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JP2004014704A - Laser diode drive circuit - Google Patents

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JP2004014704A
JP2004014704A JP2002164505A JP2002164505A JP2004014704A JP 2004014704 A JP2004014704 A JP 2004014704A JP 2002164505 A JP2002164505 A JP 2002164505A JP 2002164505 A JP2002164505 A JP 2002164505A JP 2004014704 A JP2004014704 A JP 2004014704A
Authority
JP
Japan
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transistor
circuit
signal
current
laser diode
Prior art date
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Pending
Application number
JP2002164505A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Seiji Kumagai
熊谷 誠司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

【課題】ゲートバイアスが深い条件下でもドレイン−ソース間のリーク電流を低減可能なレーザダイオードの駆動回路を提供すること。
【解決手段】レーザダイオードの駆動回路を構成する差動対FETの電流源FETを相互に直列に接続することとし、さらに、この直列接続されたFETに対するゲートバイアス電位を抵抗分割によって適切に印加することとした。このため、電流源FETのドレイン−ソース間に印加される電圧が2つの直列配列されたFETで分割されて1つのFETに印加される電圧は、従来の構成の電流源FETに印加される電圧に比較して低くなる。これにより、ゲートバイアスが深い条件下でもドレイン−ソース間のリーク電流を低減可能なレーザダイオードの駆動回路を提供することが可能となる。
【選択図】    図1
An object of the present invention is to provide a laser diode driving circuit capable of reducing a leakage current between a drain and a source even under a deep gate bias condition.
A current source FET of a differential pair FET constituting a driving circuit of a laser diode is connected in series with each other, and a gate bias potential for the serially connected FET is appropriately applied by resistance division. I decided. For this reason, the voltage applied between the drain and the source of the current source FET is divided by the two FETs arranged in series, and the voltage applied to one FET is equal to the voltage applied to the current source FET having the conventional configuration. Lower than This makes it possible to provide a laser diode drive circuit that can reduce the drain-source leakage current even under the condition that the gate bias is deep.
[Selection diagram] Fig. 1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザダイオードの駆動回路に関し、より詳細には、ドレイン−ソース間のリーク電流を低減可能なレーザダイオードの駆動回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
レーザダイオード(LD)の駆動には、通常、信号に対応してLDをON/OFFさせるための変調電流と、LDをレーザモードで動作させるために最低必要な電流であるバイアス電流の2種類の電流が必要とされる。
【0003】
図7は、従来のLD駆動装置の一般的な回路の例を説明するための図で、この回路図には、変調電流コントロール端子を介して入力される変調信号に応答して変調電流をスイッチングするための差動増幅回路が示されている。
【0004】
このLD駆動装置に備えられるIC70は、相補的に信号が入力される差動トランジスタ対Q1、Q2を備えている。差動トランジスタ対Q1、Q2は、エンハンスメント型またはデプレッション型のFETであり、トランジスタQ1にはLDが接続され、トランジスタQ2には、トランジスタQ1に接続されるLDの等価抵抗にほぼ等しい抵抗値を有する外付け抵抗R1が接続されている。
【0005】
この差動トランジスタ対Q1、Q2は、共通のソースである電流源トランジスタQ4に接続されている。また、電流源トランジスタQ4のソースは、順方向接続されたダイオードD1に接続され、そのゲートには、IC70外部のAPC(Auto Power Control)回路71から変調電流コントロール端子72に電圧Vが印加され変調電流制御のための信号入力がなされる。
【0006】
ここで、ダイオードD1は、電流源トランジスタQ4をOFFさせる際にトランジスタQ4のゲート−ソース間電圧VGSをマイナスに振り込むためのレベルシフタダイオードである。また、図中のR2は、変調電流コントロール端子72が開放されたときに、電圧VをVSSとして電流源トランジスタQ4をOFFさせるための抵抗である。
【0007】
図7に示した回路において、信号入力InがHighのときは、トランジスタQ1がON、トランジスタQ2がOFFとなるため、電流源トランジスタQ4で設定された定電流は主にトランジスタQ1を流れ、その結果LDへと流れることとなる。一方、信号入力InがLowのときはその反転入力/InがHighとなるため、トランジスタQ2がON、トランジスタQ1がOFFとなり、その結果LDには電流が流れない。このような電流経路の切り替えにより、信号入力に対応したLDの変調が行われる。
【0008】
なお、バイアス電流はトランジスタQ5により供給される。また、このバイアス電流は信号入力に依存せず、トランジスタQ1がOFFとなっている場合でもLDには定電流が供給される。
【0009】
