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JP2003028791A - 光イメージング装置 - Google Patents

光イメージング装置

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Publication number
JP2003028791A
JP2003028791A JP2002115399A JP2002115399A JP2003028791A JP 2003028791 A JP2003028791 A JP 2003028791A JP 2002115399 A JP2002115399 A JP 2002115399A JP 2002115399 A JP2002115399 A JP 2002115399A JP 2003028791 A JP2003028791 A JP 2003028791A
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JP
Japan
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optical
probe
light
image
scanning
Prior art date
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Application number
JP2002115399A
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Tenu Sha
天宇 謝
Akio Uchiyama
昭夫 内山
Atsushi Okawa
敦 大川
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP2002115399A priority Critical patent/JP2003028791A/ja
Priority to EP02769206A priority patent/EP1360927B1/en
Priority to DE60237505T priority patent/DE60237505D1/de
Priority to PCT/JP2002/004385 priority patent/WO2002089661A1/ja
Publication of JP2003028791A publication Critical patent/JP2003028791A/ja
Priority to US10/633,832 priority patent/US7072046B2/en
Publication of JP2003028791A5 publication Critical patent/JP2003028791A5/ja
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    • A61B5/68Arrangements of detecting, measuring or recording means, e.g. sensors, in relation to patient
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    • A61B2562/08Sensors provided with means for identification, e.g. barcodes or memory chips

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数種類の光プローブの特徴情報を自動的に
検知・判別できるようにした光イメージング装置を提供
する。 【解決手段】 光プローブ9の基端の装着部10にはそ
の光プローブのスキャニング方式や光路長等のプローブ
情報に対応したプローブ情報保持手段39が設けられ、
光プローブ9を観測装置6に接続(装着)すると観測装
置6側に設けたプローブ情報検知手段でそのプローブ情
報を自動的に検知して、その検知したプローブ情報によ
り、スキャニングや参照光の光路長等を、実際に接続さ
れた光プローブ9に対応する状態に設定して、使い勝手
の良い構成にした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検体に低干渉性
の光を照射し、その散乱・反射してきた光の情報から被
検体内部の断層像を構築する光イメージング装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来技術としては、特開平11−148
897号があり、体内などへ挿入し光入出射口から被検
体向けて低干渉光を走査しつつ出射して前記被検体から
の反射光を入射する光入出射手段を先端に有する光プロ
ーブを備え、前記光プローブで得られる前記被検体から
の反射光を基に、光の干渉を利用して被検体の断層像を
