JP2003110211A - Circuit board and method of manufacturing the same - Google Patents
Circuit board and method of manufacturing the sameInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 絶縁層の両面に回路パターンとしての導体層
を有する回路基板において、密着性・電気特性・接続信頼
性が高いビアホールの形成方法を提示することにより、
配線の微細化に対応できるような回路基板を提供する。
また、従来の加工のように孔数に比例して加工時間が増
加せず、将来の配線の微細化、高密度化に対応できる、
新たな加工方法を提供する。
【解決手段】 絶縁層に隔てられた第一の導体層と第二
の導体層を有する回路基板において、図1(i)に示す
ような、多段リベット型構造のフィルビアを有する回路
基板、および、該回路基板を全て写真法によりビアホー
ルを形成する回路基板の製造方法。
(57) [Problem] To provide a method for forming a via hole having high adhesion, electrical characteristics, and connection reliability in a circuit board having a conductor layer as a circuit pattern on both surfaces of an insulating layer.
Provided is a circuit board that can cope with miniaturization of wiring.
Also, unlike conventional processing, the processing time does not increase in proportion to the number of holes, and it can respond to future finer wiring and higher density.
Provide a new processing method. SOLUTION: In a circuit board having a first conductor layer and a second conductor layer separated by an insulating layer, as shown in FIG. 1 (i), a circuit board having a multi-stage rivet-type fill via, and A method of manufacturing a circuit board, wherein the circuit board is entirely formed with via holes by a photographic method.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、フィルビアを有す
る回路基板およびその製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit board having a fill via and a method for manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】各種の電気機器や電子機器に用いられる
回路基板は、電子機器の小型化・高密度化に伴い、絶縁
層に隔てられた回路パターンとしての導体層を積層した
構造をとることが必要になる。この場合、各パターン間
は孔を設けてめっき処理することにより導通する。中で
も、屈曲性を有する絶縁層の両面に回路パターンとして
の導体層を有する両面フレキシブル回路基板は、柔軟か
つ屈曲可能な基板が必要な分野において有効に用いられ
ている。2. Description of the Related Art Circuit boards used in various electric and electronic devices have a structure in which conductor layers as circuit patterns separated by insulating layers are laminated with the miniaturization and high density of electronic devices. Will be required. In this case, holes are provided between the patterns to perform conduction by plating. Above all, a double-sided flexible circuit board having conductor layers as a circuit pattern on both sides of a flexible insulating layer is effectively used in a field in which a flexible and bendable board is required.
【0003】図3は回路基板の従来の各種ビアホールの
模式図であり、回路基板の両導体層間の導通路(ビアホ
ール)としては、図3(a)、(b)のような構造が知
られている。しかし、これらの構造のビアホールには以
下のような問題がある。FIG. 3 is a schematic view of various conventional via holes of a circuit board. As a conduction path (via hole) between both conductor layers of the circuit board, the structures shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b) are known. ing. However, the via holes having these structures have the following problems.
【0004】図3(a)のような構造では、孔内の絶縁
層2の表面と導電性材料3との密着性に劣るため、熱衝
撃試験、高温高湿試験等においてクラック等が発生する
虞がある。図3(b)に示す構造では、充填した導電性
材料3が導体層1内に逆刺しの構造を一つ持つため、密
着性に優れ、熱衝撃試験、高温高湿試験等では優れた特
性を示す。しかし、さらに劣悪な熱衝撃下、温度環境下
では十分であるとはいえない。In the structure as shown in FIG. 3 (a), since the adhesion between the surface of the insulating layer 2 in the hole and the conductive material 3 is poor, cracks and the like occur in the thermal shock test, the high temperature and high humidity test and the like. There is a risk. In the structure shown in FIG. 3B, since the filled conductive material 3 has one structure of reverse puncture in the conductor layer 1, it has excellent adhesion and excellent characteristics in the thermal shock test, the high temperature and high humidity test and the like. Indicates. However, it cannot be said that it is sufficient under the worse thermal shock and temperature environment.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】上記実情に鑑み、本発
明は、上記不具合の起こりにくい構造のビアホールを有
する回路基板、すなわちビアホール部の密着性・電気特
性・接続信頼性が高い回路基板を提供することを目的と
する。また、従来のドリルまたはレーザー等を用いる加
工では孔数に比例して加工時間が増加するが、将来の配
線の微細化、高密度化に対応すべく、孔数と加工時間が
比例しない新たな加工方法の提供も本発明の課題であ
る。In view of the above circumstances, the present invention provides a circuit board having a via hole having a structure in which the above-mentioned problems do not easily occur, that is, a circuit board having high adhesion, electrical characteristics, and connection reliability of the via hole portion. The purpose is to do. In addition, the processing time increases in proportion to the number of holes in the conventional processing using a drill or laser, but in order to respond to future wiring miniaturization and high density, the new number of holes is not proportional to the processing time. The provision of a processing method is also an object of the present invention.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記課題に
ついて、ビアホールの構造について研究を行った結果、
以下の特徴を有する本発明の完成に至った。
(1)少なくとも絶縁層に隔てられた第一の導体層と第
二の導体層を有する回路基板において、絶縁層を貫通し
て該二層の導体層を導通する(A)および(B)の条件
を満たす構造のフィルビアを有することを特徴とする回
路基板。
(A)第一の導体層と絶縁層との境界における絶縁層側
のフィルビアの孔周が、該境界における第一の導体層側
のフィルビアの孔周より拡張したものになっている。
(B)絶縁層と第二の導体層との境界における第二の導
体層側のフィルビアの孔周が、該境界における絶縁層側
のフィルビアの孔周より拡張したものになっている。
(2)絶縁層およびその両側の第一の導体層と第二の導
体層から構成される両面回路基板である前記(1)記載
の回路基板。
(3)以下の9工程、(I)第一の導体層および第二の
導体層にフィルビア用パターンを含む回路パターンをエ
ッチングにて形成する工程、(II)第一の導体層のフ
ィルビア用パターン部以外に感光性のレジスト層を付与
する工程、(III)絶縁層のフィルビア用パターン部
にエッチングにより貫通孔を形成して第二の導体層を露
出させた後に、レジスト層を剥離する工程、(IV)第
二の導体層側に露出している絶縁層表面に給電膜を付与
する工程、(V)前記フィルビア用パターン部以外に感
光性のレジスト層を第一の導体層および給電膜に付与す
る工程、(VI)第二の導体層にソフトエッチングによ
り非貫通孔を形成する工程、(VII)前記給電膜のみ
に給電し、フィルビアのめっきを形成し、導電性材料を
充填する工程、(VIII)レジスト層を除去する工
程、(IX)前記給電膜を除去する工程、を含む前記
(1)または(2)のいずれかに記載の回路基板の製造
方法。
(4)以下の7工程、(I)第一の導体層にフィルビア
用パターンをエッチングにて形成する工程、(II)絶
縁層にエッチングにより貫通孔を形成して第二の導体層
を露出させる工程、(III)前記フィルビア用パター
ン部以外に感光性のレジスト層を第一の導体層および第
二の導体層に付与する工程、(IV)第二の導体層にソ
フトエッチングにより非貫通孔を形成する工程、(V)
第二の導体層または第二の導体層と第一の導体層の両方
に給電し、フィルビアのめっきを形成する工程、(V
I)レジスト層を除去する工程、(VII)第一の導体
層と第二の導体層にエッチングで所定のパターンを加工
する工程、を含む前記(1)または(2)のいずれかに
記載の回路基板の製造方法。[Means for Solving the Problems] The inventors of the present invention have studied the structure of via holes to solve the above problems.