APC回路71は、経時変化に伴ってLDの動作が本来の設定からずれることを防止し、また、周囲温度によるLDの発光強度の揺らぎを補正するために用いられる。具体的には、LDから出射される光の一部(数%以下)を、LDの後面(光取出面を前面とする)に配置されたフォトダイオード(PD)で受光・増幅し、その平均値を求め、この平均値と所定値との差をゼロとするように電流源トランジスタQ4に印加されるゲートバイアスを制御する。
【0010】
例えば、LDの周囲温度が上昇したり、あるいは、LDの寿命末期において、LDの発光効率が本来の発光効率よりも低下した状態で所定の発光強度を得るためには、通常流すべき電流よりも多くの電流をLDに流す必要が生じる。そして、このような状況が極端になると、LD中に流れる電流によりLD自身が破壊されてしまうおそれがある。従って、LDの駆動回路には、このような過電流が生じてLD自身を破壊しないように、電流源トランジスタQ4に印加されるゲートバイアスをOFFにしてLDに流れる電流を遮断する機能が求められる。特に、最近のLDの閾値電流は数mAであり、このLDの発光のON/OFFを完全に制御するためには、ON/OFF制御信号の制御回路に発生するリーク電流を1mA以下に抑えることが必要となる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、APC機能付きのLD駆動回路の電流源に従来のFETを用いる場合には、外部から入力される制御信号によってFETをOFFしようとしても、FETのドレイン−ソース間にリーク電流が発生してしまうために、FETの動作が完全にはOFFされないという問題があった。
【0012】
従来、FETの高性能化(高速動作化)のためには、そのゲート長を短くする方法が一般的に採用されてきており、現在では、マイクロ波帯の応用を目的としたFETのゲート長は0.2〜0.3μm程度、集積化を目的とするFETのゲート長は0.3〜0.7μm程度とされている。しかしながら、FETのゲート長を短くすることはFETの静的特性を損なう結果となってしまい、リーク電流の増大と耐圧の低下を招いてしまう。
【0013】
図8は、ゲート長が0.5μmのFETの典型的なドレイン−ソース間電流(IDS)とドレイン−ソース間電圧(VDS)のIDS−VDS特性を説明するための図である。ゲート−ソース間に印加されるゲートバイアスVGSが深い場合(IDSを流さない方向)でも、VDSを大きくしてゆくに従ってIDSが増加し、いわゆるリーク電流が増大してくる。
【0014】
従って、このような特性のFETをLD駆動回路のスイッチング素子として用いると、FETがONとなってLDに電流が流れている状態ではLDは安定な特性を示すものの、FETをOFFとした状態のLDではFETに発生するリーク電流によってみかけ上FETがOFFされていないのと同様の状況が生じてしまうこととなる。その結果、LD駆動回路に求められる機能である「LDの発光のON/OFFを完全に制御すること」を充分に担保することが困難であるという問題があった。
【0015】
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、ゲートバイアスが深い条件下でもドレイン−ソース間のリーク電流を低減可能なレーザダイオードの駆動回路を提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】
本発明は、このような目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、変調信号に応じた光信号を出力するレーザダイオードの駆動回路であって、第1の信号の入力を受ける差動対トランジスタと、第2の信号を抵抗分割により分圧するための分圧回路と、前記差動対トランジスタの第1の電流源回路とを備え、前記第1の信号は互いに相補的な2つの信号からなり、当該相補的な2つの信号の各々は、前記差動対トランジスタを構成するトランジスタの制御端子の夫々に入力され、前記差動対トランジスタの一方のアノードは、前記レーザダイオードに接続されており、前記第1の電流源回路は、前記差動対トランジスタの共通カソードに接続された第1のトランジスタと、当該第1のトランジスタに直列接続された同極性の第2のトランジスタとから構成され、当該第1のトランジスタと当該第2のトランジスタの制御端子の各々には前記分圧された第2の信号が入力され、前記レーザダイオードに流れる電流を遮断するように前記第2の信号を制御した際に、前記第2のトランジスタのアノードとカソード間の電圧が低減されることにより前記第1の電流源回路に流れる電流が実質的にゼロとなり、前記差動対トランジスタから前記レーザダイオードに対して出力される電流が実質的に遮断されることを特徴とする。
【0017】
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のレーザダイオードの駆動回路において、前記第1のトランジスタの制御端子に入力される前記分圧された第2の信号は、前記レーザダイオードの光出力を一定に保つための光出力制御信号であることを特徴とする。
【0018】
さらに、請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載のレーザダイオードの駆動回路において、第2の電流源回路と電圧レベル制御用ダイオードとを備え、前記第2のトランジスタのカソードが、当該第2の電流源回路と当該電圧レベル制御用ダイオードのアノードに接続されており、当該第2のトランジスタのカソード電位が所定の値にバイアスされていることを特徴とする。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
【0020】
図1は、本発明のレーザダイード駆動回路の実施形態を説明するための回路図である。この図に示した回路は、後述する図2中の変調信号発生回路およびバイアス信号発生回路に共通に使用される。ここでは、この図に示した回路が変調信号発生回路であるものとして説明する。
【0021】
この回路は、IC10に備える差動対トランジスタQ1、Q2の構成およびこの差動対トランジスタQ1、Q2へのLDの接続の様子は図7に示した従来の回路と同様であるが、第1の電流源が相互に直列接続された2つのトランジスタQ4とQ5で構成されている点、および、APC回路11からの入力信号を分圧してトランジスタQ5のゲートに入力させるために新たに抵抗R3を追加している点において異なる。
【0022】
トランジスタQ4は、そのドレインが差動対トランジスタQ1、Q2の共通のソースに接続され、そのソースはトランジスタQ5のドレインに接続され、そして、そのゲートには、IC10の外部に設けられたAPC回路11から変調電流コントロール端子12に電圧Vが印加されて変調電流制御のための信号入力がなされる。
【0023】
抵抗R2´およびR3の抵抗値は、これらの抵抗値の和(=R2´+R3)がR2に等しくなる条件のもとで、APC回路11により変調電流コントロール端子12に適当な電圧が印加されてLDがON状態となったときにトランジスタQ5のゲート−ソース間電位(VGS)が0.5V程度になるように決定される。
【0024】
トランジスタQ5のソースは、電位設定用のダイオードQ3および第2の電流源13に接続されている。これら第2の電流源13とダイオードQ3とにより、トランジスタQ5のソースは常に0.6〜0.7V程度にオフセットすることが可能となり、APC回路11から変調電流コントロール端子12に印加される電位がVSSとほぼ等しくなった場合にトランジスタQ5をOFFすることが可能となる。トランジスタQ4、Q5で構成される第1の電流源によって設定される電流値は、LDの種類にも依存するが、概ね数10mA程度である。
【0025】
