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JP2004020205A - 基板検査装置 - Google Patents

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Publication number
JP2004020205A
JP2004020205A JP2002171287A JP2002171287A JP2004020205A JP 2004020205 A JP2004020205 A JP 2004020205A JP 2002171287 A JP2002171287 A JP 2002171287A JP 2002171287 A JP2002171287 A JP 2002171287A JP 2004020205 A JP2004020205 A JP 2004020205A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
holding frame
board
inspection target
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002171287A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Takebayashi
竹林 日出雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kokusai Denki Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Kokusai Electric Inc filed Critical Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority to JP2002171287A priority Critical patent/JP2004020205A/ja
Publication of JP2004020205A publication Critical patent/JP2004020205A/ja
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
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Abstract

【課題】配線基板の検査作業に於いて、コネクタの接続等の配線作業、或はスイッチ操作、表示器の確認作業等が無理なく、確実、簡単に行える様にし、検査の作業性を向上させる。
【解決手段】検査対象基板8の表裏両面が露出する様、該検査対象基板を保持する基板保持枠4が回転可能に設けられると共に、該基板保持枠が水平な状態と直立な状態に保持可能とした基板保持部を具備する。
【選択図】    図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は配線基板の基板検査装置、特に基板検査装置の配線基板の基板保持部の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】
配線基板に所定の部品が実装されると、所定の性能試験が行われる。
【0003】
性能試験は配線基板に実装されたコネクタに基板検査装置のケーブルを接続して行われる。配線基板の部品実装効率を向上させる為、配線基板の両面に部品、コネクタ、表示器、或はスイッチ類を実装する場合がある。
【0004】
従来、配線基板の性能試験を行う場合、配線基板単体で取扱われ、試験実施者が配線基板を保持し、基板検査装置のケーブルをコネクタに接続し、配線基板に設けられた表示部を確認しながら、ディップスイッチの設定等のスイッチ操作を行い、基板検査装置により所定の性能試験を行っている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
配線基板両面にコネクタが実装される場合、配線基板の一面のコネクタに基板検査装置のケーブルを接続し、その後配線基板の他面のコネクタにケーブルが接続されるが、他面へのケーブル接続作業は一面にケーブルが接続された状態で作業が行われるので、基板の固定、保持が難しく、コネクタにケーブルを接続する場合に過度のストレスが基板に発生し、ハンダにクラックが発生し、或は部品が破損する等の虞れがある。
【0006】
又、スイッチが裏面側となった場合、或は表示器が裏面側となった場合、スイッチ操作がし難い、或は表示器が見難い等の問題があった。
【0007】
本発明は斯かる実情に鑑み、配線基板の検査作業に於いて、コネクタの接続等の配線作業、或はスイッチ操作、表示器の確認作業等が無理なく、確実、簡単に行える様にし、検査の作業性を向上させるものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、検査対象基板の表裏両面が露出する様、該検査対象基板を保持する基板保持枠が回転可能に設けられると共に、該基板保持枠が水平な状態と直立な状態に保持可能とした基板保持部を具備する基板検査装置に係るものである。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態を説明する。
【0010】
図は、基板検査装置の基板保持部を示しており、シャーシ1に台座2が固着され、該台座2に蝶番3を介して基板保持枠4が取付けられている。
【0011】
該基板保持枠4は上端が開放された凹字形状をしており、該基板保持枠4の1側枠(図1中では右側枠4a)に基板ガイド溝5が刻設され、該基板ガイド溝5を形成する溝側壁6a,6bの内、裏面側の溝側壁6aは表面側の溝側壁6bより幅広になっている。
【0012】
前記基板保持枠4の他側枠(図1中では左側枠4b)の断面は、内縁部7aがフランジ状に形成されたL字形状となっている。
【0013】
左側枠4bの前記内縁部7aと直交する内側面7bと前記溝側壁6bの内縁との距離は検査対象基板8の幅より充分大きく、前記内縁部7aの内縁と前記溝側壁6aの内縁との距離は検査対象基板8の幅より小さくなっている。従って、該検査対象基板8を前記基板保持枠4に図1中の正面から簡単に嵌込むことができる様になっている。
【0014】
又、前記基板ガイド溝5の底面と前記内縁部7aの内縁との距離は前記検査対象基板8の幅より小さくなっている。従って、前記検査対象基板8が前記基板ガイド溝5に完全に嵌合した状態で、前記検査対象基板8の左端は前記内縁部7aに当接した状態となる。
【0015】
前記左側枠4bにはロックスライダ9が、前記右側枠4aに対し進退自在に設けられ、前記ロックスライダ9は図示しないスプリングにより、前記右側枠4a方向に付勢されている。
【0016】
