JP2004119410A - Resin sealing mold - Google Patents
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Abstract
【課題】チップの背面を露出させて樹脂封止する場合に、チップのきず、クラック、チッピング等の発生を防止する樹脂封止金型を提供する。
【解決手段】基板4に装着されたチップ5を樹脂封止する際に使用され、基板4が載置される下型1とこれに相対向する上型2とを有する樹脂封止金型であって、上型2は、チップ5の背面を押圧するチップ押圧部材9と、チップ押圧部材9の周囲に設けられ下型1と上型2とが型締めされた状態においてチップ5の周囲にキャビティ13を形成するキャビティ形成部材7とからなるとともに、チップ押圧部材9における少なくともチップ5に接触する面に形成され、チップ5より低硬度であるエンジニアリングプラスチックからなる被膜10を備える。これにより、チップ押圧部材9のうち、チップ5より低硬度である被膜10が形成された面がチップ5の背面を押圧するので、チップ5が受ける機械的な影響が軽減される。
【選択図】 図1The present invention provides a resin-sealing mold for preventing a chip from being flawed, cracked, or chipped when a back surface of the chip is exposed and sealed with a resin.
A resin sealing mold is used for sealing a chip mounted on a substrate, and has a lower die on which the substrate is mounted and an upper die facing the lower die. The upper die 2 has a chip pressing member 9 for pressing the back surface of the chip 5 and a chip pressing member 9 provided around the chip pressing member 9 and around the chip 5 in a state where the lower die 1 and the upper die 2 are clamped. A cavity forming member which forms the cavity; a coating formed of engineering plastic having a lower hardness than the chip formed on at least a surface of the chip pressing member in contact with the chip; Accordingly, the surface of the chip pressing member 9 on which the coating 10 having a lower hardness than the chip 5 is formed presses the back surface of the chip 5, so that the mechanical effect on the chip 5 is reduced.
[Selection diagram] Fig. 1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、リードフレームやプリント基板等に装着されたチップ状の電子部品を樹脂封止する際に使用される樹脂封止金型に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、リードフレームやプリント基板等(以下、基板という。)に装着されたチップ状の電子部品(以下、チップという)を樹脂封止してパッケージを形成する際に、樹脂封止金型を使用してトランスファモールドによって封止樹脂を成形することが広く行われている。また、近年、高密度実装とパッケージの薄型化との要請が強まっており、これに応じてフリップチップ方式による実装が普及している。
ここで、CPU等のチップにおいてはヒートシンクを取り付けるために、チップの背面を露出させる必要がある。また、CCDセンサ等においては光を検出するために、指紋検出用デバイスにおいては被接触物である指を接触可能にするために、それぞれチップの背面を露出させる必要がある。そこで、チップの背面を露出させて樹脂封止する場合には、チップを破損させず、かつ、チップの背面において封止樹脂の漏れによるばりを形成させないことが必要になる。
【0003】
この目的を達成するために、第1の方式として、チップの背面を覆う押圧部材とその周囲に設けられた可動金型とを設けて、可動金型で基板を押圧しているとともに、ばね等の手段と押圧部材とにより適当な圧力をもってチップを押圧している。また、第2の方式として、第1の方式に、チップと金型との間に張設された樹脂フィルムを加えて、その樹脂フィルムを介してチップを押圧している(例えば、特許文献1参照。)。
【0004】
【特許文献1】
特開2000−36507号公報(第4頁、図3−図5)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の技術によれば、次のような問題がある。第1の方式によれば、薄いシリコン基板等が分割されて形成されたチップは一般に脆弱であることから、押圧部材がチップを押圧する際に、チップにおいてきず、クラック(ひび)やチッピング(欠け)等が発生する場合がある。第2の方式によれば、樹脂フィルムの供給、張設、及び巻取りのための機構が必要になるので、装置が複雑になるとともにコストを増大させるという問題がある。
【0006】
