JP2003322504A - Interference microscope - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】この発明は、取扱い操作の簡略化を図ったうえ
で、高感度化の促進を実現し得、且つ、使用形態の多様
化を実現し得るようにすることにある。
【解決手段】光源10より発した光を、二つの異なる偏
光方向の光に分岐して、その一方の光を試料15に照射
し、該試料15の情報をもつ試料光を取得して、この試
料光に対して上記分岐した他方の光を参照光として合致
させ、この合致させた光の偏光面の角度を液晶素子17
を用いて可変制御して、任意の位相情報を持つ干渉光を
取得し得るように構成し、所期の目的を達成した。
(57) [Summary] The present invention aims at simplifying the handling operation, realizing promotion of high sensitivity, and realizing diversification of usage forms. is there. A light emitted from a light source is split into two lights having different polarization directions, and one of the lights is irradiated on a sample, and a sample light having information on the sample is obtained. The other side of the sample light is matched with the reference light as the other light, and the angle of the polarization plane of the matched light is set to the liquid crystal element 17.
The structure was designed so that interference light having arbitrary phase information can be obtained by variably controlling the target, thereby achieving the intended purpose.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば精密加工
品等の試料の面形状、温度分布、屈折分布等を計測する
のに用いられる干渉顕微鏡に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an interference microscope used for measuring the surface shape, temperature distribution, refraction distribution, etc. of a sample such as a precision processed product.
【0002】[0002]
【従来の技術】計測の分野においては、試料の面形状、
温度分布、屈折分布等を計測する手段として、試料に対
して二つの異なる偏光方向の光の一方を照射して取得し
た試料光と、他方の光を参照光として、干渉光を生成
し、この干渉光の位相のずれを高精度、且つ高速に検出
する偏光干渉計が知られている。このような偏光干渉計
としては、特許番号第2821685号(特開平2―2
87107号)や、特開平9―281441号に開示さ
れるものが提案されている。2. Description of the Related Art In the field of measurement, the surface shape of a sample,
As a means for measuring temperature distribution, refraction distribution, etc., sample light obtained by irradiating the sample with one of two lights with different polarization directions, and the other light as reference light are used to generate interference light. There is known a polarization interferometer that detects a phase shift of interference light with high accuracy and at high speed. An example of such a polarization interferometer is Japanese Patent No. 2821685 (Japanese Patent Laid-Open No. 2-222).
87107) and those disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-281441.
【0003】ところが、上記偏光干渉計では、両者とも
3台の光検出素子を備えて干渉光を計測している構成
上、相互間のタイミングを同期させたうえで、各位置合
わせを1ピクセル以内に設定しないと、高精度な計測が
困難であるために、その調整作業を含む取扱い操作が非
常に面倒であるという不都合を有する。However, in the above-mentioned polarization interferometer, both of them are provided with three photo-detecting elements to measure the interference light, so that the respective timings are synchronized with each other and each alignment is within 1 pixel. If the setting is not made, it is difficult to perform highly accurate measurement, so that there is a disadvantage that the handling operation including the adjustment work is very troublesome.
【0004】また、上記両者とも、3台の光検出素子を
備えていることにより、光の強度が1/3となるため
に、そのS/N比の向上を図るのが困難であるという不
具合も有する。Further, both of the above-mentioned devices have three photodetectors, so that the intensity of light becomes 1/3, so that it is difficult to improve the S / N ratio. Also has.
【0005】さらに、上記提案されている両者にあって
は、その位相情報として、最大で3種類に限られている
ために、仕様の多様化を図るのが困難であるという不都
合を有する。Further, both of the above proposed methods have a disadvantage that it is difficult to diversify the specifications because the phase information is limited to three types at the maximum.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の偏光干渉計では、その調整作業を含む取扱い操作が
面倒であるうえ、感度の向上が困難であり、しかも、使
用形態に制約を有するという不都合を有する。As described above, in the conventional polarization interferometer, the handling operation including the adjustment work is troublesome, it is difficult to improve the sensitivity, and the usage pattern is restricted. It has the inconvenience of having.
