JP2003309318A - Starting method of semiconductor laser device and optical communication device using semiconductor laser device - Google Patents
Starting method of semiconductor laser device and optical communication device using semiconductor laser deviceInfo
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- JP2003309318A JP2003309318A JP2002237091A JP2002237091A JP2003309318A JP 2003309318 A JP2003309318 A JP 2003309318A JP 2002237091 A JP2002237091 A JP 2002237091A JP 2002237091 A JP2002237091 A JP 2002237091A JP 2003309318 A JP2003309318 A JP 2003309318A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体レーザ装置の起動時に、サーモモジュ
ールの加熱方向に過大なサーモモジュール電流が流れる
ことを防止し、その過大なサーモモジュール電流に起因
する問題の発生を防止できる半導体レーザ装置の起動方
法及び半導体レーザ装置を用いた光通信機器の提供。
【解決手段】 半導体レーザ装置10の起動時、サーミ
スタ20の指示温度Tsが所定の起動温度Tref1よりも
低い場合には、サーモモジュール38にサーモモジュー
ル電流Itec が給電される前に、半導体レーザ素子16
に加熱用電流Ihが給電され、半導体レーザ素子16が
予備加熱される。そして、サーミスタ20の指示温度T
sが起動温度Tref1に到達した段階で、半導体レーザ素
子16及びサーモモジュール38への給電が開始され
る。こうして半導体レーザ装置10の起動が完了され
る。
(57) Abstract: A semiconductor capable of preventing an excessive thermomodule current from flowing in a heating direction of a thermomodule at the time of starting a semiconductor laser device and preventing a problem caused by the excessive thermomodule current. Provided are an activation method of a laser device and an optical communication device using the semiconductor laser device. When the indicated temperature Ts of the thermistor 20 is lower than a predetermined starting temperature Tref1 when the semiconductor laser device 10 is started, the semiconductor laser device 16 is turned on before the thermomodule current Itec is supplied to the thermomodule 38.
Is supplied with a heating current Ih to preheat the semiconductor laser element 16. Then, the indicated temperature T of the thermistor 20
When s reaches the starting temperature Tref1, power supply to the semiconductor laser element 16 and the thermomodule 38 is started. Thus, the activation of the semiconductor laser device 10 is completed.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信に使用され
る半導体レーザ装置の起動方法及びその起動方法が適用
される半導体レーザ装置を用いた光通信機器に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for starting a semiconductor laser device used for optical communication and an optical communication device using the semiconductor laser device to which the starting method is applied.
【0002】[0002]
【従来の技術】例えば光通信や光増幅等に使用される従
来の半導体レーザ装置は、半導体レーザ素子と光ファイ
バを光学的に結合させてモジュール化したものであり、
例えば特開2002−9384号公報の図7や特開20
00−216474号公報の図6に示されるように構成
されている。2. Description of the Related Art For example, a conventional semiconductor laser device used for optical communication or optical amplification is a module in which a semiconductor laser element and an optical fiber are optically coupled to each other.
For example, FIG. 7 of Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2002-9384 and Japanese Unexamined Patent Application Publication 20
It is configured as shown in FIG. 6 of Japanese Unexamined Patent Publication No. 00-216474.
【0003】このような半導体レーザ装置は、その半導
体レーザ素子にレーザ駆動電流が給電されると、半導体
レーザ素子が駆動されてレーザ光を出射する。このレー
ザ光は、レンズからなる結合用光学系を介して光ファイ
バに入射する。光ファイバに入射したレーザ光は、光フ
ァイバ内を伝搬して所望の用途に供される。ところで、
半導体レーザ素子では、一般に、半導体レーザ素子自体
の発熱や周囲の環境温度の影響による温度変化に応じ
て、レーザ光の光強度及び波長が変動する。このため、
半導体レーザ装置には、一般に、そのパッケージ内にサ
ーモモジュールが設けられている。このサーモモジュー
ルは、ペルチェ素子に給電される電流の方向に応じて、
発熱動作(加熱動作)又は吸熱動作(冷却動作)を実行
する。また、サーモモジュールの構成やその電流の大き
さに応じて、その発熱量や吸熱量が変化する。In such a semiconductor laser device, when a laser drive current is supplied to the semiconductor laser element, the semiconductor laser element is driven to emit laser light. This laser light is incident on the optical fiber via the coupling optical system including a lens. The laser light incident on the optical fiber propagates through the optical fiber and is used for a desired purpose. by the way,
In the semiconductor laser device, generally, the light intensity and wavelength of the laser light fluctuate according to the temperature change due to the heat generation of the semiconductor laser device itself or the influence of the ambient environmental temperature. For this reason,
A semiconductor laser device is generally provided with a thermo module in its package. This thermo module, depending on the direction of the current supplied to the Peltier element,
A heat generating operation (heating operation) or a heat absorbing operation (cooling operation) is executed. Further, the amount of heat generation and the amount of heat absorption change depending on the configuration of the thermomodule and the magnitude of its current.
【0004】即ち、半導体レーザ素子に温度変化が生じ
る場合、その半導体レーザ素子の温度を温度センサであ
るサーミスタによって検知して、そのサーミスタの指示
温度Tsに基づき、サーモモジュールに給電される駆動
電流(以下、適宜「サーモモジュール電流」と呼ぶ)I
tec の方向及び大きさが調整され、それに応じて加熱動
作又は冷却動作が行われる。こうしたサーモモジュール
による温度制御によって、半導体レーザ素子はほぼ所望
の駆動条件の温度に保たれる。従って、半導体レーザ装
置は、半導体レーザ素子から出射されるレーザ光の光強
度及び波長を安定させた状態で駆動される。That is, when a temperature change occurs in the semiconductor laser device, the temperature of the semiconductor laser device is detected by a thermistor which is a temperature sensor, and based on the temperature Ts indicated by the thermistor, a drive current (power supplied to the thermomodule is supplied. Hereinafter referred to as "thermomodule current" as appropriate) I
The direction and size of the tec are adjusted, and the heating operation or cooling operation is performed accordingly. By such temperature control by the thermo module, the semiconductor laser device can be maintained at a temperature under almost desired driving conditions. Therefore, the semiconductor laser device is driven in a state where the light intensity and the wavelength of the laser light emitted from the semiconductor laser element are stabilized.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、低温環
境下にて、上記した従来の半導体レーザ装置が起動され
る場合、次のような問題が生じる。例えば半導体レーザ
素子の温度(サーミスタの指示温度Ts)が25℃の条
件下で所望の光強度及び波長のレーザ光を出射するよう
に設計された半導体レーザ装置が、環境温度Tc=10
℃にて起動されたと仮定する。この場合、サーモモジュ
ールには、半導体レーザ素子を加熱する方向にサーモモ
ジュール電流Itecが流れる。However, when the above-mentioned conventional semiconductor laser device is started up in a low temperature environment, the following problems occur. For example, a semiconductor laser device designed to emit laser light having a desired light intensity and wavelength under the condition that the temperature of the semiconductor laser element (instruction temperature Ts of the thermistor) is 25 ° C. has an ambient temperature Tc = 10.
