JP2003163169A - 気相成長装置 - Google Patents
気相成長装置Info
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- JP2003163169A JP2003163169A JP2001364465A JP2001364465A JP2003163169A JP 2003163169 A JP2003163169 A JP 2003163169A JP 2001364465 A JP2001364465 A JP 2001364465A JP 2001364465 A JP2001364465 A JP 2001364465A JP 2003163169 A JP2003163169 A JP 2003163169A
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Abstract
成長装置を提供する。 【解決手段】 成長室1とフィルタ42とを排気通路4
で接続している。排気通路4は、排気配管11、排気配
管12および排気配管13からなっている。排気配管1
2の内壁には凸部7を設けている。これにより、未反応
の原料ガスによる生成物が排気配管12で効率よく捕獲
することができる。
Description
による生成物のフィルタリングを行う気相成長装置に関
する。
としては、図4に示すように、成長室41とフィルタ4
2とを排気配管44で接続したものがある。
MG(トリメチルガリウム)、Al原料としてTMA
(トリメチルアルミニウム)、As原料としてAsH3
(アルシン)などの原料ガスを、成長室41の上部から
成長室41内に導入する。その原料ガスがウェハ46上
で加熱分解されることにより、GaAsやAlGaAs
がウェハ46上に成膜する。
なかった未反応の原料ガスは、成長室41の下部から成
長室41外に排気され、排気装置43に達する。このと
き、上記成長室41と排気装置43との間にフィルタ4
3を設置していることにより、未反応の原料ガスによる
GaAs、AlGaAsなどの生成物が排気装置43に
取り込まれない。
置では、未反応の原料ガスによる生成物をフィルタ42
でフィルタリングすることで、その生成物が排気装置4
3に流入することを防いでいるが、フィルタ42に生成
物が堆積することで排気能力が低下し、正常な排気がで
きなくなって成長室41の圧力制御が困難になる。
43に流入することにより排気装置43の故障が発生す
る。
では、定期的なフィルタ42の交換や排気装置43のメ
ンテナンスが頻繁に必要になり、装置の稼働率が低下す
るとう問題がある。
向上させることができる気相成長装置を提供することに
ある。
め、本発明の気相成長装置は、成長室とフィルタとを排
気通路で接続している気相成長装置において、上記排気
通路の少なくとも一部を、未反応の原料ガスによる生成
物を捕獲する捕獲構造を内面に有する捕獲用排気管によ
り構成したことを特徴としている。
反応の原料ガスが排気通路を流れる場合、排気通路の少
なくとも一部を捕獲用排気管により構成しているから、
未反応の原料ガスによる生成物が捕獲用排気管で捕獲さ
れる。その結果、上記生成物がフィルタに堆積するのが
抑制されて、フィルタの交換頻度が減少し、装置の稼動
率を向上させることができる。
経由した後、例えば排気装置に流入する場合、未反応の
原料ガスによる生成物が捕獲用排気管で捕獲されるか
ら、排気装置へ流れ込む未反応の原料ガスや生成物が減
少する。これにより、上記排気装置の故障頻度が少なく
なり、排気装置のメンテナンス頻度を低減できる。
は洗浄を行うことで再生可能であるから、その捕獲用排
気管の再生にかかる費用は排気装置のメンテナンスにか
かる費用に比べて安価である。
排気通路は上記捕獲用排気管と他の排気管とからなり、
上記捕獲用排気管の内側の表面積は上記他の排気管の内
側の表面積より大きい。
用排気管の内側の表面積が他の排気管の内側の表面積よ
り大きいから、未反応の原料ガスによる生成物を捕獲用
排気管で効率よく捕獲することができる。
捕獲用排気管の内面の捕獲構造は、上記捕獲用排気管の
内側に突出する凸部である。
用排気管の内面の捕獲構造が捕獲用排気管の内側に突出
する凸部であるから、未反応の原料ガスによる生成物を
捕獲用排気管で効率よく捕獲することができる。
捕獲用排気管の内面の捕獲構造は凹凸である。
用排気管の内面の捕獲構造が凹凸であるから、未反応の
原料ガスによる生成物を捕獲用排気管で効率よく捕獲す
ることができる。
サンドブラスターにより加工されている。
排気管の少なくとも一部を冷却する冷却手段を備える。
記捕獲用排気管の一部を冷却手段で冷却することによ
り、捕獲用排気管において、未反応の原料ガスによる生