【0007】この発明は上記の事情に鑑みてなされたも
ので、取扱い操作の簡略化を図ったうえで、高感度化の
促進を実現し得、且つ、使用形態の多様化を実現し得る
ようにした干渉顕微鏡を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to realize the promotion of high sensitivity and the diversification of usage forms while simplifying the handling operation. The purpose of the present invention is to provide an interference microscope.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】この発明は、光源より発
した光を二つの異なる偏光方向に分岐して、その一方の
光を試料に照射し、該試料の情報をもつ試料光を取得し
て、この試料光を前記分岐した他方の光と合致させて干
渉光を生成し、この干渉光を計測する干渉顕微鏡におい
て、前記干渉光の偏光面の角度を設定する液晶素子と、
この液晶素子に印加する電圧量を制御して、前記偏光面
の角度を制御する制御手段とを備えて干渉顕微鏡を構成
した。According to the present invention, light emitted from a light source is branched into two different polarization directions, one of the lights is irradiated to a sample, and sample light having information of the sample is obtained. The sample light is matched with the other branched light to generate interference light, and in an interference microscope that measures this interference light, a liquid crystal element that sets the angle of the polarization plane of the interference light,
An interference microscope was configured by including a control unit that controls the amount of voltage applied to the liquid crystal element to control the angle of the polarization plane.
【0009】上記構成によれば、液晶素子は、制御手段
により、印加される電圧が可変されると、その電圧量に
応じて合致させた光の偏光面の角度を可変設定して、任
意の位相情報を持つ干渉光を取得する。これにより、多
様な計測使用形態を実現したうえで、液晶素子に印加す
る電圧量を制御するだけの簡単な操作で、容易に高感度
な計測を実現することが可能となる。According to the above structure, when the voltage applied to the liquid crystal element is changed by the control means, the angle of the plane of polarization of the matched light is variably set according to the amount of the voltage, and the liquid crystal element is set to an arbitrary value. Acquiring interference light having phase information. As a result, it is possible to easily realize high-sensitivity measurement with a simple operation of controlling the amount of voltage applied to the liquid crystal element while realizing various measurement usage forms.
【0010】また、この発明は、前記液晶素子を介して
偏光面の角度が制御された干渉光を撮影する撮像カメラ
を備えて構成した。これによれば、撮像カメラでとらえ
た位相を可変した干渉光を比較検討することが可能とな
り、その計測使用形態の多様化を図ることが可能とな
る。Further, the present invention comprises an image pickup camera for taking an image of the interference light whose polarization plane angle is controlled through the liquid crystal element. According to this, it becomes possible to compare and examine the coherent light having a variable phase captured by the image pickup camera, and it is possible to diversify the measurement and use form.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図面を参照して詳細に説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.
【0012】図1は、この発明の一実施の形態に係る干
渉顕微鏡を示すもので、光源10の光路上には、分岐ハ
ーフミラー11が配される。この分岐ハーフミラー11
は、光源10から照射された光を略90°異なる二つの
偏光方向(X、Y)の光に分岐して、その第1及び第2
の出射光路上に配される第1及び第2の全反射ミラー1
2、13に分配する。FIG. 1 shows an interference microscope according to an embodiment of the present invention. A branching half mirror 11 is arranged on the optical path of a light source 10. This branch half mirror 11
Splits the light emitted from the light source 10 into two light beams having different polarization directions (X, Y) which are different from each other by approximately 90 degrees, and
First and second total reflection mirrors 1 arranged on the exit optical path of
Distribute into 2 and 13.
【0013】そして、これら第1及び第2の全反射ミラ
ー12、13の出射光路上には、合致ハーフミラー14
が、その第1及び第2の入射光路を対向させて配され
る。また、第1の全反射ミラー12と合致ハーフミラー
14との間の光路上には、試料15の搭載される例えば
図示しないステージが配される。Then, a matching half mirror 14 is provided on the outgoing optical paths of the first and second total reflection mirrors 12 and 13.
Are arranged so that their first and second incident light paths face each other. Further, for example, a stage (not shown) on which the sample 15 is mounted is arranged on the optical path between the first total reflection mirror 12 and the matching half mirror 14.
【0014】この合致ハーフミラー14の出射光路上に
は、1/4波長板16、液晶素子17及び偏光板18が
順に配され、偏光板18の後段には、撮像カメラとして
テレビジョン(TV)カメラ19が配される。合致ハー
フミラー14は、その第1の入射光路に、第1の全反射
ミラー12に導かれた光が、上記ステージ(図示せず)
上に搭載された試料15に照射されて生成された試料1
5の情報を持つ試料光が導かれ、その第2の入射光路に
第2の全反射ミラー13に導かれた基準となる参照光で
ある光が導かれ、これらの試料光と参照光とを重畳して
上記1/4波長板16に出力する。A quarter-wave plate 16, a liquid crystal element 17, and a polarizing plate 18 are arranged in this order on the outgoing optical path of the matching half mirror 14, and a television (TV) as an image pickup camera is provided behind the polarizing plate 18. A camera 19 is arranged. In the matching half mirror 14, the light guided to the first total reflection mirror 12 is guided to the first incident optical path, and the stage (not shown).
