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JP2004000605A - X線ct装置 - Google Patents

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JP2004000605A
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Chieko Konakawa
粉川 智恵子
Kyojiro Nanbu
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Toshiba Corp
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Abstract

【目的】1管球のX線CT装置より大幅に検査効率を向上させることを目的とする。
【構成】X線を曝射する第1のX線管3−1及び被検体を透過したX線を検出するための第1の検出器4−1を有する第1の撮影系と、X線を曝射する第2のX線管3−2及び被検体を透過したX線を検出するための第2の検出器4−2を有する第2の撮影系と、第1の撮影系がスキャン中にエラーを生じた場合、第2の撮影系を第1の撮影系の撮影条件でスキャンさせる中央制御部12を備える。
【選択図】   図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の光源(例えばX線源)及び各X線源に対応するX線検出器を有するX線CT装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、医用診断装置の開発が進められる中で、被検体の任意の部位の断層像を撮影するCT装置が多く用いられるようになってきた。また、昨今では断層像の撮影の短縮化を図るため、被検体の周囲を螺旋状にスキャンし、各スライス位置のデータを補間処理により算出してこれを基にスライス画像を再構成するヘリカルスキャン方法が実用に供されている。
【0003】
従来のヘリカルスキャンCT装置は、図9A,B,Cに示すように1個の管球71が体軸方向に移動可能な寝台75の上の患者(被検体)70の周りを軌道76に沿って連続的に回転し、ビーム72により螺旋状の走査を行なっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のヘリカルスキャンCT装置には、
(1) 管球が一つなので、ある時刻における複数箇所の走査ができない。
(2) 一度に一つの走査条件でしか走査できない。
(3) 光学系の熱容量が一杯になると、冷めるまで待たなければならない。また、故障したとき代りの光学系の取替作業に手間取る。
(4) 造影剤が去らないうちに短時間に走査する必要があるが、管球が一つしかないので、短時間に走査できない。
(5) 管球が一つしかないので、一定時間で広い範囲を走査することができない。
という不都合があった。
【0005】
本発明は上記不都合に鑑みてなされたものであり、1管球のX線CT装置より大幅に検査効率を向上させることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、被検体をスキャンして得られた投影データに基づき前記被検体のCT像を再構成するX線CT装置において、X線を曝射する第1のX線源及び前記被検体を透過したX線を検出するための第1の検出器を有する第1の撮影系と、X線を曝射する第2のX線源及び前記被検体を透過したX線を検出するための第2の検出器を有する第2の撮影系と、前記第1の撮影系がスキャン中にエラーを生じた場合、前記第2の撮影系を前記第1の撮影系の撮影条件でスキャンさせる制御手段とを備えたことを特徴とするものである。
【0007】
そして、前記制御手段は、前記第1の撮影系がスキャン中にエラーを生じた場合、第1の撮影系の使用を禁止して良い。
【0008】
また前記2の撮影系は、前記第1の撮影系のスキャン中に使用されないことが好ましい。
【0009】
また、上記目的を達成するため、本発明は、被検体をスキャンして得られた投影データに基づき前記被検体のCT像を再構成するX線CT装置において、X線を曝射する第1のX線源及び前記被検体を透過したX線を検出するための第1の検出器を有する第1の撮影系と、X線を曝射する第2のX線源及び前記被検体を透過したX線を検出するための第2の検出器を有する第2の撮影系と、前記第1の撮影系の第1のX線管から照射されるX線のエネルギーと前記第2の撮影系の第2のX線管から照射されるX線のエネルギーとを異ならせて、前記被写体の同一位置をスキャンさせる制御手段とを備えたことを特徴とするものである。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は本発明に係るX線CT装置の概略的な構成を示すブロック図である。
【0011】
図面に示すX線CT装置は、互いに平行な間隔で独立又は連動して回転可能な3個の管球(X線管)3−1、3−2、3−3と、それぞれの管球に対応して設けられている3組の検出器4−1、4−2、4−3と、それぞれの検出器によって検出されたそれぞれの投影データを収集し処理しやすい形にする3組のデータ収集部5−1、5−2、5−3と、管球3−1、3−2、3−3及び検出器4−1、4−2、4−3の回転を制御する回転制御部7及び管球3−1、3−2、3−3の間隔を制御する光学系位置制御部8と、を含む架台(破線の部分)2を有している。
【0012】
X線CT装置は、更に、管球3−1、3−2、3−3の照射するX線量を制御するX線制御部6と、寝台11を駆動する寝台駆動部10及び寝台駆動部10を制御するコントローラ9と、中央制御部(CPU)12と、中央制御部6にバス(図示せず)を介して接続するモニター13、走査条件入力装置としてのキーボード14、内部メモリ15、収集データや画像データを記憶する磁気ディスク16を有している。