Suppose it was started at ℃. In this case, the thermomodule current Itec flows through the thermomodule in the direction of heating the semiconductor laser element.
【0006】このときのサーモモジュール電流Itec を
モニタすると、例えば図5のグラフに示されるように、
半導体レーザ装置の起動直後に、即ち、サーモモジュー
ル電流Itec の給電開始直後に、サーモモジュール電流
Itec が過大になることがある。こうした現象は、制御
系によっては頻繁に発生する。加熱方向に過大なサーモ
モジュール電流Itec が流れると、サーモモジュールが
過熱され、更に、サーモモジュール上に基板を介して配
設されている半導体レーザ素子やレンズ(又はレンズ付
き光ファイバ)等の部品もまた急激に高温に加熱され
る。図5のグラフでは、加熱方向へのサーモモジュール
電流Itec の上限値が−3A(アンペア)に設定されて
いるが、サーモモジュール電流Itec がこの上限値程度
に抑えられたとしても、半導体レーザ素子やレンズ等の
部品が例えば高温環境に置かれていたり放熱状態が悪か
ったり等の条件によっては200℃以上の温度にまで上
昇する場合もある。When the thermomodule current Itec at this time is monitored, for example, as shown in the graph of FIG.
Immediately after the semiconductor laser device is activated, that is, immediately after the supply of the thermomodule current Itec is started, the thermomodule current Itec may become excessive. Such a phenomenon frequently occurs depending on the control system. When an excessive thermomodule current Itec flows in the heating direction, the thermomodule is overheated, and further, components such as a semiconductor laser device and a lens (or an optical fiber with a lens) arranged on the thermomodule via a substrate. Also, it is rapidly heated to a high temperature. In the graph of FIG. 5, the upper limit value of the thermomodule current Itec in the heating direction is set to -3 A (ampere). However, even if the thermomodule current Itec is suppressed to about this upper limit value, the semiconductor laser element or Depending on conditions such as parts such as lenses placed in a high temperature environment or bad heat dissipation, the temperature may rise to 200 ° C. or higher.
【0007】このような場合、サーモモジュール上に前
記基板を固定する熱溶融接続材料に例えば融点148℃
のIn−Pb−Ag共晶半田が用いられていると、その
半田が溶融して、基板の位置ずれを引き起こすことがあ
る。この場合、半導体レーザ素子及びレンズ(又はレン
ズ付き光ファイバ)は正規の位置からずれ、半導体レー
ザ素子の光ファイバに対する光結合が損なわれる。その
結果、半導体レーザ装置の光出力が大幅に低下してしま
う。特に、基板の位置ずれにより半導体レーザ素子が光
ファイバに対して角度ずれを起こす場合には、例えば
0.2°の角度ずれによって、前記光出力は95%も低
下してしまう。In such a case, for example, a melting point of 148.degree.
If the In-Pb-Ag eutectic solder is used, the solder may be melted and the substrate may be displaced. In this case, the semiconductor laser element and the lens (or the optical fiber with a lens) are displaced from the regular position, and the optical coupling of the semiconductor laser element with the optical fiber is impaired. As a result, the optical output of the semiconductor laser device is significantly reduced. In particular, when the semiconductor laser element causes an angular deviation with respect to the optical fiber due to the positional deviation of the substrate, the optical output is reduced by 95% due to the angular deviation of 0.2 °, for example.
【0008】また、レンズが例えば低融点ガラス又はA
u−Sn等の半田を用いて金属製のホルダに固定され、
この金属製のホルダが基板に固定されているため、サー
モモジュールの過熱により、レンズ及び金属製のホルダ
の温度が急激に上昇すると、レンズとホルダとの間の大
きな熱膨張率の差に起因して、レンズとホルダとの接合
部分(低融点ガラス又はAu−Sn等の半田)にクラッ
クが発生することがある。Further, the lens is, for example, low melting glass or A
It is fixed to a metal holder using solder such as u-Sn,
Since this metal holder is fixed to the substrate, if the temperature of the lens and the metal holder rises sharply due to overheating of the thermo module, a large difference in the coefficient of thermal expansion between the lens and the holder will result. As a result, cracks may occur at the joint between the lens and the holder (low melting glass or solder such as Au—Sn).
【0009】このクラックの発生によっても、レンズの
位置ずれやレンズの傾きが生じてレンズの光軸がずれた
り、レンズがホルダから脱落したりして、半導体レーザ
素子と光ファイバとの間の良好な光結合が損なわれてし
まう。その結果、半導体レーザ装置から良好な光出力が
得られなくなる。また、半導体レーザ素子からのレーザ
光が直接に入射されるレンズ付き光ファイバが基板上に
半田等の熱溶融接続材料を介して固定されている場合に
も、熱溶融接続材料が溶融して、レンズ付き光ファイバ
の位置ずれを生じることがある。その結果、半導体レー
ザ素子に対するレンズ付き光ファイバの光結合にずれが
生じ、半導体レーザ装置の光出力が大幅に低下してしま
う。Even if the cracks are generated, the position of the lens is displaced and the lens is tilted so that the optical axis of the lens is displaced or the lens is detached from the holder. Optical coupling is lost. As a result, a good light output cannot be obtained from the semiconductor laser device. Also, when the optical fiber with a lens to which the laser light from the semiconductor laser element is directly incident is fixed on the substrate via the hot melt connecting material such as solder, the hot melt connecting material is melted, The optical fiber with a lens may be displaced. As a result, the optical coupling of the optical fiber with a lens to the semiconductor laser element is deviated, and the optical output of the semiconductor laser device is significantly reduced.
【0010】更に、サーモモジュールは、多数のペルチ
ェ素子と、これらペルチェ素子を挟み付ける放熱側及び
吸熱側の2枚の板部材とを有しているが、これらのペル
チェ素子と板部材とは半田を利用して結合されている。
このため、この半田がサーモモジュールの過熱によって
溶融し、例えばペルチェ素子が脱落する等して、サーモ
モジュール自体が機能低下したり、破損したりするおそ
れもある。Further, the thermomodule has a large number of Peltier elements and two plate members on the heat radiating side and the heat absorbing side that sandwich these Peltier elements, and these Peltier elements and the plate members are soldered. Are combined using.
For this reason, this solder may be melted by overheating of the thermomodule and, for example, the Peltier element may drop off, and the thermomodule itself may deteriorate in function or be damaged.
