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JP2003298174A - Optical pickup optical unit and method of manufacturing the same - Google Patents

Optical pickup optical unit and method of manufacturing the same

Info

Publication number
JP2003298174A
JP2003298174A JP2003027312A JP2003027312A JP2003298174A JP 2003298174 A JP2003298174 A JP 2003298174A JP 2003027312 A JP2003027312 A JP 2003027312A JP 2003027312 A JP2003027312 A JP 2003027312A JP 2003298174 A JP2003298174 A JP 2003298174A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
submount
flat surface
laser diode
surface portion
abutting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003027312A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Togasaki
隆 栂嵜
Shintaro Nagatsuka
伸太郎 永塚
Takaya Matsuda
享也 松田
Akio Konuki
明男 小貫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2003027312A priority Critical patent/JP2003298174A/en
Publication of JP2003298174A publication Critical patent/JP2003298174A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】高スループットで製造できる高精度な光ピック
アップ光学ユニットとその製造方法を提供すること。 【解決手段】組立治具70の基準平面部71aにサブマ
ウント30(以下SMとする)を載置し、SMの第1面
30aを組立治具の第2位置決め平面部72bに突き当
ててSMを位置決めし、組立治具70で位置決めされた
SM表面にレーザダイオード50(以下LDとする)を
備えたヒートシンク40(以下HSとする)を載置し、
LDの発光面51を組立治具の第1位置決め平面部に突
き当てて、発光面とSMの一端面を平行に位置決めし、
その状態でHSをSMに固定し、SMを組立治具から外
し、ミラー基板20のサブマウント載置面24にSMを
載置し、SMの第1端面を垂直基準平面部に突き当て
て、第1端面と垂直基準平面部を平行に位置決めし、そ
の状態でSMをサブマウント載置面に固定する。
(57) [Problem] To provide a high-precision optical pickup optical unit which can be manufactured with high throughput and a method of manufacturing the same. A submount 30 (hereinafter referred to as SM) is placed on a reference plane portion 71a of an assembling jig 70, and a first surface 30a of the SM abuts against a second positioning plane portion 72b of the assembling jig. And a heat sink 40 (hereinafter, referred to as HS) having a laser diode 50 (hereinafter, referred to as LD) is mounted on the SM surface positioned by the assembly jig 70,
The light emitting surface 51 of the LD is brought into contact with the first positioning plane portion of the assembly jig, and the light emitting surface and one end surface of the SM are positioned in parallel.
In this state, the HS is fixed to the SM, the SM is removed from the assembly jig, the SM is mounted on the submount mounting surface 24 of the mirror substrate 20, and the first end surface of the SM is abutted against the vertical reference plane portion, The first end face and the vertical reference plane portion are positioned in parallel, and in this state, the SM is fixed to the submount placement surface.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、AV機器やコンピ
ュータ用記憶装置等に搭載される光ピックアップ装置に
用いられる光ピックアップ光学ユニットとその製造方法
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup optical unit used in an optical pickup device mounted on an AV device, a storage device for a computer or the like, and a manufacturing method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスクを記録媒体として情報の記録
や再生を行う光ディスク装置には、高精度な光ピックア
ップ装置が用いられている。光ピックアップ装置は、レ
ーザダイオードから光ディスクにレーザ光を照射するこ
とにより、光ディスクに情報の記録を行ったり、また光
ディスクから反射してきた反射光を受けることで、情報
の読み取りを行う光学集積素子を備えている。
2. Description of the Related Art A high-precision optical pickup device is used in an optical disc device for recording and reproducing information using an optical disc as a recording medium. The optical pickup device includes an optical integrated element that records information on the optical disc by irradiating the optical disc with laser light from the laser diode and receives information reflected by the optical disc to read information. ing.

【0003】図7は、光ピックアップ光学ユニットに搭
載されているレーザダイオード101から出射されたレ
ーザ光102の発光軸103を示す模式図である。
FIG. 7 is a schematic view showing an emission axis 103 of a laser beam 102 emitted from a laser diode 101 mounted on an optical pickup optical unit.

【0004】図7に示す光ピックアップ光学ユニット
は、反射ミラー104を備えたミラー基板105を有す
る。ミラー基板105にはレーザダイオード101が搭
載されていて、このレーザダイオード101から出射さ
れたレーザ光102が、反射ミラー104でほぼ90度
に反射して光ディスク(不図示)を照射するようになっ
ている。
The optical pickup optical unit shown in FIG. 7 has a mirror substrate 105 having a reflection mirror 104. A laser diode 101 is mounted on a mirror substrate 105, and a laser beam 102 emitted from the laser diode 101 is reflected by a reflection mirror 104 at approximately 90 degrees to illuminate an optical disc (not shown). There is.

【0005】光ピックアップ光学ユニットを組み立てる
場合、レンズ、プリズム、ミラー等の光学部品に対し
て、レーザダイオード101の発光軸103を高精度に
位置決めする必要がある。
When assembling the optical pickup optical unit, it is necessary to accurately position the light emitting axis 103 of the laser diode 101 with respect to optical components such as a lens, a prism, and a mirror.

【0006】具体的には、レーザダイオード101の発
光軸103は、設計値(基準値)に対して0.5度程度
の許容誤差で管理されている。これを実現するために
は、レーザダイオード101の1辺の長さが一般的に3
00[μm]程度であることから、1辺の傾きを2[μm]
〜3[μm]程度の精度で組み立てる必要があり、組み立
て作業が非常に困難であった。
Specifically, the emission axis 103 of the laser diode 101 is managed with a tolerance of about 0.5 degree with respect to the design value (reference value). In order to realize this, the length of one side of the laser diode 101 is generally 3
Since it is about 00 [μm], the inclination of one side is 2 [μm]
It was necessary to assemble with an accuracy of about 3 [μm], and the assembly work was very difficult.

【0007】そこで、近年は高精度マウンタ装置を用い
てレーザダイオード101のパターンをカメラで認識
し、基準値との誤差を回転補正してマウントする方法が
開示されている(例えば、特許文献1参照。)。
Therefore, in recent years, a method has been disclosed in which a pattern of the laser diode 101 is recognized by a camera using a high-precision mounter device, and an error from a reference value is rotationally corrected and mounted (for example, refer to Patent Document 1). .).

【0008】[0008]

【特許文献1】特開2000−228022号公報。[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 2000-228022.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、高精度
マウンタ装置を用いてレーザダイオードのパターンをカ
メラで認識し、基準値との誤差を回転補正してマウント
する方法では、組み立てに高価な高精度マウンタ装置が
必要となり、コストの上昇が避けられないという問題が
あった。
However, in the method of recognizing the pattern of the laser diode by the camera using the high precision mounter device and correcting the error from the reference value to mount the mount, the high precision mounter which is expensive to assemble is used. There is a problem that a device is required, and an increase in cost cannot be avoided.

【0010】また、高精度マウンタ装置を用いてマウン
トを行っても、高精度な位置決め作業が必要であること
に変わりなく、スループットが低いという問題もあっ
た。
Further, even if mounting is performed using a high-precision mounter device, high-precision positioning work is still required, and there is a problem that throughput is low.