Sample 1 generated by irradiating sample 15 mounted on top
The sample light having the information of No. 5 is guided, and the reference light, which is the reference light guided to the second total reflection mirror 13, is guided to the second incident optical path of the sample light, and the sample light and the reference light are separated from each other. The signals are superimposed and output to the quarter-wave plate 16.
【0015】1/4波長板16は、図2に示すように合
致ハーフミラー14からの試料光と参照光とを重畳した
直線偏光の光を円偏光に変換して液晶素子17を介して
偏光板18に出力する。偏光板18は、液晶素子17を
通って入力した円偏光の光を、再び直線偏光に変換し、
この直線偏光の光がTVカメラ19に投影されて干渉光
として撮影される。As shown in FIG. 2, the quarter-wave plate 16 converts linearly polarized light obtained by superimposing the sample light and the reference light from the matching half mirror 14 into circularly polarized light and polarization through the liquid crystal element 17. Output to the plate 18. The polarizing plate 18 converts circularly polarized light input through the liquid crystal element 17 into linearly polarized light again,
This linearly polarized light is projected on the TV camera 19 and taken as interference light.
【0016】上記液晶素子17は、制御部20に接続さ
れ、この制御部20を介して印加電圧が可変制御され
る。液晶素子17は、制御部20により電圧が印加され
ると、その電圧量に応じて液晶の配列が回転されて回転
角が可変制御され、その回転角に応じて1/4波長板1
6を介して導かれた円偏光の光の偏光面(位相)の角度
を可変設定する。そして、液晶素子17は、電圧が印加
されない場合、その液晶の配列の回転角が可変されない
ことで、1/4波長板16からの円偏光の光の偏光角を
変化させることなく、直接的に、後段の偏光板18に導
く。The liquid crystal element 17 is connected to a control unit 20, and the applied voltage is variably controlled via the control unit 20. When a voltage is applied by the controller 20 to the liquid crystal element 17, the liquid crystal array is rotated according to the amount of the voltage and the rotation angle is variably controlled, and according to the rotation angle, the quarter-wave plate 1
The angle of the polarization plane (phase) of the circularly polarized light guided through 6 is variably set. When the voltage is not applied, the liquid crystal element 17 does not change the rotation angle of the liquid crystal array, and thus directly changes the polarization angle of the circularly polarized light from the quarter-wave plate 16 without changing the polarization angle. , To the polarizing plate 18 in the subsequent stage.
【0017】上記構成において、試料15の位相情報を
取得する場合には、試料を上記ステージ(図示せず)に
搭載して光源10を発光駆動する。すると、光源10か
ら照射された光は、分岐ハーフミラー11で異なる偏光
を持つ二つの光に分岐され、第1及び第2の全反射ミラ
ー12、13に導かれる。このうち第1の全反射ミラー
12に導かれた光は、ステージ(図示せず)上の試料1
5に照射されて該試料15の情報を持つ試料光として合
致ハーフミラー14の第1の入射光路に導かれる。In the above structure, when acquiring the phase information of the sample 15, the sample is mounted on the stage (not shown) and the light source 10 is driven to emit light. Then, the light emitted from the light source 10 is split into two lights having different polarizations by the split half mirror 11, and is guided to the first and second total reflection mirrors 12 and 13. The light guided to the first total reflection mirror 12 among them is the sample 1 on the stage (not shown).
The sample light having the information of the sample 15 is irradiated to the beam No. 5 and guided to the first incident optical path of the matching half mirror 14.
【0018】他方、第2の全反射ミラー13に導かれた
光は、参照光として直接的に上記合致ハーフミラー14
の第2の入射光路に導かれる。合致ハーフミラー14
は、第1及び第2の入射光路に導かれた光を重畳して、
その重畳した光を1/4波長板16に出力する。1/4
波長板16は、入力した直線偏光の光を円偏光の光に変
換して液晶素子17に出力する。On the other hand, the light guided to the second total reflection mirror 13 is directly referred to as the reference light and the matching half mirror 14 is used.