【0011】なお、こうした問題に対処するため、加熱
方向のサーモモジュール電流Itecを所定の値以下に抑
制する手段を設けることが考えられる。しかし、その場
合、半導体レーザ装置が低温環境下にて起動又は駆動さ
れる際に、加熱方向のサーモモジュール電流Itec が制
限される結果、半導体レーザ素子の温度を所望の値、例
えば25℃に保持できなくなる恐れがある。In order to deal with such a problem, it is conceivable to provide means for suppressing the thermo-module current Itec in the heating direction to a predetermined value or less. However, in that case, when the semiconductor laser device is started or driven in a low temperature environment, the thermomodule current Itec in the heating direction is limited, so that the temperature of the semiconductor laser element is maintained at a desired value, for example, 25 ° C. You may not be able to.
【0012】本発明は上記課題を解決するためになされ
たものであり、半導体レーザ装置の起動時において、サ
ーモモジュールにその加熱方向への過大なサーモモジュ
ール電流が流れることを防止し、その過大なサーモモジ
ュール電流に起因する不具合の発生を防止できる半導体
レーザ装置の起動方法及びその起動方法が適用される半
導体レーザ装置を用いた光通信機器を提供することを目
的とする。The present invention has been made to solve the above problems, and prevents an excessive thermomodule current from flowing to the thermomodule in the heating direction at the time of startup of the semiconductor laser device, thereby preventing the excessive increase of the thermomodule current. An object of the present invention is to provide a method for starting a semiconductor laser device capable of preventing the occurrence of a defect due to a thermomodule current and an optical communication device using the semiconductor laser device to which the starting method is applied.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明においては、半導体レーザ素子と、一方
向に給電を受けたときに前記半導体レーザ素子を加熱
し、逆方向に給電を受けたときに前記半導体レーザ素子
を冷却して、前記半導体レーザ素子の温度を制御するサ
ーモモジュールとを備え、前記半導体レーザ素子が熱溶
融接続材料を用いて前記サーモモジュールに固定されて
いる半導体レーザ装置の起動方法であって、前記半導体
レーザ素子に加熱用電流を給電して、前記半導体レーザ
素子自体の発熱により前記半導体レーザ素子の予備加熱
を行うステップと、前記半導体レーザ素子の予備加熱の
後、前記サーモモジュールへの給電を開始すると共に、
前記半導体レーザ素子へのレーザ駆動電流の給電を開始
するステップと、を有することを特徴とする半導体レー
ザ装置の起動方法が提供される。In order to achieve the above-mentioned object, in the present invention, the semiconductor laser element and the semiconductor laser element are heated when supplied with power in one direction and supplied with power in the opposite direction. And a thermomodule that controls the temperature of the semiconductor laser element by cooling the semiconductor laser element when receiving the semiconductor laser element, and the semiconductor laser element is fixed to the thermomodule using a hot-melt connection material. A method of starting the device, comprising supplying a heating current to the semiconductor laser element to preheat the semiconductor laser element by heat generation of the semiconductor laser element itself, and after preheating the semiconductor laser element. , While starting power supply to the thermo module,
Starting the supply of a laser drive current to the semiconductor laser device. A method for starting a semiconductor laser device is provided.
【0014】また、本発明においては、光通信のための
レーザ光を発振する半導体レーザ素子と、一方向に給電
を受けたときに前記半導体レーザ素子を加熱し、逆方向
に給電を受けたときに前記半導体レーザ素子を冷却し
て、前記半導体レーザ素子の温度を制御するサーモモジ
ュールとを備え、前記半導体レーザ素子が熱溶融接続材
料を用いて前記サーモモジュールに固定されている半導
体レーザ装置と、前記半導体レーザ素子にレーザ駆動電
流及び予備加熱のための加熱用電流の一方を供給するレ
ーザ駆動電源と、前記サーモモジュールに給電するサー
モモジュール駆動電源と、前記レーザ駆動電源及び前記
サーモモジュール駆動電源の作動を制御する制御部とを
備え、前記制御部は、前記半導体レーザ装置の起動時、
前記レーザ駆動電源を作動させて、前記半導体レーザ素
子に加熱用電流を給電した後、前記サーモモジュール駆
動電源を作動させて、前記サーモモジュールへの給電を
開始すると共に、前記半導体レーザ素子へのレーザ駆動
電流の給電を開始することを特徴とする光通信機器が提
供される。Further, in the present invention, a semiconductor laser element that oscillates a laser beam for optical communication, and a semiconductor laser element that is heated when it is fed in one direction and is fed in the opposite direction. A semiconductor laser device having a thermomodule for cooling the semiconductor laser device to control the temperature of the semiconductor laser device, wherein the semiconductor laser device is fixed to the thermomodule using a hot melt connecting material; A laser drive power supply for supplying one of a laser drive current and a heating current for preheating to the semiconductor laser device; a thermomodule drive power supply for supplying power to the thermomodule; and a laser drive power supply and a thermomodule drive power supply. And a control unit for controlling the operation, the control unit, when starting the semiconductor laser device,
After operating the laser drive power source and supplying a heating current to the semiconductor laser element, the thermomodule drive power source is operated to start power supply to the thermomodule and to the laser to the semiconductor laser element. There is provided an optical communication device characterized by starting supply of a drive current.
【0015】[0015]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て添付図面を参照しつつ説明する。
(第1の実施形態)図1に示されるように、本実施形態
に係る半導体レーザ装置10は、例えば光通信用の信号
光源や光増幅用の励起光源として使用され、半導体レー
ザ素子16と光ファイバ34とを光学的に結合させてモ
ジュール化したものである。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. (First Embodiment) As shown in FIG. 1, a semiconductor laser device 10 according to the present embodiment is used, for example, as a signal light source for optical communication or an excitation light source for optical amplification, and is used as a semiconductor laser device 16 and an optical source. The fiber 34 is optically coupled to form a module.
【0016】この半導体レーザ装置10は、そのパッケ
ージ36内にサーモモジュール38を有する。このサー
モモジュール38は、複数のペルチェ素子38aと、こ
れらペルチェ素子38aを挟み付ける板部材38b、3
8cとを含み、板部材38b、38cは例えばアルミナ
や窒化アルミ等の絶縁基板からなる。この例では、パッ
ケージ36の内底壁面上に板部材38bが固定され、こ
の板部材38bに、ペルチェ素子38aの放熱側端(図
1の下側)が半田により固定されている。板部材38c
はペルチェ素子38aの吸熱側端(図1の上側)に半田
により固定されている。The semiconductor laser device 10 has a thermo module 38 in its package 36. The thermo module 38 includes a plurality of Peltier elements 38a and plate members 38b, 3b sandwiching the Peltier elements 38a.
8c, the plate members 38b and 38c are made of an insulating substrate such as alumina or aluminum nitride. In this example, a plate member 38b is fixed on the inner bottom wall surface of the package 36, and the heat radiation side end (lower side in FIG. 1) of the Peltier element 38a is fixed to the plate member 38b by soldering. Plate member 38c
Is fixed to the heat absorption side end (upper side in FIG. 1) of the Peltier element 38a by soldering.