【0011】本発明はこれらの事情に基づいてなされた
もので、その目的とするところは、高スループットで製
造できる高精度な光ピックアップ光学ユニットとその製
造方法を提供することにある。
The present invention has been made based on these circumstances, and an object of the present invention is to provide a highly accurate optical pickup optical unit which can be manufactured with high throughput and a manufacturing method thereof.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決し目的を
達成するために、本発明の光ピックアップ光学ユニット
とその製造方法は次のように構成されている。
In order to solve the above problems and achieve the object, the optical pickup optical unit of the present invention and the manufacturing method thereof are configured as follows.

【0013】(1)基準平面部と、この基準平面部に対
してほぼ垂直に設けられた互いに平行な第1位置決め平
面部および第2位置決め平面部とを備えた組立治具の上
記基準平面部にサブマウントを載置するとともに、この
サブマウントの一端面を上記第2位置決め平面部に突き
当てて上記サブマウントを位置決めするサブマウント位
置決め工程と、上記組立治具で位置決めされたサブマウ
ントの表面にレーザダイオードを搭載したヒートシンク
を載置するとともに、上記レーザダイオードの発光面を
上記組立治具の第1位置決め平面部に突き当てること
で、この発光面と上記サブマウントの一端面とが平行に
なるように位置決めし、その状態で上記ヒートシンクを
上記サブマウントに固定するレーザダイオード固定工程
と、上記レーザダイオードと一体となった上記サブマウ
ントを上記組立治具から取り外し、突き当て用平面部、
及びこの突き当て用平面部に対してほぼ垂直方向に連な
る設置基準平面部を備えたミラー基板の上記設置基準平
面部に上記サブマウントを載置するとともに、上記サブ
マウントの一端面を上記突き当て用平面部に突き当てる
ことで、この一端面と上記突き当て用平面部が平行とな
るように位置決めし、その状態で上記サブマウントを上
記設置基準平面部に固定するサブマウント搭載工程と、
を具備することを特徴とする。
(1) The reference flat surface portion of the assembly jig including a reference flat surface portion and a first positioning flat surface portion and a second positioning flat surface portion which are provided substantially perpendicular to the reference flat surface portion and are parallel to each other. A submount positioning step of positioning the submount by placing the submount on the second mounting surface and abutting one end surface of the submount against the second positioning flat surface portion; and a surface of the submount positioned by the assembly jig. A heat sink with a laser diode mounted thereon is placed, and the light emitting surface of the laser diode is abutted against the first positioning flat surface portion of the assembly jig so that the light emitting surface and one end surface of the submount are parallel to each other. Laser diode fixing step of fixing the heat sink to the submount in that state, and the laser die The over de and the submount together removed from the assembly jig, flat portion for abutment,
And placing the submount on the installation reference flat surface portion of the mirror substrate provided with the installation reference flat surface portion extending in a direction substantially perpendicular to the abutting flat surface portion, and abutting one end surface of the submount on the abutment surface. By abutting against the flat surface portion for positioning, the one end face and the flat surface for abutting are positioned so as to be parallel, and in that state, the submount mounting step of fixing the submount to the installation reference flat surface portion,
It is characterized by including.

【0014】(2)突き当て用平面部、この突き当て用
平面部に対してほぼ垂直方向に連なる設置基準平面部、
上記突き当て用平面部に対してほぼ45度方向に連なる
ミラー平面部を有するミラー基板と、このミラー基板の
突き当て用平面部に一端面を突き当てた状態で上記設置
基準平面部に接着剤で固定されるサブマウントと、この
サブマウントの表面に固定されるヒートシンクと、この
ヒートシンクの表面に、発光面が上記サブマウントの一
端面とほぼ平行となるように位置決めして固定されるレ
ーザダイオードと、上記ミラー基板、サブマウント、ヒ
ートシンク、およびレーザダイオードを収容する箱体
と、を具備することを特徴とする。
(2) Abutting flat surface portion, an installation reference flat surface portion extending substantially perpendicular to the abutting flat surface portion,
A mirror substrate having a mirror flat portion that extends in a direction of approximately 45 degrees with respect to the abutting flat portion, and an adhesive on the installation reference flat portion with one end face abutting against the abutting flat portion of the mirror substrate. , A heat sink fixed to the surface of the submount, and a laser diode fixed to the surface of the heatsink so that its light emitting surface is substantially parallel to one end surface of the submount. And a box for accommodating the mirror substrate, the submount, the heat sink, and the laser diode.

【0015】(3)(2)に記載された光ピックアップ
光学ユニットであって、上記設置基準平面部には、上記
ミラー基板の幅方向に沿って溝部が形成されており、上
記サブマウントの他端面は上記設置基準平面部から上記
溝部上に突出していることを特徴とする。
(3) In the optical pickup optical unit described in (2), a groove is formed in the installation reference plane portion along the width direction of the mirror substrate, and other than the submount. The end surface projects from the installation reference flat surface portion to the groove portion.

【0016】(4)(2)に記載された光ピックアップ
光学ユニットであって、上記ミラー基板の幅寸法と上記
サブマウントの幅寸法がほぼ同一であることを特徴とす
る。
(4) In the optical pickup optical unit described in (2), the width dimension of the mirror substrate and the width dimension of the submount are substantially the same.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0018】図1は本発明の一実施の形態に係る光ピッ
クアップ光学ユニットの構成を示す模式図、図2は同実
施の形態に係る光ピックアップ光学ユニットをキャップ
3と分離して示す構成図であって、(a)は正面図、
(b)は平面図、(c)は斜視図、図3は同実施の形態
に係る段部22を拡大して示す概略図である。
FIG. 1 is a schematic view showing the construction of an optical pickup optical unit according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a construction view showing the optical pickup optical unit according to the embodiment separately from a cap 3. So, (a) is a front view,
FIG. 3B is a plan view, FIG. 3C is a perspective view, and FIG. 3 is an enlarged schematic view of the step portion 22 according to the embodiment.

【0019】図1に示す光ピックアップ光学ユニット
は、表面に配線パターン(不図示)が形成された基板1
0と、この基板10の表面に搭載されるシリコン製のミ
ラー基板20と、このミラー基板20に搭載されるサブ
マウント30と、このサブマウント30の表面に搭載さ
れるヒートシンク40と、このヒートシンク40の表面
に搭載されるレーザダイオード50と、上記基板10の
表面に設けられ、上記ミラー基板20、サブマウント3
0、ヒートシンク40、およびレーザダイオード50を
収容するキャップ3(箱体)とから構成されている。
The optical pickup optical unit shown in FIG. 1 has a substrate 1 on the surface of which a wiring pattern (not shown) is formed.
0, the mirror substrate 20 made of silicon mounted on the surface of the substrate 10, the submount 30 mounted on the mirror substrate 20, the heat sink 40 mounted on the surface of the submount 30, and the heat sink 40. Laser diode 50 mounted on the surface of the mirror substrate 20, the mirror substrate 20, the submount 3 provided on the surface of the substrate 10.
0, a heat sink 40, and a cap 3 (box) that houses the laser diode 50.

【0020】図2(a)〜(b)に示すように、上記ミ
ラー基板20は平面ほぼ矩形状のブロック体からなり、
その裏面は基板10の表面に接合される水平基準平面部
21となっている。そして、ミラー基板20の表面に
は、凹状の段部22がミラー基板20の幅方向(図2
(b)中の上下方向)の全長に亘って形成されている。
As shown in FIGS. 2A and 2B, the mirror substrate 20 is composed of a block body having a substantially rectangular plane.
The back surface of the substrate 10 serves as a horizontal reference plane portion 21 joined to the front surface of the substrate 10. A concave step 22 is formed on the surface of the mirror substrate 20 in the width direction of the mirror substrate 20 (see FIG.
(B) It is formed over the entire length in the vertical direction.

