JP2003031991A - 回路基板加工機の回路基板検出方法及び回路基板検出装置 - Google Patents
回路基板加工機の回路基板検出方法及び回路基板検出装置Info
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Abstract
ることのできる回路基板加工機の回路基板検出方法及び
回路基板検出装置を得、回路基板加工機における搬送信
頼性、生産性を向上させる。 【解決手段】 回路基板加工機の搬送路44における回
路基板25の各停止位置で、回路基板25を検出して停
止させる際に、第1の基板検出センサ51と、第2の基
板検出センサ53との検出特性の異なる二種類の基板検
出センサを配置し、各基板検出センサ51,53の少な
くともいずれか一方を、停止させる回路基板25の情報
に基づき切り替えて使用する。
Description
の搬送路で回路基板を所定位置まで搬送して停止させる
際に、搬送路上を搬送されてきた回路基板を検出して所
定の加工位置で停止させる回路基板検出方法及び回路基
板検出装置に関し、特に正確な回路基板の検出を行う技
術に関する。
るための回路基板加工機には種々の装置があるが、いず
れも回路基板を搬送する搬送路を備えており、所定の加
工位置で回路基板を停止させて加工を行っている。例え
ば、電子部品を回路基板に自動的に実装する電子部品実
装機は、図6に示すように回路基板1を設備内に搬入す
るローダ部3と、電子部品を供給する図示しない部品供
給部と、この部品供給部から電子部品を吸着して回路基
板1の所定位置に装着するXYロボットのテーブル部7
と、実装が終了した回路基板1を設備外に搬出するアン
ローダ部5とを備えている。
部3と、テーブル部7と、アンローダ部5とからなる。
ローダ部3は、電子部品の実装中に、未実装の回路基板
1を待機させる。テーブル部7は、回路基板1に対して
電子部品を実装する生産工程を行う。アンローダ部5
は、生産工程完了後の回路基板1を搬入して次工程に搬
送するまで待機させる。なお、これら各ローダ部3、テ
ーブル部7、アンローダ部5は、図示はしないが、回路
基板1を搬送するための搬送ベルトと、この搬送ベルト
9を駆動する駆動源を備えている。
動作は、次のようにして行われる。即ち、前工程から搬
送されてくる回路基板1は、ローダ部3の搬送ベルトに
よりこの搬送路へ搬入する。ローダ部3は、テーブル部
7に回路基板1が存在した状態で基板検出センサ13a
が回路基板1を検出すると、搬送ベルト9を停止して待
機状態となる。一方、ローダ部3は、テーブル部7に回
路基板1が存在していないと、回路基板1をテーブル部
7に搬入する。テーブル部7は、回路基板1を基板検出
センサ13bが検出すると、搬送ベルト9を停止して回
路基板1を所定の加工位置に停止させる。この加工位置
で電子部品の実装を終了した回路基板1は、アンローダ
部5に搬出される。アンローダ部5は、回路基板1を基
板検出センサ13cが検出すると、搬送ベルトを停止し
て待機状態となる。
アンローダ部5では、搬入されてくる回路基板1を基板
検出センサ13a,13b,13cによって検出し、搬
送ベルトの搬送動作を停止させていた。従来、この基板
検出センサ13a,13b,13cには、発光素子から
出射した収束光を回路基板1に照射し、その戻り光を受
光することにより回路基板1を検出する所謂限定反射方
式の基板検出センサ13a,13b,13cが用いられ
ていた。
来の電子部品実装機の回路基板検出方法においては、限
定反射方式の基板検出センサのみを用いて搬送路の各停
止位置における回路基板を検出していたため、近年の回
路基板の多品種化に伴って、その検出が困難となる傾向
にある。例えばミシン目や切欠を有する複数枚取り基板
の場合や、種々の電子部品が実装済みとなった回路基板
の場合では、これらミシン目、切欠、電子部品等を回路
基板端部として誤検出する虞があった。このような誤検
出が発生すれば、搬送路における回路基板の円滑な搬送
が行えなくなり、電子部品実装機の生産性を低下させる
