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JP2004061992A - 光導波路の製造方法 - Google Patents

光導波路の製造方法 Download PDF

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JP2004061992A
JP2004061992A JP2002222311A JP2002222311A JP2004061992A JP 2004061992 A JP2004061992 A JP 2004061992A JP 2002222311 A JP2002222311 A JP 2002222311A JP 2002222311 A JP2002222311 A JP 2002222311A JP 2004061992 A JP2004061992 A JP 2004061992A
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optical waveguide
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oxide film
manufacturing
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JP2002222311A
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Takeshi Ono
大野  猛
Toshikazu Horio
堀尾 俊和
Toshikatsu Takada
高田 俊克
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Niterra Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
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Abstract

【課題】光路変換用の傾斜面を有する光導波路を精度および効率良く安価に得られる光導波路の製造方法を提供する。
【解決手段】Si基板2、酸化珪素層4、および表面Si層6を積層したウェハ1において、表面Si層6の表面7に所定パターンを有する第1の酸化膜8aを形成する工程と、第1の酸化膜8aのパターン間から露出する表面Si層6をエッチングして、表面Si層に対向する2つの傾斜面6aを有する凹部10を形成する工程と、少なくとも上記凹部10の表面に第2の酸化膜12を形成する工程と、上記対向する2つの傾斜面6aを形成する表面Si層6およびその表面7に形成された第1および第2の酸化膜8a,12を除去して、表面Si層6に両端部に傾斜面6aを有する凹溝14を形成する工程と、かかる凹溝14にコア素材16を充填して得られたコア16の周囲にクラッド18を形成する工程と、を含む、光導波路の製造方法。
【選択図】 図2

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ウェハを用いた光路変換用の傾斜面を有する光導波路の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
光路変換用の傾斜面を有する光導波路の製造方法は、例えば図8(A)に示すように、基板30の表面に上部クラッド層34、下部クラッド層35、およびこれらの間に位置するコア層36からなる光導波路32を形成した後、図8(B)に示すように、先端に傾斜した刃面を有するダイシングブレード39を上記光導波路32に直角に切り込むことより行われる。その結果、図8(C)に示すように、上記光導波路32に長手方向に対し約45度傾斜した一対の傾斜面(反射ミラー面)38,38が形成される(特開2000−199827号公報参照)。
しかし、上記ブレード39を用いた場合、図8(B)の前後方向に沿って所定長さの傾斜した刃面が存在するため、上記傾斜面38,38を設けた光導波路32に隣接する図示ない光導波路32までも切断してしまう、という問題があった。
【0003】