【0021】この段部22は、水平基準平面部21に対
してほぼ垂直方向に延びる垂直基準平面部23(突き当
て用平面部)と、この垂直基準平面部23の下端部から
ほぼ垂直方向に連なるサブマウント載置面24(設置基
準平面部)と、垂直基準平面部23の上端部からほぼ4
5度方向に連なる反射ミラー面25(ミラー平面部)
と、この反射ミラー面25の上端部から水平基準平面部
21とほぼ平行な方向に連なるフォトダイオード載置面
26とを有している。そして、上記反射ミラー面25に
は、レーザ光を反射するためのTi膜やAu膜等が蒸着
により積層形成されている。
The step portion 22 has a vertical reference flat surface portion 23 (abutting flat surface portion) extending in a substantially vertical direction with respect to the horizontal reference flat surface portion 21, and a substantially vertical direction from a lower end portion of the vertical reference flat surface portion 23. Sub-mount mounting surface 24 (installation reference flat surface portion) that is continuous and approximately 4 from the upper end of the vertical reference flat surface portion 23
Reflecting mirror surface 25 (mirror flat surface portion) extending in the 5 ° direction
And a photodiode mounting surface 26 extending from the upper end of the reflection mirror surface 25 in a direction substantially parallel to the horizontal reference flat surface portion 21. Then, on the reflection mirror surface 25, a Ti film, an Au film, or the like for reflecting the laser light is laminated by vapor deposition.

【0022】なお、水平基準平面部21、垂直基準平面
部23、サブマウント載置面24、反射ミラー面25、
及びフォトダイオード載置面26は、これらの法線ベク
トルがほぼ同一面内に含まれるように形成されている。
The horizontal reference plane portion 21, the vertical reference plane portion 23, the submount mounting surface 24, the reflection mirror surface 25,
The photodiode mounting surface 26 is formed such that these normal vectors are included in substantially the same plane.

【0023】図3に示すように、サブマウント載置面2
4には、垂直基準平面部23と対向する壁面27側にミ
ラー基板20の幅方向に沿って溝部28が形成されてい
る。
As shown in FIG. 3, the submount mounting surface 2
4, a groove 28 is formed along the width direction of the mirror substrate 20 on the wall surface 27 side facing the vertical reference flat surface portion 23.

【0024】溝部28の深さ寸法は50[μm]〜100
[μm]程度であり、サブマウント載置面24に搭載され
るサブマウント30(後述する)の第2端面30bは、
上記溝部28上に所定の突出幅t、この実施の形態では
100[μm]〜300[μm]程度突出している。
The groove 28 has a depth of 50 [μm] to 100.
The second end surface 30b of the submount 30 (described later) mounted on the submount mounting surface 24 is about [μm],
A predetermined protrusion width t, which is about 100 [μm] to 300 [μm] in this embodiment, is projected on the groove 28.

【0025】なお、溝部28の深さ寸法は、上述した値
に限定されるものではなく、設計により種々に変更可能
であるが、サブマウント30の寸法との兼ね合いによっ
て上述した所定の突出幅tが確保されるように設定する
必要がある。
The depth dimension of the groove portion 28 is not limited to the above-mentioned value and can be variously changed depending on the design, but depending on the dimension of the submount 30, the predetermined protrusion width t described above is obtained. Must be set so that

【0026】図2(a)〜(c)に示すように、上記サ
ブマウント30は直方体状をしており、サブマウント載
置面24に、はんだ、若しくは加熱硬化エポキシ樹脂や
加熱硬化型の導電性ペースト等のダイボンド剤31(接
着剤)を介して接合されている。
As shown in FIGS. 2A to 2C, the submount 30 has a rectangular parallelepiped shape, and solder, heat-curable epoxy resin, or heat-curable conductive material is attached to the submount mounting surface 24. It is joined via a die bonding agent 31 (adhesive) such as a conductive paste.

【0027】サブマウント30の厚さ寸法は約500
[μm]であり、幅寸法は上記ミラー基板20の幅寸法と
ほぼ一致している。なお、サブマウント30の厚さ寸法
は、上述した値に限定されるものではなく、設計により
種々に変更可能である。
The thickness of the submount 30 is about 500.
[μm], and the width dimension is substantially the same as the width dimension of the mirror substrate 20. The thickness dimension of the submount 30 is not limited to the above-mentioned value, and can be variously changed depending on the design.

【0028】サブマウント30の第1端面30a(一端
面)と、その反対側に位置する第2端面30b(他端
面)は、サブマウント載置面24に接合される裏面とほ
ぼ直交している。そして、第1端面30aはミラー基板
20の垂直基準面23に密着し、第2端面30bは溝部
28上に上述した所定の突出幅tだけ突出している。
The first end surface 30a (one end surface) of the submount 30 and the second end surface 30b (the other end surface) located on the opposite side thereof are substantially orthogonal to the back surface joined to the submount mounting surface 24. . The first end surface 30a is in close contact with the vertical reference surface 23 of the mirror substrate 20, and the second end surface 30b projects above the groove 28 by the above-described predetermined projection width t.

【0029】サブマウント30表面のヒートシンク40
(後述する)の脇には、レーザダイオード50(後述す
る)から出射されたレーザ光の出力をモニタするための
出力調整用フォトダイオード33が搭載されている。そ
して、図1に示すように、出力調整用フォトダイオード
33と基板10上に形成された配線パターンの電極は、
ボンディングワイヤ2aによって電気的に接続されてい
る。
Heat sink 40 on the surface of submount 30
Beside (to be described later), an output adjusting photodiode 33 for monitoring the output of laser light emitted from a laser diode 50 (to be described later) is mounted. Then, as shown in FIG. 1, the output adjustment photodiode 33 and the electrodes of the wiring pattern formed on the substrate 10 are
It is electrically connected by the bonding wire 2a.

【0030】図2(a)〜(c)に示すように、上記ヒ
ートシンク40は直方体状をしており、サブマウント3
0の表面ほぼ中央部に、銀エポキシ系の導電性ペースト
32(図4にのみ図示)を介して接合されている。ヒー
トシンク40の厚さ寸法は約200[μm]で、平面寸法
は上記サブマウント30の平面寸法よりも小さい。
As shown in FIGS. 2A to 2C, the heat sink 40 has a rectangular parallelepiped shape, and the submount 3
No. 0 is joined to almost the center of the surface of the No. 0 via a silver epoxy conductive paste 32 (shown only in FIG. 4). The thickness dimension of the heat sink 40 is about 200 μm, and the plane dimension thereof is smaller than the plane dimension of the submount 30.

【0031】なお、ヒートシンク40の素材としては、
熱伝導性の良いSiC若しくはAIN等の高放熱セラミ
ックが用いられている。また、ヒートシンク40の厚さ
寸法は、上述した値に限定されるものではなく、設計に
より種々に変更可能である。
As the material of the heat sink 40,
A high heat dissipation ceramic such as SiC or AIN having good thermal conductivity is used. Further, the thickness dimension of the heat sink 40 is not limited to the above-mentioned value, and can be variously changed depending on the design.

