JP2004063286A - 電気光学装置の製造方法及び電気光学装置、電子機器 - Google Patents
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Abstract
【課題】アライメント処理の工程を低減してスループットを向上できる電気光学装置の製造方法を提供する。
【解決手段】有機EL装置Sは、光透過性の基板Pと感光性材料層との間に特定波長領域を有する露光光を遮光する遮光部300を所定のパターンで設ける工程と、基板P側から露光光を照射し、感光性材料層を露光する工程と、露光された感光性材料層を現像し感光性材料層に開口部を形成する工程とを経て製造される。
【選択図】 図4
【解決手段】有機EL装置Sは、光透過性の基板Pと感光性材料層との間に特定波長領域を有する露光光を遮光する遮光部300を所定のパターンで設ける工程と、基板P側から露光光を照射し、感光性材料層を露光する工程と、露光された感光性材料層を現像し感光性材料層に開口部を形成する工程とを経て製造される。
【選択図】 図4
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気光学装置の製造方法及び電気光学装置、電子機器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
各画素に対応して有機エレクトロルミネッセンス素子を備えた有機エレクトロルミネッセンス表示装置(以下、「有機EL装置」と称する)は、高輝度で自発光であること、直流低電圧駆動が可能であること、応答が高速であること、固体有機膜による発光であることなどから表示性能に優れており、また、表示装置の薄型化、軽量化、低消費電力化が可能であるため、将来的に液晶表示装置に続く表示装置として期待されている。このような有機EL装置(電気光学装置)の製造方法の1つとして、発光材料等の機能材料をインク化し、このインク(液体材料)を基板上に吐出する液滴吐出法(インクジェット法)がある。液滴吐出法では、基板上に開口部を有するバンク層(隔壁)を形成し、このバンク層に形成された開口部に対して液滴を吐出することにより機能材料のパターニングを行う。
【0003】
バンク層の開口部は、基板上に感光性を有する合成樹脂をコーティングして感光性材料層(絶縁層)を設けた後、前記開口部に対応するパターンを有するマスクを露光光で照明し、マスクを透過した露光光により感光性材料層を露光し、次いで現像処理することにより形成される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述した従来のバンク層の開口部の形成方法において、以下に述べる問題が生じるようになった。
従来のバンク層の開口部の形成方法はマスクを透過した露光光を感光性材料層に露光する構成であるため、感光性材料層の所望の位置に露光光を照射するために、感光性材料層が設けられた基板とマスクとの位置合わせ処理(アライメント処理)が必要となる。このように、アライメント処理のための工程が必要となるためスループットが低下するとともに、アライメント装置を備えた露光装置、いわゆるステッパが必要となる。更に、ステッパは複数のショット領域に対してステップ・アンド・リピートしながら順次露光処理する構成であるが、基板の大型化に伴ってショット数も多くなりスループットが低下する。
【0005】
また、バンク層に用いられる材料は感光性が低いため長時間露光しなくてはならず、ステッパに負荷がかかり、高価なステッパにおいて光学系のメンテナンスが頻繁に必要になったりステッパが故障するおそれが高くなるなど、コスト面においても不利になる。
【0006】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、ステッパなど高価な装置への負荷を低減し、更に、アライメント処理の工程を低減してスループットを向上できる電気光学装置の製造方法、及び電気光学装置、並びにこの電気光学装置を備えた電子機器を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するため、本発明の電気光学装置の製造方法は、基板上に発光素子が設けられた電気光学装置の製造方法において、前記基板上に絶縁層と、前記基板と前記絶縁層との間に特定波長帯域の光を有する露光光を遮光する遮光部とを設ける工程と、前記基板側から前記露光光を照射し、前記絶縁層を露光する工程と、前記露光された前記絶縁層を現像し該絶縁層に開口部を形成する工程と、前記開口部に前記発光素子を形成する工程とを有することを特徴とする。
【0008】
本発明によれば、バンク層としての絶縁層に開口部を形成する際、基板と絶縁層との間に露光光を遮光する遮光部を所定のパターンで予め設けておき、基板外側から露光光を照射することにより、遮光部で絶縁層をパターニングすることができる。ここで、所定のパターンとは絶縁層に形成する開口部に対応するパターンである。そして、遮光部は基板自体に設けられているため露光光を照射する際にアライメント処理は不要となり、しかも露光光の照射には高価なステッパでなく露光光を射出可能な安価な照明装置を用いて基板全体を一括露光することができる。更に、大光量の露光光を射出可能な照明装置を用いることにより露光処理を短時間で行うことができる。したがって、スループットは向上するとともに、装置コストを抑えることができる。
【0009】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記基板に隣接して前記遮光部を設ける構成が採用される。遮光部を基板に隣接して、すなわち基板上に設けることにより遮光部は容易に形成可能となる。
【0010】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記絶縁層に隣接して前記遮光部を設ける構成が採用される。遮光部を絶縁層に近接配置することにより基板側から照射された露光光は広がったり曲がったりせずに絶縁層を照射でき、所望の領域を精度良く露光処理できる。
【0011】
そして、前記開口部に発光素子を設けることにより、絶縁層を、発光素子を位置決めするバンク層として用いることができる。なお、開口部には発光素子以外の材料が配置されてもよく、例えば電極材料を配置することにより開口部をコンタクトホールとして用いることができる。
【0012】
この場合において、前記発光素子は有機エレクトロルミネッセンス素子とすることができる。バンク層の開口部に有機エレクトロルミネッセンス素子を設けることにより良好なパターン精度で有機エレクトロルミネッセンス装置を製造できる。
【0013】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記発光素子を液滴吐出法により設ける構成が採用される。発光素子(有機エレクトロルミネッセンス素子)を液滴吐出法で設けることにより、少量多種生産に対応可能となり、発光装置(有機エレクトロルミネッセンス装置)を効率良く製造できる。
【0014】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記発光素子に対して供給する電力を制御するスイッチング素子を前記遮光部の前記基板と反対側に設ける構成が採用される。これにより、開口部を形成するために基板側から露光光を照射した際、スイッチング素子は遮光部に遮られて露光光に照射されない。したがって、露光光の照射によるスイッチング素子に対するダメージを抑えることができる。
【0015】
この場合において、前記遮光部は黒色材料により構成することができる。これにより、基板側から照明された露光光は確実に遮光される。更に、本発明の電気光学装置を、発光素子(有機エレクトロルミネッセンス素子)からの発光光を基板側から取り出すいわゆるボトムエミッション構造の表示装置とした場合、遮光部がいわゆるブラックマトリクスとして機能することになり、発光部以外からの光漏れを防いで良好な表示品質を得ることができる。
【0016】
また、前記遮光部は金属材料により構成してもよい。すなわち、電気光学装置は加熱工程を含む種々のプロセスを経て製造されるが、遮光部を金属材料により形成することにより、遮光部は加熱工程での熱によるダメージを受けにくくなる。したがって、プロセス条件(加熱温度条件)の設定の自由度が増す。なお、遮光部は例えば合成樹脂により構成されてもよい。この場合、プロセス中における加熱温度は合成樹脂からなる遮光部にダメージを与えない程度の温度に設定されていることが望ましい。
【0017】
また、前記遮光部は前記発光素子からの発光光を透過可能な材料から構成してもよい。すなわち、遮光部は特定波長帯域を有する露光光を遮光し、且つ発光素子からの発光光を透過可能な材料であればよく、例えば露光光が紫外光であり発光光が可視光である場合、紫外線吸収材により形成可能である。そして、例えば紫外光を透過しない透明材料などによって遮光部を構成することにより、電気光学装置が発光素子からの発光光を基板側から取り出すいわゆるボトムエミッション構造である場合において、高い開口率を得ることができる。
【0018】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記絶縁層はポジ型感光性材料からなる構成が採用される。これにより、露光光照射部分(露光部分)を開口部とすることができる。
【0019】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記絶縁層はネガ型感光性材料からなり、前記絶縁層のうち前記遮光部に対応する位置に前記開口部が形成され、前記開口部に発光素子が設けられ、前記遮光部のうち前記発光素子に対向する面は前記発光素子からの発光光を反射可能な反射面である構成が採用される。絶縁層をネガ型感光性材料とすることにより、遮光部に対応する部分、すなわち未露光部分が開口部となる。そして、開口部に発光素子を設けるとともに、電気光学装置を発光素子からの発光光を基板と反対側から取り出すいわゆるトップエミッション構造とした場合、発光素子からの発光光は開口部の基板側(画素の下側)に設けられている遮光部の反射面で反射されて装置外部に射出するので、良好な光取り出し効率が得られ、高い輝度を有する表示部を備えた電気光学装置を提供できる。
【0020】
本発明の電気光学装置は、基板上に発光素子が形成された電気光学装置であって、前記基板上に開口部を有する絶縁層と、前記開口部に設けられた発光素子とを有し、前記基板と前記絶縁層との間であって、前記開口部に対応する以外の部分に、遮光部が設けられていることを特徴とする。
【0021】
本発明によれば、基板と絶縁層との間に基板外部からの特定波長領域を有する光を遮光する遮光部を設けたことにより、絶縁層をバンク層として用いる場合、基板外部から前記光を照射することによりフォトリソグラフィ法を用いて絶縁層に開口部を形成することができる。そして、遮光部を基板上に所定のパターンで設けておくことにより、光を基板外部から照射するに際し基板のアライメント処理は不要となるので、電気光学装置を製造する際のスループットを向上することができる。この場合において、基板全体を一括照射する構成が可能となるので、更なるスループット向上を実現できる。
【0022】
本発明の電気光学装置において、前記遮光部は前記基板に隣接して設けられている構成が採用される。遮光部を基板上に設けることにより容易に形成可能となる。
【0023】
本発明の電気光学装置において、前記遮光部を黒色材料で構成することができる。これにより、基板外部から照射された光を確実に遮光できる。更に、電気光学装置を、発光素子(有機エレクトロルミネッセンス素子)からの発光光を基板側から取り出すいわゆるボトムエミッション構造の表示装置とした場合、遮光部がブラックマトリクスとしての機能を有することになり、発光部以外からの光漏れを防いで良好な表示品質を得ることができる。
【0024】
本発明の電気光学装置において、前記遮光部は前記発光素子からの発光光を透過可能な材料からなる構成が採用される。すなわち、遮光部は特定波長領域を有する光を遮光し、且つ発光素子からの発光光を透過可能な材料であればよく、例えば露光光が紫外光であり発光光が可視光である場合、遮光部は紫外線吸収材により形成可能である。そして、遮光部は発光素子からの発光光を透過可能な材料であるので、電気光学装置を、発光素子からの発光光を基板側から取り出すボトムエミッション構造の表示装置とした場合、高い開口率を有する表示部を備えた電気光学装置を提供できる。
【0025】
本発明の電気光学装置において、前記遮光部の前記基板と反対側に、前記発光素子に対して供給する電力を制御するスイッチング素子を設けた構成が採用される。これにより、開口部を形成するために基板外部から光を照射した際、スイッチング素子は遮光部に遮られて照射されないので、光照射によるスイッチング素子に対するダメージを抑えることができる。
【0026】
本発明の電気光学装置において、前記発光素子を有機エレクトロルミネッセンス素子とすることができるバンク層の開口部に有機エレクトロルミネッセンス素子を設けることにより、良好なパターン精度で有機エレクトロルミネッセンス装置を製造できる。
【0027】
本発明の電気光学装置は、基板上に設けられ開口部を有する材料層と、前記開口部に設けられた発光素子とを備えた電気光学装置において、前記基板と前記材料層との間において前記開口部に対応する部分に前記基板外部からの特定波長領域を有する光を遮光する遮光部が設けられ、前記遮光部のうち前記発光素子に対向する面は前記発光素子からの発光光を反射可能な反射面であることを特徴とする。
【0028】
本発明によれば、発光素子が設けられた開口部に対応する部分に、反射面を発光素子側に向けた遮光部を設けたので、電気光学装置を、発光素子からの発光光を基板と反対側から取り出すいわゆるトップエミッション構造の表示装置とした場合、発光素子からの発光光は反射面で反射して基板と反対側から装置外部に取り出されるので、良好な光取り出し効率を得ることができ、高い輝度を有する表示部を備えた電気光学装置を提供できる。更に、遮光部により基板外部から発光素子側に入射しようとする光が遮光されるので良好な表示品質を有する表示装置を提供することができる。
【0029】
本発明の電子機器は、上記記載の電気光学装置が搭載されたことを特徴とする。これにより優れた特性を有する電子機器が提供される。
【0030】
ここで、上述した液滴吐出法に用いられる液滴吐出装置はインクジェットヘッド(液滴吐出ヘッド)を備えたインクジェット装置を含む。インクジェット装置のインクジェットヘッドは、インクジェット法により液体材料を定量的に吐出可能であり、例えば1ドットあたり1〜300ナノグラムの液体材料を定量的に断続して滴下可能な装置である。なお、液滴吐出装置としてはディスペンサー装置であってもよい。
【0031】
液滴吐出装置の液滴吐出方式としては、圧電体素子の体積変化により液体材料の液滴を吐出させるピエゾジェット方式であっても、熱の印加により急激に蒸気が発生することにより液体材料を吐出させる方式であってもよい。
【0032】