本発明は、上述の課題を解決するためになされたものであり、チップにきず、クラックやチッピング等を発生させることなく、かつ、装置を複雑にさせることのない樹脂封止金型を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上述の技術的課題を解決するために、本発明に係る樹脂封止金型は、基板に装着されたチップを樹脂封止する際に使用され、基板が載置される第1の金型と該第1の金型に相対向する第2の金型とを有する樹脂封止金型であって、第2の金型は、チップの背面の少なくとも一部を押圧するチップ押圧部材と、該チップ押圧部材の周囲に設けられ第1の金型と第2の金型とが型締めされた状態においてチップの周囲にキャビティを形成するキャビティ形成部材とからなるとともに、チップ押圧部材における少なくともチップに接触する面に形成され、チップよりも低硬度である非金属からなる被膜を備えたことを特徴とする。
【0008】
これによれば、第1の金型と第2の金型とが型締めされた状態で、チップ押圧部材の面のうちで、チップより低硬度である非金属からなる被膜が形成された面が、チップの背面を押圧する。したがって、チップが受ける機械的な影響が軽減される。
【0009】
また、本発明に係る樹脂封止金型は、上述した樹脂封止金型において、被膜はエンジニアリングプラスチックからなることを特徴とする。
【0010】
これによれば、チップ押圧部材の面のうちで、エンジニアリングプラスチックからなる被膜が形成された面が、チップの背面を押圧する。したがって、チップが受ける機械的な影響が軽減される。
【0011】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)
以下、本発明の第1の実施形態に係る樹脂封止金型を、図1を参照して説明する。図1(A)は本実施形態に係る樹脂封止金型が型締めされる直前の状態を、図1(B)は型締めされた直後の状態を、それぞれ示す部分断面図である。
【0012】
図1(A)に示されているように、下型1とこれに対向する上型2とが設けられている。下型1に設けられた凹部3には基板4が載置され、基板4にはチップ5が装着されている。チップ5は、例えば、フリップチップ接続されたCPUであって、基板4に対して電極同士(いずれも図示なし)がバンプ6を介して電気的に接続されている。そして、ヒートシンクを取り付けるために、樹脂封止後においてチップ5の背面(図1における上面)を露出させておく必要がある。
【0013】
上型2は、昇降自在に設けられたキャビティ形成部材7と、キャビティ形成部材7の中央部における貫通孔8に昇降自在に設けられたチップ押圧部材9とから構成されている。チップ押圧部材9の上方には、ほぼ一定の圧力によりチップ5を押圧するように、ばね等の圧力調整機構(図示なし)が設けられている。チップ押圧部材9は、チップ5の背面を完全に覆う下面を有しており、少なくともこの下面を覆って被膜10が形成されている。この被膜10は、チップ5を構成している物質(例えば、シリコン)よりも低硬度である非金属、例えば、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)等のふっ素樹脂や、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)等のエンジニアリングプラスチックから構成されている。また、キャビティ形成部材7の下部には、貫通孔8の断面積を順次広げるようにしてテーパ部11が設けられ、そのテーパ部11に連通して樹脂流路12が設けられている。
【0014】
図1(B)に示されているように、下型1と上型2とが型締めされた状態で、基板4とチップ5と被膜10とテーパ部11とに囲まれた空間であるキャビティ13が形成される。そして、溶融樹脂(図示なし)は、樹脂流路12を経由してキャビティ13に注入される。
【0015】
本実施形態に係る樹脂封止金型は、次のようにして動作する。まず、下型1の凹部3に、チップ5が装着された基板4が載置された後に、図1(A)に示すようにチップ押圧部材9が下降する。そして、所定の圧力により、チップ押圧部材9の下面、すなわち、被膜10が形成された面が、チップ5の背面に接触してチップ5を押圧する。
【0016】
次に、図1(B)に示すように、キャビティ形成部材7が下降することによって、下型1と上型2とが型締めされる。そして、型締めにより形成されたキャビティ13に、樹脂流路12を経由して溶融樹脂(図示なし)を注入する。
【0017】
次に、キャビティ13に注入された溶融樹脂が硬化した後に、上型2が上昇して型開きする。その際に、エジェクタピン(図示なし)を使用して金型から成形品、すなわち、パッケージを取り出し、吸着等により次工程に搬送する。
【0018】
ここで、本実施形態に係る樹脂封止金型の特徴は、チップ押圧部材9の面のうち、少なくともチップ5に接触して押圧する面に、チップ5を構成している物質よりも低硬度である非金属からなる被膜10が形成されていることである。これにより、チップ押圧部材9の面のうち被膜10が形成された面がチップ5を押圧するので、チップ5が受ける機械的な影響が軽減される。したがって、チップ5と上型2との間に樹脂フィルムを張設することなく、チップ5におけるきず、クラックやチッピング等の発生が防止される。
【0019】
(第2の実施形態)
以下、本発明の第2の実施形態に係る樹脂封止金型を、図2を参照して説明する。図2(A)は本実施形態に係る樹脂封止金型が型締めされる直前の状態を、図2(B)は型締めされた直後の状態を、それぞれ示す部分断面図である。本実施形態では、第1の実施形態とは異なり、チップ5と基板4との電極同士(いずれも図示なし)が、ワイヤ14を介して電気的に接続されている。
【0020】
チップ5は、例えば、CCDセンサ、指紋検出用デバイス等の半導体チップである。このようなチップ5においては、半導体素子が形成されている面、すなわち、装着されたチップ5の背面(図2における上面)の所定の領域を露出させる必要があり、かつ、封止樹脂でワイヤ14を完全に覆う必要がある。
ここで、溶融樹脂(図示なし)は、樹脂流路12を経由してキャビティ13に注入されて硬化する。これにより、チップ5において、ワイヤ14を完全に覆って封止樹脂が形成されるとともに、CCDセンサや指紋検出用デバイス等としての機能を果たす、背面の中央部付近が露出する。
【0021】