【0032】上記レーザダイオード50は直方体状をし
ており、ヒートシンク40の表面に接着固定されてい
る。レーザダイオード50の発光面51は、反射ミラー
面25側に向けられており、後述する方法によってサブ
マウント30の第1端面30aに対してほぼ平行となる
よう位置決めされている。そして、図1に示すように、
レーザダイオード50と基板10上に形成された配線パ
ターンは、一対のボンディングワイヤ2bによって電気
的に接続されている。
The laser diode 50 is in the shape of a rectangular parallelepiped, and is adhered and fixed to the surface of the heat sink 40. The light emitting surface 51 of the laser diode 50 is directed to the reflection mirror surface 25 side and is positioned so as to be substantially parallel to the first end surface 30a of the submount 30 by a method described later. Then, as shown in FIG.
The laser diode 50 and the wiring pattern formed on the substrate 10 are electrically connected by a pair of bonding wires 2b.

【0033】図2(a)〜(c)に示すように、発光面
51に形成された発光点は、ヒートシンク40がサブマ
ウント30に固定された状態で、発光面51のヒートシ
ンク40側に位置している。すなわち、レーザ光Lは、
図2(a)中矢印で示すようにレーザダイオード50の
ヒートシンク40側の位置から出射される。
As shown in FIGS. 2A to 2C, the light emitting point formed on the light emitting surface 51 is located on the heat sink 40 side of the light emitting surface 51 with the heat sink 40 fixed to the submount 30. is doing. That is, the laser light L is
The laser diode 50 is emitted from a position on the heat sink 40 side as shown by an arrow in FIG.

【0034】そのため、レーザダイオード50の発光面
51をヒートシンク40の端面より数[μm]〜数10
[μm]程度突出させて、発光点から広がりながら出射す
るレーザ光の一部がヒートシンク40で反射するのを防
止している。
Therefore, the light emitting surface 51 of the laser diode 50 is several [μm] to several tens from the end surface of the heat sink 40.
It is projected by about [μm] to prevent a part of the laser light emitted while spreading from the light emitting point from being reflected by the heat sink 40.

【0035】レーザダイオード50の厚さ寸法は約13
0[μm]で、平面形状はヒートシンク40の平面形状よ
りも小さく形成されている。なお、レーザダイオード5
0の厚さ寸法は上述した値に限定されるものでなく、設
計により種々に変更可能である。
The thickness of the laser diode 50 is about 13
At 0 [μm], the planar shape is smaller than the planar shape of the heat sink 40. The laser diode 5
The thickness dimension of 0 is not limited to the value described above, and can be variously changed depending on the design.

【0036】ミラー基板20のフォトダイオード載置面
26には、光ディスク等の情報媒体で反射したレーザ光
を受光するための信信号読み取り用フォトダイオード1
1が搭載されている。そして、図1に示すように、信号
読み取り用フォトダイオード11と基板10は、ボンデ
ィングワイヤ2cによって電気的に接続されている。
On the photodiode mounting surface 26 of the mirror substrate 20, the signal signal reading photodiode 1 for receiving the laser beam reflected by an information medium such as an optical disk.
1 is installed. Then, as shown in FIG. 1, the signal reading photodiode 11 and the substrate 10 are electrically connected by a bonding wire 2c.

【0037】基板10の表面には、内部にミラー基板2
0を収容するためのキャップ3が設けられている。キャ
ップ3の天井部には、反射ミラー面25、信号読み取り
用フォトダイオード11、および出力調整用フォトダイ
オード33とそれぞれの光路をカバーするエリアを備え
たホログラムレンズ3aが設けられている。
On the surface of the substrate 10, the mirror substrate 2 is provided inside.
A cap 3 for accommodating 0 is provided. The ceiling of the cap 3 is provided with a reflection mirror surface 25, a signal reading photodiode 11, an output adjusting photodiode 33, and a hologram lens 3a having an area covering each optical path.

【0038】次に、上述した構成の光ピックアップ光学
ユニットの製造方法について説明する。
Next, a method of manufacturing the optical pickup optical unit having the above structure will be described.

【0039】図4は、同実施の形態に係る光ピックアッ
プ光学ユニットの製造工程を示す模式図、図5は同実施
の形態に係るレーザダイオード50がヒートシンク40
に搭載された状態を示す模式図であって、(a)は斜視
図、(b)は側面図である。
FIG. 4 is a schematic view showing a manufacturing process of the optical pickup optical unit according to the same embodiment, and FIG. 5 shows the laser diode 50 according to the embodiment as a heat sink 40.
3A and 3B are schematic views showing a state of being mounted on a vehicle, wherein FIG. 6A is a perspective view and FIG.

【0040】まず、図4(a−1)に側面図、図4(a
−2)に斜視図を示すような組立治具70を用意する。
この組立治具70は、表面を基準平面部71aとする板
状のベース71を有しており、このベース71表面の一
端部側にはステンレス製の突き当てブロック72が設け
られている。
First, FIG. 4 (a-1) is a side view, and FIG.
2) Prepare an assembly jig 70 as shown in a perspective view.
The assembling jig 70 has a plate-shaped base 71 whose surface serves as a reference plane portion 71a, and a stainless steel abutment block 72 is provided on one end side of the surface of the base 71.

【0041】この突き当てブロック72は、平行かつ基
準平面部71aに対してほぼ垂直な第1位置決め平面部
72aと第2位置決め平面部72bを有している。第1
位置決め平面部72aと第2位置決め平面部72bは、
基準平面部71aの平面方向に対して所定の距離だけ離
間して配置されており、第1位置決め平面部72aの方
が、第2位置決め平面部72bよりも基準平面部の他端
部側に位置している。
The butting block 72 has a first positioning flat surface portion 72a and a second positioning flat surface portion 72b which are parallel to each other and substantially perpendicular to the reference flat surface portion 71a. First
The positioning flat surface portion 72a and the second positioning flat surface portion 72b are
The first positioning flat surface portion 72a is disposed at a predetermined distance from the flat surface direction of the reference flat surface portion 71a, and the first positioning flat surface portion 72a is located closer to the other end side of the reference flat surface portion than the second positioning flat surface portion 72b. is doing.

【0042】なお、本実施の形態では、突き当てブロッ
ク72をステンレスで形成しているが、セラミックス、
ガラス、若しくはシリコンを研削加工したもの、又はこ
れらにフッ素化合物によるコーティングをしたもので形
成してもよい。
In the present embodiment, the butting block 72 is made of stainless steel, but ceramics,
It may be formed by grinding glass or silicon, or by coating these with a fluorine compound.

【0043】次に、図4(b−1)に側面図、(b−
2)に斜視図を示すように、組立治具70のベース材7
1の表面にサブマウント30を載置し、サブマウント3
0の第1端面30aを突き当てブロック71の第2位置
決め平面部72bに突き当てて密着させる(サブマウン
ト位置決め工程)。そして、サブマウント30の表面に
所定量の銀エポキシ系の導電性ペースト32を供給す
る。なお、サブマウント30への導電性ペースト32の
供給は、サブマウント30を第2位置決め平面部72b
に突き当てる前に行っておいてもよい。
Next, FIG. 4 (b-1) is a side view, and FIG.
As shown in the perspective view in 2), the base material 7 of the assembly jig 70 is
1 mount the submount 30 on the surface of the submount 3
The first end surface 30a of 0 is abutted against the second positioning flat surface portion 72b of the butting block 71 to be in close contact (submount positioning step). Then, a predetermined amount of silver epoxy conductive paste 32 is supplied to the surface of the submount 30. In addition, the supply of the conductive paste 32 to the submount 30 is performed by setting the submount 30 to the second positioning plane portion 72b.
You may go before you hit.