液体材料とは、液滴吐出装置の吐出ヘッドのノズルから吐出可能(滴下可能)な粘度を備えた媒体をいう。水性であると油性であるとを問わない。ノズル等から吐出可能な流動性(粘度)を備えていれば十分で、固体物質が混入していても全体として流動体であればよい。また、液体材料に含まれる材料は融点以上に加熱されて溶解されたものでも、溶媒中に微粒子として攪拌されたものでもよく、溶媒の他に染料や顔料その他の機能性材料を添加したものであってもよい。また、基材はフラット基板を指す他、曲面状の基板であってもよい。さらにパターン形成面の硬度が硬い必要はなく、ガラスやプラスチック、金属以外に、フィルム、紙、ゴム等可撓性を有するものの表面であってもよい。
【0033】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の電気光学装置及びその製造方法について図面を参照しながら説明する。図1は本発明の電気光学装置を製造する際に用いる液滴吐出装置を示す概略斜視図である。また、図2及び図3は液滴吐出装置に設けられた液滴吐出ヘッドを示す図である。
図1において、液滴吐出装置IJは、基板Pの表面(所定面)に液滴(インク滴)を配置可能な成膜装置であって、ベース12と、ベース12上に設けられ、基板Pを支持するステージ(ステージ装置)STと、ベース12とステージSTとの間に介在し、ステージSTを移動可能に支持する第1移動装置14と、ステージSTに支持されている基板Pに対して電気光学装置形成用材料を含む液滴を定量的に吐出(滴下)可能な液滴吐出ヘッド20と、液滴吐出ヘッド20を移動可能に支持する第2移動装置16とを備えている。液滴吐出ヘッド20の液滴の吐出動作や、第1移動装置14及び第2移動装置16の移動動作を含む液滴吐出装置IJの動作は制御装置CONTにより制御される。
【0034】
第1移動装置14はベース12の上に設置されており、Y軸方向に沿って位置決めされている。第2移動装置16は、支柱16A,16Aを用いてベース12に対して立てて取り付けられており、ベース12の後部12Aにおいて取り付けられている。第2移動装置16のX軸方向は第1移動装置14のY軸方向と直交する方向である。ここで、Y軸方向はベース12の前部12Bと後部12A方向に沿った方向である。これに対してX軸方向はベース12の左右方向に沿った方向であり、各々水平である。また、Z軸方向はX軸方向及びY軸方向に垂直な方向である。
【0035】
第1移動装置14は例えばリニアモータによって構成され、ガイドレール40、40と、このガイドレール40に沿って移動可能に設けられているスライダー42とを備えている。このリニアモータ形式の第1移動装置14のスライダー42はガイドレール40に沿ってY軸方向に移動して位置決め可能である。
【0036】
また、スライダー42はZ軸回り(θZ)用のモータ44を備えている。このモータ44は例えばダイレクトドライブモータであり、モータ44のロータはステージSTに固定されている。これにより、モータ44に通電することでロータとステージSTとはθZ方向に沿って回転してステージSTをインデックス(回転割り出し)することができる。すなわち、第1移動装置14はステージSTをY軸方向及びθZ方向に移動可能である。
【0037】
ステージSTは基板Pを保持し所定の位置に位置決めするものである。また、ステージSTは吸着保持装置50を有しており、吸着保持装置50が作動することによりステージSTの穴46Aを通して基板PをステージSTの上に吸着して保持する。
【0038】
第2移動装置16はリニアモータによって構成され、支柱16A,16Aに固定されたコラム16Bと、このコラム16Bに支持されているガイドレール62Aと、ガイドレール62Aに沿ってX軸方向に移動可能に支持されているスライダー60とを備えている。スライダー60はガイドレール62Aに沿ってX軸方向に移動して位置決め可能であり、液滴吐出ヘッド20はスライダー60に取り付けられている。
【0039】
液滴吐出ヘッド20は揺動位置決め装置としてのモータ62,64,66,68を有している。モータ62を作動すれば、液滴吐出ヘッド20はZ軸に沿って上下動して位置決め可能である。このZ軸はX軸とY軸に対して各々直交する方向(上下方向)である。モータ64を作動すると、液滴吐出ヘッド20はY軸回りのβ方向に沿って揺動して位置決め可能である。モータ66を作動すると、液滴吐出ヘッド20はX軸回りのγ方向に揺動して位置決め可能である。モータ68を作動すると、液滴吐出ヘッド20はZ軸回りのα方向に揺動して位置決め可能である。すなわち、第2移動装置16は液滴吐出ヘッド20をX軸方向及びZ軸方向に移動可能に支持するとともに、この液滴吐出ヘッド20をθX方向、θY方向、θZ方向に移動可能に支持する。
【0040】
このように、図1の液滴吐出ヘッド20は、スライダー60において、Z軸方向に直線移動して位置決め可能で、α、β、γに沿って揺動して位置決め可能であり、液滴吐出ヘッド20の吐出面20Pは、ステージST側の基板Pに対して正確に位置あるいは姿勢をコントロールすることができる。なお、液滴吐出ヘッド20の吐出面20Pには液滴を吐出する複数のノズルが設けられている。
【0041】
図2は液滴吐出ヘッド20を示す分解斜視図である。図2に示すように、液滴吐出ヘッド20は、ノズル81を有するノズルプレート80と、振動板85を有する圧力室基板90と、これらノズルプレート80と振動板85とを嵌め込んで支持する筐体88とを備えている。液滴吐出ヘッド20の主要部構造は、図3の斜視図一部断面図に示すように、圧力室基板90をノズルプレート80と振動板85とで挟み込んだ構造を備える。ノズルプレート80には、圧力室基板90と貼り合わせられたときにキャビティ(圧力室)81に対応することとなる位置にノズル81が形成されている。圧力室基板90には、シリコン単結晶基板等をエッチングすることにより、各々が圧力室として機能可能にキャビティ81が複数設けられている。キャビティ81どうしの間は側壁92で分離されている。各キャビティ81は供給口94を介して共通の流路であるリザーバ93に繋がっている。振動板85は例えば熱酸化膜等により構成される。振動板85にはタンク口86が設けられ、タンク30からパイプ(流路)31を通して任意の液滴を供給可能に構成されている。振動板85上のキャビティ81に相当する位置には圧電体素子87が形成されている。圧電体素子87はPZT素子等の圧電性セラミックスの結晶を上部電極および下部電極(図示せず)で挟んだ構造を備える。圧電体素子87は制御装置CONTから供給される吐出信号に対応して体積変化を発生可能に構成されている。
【0042】
液滴吐出ヘッド20から液滴を吐出するには、まず、制御装置CONTが液滴を吐出させるための吐出信号を液滴吐出ヘッド20に供給する。液滴は液滴吐出ヘッド20のキャビティ81に流入しており、吐出信号が供給された液滴吐出ヘッド20では、その圧電体素子87がその上部電極と下部電極との間に加えられた電圧により体積変化を生ずる。この体積変化は振動板85を変形させ、キャビティ81の体積を変化させる。この結果、そのキャビティ81のノズル穴211から液滴が吐出される。液滴が吐出されたキャビティ81には吐出によって減った液体材料が新たに後述するタンク30から供給される。
【0043】
なお、上記液滴吐出ヘッドは圧電体素子に体積変化を生じさせて液滴を吐出させる構成であったが、発熱体により液体材料に熱を加えその膨張によって液滴を吐出させるようなヘッド構成であってもよい。
【0044】
図1に戻って、基板P上に設けられる液体材料は、液体材料調整装置LSにより生成される。液体材料調整装置LSは、液体材料を収容可能なタンク30と、タンク30に取り付けられ、このタンク30に収容されている液体材料の温度を調整する温度調整装置32と、タンク30に収容されている液体材料を攪拌する撹拌装置33とを備えている。温度調整装置32はヒータにより構成されており、タンク30内の液体材料を任意の温度に調整する。温度調整装置32は制御装置CONTにより制御され、タンク30内の液体材料は温度調整装置32により温度調整されることで所望の粘度に調整される。
【0045】
タンク30はパイプ(流路)31を介して液滴吐出ヘッド20に接続しており、液滴吐出ヘッド20から吐出される液体材料の液滴はタンク30からパイプ31を介して供給される。また、パイプ31を流れる液体材料は不図示のパイプ温度調整装置によって所定の温度に制御され、粘度を調整される。更に、液滴吐出ヘッド20から吐出される液滴の温度は、液滴吐出ヘッド20に設けられた不図示の温度調整装置により制御され、所望の粘度に調整されるようになっている。
【0046】
なお、図1には液滴吐出ヘッド20及び液体材料調整装置LSのそれぞれが1つだけ図示されているが、液滴吐出装置IJには複数の液滴吐出ヘッド20及び液体材料調整装置LSが設けられており、これら複数の液滴吐出ヘッド20のそれぞれから異種または同種の液体材料の液滴が吐出されるようになっている。そして、基板Pに対してこれら複数の液滴吐出ヘッド20のうち、第1の液滴吐出ヘッドから第1の液体材料を吐出した後、これを焼成又は乾燥し、次いで第2の液滴吐出ヘッドから第2の液体材料を基板Pに対して吐出した後これを焼成又は乾燥し、以下、複数の液滴吐出ヘッドを用いて同様の処理を行うことにより、基板P上に複数の材料層が積層され、多層パターンが形成される。
【0047】
次に、上述した液滴吐出装置IJを用いて電気光学装置を製造する方法について説明する。以下、一例として、電気光学装置としての有機エレクトロルミネッセンス表示装置(以下、「有機EL装置」と称する)を製造する方法について説明する。なお、以下に示す手順や液体材料の材料構成は一例であってこれに限定されるものではない。
【0048】
図4は有機EL装置における表示領域の断面構造を拡大した図である。
図4に示すように、有機EL装置Sは、基板Pと、基板Pに隣接して設けられた遮光部300と、遮光部300の基板Pと反対側、すなわち図4中、遮光部300の上面に設けられたスイッチング素子としての薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)100と、基板P上に設けられた発光素子(有機EL素子)200とを備えている。
【0049】
発光素子200は、インジウム錫酸化物(ITO:Indium Tin Oxide)等の透明電極材料からなる画素電極(陽極)202と、画素電極202からの正孔を輸送可能な正孔輸送層204と、有機発光材料を含む有機発光層206と、発光層206の上面に設けられている電子輸送層208と、電子輸送層208の上面に設けられているアルミニウム(Al)やマグネシウム(Mg)、金(Au)、銀(Ag)、カルシウム(Ca)等からなる対向電極(陰極)210とを有している。
【0050】
遮光部300は基板Pの上面に設けられている。遮光部300は、後述するように、基板P外部から照射される特定波長領域を有する露光光ELを遮光可能な材料により形成されており、本実施形態ではクロム(Cr)等の黒色の金属材料により構成されている。遮光部300は基板Pの面方向において所定のパターンで設けられている。また、遮光部300とこの遮光部300が設けられている以外の基板P表面とにはSiO2を主体とする下地保護層201が設けられている。
【0051】
スイッチング素子であるTFT100は、有機EL素子200に対して供給する電力(電流)を制御するものである。TFT100は、下地保護層201を介して遮光部300の上部に形成された形成されたシリコン層102と、シリコン層102を覆うように下地保護層201の上層に設けられたゲート絶縁層104と、ゲート絶縁層104の上面のうちシリコン層102に対向する部分に設けられたゲート電極106と、ゲート電極106を覆うようにゲート絶縁層104の上層に設けられた第1層間絶縁層108と、ゲート絶縁層104及び第1層間絶縁層108にわたって開孔するコンタクトホールを介してシリコン層102と接続するソース電極110と、ゲート電極106を挟んでソース電極110と対向する位置に設けられ、ゲート絶縁層104及び第1層間絶縁層108にわたって開孔するコンタクトホールを介してシリコン層102と接続するドレイン電極112と、ソース電極110及びドレイン電極112を覆うように第1層間絶縁層108の上層に設けられた第2層間絶縁層114とを備えている。
【0052】
そして、第2層間絶縁層114の上面に画素電極202が配置され、画素電極202とドレイン電極112とは、第2層間絶縁層114に設けられたコンタクトホール216を介して接続されている。また、第2層間絶縁層114上面のうち遮光部300に対応する部分に合成樹脂などからなるバンク層212が設けられており、遮光部300に対応する以外の部分に有機EL素子200が設けられている。すなわち、第2層間絶縁層114の表面のうち有機EL素子200が設けられている以外の部分と対向電極210との間に合成樹脂などからなるバンク層212が設けられている。
【0053】
バンク層(絶縁層)212は感光性を有する樹脂により構成されており、例えばアクリル樹脂やポリイミド樹脂を主体として構成されている。有機EL素子200のうち、正孔輸送層204、発光層206、電子輸送層208、及び対向電極210の一部は、バンク層212に形成された開口部214に配置されている。すなわち、基板Pと、開口部214を有するバンク層212との間において開口部214に対応する以外の部分に遮光部300が設けられ、開口部214に有機EL素子200が設けられている構成となっている。
【0054】
なお、シリコン層102のうち、ゲート絶縁層104を挟んでゲート電極106と重なる領域がチャネル領域とされている。また、シリコン層102のうち、チャネル領域のソース側にはソース領域が設けられている一方、チャネル領域のドレイン側にはドレイン領域が設けられている。このうち、ソース領域が、ゲート絶縁層104と第1層間絶縁層108とにわたって開孔するコンタクトホールを介してソース電極110に接続されている。一方、ドレイン領域が、ゲート絶縁層104と第1層間絶縁層108とにわたって開孔するコンタクトホールを介して、ソース電極110と同一層からなるドレイン電極112に接続されている。画素電極202は、ドレイン電極112を介して、シリコン層102のドレイン領域に接続されている。
【0055】
本実施形態における有機EL装置は、TFT100が設けられている基板P側から有機EL素子200(発光層206)からの発光光を取り出すいわゆるボトムエミッション構造である。したがって、基板Pは光透過性基板であり、透明あるいは半透明であるものが好ましく、基板材料としてはガラスや石英、樹脂等の透明度の高い(透過率が高い)ものが用いられる。
また、基板に色フィルター膜や発光性物質を含む色変換膜、あるいは誘電体反射膜を配置して、発光色を制御するようにしてもよい。
【0056】
一方、発光層206からの発光光を基板Pと反対側から取り出すいわゆるトップエミッション構造とすることも可能である。トップエミッション構造とする場合、後述する露光光ELが透過可能な材料により形成されていれば、基板Pは不透明な材料(発光層206からの発光光を透過しない材料)であってもよい。
【0057】
次に、図5〜図7を参照しながら図4に示した有機EL装置Sの製造工程について説明する。
はじめに、基板P上に遮光部300が形成される。遮光部300を形成する際には、まず、図5(a)に示すように、基板P上にレジスト層301が設けられる。レジスト層301の形成用材料としては、感光性を有し、且つ後述する露光光ELを遮光可能な材料であればよく、例えばクロム(Cr)等の黒色金属材料により構成される。なお、レジスト層301の形成用材料としては、クロムに限らず露光光ELを遮光可能な材料であれば例えば合成樹脂により構成されてもよい。また、露光光ELが例えば紫外光である場合にはレジスト層301(遮光部300)は紫外線吸収材により構成されていてもよい。ここで、紫外線吸収材は紫外光である露光光ELを遮光可能であればよく黒色以外の色、あるいは透明材料であってもよい。