【0017】サーモモジュール38の上側、即ち、板部
材38c上には、部品の取り付けに使用される基板40
が設けられており、この基板40は熱溶融接続材料であ
る例えば融点148℃のIn−Pb−Ag共晶半田によ
って板部材38cに固定されている。また、この基板4
0上には、半導体レーザ素子16を固定したレーザダイ
オードキャリア12、モニタ用のフォトダイオード46
を固定したフォトダイオードキャリア42及びレンズ4
4が固定されている。フォトダイオード46は、半導体
レーザ素子16の発光状態を監視する。On the upper side of the thermo module 38, that is, on the plate member 38c, a substrate 40 used for mounting components.
The substrate 40 is fixed to the plate member 38c by a hot-melt connection material, for example, In-Pb-Ag eutectic solder having a melting point of 148 ° C. In addition, this substrate 4
Above the laser diode 0, a laser diode carrier 12 having a semiconductor laser element 16 fixed thereto and a photodiode 46 for monitoring are provided.
Fixed photodiode carrier 42 and lens 4
4 is fixed. The photodiode 46 monitors the light emitting state of the semiconductor laser device 16.
【0018】パッケージ36の側壁には貫通孔が形成さ
れ、この貫通孔に光ファイバ支持部材48が嵌合されて
いる。この光ファイバ支持部材48は、例えばFe−N
i−Co合金(商標名:コバール)等からなる。この光
ファイバ支持部材48は挿通孔48aを有している。こ
の挿通孔48aの内部には、光ファイバ34の先端部が
パッケージ36の外部から導入されている。挿通孔48
aの内部には、レンズ50が配設されている。A through hole is formed in the side wall of the package 36, and an optical fiber supporting member 48 is fitted in the through hole. The optical fiber support member 48 is, for example, Fe-N.
It is made of i-Co alloy (trade name: Kovar) or the like. The optical fiber support member 48 has an insertion hole 48a. The tip of the optical fiber 34 is introduced from the outside of the package 36 into the insertion hole 48a. Insertion hole 48
A lens 50 is arranged inside a.
【0019】図2に示されるように、レーザダイオード
キャリア12上には、ヒートシンク機能を有するサブマ
ウント(以下、単に「ヒートシンク」という)14が配
置され、このヒートシンク14上には、半導体レーザ素
子16が設置されている。また、レーザダイオードキャ
リア12上には、ヒートシンク14との間に所定の間隔
をおいてサーミスタ用のサブマウント18が配置され、
このサブマウント18上には、半導体レーザ素子16の
温度を検知する温度センサとしてサーミスタ20が設置
されている。As shown in FIG. 2, a submount (hereinafter, simply referred to as “heatsink”) 14 having a heatsink function is disposed on the laser diode carrier 12, and a semiconductor laser element 16 is disposed on the heatsink 14. Is installed. Further, on the laser diode carrier 12, a sub-mount 18 for the thermistor is arranged at a predetermined distance from the heat sink 14.
A thermistor 20 is installed on the submount 18 as a temperature sensor for detecting the temperature of the semiconductor laser element 16.
【0020】レーザダイオードキャリア12上には、セ
ラミック支持台27が配置され、このセラミック支持台
27の上面には、Auメッキ層28が形成されている。
このAuメッキ層28は、半導体レーザ素子16に対す
る電気配線の中継部となっている。そして、半導体レー
ザ素子16は、Auワイヤ29によってAuメッキ層2
8に接続され、このAuメッキ層28は、Auワイヤ2
9によって半導体レーザ素子16のレーザ駆動電源(図
示せず)に接続されている。半導体レーザ素子16への
電気回路は、このように構成されている。A ceramic support 27 is arranged on the laser diode carrier 12, and an Au plating layer 28 is formed on the upper surface of the ceramic support 27.
The Au plated layer 28 serves as a relay portion for electrical wiring to the semiconductor laser element 16. Then, the semiconductor laser device 16 uses the Au wire 29 for the Au plating layer 2
The Au plated layer 28 is connected to the Au wire 2
It is connected to a laser drive power source (not shown) of the semiconductor laser device 16 by means of 9. The electric circuit to the semiconductor laser device 16 is configured in this way.
【0021】レーザダイオードキャリア12上には、更
に別のセラミック支持台30が配置されており、このセ
ラミック支持台30の上面には、サーミスタ20の電気
配線の中継部となるAuメッキ層31a、31bがそれ
ぞれ形成されている。サーミスタ20は、Auワイヤ2
9によってAuメッキ層31a、31bに電気的に接続
され、Auメッキ層31a、31bは、Auワイヤ29
によってサーミスタ20の電源(図示せず)に接続され
ている。サーミスタ20への電気回路は、このように構
成されている。Another ceramic support base 30 is disposed on the laser diode carrier 12, and Au plating layers 31a and 31b, which serve as relay portions for electrical wiring of the thermistor 20, are disposed on the upper surface of the ceramic support base 30. Are formed respectively. The thermistor 20 is the Au wire 2
9 is electrically connected to the Au plated layers 31a and 31b, and the Au plated layers 31a and 31b are connected to the Au wire 29.
Is connected to the power source (not shown) of the thermistor 20. The electric circuit to the thermistor 20 is configured in this way.
【0022】次に、本実施形態に係る半導体レーザ装置
10の起動方法について、図3を参照しながら説明す
る。図3は、本実施形態に係る半導体レーザ装置10の
起動方法を説明するためのブロック図である。先ず、半
導体レーザ装置10の起動時、サーミスタ20によって
半導体レーザ素子16の温度が検知される。この半導体
レーザ素子16の温度情報は、電圧信号に変換されて、
駆動制御部56に送信される。Next, a method of starting the semiconductor laser device 10 according to this embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a block diagram for explaining a method of starting the semiconductor laser device 10 according to this embodiment. First, when the semiconductor laser device 10 is started, the temperature of the semiconductor laser element 16 is detected by the thermistor 20. The temperature information of the semiconductor laser device 16 is converted into a voltage signal,
It is transmitted to the drive control unit 56.
【0023】ここで、サーミスタ20の指示温度Tsが
予め設定した所定の起動温度Tref1よりも低い場合に、
即ち、Ts<Tref1の場合に、直ちにサーモモジュール
38への給電が行われると、過大な加熱方向のサーモモ
ジュール電流Itec が急激に流れて、基板40とサーモ
モジュール38とを固定している半田が溶融するおそれ
が生じる。このため、駆動制御部56は、先ず、指示温
度Tsを示す電圧信号Vtsと起動温度Tref1に対応した
電圧信号Vref1とを比較する。Here, when the instruction temperature Ts of the thermistor 20 is lower than a preset starting temperature Tref1,
That is, when Ts <Tref1, when the power is immediately supplied to the thermo module 38, the thermo module current Itec in the excessive heating direction suddenly flows, and the solder fixing the substrate 40 and the thermo module 38 to each other. It may melt. Therefore, the drive control unit 56 first compares the voltage signal Vts indicating the instruction temperature Ts with the voltage signal Vref1 corresponding to the starting temperature Tref1.
