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JP2003181673A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

Info

Publication number
JP2003181673A
JP2003181673A JP2001387832A JP2001387832A JP2003181673A JP 2003181673 A JP2003181673 A JP 2003181673A JP 2001387832 A JP2001387832 A JP 2001387832A JP 2001387832 A JP2001387832 A JP 2001387832A JP 2003181673 A JP2003181673 A JP 2003181673A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
spatial filter
processing
laser
optical element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001387832A
Other languages
English (en)
Inventor
Sadao Mori
貞雄 森
Hiroyuki Sugawara
弘之 菅原
Hiroshi Aoyama
博志 青山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Via Mechanics Ltd
Original Assignee
Hitachi Via Mechanics Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Via Mechanics Ltd filed Critical Hitachi Via Mechanics Ltd
Priority to JP2001387832A priority Critical patent/JP2003181673A/ja
Publication of JP2003181673A publication Critical patent/JP2003181673A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 装置がコンパクトで、しかも加工能率を向上
させることができるレーザ加工装置を提供すること。 【解決手段】 回折光学素子4と、第1の集光レンズ1
0と、空間フィルタ11とを設け、空間フィルタ11を
第1のレンズ10の焦点面近傍に配置する。そして、レ
ーザ光を回折光学素子4により複数に分岐すると共に、
必要とするレーザ光を空間フィルタ11により選択す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光を用いて
多層基板に穴明け等の加工を行うレーザ加工装置に係
り、特に、多数の穴を同時に加工するレーザ加工装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、レーザ光を用いてプリント基板
に穴明けを加工を行う場合、レーザ発振器から発振され
たレーザ光の外形を、マスクに設けたアパーチャにより
加工形状に合わせて整形し、加工レンズによりアパーチ
ャの像(以下、「アパーチャ像」という。)を加工面に
縮小投影して加工をする。
【0003】例えば、特開平11−77344号公報で
は、レーザ光をホログラムにより複数に分岐させ、分岐
させたレーザ光をそれぞれ加工ターゲット上に結像させ
るようにしている。この技術によれば、多数の穴を同時
に加工することができるので、加工能率を向上させるこ
とができた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来技術
では、分岐させたレーザ光と同数のアパーチャが必要に
なる。このため、例えば直径0.1mmの穴を0.5m
mピッチで5個加工する場合、縮小率を1/20とする
と、マスクには直径2mmのアパーチャを10mmピッ
チで5個並べる必要がある。また、アパーチャ以降の光
学系を、少なくとも50mm以上に広がるレーザ光をカ
バーできる大きさに構成する必要がある。しかも、同時
に加工する穴数を増せば増すほど、装置全体が大型にな
る。
【0005】また、通常、加工レンズの手前側にガルバ
ノミラーを配置し、ガルバノミラーによりレーザ光を加
工位置に位置決めするようにして加工能率を向上させて
いるが、上記従来技術では、ガルバノミラーが大型にな
らざるを得ない。大型のガルバノミラーは高速で位置決
めすることは困難であるため、上記従来技術では、加工
能率はそれほど向上しない。
【0006】本発明の目的は、上記従来技術における課
題を解決し、装置がコンパクトで、しかも加工能率を向
上させることができるレーザ加工装置を提供するにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、レーザ光を加工レンズにより集光して加
工対象を加工するレーザ加工装置において、回折光学素
子と、第1の集光レンズと、空間フィルタとを設け、前
記空間フィルタを前記第1のレンズの焦点面近傍に配置
し、前記レーザ光を前記回折光学素子により複数に分岐
させ、分岐させたレーザ光を前記第1のレンズにより集
光させると共に、必要とする前記レーザ光を前記空間フ
ィルタにより選択することを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて説明する。
【0009】図1は本発明に係るレーザ加工装置の構成
図であり、図2は空間フィルタの形状と光強度分布を示
す図である。