得るOCT(Optical Coherence T
omography)と呼ばれる光イメージング装置が
知られている。
【0003】このような光イメージング装置として、光
走査プローブが着脱自在のコネクタにより観測装置本体
と接続され、プローブの交換が簡単にできる。
【0004】また、請求項2及び3に対する従来技術と
して、特願平11−134590がある、被検体の3次
元断層像を得るために、光走査プローブを回転させる回
転駆動手段と、光走査プローブを軸方向に進退させる進
退駆動手段とを設けた光イメージング装置が開示されて
いる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】特開平11−1488
97号では、プローブの走査範囲、焦点距離やシース径
が異なった複数種類の光プローブを使用する時に、人間
の認知により光プローブの種類を判断し、光プローブの
種類・特徴に合うように手動操作でシステム(ハードと
ソフト)の設定を行う面倒な操作性という欠点があっ
た。
【0006】また、この従来例では、光走査プローブの
長さのバラツキ以外の他のパラメータ(例えば、プロー
ブの径、焦点位置など)の変化を考慮していないので、
光走査プローブの長さ以外のパラメータが異なったプロ
ーブ(種類が違う)に共有性がない欠点があった。
【0007】また、この従来例などでは、光走査プロー
ブのバラツキは人間の認知により判断され、前記長さの
補正のため、光路長の調整もマニュアルで行われるの
で、検知・判断も調整も面倒である欠点があった。
【0008】特願平11−134590は、専用の3D
光イメージングシステムであるので、3D光走査プロー
ブ以外の光走査プローブの場合、プローブにあった制御
や画像表示をする汎用性の低いという欠点があった。
【0009】また、表示された断層像上に、画像分解能
が一番高い焦点位置がどこにあるか容易に分からず、操
作者は目測で焦点位置の判断を行っていたため、診断に
時間がかかるという問題があった。特に、複数種類の光
プローブを使うときに、プローブの焦点位置が違うとい
うこともあるので、焦点位置の判断は難しくなる。
【0010】(発明の目的)請求項1の目的は、複数種
類の光プローブの特徴情報を自動的に検知・判別できる
ようにした光イメージング装置を提供することにある。
【0011】請求項2、3の目的は、複数種類光プロー
ブの種類特徴情報(走査方式、焦点位置、シース径な
ど)の自動検知により、プローブ種類に合った制御や表
示方式にする、または前記光プローブ種類特徴情報を表
示画像上で表示・特定するようにした光イメージング装
置を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】被検体に低干渉性光を照
射し、前記被検体から反射・散乱光の情報から前記被検
体の断層像を構築する光イメージング装置であって、前
記低干渉性光を発生する光源と、前記計測光を被検体に
伝送・受光するための交換可能な光コネクタ部を持つ光
プローブ部と、前記光プローブと接続し、前記光プロー
ブを光軸方向に進退する及び回転させるスキャニング駆
動手段と、前記被検体で反射・散乱された計測光と干渉
する前記参照光の光路調を走査する光ディレイライン
と、前記受信光の光路長と前記参照光の光路長を一致さ
せるための光路長調整手段と、前記受信光と参照光との
干渉光を検出する手段と、前記検出手段が検出した干渉
信号を信号処理し、前記被検体の断層画像を生成する画
像生成手段と、前記被検体の断層画像上に前記光プロー
ブの焦点位置、焦点範囲、プローブのシースなどを実際
の寸法に対応する位置に示す手段と、を有する光イメー
ジング装置において、前記光プローブに該光プローブの
特徴情報を保持する情報保持手段と前記光プローブの情
報を検知する情報検知手段を設け、前記光プローブ情報
の検知手段からの検知情報により、上記プローブスキャ
ニング駆動手段、あるいは上記光ディレイライン内の光
路長走査手段、あるいは上記被検体の断層画像を生成す
る画像生成手段の少なくともいずれか一つを制御する制
御手段とを備えたことにより、接続された光プローブに
適したスキャニング駆動制御や、光路系の調整、表示画
像の調整等ができるようにしている。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。 (第1の実施の形態)図1ないし図19は本発明の第1
の実施の形態に係り、図1は第1の実施の形態の光イメ
ージング装置の構成を示す構成図、図2は図1内のマイ
クロスイッチ方式プローブ情報検知機構の構成を示す構
成図、図3は図2のマイクロスイッチ検知方式の動作原
理を説明する説明図、図4はプローブ情報を検知・処理
する手順のフローチャート、図5は図4のプローブ情報
検知手順の詳細を示すフローチャート、図6は図4の光
学系調整・制御の処理手順のフローチャート、図7は図
4のプローブスキャニング駆動・制御と、画像化及び表
示の設定をする処理手順のフローチャート、図8は光路
長走査部の参照光の光路長調整機構等の構成を示す構成
