JP2004069508A

JP2004069508A - Contact probe

Info

Publication number: JP2004069508A
Application number: JP2002229498A
Authority: JP
Inventors: Yasuo Fukushima; 福島　康夫; Tomoyuki Yamada; 山田　智之; Satoshi Kakegawa; 掛川　聡
Original assignee: Yokowo Co Ltd; Yokowo Mfg Co Ltd
Current assignee: Yokowo Co Ltd
Priority date: 2002-08-07
Filing date: 2002-08-07
Publication date: 2004-03-04
Anticipated expiration: 2022-08-07
Also published as: JP4021275B2

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a contact probe improved in durability by bringing a conductive tube 10 and a plunger 22 into mutual contact via a wide face and allowing variation of the contact point for reducing and stabilizing contact resistance. <P>SOLUTION: The plunger 22 is relatively turned around an axis freely to the conductive tube 10, while a bottomed hole 22b bored in the axial direction toward the projection side is arranged on the opposite side of the projection side of the plunger 22, and the bottom face of the bottomed hole 22b is formed into a conical shape. Inside the bottomed hole 22b, a bias pin 24 having a conical front end face and a rear end face serving as a bias face 24a is inserted freely rotationally around an axis relatively to the plunger 22, and the conical top point of the bias pin 24 is brought into contact with the conical top point of the bottom face in the bottomed hole 22b. A spring 14 is arranged so that the bias face 24a in the bias pin 24 is elastically energized in the projection direction. The tip of the projecting one end side 22a of the plunger 22 is formed into a crown shape. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、導電チューブとプランジャの接触抵抗を安定させて長寿命となるようにしたコンタクトプローブに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来のコンタクトプローブの一例を図６を参照して説明する。図６は、従来のコンタクトプローブの一例の縦断面部分図である。図６において、導電チューブ１０に、プランジャ１２が当接部である一端部を突出させて、しかも抜け出ないようにして軸方向に移動自在に配設される。そして、このプランジャ１２の他端面である後端面にはバイアス面１２ａが形成される。さらに、導電チューブ１０内に、プランジャ１２を突出方向に弾性付勢すべく、バイアス面１２ａに一端を弾接させてスプリング１４が縮設される。なお、導電チューブ１０の内周面とプランジャ１２の外周面には、接触抵抗と導電抵抗を小さくすべく、金メッキなどが適宜に施されている。
【０００３】
かかる構成の従来のコンタクトプローブにあっては、スプリング１４の一端がバイアス面１２ａを弾性付勢することで、プランジャ１２に軸方向と直交する軸回りの回転力が生じ、図６の点Ａ，Ｂにて、プランジャ１２が導電チューブ１０に当接する。そこで、点Ａ，Ｂにて、導電チューブ１０とプランジャ１２が確実に当接されて、接触抵抗を小さく、しかも安定したものとすることができる。なお、当接点のＡ、Ｂは、バイアス面１２ａの傾斜方向により定まる点である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかるに、図６に示す従来技術にあっては、点Ａ，Ｂでのみ導電チューブ１０とプランジャ１２が当接して導通しており、点Ａ，Ｂの接触面が何らかの原因により荒れると、急激に接触抵抗が大きくなってしまい、耐久性に問題があった。そこで、より耐久性の改善が望まれていた。