【0058】
基板P上にレジスト層301を設ける際には、レジスト層301の形成用材料を溶媒で液体材料化(インク化)し、この液体材料を例えばスピンコート法などのコーティング法を用いることにより基板P上に塗布される。なお、スピンコート法に限らず、液滴吐出法を用いてレジスト層301を設けることも可能である。
【0059】
レジスト層301が設けられたら、フォトリソグラフィ法によりレジスト層301をパターニングすることにより遮光部300が形成される。すなわち、レジスト層301に対して所定のパターンを有するマスクを透過したレジスト層用露光光が照射される。レジスト層301の露光処理にはステッパなどが用いられる。ステッパによりアライメントしつつ露光処理することによりレジスト層301には所望のパターン精度を有するパターンが形成される。ここで、所定のパターンとは、バンク層212に形成すべき開口部214に対応するパターンである。また、レジスト層用露光光は後述する露光光ELとは別の波長を有するものであり、レジスト層301はこのレジスト用露光光の波長領域に対して感光性を有するが、露光光ELの波長領域に対しては感光性を有さない。すなわち、レジスト層301(遮光部300)とバンク層212とは異なる材料により構成されている。
【0060】
そして、レジスト層301が所定のパターンで露光されたら現像処理が行われる。現像処理されることにより、図5(b)に示すように、レジスト層301は基板Pの面方向において所定のパターンを有する遮光部300となる。遮光部300は基板P表面の複数の所定位置にそれぞれ島状に形成される。
【0061】
次に、図5(c)に示すように、遮光部300を覆うように基板P上に下地保護層201が設けられる。下地保護層201を形成する際には、基板Pの表面にTEOS(テトラエトキシシラン)や酸素ガスなどを原料としてプラズマCVD法により厚さ約200〜500nmのシリコン酸化膜からなる下地保護層201が形成される。
【0062】
次に、基板Pの温度を約350℃に設定して、下地保護膜201の表面にプラズマCVD法あるいはICVD法により厚さ約30〜70nmのアモルファスシリコン膜からなる半導体層102Aが形成される。次いで、この半導体層102Aに対してレーザアニール法、急速加熱法、または固相成長法などによって結晶化工程を行い、半導体層102Aをポリシリコン層に結晶化する。レーザアニール法では、例えばエキシマレーザでビームの長寸が400mmのラインビームを用い、その出力強度は例えば200mJ/cm2とする。ラインビームについては、その短寸方向におけるレーザ強度のピーク値の90%に相当する部分が各領域毎に重なるようにラインビームを走査する。
【0063】
次いで、図5(d)に示すように、半導体層(ポリシリコン層)102Aをパターニングして島状のシリコン層102とし、その表面に対して、TEOSや酸化ガスなどを原料としてプラズマCVD法により厚さ約60〜150nmのシリコン酸化膜又は窒化膜からなるゲート絶縁層104が形成される。
【0064】
なお、ゲート絶縁層104の表面に水素(H2)プラズマ処理をしてもよい。これにより、空隙の表面のSi−O結合中のダングリングボンドがSi−H結合に置き換えられ、膜の耐吸湿性が良くなる。そして、このプラズマ処理されたゲート絶縁層104の表面に別のSiO2層を設けてもよい。こうすることにより、誘電率な絶縁層が形成できる。
【0065】
次いで、図6(a)に示すように、ゲート絶縁層104上にアルミニウム、タンタル、モリブデン、チタン、タングステンなどの金属を含む導電膜をスパッタ法により形成した後、これをパターニングすることにより、ゲート電極106が形成される。次いで、この状態で高濃度のリンイオンを打ち込み、シリコン層102に、ゲート電極106に対して自己整合的にソース領域102s及びドレイン領域102dが形成される。この場合、ゲート電極106はパターニング用マスクとして用いられる。なお、不純物が導入されなかった部分がチャネル領域102cとなる。
【0066】
次いで、図6(b)に示すように、第1層間絶縁層108が形成される。第1層間絶縁層108は、ゲート絶縁層104同様、シリコン酸化膜または窒化膜、多孔性を有するシリコン酸化膜などによって構成され、ゲート絶縁層104の形成方法と同様の手順でゲート絶縁層104の上層に形成される。
そして、この第1層間絶縁層108及びゲート絶縁層104にフォトリソグラフィ法を用いてパターニングすることにより、ソース電極110及びドレイン電極112に対応するコンタクトホールが形成される。次いで、第1層間絶縁層108を覆うように、アルミニウムやクロム、タンタル等の金属からなる導電層を形成した後、この導電層のうち、ソース電極及びドレイン電極が形成されるべき領域を覆うようにパターニング用マスクを設けるとともに、導電層をパターニングすることにより、ソース電極110及びドレイン電極112が形成される。こうして、遮光部300の上面(遮光部300の基板Pと反対側)にスイッチング素子としてのTFT100が設けられる。
次に、図示はしないが、第1層間絶縁層108上に、信号線、共通給電線、走査線を形成する。このとき、これらに囲まれる箇所は後述するように発光層等を形成する画素となることから、例えば発光光を基板側から取り出す形態とする場合には、TFT100が前記各配線に囲まれた箇所の直下に位置しないよう、各配線を形成する。
【0067】
次いで、図6(c)に示すように、第2層間絶縁層114が、第1層間絶縁層108、各電極110、112、前記不図示の各配線を覆うように形成される。第2層間絶縁層114は、第1層間絶縁層108同様、シリコン酸化膜または窒化膜などによって構成され、第1層間絶縁層108の形成方法と同様の手順で第1層間絶縁層108の上層に形成される。そして、第2層間絶縁層114を形成したら、第2層間絶縁層114のうちドレイン電極112に対応する部分にコンタクトホール216が形成される。そして、このコンタクトホール216を介してドレイン電極112に連続するようにITO等の導電性材料をパターニングし、画素電極202が形成される。
【0068】
画素電極202は、ITOやフッ素をドープしてなるSnO2、更にZnOやポリアミン等の透明電極材料からなり、コンタクトホール216を介してTFT100のドレイン電極112に接続されている。画素電極202を形成するには、前記透明電極材料からなる膜を第2層間絶縁層114上面に形成し、この膜をパターニングすることにより形成される。
【0069】
画素電極202を形成したら、図6(d)に示すように、画素電極202を覆うように感光性材料層(絶縁層)212Aが形成される。感光性材料層212Aは後の工程により開口部を有するバンク層212となるものである。感光性材料層212Aは、例えば、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂など、あるいはそれらの前駆体といった感光性材料層形成用材料を溶媒に溶かして液体材料化し、この液体材料をスピンコート、ディップコートなどによりコーティングすることにより設けられる。なお、感光性材料層212Aはスピンコート法などに限らず液滴吐出法により設けることも可能である。ここで、感光性材料層212Aの形成用材料としては、後述する特定波長領域を有する露光光ELに対して感光性を有し、しかもエッチング等によってパターニングしやすいものであればどのようなものでもよい。
【0070】
感光性材料層212Aが設けられたら、図7(a)に示すように、不図示の照明装置により基板P側から感光性材料層212Aに対して所定の波長領域を有する露光光ELが照射される。露光光ELは基板P全体を一括露光する。ここで、基板P上面には露光光ELを遮光する遮光部300が所定のパターンで形成されているため、露光光ELは感光性材料層212Aのうち遮光部300に対応する以外の部分を照明する。本実施形態では、露光光ELは基板Pを透過した後、下地保護層201、ゲート絶縁層104、第1層間絶縁層108、第2層間絶縁層114、及び透明電極である画素電極202を通過して感光性材料層212Aの所定領域、すなわち遮光部300で遮光されていない領域を照射する。ここで、前述したように、遮光部300は露光光ELに対しては感光性を有していない。
【0071】
基板P側から露光光ELを照射して感光性材料層212Aを露光処理したら、この露光処理された感光性材料層212Aに対して現像処理(エッチング処理)が行われる。ここで、本実施形態における感光性材料層212Aは、露光光が照射された露光部分が現像処理によって除去され、未露光部分がパターンとして残るポジ型感光性材料によって構成されている。したがって、現像処理されることにより、図7(b)に示すように、感光性材料層212Aには、遮光部300に対応する以外の部分が除去されて開口部214が形成される。こうして、開口部214を有するバンク層212が形成される。ここで、バンク層212は、第2層間絶縁層114の所定位置及び画素電極202の一部を覆うように形成されている。
【0072】
画素電極202及びバンク層212が形成されたらプラズマ処理が行われる。プラズマ処理は、画素電極202の表面を活性化すること、更にバンク部212の表面を表面処理することを目的として行われる。特に活性化工程は、画素電極202(ITO)上の洗浄、更に仕事関数の調整を主な目的として行われる。表面処理は、画素電極202の表面の親液化処理、バンク部212表面の撥液化処理を含む。親液化処理としてO2プラズマ処理が行われる。このO2プラズマ処理により、画素電極202の電極面、バンク層212の上面及び開口部214壁面が親液化処理される。この親液化処理により、これらの各面に水酸基が導入されて親液性が付与される。そして、このO2プラズマ処理は、親液性を付与することのほかに画素電極202であるITO上の洗浄,及び仕事関数の調整も兼ねている。撥液化処理としてCF4プラズマ処理が行われる。CF4プラズマ処理により、バンク層212の上面及び開口部214壁面が撥液化処理される。この撥液化処理により、これらの各面にフッ素基が導入されて撥液性が付与される。なお、画素電極202の電極面もこのCF4プラズマ処理の影響を多少受けるが、濡れ性に影響を与える事は少ない。
【0073】
次いで、図7(c)に示すように、画素電極202の上面に正孔輸送層204が形成される。ここで、正孔輸送層204の形成用材料としては、特に限定されることなく公知のものが使用可能であり、例えばピラゾリン誘導体、アリールアミン誘導体、スチルベン誘導体、トリフェニルジアミン誘導体等が挙げられる。具体的には、特開昭63−70257号、同63−175860号公報、特開平2−135359号、同2−135361号、同2−209988号、同3−37992号、同3−152184号公報に記載されているもの等が例示されるが、トリフェニルジアミン誘導体が好ましく、中でも4,4’−ビス(N(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ)ビフェニルが好適とされる。
なお、正孔輸送層に代えて正孔注入層を形成するようにしてもよく、さらに正孔注入層と正孔輸送層を両方形成するようにしてもよい。その場合、正孔注入層の形成用材料としては、例えば銅フタロシアニン(CuPc)や、ポリテトラヒドロチオフェニルフェニレンであるポリフェニレンビニレン、1,1−ビス−(4−N,N−ジトリルアミノフェニル)シクロヘキサン、トリス(8−ヒドロキシキノリノール)アルミニウム等が挙げられるが、特に銅フタロシアニン(CuPc)を用いるのが好ましい。
【0074】
正孔輸送層204を形成する際には液滴吐出法(インクジェット法)が用いられる。すなわち、上述した正孔輸送層形成用材料を含む液体材料からなる液滴をを画素電極202の電極面上に吐出した後に、乾燥処理及び熱処理を行うことにより、画素電極202上に正孔輸送層204が形成される。なお、この正孔輸送層形成工程以降は、正孔輸送層204及び発光層206の酸化を防止すべく、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気等の不活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。例えば、図1などを用いて説明したインクジェットヘッド(液滴吐出ヘッド)20に正孔輸送層形成用材料を含む液体材料を充填し、インクジェットヘッド20の吐出ノズルを画素電極202の電極面に対向させ、インクジェットヘッドと試料(基板P)とを相対移動させながら、吐出ノズルから1滴当たりの液量が制御されたインキ滴を電極面に吐出する。次に、吐出後の液滴を乾燥処理して組成物インクに含まれる極性溶媒を蒸発させることにより、正孔輸送層204が形成される。
【0075】
なお、液体材料としては、例えば、ポリエチレンジオキシチオフェン等のポリチオフェン誘導体と、ポリスチレンスルホン酸等との混合物を、イソプロピルアルコール等の極性溶媒に溶解させたものを用いることができる。ここで、吐出された液滴は、親液化処理された画素電極202の電極面上に広がり、開口部214の底部近傍に満たされる。その一方で、撥液化処理されたバンク層212の上面には液滴がはじかれて付着しない。したがって、液滴が所定の吐出位置からはずれてバンク層212の上面に吐出されたとしても、該上面がインク滴で濡れることがなく、はじかれたインク滴がバンク層212の開口部214内に転がり込むものとされている。
【0076】
上記の乾燥処理は、例えば窒素雰囲気中、室温〜約50℃で圧力を例えば13.3Pa(0.1Torr)程度にして行う。圧力があまりに低すぎると組成物インクが突沸してしまうので好ましくない。また、温度を室温以上例えば80℃以上の高温にすると、極性溶媒の蒸発速度が高まり、平坦な膜を形成する事ができない。
乾燥処理後は、窒素中、好ましくは真空中で200℃で10分程度加熱する熱処理を行うことで、正孔輸送層204内に残存する極性溶媒や水を除去することが好ましい。
【0077】
次いで、正孔輸送層204上面に発光層206が形成される。発光層206の形成用材料としては、特に限定されることなく、例えば、ポリフェニレン誘導体、ポリフルオレン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリチオフェン誘導体、またはこれらの高分子材料にペリレン係色素、クマリン系色素、ローダミン系色素、例えばルブレン、ペリレン、9,10−ジフェニルアントラセン、テトラフェニルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリドン等をドープして用いることができる。
【0078】
発光層206は、正孔輸送層204の形成方法と同様の手順で形成される。すなわち、液滴吐出法により発光層形成用材料を含む液体材料を正孔輸送層204の上面に吐出した後に、乾燥処理及び熱処理を行うことにより、バンク層212に形成された開口部214内部の正孔輸送層204上に発光層206が形成される。この発光層形成工程も上述したように不活性ガス雰囲気化で行われる。吐出された液体材料は撥液化処理された領域ではじかれるので、液滴が所定の吐出位置からはずれたとしても、はじかれた液滴がバンク層212の開口部214内に転がり込む。発光層206の形成用材料を含む組成物を設けたら所定の条件で乾燥処理が行われる。