【0013】
中央制御部12はX線制御部6、回転制御部7、光学系位置制御部8、及びコントローラ9及び画像再構成装置(図示せず)を制御し、本実施形態のX線CT装置全体の動作を統轄している。また、X線制御部6は中央制御部12の制御の下に各X線管(管球)毎のX線の制御を行う。そして、あるX線管(例えば、管球3−1が曝射するX線量と他のX線管(例えば、管球3−2)が曝射するX線量をそれぞれ異なった量とすることができる。
【0014】
回転制御部7は中央制御部12の制御の下にそれぞれのX線管および/または検出器の回転制御を行ない、X線管および検出器の組は回転制御部7により他のX線管および検出器の組とは独立して回転することができるようになっている。光学系位置制御部8は中央制御部12の制御の下に各X線管及び検出器の寝台方向(患者(被検体)の体軸方向)の動きの制御を行なう。具体的には、走査開始位置にX線管(管球)をセットし、X線管3−1、3−2、3−3のうちどのX線管を寝台方向(正の方向、或いは負の方向)にどの程度どの位の速度で移動するかを制御する。コントローラ9は中央制御部12の制御の下に寝台駆動部10を駆動させ寝台1を患者の体軸方向に移動させる。
【0015】
図2は図1に示した各制御部の構成を示すブロック図であり、中央制御部12は同図に示す走査条件リスト17を参照し、走査条件に基づいて管球単位にX線制御部6、回転制御部7、光学系位置制御部8、及びコントローラ9に命令(信号)を送り、それら各制御部6、7、8、9の制御を行なうと共にそれら各制御部6、7、8、9及び検出器4−1、4−2、4−3からの情報(例えば、回転角、光学系の位置(間隔)、寝台の位置等及びそれぞれの検出器からX線透過量等)を入力し、各制御部6、7、8、9をフィードバック制御する。各制御部6、7、8、9はそのフィードバック制御に基づいてそれぞれのX線源のX線発生量、管球及び検出器の回転及び移動と、寝台の移動制御を行なう。なお、管球及び検出器の回転及び移動は各管球と対応する検出器の組毎に回転駆動装置(図示せず)及び移動装置(図示せず)を有し、回転制御7及び光学系制御部8からの駆動信号に基づいてそれぞれ独立又は連動して駆動される。
【0016】
走査条件リスト17は通常磁気ディスク16に記憶されており、X線CT装置1が起動されると磁気ディスク16から内部メモリ15に読み込まれ中央制御部12により参照されるが、オペレータは走査条件リスト17の条件をキーボード14から変更、追加・登録、削除を行なうことができる。この場合走査条件リスト17は図2に示すような形でモニター13に表示されるので、オペレータは簡単に走査条件の入力ができる。また、走査条件リスト17は管球別に走査条件を格納し、管球には予め固有の番号が割当てられておりこの番号は変更できない。図2の符号17は走査条件リストの一例を示しており、1行目には1番目の管球3−1の状態グラフ(例えば、この管球を使用する・・1;使用しない・・2;故障・・3、といった管球の状態を示す値)、X線条件(X線電圧、及び電流)、管球及び検出器の回転量(角)、管球及び検出器の移動量等の条件(情報)が格納され、2行目には2番目の管球3−2の、3行目には3番目の管球3−3の、そしてn行目にはn番目の管球3−nの状態フラグ、X線条件(X線電圧、及び電流)、管球及び検出器の回転速度、管球及び検出器の移動量等の条件(情報)が格納される。走査条件リストによるX線発生源、管球、検出器の駆動動作例として、例えば、中央制御部が走査条件リストから1番目の管球3−1の走査条件「状態=1;120KV;50mA;1rps;2mmps」を読取って、その走査条件に基づく命令(信号)を各制御部6、7、8に送出すると、X線制御部6は管球3−1のX線発生源に対する供給電圧を120KV,電流を50mAとしてX線発生量を制御し、回転制御部7は管球3−1及び検出器4−1の回転速度を1rpsとするよう管球3−1及び検出器4−1の回転駆動装置に駆動制御信号を送り、光学系位置制御部8は管球3−1及び検出器4−1の移動量を2mmpsとするように管球3−1及び検出器4−1の移動装置(図示せず)に駆動制御信号を送る。
【0017】
本実施形態において、X線CT装置1は被検体に対して螺旋状の走査を行ない、データ再構成装置(図示せず)が、この螺旋状の走査により検出器4−1、4−2、4−3によって得られたデータの組と寝台10の体軸方向の位置データを取込み、取込んだデータ基づいて補間処理(特開平2−211129号参照)より任意のスライス位置の補間データの組を求め、この補間データの組に基づいて画像再構成を行なう。
【0018】
本実施形態において管球の走査中にエラーが生じた場合、例えば、1番目の管球(管球3−1)のX線部にエラーが発生したとすると、管球3−1でエラーが発生したことをX線制御部6が状態ビットから判別し中央制御部12に状態(ステイタス)ビットを送出する。状態ビットは管球の固有番号及び管球の状態を示すビットフラグからなっている。中央制御部12は状態ビットを調べて、管球3−1の使用禁止コードを回転制御部7及び光学系位置制御部8に送出する。回転制御部7及び光学系位置制御部8は管球3−1と検出器4−1の回転駆動装置及び移動装置に駆動停止信号を送る。中央制御部12は管球3−1の全ての動きが止ったことを確認してから、現在使用されていない他の管球に1番目の管球3−1の走査条件等を送り、その管球を管球3−1の代わりに使用する。
【0019】
以下に本実施形態の効果について説明する。
【0020】
(イ) ヘリカルダイナミックスキャンができる。
【0021】