ことになった。
で、多種類の回路基板を確実に検出して停止させること
のできる回路基板加工機の回路基板検出方法及び回路基
板検出装置を提供し、回路基板加工機における搬送信頼
性の向上、生産性の向上を図ることを目的とする。
の本発明に係る請求項1記載の電子部品実装機の回路基
板検出方法は、回路基板加工機内の搬送路で回路基板を
所定位置まで搬送して停止させる際に、前記回路基板の
搬送中に該回路基板を検出して前記所定位置で停止させ
るための回路基板加工機の回路基板検出方法であって、
回路基板に拡散光を照射すると共に該回路基板からの反
射光を検出する第1の基板検出センサと、回路基板に収
束光を照射すると共に該回路基板からの反射光を検出す
る第2の基板検出センサとを前記搬送路に配設して、前
記第1の基板検出センサと第2の基板検出センサの少な
くともいずれか一方を、前記停止させようとする回路基
板の種類に応じて選択的に切り替えて使用することを特
徴とする。
は、回路基板に応じて最適な基板検出センサを使用し
て、全ての回路基板に対して高精度な検出が可能にな
り、例えばミシン目や切欠を有する複数枚取り基板や部
品実装済み基板の違いを確実に判別して、回路基板を高
精度に停止制御することができる。これにより、搬送制
御の信頼性を高めることができる。
検出方法は、前記搬送路の回路基板の上方及び下方のそ
れぞれに、前記第1の基板検出センサと前記第2の基板
検出センサとを上下対向させてそれぞれ配置し、前記搬
送路上方の基板検出センサからの検出信号と前記搬送路
下方の基板検出センサからの検出信号とを比較して回路
基板の検出を行うことを特徴とする。
は、搬送路の回路基板の上方及び下方のそれぞれに配置
した第1の基板検出センサと第2の基板検出センサから
の検出信号を上下双方で比較する。これにより、表裏面
の色や濃度、或いは電子部品の実装状態が異なる回路基
板に対して、これら回路基板の特性に応じて上下いずれ
か適する基板検出センサ或いは両方の基板検出センサを
用いて検出を行うことで、検出精度の信頼性を向上でき
る。
検出方法は、前記回路基板の検出に先立ち、前記第1の
基板検出センサと前記第2の基板検出センサの少なくと
もいずれか一方を、前記回路基板に対して基板面と平行
な方向へ相対移動させつつ前記各基板検出センサにより
反射光を検出し、該移動により得られた検出情報に基づ
いて前記回路基板の検出位置を決定し、各基板検出セン
サを前記検出位置に移動させておくことを特徴とする。
は、回路基板が搬送路の各停止位置に搬入されると、第
1の基板検出センサと第2の基板検出センサの少なくと
もいずれか一方が、回路基板の基板面と平行な方向に相
対移動しながら回路基板面を走査しながら検出する。そ
して、この走査によって得た回路基板の走査検出情報に
基づいて各基板検出センサを最適なセンサ位置に配置す
る。これにより、各基板検出センサが最適な位置で、最
大限に検出機能を発揮する。
検出装置は、回路基板を所定位置まで搬送して停止させ
る搬送路を有する回路基板加工機で、前記回路基板の搬
送中に該回路基板を検出して前記所定位置で停止させる
ための回路基板加工機の回路基板検出装置であって、回
路基板に拡散光を照射すると共に該回路基板からの反射
光を検出する第1の基板検出センサと、回路基板に収束
光を照射すると共に該回路基板からの反射光を検出する
第2の基板検出センサと、前記第1の基板検出センサと
第2の基板検出センサの少なくともいずれか一方を、前
記停止させようとする回路基板の種類に応じて選択的に
切り替えて使用する選択制御手段と、を備えたことを特
徴とする。
は、異なる検出特性の第1の基板検出センサと第2の基
板検出センサを選択的に切り替える選択制御手段によっ
て、回路基板の種類に応じて最適な基板検出センサを選
択的に使用して、全ての回路基板に対して高精度な検出
を可能にできる。これにより、例えばミシン目や切欠を
有する複数枚取り基板や部品実装済み基板の違いを確実
に判別して、回路基板を高精度に停止制御することがで