【０００５】
本発明は、上述の従来技術のかかる事情に鑑みてなされたもので、導電チューブとプランジャが広い面で接触し、また当接点が変化し得るようにして、耐久性の改善を図ったコンタクトプローブを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
かかる目的を達成するために、本発明のコンタクトプローブは、導電チューブに、プランジャを一端部を突出させしかも抜け出ないようにして軸方向に移動自在に配設し、前記導電チューブ内に前記プランジャを突出方向に弾性付勢するスプリングを配設したコンタクトプローブにおいて、前記プランジャの突出側と反対側の面に突出側に向けて軸方向に有底孔を穿設し、前記有底孔の底面を円錐状となし、前記有底孔内に先端面が円錐状とされ後端面がバイアス面とされるバイアスピンを挿入配設し、しかも前記バイアスピンの前記円錐状の頂点が前記有底孔の底面の前記円錐状の頂点に当接するようにし、前記バイアスピンの前記バイアス面を突出方向に弾性付勢するように前記スプリングを配設して構成されている。
【０００７】
また、導電チューブに、プランジャを一端部を突出させしかも抜け出ないようにして軸方向に移動自在に配設し、前記導電チューブ内に前記プランジャを突出方向に弾性付勢するスプリングを配設したコンタクトプローブにおいて、前記導電チューブに対して前記プランジャを相対的に軸回り自在とし、前記プランジャの突出側と反対側の面に突出側に向けて軸方向に有底孔を穿設し、前記有底孔内に、後端面がバイアス面とされたバイアスピンを前記プランジャに対して相対的に軸回り自在に挿入配設し、前記バイアスピンの前記バイアス面を突出方向に弾性付勢するように前記スプリングを配設し、前記プランジャの突出側先端をクラウン状に形成して構成しても良い。
【０００８】
さらに、前記プランジャの有底孔の底面を円錐状とし、前記バイアスピンの先端面を円錐状とし、しかも前記バイアスピンの前記円錐状の頂点が前記有底孔の底面の前記円錐状の頂点に当接するようにして構成することもできる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の第１実施例を図１および図２を参照して説明する。図１は、本発明のコンタクトプローブの第１実施例の構造を示し、（ａ）は縦断面部分図であり、（ｂ）はプランジャの突出する一端側の先端のクラウン状の切り割りを軸方向から見た図である。図２は、本発明のコンタクトプローブの第１実施例でプランジャが軸回りに移動する作用を説明する図である。
【００１０】
まず、図１において、導電チューブ１０にプランジャ２２が当接部である一端部２２ａを突出させ、しかも抜け出ないようにして軸方向に移動自在に配設される。そして、プランジャ２２の導電チューブ１０内の他端面である後端面に、突出方向に向けて軸方向に有底孔２２ｂが穿設される。この有底孔２２ｂの底面は、突出方向に凹なる円錐状とされる。また、プランジャ２２の一端部２２ａの先端は、クラウン状に切り割りが形成される。なお、プランジャ２２は、導電チューブ１０に対して相対的に軸回りに回転自在である。そして、導電チューブ１０の内周面とプランジャ２２の外周面には、適宜に金メッキが施されている。
【００１１】
さらに、プランジャ２２の有底孔２２ｂ内に、先端面が突出方向に凸なる円錐状に形成され、後端面にバイアス面２４ａが形成されたバイアスピン２４が、挿入配設される。このバイアスピン２４の円錐状の頂角は、有底孔２２ｂの底面の円錐状の頂角よりも小さく、バイアスピン２４の円錐状の頂点が、有底孔２２ｂの底面の円錐状の頂点に当接され、バイアスピン２４はプランジャ２２に対して相対的に軸回りに回転自在である。そして、スプリング１４が、その一端がバイアスピン２４のバイアス面２４ａを突出方向に弾性付勢するように弾接して、導電チューブ１０内に縮設される。
【００１２】
かかる構成において、スプリング１４がバイアス面２４ａを弾接付勢することで、バイアスピン２４は軸方向と直交する軸回りに回転する力が作用し、有底孔２２ｂ内で点Ｃ，Ｄの２点で主としてプランジャ２２に当接する。なお、点Ｃはバイアス面２４の傾斜方向により定まる点であり、点Ｄは円錐状の頂点である。ここで、図１において、主として点Ｃ，Ｄでバイアスピン２４がプランジャ２２に当接するとすれば、プランジャ２２には図１において上向きの力が作用し、プランジャ２２の外周面の上側部分が導電チューブ１０の内周面に当接することとなる。
【００１３】
そこで、図６に示す従来技術に比較して、プランジャ２２の広い面で導電チューブ１０の内周面に当接することとなる。この広い面による接触により、小さな接触抵抗でしかも安定した導通が得られる。なお、上記第１実施例では、プランジャ２２の有底孔２２ｂの底面を突出側に凹なる円錐状としたが、突出側と反対側に凸なる円錐状とし、バイアスピン２４の先端面の円錐状を突出側に凹なる円錐状とし、有底孔２２ｂの円錐状の頂角を、バイアスピン２４の円錐状の頂角よりも小さく設定して、双方の円錐状の頂点が当接できるようにしても良い。
【００１４】
