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JP2003318133A - Film pattern forming method, film pattern forming apparatus, conductive film wiring, semiconductor chip mounting structure, semiconductor device, light emitting device, electro-optical device, electronic equipment, and non-contact card medium - Google Patents

Film pattern forming method, film pattern forming apparatus, conductive film wiring, semiconductor chip mounting structure, semiconductor device, light emitting device, electro-optical device, electronic equipment, and non-contact card medium

Info

Publication number
JP2003318133A
JP2003318133A JP2002119573A JP2002119573A JP2003318133A JP 2003318133 A JP2003318133 A JP 2003318133A JP 2002119573 A JP2002119573 A JP 2002119573A JP 2002119573 A JP2002119573 A JP 2002119573A JP 2003318133 A JP2003318133 A JP 2003318133A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
forming
droplets
film pattern
droplet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2002119573A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hirofumi Kurosawa
弘文 黒沢
Hironobu Hasei
宏宣 長谷井
Takashi Aoki
敬 青木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2002119573A priority Critical patent/JP2003318133A/en
Publication of JP2003318133A publication Critical patent/JP2003318133A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H10W72/877
    • H10W90/724

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡便な工程にて高精度の膜パターンを形成す
ることが可能な膜パターンの形成方法および膜パターン
形成装置、ならびに導電膜配線、半導体チップの実装構
造、半導体装置、発光装置、電気光学装置、電子機器、
並びに非接触型カード媒体を提供する。 【解決手段】 本発明の膜パターンの形成方法は、液滴
吐出法によって、膜形成成分を含有した液状物からなる
液滴を、基板上の所定の膜形成領域に吐出して膜パター
ンを形成する膜パターンの形成方法であって、互いに混
ざり合わない複数の液滴を吐出することにより、隣り合
う位置に複数の膜パターンを形成すること、を含む。
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a film pattern forming method and a film pattern forming apparatus capable of forming a highly accurate film pattern in a simple process, a conductive film wiring, a semiconductor chip mounting structure, and a semiconductor device. , Light-emitting devices, electro-optical devices, electronic equipment,
And a contactless card medium. A method for forming a film pattern according to the present invention forms a film pattern by discharging droplets made of a liquid material containing a film forming component to a predetermined film forming region on a substrate by a droplet discharging method. Forming a plurality of film patterns at adjacent positions by discharging a plurality of droplets that do not mix with each other.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電極、アンテナ、
電子回路、集積回路などの配線に使用される導電膜配
線、ならびに該導電膜配線を保護する絶縁膜等の膜パタ
ーンの形成方法および膜パターン形成装置に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an electrode, an antenna,
The present invention relates to a conductive film wiring used for wiring of electronic circuits, integrated circuits, etc., a method for forming a film pattern such as an insulating film for protecting the conductive film wiring, and a film pattern forming apparatus.

【0002】また、本発明は、電気光学装置を構成する
各層を形成するための膜パターンの形成方法および膜パ
ターン形成装置に関する。
The present invention also relates to a film pattern forming method and a film pattern forming apparatus for forming each layer constituting an electro-optical device.

【0003】さらに、本発明は、半導体チップの実装構
造、半導体装置、発光装置、電気光学装置、電子機器、
並びに非接触型カード媒体に関する。
Furthermore, the present invention provides a semiconductor chip mounting structure, a semiconductor device, a light emitting device, an electro-optical device, an electronic device,
And a non-contact type card medium.

【0004】[0004]

【背景技術】インクジェット法にて、所定の材料を基板
上に吐出して、各種の電気光学装置に含まれる配線や層
を所定のパターンに形成する方法が開発されている。例
えば、米国特許5132248号では、導電性微粒子を
分散させた液状物をインクジェット法にて基板に直接パ
ターン塗布し、その後熱処理やレーザ照射を行なって導
電膜パターンに変換する方法が提案されている。この方
法によれば、配線形成のプロセスが大幅に簡単なものに
なるとともに、原材料の使用量も少なくてすむというメ
リットがある。
BACKGROUND ART A method has been developed in which a predetermined material is discharged onto a substrate by an inkjet method to form wirings and layers included in various electro-optical devices in a predetermined pattern. For example, U.S. Pat. No. 5,132,248 proposes a method in which a liquid material in which conductive fine particles are dispersed is directly pattern-coated on a substrate by an inkjet method, and then heat treatment or laser irradiation is performed to convert it into a conductive film pattern. According to this method, there is an advantage that the wiring forming process is greatly simplified and the amount of raw materials used is small.

【0005】ところで、近年の素子の微細化に伴い、各
種の電気光学装置に含まれる配線や絶縁層が微細化され
ている。なかでも、電子回路や電極、集積回路に用いら
れる配線は、微細化されるにしたがい、隣接する配線同
士が接触してショートする可能性が大きくなる。したが
って、精度良く配線をパターニングすることにより、配
線間の絶縁性を確保することが重要となる。
By the way, with the recent miniaturization of elements, wirings and insulating layers included in various electro-optical devices have been miniaturized. Among them, the wiring used for electronic circuits, electrodes, and integrated circuits is becoming finer, and there is a greater possibility that adjacent wirings come into contact with each other to cause a short circuit. Therefore, it is important to ensure insulation between the wirings by accurately patterning the wirings.

【0006】一方、発光装置、例えば有機EL装置を形
成する場合、有機EL装置を構成する複数の層(例えば
発光層と正孔輸送/注入層等)を、インクジェット法に
て形成することができる。この場合、一般に、複数の異
なる材料を順に塗布していく。この有機EL装置が駆動
する際、有機EL装置を構成する前記複数の層の間で電
荷(正孔または電子)が移動する。高効率の有機EL装
置を得るためには、これらの層の間における電荷の移動
性を高めることが重要である。これらの層の界面が均質
に形成されていることにより、電荷の移動性を高めるこ
とができる。
On the other hand, in the case of forming a light emitting device, for example, an organic EL device, a plurality of layers (for example, a light emitting layer and a hole transporting / injecting layer) forming the organic EL device can be formed by an ink jet method. . In this case, generally, a plurality of different materials are sequentially applied. When the organic EL device is driven, charges (holes or electrons) move between the plurality of layers forming the organic EL device. In order to obtain a highly efficient organic EL device, it is important to enhance the mobility of charges between these layers. By forming the interfaces of these layers uniformly, the mobility of charges can be enhanced.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、簡易
な方法で形成が可能であり、かつ、高精度の膜パターン
の形成方法および膜パターン形成装置を提供することに
ある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a film pattern forming method and a film pattern forming apparatus which can be formed by a simple method and have high precision.

【0008】また、本発明の目的は、発光装置または半
導体装置を構成する各層を形成するための膜パターンの
形成方法および膜パターン形成装置、ならびに該膜パタ
ーンの形成方法によって形成された発光装置および半導
体装置に関する。
Further, an object of the present invention is to provide a film pattern forming method and a film pattern forming apparatus for forming each layer constituting a light emitting device or a semiconductor device, and a light emitting device formed by the film pattern forming method. The present invention relates to a semiconductor device.

【0009】さらに、本発明は、前記膜パターンの形成
方法によって形成された導電膜配線、および該導電性配
線を含む半導体チップの実装構造、電気光学装置、電子
機器、並びに非接触型カード媒体に関する。
Further, the present invention relates to a conductive film wiring formed by the method for forming a film pattern, a semiconductor chip mounting structure including the conductive wiring, an electro-optical device, an electronic device, and a non-contact type card medium. .

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】(膜パターンの形成方
法)本発明の膜パターンの形成方法は、液滴吐出法によ
って、膜形成成分を含有した液状物からなる液滴を、基
板上の所定の膜形成領域に吐出して膜パターンを形成す
る膜パターンの形成方法であって、互いに混ざり合わな
い複数の液滴を吐出することにより、隣り合う位置に複
数の膜パターンを形成する、ことを含む。
(Means for Solving the Problem) (Method for Forming Film Pattern) In the method for forming a film pattern according to the present invention, droplets made of a liquid containing a film-forming component are formed on a substrate by a droplet discharge method. A method for forming a film pattern by ejecting the film pattern to a film forming region, wherein a plurality of film patterns are formed at adjacent positions by ejecting a plurality of droplets that are not mixed with each other. Including.

【0011】本発明の膜パターンの形成方法によれば、
隣り合う位置に複数の膜パターンを精度良くかつ簡易な
方法により形成することができる。詳しくは、本実施の
形態の欄で説明する。
According to the film pattern forming method of the present invention,
It is possible to accurately form a plurality of film patterns at adjacent positions by a simple method. Details will be described in the section of the present embodiment.

【0012】本発明の膜パターンの形成方法は、(1)
〜(6)の態様をとることができる。
The method of forming a film pattern of the present invention comprises (1)
(6) can be adopted.

【0013】(1)前記隣り合う位置に形成される前記
複数の膜パターンは、互いに異なる機能を有することが
できる。この方法によれば、互いに機能が異なる複数の
膜パターンを同時に形成することができるため、製造プ
ロセスの工程の効率化を図ることができる。さらに、前
記複数のパターンをそれぞれ所望の形状に形成すること
ができる。
(1) The plurality of film patterns formed at the adjacent positions may have different functions. According to this method, it is possible to simultaneously form a plurality of film patterns having different functions, so that it is possible to improve the efficiency of the steps of the manufacturing process. Furthermore, each of the plurality of patterns can be formed into a desired shape.

【0014】(2)前記複数の液滴を、前記基板と平行
な方向に隣り合う位置に吐出することにより、前記複数
の膜パターンを、前記基板と平行な方向に隣り合うよう
に形成することができる。
(2) The plurality of film patterns are formed so as to be adjacent to each other in the direction parallel to the substrate by ejecting the plurality of droplets to positions adjacent to each other in the direction parallel to the substrate. You can

【0015】(3)前記複数の液滴をほぼ同一位置に重
ねて吐出することにより、前記複数の膜パターンを、前
記基板と垂直方向に隣り合うように形成することができ
る。
(3) The plurality of film patterns can be formed so as to be adjacent to the substrate in the vertical direction by superimposing and ejecting the plurality of droplets at substantially the same position.

【0016】この場合、前記複数の液滴のうち1の液滴
を構成する液状物を、前記1の液滴よりも上部に形成さ
れた液滴を構成する液状物よりも沸点が低くすることが
できる。この方法によれば、前記1の液滴を構成する液
状物をより容易に除去することができる。
In this case, the liquid material forming one of the plurality of liquid droplets has a lower boiling point than the liquid material forming the liquid droplets formed above the one liquid droplet. You can According to this method, it is possible to more easily remove the liquid substance forming the first droplet.

【0017】また、この場合、前記複数の液滴を、前記
基板に設けられた凹部に吐出することにより、前記複数
の膜パターンを該凹部に形成することができる。この
際、前記複数の液滴を前記凹部に吐出した後、該複数の
液滴に遠心力を付加することにより、該複数の液滴の分
離を促進させること、を含むことができる。この方法に
よれば、該複数の液滴が容易に分離されて、短時間で膜
質の均一化を図ることができる。
In this case, the plurality of film patterns can be formed in the recess by discharging the plurality of droplets into the recess provided in the substrate. At this time, after ejecting the plurality of droplets to the recess, centrifugal force may be applied to the plurality of droplets to promote separation of the plurality of droplets. According to this method, the plurality of droplets are easily separated, and the film quality can be made uniform in a short time.

【0018】(4)前記複数の液滴は、第1の液滴と第
2の液滴からなり、前記第1の液滴は、前記膜形成成分
として導電性微粒子を含む液状物であり、前記第2の液
滴は、前記膜形成成分として絶縁体を含む液状物である
ことができる。この方法によれば、導電膜とともに絶縁
膜を形成することができる。また、導電膜を精度良くか
つ簡潔な方法により形成することができるため、断線や
短絡等の不良が生じにくく、信頼性に優れた導電膜配線
を得ることができる。
(4) The plurality of droplets are composed of a first droplet and a second droplet, and the first droplet is a liquid substance containing conductive fine particles as the film forming component, The second droplet may be a liquid material containing an insulator as the film forming component. According to this method, the insulating film can be formed together with the conductive film. Further, since the conductive film can be formed by an accurate and simple method, defects such as disconnection and short circuit hardly occur, and conductive film wiring having excellent reliability can be obtained.

【0019】この場合、前記第1の液滴から導電膜を形
成し、前記第2の液滴から絶縁膜を形成することができ
る。この方法によれば、導電膜とともに絶縁膜を形成す
ることができるため、製造プロセスの工程の効率化を図
ることができる。
In this case, a conductive film can be formed from the first droplet and an insulating film can be formed from the second droplet. According to this method, the insulating film can be formed together with the conductive film, so that the efficiency of the steps of the manufacturing process can be improved.

【0020】また、この場合、前記第1の液滴に対して
熱処理および/または光照射を行なうことにより、前記
導電膜を形成することができる。この方法によれば、簡
易な方法にて第1の液滴に含まれる膜形成成分を固化さ
せることができる。
In this case, the conductive film can be formed by performing heat treatment and / or light irradiation on the first droplet. According to this method, the film forming component contained in the first droplet can be solidified by a simple method.

【0021】(5)さらに、親液パターンおよび撥液パ
ターンを、前記基板の所定領域に形成すること、を含
み、前記複数の液滴を、前記親液パターンおよび前記撥
液パターンが施された領域に吐出することにより、前記
複数の膜パターンを、該親液パターンの上に形成するこ
とができる。この方法によれば、前記複数の膜パターン
を形成したい領域に前記親液パターンを形成しておくこ
とにより、該複数の膜パターンを所望の領域に選択的に
形成することができるため、所望の形状の膜パターンを
形成することができる。
(5) Further, a lyophilic pattern and a lyophobic pattern are formed on a predetermined region of the substrate, and the plurality of droplets are provided with the lyophilic pattern and the lyophobic pattern. By ejecting onto the region, the plurality of film patterns can be formed on the lyophilic pattern. According to this method, by forming the lyophilic pattern in a region where the plurality of film patterns are desired to be formed, the plurality of film patterns can be selectively formed in a desired region. A film pattern having a shape can be formed.

【0022】例えば、前記複数の液滴を所望の領域に塗
布するための基板処理をあらかじめ行う場合、例えば、
UVを照射することによって基板を親液化したり、例え
ばヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデ
シルトリエトキシシランや、トリデカフルオロ−1,
1,2,2テトラヒドロオクチルトリエトキシシランな
どに代表されるフルオロアルキルシラン(FAS)を用
いて基板を撥液化し、このFASへのUVのパターン照
射によって所望の位置だけ親液化することによって前記
親液パターンおよび前記撥液パターンを作成することが
できる。これにより、膜パターンを精度良く形成するこ
とができる。
For example, in the case where the substrate processing for applying the plurality of droplets to a desired area is performed in advance, for example,
The substrate is made lyophilic by irradiating with UV, for example, heptadecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrodecyltriethoxysilane, tridecafluoro-1,
The substrate is made lyophobic by using fluoroalkylsilane (FAS) typified by 1,2,2 tetrahydrooctyltriethoxysilane and the like, and the lyophilic property is obtained at a desired position by UV pattern irradiation of the FAS. A liquid pattern and the liquid repellent pattern can be created. As a result, the film pattern can be accurately formed.

【0023】(6)前記複数の液滴にそれぞれ含まれる
液状物を、蒸発および/または分解によって同時に除去
することにより、前記複数の膜パターンの界面を、大気
に曝すことなく形成することができる。この方法によれ
ば、前記複数の膜パターンの界面を良好な状態に形成す
ることができるため、膜パターンの機能を高めることが
できる。
(6) By simultaneously removing the liquid material contained in each of the plurality of droplets by evaporation and / or decomposition, the interfaces of the plurality of film patterns can be formed without exposing to the atmosphere. . According to this method, the interface between the plurality of film patterns can be formed in a good state, so that the function of the film pattern can be enhanced.

【0024】(膜パターンの形成装置)本発明の膜パタ
ーンの形成装置は、液滴吐出法によって、膜形成成分を
含有した液状物からなる液滴を、基板上の所定の膜形成
領域に吐出して膜パターンを形成する膜パターンの形成
装置であって、上記膜パターンの形成方法によって膜パ
ターンを形成する。
(Membrane Pattern Forming Apparatus) In the film pattern forming apparatus of the present invention, droplets made of a liquid containing a film forming component are discharged to a predetermined film forming region on a substrate by a droplet discharging method. A film pattern forming apparatus for forming a film pattern by using the above-described film pattern forming method.

【0025】本発明の膜パターンの形成装置によれば、
隣り合う位置に複数の膜パターンを精度良くかつ簡易に
形成することができる。
According to the film pattern forming apparatus of the present invention,
A plurality of film patterns can be accurately and easily formed at adjacent positions.

【0026】上記膜パターンの形成装置は、前記複数の
液滴を吐出することができる1のヘッドを含むことがで
きる。また、前記複数の液滴を構成する各液滴毎に専用
のヘッドが設置できる。さらに、前記複数の液滴を混合
する混合手段を含み、該混合手段によって該複数の液滴
を混合した後吐出することができる。
The film pattern forming apparatus may include one head capable of ejecting the plurality of droplets. In addition, a dedicated head can be installed for each of the droplets forming the plurality of droplets. Further, a mixing unit that mixes the plurality of liquid droplets is included, and the plurality of liquid droplets can be discharged after being mixed by the mixing unit.

【0027】(導電膜配線および半導体チップの実装構
造および電気光学装置)本発明の導電膜配線は、上記本
発明の膜パターンの形成方法によって形成される。ま
た、本発明の半導体チップの実装構造ならびに本発明の
電気光学装置は、上記本発明の導電膜配線を含む。
(Mounting Structure of Conductive Film Wiring and Semiconductor Chip and Electro-Optical Device) The conductive film wiring of the present invention is formed by the film pattern forming method of the present invention. The semiconductor chip mounting structure of the present invention and the electro-optical device of the present invention include the conductive film wiring of the present invention.

【0028】本発明の導電膜配線によれば、簡易な方法
にて得られ、断線や短絡等の不良が生じにくく、しか
も、かつ微細化された導電膜配線を得ることができる。
According to the conductive film wiring of the present invention, it is possible to obtain a fine conductive film wiring which is obtained by a simple method, is less likely to cause defects such as disconnection and short circuit.

【0029】(半導体装置)本発明の半導体装置は、ソ
ース電極、ドレイン電極、およびゲート電極と、前記電
極を互いに絶縁する絶縁層と、を含み、前記電極および
前記絶縁層が、上記本発明の膜パターンの形成方法を経
て形成される。
(Semiconductor Device) A semiconductor device of the present invention includes a source electrode, a drain electrode, and a gate electrode, and an insulating layer that insulates the electrodes from each other, and the electrode and the insulating layer are the same as those of the present invention. It is formed through a method of forming a film pattern.

【0030】(発光装置)本発明の発光装置は、発光層
および正孔輸送/注入層と、該発光層および該正孔輸送
/注入層を挟持する一対の電極層と、を含み、前記発光
層および前記正孔輸送/注入層が、上記本発明の膜パタ
ーンの形成方法を経て形成される。
(Light Emitting Device) The light emitting device of the present invention comprises a light emitting layer and a hole transporting / injecting layer, and a pair of electrode layers sandwiching the light emitting layer and the hole transporting / injecting layer. The layer and the hole transport / injection layer are formed by the method for forming a film pattern of the present invention.

【0031】(電子機器および非接触型カード媒体)本
発明の電子機器は、上記本発明の電気光学装置、上記本
発明の半導体装置、および/または上記本発明の発光装
置を含む。また、本発明の非接触型カード媒体は、上記
本発明の導電膜配線をアンテナ回路として含む。
(Electronic Device and Non-contact Card Medium) An electronic device of the present invention includes the electro-optical device of the present invention, the semiconductor device of the present invention, and / or the light emitting device of the present invention. Further, the non-contact type card medium of the present invention includes the conductive film wiring of the present invention as an antenna circuit.