【0024】その結果、半導体レーザ素子16の温度T
sが起動温度Tref1以上である場合には、駆動制御部5
6からレーザ駆動電源54に駆動開始信号が送信され、
この駆動開始信号を受けたレーザ駆動電源54は、半導
体レーザ素子16へのレーザ駆動電流Iopの給電を開始
する。また同時に、駆動制御部56からサーモモジュー
ル駆動電源52に冷却開始信号が送信され、この冷却開
始信号を受けたサーモモジュール駆動電源52は、サー
モモジュール38に冷却方向のサーモモジュール電流I
tecを給電する。こうして、半導体レーザ素子16及び
サーモモジュール38にレーザ駆動電流Iop及びサーモ
モジュール電流Itec が給電され、半導体レーザ装置1
0が起動される。As a result, the temperature T of the semiconductor laser device 16 is increased.
If s is equal to or higher than the starting temperature Tref1, the drive control unit 5
6, a drive start signal is transmitted to the laser drive power source 54,
The laser drive power supply 54 that has received the drive start signal starts supplying the laser drive current Iop to the semiconductor laser element 16. At the same time, a cooling start signal is transmitted from the drive control unit 56 to the thermomodule drive power supply 52, and the thermomodule drive power supply 52 that has received the cooling start signal causes the thermomodule 38 to send the thermomodule current I in the cooling direction.
Power tec. In this way, the laser driving current Iop and the thermomodule current Itec are supplied to the semiconductor laser device 16 and the thermomodule 38, and the semiconductor laser device 1
0 is activated.
【0025】これに対し、起動時、半導体レーザ素子1
6の温度Tsが起動温度Tref1よりも低い場合には、先
ず、駆動制御部56からレーザ駆動電源54に加熱開始
信号が送信される。こうして、レーザ駆動電源54から
半導体レーザ素子16に加熱用電流Ih が給電され、半
導体レーザ素子16が自ら発熱して自分自身を予備加熱
し、その温度が上昇する。On the other hand, when the semiconductor laser device 1 is started up,
When the temperature Ts of 6 is lower than the starting temperature Tref1, the heating start signal is first transmitted from the drive control unit 56 to the laser drive power source 54. In this way, the heating current Ih is supplied from the laser driving power source 54 to the semiconductor laser element 16, the semiconductor laser element 16 heats itself and preheats itself, and its temperature rises.
【0026】この後、サーミスタ20の指示温度Tsが
上昇して所定の起動温度Tref1に到達した時点で、駆動
制御部56からレーザ駆動電源54に駆動開始信号が送
信され、レーザ駆動電源54は、半導体レーザ素子16
へのレーザ駆動電流Iopの給電を開始する。また同時
に、駆動制御部56からサーモモジュール駆動電源52
に動作開始信号が送信され、この動作開始信号を受けた
サーモモジュール駆動電源52は、サーモモジュール3
8に向けて、サーミスタ20の指示温度Tsを所定の駆
動温度Tref2に保つために必要なサーモモジュール電流
Itec の給電を開始する。Thereafter, when the instruction temperature Ts of the thermistor 20 rises and reaches a predetermined starting temperature Tref1, a drive start signal is transmitted from the drive control unit 56 to the laser drive power supply 54, and the laser drive power supply 54 is Semiconductor laser device 16
The power supply of the laser drive current Iop to the laser is started. At the same time, the drive control unit 56 controls the thermomodule drive power supply 52.
The operation start signal is transmitted to the thermo module drive power supply 52 which receives the operation start signal.
8, the power supply of the thermo-module current Itec necessary for keeping the instructed temperature Ts of the thermistor 20 at the predetermined driving temperature Tref2 is started.
【0027】具体的には、Ts>Tref2の場合、駆動制
御部56は、半導体レーザ素子16の温度を低下させる
ための制御信号を出力する。この際のサーモモジュール
駆動電源52への制御信号は、偏差に応じた冷却方向の
サーモモジュール電流Itecを給電する信号となる。こ
れに対し、Ts<Tref2であれば、駆動制御部56は、
半導体レーザ素子16の温度を上昇させるための制御信
号を出力する。この場合のサーモモジュール駆動電源5
2への制御信号は、偏差に応じた加熱方向のサーモモジ
ュール電流Itec を給電する信号となる。Specifically, when Ts> Tref2, the drive control section 56 outputs a control signal for lowering the temperature of the semiconductor laser element 16. At this time, the control signal to the thermomodule drive power supply 52 is a signal for supplying the thermomodule current Itec in the cooling direction according to the deviation. On the other hand, if Ts <Tref2, the drive controller 56
A control signal for raising the temperature of the semiconductor laser device 16 is output. Thermo module drive power supply 5 in this case
The control signal to 2 is a signal for supplying the thermomodule current Itec in the heating direction according to the deviation.
【0028】こうして、半導体レーザ装置10が起動さ
れる。なお、起動温度Tref1と駆動温度Tref2とは、加
熱方向のサーモモジュール電流Itec が流れることを確
実に防止するためにはTref1≧Tref2とするのが好まし
い。以上のように本実施形態においては、半導体レーザ
装置10の起動時、サーミスタ20の指示温度Tsが所
定の起動温度Tref1よりも低い場合に、先ず半導体レー
ザ素子16に加熱用電流Ih を給電して、半導体レーザ
素子16自らの発熱により予備加熱し、サーミスタ20
の指示温度Tsが起動温度Tref1に到達した後、半導体
レーザ素子16へのレーザ駆動電流Iopの給電及びサー
モモジュール38へのサーモモジュール電流Itec の給
電が開始される。このため、環境温度Tcが低温の場合
であっても、起動時、過大な加熱方向のサーモモジュー
ル電流Itec が流れることに起因する半導体レーザ装置
10の劣化や破壊を防止することができる。Thus, the semiconductor laser device 10 is activated. The starting temperature Tref1 and the driving temperature Tref2 are preferably Tref1 ≧ Tref2 in order to reliably prevent the thermomodule current Itec in the heating direction from flowing. As described above, in the present embodiment, when the semiconductor laser device 10 is activated, if the instruction temperature Ts of the thermistor 20 is lower than the predetermined activation temperature Tref1, the semiconductor laser device 16 is first supplied with the heating current Ih. , The semiconductor laser element 16 is preheated by its own heat generation, and the thermistor 20
After the instruction temperature Ts of 1 reaches the starting temperature Tref1, the supply of the laser drive current Iop to the semiconductor laser element 16 and the supply of the thermomodule current Itec to the thermomodule 38 are started. Therefore, even when the environmental temperature Tc is low, it is possible to prevent the semiconductor laser device 10 from deteriorating or breaking due to the excessive flow of the thermomodule current Itec in the heating direction at startup.