【0010】図1において、レーザ発振器1の光路上に
は、ミラー2、マスク3、回折光学素子4、結像光学系
5、スキャナ6のミラー14、fθレンズ7、加工対象
8が配置されている。
【0011】レーザ発振器1は、紙面と平行な電場振動
面をもつ光をパルス状に発振する。マスク3には、アパ
ーチャ3aが形成されている。透過型の回折光学素子4
は、入射するレーザ光を必要数(ここでは3個。)に分
岐する。
【0012】結像光学系5は、レンズ10と、空間フィ
ルタ11と、レンズ12とから構成されている。レンズ
10とレンズ12の焦点距離はそれぞれfθレンズ7の
焦点距離に等しく、レンズ10とレンズ12は、焦点距
離の2倍の距離を隔てて設置されている。また、結像光
学系5は、回析光学素子4の等倍率の実像がfθレンズ
7の前焦点位置付近に形成されるように配置されてい
る。すなわち、回折光学素子4からレンズ10までの距
離をLとするとき、レンズ12からfθレンズの前焦点
までの距離がLになるように配置されている。
【0013】空間フィルタ11は、レーザ光を透過させ
ない材質の部材で形成され、回析光学素子4側は鏡面に
形成されている。また、図2に示すように、複数(ここ
では3個。)の開口21が形成されている。そして、空
間フィルタ11は、レンズ10の焦点から光路方向に僅
かにずらせた位置(ただし、後述するように、アパーチ
ャ像Aとアパーチャ像Bが重ならない範囲である。)、
かつ光路に対して僅かに傾け、開口21のそれぞれの中
心が後述するアパーチャ像Aのそれぞれの中心と一致す
るようにして、位置決めされている。また、空間フィル
タ11には、冷却用のペルチェ素子13が配置されてい
る。
【0014】ミラー14は、モータ15により、紙面と
垂直な方向の軸の回りに位置決め自在である。加工対象
8は、XYステージ9に載置され、水平方向に位置決め
自在である。
【0015】次に、本実施の形態の動作を説明する。
【0016】レーザ発振器1から出力されたレーザ光
は、ミラー2で反射され、マスク3を照射する。アパー
チャ3aを透過したレーザ光は、回折光学素子4により
所定の数(ここでは、3本)に分岐される。なお、回折
光学素子4によりレーザ光を分岐すると、回折光学素子
4の製作方法などにより、加工に必要な分岐光だけでな
く、加工に必要とされない分岐光(以下、「雑音ビー
ム」という。また、加工に用いる分岐光を「加工ビー
ム」として、両者を区別する。)も分岐される。分岐さ
れた加工ビームと雑音ビームはそれぞれレンズ10によ
り集光され、図2に示すように、加工ビームはアパーチ
ャ像Aを、雑音ビームはアパーチャ像Bを、それぞれ形
成する。なお、空間フィルタ11はレンズ10の焦点か
ら少しずれた位置に配置されているので、空間フィルタ
11の面上に現れるアパーチャ像Aとアパーチャ像Bは
多少ぼやけたものになる。そして、レンズ10の焦点距
離はfθレンズの焦点距離に等しいので、アパーチャ像
Aおよびとアパーチャ像Bの大きさとピッチは加工対象
8の表面におけるアパーチャ像の大きさとピッチにほぼ
等しい。
【0017】アパーチャ像Aを結像する加工ビームは、
同図に示すように、穴21を透過してレンズ12により
平行光に変換され、ミラー14で曲げられてfθレンズ
7に入射し、アパーチャ像が加工面付近に実像として結
像されて加工を行う。一方、雑音ビームは、大部分が空
間フィルタ11の表面で光路から外れる方向に反射さ
れ、残りの極く一部が空間フィルタ11に吸収される。
吸収された雑音ビームにより、空間フィルタ11は加熱
されるが、ペルチェ素子15により直ちに冷却されるの
で、空間フィルタ11が損傷することはない。
【0018】以下、ミラー14を動作させることによ
り、fθレンズ7の大きさで定まる加工領域内におい
て、加工ビームを位置決めして加工を行う。そして、当
該加工領域内の加工が終了すると、XYステージを動作
させて次の加工領域をfθレンズ7に対して位置決めす
る。以下、加工が終了するまで上記の動作を繰り返す。
【0019】この実施形態では、空間フィルタ11をレ
ンズのアパーチャ結像面から僅かにずらして配置するよ
うにしたので、空間フィルタ11上に形成されるアパー
チャ像Bがぼける。この結果、雑音ビームのピーク強度
が小さくなり、空間フィルタ11が損傷することを防止
できる。なお、光エネルギーがそれほど大きくないとき
には、アパーチャ結像面に空間フィルタ11を配置して
もよい。
【0020】また、空間フィルタ11を光軸に対して垂
直方向から若干傾けることにより、空間フィルタ11の
側面で反射されたレーザ光が光路を逆行することを抑制
できるので、レーザ発振器等の損傷を予防することがで
きると共に装置の信頼牲を向上させることができる。
【0021】さらに、回折光学素子4の実像がfθレン
ズ7の前焦点に形成されるように結像光学系5を配置し
たので、加工ビームは加工対象8に対してほぼ垂直方向
に入射する。この結果、加工した穴の軸線は加工対象の
表面に対してほぼ直角になるので、品質に優れた穴を加
工することができる。
【0022】なお、上記では、結像光学系のレンズ1
0、12を単レンズにしたが、複数のレンズで構成して
もよい。
【0023】また、空間フィルタ11を冷却する手投
は、ペルチェ素子に限らず、水の循環による水冷あるい
はファンやフィンを利用した空冷等であってもよ、。
【0024】さらに、結像光学系5のレンズ10、12
の焦点距離をfθレンズの焦点距離よりも大きくしても
よい。このようにすると、空間フィルタ11付近に結像
されるアパーチャ像の大きさとピッチは加工面における
アパーチャ像の大きさとピッチよりも大きくなるが、像
が大きくなるだけアパーチャ像Bのピーク強度が小さく
なり、空間フィルタ11の損傷を抑制することができ
る。
【0025】また、透過型の回折光学素子4に代えて、