【0032】[0032]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
について、図面を参照しながら説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0033】[第1の実施の形態]第1の実施の形態と
して、本発明の膜パターン形成方法の一例である導電膜
配線の形成方法について説明する。なお、本発明におい
て、液滴吐出法とは、液滴を所望のパターンに吐出する
ことにより、基板上に所望のパターンを有する材料物質
を形成する方法であり、インクジェット法と呼ばれるこ
ともある。但しこの場合、吐出する液滴は、印刷物に用
いられる所謂インクではなく、デバイスを構成する材料
物質を含む液状体であり、この材料物質は、例えばデバ
イスを構成する導電物質または絶縁物質として機能し得
る物質を含むものである。さらに、液滴吐出とは、吐出
時に噴霧されるものに限らず、液状体の1滴1滴が連続
して塗布される場合も含む。
[First Embodiment] As a first embodiment, a method of forming a conductive film wiring, which is an example of the film pattern forming method of the present invention, will be described. In the present invention, the droplet discharge method is a method of forming a material substance having a desired pattern on a substrate by discharging droplets in a desired pattern, and is also called an inkjet method. However, in this case, the discharged droplets are not so-called inks used for printed matter, but a liquid material containing a material substance forming a device, and the material substance functions as, for example, a conductive substance or an insulating substance forming a device. It contains the substance to be obtained. Furthermore, the droplet discharge is not limited to the case of being sprayed at the time of discharge, but also includes the case where one droplet of the liquid material is continuously applied.

【0034】図1は、本発明を適用した第1の実施の形
態に係る膜パターンの形成方法を模式的に示す断面図で
あり、図2は、第1の実施の形態に係る膜パターンの形
成方法によって形成された膜パターンを模式的に示す平
面図である。なお、図1に示されている基板10は、図
2のA−Aに沿った断面に相当する。
FIG. 1 is a sectional view schematically showing a method of forming a film pattern according to the first embodiment to which the present invention is applied, and FIG. 2 shows a film pattern according to the first embodiment. It is a top view which shows typically the film pattern formed by the forming method. The substrate 10 shown in FIG. 1 corresponds to the cross section taken along the line AA of FIG.

【0035】本実施の形態に係る配線形成方法は主に、
第1および第2の液滴22a,24aの吐出工程と、固
化工程とを含む。以下、各工程について説明する。
The wiring forming method according to this embodiment is mainly
The discharge step of the first and second droplets 22a and 24a and the solidification step are included. Hereinafter, each step will be described.

【0036】(吐出工程)吐出工程においては、液滴吐
出法によって、膜形成成分を含有した液状物からなる液
滴を、基板上の所定の膜形成領域に吐出して膜パターン
を形成する膜パターンの形成方法であって、導電性微粒
子を含む液状物(第1の液滴)と、絶縁体を含む液状物
(第2の液滴)とを吐出する。本実施の形態において
は、この導電性微粒子を含む液状物(第1の液滴22
a)と、絶縁体を含む液状物(第2の液滴24a)と
は、互いに混ざり合わない性質を有する。
(Discharging Step) In the discharging step, a film for forming a film pattern is formed by discharging a liquid droplet containing a film-forming component into a predetermined film forming region on a substrate by a droplet discharging method. In the method of forming a pattern, a liquid material containing conductive fine particles (first droplets) and a liquid material containing an insulator (second droplets) are discharged. In the present embodiment, the liquid substance (first droplet 22
The liquid (a) and the liquid containing the insulator (the second droplet 24a) have the property of not being mixed with each other.

【0037】本実施の形態においては、図1に示すよう
に、導電性微粒子を含む液状物(第1の液滴22a)を
吐出するノズル11aと、絶縁体を含む液状物(第2の
液滴24a)を吐出するノズル11bとを交互に設置し
たインクジェットヘッド12を用いる。このインクジェ
ットヘッド12を、図1に示すY方向に移動させなが
ら、第1の液滴22aと第2の液滴24aとを、基板1
0と平行な方向(図1のX方向)に隣り合う位置に吐出
することにより、基板10上へ向けて(図1に示す−Z
方向へ)これらの液滴を着弾させる。これにより、第1
の液滴22aと第2の液滴24aが図1のX方向に交互
に配置され、かつ、図1および図2のY方向に延びるパ
ターンが形成される(図2参照)。
In the present embodiment, as shown in FIG. 1, a nozzle 11a for ejecting a liquid material containing conductive fine particles (first droplet 22a) and a liquid material containing an insulator (second liquid). The inkjet head 12 in which the nozzles 11b for ejecting the droplets 24a) are installed alternately is used. While moving the inkjet head 12 in the Y direction shown in FIG. 1, the first droplet 22a and the second droplet 24a are moved to the substrate 1
By ejecting to a position adjacent to the direction parallel to 0 (X direction in FIG. 1), the liquid is discharged onto the substrate 10 (-Z in FIG. 1).
In the direction). This makes the first
Droplets 22a and second droplets 24a are alternately arranged in the X direction of FIG. 1 and a pattern extending in the Y direction of FIGS. 1 and 2 is formed (see FIG. 2).

【0038】導電性微粒子を含む液状物(第1の液滴2
2a)および絶縁体を含む液状物(第2の液滴24a)
の材質としては、互いに混ざり合わないものであれば特
に限定されない。
Liquid material containing conductive fine particles (first droplet 2
2a) and a liquid containing an insulator (second droplet 24a)
There is no particular limitation on the materials of the materials as long as they do not mix with each other.

【0039】導電性微粒子を含む液状物としては、導電
性微粒子を液状物(分散媒)に分散させた液状物(分散
液)を用いる。ここで用いられる導電性微粒子は、金、
銀、銅、パラジウム、ニッケルの何れかを含有する金属
微粒子の他、導電性ポリマーや超伝導体の微粒子などが
用いられる。
As the liquid material containing conductive fine particles, a liquid material (dispersion liquid) in which conductive fine particles are dispersed in a liquid material (dispersion medium) is used. The conductive fine particles used here are gold,
In addition to metal fine particles containing any one of silver, copper, palladium, and nickel, fine particles of conductive polymers and superconductors are used.

【0040】これらの導電性微粒子は、分散性を向上さ
せるために、表面に有機物等をコーティングして使用す
ることもできる。導電性微粒子の表面にコーティングす
るコーティング材としては、例えばゼラチンやポリビニ
ルアルコール等の高分子材料やクエン酸などが例示でき
る。
In order to improve dispersibility, these conductive fine particles may be used by coating the surface with an organic substance or the like. Examples of the coating material for coating the surface of the conductive fine particles include polymer materials such as gelatin and polyvinyl alcohol, and citric acid.

【0041】使用する分散媒としては、上記の導電性微
粒子を分散できるもので、凝集を起こさないものであれ
ば特に限定されない。
The dispersion medium used is not particularly limited as long as it can disperse the above-mentioned conductive fine particles and does not cause aggregation.

【0042】絶縁体を含む液状物としては、絶縁体を分
散媒に分散させた液状物、あるいは絶縁体を溶媒に溶解
させて得られた液状物を用いる。ここで用いられる絶縁
体の材質は、特に限定されるわけではなく、酸化シリコ
ンや窒化シリコンなどの無機物、あるいはポリイミド樹
脂やエポキシ樹脂などの有機物を用いることができる。
As the liquid material containing the insulator, a liquid material in which the insulator is dispersed in a dispersion medium or a liquid material obtained by dissolving the insulator in a solvent is used. The material of the insulator used here is not particularly limited, and an inorganic material such as silicon oxide or silicon nitride, or an organic material such as a polyimide resin or an epoxy resin can be used.

【0043】第1の液滴22aと第2の液滴24aの組
み合わせとしては、例えば第1の液滴22aとして粒子
分散液(アルバック社製;商品名パーフェクトシルバー
(主溶剤:トルエン))を用い、第2の液滴24aとし
て旭化成工業(株)製パイメル(主溶剤:N−メチル−
2−ピロリドン)を用いることができる。あるいは、例
えば第1の液滴22aとして、前記導電性微粒子をフェ
ノール樹脂やエポキシ樹脂に分散させ、必要に応じて溶
剤や硬化剤、分散剤、酸化防止剤などを混合したものを
用い、第2の液滴24aとしてエポキシ樹脂等を主成分
とするソルダーレジストを用いることができる。この場
合、フェノール樹脂やエポキシ樹脂は熱処理および/ま
たは光照射によって硬化させることができる。
As a combination of the first droplet 22a and the second droplet 24a, for example, a particle dispersion liquid (manufactured by ULVAC, Inc .; trade name Perfect Silver (main solvent: toluene)) is used as the first droplet 22a. As the second droplet 24a, Pymel manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd. (main solvent: N-methyl-
2-pyrrolidone) can be used. Alternatively, for example, as the first droplet 22a, the conductive fine particles are dispersed in a phenol resin or an epoxy resin, and if necessary, a solvent, a curing agent, a dispersant, an antioxidant, or the like is mixed, and the second droplet 22a is used. A solder resist containing an epoxy resin or the like as a main component can be used as the droplet 24a. In this case, the phenol resin or epoxy resin can be cured by heat treatment and / or light irradiation.

【0044】また、配線を形成すべき基板としては、S
iウエハ、石英ガラス、ガラス、プラスチックフィル
ム、金属板など各種のものを用いることができる。ま
た、これら各種の素材基板の表面に半導体膜、金属膜、
誘電体膜、有機膜などが下地層として形成されたもの
を、配線を形成すべき基板として用いることもできる。
The substrate on which the wiring is to be formed is S
Various materials such as i-wafer, quartz glass, glass, plastic film, and metal plate can be used. In addition, semiconductor films, metal films,
A dielectric film, an organic film, or the like formed as a base layer can also be used as a substrate on which wiring is to be formed.

【0045】(固化工程)次に、基板10上に第1およ
び第2の液滴22a,24aを吐出した後、これらの液
滴に含まれる分散媒や溶媒の除去等を行なうことによ
り、第1および第2の液滴22a,24aそれぞれに含
まれる膜形成成分の固化を行なう。
(Solidifying Step) Next, after the first and second droplets 22a and 24a are discharged onto the substrate 10, the dispersion medium and the solvent contained in these droplets are removed to obtain the first droplet. The film forming components contained in the first and second droplets 22a and 24a are solidified.

【0046】固化工程は、例えば、第1の液滴22aお
よび第2の液滴24aに対して熱処理および/または光
照射を行なうことにより行なわれる。この工程により、
導電膜22および絶縁膜24が形成される。例えば、熱
処理により、第1の液滴22aおよび/または第2の液
滴24aに含まれる液状物が蒸発および/または分解す
ることにより、前記液滴から液状物を除去することによ
り、前記液滴に含まれる膜形成成分が固化し、導電膜2
2および絶縁膜24が形成される。あるいは、例えば、
光照射により、第1の液滴22aおよび/または第2の
液滴24aに含まれる膜形成成分が固化(硬化)して、
導電膜22および絶縁膜24が形成される。この方法に
よれば、簡易な方法にて第1の液滴および第2の液滴に
含まれる膜形成成分をそれぞれ固化させることができ
る。
The solidifying step is carried out, for example, by subjecting the first droplet 22a and the second droplet 24a to heat treatment and / or light irradiation. By this process,
The conductive film 22 and the insulating film 24 are formed. For example, the liquid material contained in the first droplet 22a and / or the second droplet 24a is evaporated and / or decomposed by heat treatment, so that the liquid material is removed from the droplet, and thus the liquid droplet is removed. The film-forming components contained in solidify, and the conductive film 2
2 and the insulating film 24 are formed. Or, for example,
By the light irradiation, the film forming component contained in the first droplet 22a and / or the second droplet 24a is solidified (cured),
The conductive film 22 and the insulating film 24 are formed. According to this method, the film-forming components contained in the first droplet and the second droplet can be solidified by a simple method.

【0047】第1の液滴22aおよび第2の液滴24a
に対して熱処理を行ない、導電膜22および絶縁膜24
を形成する場合、例えば基板10を加熱する通常のホッ
トプレートや電気炉などによる処理の他、ランプアニー
ルによって行なうこともできる。ランプアニールに使用
する光の光源としては特に限定されないが、赤外線ラン
プ、キセノンランプ、YAGレーザ、アルゴンレーザ、
炭酸ガスレーザ、XeF、XeCl、XeBr、Kr
F、KrCl、ArF、ArClなどのエキシマレーザ
などを光源として用いることができる。
First droplet 22a and second droplet 24a
A heat treatment is performed on the conductive film 22 and the insulating film 24.
In the case of forming, a process such as an ordinary hot plate for heating the substrate 10 or an electric furnace, or a lamp annealing can be performed. The light source of light used for lamp annealing is not particularly limited, but an infrared lamp, a xenon lamp, a YAG laser, an argon laser,
Carbon dioxide laser, XeF, XeCl, XeBr, Kr
An excimer laser such as F, KrCl, ArF, or ArCl can be used as a light source.

【0048】また、この場合、熱処理工程は吐出工程と
平行し同時に進行させることも可能である。例えば、予
め加熱しておいた基板10に前記液滴を吐出したり、イ
ンクジェットヘッド12(図1参照)を冷却して、沸点
の低い分散媒を使用したりすることにより、基板10へ
前記液滴が着弾した直後から蒸発を進行させることがで
きる。以上の工程により、図1および図2に示すよう
に、隣り合う位置に複数の膜パターン(導電膜22およ
び絶縁膜24)を形成する。本実施の形態においては、
複数の導電膜22および絶縁膜24が、基板10と平行
な方向(ここではY方向)に交互に隣り合うように形成
された例を示す。すなわち、図2に示すように、基板1
0上に、複数の導電膜22が絶縁膜24を介して配置さ
れている。したがって、本実施の形態においては、隣り
合う位置に形成された複数のパターン(導電膜22と絶
縁膜24)は、互いに異なる機能を有する。この方法に
よれば、互いに機能が異なる複数の膜パターン(導電膜
22と絶縁膜24)を同時に形成することができるた
め、製造プロセスの工程の効率化を図ることができる。
加えて、導電膜22と絶縁膜24を、それぞれ所望の形
状に形成することができる。
Further, in this case, the heat treatment process can be carried out in parallel with the discharging process at the same time. For example, by ejecting the droplets onto the substrate 10 which has been heated in advance, or by cooling the inkjet head 12 (see FIG. 1) and using a dispersion medium having a low boiling point, the liquid can be transferred to the substrate 10. Evaporation can proceed immediately after the droplet has landed. Through the above steps, as shown in FIGS. 1 and 2, a plurality of film patterns (conductive film 22 and insulating film 24) are formed at adjacent positions. In the present embodiment,
An example is shown in which a plurality of conductive films 22 and insulating films 24 are formed so as to be alternately adjacent to each other in a direction parallel to the substrate 10 (here, the Y direction). That is, as shown in FIG.
0, a plurality of conductive films 22 are arranged via an insulating film 24. Therefore, in the present embodiment, the plurality of patterns (conductive film 22 and insulating film 24) formed at adjacent positions have different functions. According to this method, a plurality of film patterns having different functions (the conductive film 22 and the insulating film 24) can be simultaneously formed, so that the efficiency of the steps of the manufacturing process can be improved.
In addition, the conductive film 22 and the insulating film 24 can be formed in desired shapes.

【0049】本実施の形態の膜パターン形成方法によれ
ば、隣り合う位置に複数の膜パターンを精度良くかつ簡
易な方法により形成することができる。
According to the film pattern forming method of the present embodiment, it is possible to form a plurality of film patterns at adjacent positions with high accuracy and by a simple method.

【0050】また、本実施の形態においては、膜パター
ン形成方法の一例として導電膜配線の形成方法が例示さ
れている。この方法によれば、隣接する導電膜配線間の
絶縁性を確保しつつ、断線や短絡等の不良が生じにく
く、信頼性に優れた導電膜配線を、精度良くかつ簡潔な
方法により形成することができる。その理由について、
以下に、インクジェット法を用いた一般的な導電膜配線
の形成と比較しながら説明する。
In the present embodiment, a conductive film wiring forming method is exemplified as an example of the film pattern forming method. According to this method, it is possible to form a conductive film wiring that is highly reliable and is highly reliable, while ensuring insulation between adjacent conductive film wirings, while preventing defects such as disconnection and short circuit from occurring with high precision and a simple method. You can For the reason,
Hereinafter, description will be made in comparison with formation of a general conductive film wiring using an inkjet method.

【0051】インクジェット法を用いた一般的な導電膜
配線の形成方法においては、図27に示すように、導電
性材料を含む液滴(第1の液滴)を吐出し(S11)、
次いで、固化工程により該液滴に含まれる分散媒(溶
媒)を除去した後(S12)、膜質検査および位置合わ
せ工程を経て(S13,S14)、絶縁体を含む液滴
(第2の液滴)を吐出し(S15)、次いで、固化工程
により導電膜および絶縁膜を形成する(S16)。
In a general conductive film wiring forming method using the ink jet method, as shown in FIG. 27, a droplet (first droplet) containing a conductive material is discharged (S11),
Then, after the dispersion medium (solvent) contained in the droplets is removed by a solidification step (S12), a film quality inspection and a positioning step are performed (S13, S14), and then droplets containing an insulator (second droplets). ) Is discharged (S15), and then a conductive film and an insulating film are formed by a solidification process (S16).

【0052】これに対して、本実施の形態の導電膜配線
の形成方法によれば、図26に示すように、導電性材料
を含む液滴を吐出した後(S2)、続いて絶縁体を含む
液滴を吐出する(S3)。次いで、固化工程により、導
電膜および絶縁膜を形成する(S4)。
On the other hand, according to the method of forming the conductive film wiring of the present embodiment, as shown in FIG. 26, after discharging the droplet containing the conductive material (S2), the insulator is continuously formed. The containing droplet is discharged (S3). Then, a conductive film and an insulating film are formed by a solidification process (S4).

【0053】以上に説明したように、本実施の形態の導
電膜配線の形成方法によれば、導電膜とともに絶縁膜を
形成することができるため、製造プロセスの工程の効率
化を図ることができる。例えば、前記第1および第2の
液滴に含まれる液状物(分散媒)を熱処理にて蒸発等さ
せて除去する場合、前記液状物を除去する工程を一度で
行なうため、製造工程の簡略化を図ることができる。
As described above, according to the conductive film wiring forming method of the present embodiment, the insulating film can be formed together with the conductive film, so that the efficiency of the manufacturing process can be improved. . For example, when the liquid material (dispersion medium) contained in the first and second droplets is removed by heat treatment such as evaporation, the step of removing the liquid material is performed once, so that the manufacturing process is simplified. Can be achieved.

【0054】さらに、本実施の形態の導電膜配線の形成
方法によれば、微細な導電膜配線を精度良く形成するこ
とができる。
Furthermore, according to the conductive film wiring forming method of the present embodiment, fine conductive film wiring can be accurately formed.