成物の堆積を促進することができる。
排気管の両側にバルブが接続されていて、上記捕獲用排
気管が取り外し可能になっている。
用排気管が取り外し可能になっているから、捕獲用排気
管のメンテナンスが容易になり、そのメンテナンスにか
かる時間を短縮できる。
排気管の上記両側のバルブをバイパスする補助配管を上
記排気通路に接続すると共に、上記補助配管の中間にバ
ルブを接続している。
記捕獲用排気管が閉塞状態となった場合、捕獲用排気管
の両側のバルブを補助配管でバイパスしているから、補
助配管を使用することにより、成長室内の圧力が上昇す
るのを阻止できる。
の実施の形態1の気相成長装置の模式図を示す。図1の
矢印は、材料ガスが流れる方向を示している。
成長室1とフィルタ42とを接続する排気通路4を備え
ている。上記排気通路4は、捕獲用排気管としての排気
配管12と、他の排気管としての排気配管11,13と
からなっている。上記排気配管12は、未反応の原料ガ
スによる生成物を捕獲する捕獲構造を内面に有してい
る。具体的には、上記排気配管12の内壁に凸部7を設
けて、排気配管12の内側の単位長さ当たりの表面積
が、排気配管11,13の内側の単位長さ当たりの表面
積より大きくなっている。すなわち、上記排気配管12
の内面の捕獲構造は、排気配管12の内側に突出する凸
部7である。
スは、成長室1の上部から成長室1内に導入された後、
排気装置3により成長室1の下部から成長室1外に真空
排気される。そして、上記材料ガスは、排気配管11,
12,13を順次経由した後、フィルタ2を通過して排
気装置3に達する。
AlGaAs成長の一例を説明する。なお、上記GaA
s/AlGaAs成長を行う場合、ウェハとしてGaA
sウェハ6を使用する。
TMAを、キャリアガスのH2と共に成長室1に導入し
て、原料ガスをGaAsウェハ6上に供給する。このG
aAsウェハ6が500℃〜800℃で加熱されている
ため、GaAsウェハ6上に供給された原料ガスが加熱
分解されて、GaAsウェハ6上でGaAs、AlGa
Asが成長する。
結晶成長に寄与しなかった未反応の原料ガスは、成長室
1の下部から排気装置3により真空排気される。そし
て、その未反応の原料ガスは、排気配管11,12,1
3を順次通る。このとき、上記排気配管11の内壁に凸
部7を形成されていることにより、成長室1からの未反
応の原料ガスによる生成物が効率よく排気配管12に堆
積する。すなわち、未反応の原料ガスによる生成物が排
気配管12で効率よく捕獲される。
生成物が排気配管12で効率よく捕獲されるので、その
生成物がフィルタ2に堆積するのが抑制される。その結
果、上記フィルタ2の交換頻度が少なくなり、装置の稼
動率を向上させることができる。
く捕獲されるから、排気装置3へ流れ込む未反応の原料
ガスや生成物が減少する。その結果、上記排気装置3の
故障頻度が減少し、排気装置3のメンテナンス頻度を低
減できる。
は洗浄を行うことで再生が可能であるから、その排気配
管12の再生にかかる費用は排気装置3のメンテナンス
にかかる費用に比べて安価である。
一部を、未反応の原料ガスによる生成物を捕獲する捕獲
構造を内面に有する捕獲用排気管により構成していた
が、排気通路4の全部を、未反応の原料ガスによる生成
物を捕獲する捕獲構造を内面に有する捕獲用排気管によ
り構成してもよい。
部を、未反応の原料ガスによる生成物を捕獲する捕獲構
造を内面に有する捕獲用排気管により構成すればよい。
は、例えば螺旋形状や板形状であってもよい。
けられた排気配管を、捕獲用排気管として用いてもよ
い。または、例えば柱形状の凸部が内壁に設けられた排
気配管を、捕獲用排気管として用いてもよい。上記リン
グ形状の凸部、柱形状の凸部の数は、単数または複数で
もよい。
ばサンドブラスターにより内壁が粗面化された捕獲用排
気管を用いてもよい。この場合、上記排気配管11,1
3の内壁を、例えば電解研磨により鏡面化する。これに
より、上記捕獲用排気管の内側の単位長さ当たりの表面
積が、排気配管11,13の内側の単位長さ当たりの表
面積に比べて大きくなる。その結果、上記捕獲用排気管
内において、未反応の原料ガスによる生成物が効率よく
堆積して、フィルタ2の交換頻度、排気装置3の故障頻
度、および排気装置3の定期メンテナンスの頻度が減少
する。
構造は、サンドブラスターにより加工された凹凸であっ
てもよい。
管の少なくとも一部を、例えば冷却水などで冷却しても
よい。この場合、上記排気配管12または捕獲用排気管
内において、未反応の原料ガスによる生成物の堆積を促
進することができる。
応の原料ガスによる生成物を捕獲する捕獲構造を内面に
有する捕獲用排気管の少なくとも一部を冷却する冷却手
段を備えてもよい。
形態2の気相成長装置の模式図を示す。また、図2にお