ブラッグ反射型あるいはラーマンナス型等の音響光学偏
向器(AO素子)を採用してもよい。音響光学偏向器
は、印加する電圧の周波数を変えることにより偏向角を
変えることができるので、加工動作中に加工ピッチ(加
工する穴の間隔)を高速で変えることが可能になる。な
お、加工中動作に偏向角を変える場合、加工ピッチに合
わせて空間フィルタ11の開口21の間隔も変える必要
がある。そこで、加工ピッチの変動が小さい場合は、開
口21を大きくして加工ピッチの変動をカバーし、加工
ピッチの変化量が大きい場合は、空間フィルタ11を数
種類用意して交換するようにするのが実用的である。
【0026】なお、上記ではアパーチャ3aをレーザ光
の光路上に配置したが アパーチャを設けなくてもよ
い。このような場合を、以下説明する。
【0027】図3は、本発明に係るレーザ加工装置の変
形例を示す構成図であり、図1からマスク3を除いた構
成である。
【0028】アパーチャ3aを設けない場合も、上記の
場合と同様に、空間フィルタ11の近傍には、図4に示
すように、加工ビームによるビーム像A1と、雑音ビー
ムによるビーム像B1が形成される。そこで、空間フィ
ルタ11の開口21により、必要なビーム像A1のみを
選択する。なお、この場合の結像面は結像させたいビー
ムの位置に対応して決まるので、結像させたいビームの
位置を与えれば、結像関係から空間フィルタ11を配置
する位置を決定できる。すなわち、回折光学素子4のレ
ーザ発振器1側の所望の位置に開口径がレーザ光の直径
に等しいアパーチャが配置されていると仮定して結像面
を求め、空間フィルタ11を配置すればよく、実用的に
は、レーザ発振器1の出口にアパーチャが配置されてい
るとすればよい。このように、アパーチャを使用しない
場合は、レーザ光が損失なく加工に利用できるという利
点がある。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
回折光学素子を用いてレーザ光を分割し、結像光学系を
用いることにより、光学系を大型にしなくても多点を同
時に加工できるので、装置をコンパクトに構成できると
共に、加工能率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るレーザ加工装置の構成図である。
【図2】本発明に係る空間フィルタの形状と、光強度分
布を示す図である
【図3】本発明に係るレーザ加工装置の変形例を示す構
成図である。
【図4】本発明に係る空間フィルタの形状と、光強度分
布を示す図である。
【符号の説明】
4 回析光学素子 10 第1の集光レンズ 11 空間フィルタ
フロントページの続き (72)発明者 青山 博志 神奈川県海老名市上今泉2100番地 日立ビ アメカニクス株式会社内 Fターム(参考) 4E068 CA05 CD01 CD03 CD08 CD10 5F072 JJ01 JJ08 KK05 KK07 KK09 YY06

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光を加工レンズにより集光して加
    工対象を加工するレーザ加工装置において、 回折光学素子と、第1の集光レンズと、空間フィルタ
    と、を設け、 前記空間フィルタを前記第1のレンズの焦点面近傍に配
    置し、 前記レーザ光を前記回析光学素子により複数に分岐さ
    せ、分岐させたレーザ光を前記第1のレンズにより集光
    させると共に、必要とする前記レーザ光を前記空間フィ
    ルタにより選択することを特徴とするレーザ加工装置。
  2. 【請求項2】 第2の集光レンズを設け、 この第2の集光レンズを、前記空間フィルタを挟み前記
    第1の集光レンズと反対の側に配置し、 前記空間フィルタによって選択した前記レーザ光を平行
    光に形成することを特徴とする請求項1に記載のレーザ
    加工装置。
  3. 【請求項3】 アパーチャを備えるマスクを設け、 前記マスクを前記回折光学素子の入射側に配置し、 前記第1の集光レンズにより前記アパーチャの像を結像
    させることを特徴とする請求項1または2に記載のレー
    ザ加工装置。
  4. 【請求項4】 前記第1および第2の集光レンズにより
    結像される前記回折光学素子の実像が前記加工レンズの
    前焦点付近に結像されるように、前記第1および第2の
    集光レンズを配置することを特徴とする請求項2または
    3に記載のレーザ加工装置。
JP2001387832A 2001-12-20 2001-12-20 レーザ加工装置 Pending JP2003181673A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011067873A (ja) * 2010-12-06 2011-04-07 Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd レーザ光によるライン加工方法およびレーザ加工装置
JP2014042916A (ja) * 2012-08-24 2014-03-13 Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd レーザ加工装置
JP2014065070A (ja) * 2012-09-27 2014-04-17 Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd レーザ加工装置
WO2019244985A1 (ja) * 2018-06-20 2019-12-26 国立大学法人大阪大学 ビーム整形装置

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