トランジスタQ5のゲート幅(WGQ5)は、LDに流れる電流ILDが所望の電流値となるように決定される。なお、トランジスタQ5のドレイン−ソース間のリーク電流を減らすためにはWGQ5は可能な限り狭く設定する方が有利であり、その際に必要なドレイン−ソース間電流値を得るため、この回路ではVGSを高く設定することとしている。
【0026】
この回路において電源電圧VSSを一般的な値である−5.0Vと仮定すると、トランジスタQ5のソース電位は、そのソースが第2の電流源13およびダイオードD1によって自己バイアスされているので(VSS+0.7)V程度にクランプされて−4.3V程度となる。
【0027】
一般に、FETに流れる電流IDSは、近似的にg・(VGS−Vth・Wで与えられる。ここで、gは相互コンダクタンス、VGSはゲート−ソース間電圧、VthはFETの閾値電圧、そして、Wはゲート幅である。すなわち、ゲート−ソース間電圧VGSをFETの閾値電圧Vth以上とするとFETに電流が流れ始め、その電流値は、ゲート−ソース間電圧VGSとFETの閾値電圧Vthとの差の2乗に比例する関係を示す。
【0028】
この関係から明らかなように、VGSを高く設定することとすれば、FETに所定の電流を流すことが可能なゲート幅Wを狭くすることが可能となる。従って、本発明の回路ではVGSを例えば0.4〜0.5Vと設定する。仮にVGSを0.5Vとすると、トランジスタQ5のゲート電位はソース電位から0.5Vだけ高い値となり−3.8V程度の値が得られるから、このゲート電位となるように抵抗R2´およびR3の抵抗分圧比を調整する。
【0029】
また、APC回路11からの入力レベルがVSSから1.5V程度上昇した値(−3.5V)を中心にAPC制御を行う場合には、抵抗R2´およびR3の抵抗分圧比を、R3/(R2´+R3)=(0.7+0.5)/1.5(=4/5)を満足するように設定すればよい。この場合、FETのゲートには殆ど電流は流れないので、例えば、R2´を0.3kΩ、R3を1.2kΩとすることができる。
【0030】
トランジスタQ5のゲート幅WGQ5は、所望の電流値IDSが得られるように設定すればよく、そのゲートバイアスが+0.5V程度の場合には例えば700μmとすることができる。なお、ゲート幅WGQ5は、FETから取り出したい電流値、閾値電圧、特性などに依存し、700μm程度に限定されるものではない。
【0031】
IC10を以上のように構成した場合、トランジスタQ5のドレーン電位はトランジスタQ4のゲート入力電位よりも低い電位となる。仮に、トランジスタQ4の特性がトランジスタQ5の特性と同じであれば、トランジスタQ5のドレーン電位は、APC制御信号にもよるが、−3.5V−0.5V=−4.0Vとなり、ドレーン−ソース間電圧は0.3V程度となる。
【0032】
一方、図7に示したような従来の回路構成の場合、図7中のトランジスタQ4が図1中のトランジスタQ5と同様の特性を有すると仮定すると、トランジスタQ4のドレーン電位は、APC入力電位よりも高い電位を有するInあるいは/Inの電位によって規定される電位となることは明らかである。
【0033】
従って、図1に示すトランジスタQ5のドレーン−ソース間電圧は、図7に示すトランジスタQ4に比較して大幅に低減されることとなり、図1のトランジスタQ5のドレーン−ソース間電圧を所望の範囲に設定することが可能になる。
【0034】
なお、図1におけるトランジスタQ4のドレーン−ソース間電圧は、図7におけるトランジスタQ4のドレーン−ソース間電圧よりも、僅かに低くなる程度である。
【0035】
図1に示す回路において、トランジスタQ4のゲート電位を例えばVSSとすると、トランジスタQ5のゲート−ソース間は逆バイアスされるとともに、トランジスタQ5のドレーン−ソース間電圧は無視し得る程度の値になる。このことは、トランシスタQ4のゲート入力電位を制御することにより、トランジスタQ4およびトランジスタQ5に流れる電流を実質的にゼロとすることが可能なことを意味しており、リーク電流を大幅に低減させることが可能になる。
【0036】
図2は、本発明のLD駆動装置のLD駆動回路の全体図および概念的なAPC回路の例を説明するための図で、このLD駆動回路は、データ入力バッファアンプ回路21と、クロック入力バッファアンプ回路22と、D−F/F回路23と、変調信号発生回路24と、バイアス信号発生回路25とで構成されている。
【0037】
データ入力バッファアンプ回路21およびクロック入力バッファアンプ回路22は、周知の構成の差動出力のFET増幅回路であり、これらのアンプは2.5GHz以上の周波数の信号を制御するために入力端子間は50Ωに整合されている。
【0038】
これらのデータ入力バッファアンプ回路21およびクロック入力バッファアンプ回路22から出力された信号は、D−F/F回路23へと伝送されてリタイミングされ、LD駆動変調信号となる。
【0039】
D−F/F回路23には、データ信号Dおよびその反転信号である/D、並びにクロック信号CLKおよびその反転信号/CLKの相補的入力に対応する入力部を有し、さらに、不可能化(Disable:DS)信号の相補的入力DSおよび/DSに対応する入力部も備えられている。このDS信号は、LDの保護および安全規格のために設けられているもので、DS信号が真となった時に図中のA点の電位が強制的に電源電圧VDDに設定され、LDへ供給される全ての電流が遮断される。
【0040】
図3は、D−F/F回路の詳細な回路図で、通常のマスター−スレーブ型のD−F/F回路で構成されている。スレーブ側の出力部は、D−F/F回路からの出力Qおよびその反転出力/Qのそれぞれを強制的にLowおよびHighに設定するためのDS回路が設けられている。
【0041】
このDS回路が設けられていることにより、トランジスタQ6がON、トランジスタQ7がOFFの状態でDS信号が真(High)になると、トランジスタQ6とトランジスタQ7のON/OFF状態が反転し、トランジスタQ6がOFF、トランジスタQ7がONの状態となる。
【0042】
このようにしてトランジスタQ7がONされると、このトランジスタQ7に接続されているトランジスタQ8およびQ9で構成される差動対トランジスタが機能するようになる。これらのトランジスタQ8およびQ9のそれぞれのゲートには予めトランジスタQ8がON、トランジスタQ9がOFFとなるように固定バイアスが印加されているため、DS真信号が入力されると、D−F/F回路のQ出力がLow、/Q出力がHighになるように強制的に設定される。
【0043】
図4は、出力バッファ回路と変調駆動回路の構成を説明するための回路図である。この出力バッファ回路は通常のFET差動増幅回路であり、2段直列接続されたFETで変調駆動回路の電流源を構成することにより、VがOFF(0V程度)となった場合でも電流源をOFFすることが可能となる。
【0044】
さらに、入力信号Dおよびその反転信号/DにはDS信号が重畳されているので、Vが正常動作している際にDS信号が真となった場合には、D−F/F回路からの入力信号DがLowとなるため、OUTがHighとなり、OUT端子と電源電圧VDDとの間に接続されているLDをOFFすることが可能となる。
【0045】
図5は、LDバイアス電流制御回路の構成を説明するための回路図で、バイアス電流はVbias信号によりその大きさが制御される。このVbiasは、上述した変調駆動回路と同様に、トランジスタQ4およびQ5を直列接続した構成の回路によって制御されるので、Vbiasをカットしてほぼ0Vに設定することによりバイアス電流をほぼ完全に遮断することが可能である。
【0046】
