JP2003188078A - 基板乾燥装置 - Google Patents
基板乾燥装置Info
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- JP2003188078A JP2003188078A JP2001386425A JP2001386425A JP2003188078A JP 2003188078 A JP2003188078 A JP 2003188078A JP 2001386425 A JP2001386425 A JP 2001386425A JP 2001386425 A JP2001386425 A JP 2001386425A JP 2003188078 A JP2003188078 A JP 2003188078A
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- Pending
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
ほぼ均一に加熱乾燥させることができる基板乾燥装置を
提供することにある。 【解決手段】 基板Wの上面に塗付された溶液を加熱乾
燥して機能性薄膜を形成する基板乾燥装置において、下
面から上面に連通する通風孔9が形成され、上面に供給
された基板Wを加熱するホットプレート2と、このホッ
トプレートの上面に供給された上記基板Wを上下方向に
移動可能に支持する支持手段3と、上記ホットプレート
の通風孔から基板Wの下面に向けて気体を供給し、上記
基板Wを上記ホットプレートの上面で浮上させる気体供
給管13とを具備した。
Description
された溶液を加熱乾燥して機能性薄膜を形成する基板乾
燥装置に関する。
の製造工程においては、ガラス基板や半導体ウエハなど
の基板に回路パターンを形成するための成膜プロセスが
ある。このプロセスにおいては、基板の板面に配向膜や
レジストなどの機能性薄膜が形成される。
上面に溶液を塗付し、この基板をホットプレート上で加
熱することで、その上面の溶液を乾燥することがある。
このとき、基板をほぼ均一に加熱するためには、基板と
ホットプレートとの間には一定の隙間を持たせる必要が
ある。そのため、ホットプレートの上面に複数の支持ピ
ンを設け、これら支持ピンで基板の下面を支持するよう
にしている。
支持ピンで支持すると、ホットプレートからの熱は支持
ピンで支持された部分が他の部分に比べて伝わりやすく
なる。そのため、基板の支持ピンで支持された部分と支
持されていない部分とで乾燥速度に差が生じ、その結
果、基板の上面に形成される膜厚が均一にならないこと
がある。
と、支持されてない部分が下方に撓むことで、基板の支
持された部分と支持されない部分との間に高低差、すな
わち凹凸が生じることがある。この状態では、基板の上
面に塗付された溶液は均一な厚さにならないため、この
溶液を乾燥して形成される機能性薄膜も同様に均一な厚
さにならない。
をほぼ均一に加熱乾燥させることができる基板乾燥装置
を提供することにある。
の上面に塗付された溶液を加熱乾燥して機能性薄膜を形
成する基板乾燥装置において、下面から上面に連通する
通風孔が形成され、上面に供給された基板を加熱するホ
ットプレートと、このホットプレートの上面に供給され
た上記基板を上下方向に移動可能に支持する支持手段
と、上記ホットプレートの通風孔から基板の下面に向け
て気体を供給し、上記基板を上記ホットプレート上面で
浮上させる気体供給手段とを有することを特徴とする基
板乾燥装置にある。
通風孔から供給された気体を支持手段の周辺部からほぼ
均一に排出する排出手段が設けられていることを特徴と
する請求項1記載の基板乾燥装置にある。
で加熱するとき、このホットプレートの通風孔から供給
される気体によって基板を浮上させながら加熱するた
め、基板全体をほぼ均一に加熱することができる。
明の実施の形態を説明する。
を示す。図1に示す基板乾燥装置は矩形状のベース板1
を有する。このベース板1の上面側には矩形状のホット
プレート2が脚部材7によって支持されている。このホ
ットプレート2は、外周が矩形筒状の支持手段3によっ
て覆われており、下面或いは内部には図示しないヒータ
が設けられている。このヒータには図示しない制御装置
が接続されており、この制御装置を作動することによっ
て、上記ホットプレート2をほぼ均一に加熱できるよう
になっている。
べて肉厚な支持部3aが全周にわたって一体形成されて
いる。この支持部3aは、上記ホットプレート2の上面
側、つまり径方向内方側に突出しており、その内周部は
基板Wが供給される開口部5をなしている。
じ形状に形成されている。そのため、上記開口部5から
上記ホットプレート2の上面側に基板Wを供給すると、
この基板Wは上記支持部3aの内周面によって上下方向
に移動可能に支持される。
ト2の上面周辺部との間の隙間には断熱材8が充填され
ている。それによって、上記ホットプレート2の熱が上
記支持部3aに支持された基板Wにこの支持部3aを介
して伝わるのを防止している。すなわち、上記ホットプ
レート2からの熱は基板Wに輻射及び、後述する基板W
の下面側に供給される気体を介して伝わるようになって
いる。
通する排出手段としての複数、この実施の形態では6つ
の排出孔6が、上記開口部5に供給される基板Wの幅方
向及び長手方向の両側に対称に設けられている。つま
り、6つの排出孔6は支持部3aの周方向にほぼ等間隔
で形成されている。それによって、後述するように、基
板Wの下面側に供給された気体を基板Wの外周からほぼ
均一に排出できるようになっている。
応する位置には、下面から上面に連通する複数の通風孔
9が上記ホットプレート2の板面にほぼ均一に配置形成
されており、これら通風孔9の下面開口はカバー10に
よって覆われている。
が設けられており、この通孔11には気体供給手段12
を構成する気体供給管13が挿通されている。この気体
供給管13の上端は上記カバー10のほぼ中心部に接続
され、上記ベース板1の下面側に位置する部分にはファ
ン14が設けられている。したがって、上記ファン14
を駆動することによって、上記カバー10を介して上記
通風孔9に気体が供給されることになる。
ットプレート2の上面側に流入し、このホットプレート
2の上面に図示しないロボットなどによって供給された
基板Wを浮上させる。基板Wが上記支持手段3の排出孔
6より上昇すると、供給された気体はこれら排出孔6か
ら排出される。
体は、上記各排出孔6からほぼ均一に排出されるから、
基板Wは下面全体がほぼ均一な圧力で支持される。幅方
向或いは長手方向の一側に偏って供給されることがな
い。そのため、この基板Wは上記ホットプレート2の上