【0055】なお、以上に説明したように、本実施の形
態においては、本発明の膜パターン形成方法の一例とし
て配線形成方法について説明したが、本発明の膜パター
ンの形成方法は配線形成方法に限定されるわけではな
く、液滴吐出法によって、互いに混ざり合わない複数の
液滴を吐出することにより、隣り合う位置に複数の膜パ
ターンを形成するものであれば、複数の液滴を構成する
材料(複数の膜パターンを構成する材料)は特に限定さ
れない。例えば、本発明の膜パターンの形成方法を用い
て、有機EL装置を構成する各層(例えば発光層および
正孔輸送/注入層)を形成することができる。また、本
実施の形態においては、吐出する液滴は第1の液滴と第
2の液滴の2種類の場合について説明したが、吐出する
液滴は2種類以上であってもよい。なお、これらの点
は、後述する第6および第9の実施の形態の膜パターン
形成方法においても同様である。
As described above, in the present embodiment, the wiring forming method has been described as an example of the film pattern forming method of the present invention, but the film pattern forming method of the present invention is not limited to the wiring forming method. However, the present invention is not limited to this, and a plurality of droplets may be formed as long as a plurality of film patterns are formed at adjacent positions by ejecting a plurality of droplets that are not mixed with each other by a droplet discharge method. The material (the material forming the plurality of film patterns) is not particularly limited. For example, each layer (for example, a light emitting layer and a hole transporting / injecting layer) forming the organic EL device can be formed by using the film pattern forming method of the present invention. Further, in the present embodiment, the case where two types of droplets to be ejected, that is, the first droplet and the second droplet have been described, but the number of ejected droplets may be two or more. These points are the same in the film pattern forming methods of the sixth and ninth embodiments described later.

【0056】[第2の実施の形態]第2の実施の形態で
は、本発明を適用した膜パターン形成装置の一例とし
て、上記第1の実施の形態に係る配線形成方法を実施す
るための配線形成装置について説明する。なお、後述す
る他の実施形態においても、本実施の形態に係る膜パタ
ーン形成装置を同様に適用することができる。
[Second Embodiment] In the second embodiment, as an example of a film pattern forming apparatus to which the present invention is applied, a wiring for carrying out the wiring forming method according to the first embodiment described above. The forming device will be described. Note that the film pattern forming apparatus according to this embodiment can be similarly applied to other embodiments described later.

【0057】図3は、本実施の形態にかかる配線形成装
置の概略斜視図である。図3に示すように、配線形成装
置100は、インクジェットヘッド群1と、インクジェ
ットヘッド群1をX方向に駆動するためのX方向ガイド
軸2と、X方向ガイド軸2を回転させるX方向駆動モー
タ3とを備えている。
FIG. 3 is a schematic perspective view of the wiring forming apparatus according to this embodiment. As shown in FIG. 3, the wiring forming apparatus 100 includes an inkjet head group 1, an X-direction guide shaft 2 for driving the inkjet head group 1 in the X direction, and an X-direction drive motor for rotating the X-direction guide shaft 2. 3 and 3.

【0058】また、基板Wを載置するための載置台4
と、載置台4をY方向に駆動するためのY方向ガイド軸
5と、Y方向駆動モータ6とを備えている。
The mounting table 4 for mounting the substrate W thereon
And a Y-direction guide shaft 5 for driving the mounting table 4 in the Y-direction, and a Y-direction drive motor 6.

【0059】また、X方向ガイド軸2とY方向ガイド軸
5とが、各々所定の位置に固定される基台7を備え、そ
の基台7の下部には、制御装置8を備えている。
The X-direction guide shaft 2 and the Y-direction guide shaft 5 each include a base 7 fixed to a predetermined position, and a control device 8 is provided below the base 7.

【0060】さらに、クリーニング機構部14およびヒ
ータ15とを備えている。
Further, the cleaning mechanism portion 14 and the heater 15 are provided.

【0061】インクジェットヘッド群1は、導電性微粒
子を含有する分散液と、絶縁体を含有する分散液とをそ
れぞれ、ノズル(吐出口)から吐出して所定間隔で基板
に付与するインクジェットヘッドを備えている。このイ
ンクジェットヘッドは、導電性微粒子を含有する分散液
と、絶縁体を含有する分散液とに対して、それぞれ専用
のインクジェットヘッドを設置することができる。そし
て、これらのインクジェットヘッド各々から、制御装置
8から供給される吐出電圧に応じて個別に分散液を吐出
できるようになっている。なお、導電性微粒子を含有す
る分散液と、絶縁体を含有する分散液とを、同一のイン
クジェットヘッドによって吐出させるようにしてもよ
い。
The ink jet head group 1 is provided with an ink jet head for ejecting a dispersion liquid containing conductive fine particles and a dispersion liquid containing an insulator from nozzles (ejection ports) and applying them to a substrate at predetermined intervals. ing. In this inkjet head, a dedicated inkjet head can be installed for each of the dispersion liquid containing conductive fine particles and the dispersion liquid containing an insulator. Then, the dispersion liquid can be individually ejected from each of these inkjet heads in accordance with the ejection voltage supplied from the control device 8. The dispersion liquid containing the conductive fine particles and the dispersion liquid containing the insulator may be ejected by the same inkjet head.

【0062】インクジェットヘッド群1はX方向ガイド
軸2に固定され、X方向ガイド軸2には、X方向駆動モ
ータ3が接続されている。X方向駆動モータ3は、ステ
ッピングモータ等であり、制御装置8からX方向の駆動
パルス信号が供給されると、X方向ガイド軸2を回転さ
せるようになっている。そして、X方向ガイド軸2が回
転させられると、インクジェットヘッド群1が基台7に
対してX軸または−X軸方向に移動するようになってい
る。
The ink jet head group 1 is fixed to the X-direction guide shaft 2, and the X-direction guide motor 2 is connected to the X-direction guide shaft 2. The X-direction drive motor 3 is a stepping motor or the like, and is configured to rotate the X-direction guide shaft 2 when a drive pulse signal in the X direction is supplied from the control device 8. When the X-direction guide shaft 2 is rotated, the inkjet head group 1 moves in the X-axis or -X-axis direction with respect to the base 7.

【0063】載置台4は、この配線形成装置100によ
って分散液を付与される基板Wを載置させるもので、こ
の基板Wを基準位置に固定する機構を備えている。
The mounting table 4 mounts the substrate W to which the dispersion liquid is applied by the wiring forming apparatus 100, and has a mechanism for fixing the substrate W at the reference position.

【0064】載置台4はY方向ガイド軸5に固定され、
Y方向ガイド軸5には、Y方向駆動モータ6,16が接
続されている。Y方向駆動モータ6,16は、ステッピ
ングモータ等を含む移動ユニットであり、制御装置8か
らY軸方向の駆動パルス信号が供給されると、Y方向ガ
イド軸5を解放させるようになっている。そして、Y方
向ガイド軸5が解放させられると、載置台4が基台7に
対してY軸または−Y軸方向に移動するようになってい
る。
The mounting table 4 is fixed to the Y-direction guide shaft 5,
The Y-direction drive shafts 6 and 16 are connected to the Y-direction guide shaft 5. The Y-direction drive motors 6 and 16 are moving units including stepping motors and the like, and are configured to release the Y-direction guide shaft 5 when a drive pulse signal in the Y-axis direction is supplied from the control device 8. Then, when the Y-direction guide shaft 5 is released, the mounting table 4 moves in the Y-axis or −Y-axis direction with respect to the base 7.

【0065】クリーニング機構部14は、インクジェッ
トヘッド群をクリーニングする機構を備えている。クリ
ーニング機構部14は、Y方向の駆動モータ16によっ
てY方向ガイド軸5に沿って移動するようになってい
る。クリーニング機構部14の移動も、制御装置8によ
って制御されている。
The cleaning mechanism section 14 has a mechanism for cleaning the ink jet head group. The cleaning mechanism unit 14 is configured to move along the Y-direction guide shaft 5 by the Y-direction drive motor 16. The movement of the cleaning mechanism unit 14 is also controlled by the control device 8.

【0066】ヒータ15は、ここではランプアニールに
より基板Wを熱処理する手段であり、基板上に吐出され
た液滴に含まれる液状物の蒸発を行ない、導電膜または
絶縁膜に変換するための熱処理を行なうようになってい
る。このヒータ15の電源の投入および遮断も制御装置
8によって制御されるようになっている。なお、前記液
滴を光照射により固化させる場合は、ヒータ15のかわ
りに、光照射装置を設置することができる。
The heater 15 is a means for heat-treating the substrate W by lamp annealing here, and is a heat treatment for evaporating the liquid material contained in the droplets discharged onto the substrate and converting it into a conductive film or an insulating film. Is designed to do. The controller 8 also controls the turning on and off of the power of the heater 15. When the droplets are solidified by light irradiation, a light irradiation device can be installed instead of the heater 15.

【0067】本実施の形態の配線形成装置100におい
て、所定の配線形成領域に分散液を吐出するためには、
制御装置8からの所定の駆動パルス信号をX方向駆動モ
ータ3および/またはY方向駆動モータ6とに供給し、
インクジェットヘッド群1および/または載置台4を移
動させることにより、インクジェットヘッド群1と基板
W(載置台4)とを相対移動させる。そして、この相対
移動の間にインクジェットヘッド群1における所定のイ
ンクジェットヘッドに制御装置8からの吐出電圧を供給
し、当該インクジェットヘッドから分散液を吐出させ
る。
In the wiring forming apparatus 100 of this embodiment, in order to discharge the dispersion liquid to a predetermined wiring forming region,
A predetermined drive pulse signal from the control device 8 is supplied to the X-direction drive motor 3 and / or the Y-direction drive motor 6,
By moving the inkjet head group 1 and / or the mounting table 4, the inkjet head group 1 and the substrate W (mounting table 4) are relatively moved. Then, during this relative movement, an ejection voltage from the control device 8 is supplied to a predetermined inkjet head in the inkjet head group 1 to eject the dispersion liquid from the inkjet head.

【0068】本実施の形態の配線形成装置100におい
て、インクジェットヘッド群1の各ヘッドからの液滴の
吐出量は、制御装置8から供給される吐出電圧の大きさ
によって調整できる。
In the wiring forming apparatus 100 of the present embodiment, the amount of droplets ejected from each head of the inkjet head group 1 can be adjusted by the magnitude of the ejection voltage supplied from the controller 8.

【0069】また、基板Wに吐出される液滴のピッチ
は、インクジェットヘッド群1と基板W(載置台4)と
び相対移動速度およびインクジェットヘッド群1からの
吐出周波数(吐出電圧供給の周波数)によって決定され
る。
The pitch of the liquid droplets discharged onto the substrate W depends on the relative movement speed between the inkjet head group 1 and the substrate W (mounting table 4) and the discharge frequency from the inkjet head group 1 (frequency of discharge voltage supply). It is determined.

【0070】本実施の形態の膜パターンの形成装置によ
れば、隣り合う位置に複数の膜パターンを精度良くかつ
簡易に形成することができる。
According to the film pattern forming apparatus of the present embodiment, a plurality of film patterns can be accurately and easily formed at the adjacent positions.

【0071】[第3の実施の形態]第3の実施の形態で
は、本発明を適用した導電膜配線の一例について説明す
る。
[Third Embodiment] In the third embodiment, an example of a conductive film wiring to which the present invention is applied will be described.

【0072】図4は、本発明を適用した第3の実施の形
態に係る導電膜配線を模式的に示す平面図である。な
お、図4においては、配線間に形成された絶縁膜24
(図5(a)参照)の図示は省略されている。図5
(a)は、図4に示す領域Bの拡大模式図であり、図5
(b)は、図5(a)のC−Cに沿った断面を模式的に
示す図である。
FIG. 4 is a plan view schematically showing conductive film wiring according to the third embodiment of the present invention. In FIG. 4, the insulating film 24 formed between the wirings
Illustration (see FIG. 5A) is omitted. Figure 5
FIG. 5A is an enlarged schematic diagram of a region B shown in FIG.
(B) is a figure which shows typically the cross section along CC of Fig.5 (a).

【0073】本実施の形態においては、第1の実施の形
態の配線形成方法によって得られる導電膜22および絶
縁膜24を、半導体ICチップ30の再配置配線に適用
した場合について説明する。また、この導電膜22およ
び絶縁膜24は、第2の実施の形態の配線形成装置によ
って形成することができる。
In this embodiment, the case where the conductive film 22 and the insulating film 24 obtained by the wiring forming method of the first embodiment are applied to the rearrangement wiring of the semiconductor IC chip 30 will be described. Further, the conductive film 22 and the insulating film 24 can be formed by the wiring forming device according to the second embodiment.

【0074】半導体ICチップ30には、図4に示すよ
うに、外縁部近傍に形成された端子34と、この端子3
4よりも内側に形成された再配置端子32とが形成され
ている。この端子34と再配置端子32とは、配線(導
電膜配線)22によって電気的に接続されている。すな
わち、この導電膜22が再配置配線として機能する。
As shown in FIG. 4, the semiconductor IC chip 30 has terminals 34 formed in the vicinity of the outer edge portion and the terminals 34.
The rearrangement terminal 32 formed inside 4 is formed. The terminals 34 and the rearrangement terminals 32 are electrically connected by the wiring (conductive film wiring) 22. That is, the conductive film 22 functions as a rearrangement wiring.

【0075】この半導体ICチップ30には、例えば領
域Bのように、導電膜22が密に形成されている部分が
存在する。本実施の形態の導電膜配線は、第1の実施の
形態の配線形成方法によって、第2の実施の形態の配線
形成装置を用いて形成されるため、隣り合う導電膜22
間に絶縁膜24を配置することによって絶縁性を確保す
ることができる(図5(a)および図5(b)参照)。
これにより、簡易な方法にて得られ、断線や短絡等の不
良が生じにくく、しかも、かつ微細化された導電膜配線
を得ることができる。
The semiconductor IC chip 30 has a portion where the conductive film 22 is densely formed, such as the region B. Since the conductive film wiring according to the present embodiment is formed by the wiring forming method according to the first embodiment using the wiring forming apparatus according to the second embodiment, adjacent conductive films 22 are formed.
The insulating property can be ensured by disposing the insulating film 24 therebetween (see FIGS. 5A and 5B).
As a result, it is possible to obtain a conductive film wiring which is obtained by a simple method, is less likely to cause defects such as disconnection and short circuit, and is miniaturized.

【0076】[第4の実施の形態]第4の実施の形態で
は、本発明を適用した導電膜配線の一例について説明す
る。図6(d)は本発明を適用した第4の実施の形態に
係る導電膜配線を模式的に示す断面図であり、図6
(a)〜図6(c)はそれぞれ、図6(d)に示す導電
膜配線の一製造工程を模式的に示す断面図である。
[Fourth Embodiment] In the fourth embodiment, an example of a conductive film wiring to which the present invention is applied will be described. FIG. 6D is a sectional view schematically showing the conductive film wiring according to the fourth embodiment of the present invention.
6A to 6C are cross-sectional views each schematically showing one manufacturing process of the conductive film wiring shown in FIG. 6D.

【0077】本実施の形態においては、第1の実施の形
態の配線形成方法によって得られる導電膜22を、プリ
ント基板40の多層配線に形成した場合について説明す
る。また、この導電膜22は、第2の実施の形態の配線
形成装置によって形成することができる。
In this embodiment, the case where the conductive film 22 obtained by the wiring forming method of the first embodiment is formed on the multilayer wiring of the printed board 40 will be described. Further, the conductive film 22 can be formed by the wiring forming device according to the second embodiment.

【0078】プリント基板40には、図6(d)に示す
ように、導電層42が形成されたベース基板41の上
に、複数の配線層(導電膜22)が多層(図6(d)に
おいては6層)積層されている。このベース基板41の
上に導電膜22が多層積層されている。X方向に隣り合
う導電膜22の間には、絶縁膜24が配置されている。
本実施の形態で用いる絶縁膜24の材質としては、ポリ
イミド樹脂を例示することができる。
On the printed circuit board 40, as shown in FIG. 6D, a plurality of wiring layers (conductive films 22) are provided in multiple layers on the base substrate 41 on which the conductive layer 42 is formed (FIG. 6D). 6 layers) are laminated. The conductive film 22 is laminated in multiple layers on the base substrate 41. An insulating film 24 is arranged between the conductive films 22 adjacent to each other in the X direction.
As a material of the insulating film 24 used in the present embodiment, a polyimide resin can be exemplified.

【0079】このプリント基板40を製造するために
は、図6(a)〜図6(c)に示すように、第1の実施
の形態の配線形成方法と同様の方法にて、液滴吐出法に
て第1および第2の液滴22a,24aを所定の位置に
吐出して、1層ずつ層を積層していき、複数の配線層を
形成する。所定の層を積層した後、前記液滴に含まれる
分散媒や溶媒の除去を行ない、第1および第2の液滴2
2a,24aそれぞれに含まれる膜形成成分の固化を行
なう。固化は、第1の実施の形態の欄で説明した方法を
用いることができる。以上の工程により、図6(d)に
示すプリント基板40が得られる。
In order to manufacture this printed circuit board 40, as shown in FIGS. 6 (a) to 6 (c), droplet discharge is carried out by the same method as the wiring forming method of the first embodiment. The first and second droplets 22a and 24a are ejected at predetermined positions by a method to stack layers one by one to form a plurality of wiring layers. After laminating a predetermined layer, the dispersion medium and the solvent contained in the droplets are removed to obtain the first and second droplets 2.
The film forming components contained in 2a and 24a are solidified. For the solidification, the method described in the section of the first embodiment can be used. Through the above steps, the printed circuit board 40 shown in FIG. 6D is obtained.

【0080】なお、本実施の形態では、形成すべき配線
層をすべて形成した後に溶媒等の除去を行なって各層を
固化する場合について説明したが、導電膜22および絶
縁膜24からなる配線層を1層または数層形成する毎に
溶媒等の除去等を行なうことにより、膜形成成分の固化
を行なってもよい。
In the present embodiment, the case has been described in which all the wiring layers to be formed are removed and then the solvent or the like is removed to solidify the respective layers. However, the wiring layer including the conductive film 22 and the insulating film 24 is formed. The film-forming components may be solidified by removing the solvent or the like every time one layer or several layers are formed.

【0081】本実施の形態によれば、簡易な方法にて得
られ、断線や短絡等の不良が生じにくく、しかも、かつ
微細化された多層配線を得ることができる。
According to this embodiment, it is possible to obtain a miniaturized multilayer wiring which is obtained by a simple method, is less likely to cause defects such as disconnection and short circuit.

【0082】[第5の実施の形態]第5の実施の形態で
は、本発明を適用した半導体装置の実装構造の一例につ
いて説明する。図7は、本発明を適用した半導体装置の
実装構造の一例たる第5の実施の形態に係るCPU搭載
基板50を模式的に示す断面図である。
[Fifth Embodiment] In the fifth embodiment, an example of a mounting structure of a semiconductor device to which the present invention is applied will be described. FIG. 7 is a sectional view schematically showing a CPU mounting board 50 according to a fifth embodiment, which is an example of a semiconductor device mounting structure to which the present invention is applied.

【0083】第5の実施の形態に係るCPU搭載基板5
0は、図7に示すように、第4の実施の形態に係るプリ
ント基板40を備えている。プリント基板40の上方に
は、CPU58が搭載されている。このCPU58は、
ボールバンプ53を介してプリント基板40と電気的に
接続されている。CPU58の上には緩衝材56が配置
されている。この緩衝材56は放熱材としても機能し、
CPU58の上にはこの緩衝材56を介してカバー58
が配置されている。
CPU mounting board 5 according to the fifth embodiment
As shown in FIG. 7, 0 has a printed circuit board 40 according to the fourth embodiment. A CPU 58 is mounted above the printed circuit board 40. This CPU 58
The printed circuit board 40 is electrically connected via the ball bumps 53. A cushioning material 56 is arranged on the CPU 58. This cushioning material 56 also functions as a heat dissipation material,
A cover 58 is provided on the CPU 58 via the cushioning material 56.
Are arranged.