また、トランジスタQ4のドレイン出力とOUT端子との間は、DS信号の入力を受けるトランジスタQ1およびQ2からなる差動回路が設けられており、DS信号が真となった場合にもLDに供給されるバイアス電流を遮断することを可能としている。この差動回路の動作によって、DS信号が真になった時にはトランジスタQ4およびQ5で設定された電流は専らトランジスタQ2側に流れ、OUT端子に接続されたLDへの電流供給が遮断されることとなる。
【0047】
IC回路の外部には電位差モニタ用の抵抗Rmonが設けられ、この抵抗Rmonの両端に生じる電位差は常時モニタされており、所定の電位差以上となった場合にDS信号が真となってLD動作がOFFされるようになっている。
【0048】
biasはAPC回路を介して制御される。帰還ループ内の状況(特にLDとPDとの光結合)によってはPDで観測される光強度が弱くなることがあり、帰還制御によってVbiasが大きくなるが、このVbiasの増大によるLD破壊を回避するために、予め抵抗Rmonの抵抗値をLD破壊電流に至らない電流値となるように設定しておくことでDS信号を機能させることが可能となる。
【0049】
図6は、APC回路の構成を説明するための回路図である。通常、LDの発光状態は、LD裏面近傍に設けられたPDでLD裏面からの僅かな光(全光強度の1%以下の光強度)を検知してモニタされる。PDからのモニタ信号は、先ず、初段のI/V変換器によって電流信号から電圧信号に変換される。これに併せて、帰還抵抗R1に並列に接続された容量C1により、遮断周波数を1/(2π・R1・C1)として、これよりも高域側を遮断することにより信号の平滑化が行われる。
【0050】
LDの発光強度が強くなるとこれに伴ってPDの出力電流も増大し、その結果、I/V変換器の出力が低下する。このI/V変換器の出力低下は、非反転増幅器に入力され、基準信号との差信号が演算・増幅されてVbias信号としてLD駆動回路に供給される。
【0051】
非反転増幅器からの出力信号は入力信号と同位相であるため、I/V変換器の出力が低下すると、非反転増幅器の出力電位も低下する。従って、LD駆動回路に供給されるVbias信号が低下してLDの発光強度が低下することとなる。このようにして帰還制御が実現する。
【0052】
図6に示した回路例では、変調電流は、LD駆動の当初に変調電流コントロール端子に印加するバイアスを調整・固定し、このバイアスを変調電流コントロール端子に常時印加することで制御している。
【0053】
なお、この固定バイアス回路に接続される抵抗R2に、その温度特性がLD温度特性を相殺するような性質を有する抵抗を用いることでLD温度特性を補償することも可能である。すなわち、LDは温度上昇に伴って発光効率が低下する温度特性を有するため、抵抗R2として、温度上昇と共に抵抗値が減少する特性を有する抵抗を用いることとすれば、温度上昇に伴って変調電流コントロール端子に印加される電圧Vが上昇し、LDの温度特性を補償することが可能となる。
【0054】
さらに、LDの発光信号のうちの最大発光強度をHigh信号、最小発光強度をLow信号としてこれらの差信号を随時モニタし、Vbiasに用いたAPC回路と同様の帰還制御を行うように回路設計することも可能であり、この帰還制御によって一定の変調光信号を得ることも可能である。
【0055】
なお、これまで説明した実施の形態においては、本発明の回路をレーザダイオード(LD)の駆動回路として説明したが、これに限定されるものではなく、発光ダイオード(LED)などの他の発光素子を駆動させるための回路としても有効であることは明らかである。
【0056】
【発明の効果】
以上述べたように、従来の回路構成のように1個の高速動作用FETを電流源とした場合には、そのドレイン−ソース間電圧VDSは変調入力信号に応じて変化し、この電流源FETのゲート−ソース間電圧VGSを深くしてOFFにしようとしてもVDSが大きくなるとリーク電流は増大してしまう。
【0057】
このため、本発明のレーザダイオード駆動回路では、レーザダイオードの駆動回路を構成する差動対FETの電流源FETを相互に直列に接続することとし、さらに、この直列接続されたFETに対するゲートバイアス電位を抵抗分割によって適切に印加することとした。このため、電流源FETのドレイン−ソース間に印加される電圧が2つの直列配列されたFETで分割されて1つのFETに印加される電圧は、従来の構成の電流源FETに印加される電圧に比較して低くなる。これにより、ゲートバイアスが深い条件下でもドレイン−ソース間のリーク電流を低減可能なレーザダイオードの駆動回路を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレーザダイオード駆動装置の回路例を説明するための図である。
【図2】本発明のレーザダイオード駆動装置のLD駆動回路の全体図および概念的なAPC回路の例を説明するための図である。
【図3】本発明のレーザダイオード駆動装置に備えるD−F/F回路の詳細な回路図である。
【図4】本発明のレーザダイオード駆動装置に備える出力バッファ回路と変調駆動回路の構成を説明するための回路図である。
【図5】本発明のレーザダイオード駆動装置に備えるLDバイアス電流制御回路の構成を説明するための回路図である。
【図6】本発明のレーザダイオード駆動装置に備えるAPC回路の構成を説明するための回路図である。
【図7】従来のレーザダイオード駆動装置の回路例を説明するための図である。
【図8】ゲート長が0.5μmの従来のFETの典型的なIDS−VDS特性を説明するための図である。
【符号の説明】
10 IC
11 APC回路
12 変調電流コントロール端子
Q1、Q2 差動対トランジスタ
Q3、Q4、Q5 トランジスタ
D1 ダイオード
R1、R2´、R3 抵抗
LD レーザダイオード
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a laser diode driving circuit, and more particularly, to a laser diode driving circuit capable of reducing a drain-source leakage current.
[0002]
[Prior art]
The laser diode (LD) is normally driven by two types of modulation currents, ie, a modulation current for turning on / off the LD in response to a signal, and a bias current which is a minimum current required for operating the LD in the laser mode. Current is needed.
[0003]
FIG. 7 is a diagram for explaining an example of a general circuit of a conventional LD drive device. In this circuit diagram, a modulation current is switched in response to a modulation signal input via a modulation current control terminal. A differential amplifier circuit for performing the above operation is shown.