ヘリカルスキャンは被検体を螺旋状に走査する方式であり、広い範囲を素早く走査できる。また、走査した範囲ならどの部分でも画像にできる。一方、ダイナミックスキャンは、ある位置を連続して走査することにより走査位置の経時的変化を観察・撮影することができる。そして、本実施形態のCT装置によれば、図3(A)に示すように複数(図では3個)の管球31a〜31cにより、範囲dをヘリカルスキャンすると同図(B)に示すように各位置P1 〜P4 における画像の経時的変化を見ることができる。即ち、ヘリカルダイナミックスキャンが可能となる。
【0022】
また、ヘリカルダイナミックスキャンを用いて差画像を作成し造影剤の経時変化を観察する際には、図4に示すように各管球31a〜31cの軌道を等しくさせる必要がある。これについては、管球31a〜31cの間隔と被検体の送り速度との関係から容易に設定が可能である。また、被検体の同一部位を何秒後にスキャンするかを決めるには、管球31a〜31cの間隔及び管球31a〜31cの取付角度により決めることができる。また、管球31a〜31cの取付角度をずらすことにより、図5に示すように管球31a〜31cの間隔hを管球自体の幅よりも狭くすることができる。つまり、例えば管球の半径が100[mm]である場合には取付角度をつけないと管球どうしの間隔は少なくとも200[mm]必要とするが、取付角度をつけるとこの間隔を0[mm]以上とすることができる。
【0023】
そして、このようなヘリカルダイナミックスキャンを用いれば、図3(c)に示す如くの3次元画像で経時的変化に沿ったシネ表示34ができる。この表示は例えば脳外科分野で効果的な利用が期待される。
【0024】
(ロ) 複数の撮影条件で、ほぼ同じ時間に同じ範囲をスキャンできる。
【0025】
例えば、図6(A)に示すように2組の光学系41、42で被検体(患者)40を上方と側面から同時に走査すれば、図6(B)に示すようなトップ−ボトム(top−bottom)像とライト−レフト(right−left)像のスキャノグラムを得ることができる。また、ビームや光学系の回転速度を光学系毎に変化させた走査をほぼ同時に同じ範囲で実施できる。そして、これにより造影剤が流失してしまわないうちに相異なる走査条件で走査することができる。また、患者スループットか向上し患者に対する負担が軽減される。そして、条件を変えて走査したい時や撮影に失敗した時等に走査しなおす手間が省ける。これは種々の条件で走査することを要する研究等において特に効果的である。
【0026】
(ハ) 同時に複数部位を、部位に応じた走査条件で撮影することができる。
【0027】
同時に複数部位を、部位に応じた走査条件で走査できる。これは、例えば、集団検診等の場合に、より効果的である。この場合、例えば、図7において、管球51は胸部を走査し管球52は腹部を走査することができる。これら走査は同時にしかも走査条件をそれぞれ部位に応じた条件にセットして走査できるので的確な診断ができ、X線の被曝も必要最小限に抑えることができ、しかも一人当りの走査時間が短くて済む。
【0028】
(ニ) 使用中の管球が使えなくなった時でも他の管球に切換えることができる。
【0029】
従来の装置のダウンタイムの主要因は管球の故障である。しかし、この実施形態では管球が複数個あるので、管球の容量が一杯になった時や管球が故障した時等に使用していない管球を予備として用いることができる。このため、すべての管球を同時に使用する必要のある検査はできなくなるものの、残った管球を用いて検査を続行できる。従って、管球の故障によるダウンタイムがなく、緊急の検査に常時対応することができる。
【0030】
(ホ) 一定の範囲を従来より短時間で走査できる。
【0031】
図8(A)は1個の管球で螺旋状走査を行なう従来のヘリカルスキャンを示し、この場合の1回の走査時間をtとする。一方、図8(B)は本発明による2個の管球で同じ部位を走査する場合を示し、この場合の1回の走査時間は1/2tとなる。このように本発明によりn個の光学系で走査する場合、従来の1/nの時間で撮影が可能である。このことは造影剤を注入した時等のように短時間内に走査しなければならない時により効果的である。
【0032】
(ヘ) 空間分解能を向上させることができる。
【0033】
ある一定の時間内で同範囲を撮影する場合、複数の光学系で撮影するので走査が密にでき体軸に沿った方向の空間分解能を向上させることができる。
【0034】
(ト) デュアルエナジースキャンを行なうことができる。
【0035】
2つ以上の管球で相異なるX線のエネルギーを使用させれば、容易にデュアルエナジースキャンが可能となる。
【0036】
即ち、同一の部位を2種類以上のX線エネルギーで撮影することによって、それぞれのエネルギーごとの画像が得られる。これらの画像を用いて電子分布密度、コンプトン散乱の程度、光電効果を表わす画像を計算によって求めることができる。これらは被写体の元素組成を推定する上で有用な情報となる。元素ごとにコンプトン散乱の強度と光電効果の強度の比が異なるため、この2つの散乱効果及び物質の密度によってX線吸収が決まるのである。
【0037】
なお、本実施形態は上記実施形態に限定されるものではなく、例えば図10(A)に示すように複数(図では3個)のガントリ65〜67を並設して走査を行なっても良い。このような構成では、各X線管の間隔をある程度以下に狭くすることはできないが、図10(B)に示すように、各ガントリ65〜67をチルトさせることができる。
【0038】
【発明の効果】
以上説明したように、1管球のCT装置より大幅に検査効率を向上させることができる。また第1の撮影系がスキャン中にエラーを生じた場合、第2の撮影系を第1の撮影系の撮影条件でスキャンさせるように制御すれば、管球の故障によるダウンタイムを少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に基づくCT装置の一実施形態であるX線CT装置の概念図。
【図2】図1の実施形態における制御部の構成図及び走査条件リストの一例を示す。