【0079】
なお、発光層206の上面に電子輸送層208を形成してもよい。電子輸送層208の形成用材料としては、特に限定されることなく、オキサジアゾール誘導体、アントラキノジメタンおよびその誘導体、ベンゾキノンおよびその誘導体、ナフトキノンおよびその誘導体、アントラキノンおよびその誘導体、テトラシアノアンスラキノジメタンおよびその誘導体、フルオレノン誘導体、ジフェニルジシアノエチレンおよびその誘導体、ジフェノキノン誘導体、8−ヒドロキシキノリンおよびその誘導体の金属錯体等が例示される。具体的には、先の正孔輸送層の形成用材料と同様に、特開昭63−70257号、同63−175860号公報、特開平2−135359号、同2−135361号、同2−209988号、同3−37992号、同3−152184号公報に記載されているもの等が例示され、特に2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール、ベンゾキノン、アントラキノン、トリス(8−キノリノール)アルミニウムが好適とされる。
【0080】
なお、前述した正孔輸送層204の形成用材料や電子輸送層208の形成用材料を発光層206の形成用材料に混合し、発光層形成用材料として使用してもよく、その場合に、正孔輸送層形成用材料や電子輸送層形成用材料の使用量については、使用する化合物の種類等によっても異なるものの、十分な成膜性と発光特性を阻害しない量範囲でそれらを考慮して適宜決定される。通常は、発光層形成用材料に対して1〜40重量%とされ、さらに好ましくは2〜30重量%とされる。
【0081】
次いで、図7(d)に示すように、電子輸送層208及びバンク層212の上面に対向電極210が形成される。対向電極210は、電子輸送層208及びバンク層212の表面全体、あるいはストライプ状に形成されている。対向電極210については、もちろんAl、Mg、Li、Caなどの単体材料やMg:Ag(10:1合金)の合金材料からなる1層で形成してもよいが、2層あるいは3層からなる金属(合金を含む。)層として形成してもよい。具体的には、Li2O(0.5nm程度)/AlやLiF(0.5nm程度)/Al、MgF2 /Alといった積層構造のものも使用可能である。対向電極210は上述した金属からなる薄膜であり、光を透過可能な材料、構造であってもよい。
【0082】
以上説明したように、バンク層212(感光性材料層212A)に開口部214を形成する際、基板Pと感光性材料層212Aとの間に露光光ELを遮光する遮光部300を所定のパターンで予め設けておき、基板Pの外側から露光光ELを照射することにより、遮光部300で感光性材料層212Aをパターニングすることができる。遮光部300はステッパを用いて基板P自体に良好なパターン精度で設けられているため露光光ELを照射する際にアライメント処理は不要となり、しかも露光光ELの照射には露光光ELを照射可能な安価な照明装置を用いて基板P全体を一括照射(一括露光)することができる。更に、この照明装置が大きい照度で露光光ELを照射可能であれば感光性材料層212Aを短時間で露光処理できる。したがって、スループットは向上するとともに、装置コストを抑えることができる。
【0083】
TFT100を遮光部300の上面側に設けたことにより、露光光ELによる露光処理の際、TFT100は露光光ELに晒されない。したがって、露光光ELの照射によるTFT100に対するダメージを抑えることができる。
【0084】
本実施形態における有機EL装置Sはボトムエミッション構造であり、発光層206からの発光光は基板P側、すなわち遮光部300側から取り出される構成である。この場合において、遮光部300は黒色材料により形成され画素領域(有機EL素子)を囲むように配置されているため、ブラックマトリクスとしての機能を有する。したがって、有機EL装置Sは発光素子以外からの光漏れを防いで良好な表示品質を得ることができる。
【0085】
なお、本実施形態において、遮光部300はクロムなどの金属材料により構成されているが、露光光ELを遮光可能であれば例えば合成樹脂により構成されていてもよい。一方、遮光部300を金属材料により構成することにより、例えば上述したように開口部214に吐出した液体材料の乾燥工程において有機EL装置Sは加熱されるが、この加熱によっても金属材料からなる遮光部300はダメージを受けにくい。もちろん、この加熱温度によりダメージを受けにくい材料であれば合成樹脂を含め任意の材料を用いることができる。
【0086】
更に、本実施形態における遮光部300は露光光ELを遮光するために黒色材料により構成されているが、露光光ELを遮光可能であれば透明材料であっても構わない。例えば、露光光ELが紫外光である場合には、遮光部300として透明あるいは半透明な紫外線吸収材を用いることができる。そして、遮光部300を透明あるいは半透明材料とすることにより、発光光を基板P側から取り出すボトムエミッション構造において、開口率を向上することができる。
【0087】
なお、上記実施形態では、遮光部300は基板Pとバンク層212との間に設けられた構成であるが、遮光部300を基板Pの外側(図4中、基板Pの下面)に設けてもよい。基板Pの外側に遮光部300を設けた場合、露光光ELを照射してバンク層212の開口部214を形成後、この基板Pの外側に設けた遮光部300を洗浄などにより除去することができる。
【0088】
上記実施形態では、遮光部300は基板Pに隣接して設けられた構成であるが、図8に示す有機EL装置S’のように、バンク層212(感光性材料層212A)に隣接して設けてもよい。図8に示す例では、第2層間絶縁層114の一部が遮光部300となっている。遮光部300を露光対象である感光性材料層212Aに近接して配置したことにより、基板Pを介して照射された露光光ELは遮光部300を通過した後、広がったり曲がったりすることなく感光性材料層212Aを照射することができる。したがって、感光性材料層212Aの所望の位置に露光光ELが照射されるので高いパターン精度を得ることができる。もちろん、遮光部300は絶縁層114以外の材料層に設けてもよく、例えば第1層間絶縁層108やゲート絶縁層104に設けてもよい。更に、不図示ではあるが、バンク層212の下層にSiO2などの無機材料からなる第2のバンク層を設け、この第2バンク層の一部を遮光部とすることもできる。この場合、第2のバンク層にはフォトリソグラフィ法により遮光部を設けることができる。
【0089】
上記実施形態では、基板P上に設けられた遮光部300を用いてフォトリソグラフィ法によりバンク層212の開口部214を形成しているが、遮光部300はバンク層212の開口部214以外の開口部形成あるいはパターン形成に用いることができる。例えば、遮光部を用いてフォトリソグラフィ法によりソース電極やドレイン電極が配置されるコンタクトホールを形成することができる。更に、遮光部を用いて画素電極202のパターニングを行うようにしてもよい。
【0090】
次に、図9を参照しながら本発明の電気光学装置の他の実施形態について説明する。ここで、以下に説明する電気光学装置について、上述した実施形態と同一あるいは同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略もしくは省略する。
【0091】
図9に示すように、電気光学装置としての有機EL装置S2は、基板Pと、基板P上に設けられ露光光ELを遮光する遮光部300と、基板P上に設けられ開口部214が形成されているバンク層212と、開口部214に配置されている有機EL素子200とを備えている。本実施形態において、遮光部300は開口部214に対応する部分、すなわち、開口部214に配置されている有機EL素子200の下方に設けられている。そして、本実施形態における有機EL装置S2は、発光層206からの発光光を基板Pと反対側から取り出すトップエミッション構造となっている。ここで、対向電極210はITO等の透明電極により構成されている。そして、遮光部300の上面、すなわち遮光部300のうち有機EL素子200と対向する面は、発光層206からの発光光を反射可能な反射面302となっている。
【0092】
次に、図9に示す有機EL装置S2の製造手順について説明する。
図5(a)及び(b)を用いて説明した手順と同様、基板P上にレジスト層301が塗布され、フォトリソグラフィ法により遮光部300が形成される。そして、遮光部300の上面に、例えばアルミニウムや銀などからなる反射面形成用材料が蒸着などにより被膜され、反射面302が形成される。そして、下地保護層201やTFT100、画素電極202が順次形成された後、感光性材料層212Bが設けられる。ここで、本実施形態における感光性材料層212Bは、露光光が照射されない未露光部分が現像処理によって除去され、露光部分がパターンとして残るネガ型感光性材料によって構成されている。したがって、現像処理されることにより、感光性材料層212Bには遮光部300に対応する部分が除去されて開口部214が形成される。こうして、開口部214を有するバンク層212が形成される。そして、開口部214に有機EL素子200としての正孔注入層204、発光層206、及び電子輸送層208などが液滴吐出法により順次設けられる。
【0093】
以上説明したように、有機EL装置S2を、発光層206からの発光光を基板Pと反対側から取り出すいわゆるトップエミッション構造とした場合において、発光層206からの発光光は開口部214の基板P側、すなわち画素の図9中、下側に設けられている遮光部300の反射面302で反射されて有機EL装置S2の外部に取り出されるので、光取り出し効率は向上され、良好な表示品質を有する有機EL装置を提供することができる。
【0094】
なお、上記各実施形態では、液滴吐出装置IJを用いた液滴吐出法により液体材料を成膜するように説明したが、液滴吐出法に限らず、例えばスピンコート法など他の塗布方法を用いることもできる。
【0095】
液体材料の生成工程や成膜工程は大気環境下で行ってもよいし、上述したように窒素ガス等の不活性ガス雰囲気下で行ってもよい。なお、液体材料調整装置LSによる液体材料の生成工程や液滴吐出装置IJによる成膜工程はクリーンルーム内でパーティクル及びケミカル的にクリーン度を維持された環境下で行うのが望ましい。
【0096】
上記実施形態では、本発明の製造方法を有機EL装置を製造する場合に適用した例について説明したが、例えば液晶装置等の他の電気光学装置であってもよい。すなわち、基板上にスイッチング素子としてのTFTが設けられる構成の装置を製造する場合について本発明の製造方法を適用することができる。
【0097】
本発明の有機EL装置(電気光学装置)は、表示部を備えた様々な電子機器に適用される。以下、本発明の電気光学装置を備えた電子機器の適用例について説明する。
図10は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図10において、符号1000は携帯電話本体を示し、符号1001は上記の有機EL表示装置を用いた表示部を示している。
図11は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図11において、符号1100は時計本体を示し、符号1101は上記の有機EL表示装置を用いた表示部を示している。
図12は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図12において、符号1200は情報処理装置、符号1202はキーボードなどの入力部、符号1204は情報処理装置本体、符号1206は上記の有機EL表示装置を用いた表示部を示している。
図10〜図12に示す電子機器は、上記実施の形態の有機EL表示装置を備えているので、表示品位に優れ、明るい画面の有機EL表示部を備えた電子機器を実現することができる。
【0098】
なお、上述した例に加えて、他の例として、液晶テレビ、ビューファインダ型やモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、電子ペーパー、タッチパネルを備えた機器等が挙げられる。本発明の電気光学装置は、こうした電子機器の表示部としても適用できる。
【0099】
【発明の効果】
以上説明したように、感光性材料層に開口部を形成する際、基板と絶縁層としての感光性材料層との間に露光光を遮光する遮光部を所定のパターンで予め設けておき、基板外側から露光光を照射することにより、遮光部で感光性材料層をパターニングすることができる。そして、遮光部は基板自体に設けられているため露光光を照射する際にアライメント処理は不要となり、しかも露光光の照明には安価な照明装置を用いて基板全体を一括露光することができる。したがって、スループットが向上するとともに、装置コストを抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電気光学装置の製造方法に用いる液滴吐出装置の一実施形態を示す概略斜視図である。
【図2】液滴吐出ヘッドを説明するための図である。
【図3】液滴吐出ヘッドを説明するための図である。
【図4】電気光学装置としての有機EL装置の一画素に対応した部分を説明するための断面図である。
【図5】電気光学装置としての有機EL装置の製造方法の一実施形態を説明するための図である。
【図6】電気光学装置としての有機EL装置の製造方法の一実施形態を説明するための図である。
【図7】電気光学装置としての有機EL装置の製造方法の一実施形態を説明するための図である。
【図8】電気光学装置としての有機EL装置の他の実施形態を示す断面図である。
【図9】電気光学装置としての有機EL装置の他の実施形態を示す断面図である。
【図10】本発明の電気光学装置が搭載された電子機器を示す図である。
【図11】本発明の電気光学装置が搭載された電子機器を示す図である。
【図12】本発明の電気光学装置が搭載された電子機器を示す図である。
【符号の説明】
100 薄膜トランジスタ(スイッチング素子)
200 有機EL素子(発光素子)
212 バンク層(絶縁層)
212A 感光性材料層(絶縁層)
214 開口部
300 遮光部
302 反射面
EL 露光光
IJ 液滴吐出装置
P 基板
S、S’、S2 有機エレクトロルミネッセンス装置(電気光学装置)
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気光学装置の製造方法及び電気光学装置、電子機器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
各画素に対応して有機エレクトロルミネッセンス素子を備えた有機エレクトロルミネッセンス表示装置(以下、「有機EL装置」と称する)は、高輝度で自発光であること、直流低電圧駆動が可能であること、応答が高速であること、固体有機膜による発光であることなどから表示性能に優れており、また、表示装置の薄型化、軽量化、低消費電力化が可能であるため、将来的に液晶表示装置に続く表示装置として期待されている。このような有機EL装置(電気光学装置)の製造方法の1つとして、発光材料等の機能材料をインク化し、このインク(液体材料)を基板上に吐出する液滴吐出法(インクジェット法)がある。液滴吐出法では、基板上に開口部を有するバンク層(隔壁)を形成し、このバンク層に形成された開口部に対して液滴を吐出することにより機能材料のパターニングを行う。