【0029】なお、半導体レーザ装置10の起動時、サ
ーミスタ20の指示温度Tsが起動温度Tref1よりも低
いと想定される場合、サーミスタ20による半導体レー
ザ素子16の温度を検知する最初のステップを省略して
もよい。即ち、半導体レーザ装置10の起動時には常に
半導体レーザ素子1に加熱用電流Ih を給電する方法を
採用してもよい。この場合にも、サーミスタ20の指示
温度Tsが起動温度Tref1に到達した後、半導体レーザ
素子16への給電が開始されるため、同様の効果を奏す
ることができる。When it is assumed that the instruction temperature Ts of the thermistor 20 is lower than the starting temperature Tref1 when the semiconductor laser device 10 is started, the first step of detecting the temperature of the semiconductor laser element 16 by the thermistor 20 is omitted. May be. That is, a method may be adopted in which the semiconductor laser device 1 is always supplied with the heating current Ih when the semiconductor laser device 10 is started. Also in this case, since the power supply to the semiconductor laser element 16 is started after the instructed temperature Ts of the thermistor 20 reaches the starting temperature Tref1, the same effect can be obtained.
【0030】また、半導体レーザ素子16自らの発熱に
より予備加熱する際に、必ずしもサーミスタ20の指示
温度Tsを起動温度Tref1に到達させる必要はない。指
示温度Tsが起動温度Tref1よりも低い所定の温度に到
達した時点で半導体レーザ素子16への加熱用電流Ih
の給電を停止し、その後はサーモモジュール38に加熱
方向のサーモモジュール電流Itec を給電し、サーモモ
ジュール38の加熱動作によって指示温度Tsを起動温
度Tref1に到達させてもよい。この場合も、前記の所定
の温度を適切に設定することにより、サーモモジュール
38に過大な加熱方向のサーモモジュール電流Itec が
流れることを防止することができる。When the semiconductor laser element 16 is preheated by the heat generated by itself, it is not always necessary that the instructed temperature Ts of the thermistor 20 reaches the starting temperature Tref1. When the instruction temperature Ts reaches a predetermined temperature lower than the starting temperature Tref1, the heating current Ih to the semiconductor laser element 16 is reached.
It is also possible to stop the power supply to the thermo module 38 and then supply the thermo module current Itec in the heating direction to the thermo module 38 so that the instruction temperature Ts reaches the starting temperature Tref1 by the heating operation of the thermo module 38. Also in this case, by appropriately setting the predetermined temperature, it is possible to prevent the thermomodule current Itec from flowing in the thermomodule 38 in an excessive heating direction.
【0031】また、第1の実施形態において、起動温度
Tref1及び駆動温度Tref2が、起動/駆動温度Tref と
して共通の温度に設定される場合もある。この場合、上
記の説明で起動温度Tref1及び駆動温度Tref2をそれぞ
れ起動/駆動温度Tref と読み替えればよく、基本的に
は同様の起動方法及び駆動方法が適用される。また、レ
ーザ駆動電源54から半導体レーザ素子16に給電され
るレーザ駆動電流Iopと加熱用電流Ih とはその作用が
異なる別概念の電流であるが、実態的には同じ大きさの
電流値をとることも可能である。Further, in the first embodiment, the starting temperature Tref1 and the driving temperature Tref2 may be set to a common temperature as the starting / driving temperature Tref. In this case, the starting temperature Tref1 and the driving temperature Tref2 may be read as the starting / driving temperature Tref in the above description, and basically the same starting method and driving method are applied. Further, the laser drive current Iop supplied from the laser drive power source 54 to the semiconductor laser element 16 and the heating current Ih are different concepts of currents having different actions, but in reality, they have the same current value. It is also possible.
【0032】また、第1の実施形態における半導体レー
ザ素子16にレンズ44等を介して光接合する光ファイ
バ34の代わりに、半導体レーザ素子16に直接に光接
合するレンズ付き光ファイバを用いてもよい。この場合
も、半導体レーザ素子16の特性劣化を防止したり、半
導体レーザ素子16とレンズ付き光ファイバとの光結合
ずれによる出力低下を防止したりすることができる効果
を奏する。Further, instead of the optical fiber 34 that is optically bonded to the semiconductor laser element 16 through the lens 44 or the like in the first embodiment, an optical fiber with a lens that is directly optically bonded to the semiconductor laser element 16 may be used. Good. Also in this case, it is possible to prevent the characteristic deterioration of the semiconductor laser device 16 and to prevent the output reduction due to the optical coupling shift between the semiconductor laser device 16 and the optical fiber with a lens.
【0033】(第2の実施形態)図4は、本発明の第2
の実施形態に係る光通信機器としての光ファイバ増幅器
60を示す。この光ファイバ増幅器60は、前述した半
導体レーザ装置10を励起光源として含んでいる。光フ
ァイバ増幅器60は、信号光が入力される信号光入力部
62と、この信号光入力部62に接続され、信号光入力
部62からの信号光を増幅するEDF(エルビウムドー
プファイバ)64と、このEDF64に接続され、増幅
された信号光を出力する信号光出力部66とを有する。
EDF64には光カプラ68が介挿され、この光カプラ
68には、半導体レーザ装置10が光ファイバ34を介
して接続されている。(Second Embodiment) FIG. 4 shows a second embodiment of the present invention.
2 shows an optical fiber amplifier 60 as an optical communication device according to the embodiment. The optical fiber amplifier 60 includes the above-mentioned semiconductor laser device 10 as an excitation light source. The optical fiber amplifier 60 includes a signal light input unit 62 to which signal light is input, an EDF (erbium-doped fiber) 64 that is connected to the signal light input unit 62 and amplifies the signal light from the signal light input unit 62, It has a signal light output unit 66 which is connected to the EDF 64 and outputs the amplified signal light.
An optical coupler 68 is inserted in the EDF 64, and the semiconductor laser device 10 is connected to the optical coupler 68 via an optical fiber 34.
【0034】また、励起光用の半導体レーザ装置10の
周囲には、サーモモジュール駆動電源52、レーザ駆動
電源54及び駆動制御部56が設置されている。半導体
レーザ装置10が駆動されると、半導体レーザ装置10
からは所望の強度及び波長に保持されたレーザ光、即ち
励起光が出射され、更に光ファイバ34及び光カプラ6
8を介してEDF64に入力される。この結果、信号光
入力部62から入力された信号光は、EDF64内にお
いて半導体レーザ装置10からの励起光により増幅され
た後、信号光出力部66から出力される。A thermomodule drive power supply 52, a laser drive power supply 54, and a drive control unit 56 are installed around the semiconductor laser device 10 for pumping light. When the semiconductor laser device 10 is driven, the semiconductor laser device 10
From which laser light having a desired intensity and wavelength, that is, excitation light, is emitted, and further, the optical fiber 34 and the optical coupler 6
It is input to the EDF 64 via 8. As a result, the signal light input from the signal light input unit 62 is amplified by the pump light from the semiconductor laser device 10 in the EDF 64, and then output from the signal light output unit 66.