また、図２に示すごとく、プランジャ２２の突出側の一端部２２ａのクラウン状の先端が、被当接端子としての半田ボール２６に当接する際に、クラウン状を形成する斜面に対して軸対称に当接するとは限らない。そこで、図２に図示するごとく、半田ボール２６に対してプランジャ２２の一端部２２ａのクラウン状の先端が当接するとすれば、半田ボール２６が片側の斜面にまず当接し、図２において、Ｆ方向の力が軸からずれてプランジャ２２に作用する可能性がある。そこで、この力Ｆにより、プランジャ２２は軸回りに回転され得る。そこで、プランジャ２２は、導電チューブ１０に対して軸回りに回転し、その当接位置が変化し得る。なお、プランジャ２２を軸回りに回転させる力Ｆの方向や大きさは、半田ボール２６の端子にプランジャ２２が当接される毎に相違する。このためにプランジャ２２の導電チューブ１０に接触する位置が僅かずつずれて移動することにより、図６に示す従来の当触面が限定されてしまう構造に対して、荒れていない面により当接する確率が高く、それだけ耐久性に優れたものとなる。
【００１５】
次に、本発明の第２実施例を図３および図４を参照して説明する。図３は、本発明のコンタクトプローブの第２実施例の突出する一端側の先端の構造を示し、（ａ）は軸に対して側方から見た図であり、（ｂ）は軸方向から見た図である。図４は、本発明のコンタクトプローブの第２実施例でプランジャが軸回りに回転する作用を説明する図である。
【００１６】
図３に示す第２実施例では、プランジャ２２の突出する一端側２２ｂの先端に設けたクラウン状の切り割りが、均等でなく、急な斜面２２ｃと緩い斜面２２ｄが交互となるように形成される。すると、図４に示すごとく、被当接端子としての半田ボール２６がまず急な斜面２２ｃに当接するよりも緩い斜面２２ｄに当接する確率が高いものとなる。そして、図４において、半田ボール２６が緩い斜面２２ｄに当接したとすれば、図４でＦ方向の力が作用し、プランジャ２２が軸回りに移動される。もって、第２実施例では、プランジャ２２が僅かながら、軸回りに一定方向で回転される傾向となる。この結果、プランジャ２２の導通チューブ１０に当接する接触面が、僅かづつではあるが、全周にわたって移動する可能性が高い。したがって、より耐久性に優れたものである。
【００１７】
さらに、本発明の第３実施例を図５を参照して説明する。図５は、本発明のコンタクトプローブの第３実施例の突出する一端側の先端の構造を示し、（ａ）は軸に対して側方から見た図であり、（ｂ）は軸方向から見た図である。
【００１８】
図５に示す第３実施例では、プランジャ２２の突出する一端側２２ｂの先端に設けたクラウン状の切り割りは均等であるが、クラウン状を構成する傾斜面の稜が軸回りに同方向に曲線を描くように形成される。すると、隣り合う斜面の軸に対する角度が相違し、第２実施例の急な斜面２２ｃと緩い斜面２２ｄを設けたのと同様に、半田ボールに当接させることで、プランジャ２２を軸回りに一定方向に回転させる傾向が生ずる。しかも、半田ボールにクラウン状を構成する傾斜面の稜が当接して僅かに食い込むとすれば、この食い込みによりプランジャ２２に軸回りに回転させる力が作用する。もって、第３実施例にあっても、第２実施例と同様に、プランジャ２２の導通チューブ１０に当接する接触面が僅かずつではあるが、全周にわたって移動する可能性があり、それだけ耐久性に優れている。
【００１９】
なお、上記実施例にあっては、被当接端子が半球状の半田ボール２６である場合に付き説明したが、被当接端子が平面状の端子であっても、本発明のコンタクトプローブを使用することは可能である。しかし、被当接端子が平面状の端子であれば、プランジャ２２が導電チューブ１０の内周面に広い面で接触する作用は得られるが、被当接端子にプランジャ２２が当接する毎にプランジャ２２を軸回りに移動させる力は作用し得ない。
【００２０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のコンタクトプローブは構成されているので、以下のごとき格別な作用効果を奏する。
【００２１】
請求項１記載のコンタクトプローブにあっては、スプリングによりバイアスピンのバイアス面に加わる弾力により、プランジャに軸方向と直交する方向の力が作用し、プランジャが導電チューブの内周面に広い面で当接することとなり、小さな接触抵抗でしかも安定した導通が得られる。
【００２２】
また、請求項２記載のコンタクトプローブにあっては、被当接端子としての半田ボールにプランジャが当接する毎に、プランジャを軸回りに移動させる力が作用する可能性がある。そこで、プランジャの導電チューブに当接する位置が僅かずつながら移動することにより、荒れていない面により接触する確率が高く、それだけ小さな接触抵抗が安定して得られ、耐久性にも優れたものとなる。
【００２３】
さらに、請求項３記載のコンタクトプローブにあっては、スプリングが弾接するバイアスピンが、円錐状の頂点でプランジャの有底孔の底面の円錐状の頂点に当接し、バイアスピンに対してプランジャが相対的に軸回りに容易に回転し得る。もって、プランジャが導電チューブに対して軸回りに容易に移動でき、それだけ接触面が移動され易く、耐久性に優れたものとなり得る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のコンタクトプローブの第１実施例の構造を示し、（ａ）は縦断面部分図であり、（ｂ）はプランジャの突出する一端側の先端のクラウン状の切り割りを軸方向から見た図である。
【図２】本発明のコンタクトプローブの第１実施例でプランジャが軸回りに移動する作用を説明する図である。