[0004]
The IC 70 provided in this LD driving device includes differential transistor pairs Q1 and Q2 to which signals are complementarily input. The differential transistor pair Q1, Q2 is an enhancement-type or depletion-type FET. An LD is connected to the transistor Q1, and the transistor Q2 has a resistance value substantially equal to the equivalent resistance of the LD connected to the transistor Q1. An external resistor R1 is connected.
[0005]
The differential transistor pair Q1, Q2 is connected to a current source transistor Q4, which is a common source. The source of the current source transistor Q4 is connected in the forward direction connected diode D1, to its gate, the voltage V M is applied to the modulation current control terminal 72 from IC70 external APC (Auto Power Control) circuit 71 Signal input for modulation current control is performed.
[0006]
Here, the diode D1, the gate of the transistor Q4 in which OFF the current source transistor Q4 - a level shifter diodes for transfer money source voltage V GS negative. Also, R2 in the figure, when the modulation current control terminal 72 is opened, a resistor for causing OFF the current source transistor Q4 a voltage V M as V SS.
[0007]
In the circuit shown in FIG. 7, when the signal input In is High, the transistor Q1 is turned on and the transistor Q2 is turned off, so that the constant current set by the current source transistor Q4 mainly flows through the transistor Q1. It will flow to LD. On the other hand, when the signal input In is Low, the inverted input / In becomes High, so that the transistor Q2 is turned on and the transistor Q1 is turned off. As a result, no current flows through the LD. By such switching of the current path, modulation of the LD corresponding to the signal input is performed.
[0008]
Note that the bias current is supplied by the transistor Q5. The bias current does not depend on the signal input, and a constant current is supplied to the LD even when the transistor Q1 is off.
[0009]
The APC circuit 71 is used to prevent the operation of the LD from deviating from its original setting due to a change over time, and to correct fluctuations in the light emission intensity of the LD due to the ambient temperature. Specifically, a part (several percent or less) of the light emitted from the LD is received and amplified by a photodiode (PD) disposed on the rear surface of the LD (the light extraction surface is the front surface), and the average is averaged. A value is obtained, and the gate bias applied to the current source transistor Q4 is controlled so that the difference between the average value and the predetermined value is made zero.
[0010]
For example, in order to obtain a predetermined luminous intensity in a state where the ambient temperature of the LD rises, or at the end of the life of the LD, the luminous efficiency of the LD is lower than the original luminous efficiency, the current should be higher than the current that should normally flow A large amount of current needs to flow to the LD. When such a situation becomes extreme, there is a possibility that the LD itself may be destroyed by a current flowing through the LD. Therefore, the LD drive circuit is required to have a function of turning off the gate bias applied to the current source transistor Q4 to cut off the current flowing through the LD so that such an overcurrent does not occur and destroy the LD itself. . In particular, the threshold current of a recent LD is several mA, and in order to completely control ON / OFF of light emission of this LD, a leak current generated in a control circuit of an ON / OFF control signal is suppressed to 1 mA or less. Is required.
[0011]
[Problems to be solved by the invention]
However, when a conventional FET is used as a current source of an LD drive circuit with an APC function, a leak current occurs between the drain and source of the FET even if the FET is turned off by a control signal input from the outside. Therefore, there is a problem that the operation of the FET is not completely turned off.
[0012]
Conventionally, a method of shortening the gate length has been generally adopted in order to improve the performance (high-speed operation) of the FET. Is about 0.2 to 0.3 μm, and the gate length of the FET for the purpose of integration is about 0.3 to 0.7 μm. However, shortening the gate length of the FET results in impairing the static characteristics of the FET, resulting in an increase in leak current and a decrease in breakdown voltage.
[0013]
Figure 8 is a gate length of a typical drain of 0.5μm of FET - a diagram for explaining the I DS -V DS characteristics of the source voltage (V DS) - source current (I DS) and the drain . Gate - even if the gate bias V GS applied between the source deep (direction does not flow I DS), I DS increases according slide into increasing the V DS, so called leakage current comes to increase.
[0014]
Therefore, when an FET having such characteristics is used as a switching element of an LD drive circuit, the LD exhibits stable characteristics in a state where the FET is turned on and a current flows through the LD. In the LD, a situation similar to the case where the FET is not turned off apparently occurs due to a leak current generated in the FET. As a result, there is a problem in that it is difficult to sufficiently secure the function required for the LD drive circuit, namely, "to completely control ON / OFF of the light emission of the LD".
[0015]
The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to provide a laser diode driving circuit capable of reducing a drain-source leakage current even under a condition where a gate bias is deep. It is in.
[0016]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention provides a laser diode driving circuit that outputs an optical signal according to a modulation signal, and receives a first signal. A differential pair transistor, a voltage dividing circuit for dividing a second signal by resistance division, and a first current source circuit of the differential pair transistor, wherein the first signals are complementary to each other. Two complementary signals are input to respective control terminals of the transistors constituting the differential pair transistor, and one anode of the differential pair transistor is connected to the laser diode. The first current source circuit includes a first transistor connected to a common cathode of the differential pair transistors, and a second transistor of the same polarity connected in series to the first transistor. And a control terminal of the first transistor and the control terminal of the second transistor. The divided second signal is input to each of the control terminals of the first transistor and the second transistor. 2, the voltage between the anode and the cathode of the second transistor is reduced, so that the current flowing through the first current source circuit becomes substantially zero. The current output to the laser diode is substantially cut off.
[0017]
According to a second aspect of the present invention, in the laser diode driving circuit according to the first aspect, the divided second signal input to a control terminal of the first transistor is connected to the laser diode. Is a light output control signal for keeping the light output of the light emitting device constant.
[0018]
Further, the invention according to claim 3 is the laser diode drive circuit according to claim 1 or 2, further comprising a second current source circuit and a voltage level control diode, wherein a cathode of the second transistor is provided. The second current source circuit is connected to the anode of the voltage level control diode, and the cathode potential of the second transistor is biased to a predetermined value.
[0019]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0020]
FIG. 1 is a circuit diagram illustrating an embodiment of a laser diode drive circuit according to the present invention. The circuit shown in this figure is commonly used for a modulation signal generation circuit and a bias signal generation circuit in FIG. 2 to be described later. Here, a description will be given assuming that the circuit shown in this figure is a modulation signal generation circuit.
