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JP2003031605A - 半導体モジュール製造方法 - Google Patents

半導体モジュール製造方法

Info

Publication number
JP2003031605A
JP2003031605A JP2001218156A JP2001218156A JP2003031605A JP 2003031605 A JP2003031605 A JP 2003031605A JP 2001218156 A JP2001218156 A JP 2001218156A JP 2001218156 A JP2001218156 A JP 2001218156A JP 2003031605 A JP2003031605 A JP 2003031605A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wire loop
wire
semiconductor module
loop
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001218156A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Tsurusako
浩一 鶴迫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2001218156A priority Critical patent/JP2003031605A/ja
Publication of JP2003031605A publication Critical patent/JP2003031605A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H10W72/0711
    • H10W72/075
    • H10W72/07521
    • H10W72/07551
    • H10W72/07554
    • H10W72/50
    • H10W72/5363
    • H10W72/543
    • H10W72/5445
    • H10W72/551
    • H10W72/555
    • H10W72/581
    • H10W90/754

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ワイヤループを高くした場合は製品の小型化
に不都合であり、一方、低く形成すると、接触による絶
縁不良や曲げ応力の増大による品質低下が生じた。 【解決手段】 半導体チップ(1)等にワイヤボンドを施
して半導体モジュールを製造する際、ワイヤループ(2)
とループ近傍にある部品との接触を回避し、望ましいワ
イヤループ高さを確保するために、ワイヤループを下支
えする別のワイヤループ(4)を先行して形成しておく。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体モジュー
ルの製造方法に関し、特に信頼性の高いワイヤボンディ
ングを行える半導体モジュール製造方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図1に半導体モジュール1の側面図およ
び平面図を示している。2はこの半導体モジュール1内
での回路配線のためにワイヤボンドにより形成したワイ
ヤループであり、両接続点の間で段差があるため、その
エッジ部3のあたりでワイヤループ2と接触したり、規
定以上に離隔できないため、絶縁不良を引き起こす懸念
がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】そのような絶縁不良の
発生を避けるためには、接触が懸念される個所からワイ
ヤループを十分に高くして形成するのが有効となる。し
かし、この手法は製品小型化の観点から好ましくなく、
また、後工程で何らかの力が作用してワイヤループが押
し込まれた場合には、結局部品との接触が起こることに
なり、根本的な解決にはなっていない。
【0004】一方、製品小型化の観点からワイヤループ
の低い方が有利ではあるが、その場合には、部品との接
触が懸念されるだけでなく、ワイヤループに大きな曲げ
応力が作用するため、製品の温度サイクル寿命や耐振強
度などで不利となり、ワイヤボンドのネック強度に問題
が生じた。このようにいずれの場合でも課題があった。
【0005】この発明は、信頼性の高いワイヤボンデン
グを行える半導体モジュールの製造方法を提供するもの
である。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に係わる半導体
モジュール製造方法は、半導体チップ等にワイヤボンド
を施して半導体モジュールを製造する際、ワイヤループ
とループ近傍にある部品との接触を回避し、望ましいワ
イヤループ高さを確保するために、ワイヤループを下支
えする別のワイヤループを先行して形成しておくことを
特徴とする。
【0007】請求項2に係わる半導体モジュール製造方
法は、半導体チップ等にワイヤボンドを施して半導体モ
ジュールを製造する際、ワイヤループの高さを低く制御
するために、ワイヤループ形成後に、そのワイヤループ
を押さえ込むための別のワイヤループを形成することを
特徴とする。
【0008】請求項5に係わる半導体モジュール製造方
法は、半導体チップ等にワイヤボンドを施して半導体モ
ジュールを製造する際、ワイヤループの高さを低く制御
するために、ワイヤループ形成後に、そのワイヤループ
を治具を用いて押さえ込むことを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】実施形態1 図1のように段差のある個所にワイヤループ2を形成す
るとき、本実施形態1では図2に示すように、ワイヤル
ープ2を形成する前に、半導体モジュール1の構成部品
とワイヤループ2との接触が懸念される個所の近傍に、
ワイヤループ2を下方から支持するためのワイヤループ
(以下、枕木ワイヤと称する)4を形成しておく。これに
より、ワイヤループ2の変形が防止され、構成部品との
接触を回避できる。この枕木ワイヤ4を図2の下図に示
したように複数本形成すれば、ワイヤループ2の高さを
より忠実に保持することができ、構成部品との接触を確
実に回避できる。
【0010】尚、特開平7-142523 および特開平10-2943
27 では、本発明と同じ課題を解決すべく、前者では、
2本の円柱による支持体を設け、後者ではお椀形状の網
状体を形成しているが、この場合には、それのために別
に設計して製作しておく必要があり、製作コストがかか
り、又、あらゆる製品にフレキシブルに対応させようと
した場合にそれらの支持体が別の構造物と干渉してしま
うなどからその支持体を再設計しなければならない必要
性が高く、汎用性の面で問題がある。
【0011】一方、本発明では、製品の配線に使用する
ワイヤをそのまま支持体として使用するため、同一のワ
イヤボンド装置で一連のワイヤボンド作業中に実施で
き、かつ、ワイヤボンド位置や寸法もワイヤボンドプロ
グラム次第で自由に設計できる。
【0012】実施形態2 既述したように、接触が懸念される部分から十分に高く
してワイヤループを形成すれば、接触による絶縁不良が
回避され、曲げ応力の低減により製品の信頼性が高まる
が、その反面、製品小型化で不利となる。そこで本実施
形態2では、図3に示すように、ワイヤループ2のトッ
プ部に対し、押さえワイヤ7により、ワイヤループ2を
上方から押し込んでワイヤループ2のトップ部の高さを
抑制しており、接触が懸念される個所では、その個所で
の高さをそのまま維持している。この手法であれば、ワ
イヤループ高さを低くでき、かつ、曲げ応力も大きくな
らないため、製品信頼性が確保される。押さえワイヤ7
を複数設置することにより、ワイヤループ2の高さをよ
り的確に抑制することができ、又、上述の枕木ワイヤ4
や枕木治具6を併用すれば更に抑制効果が期待できる。
【0013】実施形態3 実施形態2では、ワイヤループ2の押さえ込みに押さえ
ワイヤ7を用いたが、本実施形態3では、図4に示すよ
うに、押さえ治具8を用いて形成済みのワイヤループ2
を上方から押さ込んで変形させている。又、上述の枕木
ワイヤ4や枕木治具6を併用すれば更に抑制効果が期待
できる。
【0014】
【発明の効果】請求項1に係わる発明は、ワイヤループ
を下支えする別のワイヤループを形成したので、ワイヤ
ループとループ近傍にある部品との接触を回避し、望ま
しいワイヤループ高さを確保できる。
【0015】請求項2に係わる発明は、形成したワイヤ
ループのトップ部を別のワイヤループで押さえ込むた
め、ワイヤループを所望の高さに制御でき、ワイヤルー
プとループ近傍にある部品との接触を回避できる。
【0016】これらの別のワイヤループは、本来のワイ
ヤループを形成するのと同一のワイヤボンド装置を用い
て形成でき、また、この形成を一連のワイヤボンド作業
中に行なえるため、特別な工程を設定する必要はなく、
汎用性も高い。
【0017】請求項5に係わる発明は、形成したワイヤ
ループを治具を用いてトップ部を押さえ込むようにした
ものであり、ワイヤループを所望の高さに制御でき、ワ
イヤループとループ近傍にある部品との接触を回避でき
る。
【0018】ワイヤループを高い目に形成し(つまり曲
げ応力を低くし)、そのトップ部を別のワイヤループ(請
求項2)または治具(請求項5)を用いて押さえ込む場合
には、その曲げ応力を殆ど変化させることなく、ワイヤ
ループの高さを抑制できるため、製品小型化および製品
の信頼性向上を達成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来のワイヤボンドで生じる不具合を示した
【図2】 本発明の第1実施形態を示した図
【図3】 本発明の第2実施形態を示した図
【図4】 本発明の第3実施形態を示した図
【符号の説明】
1 半導体モジュール、2 ワイヤループ、4 枕木ワ
イヤ、7 押さえワイヤ、8 押さえ治具