【図3】部分図Aはヘリカルダイナミックスキャンの一例を示し、部分図Bはヘリカルダイナミックスキャンにより経時的に撮影された複数の頭部画像を示し、部分図Cはヘリカルダイナミックスキャンによる3次元画像で経時変化に沿ったシネ表示の例を示す。
【図4】管球をヘリカルスキャンの螺旋軌道に合わせた例を示す。
【図5】各管球の取付角度をずらした例を示す。
【図6】部分図Aは複数の撮影条件で、ほぼ同じ時間に同じ範囲をスキャンした例を示し、部分図Bは結果として得られた像を示す。
【図7】同時に他部位を、部位に応じた走査条件で走査した例を示す。
【図8】部分図Aは1個の管球で螺旋状走査を行なう状来のヘリカルスキャンを示し、部分図Bは本発明による2個の管球で同じ部位を走査する場合を示す。
【図9】部分図Aは従来のヘリカルスキャンCT装置による走査の例を示す斜視図であり、部分図Bは側面図であり、部分図Cは架台から見通した図である。
【図10】複数のガントリを用いて撮影する例を示す。
【符号の説明】
1 X線CT装置(CT装置)
2 架台
3−1、3−2、3−3 管球
4−1、4−2、4−3 検出器
11 寝台
10 寝台駆動部
12 制御部

Claims (4)

  1. 被検体をスキャンして得られた投影データに基づき前記被検体のCT像を再構成するX線CT装置において、
    X線を曝射する第1のX線源及び前記被検体を透過したX線を検出するための第1の検出器を有する第1の撮影系と、
    X線を曝射する第2のX線源及び前記被検体を透過したX線を検出するための第2の検出器を有する第2の撮影系と、
    前記第1の撮影系がスキャン中にエラーを生じた場合、前記第2の撮影系を前記第1の撮影系の撮影条件でスキャンさせる制御手段とを備えたことを特徴とするX線CT装置。
  2. 前記制御手段は、前記第1の撮影系がスキャン中にエラーを生じた場合、第1の撮影系の使用を禁止することを特徴とする請求項1記載のX線CT装置
  3. 前記2の撮影系は、前記第1の撮影系のスキャン中に使用されないことを特徴とする請求項1又は請求項2記載のX線CT装置。
  4. 被検体をスキャンして得られた投影データに基づき前記被検体のCT像を再構成するX線CT装置において、
    X線を曝射する第1のX線源及び前記被検体を透過したX線を検出するための第1の検出器を有する第1の撮影系と、
    X線を曝射する第2のX線源及び前記被検体を透過したX線を検出するための第2の検出器を有する第2の撮影系と、
    前記第1の撮影系の第1のX線管から照射されるX線のエネルギーと前記第2の撮影系の第2のX線管から照射されるX線のエネルギーとを異ならせて、前記被写体の同一位置をスキャンさせる制御手段とを備えたことを特徴とするX線CT装置。
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Cited By (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006071472A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Yukihiro Nishikawa Ct法およびct装置
JP2006187453A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc X線ct装置
JP2008093440A (ja) * 2006-10-13 2008-04-24 General Electric Co <Ge> 高回転速度スキャナのための方法及び装置
US7512215B2 (en) 2003-04-25 2009-03-31 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tube electron sources
JP2009297304A (ja) * 2008-06-13 2009-12-24 Canon Inc X線画像診断装置、及びその制御方法
US7684538B2 (en) 2003-04-25 2010-03-23 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US7949101B2 (en) 2005-12-16 2011-05-24 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners and X-ray sources therefor
US8094784B2 (en) 2003-04-25 2012-01-10 Rapiscan Systems, Inc. X-ray sources
US8135110B2 (en) 2005-12-16 2012-03-13 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomography inspection systems
US8451974B2 (en) 2003-04-25 2013-05-28 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items
US8824637B2 (en) 2008-09-13 2014-09-02 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tubes
US8837669B2 (en) 2003-04-25 2014-09-16 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US9020095B2 (en) 2003-04-25 2015-04-28 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