【0003】
バンク層の開口部は、基板上に感光性を有する合成樹脂をコーティングして感光性材料層(絶縁層)を設けた後、前記開口部に対応するパターンを有するマスクを露光光で照明し、マスクを透過した露光光により感光性材料層を露光し、次いで現像処理することにより形成される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述した従来のバンク層の開口部の形成方法において、以下に述べる問題が生じるようになった。
従来のバンク層の開口部の形成方法はマスクを透過した露光光を感光性材料層に露光する構成であるため、感光性材料層の所望の位置に露光光を照射するために、感光性材料層が設けられた基板とマスクとの位置合わせ処理(アライメント処理)が必要となる。このように、アライメント処理のための工程が必要となるためスループットが低下するとともに、アライメント装置を備えた露光装置、いわゆるステッパが必要となる。更に、ステッパは複数のショット領域に対してステップ・アンド・リピートしながら順次露光処理する構成であるが、基板の大型化に伴ってショット数も多くなりスループットが低下する。
【0005】
また、バンク層に用いられる材料は感光性が低いため長時間露光しなくてはならず、ステッパに負荷がかかり、高価なステッパにおいて光学系のメンテナンスが頻繁に必要になったりステッパが故障するおそれが高くなるなど、コスト面においても不利になる。
【0006】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、ステッパなど高価な装置への負荷を低減し、更に、アライメント処理の工程を低減してスループットを向上できる電気光学装置の製造方法、及び電気光学装置、並びにこの電気光学装置を備えた電子機器を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するため、本発明の電気光学装置の製造方法は、基板上に発光素子が設けられた電気光学装置の製造方法において、前記基板上に絶縁層と、前記基板と前記絶縁層との間に特定波長帯域の光を有する露光光を遮光する遮光部とを設ける工程と、前記基板側から前記露光光を照射し、前記絶縁層を露光する工程と、前記露光された前記絶縁層を現像し該絶縁層に開口部を形成する工程と、前記開口部に前記発光素子を形成する工程とを有することを特徴とする。
【0008】
本発明によれば、バンク層としての絶縁層に開口部を形成する際、基板と絶縁層との間に露光光を遮光する遮光部を所定のパターンで予め設けておき、基板外側から露光光を照射することにより、遮光部で絶縁層をパターニングすることができる。ここで、所定のパターンとは絶縁層に形成する開口部に対応するパターンである。そして、遮光部は基板自体に設けられているため露光光を照射する際にアライメント処理は不要となり、しかも露光光の照射には高価なステッパでなく露光光を射出可能な安価な照明装置を用いて基板全体を一括露光することができる。更に、大光量の露光光を射出可能な照明装置を用いることにより露光処理を短時間で行うことができる。したがって、スループットは向上するとともに、装置コストを抑えることができる。
【0009】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記基板に隣接して前記遮光部を設ける構成が採用される。遮光部を基板に隣接して、すなわち基板上に設けることにより遮光部は容易に形成可能となる。
【0010】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記絶縁層に隣接して前記遮光部を設ける構成が採用される。遮光部を絶縁層に近接配置することにより基板側から照射された露光光は広がったり曲がったりせずに絶縁層を照射でき、所望の領域を精度良く露光処理できる。
【0011】
そして、前記開口部に発光素子を設けることにより、絶縁層を、発光素子を位置決めするバンク層として用いることができる。なお、開口部には発光素子以外の材料が配置されてもよく、例えば電極材料を配置することにより開口部をコンタクトホールとして用いることができる。
【0012】
この場合において、前記発光素子は有機エレクトロルミネッセンス素子とすることができる。バンク層の開口部に有機エレクトロルミネッセンス素子を設けることにより良好なパターン精度で有機エレクトロルミネッセンス装置を製造できる。
【0013】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記発光素子を液滴吐出法により設ける構成が採用される。発光素子(有機エレクトロルミネッセンス素子)を液滴吐出法で設けることにより、少量多種生産に対応可能となり、発光装置(有機エレクトロルミネッセンス装置)を効率良く製造できる。
【0014】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記発光素子に対して供給する電力を制御するスイッチング素子を前記遮光部の前記基板と反対側に設ける構成が採用される。これにより、開口部を形成するために基板側から露光光を照射した際、スイッチング素子は遮光部に遮られて露光光に照射されない。したがって、露光光の照射によるスイッチング素子に対するダメージを抑えることができる。
【0015】
この場合において、前記遮光部は黒色材料により構成することができる。これにより、基板側から照明された露光光は確実に遮光される。更に、本発明の電気光学装置を、発光素子(有機エレクトロルミネッセンス素子)からの発光光を基板側から取り出すいわゆるボトムエミッション構造の表示装置とした場合、遮光部がいわゆるブラックマトリクスとして機能することになり、発光部以外からの光漏れを防いで良好な表示品質を得ることができる。
【0016】
また、前記遮光部は金属材料により構成してもよい。すなわち、電気光学装置は加熱工程を含む種々のプロセスを経て製造されるが、遮光部を金属材料により形成することにより、遮光部は加熱工程での熱によるダメージを受けにくくなる。したがって、プロセス条件(加熱温度条件)の設定の自由度が増す。なお、遮光部は例えば合成樹脂により構成されてもよい。この場合、プロセス中における加熱温度は合成樹脂からなる遮光部にダメージを与えない程度の温度に設定されていることが望ましい。
【0017】
また、前記遮光部は前記発光素子からの発光光を透過可能な材料から構成してもよい。すなわち、遮光部は特定波長帯域を有する露光光を遮光し、且つ発光素子からの発光光を透過可能な材料であればよく、例えば露光光が紫外光であり発光光が可視光である場合、紫外線吸収材により形成可能である。そして、例えば紫外光を透過しない透明材料などによって遮光部を構成することにより、電気光学装置が発光素子からの発光光を基板側から取り出すいわゆるボトムエミッション構造である場合において、高い開口率を得ることができる。
【0018】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記絶縁層はポジ型感光性材料からなる構成が採用される。これにより、露光光照射部分(露光部分)を開口部とすることができる。
【0019】
本発明の電気光学装置の製造方法において、前記絶縁層はネガ型感光性材料からなり、前記絶縁層のうち前記遮光部に対応する位置に前記開口部が形成され、前記開口部に発光素子が設けられ、前記遮光部のうち前記発光素子に対向する面は前記発光素子からの発光光を反射可能な反射面である構成が採用される。絶縁層をネガ型感光性材料とすることにより、遮光部に対応する部分、すなわち未露光部分が開口部となる。そして、開口部に発光素子を設けるとともに、電気光学装置を発光素子からの発光光を基板と反対側から取り出すいわゆるトップエミッション構造とした場合、発光素子からの発光光は開口部の基板側(画素の下側)に設けられている遮光部の反射面で反射されて装置外部に射出するので、良好な光取り出し効率が得られ、高い輝度を有する表示部を備えた電気光学装置を提供できる。
【0020】
本発明の電気光学装置は、基板上に発光素子が形成された電気光学装置であって、前記基板上に開口部を有する絶縁層と、前記開口部に設けられた発光素子とを有し、前記基板と前記絶縁層との間であって、前記開口部に対応する以外の部分に、遮光部が設けられていることを特徴とする。
【0021】
本発明によれば、基板と絶縁層との間に基板外部からの特定波長領域を有する光を遮光する遮光部を設けたことにより、絶縁層をバンク層として用いる場合、基板外部から前記光を照射することによりフォトリソグラフィ法を用いて絶縁層に開口部を形成することができる。そして、遮光部を基板上に所定のパターンで設けておくことにより、光を基板外部から照射するに際し基板のアライメント処理は不要となるので、電気光学装置を製造する際のスループットを向上することができる。この場合において、基板全体を一括照射する構成が可能となるので、更なるスループット向上を実現できる。
【0022】
本発明の電気光学装置において、前記遮光部は前記基板に隣接して設けられている構成が採用される。遮光部を基板上に設けることにより容易に形成可能となる。
【0023】
本発明の電気光学装置において、前記遮光部を黒色材料で構成することができる。これにより、基板外部から照射された光を確実に遮光できる。更に、電気光学装置を、発光素子(有機エレクトロルミネッセンス素子)からの発光光を基板側から取り出すいわゆるボトムエミッション構造の表示装置とした場合、遮光部がブラックマトリクスとしての機能を有することになり、発光部以外からの光漏れを防いで良好な表示品質を得ることができる。
【0024】
本発明の電気光学装置において、前記遮光部は前記発光素子からの発光光を透過可能な材料からなる構成が採用される。すなわち、遮光部は特定波長領域を有する光を遮光し、且つ発光素子からの発光光を透過可能な材料であればよく、例えば露光光が紫外光であり発光光が可視光である場合、遮光部は紫外線吸収材により形成可能である。そして、遮光部は発光素子からの発光光を透過可能な材料であるので、電気光学装置を、発光素子からの発光光を基板側から取り出すボトムエミッション構造の表示装置とした場合、高い開口率を有する表示部を備えた電気光学装置を提供できる。
【0025】
本発明の電気光学装置において、前記遮光部の前記基板と反対側に、前記発光素子に対して供給する電力を制御するスイッチング素子を設けた構成が採用される。これにより、開口部を形成するために基板外部から光を照射した際、スイッチング素子は遮光部に遮られて照射されないので、光照射によるスイッチング素子に対するダメージを抑えることができる。
【0026】
本発明の電気光学装置において、前記発光素子を有機エレクトロルミネッセンス素子とすることができるバンク層の開口部に有機エレクトロルミネッセンス素子を設けることにより、良好なパターン精度で有機エレクトロルミネッセンス装置を製造できる。
【0027】
本発明の電気光学装置は、基板上に設けられ開口部を有する材料層と、前記開口部に設けられた発光素子とを備えた電気光学装置において、前記基板と前記材料層との間において前記開口部に対応する部分に前記基板外部からの特定波長領域を有する光を遮光する遮光部が設けられ、前記遮光部のうち前記発光素子に対向する面は前記発光素子からの発光光を反射可能な反射面であることを特徴とする。
【0028】
本発明によれば、発光素子が設けられた開口部に対応する部分に、反射面を発光素子側に向けた遮光部を設けたので、電気光学装置を、発光素子からの発光光を基板と反対側から取り出すいわゆるトップエミッション構造の表示装置とした場合、発光素子からの発光光は反射面で反射して基板と反対側から装置外部に取り出されるので、良好な光取り出し効率を得ることができ、高い輝度を有する表示部を備えた電気光学装置を提供できる。更に、遮光部により基板外部から発光素子側に入射しようとする光が遮光されるので良好な表示品質を有する表示装置を提供することができる。
【0029】
本発明の電子機器は、上記記載の電気光学装置が搭載されたことを特徴とする。これにより優れた特性を有する電子機器が提供される。
【0030】
ここで、上述した液滴吐出法に用いられる液滴吐出装置はインクジェットヘッド(液滴吐出ヘッド)を備えたインクジェット装置を含む。インクジェット装置のインクジェットヘッドは、インクジェット法により液体材料を定量的に吐出可能であり、例えば1ドットあたり1〜300ナノグラムの液体材料を定量的に断続して滴下可能な装置である。なお、液滴吐出装置としてはディスペンサー装置であってもよい。
【0031】
液滴吐出装置の液滴吐出方式としては、圧電体素子の体積変化により液体材料の液滴を吐出させるピエゾジェット方式であっても、熱の印加により急激に蒸気が発生することにより液体材料を吐出させる方式であってもよい。
【0032】
液体材料とは、液滴吐出装置の吐出ヘッドのノズルから吐出可能(滴下可能)な粘度を備えた媒体をいう。水性であると油性であるとを問わない。ノズル等から吐出可能な流動性(粘度)を備えていれば十分で、固体物質が混入していても全体として流動体であればよい。また、液体材料に含まれる材料は融点以上に加熱されて溶解されたものでも、溶媒中に微粒子として攪拌されたものでもよく、溶媒の他に染料や顔料その他の機能性材料を添加したものであってもよい。また、基材はフラット基板を指す他、曲面状の基板であってもよい。さらにパターン形成面の硬度が硬い必要はなく、ガラスやプラスチック、金属以外に、フィルム、紙、ゴム等可撓性を有するものの表面であってもよい。
【0033】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の電気光学装置及びその製造方法について図面を参照しながら説明する。図1は本発明の電気光学装置を製造する際に用いる液滴吐出装置を示す概略斜視図である。また、図2及び図3は液滴吐出装置に設けられた液滴吐出ヘッドを示す図である。
図1において、液滴吐出装置IJは、基板Pの表面(所定面)に液滴(インク滴)を配置可能な成膜装置であって、ベース12と、ベース12上に設けられ、基板Pを支持するステージ(ステージ装置)STと、ベース12とステージSTとの間に介在し、ステージSTを移動可能に支持する第1移動装置14と、ステージSTに支持されている基板Pに対して電気光学装置形成用材料を含む液滴を定量的に吐出(滴下)可能な液滴吐出ヘッド20と、液滴吐出ヘッド20を移動可能に支持する第2移動装置16とを備えている。液滴吐出ヘッド20の液滴の吐出動作や、第1移動装置14及び第2移動装置16の移動動作を含む液滴吐出装置IJの動作は制御装置CONTにより制御される。
【0034】
第1移動装置14はベース12の上に設置されており、Y軸方向に沿って位置決めされている。第2移動装置16は、支柱16A,16Aを用いてベース12に対して立てて取り付けられており、ベース12の後部12Aにおいて取り付けられている。第2移動装置16のX軸方向は第1移動装置14のY軸方向と直交する方向である。ここで、Y軸方向はベース12の前部12Bと後部12A方向に沿った方向である。これに対してX軸方向はベース12の左右方向に沿った方向であり、各々水平である。また、Z軸方向はX軸方向及びY軸方向に垂直な方向である。