Is guided to the second incident optical path. Matching half mirror 14
Superimposes the light guided to the first and second incident light paths,
The superimposed light is output to the quarter-wave plate 16. 1/4
The wave plate 16 converts the input linearly polarized light into circularly polarized light and outputs the circularly polarized light to the liquid crystal element 17.
【0019】ここで、液晶素子17は、制御部20を介
して所望の電圧が印加され、その印加電圧に応じて液晶
の配列が回転制御され、その回転角に応じて1/4波長
板16を介して入力された円偏光の偏光面の角度を可変
させて偏光板18に出力する。偏光板18は、入力した
偏光面の角度が制御された円偏光の光を、直線偏光に変
換して生成した干渉光をTVカメラ19に投影する。こ
こで、TVカメラ19は、所望の位相情報を持つ干渉光
の画像データが取得される。Here, a desired voltage is applied to the liquid crystal element 17 via the control section 20, the alignment of the liquid crystal is rotationally controlled according to the applied voltage, and the quarter wavelength plate 16 is controlled according to the rotation angle. The angle of the polarization plane of the circularly polarized light input via is changed and output to the polarizing plate 18. The polarizing plate 18 projects the interference light generated by converting the input circularly polarized light whose polarization plane angle is controlled into linearly polarized light onto the TV camera 19. Here, the TV camera 19 acquires the image data of the interference light having the desired phase information.
【0020】この際、制御部20は、液晶素子17に印
加する電圧を可変制御することにより、液晶素子17の
液晶の配列を可変させて1/4波長板16で円偏光に変
換された光の偏光面の角度を可変制御する。この液晶素
子17で偏光面の角度が可変制御された光は、偏光板1
8において直線偏光の光に変換されて、円偏光の偏光面
の角度に応じた異なる位相情報を持つ干渉光が生成さ
れ、これら異なる位相情報を持つ干渉光がTVカメラ1
9で画像データとして取得される。このTVカメラ19
で撮影した異なる位相情報を持つ干渉光の画像データに
より、試料15の温度分布や屈折分布等の所望の計測が
行われる。At this time, the control section 20 variably controls the voltage applied to the liquid crystal element 17 to change the alignment of the liquid crystal of the liquid crystal element 17 and the light converted into the circularly polarized light by the ¼ wavelength plate 16. The angle of the plane of polarization is variably controlled. The light whose polarization plane angle is variably controlled by the liquid crystal element 17 is transmitted through the polarizing plate 1
8 converts the linearly polarized light into interference light having different phase information according to the angle of the plane of circular polarization, and the interference light having different phase information is generated by the TV camera 1
It is acquired as image data in 9. This TV camera 19
The desired measurement of the temperature distribution, the refraction distribution, and the like of the sample 15 is performed based on the image data of the interference light having different phase information photographed in.
【0021】そして、上記液晶素子17は、制御部20
より電圧が印加されない状態では、上述したように液晶
の配列の回転角が初期状態に保たれて、1/4波長板1
6からの光の偏光面の角度を可変させることなく、入射
した円偏光の光を直接的に偏光板18に出力する。これ
により、偏光板18では、合致ハーフミラー14で重畳
した光の偏光面の角度が初期状態に保たれた状態の干渉
光が生成され、この干渉光がTVカメラ19に投影され
て画像データとして取得される。The liquid crystal element 17 has a control section 20.
When no voltage is applied, the rotation angle of the liquid crystal array is kept in the initial state as described above, and the quarter wavelength plate 1
The incident circularly polarized light is directly output to the polarizing plate 18 without changing the angle of the plane of polarization of the light from 6. As a result, the polarizing plate 18 generates interference light in which the angle of the polarization plane of the light superposed by the matching half mirror 14 is kept in the initial state, and this interference light is projected onto the TV camera 19 as image data. To be acquired.
【0022】このように、上記干渉顕微鏡は、光源10
より発した光を二つの異なる偏光方向の光に分岐して、
その一方の光を試料15に照射し、該試料15の情報を
もつ試料光を取得して、この試料光に対して上記分岐し
た他方の光を参照光として合致させ、この合致させた光
の偏光面の角度を液晶素子17を用いて可変制御して、
任意の位相情報を持つ干渉光を取得し得るように構成し
た。As described above, the interference microscope includes the light source 10
The emitted light is split into two lights with different polarization directions,
The sample 15 is irradiated with the one light, the sample light having the information of the sample 15 is acquired, and the other branched light is matched with the sample light as the reference light. The angle of the plane of polarization is variably controlled using the liquid crystal element 17,
The interference light having arbitrary phase information can be acquired.