き、搬送制御の信頼性を高めることができる。
検出装置は、前記搬送路の回路基板の上方及び下方のそ
れぞれに、前記第1の基板検出センサと前記第2の基板
検出センサとを上下対向させてそれぞれ配置したことを
特徴とする。
は、回路基板の上方及び下方のそれぞれに第1及び第2
の基板検出センサを配置することにより、表裏面の色や
濃度、或いは電子部品の実装状態が異なる回路基板に対
して、これら回路基板の特性に応じて上下いずれか適す
る基板検出センサ或いは両方の基板検出センサを用いて
検出を行うことができ、検出精度の信頼性を向上でき
る。
検出装置は、前記第1の基板検出センサと前記第2の基
板検出センサの少なくともいずれか一方を前記回路基板
に対して基板面と平行な方向へ相対移動させるセンサ移
動機構と、前記センサ移動機構による各基板検出センサ
の動作を制御すると共に前記第1、第2の基板検出セン
サによる検出を行い、得られる検出信号に基づいて前記
回路基板の検出位置を設定する最適検出位置設定手段と
を備え、前記設定された回路基板の検出位置で、前記搬
送路に搬送されてくる回路基板の検出を行うことを特徴
とする。
は、回路基板が搬送路の各停止位置に搬入されると、セ
ンサ移動機構により、第1の基板検出センサと第2の基
板検出センサの少なくともいずれか一方が、回路基板の
基板面と平行な方向に相対移動しながら回路基板面を走
査する。この走査に伴って各基板検出センサが検出を行
うことで走査検出情報を取得し、この走査検出情報に基
づいて最適検出位置設定手段が各基板検出センサの最適
な配置位置を設定する。そして、設定された回路基板の
検出位置で、搬送路に搬送されてくる回路基板の検出を
行うことにより、各基板検出センサが最適な位置で、最
大限に検出機能を発揮することができる。
機の回路基板検出方法及び回路基板検出装置の好適な実
施の形態について図面を参照して詳細に説明する。図1
は本発明に係る回路基板検出装置を搭載した電子部品実
装機の構成図、図2は回路基板検出装置の概念的な構成
を示す構成図、図3は基板検出センサの説明図である。
ての電子部品実装機21は、基台23上面中央に、回路
基板25のガイドレール27が設けられ、このガイドレ
ール27の搬送ベルトによって、回路基板25は端側の
ローダ部29から電子部品の実装位置31に、また、実
装位置31から他端側のアンローダ部33に搬送され
る。回路基板25上方の基台23上面両側部にはY軸部
36が設けられ、Y軸部36の間にはX軸部37が懸架
されている。また、X軸部37には移載ヘッド39が取
り付けられており、これにより、移載ヘッド39をX−
Y平面内で移動可能にしている。
ロボット上に搭載され、X−Y平面(水平面)上を自在
移動する移載ヘッド39は、例えば抵抗チップやチップ
コンデンサ等の電子部品が供給されるパーツフィーダ4
1、又はSOPやQFP等のICやコネクタ等の比較的
大型の電子部品が供給されるパーツトレイ43から所望
の電子部品を吸着ノズル45により吸着して、回路基板
25の所定位置に装着できるように構成されている。こ
のような電子部品の実装動作は、予め設定された実装プ
ログラムに基づいて図示しない制御装置により制御され
る。
の両端部に多数個並設されており、各パーツフィーダに
は、例えば抵抗チップやチップコンデンサ等の電子部品
が収容されたテープ状の部品ロールがそれぞれ取り付け
られている。また、パーツトレイ43は、ガイドレール
27と直交する方向が長尺となるトレイ43aが計2個
載置可能で、各トレイ43aは部品の供給個数に応じて
ガイドレール27側にスライドして、Y方向の部品取り
出し位置を一定位置に保つ構成となっている。このトレ
イ43a上には、QFP等の電子部品が載置される。
25の搬送路44は、図2に示すように、ローダ部29
と、テーブル部35と、アンローダ部33とからなる。
ローダ部29は、電子部品実装機21に搬送されてきた
未実装の回路基板25を搬入し、テーブル部35におい
て電子部品を実装している間、未実装の回路基板25を