【0044】一方、上述した工程とは別工程として、図
5に示すように、ヒートシンク40の表面にレーザダイ
オード50を発光面51がヒートシンク40の一端面か
ら突出するように接合しておく。
On the other hand, as a step different from the above-mentioned step, as shown in FIG. 5, the laser diode 50 is bonded to the surface of the heat sink 40 so that the light emitting surface 51 projects from one end surface of the heat sink 40.

【0045】そして、図5(c−1)に側面図、(c−
2)に斜視図を示すように、組立治具70にセットされ
たサブマウント30の表面に、レーザダイオード50と
一体となったヒートシンク40を導電性ペースト32の
上から載置し、レーザダイオード50の発光面51を突
き当てブロック72の第1位置決め平面部72aに突き
当てて密着させる。
Then, FIG. 5C-1 shows a side view, and FIG.
As shown in the perspective view in 2), the heat sink 40 integrated with the laser diode 50 is placed on the surface of the submount 30 set in the assembly jig 70 from above the conductive paste 32, and the laser diode 50 The light emitting surface 51 of the above is abutted against the first positioning flat surface portion 72a of the abutment block 72 to be brought into close contact therewith.

【0046】そして、その状態のまま約150度で10
分程度加熱することで、導電性ペースト32を硬化さ
せ、ヒートシンク40をサブマウント30に固定する。
Then, in that state, at about 150 degrees, 10
By heating for about a minute, the conductive paste 32 is hardened and the heat sink 40 is fixed to the submount 30.

【0047】それによって、図4(d−1)に側面図、
(d−2)に平面図、(d−3)に斜視図を示すよう
に、サブマウント30の第1端面30aとレーザダイオ
ード50の発光面51とがほぼ平行に位置決めされる
(レーザダイオード固定工程)。
As a result, the side view of FIG.
As shown in the plan view in (d-2) and the perspective view in (d-3), the first end surface 30a of the submount 30 and the light emitting surface 51 of the laser diode 50 are positioned substantially parallel to each other (fixed to the laser diode). Process).

【0048】次に、図4(e−1)に側面図、(e−
2)に平面図、(e−3)に斜視図を示すように、ミラ
ー基板20のサブマウント載置面24の表面に、はん
だ、若しくは加熱硬化エポキシ樹脂や加熱硬化型の導電
性ペースト等のダイボンド剤31を供給し、レーザダイ
オード50及びヒートシンク40と一体となったサブマ
ウント30をダイボンド剤31の上からサブマウント載
置面24に載置する。
Next, FIG. 4E-1 is a side view, and FIG.
As shown in a plan view in (2) and a perspective view in (e-3), solder, heat-curable epoxy resin, heat-curable conductive paste, or the like is applied to the surface of the submount mounting surface 24 of the mirror substrate 20. The die bond material 31 is supplied, and the submount 30 integrated with the laser diode 50 and the heat sink 40 is mounted on the submount mounting surface 24 from above the die bond material 31.

【0049】このとき、ダイボンド剤31はサブマウン
ト載置面24とサブマウント30との間に広がり、サブ
マウント30の第2端面30b側に図3に示すようなフ
ィレット31aを形成する。
At this time, the die bonding agent 31 spreads between the submount mounting surface 24 and the submount 30 to form a fillet 31a as shown in FIG. 3 on the second end surface 30b side of the submount 30.

【0050】このフィレット31aは、サブマウント3
0の第2端面30b側からミラー基板20の垂直基準平
面部23側に向って形成されるため、フィレット31a
に生じる表面張力は、サブマウント30の第2端面30
b側を図3中に矢印Aで示す方向、すなわちサブマウン
ト30を垂直基準平面部23側に押し付けるように作用
する。それによって、サブマウント30の第1端面30
aは垂直基準平面部23にしっかりと密着する。
This fillet 31a is used for the submount 3
0 from the second end face 30b side toward the vertical reference plane portion 23 side of the mirror substrate 20, the fillet 31a
The surface tension generated on the second end face 30 of the submount 30 is
The side b acts in the direction indicated by arrow A in FIG. 3, that is, the submount 30 is pressed against the vertical reference plane portion 23 side. Thereby, the first end surface 30 of the submount 30
The a firmly adheres to the vertical reference plane portion 23.

【0051】次に、サブマウント30の第1端面30a
がミラー基板20の垂直基準平面部23に密着した状態
でダイボンド剤31を加熱し、サブマウント30をミラ
ー基板20に固定する(サブマウント搭載工程)。
Next, the first end face 30a of the submount 30
The die-bonding agent 31 is heated in a state of being in close contact with the vertical reference plane portion 23 of the mirror substrate 20 to fix the submount 30 to the mirror substrate 20 (submount mounting step).

【0052】これによって、サブマウント30の第1端
面30aとミラー基板20の垂直基準平面部23とが一
致して平行になるため、レーザダイオード50の発光面
51とミラー基板20の垂直基準面23とが平行に位置
決めされる。
As a result, the first end surface 30a of the submount 30 and the vertical reference plane portion 23 of the mirror substrate 20 are aligned and parallel to each other, so that the light emitting surface 51 of the laser diode 50 and the vertical reference plane 23 of the mirror substrate 20. And are positioned in parallel.

【0053】さらに、レーザ光はレーザダイオード50
の発光面51に対して垂直に出射されるため、レーザ光
の発光軸Lはミラー基板20の垂直基準面23とほぼ垂
直に位置決めされる。
Further, the laser light is emitted from the laser diode 50.
Since the light is emitted perpendicularly to the light emitting surface 51, the light emitting axis L of the laser light is positioned substantially perpendicular to the vertical reference surface 23 of the mirror substrate 20.

【0054】さらに、反射ミラー面25は、垂直基準平
面部23に対してほぼ45度方向に傾斜しているため、
レーザダイオード50から出射したレーザ光は、この反
射ミラー面25にて反射して水平基準平面部21とほぼ
垂直に位置決めされる。
Further, since the reflection mirror surface 25 is inclined in the direction of about 45 degrees with respect to the vertical reference plane portion 23,
The laser light emitted from the laser diode 50 is reflected by the reflection mirror surface 25 and positioned substantially perpendicular to the horizontal reference plane portion 21.

【0055】次に、信号読み取り用フォトダイオード1
1をミラー基板20のフォトダイオード載置面26に接
着固定する。そして、図1に示すように、ミラー基板2
0を基板10の表面に実装し、レーザダイオード50、
信号読み取り用フォトダイオード11、および出力調整
用フォトダイオード33を基板10に形成されている配
線パターン上の電極とボンディングワイヤ2a〜2cに
よって接続する。
Next, the signal reading photodiode 1
1 is bonded and fixed to the photodiode mounting surface 26 of the mirror substrate 20. Then, as shown in FIG. 1, the mirror substrate 2
0 is mounted on the surface of the substrate 10, and the laser diode 50,
The signal reading photodiode 11 and the output adjusting photodiode 33 are connected to the electrodes on the wiring pattern formed on the substrate 10 by the bonding wires 2a to 2c.