【0023】これによれば、液晶素子17に印加する電
圧を可変制御することにより、その電圧量に応じて合致
させた光の偏光面の角度を可変設定して、任意の位相情
報を持つ干渉光を、1台のTVカメラ19を備えるだけ
で取得することができることにより、簡単な構成で、多
様な計測使用形態を実現したうえで、容易に高感度な計
測を実現することができる。According to this, by variably controlling the voltage applied to the liquid crystal element 17, the angle of the plane of polarization of the matched light is variably set according to the voltage amount, and the interference having arbitrary phase information is obtained. Since the light can be acquired only by providing one TV camera 19, it is possible to easily realize high-sensitivity measurement while realizing various measurement usage modes with a simple configuration.
【0024】また、これによれば、任意の位相情報を持
つ干渉光の取得が可能となることにより、種々の干渉計
において適用可能であり、いずれの干渉計においても高
感度な計測を実現することが可能となる。Further, according to this, since it becomes possible to acquire the interference light having arbitrary phase information, it can be applied to various interferometers, and any interferometer realizes highly sensitive measurement. It becomes possible.
【0025】ここで、この発明の特徴とする干渉顕微鏡
を装備した反射型顕微鏡システムについて図3を参照し
て説明する。但し、図3においては、上記図1と同一部
分について、同一符号を付して、その詳細な説明を省略
する。A reflection type microscope system equipped with an interference microscope, which is a feature of the present invention, will be described with reference to FIG. However, in FIG. 3, the same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
【0026】即ち、前記1/4波長板16の入射光路に
は、反射型顕微鏡システムを構成するビームスプリッタ
21の出力光路が対向配置される。このビームスプリッ
タ21の入射光路には、コリメータレンズ22を介して
光源23が対向配置され、その反射光路に1/4波長板
24を介して試料25が配置される。That is, the output optical path of the beam splitter 21 which constitutes the reflection type microscope system is arranged to face the incident optical path of the quarter wavelength plate 16. A light source 23 is arranged to face the incident light path of the beam splitter 21 via a collimator lens 22, and a sample 25 is arranged to the reflection light path thereof via a quarter-wave plate 24.
【0027】また、上記ビームスプリッタ21の透過光
路には、1/4波長板26を介して参照ミラー27が対
向配置される。Further, a reference mirror 27 is arranged in the transmission optical path of the beam splitter 21 so as to face it, with a quarter wavelength plate 26 interposed therebetween.
【0028】上記構成により、光源23より発した拘束
は、コリメータレンズ22で平行光に設定されてビーム
スプリッタ21に入射され、ビームスプリッタ21で偏
光方向が90°異なる直線偏光の光に分離されて反射光
路及び透過光路の導かれる。反射光路に導かれた一方の
直線偏光の光は、1/4波長板24に導かれて円偏光の
光に変換されて試料25に照射され、試料25の情報を
持った試料光として、再び1/4波長板24に導かれて
再び、直線偏光の光に変換され、ビームスプリッタ21
に導かれる。With the above structure, the constraint emitted from the light source 23 is set into parallel light by the collimator lens 22 and is incident on the beam splitter 21, and is separated into linearly polarized light whose polarization directions differ by 90 °. A reflected light path and a transmitted light path are guided. One of the linearly polarized lights guided to the reflection optical path is guided to the quarter-wave plate 24, converted into circularly polarized light, and applied to the sample 25, and again as sample light having information of the sample 25. The beam is guided to the quarter-wave plate 24 and is converted again into linearly polarized light.
Be led to.
【0029】一方、透過光路に導かれた他方の直線偏光
の光は、1/4波長板26に導かれて円偏光の光に変換
されて参照ミラー27に照射され、参照光として、再び
1/4波長板26に導かれて、再び直線偏光の光に変換
され、ビームスプリッタ21に導かれる。すると、ビー
ムスプリッタ21は、入射した試料光と参照光を重畳し
て干渉光を生成し、その干渉光を出力光路より上記干渉
顕微鏡を構成する1/4波長板16に射出する。On the other hand, the other linearly polarized light guided to the transmission optical path is guided to the quarter-wave plate 26, converted into circularly polarized light, and applied to the reference mirror 27. The light is guided to the / 4 wavelength plate 26, converted again into linearly polarized light, and guided to the beam splitter 21. Then, the beam splitter 21 superimposes the incident sample light and reference light to generate interference light, and emits the interference light from the output optical path to the quarter-wave plate 16 constituting the interference microscope.