The present invention has been completed having the following features. (1) In a circuit board having a first conductor layer and a second conductor layer separated by at least an insulating layer, the two conductor layers are electrically connected to each other by penetrating the insulating layer. A circuit board having a fill via having a structure satisfying a condition. (A) The hole circumference of the fill via on the insulating layer side at the boundary between the first conductor layer and the insulating layer is larger than the hole circumference of the fill via on the first conductor layer side at the boundary. (B) The hole circumference of the fill via on the second conductor layer side at the boundary between the insulating layer and the second conductor layer is wider than the hole circumference of the fill via on the insulating layer side at the boundary. (2) The circuit board according to (1), which is a double-sided circuit board including an insulating layer and a first conductor layer and a second conductor layer on both sides of the insulating layer. (3) The following 9 steps, (I) a step of forming a circuit pattern including a fill via pattern in the first conductor layer and the second conductor layer by etching, (II) a fill via pattern of the first conductor layer A step of applying a photosensitive resist layer to a portion other than the area, (III) a step of forming a through hole by etching in the fill via pattern portion of the insulating layer to expose the second conductor layer, and then peeling the resist layer, (IV) A step of applying a power feeding film to the surface of the insulating layer exposed on the second conductor layer side, (V) A photosensitive resist layer is provided on the first conductor layer and the power feeding film in addition to the fill via pattern portion. A step of applying, (VI) a step of forming a non-penetrating hole in the second conductor layer by soft etching, (VII) a step of supplying power only to the power supply film, forming plating of fill via, and filling a conductive material, ( Removing the III) resist layer, (IX) wherein method of manufacturing a circuit board according to any one of the power supply layer step of removing, said comprising (1) or (2). (4) The following seven steps, (I) a step of forming a fill via pattern in the first conductor layer by etching, and (II) a through hole is formed in the insulating layer by etching to expose the second conductor layer. Step (III) A step of applying a photosensitive resist layer to the first conductor layer and the second conductor layer other than the fill via pattern portion, and (IV) Forming a non-through hole in the second conductor layer by soft etching. Forming step, (V)
A step of supplying power to the second conductor layer or both the second conductor layer and the first conductor layer to form a fill via plating;
The method according to any one of (1) and (2) above, including I) a step of removing the resist layer, and (VII) a step of processing a predetermined pattern on the first conductor layer and the second conductor layer by etching. Circuit board manufacturing method.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】以下、本発明について適宜図面を
参照しながら説明するが、本発明は図面に記載された形
態に何ら限定されるものではない。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described below with reference to the drawings as appropriate, but the present invention is not limited to the embodiments shown in the drawings.
【0008】本発明に係る回路基板について図1、図2
を参照しながら説明する。図1、図2はいずれも、本発
明に係る回路基板の形成方法の説明図である。本発明に
係る回路基板は、絶縁層2に隔てられた回路パターンと
しての導体層1を有するもので、導体層間が多段リベッ
ト型(後述)のフィルビアにより電気的に接続されてい
ることを特徴とするものである。A circuit board according to the present invention is shown in FIGS.
Will be described with reference to. 1 and 2 are explanatory views of a method for forming a circuit board according to the present invention. A circuit board according to the present invention has a conductor layer 1 as a circuit pattern, which is separated by an insulating layer 2, and the conductor layers are electrically connected by fill vias of a multi-stage rivet type (described later). To do.
【0009】導体層1としては、回路基板の導体層とし
て通常使用されるものであれば特に限定されず、例え
ば、銅、金、ステンレス、アルミニウム、ニッケルなど
の金属及びこれらの合金などの金属箔が挙げられる。こ
れらのうち、柔軟性、加工性、電気特性及びコストなど
を考慮すると、銅箔及び銅の合金箔が好ましい。The conductor layer 1 is not particularly limited as long as it is usually used as a conductor layer of a circuit board, and for example, metal such as copper, gold, stainless steel, aluminum, nickel, and metal foils such as alloys thereof. Is mentioned. Of these, copper foil and copper alloy foil are preferable in consideration of flexibility, processability, electrical characteristics, cost, and the like.
【0010】絶縁層2についても、回路基板の絶縁層と
して通常使用されるものであれば特に限定されず、例え
ば、ポリイミド、ポリエチレンテレフタレート、ポリエ
チレンナフタレートなどが挙げられる。これらのうち、
柔軟性、屈曲性、耐熱性などを考慮すると、ポリイミド
やポリエチレンナフタレート、特にポリイミドが好まし
い。The insulating layer 2 is not particularly limited as long as it is usually used as an insulating layer of a circuit board, and examples thereof include polyimide, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate. Of these,
Considering flexibility, flexibility, heat resistance, etc., polyimide or polyethylene naphthalate, particularly polyimide is preferable.
【0011】本発明における「フィルビア」の語は、当
業界で通常使われる場合と同様、回路基板の絶縁層2に
隔てられた複数の導体層1を電気的に接続する導通路
(以下、ビアホールという)のうち、非貫通孔に導電性
材料を充填したものを意味する。以下、本発明に係る回
路基板が有する多段リベット型のフィルビアの構造につ
いて図1(i)を参照しながら説明する。The term "fill via" used in the present invention is similar to the case commonly used in the art, and is used to electrically connect a plurality of conductor layers 1 separated by an insulating layer 2 of a circuit board (hereinafter referred to as a via hole). That means that the non-through holes are filled with a conductive material. Hereinafter, the structure of the multi-stage rivet type fill via included in the circuit board according to the present invention will be described with reference to FIG.