【図３】本発明のコンタクトプローブの第２実施例の突出する一端側の先端の構造を示し、（ａ）は軸に対して側方から見た図であり、（ｂ）は軸方向から見た図である。
【図４】本発明のコンタクトプローブの第２実施例でプランジャが軸回りに回転する作用を説明する図である。
【図５】本発明のコンタクトプローブの第３実施例の突出する一端側の先端の構造を示し、（ａ）は軸に対して側方から見た図であり、（ｂ）は軸方向から見た図である。
【図６】従来のコンタクトプローブの一例の縦断面部分図である。
【符号の説明】
１０　導電チューブ
１２，２２　プランジャ
１２ａ，２４ａ　バイアス面
１４　スプリング
２２ａ　一端側
２２ｂ　有底孔
２４　バイアスピン[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a contact probe that stabilizes the contact resistance between a conductive tube and a plunger and has a long life.
[0002]
[Prior art]
An example of a conventional contact probe will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a partial longitudinal sectional view of an example of a conventional contact probe. In FIG. 6, a plunger 12 is disposed on a conductive tube 10 such that one end portion, which is an abutting portion, protrudes and is movable in the axial direction so as not to come off. A bias surface 12a is formed on a rear end surface, which is the other end surface of the plunger 12. Further, in order to elastically urge the plunger 12 in the protruding direction in the conductive tube 10, one end is elastically contacted with the bias surface 12a, and the spring 14 is contracted. The inner peripheral surface of the conductive tube 10 and the outer peripheral surface of the plunger 12 are appropriately plated with gold or the like to reduce contact resistance and conductive resistance.
[0003]
In the conventional contact probe having such a configuration, when one end of the spring 14 elastically urges the bias surface 12a, a rotational force is generated in the plunger 12 about an axis orthogonal to the axial direction. At B, the plunger 12 contacts the conductive tube 10. Therefore, at points A and B, the conductive tube 10 and the plunger 12 are reliably brought into contact with each other, so that the contact resistance can be reduced and the contact resistance can be stabilized. A and B of the contact point are points determined by the inclination direction of the bias surface 12a.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the prior art shown in FIG. 6, the conductive tube 10 and the plunger 12 are in contact with each other only at points A and B, so that conduction occurs. The contact resistance increased, and there was a problem in durability. Therefore, improvement in durability has been desired.