US9052403B2 (en) 2002-07-23 2015-06-09 Rapiscan Systems, Inc. Compact mobile cargo scanning system
US9113839B2 (en) 2003-04-25 2015-08-25 Rapiscon Systems, Inc. X-ray inspection system and method
US9208988B2 (en) 2005-10-25 2015-12-08 Rapiscan Systems, Inc. Graphite backscattered electron shield for use in an X-ray tube
US9218933B2 (en) 2011-06-09 2015-12-22 Rapidscan Systems, Inc. Low-dose radiographic imaging system
US9223052B2 (en) 2008-02-28 2015-12-29 Rapiscan Systems, Inc. Scanning systems
US9223050B2 (en) 2005-04-15 2015-12-29 Rapiscan Systems, Inc. X-ray imaging system having improved mobility
US9223049B2 (en) 2002-07-23 2015-12-29 Rapiscan Systems, Inc. Cargo scanning system with boom structure
US9263225B2 (en) 2008-07-15 2016-02-16 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tube anode comprising a coolant tube
US9285498B2 (en) 2003-06-20 2016-03-15 Rapiscan Systems, Inc. Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers
US9332624B2 (en) 2008-05-20 2016-05-03 Rapiscan Systems, Inc. Gantry scanner systems
US9420677B2 (en) 2009-01-28 2016-08-16 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tube electron sources
US9429530B2 (en) 2008-02-28 2016-08-30 Rapiscan Systems, Inc. Scanning systems
US9726619B2 (en) 2005-10-25 2017-08-08 Rapiscan Systems, Inc. Optimization of the source firing pattern for X-ray scanning systems
US9791590B2 (en) 2013-01-31 2017-10-17 Rapiscan Systems, Inc. Portable security inspection system
US10483077B2 (en) 2003-04-25 2019-11-19 Rapiscan Systems, Inc. X-ray sources having reduced electron scattering
US10591424B2 (en) 2003-04-25 2020-03-17 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items
CN118285825A (zh) * 2024-04-24 2024-07-05 苏州法夏科技有限公司 一种ct探测器模块

Cited By (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10670769B2 (en) 2002-07-23 2020-06-02 Rapiscan Systems, Inc. Compact mobile cargo scanning system
US9052403B2 (en) 2002-07-23 2015-06-09 Rapiscan Systems, Inc. Compact mobile cargo scanning system
US10007019B2 (en) 2002-07-23 2018-06-26 Rapiscan Systems, Inc. Compact mobile cargo scanning system
US9223049B2 (en) 2002-07-23 2015-12-29 Rapiscan Systems, Inc. Cargo scanning system with boom structure
US10483077B2 (en) 2003-04-25 2019-11-19 Rapiscan Systems, Inc. X-ray sources having reduced electron scattering
US8885794B2 (en) 2003-04-25 2014-11-11 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items
US7903789B2 (en) 2003-04-25 2011-03-08 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tube electron sources
US10901112B2 (en) 2003-04-25 2021-01-26 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system with stationary x-ray sources