【0012】多段リベット型のフィルビアは、導体層1
と絶縁層2の境界におけるフィルビアの断面の構造(孔
周)により特徴づけられる。まず、第一の導体層1(図
1(i)では図面上方の導体層1)と絶縁層2の境界に
着目する。該境界において、絶縁層2側のフィルビアの
孔周は、第一の導体層1側のフィルビアの孔周より拡張
した構造になっている。次に、絶縁層2と第二の導体層
1(図1(i)では図面下方の導体層1)の境界に着目
する。該境界において、第二の導体層1側のフィルビア
の孔周は、絶縁層2側のフィルビアの孔周より拡張した
構造になっている。この二つの要件の両方を具備する構
造を有するフィルビアが本発明でいう多段リベット型の
フィルビアである。The multi-stage rivet type fill via has a conductive layer 1
Is characterized by the structure (hole circumference) of the fill via at the boundary between the insulating layer 2 and the insulating layer 2. First, attention is paid to the boundary between the first conductor layer 1 (the conductor layer 1 in the upper part of the drawing in FIG. 1I) and the insulating layer 2. At the boundary, the hole circumference of the fill via on the insulating layer 2 side is expanded from the hole circumference of the fill via on the first conductor layer 1 side. Next, attention is paid to the boundary between the insulating layer 2 and the second conductor layer 1 (the conductor layer 1 in the lower part of the drawing in FIG. 1I). At the boundary, the hole circumference of the fill via on the second conductor layer 1 side is expanded from the hole circumference of the fill via on the insulating layer 2 side. A fill via having a structure having both of these two requirements is the multi-stage rivet type fill via in the present invention.
【0013】ここで、絶縁層2の両面の導体層1のうち
いずれを第一の導体層とするかは任意であり、本発明で
いう多段リベット型は、二つの導体層1のどちらかを第
一の導体層とみなしたときに上記要件を具備するものを
いう。また、絶縁層2と導体層1との境界以外における
フィルビアの構造は特に限定はない。例えば、図1
(i)では絶縁層2中では図面の下方ほどフィルビアの
孔周が狭くなっており、また、第二の導体層1において
はフィルビアは円錐状になっているが、本発明における
フィルビアはそのような構造に限定されない。Here, it is arbitrary which one of the conductor layers 1 on both sides of the insulating layer 2 is used as the first conductor layer. In the multi-stage rivet type according to the present invention, either of the two conductor layers 1 is used. A material that meets the above requirements when regarded as the first conductor layer. The structure of the fill via other than the boundary between the insulating layer 2 and the conductor layer 1 is not particularly limited. For example, in FIG.
In (i), the hole circumference of the fill via becomes narrower in the insulating layer 2 toward the lower side of the drawing, and the fill via has a conical shape in the second conductor layer 1. It is not limited to such a structure.
【0014】このようなフィルビアは、回路基板中でリ
ベット構造を複数有し、かつ、導電性材料3が孔に合わ
せて充填されているため、機械的強度が高く、電気特
性、密着性、接続信頼性に優れている。Since such a fill via has a plurality of rivet structures in the circuit board and is filled with the conductive material 3 in conformity with the holes, it has high mechanical strength, electrical characteristics, adhesion and connection. It has excellent reliability.
【0015】多段リベット型構造フィルビアに充填され
る導電性材料3はビアホールにおいて通常使用される材
料を用いることができ、例えば、銅、銀、金、半田など
が挙げられる。これらのうち、電気的特性、コストなど
を考慮すると、銅が好ましい。導電性材料3の具体的な
充填方法については後述する。As the conductive material 3 filled in the multi-stage rivet type structure fill via, a material usually used in via holes can be used, and examples thereof include copper, silver, gold and solder. Of these, copper is preferable in consideration of electrical characteristics, cost, and the like. A specific filling method of the conductive material 3 will be described later.
【0016】次に本発明に係る回路基板の製造方法につ
き、図1、2を参照しながら説明する。以下、第一およ
び第二の実施の態様を示すが、本発明に係る方法はこれ
らに限られない。Next, a method of manufacturing a circuit board according to the present invention will be described with reference to FIGS. Hereinafter, the first and second embodiments will be shown, but the method according to the present invention is not limited to these.
【0017】(第一の態様;導体層の回路パターンの形
成と同時にフィルビアを形成する方法)まず、ポリイミ
ド等の絶縁層2の両面に銅等の導体層1を有する基板
(図1(a))の第一および第二の導体層1にレジスト
層4(フォトレジスト)を付与する。レジスト層4とし
ては、ドライフィルム、インクレジスト等、公知の材料
を任意に用いることができるが、簡便なためアルカリ現
像可能なドライフィルムを用いるのが好ましい。つい
で、レジスト層4をフォトマスクを介して露光を行い、
所定パターンの写真潜像を形成し、現像することで、回
路、ビアホールのパターンに対応するレジスト層4を形
成することができる(図1(b))。(First Embodiment: Method of Forming Fill Via Simultaneously with Formation of Circuit Pattern of Conductor Layer) First, a substrate having conductor layers 1 of copper or the like on both surfaces of an insulating layer 2 of polyimide or the like (FIG. 1A). 2) The resist layer 4 (photoresist) is applied to the first and second conductor layers 1). As the resist layer 4, a known material such as a dry film or an ink resist can be arbitrarily used, but it is preferable to use a dry film capable of alkali development because it is simple. Then, the resist layer 4 is exposed through a photomask,
By forming a photographic latent image of a predetermined pattern and developing it, the resist layer 4 corresponding to the pattern of circuits and via holes can be formed (FIG. 1B).
【0018】次に導体層1のエッチングを行い所定のパ
ターンを得る。導体層1のエッチングは常法によればよ
いが、制御のしやすさやエッチング速度の点から、塩化
第二鉄水溶液等による化学エッチングが好ましい。そし
て、レジスト層4を除去して図1(c)の構造物を得
る。レジスト層4の除去も常法によればよく、水酸化ナ
トリウム水溶液などのアルカリ水溶液による除去が例示
される。Next, the conductor layer 1 is etched to obtain a predetermined pattern. The conductor layer 1 may be etched by a conventional method, but chemical etching with a ferric chloride aqueous solution or the like is preferable from the viewpoints of controllability and etching rate. Then, the resist layer 4 is removed to obtain the structure shown in FIG. The removal of the resist layer 4 may be carried out by a conventional method, and removal by an alkaline aqueous solution such as an aqueous sodium hydroxide solution is exemplified.