本実施形態では、キャビティ13は、下型1と上型2とが型締めされた状態でワイヤ14を完全に収容するように、キャビティ形成部材7において設けられている。したがって、チップ押圧部材9の下面は、チップ5の背面における中央部付近に接触してこの部分を露出させる。本実施形態においても、チップ押圧部材9が有する面のうち少なくともチップ5に接触して押圧する面に、チップ5を構成している物質よりも低硬度である非金属からなる被膜10が形成されている。
このことにより、第1の実施形態の場合と同様に、チップ押圧部材9がチップ5を押圧する際に、チップ5が受ける機械的な影響が軽減される。したがって、チップ5と上型2との間に樹脂フィルムを張設することなく、チップ5におけるきず、クラックやチッピング等の発生が防止される。
【0022】
なお、上述の各実施形態では、下型1に基板4を載置して、上型2にキャビティ13を設けることとした。これに限らず、上下を逆にした構成にすることもできる。また、下型1と上型2とに限らず、相対向する金型であれば、本発明を適用することができる。
【0023】
また、プリント基板、リードフレーム等からなる基板4以外に、テープ状基板等に対しても本発明を適用することができる。
【0024】
また、1個の基板4に対して1個のチップ5が装着された場合を説明した。これに限らず、1個の基板4に対して複数個のチップ5が装着された場合においても、本発明をそれぞれ適用することができる。更に、多数個取りの基板に装着されている複数のチップを、それぞれ個別に又は全部を一括して押圧する場合においても、本発明を適用することができる。
【0025】
また、エンジニアリングプラスチックとしては、耐熱性とチップ5に対する硬度の関係とを満足すれば、PTFE,PEEK以外の材料を使用することができる。更に、エンジニアリングプラスチック以外にも、例えば、セラミック等の無機材料のうち、耐熱性と硬度との条件を満足するものであれば、使用することができる。
【0026】
また、ほぼ一定の圧力によりチップ5を押圧するように、チップ押圧部材9の上方にばね等の圧力調整機構(図示なし)が設けられていることとした。これに代えて、例えば、圧縮空気を利用したアクチュエータを使用してチップ押圧部材9を駆動することにより、ほぼ一定の圧力によってチップ5を押圧してもよい。
また、例えば、リニアアクチュエータ等の電磁式のアクチュエータとロードセル等の圧力センサとを組み合わせ、チップ5を押圧する圧力を圧力センサにより検出して、その圧力が所定の値になるまでアクチュエータを使用してチップ押圧部材9を駆動することにより、チップ5を押圧してもよい。
【0027】
更に、いわゆる両面封止構造の場合には、下型1の側にもキャビティを設け、このキャビティに対してチップ5を押圧することとしてもよい。この場合には、基板4の微小な弾性変形を利用することにより、圧力調整機構を設けることなくほぼ一定の圧力によってチップ5を押圧することができる。
【0028】
また、本発明は、上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で、必要に応じて、任意にかつ適宜に変更・選択して採用できるものである。
【0029】
【発明の効果】
本発明によれば、第1の金型と第2の金型とが型締めされた状態で、チップ押圧部材の面のうちチップよりも低硬度である非金属からなる被膜が形成された面が、チップの背面を押圧する。したがって、チップが受ける機械的な影響が軽減される。これにより、チップと第2の金型との間に樹脂フィルムを張設することなく、チップにおけるきず、クラックやチッピング等の発生が防止される。
したがって、本発明は、装置を複雑にさせることなく、チップにおけるきず、クラックやチッピング等の発生を防止することができる樹脂封止金型を提供するという、優れた実用的な効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(A)は本発明の第1の実施形態に係る樹脂封止金型が型締めされる直前の状態を、図1(B)はその樹脂封止金型が型締めされた直後の状態を、それぞれ示す部分断面図である。
【図2】図2(A)は本発明の第2の実施形態に係る樹脂封止金型が型締めされる直前の状態を、図2(B)はその樹脂封止金型が型締めされた直後の状態を、それぞれ示す部分断面図である。
【符号の説明】
1 下型(第1の金型)
2 上型(第2の金型)
3 凹部
4 基板
5 チップ
6 バンプ
7 キャビティ形成部材
8 貫通孔
9 チップ押圧部材
10 被膜
11 テーパ部
12 樹脂流路
13 キャビティ
14 ワイヤ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a resin-sealing mold used for resin-sealing a chip-shaped electronic component mounted on a lead frame, a printed board, or the like.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, when a chip-shaped electronic component (hereinafter, referred to as a chip) mounted on a lead frame or a printed circuit board (hereinafter, referred to as a substrate) is resin-sealed to form a package, a resin-sealed mold is used. Then, molding a sealing resin by transfer molding is widely performed. In recent years, demands for high-density mounting and thinning of packages have increased, and accordingly, flip-chip mounting has become widespread.