【0084】本実施の形態によれば、簡易な方法にて得
られ、断線や短絡等の不良が生じにくく、しかも、かつ
微細化されたCPU搭載基板を得ることができる。
According to the present embodiment, it is possible to obtain a miniaturized CPU mounting board which is obtained by a simple method, is less likely to cause defects such as disconnection and short circuit.

【0085】[第6の実施の形態]第6の実施の形態と
して、本発明の膜パターン形成方法の一例である導電膜
配線形成方法について説明する。図8(a)は、本発明
を適用した第6の実施の形態に係る膜パターンの形成方
法を模式的に示す断面図である。図8(b)は、第6実
施の形態に係る膜パターンの形成方法によって形成され
た膜パターンを模式的に示す断面図である。図8(c)
は、第6の実施の形態に係る膜パターンの形成方法によ
って形成された膜パターンを模式的に示す平面図であ
る。なお、図8(b)は、図8(c)のE−Eに沿った
断面に相当する。
[Sixth Embodiment] As a sixth embodiment, a conductive film wiring forming method which is an example of the film pattern forming method of the present invention will be described. FIG. 8A is a sectional view schematically showing a film pattern forming method according to a sixth embodiment of the present invention. FIG. 8B is a sectional view schematically showing a film pattern formed by the film pattern forming method according to the sixth embodiment. Figure 8 (c)
[FIG. 10] is a plan view schematically showing a film pattern formed by the film pattern forming method according to the sixth embodiment. Note that FIG. 8B corresponds to a cross section taken along line E-E of FIG.

【0086】本実施の形態においては、複数の液滴をほ
ぼ同一位置に重ねて吐出することにより、複数の膜パタ
ーンを、基板と垂直方向に隣り合うように形成する場合
について説明する。具体的には、導電性微粒子を含む液
状物(第1の液滴62a)と、絶縁体を含む液状物(第
2の液滴64a)とを、ほぼ同一位置に重ねて吐出す
る。その後、溶媒等を除去することにより膜形成成分を
固化し、導電膜62と絶縁膜64とを基板10と垂直方
向(図8(b)および図(c)に示すZ方向)に隣り合
うように形成する。さらに、本実施の形態においては、
導電膜62が絶縁膜64によって覆われるように形成さ
れる。また、隣り合う位置に形成された複数のパターン
(導電膜62と絶縁膜64)は、互いに異なる機能を有
する。
In the present embodiment, a case will be described in which a plurality of film patterns are formed so as to be adjacent to each other in the direction perpendicular to the substrate by superimposing a plurality of liquid droplets at substantially the same position and discharging them. Specifically, the liquid material containing the conductive fine particles (first droplets 62a) and the liquid material containing the insulator (second droplets 64a) are superposed and ejected at substantially the same position. After that, the solvent or the like is removed to solidify the film-forming components so that the conductive film 62 and the insulating film 64 are adjacent to the substrate 10 in the vertical direction (Z direction shown in FIGS. 8B and 8C). To form. Furthermore, in the present embodiment,
The conductive film 62 is formed so as to be covered with the insulating film 64. Further, the plurality of patterns (the conductive film 62 and the insulating film 64) formed at the adjacent positions have different functions.

【0087】第1の液滴62aおよび第2の液滴64a
はそれぞれ、第1の実施の形態の配線形成方法にて用い
た第1の液滴22aおよび第2の液滴24aと同様の材
質を用いることができる。
First droplet 62a and second droplet 64a
Can be made of the same material as that of the first droplet 22a and the second droplet 24a used in the wiring forming method of the first embodiment.

【0088】また、第1の液滴62aを構成する液状物
を、第2の液滴64aを構成する液状物よりも沸点が低
くすることができる。本実施の形態においては、第1の
液滴62aよりも上部に第2の液滴64aが形成されて
いるため、第1の液滴62aを構成する液状物として、
第2の液滴64aを構成する液状物よりも沸点が低い材
料を用いることにより、第1の液滴62aを構成する液
状物を、より容易に除去することができる。
Further, the boiling point of the liquid material forming the first droplet 62a can be made lower than that of the liquid material forming the second droplet 64a. In the present embodiment, since the second droplet 64a is formed above the first droplet 62a, as the liquid substance forming the first droplet 62a,
By using a material having a lower boiling point than the liquid material forming the second droplet 64a, the liquid material forming the first droplet 62a can be more easily removed.

【0089】本実施の形態に係る配線形成方法は主に、
第1および第2の液滴62a,64aの吐出工程と、固
化工程とを含む。このうち、固化工程については、第1
の実施の形態の配線形成方法と同様であるため、本実施
の形態においては、第1および第2の液滴62a,64
aの吐出工程についてのみ説明する。
The wiring forming method according to the present embodiment mainly includes
It includes a discharging step of the first and second droplets 62a and 64a and a solidifying step. Of these, the solidification step is the first
Since it is the same as the wiring forming method of the first embodiment, in the present embodiment, the first and second droplets 62a, 64 are formed.
Only the ejection step of a will be described.

【0090】本実施の形態においては、図8(a)に示
すように、導電性微粒子を含む液状物(第1の液滴62
a)を吐出するノズル11aと、絶縁体を含む液状物
(第2の液滴64a)を吐出するノズル11bとが隣接
して設置されたインクジェットヘッド72を用いる。こ
のインクジェットヘッド72を、図8(a)に示すY方
向に移動させながら、第1の液滴62aと第2の液滴6
4aとを、ほぼ同一位置に重ねて吐出することにより、
基板10上へ向けて(図8(b)および図(c)に示す
−Z方向へ)これらの液滴を着弾させる。より具体的に
は、第1の液滴62aを着弾させた直後に、第2の液滴
64aを第1の液滴62aに重ねるように着弾させるの
が好ましい。第1の液滴62aおよび第2の液滴64a
は、互いに混ざり合わない物質からなるため、これらの
液滴は互いに分離したままである。以上の工程により、
第1の液滴62aと第2の液滴64aが基板10と垂直
方向(図8(b)および図8(c)におけるZ方向)に
隣り合うように形成され、かつ、基板10と平行方向
(図8(b)および図8(c)におけるY方向)に延び
るパターンが形成される。次いで、第1の実施の形態の
配線形成方法における方法と同様の方法にて、固化工程
を行なう。以上の工程により、図8(b)および図8
(c)に示すように、隣り合う位置に複数の膜パターン
(導電膜62および絶縁膜64)が形成される。
In the present embodiment, as shown in FIG. 8A, a liquid substance (first droplets 62) containing conductive fine particles is used.
An inkjet head 72 is used in which a nozzle 11a for ejecting a) and a nozzle 11b for ejecting a liquid substance (second droplet 64a) containing an insulator are installed adjacent to each other. While moving the inkjet head 72 in the Y direction shown in FIG. 8A, the first droplet 62a and the second droplet 6 are formed.
By discharging 4a and 4a at almost the same position,
These droplets are landed toward the substrate 10 (in the −Z direction shown in FIGS. 8B and 8C). More specifically, it is preferable that the second droplet 64a is landed so as to overlap the first droplet 62a immediately after landing the first droplet 62a. First droplet 62a and second droplet 64a
Are composed of substances that do not mix with each other, so that these droplets remain separated from each other. By the above process,
The first droplet 62a and the second droplet 64a are formed so as to be adjacent to the substrate 10 in the vertical direction (Z direction in FIGS. 8B and 8C), and are parallel to the substrate 10. A pattern extending in (Y direction in FIGS. 8B and 8C) is formed. Then, the solidifying step is performed by the same method as the method for forming the wiring according to the first embodiment. Through the above steps, FIG. 8B and FIG.
As shown in (c), a plurality of film patterns (conductive film 62 and insulating film 64) are formed at adjacent positions.

【0091】本実施の形態の配線形成方法によれば、複
数の膜パターンを、基板10と垂直方向に隣り合う位置
に形成することができる。特に、本実施の形態において
は、複数の膜パターンが導電膜62および絶縁膜64か
らなり、絶縁膜64で覆われた導電膜62を液滴吐出法
にて形成することができる。これにより、絶縁膜で保護
された導電膜配線を、簡易な方法にて形成することがで
きる。
According to the wiring forming method of the present embodiment, a plurality of film patterns can be formed at positions adjacent to the substrate 10 in the vertical direction. In particular, in this embodiment, a plurality of film patterns are formed of the conductive film 62 and the insulating film 64, and the conductive film 62 covered with the insulating film 64 can be formed by a droplet discharge method. Thus, the conductive film wiring protected by the insulating film can be formed by a simple method.

【0092】[第7の実施の形態]第7の実施の形態で
は、本発明を適用した非接触型カード媒体の一例につい
て説明する。図9は、本実施の形態に係る非接触型カー
ド媒体400を模式的に示す分解斜視図である。
[Seventh Embodiment] In the seventh embodiment, an example of a non-contact type card medium to which the present invention is applied will be described. FIG. 9 is an exploded perspective view schematically showing the non-contact type card medium 400 according to the present embodiment.

【0093】(デバイスの構造)本実施の形態に係る非
接触型カード媒体400は図9に示すように、カード基
体402とカードカバー418からなる筐体内に、半導
体集積回路チップ408とアンテナ回路412とを内蔵
し、図示されない外部の送受信機と電磁波または静電容
量結合の少なくとも一方により電力供給あるいはデータ
授受の少なくもとも一方を行なうようになっている。
(Structure of Device) As shown in FIG. 9, a non-contact type card medium 400 according to the present embodiment has a semiconductor integrated circuit chip 408 and an antenna circuit 412 in a housing composed of a card base 402 and a card cover 418. Is built in, and at least one of power supply and data transfer is performed by an electromagnetic wave or at least one of capacitive coupling with an external transceiver (not shown).

【0094】本実施の形態では、アンテナ回路412の
一部(図9に示す領域I)が、第2実施形態に係る配線
形成装置を用いて、第6実施形態に係る配線形成方法
(図8参照)によって形成された導電膜配線からなる。
すなわち、アンテナ回路412の領域Iにおいては、導
電膜62と、導電膜62を覆うように形成された絶縁膜
64とから構成されている。アンテナ回路412におい
て領域I以外の部分は、導電膜62上に絶縁膜64が形
成されていない。絶縁膜64は、アンテナ回路412の
うち少なくとも上部に配線が形成されている領域に形成
される。
In this embodiment, a part of the antenna circuit 412 (region I shown in FIG. 9) is formed by using the wiring forming apparatus according to the second embodiment (FIG. 8). (See reference).
That is, the region I of the antenna circuit 412 includes the conductive film 62 and the insulating film 64 formed so as to cover the conductive film 62. The insulating film 64 is not formed on the conductive film 62 except for the region I in the antenna circuit 412. The insulating film 64 is formed in at least a region of the antenna circuit 412 where wiring is formed.

【0095】また、端子66,68は、配線65を介し
て電気的に接続されている。この配線65の一部は、絶
縁膜64上に形成されている。すなわち、配線65と導
電膜62とは、絶縁膜64によって絶縁されている。こ
の構成によれば、アンテナ回路412の一部を、第6の
実施の形態の配線形成方法によって形成することによ
り、絶縁層を導電膜62の上に別途形成する工程を経る
ことなく、少なくとも上層の配線(配線65)と下層の
配線(導電膜62)との絶縁性を確保したい箇所に、絶
縁膜(絶縁膜64)を形成することができる。
The terminals 66 and 68 are electrically connected to each other via the wiring 65. A part of the wiring 65 is formed on the insulating film 64. That is, the wiring 65 and the conductive film 62 are insulated by the insulating film 64. According to this configuration, a part of the antenna circuit 412 is formed by the wiring forming method of the sixth embodiment, so that at least the upper layer can be formed without a step of separately forming the insulating layer on the conductive film 62. The insulating film (insulating film 64) can be formed at a position where insulation between the wiring (wiring 65) and the underlying wiring (conductive film 62) is desired to be secured.

【0096】(デバイスの製造方法)次に、図10およ
び図11に、本実施の形態に係る非接触型カード媒体4
00の製造方法の一例を示す。図10(a)および図1
1(a)はそれぞれ、図9に示す非接触型カード媒体の
一製造工程を模式的に示す平面図である。また、図10
(b)および図11(b)はそれぞれ、図10(a)お
よび図11(a)のJ−Jにおける断面を模式的に示す
断面図である。
(Device Manufacturing Method) Next, referring to FIGS. 10 and 11, the non-contact type card medium 4 according to the present embodiment.
An example of the manufacturing method of 00 is shown. FIG. 10A and FIG.
1A is a plan view schematically showing one manufacturing process of the non-contact type card medium shown in FIG. In addition, FIG.
(B) and FIG. 11 (b) are cross-sectional views schematically showing cross sections taken along line JJ of FIG. 10 (a) and FIG.

【0097】まず、図10(a)および図10(b)に
示すように、アンテナ回路412を構成する導電膜62
を、第2の実施の形態の配線形成装置によって形成す
る。ここで、アンテナ回路412の一部(領域I)を、
第6の実施の形態の配線形成方法と同様の方法を用いて
形成する。これにより、アンテナ回路412の領域Iに
おいて、導電膜62を覆うように絶縁膜64が形成され
る。アンテナ回路412において、領域I以外の部分
は、導電膜62上に絶縁膜64が形成されない。
First, as shown in FIGS. 10A and 10B, the conductive film 62 that constitutes the antenna circuit 412.
Are formed by the wiring forming apparatus of the second embodiment. Here, a part (area I) of the antenna circuit 412 is
It is formed by using the same method as the wiring forming method of the sixth embodiment. Thus, the insulating film 64 is formed so as to cover the conductive film 62 in the region I of the antenna circuit 412. In the antenna circuit 412, the insulating film 64 is not formed on the conductive film 62 except the region I.

【0098】次いで、図11(a)および図11(b)
に示すように、端子66,68を電気的に接続する配線
65を形成する。ここで、配線65の一部は、導電膜6
2の上方に絶縁膜64を介して形成される。以上の工程
により、非接触型カード媒体400が得られる。
Next, FIG. 11A and FIG. 11B
As shown in FIG. 5, the wiring 65 that electrically connects the terminals 66 and 68 is formed. Here, a part of the wiring 65 is a part of the conductive film 6.
2 is formed over the insulating film 64. The non-contact type card medium 400 is obtained by the above steps.

【0099】本実施の形態の非接触型カード媒体400
によれば、アンテナ回路412の断線や短絡等の不良が
生じにくく、しかも、小型化および薄型化が可能な非接
触型カード媒体とすることができる。
Non-contact type card medium 400 of the present embodiment
According to this, it is possible to provide a non-contact type card medium that is less likely to cause a failure such as a disconnection or a short circuit of the antenna circuit 412 and can be made smaller and thinner.

【0100】[第8の実施の形態]第8の実施の形態で
は、本発明を適用した導電膜配線の一例について説明す
る。
[Eighth Embodiment] In the eighth embodiment, an example of a conductive film wiring to which the present invention is applied will be described.

【0101】図12は、本発明を適用した第8の実施の
形態に係る導電膜配線を模式的に示す平面図である。な
お、図12においては、配線間に形成された絶縁膜64
(図13(c)参照)の図示は省略されている。図13
(a)〜図13(c)はそれぞれ、図12に示す導電膜
配線の一製造工程を模式的に示す断面図であり、それぞ
れ図12のF−Fに沿った断面に対応する。
FIG. 12 is a plan view schematically showing conductive film wiring according to the eighth embodiment of the present invention. In FIG. 12, the insulating film 64 formed between the wirings
Illustration (see FIG. 13C) is omitted. FIG.
13A to 13C are cross-sectional views each schematically showing one manufacturing process of the conductive film wiring shown in FIG. 12, and each corresponds to a cross section taken along line FF of FIG.

【0102】本実施の形態においては、第6の実施の形
態の配線形成方法によって得られる導電膜62および絶
縁膜64を、半導体ICチップ80の再配置配線に適用
した場合について説明する。
In this embodiment, the case where the conductive film 62 and the insulating film 64 obtained by the wiring forming method of the sixth embodiment are applied to the rearrangement wiring of the semiconductor IC chip 80 will be described.

【0103】半導体ICチップ80には、図12に示す
ように、外縁部近傍に形成された端子82と、この端子
82よりも内側に形成された再配置端子84とが形成さ
れている。この端子82と再配置端子84とは、配線
(導電膜配線)62によって電気的に接続されている。
すなわち、この導電膜62が再配置配線として機能す
る。
As shown in FIG. 12, the semiconductor IC chip 80 is provided with terminals 82 formed near the outer edge and repositioning terminals 84 formed inside the terminals 82. The terminal 82 and the rearrangement terminal 84 are electrically connected by a wiring (conductive film wiring) 62.
That is, the conductive film 62 functions as a rearrangement wiring.

【0104】次に、この半導体ICチップ80の製造方
法について、図13(a)〜図13(c)を参照して説
明する。
Next, a method of manufacturing the semiconductor IC chip 80 will be described with reference to FIGS. 13 (a) to 13 (c).

【0105】まず、図13(a)に示すように、基板8
1の所定位置に、例えばアルミや金などの金属層からな
る端子(パッド)82を形成した後、全面に、例えばポ
リイミド樹脂からなる絶縁層83を形成する。次いで、
絶縁層83において端子82の上部に相当する位置に開
口部85を形成する。
First, as shown in FIG. 13A, the substrate 8
After a terminal (pad) 82 made of a metal layer such as aluminum or gold is formed at a predetermined position of 1, an insulating layer 83 made of a polyimide resin is formed on the entire surface. Then
An opening 85 is formed in the insulating layer 83 at a position corresponding to the upper portion of the terminal 82.

【0106】次いで、図13(b)に示すように、第6
の実施の形態の配線形成方法と同様の方法にて、第1の
液滴62aと第2の液滴64aを吐出する。この工程に
おいて、後に再配置端子84が形成される位置には、第
2の液滴64aを吐出しない。これにより、第2の液滴
64aに開口部87が形成される。次いで、これらの液
滴の溶媒等を除去して膜形成成分を固化し、導電膜62
および絶縁膜64を形成する。
Then, as shown in FIG. 13B, the sixth
The first droplet 62a and the second droplet 64a are ejected by the same method as the wiring forming method of the above embodiment. In this step, the second droplet 64a is not ejected to the position where the rearrangement terminal 84 will be formed later. As a result, the opening 87 is formed in the second droplet 64a. Next, the solvent or the like of these droplets is removed to solidify the film-forming components, and the conductive film 62
And the insulating film 64 is formed.

【0107】次いで、図13(c)に示すように、開口
部87にボールバンプを形成する。このボールバンプ
は、開口部87の底面にて露出した導電膜62と接続す
ることにより、再配置端子84として機能する。以上の
工程により、図12に示す半導体ICチップ80が得ら
れる。
Next, as shown in FIG. 13C, a ball bump is formed in the opening 87. The ball bump functions as the rearrangement terminal 84 by connecting to the conductive film 62 exposed on the bottom surface of the opening 87. Through the above steps, the semiconductor IC chip 80 shown in FIG. 12 is obtained.

【0108】本実施の形態によれば、再配置端子84を
形成する予定の箇所のみ第2の液滴64aを吐出しない
ことにより、絶縁膜64に開口部87を設ける。これに
より、導電膜62の上に、直接再配置端子84を形成す
ることができる。この結果、簡易な方法にて得られ、断
線や短絡等の不良が生じにくく、しかも、かつ微細化さ
れた導電膜配線を得ることができる。
According to the present embodiment, the opening 87 is provided in the insulating film 64 by not ejecting the second droplet 64a only at the place where the rearrangement terminal 84 is to be formed. Thereby, the rearrangement terminal 84 can be directly formed on the conductive film 62. As a result, it is possible to obtain a conductive film wiring which is obtained by a simple method, is less likely to cause defects such as disconnection and short circuit, and is miniaturized.