【0056】次に、天井部にホログラムレンズ3aを備
えたキャップ3で全体を覆い、レーザダイオード50及
び各フォトダイオード11、33を機械的に保護する。
Next, the whole is covered with the cap 3 having the hologram lens 3a on the ceiling to mechanically protect the laser diode 50 and the photodiodes 11 and 33.

【0057】このように、上述した実施の形態によれ
ば、互いに平行な第1位置決め平面部72aと第2位置
決め平面部72bを備えた組立治具70を用意する。そ
して、この組立治具70の第1、第2位置決め平面部7
2a、72bを用いて、レーザダイオード50の発光面
51とサブマウント30の第1端面とがほぼ平行となる
ようサブマウント30にヒートシンク40を固定する。
As described above, according to the above-described embodiment, the assembly jig 70 having the first positioning flat surface portion 72a and the second positioning flat surface portion 72b which are parallel to each other is prepared. Then, the first and second positioning flat surface portions 7 of the assembly jig 70
Using 2a and 72b, the heat sink 40 is fixed to the submount 30 so that the light emitting surface 51 of the laser diode 50 and the first end surface of the submount 30 are substantially parallel to each other.

【0058】そして、レーザダイオード50と一体とな
ったサブマウント30の第1端面30aをミラー基板2
0の垂直基準面23に突き当て、その状態でサブマウン
ト30をミラー基板20のサブマウント載置面24に固
定する。
Then, the first end face 30a of the submount 30 integrated with the laser diode 50 is attached to the mirror substrate 2
The submount 30 is fixed to the submount mounting surface 24 of the mirror substrate 20 in such a state that the submount 30 is abutted against the vertical reference surface 23.

【0059】その結果、レーザダイオード50の発光面
51とミラー基板20の垂直基準面23がほぼ平行にな
るため、レーザダイオード50から出射されるレーザ光
の発光軸Lは、ミラー基板20の垂直基準平面部23と
ほぼ垂直になる。それによって、反射ミラー面25で略
90度に反射したレーザ光の発光軸Lはミラー基板20
の水平基準面21に対してほぼ垂直に位置決めされる。
As a result, since the light emitting surface 51 of the laser diode 50 and the vertical reference surface 23 of the mirror substrate 20 become substantially parallel, the light emitting axis L of the laser light emitted from the laser diode 50 is the vertical reference surface of the mirror substrate 20. It is almost perpendicular to the plane portion 23. As a result, the emission axis L of the laser light reflected by the reflection mirror surface 25 at about 90 degrees is set to the mirror substrate 20.
Is positioned substantially perpendicular to the horizontal reference plane 21.

【0060】したがって、上述した実施の形態のよう
に、レーザダイオード50の厚みが薄く、組立治具70
の第1位置決め平面部72aとの接触面積が少ない場合
であっても、レーザダイオード50の発光面51を直接
第1位置決め平面部72aに突き当てて位置決めするか
ら、レーザ光の発光軸Lを高い精度で位置決めすること
ができる。
Therefore, as in the above-described embodiment, the laser diode 50 has a small thickness, and the assembly jig 70 is used.
Even when the contact area with the first positioning flat surface portion 72a is small, the light emitting surface 51 of the laser diode 50 is directly abutted against the first positioning flat surface portion 72a for positioning, so that the light emitting axis L of the laser light is high. It can be positioned with accuracy.

【0061】さらに、突き当てによりレーザダイオード
50から出射されるレーザ光の位置決めを行うことがで
きるため、パターン認識や回転補正機能を有する高価な
高精度マウンタ装置を用いる必要がなく、簡便な治具に
より高精度な位置決めが可能となる。それによって、高
精度な光ピックアップ光学ユニットを低コストで製造す
ることが出来る。また、位置決め方法が簡便であるた
め、スループットの向上も可能になる。
Further, since the laser light emitted from the laser diode 50 can be positioned by abutting, it is not necessary to use an expensive high-precision mounter device having a pattern recognition and rotation correction function, and a simple jig can be used. This enables highly accurate positioning. As a result, a highly accurate optical pickup optical unit can be manufactured at low cost. Moreover, since the positioning method is simple, the throughput can be improved.

【0062】また、サブマウント載置面24に溝部28
を形成し、サブマウント30の第2端面30bを溝部2
8上に突出させている。
Further, a groove 28 is formed on the submount mounting surface 24.
And the second end face 30b of the submount 30 is formed into the groove 2
8 is projected above.

【0063】そのため、図6に示すように、サブマウン
ト30をミラー基板20に接合する際、ダイボンド剤3
1のフィレット31bに生じる表面張力が、サブマウン
ト30を垂直基準平面部23から離間させるように作用
することがないから、位置決めに使用する垂直基準平面
部23とサブマウント30の第1端面30aの突き当て
がしっかりとなされ、レーザ光の発光軸Lを高い精度で
位置決めすることができる。
Therefore, as shown in FIG. 6, when the submount 30 is bonded to the mirror substrate 20, the die bonding agent 3 is used.
Since the surface tension generated in the fillet 31b of No. 1 does not act to separate the submount 30 from the vertical reference plane portion 23, the vertical reference plane portion 23 used for positioning and the first end surface 30a of the submount 30 are positioned. The abutment is made firmly, and the emission axis L of the laser light can be positioned with high accuracy.

【0064】しかも、本発明では、図3に示すように、
溝部28がサブマウント30を挟んで垂直基準平面部2
3とは反対側に形成されるから、ダイボンド剤31のフ
ィレット31aに生じる表面張力がサブマウント30を
垂直基準平面部23に押し付けるように作用し、より高
い精度で位置決めを行うことができる。
Moreover, in the present invention, as shown in FIG.
The groove portion 28 sandwiches the submount 30 and the vertical reference plane portion 2 is formed.
Since it is formed on the side opposite to 3, the surface tension generated in the fillet 31a of the die bonding agent 31 acts so as to press the submount 30 against the vertical reference flat surface portion 23, and positioning can be performed with higher accuracy.

【0065】さらに、サブマウント30の幅寸法とミラ
ー基板20の幅寸法とをほぼ同一にしている。
Further, the width of the submount 30 and the width of the mirror substrate 20 are made substantially the same.

【0066】そのため、サブマウント30をミラー基板
20に固定する際に、ダイボンド剤31がサブマウント
30の幅方向両側にはみ出しても、このはみ出し部分に
生じる表面張力はほとんどサブマウント載置面24の平
面方向に作用しない。
Therefore, when the sub-mount 30 is fixed to the mirror substrate 20, even if the die bonding agent 31 protrudes to both sides in the width direction of the sub-mount 30, the surface tension generated at the protruding portion is almost the same as that of the sub-mount mounting surface 24. Does not work in the plane direction.

【0067】したがって、ダイボンド剤31がサブマウ
ント30の幅方向両端部にバランス悪くはみ出しても、
このはみ出し部分に生じる表面張力によってサブマウン
ト30がミラー基板20の幅方向に移動したり、サブマ
ウント載置面24上で回転することがないから、そのこ
とによっても、レーザ光の発光軸Lを高い精度で位置決
めすることができる。
Therefore, even if the die-bonding agent 31 spills out on both ends in the width direction of the submount 30 in an imbalanced manner,
Due to the surface tension generated in this protruding portion, the submount 30 does not move in the width direction of the mirror substrate 20 and does not rotate on the submount mounting surface 24. Therefore, the emission axis L of the laser light is also changed. Positioning can be performed with high accuracy.