【0035】
第1移動装置14は例えばリニアモータによって構成され、ガイドレール40、40と、このガイドレール40に沿って移動可能に設けられているスライダー42とを備えている。このリニアモータ形式の第1移動装置14のスライダー42はガイドレール40に沿ってY軸方向に移動して位置決め可能である。
【0036】
また、スライダー42はZ軸回り(θZ)用のモータ44を備えている。このモータ44は例えばダイレクトドライブモータであり、モータ44のロータはステージSTに固定されている。これにより、モータ44に通電することでロータとステージSTとはθZ方向に沿って回転してステージSTをインデックス(回転割り出し)することができる。すなわち、第1移動装置14はステージSTをY軸方向及びθZ方向に移動可能である。
【0037】
ステージSTは基板Pを保持し所定の位置に位置決めするものである。また、ステージSTは吸着保持装置50を有しており、吸着保持装置50が作動することによりステージSTの穴46Aを通して基板PをステージSTの上に吸着して保持する。
【0038】
第2移動装置16はリニアモータによって構成され、支柱16A,16Aに固定されたコラム16Bと、このコラム16Bに支持されているガイドレール62Aと、ガイドレール62Aに沿ってX軸方向に移動可能に支持されているスライダー60とを備えている。スライダー60はガイドレール62Aに沿ってX軸方向に移動して位置決め可能であり、液滴吐出ヘッド20はスライダー60に取り付けられている。
【0039】
液滴吐出ヘッド20は揺動位置決め装置としてのモータ62,64,66,68を有している。モータ62を作動すれば、液滴吐出ヘッド20はZ軸に沿って上下動して位置決め可能である。このZ軸はX軸とY軸に対して各々直交する方向(上下方向)である。モータ64を作動すると、液滴吐出ヘッド20はY軸回りのβ方向に沿って揺動して位置決め可能である。モータ66を作動すると、液滴吐出ヘッド20はX軸回りのγ方向に揺動して位置決め可能である。モータ68を作動すると、液滴吐出ヘッド20はZ軸回りのα方向に揺動して位置決め可能である。すなわち、第2移動装置16は液滴吐出ヘッド20をX軸方向及びZ軸方向に移動可能に支持するとともに、この液滴吐出ヘッド20をθX方向、θY方向、θZ方向に移動可能に支持する。
【0040】
このように、図1の液滴吐出ヘッド20は、スライダー60において、Z軸方向に直線移動して位置決め可能で、α、β、γに沿って揺動して位置決め可能であり、液滴吐出ヘッド20の吐出面20Pは、ステージST側の基板Pに対して正確に位置あるいは姿勢をコントロールすることができる。なお、液滴吐出ヘッド20の吐出面20Pには液滴を吐出する複数のノズルが設けられている。
【0041】
図2は液滴吐出ヘッド20を示す分解斜視図である。図2に示すように、液滴吐出ヘッド20は、ノズル81を有するノズルプレート80と、振動板85を有する圧力室基板90と、これらノズルプレート80と振動板85とを嵌め込んで支持する筐体88とを備えている。液滴吐出ヘッド20の主要部構造は、図3の斜視図一部断面図に示すように、圧力室基板90をノズルプレート80と振動板85とで挟み込んだ構造を備える。ノズルプレート80には、圧力室基板90と貼り合わせられたときにキャビティ(圧力室)81に対応することとなる位置にノズル81が形成されている。圧力室基板90には、シリコン単結晶基板等をエッチングすることにより、各々が圧力室として機能可能にキャビティ81が複数設けられている。キャビティ81どうしの間は側壁92で分離されている。各キャビティ81は供給口94を介して共通の流路であるリザーバ93に繋がっている。振動板85は例えば熱酸化膜等により構成される。振動板85にはタンク口86が設けられ、タンク30からパイプ(流路)31を通して任意の液滴を供給可能に構成されている。振動板85上のキャビティ81に相当する位置には圧電体素子87が形成されている。圧電体素子87はPZT素子等の圧電性セラミックスの結晶を上部電極および下部電極(図示せず)で挟んだ構造を備える。圧電体素子87は制御装置CONTから供給される吐出信号に対応して体積変化を発生可能に構成されている。
【0042】
液滴吐出ヘッド20から液滴を吐出するには、まず、制御装置CONTが液滴を吐出させるための吐出信号を液滴吐出ヘッド20に供給する。液滴は液滴吐出ヘッド20のキャビティ81に流入しており、吐出信号が供給された液滴吐出ヘッド20では、その圧電体素子87がその上部電極と下部電極との間に加えられた電圧により体積変化を生ずる。この体積変化は振動板85を変形させ、キャビティ81の体積を変化させる。この結果、そのキャビティ81のノズル穴211から液滴が吐出される。液滴が吐出されたキャビティ81には吐出によって減った液体材料が新たに後述するタンク30から供給される。
【0043】
なお、上記液滴吐出ヘッドは圧電体素子に体積変化を生じさせて液滴を吐出させる構成であったが、発熱体により液体材料に熱を加えその膨張によって液滴を吐出させるようなヘッド構成であってもよい。
【0044】
図1に戻って、基板P上に設けられる液体材料は、液体材料調整装置LSにより生成される。液体材料調整装置LSは、液体材料を収容可能なタンク30と、タンク30に取り付けられ、このタンク30に収容されている液体材料の温度を調整する温度調整装置32と、タンク30に収容されている液体材料を攪拌する撹拌装置33とを備えている。温度調整装置32はヒータにより構成されており、タンク30内の液体材料を任意の温度に調整する。温度調整装置32は制御装置CONTにより制御され、タンク30内の液体材料は温度調整装置32により温度調整されることで所望の粘度に調整される。
【0045】
タンク30はパイプ(流路)31を介して液滴吐出ヘッド20に接続しており、液滴吐出ヘッド20から吐出される液体材料の液滴はタンク30からパイプ31を介して供給される。また、パイプ31を流れる液体材料は不図示のパイプ温度調整装置によって所定の温度に制御され、粘度を調整される。更に、液滴吐出ヘッド20から吐出される液滴の温度は、液滴吐出ヘッド20に設けられた不図示の温度調整装置により制御され、所望の粘度に調整されるようになっている。
【0046】
なお、図1には液滴吐出ヘッド20及び液体材料調整装置LSのそれぞれが1つだけ図示されているが、液滴吐出装置IJには複数の液滴吐出ヘッド20及び液体材料調整装置LSが設けられており、これら複数の液滴吐出ヘッド20のそれぞれから異種または同種の液体材料の液滴が吐出されるようになっている。そして、基板Pに対してこれら複数の液滴吐出ヘッド20のうち、第1の液滴吐出ヘッドから第1の液体材料を吐出した後、これを焼成又は乾燥し、次いで第2の液滴吐出ヘッドから第2の液体材料を基板Pに対して吐出した後これを焼成又は乾燥し、以下、複数の液滴吐出ヘッドを用いて同様の処理を行うことにより、基板P上に複数の材料層が積層され、多層パターンが形成される。
【0047】
次に、上述した液滴吐出装置IJを用いて電気光学装置を製造する方法について説明する。以下、一例として、電気光学装置としての有機エレクトロルミネッセンス表示装置(以下、「有機EL装置」と称する)を製造する方法について説明する。なお、以下に示す手順や液体材料の材料構成は一例であってこれに限定されるものではない。
【0048】
図4は有機EL装置における表示領域の断面構造を拡大した図である。
図4に示すように、有機EL装置Sは、基板Pと、基板Pに隣接して設けられた遮光部300と、遮光部300の基板Pと反対側、すなわち図4中、遮光部300の上面に設けられたスイッチング素子としての薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)100と、基板P上に設けられた発光素子(有機EL素子)200とを備えている。
【0049】
発光素子200は、インジウム錫酸化物(ITO:Indium Tin Oxide)等の透明電極材料からなる画素電極(陽極)202と、画素電極202からの正孔を輸送可能な正孔輸送層204と、有機発光材料を含む有機発光層206と、発光層206の上面に設けられている電子輸送層208と、電子輸送層208の上面に設けられているアルミニウム(Al)やマグネシウム(Mg)、金(Au)、銀(Ag)、カルシウム(Ca)等からなる対向電極(陰極)210とを有している。
【0050】
遮光部300は基板Pの上面に設けられている。遮光部300は、後述するように、基板P外部から照射される特定波長領域を有する露光光ELを遮光可能な材料により形成されており、本実施形態ではクロム(Cr)等の黒色の金属材料により構成されている。遮光部300は基板Pの面方向において所定のパターンで設けられている。また、遮光部300とこの遮光部300が設けられている以外の基板P表面とにはSiO2を主体とする下地保護層201が設けられている。
【0051】
スイッチング素子であるTFT100は、有機EL素子200に対して供給する電力(電流)を制御するものである。TFT100は、下地保護層201を介して遮光部300の上部に形成された形成されたシリコン層102と、シリコン層102を覆うように下地保護層201の上層に設けられたゲート絶縁層104と、ゲート絶縁層104の上面のうちシリコン層102に対向する部分に設けられたゲート電極106と、ゲート電極106を覆うようにゲート絶縁層104の上層に設けられた第1層間絶縁層108と、ゲート絶縁層104及び第1層間絶縁層108にわたって開孔するコンタクトホールを介してシリコン層102と接続するソース電極110と、ゲート電極106を挟んでソース電極110と対向する位置に設けられ、ゲート絶縁層104及び第1層間絶縁層108にわたって開孔するコンタクトホールを介してシリコン層102と接続するドレイン電極112と、ソース電極110及びドレイン電極112を覆うように第1層間絶縁層108の上層に設けられた第2層間絶縁層114とを備えている。
【0052】
そして、第2層間絶縁層114の上面に画素電極202が配置され、画素電極202とドレイン電極112とは、第2層間絶縁層114に設けられたコンタクトホール216を介して接続されている。また、第2層間絶縁層114上面のうち遮光部300に対応する部分に合成樹脂などからなるバンク層212が設けられており、遮光部300に対応する以外の部分に有機EL素子200が設けられている。すなわち、第2層間絶縁層114の表面のうち有機EL素子200が設けられている以外の部分と対向電極210との間に合成樹脂などからなるバンク層212が設けられている。
【0053】
バンク層(絶縁層)212は感光性を有する樹脂により構成されており、例えばアクリル樹脂やポリイミド樹脂を主体として構成されている。有機EL素子200のうち、正孔輸送層204、発光層206、電子輸送層208、及び対向電極210の一部は、バンク層212に形成された開口部214に配置されている。すなわち、基板Pと、開口部214を有するバンク層212との間において開口部214に対応する以外の部分に遮光部300が設けられ、開口部214に有機EL素子200が設けられている構成となっている。
【0054】
なお、シリコン層102のうち、ゲート絶縁層104を挟んでゲート電極106と重なる領域がチャネル領域とされている。また、シリコン層102のうち、チャネル領域のソース側にはソース領域が設けられている一方、チャネル領域のドレイン側にはドレイン領域が設けられている。このうち、ソース領域が、ゲート絶縁層104と第1層間絶縁層108とにわたって開孔するコンタクトホールを介してソース電極110に接続されている。一方、ドレイン領域が、ゲート絶縁層104と第1層間絶縁層108とにわたって開孔するコンタクトホールを介して、ソース電極110と同一層からなるドレイン電極112に接続されている。画素電極202は、ドレイン電極112を介して、シリコン層102のドレイン領域に接続されている。
【0055】
本実施形態における有機EL装置は、TFT100が設けられている基板P側から有機EL素子200(発光層206)からの発光光を取り出すいわゆるボトムエミッション構造である。したがって、基板Pは光透過性基板であり、透明あるいは半透明であるものが好ましく、基板材料としてはガラスや石英、樹脂等の透明度の高い(透過率が高い)ものが用いられる。
また、基板に色フィルター膜や発光性物質を含む色変換膜、あるいは誘電体反射膜を配置して、発光色を制御するようにしてもよい。
【0056】
一方、発光層206からの発光光を基板Pと反対側から取り出すいわゆるトップエミッション構造とすることも可能である。トップエミッション構造とする場合、後述する露光光ELが透過可能な材料により形成されていれば、基板Pは不透明な材料(発光層206からの発光光を透過しない材料)であってもよい。
【0057】
次に、図5〜図7を参照しながら図4に示した有機EL装置Sの製造工程について説明する。
はじめに、基板P上に遮光部300が形成される。遮光部300を形成する際には、まず、図5(a)に示すように、基板P上にレジスト層301が設けられる。レジスト層301の形成用材料としては、感光性を有し、且つ後述する露光光ELを遮光可能な材料であればよく、例えばクロム(Cr)等の黒色金属材料により構成される。なお、レジスト層301の形成用材料としては、クロムに限らず露光光ELを遮光可能な材料であれば例えば合成樹脂により構成されてもよい。また、露光光ELが例えば紫外光である場合にはレジスト層301(遮光部300)は紫外線吸収材により構成されていてもよい。ここで、紫外線吸収材は紫外光である露光光ELを遮光可能であればよく黒色以外の色、あるいは透明材料であってもよい。
【0058】
基板P上にレジスト層301を設ける際には、レジスト層301の形成用材料を溶媒で液体材料化(インク化)し、この液体材料を例えばスピンコート法などのコーティング法を用いることにより基板P上に塗布される。なお、スピンコート法に限らず、液滴吐出法を用いてレジスト層301を設けることも可能である。
【0059】
レジスト層301が設けられたら、フォトリソグラフィ法によりレジスト層301をパターニングすることにより遮光部300が形成される。すなわち、レジスト層301に対して所定のパターンを有するマスクを透過したレジスト層用露光光が照射される。レジスト層301の露光処理にはステッパなどが用いられる。ステッパによりアライメントしつつ露光処理することによりレジスト層301には所望のパターン精度を有するパターンが形成される。ここで、所定のパターンとは、バンク層212に形成すべき開口部214に対応するパターンである。また、レジスト層用露光光は後述する露光光ELとは別の波長を有するものであり、レジスト層301はこのレジスト用露光光の波長領域に対して感光性を有するが、露光光ELの波長領域に対しては感光性を有さない。すなわち、レジスト層301(遮光部300)とバンク層212とは異なる材料により構成されている。
【0060】
そして、レジスト層301が所定のパターンで露光されたら現像処理が行われる。現像処理されることにより、図5(b)に示すように、レジスト層301は基板Pの面方向において所定のパターンを有する遮光部300となる。遮光部300は基板P表面の複数の所定位置にそれぞれ島状に形成される。
【0061】