【0109】[第9の実施の形態]第9の実施の形態と
して、本発明の膜パターン形成方法の一例である導電膜
配線形成方法について説明する。図14は、本発明を適
用した第9の実施の形態に係る膜パターンの形成方法を
模式的に示す断面図である。図15は、第9の実施の形
態に係る膜パターンの形成方法の一形成工程を説明する
図である。
[Ninth Embodiment] As a ninth embodiment, a conductive film wiring forming method which is an example of the film pattern forming method of the present invention will be described. FIG. 14 is a sectional view schematically showing a film pattern forming method according to a ninth embodiment of the present invention. FIG. 15 is a diagram for explaining one forming step of the film pattern forming method according to the ninth embodiment.

【0110】本実施の形態においては、複数の液滴を、
基板91に設けられた凹部96に吐出することにより、
複数の膜パターン(導電膜62および絶縁膜64)を凹
部96に形成する場合について説明する。ここで、複数
の膜パターン(導電膜62および絶縁膜64)は、基板
91と垂直方向(図14に示すZ方向)に隣り合うよう
に形成することができる。
In the present embodiment, a plurality of droplets are
By discharging into the concave portion 96 provided in the substrate 91,
A case where a plurality of film patterns (conductive film 62 and insulating film 64) are formed in the recess 96 will be described. Here, the plurality of film patterns (the conductive film 62 and the insulating film 64) can be formed so as to be adjacent to the substrate 91 in the vertical direction (Z direction shown in FIG. 14).

【0111】なお、本実施の形態に係る配線形成方法
は、凹部96に複数の液滴を吐出する点以外は、第6の
実施の形態に係る配線形成方法と同様である。本実施の
形態において、具体的には、導電性微粒子を含む液状物
(第1の液滴62a)と、絶縁体を含む液状物(第2の
液滴64a)とを、ほぼ同一位置に重ねて凹部96に吐
出する。その後、溶媒等を除去することにより膜形成成
分を固化し、導電膜62と絶縁膜64とが、基板10と
垂直方向(図14に示すZ方向)に隣り合うように凹部
96に形成される。
The wiring forming method according to the present embodiment is the same as the wiring forming method according to the sixth embodiment except that a plurality of droplets are ejected into the recess 96. In the present embodiment, specifically, the liquid material containing the conductive fine particles (first droplets 62a) and the liquid material containing the insulator (second droplets 64a) are superposed at substantially the same position. And discharges into the recess 96. After that, the solvent is removed to solidify the film forming components, and the conductive film 62 and the insulating film 64 are formed in the recess 96 so as to be adjacent to the substrate 10 in the vertical direction (Z direction shown in FIG. 14). .

【0112】第1の液滴62aおよび第2の液滴64a
はそれぞれ、第6の実施の形態の配線形成方法にて用い
たものと同様の材質を用いることができる。この場合、
第1の液滴62aの比重は、第2の液滴64aの比重よ
りも大きいことが望ましい。
First droplet 62a and second droplet 64a
For each of them, the same material as that used in the wiring forming method of the sixth embodiment can be used. in this case,
The specific gravity of the first droplet 62a is preferably larger than the specific gravity of the second droplet 64a.

【0113】第1の液滴62aおよび第2の液滴64a
を凹部96に吐出した後、例えば図15に示すように、
必要に応じて、基板91を遠心分離機にかけて、遠心力
を付与することにより、第1の液滴62aおよび第2の
液滴64aの分離を促進させることができる。この方法
によれば、第1の液滴62aと第2の液滴64aとが容
易に分離されて、短時間で膜質の均一化を図ることがで
きる。
First droplet 62a and second droplet 64a
After being discharged into the recess 96, for example, as shown in FIG.
If necessary, the substrate 91 is subjected to a centrifugal separator to apply a centrifugal force, so that the separation of the first droplet 62a and the second droplet 64a can be promoted. According to this method, the first droplet 62a and the second droplet 64a can be easily separated, and the film quality can be made uniform in a short time.

【0114】本実施の形態の配線形成方法によれば、第
6の実施の形態の配線形成方法と同様の作用および効果
を奏することができる。
According to the wiring forming method of the present embodiment, the same action and effect as those of the wiring forming method of the sixth embodiment can be obtained.

【0115】[第10の実施の形態]第10の実施の形
態では、本発明を適用した半導体装置の実装構造の一例
について説明する。
[Tenth Embodiment] In the tenth embodiment, an example of a mounting structure of a semiconductor device to which the present invention is applied will be described.

【0116】(デバイスの構造)図16(a)は、本発
明を適用した半導体装置の実装構造の一例たる第10の
実施の形態に係るICチップ積層体70を模式的に示す
断面図であり、図16(b)は、図16(a)の領域G
部分の拡大模式図である。
(Device Structure) FIG. 16A is a sectional view schematically showing an IC chip laminated body 70 according to the tenth embodiment which is an example of the mounting structure of the semiconductor device to which the present invention is applied. , FIG. 16B shows a region G of FIG.
It is an enlarged schematic diagram of a part.

【0117】第10の実施の形態に係るICチップ積層
体70は、図16(a)に示すように、複数のICチッ
プ70aが積層されることにより形成されている。な
お、図16(a)では4枚のICチップ70aが積層さ
れている場合を示しているが、ICチップ積層体70に
おいてICチップ70aの積層枚数はこれに限定される
わけではない。
The IC chip laminate 70 according to the tenth embodiment is formed by laminating a plurality of IC chips 70a as shown in FIG. 16 (a). Although FIG. 16A shows a case where four IC chips 70a are stacked, the number of stacked IC chips 70a in the IC chip stacked body 70 is not limited to this.

【0118】ICチップ70aはそれぞれ、表面に電子
回路(図示せず)が形成されている。上下に隣り合うI
Cチップ70aは、コンタクト部76により電気的に接
続されている。図16(b)は、このコンタクト部76
近傍の拡大模式図である。上下に隣り合うICチップ7
0a同士は、コンタクト部76を介して電気的に接続さ
れている。
An electronic circuit (not shown) is formed on the surface of each IC chip 70a. I adjoining vertically
The C chip 70a is electrically connected by the contact portion 76. FIG. 16B shows this contact portion 76.
It is an enlarged schematic diagram of the vicinity. IC chips 7 vertically adjacent to each other
0a are electrically connected to each other via a contact portion 76.

【0119】コンタクト部76は、導電膜62および絶
縁膜64を含む。この導電膜62および絶縁膜64は基
板71に設けられた凹部(開口部75)に形成されてい
る。また、開口部75の側面には導電層77が設けられ
ている。導電層77は、開口部75の下部で導電膜62
と接続しており、かつ、開口部75の上部近傍で配線層
73と接続している。したがって、導電膜62は導電層
77を介して配線層73と電気的に接続されている。
The contact portion 76 includes a conductive film 62 and an insulating film 64. The conductive film 62 and the insulating film 64 are formed in a recess (opening 75) provided in the substrate 71. A conductive layer 77 is provided on the side surface of the opening 75. The conductive layer 77 is formed on the conductive film 62 below the opening 75.
And is connected to the wiring layer 73 near the upper portion of the opening 75. Therefore, the conductive film 62 is electrically connected to the wiring layer 73 via the conductive layer 77.

【0120】また、隣り合うICチップ70aのコンタ
クト部76同士は、パッド78を介して電気的に接続さ
れている。すなわち、下層のICチップ70aの導電層
77および/または配線層73と、パッド78とが接続
し、このパッド78と、上層のICチップ70aの導電
層77および/または配線層73と接続することによ
り、下層のICチップ70aと上層のICチップ70a
とが電気的に接続されている。
Further, the contact portions 76 of the adjacent IC chips 70a are electrically connected to each other via the pad 78. That is, the conductive layer 77 and / or the wiring layer 73 of the lower IC chip 70a is connected to the pad 78, and the pad 78 is connected to the conductive layer 77 and / or the wiring layer 73 of the upper IC chip 70a. The lower IC chip 70a and the upper IC chip 70a
And are electrically connected.

【0121】(デバイスの製造方法)次に、本実施の形
態に係るICチップ積層体70の製造方法の一例を示
す。図17(a)〜図17(d)はそれぞれ、図16
(a)に示すICチップ積層体70の製造方法における
一製造工程を示す断面図である。
(Device Manufacturing Method) Next, an example of a method for manufacturing the IC chip laminate 70 according to the present embodiment will be described. 17A to 17D are respectively shown in FIG.
It is sectional drawing which shows one manufacturing process in the manufacturing method of the IC chip laminated body 70 shown to (a).

【0122】まず、図17(a)に示すように、積層さ
れる複数のICチップ70aのうち、下層のICチップ
70aの基板71の表面に、パッド78および接着材7
9を形成する。パッド78は、めっきや液滴吐出法にて
形成される。
First, as shown in FIG. 17A, the pad 78 and the adhesive 7 are formed on the surface of the substrate 71 of the lower IC chip 70a among the plurality of IC chips 70a to be stacked.
9 is formed. The pad 78 is formed by plating or a droplet discharge method.

【0123】また、上層のICチップ70aに凹部(開
口部75)を形成する。次いで、この開口部75の側面
に、例えば金または銅からなる導電層73を形成し、さ
らに、この導電層73と接続する配線層77を形成す
る。なお、必要に応じて、導電層73を形成する前に、
高融点金属層および/または高融点金属層の窒化物層、
例えばTa,TaN,Ti,TiNからなるバリア層を
形成することもできる。なお、この工程において、配線
層77と導電層73の形成順序は特に限定されない。
A recess (opening 75) is formed in the upper IC chip 70a. Then, a conductive layer 73 made of, for example, gold or copper is formed on the side surface of the opening 75, and a wiring layer 77 connected to the conductive layer 73 is further formed. If necessary, before forming the conductive layer 73,
Refractory metal layer and / or refractory metal layer nitride layer,
For example, a barrier layer made of Ta, TaN, Ti, TiN can be formed. In this step, the order of forming the wiring layer 77 and the conductive layer 73 is not particularly limited.

【0124】次いで、図17(b)に示すように、下層
ICチップ70aと上層のICチップ70aとを貼り合
わせる。ここで、接着材79によって物理的接続が保た
れる。なお、接着材79は機械的強度の要求の程度によ
っては、接着材79を用いることなく、下層のICチッ
プ70aと上層のICチップ70aとを接続することも
できる。次いで、第9の実施の形態に係る配線形成方法
と同様の方法を用いて、液滴吐出法により、導電性微粒
子を含む液状物(第1の液滴62a)と、絶縁体を含む
液状物(第2の液滴64a)とを、ほぼ同一位置に重ね
て開口部75に吐出する。その後、溶媒等を除去して膜
形成成分を固化し、図17(c)に示すように、導電膜
62と絶縁膜64とが、基板71と垂直方向に隣り合う
ように開口部75に形成される。また、この工程の後、
必要に応じて、前述した遠心分離工程を行なうこともで
きる。以上の工程により、コンタクト部76を形成す
る。
Next, as shown in FIG. 17B, the lower layer IC chip 70a and the upper layer IC chip 70a are bonded together. Here, the adhesive 79 maintains the physical connection. Depending on the degree of mechanical strength required for the adhesive 79, the lower layer IC chip 70a and the upper layer IC chip 70a can be connected without using the adhesive 79. Next, by using the same method as the wiring forming method according to the ninth embodiment, a liquid material containing conductive fine particles (first liquid droplets 62a) and a liquid material containing an insulator are formed by a droplet discharge method. The (second droplet 64a) and the second droplet 64a are superposed at substantially the same position and are ejected to the opening 75. After that, the solvent and the like are removed to solidify the film forming component, and as shown in FIG. 17C, the conductive film 62 and the insulating film 64 are formed in the opening 75 so as to be vertically adjacent to the substrate 71. To be done. Also, after this step,
The above-mentioned centrifugation step can be performed if necessary. Through the above steps, the contact portion 76 is formed.

【0125】次いで、図17(d)に示すように、上層
のICチップ70aの基板71上にパッド78を形成し
た後、さらに上層に別のICチップ70aを積層して、
同様にコンタクト部76を形成する。以上の工程を経
て、図16(a)および図16(b)に示すICチップ
積層体70が得られる。
Next, as shown in FIG. 17D, after forming the pads 78 on the substrate 71 of the upper IC chip 70a, another IC chip 70a is further laminated on the upper layer,
Similarly, the contact portion 76 is formed. Through the above steps, the IC chip laminated body 70 shown in FIGS. 16A and 16B is obtained.

【0126】本実施の形態によれば、簡易な方法にて得
られ、断線や短絡等の不良が生じにくく、しかも、かつ
微細化されたICチップ積層体を得ることができる。
According to the present embodiment, it is possible to obtain an IC chip laminated body which is obtained by a simple method, is less likely to cause defects such as disconnection and short circuit, and is miniaturized.

【0127】[第11の実施の形態]第11の実施の形
態として、本発明の膜パターン形成方法の一例について
説明する。図18(a)〜図18(d)はそれぞれ、本
発明を適用した第11の実施の形態に係る膜パターンの
形成方法によって形成された液滴を模式的に示す断面図
である。
[Eleventh Embodiment] As an eleventh embodiment, an example of the film pattern forming method of the present invention will be described. 18A to 18D are cross-sectional views schematically showing droplets formed by the film pattern forming method according to the eleventh embodiment of the present invention.

【0128】本実施の形態においては、第1の液滴11
2aと第2の液滴114aが互いに混ざり合わない性質
を有する場合において、これらの液滴を、固化工程を経
ずにほぼ同一位置に重ねて吐出することによって、各液
滴間の界面の状態を維持させた後、固化工程を行なうこ
とにより、膜パターンを形成する例について説明する。
なお、図18(a)〜図18(d)においては、第1の
液滴112aの比重が第2の液滴114aの比重よりも
大きい場合について説明する。
In this embodiment, the first droplet 11
In the case where the second droplet 114a and the second droplet 114a have a property that they do not mix with each other, the state of the interface between the droplets is obtained by superimposing these droplets at substantially the same position without performing the solidification process. An example in which a film pattern is formed by performing a solidification step after maintaining the above will be described.
18A to 18D, the case where the specific gravity of the first droplet 112a is larger than the specific gravity of the second droplet 114a will be described.

【0129】図18(a)においては、第1の液滴11
2aの比重が第2の液滴114aの比重よりも大きいた
め、これらの液滴は層分離する結果、第2の液滴114
aが第1の液滴112aよりも上層に配置される。な
お、この場合、第1の液滴112aおよび第2の液滴1
14aを吐出する順序は特に限定されず、比重の重いほ
うが下層に配置される。
In FIG. 18A, the first droplet 11
Since the specific gravity of 2a is larger than that of the second droplet 114a, these droplets are separated into layers, and as a result, the second droplet 114 is separated.
a is arranged in a layer above the first droplet 112a. In this case, the first droplet 112a and the second droplet 1
The order of discharging 14a is not particularly limited, and the one having the higher specific gravity is arranged in the lower layer.

【0130】図18(b)においては、第1の液滴11
2aの比重が第2の液滴114aの比重よりも大きく、
かつ、第2の液滴114aの吐出量が第1の液滴112
aの吐出量よりもかなり多いため、第2の液滴114a
が第1の液滴112aを覆うように形成される。
In FIG. 18B, the first droplet 11
2a has a specific gravity larger than that of the second droplet 114a,
In addition, the ejection amount of the second droplet 114a is equal to that of the first droplet 112.
The second droplet 114a
Are formed so as to cover the first droplet 112a.

【0131】図18(c)においては、第1の液滴11
2aおよび第2の液滴114aが凹部116に形成され
ている。この場合においても、第1の液滴112aの比
重が第2の液滴114aの比重よりも大きい。また、こ
の例では、絶縁層118に設けられた凹部116の底面
116aは、第1の液滴112aに対して撥液性を有す
る処理が施されている。したがって、第1の液滴112
aは第2の液滴114aよりも比重が大きいため、凹部
116の底面116aの方へと移動しようとするが、底
面116aには第1の液滴112aに対して撥液性を有
する処理が施されているため、第2の液滴114aの一
部が底面116aに残る。また、凹部116の底面11
6aを液滴114aに対して親液性を有する処理を施す
ことによっても同様の効果が得られる。これにより、図
18(c)に示すように、第1の液滴112aが第2の
液滴114aに挟まれ、いわゆるサンドイッチ構造が形
成される。
In FIG. 18C, the first droplet 11
2a and the second droplet 114a are formed in the recess 116. Even in this case, the specific gravity of the first droplet 112a is larger than that of the second droplet 114a. Further, in this example, the bottom surface 116a of the recessed portion 116 provided in the insulating layer 118 is subjected to a treatment having liquid repellency with respect to the first droplet 112a. Therefore, the first droplet 112
Since a has a larger specific gravity than the second droplet 114a, it tends to move toward the bottom surface 116a of the recess 116, but the bottom surface 116a is not treated to be liquid repellent to the first droplet 112a. Since it has been applied, a part of the second droplet 114a remains on the bottom surface 116a. In addition, the bottom surface 11 of the recess 116
The same effect can be obtained by subjecting the liquid droplets 114a to the liquid droplets 6a. As a result, as shown in FIG. 18C, the first droplet 112a is sandwiched by the second droplets 114a, and a so-called sandwich structure is formed.

【0132】例えば、図18(c)の構造において、第
1の液滴112aとして絶縁体を含む液状物を用い、第
2の液滴114aとして導電性微粒子を含む液状物を用
いることができる。この場合、必要に応じて固化工程を
行なった後最終的に得られる膜パターンは、2層の導電
膜114と、この導電膜114によって挟まれた絶縁膜
112とから構成される。この場合、この膜パターン
は、例えばコンデンサとして機能することができる。
For example, in the structure of FIG. 18C, a liquid material containing an insulator can be used as the first droplet 112a, and a liquid material containing conductive fine particles can be used as the second droplet 114a. In this case, the film pattern finally obtained after the solidifying step is performed if necessary is composed of two conductive films 114 and an insulating film 112 sandwiched by the conductive films 114. In this case, this film pattern can function as a capacitor, for example.

【0133】こうして、2層に分離させて目的の膜構造
にした後に、自然放置、加熱、減圧などの方法を用いて
溶媒(分散媒)を除去等して膜形成成分を固化すること
により、目的とする膜パターンを形成する。
In this way, after the two layers are separated into the desired film structure, the solvent (dispersion medium) is removed by a method such as natural standing, heating, and pressure reduction to solidify the film-forming components. A target film pattern is formed.

【0134】本実施の形態においては、分離様式は上述
したものに限定されず、用いる液滴の比重、滴下量、お
よび底面の液滴への親液性、撥液性をコントロールする
ことによって、任意に液滴の分離様式を制御することが
できる。また、先に吐出した液滴に含まれる液体成分が
蒸発するのを防ぐため、基板または系全体を冷却してお
くこともできる。さらに、上述した例では液滴の種類が
2種類である場合について示したが、液滴の種類はこれ
に限定されるわけではなく、3種類以上でも良い。3種
類の液滴を用いる場合に、例えば、それぞれの液滴に用
いる溶媒(または分散媒)を、比重が重い無極性有機系
液体、比重が中程度の水系液体、比重が軽い無極性有機
系液体にすることにより、これらの液滴を吐出させて得
られる3層を分離させることができる。
In the present embodiment, the mode of separation is not limited to that described above, and by controlling the specific gravity of the liquid droplets used, the amount of liquid droplets, and the lyophilicity and liquid repellency of the liquid droplets on the bottom surface, The mode of droplet separation can be controlled arbitrarily. Further, the substrate or the entire system can be cooled in order to prevent evaporation of the liquid component contained in the previously ejected droplets. Further, in the above-mentioned example, the case where the number of types of liquid droplets is two is shown, but the types of liquid droplets are not limited to this, and three or more types may be used. When three types of liquid droplets are used, for example, the solvent (or dispersion medium) used for each liquid droplet is a non-polar organic liquid having a high specific gravity, an aqueous liquid having a medium specific gravity, or a non-polar organic liquid having a low specific gravity. By using a liquid, the three layers obtained by ejecting these droplets can be separated.