[0021]
This circuit is similar to the conventional circuit shown in FIG. 7 in the configuration of the differential pair transistors Q1 and Q2 provided in the IC 10 and how the LD is connected to the differential pair transistors Q1 and Q2. The point that the current source is composed of two transistors Q4 and Q5 connected in series with each other, and a new resistor R3 is added to divide the input signal from the APC circuit 11 and input the divided voltage to the gate of the transistor Q5. Is different.
[0022]
The transistor Q4 has a drain connected to a common source of the differential pair transistors Q1 and Q2, a source connected to the drain of the transistor Q5, and a gate connected to an APC circuit 11 provided outside the IC 10. signal input for modulation current control voltage V M is applied is made in modulated current control terminal 12 from.
[0023]
The resistance values of the resistors R2 'and R3 are obtained by applying an appropriate voltage to the modulation current control terminal 12 by the APC circuit 11 under the condition that the sum of these resistance values (= R2' + R3) becomes equal to R2. The gate-source potential (V GS ) of the transistor Q5 is determined to be about 0.5 V when the LD is turned on.
[0024]
The source of the transistor Q5 is connected to the potential setting diode Q3 and the second current source 13. With the second current source 13 and the diode Q3, the source of the transistor Q5 can always be offset to about 0.6 to 0.7 V, and the potential applied from the APC circuit 11 to the modulation current control terminal 12 is reduced. it is possible to turn OFF the transistor Q5 when it becomes approximately equal to V SS. The current value set by the first current source constituted by the transistors Q4 and Q5 depends on the type of LD, but is about several tens mA.
[0025]
The gate width ( WGQ5 ) of the transistor Q5 is determined so that the current I LD flowing through the LD has a desired current value. In order to reduce the leakage current between the drain and the source of the transistor Q5, it is advantageous to set the WGQ5 as narrow as possible. In order to obtain a necessary drain-source current value at this time, in this circuit, V GS is set to be high.
[0026]
Assuming a supply voltage V SS to be a common value -5.0V in this circuit, the source potential of the transistor Q5, so that the source is self-biased by a second current source 13 and the diode D1 (V (SS + 0.7) V, which is clamped to about -4.3V.
[0027]
In general, the current I DS flowing through the FET is given approximately by g m · (V GS -V th ) 2 · W G. Here, g m the transconductance, V GS is the gate - source voltage, V th be the threshold voltage of the FET and,, W G is the gate width. That is, when the gate-source voltage V GS is equal to or higher than the threshold voltage Vth of the FET, a current starts flowing through the FET, and the current value is equal to the difference between the gate-source voltage V GS and the threshold voltage Vth of the FET. Shows a relationship proportional to the power.
[0028]
As it is apparent from this relation, if setting a higher V GS, it is possible to narrow the gate width W G capable of supplying a predetermined current to the FET. Thus, in the circuit of the present invention sets the V GS for example 0.4~0.5V with. Assuming that V GS is 0.5 V, the gate potential of the transistor Q5 is higher than the source potential by 0.5 V, and a value of about −3.8 V is obtained. Therefore, the resistors R2 ′ and R3 are set to have this gate potential. Adjust the voltage division ratio of the resistor.
[0029]
Further, when the APC control the input level around the value (-3.5 V) was increased by about 1.5V from the V SS from the APC circuit 11, the resistance division ratio of the resistors R2' and R3, R3 / What is necessary is just to set so as to satisfy (R2 ′ + R3) = (0.7 + 0.5) /1.5 (= 4/5). In this case, since almost no current flows through the gate of the FET, for example, R2 ′ can be set to 0.3 kΩ and R3 can be set to 1.2 kΩ.
[0030]
The gate width W GQ5 transistor Q5 may be set as desired current value I DS is obtained, in which case the gate bias of about + 0.5V can be, for example, 700 .mu.m. The gate width WGQ5 depends on a current value, a threshold voltage, characteristics, and the like to be taken out from the FET, and is not limited to about 700 μm.
[0031]
When the IC 10 is configured as described above, the drain potential of the transistor Q5 is lower than the gate input potential of the transistor Q4. If the characteristics of the transistor Q4 are the same as the characteristics of the transistor Q5, the drain potential of the transistor Q5 is -3.5V-0.5V = -4.0V, depending on the APC control signal, and the drain-source The voltage between them is about 0.3V.
[0032]
On the other hand, in the case of the conventional circuit configuration as shown in FIG. 7, assuming that the transistor Q4 in FIG. 7 has the same characteristics as the transistor Q5 in FIG. 1, the drain potential of the transistor Q4 is smaller than the APC input potential. It is obvious that the potential becomes the potential defined by the potential of In or / In having a high potential.
[0033]
Therefore, the drain-source voltage of the transistor Q5 shown in FIG. 1 is greatly reduced as compared with the transistor Q4 shown in FIG. 7, and the drain-source voltage of the transistor Q5 shown in FIG. It becomes possible to set.
[0034]
Note that the drain-source voltage of the transistor Q4 in FIG. 1 is slightly lower than the drain-source voltage of the transistor Q4 in FIG.
[0035]
In the circuit shown in FIG. 1, when the gate potential of the transistor Q4 example V SS, the gate of the transistor Q5 - between the source while being reverse biased drain of the transistor Q5 - a value of negligible source voltage . This means that the current flowing through the transistors Q4 and Q5 can be made substantially zero by controlling the gate input potential of the transistor Q4, and the leakage current can be significantly reduced. Becomes possible.
[0036]
FIG. 2 is a diagram for explaining an overall view of an LD drive circuit and an example of a conceptual APC circuit of an LD drive device according to the present invention. This LD drive circuit includes a data input buffer amplifier circuit 21 and a clock input buffer. It comprises an amplifier circuit 22, a DF / F circuit 23, a modulation signal generation circuit 24, and a bias signal generation circuit 25.
[0037]
The data input buffer amplifier circuit 21 and the clock input buffer amplifier circuit 22 are FET amplifier circuits of a differential output having a well-known configuration, and these amplifiers are connected between input terminals in order to control a signal having a frequency of 2.5 GHz or more. Matched to 50Ω.