待機させる。テーブル部35は、ローダ部29から回路
基板25を搬入し、この回路基板25に対して電子部品
を実装する生産工程を行う。アンローダ部33は、生産
完了した回路基板25をテーブル部35から受け取り、
次工程に搬送するまで待機させる。これらのローダ部2
9、テーブル部35、アンローダ部33は、回路基板2
5を搬送するための搬送ベルトを有しており、この搬送
ベルトは、ACサーボモータ47又はインダクションモ
ータにより駆動される。
ーブル部35、アンローダ部33において、回路基板2
5の停止位置がそれぞれ存在する。本実施形態における
回路基板検出装置100においては、搬送路44の各停
止位置に広光拡散方式の基板検出センサ(第1の基板検
出センサ)51及び限定反射方式の基板検出センサ(第
2の基板検出センサ)53を配設している。ここではテ
ーブル部35に設けた基板検出センサ51,53に対し
て説明することにする。なお、ローダ部29、アンロー
ダ部33に対しては、基板検出センサ51、53の図示
を省略してあるが、テーブル部35と同様に設けられて
いる。
及び限定反射方式の基板検出センサ53は、コンピュー
タ等の選択制御手段55に接続されている。この選択制
御手段55は、上記した制御装置57に接続される。選
択制御手段55は、予め登録してある回路基板25の基
板データに基づいて、広光拡散方式の基板検出センサ5
1と限定反射方式の基板検出センサ53との少なくとも
いずれか一方を使用可能に切り替える制御を行う。な
お、選択制御手段55は、制御装置57に同等の機能を
付与することにより、上記の制御装置57に組み込むも
のであってもよい。
5へ光を照射するLED等の発光素子と、この発光素子
の照射光が回路基板25で反射した戻り光を受光する受
光素子とを有し、発光素子からの照射光を通過させる光
学系(レンズ等)によって広光拡散方式又は限定反射方
式とに分類される。受光素子は、回路基板25からの戻
り光を検出し、この戻り光を光電変換することにより検
出信号として出力する。受光素子からの検出信号を制御
装置57で処理することにより、回路基板25の形状、
色や濃度、電子部品実装状況等の把握が可能となる。
装置100においては、広光拡散方式の基板検出センサ
51及び限定反射方式の基板検出センサ53が、回路基
板25の一方の面である裏面側に対面させて、回路基板
25の搬送方向に並べて配設されている。これにより、
テーブル部35の搬送路上を回路基板25が搬送される
と、広光拡散方式の基板検出センサ51と、限定反射方
式の基板検出センサ53とが回路基板25を同一面側か
ら検出し、それぞれの基板検出センサ51、53が異な
る検出特性で一つの回路基板25を重複検出する。本実
施形態では、これら双方の検出情報を判断制御に用いる
ことで、検出精度の向上を図っている。
反射方式の基板検出センサ53とは、図3に示すよう
に、その検出特性が異なる。広光拡散方式の基板検出セ
ンサ51は、照射光を拡散して照射することにより、広
範囲にわたる検出を可能にできる。また、例えばφ25
mm程度までの回路基板の切り欠きが検出でき、拡散光
照射であるために回路基板に形成された抜き穴やミシン
目等の局所的な開口が存在しても影響を受けることはな
い。さらに、回路基板上に実装された背の高い部品や鏡
面を有するCSP(Chip Size Package)等の電子部品
の存在によっても影響を受けることはない。一方、限定
反射方式の基板検出センサ53は、照射光を集光した収
束光を照射することにより、限られた狭い範囲において
高い検出精度で検出が可能になる。また、回路基板の背
面影響(背景輝度による影響)を受けにくく、安定した
検出が可能となる。
の動作を説明する。回路基板検出装置100は、ローダ
部29、テーブル部35、アンローダ部33のいずれか
に回路基板25が進入すると、先ず、選択制御手段55
が、進入した回路基板25についての基板データを抽出
する。基板データは、例えば制御装置57から受け取る
ことができが、これ以外にも電子部品実装装置21に直