【0035】以上のように本実施形態においては、励起
光の光源として半導体レーザ装置10が用いられ、第1
の実施形態で説明した起動方法が適用されるため、環境
温度Tcが低温であっても、半導体レーザ装置10の起
動時、サーモモジュールに加熱方向の過大なサーモモジ
ュール電流が流れることはない。従って、過大なサーモ
モジュール電流に起因した半導体レーザ装置10の劣化
や破壊が防止される。As described above, in the present embodiment, the semiconductor laser device 10 is used as the light source of the excitation light, and
Since the starting method described in the embodiment is applied, even when the environmental temperature Tc is low, an excessive thermomodule current in the heating direction does not flow to the thermomodule when the semiconductor laser device 10 is started. Therefore, deterioration or destruction of the semiconductor laser device 10 due to an excessive thermomodule current can be prevented.
【0036】なお、第2の実施形態では、励起用の半導
体レーザ装置10を備えた光ファイバ増幅器60につい
て説明した。これは、励起用の半導体レーザ装置10の
場合、その半導体レーザ素子16からの発熱量が大き
く、高温又は低温の環境下における使用を考慮して、大
きなサーモモジュール電流Itec を流すように設計され
るので、本発明を適用する対象として好適であると考え
られるからである。しかし、本発明の適用対象は励起用
の半導体レーザ装置10を備えた光ファイバ増幅器60
に限定されるものではなく、半導体レーザ装置を一つ以
上備えた光通信機器であって、半導体レーザ装置の半導
体レーザ素子の温度を制御するサーモモジュールが設け
られているものであれば、本発明を適用することが可能
である。In the second embodiment, the optical fiber amplifier 60 having the semiconductor laser device 10 for pumping has been described. This is designed so that in the case of the semiconductor laser device 10 for excitation, the amount of heat generated from the semiconductor laser element 16 is large, and a large thermomodule current Itec flows in consideration of use in a high temperature or low temperature environment. Therefore, it is considered to be suitable as an object to which the present invention is applied. However, the present invention is applied to an optical fiber amplifier 60 including the semiconductor laser device 10 for pumping.
However, the present invention is not limited to the present invention, as long as it is an optical communication device including one or more semiconductor laser devices and is provided with a thermo module for controlling the temperature of the semiconductor laser element of the semiconductor laser device. Can be applied.
【0037】[0037]
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、次のような効果を奏することができる。即ち、請
求項1〜3に係る半導体レーザ装置の起動方法によれ
ば、サーモモジュールへの給電が開始される前に、半導
体レーザ素子に加熱用電流が給電されて半導体レーザ素
子が予備加熱された後に、サーモモジュールへの給電と
半導体レーザ素子へのレーザ駆動電流の給電が開始され
るため、低い環境温度において起動する場合にも、過大
な加熱方向のサーモモジュール電流が流れることに起因
する半導体レーザ装置の劣化や破壊を防止することがで
きる。As described in detail above, according to the present invention, the following effects can be obtained. That is, according to the method of starting the semiconductor laser device according to claims 1 to 3, before the power supply to the thermomodule is started, the heating current is supplied to the semiconductor laser device to preheat the semiconductor laser device. After that, the power supply to the thermomodule and the laser drive current to the semiconductor laser element are started, so that the semiconductor laser caused by the excessive flow of the thermomodule current in the heating direction even when starting at a low environmental temperature. It is possible to prevent deterioration and destruction of the device.
【0038】また、請求項4〜6に係る光通信機器によ
れば、半導体レーザ装置の起動時、レーザ駆動電源及び
サーモモジュール駆動電源の作動を制御して、半導体レ
ーザ素子に加熱用電流を給電した後、サーモモジュール
への給電と半導体レーザ素子へのレーザ駆動電流の給電
を開始させる制御部が設置されているために、低い環境
温度において起動する場合にも、過大な加熱方向のサー
モモジュール電流が流れることに起因する半導体レーザ
装置の劣化や破壊を防止することができる。According to the optical communication equipment of claims 4 to 6, when the semiconductor laser device is started up, the operation of the laser drive power source and the thermomodule drive power source is controlled to supply the heating current to the semiconductor laser element. After that, since a control unit that starts power supply to the thermo module and laser drive current to the semiconductor laser element is installed, even when starting at a low environmental temperature, the thermo module current in the excessive heating direction It is possible to prevent the semiconductor laser device from being deteriorated or destroyed due to the flowing of the gas.
【図1】本発明の第1の実施形態に係る半導体レーザ装
置を示す概略断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a semiconductor laser device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の第1の実施形態に係る半導体レーザ装
置の一部を示す概略斜視図である。FIG. 2 is a schematic perspective view showing a part of the semiconductor laser device according to the first embodiment of the present invention.
【図3】本発明の第1の実施形態に係る半導体レーザ装
置の起動方法を説明するための概略図である。FIG. 3 is a schematic diagram for explaining a method of starting the semiconductor laser device according to the first embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第2の実施形態に係る光ファイバ増幅
器を示す概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing an optical fiber amplifier according to a second embodiment of the present invention.
【図5】従来の半導体レーザ装置を低い環境温度下で起
動する際にサーモモジュールに流れるサーモモジュール
電流をモニタした結果を示すグラフの一例である。FIG. 5 is an example of a graph showing a result of monitoring a thermomodule current flowing in the thermomodule when the conventional semiconductor laser device is activated at a low environmental temperature.