Here, in a chip such as a CPU, it is necessary to expose a back surface of the chip in order to attach a heat sink. In addition, in order to detect light in a CCD sensor or the like, and in a fingerprint detection device, a back surface of a chip needs to be exposed in order to allow a finger as a contacted object to be contactable. Therefore, in the case where the back surface of the chip is exposed and sealed with a resin, it is necessary not to damage the chip and to prevent burrs due to leakage of the sealing resin on the back surface of the chip.
[0003]
In order to achieve this object, as a first method, a pressing member that covers the back surface of the chip and a movable die provided around the pressing member are provided, and the substrate is pressed by the movable die. The chip is pressed with an appropriate pressure by the means and the pressing member. As a second method, a resin film stretched between a chip and a mold is added to the first method, and the chip is pressed through the resin film (for example, see Patent Document 1). reference.).
[0004]
[Patent Document 1]
JP-A-2000-36507 (
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, according to the above conventional technique, there are the following problems. According to the first method, a chip formed by dividing a thin silicon substrate or the like is generally fragile. Therefore, when the pressing member presses the chip, the chip is broken, cracked or chipped. ) May occur. According to the second method, since a mechanism for supplying, stretching, and winding the resin film is required, there is a problem that the apparatus becomes complicated and the cost increases.
[0006]
The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and provides a resin-sealing mold that does not cut off chips, does not generate cracks or chipping, and does not complicate the device. The purpose is to:
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above technical problem, the resin sealing mold according to the present invention is used when resin sealing a chip mounted on a substrate, and a first mold on which the substrate is mounted. A resin mold having a second mold facing the first mold, wherein the second mold has a chip pressing member that presses at least a part of a back surface of the chip; A cavity forming member that is provided around the chip pressing member and forms a cavity around the chip in a state where the first mold and the second mold are clamped; A coating formed of a non-metal having a lower hardness than the chip is formed on the contact surface.
[0008]
According to this, in the state where the first mold and the second mold are clamped, the surface of the chip pressing member on which the coating made of non-metal having lower hardness than the chip is formed. Presses the back of the chip. Therefore, the mechanical influence on the chip is reduced.
[0009]
Further, the resin-sealing mold according to the present invention is characterized in that, in the above-described resin-sealing mold, the coating is made of engineering plastic.
[0010]
According to this, among the surfaces of the chip pressing member, the surface on which the coating made of engineering plastic is formed presses the back surface of the chip. Therefore, the mechanical influence on the chip is reduced.
[0011]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
(1st Embodiment)
Hereinafter, a resin mold according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1A is a partial cross-sectional view showing a state immediately before the resin sealing mold according to the present embodiment is clamped, and FIG. 1B is a partial cross-sectional view showing a state immediately after the mold clamping.