図、図9(A)及び(B)は図8の光路長自動調整機構
が動作する前と自動調整後のラジアルスキャン断層像
図、図10はシース径の細い光プローブを示す構成図、
図11はシース径の太い光プローブを示す構成図、図1
2は図10の光イメージング装置上で表示した説明図、
図13は光路長調整を行っていない状態で図11の光プ
ローブのシースをラジアルスキャン断層像上で表示した
説明図、図14は光路長調整を行った状態で図11の光
プローブのシースのラジアルスキャン断層像上で表示し
た説明図、図15は光プローブの計測光の焦点位置と焦
点範囲を示す説明図、図16はラジアルスキャンOCT
画像上に光プローブの焦点位置を表示した説明図、図1
7はリニアスキャンOCT画像上に光プローブの焦点位
置を表示した説明図、図18はラジアルスキャンOCT
画像上に光プローブの焦点範囲を表示した説明図、図1
9はリニアスキャンOCT画像上に光プローブの焦点範
囲を表示した説明図である。
【0014】図1に示す光イメージング装置(光断層画
像装置)1は低干渉性光源2を有する。この低干渉性光
源2はその波長が例えば1300nmで、その可干渉距
離が例えば17μm程度であるような短い距離範囲のみ
で干渉性を示す低干渉性光の特徴を備えている。つま
り、この光を例えば二つに分岐した後、再び混合した場
合には分岐した点までの二つの光路長の差が17μm程
度の短い距離範囲内の場合には干渉した光として検出さ
れ、それより光路長の大きい場合には干渉しない特性を
示す。
【0015】この低干渉性光源2の光は第1のシングル
モードファイバ3aの一端に入射され、他方の端面側に
伝送される。この第1のシングルモードファイバ3aは
光カップラ4で第2のシングルモードファイバ5aと光
学的に結合されている。従って、この光カップラ4で計
測光と参照光と二つに分岐され、計測光は第3シングル
モードファイバ3bに、参照光は第4シングルモードフ
ァイバ5bに伝送される。
【0016】第3のシングルモードファイバ3bの(光
カップラ4より)先端側は、光イメージング観測装置6
内で非回転部と回転部とで光を伝送可能な結合を行う光
ロータリジョイント7内を介して第5シングルモードフ
ァイバ8と接続されている。この第5シングルモードフ
ァイバ8の先端側に光走査プローブ(以下、光プローブ
と略記)9のコネクタ部(装着部ともいう)10が着脱
自在で接続され、この光走査プローブ9内に挿通される
第6のシングルモードファイバ11に低干渉性光源2の
光が伝送(導光)される。そして、伝送された計測光は
光プローブ9の先端のプリズム43で反射されて被検体
としての生体組織12側に走査されながら照射される。
【0017】また、第4のシングルモードファイバ5b
の光カップラ部4より分岐した参照光は、参照光の光路
長を変える光路長走査部13に接続されている。
【0018】そして、この光路長走査部13内の光ファ
イバ5bの先端面よりレンズ14を介してミラー15に
照射されて反射される。ここで、ミラー15は、アクチ
ュエータ16によりその光軸方向に進退可能になってお
り、ミラー15の位置を変えることにより、光路長(光
ディレイ量)を変化できるようにしている。
【0019】アクチュエータ16の動作はコンピュータ
18と接続されているアクチュエータ制御回路17によ
って制御される。この光路長走査部13は光プローブ9
により生体組織12の深さ方向に所定の走査範囲だけ走
査する計測光の光路長に対応してこの走査範囲の光路長
だけ高速に変化させることができるようにしている。
【0020】また、生体組織12側での表面或いは内部
での散乱・反射などした計測光の一部が光プローブ9に
取り込まれ、逆の光路を経て第3のシングルモードファ
イバ3b側に戻る。また、前記光路長走査部13から戻
ってきた参照光が第4のシングルモードファイバ5bに
戻り、前記計測光の戻り光と参照光とが光カップラ4に
より干渉し、第2のシングルモードファイバ5aの先端
から光検出器(PD)19に入射される。
【0021】上記光検出器19で光電変換された干渉電
気信号は信号処理回路21に入力され、この信号処理回
路21により前記干渉電気信号に対する信号処理がされ
た後、その出力はA/D変換器22を経てコンピュータ
18に入力される。このコンピュータ18で断層像に対
応した画像データを生成し、モニタ23に出力し、その
表示面23aにOCT像(光イメージング像)30を表
示する。
【0022】また、光ロータリジョイント7は観測装置
6内の駆動部24により駆動される。この駆動部24は
光ロータリジョイント7のロータ側を回転駆動する回転
駆動手段25と、固定台26の上に載せている光ロータ
リジョイント7及び前記回転駆動手段25を軸方向に進
退移動する進退移動手段27とが設けてあり、これらは
駆動制御回路28によって制御される。
【0023】そして、光ロータリジョイント7のロータ
側と接続しているプローブ9の光ガイド部(光ファイバ
11が挿通されている中空のフレキシブルシャフト2
9)が光プローブ9のシース31内でラジアル回転とリ
ニア進退移動する。