次に、図5(c)に示すように、遮光部300を覆うように基板P上に下地保護層201が設けられる。下地保護層201を形成する際には、基板Pの表面にTEOS(テトラエトキシシラン)や酸素ガスなどを原料としてプラズマCVD法により厚さ約200〜500nmのシリコン酸化膜からなる下地保護層201が形成される。
【0062】
次に、基板Pの温度を約350℃に設定して、下地保護膜201の表面にプラズマCVD法あるいはICVD法により厚さ約30〜70nmのアモルファスシリコン膜からなる半導体層102Aが形成される。次いで、この半導体層102Aに対してレーザアニール法、急速加熱法、または固相成長法などによって結晶化工程を行い、半導体層102Aをポリシリコン層に結晶化する。レーザアニール法では、例えばエキシマレーザでビームの長寸が400mmのラインビームを用い、その出力強度は例えば200mJ/cm2とする。ラインビームについては、その短寸方向におけるレーザ強度のピーク値の90%に相当する部分が各領域毎に重なるようにラインビームを走査する。
【0063】
次いで、図5(d)に示すように、半導体層(ポリシリコン層)102Aをパターニングして島状のシリコン層102とし、その表面に対して、TEOSや酸化ガスなどを原料としてプラズマCVD法により厚さ約60〜150nmのシリコン酸化膜又は窒化膜からなるゲート絶縁層104が形成される。
【0064】
なお、ゲート絶縁層104の表面に水素(H2)プラズマ処理をしてもよい。これにより、空隙の表面のSi−O結合中のダングリングボンドがSi−H結合に置き換えられ、膜の耐吸湿性が良くなる。そして、このプラズマ処理されたゲート絶縁層104の表面に別のSiO2層を設けてもよい。こうすることにより、誘電率な絶縁層が形成できる。
【0065】
次いで、図6(a)に示すように、ゲート絶縁層104上にアルミニウム、タンタル、モリブデン、チタン、タングステンなどの金属を含む導電膜をスパッタ法により形成した後、これをパターニングすることにより、ゲート電極106が形成される。次いで、この状態で高濃度のリンイオンを打ち込み、シリコン層102に、ゲート電極106に対して自己整合的にソース領域102s及びドレイン領域102dが形成される。この場合、ゲート電極106はパターニング用マスクとして用いられる。なお、不純物が導入されなかった部分がチャネル領域102cとなる。
【0066】
次いで、図6(b)に示すように、第1層間絶縁層108が形成される。第1層間絶縁層108は、ゲート絶縁層104同様、シリコン酸化膜または窒化膜、多孔性を有するシリコン酸化膜などによって構成され、ゲート絶縁層104の形成方法と同様の手順でゲート絶縁層104の上層に形成される。
そして、この第1層間絶縁層108及びゲート絶縁層104にフォトリソグラフィ法を用いてパターニングすることにより、ソース電極110及びドレイン電極112に対応するコンタクトホールが形成される。次いで、第1層間絶縁層108を覆うように、アルミニウムやクロム、タンタル等の金属からなる導電層を形成した後、この導電層のうち、ソース電極及びドレイン電極が形成されるべき領域を覆うようにパターニング用マスクを設けるとともに、導電層をパターニングすることにより、ソース電極110及びドレイン電極112が形成される。こうして、遮光部300の上面(遮光部300の基板Pと反対側)にスイッチング素子としてのTFT100が設けられる。
次に、図示はしないが、第1層間絶縁層108上に、信号線、共通給電線、走査線を形成する。このとき、これらに囲まれる箇所は後述するように発光層等を形成する画素となることから、例えば発光光を基板側から取り出す形態とする場合には、TFT100が前記各配線に囲まれた箇所の直下に位置しないよう、各配線を形成する。
【0067】
次いで、図6(c)に示すように、第2層間絶縁層114が、第1層間絶縁層108、各電極110、112、前記不図示の各配線を覆うように形成される。第2層間絶縁層114は、第1層間絶縁層108同様、シリコン酸化膜または窒化膜などによって構成され、第1層間絶縁層108の形成方法と同様の手順で第1層間絶縁層108の上層に形成される。そして、第2層間絶縁層114を形成したら、第2層間絶縁層114のうちドレイン電極112に対応する部分にコンタクトホール216が形成される。そして、このコンタクトホール216を介してドレイン電極112に連続するようにITO等の導電性材料をパターニングし、画素電極202が形成される。
【0068】
画素電極202は、ITOやフッ素をドープしてなるSnO2、更にZnOやポリアミン等の透明電極材料からなり、コンタクトホール216を介してTFT100のドレイン電極112に接続されている。画素電極202を形成するには、前記透明電極材料からなる膜を第2層間絶縁層114上面に形成し、この膜をパターニングすることにより形成される。
【0069】
画素電極202を形成したら、図6(d)に示すように、画素電極202を覆うように感光性材料層(絶縁層)212Aが形成される。感光性材料層212Aは後の工程により開口部を有するバンク層212となるものである。感光性材料層212Aは、例えば、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂など、あるいはそれらの前駆体といった感光性材料層形成用材料を溶媒に溶かして液体材料化し、この液体材料をスピンコート、ディップコートなどによりコーティングすることにより設けられる。なお、感光性材料層212Aはスピンコート法などに限らず液滴吐出法により設けることも可能である。ここで、感光性材料層212Aの形成用材料としては、後述する特定波長領域を有する露光光ELに対して感光性を有し、しかもエッチング等によってパターニングしやすいものであればどのようなものでもよい。
【0070】
感光性材料層212Aが設けられたら、図7(a)に示すように、不図示の照明装置により基板P側から感光性材料層212Aに対して所定の波長領域を有する露光光ELが照射される。露光光ELは基板P全体を一括露光する。ここで、基板P上面には露光光ELを遮光する遮光部300が所定のパターンで形成されているため、露光光ELは感光性材料層212Aのうち遮光部300に対応する以外の部分を照明する。本実施形態では、露光光ELは基板Pを透過した後、下地保護層201、ゲート絶縁層104、第1層間絶縁層108、第2層間絶縁層114、及び透明電極である画素電極202を通過して感光性材料層212Aの所定領域、すなわち遮光部300で遮光されていない領域を照射する。ここで、前述したように、遮光部300は露光光ELに対しては感光性を有していない。
【0071】
基板P側から露光光ELを照射して感光性材料層212Aを露光処理したら、この露光処理された感光性材料層212Aに対して現像処理(エッチング処理)が行われる。ここで、本実施形態における感光性材料層212Aは、露光光が照射された露光部分が現像処理によって除去され、未露光部分がパターンとして残るポジ型感光性材料によって構成されている。したがって、現像処理されることにより、図7(b)に示すように、感光性材料層212Aには、遮光部300に対応する以外の部分が除去されて開口部214が形成される。こうして、開口部214を有するバンク層212が形成される。ここで、バンク層212は、第2層間絶縁層114の所定位置及び画素電極202の一部を覆うように形成されている。
【0072】
画素電極202及びバンク層212が形成されたらプラズマ処理が行われる。プラズマ処理は、画素電極202の表面を活性化すること、更にバンク部212の表面を表面処理することを目的として行われる。特に活性化工程は、画素電極202(ITO)上の洗浄、更に仕事関数の調整を主な目的として行われる。表面処理は、画素電極202の表面の親液化処理、バンク部212表面の撥液化処理を含む。親液化処理としてO2プラズマ処理が行われる。このO2プラズマ処理により、画素電極202の電極面、バンク層212の上面及び開口部214壁面が親液化処理される。この親液化処理により、これらの各面に水酸基が導入されて親液性が付与される。そして、このO2プラズマ処理は、親液性を付与することのほかに画素電極202であるITO上の洗浄,及び仕事関数の調整も兼ねている。撥液化処理としてCF4プラズマ処理が行われる。CF4プラズマ処理により、バンク層212の上面及び開口部214壁面が撥液化処理される。この撥液化処理により、これらの各面にフッ素基が導入されて撥液性が付与される。なお、画素電極202の電極面もこのCF4プラズマ処理の影響を多少受けるが、濡れ性に影響を与える事は少ない。
【0073】
次いで、図7(c)に示すように、画素電極202の上面に正孔輸送層204が形成される。ここで、正孔輸送層204の形成用材料としては、特に限定されることなく公知のものが使用可能であり、例えばピラゾリン誘導体、アリールアミン誘導体、スチルベン誘導体、トリフェニルジアミン誘導体等が挙げられる。具体的には、特開昭63−70257号、同63−175860号公報、特開平2−135359号、同2−135361号、同2−209988号、同3−37992号、同3−152184号公報に記載されているもの等が例示されるが、トリフェニルジアミン誘導体が好ましく、中でも4,4’−ビス(N(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ)ビフェニルが好適とされる。
なお、正孔輸送層に代えて正孔注入層を形成するようにしてもよく、さらに正孔注入層と正孔輸送層を両方形成するようにしてもよい。その場合、正孔注入層の形成用材料としては、例えば銅フタロシアニン(CuPc)や、ポリテトラヒドロチオフェニルフェニレンであるポリフェニレンビニレン、1,1−ビス−(4−N,N−ジトリルアミノフェニル)シクロヘキサン、トリス(8−ヒドロキシキノリノール)アルミニウム等が挙げられるが、特に銅フタロシアニン(CuPc)を用いるのが好ましい。
【0074】
正孔輸送層204を形成する際には液滴吐出法(インクジェット法)が用いられる。すなわち、上述した正孔輸送層形成用材料を含む液体材料からなる液滴をを画素電極202の電極面上に吐出した後に、乾燥処理及び熱処理を行うことにより、画素電極202上に正孔輸送層204が形成される。なお、この正孔輸送層形成工程以降は、正孔輸送層204及び発光層206の酸化を防止すべく、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気等の不活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。例えば、図1などを用いて説明したインクジェットヘッド(液滴吐出ヘッド)20に正孔輸送層形成用材料を含む液体材料を充填し、インクジェットヘッド20の吐出ノズルを画素電極202の電極面に対向させ、インクジェットヘッドと試料(基板P)とを相対移動させながら、吐出ノズルから1滴当たりの液量が制御されたインキ滴を電極面に吐出する。次に、吐出後の液滴を乾燥処理して組成物インクに含まれる極性溶媒を蒸発させることにより、正孔輸送層204が形成される。
【0075】
なお、液体材料としては、例えば、ポリエチレンジオキシチオフェン等のポリチオフェン誘導体と、ポリスチレンスルホン酸等との混合物を、イソプロピルアルコール等の極性溶媒に溶解させたものを用いることができる。ここで、吐出された液滴は、親液化処理された画素電極202の電極面上に広がり、開口部214の底部近傍に満たされる。その一方で、撥液化処理されたバンク層212の上面には液滴がはじかれて付着しない。したがって、液滴が所定の吐出位置からはずれてバンク層212の上面に吐出されたとしても、該上面がインク滴で濡れることがなく、はじかれたインク滴がバンク層212の開口部214内に転がり込むものとされている。
【0076】
上記の乾燥処理は、例えば窒素雰囲気中、室温〜約50℃で圧力を例えば13.3Pa(0.1Torr)程度にして行う。圧力があまりに低すぎると組成物インクが突沸してしまうので好ましくない。また、温度を室温以上例えば80℃以上の高温にすると、極性溶媒の蒸発速度が高まり、平坦な膜を形成する事ができない。
乾燥処理後は、窒素中、好ましくは真空中で200℃で10分程度加熱する熱処理を行うことで、正孔輸送層204内に残存する極性溶媒や水を除去することが好ましい。
【0077】
次いで、正孔輸送層204上面に発光層206が形成される。発光層206の形成用材料としては、特に限定されることなく、例えば、ポリフェニレン誘導体、ポリフルオレン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリチオフェン誘導体、またはこれらの高分子材料にペリレン係色素、クマリン系色素、ローダミン系色素、例えばルブレン、ペリレン、9,10−ジフェニルアントラセン、テトラフェニルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリドン等をドープして用いることができる。
【0078】
発光層206は、正孔輸送層204の形成方法と同様の手順で形成される。すなわち、液滴吐出法により発光層形成用材料を含む液体材料を正孔輸送層204の上面に吐出した後に、乾燥処理及び熱処理を行うことにより、バンク層212に形成された開口部214内部の正孔輸送層204上に発光層206が形成される。この発光層形成工程も上述したように不活性ガス雰囲気化で行われる。吐出された液体材料は撥液化処理された領域ではじかれるので、液滴が所定の吐出位置からはずれたとしても、はじかれた液滴がバンク層212の開口部214内に転がり込む。発光層206の形成用材料を含む組成物を設けたら所定の条件で乾燥処理が行われる。
【0079】
なお、発光層206の上面に電子輸送層208を形成してもよい。電子輸送層208の形成用材料としては、特に限定されることなく、オキサジアゾール誘導体、アントラキノジメタンおよびその誘導体、ベンゾキノンおよびその誘導体、ナフトキノンおよびその誘導体、アントラキノンおよびその誘導体、テトラシアノアンスラキノジメタンおよびその誘導体、フルオレノン誘導体、ジフェニルジシアノエチレンおよびその誘導体、ジフェノキノン誘導体、8−ヒドロキシキノリンおよびその誘導体の金属錯体等が例示される。具体的には、先の正孔輸送層の形成用材料と同様に、特開昭63−70257号、同63−175860号公報、特開平2−135359号、同2−135361号、同2−209988号、同3−37992号、同3−152184号公報に記載されているもの等が例示され、特に2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール、ベンゾキノン、アントラキノン、トリス(8−キノリノール)アルミニウムが好適とされる。
【0080】
なお、前述した正孔輸送層204の形成用材料や電子輸送層208の形成用材料を発光層206の形成用材料に混合し、発光層形成用材料として使用してもよく、その場合に、正孔輸送層形成用材料や電子輸送層形成用材料の使用量については、使用する化合物の種類等によっても異なるものの、十分な成膜性と発光特性を阻害しない量範囲でそれらを考慮して適宜決定される。通常は、発光層形成用材料に対して1〜40重量%とされ、さらに好ましくは2〜30重量%とされる。
【0081】