【0030】ここで、上述したように1/4波長板16
は、入力した直線偏光の光を円偏光の光に変換して液晶
素子17に出力する。この際、液晶素子17は、制御部
20を介して所望の電圧が印加され、その印加電圧に応
じて液晶の配列が回転制御され、その回転角に応じて1
/4波長板16を介して入力された円偏光の偏光面の角
度を可変させて偏光板18に出力する。偏光板18は、
入力した偏光面の角度が制御された円偏光の光を、直線
偏光に変換して生成した干渉光をTVカメラ19に投影
する。ここで、TVカメラ19は、所望の位相情報を持
つ干渉光の画像データが取得される。Here, as described above, the quarter-wave plate 16
Converts the input linearly polarized light into circularly polarized light and outputs the circularly polarized light to the liquid crystal element 17. At this time, a desired voltage is applied to the liquid crystal element 17 via the control unit 20, the alignment of the liquid crystal is rotationally controlled according to the applied voltage, and 1
The angle of the plane of polarization of the circularly polarized light input via the / 4 wavelength plate 16 is changed and output to the polarizing plate 18. The polarizing plate 18 is
Interference light generated by converting the input circularly polarized light whose polarization plane angle is controlled into linearly polarized light is projected onto the TV camera 19. Here, the TV camera 19 acquires the image data of the interference light having the desired phase information.
【0031】このように反射型顕微鏡システムに装備し
て、その液晶素子17に印加する電圧を可変制御するだ
けの簡単な操作で、例えば光を透過しない金属表面の僅
かな段差等の計測も、高精度に測定することができる。As described above, a simple operation of equipping the reflection type microscope system and variably controlling the voltage applied to the liquid crystal element 17 can measure, for example, a slight step of a metal surface that does not transmit light. It can be measured with high accuracy.
【0032】なお、上記実施の形態では、TVカメラ1
9を用いて干渉光を取り込むように構成した場合で説明
したが、これに限ることなく、その他の撮像カメラを用
いて構成することも可能である。In the above embodiment, the TV camera 1
The case where the interference light is taken in using 9 is explained, but the present invention is not limited to this, and it is also possible to use other imaging cameras.
【0033】また、上記実施の形態では、分岐ハーフミ
ラー11、第1及び第2の全反射ミラー12、13、合
致ハーフミラー14を用いて試料光及び参照光を重畳す
るようにした光学系を用いて構成した場合で説明した
が、この光学系に限ることなく、構成することが可能で
ある。Further, in the above embodiment, an optical system in which the sample light and the reference light are superposed by using the split half mirror 11, the first and second total reflection mirrors 12 and 13, and the matching half mirror 14 is provided. Although the case of using the optical system has been described, the present invention is not limited to this optical system and can be configured.
【0034】よって、この発明は、上記実施の形態に限
ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しな
い範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。さ
らに、上記実施形態には、種々の段階の発明が含まれて
おり、開示される複数の構成要件における適宜な組合せ
により種々の発明が抽出され得る。Therefore, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and in addition, various modifications can be carried out at the stage of carrying out the invention without departing from the spirit thereof. Further, the embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements.
【0035】例えば実施形態に示される全構成要件から
幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようと
する課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述
べられている効果が得られる場合には、この構成要件が
削除された構成が発明として抽出され得る。For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements shown in the embodiment, the problem described in the section of the problem to be solved by the invention can be solved, and the effect described in the effect of the invention can be obtained. When the above is obtained, the configuration in which this constituent element is deleted can be extracted as the invention.
【0036】[0036]
【発明の効果】以上詳述したように、この発明によれ
ば、取扱い操作の簡略化を図ったうえで、高感度化の促
進を実現し得、且つ、使用形態の多様化を実現し得るよ
うにした干渉顕微鏡を提供することができる。As described in detail above, according to the present invention, the handling operation can be simplified, the sensitivity can be promoted, and the usage patterns can be diversified. The interference microscope can be provided.