いて、図1に示した気相成長装置の構成部と同一構成部
は、図1における構成部と同一参照番号を付して説明を
省略する。
配管12の両側にボールバルブ8A,8Bが接続されて
いて、排気配管が取り外し可能になっている。上記排気
配管12と、他の排気管としての排気管21,23とに
より排気通路24を構成している。
12を取り外せるので、排気配管12のメンテナンスが
容易になり、そのメンテナンスにかかる時間を短縮でき
る。
実施の形態1の気相成長装置と同様の効果を奏するのは
言うまでもない。
形態3の気相成長装置の模式図を示す。また、図3にお
いて、図2に示した気相成長装置の構成部と同一構成部
は、図2における構成部と同一参照番号を付して説明を
省略する。
ールバルブ8A,8Bをバイパスする補助配管としての
補助ライン9を排気通路24に接続している。すなわ
ち、上記排気配管12に対して並列になるように、補助
ライン9を排気通路24に接続している。上記補助ライ
ン9の中間にはボールバルブ8Cを接続している。
長中、排気配管12が生成物の堆積により閉塞状態とな
った場合、補助ライン9を使用することで成長室1の圧
力制御を行うことができ、結晶成長を継続することがで
きる。
で、排気配管12が閉塞状態になっても、成長室1の圧
力上昇を阻止できるから、成長室1の圧力上昇に起因す
る成長膜厚の異常が発生せず、その成長膜厚の異常によ
る生産のロスを防ぐことができる。
料を用いた場合について示したが、本発明の気相成長装
置は他の材料を用いた場合でも装置の稼働率を向上させ
ることができる。
成長装置は、排気通路の少なくとも一部を捕獲用排気管
により構成しているので、未反応の原料ガスによる生成
物が捕獲用排気管で捕獲されて、フィルタの交換頻度が
減少し、装置の稼動率を向上させることができる。
経由した後、例えば排気装置に流入する場合、未反応の
原料ガスによる生成物が捕獲用排気管で捕獲されるか
ら、排気装置へ流れ込む未反応の原料ガスや生成物が減
少して、排気装置のメンテナンス頻度を低減できる。
排気管の内側の表面積が他の排気管の内側の表面積より
大きいから、未反応の原料ガスによる生成物を捕獲用排
気管で効率よく捕獲することができる。
排気管の内面の捕獲構造が捕獲用排気管の内側に突出す
る凸部であるから、未反応の原料ガスによる生成物を捕
獲用排気管で効率よく捕獲することができる。
排気管の内面の捕獲構造は凹凸であるから、未反応の原
料ガスによる生成物を捕獲用排気管で効率よく捕獲する
ことができる。
排気管の一部を冷却手段で冷却するので、捕獲用排気管
において、未反応の原料ガスによる生成物の堆積を促進
することができる。
排気管の両側にバルブが接続されていて、その捕獲用排
気管が取り外し可能になっているから、捕獲用排気管の
メンテナンスが容易になり、そのメンテナンスにかかる
時間を短縮できる。
捕獲用排気管が閉塞状態となった場合、捕獲用排気管の
両側のバルブを補助配管でバイパスしているから、補助
配管を使用することにより、成長室内の圧力が上昇する
のを阻止できる。
の模式図である。
の模式図である。
の模式図である。
Claims (8)
- 【請求項1】 成長室とフィルタとを排気通路で接続し
ている気相成長装置において、 上記排気通路の少なくとも一部を、未反応の原料ガスに
よる生成物を捕獲する捕獲構造を内面に有する捕獲用排
気管により構成したことを特徴とする気相成長装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の気相成長装置におい
て、 上記排気通路は上記捕獲用排気管と他の排気管とからな
り、 上記捕獲用排気管の内側の表面積は上記他の排気管の内
側の表面積より大きいことを特徴とする気相成長装置。 - 【請求項3】 請求項1または2に記載の気相成長装置
において、 上記捕獲用排気管の内面の捕獲構造は、上記捕獲用排気
管の内側に突出する凸部であることを特徴とする気相成
長装置。 - 【請求項4】 請求項1または2に記載の気相成長装置
において、 上記捕獲用排気管の内面の捕獲構造は凹凸であることを
特徴とする気相成長装置。 - 【請求項5】 請求項4に記載の気相成長装置におい
て、 上記凹凸はサンドブラスターにより加工されていること
を特徴とする気相成長装置。 - 【請求項6】 請求項1乃至5のいずれか1つに記載の
気相成長装置において、 上記捕獲用排気管の少なくとも一部を冷却する冷却手段
を備えることを特徴とする気相成長装置。 - 【請求項7】 請求項1乃至6のいずれか1つに記載の
気相成長装置において、 上記捕獲用排気管の両側にバルブが接続されていて、上
記捕獲用排気管が取り外し可能になっていることを特徴
とする気相成長装置。 - 【請求項8】 請求項7に記載の気相成長装置におい