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップ等にワイヤボンドを施して
    半導体モジュールを製造する際、ワイヤループとループ
    近傍にある部品との接触を回避し、望ましいワイヤルー
    プ高さを確保するために、ワイヤループを下支えする別
    のワイヤループを先行して形成しておくことを特徴とす
    る半導体モジュール製造方法。
  2. 【請求項2】 半導体チップ等にワイヤボンドを施して
    半導体モジュールを製造する際、ワイヤループの高さを
    低く制御するために、ワイヤループ形成後に、そのワイ
    ヤループを押さえ込むための別のワイヤループを形成す
    ることを特徴とする半導体モジュール製造方法。
  3. 【請求項3】 上記別のワイヤループは、本来のワイヤ
    ループを形成するのと同一のワイヤボンド装置を用いて
    形成する請求項1または2に記載の半導体モジュール製
    造方法。
  4. 【請求項4】 上記別のワイヤループは、本来のワイヤ
    ループを形成するのと同一のワイヤボンド装置を用い、
    一連のワイヤボンド作業中に行う請求項1〜3のいずれ
    かに記載の半導体モジュール製造方法。
  5. 【請求項5】 半導体チップ等にワイヤボンドを施して
    半導体モジュールを製造する際、ワイヤループの高さを
    低く制御するために、ワイヤループ形成後に、そのワイ
    ヤループを治具を用いて押さえ込むことを特徴とする半
    導体モジュール製造方法。
JP2001218156A 2001-07-18 2001-07-18 半導体モジュール製造方法 Pending JP2003031605A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015204878A1 (de) 2014-03-20 2015-09-24 Mitsubishi Electric Corporation Leistungshalbleitervorrichtung
IT202300020370A1 (it) 2023-10-03 2025-04-03 St Microelectronics Int Nv Procedimento per fabbricare dispositivi a semiconduttore e dispositivo corrispondente

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DE102015204878A1 (de) 2014-03-20 2015-09-24 Mitsubishi Electric Corporation Leistungshalbleitervorrichtung
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