【図1】この発明の一実施の形態に係る干渉顕微鏡の配
置構成を示した構成説明図である。FIG. 1 is a configuration explanatory view showing an arrangement configuration of an interference microscope according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の要部の動作を説明するために示した構成
図である。FIG. 2 is a configuration diagram shown for explaining an operation of a main part of FIG.
【図3】図1を反射型顕微鏡システムに装備した場合の
配置構成を示した構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram showing an arrangement configuration when the reflection microscope system is equipped with FIG.
10 … 光源 11 … 分岐ハーフミラー 12 … 第1の全反射ミラー 13 … 第2の全反射ミラー 14 … 合致ハーフミラー 15 … 試料 16 … 1/4波長板 17 … 液晶素子 18 … 波長板 19 … TVカメラ 20 … 制御部 21 … ビームスプリッタ 22 … コリメータレンズ 23 光源 24、26 … 1/4波長板 25 … 試料 27 … 参照ミラー 10 ... Light source 11… Branch half mirror 12 ... First total reflection mirror 13 ... Second total reflection mirror 14… Matched half mirror 15… Sample 16 ... Quarter wave plate 17 ... Liquid crystal element 18 ... Wave plate 19 ... TV camera 20 ... Control unit 21… Beam splitter 22 ... Collimator lens 23 Light source 24, 26 ... Quarter wave plate 25… Sample 27 ... Reference mirror
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02F 1/13 101 G02F 1/13 101 1/1335 510 1/1335 510 Fターム(参考) 2F064 AA09 CC10 EE01 GG12 GG22 GG33 GG38 GG44 HH03 HH08 HH09 2H052 AA04 AB24 AB26 AC01 AF01 AF14 2H088 EA47 HA15 HA17 HA18 HA20 HA22 HA28 MA20 2H091 FA10Z FA11Z FA12Z FA15Z FA41Z FA48X GA11 LA30 MA10 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) G02F 1/13 101 G02F 1/13 101 1/1335 510 1/1335 510 F term (reference) 2F064 AA09 CC10 EE01 GG12 GG22 GG33 GG38 GG44 HH03 HH08 HH09 2H052 AA04 AB24 AB26 AC01 AF01 AF14 2H088 EA47 HA15 HA17 HA18 HA20 HA22 HA28 MA20 2H091 FA10Z FA11Z FA12Z FA15Z FA41Z FA48X GA11 LA30 MA10
Claims (2)
向に分岐して、その一方の光を試料に照射し、該試料の
情報をもつ試料光を取得して、この試料光を前記分岐し
た他方の光と合致させて干渉光を生成し、この干渉光を
計測する干渉顕微鏡において、 前記干渉光の偏光面の角度を設定する液晶素子と、 この液晶素子に印加する電圧量を制御して、前記偏光面
の角度を制御する制御手段とを具備することを特徴とす
る干渉顕微鏡。1. A light emitted from a light source is branched into two different polarization directions, one of the lights is irradiated to a sample, sample light having information on the sample is acquired, and the sample light is branched. In the interference microscope that generates interference light by matching the other light with the other light and measures the interference light, the liquid crystal element that sets the angle of the polarization plane of the interference light and the voltage amount applied to this liquid crystal element are controlled. And a control means for controlling the angle of the polarization plane.
角度が制御された干渉光を撮影する撮像カメラを備える
ことを特徴とする請求項1に記載の干渉顕微鏡。2. The interference microscope according to claim 1, further comprising an imaging camera for photographing the coherent light whose polarization plane angle is controlled via the liquid crystal element.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002127246A JP2003322504A (en) | 2002-04-26 | 2002-04-26 | Interference microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002127246A JP2003322504A (en) | 2002-04-26 | 2002-04-26 | Interference microscope |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003322504A true JP2003322504A (en) | 2003-11-14 |
Family
ID=29541412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002127246A Withdrawn JP2003322504A (en) | 2002-04-26 | 2002-04-26 | Interference microscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003322504A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101766328B1 (en) * | 2015-05-28 | 2017-08-08 | 광주과학기술원 | Microscope |
| JP2018010049A (en) * | 2016-07-11 | 2018-01-18 | キヤノン株式会社 | Optical apparatus and imaging apparatus |
-
2002
- 2002-04-26 JP JP2002127246A patent/JP2003322504A/en not_active Withdrawn
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| JP2018010049A (en) * | 2016-07-11 | 2018-01-18 | キヤノン株式会社 | Optical apparatus and imaging apparatus |
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