接入力してもよい。選択制御手段55は、その回路基板
25が特定できたなら、その回路基板25に適した基板
検出センサへの切り替えを行う。この切り替えは、広光
拡散方式の基板検出センサ51と、限定反射方式の基板
検出センサ53との少なくともいずれか一方とすること
ができる。
等の複数枚取り基板である場合、広光拡散方式の基板検
出センサ51のみを用いて検出を行うか、限定反射方式
の基板検出センサ53のみを用いて検出を行うか、或い
は広光拡散方式の基板検出センサ51と限定反射方式の
基板検出センサ53の両方を用いて検出を行うかを、回
路基板の種類に応じて選択的に設定する。これにより、
一元的に限定反射方式の基板検出センサ53のみ用いて
検出する場合と比較して、ミシン目等を回路基板端部と
して検出する誤検出が生じ難くなる。
置100によれば、回路基板25の種類に応じて、最適
な検出が行える基板検出センサ51、53を選択的に使
用することにより、多種類の回路基板25に対して高精
度な検出が可能になり、例えばミシン目や切欠等を有す
る複数枚取り基板や部品実装済み基板の違いを確実に判
別して、回路基板25を誤動作させることなく高精度に
停止制御することができる。これにより、搬送路44に
おける搬送制御の信頼性を高めることができる。
2の実施の形態を説明する。図4は本実施形態の回路基
板検出装置200の構成図である。なお、図1〜図3に
示した部材と同一の部材には同一の符号を付し、重複す
る説明は省略するものとする。本実施形態による回路基
板検出装置200は、広光拡散方式の基板検出センサ5
1及び限定反射方式の基板検出センサ53を、搬送路4
4の回路基板25の上方及び下方のそれぞれに、この回
路基板25を挟み回路基板25の表面側と裏面側との両
方に対面するように上下対向させて配設している。な
お、ローダ部29、アンローダ部33の基板検出センサ
51,53は、図示は省略してあるがテーブル部35と
同様に配設される。
散方式の基板検出センサ51及び限定反射方式の基板検
出センサ53が、回路基板25の表面と裏面との両方を
検出可能にしている。回路基板25は、表裏面の色や濃
度、或いは電子部品の実装状態が異なる場合が多々ある
が、これら回路基板25の特性を基板データから判断
し、表裏いずれか適する基板検出センサ51,53或い
は両方の基板検出センサ51,53を用いて検出を行う
ことで、検出精度の信頼性を向上している。搬送される
回路基板25の種類によっては、表面からは回路基板2
5の端部を検出しにくいが、裏面からは検出が容易であ
る場合がある。このときに表面からの情報のみを用いて
判断していたのでは、非効率的で検出の正確性も得られ
ないことがあるが、裏面からの情報を用いることで確実
な検出が可能となる。
基板25の表裏両側の基板検出センサ51,53を使用
することで、例えば表裏両側の基板検出センサ51,5
3の判定が共に“回路基板を検出した”ときに、回路基
板25の搬送を停止するAND制御とすることで一層正
確な検出を行うことができる。また、端部の検出が困難
な回路基板25である場合には、少なくともいずれか一
方から“回路基板を検出した”ときに搬送を停止するO
R制御としてもよい。これにより、検出精度の信頼性を
向上できる。
3の実施の形態を説明する。図5は本実施形態の回路基
板検出装置300の構成図である。なお、図1〜図3に
示した部材と同一の部材には同一の符号を付し、重複す
る説明は省略するものとする。
は、広光拡散方式の基板検出センサ51と限定反射方式
の基板検出センサ53とを、回路基板25と平行なXY
方向に移動自在にするセンサ移動機構60を有してい
る。このセンサ移動機構は60、ラック・ピニオン機
構、ボールネジ機構、空圧・油圧駆動機構等により構成
することができる。また、広光拡散方式の基板検出セン
サ51と限定反射方式の基板検出センサ53とは、第2
の実施の形態と同様に、回路基板25の表面側と裏面側
の両方に対面させて配設することが好ましい。
反射方式の基板検出センサ53とを移動させるセンサ移