[0005]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances of the related art, and a contact probe in which a conductive tube and a plunger come into contact on a wide surface and the contact point can be changed to improve durability. The purpose is to provide.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve such an object, a contact probe of the present invention is arranged such that a plunger is disposed in a conductive tube so that one end thereof protrudes and does not come out, and is movable in the axial direction, and the plunger is placed in the conductive tube. In a contact probe provided with a spring that elastically biases in a protruding direction, a bottomed hole is formed in a surface opposite to a protruding side of the plunger in an axial direction toward a protruding side, and a bottom surface of the bottomed hole is formed. A bias pin having a conical front end surface and a rear end surface serving as a bias surface is inserted into the bottomed hole, and the conical apex of the bias pin is formed in the bottomed hole. The spring is provided so as to abut on the conical apex of the bottom surface and to elastically urge the bias surface of the bias pin in a protruding direction.
[0007]
A contact in which a plunger is disposed on the conductive tube such that one end thereof protrudes and does not come out so as to be movable in the axial direction, and a spring is disposed within the conductive tube to elastically bias the plunger in the protruding direction. In the probe, the plunger is freely rotatable around the axis with respect to the conductive tube, and a bottomed hole is formed in the surface opposite to the protruding side of the plunger in the axial direction toward the protruding side. A bias pin having a rear end surface as a bias surface is inserted and disposed in the hole so as to be freely rotatable around the axis with respect to the plunger, and the bias pin is elastically biased in a projecting direction with respect to the bias surface. A spring may be provided, and the tip of the protruding side of the plunger may be formed in a crown shape.
[0008]
Further, the bottom surface of the bottomed hole of the plunger has a conical shape, the tip end surface of the bias pin has a conical shape, and the conical apex of the bias pin corresponds to the conical apex of the bottom surface of the bottomed hole. It can also be configured to abut.
[0009]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1A and 1B show the structure of a contact probe according to a first embodiment of the present invention, in which FIG. 1A is a partial longitudinal sectional view, and FIG. FIG. FIG. 2 is a view for explaining the action of the plunger moving around the axis in the first embodiment of the contact probe of the present invention.
[0010]
First, in FIG. 1, the plunger 22 is disposed so as to protrude from the conductive tube 10 at one end portion 22 a, which is a contact portion, and to be movable in the axial direction so as not to come off. A bottomed hole 22b is formed in the rear end face, which is the other end face in the conductive tube 10, of the plunger 22 in the axial direction toward the protruding direction. The bottom surface of the bottomed hole 22b has a conical shape that is concave in the protruding direction. Further, a tip of the one end 22a of the plunger 22 is formed with a cut in a crown shape. The plunger 22 is rotatable around the axis relative to the conductive tube 10. The inner peripheral surface of the conductive tube 10 and the outer peripheral surface of the plunger 22 are appropriately plated with gold.
[0011]
Further, a bias pin 24 having a front end surface formed in a conical shape protruding in the protruding direction and a bias surface 24a formed on a rear end surface is inserted and disposed in the bottomed hole 22b of the plunger 22. The conical apex angle of the bias pin 24 is smaller than the conical apex angle of the bottom surface of the bottomed hole 22b, and the conical apex of the bias pin 24 is located at the bottom of the bottomed hole 22b. The bias pin 24 is in contact with the plunger 22 and is rotatable about an axis. One end of the spring 14 elastically contacts the bias surface 24 a of the bias pin 24 in a projecting direction so as to elastically urge the bias surface 24 a, and is contracted into the conductive tube 10.
[0012]
In such a configuration, when the spring 14 elastically urges the bias surface 24a, a force is applied to the bias pin 24 to rotate around an axis perpendicular to the axial direction, and the two points C and D in the bottomed hole 22b. Mainly in contact with the plunger 22. Note that point C is a point determined by the inclination direction of the bias surface 24, and point D is a conical vertex. Here, in FIG. 1, if the bias pin 24 mainly contacts the plunger 22 at points C and D, an upward force acts on the plunger 22 in FIG. 1, and the upper part of the outer peripheral surface of the plunger 22 becomes conductive. It comes into contact with the inner peripheral surface of the tube 10.