一方、図8(D)に示すように、図示しない金型にポリマを押し付けて転写することにより、表面41に一対の凸部43,43とその間に位置する凹溝42とを複数組形成した下部クラッド40を用いる方法もある。上記複数の凹溝42にコアポリマをそれぞれ充填した後、図8(E)に示すように、下部クラッド40の表面41に、一対の凹溝49,49とその間に位置する凸部48とを複数組形成した上部クラッド46をセットする。この際、凸部43は凹溝49に嵌合し、凹溝42内には凸部48が途中まで嵌合する。
その結果、図8(E)に示すように、各凹溝42内には、断面正方形のコア44がそれぞれ形成され、且つ隣接する凸部43,43間およびそれらの最外側には、余剰のコアポリマ45が残留する(特開平9−101425号公報参照)。
【0004】
【発明が解決すべき課題】
上記の製造方法では、得られる光導波路のコア44を、転写用の金型の断面形状に倣って、断面正方形に精度良く形成することができる。
しかしながら、コア44の適所に光路変換用の傾斜面(反射ミラー面)を、前記転写用の金型において予め形成しておくことは、当該金型の製作コストが嵩む、という問題があった。即ち、上記傾斜面は、個別の光導波路ごとに所定の位置に形成するため、上記金型を用いる方法は多品種少量生産には不向きであった。
本発明は、以上において説明した従来の技術における問題点を解決し、光路変換用の傾斜面を有する光導波路を精度および効率良く安価に得られる光導波路の製造方法を提供する、ことを課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記課題を解決するため、さまざまなデバイスの製作に用いられ且つ表層にSi層を有するウェハを活用し、かかるSi層に光路変換用の傾斜面を転写するための傾斜面を形成する、ことに着想して成されたものである。
即ち、本発明における第1の光導波路の製造方法(請求項1)は、Si基板と表面Si層とこれらの間に位置する酸化珪素層とを積層したウェハを用いた光導波路の製造方法であって、上記表面Si層に少なくとも一方の端部に傾斜面を有する凹溝を形成する工程と、かかる凹溝にコア素材を充填して得られたコアの周囲にクラッドを形成する工程と、を含む、ことを特徴とする。
【0006】
これによれば、何れかの一端または両端に傾斜面を有する凹溝が上記表面Si層に形成され、かかる凹溝にコア素材を充填することにより、少なくとも一方の端部に光路変換用の傾斜面を有するコアを含む光導波路を精度および効率良く形成することができる。しかも、かかる工程を上記ウェハの表面において行うため、個別の光導波路ごとの所定の位置に傾斜面を形成することができ、安価に製造でき且つ多品種少量生産にも充分に対応することが可能となる。尚、光導波路は、単数または複数のコアとその周囲を囲うクラッドとからなる。
【0007】
また、第1の製造方法には、前記凹溝を形成する工程の前に、前記表面Si層の表面に所定パターンを有する第1の酸化膜を形成する工程と、かかる第1の酸化膜のパターン間から露出する上記表面Si層をエッチングして、上記表面Si層に対向する2つの側面が傾斜面である凹部を形成する工程と、少なくとも上記凹部の表面に第2の酸化膜を形成する工程と、上記対向する2つの側面のうち1つの側面を形成する上記表面Si層側部およびかかる表面Si層側部の表面に形成された上記第1の酸化膜および第2の酸化膜を除去する工程と、を含む、光導波路の製造方法(請求項2)も含まれる。
これによれば、一端の何れかまたは両端に傾斜面を有する凹溝を、ウェハ上の任意の位置における表面Si層に確実に形成することが可能となる。
尚、上記表面Si層に施すエッチングは、エッチング液によるウェットエッチングであり、後述する表面Si層に対して面方位依存性の異方性を有するウェットエッチングである。また、上記パターンを有する第1の酸化膜は、例えばフォトリソグラフィ技術によって形成される。更に、上記第1および第2の酸化膜を除去する工程には、フォトリソグラフィ技術やドライエッチングが用いられる。
【0008】
一方、本発明における第2の光導波路の製造方法(請求項3)は、Si基板と表面Si層とこれらの間に位置する酸化珪素層とを積層したウェハを用いた光導波路の製造方法であって、上記表面Si層に少なくとも一方の端部に傾斜面を有する凸部を形成する工程と、かかる凸部の上方にクラッド素材を押し付けてかかる凸部に倣った凹溝を形成したクラッドを得た後、かかる凹溝にコア素材を充填する工程と、を含む、ことを特徴とする。