【0135】また、本実施の形態の膜パターンの形成方
法によれば、得られた膜パターンを構成する膜の界面を
外界に一度も露出させることなく形成することができる
ので、デバイスとしての特性を著しく向上させることが
できる。
Further, according to the method for forming a film pattern of the present embodiment, since the interface of the film forming the obtained film pattern can be formed without being exposed to the outside even once, the characteristics as a device are obtained. Can be significantly improved.

【0136】[第12の実施の形態]第12の実施の形
態では、本発明を適用した半導体装置の具体例について
説明する。図19(a)は、半導体装置の一例たる本実
施の形態に係る薄膜トランジスタ(TFT)120を模
式的に示す平面図であり、図19(b)は、図19
(a)に示すTFT120をH−Hにおける切断面を模
式的に示す図である。
[Twelfth Embodiment] In the twelfth embodiment, a specific example of a semiconductor device to which the present invention is applied will be described. 19A is a plan view schematically showing a thin film transistor (TFT) 120 according to this embodiment, which is an example of a semiconductor device, and FIG. 19B is a plan view thereof.
It is a figure which shows typically the cut surface in HH of TFT120 shown to (a).

【0137】図19(a)に示すTFT120は、第1
1の実施の形態の膜パターンの形成方法を適用して形成
される。このTFT120は、基板121の上に、例え
ば銀からなるゲート電極122が形成されている。この
ゲート電極122の上に、例えば酸化シリコンからなる
絶縁層124が形成されている。この絶縁層124は、
ゲート電極122とソース/ドレイン領域126,12
7とを絶縁するために設置されている。さらに、絶縁層
124を覆うように、例えばアモルファスシリコンから
なるチャネル領域125が形成されている。このチャネ
ル領域125の上には、例えばドープトシリコンからな
るソース/ドレイン領域126,127が形成されてい
る。さらに、このソース/ドレイン領域126,127
の上に、ソース/ドレイン電極128,129が形成さ
れている。
The TFT 120 shown in FIG. 19A has the first
It is formed by applying the film pattern forming method of the first embodiment. In this TFT 120, a gate electrode 122 made of, for example, silver is formed on a substrate 121. An insulating layer 124 made of, for example, silicon oxide is formed on the gate electrode 122. This insulating layer 124 is
Gate electrode 122 and source / drain regions 126, 12
It is installed to insulate 7 and. Further, a channel region 125 made of, for example, amorphous silicon is formed so as to cover the insulating layer 124. Source / drain regions 126 and 127 made of, for example, doped silicon are formed on the channel region 125. Further, the source / drain regions 126 and 127
Source / drain electrodes 128 and 129 are formed on the above.

【0138】本実施の形態においては、ゲート電極12
2,ソース/ドレイン電極128,129,チャネル領
域125、ソース/ドレイン領域126,127、およ
び絶縁層124がいずれも、第11の実施の形態の膜パ
ターンの形成方法によって形成されている。
In the present embodiment, the gate electrode 12
2, the source / drain electrodes 128 and 129, the channel region 125, the source / drain regions 126 and 127, and the insulating layer 124 are all formed by the film pattern forming method of the eleventh embodiment.

【0139】本実施の形態においては、これらの層にそ
れぞれ含まれる液状物を、蒸発させて除去等して膜形成
成分を固化することにより、各層を形成することができ
る。したがって、各層間の界面を、大気に曝すことなく
形成することができる。これにより、各層間の界面を良
好な状態に形成することができる。この結果、各層の機
能を高めることができる。
In the present embodiment, each layer can be formed by solidifying the film-forming components by evaporating and removing the liquid material contained in each of these layers. Therefore, the interface between the layers can be formed without exposing to the atmosphere. Thereby, the interface between the layers can be formed in a good state. As a result, the function of each layer can be enhanced.

【0140】次に、このTFT120の製造方法の一実
験例について、図20(a)〜図20(e)を参照して
説明する。なお、本製造方法は一例であり、ここで示す
材質以外の材質を用いて電極や絶縁層等を形成すること
ができる。また、図20(a)〜図20(e)におい
て、左側の図は、本実施の形態のTFT120の一製造
工程を模式的に示す平面図であり、図19(a)の平面
図に対応する部分を示している。また、図20(a)〜
図20(e)において、右側の図は、左側の図の断面を
示す図であり、図19(b)の断面図に対応する断面を
示している。
Next, an experimental example of the method for manufacturing the TFT 120 will be described with reference to FIGS. 20 (a) to 20 (e). Note that this manufacturing method is an example, and the electrode, the insulating layer, and the like can be formed using a material other than the materials shown here. 20 (a) to 20 (e), the drawings on the left side are plan views schematically showing one manufacturing process of the TFT 120 of the present embodiment, and correspond to the plan view of FIG. 19 (a). It shows the part to do. Also, FIG.
In FIG. 20 (e), the diagram on the right side is a diagram showing a cross section of the diagram on the left side, and shows a cross section corresponding to the sectional view of FIG. 19 (b).

【0141】まず、石英基板121とヘキサフルオロ
1,1,2,2−テトラヒドロデシルトリエトキシシラ
ン0.1gとを、容積10リットルの密閉容器に入れ
て、120℃で2時間保持した。これにより、基板12
1の全面を撥液化した。次いで、マスクUV照射を行な
い、ゲート電極を形成するために、幅10μmの親液パ
ターン(図示せず)を形成した。次いで、液滴吐出法に
よって、この親液パターン上に、直径10nmの銀粒子
が10wt%の割合で分散されている水分散液を、5p
lずつ30μmの間隔で吐出して、図20(a)に示す
ように、幅10μmで長さが1mmの塗布膜122aを
形成した。
First, the quartz substrate 121 and 0.1 g of hexafluoro-1,1,2,2-tetrahydrodecyltriethoxysilane were placed in a closed container having a volume of 10 liters and kept at 120 ° C. for 2 hours. As a result, the substrate 12
The entire surface of No. 1 was made liquid repellent. Next, mask UV irradiation was performed to form a lyophilic pattern (not shown) having a width of 10 μm to form a gate electrode. Then, 5 p of an aqueous dispersion liquid in which silver particles having a diameter of 10 nm are dispersed at a ratio of 10 wt% is formed on the lyophilic pattern by a droplet discharge method.
20 μm each was discharged at intervals of 30 μm to form a coating film 122a having a width of 10 μm and a length of 1 mm as shown in FIG.

【0142】次いで、この塗布膜122aが乾かないう
ちに、ポリシラザンの25wt%キシレン溶液を、別の
インクジェットヘッドから、塗布膜122aが形成され
ている領域と同じ場所に向けて、10plずつ30μm
の間隔で吐出し、塗布膜124aを形成した。この工程
により、図20(b)に示すように、塗布膜122a
と、塗布膜122aの上に着弾させた塗布膜124aと
が層分離を起こし、塗布膜124aが、塗布膜122a
を完全に覆うような形で基板121上に定着した。この
際、先に吐出した塗布膜122aが乾くのを遅らせるた
めに、系全体を10℃に保ちながら素子形成を行なった
が、用いる溶媒によっては系全体を溶媒雰囲気下にする
ことによって、溶媒(分散媒)の蒸発を抑える方法をと
ることができる。なお、この工程において、配線接続用
として、塗布膜122aの一部を露出させておいた(図
20(b)参照)。
Then, while the coating film 122a is not dried, a 25 wt% xylene solution of polysilazane is directed from another ink jet head toward the same place as the region where the coating film 122a is formed, and 10 μl of 30 μm each.
The coating film 124a was formed by discharging at intervals of. By this step, as shown in FIG. 20B, the coating film 122a is formed.
And the coating film 124a landed on the coating film 122a cause layer separation, and the coating film 124a becomes the coating film 122a.
Was fixed on the substrate 121 so as to completely cover the substrate. At this time, in order to delay the drying of the previously-applied coating film 122a, element formation was performed while maintaining the entire system at 10 ° C. However, depending on the solvent used, the entire system may be placed in a solvent atmosphere to remove the solvent ( A method of suppressing the evaporation of the dispersion medium) can be adopted. In this step, part of the coating film 122a was exposed for wiring connection (see FIG. 20B).

【0143】次に、この基板を20torrに減圧しな
がら80℃で30分間保持し、塗布膜122a中の水
と、塗布膜124a中のキシレンとを完全に除去した
後、大気圧中で350℃で10分加熱した。これによ
り、図20(c)に示すように、銀からなるゲート電極
122と、酸化シリコンからなる絶縁層124とが形成
された。測定の結果、絶縁層124の膜厚は、60〜8
0nmであった。
Next, this substrate was held at 80 ° C. for 30 minutes while reducing the pressure to 20 torr to completely remove water in the coating film 122a and xylene in the coating film 124a, and then 350 ° C. in atmospheric pressure. Heated for 10 minutes. Thus, as shown in FIG. 20C, the gate electrode 122 made of silver and the insulating layer 124 made of silicon oxide were formed. As a result of the measurement, the thickness of the insulating layer 124 is 60 to 8
It was 0 nm.

【0144】次いで、プラズマCVD法により、膜厚1
50nmのアモルファスシリコン膜(図示せず)を全面
に形成した後、フォトリソグラフィ工程により、図20
(d)に示すように、500μm四方のチャネル領域1
25を形成した。
Then, a film thickness of 1 is formed by the plasma CVD method.
After a 50 nm amorphous silicon film (not shown) is formed on the entire surface, a photolithography process is performed, as shown in FIG.
As shown in (d), the channel region 1 is 500 μm square.
25 was formed.

【0145】次いで、シクロペンタシランを12wt
%、黄リン1wt%を混合して溶解させたトルエン溶液
20mlに、波長が254nmのUVを15分間照射し
た後濾過して得た溶液を、液滴吐出法にて、チャネル領
域125の上に吐出した。ここで、ゲート電極122直
上に位置する部分に、10μmの隙間125aが形成さ
れるように、前記溶液を吐出した(図20(e)参
照)。次いで、基板121全体を400℃にて焼成する
ことにより、図20(e)に示すように、ドープシリコ
ンからなるソース/ドレイン領域126,127を形成
した。
Next, 12 wt% of cyclopentasilane
%, And 1 wt% of yellow phosphorus were mixed and dissolved in 20 ml of a toluene solution, which was irradiated with UV having a wavelength of 254 nm for 15 minutes and then filtered to obtain a solution, which was then deposited on the channel region 125 by a droplet discharge method. It was discharged. Here, the solution was discharged so that a gap 125a of 10 μm was formed in a portion located immediately above the gate electrode 122 (see FIG. 20 (e)). Then, the entire substrate 121 was baked at 400 ° C. to form the source / drain regions 126 and 127 made of doped silicon as shown in FIG.

【0146】次いで、ゲート電極122の形成の際に用
いたものと同じ銀分散液を用いて、液滴吐出法にて、ソ
ース/ドレイン領域126,127にそれぞれ接するよ
うに、ソース/ドレイン電極128,129を形成し
た。以上の工程により、図19(a)および図19
(b)に示すように、TFT120が得られた。
Next, using the same silver dispersion liquid as that used for forming the gate electrode 122, the source / drain electrode 128 is brought into contact with the source / drain regions 126 and 127 by a droplet discharge method. , 129 was formed. Through the above steps, FIG. 19A and FIG.
As shown in (b), a TFT 120 was obtained.

【0147】上記工程により得られたTFT120の電
圧−電流特性を測定した結果、移動度0.3cm/V
sのトランジスタとして動作した。
As a result of measuring the voltage-current characteristics of the TFT 120 obtained by the above process, the mobility is 0.3 cm 2 / V.
s transistor.

【0148】[第13の実施の形態]第13の実施の形
態では、本発明を適用した電子機器の具体例について説
明する。図21は、本実施の形態に係る液晶装置の第1
基板上の信号電極等の平面レイアウトを示す図である。
本実施の形態に係る液晶装置は、この第1基板と、走査
電極等が設けられた第2基板(図示せず)と、第1基板
と第2基板との間に封入された液晶(図示せず)とから
概略構成されている。
[Thirteenth Embodiment] In the thirteenth embodiment, specific examples of electronic equipment to which the present invention is applied will be described. FIG. 21 shows a first example of the liquid crystal device according to the present embodiment.
It is a figure which shows the plane layout of a signal electrode etc. on a board | substrate.
The liquid crystal device according to the present embodiment is configured such that the first substrate, a second substrate (not shown) provided with scanning electrodes and the like, and liquid crystal enclosed between the first substrate and the second substrate (see FIG. (Not shown).

【0149】図21に示すように、第1基板300上の
画素領域303には、複数の信号電極310…が多重マ
トリクス状に設けられている。特に各信号電極310…
は、各画素に対応して設けられた複数の画素電極部分3
10a…とこれらを多重マトリクス状に接続する信号配
線部分310b…とから構成されており、Y方向に伸延
している。
As shown in FIG. 21, in the pixel region 303 on the first substrate 300, a plurality of signal electrodes 310 ... Are provided in a multiple matrix form. In particular, each signal electrode 310 ...
Is a plurality of pixel electrode portions 3 provided corresponding to each pixel.
10a ... And signal wiring portions 310b ... Which connect these in a multi-matrix form, and extend in the Y direction.

【0150】また、符号350は1チップ構造の液晶駆
動回路で、この液晶駆動回路350と信号配線部分31
0b…の一端側(図中下側)とが第1引き回し配線33
1…を介して接続されている。
Further, reference numeral 350 is a liquid crystal drive circuit having a one-chip structure, and the liquid crystal drive circuit 350 and the signal wiring portion 31.
0b ... One end side (lower side in the figure) is the first routing wiring 33.
1 ... are connected.

【0151】また、符号340…は上下導通端子で、こ
の上下導通端子340…と、図示しない第2基板上に設
けられた端子とが上下導通材341…によって接続され
ている。また、上下導通端子340…と液晶駆動回路3
50とが第2引き回し配線332…を介して接続されて
いる。
Numerals 340 ... Are vertical conduction terminals, and these vertical conduction terminals 340 ... Are connected to terminals provided on the second substrate (not shown) by vertical conduction members 341. Further, the vertical conduction terminals 340 ... And the liquid crystal drive circuit 3
50 is connected via the second lead wiring 332 ...

【0152】本実施形態の液晶装置においては、画素電
極部分310a…が、第12の実施の形態に係る薄膜ト
ランジスタ120からなる。
In the liquid crystal device of this embodiment, the pixel electrode portions 310a ... Are composed of the thin film transistor 120 according to the twelfth embodiment.

【0153】本実施の形態の液晶装置によれば、画素電
極部分310aが第12の実施の形態に係る薄膜トラン
ジスタ120からなることにより、製造が容易で、安価
で、高速かつ安定した駆動が可能であり、かつ、小型化
および薄膜化が可能な液晶装置とすることができる。
According to the liquid crystal device of the present embodiment, since the pixel electrode portion 310a is formed of the thin film transistor 120 according to the twelfth embodiment, the manufacturing is easy, the cost is low, and the high speed and stable driving is possible. The liquid crystal device can be provided and can be downsized and thinned.

【0154】[第14の実施の形態]第14の実施の形
態では、本発明を適用した発光装置の具体例について説
明する。図22は、半導体装置の一例たる本実施の形態
に係る発光装置140を模式的に示す断面図である。
[Fourteenth Embodiment] In the fourteenth embodiment, a specific example of a light emitting device to which the present invention is applied will be described. FIG. 22 is a cross-sectional view schematically showing the light emitting device 140 according to this embodiment, which is an example of the semiconductor device.

【0155】図22に示す発光装置140は、エレクト
ロルミネッセンス(EL)によって光を発する有機EL
装置であり、基板141と、基板140上に形成された
発光素子部140aとを含む。発光素子部140aは、
陽極143、陰極145、正孔輸送/注入層142、お
よび発光層144を含む。また、陽極143の上には絶
縁層148が形成され、この絶縁層148には開口部1
46が形成されている。この開口部146には、正孔輸
送/注入層142および発光層144が形成されてい
る。また、この正孔輸送/注入層142および発光層1
44は、陽極143および陰極145によって挟まれる
ように配置されている。
The light emitting device 140 shown in FIG. 22 is an organic EL device that emits light by electroluminescence (EL).
The device includes a substrate 141 and a light emitting element portion 140a formed on the substrate 140. The light emitting element section 140a is
Includes anode 143, cathode 145, hole transport / injection layer 142, and light emitting layer 144. An insulating layer 148 is formed on the anode 143, and the opening 1 is formed in the insulating layer 148.
46 is formed. The hole transport / injection layer 142 and the light emitting layer 144 are formed in the opening 146. Further, the hole transporting / injecting layer 142 and the light emitting layer 1
44 is arranged so as to be sandwiched by the anode 143 and the cathode 145.

【0156】また、陽極143および陰極145によっ
て一対の電極層が構成される。陽極143と陰極145
との間に電圧を印加することにより、陽極143から正
孔輸送/注入層142を経てホールが、陰極145から
電子が、それぞれ発光層144に注入される。ここで、
ホールと電子が発光層144内で結合することにより励
起子が生成され、この励起子が失活する際に光が生じ
る。
The anode 143 and the cathode 145 form a pair of electrode layers. Anode 143 and cathode 145
By applying a voltage between and, holes are injected from the anode 143 through the hole transport / injection layer 142 and electrons are injected into the light emitting layer 144 from the cathode 145, respectively. here,
The holes and the electrons combine in the light emitting layer 144 to generate excitons, and light is generated when the excitons are deactivated.

【0157】本実施の形態の発光装置によれば、正孔輸
送/注入層142および発光層144は、第11の実施
の形態の膜パターンの形成方法を適用して形成すること
ができる。この場合、正孔輸送/注入層142と発光層
144とは、液滴吐出法により、正孔輸送/注入層14
2を構成する成分を含有する液状物(第1の液滴142
a)と、発光層144を構成する成分を含有する液状物
(第2の液滴144a)とを、連続して吐出する工程を
経て形成される。すなわち、液滴吐出法により、第1の
液滴142aと第2の液滴144aとを吐出した後、こ
れらの液滴に含まれる溶媒を蒸発させて同時に除去する
ことができる。このため、溶媒除去時に、正孔輸送/注
入層142と発光層144との界面が露出して、大気に
曝されることはない。したがって、正孔輸送/注入層1
42と発光層144との界面の状態を非常に良好に保つ
ことができる。これにより、正孔輸送/注入層142と
発光層144との界面が均質に形成されるため、該界面
における電荷の移動性を確保することができる。その結
果、得られた発光装置の特性を著しく向上させることが
できる。
According to the light emitting device of the present embodiment, the hole transport / injection layer 142 and the light emitting layer 144 can be formed by applying the film pattern forming method of the eleventh embodiment. In this case, the hole transport / injection layer 142 and the light emitting layer 144 are formed by the droplet discharge method.
A liquid substance containing the constituents of 2 (first droplet 142
It is formed through a step of continuously ejecting a) and a liquid material (second droplet 144a) containing a component forming the light emitting layer 144. That is, after the first droplet 142a and the second droplet 144a are discharged by the droplet discharging method, the solvent contained in these droplets can be evaporated and removed at the same time. Therefore, when the solvent is removed, the interface between the hole transport / injection layer 142 and the light emitting layer 144 is not exposed and is not exposed to the air. Therefore, the hole transport / injection layer 1
The state of the interface between 42 and the light emitting layer 144 can be kept very good. As a result, the interface between the hole transport / injection layer 142 and the light emitting layer 144 is formed uniformly, so that the mobility of charges at the interface can be secured. As a result, the characteristics of the obtained light emitting device can be significantly improved.