【0019】ついで、再び前述と同様のドライフィルム
等の貼付、露光、現像によりビアホール形成用のレジス
ト層4を形成する(図1(d))。この際、露光時の位
置合わせ精度向上の理由から、レジスト層4の開口は、
先に開口した第一の導体層の孔より5〜100μm、好
ましくは15〜50μm小さくするのがよい。その後、
露出している絶縁層2をエッチングし、第一の導体層1
との境界部に前述のリベット型の構造を有する孔を形成
して、第二の導体層1を露出させる。絶縁層2のエッチ
ングは化学エッチングやプラズマエッチングあるいはレ
ーザーにより行うことができるが、十分に絶縁層2のエ
ッチングを行い、絶縁層2の下にリベット構造を形成す
るため、化学エッチングにより行うことが好ましい。そ
の後、図1(c)の構造物を得るときと同様の方法でレ
ジスト層4を除去する。Then, the resist layer 4 for forming via holes is formed again by pasting, exposing and developing a dry film or the like as described above (FIG. 1 (d)). At this time, the opening in the resist layer 4 is
It is preferable that the size is made 5 to 100 μm, preferably 15 to 50 μm smaller than the hole of the first conductor layer opened earlier. afterwards,
The exposed insulating layer 2 is etched to form the first conductor layer 1
The second conductor layer 1 is exposed by forming a hole having the above-mentioned rivet-type structure at the boundary between the first conductor layer 1 and the second conductor layer 1. The etching of the insulating layer 2 can be performed by chemical etching, plasma etching, or laser, but it is preferable that the etching is performed by chemical etching in order to sufficiently etch the insulating layer 2 and form a rivet structure under the insulating layer 2. . After that, the resist layer 4 is removed by the same method as when obtaining the structure of FIG.
【0020】本発明の実施において、第一の導体層1と
絶縁層2との境界にリベット型の構造を有する孔を形成
する方法は特に限定はない。上述した化学エッチングや
プラズマエッチングなどは等方性エッチングになるの
で、これらのオーバーエッチング(例えば、エッチング
処理時間の延長等)は、リベット型の構造を有する孔を
形成する方法の一例たり得る。In the practice of the present invention, the method of forming a hole having a rivet type structure at the boundary between the first conductor layer 1 and the insulating layer 2 is not particularly limited. Since the above-described chemical etching and plasma etching are isotropic etching, these over-etching (for example, extension of etching processing time) can be an example of a method of forming a hole having a rivet type structure.
【0021】その後、第二の導体層側が全面給電できる
ように、図1(e)に示すように第二の導体層側に給電
膜5を付与する。付与する形態はスパッタ、蒸着、無電
解めっきなどがあるが、本発明においてはスパッタによ
り給電膜5を付与することが簡便であり好ましい。給電
膜5の材料としては、給電が可能な材質であれば特に限
定はなく、例えばクロム、ニッケル、銅などの金属およ
びこれらの合金などがあげられるが、ニッケル−クロム
合金が好ましい。また、給電を確実に行うよう、給電膜
5の厚みは1000Å以上であることが好ましい。After that, a feeding film 5 is provided on the second conductor layer side as shown in FIG. 1 (e) so that the entire surface of the second conductor layer can be fed with power. Although the form of application is sputtering, vapor deposition, electroless plating, etc., in the present invention, it is preferable to apply the power supply film 5 by sputtering because it is simple and easy. The material of the power supply film 5 is not particularly limited as long as it is a material capable of supplying power, and examples thereof include metals such as chromium, nickel, copper and alloys thereof, and nickel-chromium alloys are preferable. In addition, the thickness of the power feeding film 5 is preferably 1000 Å or more so as to reliably perform power feeding.
【0022】つぎに、ビアホール用パターン開口径より
小さい開口径をもつレジスト層4(保護レジスト膜)を
第一の導体層1に付与し、給電膜5全体にもレジスト層
4を付与する(図1(f))。ここでのレジスト層4
は、上述した図1(b)、図1(d)のレジスト層4と
同様の方法により付与することができる。そして第二の
導体層1をソフトエッチングによって開口し、絶縁層2
と第二の導体層1の境界部に前述のリベット構造を有す
る非貫通孔を形成する(図1(g))。ソフトエッチン
グは導体層1を溶解できる一般的な酸水溶液でよいが、
過硫酸ソーダ水溶液中で超音波を併用することが好まし
い。Next, a resist layer 4 (protective resist film) having an opening diameter smaller than the via hole pattern opening diameter is applied to the first conductor layer 1, and the resist layer 4 is also applied to the entire power supply film 5 (see FIG. 1 (f)). Resist layer 4 here
Can be applied by the same method as the resist layer 4 shown in FIGS. 1 (b) and 1 (d). Then, the second conductor layer 1 is opened by soft etching, and the insulating layer 2 is formed.
A non-through hole having the above-mentioned rivet structure is formed at the boundary between the second conductor layer 1 and the second conductor layer 1 (FIG. 1 (g)). Soft etching may be a general acid aqueous solution capable of dissolving the conductor layer 1,
It is preferable to use ultrasonic waves together in an aqueous solution of sodium persulfate.
【0023】ついで、図1(h)に示すように、導電性
材料3を充填する。導電性材料3を充填する方法として
は導電性ペースト、無電解めっき、電解めっきなどが挙
げられるが、簡便に充填ができる点から第一および第二
の導体層1に給電を行って、第二の導体層1よりめっき
を析出させてフィルビアを形成するのが好ましく、とり
わけ、第二の導体層1のみに給電を行ってめっきを析出
させる方法が好ましい。その後、図1(i)に示すよう
にレジスト層4をアルカリ水溶液等にて除去し、さらに
スパッタ膜の除去を行って、本発明に係る回路基板を得
る。スパッタ膜の除去は、通常使用されている酸系の水
溶液でもよいが、フェリシアン化カリウム、過マンガン
酸カリウム等の水溶液が好ましい。Then, as shown in FIG. 1H, a conductive material 3 is filled. Examples of the method of filling the conductive material 3 include a conductive paste, electroless plating, electrolytic plating, etc. However, from the viewpoint of easy filling, power is supplied to the first and second conductor layers 1 to It is preferable to deposit the plating from the conductor layer 1 to form the fill via, and in particular, a method of supplying power only to the second conductor layer 1 to deposit the plating is preferable. Thereafter, as shown in FIG. 1I, the resist layer 4 is removed with an alkaline aqueous solution or the like, and the sputtered film is further removed to obtain the circuit board according to the present invention. The sputtered film may be removed with an acid-based aqueous solution which is usually used, but an aqueous solution of potassium ferricyanide, potassium permanganate or the like is preferable.
【0024】(第二の態様;フィルビアの形成後に導体
層の回路パターンを形成する方法)本態様については、
図2を参照しながら説明する。本態様も基本的には第一
の態様と同様で、レジスト層4の付与、エッチングによ
る孔の形成、レジスト層4の除去を、第一の導体層1、
絶縁層2、の二層について行い(図2(a)〜
(d))、レジスト層4の付与(図2(e))、ソフト
エッチングによる第二の導体層1への孔の形成(図2
(f))を行った後で、導電性材料3を充填し(図2
(g))、レジスト層4を除去することで図2(h)の
基板を得る。その後、第二の導体層1の回路パターン形
成を行って、本発明に係る回路基板を得る。(Second Mode: Method of Forming Circuit Pattern of Conductor Layer After Forming Fill Via) In this mode,
This will be described with reference to FIG. This embodiment is basically the same as the first embodiment, and the steps of applying the resist layer 4, forming holes by etching, and removing the resist layer 4 are performed by the first conductor layer 1,
This is performed for two layers of the insulating layer 2 (see FIG. 2 (a)-
(D)), application of the resist layer 4 (FIG. 2E), and formation of holes in the second conductor layer 1 by soft etching (FIG. 2).
