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JP2003328182A - ラックレスめっき用スズ−銀合金めっき浴 - Google Patents

ラックレスめっき用スズ−銀合金めっき浴

Info

Publication number
JP2003328182A
JP2003328182A JP2002136768A JP2002136768A JP2003328182A JP 2003328182 A JP2003328182 A JP 2003328182A JP 2002136768 A JP2002136768 A JP 2002136768A JP 2002136768 A JP2002136768 A JP 2002136768A JP 2003328182 A JP2003328182 A JP 2003328182A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tin
silver
plating
silver alloy
plating bath
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002136768A
Other languages
English (en)
Inventor
Yutaka Fujiwara
裕 藤原
Hidehiko Enomoto
英彦 榎本
Masatoshi Maruta
正敏 丸田
Taeko Narahara
泰栄子 楢原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kizai KK
Original Assignee
Kizai KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kizai KK filed Critical Kizai KK
Priority to JP2002136768A priority Critical patent/JP2003328182A/ja
Publication of JP2003328182A publication Critical patent/JP2003328182A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ラックレス方式によって微小部品を大量に一括
してスズ−銀合金めっき処理する際に、電流密度変化に
伴うめっき皮膜組成の変化が非常に少なく安定した組成
のスズ−銀合金めっき皮膜を形成でき、しかも、従来の
スズ−銀めっき浴を用いる場合の各種の問題点を解消で
きる新規なラックレスめっき用スズ−銀合金めっき浴を
提供する。 【解決手段】(1)2価のスズ化合物、(2)1価の銀
化合物、(3)ポリオキシカルボン酸、ポリオキシカル
ボン酸の環状エステル化合物及びポリオキシカルボン酸
の塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の成分、並
びに(4)縮合リン酸類、モノカルボン酸類、ポリカル
ボン酸類、アミンカルボン酸、及びスルホン酸類からな
る群から選ばれた少なくとも一種の成分、を含有するこ
とを特徴とするラックレスめっき用スズ−銀合金めっき
浴。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ラックレスめっき
用スズ−銀合金めっき浴、スズ−銀合金めっき方法及び
スズ−銀合金めっき皮膜が形成された物品に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、鉛の環境への影響が大きく問題視
されており、有害な鉛を含むスズ−鉛合金はんだに代え
て、鉛を含まないはんだ、いわゆる鉛フリーはんだの利
用が広がっている。このような鉛フリーはんだとして
は,スズを主成分として、更に、銀、銅、亜鉛、ビスマ
スなどを含む各種の2元合金、3元合金等が候補として
あげられており、特にスズ−銀系合金の広範囲な適用が
始まっている。
【0003】この様な鉛フリーはんだへの変更に対応し
て、はんだ接合を行う部品に対する表面処理として、鉛
フリーはんだを用いた場合に、良好なはんだ接合特性、
即ち、良好なはんだ濡れ性、強い接合強度、接合界面の
電気的な信頼性などを与えることのできる処理方法に対
する要望が強くなっている。
【0004】鉛フリーはんだに適合したはんだ接合特性
を与えるための表面処理としては、例えば、スズめっ
き、スズ−鉛合金(はんだ)めっき、スズ−銅合金
めっき、金めっき、銀めっき、パラジウムめっき等の
貴金属めっき、等の各種のめっきが適用されている。し