【0158】次に、この発光装置140の製造方法の一
実験例について、図23(a)〜図23(c)および図
24(a)〜図24(c)を参照して説明する。なお、
本製造方法は一例であり、ここで示す材質以外の材質を
用いて電極や発光層等を形成することができる。
Next, an experimental example of a method for manufacturing the light emitting device 140 will be described with reference to FIGS. 23 (a) to 23 (c) and 24 (a) to 24 (c). In addition,
This manufacturing method is an example, and the electrode, the light emitting layer, and the like can be formed using a material other than the materials shown here.

【0159】(実験例)まず、図23(a)に示すよう
に、基板141上に、ITOからなる陽極143を形成
した。次いで、図23(b)に示すように、陽極143
の上に、ポリイミド樹脂からなる膜厚2μmの絶縁層1
48を形成した。この絶縁層148には、直径30μ
m、ピッチ40μmにて形成された開口部146が形成
されている。この開口部146は、後述する工程におい
て、正孔輸送/注入層142および発光層144を形成
するために設けられている。次いで、この基板141に
対して、酸素プラズマおよびフロロカーボンプラズマの
連続処理を行ない、図23(c)に示すように、絶縁層
148の表面を撥液化するとともに、露出している陽極
143の表面(開口部146の底面146a)を親液化
した。すなわち、この工程においては、図23(c)に
示すように、絶縁層148の表面のみ撥液化される。す
なわち、この工程により、絶縁層148の表面に撥液パ
ターン147が形成され、開口部146の底面146a
に親液パターンが形成される。
(Experimental example) First, as shown in FIG. 23A, an anode 143 made of ITO was formed on a substrate 141. Then, as shown in FIG.
On top of the insulating layer 1 made of polyimide resin and having a thickness of 2 μm.
48 were formed. The insulating layer 148 has a diameter of 30 μm.
The openings 146 are formed at m and pitch of 40 μm. The opening 146 is provided to form the hole transport / injection layer 142 and the light emitting layer 144 in the process described later. Next, this substrate 141 is subjected to a continuous treatment of oxygen plasma and fluorocarbon plasma to lyophobicize the surface of the insulating layer 148 and expose the exposed surface of the anode 143 (as shown in FIG. 23C). The bottom surface 146a) of the opening 146 was made lyophilic. That is, in this step, as shown in FIG. 23C, only the surface of the insulating layer 148 is made liquid repellent. That is, in this step, the liquid repellent pattern 147 is formed on the surface of the insulating layer 148, and the bottom surface 146a of the opening 146 is formed.
A lyophilic pattern is formed on.

【0160】次いで、PEPOT(ポリエチレンジオキ
シチオフェン)/PSS(ポリスチレンスルホン酸)
(バイトロンP−水分散液):8wt%、水81.5w
t%、メタノール5.5wt%、イソプロピルアルコー
ル5wt%、γ−グリシジルオキシプロピストリメトキ
シシラン0.05wt%を混合した溶液を、開口部14
6に向かって10pl吐出して、図24(a)に示すよ
うに、開口部146に第1の液滴142aを形成した。
Then, PEPOT (polyethylene dioxythiophene) / PSS (polystyrene sulfonic acid)
(Baytron P-water dispersion): 8 wt%, water 81.5 w
t%, 5.5 wt% of methanol, 5 wt% of isopropyl alcohol, and 0.05 wt% of γ-glycidyloxypropytrimethoxysilane were mixed in the opening 14
By discharging 10 pl toward No. 6, a first droplet 142a was formed in the opening 146 as shown in FIG.

【0161】次いで、この第1の液滴142aが蒸発す
る前に、別のインクジェットヘッドにて、PPV(ポリ
パラフェニレンビニレン)2wt%、メタノール20w
t%、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン70w
t%、ブチルカルビトールアセテート8wt%を混合し
た溶液を、第1の液滴142aの上に8pl吐出して、
図24(b)に示すように、第1の液滴142a上に第
2の液滴144aを形成した。この第1の液滴142a
と第2の液滴144aとはそれぞれ層分離していた。
Next, before the first droplets 142a are evaporated, 2 wt% of PPV (polyparaphenylene vinylene) and 20 w of methanol are jetted by another ink jet head.
t%, 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone 70w
A solution obtained by mixing t% and butyl carbitol acetate 8 wt% is discharged by 8 pl onto the first droplet 142a,
As shown in FIG. 24B, the second droplet 144a was formed on the first droplet 142a. This first droplet 142a
And the second droplet 144a were separated into layers.

【0162】次いで、真空中(1torr)、150℃
で4時間処理を行ない、第1の液滴142aおよび第2
の液滴144aから溶媒を完全に除去して膜成分を固化
し、図24(c)に示すように、正孔輸送/注入層14
2および発光層144を形成した。
Then, in vacuum (1 torr), 150 ° C.
For 4 hours, the first droplet 142a and the second droplet 142a
24C, the solvent is completely removed from the droplets 144a to solidify the film components, and as shown in FIG.
2 and the light emitting layer 144 were formed.

【0163】次いで、真空加熱蒸着によって、正孔輸送
/注入層142の上に、膜厚50nmのCa層145a
と、膜厚200nmのAl層145bとを形成した。こ
れにより、図22に示すように、Ca層145aおよび
Al層145bからなる陰極145が形成された。続い
て、電極保護用のアクリル樹脂(図示せず)で封止を行
なった。以上の工程により、図22に示す発光装置14
0が得られた。
Then, a Ca layer 145a having a film thickness of 50 nm is formed on the hole transporting / injecting layer 142 by vacuum heating vapor deposition.
And an Al layer 145b having a film thickness of 200 nm were formed. Thereby, as shown in FIG. 22, the cathode 145 including the Ca layer 145a and the Al layer 145b was formed. Subsequently, sealing was performed with an acrylic resin (not shown) for protecting the electrodes. Through the above steps, the light emitting device 14 shown in FIG.
0 was obtained.

【0164】上記工程により得られた発光装置140の
発光特性を調査した結果、駆動電圧は5Vで、輝度12
0cd/m、発光寿命(輝度半減時間)は3000時
間であった。
As a result of investigating the light emitting characteristics of the light emitting device 140 obtained by the above process, the driving voltage is 5 V and the brightness is 12V.
The emission lifetime (luminance half-life) was 0 cd / m 2 and 3000 hours.

【0165】上記実験例によれば、発光特性に優れた発
光装置を得ることができた。
According to the above experimental example, a light emitting device having excellent light emitting characteristics could be obtained.

【0166】また、上記実験例によれば、複数の膜パタ
ーン(正孔輸送/注入層142および発光層144)を
形成したい領域(開口部146の底面146a)に親液
パターンを形成し、前記複数の膜パターンの形成を望ま
ない領域(絶縁層148の表面)に、撥液パターン14
7を形成した後、第1および第2の液滴142a,14
4aを吐出する。これにより、第1および第2の液滴1
42a,144aを所望の領域に形成することができ
る。この結果、複数の膜パターン(正孔輸送/注入層1
42および発光層144)を所望の領域に選択的に形成
することができるため、所望の形状の膜パターンを所望
の位置に形成することができる。
Further, according to the above experimental example, a lyophilic pattern is formed in a region (bottom surface 146a of the opening 146) where a plurality of film patterns (hole transporting / injecting layer 142 and light emitting layer 144) are desired to be formed, The liquid-repellent pattern 14 is formed on a region (surface of the insulating layer 148) where formation of a plurality of film patterns is not desired.
7 are formed, the first and second droplets 142a, 142a, 14a
4a is discharged. Thereby, the first and second droplets 1
42a and 144a can be formed in a desired area. As a result, a plurality of film patterns (hole transport / injection layer 1
42 and the light emitting layer 144) can be selectively formed in a desired region, so that a film pattern having a desired shape can be formed at a desired position.

【0167】(比較例)一方、比較例として、第1の液
滴142aを開口部146の底面146aに着弾させた
後に第1の液滴142aに含まれる溶媒を完全に除去し
て膜形成成分を固化してから、第2の液滴144aを吐
出させることにより、発光装置を形成した。具体的に
は、上記実験例1と同様に、基板141上に陽極143
および絶縁層148を形成した後に、第1の液滴142
aを開口部146の底面146aに着弾させた。次い
で、この比較例では、真空中(1torr),150℃
で2時間処理して、第1の液滴142a中に含まれる溶
媒を除去して膜形成成分を固化した後に、第2の液滴1
44a上に第1の液滴142aを吐出し、その後、さら
に、真空中(1torr),150℃で2時間処理し
て、第2の液滴144a中に含まれる溶媒を除去して膜
形成成分を固化した。後の工程は、上記実験例1と同様
にして発光装置(図示せず)を作成した。その結果、駆
動電圧は8Vで、輝度85cd/m、発光寿命(輝度
半減時間)は2000時間であった。すなわち、比較例
の発光装置は、実験例の発光装置より高い駆動電圧を印
加しても、輝度が低いうえに、発光寿命が短かった。
Comparative Example On the other hand, as a comparative example, the solvent contained in the first droplet 142a is completely removed after the first droplet 142a is landed on the bottom surface 146a of the opening 146 to form the film forming component. After solidifying, the second droplet 144a was discharged to form a light emitting device. Specifically, the anode 143 is formed on the substrate 141 in the same manner as in Experimental Example 1 above.
And the first droplet 142 after forming the insulating layer 148.
a is landed on the bottom surface 146a of the opening 146. Then, in this comparative example, in vacuum (1 torr), 150 ° C.
The first droplet 142a is treated for 2 hours, the solvent contained in the first droplet 142a is removed, and the film-forming component is solidified.
The first droplet 142a is ejected onto the surface 44a, and then further treated in vacuum (1 torr) at 150 ° C. for 2 hours to remove the solvent contained in the second droplet 144a to form a film forming component. Solidified. In the subsequent steps, a light emitting device (not shown) was prepared in the same manner as in Experimental Example 1 above. As a result, the driving voltage was 8 V, the luminance was 85 cd / m 2 , and the light emission life (luminance half time) was 2000 hours. That is, the light emitting device of the comparative example had a low luminance and a short light emitting life even when a driving voltage higher than that of the light emitting device of the experimental example was applied.

【0168】以上の結果により、上記実施例の発光装置
は、第1および第2の液滴142a,144aに含まれ
る溶媒の除去を同時に行なうことにより膜形成成分を固
化したたため、正孔輸送/注入層142と発光層144
との界面が露出することなく、正孔輸送/注入層142
および発光層144が形成された。このため、正孔輸送
/注入層142と発光層144との界面が良好な状態と
なるため、前記界面における電荷の移動性が良好とな
る。その結果、得られた発光装置の特性を著しく向上さ
せることができた。
From the above results, in the light emitting device of the above-described embodiment, the solvent contained in the first and second droplets 142a and 144a was removed at the same time to solidify the film-forming component, so that the hole transporting / Injection layer 142 and light emitting layer 144
The hole transport / injection layer 142 without exposing the interface with
And the light emitting layer 144 was formed. Therefore, the interface between the hole transport / injection layer 142 and the light emitting layer 144 is in a good state, and the mobility of charges at the interface is good. As a result, the characteristics of the obtained light emitting device could be significantly improved.

【0169】[第15の実施の形態]第13の実施の形
態では、本発明を適用した電子機器の具体例について説
明する。本実施の形態に電子機器は、第13の実施の形
態に係る液晶装置または第14の実施の形態に係る発光
装置からなる表示部(後述する)を備える。
[Fifteenth Embodiment] In the thirteenth embodiment, specific examples of electronic equipment to which the present invention is applied will be described. The electronic device according to this embodiment includes a display unit (described later) including the liquid crystal device according to the thirteenth embodiment or the light emitting device according to the fourteenth embodiment.

【0170】図25(a)は、携帯電話の一例を示した
斜視図である。図25(a)において、600は携帯電
話本体を示し、601は第13の実施の形態に係る液晶
装置または第14の実施の形態に係る発光装置を備えた
表示部を示している。
FIG. 25A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 25A, reference numeral 600 denotes a mobile phone main body, and 601 denotes a display unit including the liquid crystal device according to the thirteenth embodiment or the light emitting device according to the fourteenth embodiment.

【0171】図25(b)は、ワープロ、パソコンなど
の携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図
25(b)において、700は情報処理装置、701は
キーボードなどの入力部、703は情報処理装置本体、
702は第13の実施の形態に係る液晶装置または第1
4の実施の形態に係る発光装置を備えた表示部を示して
いる。
FIG. 25B is a perspective view showing an example of a portable information processing device such as a word processor and a personal computer. In FIG. 25B, 700 is an information processing apparatus, 701 is an input unit such as a keyboard, 703 is an information processing apparatus main body,
702 is a liquid crystal device or a first liquid crystal device according to the thirteenth embodiment.
4 illustrates a display unit including the light emitting device according to the fourth embodiment.

【0172】図25(c)は、腕時計型電子機器の一例
を示した斜視図である。図25(c)において、800
は時計本体を示し、801は第13の実施の形態に係る
液晶装置または第14の実施の形態に係る発光装置を備
えた表示部を示している。
FIG. 25C is a perspective view showing an example of a wrist watch type electronic device. In FIG. 25 (c), 800
Indicates a watch body, and 801 indicates a display unit including the liquid crystal device according to the thirteenth embodiment or the light emitting device according to the fourteenth embodiment.

【0173】図25(a)〜図25(c)に示す電子機
器は、上記実施形態の液晶装置または発光装置を備えた
ものであるので、高速かつ安定した駆動が可能であり、
かつ、小型化および薄膜化が可能となる。
Since the electronic equipment shown in FIGS. 25 (a) to 25 (c) is equipped with the liquid crystal device or the light emitting device of the above-mentioned embodiment, high speed and stable driving is possible,
In addition, downsizing and thinning can be achieved.

【0174】なお、本実施の形態の電子機器として、上
述したもののほかに、カーナビゲーション装置、ページ
ャ、電子手帳、電卓、ワークステーション、テレビ電
話、POS端末、ICカード、ミニディスクプレーヤ、
タッチパネルを備えた機器等が例示できる。そして、こ
れらの各種電子機器の表示部として、上述した表示部が
適用可能であるのは言うまでもない。
In addition to the above-mentioned electronic devices of this embodiment, a car navigation device, a pager, an electronic notebook, a calculator, a workstation, a videophone, a POS terminal, an IC card, a mini disk player,
A device equipped with a touch panel can be exemplified. Needless to say, the above-described display unit can be applied as the display unit of these various electronic devices.

【0175】本発明は、上述した実施の形態に限定され
るものではなく、種々の変形が可能である。例えば、本
発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構
成(例えば、機能、方法および結果が同一の構成、ある
いは目的および結果が同一の構成)を含む。また、本発
明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を
置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で
説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の
目的を達成することができる構成を含む。また、本発明
は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構
成を含む。
The present invention is not limited to the above-described embodiment, but various modifications can be made. For example, the present invention includes configurations that are substantially the same as the configurations described in the embodiments (for example, configurations having the same function, method and result, or configurations having the same object and result). Further, the invention includes configurations in which non-essential parts of the configurations described in the embodiments are replaced. Further, the present invention includes a configuration having the same effects as the configurations described in the embodiments or a configuration capable of achieving the same object. Further, the invention includes configurations in which known techniques are added to the configurations described in the embodiments.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明を適用した第1の実施の形態に係る膜パ
ターンの形成方法を模式的に示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a film pattern forming method according to a first embodiment of the present invention.

【図2】第1の実施の形態に係る膜パターンの形成方法
によって形成された膜パターンを模式的に示す平面図で
ある。
FIG. 2 is a plan view schematically showing a film pattern formed by the film pattern forming method according to the first embodiment.

【図3】本発明を適用した第2の実施の形態に係る膜パ
ターン形成装置を模式的に示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view schematically showing a film pattern forming apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明を適用した第3の実施の形態に係る導電
膜配線を模式的に示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view schematically showing conductive film wiring according to a third embodiment of the present invention.

【図5】図5(a)は、図4に示す領域Bの拡大模式図
であり、図5(b)は、図5(a)のC−Cに沿った断
面を模式的に示す図である。
5 (a) is an enlarged schematic view of a region B shown in FIG. 4, and FIG. 5 (b) is a view schematically showing a cross section taken along line C-C of FIG. 5 (a). Is.

【図6】図6(a)〜図6(d)はそれぞれ、本発明を
適用した第4の実施の形態に係る導電膜配線の一製造工
程を模式的に示す断面図である。
6A to 6D are cross-sectional views each schematically showing one manufacturing process of a conductive film wiring according to a fourth embodiment of the present invention.

【図7】本発明を適用した第5の実施の形態に係る半導
体装置の実装構造を模式的に示す断面図である。
FIG. 7 is a sectional view schematically showing a mounting structure of a semiconductor device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図8】図8(a)および図8(b)は、本発明を適用
した第6の実施の形態に係る膜パターンの形成方法を説
明する図であり、図8(c)は、第6の実施の形態に係
る膜パターンの形成方法によって形成された膜パターン
を模式的に示す平面図である。
8 (a) and 8 (b) are views for explaining a film pattern forming method according to a sixth embodiment to which the present invention is applied, and FIG. It is a top view which shows typically the film pattern formed by the film pattern forming method which concerns on 6th Embodiment.

【図9】本発明を適用した第7の実施の形態に係る非接
触型カード媒体を模式的に示す分解斜視図である。
FIG. 9 is an exploded perspective view schematically showing a non-contact type card medium according to a seventh embodiment of the present invention.

【図10】図10(a)は、図9に示す非接触型カード
媒体の一製造工程を模式的に示す平面図であり、図10
(b)は、図10(a)のJ−Jにおける断面を模式的
に示す図である。
10 (a) is a plan view schematically showing one manufacturing process of the non-contact type card medium shown in FIG.
(B) is a figure which shows typically the cross section in JJ of Fig.10 (a).

【図11】図11(a)は、図9に示す非接触型カード
媒体の一製造工程を模式的に示す平面図であり、図11
(b)は、図11(a)のJ−Jにおける断面を模式的
に示す図である。
11 (a) is a plan view schematically showing one manufacturing process of the non-contact type card medium shown in FIG.
11B is a diagram schematically showing a cross section taken along line JJ of FIG.

【図12】本発明を適用した第8の実施の形態に係る導
電膜配線を模式的に示す平面図である。
FIG. 12 is a plan view schematically showing a conductive film wiring according to an eighth embodiment of the present invention.

【図13】図13(a)〜図13(c)はそれぞれ、図
12に示す導電膜配線の一製造工程を模式的に示す断面
図である。
13 (a) to 13 (c) are cross-sectional views each schematically showing one manufacturing process of the conductive film wiring shown in FIG.

【図14】本発明を適用した第9の実施の形態に係る膜
パターンの形成方法を模式的に示す断面図である。
FIG. 14 is a sectional view schematically showing a film pattern forming method according to a ninth embodiment of the invention.

【図15】本発明を適用した第9の実施の形態に係る膜
パターンの形成方法の一形成工程を説明する図である。
FIG. 15 is a diagram illustrating a forming step of a film pattern forming method according to a ninth embodiment of the present invention.

【図16】図16(a)は、本発明を適用した第10の
実施の形態に係る半導体装置の実装構造を模式的に示す
断面図であり、図16(b)は、図16(a)の領域G
の拡大模式図である。
16A is a sectional view schematically showing a mounting structure of a semiconductor device according to a tenth embodiment to which the invention is applied, and FIG. 16B is a sectional view of FIG. ) Area G
FIG.