[0038]
The signals output from the data input buffer amplifier circuit 21 and the clock input buffer amplifier circuit 22 are transmitted to the DF / F circuit 23 and retimed to become LD drive modulation signals.
[0039]
The DF / F circuit 23 has an input section corresponding to the data signal D and its inverted signal / D, and the clock signal CLK and its complementary input of the inverted signal / CLK. (Disable: DS) An input section corresponding to a complementary input DS and / DS of the signal is also provided. This DS signal is provided for LD protection and safety standards. When the DS signal becomes true, the potential at point A in the figure is forcibly set to the power supply voltage V DD , and All current supplied is cut off.
[0040]
FIG. 3 is a detailed circuit diagram of the DF / F circuit, which is composed of a normal master-slave type DF / F circuit. The output section on the slave side is provided with a DS circuit for forcibly setting the output Q from the DF / F circuit and its inverted output / Q to Low and High, respectively.
[0041]
When the DS circuit is provided, when the DS signal becomes true (High) in a state where the transistor Q6 is ON and the transistor Q7 is OFF, the ON / OFF states of the transistor Q6 and the transistor Q7 are inverted, and the transistor Q6 is turned ON. OFF, the transistor Q7 is ON.
[0042]
When the transistor Q7 is turned on in this way, a differential pair transistor composed of the transistors Q8 and Q9 connected to the transistor Q7 comes to function. Since a fixed bias is applied to the gates of these transistors Q8 and Q9 in advance so that the transistor Q8 is turned on and the transistor Q9 is turned off, when the DS true signal is input, the DF / F circuit Are forcibly set so that the Q output of the L is low and the / Q output is high.
[0043]
FIG. 4 is a circuit diagram for explaining the configurations of the output buffer circuit and the modulation driving circuit. The output buffer circuit is a conventional FET differential amplifier circuit, a current source by configuring the current source of the modulation drive circuit in two stages connected in series FET, even if the V M becomes OFF (approximately 0V) Can be turned off.
[0044]
Further, since the input signal D and DS signals to the inverted signal / D is superimposed, if the DS signal is true when the V M is normal operation, the D-F / F circuit Becomes low, OUT becomes high, and the LD connected between the OUT terminal and the power supply voltage VDD can be turned off.
[0045]
FIG. 5 is a circuit diagram for explaining the configuration of the LD bias current control circuit. The magnitude of the bias current is controlled by the V bias signal. Since Vbias is controlled by a circuit having a configuration in which transistors Q4 and Q5 are connected in series, similarly to the above-described modulation drive circuit, by cutting Vbias and setting it to almost 0 V, the bias current is almost completely reduced. It is possible to shut off.
[0046]
Further, a differential circuit including transistors Q1 and Q2 receiving a DS signal is provided between the drain output of the transistor Q4 and the OUT terminal, and is supplied to the LD even when the DS signal becomes true. Bias current can be cut off. Due to the operation of this differential circuit, when the DS signal becomes true, the current set by the transistors Q4 and Q5 flows exclusively to the transistor Q2, and the current supply to the LD connected to the OUT terminal is cut off. Become.
[0047]
A resistor R mon for monitoring a potential difference is provided outside the IC circuit, and a potential difference generated between both ends of the resistor R mon is constantly monitored. When the potential difference exceeds a predetermined potential difference, the DS signal becomes true and the LD signal becomes true. The operation is turned off.
[0048]
V bias is controlled via an APC circuit. Light intensity observed in PD by (optical coupling between the particular LD and PD) status in the feedback loop may become weaker, but V bias by feedback control increases, the LD destruction by increase in V bias In order to avoid this, the DS signal can be made to function by setting the resistance value of the resistor R mon in advance so that the current value does not reach the LD breakdown current.
[0049]
FIG. 6 is a circuit diagram for explaining the configuration of the APC circuit. Normally, the light emission state of the LD is monitored by detecting a small amount of light (light intensity of 1% or less of the total light intensity) from the back surface of the LD by a PD provided near the back surface of the LD. The monitor signal from the PD is first converted from a current signal to a voltage signal by the first stage I / V converter. At the same time, the cutoff frequency is set to 1 / (2π · R1 · C1) by the capacitor C1 connected in parallel with the feedback resistor R1, and the higher frequency side is cut off to smooth the signal. .
[0050]
When the light emission intensity of the LD increases, the output current of the PD also increases, and as a result, the output of the I / V converter decreases. The decrease in the output of the I / V converter is input to the non-inverting amplifier, where the difference signal from the reference signal is calculated and amplified, and is supplied to the LD drive circuit as a V bias signal.
[0051]
Since the output signal from the non-inverting amplifier has the same phase as the input signal, when the output of the I / V converter decreases, the output potential of the non-inverting amplifier also decreases. Therefore, the V bias signal supplied to the LD drive circuit decreases, and the light emission intensity of the LD decreases. In this way, feedback control is realized.
[0052]
In the circuit example shown in FIG. 6, the modulation current is controlled by adjusting and fixing the bias applied to the modulation current control terminal at the beginning of the LD drive, and by constantly applying this bias to the modulation current control terminal.
[0053]
The LD temperature characteristic can be compensated for by using a resistor whose temperature characteristic cancels the LD temperature characteristic as the resistor R2 connected to the fixed bias circuit. That is, since the LD has a temperature characteristic in which the luminous efficiency decreases as the temperature rises, if a resistor having a characteristic in which the resistance value decreases as the temperature rises is used as the resistor R2, the modulation current increases as the temperature rises. the voltage V M increases to be applied to the control terminal, it is possible to compensate for the temperature characteristics of the LD.
[0054]
Further, a circuit design is made such that the difference signal is monitored as needed, with the maximum emission intensity of the LD emission signal as a high signal and the minimum emission intensity as a low signal, and the same feedback control as the APC circuit used for V bias is performed. It is also possible to obtain a constant modulated optical signal by this feedback control.
[0055]
In the embodiments described so far, the circuit of the present invention has been described as a driving circuit for a laser diode (LD), but the present invention is not limited to this, and other light emitting elements such as a light emitting diode (LED) It is clear that the circuit is also effective as a circuit for driving.
[0056]
【The invention's effect】
As described above, when one high-speed operation FET is used as a current source as in the conventional circuit configuration, the drain-source voltage VDS changes according to the modulation input signal. the gate of the FET - the V DS becomes larger trying to OFF deeply the voltage V GS between source leakage current increases.