て、 上記捕獲用排気管の上記両側のバルブをバイパスする補
助配管を上記排気通路に接続すると共に、上記補助配管
の中間にバルブを接続していることを特徴とする気相成
長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001364465A JP2003163169A (ja) | 2001-11-29 | 2001-11-29 | 気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001364465A JP2003163169A (ja) | 2001-11-29 | 2001-11-29 | 気相成長装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003163169A true JP2003163169A (ja) | 2003-06-06 |
Family
ID=19174653
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001364465A Pending JP2003163169A (ja) | 2001-11-29 | 2001-11-29 | 気相成長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003163169A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006206973A (ja) * | 2005-01-28 | 2006-08-10 | Sharp Corp | 排気管構造及びそれを用いた排気ガスの排気方法 |
| JP2008181799A (ja) * | 2007-01-25 | 2008-08-07 | Sharp Corp | プラズマ加工装置およびプラズマ加工方法 |
| KR101540831B1 (ko) * | 2008-05-23 | 2015-07-30 | 신닛테츠 수미킨 가가쿠 가부시키가이샤 | 신규 에폭시 수지 및 그의 제조방법, 그 에폭시 수지를 필수성분으로 하는 에폭시 수지 조성물 및 그 에폭시 수지를 필수성분으로 하는 경화물 |
| JP2020178084A (ja) * | 2019-04-22 | 2020-10-29 | 住友電気工業株式会社 | 砒素除去装置および半導体の製造装置 |
| CN112289672A (zh) * | 2019-07-22 | 2021-01-29 | 细美事有限公司 | 用于处理基板的设备和方法 |
-
2001
- 2001-11-29 JP JP2001364465A patent/JP2003163169A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006206973A (ja) * | 2005-01-28 | 2006-08-10 | Sharp Corp | 排気管構造及びそれを用いた排気ガスの排気方法 |
| JP2008181799A (ja) * | 2007-01-25 | 2008-08-07 | Sharp Corp | プラズマ加工装置およびプラズマ加工方法 |
| KR101540831B1 (ko) * | 2008-05-23 | 2015-07-30 | 신닛테츠 수미킨 가가쿠 가부시키가이샤 | 신규 에폭시 수지 및 그의 제조방법, 그 에폭시 수지를 필수성분으로 하는 에폭시 수지 조성물 및 그 에폭시 수지를 필수성분으로 하는 경화물 |
| JP2020178084A (ja) * | 2019-04-22 | 2020-10-29 | 住友電気工業株式会社 | 砒素除去装置および半導体の製造装置 |
| JP7151608B2 (ja) | 2019-04-22 | 2022-10-12 | 住友電気工業株式会社 | 砒素除去装置および半導体の製造装置 |
| CN112289672A (zh) * | 2019-07-22 | 2021-01-29 | 细美事有限公司 | 用于处理基板的设备和方法 |
| US11244813B2 (en) | 2019-07-22 | 2022-02-08 | Semes Co., Ltd. | Apparatus and method for treating substrate |
| CN112289672B (zh) * | 2019-07-22 | 2025-02-25 | 细美事有限公司 | 用于处理基板的设备和方法 |
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