After performing (f)), the conductive material 3 is filled (see FIG.
(G)), the resist layer 4 is removed to obtain the substrate of FIG. After that, a circuit pattern is formed on the second conductor layer 1 to obtain the circuit board according to the present invention.
【0025】本態様において、第一の態様と異なるの
は、第二の導体層1の加工をフィルビア形成後に行うこ
とである。したがって、第一の態様のようにフィルビア
形成前に図1(e)〜(h)に記載の給電膜5を設けず
に、第二の導体層1のみに、あるいは第一および第二の
導体層1の両方に給電することで電解めっきを実施する
ことができる。In this embodiment, the difference from the first embodiment is that the second conductor layer 1 is processed after the fill via formation. Therefore, as in the first embodiment, without forming the feeding film 5 shown in FIGS. 1E to 1H before forming the fill via, only the second conductor layer 1 or the first and second conductors is formed. Electroplating can be performed by supplying power to both layers 1.
【0026】このように、本発明に係る回路基板の製造
方法は、全て写真法によってビアホールの孔を形成する
ため、孔数にかかわらず加工に要する時間が一定であ
り、孔数が多い場合には従来の方法に比べて加工時間が
短縮される。また、第一の態様(「0017」〜「00
23」段落)の場合には、めっきよりも先に回路の形成
を行うことができるので、回路形状はめっき時の寸法収
縮による影響を受け難い。したがって、絶縁層2の両面
でのパターンの位置整合精度が非常に高くなる。さら
に、ビアホールの位置精度も全て露光時のフォトマスク
合わせ精度で決定することができるので、微細な配線が
要求される高精細回路基板への適用ができる。一方、第
二の態様(「0024」〜「0025」段落)の場合に
は、図1(e)等に記載の給電膜5を設けずにフィルビ
アを形成することができるので、加工が簡便であり、コ
スト的に有利である。本発明の実施においては、必要と
する加工精度やコスト等を勘案して、有利な方法を採用
することができる。As described above, in the method of manufacturing a circuit board according to the present invention, since the via holes are all formed by the photographic method, the processing time is constant regardless of the number of holes, and when the number of holes is large. Processing time is shortened as compared with the conventional method. In addition, the first mode (“0017” to “00”)
23), the circuit can be formed prior to the plating, so that the circuit shape is less likely to be affected by the dimensional shrinkage during the plating. Therefore, the positional alignment accuracy of the patterns on both surfaces of the insulating layer 2 becomes very high. Further, since the position accuracy of the via holes can be determined by the photomask alignment accuracy at the time of exposure, it can be applied to a high-definition circuit board that requires fine wiring. On the other hand, in the case of the second aspect (paragraphs “0024” to “0025”), the fill via can be formed without providing the power feeding film 5 shown in FIG. Yes, there is a cost advantage. In the practice of the present invention, an advantageous method can be adopted in consideration of the required processing accuracy, cost and the like.
【0027】[0027]
【実施例】本発明の実施の態様を説明する際に使用した
図面(図1、図2)を援用して本発明の実施例を以下に
説明するが、本発明は実施例のみに限定されるものでは
ない。EXAMPLES Examples of the present invention will be described below with reference to the drawings (FIGS. 1 and 2) used in describing the embodiments of the present invention, but the present invention is not limited to the examples. Not something.
【0028】[実施例1]厚み25μmのポリイミドから
なる絶縁層2の両面に厚み18μmの銅製の導体1を、
熱可塑性ポリイミドにより貼り付けた、接着剤を含まな
い両面銅張り積層板(図1(a))を用意した。まず、
旭化成社製のドライフィルムをレジストラミネータを用
いて貼付し、フォトマスクを介して露光、現像すること
により、所定の回路およびビアホール用パターン(ビア
ホール部開口径;300μm)に対応するレジスト層4
(フォトレジスト)を形成した(図1(b))。つい
で、このレジスト層4をマスクとして導体を40g/l
の塩化第二鉄水溶液により化学エッチングした後、レジ
スト層4を3%の水酸化ナトリウム水溶液により除去す
ることにより図1(c)のような所定の回路パターンお
よびビアホール用パターンを得た。Example 1 A copper conductor 1 having a thickness of 18 μm was formed on both surfaces of an insulating layer 2 made of polyimide having a thickness of 25 μm.
An adhesive-free double-sided copper-clad laminate (Fig. 1 (a)) attached with a thermoplastic polyimide was prepared. First,
A dry film manufactured by Asahi Kasei Co., Ltd. is attached using a resist laminator, exposed through a photomask and developed to form a resist layer 4 corresponding to a predetermined circuit and via hole pattern (via hole opening diameter: 300 μm).
(Photoresist) was formed (FIG. 1B). Then, using the resist layer 4 as a mask, a conductor of 40 g / l
After chemically etching with the ferric chloride aqueous solution, the resist layer 4 was removed with a 3% aqueous sodium hydroxide solution to obtain a predetermined circuit pattern and via hole pattern as shown in FIG. 1 (c).
【0029】その後、絶縁層2のエッチングを行うため
に、上記と同様の操作により、ドライフィルムからなる
レジスト層4を形成した。このとき、レジスト層4の開
口径をビアホール用パターンより半径50μm小さくし
た。ついで、このレジスト層4をマスクとして、絶縁層
2を水酸化カリウム水溶液によりエッチング(オーバー
エッチング)を行い、図1(d)のような第一の導体層
1と絶縁層2の間にリベット構造を有する孔を形成し
た。その後、3%の水酸化ナトリウム水溶液によりレジ
スト層4を除去することにより第二の導体層1を露出さ
せた。Then, in order to etch the insulating layer 2, the resist layer 4 made of a dry film was formed by the same operation as described above. At this time, the opening diameter of the resist layer 4 was made smaller than the via hole pattern by 50 μm in radius. Then, using the resist layer 4 as a mask, the insulating layer 2 is etched (over-etched) with a potassium hydroxide aqueous solution to form a rivet structure between the first conductor layer 1 and the insulating layer 2 as shown in FIG. To form a hole. Then, the second conductor layer 1 was exposed by removing the resist layer 4 with a 3% sodium hydroxide aqueous solution.