[0057]
Therefore, in the laser diode driving circuit of the present invention, the current source FETs of the differential pair FETs constituting the laser diode driving circuit are connected in series with each other, and furthermore, the gate bias potential with respect to the serially connected FETs Was appropriately applied by resistance division. For this reason, the voltage applied between the drain and the source of the current source FET is divided by the two FETs arranged in series, and the voltage applied to one FET is equal to the voltage applied to the current source FET having the conventional configuration. Lower than This makes it possible to provide a laser diode drive circuit that can reduce the drain-source leakage current even under the condition that the gate bias is deep.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram illustrating a circuit example of a laser diode driving device according to the present invention.
FIG. 2 is a diagram for explaining an overall view of an LD drive circuit of a laser diode drive device of the present invention and an example of a conceptual APC circuit.
FIG. 3 is a detailed circuit diagram of a DF / F circuit provided in the laser diode driving device of the present invention.
FIG. 4 is a circuit diagram for explaining a configuration of an output buffer circuit and a modulation drive circuit provided in the laser diode drive device of the present invention.
FIG. 5 is a circuit diagram for explaining a configuration of an LD bias current control circuit provided in the laser diode driving device of the present invention.
FIG. 6 is a circuit diagram for explaining a configuration of an APC circuit provided in the laser diode driving device of the present invention.
FIG. 7 is a diagram for explaining a circuit example of a conventional laser diode driving device.
8 is a diagram for gate length is described a typical I DS -V DS characteristics of the conventional FET of 0.5 [mu] m.
[Explanation of symbols]
10 IC
11 APC circuit 12 Modulation current control terminal Q1, Q2 Differential pair transistor Q3, Q4, Q5 Transistor D1 Diode R1, R2 ', R3 Resistance LD Laser diode

Claims (3)

変調信号に応じた光信号を出力するレーザダイオードの駆動回路であって、
第1の信号の入力を受ける差動対トランジスタと、
第2の信号を抵抗分割により分圧するための分圧回路と、
前記差動対トランジスタの第1の電流源回路とを備え、
前記第1の信号は互いに相補的な2つの信号からなり、
当該相補的な2つの信号の各々は、前記差動対トランジスタを構成するトランジスタの制御端子の夫々に入力され、
前記差動対トランジスタの一方のアノードは、前記レーザダイオードに接続されており、
前記第1の電流源回路は、前記差動対トランジスタの共通カソードに接続された第1のトランジスタと、当該第1のトランジスタに直列接続された同極性の第2のトランジスタとから構成され、当該第1のトランジスタと当該第2のトランジスタの制御端子の各々には前記分圧された第2の信号が入力され、
前記レーザダイオードに流れる電流を遮断するように前記第2の信号を制御した際に、前記第2のトランジスタのアノードとカソード間の電圧が低減されることにより前記第1の電流源回路に流れる電流が実質的にゼロとなり、前記差動対トランジスタから前記レーザダイオードに対して出力される電流が実質的に遮断されることを特徴とするレーザダイオードの駆動回路。
A laser diode drive circuit that outputs an optical signal according to the modulation signal,
A differential pair transistor receiving an input of the first signal;
A voltage dividing circuit for dividing the second signal by resistance division;
A first current source circuit of the differential pair transistor,
The first signal comprises two signals complementary to each other;
Each of the two complementary signals is input to a control terminal of a transistor constituting the differential pair transistor,
One anode of the differential pair transistor is connected to the laser diode,
The first current source circuit includes a first transistor connected to a common cathode of the differential pair transistor, and a second transistor of the same polarity connected in series to the first transistor. The divided second signal is input to each of the control terminals of the first transistor and the second transistor,
When the second signal is controlled so as to cut off the current flowing through the laser diode, the current flowing through the first current source circuit is reduced by reducing the voltage between the anode and the cathode of the second transistor. Is substantially zero, and the current output from the differential pair transistor to the laser diode is substantially cut off.
前記第1のトランジスタの制御端子に入力される前記分圧された第2の信号は、前記レーザダイオードの光出力を一定に保つための光出力制御信号であることを特徴とする請求項1に記載のレーザダイオードの駆動回路。2. The device according to claim 1, wherein the divided second signal input to a control terminal of the first transistor is an optical output control signal for keeping an optical output of the laser diode constant. 3. A driving circuit for the laser diode as described in the above. 第2の電流源回路と電圧レベル制御用ダイオードとを備え、
前記第2のトランジスタのカソードが、当該第2の電流源回路と当該電圧レベル制御用ダイオードのアノードに接続されており、当該第2のトランジスタのカソード電位が所定の値にバイアスされていることを特徴とする請求項1または2に記載のレーザダイオードの駆動回路。
A second current source circuit and a voltage level control diode,
The cathode of the second transistor is connected to the second current source circuit and the anode of the voltage level control diode, and the cathode potential of the second transistor is biased to a predetermined value. The laser diode driving circuit according to claim 1 or 2, wherein:
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7720119B2 (en) 2004-12-16 2010-05-18 Canon Kabushiki Kaisha Laser circuit substrate
JP2013110144A (en) * 2011-11-17 2013-06-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Ld driving circuit
CN113625021A (en) * 2020-05-06 2021-11-09 比亚迪股份有限公司 Protection device, method and equipment for electric leakage detection resistor
CN118712875A (en) * 2024-06-14 2024-09-27 天津大学 A constant temperature and constant current semiconductor laser driving circuit with negative voltage overcurrent protection

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7720119B2 (en) 2004-12-16 2010-05-18 Canon Kabushiki Kaisha Laser circuit substrate
JP2013110144A (en) * 2011-11-17 2013-06-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Ld driving circuit
CN113625021A (en) * 2020-05-06 2021-11-09 比亚迪股份有限公司 Protection device, method and equipment for electric leakage detection resistor
CN113625021B (en) * 2020-05-06 2022-10-18 比亚迪股份有限公司 Protection device, method and equipment for electric leakage detection resistor
CN118712875A (en) * 2024-06-14 2024-09-27 天津大学 A constant temperature and constant current semiconductor laser driving circuit with negative voltage overcurrent protection

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