10 第1の実施形態に係る半導体レーザ装置 12 レーザダイオードキャリア 14 ヒートシンク 16 半導体レーザ素子 18 サブマウント 20 サーミスタ 28、31a、31b Auメッキ層 26 絶縁領域 27、30 セラミック支持台 29 Auワイヤ 34 光ファイバ 36 パッケージ 38 サーモモジュール 38a ペルチェ素子 38b、38c 板部材 40 基板 42 フォトダイオードキャリア 44 レンズ 46 フォトダイオード 48 光ファイバ支持部材 48a 挿通孔 50 レンズ 52 サーモモジュール駆動電源 54 レーザ駆動電源 56 駆動制御部 60 第2の実施形態に係る光ファイバ増幅器 62 信号光入力部 64 EDF 66 信号光出力部 68 光カプラ 10 Semiconductor Laser Device According to First Embodiment 12 Laser diode carrier 14 heat sink 16 Semiconductor laser device 18 submount 20 thermistor 28, 31a, 31b Au plating layer 26 Insulation area 27, 30 Ceramic support 29 Au wire 34 optical fiber 36 packages 38 Thermo Module 38a Peltier element 38b, 38c plate member 40 substrates 42 Photodiode carrier 44 lens 46 photodiode 48 optical fiber support member 48a insertion hole 50 lenses 52 Thermo Module Drive Power Supply 54 Laser drive power supply 56 Drive controller 60 Optical Fiber Amplifier According to Second Embodiment 62 Signal light input section 64 EDF 66 Signal light output section 68 Optical coupler
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三代川 純 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 愛清 武 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 Fターム(参考) 5F073 AB27 AB28 BA02 EA28 EA29 FA02 FA22 FA24 FA25 GA23 GA26 GA31 GA38 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page (72) Inventor Jun Sandaikawa 2-6-1, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Kawa Electric Industry Co., Ltd. (72) Inventor Takeshi Aiyoshi 2-6-1, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Kawa Electric Industry Co., Ltd. F-term (reference) 5F073 AB27 AB28 BA02 EA28 EA29 FA02 FA22 FA24 FA25 GA23 GA26 GA31 GA38
Claims (6)
けたときに前記半導体レーザ素子を加熱し、逆方向に給
電を受けたときに前記半導体レーザ素子を冷却して、前
記半導体レーザ素子の温度を制御するサーモモジュール
とを備え、前記半導体レーザ素子が熱溶融接続材料を用
いて前記サーモモジュールに固定されている半導体レー
ザ装置の起動方法であって、 前記半導体レーザ素子に加熱用電流を給電して、前記半
導体レーザ素子自体の発熱により前記半導体レーザ素子
の予備加熱を行うステップと、 前記半導体レーザ素子の予備加熱の後、前記サーモモジ
ュールへの給電を開始すると共に、前記半導体レーザ素
子へのレーザ駆動電流の給電を開始するステップと、 を有することを特徴とする半導体レーザ装置の起動方
法。1. A semiconductor laser device and a semiconductor laser device, wherein when the power is supplied in one direction, the semiconductor laser device is heated, and when the power is supplied in the opposite direction, the semiconductor laser device is cooled. A method for starting a semiconductor laser device, comprising: a thermomodule for controlling temperature; wherein the semiconductor laser element is fixed to the thermomodule using a hot-melt connection material, wherein a heating current is supplied to the semiconductor laser element. Then, the step of preheating the semiconductor laser element by heat generation of the semiconductor laser element itself, and after preheating the semiconductor laser element, start supplying power to the thermomodule and A method of starting a semiconductor laser device, comprising the step of starting power supply of a laser drive current.
ステップを有し、前記半導体レーザ素子の温度が所定の
起動温度より低い場合に、前記半導体レーザ素子の予備
加熱を行う、請求項1に記載の半導体レーザ装置の起動
方法。2. The method according to claim 1, further comprising the step of detecting the temperature of the semiconductor laser device, wherein the semiconductor laser device is preheated when the temperature of the semiconductor laser device is lower than a predetermined starting temperature. Method of starting semiconductor laser device.
ステップを有し、前記半導体レーザ素子の予備加熱の
後、前記半導体レーザ素子の温度が所定の起動温度に到
達してから、前記サーモモジュールへの給電を開始する
と共に、前記半導体レーザ素子へのレーザ駆動電流の給
電を開始する、請求項1記載の半導体レーザ装置の起動
方法。3. The method of detecting the temperature of the semiconductor laser device, wherein after the semiconductor laser device is preheated, the temperature of the semiconductor laser device reaches a predetermined starting temperature, and then the thermomodule is connected to the thermomodule. 2. The method for starting a semiconductor laser device according to claim 1, wherein the power supply of the laser drive current to the semiconductor laser element is started together with the power supply of 1.
体レーザ素子と、一方向に給電を受けたときに前記半導
体レーザ素子を加熱し、逆方向に給電を受けたときに前
記半導体レーザ素子を冷却して、前記半導体レーザ素子
の温度を制御するサーモモジュールとを備え、前記半導
体レーザ素子が熱溶融接続材料を用いて前記サーモモジ
ュールに固定されている半導体レーザ装置と、 前記半導体レーザ素子にレーザ駆動電流及び予備加熱の
ための加熱用電流の一方を供給するレーザ駆動電源と、 前記サーモモジュールに給電するサーモモジュール駆動
電源と、 前記レーザ駆動電源及び前記サーモモジュール駆動電源
の作動を制御する制御部とを備え、 前記制御部は、前記半導体レーザ装置の起動時、前記レ
ーザ駆動電源を作動させて、前記半導体レーザ素子に加
熱用電流を給電した後、前記サーモモジュール駆動電源
を作動させて、前記サーモモジュールへの給電を開始す
ると共に、前記半導体レーザ素子へのレーザ駆動電流の
給電を開始することを特徴とする光通信機器。4. A semiconductor laser device that oscillates a laser beam for optical communication, and a semiconductor laser device that heats the semiconductor laser device when power is supplied in one direction and that is supplied when power is supplied in the opposite direction. And a semiconductor module that controls the temperature of the semiconductor laser element, wherein the semiconductor laser element is fixed to the thermomodule using a hot melt connecting material, and the semiconductor laser element A laser drive power supply that supplies one of a laser drive current and a heating current for preheating, a thermomodule drive power supply that supplies power to the thermomodule, and a control that controls the operation of the laser drive power supply and the thermomodule drive power supply. The semiconductor laser device is activated, the control unit operates the laser driving power source to activate the semiconductor laser device. After supplying a heating current to the body laser element, the thermomodule drive power supply is operated to start supplying power to the thermomodule and start supplying laser drive current to the semiconductor laser element. Optical communication equipment.
ーザ素子の温度を検知する温度センサを備え、前記制御
部は、前記温度センサによって検知された温度が所定の
起動温度より低い場合、前記レーザ駆動電源を作動させ
て、前記半導体レーザ素子に加熱用電流を給電する、請
求項4記載の光通信機器。5. The semiconductor laser device includes a temperature sensor for detecting the temperature of the semiconductor laser element, and the controller drives the laser when the temperature detected by the temperature sensor is lower than a predetermined starting temperature. The optical communication device according to claim 4, wherein a power supply is operated to supply a heating current to the semiconductor laser element.
ーザ素子の温度を検知する温度センサを備え、前記制御
部は、前記温度センサによって検知された温度が所定の
起動温度に到達してから、前記サーモモジュール駆動電
源を作動させて、前記サーモモジュールへの給電を開始
すると共に、前記半導体レーザ素子へのレーザ駆動電流
の給電を開始する、請求項4記載の光通信機器。6. The semiconductor laser device includes a temperature sensor for detecting the temperature of the semiconductor laser element, and the control unit is configured to operate the temperature sensor after the temperature detected by the temperature sensor reaches a predetermined starting temperature. 5. The optical communication device according to claim 4, wherein a thermomodule driving power supply is operated to start power supply to the thermomodule and power supply of a laser drive current to the semiconductor laser element.
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