【0030】ついで、第二の導体層1の全面に給電膜5
(ニッケル−クロム膜、厚み0.1μm)をスパッタリ
ングで形成し、図1(e)のように給電可能な状態とし
た後に、上記と同様の操作によりドライフィルムからな
るレジスト層4を形成した。このとき、導体層1より凸
部が飛び出さないように、レジスト層4の開口径をビア
ホール用パターンより半径50μm小さくした(図1
(f))。その後、100g/lの過硫酸ソーダ水溶液
からなるソフトエッチング液に浸し、超音波(20〜1
00kHz)を35℃で2分間照射することで絶縁層2
と第二の導体層1との間に図1(g)のようなリベット
構造の孔を形成した。Then, the power feeding film 5 is formed on the entire surface of the second conductor layer 1.
(Nickel-chromium film, thickness 0.1 μm) was formed by sputtering, and after supplying power as shown in FIG. 1E, a resist layer 4 made of a dry film was formed by the same operation as above. At this time, the opening diameter of the resist layer 4 was made smaller than the via-hole pattern by 50 μm in radius so that the convex portions would not protrude from the conductor layer 1 (FIG. 1).
(F)). Then, it was dipped in a soft etching solution consisting of a 100 g / l sodium persulfate aqueous solution, and ultrasonic waves (20 to 1
(00 kHz) at 35 ° C. for 2 minutes for insulation layer 2
A hole having a rivet structure as shown in FIG. 1 (g) was formed between and the second conductor layer 1.
【0031】そして、図1(h)に示すように、第二の
導体層1側の給電膜5に給電(0.5〜2.5A/dm
2の範囲)し、めっき液(硫酸銅系めっき液)にて処理
することで、孔の底部より銅めっきを析出させ、形成し
た孔に充填してフィルビアとした。最後に、レジスト層
4を3%の水酸化ナトリウム水溶液により除去し、給電
膜5を10%過硫酸ナトリウム水溶液に5秒間浸漬する
ことにより除去して、図1(i)に示す、目的とする構
造の多段リベット型フィルビアの一種であるダブルリベ
ット型フィルビアを得た。Then, as shown in FIG. 1 (h), power is supplied to the power supply film 5 on the second conductor layer 1 side (0.5 to 2.5 A / dm).
2 ) and treated with a plating solution (copper sulfate-based plating solution) to deposit copper plating from the bottom of the hole and fill the formed hole to form a fill via. Finally, the resist layer 4 is removed with a 3% sodium hydroxide aqueous solution, and the power feeding film 5 is removed by immersing the power feeding film 5 in a 10% sodium persulfate aqueous solution for 5 seconds, which is shown in FIG. A double rivet type fill via which is a kind of multi-stage rivet type fill via having a structure was obtained.
【0032】本実施例におけるダブルリベット型フィル
ビアの構造は、以下の通りである。すなわち、第一の導
体層1内では半径150μmの略円を底面とする略円柱
状であり、絶縁層2内では第一の導体層1との境界は半
径175μmの略円、第二の導体層1との境界は半径1
50μmの略円からなる、円錐の一部分の形状、第二の
導体層1内では半径160μmの略円を底面とし、深さ
10μmの略円錐状である。The structure of the double rivet type fill via in this embodiment is as follows. That is, the first conductor layer 1 has a substantially cylindrical shape having a bottom surface of a substantially circle having a radius of 150 μm, and the insulating layer 2 has a boundary with the first conductor layer 1 having a radius of 175 μm and a second conductor. Boundary with layer 1 is radius 1
A shape of a part of a cone formed of a substantially circle of 50 μm, and in the second conductor layer 1 is a substantially circular cone having a radius of 160 μm as a bottom surface and a depth of 10 μm.
【0033】なお、上記実施例におけるめっき処理の
際、第二の導体層1だけでなく、第一の導体層1にも給
電膜5(クロム膜等)を形成してダイレクトプレーティ
ング法等により両面に給電してめっきを析出させても、
上記と同様のフィルビアが得られることを確認した。During the plating process in the above embodiment, not only the second conductor layer 1 but also the first conductor layer 1 is formed with a power supply film 5 (chromium film or the like) by a direct plating method or the like. Even if power is supplied to both sides to deposit plating,
It was confirmed that a fill via similar to the above was obtained.
【0034】[実施例2]本実施例では図2を参照しなが
ら説明する。本実施例でも実施例1と同様の両面銅張り
積層板(図2(a))を用いた。本実施例は実施例1と
異なり第二の導体層1の加工をフィルビア形成後に行う
のが特徴である。[Embodiment 2] This embodiment will be described with reference to FIG. Also in this example, the same double-sided copper-clad laminate as in Example 1 (FIG. 2A) was used. This embodiment is different from the first embodiment in that the second conductor layer 1 is processed after the fill via is formed.
【0035】図2(a)から図2(d)への加工は実施
例1と同様である。すなわち、レジスト層4形成、エッ
チング、レジスト層4除去の工程を第一の導体層1およ
び絶縁層2について、実施例1の条件と同様に行うこと
で、図2(d)の構造物が得られた。ただし、上述のよ
うに本実施例では第二の導体層1の回路パターンの加工
はこの段階では行わなかった。The processing from FIG. 2A to FIG. 2D is the same as that of the first embodiment. That is, the steps of forming the resist layer 4, etching, and removing the resist layer 4 are performed on the first conductor layer 1 and the insulating layer 2 in the same manner as in the conditions of Example 1 to obtain the structure of FIG. Was given. However, as described above, in this embodiment, the processing of the circuit pattern of the second conductor layer 1 was not performed at this stage.
【0036】ついで、本実施例では、スパッタリングの
工程を省いて、実施例1と同様の操作によりドライフィ
ルムからなるレジスト層4を形成し(図2(e))、ソ
フトエッチングにより絶縁層2と第二の導体層1の間に
リベット構造の孔を形成した(図2(f))。レジスト
層4の形成の際、レジスト層4の開口径をビアホール用
パターンより半径50μm小さくするのも実施例1と同
様である。ついで、第二の導体層1側に実施例1と同様
の条件で給電し、めっき処理によりフィルビアを形成し
た(図2(g))。最後に、レジスト層4を3%の水酸
化ナトリウム水溶液を用いて除去することにより図2
(h)に示す、目的とする構造の多段リベット型フィル
ビアの一種であるダブルリベット型フィルビアを得た。
このフィルビアの構造は実施例1のフィルビアと同様で
あった。Then, in this embodiment, the sputtering step is omitted, and the resist layer 4 made of a dry film is formed by the same operation as in Embodiment 1 (FIG. 2E), and the insulating layer 2 is formed by soft etching. A hole having a rivet structure was formed between the second conductor layers 1 (FIG. 2 (f)). When the resist layer 4 is formed, the opening diameter of the resist layer 4 is smaller than the via hole pattern by 50 μm in radius as in the first embodiment. Then, power was supplied to the second conductor layer 1 side under the same conditions as in Example 1, and a fill via was formed by plating (FIG. 2 (g)). Finally, the resist layer 4 is removed by using a 3% aqueous solution of sodium hydroxide.