これによれば、何れかの一端または両端に傾斜面を有する凸部が上記表面Si層に形成され、かかる凸部にクラッド素材を押し付け、得られるクラッドに少なくとも一端に上記傾斜面を有する凹溝を転写し、この凹溝にコア素材を充填することにより、光路変換用の傾斜面を有するコアを含む光導波路を精度および効率良く形成することができる。しかも、かかる工程を上記ウェハの表面において行うため、個別の光導波路ごとの所定の位置に傾斜面を形成することができ、安価に製造でき且つ多品種少量生産にも充分に対応することが可能となる。
【0009】
また、第2の製造方法には、前記凸部を形成する工程の前に、前記表面Si層の表面に所定パターンを有する第1の酸化膜を形成する工程と、かかる第1の酸化膜のパターン間から露出する上記表面Si層をエッチングして、かかる表面Si層の側面に傾斜面を形成する工程と、上記第1の酸化膜を除去する工程と、を含む、光導波路の製造方法(請求項4)も含まれる。
これによれば、少なくとも一端部に傾斜面を有する凸部を、ウェハ上の任意の位置における表面Si層に確実に形成することができる。この結果、かかる凸部にクラッド素材を押し付けて、クラッドに少なくとも一端部に傾斜面を有する凹溝を精度良く転写することが可能となる。
【0010】
更に、本発明には、前記エッチングは、面方位依存性の異方性エッチングである、光導波路の製造方法(請求項5)も含まれる。これによれば、前記第1または第2の製造方法において、例えば{100}面の表面Si層に対して面方位依存性の異方性エッチングを行った際、かかる表面Si層の厚み方向と直交する方向に対して、約55度傾斜した光路変換用の傾斜面に転写すべき元の傾斜面を容易に形成することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下において、本発明の実施に好適な形態を図面と共に説明する。
図1(A)は、本発明における第1の光導波路の製造方法に用いるウェハ1の断面を示し、かかるウェハ1は、厚みが400μmのSi基板2と、その表面3に形成され且つ厚みが1〜5μmの酸化珪素層4と、その表面5に形成され且つ厚みが7〜50μmの表面Si層6と、を積層した積層体である。
先ず、図1(B)に示すように、表面Si層6の表面7に酸化珪素(SiO)からなり厚みが0.01〜0.3μmである第1の酸化膜8を、熱酸化によって形成する。次に、第1の酸化膜8の上に感光性樹脂を塗布した後、所定パターンの露光および現像を行って、かかるパターンを有するエッチングレジストを、上記第1の酸化膜8の上に形成する。次いで、かかるエッチングレジストのパターン間から露出する上記第1の酸化膜8に、バッファードフッ酸液(以下、BHFと称する)を接触させて、上記酸化膜8に対しウェットエッチングを施す。
【0012】
この結果、図1(C)に示すように、第1の酸化膜8は、上記パターンに倣った第1の酸化膜8aとなる。かかる第1の酸化膜8aの間から露出する表面Si層6に対し、水酸化テトラメチルアンモニウム溶液(以下、TMAHと称する)を接触させるウエットエッチングを施す。尚、実際の作業は、ウェハ1をTMAHに浸漬して行われる。
その結果、図1(C)に示すように、第1の酸化膜8aの間から露出する部位の表面Si層6は、上記エッチングにより除去され、一対の対向する側面が傾斜面6aである凹部10が2つ離間して形成される。
表面Si層6は{100}面であるため、かかる傾斜面6aは、図1(C)中における水平線に対して55度の傾きを有する。尚、この傾きは上記エッチングによる表面Si層6の面方位性によりエッチング速度が異なることに起因している。即ち、上記エッチングは、面方位依存性の異方性エッチングである。
【0013】
更に、第1の酸化膜8aの表面および複数の凹部10の内面全体に、図1(D)に示すように、前記同様の方法によって厚みが0.01〜0.3μmの酸化珪素からなる第2の酸化膜12,12aを形成する。
次に、第2の酸化膜12,12aの上に前記同様の図示しないエッチングレジストを形成し、そのパターン間から露出する第2の酸化膜12,12aとその下方の第1の酸化膜8aに対し、BHFを接触させるウェットエッチングを施す。
その結果、図2(A)に示すように、左右の凹部10において互いに内側の傾斜面6aとこれらの間に位置する断面ほぼ台形の表面Si層6とが露出する。
一方、左右の凹部10において外側の傾斜面6aとこれらに続く表面Si層6の表面7とには、第1の酸化膜8aおよび第2の酸化膜12a,12bの少なくとも一つが残留している。
【0014】