[0013]
Therefore, as compared with the prior art shown in FIG. 6, the wider surface of the plunger 22 comes into contact with the inner peripheral surface of the conductive tube 10. Due to the contact with this wide surface, stable conduction can be obtained with small contact resistance. In the first embodiment, the bottom surface of the bottomed hole 22b of the plunger 22 has a conical shape that is concave on the protruding side, but has a conical shape that is convex on the opposite side to the protruding side. The shape is a conical shape concave to the protruding side, and the conical apex angle of the bottomed hole 22b is set smaller than the conical apex angle of the bias pin 24 so that both apex vertices can abut. You may do it.
[0014]
Further, as shown in FIG. 2, when the crown-shaped tip of the one end 22a on the protruding side of the plunger 22 contacts the solder ball 26 as the contacted terminal, it is axially symmetric with respect to the slope forming the crown. Does not necessarily abut. Therefore, as shown in FIG. 2, if the crown-shaped tip of the one end 22a of the plunger 22 contacts the solder ball 26, the solder ball 26 first contacts one slope, and in FIG. Directional forces can be offset from the axis and act on the plunger 22. Then, the plunger 22 can be rotated around the axis by the force F. Therefore, the plunger 22 rotates around the axis with respect to the conductive tube 10, and the contact position thereof may change. The direction and the magnitude of the force F for rotating the plunger 22 around the axis are different each time the plunger 22 is brought into contact with the terminal of the solder ball 26. For this reason, the position where the contact of the plunger 22 with the conductive tube 10 is slightly displaced is shifted, so that the probability that the plunger 22 comes into contact with the non-roughened surface in the conventional structure in which the contact surface is limited as shown in FIG. And high durability.
[0015]
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3A and 3B show the structure of the tip of one end side of a contact probe according to a second embodiment of the present invention, wherein FIG. 3A is a diagram viewed from a side with respect to an axis, and FIG. FIG. FIG. 4 is a view for explaining the action of the plunger rotating around the axis in the second embodiment of the contact probe of the present invention.
[0016]
In the second embodiment shown in FIG. 3, the crown-shaped cut provided at the tip of one end side 22b of the plunger 22 is not uniform, and the steep slope 22c and the gentle slope 22d are formed alternately. . Then, as shown in FIG. 4, there is a high probability that the solder ball 26 as the contacted terminal contacts the gentle slope 22d rather than the steep slope 22c first. Then, in FIG. 4, if the solder ball 26 comes into contact with the gentle slope 22d, a force in the direction F acts in FIG. 4, and the plunger 22 is moved around the axis. Therefore, in the second embodiment, the plunger 22 tends to rotate slightly around the axis in a fixed direction. As a result, the contact surface of the plunger 22 that contacts the conduction tube 10 is likely to move over the entire circumference, albeit slightly. Therefore, it is more excellent in durability.
[0017]
Further, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 5A and 5B show the structure of the tip of one end of a contact probe according to a third embodiment of the present invention, wherein FIG. 5A is a diagram viewed from a side with respect to an axis, and FIG. FIG.
[0018]
In the third embodiment shown in FIG. 5, the crown-shaped cut provided at the distal end of the one end 22b of the plunger 22 is equal, but the ridges of the inclined surface forming the crown are curved in the same direction around the axis. It is formed so as to draw. Then, the angles of the adjacent slopes with respect to the axis are different, and the plunger 22 is fixed around the axis by abutting on the solder ball as in the case of providing the steep slope 22c and the gentle slope 22d of the second embodiment. Direction. In addition, if the edge of the inclined surface forming the crown shape comes into contact with the solder ball and bites slightly, the biting exerts a force to rotate the plunger 22 around the axis. Thus, even in the third embodiment, similarly to the second embodiment, the contact surface of the plunger 22 that contacts the conduction tube 10 may move over the entire circumference, albeit slightly, and the durability is accordingly high. Is excellent.
[0019]
In the above embodiment, the case where the contacted terminal is a hemispherical solder ball 26 has been described. However, even if the contacted terminal is a planar terminal, the contact probe of the present invention can be used. It is possible to use. However, if the contacted terminal is a flat terminal, the plunger 22 can be brought into contact with the inner peripheral surface of the conductive tube 10 on a wide surface, but the plunger 22 is contacted each time the plunger 22 contacts the contacted terminal. No force can be applied to move 22 about its axis.