かしながら、これらのめっき処理については、それぞれ
以下の様な欠点がある。 スズめっき:最外層に施した場合は、長期保存によ
るウィスカーの発生による回路ショートが起こり易い。
また、耐酸化性に乏しいために長期保存によりはんだ濡
れ性が劣化し、鉛フリーはんだによるはんだ接合の信頼
性に欠ける。 スズ−鉛合金めっき:有害な鉛が最終製品に含有さ
れることになる。また、多くの種類の鉛フリーはんだと
の相性が悪く、特に電気・電子部品に施した場合には、
プリント配線板との電気的接続の信頼性が損なわれる。 スズ−銅合金めっき:最外層に施した場合には、長
期保存によるウィスカーの発生によって回路ショートが
起こり易い。また、バレルめっき等のラックレス方式の
めっきでは、個々の被めっき物ごとに電流密度がばらつ
くので、低電流密度でめっきされた部品では皮膜の銅含
有率が大きくなり、はんだ濡れ性が劣化し、鉛フリーは
んだによるはんだ接合の信頼性に欠ける。 貴金属めっき:貴金属めっきの内で、銀めっき皮膜
は、耐酸化性が悪く、エレクトロマイグレーションによ
る回路ショートが起こりやすい。金めっき、パラジウム
めっき等は、めっき厚が厚すぎる場合には、スズとの金
属間化合物の粗大な結晶が生成して接合強度が低下する
という欠点があり、メッキ厚が薄すぎる場合には、耐酸
化性が不足してはんだ濡れ性が低下するという欠点があ
る。しかも、いずれのめっき皮膜も高価であり、特に、
パラジウムめっきはコストが不安定であり、工業的な用
途が著しく限定される。
【0005】これに対して、スズ−銀合金皮膜は、広範
囲な適用が始まっているスズ−銀系鉛フリーはんだと同
じ成分から構成されているため、鉛フリーはんだを適用
するための表面処理として適したものと考えられる。し
かも、スズ−銀合金皮膜は、(i)ウィスカーが発生し
ない、(ii)耐酸化性が良好であるため長期保存後のはん
だ濡れ性が劣化しにくい、(iii)特に鉛フリーはんだを
用いた場合に接合部の強度が高くなる、(iv)貴金属めっ
きに比べて著しく安価である、等の優れた特性を有する
ものである。したがって、鉛フリーはんだを用いて接合
される部品に対しては、表面処理方法としてスズ−銀合
金めっきが非常に適した方法と考えられる。
【0006】しかしながら、スズと銀の標準酸化還元電
位を比較すると、銀が900 mV以上高電位であるために、
電気めっき法によってスズ−銀合金皮膜を形成しようと
すると、銀が優先的に析出して、スズを共析させること
が困難である。
【0007】従来、スズ−銀合金めっき浴としては、銀
イオンを安定化させる錯化剤としてヨウ化物を用いたピ
ロリン酸浴(特開平9−296274 号公報)、2
価のスズイオンおよびそれに対する錯化剤、1価の銀
イオンおよびそれに対する錯化剤、界面活性剤等を含
むスズ−銀合金めっき浴(特開平9−302498号公
報)等が報告されている。これらのめっき浴は、1価の
銀イオンに対する強力な錯化剤を液中に加えることによ
り、銀の析出電位をスズに近接させてスズ−銀合金めっ
き皮膜を得ようとするものである。
【0008】しかしながら、銀イオンに対する錯化剤を
加えた場合であっても、銀の析出電位がスズより貴であ
ることは避けられない。このことは、特に、バレルめっ
きなどのラックレス方式によって微小部品を大量に一括
してめっき処理する場合には、大きな問題点となる。即
ち、スズと比べて析出電位が貴な成分である銀は、低電
流密度で優先析出する傾向を示すために、0.01〜
0.5A/dm2程度の非常に小さい電流密度で行われ
るバレルめっきなどのラックレス方式のめっきにおいて
は、得られる合金皮膜の銀含有率が著しく高くなり、皮
膜の融点が上昇してはんだ接合の信頼性が損なわれる。
また、バレルめっき等のラックレス方式では、被めっき
物における電流密度の変動が大きく、局所的、一時的に
高い電流密度となる場合があり、高電流密度が印加され
た部品では、極端に銀含有率が小さくなる。このため、
個々の部品ごとのめっき皮膜の合金組成を制御できず、
はんだ付け性などの皮膜の物性を制御することも困難で
ある。
【0009】しかも、銀イオンに強力に配位して安定化
する錯化剤を加えてはいても、下記の酸化還元反応によ
る金属銀の生成は避けられない。
【0010】Sn2++2Ag+→Sn4++2Ag この金属銀の生成反応は、銀イオンが安定であるために
緩やかに進行し、溶液中での銀粉末の生成、電解槽壁へ
の銀粉末の付着等、いわゆるめっき浴の分解が起こる。
【0011】更に、スズ含有率の大きいめっき皮膜自身
の上には、下記の反応によって密着性のない銀粉末が析
出し,めっき皮膜の外観・物性を悪化させる。