A double rivet type fill via, which is a kind of multi-stage rivet type fill via having a desired structure, was obtained as shown in (h).
The structure of this fill via was the same as that of the fill via of the first embodiment.
【0037】なお、実施例1と同様、めっき処理の際、
第二の導体層1だけでなく第一の導体層1にも給電して
ダイレクトプレーティング法等によりめっきを析出させ
ても、上記と同様のフィルビアが得られることを確認し
た。As in Example 1, during the plating process,
It was confirmed that the same fill via as described above can be obtained by feeding not only the second conductor layer 1 but also the first conductor layer 1 to deposit the plating by the direct plating method or the like.
【0038】[比較例]比較例として、図3(b)に記載
したようなフィルビア、すなわち、絶縁層2と第二の導
体層1との境界においてのみリベット型構造を有するフ
ィルビアを製造した。このフィルビアの製造は実施例2
の方法に準じて行った。しかし、本比較例においては、
第一の導体層1と絶縁層2との境界にリベット型構造を
形成しないので、第一の導体層1と絶縁層2は同時にレ
ーザー加工することにより、孔を形成した。その結果、
図2(d)に相当する構造体(ただし、第一の導体層1
と絶縁層2との境界はリベット型ではない)が得られ
た。その後は実施例2と同様の加工により、図3(b)
に記載したフィルビアを製造した。Comparative Example As a comparative example, a fill via as shown in FIG. 3B, that is, a fill via having a rivet type structure only at the boundary between the insulating layer 2 and the second conductor layer 1 was manufactured. This fill via is manufactured in Example 2.
It was performed according to the method of. However, in this comparative example,
Since no rivet type structure was formed at the boundary between the first conductor layer 1 and the insulating layer 2, the first conductor layer 1 and the insulating layer 2 were simultaneously laser-processed to form holes. as a result,
The structure corresponding to FIG. 2D (however, the first conductor layer 1
The boundary between the insulating layer 2 and the insulating layer 2 is not a rivet type). After that, by the same processing as in Example 2, FIG.
The fill via described in 1. was manufactured.
【0039】本比較例におけるリベット型フィルビアの
構造は、以下の通りである。すなわち、第一の導体層1
および絶縁層2内は半径150μmの略円を底面とする
略円柱状、第二の導体層1内では半径160μmの略円
を底面とし、深さ10μmの略円錐状である。The structure of the rivet type fill via in this comparative example is as follows. That is, the first conductor layer 1
The inside of the insulating layer 2 is a substantially columnar shape having a substantially circular surface with a radius of 150 μm as the bottom surface, and the second conductor layer 1 has a substantially circular shape having a radius of 160 μm as the bottom surface and a substantially conical shape with a depth of 10 μm.
【0040】[信頼性評価]実施例2の両面回路基板と
比較例の両面回路基板をJIS−C5016に基づく条
件1にしたがって、抵抗変化率の測定を行った(n=
5)。その結果を図4に示す。300サイクル後の抵抗
変化率は、実施例2の両面回路基板では1.42%、比
較例の両面回路基板では2.43%を示した。このよう
に、本発明で製造されたダブルリベット型のフィルビア
を有する両面回路基板は劣悪な温度環境下においても優
れた信頼性を示すことが明らかになった。[Reliability Evaluation] The resistance change rate of the double-sided circuit board of Example 2 and the double-sided circuit board of Comparative Example were measured under the condition 1 based on JIS-C5016 (n =
5). The result is shown in FIG. The rate of change in resistance after 300 cycles was 1.42% for the double-sided circuit board of Example 2 and 2.43% for the double-sided circuit board of the comparative example. As described above, it was revealed that the double-sided circuit board having the double rivet type fill via manufactured according to the present invention exhibits excellent reliability even under a bad temperature environment.
【0041】[0041]
【発明の効果】本発明に係る回路基板は、多段リベット
型のフィルビアが逆刺しとして作用し、導電性材料が導
通路にあわせて充填されているため、機械的強度が高
く、電気特性・密着性・接続信頼性に優れ、熱衝撃試験や
高温高湿試験における導通路のクラック発生を低減でき
る。このため、将来、電子機器の動作周波数が高周波化
したときにも使用可能であることが期待される。また、
本発明に係る回路基板の製造方法は全て写真法を用いた
ビアホール形成であるので、孔数が多くても加工にかか
る時間が一定であり、高密度配線に適した回路基板を効
率よく作製することができる。さらに、本発明の特定の
実施の態様(請求項3に記載の発明)に係る回路基板の
製造方法では、めっきよりも先に回路の形成を行うこと
ができ、めっき時の寸法収縮の影響を受けないので、絶
縁層の両面でパターンの位置整合精度が非常に高く、ビ
アホールの位置精度も全て露光時のフォトマスクの合わ
せ精度で決定することができ、微細な配線が要求される
高精細回路基板への適用ができる。また、本発明の別の
実施の態様(請求項4に記載の発明)では、比較的簡便
な操作で多段リベット型のフィルビアを製造することが
できる。したがって、所望の加工精度、コスト等を勘案
して適切な製造方法を採用して、本発明に係る多段リベ
ット型のフィルビアを得ることができる。In the circuit board according to the present invention, the multi-stage rivet type fill via acts as a back piercing and the conductive material is filled in conformity with the conductive path, so that the mechanical strength is high and the electrical characteristics and adhesion are improved. It has excellent properties and connection reliability, and can reduce the occurrence of cracks in the conductive paths during thermal shock tests and high temperature and high humidity tests. Therefore, it is expected that the electronic device can be used even when the operating frequency of the electronic device increases in the future. Also,
Since the method for manufacturing a circuit board according to the present invention is all via hole formation using a photographic method, the processing time is constant even if the number of holes is large, and a circuit board suitable for high-density wiring can be efficiently manufactured. be able to. Further, in the circuit board manufacturing method according to the specific embodiment of the present invention (the invention according to claim 3), the circuit can be formed prior to the plating, and the influence of the dimensional shrinkage during the plating can be prevented. Since the pattern alignment accuracy is very high on both sides of the insulating layer, the position accuracy of the via holes can be entirely determined by the alignment accuracy of the photomask during exposure. It can be applied to substrates. In another embodiment of the present invention (the invention according to claim 4), a multi-stage rivet type fill via can be manufactured by a relatively simple operation. Therefore, it is possible to obtain the multi-stage rivet type fill via according to the present invention by adopting an appropriate manufacturing method in consideration of desired processing accuracy, cost and the like.