【0068】また、本発明は、上記実施の形態に限定さ
れるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲におい
て種々に変更可能である。
The present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, but can be variously modified without departing from the gist of the invention.

【0069】上述した各実施の形態によれば、次の構成
が得られる。
According to each of the above-described embodiments, the following configuration can be obtained.

【0070】(付記1)水平基準面(基準平面部)とこ
の水平基準面に対して垂直方向に互いに平行な第1面
(第1位置決め平面部)と第2面(第2位置決め平面
部)との2つの平面を持つ組立治具の前記水平基準面上
にサブマウントを載置して、前記サブマウントの端面
(第1端面)を前記第2面に突き当てて密接するサブマ
ウント位置決め工程と、前記サブマウントの表面にレー
ザダイオードを搭載したヒートシンクを載置して、前記
レーザダイオードの発光面を前記組立治具の第1面に突
き当てて密接させるレーザダイオードを位置決めして前
記サブマウントに固定するレーザダイオード固定工程
と、前記レーザダイオードが固定された前記サブマウン
トを前記組立治具から取り外し、前記サブマウントをミ
ラー基板のサブマウント載置面に載置して前記レーザダ
イオードが突出している側の端面を前記ミラー基板の垂
直基準面に突き当てて密接して固定するサブマウント搭
載工程と、前記サブマウントが搭載された前記ミラー基
板を基板に搭載するミラー基板搭載工程とを有すること
を特徴とする光学集積素子の製造方法。
(Supplementary Note 1) A horizontal reference plane (reference plane section), a first plane (first positioning plane section) and a second plane (second positioning plane section) which are perpendicular to the horizontal reference plane and are parallel to each other. A submount positioning step of placing a submount on the horizontal reference plane of an assembly jig having two planes, and abutting the end surface (first end surface) of the submount against the second surface. And a heat sink having a laser diode mounted on the surface of the submount, and the laser diode is positioned to bring the light emitting surface of the laser diode into contact with the first surface of the assembly jig so as to be in close contact with the submount. Laser diode fixing step of fixing the laser diode to the sub-mount, and removing the sub-mount on which the laser diode is fixed from the assembly jig, and mounting the sub-mount on the mirror substrate. A sub-mount mounting step of mounting the sub-mount on a surface and closely fixing the end face on the side where the laser diode is projected to the vertical reference plane of the mirror substrate by fixing the sub-mount on the mirror substrate. And a mirror substrate mounting step of mounting the substrate on a substrate.

【0071】(付記2)前記レーザダイオード固定工程
では、前記レーザダイオードを搭載した前記ヒートシン
クを導電性ペーストにより前記サブマウントに固着して
いることを特徴とする付記1に記載の光学集積素子の製
造方法。
(Additional remark 2) In the laser diode fixing step, the heat sink on which the laser diode is mounted is fixed to the submount with a conductive paste, and the optical integrated device according to the additional remark 1 is manufactured. Method.

【0072】(付記3)前記サブマウント搭載工程で
は、前記サブマウントを前記ミラー基板に接着固定して
いることを特徴とする付記1に記載の光学集積素子の製
造方法。
(Additional remark 3) In the submount mounting step, the submount is adhered and fixed to the mirror substrate, and the method for manufacturing an optical integrated element according to Additional remark 1.

【0073】(付記4)基板にミラー基板が搭載され、
前記ミラー基板の前記垂直基準面には前記レーザダイオ
ードと固定しているサブマウントの端面が密接し、前記
ミラー基板に搭載されたレーザダイオードから出射した
レーザ光を前記ミラー基板に形成されている反射ミラー
面で反射して前記ミラー基板に形成されている垂直基準
面と平行に照射するように形成し、かつ、前記レーザ光
が被読取り体で反射した反射光を受光する前記ミラー基
板の位置にフォトダイオードを設けた光学集積素子にお
いて、前記ミラー基板へのレーザダイオードの組立と、
組み立てられたミラー基板の基板への搭載は付記1乃至
付記3のいずれかに記載した光学集積素子の製造方法に
よってなされていることを特徴とする光学集積素子。
(Supplementary Note 4) A mirror substrate is mounted on the substrate,
The end surface of the submount fixed to the laser diode is in close contact with the vertical reference surface of the mirror substrate, and the laser light emitted from the laser diode mounted on the mirror substrate is reflected on the mirror substrate. It is formed so that it is reflected by a mirror surface and radiates parallel to a vertical reference plane formed on the mirror substrate, and at the position of the mirror substrate where the laser light receives the reflected light reflected by the object to be read. In an optical integrated device provided with a photodiode, assembling a laser diode on the mirror substrate,
An optical integrated device, wherein the assembled mirror substrate is mounted on the substrate by the method for manufacturing an optical integrated device according to any one of appendices 1 to 3.

【0074】[0074]

【発明の効果】本発明によれば、高スループットで高精
度な光ピックアップ光学ユニットの製造方法と、この方
法により製造される光ピックアップ光学ユニットを提供
することができる。
According to the present invention, it is possible to provide a method of manufacturing an optical pickup optical unit with high throughput and high accuracy, and an optical pickup optical unit manufactured by this method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施の形態に係る光ピックアップ
光学ユニットの構成を示す模式図。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of an optical pickup optical unit according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同実施の形態に係る光ピックアップ光学ユニ
ットをキャップと分離して示す構成図であって、(a)
は正面図、(b)は平面図、(c)は斜視図。
FIG. 2 is a configuration diagram showing the optical pickup optical unit according to the embodiment separately from the cap, including (a) of FIG.
Is a front view, (b) is a plan view, and (c) is a perspective view.

【図3】 同実施の形態に係る段部を拡大して示す概略
図。
FIG. 3 is an enlarged schematic view of a step portion according to the same embodiment.

【図4】 同実施の形態に係る光ピックアップ光学ユニ
ットの製造工程を示す模式図。
FIG. 4 is a schematic view showing a manufacturing process of the optical pickup optical unit according to the embodiment.

【図5】 同実施の形態に係るレーザダイオードがヒー
トシンクに搭載された状態を示す模式図であって、
(a)は斜視図、(b)は側面図。
FIG. 5 is a schematic diagram showing a state where the laser diode according to the embodiment is mounted on a heat sink,
(A) is a perspective view, (b) is a side view.

【図6】 同実施の形態に係るサブマウント載置面に溝
部を形成しない場合のダイボンド剤のフィレットを示す
概略図であって、(a)はサブマウントの第1端面をミ
ラー基板の垂直基準平面部に突き当てているときの状
態、(b)はダイボンド剤が硬化した後の状態である。
FIG. 6 is a schematic view showing a fillet of a die bonding agent when a groove is not formed on the submount mounting surface according to the same embodiment, and FIG. 6A is a vertical reference of a mirror substrate with a first end surface of the submount. The state when the die-bonding agent is in contact with the flat surface portion, (b) is the state after the die bonding agent is cured.