【0012】Sn+2Ag+→Sn2++2Ag また、アノード材として可溶性のスズを使用した場合に
は、この反応によってアノード上に銀が析出し、スズア
ノードが溶解不良になる。
【0013】一方、アノード材として、白金、白金めっ
きチタン、貴金属酸化物被覆チタン、カーボンなど不溶
性の材料を使用した場合には、2価のスズイオンがアノ
ード上で酸化されて4価のスズイオンが浴中に蓄積し、
更に、銀イオンに対する錯化剤としてはヨウ化物が用い
られることが多いが、ヨウ化物イオンはアノード上で酸
化されてヨウ素酸イオンがめっき浴中に蓄積する等し
て、めっき浴組成を一定に維持することは不可能であ
る。
【0014】以上の様に、スズ−銀合金めっきは、鉛フ
リーはんだを用いて接合される部品に対する優れた表面
処理方法と考えられるが、上記した各種の欠点を含む方
法である。特に、バレルめっきなどのラックレス方式に
よって微小部品を大量に一括してスズ−銀合金めっき処
理する場合には、得られる合金皮膜の銀含有率が高くな
りやすく、しかも、個々の部品ごとのめっき皮膜の合金
組成を制御することが困難である。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記した従
来技術の現状に鑑みてなされたものであり、その主な目
的は、ラックレス方式によって微小部品を大量に一括し
てスズ−銀合金めっき処理する際に、電流密度変化に伴
うめっき皮膜組成の変化が非常に少なく安定した組成の
スズ−銀合金めっき皮膜を形成でき、しかも、従来のス
ズ−銀めっき浴を用いる場合の各種の問題点を解消でき
る新規なラックレスめっき用スズ−銀合金めっき浴を提
供することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記した目
的を達成すべく鋭意研究を重ねてきた。その結果、2価
のスズ化合物と1価の銀化合物を含有するめっき浴に、
2価のスズイオンに対する錯体形成剤として、特定の化
合物を添加し、同時に、共析安定剤としてポリオキシカ
ルボン酸、ポリオキシカルボン酸の環状エステル化合物
及びポリオキシカルボン酸の塩からなる群から選ばれた
少なくとも一種の成分を添加しためっき浴によれば、め
っき浴中において非常に微細な金属銀微粒子が形成さ
れ、ラックレス方式によって電気めっきを行う際にこの
銀微粒子がめっき皮膜に混入して、電流密度変化による
影響を大きく受けることなく、均一な組成のスズ−銀合
金皮膜を形成でき、従来のスズ−銀めっき浴を用いてラ
ックレス方式でめっきを行う場合の各種の問題点をこと
ごとく解消することが可能となることを見出し、ここに
本発明を完成するに至った。
【0017】即ち、本発明は、 1.(1)2価のスズ化合物、(2)1価の銀化合物、
(3)ポリオキシカルボン酸、ポリオキシカルボン酸の
環状エステル化合物及びポリオキシカルボン酸の塩から
なる群から選ばれた少なくとも一種の成分、並びに
(4)縮合リン酸類、モノカルボン酸類、ポリカルボン
酸類、アミンカルボン酸及びスルホン酸類からなる群か
ら選ばれた少なくとも一種の成分、を含有することを特
徴とするラックレスめっき用スズ−銀合金めっき浴。 2. 更に、アミン系化合物を含有することを特徴とす
る上記項1に記載のラックレスめっき用スズ−銀合金め
っき浴。 3. 更に、ポリエチレングリコール、ポリオキシエチ
レンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンア
ルキルエーテル及びポリオキシエチレン脂肪酸エステル
からなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物を含有
することを特徴とする上記項1又は2に記載のラックレ
スめっき用スズ−銀合金めっき浴。 4. 上記項1〜3のいずれかに記載のスズ−銀合金め
っき浴中でラックレス方式によって電気めっきを行うこ
とを特徴とするスズ−銀合金めっき方法。 5. 上記項4の方法によってスズ−銀合金めっき皮膜
が形成された物品。
【0018】
【発明の実施の形態】本発明のスズ−銀合金めっき浴
は、微小部品を大量一括してめっきするためのバレルめ
っき等のラックレス方式のめっき用として用いられるめ
っき浴であり、下記(1)〜(4)の成分を含有するこ
とを特徴とするものである: (1)2価のスズ化合物、(2)1価の銀化合物、
(3)ポリオキシカルボン酸、ポリオキシカルボン酸の
環状エステル化合物及びポリオキシカルボン酸の塩から
なる群から選ばれた少なくとも一種の成分、(4)縮合
リン酸類、モノカルボン酸類、ポリカルボン酸類、アミ
ンカルボン酸及びスルホン酸類からなる群から選ばれた
少なくとも一種の成分。
【0019】2価のスズ化合物と1価の銀化合物を含有