[0020]
【The invention's effect】
As described above, since the contact probe of the present invention is configured, it has the following special effects.
[0021]
In the contact probe according to the first aspect, a force in a direction perpendicular to the axial direction acts on the plunger due to the elastic force applied to the bias surface of the bias pin by the spring, so that the plunger has a wide surface on the inner peripheral surface of the conductive tube. As a result, a stable conduction can be obtained with a small contact resistance.
[0022]
Further, in the contact probe according to the second aspect, every time the plunger comes into contact with the solder ball as the contacted terminal, a force for moving the plunger around the axis may be applied. Therefore, by moving the position of the plunger in contact with the conductive tube little by little, the probability that the plunger comes into contact with a non-roughened surface is high, so that a small contact resistance can be obtained stably and the durability is excellent. .
[0023]
Further, in the contact probe according to the third aspect, the bias pin against which the spring resiliently contacts a cone-shaped apex on the bottom surface of the bottomed hole of the plunger at the conical apex, and the plunger contacts the bias pin. Can rotate relatively easily around an axis. Thus, the plunger can be easily moved around the axis with respect to the conductive tube, so that the contact surface can be easily moved and the durability can be excellent.
[Brief description of the drawings]
FIGS. 1A and 1B show the structure of a first embodiment of a contact probe of the present invention, wherein FIG. 1A is a partial longitudinal sectional view, and FIG. FIG.
FIG. 2 is a view for explaining an action of a plunger moving around an axis in the first embodiment of the contact probe of the present invention.
3A and 3B show a structure of a tip of one end of a contact probe according to a second embodiment of the present invention, wherein FIG. 3A is a diagram viewed from a side with respect to an axis, and FIG. FIG.
FIG. 4 is a view illustrating an operation of rotating a plunger around an axis in a second embodiment of the contact probe of the present invention.
5A and 5B show a structure of a tip of one end of a contact probe according to a third embodiment of the present invention, wherein FIG. 5A is a diagram viewed from a side with respect to an axis, and FIG. FIG.
FIG. 6 is a partial longitudinal sectional view of an example of a conventional contact probe.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Conductive tube 12, 22 Plunger 12a, 24a Bias surface 14 Spring 22a One end side 22b Bottomed hole 24 Bias pin

Claims

In a contact probe in which a plunger is disposed on a conductive tube so that one end thereof protrudes and does not come out so as to be movable in the axial direction, and a spring that elastically biases the plunger in the protruding direction in the conductive tube is disposed. A bottomed hole is formed in the axial direction on the surface opposite to the protruding side of the plunger toward the protruding side, and the bottom surface of the bottomed hole is formed in a conical shape. A bias pin whose rear end face is a bias surface is inserted and disposed, and the conical apex of the bias pin is brought into contact with the conical apex of the bottom surface of the bottomed hole; A contact probe, wherein the spring is disposed so as to elastically bias the bias surface of a pin in a protruding direction.

In a contact probe in which a plunger is disposed on a conductive tube so that one end thereof protrudes and does not come out so as to be movable in the axial direction, and a spring that elastically biases the plunger in the protruding direction in the conductive tube is disposed. The plunger is made rotatable relative to the conductive tube relative to the axis, and a bottomed hole is formed in the surface opposite to the protruding side of the plunger in the axial direction toward the protruding side. A bias pin having a rear end surface as a bias surface is inserted and disposed so as to be freely rotatable around the axis with respect to the plunger, and the spring is biased so as to elastically bias the bias surface of the bias pin in a protruding direction. A contact probe, wherein the contact probe is disposed and configured so that a protruding end of the plunger is formed in a crown shape.

3. The contact probe according to claim 2, wherein the bottom surface of the bottomed hole of the plunger has a conical shape, the tip end surface of the bias pin has a conical shape, and the conical apex of the bias pin has a bottom surface of the bottomed hole. A contact probe configured to abut on the apex of the cone.