【0024】前記回転駆動手段25は、回転駆動するモ
ータ32と、このモータ32の回転軸に取り付けたモー
タロータ(プーリ)33と、このモータロータ(プー
リ)33と第5シングルモードファイバ8が挿通されて
いるシャフト20とに掛け渡したベルト34とによって
構成される。
【0025】また、進退移動手段27は、回転駆動する
モータ35と、このモータ35により回転される回転プ
レート36と、この回転プレート36に一端が接続さ
れ、他端が固定台26に接続され、この他端側を進退移
動させる駆動ロッド37とによって構成される。また、
コンピュータ18は前記駆動制御回路28を介して駆動
部24を構成する前記回転駆動手段25と進退移動手段
27とを制御する。
【0026】コンピュータ18には、光プローブ9の特
徴情報を指示するプローブ情報特定手段38が接続され
ている。このプローブ情報特定手段38から光プローブ
9の特徴情報の入力を行うことにより、コンピュータ1
8はその光プローブ9に合うような制御・調整を行え
る。前記プローブ情報特定手段38は、例えばキーボー
ド或いはスイッチによるなどによる手動入力手段であ
る。或いは、前記プローブ情報特定手段38に代えて、
下記のように光プローブ9の特徴情報を自動的に検知す
る手段を設けることもできる。
【0027】なお、簡単化のため、図1等ではプローブ
情報特定手段38と共に、光プローブ9の特徴情報を自
動的に検知する手段も示す。図1に示すように前記光プ
ローブ9は光プローブ9の装着部10を介して光イメー
ジング観測装置6に接続してあり、光プローブ9の装着
部10の内側にはプローブ情報保持手段39を設けてい
る。
【0028】一方、前記観測装置6の光プローブ9の装
着部10と接続している部位に前記プローブ情報保持手
段39に対応しているプローブ情報検知手段40を設け
ている。この構成によって、光プローブ9が観測装置6
に接続されると、プローブ情報保持手段39内に保持さ
れているプローブ情報がプローブ情報検知手段40によ
って検知・入力され、そのプローブ情報がコンピュータ
18に送られ。コンピュータ18は前記検知したプロー
ブ情報を判断し、その光プローブ9に対応したシステム
の制御や設定を行う。
【0029】次に、前記プローブ情報保持手段39とプ
ローブ情報検知手段40としての具体的構成例としてマ
イクロスイッチ方式の実施の形態を説明する。図2及び
図3は本実施の形態における光プローブ情報保持と検知
手段に係り、マイクロスイッチ方式の光プローブ情報を
検知する機構の構成を説明する。図2は光プローブ9が
光イメージング観測装置6に接続されている状態を示し
ている。
【0030】光プローブ9のシース31や装着部10が
光イメージング観測装置6の接続部6aに接続される。
光プローブ9の光ガイド部(光ファイバ11とフレキシ
ブルシャフト29)がその後端の光コネクタ41と、こ
の光コネクタ41と嵌合して接続される光コネクタ受け
42を介して光イメージング装置6内の光ファイバ8が
挿通されているシャフト20と結合する。光プローブ9
の装着部10の内側に、光プローブ9の中心軸と平行に
突出する複数個の検知ピン45を設けて、図1のプロー
ブ情報保持手段39を構成している。
【0031】また、観測装置6の接続部6aの内側に、
前記検知ピン45と対応する位置に接触、非接触自在に
マイクロスイッチ46を設けて、図1のプローブ情報検
知手段40を構成している。このマイクロスイッチ46
中の全てのマイクロスイッチ素子は、その一方の端子
が、ケーブル47を介してコンピュータ18内の検知回
路に入力される。
【0032】図3はこれらの接続関係を表したものであ
る。検知ピン45に設けられた突起部45aに対応する
位置に設けられた(マイクロスイッチ46の)押しピン
46bは前記突起部45aに押さえられることになり、
それによって、前記押しピン46bに繋いでいるスイッ
チ部46aがスイッチオンになる。
【0033】検知ピン45の突起部のない位置にあるマ
イクロスイッチ46の押しピン46cは押されないた
め、前記押しピン36cに繋いでいるスイッチ部46d
はスイッチオフのままである。前記スイッチ部46aと
46dはケーブル47を介してコンピュータ18に接続
され、そのスイッチ状態(オン/オフ)がプローブ特徴
情報としてコンピュータ18に検知される。
【0034】このように両接続部が接続すると、検知ピ
ン45の突起部45aの配置に応じて、マイクロスイッ
チ46の各々のスイッチがONかOFFになる。する
と、コンピュータ18は前記各スイッチのスイッチング
状況を検知し、接続された光プローブ9のプローブ特徴
情報として判別する。
【0035】前記検知ピン45の突起部45a配置パタ
ーンは、光プローブ9の種類に対応している。検知でき
る光プローブ9の種類の数は、前記マイクロスイッチ4
6のマイクロスイッチ素子数の2乗となる。例えば、図
3に示すようにマイクロスイッチ素スが4個ある場合に
は、検知できるプローブ種類の数は16である。
【0036】前記光プローブ9の特徴情報検知手段より
検知された光プローブ9の特徴情報に基づいて、その光