するめっき浴中では、通常、下記の反応によって、銀微
粒子が生成する。
【0020】Sn2++2Ag+→Sn4++2Ag 本発明のスズ−銀合金めっき浴では、縮合リン酸類、モ
ノカルボン酸類、ポリカルボン酸類、アミンカルボン酸
及びスルホン酸類からなる群から選ばれた少なくとも一
種の成分を錯体形成剤として用いることによって、形成
される銀粒子が粗大化することなく、ナノメーターオー
ダーの金属銀微粒子となって、凝集、沈降することな
く、めっき浴中に分散し、安定に存在する。この様なめ
っき浴を用いて電解処理する場合には、金属銀は、超微
粒子であるために、電解処理で形成するめっき皮膜に混
入し、分散してスズと合金化して、スズ−銀合金皮膜が
形成される。この際、上記した特定の錯体形成剤の他
に、更に、ポリオキシカルボン酸、ポリオキシカルボン
酸の環状エステル化合物及びポリオキシカルボン酸の塩
からなる群から選ばれた少なくとも一種の成分を共析安
定剤としてめっき浴中に存在させることによって、非常
に小さい電流密度で行われるバレルめっきなどのラック
レス方式のめっきにおいても、銀が優先的に析出するこ
とを抑制でき、任意の合金組成のスズ−銀合金めっき被
膜を形成することが可能となる。しかも、被めっき物に
おいて、電流が断続し、電流密度の変動が大きいラック
レス方式のめっきにおいても、部品ごとのめっき皮膜組
成の変動が少なく、均一な合金組成のめっき皮膜を個々
の微小部品上に形成することができる。
【0021】更に、本発明のめっき浴によれば、金属銀
が超微粒子として存在し、銀イオンがめっき浴中に存在
しないために、金属銀の生成によるめっき浴の分解が生
じることがない。しかも、可溶性のスズアノードを用い
た場合であっても、銀の析出によるアノードの溶解不良
が生じることがなく、可溶性のスズアノードの使用が可
能となる。また、本発明のめっき浴には、ヨウ化物イオ
ン等の易酸化性物質が安定剤として含まれていないの
で、不溶性アノードを用いることも可能である。
【0022】本発明のスズ−銀合金めっき浴では、2価
のスズ化合物としては、めっき浴中に可溶な化合物であ
れば特に限定なく使用できる。この様なスズ化合物の具
体例としては、硫酸スズ、塩化スズ、シュウ化スズ、酸
化スズ、ホウフッ化スズ、ケイフッ化スズ、スルファミ
ン酸スズ、シュウ酸スズ、酒石酸スズ、グルコン酸ス
ズ、ピロリン酸スズ、メタンスルホン酸、アルカノール
スルホン酸スズ等の無機酸塩、有機酸塩などを挙げるこ
とができる。これらのスズ化合物は、一種単独又は二種
以上混合して用いることができる。これらのスズ化合物
の内で、酸化錫などの溶解度の低い成分については、例
えば、強酸中に溶解させた後、これを中和することによ
ってめっき浴中に存在させることができる。
【0023】本発明のめっき浴中におけるスズ化合物の
濃度は、スズ分として、1〜100g/l程度とするこ
とが好ましく、5〜20g/l程度とすることがより好
ましい。
【0024】本発明めっき浴では、1価の銀化合物とし
ては、めっき浴中に可溶な化合物であれば特に限定なく
使用できる。この様な銀化合物の具体例としては、酸化
銀、硝酸銀、硫酸銀、塩化銀、スルファミン酸銀、クエ
ン酸銀、乳酸銀、ピロリン酸銀、メタンスルホン酸銀、
アルカノールスルホン酸銀等を挙げることができる。こ
れらの銀化合物は、一種単独又は二種以上混合して用い
ることができる。これらの銀化合物の内で、硫酸銀、塩
化銀などの溶解度の低い化合物を用いる場合には、例え
ば、一旦硝酸に溶解させる方法などによってめっき浴を
調製することができる。
【0025】本発明めっき浴中における銀化合物の濃度
は、銀分として0.1〜50g/l程度とすることが好
ましく、0.2〜10g/l程度とすることがより好ま
しい。この様な濃度範囲において、スズ分に対する銀分
のモル比(銀/スズ)を1/2以下とすることが好まし
い。
【0026】本発明のめっき浴は、共析安定剤として、
ポリオキシカルボン酸、ポリオキシカルボン酸の環状エ
ステル化合物及びポリオキシカルボン酸の塩からなる群
から選ばれた少なくとも一種の成分を含有することが必
要である。これらの成分の内で、ポリオキシカルボン酸
としては、水酸基を2個以上、好ましくは2〜6個有
し、且つカルボキシル基を1個又は2個有する炭素数3
〜7程度の脂肪族ポリオキシカルボン酸を好適に用いる
ことができる。この様な脂肪族ポリオキシカルボン酸の
具体例としては、D−酒石酸、L−酒石酸、DL−酒石
酸,メソ酒石酸等の酒石酸;アラボン酸、キシロン酸、
グルコン酸、ガラクトン酸、マンノン酸、グルコヘプト
ン酸等のアルドン酸などを例示できる。ポリオキシカル
ボン酸の環状エステル化合物としては、上記した脂肪族