次いで、図2(A)に示すウェハ1の表面全体に対して、ドライエッチングを施す。かかるドライエッチングは、図2(A)に示すウェハ1をプロセスガス中に置き、インダクティブカップルプラズマを用いる反応性イオンエッチングである。尚、上記プロセスガスには、SF,C,Oなどが用いられる。
その結果、図2(B)に示すように、前記一対の凹部10,10間に位置していた表面Si層6が除去される。次いで、残留している第1および第2の酸化膜8a,12bをBHFにより除去すると、各凹部10において外側に位置していた傾斜面6aとこれに続く外側の表面Si層6とが露出する。
従って、図2(B)に示すように、仰角θが約55度の傾斜面6a,6aを両端に対称に有し且つ断面ほぼ正方形の凹溝14が形成される。
【0015】
更に、図2(C)に示すように、凹溝14内にアクリル樹脂からなるコア(コア素材)16を充填する。次に、このコア16を含む表面Si層6の表面7、即ちウェハ1の表面にクラッド18を形成した後、図2(D)に示すように、かかるクラッド18をウェハ1から引き離し、コア16を凹溝14から型抜きする。
図2(D)および図3(A)に示すように、板状のクラッド18の表面に両端に仰角θが約55度の傾斜面17,17を対称に有する直線形のコア16が突出して位置する。尚、クラッド18は、コア16よりも屈折率が約1.4%低いアクリル樹脂からなる。
かかるコア16の周囲に更にクラッド18を被覆して加圧および加熱し且つ寸法を整えることにより、図3(B),(C)に示すように、中心部に沿って位置し且つ両端に傾斜面17を有する断面ほぼ正方形のコア16と、その周囲を囲み且つ断面ほぼロの字形のクラッド18とからなる光導波路20を得ることができる。尚、上記傾斜面17は、反射ミラー面であり、光路の変換に際して活用される。
【0016】
尚、前記ウェハ1の表面Si層6において、互いに平行な複数の凹溝14を形成し、これらにコア素材16を充填して形成した後、前記同様にクラッド18により各コア16を型抜きすると、図3(D)に示すように、板状のクラッド18の表面に両端に傾斜面17が対称に位置する直線形のコア16が複数突出する。これらのコア16の周囲に更にクラッド18を被覆し且つ寸法を整えることにより、図3(E)に示すように、断面がほぼ目の字状のクラッド18と、その内部を平行に貫通する断面ほぼ正方形の複数のコア16と、からなる光導波路20aを得ることもできる。尚、上記光導波路20,20aにおけるコア16は、何れかの傾斜面17に反射した光がその内面に多重反射しつつその長手方向に沿って当該光を伝搬させるマルチモードファイバ(MMF)である。
【0017】
図4(A)は、本発明における第2の光導波路の製造方法に用いる前記同様のウェハ1の断面を示す。先ず、図4(B)に示すように、表面Si層6の表面7に酸化珪素からなり厚みが0.01〜0.3μmである第1の酸化膜8を、前記と同じ方法により形成する。次に、第1の酸化膜8の上に、前記同様の方法により、所定のパターンを有するエッチングレジストを形成する。
次いで、かかるエッチングレジストのパターン間から露出する上記第1の酸化膜8にエッチング液を接触させる。この結果、図4(C)に示すように、第1の酸化膜8は、上記パターンに倣った第1の酸化膜8aとなる。
【0018】
かかる第1の酸化膜8aの間から露出する表面Si層6に対して、TMAHを接触させるウエットエッチングを施す。その結果、図4(C)の断面図および図4(c)の平面図に示すように、第1の酸化膜8aの間から露出する部位の表面Si層6は、上記エッチングにより除去されると共に、第1の酸化膜8aに覆われた部位の表面Si層6が四角錐形状を呈する凸部9として残る。かかる凸部9の長手方向の両端(側面)には、図4(C)に示すように、一対の対向する傾斜面9a,9aが対称に形成される。上記エッチングは、表面Si層6における{100}面の面方位依存性の異方性エッチングであるため、上記傾斜面9aは、図4(C)中における水平線に対して、それぞれ約55度の傾きを有する。
更に、第1の酸化膜8aの表面、一対の傾斜面9a、および露出した酸化珪素層4の表面5の全体に、前記同様の方法により厚みが0.01〜0.3μmからなる第2の酸化膜12,12cを形成する。
【0019】
次に、第2の酸化膜12,12cの上に前記同様の図示しないエッチングレジストを形成し、そのパターン間から露出する第2の酸化膜12,12cとその下側の第1の酸化膜8aに対し、BHFを接触させるウェットエッチングを施す。