【図1】(a)〜(i)は、本発明に係る回路基板の形
成方法の説明図である。1A to 1I are explanatory views of a method for forming a circuit board according to the present invention.
【図2】(a)〜(h)は、本発明に係る回路基板の形
成方法の説明図である。2A to 2H are explanatory views of a method for forming a circuit board according to the present invention.
【図3】(a)、(b)は、回路基板の従来の各種ビア
ホールの模式図である。3A and 3B are schematic views of various conventional via holes of a circuit board.
【図4】(a)は、実施例2の信頼性試験における抵抗
変化率を表したグラフ、(b)は、比較例の信頼性試験
における抵抗変化率を表したグラフである。4A is a graph showing a resistance change rate in a reliability test of Example 2, and FIG. 4B is a graph showing a resistance change rate in a reliability test of a comparative example.
1:導体層 2:絶縁層 3:導電性材料 4:レジスト層 5:給電膜 1: Conductor layer 2: Insulation layer 3: Conductive material 4: Resist layer 5: Power supply film
フロントページの続き Fターム(参考) 5E317 AA24 BB01 BB11 CC31 CC44 CD17 CD25 GG09 GG11 5E339 AB02 AC01 AD03 AD05 BC02 BD02 BD08 BD11 BE13 GG01 5E346 AA06 AA12 AA15 AA32 AA35 AA43 BB01 CC02 CC08 DD02 DD32 FF04 GG15 GG17 GG22 HH07 Continued front page F-term (reference) 5E317 AA24 BB01 BB11 CC31 CC44 CD17 CD25 GG09 GG11 5E339 AB02 AC01 AD03 AD05 BC02 BD02 BD08 BD11 BE13 GG01 5E346 AA06 AA12 AA15 AA32 AA35 AA43 BB01 CC02 CC08 DD02 DD32 FF04 GG15 GG17 GG22 HH07
Claims (4)
体層と第二の導体層を有する回路基板において、絶縁層
を貫通して該二層の導体層を導通する(A)および
(B)の条件を満たす構造のフィルビアを有することを
特徴とする回路基板。 (A)第一の導体層と絶縁層との境界における絶縁層側
のフィルビアの孔周が、該境界における第一の導体層側
のフィルビアの孔周より拡張したものになっている。 (B)絶縁層と第二の導体層との境界における第二の導
体層側のフィルビアの孔周が、該境界における絶縁層側
のフィルビアの孔周より拡張したものになっている。1. In a circuit board having a first conductor layer and a second conductor layer separated by at least an insulating layer, the insulating layers are penetrated to electrically connect the two conductor layers (A) and (B). ) A circuit board having a fill via having a structure satisfying the condition of 1). (A) The hole circumference of the fill via on the insulating layer side at the boundary between the first conductor layer and the insulating layer is larger than the hole circumference of the fill via on the first conductor layer side at the boundary. (B) The hole circumference of the fill via on the second conductor layer side at the boundary between the insulating layer and the second conductor layer is wider than the hole circumference of the fill via on the insulating layer side at the boundary.
第二の導体層から構成される両面回路基板である請求項
1記載の回路基板。2. The circuit board according to claim 1, which is a double-sided circuit board including an insulating layer and a first conductor layer and a second conductor layer on both sides of the insulating layer.
パターンを含む回路パターンをエッチングにて形成する
工程、 (II)第一の導体層のフィルビア用パターン部以外に
感光性のレジスト層を付与する工程、 (III)絶縁層のフィルビア用パターン部にエッチン
グにより貫通孔を形成して第二の導体層を露出させた後
に、レジスト層を剥離する工程、 (IV)第二の導体層側に露出している絶縁層表面に給
電膜を付与する工程、 (V)前記フィルビア用パターン部以外に感光性のレジ
スト層を第一の導体層および給電膜に付与する工程、 (VI)第二の導体層にソフトエッチングにより非貫通
孔を形成する工程、 (VII)前記給電膜のみに給電し、フィルビアのめっ
きを形成し、導電性材料を充填する工程、 (VIII)レジスト層を除去する工程、 (IX)前記給電膜を除去する工程、 を含む請求項1または2のいずれかに記載の回路基板の
製造方法。3. The following 9 steps, (I) a step of forming a circuit pattern including a fill via pattern on the first conductor layer and the second conductor layer by etching, (II) a fill via of the first conductor layer A photosensitive resist layer in addition to the resist pattern portion, (III) After forming a through hole by etching in the fill via pattern portion of the insulating layer to expose the second conductor layer, the resist layer is peeled off Step (IV) Applying a feeding film to the surface of the insulating layer exposed on the second conductor layer side, (V) Except for the fill via pattern portion, a photosensitive resist layer is provided on the first conductor layer and the feeding layer. (VI) forming a non-penetrating hole in the second conductor layer by soft etching, (VII) supplying power only to the power supply film, forming fill via plating, and filling a conductive material That step, (VIII) removing the resist layer, (IX) method of manufacturing a circuit board according to claim 1 or 2 comprising the steps, of removing the power feeding layer.
グにて形成する工程、 (II)絶縁層にエッチングにより貫通孔を形成して第
二の導体層を露出させる工程、 (III)前記フィルビア用パターン部以外に感光性の
レジスト層を第一の導体層と第二の導体層に付与する工
程、 (IV)第二の導体層にソフトエッチングにより非貫通
孔を形成する工程、 (V)第二の導体層または第二の導体層と第一の導体層
の両方に給電し、フィルビアのめっきを形成する工程、 (VI)レジスト層を除去する工程、 (VII)第一の導体層と第二の導体層にエッチングで
所定のパターンを加工する工程、を含む請求項1または
2のいずれかに記載の回路基板の製造方法。4. The following 7 steps, (I) a step of forming a fill via pattern in the first conductor layer by etching, (II) a through hole is formed in the insulating layer by etching to form a second conductor layer. Exposing, (III) applying a photosensitive resist layer to the first conductor layer and the second conductor layer in addition to the fill via pattern portion, and (IV) non-penetrating the second conductor layer by soft etching. Forming a hole; (V) supplying power to the second conductor layer or both the second conductor layer and the first conductor layer to form fill via plating; (VI) removing the resist layer; The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, further comprising (VII) a step of processing a predetermined pattern on the first conductor layer and the second conductor layer by etching.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001301151A JP2003110211A (en) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | Circuit board and method of manufacturing the same |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003110211A true JP2003110211A (en) | 2003-04-11 |
Family
ID=19121608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001301151A Pending JP2003110211A (en) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | Circuit board and method of manufacturing the same |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003110211A (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2001-09-28 JP JP2001301151A patent/JP2003110211A/en active Pending
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