ポリオキシカルボン酸に含まれる水酸基とカルボキシル
基がエステル結合してなる五員環又は六員環を含む環状
エステル化合物、例えば、δ−グルコノラクトン等のア
ルドン酸の環状エステル化合物、Lアスコルビン酸等を
挙げることができる。ポリオキシカルボン酸の塩として
は、上記した脂肪族ポリオキシカルボン酸の水溶性の塩
を用いることができる。この様な塩としては、ナトリウ
ム塩、カリウム塩等のアルカリ金属塩、アンモニウム塩
等を例示でき、更に、酒石酸のナトリウムアンチモン
塩、カリウムアンチモン塩等も用いることができる。
【0027】これらの各成分については、一種単独又は
二種以上混合して用いることができる。
【0028】ポリオキシカルボン酸、ポリオキシカルボ
ン酸の環状エステル化合物及びポリオキシカルボン酸の
塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の成分の濃度
については、特に限定的ではないが、めっき浴中に含ま
れるスズ分1モルに対して、1モル程度以上とすること
が好ましく、2〜5モル程度とすることがより好まし
い。
【0029】本発明のめっき浴には、更に、2価のスズ
イオンに対する錯体形成剤として、縮合リン酸類、モノ
カルボン酸類、ポリカルボン酸類、アミンカルボン酸及
びスルホン酸類からなる群から選ばれた少なくとも一種
の成分を配合することが必要である。
【0030】本発明では、これらの錯体形成剤を上記し
た共析安定剤と組み合わせて用いることが重要な条件で
あり、これらの成分を同時にめっき浴中に存在させるこ
とによって、ラックレス方式のめっき用スズ−銀合金め
っき浴として優れた特性を発揮するものとなる。
【0031】上記した成分の内で、縮合リン酸類として
は、ピロリン酸,トリポリリン酸,ポリリン酸等の縮合
リン酸、これらのナトリウム塩、カリウム塩等のアルカ
リ金属塩、アンモニウム塩等の水溶性の塩類などを用い
ることができる。モノカルボン酸類は、水酸基を1個含
んでいても良く、その具体例としては、ギ酸、酢酸、乳
酸、グリコール酸等の脂肪族モノカルボン酸、これらの
ナトリウム塩、カリウム塩等のアルカリ金属塩、アンモ
ニウム塩等の水溶性の塩類などを用いることができる。
ポリカルボン酸類としては、カルボキシル基を2個以
上、好ましくは2〜3個有する脂肪族ポリカルボン酸、
例えば、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、
アジピン酸、リンゴ酸、クエン酸等、これらのナトリウ
ム塩、カリウム塩等のアルカリ金属塩、アンモニウム塩
等の塩類などを用いることができる。アミンカルボン酸
類としては、エチレンジアミン四酢酸(EDTA)、イミノ
ジ酢酸、ニトリロトリ酢酸、ジエチレントリアミン五酢
酸、トリエチレンテトラミン六酢酸等、これらのナトリ
ウム塩、カリウム塩等のアルカリ金属塩、アンモニウム
塩等の水溶性の塩類などを用いることができる。スルホ
ン酸類としては、硫酸、メタンスルホン酸、アルカノー
ルスルホン酸、アミド硫酸等、これらのナトリウム塩、
カリウム塩等のアルカリ金属塩、アンモニウム塩等の水
溶性の塩類などを用いることができる。
【0032】本発明のめっき浴では、上記した錯体形成
剤としての各成分は、一種単独又は二種以上混合して用
いることができる。
【0033】縮合リン酸類、モノカルボン酸類、ポリカ
ルボン酸類、アミンカルボン酸及びスルホン酸類からな
る群から選ばれた少なくとも一種の成分の濃度について
は、特に限定的ではないが、めっき浴中に含まれるスズ
分1モルに対して、1モル程度以上とすることが好まし
く、2〜5モル程度とすることがより好ましい。
【0034】本発明のめっき浴には、更に、必要に応じ
て、アミン系化合物を添加することができる。上述した
通り、本発明のめっき浴中には銀の超微粒子が分散して
いるが、めっき浴が酸性の場合には、銀粒子が生成する
反応が緩やかに進行して、粗大な銀粒子の沈降、凝集が
生じ易くなる傾向がある。本発明のめっき浴では、アミ
ン系化合物を配合することによって、めっき浴が酸性で
あっても銀粒子の粗大化を抑制することができ、その結
果、微細な銀粒子が形成されて、銀の共析量を増大させ
ることができ、めっき皮膜中の銀含有率を制御すること
ができる。
【0035】アミン系化合物としては、例えば、(モ
ノ、ジ又はトリ)メチルアミン、(モノ、ジ又はトリ)エ
チルアミン、(モノ、ジ又はトリ)ブチルアミン等のアル
キルアミン類;エチレンジアミン、トリエチレンテトラ
ミン、トリエチレンジアミン等のエチレンアミン類;
(モノ、ジ又はトリ)エタノールアミン等のアミノアルコ
ール類;イミダゾール,オキシン,ビピリジル,フェナ