プローブ9に合うような制御・調整を行える。図4はプ
ローブ情報を検知・処理する手順のフローチャートを示
す。図4のステップS1では、前記プローブ情報保持手
段39とプローブ情報検知手段40から接続されている
光プローブ9の特徴情報が読み取られる(読み取り手順
は、図5で説明する)。図4のステップS2では、前記
ステップS1で読み取みった光プローブ9の光学特性情
報に基づき、コンピュータ18は光イメージング装置1
の光学系を調整・制御する(調整の手順は、図6で説明
する)。
【0037】図4のステップS3では、前記ステップS
1で読み取った光プローブ9に対するスキャニング方式
の情報に基づき、光プローブ9に対するプローブスキャ
ニング駆動・制御する(制御の手順は、図7で説明す
る)。
【0038】図4のステップS4では、前記ステップS
1で読み取った光プローブ9の情報に基づき、OCT画
像化及びOCT画像の表示の設定(調整)を行う(設定
の手順は、図7で説明する)。図4のステップS5で
は、OCT画像化及びOCT画像の表示を行う。図4の
ステップS6では、終了判別を行い、終了を選択すると
この処理を終了し、終了を選択しないとステップS5の
処理に戻る。
【0039】図5は、図4のステップS1の具体例の内
容を示すフローチャートである。図5に示すステップS
11では、前記プローブ情報保持手段39とプローブ情
報検知手段40から光プローブ9の光路長及びシース径
を読み取る。図5に示すステップS12では、光プロー
ブ9のスキャニング方式(ラジアル方式か、リニア方式
か、3D方式か)を読み取る。図5に示すステップS1
3では、プローブ焦点距離/焦点範囲データを読み取
る。
【0040】例えば、コンピュータ18は、前記プロー
ブ情報検知手段40により検知したプローブ情報で、観
測装置6に接続されている光プローブ9が例えばリニア
走査プローブであると判断した場合、前記駆動制御回路
28を介して前記進退移動手段27(モータ35、回転
プレート36と駆動ロッド37)を制御して、前記光プ
ローブ9を進退移動(リニア移動)させる。
【0041】また、接続されている光プローブ9がラジ
アル走査プローブであると判断した場合、コンピュータ
18は前記駆動制御回路28を介して前記回転駆動手段
25(モータ32、モータロータ33及びベルト34)
を制御して、前記光プローブ9を回転させる。
【0042】また、観測装置6に3D(リニア走査とラ
ジアル走査の両方可能な)プローブが接続された場合、
コンピュータ18は前記光プローブ9が3Dプローブで
ある情報を認識し、前記駆動制御回路28を介して前記
進退移動手段27と前記回転駆動手段25を制御して、
前記光プローブ9を進退と回転とを同時に動作させる。
【0043】図6は、図4のステップS2の詳細な内容
を示すフローチャートである。つまり、図6は図4のス
テップS2の光学系調整・制御の具体例を示す。図8で
後述するように光路長走査部13には参照光の光路長を
調整する光路長調整機構13bが設けてあり、図6はこ
の光路長調整機構13bの調整・制御の手順のフローチ
ャートである。
【0044】図6に示すステップS21では、光プロー
ブ9の光路長及び光プローブ9のシース径に基づき、参
照光の光路長調整量を指定する。つまり、コンピュータ
18は、前記プローブ情報検知手段40により検知した
プローブ情報で、接続されている光プローブ9の光路長
及びシース径の情報を抽出して、光プローブ9の光路長
と光プローブ9のシース径とを加算して、その値を参照
光の光路長設定量(光路長調整量)として、光路長調整
機構13bに送る。
【0045】そして、図6のステップS22では、参照
光の光路長調整機構13bを制御して参照光の光路長を
調整する。つまり光路長調整機構13b(の図8に示す
モータ回転制御回路52)を制御し、参照光の光路長調
整量を指定された光路長となるようにレンズ14の位置
を制御し、適正な光路長の位置に調整する。そして、ス
テップS3に移る。
【0046】図7の上半分(ステップS3部分)は、図
4のステップS3のプローブスキャニング駆動・制御す
る処理手順を示すフローチャートである。図7のステッ
プS31では、光プローブ9のスキャニング方式を判別
する。この判別により、光プローブ9が例えばラジアル
式プローブである場合、図7のステップS32に進む。
【0047】ステップS32では、図1のプローブ回転
駆動手段25(32,33,34)を制御して光プロー
ブ9を回転させる。光プローブ9がリニア式プローブで
ある場合、図7のステップS33に進み、図1のプロー
ブ進退移動手段27(35,36,37)を制御して光
プローブ9を進退移動させる。
【0048】また、光プローブ9が3D式プローブであ
る場合、図7のステップS34に進み、プローブ回転駆
動制御手段25(32,33,34)とプローブ進退移
動手段27(35,36,37)とを同時に制御して光
プローブ9を進退と回転を同時に動作させる。
【0049】図7の下半分(ステップS4部分)は、図
4のステップ4を説明するOCT画像化及び画像表示を