US8085897B2 (en) 2003-04-25 2011-12-27 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US8094784B2 (en) 2003-04-25 2012-01-10 Rapiscan Systems, Inc. X-ray sources
US10591424B2 (en) 2003-04-25 2020-03-17 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items
US8451974B2 (en) 2003-04-25 2013-05-28 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items
US7512215B2 (en) 2003-04-25 2009-03-31 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tube electron sources
US10175381B2 (en) 2003-04-25 2019-01-08 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners having source points with less than a predefined variation in brightness
US8837669B2 (en) 2003-04-25 2014-09-16 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US7684538B2 (en) 2003-04-25 2010-03-23 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US11796711B2 (en) 2003-04-25 2023-10-24 Rapiscan Systems, Inc. Modular CT scanning system
US9001973B2 (en) 2003-04-25 2015-04-07 Rapiscan Systems, Inc. X-ray sources
US9020095B2 (en) 2003-04-25 2015-04-28 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
US9675306B2 (en) 2003-04-25 2017-06-13 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanning system
US9442082B2 (en) 2003-04-25 2016-09-13 Rapiscan Systems, Inc. X-ray inspection system and method
US9113839B2 (en) 2003-04-25 2015-08-25 Rapiscon Systems, Inc. X-ray inspection system and method
US9618648B2 (en) 2003-04-25 2017-04-11 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
US9285498B2 (en) 2003-06-20 2016-03-15 Rapiscan Systems, Inc. Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers
JP2006071472A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Yukihiro Nishikawa Ct法およびct装置
JP2006187453A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc X線ct装置
US9223050B2 (en) 2005-04-15 2015-12-29 Rapiscan Systems, Inc. X-ray imaging system having improved mobility
US9208988B2 (en) 2005-10-25 2015-12-08 Rapiscan Systems, Inc. Graphite backscattered electron shield for use in an X-ray tube
US9726619B2 (en) 2005-10-25 2017-08-08 Rapiscan Systems, Inc. Optimization of the source firing pattern for X-ray scanning systems
US10295483B2 (en) 2005-12-16 2019-05-21 Rapiscan Systems, Inc. Data collection, processing and storage systems for X-ray tomographic images
US8958526B2 (en) 2005-12-16 2015-02-17 Rapiscan Systems, Inc. Data collection, processing and storage systems for X-ray tomographic images
US10976271B2 (en) 2005-12-16 2021-04-13 Rapiscan Systems, Inc. Stationary tomographic X-ray imaging systems for automatically sorting objects based on generated tomographic images
