乾燥することによりコートフィルムを得た。このフィルムに、T−ダイを備えた65mm押出ラミネーターにより温度320℃で押し出した低密度ポリエチレン樹脂(日本ポリケム社製、商品名:ノバテックLD)を、厚み13μmとなるようにコーティングした。更にこのフィルムに、マルチマニホールドダイを備えた65mm押出ラミネーターにより、低密度ポリエチレン(宇部興産社製、商品名:UBEポリエチレン)と前記の通り製造したシーラント層用ポリスチレン系樹脂とを、ポリエチレン、ポリスチレン系樹脂の厚みがそれぞれ30、10μmとなるように温度230℃で共押出コーティングして4層の電子部品のキャリアテープ用カバーフィルムを得た。次いで、そのフィルムの表面をコロナ処理機でコロナ処理した。引き続き、界面活性剤系帯電防止剤(日本純薬社製、商品名:SAT−4)を噴霧して目的とするフィルムを得た。
タンデムラミネーターを用いて、二軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルム(東洋紡績社製、商品名:東洋紡エステルフィルム、厚み16μm)を供給し、ACコーターによりイソシアネート系二液硬化型AC剤(武田薬品工業社製、商品名:タケラックA971、タケネートA3)をコーティングし乾燥することによりコートフィルムを得た。一方、マルチマニホールドダイを備えた65mm押出ラミネーターにより、低密度ポリエチレン(宇部興産社製、商品名:UBEポリエチレン)と前記の通り製造したシーラント層用ポリスチレン系樹脂とを、ポリエチレン、ポリスチレン系樹脂の厚みがそれぞれ30、10μmとなるように温度230℃で共押出して共押出フィルムを得た。次いで、上記のコートフィルムと共押出フィルムとを、T−ダイを備えた65mm押出ラミネーターにより温度320℃で押し出した低密度ポリエチレン樹脂(日本ポリケム社製、商品名:ノバテックLD)を介して、ポリエチレン樹脂の厚みが13μmとなるように押出しラミネートを行って目的とする4層の電子部品のキャリアテープ用カバーフィルムを得た。
タンデムラミネーターを用いて、二軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルム(東洋紡績社製、商品名:東洋紡エステルフィルム、厚み16μm)を供給し、ACコーターによりイソシアネート系二液硬化型AC剤(武田薬品工業社製、商品名:タケラックA971、タケネートA3)をコーティングし乾燥することによりコートフィルムを得た。一方、マルチマニホールドダイを備えた65mm押出ラミネーターにより、低密度ポリエチレン(宇部興産社製、商品名:UBEポリエチレン)と前記の通り製造したシーラント層用ポリスチレン系樹脂とを、ポリエチレン、ポリスチレン系樹脂の厚みがそれぞれ30、10μmとなるように温度230℃で共押出して共押出フィルムを得た。次いで、上記のコートフィルムと共押出フィルムとをT−ダイを備えた65mm押出ラミネーターにより温度320℃で押し出した低密度ポリエチレン樹脂(日本ポリケム社製、商品名:ノバテックLD)を介して、ポリエチレン樹脂の厚みが13μmとなるように押出しラミネートを行い目的とする4層の電子部品のキャリアテープ用カバーフィルムを得た。次いで、コロナ処理機で上記フィルム表面をコロナ処理した後、界面活性剤系帯電防止剤(日本純薬社製、商品名:SAT−4)を噴霧して目的とするフィルムを得た。
上記実施例の製造方法によれば、多層フィルムの製造において、工程を簡略化し、オペレーターの減員、原反ロスの削減といったコスト削減に寄与し、更に安定した品質の電子部品のキャリアテープ用カバーフィルムを得ることができる。
Claims (9)
- 最外層である第1層が二軸延伸ポリエチレンテレフタレート層であり、第2層がポリエチレン樹脂層であり、第3層がポリオレフィン系樹脂層であり、第4層がシーラント層からなるヘーズ(曇価)が30%以下であり、上記第4層のシーラント層が30μm未満の厚みを有しかつ下記の成分(a)〜(c)の合計が50〜100重量%と下記の成分(d)の0〜50重量%とを含む樹脂組成物からなる、電子部品のキャリアテープ用カバーフィルム。
(a)スチレン系炭化水素50〜95重量%と共役ジエン系炭化水素5〜50重量%とのブロック共重合体5〜50重量%、
(b)エチレン−αオレフィンランダム共重合体5〜50重量%、
(c)スチレン系炭化水素10〜50重量%と共役ジエン系炭化水素90〜50重量%とのブロック共重合体5〜70重量%、
(d)耐衝撃性ポリスチレン。 - ヘーズ(曇価)が25%以下である請求項1に記載のカバーフィルム。
- シーラント層の厚みが4〜25μmである請求項1又は2に記載のカバーフィルム。
- 少なくとも片面に帯電防止処理がなされている請求項1〜3のいずれかに記載のカバーフィルム。
- 第1層に対して第2層のポリエチレン樹脂を押出コーティングする工程、及び得られた2層フィルムの第2層に対して第3層のポリオレフィン系樹脂層と第4層のシーラント層を共押出コーティングする工程からなる請求項1〜4のいずれかに記載の子部品のキャリアテープ用カバーフィルムの製造方法。
- 第1層に対して第3層とのポリエチレン系樹脂層と第4層のシーラント層の共押出フィルムを第2層のポリエチレン樹脂層を介して押出ラミネートする工程からなる請求項1〜4のいずれかに記載の電子部品のキャリアテープ用カバーフィルムの製造方法。
- 更に、第1の層と第4層との少なくとも片面に帯電防止処理を施す工程からなる請求項5又は6に記載の製造方法。
- 帯電防止処理を施す工程の前に、少なくとも帯電防止処理される面をコロナ放電処理する請求項7に記載の製造方法。
- 全工程を同一ライン内で行う請求項5〜8のいずれか1項に記載の製造方法。
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