次いで、図7(d)に示すように、電子輸送層208及びバンク層212の上面に対向電極210が形成される。対向電極210は、電子輸送層208及びバンク層212の表面全体、あるいはストライプ状に形成されている。対向電極210については、もちろんAl、Mg、Li、Caなどの単体材料やMg:Ag(10:1合金)の合金材料からなる1層で形成してもよいが、2層あるいは3層からなる金属(合金を含む。)層として形成してもよい。具体的には、Li2O(0.5nm程度)/AlやLiF(0.5nm程度)/Al、MgF2 /Alといった積層構造のものも使用可能である。対向電極210は上述した金属からなる薄膜であり、光を透過可能な材料、構造であってもよい。
【0082】
以上説明したように、バンク層212(感光性材料層212A)に開口部214を形成する際、基板Pと感光性材料層212Aとの間に露光光ELを遮光する遮光部300を所定のパターンで予め設けておき、基板Pの外側から露光光ELを照射することにより、遮光部300で感光性材料層212Aをパターニングすることができる。遮光部300はステッパを用いて基板P自体に良好なパターン精度で設けられているため露光光ELを照射する際にアライメント処理は不要となり、しかも露光光ELの照射には露光光ELを照射可能な安価な照明装置を用いて基板P全体を一括照射(一括露光)することができる。更に、この照明装置が大きい照度で露光光ELを照射可能であれば感光性材料層212Aを短時間で露光処理できる。したがって、スループットは向上するとともに、装置コストを抑えることができる。
【0083】
TFT100を遮光部300の上面側に設けたことにより、露光光ELによる露光処理の際、TFT100は露光光ELに晒されない。したがって、露光光ELの照射によるTFT100に対するダメージを抑えることができる。
【0084】
本実施形態における有機EL装置Sはボトムエミッション構造であり、発光層206からの発光光は基板P側、すなわち遮光部300側から取り出される構成である。この場合において、遮光部300は黒色材料により形成され画素領域(有機EL素子)を囲むように配置されているため、ブラックマトリクスとしての機能を有する。したがって、有機EL装置Sは発光素子以外からの光漏れを防いで良好な表示品質を得ることができる。
【0085】
なお、本実施形態において、遮光部300はクロムなどの金属材料により構成されているが、露光光ELを遮光可能であれば例えば合成樹脂により構成されていてもよい。一方、遮光部300を金属材料により構成することにより、例えば上述したように開口部214に吐出した液体材料の乾燥工程において有機EL装置Sは加熱されるが、この加熱によっても金属材料からなる遮光部300はダメージを受けにくい。もちろん、この加熱温度によりダメージを受けにくい材料であれば合成樹脂を含め任意の材料を用いることができる。
【0086】
更に、本実施形態における遮光部300は露光光ELを遮光するために黒色材料により構成されているが、露光光ELを遮光可能であれば透明材料であっても構わない。例えば、露光光ELが紫外光である場合には、遮光部300として透明あるいは半透明な紫外線吸収材を用いることができる。そして、遮光部300を透明あるいは半透明材料とすることにより、発光光を基板P側から取り出すボトムエミッション構造において、開口率を向上することができる。
【0087】
なお、上記実施形態では、遮光部300は基板Pとバンク層212との間に設けられた構成であるが、遮光部300を基板Pの外側(図4中、基板Pの下面)に設けてもよい。基板Pの外側に遮光部300を設けた場合、露光光ELを照射してバンク層212の開口部214を形成後、この基板Pの外側に設けた遮光部300を洗浄などにより除去することができる。
【0088】
上記実施形態では、遮光部300は基板Pに隣接して設けられた構成であるが、図8に示す有機EL装置S’のように、バンク層212(感光性材料層212A)に隣接して設けてもよい。図8に示す例では、第2層間絶縁層114の一部が遮光部300となっている。遮光部300を露光対象である感光性材料層212Aに近接して配置したことにより、基板Pを介して照射された露光光ELは遮光部300を通過した後、広がったり曲がったりすることなく感光性材料層212Aを照射することができる。したがって、感光性材料層212Aの所望の位置に露光光ELが照射されるので高いパターン精度を得ることができる。もちろん、遮光部300は絶縁層114以外の材料層に設けてもよく、例えば第1層間絶縁層108やゲート絶縁層104に設けてもよい。更に、不図示ではあるが、バンク層212の下層にSiO2などの無機材料からなる第2のバンク層を設け、この第2バンク層の一部を遮光部とすることもできる。この場合、第2のバンク層にはフォトリソグラフィ法により遮光部を設けることができる。
【0089】
上記実施形態では、基板P上に設けられた遮光部300を用いてフォトリソグラフィ法によりバンク層212の開口部214を形成しているが、遮光部300はバンク層212の開口部214以外の開口部形成あるいはパターン形成に用いることができる。例えば、遮光部を用いてフォトリソグラフィ法によりソース電極やドレイン電極が配置されるコンタクトホールを形成することができる。更に、遮光部を用いて画素電極202のパターニングを行うようにしてもよい。
【0090】
次に、図9を参照しながら本発明の電気光学装置の他の実施形態について説明する。ここで、以下に説明する電気光学装置について、上述した実施形態と同一あるいは同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略もしくは省略する。
【0091】
図9に示すように、電気光学装置としての有機EL装置S2は、基板Pと、基板P上に設けられ露光光ELを遮光する遮光部300と、基板P上に設けられ開口部214が形成されているバンク層212と、開口部214に配置されている有機EL素子200とを備えている。本実施形態において、遮光部300は開口部214に対応する部分、すなわち、開口部214に配置されている有機EL素子200の下方に設けられている。そして、本実施形態における有機EL装置S2は、発光層206からの発光光を基板Pと反対側から取り出すトップエミッション構造となっている。ここで、対向電極210はITO等の透明電極により構成されている。そして、遮光部300の上面、すなわち遮光部300のうち有機EL素子200と対向する面は、発光層206からの発光光を反射可能な反射面302となっている。
【0092】
次に、図9に示す有機EL装置S2の製造手順について説明する。
図5(a)及び(b)を用いて説明した手順と同様、基板P上にレジスト層301が塗布され、フォトリソグラフィ法により遮光部300が形成される。そして、遮光部300の上面に、例えばアルミニウムや銀などからなる反射面形成用材料が蒸着などにより被膜され、反射面302が形成される。そして、下地保護層201やTFT100、画素電極202が順次形成された後、感光性材料層212Bが設けられる。ここで、本実施形態における感光性材料層212Bは、露光光が照射されない未露光部分が現像処理によって除去され、露光部分がパターンとして残るネガ型感光性材料によって構成されている。したがって、現像処理されることにより、感光性材料層212Bには遮光部300に対応する部分が除去されて開口部214が形成される。こうして、開口部214を有するバンク層212が形成される。そして、開口部214に有機EL素子200としての正孔注入層204、発光層206、及び電子輸送層208などが液滴吐出法により順次設けられる。
【0093】
以上説明したように、有機EL装置S2を、発光層206からの発光光を基板Pと反対側から取り出すいわゆるトップエミッション構造とした場合において、発光層206からの発光光は開口部214の基板P側、すなわち画素の図9中、下側に設けられている遮光部300の反射面302で反射されて有機EL装置S2の外部に取り出されるので、光取り出し効率は向上され、良好な表示品質を有する有機EL装置を提供することができる。
【0094】
なお、上記各実施形態では、液滴吐出装置IJを用いた液滴吐出法により液体材料を成膜するように説明したが、液滴吐出法に限らず、例えばスピンコート法など他の塗布方法を用いることもできる。
【0095】
液体材料の生成工程や成膜工程は大気環境下で行ってもよいし、上述したように窒素ガス等の不活性ガス雰囲気下で行ってもよい。なお、液体材料調整装置LSによる液体材料の生成工程や液滴吐出装置IJによる成膜工程はクリーンルーム内でパーティクル及びケミカル的にクリーン度を維持された環境下で行うのが望ましい。
【0096】
上記実施形態では、本発明の製造方法を有機EL装置を製造する場合に適用した例について説明したが、例えば液晶装置等の他の電気光学装置であってもよい。すなわち、基板上にスイッチング素子としてのTFTが設けられる構成の装置を製造する場合について本発明の製造方法を適用することができる。
【0097】
本発明の有機EL装置(電気光学装置)は、表示部を備えた様々な電子機器に適用される。以下、本発明の電気光学装置を備えた電子機器の適用例について説明する。
図10は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図10において、符号1000は携帯電話本体を示し、符号1001は上記の有機EL表示装置を用いた表示部を示している。
図11は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図11において、符号1100は時計本体を示し、符号1101は上記の有機EL表示装置を用いた表示部を示している。
図12は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図12において、符号1200は情報処理装置、符号1202はキーボードなどの入力部、符号1204は情報処理装置本体、符号1206は上記の有機EL表示装置を用いた表示部を示している。
図10〜図12に示す電子機器は、上記実施の形態の有機EL表示装置を備えているので、表示品位に優れ、明るい画面の有機EL表示部を備えた電子機器を実現することができる。
【0098】
なお、上述した例に加えて、他の例として、液晶テレビ、ビューファインダ型やモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、電子ペーパー、タッチパネルを備えた機器等が挙げられる。本発明の電気光学装置は、こうした電子機器の表示部としても適用できる。
【0099】
【発明の効果】
以上説明したように、感光性材料層に開口部を形成する際、基板と絶縁層としての感光性材料層との間に露光光を遮光する遮光部を所定のパターンで予め設けておき、基板外側から露光光を照射することにより、遮光部で感光性材料層をパターニングすることができる。そして、遮光部は基板自体に設けられているため露光光を照射する際にアライメント処理は不要となり、しかも露光光の照明には安価な照明装置を用いて基板全体を一括露光することができる。したがって、スループットが向上するとともに、装置コストを抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電気光学装置の製造方法に用いる液滴吐出装置の一実施形態を示す概略斜視図である。
【図2】液滴吐出ヘッドを説明するための図である。
【図3】液滴吐出ヘッドを説明するための図である。
【図4】電気光学装置としての有機EL装置の一画素に対応した部分を説明するための断面図である。
【図5】電気光学装置としての有機EL装置の製造方法の一実施形態を説明するための図である。
【図6】電気光学装置としての有機EL装置の製造方法の一実施形態を説明するための図である。
【図7】電気光学装置としての有機EL装置の製造方法の一実施形態を説明するための図である。
【図8】電気光学装置としての有機EL装置の他の実施形態を示す断面図である。
【図9】電気光学装置としての有機EL装置の他の実施形態を示す断面図である。
【図10】本発明の電気光学装置が搭載された電子機器を示す図である。
【図11】本発明の電気光学装置が搭載された電子機器を示す図である。
【図12】本発明の電気光学装置が搭載された電子機器を示す図である。
【符号の説明】
100 薄膜トランジスタ(スイッチング素子)
200 有機EL素子(発光素子)
212 バンク層(絶縁層)
212A 感光性材料層(絶縁層)
214 開口部
300 遮光部
302 反射面
EL 露光光
IJ 液滴吐出装置
P 基板
S、S’、S2 有機エレクトロルミネッセンス装置(電気光学装置)
Claims (12)
- 基板上に発光素子が設けられた電気光学装置の製造方法において、
前記基板上に絶縁層と、前記基板と前記絶縁層との間に特定波長帯域の光を有する露光光を遮光する遮光部とを設ける工程と、
前記基板側から前記露光光を照射し、前記絶縁層を露光する工程と、
前記露光された前記絶縁層を現像し該絶縁層に開口部を形成する工程と、
前記開口部に前記発光素子を形成する工程とを有することを特徴とする電気光学装置の製造方法。 - 前記基板に隣接して前記遮光部を設けることを特徴とする請求項1記載の電気光学装置の製造方法。
- 前記絶縁層に隣接して前記遮光部を設けることを特徴とする請求項1記載の電気光学装置の製造方法。
- 前記発光素子を液滴吐出法により設けることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項記載の電気光学装置の製造方法。
- 前記発光素子に対して供給する電力を制御するスイッチング素子を前記遮光部の前記基板と反対側に設けることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の電気光学装置の製造方法。
- 前記絶縁層はネガ型感光性材料からなり、前記絶縁層のうち前記遮光部に対応する位置に前記開口部が形成され、前記開口部に発光素子が設けられ、前記遮光部のうち前記発光素子に対向する面は前記発光素子からの発光光を反射可能な反射面であることを特徴とする請求項1記載の電気光学装置の製造方法。
- 基板上に発光素子が形成された電気光学装置であって、
前記基板上に開口部を有する絶縁層と、
前記開口部に設けられた発光素子とを有し、
前記基板と前記絶縁層との間であって、前記開口部に対応する以外の部分に、遮光部が設けられていることを特徴とする電気光学装置。 - 前記遮光部は前記基板に隣接して設けられていることを特徴とする請求項7記載の電気光学装置。
- 前記遮光部は前記発光素子からの発光光を透過可能な材料からなることを特徴とする請求項7又は8記載の電気光学装置。
- 前記遮光部の前記基板と反対側に、前記発光素子に対して供給する電力を制御するスイッチング素子を設けたことを特徴とする請求項7〜9のいずれか一項記載の電気光学装置。
- 基板上に設けられ開口部を有する材料層と、前記開口部に設けられた発光素子とを備えた電気光学装置において、
前記基板と前記材料層との間において前記開口部に対応する部分に前記基板外部からの特定波長領域を有する光を遮光する遮光部が設けられ、前記遮光部のうち前記発光素子に対向する面は前記発光素子からの発光光を反射可能な反射面であることを特徴とする電気光学装置。 - 請求項7〜請求項11のいずれか一項記載の電気光学装置が搭載されたことを特徴とする電子機器。
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