動機構60は、最適検出位置設定手段62によって制御
する。即ち、各基板検出センサ51,53を回路基板2
5に対して相対移動させることにより、回路基板25の
表裏面全面を走査して、その形状、色や濃度、電子部品
実装状況等の諸情報を検出する。最適検出位置設定手段
62は、この検出された情報に基づいて検出が最も確実
に行える最適な検出位置を求め、各基板検出センサ5
1,53を、この検出が最も確実に行える最適な検出位
置へ移動制御する。
5に搬入された回路基板25は、図示しない基板ストッ
パにより電子部品実装位置に位置決めされる。次に、最
適検出位置設定手段62からの指令によりセンサ移動機
構60を動作させ、基板検出センサ51,53を、予め
設定した範囲でY方向(図5の紙面垂直方向)に移動さ
せ、また、基板検出センサ51,53を、搬送方向であ
るX方向に移動させる。この動作の繰り返しにより基板
検出センサ51,53を回路基板25上でXY方向に走
査させる。このとき、基板検出センサ51,53から出
力される検出信号である電流値が最適検出位置設定手段
62へと出力される。この動作を回路基板25の所定の
範囲、特に回路基板25の端部で連続的に行う。この結
果得られた電流検出波形から、最適検出位置設定手段6
2は、回路基板25の端部境界における信号強度のギャ
ップが大きく、安定検出可能と判断される最適検出位置
を求める。このようにして求めた最適検出位置へ基板検
出センサ51,53を移動して停止させる。
出装置300は、広光拡散方式の基板検出センサ51と
限定反射方式の基板検出センサ53との少なくともいず
れか一方を、回路基板25に平行なXY方向に移動させ
ながら回路基板25を走査する。そして、この走査によ
って得た回路基板25の電流検出波形に基づき、広光拡
散方式の基板検出センサ51と限定反射方式の基板検出
センサ53との少なくともいずれか一方を、最適な検出
位置へ自動で移動させる。
サ51、及び限定反射方式の基板検出センサ53を検出
に最適となる位置で使用することができ、それぞれの検
出特性を最大限に発揮させた高精度な検出が可能にな
る。
方法について、電子部品実装機21に適用した一例を基
に説明したが、本発明はこれに限定されることなく、回
路基板を所定位置に搬送・停止させる機能を有する搬送
路を有する回路基板加工機であれば、同様にして本発明
を適用することができる。例えば、回路基板にクリーム
半田を印刷するクリーム半田印刷装置、回路基板上に印
刷されたクリーム半田の印刷状態を検査するクリーム半
田印刷検査装置、回路基板の所定位置に電子部品接着用
の接着剤を塗布する接着剤塗布装置等のいずれの装置に
対しても本発明を好適に適用できる。
る回路基板加工機の回路基板検出方法によれば、第1の
基板検出センサと第2の基板検出センサとの検出特性の
異なる二種類の基板検出センサを使用し、これら基板検
出センサの少なくともいずれか一方を、停止させる回路
基板の情報に基づき切り替えて使用するので、種々の回
路基板ごとに最適な検出を行うことができ、例えばミシ
ン目や切欠を有する複数枚取り基板や部品実装済み基板
を高精度に判別して、搬送制御の信頼性を高めることが
できる。この結果、未搬送や重送を防止して電子部品実
装機における生産性を向上させることができる。
出装置によれば、第1の基板検出センサ及び第2の基板
検出センサと、回路基板の種類に応じてこれら基板検出
センサのいずれか一方又は両方を使用可能に切り替える
選択制御手段とを備えたので、搬送路の各停止位置に搬
入した回路基板ごとに、最適な基板検出センサを使用し
て回路基板を検出することができる。この結果、回路基
板の形状、色や濃度、電子部品の実装状態の違いによる
誤検出を防止して、搬送路を高精度に制御することがで
きる。
部品実装機を示す構成図である。
である。
の構成図である。
の構成図である。
置の構成図である。
センサ) 53 限定反射方式の基板検出センサ(第2の基板検出
センサ) 55 選択制御手段 60 センサ移動機構 62 最適検出位置設定手段 100,200,300 回路基板検出装置