ンスロリン,コハク酸イミド等の複素環状アミン類等の
アミン類、及びこれらのアミン類の塩酸塩、硫酸塩等の
塩類などを用いることができる。
【0036】これらのアミン系化合物は、一種単独又は
二種以上混合して用いることができる。
【0037】アミン系化合物の添加量については、特に
限定的ではないが、上記した作用を十分に発揮するため
には、通常、めっき浴中の濃度として、1〜100g/
l程度とすることが好ましく、2〜50g/l程度とす
ることがより好ましい。
【0038】本発明のめっき浴には、更に、必要に応じ
て、ポリエチレングリコール、ポリオキシエチレンアル
キルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエ
ーテル及びポリオキシエチレン脂肪酸エステルからなる
群から選ばれた少なくとも一種の化合物を添加すること
ができる。これらの成分を添加することによって、めっ
き皮膜の異常析出を抑制して皮膜表面に粉めっきが発生
することを防止し、めっき皮膜を緻密化することができ
る。
【0039】ポリエチレングリコールとしては、数平均
分子量200〜4000000程度のものを使用するこ
とが好ましい。ポリオキシエチレンアルキルフェニルエ
ーテルは、アルキルフェノールにエチレンオキサイドを
付加縮合させたものであり、アルキルフェノールのアル
キル基は炭素数1〜25程度のものが好ましく、エチレ
ンオキサイドの付加モル数は2〜30モル程度のものが
好ましい。ポリオキシエチレンアルキルエーテルは、ア
ルカノールにエチレンオキサイドを付加縮合させたもの
であり、アルカノールのアルキル基は炭素数1〜20程
度のものが好ましく、エチレンオキサイドの付加モル数
は2〜30モル程度のものが好ましい。ポリオキシエチ
レン脂肪酸エステルは、脂肪酸にエチレンオキサイドを
エステル結合、付加縮合させたものであり、脂肪酸のア
ルキル基は炭素数1〜20程度のものが好ましく、エチ
レンオキサイドの付加モル数は2〜30モル程度のもの
が好ましい。ポリエチレングリコール、ポリオキシエチ
レンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンア
ルキルエーテル及びポリオキシエチレン脂肪酸エステル
は、一種単独又は二種以上混合して用いることができ
る。これらの成分の内で、特に、ポリエチレングリコー
ルが好ましい。
【0040】ポリエチレングリコール、ポリオキシエチ
レンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンア
ルキルエーテル及びポリオキシエチレン脂肪酸エステル
からなる群から選ばれた少なくとも一種の成分の添加量
は、特に限定的ではないが、上記した効果を十分に発揮
させるためには、めっき浴中の濃度として、0.1〜5
0g/l程度とすることが好ましく、0.2〜10g/
l程度とすることがより好ましい。
【0041】本発明のめっき浴は、微小部品を大量に一
括してスズ−銀合金めっきを行うラックレス方式による
めっき方法において用いられるものである。ここで、ラ
ックレス方式とは、被めっき物をラックに固定すること
なくめっきを行う方法であり、バレルめっき法が代表的
な方法であり、その他に、水平回転方式、振動バレル方
式、網付け法等の方法がある。これらの方法は、いずれ
も、平均の陰極電流密度が低く、しかも、電流の断続が
生じる場合や、局所的、一時的に高電流が通電されるこ
とがある点等において共通した方法である。
【0042】本発明のめっき浴におけるめっき対象とな
る被めっき物は、ラックレス方式によってめっきされる
微小物品であれば特に限定はない。特に、鉛フリーはん
だによるはんだ接合が想定される電気・電子回路用部
品、機械装置等の部品であって、バレルめっきおよびそ
の他のラックレス方式の大量一括めっき法によって処理
する方が、個々の被めっき物をラックに接続するよりも
生産性が高く皮膜特性のばらつきが小さいと判断される
すべての微小部品に好適に適用される。この様な微小部
品を被めっき物とする場合には、本発明のめっき浴を用
いてスズ−銀合金めっき皮膜を形成することによって、
ハンダ接合の信頼性を向上させることができる。この様
な微小部品の具体例としては、チップコンデンサ、チッ
プ抵抗、チップコイル、チップフィルター等の微小チッ
プ状部品;バンプ接続用の鉛フリーはんだめっき金属ボ
ール(銅ボールなど)、鉛フリーはんだめっきプラスチッ
クボール;コネクタ、接点部品、ソケット、ピングリッ
ドアレイ(PGA)パッケージ用微小ピン、ボタン電池ケー
ス、ヒューズケース、鋲螺類、ファスナー類等が例示さ
れる。
【0043】被めっき物の材質についても特に限定はな