その結果、図5(A)の断面図および図5(a)の平面図に示すように、四角錐形状の凸部9の表面7と同じ幅の第1および第2の酸化膜8a,12と一対の傾斜面9aおよび左右の酸化珪素層4の表面5上の第2の酸化膜12,12cとが残り、その他の酸化膜8a,12が除去される。
【0020】
次いで、ウェハ1の表面全体に対して、前記同様のドライエッチングを施し、図5(B)および図5(b)に示すように、凸部9のうち酸化膜12,12cから露出している部位をエッチングする。更に、残留している第1の酸化膜8aと第2の酸化膜12,12cとを上記同様のBHFによるエッチングにより除去する。
その結果、図6(A)および(a)に示すように、仰角θが約55度の傾斜面9a,9aを長手方向の両端に対称に有し断面ほぼ正方形で且つ直線状の凸部9が、酸化珪素層4の表面5上に突出するようにして形成される。
【0021】
更に、図6(B)および図6(b)に示すように、直線状の凸部9の表面7およびその周囲の酸化珪素層4の表面5であるウェハ1の表面上に、アクリル樹脂からなるクラッド(クラッド素材)18をプレスしつつ形成する。次いで、かかるクラッド18をウェハ1から引き離し且つ上記凸部9を型抜きする。
その結果、図6(C)および図7(A)に示すように、上記クラッド18には、直線状の凸部9に倣って直線状で且つ断面ほぼ正方形の凹溝14が転写して形成され、かかる凹溝14の両端には、前記傾斜面9aに倣った仰角θが約55度の一対の傾斜面18aが転写により対称に形成される。
【0022】
次に、図7(B)に示すように、上記凹溝14にコア(コア素材)16を充填すると、その両端には上記傾斜面18aに倣った一対の傾斜面17が対称に形成される。かかるコア16も、周囲のクラッド18よりも屈折率がやや高いアクリル樹脂からなる。そして、図7(B)に示すコア16の上方にも更に他のクラッド18を形成して加圧および加熱し且つ寸法を整える。
これにより、図7(C)に示すように、中心部に沿って断面ほぼ正方形で且つ両端に傾斜面(反射ミラー面)17を有する上記コア16が位置し、その周囲を断面ほぼロの字形のクラッド18が覆う光導波路20を得ることができる。
【0023】
尚、図7(D)に示すように、クラッド18に平行な複数の凹溝14を形成し、これらにコア素材16を個別に充填した後、かかるクラッド18と各コア16との上に他のクラッド18を形成することにより、図7(E)に示すように、断面がほぼ目の字形のクラッド18と、その内部を平行に貫通する断面ほぼ正方形の複数のコア16と、からなる光導波路20aを得ることもできる。
また、上記光導波路20,20aにおけるコア16は、何れかの傾斜面17に反射した光がその内面に多重反射しつつその長手方向に沿って当該光を伝搬させるマルチモードファイバ(MMF)である。
【0024】
本発明は、以上において説明した各形態に限定されるものではない。
例えば、光導波路20,20aのコア16は、前記アクリル樹脂のほか、シロキサンポリマやフッ素ポリイミドなどの樹脂を用いても良く、クラッド18も同様な樹脂で且つコア16よりも屈折率が0.3〜5%低いものとしても良い。
また、上記コア16は、シングルモードファイバ(SMF)であっても良い。
更に、コア16の前記傾斜面17は、前記約55度の傾きに限らず、表面Si層の面方位を変更することで、30度以上で且つ60度以下の範囲における任意の角度を選択することができる。
また、第1の製造方法において、クラッド18の表面に突出して形成する複数のコア16は、互いに平行の形態ではなく、互いに直交する向きや互いに斜めに交差する位置にそれぞれを形成しても良い。更に、第2の製造方法において、クラッド18の表面に形成する複数の凹溝14も上述した配置としても良い。
【0025】
【発明の効果】
本発明における第1の光導波路の製造方法(請求項1,2)によれば、少なくとも一端に傾斜面を有する凹溝が表面Si層に形成され、かかる凹溝にコア素材を充填することで、少なくとも一端に光路変換用の傾斜面を有するコアを含む光導波路を精度および効率良く形成できる。しかも、かかる工程を上記ウェハの表面において行うため、個別の光導波路ごとの所定の位置に傾斜面を形成できるので、安価に製造でき且つ多品種少量生産にも充分に対応可能となる。
【0026】