Claims (6)
- 【請求項1】 回路基板加工機内の搬送路で回路基板を
所定位置まで搬送して停止させる際に、前記回路基板の
搬送中に該回路基板を検出して前記所定位置で停止させ
るための回路基板加工機の回路基板検出方法であって、 回路基板に拡散光を照射すると共に該回路基板からの反
射光を検出する第1の基板検出センサと、回路基板に収
束光を照射すると共に該回路基板からの反射光を検出す
る第2の基板検出センサとを前記搬送路に配設して、 前記第1の基板検出センサと第2の基板検出センサの少
なくともいずれか一方を、前記停止させようとする回路
基板の種類に応じて選択的に切り替えて使用することを
特徴とする回路基板加工機の回路基板検出方法。 - 【請求項2】 前記搬送路の回路基板の上方及び下方の
それぞれに、前記第1の基板検出センサと前記第2の基
板検出センサとを上下対向させてそれぞれ配置し、前記
搬送路上方の基板検出センサからの検出信号と前記搬送
路下方の基板検出センサからの検出信号とを比較して回
路基板の検出を行うことを特徴とする請求項1記載の回
路基板加工機の回路基板検出方法。 - 【請求項3】 前記回路基板の検出に先立ち、前記第1
の基板検出センサと前記第2の基板検出センサの少なく
ともいずれか一方を、前記回路基板に対して基板面と平
行な方向へ相対移動させつつ前記各基板検出センサによ
り反射光を検出し、該移動により得られた検出情報に基
づいて前記回路基板の検出位置を決定し、各基板検出セ
ンサを前記検出位置に移動させておくことを特徴とする
請求項1記載の回路基板加工機の回路基板検出方法。 - 【請求項4】 回路基板を所定位置まで搬送して停止さ
せる搬送路を有する回路基板加工機で、前記回路基板の
搬送中に該回路基板を検出して前記所定位置で停止させ
るための回路基板加工機の回路基板検出装置であって、 回路基板に拡散光を照射すると共に該回路基板からの反
射光を検出する第1の基板検出センサと、 回路基板に収束光を照射すると共に該回路基板からの反
射光を検出する第2の基板検出センサと、 前記第1の基板検出センサと第2の基板検出センサの少
なくともいずれか一方を、前記停止させようとする回路
基板の種類に応じて選択的に切り替えて使用する選択制
御手段と、を備えたことを特徴とする回路基板加工機の
回路基板検出装置。 - 【請求項5】 前記搬送路の回路基板の上方及び下方の
それぞれに、前記第1の基板検出センサと前記第2の基
板検出センサとを上下対向させてそれぞれ配置したこと
を特徴とする請求項4記載の回路基板加工機の回路基板
検出装置。 - 【請求項6】 前記第1の基板検出センサと前記第2の
基板検出センサの少なくともいずれか一方を前記回路基
板に対して基板面と平行な方向へ相対移動させるセンサ
移動機構と、 前記センサ移動機構による各基板検出センサの動作を制
御すると共に前記第1、第2の基板検出センサによる検
出を行い、得られる検出信号に基づいて前記回路基板の
検出位置を設定する最適検出位置設定手段とを備え、 前記設定された回路基板の検出位置で、前記搬送路に搬
送されてくる回路基板の検出を行うことを特徴とする請
求項4又は請求項5記載の回路基板加工機の回路基板検
出装置。
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|---|---|---|---|
| JP2001219982A JP4601872B2 (ja) | 2001-07-19 | 2001-07-19 | 回路基板加工機の回路基板検出方法及び回路基板検出装置 |
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- 2001-07-19 JP JP2001219982A patent/JP4601872B2/ja not_active Expired - Fee Related
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