く、金属素地、半導体素地、プラスチック素地、セラミ
ックス素地等の各種材質の物品を被めっき物とするとが
できる。
【0044】本発明のめっき浴を用いてスズ−銀合金め
っきを行う場合には、素地の種類に応じて、常法に従っ
て前処理や各種の下地めっきを行えばよい。プラスチッ
ク素材、セラミック素材等の非導電性の被めっき物を用
いる場合には、通常、無電解銅めっき、無電解ニッケル
めっき等の無電解めっきによって導電性皮膜を形成すれ
ばよい。
【0045】本発明めっき浴は、pH2〜14程度の広
いpH範囲で安定であり、このpH範囲において、良好
なスズ−銀合金皮膜を形成できる。特に、pH5〜12
程度が好ましい。この様なpH範囲において、アルカリ
性のpH範囲が好ましく、酸性域で使用する場合には、
上記したように、アミン系化合物を添加することが好ま
しい。
【0046】本発明めっき浴では、電解を行う際の浴温
度は、20〜70℃程度が好ましく、30〜60℃程度
がより好ましい。
【0047】また、陰極電流密度は、0.01〜2A/
dm2程度とすれば良く、0.02〜0.5A/dm2
度とすることが好ましい。
【0048】アノードとしては、スズアノードなどの可
溶性アノード、白金、白金めっきチタン、貴金属酸化物
被覆チタン、カーボンなどの不溶性アノードのいずれを
使用しても良い。
【0049】めっきを行う際の混合条件などについて
は、採用するラックレス方式の種類に応じて、被めっき
物が十分に混合されて、均一にめっきが行われる様に適
宜設定すればよい。
【0050】めっき時間は、要求されるめっき膜厚に応
じて適宜決めれば良く、通常、10分〜5時間程度であ
る。
【0051】スズ−銀めっき皮膜を形成した後、常法に
従って、水洗、湯洗、乾燥などを行えばよい。また、形
成されためっき皮膜上にハンダ接合を行う場合には、ハ
ンダぬれ性の維持のために、フラックス塗布を行うこと
も有効である。
【0052】
【発明の効果】本発明のラックレスめっき用スズ−銀合
金めっき浴によれば、下記のような顕著な効果が奏され
る。 (1)ラックレス方式による大量一括めっき方法によっ
てスズ−銀合金めっきを行う際に、電流密度変化に伴う
めっき皮膜組成の変化が非常に少なく安定した組成のス
ズ−銀合金めっき皮膜を高い生産性で形成できる。
【0053】形成されるスズ−銀合金めっき皮膜は、良
好な外観を有する密着性に優れた皮膜であり、特に、電
気・電子回路用、機械装置用等の微小部品に対して適用
する場合には、鉛フリーはんだに対するはんだ接合特性
に優れた皮膜となる。 (2)金属銀の生成によるめっき浴の分解が生じない。 (3)可溶性のスズアノードを用いた場合であっても、
銀の析出によるアノードの溶解不良が発生せず、可溶性
のスズアノードを使用できる。また、ヨウ化物イオンの
様な易酸化性物質が安定剤として含まれることがないの
で、不溶性アノードを用いることも可能である。 (4)めっき浴中にアミン系化合物を添加する場合に
は、酸性のめっき浴においても、金属銀の粗大化を強く
防止して、良好なスズ−銀めっき皮膜を形成できる。こ
のため、アルカリ性の液に侵されやすいセラミックス製
微小部品に対しても、鉛フリーはんだのはんだ接合特性
に優れたスズ−銀合金めっき皮膜を形成できる。 (5)ポリエチレングリコール、ポリオキシエチレンア
ルキルフェニルエーテル,ポリオキシエチレンアルキル
エーテル及びポリオキシエチレン脂肪酸エステルからな
る群から選ばれた少なくとも一種の化合物を添加する場
合には、めっき皮膜の異常析出を抑制して、めっき皮膜
を緻密化することができ、特に、外観の良好なスズ−銀
合金めっき皮膜を形成することができる。 (6)本発明のめっき浴を用いてラックレス方式による
めっき処理が行われた微小物品は、外観、密着性等が良
好で均一な組成のスズ−銀合金めっき皮膜を有するもの
となり、特に、鉛フリーはんだのはんだ接合特性に優れ
たものとなる。
【0054】
【実施例】以下、実施例を挙げて本発明を更に詳細に説
明する。
【0055】実施例1〜3及び比較例1〜2 1.5mmφ、高さ2.5mmの円錐形の洋白(銅−ニ
ッケル−亜鉛合金)製電気接点部品を被めっき物として
用い、下記表1に示す各スズ−銀合金めっき浴中でバレ
ルめっきを行った。平均の陰極電流密度は0.1A/d
2(全電流/試料全表面積)として、通電時間75分
で約5μmのスズ−銀合金めっき皮膜を形成した。尚、
比較例1として、同様の被めっき物に対してメタンスル
ホン酸浴を用いてスズめっきを行い、比較例2として、
ヨウ化物添加−ピロリン酸浴からのスズ−銀合金めっき
を行った。
【0056】
【表1】
【0057】上記した方法によって形成された各めっき