【図7】 従来の光ピックアップ光学ユニットのレーザ
ダイオードから出射したレーザ光の発光軸を示す模式
図。
FIG. 7 is a schematic diagram showing an emission axis of laser light emitted from a laser diode of a conventional optical pickup optical unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3…キャップ(箱体)、20…ミラー基板、23…垂直
基準平面部(突き当て用平面部)、24…サブマウント
載置面(設置基準平面部)、25…反射ミラー面(ミラ
ー平面部)、28…溝部、30…サブマウント、30a
…第1端面(一端面)、30b…第2端面(他端面)、
31…ダイボンド剤(接着剤)、32…導電性ペース
ト、40…ヒートシンク、50…レーザダイオード、5
1…発光面、70…組立治具、71a…基準平面部、7
2a…第1位置決め平面部、72b…第2位置決め平面
部。
3 ... Cap (box), 20 ... Mirror substrate, 23 ... Vertical reference flat surface portion (abutting flat surface portion), 24 ... Submount mounting surface (installation reference flat surface portion), 25 ... Reflecting mirror surface (mirror flat surface portion) ), 28 ... Groove, 30 ... Submount, 30a
... 1st end surface (one end surface), 30b ... 2nd end surface (other end surface),
31 ... Die bond agent (adhesive), 32 ... Conductive paste, 40 ... Heat sink, 50 ... Laser diode, 5
1 ... Emitting surface, 70 ... Assembly jig, 71a ... Reference plane part, 7
2a ... 1st positioning plane part, 72b ... 2nd positioning plane part.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松田 享也 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33番地 株 式会社東芝生産技術センター内 (72)発明者 小貫 明男 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33番地 株 式会社東芝生産技術センター内 Fターム(参考) 5D119 AA39 FA17 5F073 AB27 AB29 BA05 EA29 FA02 FA15 FA23 FA30    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor K. Matsuda             33, Shinisogo-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa             Inside the Toshiba Production Technology Center (72) Inventor Akio Onuki             33, Shinisogo-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa             Inside the Toshiba Production Technology Center F-term (reference) 5D119 AA39 FA17                 5F073 AB27 AB29 BA05 EA29 FA02                       FA15 FA23 FA30

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基準平面部と、この基準平面部に対して
ほぼ垂直に設けられた互いに平行な第1位置決め平面部
および第2位置決め平面部とを備えた組立治具の上記基
準平面部にサブマウントを載置するとともに、このサブ
マウントの一端面を上記第2位置決め平面部に突き当て
て上記サブマウントを位置決めするサブマウント位置決
め工程と、 上記組立治具で位置決めされたサブマウントの表面にレ
ーザダイオードを搭載したヒートシンクを載置するとと
もに、上記レーザダイオードの発光面を上記組立治具の
第1位置決め平面部に突き当てることで、この発光面と
上記サブマウントの一端面とが平行になるように位置決
めし、その状態で上記ヒートシンクを上記サブマウント
に固定するレーザダイオード固定工程と、 上記レーザダイオードと一体となった上記サブマウント
を上記組立治具から取り外し、突き当て用平面部、及び
この突き当て用平面部に対してほぼ垂直方向に連なる設
置基準平面部を備えたミラー基板の上記設置基準平面部
に上記サブマウントを載置するとともに、上記サブマウ
ントの一端面を上記突き当て用平面部に突き当てること
で、この一端面と上記突き当て用平面部が平行となるよ
うに位置決めし、その状態で上記サブマウントを上記設
置基準平面部に固定するサブマウント搭載工程と、 を具備することを特徴とする光ピックアップ光学ユニッ
トの製造方法。
1. The above-mentioned reference plane portion of an assembly jig comprising a reference plane portion and a first positioning plane portion and a second positioning plane portion which are provided substantially perpendicular to the reference plane portion and which are parallel to each other. A submount positioning step of positioning the submount by mounting the submount and abutting one end surface of the submount on the second positioning flat surface portion, and a submount surface positioned by the assembly jig. By mounting a heat sink having a laser diode mounted thereon and abutting the light emitting surface of the laser diode against the first positioning flat surface portion of the assembly jig, the light emitting surface and one end surface of the submount become parallel. Laser diode fixing step of fixing the heat sink to the submount in that state, and the laser diode. The sub-mount integrated with the above is removed from the assembling jig, and the above-mentioned installation standard of the mirror substrate having the abutting flat surface portion and the installation reference flat surface portion extending in a direction substantially perpendicular to the abutting flat surface portion. While placing the submount on the flat surface portion, by abutting one end surface of the submount against the abutting flat surface portion, the one end surface and the abutting flat surface portion are positioned in parallel, A submount mounting step of fixing the submount to the installation reference plane portion in that state, and a method for manufacturing an optical pickup optical unit.
【請求項2】 上記ヒートシンクは上記サブマウントに
導電性ペーストによって固定されることを特徴とする請
求項1記載の光ピックアップ光学ユニットの製造方法。
2. The method for manufacturing an optical pickup optical unit according to claim 1, wherein the heat sink is fixed to the submount with a conductive paste.
【請求項3】 突き当て用平面部、この突き当て用平面
部に対してほぼ垂直方向に連なる設置基準平面部、上記
突き当て用平面部に対してほぼ45度方向に連なるミラ
ー平面部を有するミラー基板と、 このミラー基板の突き当て用平面部に一端面を突き当て
た状態で上記設置基準平面部に接着剤で固定されるサブ
マウントと、 このサブマウントの表面に固定されるヒートシンクと、 このヒートシンクの表面に、発光面が上記サブマウント
の一端面とほぼ平行となるように位置決めして固定され
るレーザダイオードと、 上記ミラー基板、サブマウント、ヒートシンク、および
レーザダイオードを収容する箱体と、 を具備することを特徴とする光ピックアップ光学ユニッ
ト。
3. An abutting flat surface portion, an installation reference flat surface portion extending substantially vertically to the abutting flat surface portion, and a mirror flat surface portion extending substantially 45 degrees to the abutting flat surface portion. A mirror substrate, a submount fixed to the above-mentioned installation reference flat portion with an adhesive in the state where one end face is abutted against the abutting flat portion of the mirror substrate, and a heat sink fixed to the surface of this submount, A laser diode which is positioned and fixed on the surface of the heat sink so that the light emitting surface is substantially parallel to the one end surface of the submount, and a box body which houses the mirror substrate, the submount, the heat sink, and the laser diode. An optical pickup optical unit comprising:
【請求項4】 上記設置基準平面部には、上記ミラー基
板の幅方向に沿って溝部が形成されており、上記サブマ
ウントの他端面は上記設置基準平面部から上記溝部上に
突出していることを特徴とする請求項3記載の光ピック
アップ光学ユニット。
4. A groove portion is formed in the installation reference plane portion along the width direction of the mirror substrate, and the other end surface of the submount projects from the installation reference plane portion onto the groove portion. The optical pickup optical unit according to claim 3, wherein
【請求項5】 上記ミラー基板の幅寸法と上記サブマウ
ントの幅寸法がほぼ同一であることを特徴とする請求項
3記載の光ピックアップ光学ユニット。
5. The optical pickup optical unit according to claim 3, wherein the width of the mirror substrate and the width of the submount are substantially the same.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007273614A (en) * 2006-03-30 2007-10-18 Eudyna Devices Inc Device and method for manufacturing optical module
JP2013505486A (en) * 2009-09-21 2013-02-14 コーニング インコーポレイテッド Method for passively aligning an optoelectronic component assembly on a substrate

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