【図17】図17(a)〜図17(d)はそれぞれ、図
16に示す半導体装置の実装構造の一製造工程を模式的
に示す断面図である。
17 (a) to 17 (d) are cross-sectional views each schematically showing one manufacturing step of the mounting structure of the semiconductor device shown in FIG.

【図18】図18(a)〜図18(d)はそれぞれ、本
発明を適用した第11の実施の形態に係る膜パターンの
形成方法によって形成された液滴を模式的に示す断面図
である。
18 (a) to 18 (d) are cross-sectional views schematically showing droplets formed by a film pattern forming method according to an eleventh embodiment of the present invention. is there.

【図19】図19(a)は、本発明を適用した半導体装
置の一例たる第12の実施の形態に係る薄膜トランジス
タを模式的に示す平面図であり、図19(b)は、図1
9(a)のH−Hにおける断面を模式的に示す図であ
る。
19 (a) is a plan view schematically showing a thin film transistor according to a twelfth embodiment which is an example of a semiconductor device to which the present invention is applied, and FIG.
It is a figure which shows the cross section in HH of 9 (a) typically.

【図20】図20(a)〜図20(e)はそれぞれ、図
19に示す薄膜トランジスタの一製造工程を模式的に示
す平面図および断面図である。
20 (a) to 20 (e) are respectively a plan view and a cross-sectional view schematically showing one manufacturing process of the thin film transistor shown in FIG.

【図21】本発明を適用した電気光学装置の一例たる第
13の実施の形態に係る液晶装置の第1基板を模式的に
示す平面図である。
FIG. 21 is a plan view schematically showing a first substrate of a liquid crystal device according to a thirteenth embodiment which is an example of the electro-optical device to which the invention is applied.

【図22】本発明を適用した発光装置の一例たる第14
の実施の形態に係る発光装置を模式的に示す断面図であ
る。
FIG. 22 is a fourteenth example of a light emitting device to which the present invention is applied.
3 is a cross-sectional view schematically showing the light emitting device according to the embodiment of FIG.

【図23】図23(a)〜図23(c)はそれぞれ、図
22に示す発光装置の一製造工程を模式的に示す断面図
である。
23 (a) to 23 (c) are cross-sectional views each schematically showing one manufacturing process of the light emitting device shown in FIG.

【図24】図24(a)〜図24(c)はそれぞれ、図
22に示す発光装置の一製造工程を模式的に示す断面図
である。
24A to 24C are cross-sectional views each schematically showing one manufacturing process of the light emitting device shown in FIG.

【図25】図25(a)は、本発明を適用した電子機器
の一例たる第15の実施の形態に係る携帯電話を示す図
であり、図25(b)は、本発明を適用した電子機器の
一例たる第15の実施の形態に係る携帯型情報処理装置
を示す図であり、図25(c)は、本発明を適用した電
子機器の一例たる第15の実施の形態に係る腕時計型電
子機器を示す図である。
25 (a) is a diagram showing a mobile phone according to a fifteenth embodiment, which is an example of an electronic device to which the present invention is applied, and FIG. 25 (b) is an electronic device to which the present invention is applied. It is a figure which shows the portable information processing apparatus which concerns on 15th Embodiment which is an example of apparatus, FIG.25 (c) is the wristwatch type which concerns on 15th Embodiment which is an example of the electronic equipment to which this invention is applied. It is a figure which shows an electronic device.

【図26】第1の実施の形態の膜パターンの形成方法を
説明するフローチャートである。
FIG. 26 is a flowchart illustrating a film pattern forming method according to the first embodiment.

【図27】一般的な膜パターンの形成方法を説明するフ
ローチャートである。
FIG. 27 is a flowchart illustrating a general method for forming a film pattern.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 インクジェットヘッド群 2 X方向ガイド軸 3 X方向駆動モータ 4 載置台 5 Y方向ガイド軸 6,16 Y方向駆動モータ 7 基台 8 制御装置 10 基板 11,11a,11b ノズル 12 インクジェットヘッド 14 クリーニング機構部 15 ヒータ 18a,18b インクタンク 22 導電膜 22a 第1の液滴 24 絶縁膜 24a 第2の液滴 30 半導体ICチップ 31 基板 32 再配置端子 34 端子 40 プリント基板 41 ベース基板 42 導電層 50 CPU搭載基板 52,53 ボールバンプ 54 カバー 56 緩衝材 58 CPU 62 導電膜 62a 第1の液滴 64 絶縁膜 64a 第2の液滴 65 配線 66,68 端子 70 ICチップ積層体 70a ICチップ 71 基板 72 ヘッド 73 導電層 74 ボールバンプ 75 開口部 76 コンタクト部 77 配線層 78 パッド 79 接着材 80 半導体ICチップ 81 基板 82 端子 83 絶縁層 84 再配置端子 85,87 開口部 89 補強材 91 基板 96 凹部 100 配線形成装置 112 導電膜 112a 第1の液滴 114 絶縁膜 114a 第2の液滴 116 凹部 118 絶縁層 120 薄膜トランジスタ(TFT) 121 基板 122 ゲート電極 122a 塗布膜 124 絶縁層 124a 塗布膜 125 チャネル領域 125a 隙間 126,127 ソース/ドレイン領域 128,129 ソース/ドレイン電極 140 発光装置 140a 発光素子部 141 基板 142 正孔輸送/注入層 142a 第1の液滴 143 陽極 144 発光層 144a 第2の液滴 145 陰極 146 開口部 146a 開口部の底面(親液パターン) 147 撥液パターン 148 絶縁層 149 電源 300 第1基板 303 画素領域 310 信号電極 310a 画素電極部分 310b 信号配線部分 331 第1引き回し配線 332 第2引き回し配線 340 上下導通端子 341 上下導通材 350 液晶駆動回路 400 非接触型カード媒体 402 カード基体 408 半導体集積回路チップ 412 アンテナ回路 418 カードカバー 600 携帯電話本体 601 表示部 700 情報処理装置 701 入力部 702 表示部 703 情報処理装置本体 800 時計本体 801 表示部 1 Inkjet head group 2 X direction guide shaft 3 X-direction drive motor 4 table 5 Y direction guide shaft 6,16 Y direction drive motor 7 base 8 control device 10 substrates 11, 11a, 11b nozzles 12 inkjet head 14 Cleaning mechanism 15 heater 18a, 18b ink tank 22 Conductive film 22a First droplet 24 Insulating film 24a second droplet 30 Semiconductor IC chip 31 substrate 32 rearranged terminals 34 terminals 40 printed circuit board 41 base substrate 42 conductive layer 50 CPU board 52,53 ball bump 54 cover 56 cushioning material 58 CPU 62 conductive film 62a First droplet 64 insulating film 64a second droplet 65 wiring 66, 68 terminal 70 IC chip stack 70a IC chip 71 board 72 heads 73 Conductive layer 74 ball bump 75 opening 76 Contact part 77 wiring layer 78 pads 79 Adhesive 80 Semiconductor IC chip 81 substrate 82 terminal 83 Insulation layer 84 Rearrangement terminal 85,87 opening 89 Reinforcement material 91 substrate 96 recess 100 wiring forming equipment 112 conductive film 112a first droplet 114 insulating film 114a second droplet 116 recess 118 insulating layer 120 thin film transistor (TFT) 121 substrate 122 gate electrode 122a coating film 124 insulating layer 124a coating film 125 channel region 125a gap 126, 127 source / drain regions 128,129 source / drain electrodes 140 light emitting device 140a light emitting element section 141 substrate 142 Hole Transport / Injection Layer 142a First droplet 143 Anode 144 light emitting layer 144a second droplet 145 cathode 146 opening 146a Bottom of opening (lyophilic pattern) 147 liquid repellent pattern 148 insulating layer 149 power supply 300 First substrate 303 pixel area 310 signal electrode 310a Pixel electrode part 310b Signal wiring part 331 First routing wiring 332 Second wiring 340 Vertical conduction terminal 341 Vertical conduction material 350 LCD drive circuit 400 Non-contact card medium 402 card base 408 Semiconductor integrated circuit chip 412 Antenna circuit 418 card cover 600 mobile phone body 601 display 700 information processing device 701 input section 702 display 703 Information processing device body 800 watch body 801 display

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 29/78 627C 617V (72)発明者 青木 敬 長野県諏訪市大和3丁目3番5号 セイコ ーエプソン株式会社内 Fターム(参考) 4M104 AA01 BB01 BB02 BB04 BB05 BB07 BB08 BB09 BB36 CC01 CC05 DD20 DD51 DD78 DD80 DD81 EE09 EE14 EE17 EE18 FF13 GG09 GG10 GG14 GG20 HH13 HH14 HH20 5F033 HH00 HH04 HH07 HH11 HH13 HH14 HH40 JJ00 JJ01 JJ07 JJ11 JJ13 JJ14 KK05 KK08 KK13 MM05 PP26 QQ09 QQ37 QQ53 QQ73 QQ82 QQ83 RR04 RR21 RR22 SS30 VV07 VV15 XX00 XX02 XX03 XX31 5F045 AB32 BB08 EB19 HA16 5F110 AA16 BB02 CC07 DD03 EE02 EE41 EE42 EE47 EE48 FF02 FF21 FF27 FF36 GG02 GG15 GG24 GG45 HK02 HK09 HK21 HK25 HK32 HM20 NN72 QQ01 QQ08 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H01L 29/78 627C 617V (72) Inventor Takashi Aoki 3-3-5 Yamato, Suwa-shi, Nagano Seiko Epson shares companies in the F-term (reference) 4M104 AA01 BB01 BB02 BB04 BB05 BB07 BB08 BB09 BB36 CC01 CC05 DD20 DD51 DD78 DD80 DD81 EE09 EE14 EE17 EE18 FF13 GG09 GG10 GG14 GG20 HH13 HH14 HH20 5F033 HH00 HH04 HH07 HH11 HH13 HH14 HH40 JJ00 JJ01 JJ07 JJ11 JJ13 JJ14 KK05 KK08 KK13 MM05 PP26 QQ09 QQ37 QQ53 QQ73 QQ82 QQ83 RR04 RR21 RR22 SS30 VV07 VV15 XX00 XX02 XX03 XX03 XX31 5F045 AB32 BB08 EB19 GG25 FF27 FF27 FF27 FF27 EE27 FF02 EE02 FF02 EE47 FF02 EE47 FF21 EE47 FF21 EE47 FF21 EE47 FF21 EE47 FF21 EE41 EE21 EE47 FF21 EE41 EE41 EE41 EE41 EE21 EE02 EE47 EE02 EE47 EE41 EE21 EE47 NN72 QQ01 QQ08

Claims (25)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液滴吐出法によって、膜形成成分を含有
した液状物からなる液滴を、基板上の所定の膜形成領域
に吐出して膜パターンを形成する膜パターンの形成方法
であって、 互いに混ざり合わない複数の液滴を吐出することによ
り、隣り合う位置に複数の膜パターンを形成する、こと
を含む、膜パターンの形成方法。
1. A method for forming a film pattern, which comprises forming a film pattern by discharging a liquid droplet containing a film-forming component into a predetermined film-forming region on a substrate by a droplet-discharging method. A method for forming a film pattern, which comprises forming a plurality of film patterns at adjacent positions by ejecting a plurality of droplets that are not mixed with each other.
【請求項2】 請求項1において、 前記隣り合う位置に形成される前記複数の膜パターン
は、互いに異なる機能を有する、膜パターンの形成方
法。
2. The method for forming a film pattern according to claim 1, wherein the plurality of film patterns formed at the adjacent positions have different functions.
【請求項3】 請求項1または2において、 前記複数の液滴を、前記基板と平行な方向に隣り合う位
置に吐出することにより、前記複数の膜パターンを、前
記基板と平行な方向に隣り合うように形成する、膜パタ
ーンの形成方法。
3. The plurality of film patterns are adjacent to each other in a direction parallel to the substrate by discharging the plurality of droplets to positions adjacent to each other in a direction parallel to the substrate. A method of forming a film pattern, which is formed so as to match.
【請求項4】 請求項1または2において、 前記複数の液滴をほぼ同一位置に重ねて吐出することに
より、前記複数の膜パターンを、前記基板と垂直方向に
隣り合うように形成する、膜パターンの形成方法。
4. The film according to claim 1, wherein the plurality of film patterns are formed so as to be adjacent to each other in a direction perpendicular to the substrate by discharging the plurality of liquid droplets at substantially the same position. Pattern formation method.
【請求項5】 請求項4において、 前記複数の液滴のうち1の液滴を構成する液状物は、前
記1の液滴よりも上部に形成された液滴を構成する液状
物よりも沸点が低い、膜パターンの形成方法。
5. The liquid material forming one of the plurality of liquid droplets has a boiling point higher than that of the liquid material forming the liquid droplet formed above the one liquid droplet. Low film pattern forming method.
【請求項6】 請求項4または5において、 前記複数の液滴を、前記基板に設けられた凹部に吐出す
ることにより、前記複数の膜パターンを該凹部に形成す
る、膜パターンの形成方法。
6. The method for forming a film pattern according to claim 4, wherein the plurality of film patterns are formed in the recess by ejecting the plurality of droplets into the recess provided in the substrate.
【請求項7】 請求項6において、 前記複数の液滴を前記凹部に吐出した後、該複数の液滴
に遠心力を付加することにより、該複数の液滴の分離を
促進させること、を含む、膜パターンの形成方法。
7. The method according to claim 6, wherein after the plurality of droplets are discharged to the concave portion, centrifugal force is applied to the plurality of droplets to promote separation of the plurality of droplets. A method of forming a film pattern, comprising:
【請求項8】 請求項1ないし7のいずれかにおいて、 前記複数の液滴は、第1の液滴と第2の液滴からなり、 前記第1の液滴は、前記膜形成成分として導電性微粒子
を含む液状物であり、 前記第2の液滴は、前記膜形成成分として絶縁体を含む
液状物である、膜パターンの形成方法。
8. The droplet according to claim 1, wherein the plurality of droplets are composed of first droplets and second droplets, and the first droplets are conductive as the film forming component. A method for forming a film pattern, which is a liquid containing fine particles, and the second droplet is a liquid containing an insulator as the film forming component.
【請求項9】 請求項8において、 前記第1の液滴から導電膜を形成し、前記第2の液滴か
ら絶縁膜を形成する、膜パターンの形成方法。
9. The method for forming a film pattern according to claim 8, wherein a conductive film is formed from the first droplets, and an insulating film is formed from the second droplets.
【請求項10】 請求項9において、 前記第1の液滴に対して熱処理および/または光照射を
行なうことにより、前記導電膜を形成する、膜パターン
の形成方法。
10. The method of forming a film pattern according to claim 9, wherein the conductive film is formed by performing heat treatment and / or light irradiation on the first droplet.
【請求項11】 請求項1ないし10のいずれかにおい
て、 さらに、親液パターンおよび撥液パターンを、前記基板
の所定領域に形成すること、を含み、 前記複数の液滴を、前記親液パターンおよび前記撥液パ
ターンが施された領域に吐出することにより、前記複数
の膜パターンを、該親液パターンの上に形成する、膜パ
ターンの形成方法。
11. The lyophilic pattern according to claim 1, further comprising forming a lyophilic pattern and a lyophobic pattern on a predetermined region of the substrate, wherein the plurality of droplets are provided on the lyophilic pattern. And a method of forming a film pattern, wherein the plurality of film patterns are formed on the lyophilic pattern by discharging the liquid-repellent pattern on the area.
【請求項12】 請求項1ないし11のいずれかにおい
て、 前記複数の液滴にそれぞれ含まれる液状物を、蒸発およ
び/または分解によって同時に除去することにより、前
記複数の膜パターンの界面を、大気に曝すことなく形成
する、膜パターンの形成方法。
12. The interface according to claim 1, wherein the liquid material contained in each of the plurality of droplets is simultaneously removed by evaporation and / or decomposition so that the interfaces of the plurality of film patterns are exposed to the atmosphere. A method for forming a film pattern, which is formed without being exposed to light.
【請求項13】 液滴吐出法によって、膜形成成分を含
有した液状物からなる液滴を、基板上の所定の膜形成領
域に吐出して膜パターンを形成する膜パターンの形成装
置であって、 請求項1ないし12のいずれかに記載の膜パターンの形
成方法によって膜パターンを形成する、膜パターンの形
成装置。
13. A film pattern forming apparatus for forming a film pattern by discharging a liquid droplet containing a film forming component to a predetermined film forming region on a substrate by a droplet discharging method. A film pattern forming apparatus for forming a film pattern by the method for forming a film pattern according to claim 1.
【請求項14】 請求項13において、 前記複数の液滴を吐出することができる1のヘッドを含
む、膜パターンの形成装置。
14. The film pattern forming apparatus according to claim 13, including one head capable of ejecting the plurality of droplets.
【請求項15】 請求項13において、 前記複数の液滴を構成する各液滴毎に専用のヘッドが設
置されている、膜パターンの形成装置。
15. The film pattern forming apparatus according to claim 13, wherein a dedicated head is installed for each of the droplets forming the plurality of droplets.
【請求項16】 請求項13において、 前記複数の液滴を混合する混合手段を含み、該混合手段
によって該複数の液滴を混合した後吐出する、膜パター
ンの形成装置。
16. The film pattern forming apparatus according to claim 13, further comprising: a mixing unit that mixes the plurality of droplets, and the mixture unit ejects the plurality of droplets after mixing the plurality of droplets.
【請求項17】 請求項8ないし10のいずれかに記載
の膜パターンの形成方法によって形成される、導電膜配
線。
17. A conductive film wiring formed by the method for forming a film pattern according to claim 8.
【請求項18】 請求項17に記載の導電膜配線を含
む、半導体チップの実装構造。
18. A semiconductor chip mounting structure including the conductive film wiring according to claim 17.
【請求項19】 請求項17に記載の導電膜配線を含
む、電気光学装置。
19. An electro-optical device comprising the conductive film wiring according to claim 17.
【請求項20】 ソース電極、ドレイン電極、およびゲ
ート電極と、 前記電極を互いに絶縁する絶縁層と、を含み、 前記電極および前記絶縁層が、請求項1に記載の膜パタ
ーンの形成方法を経て形成される、半導体装置。
20. A source electrode, a drain electrode, and a gate electrode; and an insulating layer that insulates the electrodes from each other, wherein the electrode and the insulating layer undergo the film pattern forming method according to claim 1. A semiconductor device formed.
【請求項21】 発光層および正孔輸送/注入層と、該
発光層および該正孔輸送/注入層を挟持する一対の電極
層と、を含み、 前記発光層および前記正孔輸送/注入層が、請求項1な
いし7のいずれかに記載の膜パターンの形成方法を経て
形成される、発光装置。
21. A light emitting layer and a hole transporting / injecting layer, and a pair of electrode layers sandwiching the light emitting layer and the hole transporting / injecting layer, the light emitting layer and the hole transporting / injecting layer. Is formed by the method for forming a film pattern according to any one of claims 1 to 7.
【請求項22】 請求項19に記載の電気光学装置を含
む、電子機器。
22. An electronic device including the electro-optical device according to claim 19.
【請求項23】 請求項20に記載の半導体装置を含
む、電子機器。
23. An electronic device including the semiconductor device according to claim 20.
【請求項24】 請求項21に記載の発光装置を含む、
電子機器。
24. The light emitting device according to claim 21,
Electronics.
【請求項25】 請求項17に記載の導電膜配線をアン
テナ回路として含む、非接触型カード媒体。
25. A non-contact type card medium containing the conductive film wiring according to claim 17 as an antenna circuit.
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