皮膜について、めっき皮膜の外観を目視で評価し、更
に、銀含有率と融点を測定した。また、下記の方法で、
ハンダ濡れ性、湿度試験後のはんだ濡れ性、及びウィス
カーの有無を評価した。 評価方法: *はんだ濡れ性試験:250℃の溶融したスズ−銀共晶
はんだにめっきした試験片を浸漬し、メニスコグラフ法
によってはんだ濡れ力を測定した。 *湿度試験後のはんだ濡れ性試験:85℃、相対湿度8
5%の雰囲気に2週間放置後、上記した方法と同様にし
てメニスコグラフ法ではんだ濡れ力を測定した。 *ウィスカーの有無:室温で2ヶ月間放置した後、顕微
鏡観察によってウィスカーの有無を判断した。以上の結
果を下記表2に示す。
【0058】
【表2】
【0059】表2の結果から明らかなように、実施例1
〜3では、形成されたスズ−銀合金皮膜中の銀含有量は
2〜3.8重量%であり、融点がスズ−銀共晶温度に等
しい221℃であり、はんだぬれ性も良好であった。こ
れに対して、比較例2のスズ−銀合金めっき皮膜は、銀
含有量が25%と非常に多く、溶融開始温度は221℃
であったが、完全には溶融せず、はんだぬれ性も悪く、
特に、湿度試験後のはんだ濡れ性が大きく低下した。
【0060】また、比較例1のスズめっき皮膜は、融点
が高く、湿度試験後のはんだ濡れ性も悪く、更に、ウィ
スカーが発生しやすいという欠点もあった。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 榎本 英彦 大阪府大阪市住吉区苅田8−6−6 (72)発明者 丸田 正敏 神奈川県横浜市金沢区福浦2−10−4 キ ザイ株式会社内 (72)発明者 楢原 泰栄子 神奈川県横浜市金沢区福浦2−10−4 キ ザイ株式会社内 Fターム(参考) 4K023 AB34 BA12 BA21 BA22 BA26 CB32 CB33 DA03 DA06 DA07 DA08

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(1)2価のスズ化合物、(2)1価の銀
    化合物、(3)ポリオキシカルボン酸、ポリオキシカル
    ボン酸の環状エステル化合物及びポリオキシカルボン酸
    の塩からなる群から選ばれた少なくとも一種の成分、並
    びに(4)縮合リン酸類、モノカルボン酸類、ポリカル
    ボン酸類、アミンカルボン酸及びスルホン酸類からなる
    群から選ばれた少なくとも一種の成分、を含有すること
    を特徴とするラックレスめっき用スズ−銀合金めっき
    浴。
  2. 【請求項2】更に、アミン系化合物を含有することを特
    徴とする請求項1に記載のラックレスめっき用スズ−銀
    合金めっき浴。
  3. 【請求項3】更に、ポリエチレングリコール、ポリオキ
    シエチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチ
    レンアルキルエーテル及びポリオキシエチレン脂肪酸エ
    ステルからなる群から選ばれた少なくとも一種の化合物
    を含有することを特徴とする請求項1又は2に記載のラ
    ックレスめっき用スズ−銀合金めっき浴。
  4. 【請求項4】請求項1〜3のいずれかに記載のスズ−銀
    合金めっき浴中でラックレス方式によって電気めっきを
    行うことを特徴とするスズ−銀合金めっき方法。
  5. 【請求項5】請求項4の方法によってスズ−銀合金めっ
    き皮膜が形成された物品。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006213996A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Fcm Kk Sn−Ag−Cu三元合金薄膜を形成する方法
JP2007308776A (ja) * 2006-05-19 2007-11-29 Shikoku Chem Corp 金属の表面処理剤およびその利用
US7563353B2 (en) 2004-10-21 2009-07-21 Fcm Co., Ltd. Method of forming Sn-Ag-Cu ternary alloy thin-film on base material
WO2013015608A3 (en) * 2011-07-27 2013-04-04 Yoon Jong-Oh Zirconium alloy electroplating solution composition and plated product using the same

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