設定する手順を示すフローチャートである。図7のステ
ップS41では、ラジアル式プローブに対して、OCT
画像化や画像表示をラジアル画像に設定する。
【0050】図7のステップS42では、リニア式プロ
ーブに対して、OCT画像化や画像表示をリニア画像に
設定する。また、図7のステップS43では、3D式プ
ローブに対して、OCT画像化や画像表示を三次元画像
に設定する。
【0051】図7のステップS44では、図5のステッ
プS13で読み取った光プローブ9の焦点位置情報に基
づいて、OCT画像上に焦点位置マーカの表示位置を設
定する。
【0052】図7のステップS45では、図5のステッ
プS13で読み取った光プローブ9の焦点範囲情報に基
づいて、OCT画像上に焦点範囲マーカの表示位置を設
定する。
【0053】次に図8及び図9を参照して、光プローブ
9の光路長情報に応じて、参照光の光路長を計測光の光
路長と一致させるように参照光の光路長を自動調整する
制御機構を説明する。図8は光イメージング装置1の参
照光の光路長走査部13において、参照光の光路長を
(深さ方向に所定範囲)走査する光路長走査機構13a
及び前記参照光の光路長を調整する光路長調整機構13
bとの構成を説明する構成図、図9(A)は生体組織1
2からの計測光の光路長が参照光の光路長と一致した時
のOCT画像、図9(B)は生体組織12からの計測光
の光路長が参照光の光路より長いときのOCT画像であ
る。
【0054】光イメージング装置1では、同種類の光プ
ローブ9でも製造上のバラツキ或いは光プローブ9の仕
様によって光プローブ9内で計測光を伝送する光ファイ
バ11の長さが異なった場合がある。
【0055】光イメージング装置1のOCT画像は、前
記光プローブ9の計測光と前記光路長走査部13の参照
光との干渉光の光信号が電気信号に変換され画像化され
たものであって、前記計測光と参照光の光路長が違った
場合にOCT画像上の表示位置も大きさも変わる。前記
計測光の光路長と参照光の光路長との差が、光路長走査
部13中の参照光の光路長走査機構13aの走査幅Aよ
りも大きい場合、干渉光の光信号は完全になくなってO
CT画像上に何の画像表示もなくなってしまう。
【0056】図9(A)は、前記計測光の光路長が参照
光の光路長と一致したときの正常なラジアルスキャンの
OCT画像30aを示す。画像中心部にある円は光プロ
ーブ9のシース像55a、左は表示体aの像56a、右
は他の表示体bの像57aである。
【0057】図9(B)は生体組織12からの計測光の
光路長が参照光の光路長より長いときのラジアルスキャ
ンのOCT画像30bである。この場合では、OCT画
像30bは図9(A)の場合より拡大され、画像中心部
にある光プローブ9のシース像55bは図9(A)の場
合のシース像55aより大きく、左の表示体aの像56
bも、右の表示体bの像57bも大きくなって、一部が
OCT画像30bの領域からはみ出ている。
【0058】このように、光ファイバ10の長さが異な
った光プローブ9を使用する場合、例え光プローブ9の
シースの径が同じでも、OCT画像上のシース像の大き
さも違って、表示体の位置と大きさも違う。このため、
比較する機能が低下する欠点がある。そのため、参照光
の光路長を調整して光プローブ9の計測光の光路長と一
致するようにする必要がある。因みに図9(B)の表示
状況を図9(A)の表示に調整する必要がある。
【0059】従来技術(例えば特開平11−14889
7号)では、光プローブの長さバラツキを補正するため
に光路長の調整機構を設けているが、光プローブの長さ
バラツキが人間の認知により判断され、前記長さの補正
のため、光路長の調整もマニュアルで行われるので、検
知・判断も調整も面倒である欠点があった。
【0060】本実施の形態では図8に示すように、参照
光の光路長走査部13中に、参照光の光路長を(プロー
ブ情報により自動的に)調整する光路長調整機構13b
を設けてある。この光路長調整機構13bには、ファイ
バ5bの端部と参照光を集光するレンズ14とが移動可
能なレンズホルダ49に装着され、このレンズホルダ4
9のネジ孔部はモータ50の回転軸に取り付けられた直
進駆動ネジ機構51に螺合している。
【0061】また、モータ50はモータ回転制御回路5
2の制御によって回転量が制御される。また、モータ5
0はロータリエンコーダ53により、その回転量が検出
され、その回転量を表すエンコード信号はモータ回転制
御回路52に送られる。
【0062】そして、モータ50が回転されると、レン
ズホルダ49に取り付けられたレンズ14が参照光の進
行方向に前進或いは後退移動する。
【0063】そうすることによって、参照光の光路長を
調整することができるようになっている。また、モータ
50によるレンズ14の移動量はエンコーダ53のエン
コード信号から精密に検出され、レンズ14の位置を精
密に制御・定位ができる。
【0064】また、モータ制御回路52はコンピュータ
18と接続され、コンピュータ18の制御により動作す
る。コンピュータ18は、光プローブ9が光イメージン