US8625735B2 (en) 2005-12-16 2014-01-07 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners and X-ray sources therefor
US9638646B2 (en) 2005-12-16 2017-05-02 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners and X-ray sources therefor
US9048061B2 (en) 2005-12-16 2015-06-02 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners and X-ray sources therefor
US7949101B2 (en) 2005-12-16 2011-05-24 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners and X-ray sources therefor
US8135110B2 (en) 2005-12-16 2012-03-13 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tomography inspection systems
JP2008093440A (ja) * 2006-10-13 2008-04-24 General Electric Co <Ge> 高回転速度スキャナのための方法及び装置
US9223052B2 (en) 2008-02-28 2015-12-29 Rapiscan Systems, Inc. Scanning systems
US12386097B2 (en) 2008-02-28 2025-08-12 Rapiscan Systems, Inc. Scanning systems
US9429530B2 (en) 2008-02-28 2016-08-30 Rapiscan Systems, Inc. Scanning systems
US11768313B2 (en) 2008-02-28 2023-09-26 Rapiscan Systems, Inc. Multi-scanner networked systems for performing material discrimination processes on scanned objects
US10585207B2 (en) 2008-02-28 2020-03-10 Rapiscan Systems, Inc. Scanning systems
US11275194B2 (en) 2008-02-28 2022-03-15 Rapiscan Systems, Inc. Scanning systems
US9332624B2 (en) 2008-05-20 2016-05-03 Rapiscan Systems, Inc. Gantry scanner systems
US10098214B2 (en) 2008-05-20 2018-10-09 Rapiscan Systems, Inc. Detector support structures for gantry scanner systems
JP2009297304A (ja) * 2008-06-13 2009-12-24 Canon Inc X線画像診断装置、及びその制御方法
US9263225B2 (en) 2008-07-15 2016-02-16 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tube anode comprising a coolant tube
US8824637B2 (en) 2008-09-13 2014-09-02 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tubes
US9420677B2 (en) 2009-01-28 2016-08-16 Rapiscan Systems, Inc. X-ray tube electron sources
US9218933B2 (en) 2011-06-09 2015-12-22 Rapidscan Systems, Inc. Low-dose radiographic imaging system
US9791590B2 (en) 2013-01-31 2017-10-17 Rapiscan Systems, Inc. Portable security inspection system
US11550077B2 (en) 2013-01-31 2023-01-10 Rapiscan Systems, Inc. Portable vehicle inspection portal with accompanying workstation
US10317566B2 (en) 2013-01-31 2019-06-11 Rapiscan Systems, Inc. Portable security inspection system
CN118285825A (zh) * 2024-04-24 2024-07-05 苏州法夏科技有限公司 一种ct探测器模块

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JP3631235B2 (ja) 2005-03-23

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