前記ロックスライダ9は前記検査対象基板8の左縁に当接すると共に先端に爪部9aが形成され、該爪部9aと前記内縁部7aにより前記検査対象基板8の左端部を挾持可能となっている。又、前記ロックスライダ9は摘み11が突設され、該摘み11を持って前記ロックスライダ9を前記爪部9aの先端が前記内側面7bと面一になる迄後退させることが可能となっている。
【0017】
前記シャーシ1の上面には、左右にスペーサ12,12が設けられ、前記基板保持枠4を後方に倒した時に、前記スペーサ12,12に前記右側枠4a、左側枠4bが当接する様になっており、当接した状態では前記基板保持枠4は前記シャーシ1と平行になり、又該シャーシ1と前記検査対象基板8間には該検査対象基板8に実装される部品の高さ以上の間隙が形成される。
【0018】
前記右側枠4aの正面に、鉄製の小平板である磁石受け13が固着されている。尚、前記基板保持枠4が鉄製である場合は、前記磁石受け13は省略できる。又、前記台座2の側方にL字形状の磁石支持部14が立設され、該磁石支持部14の上端部の後面に磁石15が固着され、該磁石15は前記基板保持枠4が直立した状態で、前記磁石受け13に吸着する様になっている。
【0019】
以下、作動について説明する。
【0020】
前記検査対象基板8を前記基板保持枠4にセットする場合は、該基板保持枠4を後方に倒し、該基板保持枠4を前記スペーサ12で支持された状態とする(図5参照)。前記ロックスライダ9を充分後退させ、前記検査対象基板8を上方から前記基板保持枠4に落込み、前記検査対象基板8を前記内縁部7a、前記溝側壁6aに載置する。前記ロックスライダ9を前記検査対象基板8の左端面に押当てることで、前記検査対象基板8の右端面が前記基板ガイド溝5に嵌合する。前記ロックスライダ9は図示しないスプリングにより前記右側枠4a側に付勢されているので、前記検査対象基板8は前記基板ガイド溝5の底面に当接して位置決めされ、又位置決め状態が前記ロックスライダ9により保持される。
【0021】
この状態では、前記検査対象基板8の表裏両面の部品実装部分、配線部分が露出する様になっている。前記検査対象基板8の表面に設けられたコネクタ17にパソコン18からのケーブル19が接続される。又、この状態で、ディップスイッチ等による設定が行われる。
【0022】
次に、前記基板保持枠4が直立され、前記磁石受け13が前記磁石15に吸着され、前記基板保持枠4の直立状態が保持される。この状態で、前記検査対象基板8の裏面に設けられたコネクタ(図示せず)に表示、電圧、電流検査治具21のケーブル22が接続され、又前記検査対象基板8の正常動作を保証する為の動作保証治具23のケーブル24が前記検査対象基板8の裏面に設けられたコネクタ(図示せず)に接続される。
【0023】
前記検査対象基板8への接続は直立面に対する作業であり、作業性はよく、又該検査対象基板8は前記基板保持枠4により保持されているので、支持状態は安定しており、ケーブル接続作業時に過度なストレスの発生がない。
【0024】
各種ケーブル、設定の作業が完了した後の性能検査等は、前記検査対象基板8が直立で保持された状態で行われる。該検査対象基板8が直立状態であるので、表裏両面から各種スイッチ操作、調整作業が行え、該検査対象基板8に設けられている表示器の内容を確認することが可能である。従って、検査作業、表示確認作業等でその都度前記検査対象基板8を持上げたり、ひっくり返したりする必要がない。
【0025】
尚、前記基板保持枠4は回転自在となっていればよく、該基板保持枠4は必ずしも前記蝶番3により支持されていなくともよい。又、前記基板保持枠4は凹字状の板材を適宜重合せて作製してもよい。更に、該基板保持枠4は180°回転可能とし、ケーブル類の接続は、前記検査対象基板8が表面、裏面共に水平な状態で行い、調整、検査作業については該検査対象基板8が直立した状態で行う様にしてもよい。
【0026】
尚、前記基板保持枠4を直立に保持する手段としては、前記磁石15に限らず、簡単に着脱ができるローレット螺子、バネ材料で着脱可能としたクランプ等であってもよい。又、前記磁石支持部14は前記シャーシ1の側端面に取付けられ、前記基板保持枠4の側端面との間で、前記基板保持枠4の保持を行う様にしてもよい。
【0027】
【発明の効果】
以上述べた如く本発明によれば、検査対象基板の表裏両面が露出する様、該検査対象基板を保持する基板保持枠が回転可能に設けられると共に、該基板保持枠が水平な状態と直立な状態に保持可能とした基板保持部を具備するので、基板検査に必要な作業が水平な状態、又は直立な状態と作業者のし易い状態で行え、更に作業者が検査対象基板を保持する必要がなく、検査対象基板の支持が安定しており、検査対象基板に過度のストレスが発生しない等の優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す正面方向からの斜視図である。
【図2】同前実施の形態の右側面図である。
【図3】同前実施の形態の背面図である。
【図4】同前実施の形態の平面図である。
【図5】同前実施の形態の作業状態を示す右側面図である。
【符号の説明】
1     シャーシ
3     蝶番
4     基板保持枠
5     基板ガイド溝
8     検査対象基板
14    磁石支持部
15    磁石

Claims (1)

  1. 検査対象基板の表裏両面が露出する様、該検査対象基板を保持する基板保持枠が回転可能に設けられると共に、該基板保持枠が水平な状態と直立な状態に保持可能とした基板保持部を具備することを特徴とする基板検査装置。
JP2002171287A 2002-06-12 2002-06-12 基板検査装置 Pending JP2004020205A (ja)

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JP2002171287A JP2004020205A (ja) 2002-06-12 2002-06-12 基板検査装置

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JP2002171287A Pending JP2004020205A (ja) 2002-06-12 2002-06-12 基板検査装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006162370A (ja) * 2004-12-06 2006-06-22 Fujitsu Ltd 回路基板試験装置
CN113189098A (zh) * 2020-01-29 2021-07-30 株式会社迪思科 观察用治具

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006162370A (ja) * 2004-12-06 2006-06-22 Fujitsu Ltd 回路基板試験装置
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