グ装置1の観測装置6に接続時、プローブ情報の自動検
知手段により、自動的に前記光プローブ9の長さを含め
たすべてのプローブ特徴情報を検知・読み取りをして、
その光プローブ9の長さに対応して、モータ回転制御回
路52を介して、モータ50を制御し、参照光の光路長
を計測光の光路長と一致するように調整する。
【0065】図10ないし図14は、シース径が異なっ
たプローブ種類の場合、前記図8の光路長調整機構13
bを用いて参照光の光路長を調整することによって、O
CT画像上でシース像の大きさを調整して実際のプロー
ブ径の値に対応した画像上の目盛りの位置で設定するこ
とができるようにしたものである。
【0066】図10と図11は、プローブシース径d1
の光プローブ61と、プローブシース径d2の光プロー
ブ62との2種類プローブを示す。前記光プローブ61
を使用した場合のOCT画像は図12となる。
【0067】図12では、前記光プローブ61のシース
像63は前記光プローブ61のシース径d1に対応した
サイズでd1で表示され、関心領域64aも前記シース
像の大きさd1と比例した大きさで表示される。また、
このOCT画像30cでは目盛り65が付けて表示され
ている。
【0068】この状態で、前記光プローブ61に代え
て、光路長が同じでシース径がd2の光プローブ62を
使用すると、OCT画像30dは、図13に表示される
ようになる。因みに、光プローブ62のシース像66a
は図12の光プローブ61のシース像63と同じ大きさ
dlで表示され、図12の関心領域64aは図13でサ
イズが小さくなった関心領域64bになる。このよう
に、光プローブのシース径が変わるとOCT画像30c
或いは30dの拡大率が変わってしまう問題がある。
【0069】前記問題を解決するために、本実施の形態
では、プローブ特徴情報検知手段により、光イメージン
グ装置1に接続された光プローブのシース径の値を読み
取り、図8の光路長調整機構13bを用いて自動的に参
照光の光路長を調整して、OCT画像上で光プローブの
シース像の大きさを実際の光プローブ径の値に対応した
画像上の目盛り位置に設定することによって、OCT画
像の拡大率を目盛りと一致させるようにする。
【0070】例えば、前記シース径d2の光プローブ6
2が接続されると、コンピュータ18が前記のプローブ
特徴情報検知手段により、前記光プローブ62のシース
径のd2値を読み取り、図8の光路長調整機構13bを
使って自動的に参照光の光路長を調整し、図14に示す
ように前記光プローブ62のシース像の大きさを画像上
でその値がd2にする。
【0071】そうすることによって、光プローブ62の
OCT像30e(図14)と光プローブ61のOCT像
30c(図12)とは同じ拡大率になり、光プローブ6
2のシース像66bの大きさは、光プローブ61のシー
ス像63の大きさのd2/d1倍、同じ被検体に対して
関心領域64aの表示サイズは図14と図12が同じに
なる。
【0072】図15は、光プローブの焦点位置或いは焦
点範囲の特徴情報に基づき、OCT画像上で光プローブ
の焦点位置或いは焦点範囲を表示する方法を示す説明図
である。
【0073】OCT画像中では、焦点位置付近は方向分
解能が高く高品位な像になり、その位置より離れるにつ
れて方向分解能の低下した像になっていく。従って、観
測中の操作者は、関心領域が焦点位置に来るように操作
する必要がある、しかしながら、従来の光イメージング
装置では、焦点位置がどこにあるか容易に分からず、上
記操作を目測で行っていたため、診断に時間がかかると
いう問題があった。また、複数種類の光プローブを使う
時に、プローブの焦点位置が違うということもあるの
で、焦点位置の判断は難しくなる。
【0074】前記問題を解決するために、本実施の形態
では、プローブ特徴情報検知手段により、光イメージン
グ装置1に装着されている光プローブ9の焦点位置或い
は焦点範囲情報を読み取り、OCT画像上に前記光プロ
ーブ9の焦点位置或いは焦点範囲を示すことができるよ
うにする。
【0075】図15は、光プローブ9の構成と共に、計
測光ビーム71の焦点位置72と焦点範囲73を示して
いる。この光プローブ9を診断に使用する時、関心領域
を焦点位置72に持って来るとOCT画像上に前記関心
領域が高い分解能で表示される。
【0076】計測光ビーム71の焦点位置72とは、前
記計測光ビーム71の中にビーム径が一番細いところの
ことである。光プローブ9の構成によって、前記計測光
ビーム71のNAが大きい場合、焦点位置72は光プロ
ーブ9のシース31に近いところにあり、焦点位置72
も空間的に一点である。
【0077】前記計測光ビーム71のNAが小さい場
合、焦点位置72は光プローブ9のシースより遠いとこ
ろになり、ビーム径の細い部分は空間的にもう一点では
なく、ビーム上で一定な範囲になる。この場合には、焦
点範囲73として扱うのが適切である。
【0078】前記計測光ビーム71の焦点位置72は一
点である時、ラジアルスキャンの場合、図16に示すよ
うに、OCTラジアルスキャン像74a上に、焦点位置