面側でほぼ水平に支持される。
をホットプレート2で加熱するとき、ホットプレート2
の通風孔9から供給される気体によってこの基板Wを支
持するから、上記ホットプレート2からの熱は基板W全
体にほぼ均一に供給される。そのため、基板Wの上面に
塗付された溶液をほぼ均一に加熱することができる。
面全体をほぼ均一な力で支持されるから、基板Wには局
所的な撓み、すなわち凹凸が生じ難い。しかも、基板W
の下面側に供給された気体を排出孔6から基板Wの外周
方向にほぼ均一に排出するから、そのことによっても、
基板Wを凹凸が生じることなくほぼ水平に支持すること
ができる。そのため、基板Wの上面に塗付された溶液を
ほぼ均一な厚さを保った状態で乾燥できるから、ほぼ均
一な厚さの機能性薄膜を形成することができる。
す。
って基板Wの外周全体を支持する代わりに、図3に示す
ように、たとえばベース板1の上面に4つの支持部3A
を設け、この支持部3Aで基板Wの四隅部をそれぞれ支
持するようにしてもよい。
各側辺のほぼ中心部には支持部3Aの間に開口部6Aが
形成されるから、基板Wの下面側に供給された気体は、
上記開口部6Aからほぼ均一に排出されることになる。
また、上記開口部6Aを利用して図示しないロボットに
より基板Wのホットプレート2上への供給や排出を容易
に行うこともできる。
されるものではない。すなわち、上記気体供給手段から
基板Wの下面側に供給する気体を温風にしてもよい。こ
うすることで、基板Wをより一層均一かつ効率よく加熱
することができる。
ト上で気体によって浮上支持するため、基板の上面に塗
付された溶液をほぼ均一に加熱することができる。
置の構成図。
置の構成図。
Claims (2)
- 【請求項1】 基板の上面に塗付された溶液を加熱乾燥
して機能性薄膜を形成する基板乾燥装置において、 下面から上面に連通する通風孔が形成され、上面に供給
された基板を加熱するホットプレートと、 このホットプレートの上面に供給された上記基板を上下
方向に移動可能に支持する支持手段と、 上記ホットプレートの通風孔から基板の下面に向けて気
体を供給し、上記基板を上記ホットプレート上面で浮上
させる気体供給手段とを有することを特徴とする基板乾
燥装置。 - 【請求項2】 上記支持手段には上記通風孔から供給さ
れた気体を支持手段の周辺部からほぼ均一に排出する排
出手段が設けられていることを特徴とする請求項1記載
の基板乾燥装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001386425A JP2003188078A (ja) | 2001-12-19 | 2001-12-19 | 基板乾燥装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001386425A JP2003188078A (ja) | 2001-12-19 | 2001-12-19 | 基板乾燥装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003188078A true JP2003188078A (ja) | 2003-07-04 |
| JP2003188078A5 JP2003188078A5 (ja) | 2005-07-28 |
Family
ID=27595581
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001386425A Pending JP2003188078A (ja) | 2001-12-19 | 2001-12-19 | 基板乾燥装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003188078A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009302139A (ja) * | 2008-06-10 | 2009-12-24 | Tokyo Electron Ltd | 基板加熱装置 |
| JP2010021396A (ja) * | 2008-07-11 | 2010-01-28 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置 |
| JP2011124342A (ja) * | 2009-12-09 | 2011-06-23 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置、基板処理方法及びこの基板処理方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体 |
| WO2012114850A1 (ja) * | 2011-02-24 | 2012-08-30 | シャープ株式会社 | 塗布膜乾燥方法及び塗布膜乾燥装置 |
| CN104110942A (zh) * | 2013-04-16 | 2014-10-22 | 三星显示有限公司 | 膜干燥装置 |
-
2001
- 2001-12-19 JP JP2001386425A patent/JP2003188078A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009302139A (ja) * | 2008-06-10 | 2009-12-24 | Tokyo Electron Ltd | 基板加熱装置 |
| JP2010021396A (ja) * | 2008-07-11 | 2010-01-28 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置 |
| JP2011124342A (ja) * | 2009-12-09 | 2011-06-23 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置、基板処理方法及びこの基板処理方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体 |
| WO2012114850A1 (ja) * | 2011-02-24 | 2012-08-30 | シャープ株式会社 | 塗布膜乾燥方法及び塗布膜乾燥装置 |
| CN104110942A (zh) * | 2013-04-16 | 2014-10-22 | 三星显示有限公司 | 膜干燥装置 |
| CN104110942B (zh) * | 2013-04-16 | 2018-07-20 | 三星显示有限公司 | 膜干燥装置 |
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