[0012]
As shown in FIG. 1A, a
[0013]
The
[0014]
As shown in FIG. 1B, a cavity surrounded by a
[0015]
The resin sealing mold according to the present embodiment operates as follows. First, after the
[0016]
Next, as shown in FIG. 1B, the
[0017]
Next, after the molten resin injected into the cavity 13 is cured, the
[0018]
Here, the feature of the resin-sealing mold according to the present embodiment is that at least the surface of the chip pressing member 9 that contacts and presses the
[0019]
(Second embodiment)
Hereinafter, a resin mold according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 2A is a partial cross-sectional view illustrating a state immediately before the resin-sealing mold according to the present embodiment is clamped, and FIG. 2B is a partial cross-sectional view illustrating a state immediately after the mold is clamped. In the present embodiment, unlike the first embodiment, the electrodes of the
[0020]
The
Here, the molten resin (not shown) is injected into the cavity 13 via the resin flow path 12 and is cured. As a result, in the
[0021]
In the present embodiment, the cavity 13 is provided in the
Thus, similarly to the first embodiment, when the chip pressing member 9 presses the
[0022]
In each of the above embodiments, the
[0023]
In addition, the present invention can be applied to a tape-shaped substrate or the like in addition to the
[0024]
Also, the case where one
[0025]
As the engineering plastic, a material other than PTFE and PEEK can be used as long as the relationship between the heat resistance and the hardness of the
[0026]
Further, a pressure adjusting mechanism (not shown) such as a spring is provided above the chip pressing member 9 so as to press the
Further, for example, a combination of an electromagnetic actuator such as a linear actuator and a pressure sensor such as a load cell is used, a pressure for pressing the
[0027]
Further, in the case of a so-called double-sided sealing structure, a cavity may be provided on the
[0028]
In addition, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be arbitrarily and appropriately changed and selected as needed without departing from the spirit of the present invention.
[0029]
【The invention's effect】
According to the present invention, in a state where the first mold and the second mold are clamped, the surface of the surface of the chip pressing member on which the coating made of a non-metal having a lower hardness than the chip is formed. Presses the back of the chip. Therefore, the mechanical influence on the chip is reduced. Thereby, without generating a resin film between the chip and the second mold, generation of a flaw, crack, chipping or the like in the chip is prevented.
Therefore, the present invention has an excellent practical effect of providing a resin-sealing mold capable of preventing the occurrence of scratches, cracks, chipping, and the like in a chip without complicating the apparatus. is there.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1A shows a state immediately before a resin sealing mold according to a first embodiment of the present invention is clamped, and FIG. 1B shows a state in which the resin sealing mold is clamped. FIG. 6 is a partial cross-sectional view showing a state immediately after being performed.
FIG. 2A shows a state immediately before a resin sealing mold according to a second embodiment of the present invention is clamped, and FIG. 2B shows a state in which the resin sealing mold is clamped. FIG. 6 is a partial cross-sectional view showing a state immediately after being performed.
[Explanation of symbols]
1 Lower mold (first mold)
2 Upper mold (second mold)
3
Claims (2)
前記第2の金型は、前記チップの背面の少なくとも一部を押圧するチップ押圧部材と、該チップ押圧部材の周囲に設けられ前記第1の金型と前記第2の金型とが型締めされた状態において前記チップの周囲にキャビティを形成するキャビティ形成部材とからなるとともに、
前記チップ押圧部材における少なくとも前記チップに接触する面に形成され、前記チップよりも低硬度である非金属からなる被膜を備えたことを特徴とする樹脂封止金型。A resin mold used for sealing a chip mounted on a substrate and having a first mold on which the substrate is mounted and a second mold facing the first mold. Mold
The second mold includes a chip pressing member that presses at least a part of the back surface of the chip, and the first mold and the second mold provided around the chip pressing member and are clamped. And a cavity forming member that forms a cavity around the chip in a state where
A resin-sealing mold comprising a non-metallic coating formed on at least a surface of the chip pressing member that contacts the chip and having a lower hardness than the chip.
前記被膜はエンジニアリングプラスチックからなることを特徴とする樹脂封止金型。The resin sealing mold according to claim 1,
The resin coating mold, wherein the coating is made of engineering plastic.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2002276533A JP4017480B2 (en) | 2002-09-24 | 2002-09-24 | Resin sealing mold |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2002276533A JP4017480B2 (en) | 2002-09-24 | 2002-09-24 | Resin sealing mold |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004119410A true JP2004119410A (en) | 2004-04-15 |
| JP4017480B2 JP4017480B2 (en) | 2007-12-05 |
Family
ID=32272382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002276533A Expired - Lifetime JP4017480B2 (en) | 2002-09-24 | 2002-09-24 | Resin sealing mold |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JP4017480B2 (en) |
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| CN115023064A (en) * | 2022-05-30 | 2022-09-06 | 青岛歌尔微电子研究院有限公司 | Method for manufacturing packaged product |
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|---|---|
| JP4017480B2 (en) | 2007-12-05 |
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