また、第2の光導波路の製造方法(請求項3,4)によれば、少なくとも一端に傾斜面を有する凸部が表面Si層に形成され、かかる凸部にクラッド素材を押し付け、得られるクラッドに少なくとも一端に上記傾斜面を有する凹溝を転写し、この凹溝にコア素材を充填することで、光路変換用の傾斜面を有するコアを含む光導波路を精度および効率良く形成できる。しかも、かかる工程をウェハの表面において行うため、個別の光導波路ごとの所定の位置に傾斜面を形成できるため、安価に製造でき且つ多品種少量生産にも充分に対応可能となる。
更に、請求項5の光導波路の製造方法によれば、光路変換用の傾斜面に転写すべき元の傾斜面を容易に形成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)〜(D)は本発明の第1の製造方法における各工程を示す概略図。
【図2】(A)〜(D)は図1(D)に続く各工程を示す概略図。
【図3】(A)は図2(D)に続く工程を示す概略図、(B)は得られた光導波路の断面図、(C)は(B)中のC−C線に沿った矢視の断面図、(D)は異なる形態の工程を示す概略図、(E)はこれにより得られる光導波路を示す断面図。
【図4】(A)乃至(C)は本発明の第2の製造方法における各工程を示す概略図、(c)は(C)の平面図。
【図5】(A),(B)は図4(C)に続く各工程を示す概略図、(a),(b)は(A),(B)の平面図。
【図6】(A)〜(C)は図5(B)に続く各工程を示す概略図、(a)は(A)の平面図。
【図7】(A),(B)は図6(C)に続く工程を示す概略図、(C)は得られた光導波路の断面図、(D)は異なる形態の工程を示す概略図、(E)はこれにより得られる光導波路を示す断面図。
【図8】(A)〜(C)と(D),(E)はそれぞれ従来の光導波路の製造方法を示す概略図。
【符号の説明】
1………………………ウェハ
2………………………Si基板
4………………………酸化珪素層
6………………………表面Si層
6a,9a……………傾斜面
8,8a………………第1の酸化膜
9………………………凸部
10……………………凹部
12,12a,12c…第2の酸化膜
14……………………凹溝
16……………………コア/コア素材
17,18a…………傾斜面
18……………………クラッド/クラッド素材
20,20a…………光導波路

Claims (5)

  1. Si基板と表面Si層とこれらの間に位置する酸化珪素層とを積層したウェハを用いた光導波路の製造方法であって、
    上記表面Si層に少なくとも一方の端部に傾斜面を有する凹溝を形成する工程と、
    上記凹溝にコア素材を充填して得られたコアの周囲にクラッドを形成する工程と、を含む、ことを特徴とする光導波路の製造方法。
  2. 前記凹溝を形成する工程の前に、
    前記表面Si層の表面に所定パターンを有する第1の酸化膜を形成する工程と、 上記第1の酸化膜のパターン間から露出する上記表面Si層をエッチングして、上記表面Si層に対向する2つの側面が傾斜面である凹部を形成する工程と、
    少なくとも上記凹部の表面に第2の酸化膜を形成する工程と、
    上記対向する2つの側面のうち1つの側面を形成する上記表面Si層側部およびかかる表面Si層側部の表面に形成された上記第1の酸化膜および第2の酸化膜を除去する工程と、
    を含む、ことを特徴とする請求項1に記載の光導波路の製造方法。
  3. Si基板と表面Si層とこれらの間に位置する酸化珪素層とを積層したウェハを用いた光導波路の製造方法であって、
    上記表面Si層に少なくとも一方の端部に傾斜面を有する凸部を形成する工程と、
    上記凸部の上方にクラッド素材を押し付けてかかる凸部に倣った凹溝を形成したクラッドを得た後、かかる凹溝にコア素材を充填する工程と、を含む、
    ことを特徴とする光導波路の製造方法。
  4. 前記凸部を形成する工程の前に、
    前記表面Si層の表面に所定パターンを有する第1の酸化膜を形成する工程と、 上記第1の酸化膜のパターン間から露出する上記表面Si層をエッチングして、かかる表面Si層の側面に傾斜面を形成する工程と、
    上記第1の酸化膜を除去する工程と、を含む、
    ことを特徴とする請求項3に記載の光導波路の製造方法。
  5. 前記エッチングは、面方位依存性の異方性エッチングである、
    ことを特徴とする請求項2または4に記載の光導波路の製造方法。
JP2002222311A 2002-07-31 2002-07-31 光導波路の製造方法 Withdrawn JP2004061992A (ja)

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