マーカ75が合成されて表示されるようにしている。こ
の焦点位置マーカ75は、光プローブ9の計測光ビーム
71の焦点位置72を示すものであり、ラジアルスキャ
ンの場合、円形である。そして、この焦点位置72付近
は分解能が高い。
【0079】観測装置6に接続された光プローブ9に対
してそのプローブ特徴情報がコンピュータ18に送ら
れ、コンピュータ18はその光プローブ9の焦点位置7
2の情報を抽出して、その焦点位置72に対応した焦点
位置マーカ75を図16に示すようにモニタ23に表示
するように制御する。
【0080】従って、操作者が光プローブ9を操作し
て、特に注目する関心領域76aを前記焦点位置マーカ
75付近に位置させると、最良の分解能で関心領域76
aが描出されることになる。
【0081】リニアスキャンの場合、図17に示すよう
に、焦点位置マーカ80がリニアスキャン像81a上に
一直線となり、関心領域76bを前記焦点位置マーカ8
0付近に位置させると、関心領域76bが最良の分解能
で描出される。
【0082】前記計測光ビーム71の焦点が一定な範囲
である時、ラジアルスキャンの場合、図18に示すよう
に、OCTラジアルスキャン像74b上に、前記光プロ
ーブ9の計測光ビーム71の焦点範囲を示す2本の焦点
範囲マーカ82が合成されて表示されるようにコンピュ
ータ18は制御する。
【0083】従って、操作者が光プローブ9を操作し
て、特に注目する関心領域76cを前記2本の焦点位置
マーカ82の間に位置させると、最良の分解能で関心領
域76cが描出されることになる。
【0084】リニアスキャンの場合、図19に示すよう
に、焦点位置マーカ83がリニアスキャン像81b上に
2本の直線となり、関心領域76dを前記2本の焦点位
置マーカ83の間に位置させると、関心領域76dが最
良の分解能で描出されるようになる。
【0085】このように本実施の形態では、各光プロー
ブ(9等)の装着部10には、その光プローブのスキャ
ニング方式、光路長(及びシース径)、OCT像を表示
する表示パラメータとしてのシース径、焦点位置或いは
焦点範囲情報等のプローブ情報を保持したプローブ情報
保持手段39を設け、一方観測装置6側には光プローブ
が接続されると、そのプローブ情報保持手段39のプロ
ーブ情報を自動的に検出或いは判別して、実際に接続さ
れた光プローブに対応したスキャニングや参照光の光路
長調整、表示パラメータの設定等を自動的に行うことに
より、ユーザは面倒な切替操作や調整作業等を必要とす
ることなく、簡単かつ迅速にOCT画像を得る検査を行
うことができるようにして、使い勝手や操作性を向上し
ていることが特徴となっている。
【0086】従って、本実施の形態は以下の効果を有す
る。従来の人間判断に頼るのではなく、観測装置6に接
続された光プローブ9の情報を自動的に検知できる。
【0087】また、光プローブ9の情報(リニア/ラジ
アル光プローブ)を取得し、自動的にその光プローブ9
に対応する制御方式でリニア走査かラジアル走査か、或
いはリニアとラジアル走査とを同時に行うので、システ
ムの操作性を向上する効果がある。また、プローブ情報
の自動検知による光路長の自動調整は、従来の人間判断
で且つ手動調整より、操作性も正確性も向上できる効果
がある。
【0088】また、プローブ情報の自動検知により光路
長の自動調整によるプローブシース像を実際のプローブ
シース径に対応した大きさで表示させることで、異なる
種類(シース径が異なる)の光プローブを使用しても、
OCT画像が同じ拡大率で表示されることができる。従
って、画像の比較を行う機能を確保できる。
【0089】さらに、OCT画像上に計測光焦点位置或
いは焦点範囲を示すことで、焦点の位置或いは範囲を正
確に知ることができ、迅速に関心領域が焦点位置に来る
ように操作して、最良の分解能で関心領域を描画させる
ことができる効果がある。
【0090】(第2の実施の形態)次に本発明の第2の
実施の形態を説明する。図20ないし図22は、本発明
の第2の実施の形態の主要部を示すもので、第1の実施
の形態のマイクロスイッチ式のプローブ検知手段に代え
て、光プローブ9と観測装置6との両接続部にあるプロ
ーブ情報検知手段としてフォトセンサ部85を使用して
いる。
【0091】観測装置6の接続部6aの内側には複数の
フォトセンサで構成されたフォトセンサ部85が取り付
けられている。つまり、このフォトセンサ部85は図2
1に示すように複数の発光素子86aを取り付けた発光
素子板87aと、この発光素子板87aに平行に配置さ
れ、複数の発光素子86aと対向するように複数の受光
素子86bを取り付けた受光素子板87bとで構成され
ている。
【0092】また、光プローブ9の装着部10側には遮
光板88が取り付けてあり、観測装置6に光プローブ9
を装着すると、図21に示すように発光素子板87aと
受光素子板87bとの間に遮光板88が配置される。
【0093】この遮光板88は複数の発光素子87aの
発光方向に貫通穴89が設けてある。この貫通穴89が
あるところでは、受光素子86bが発光素子86aから
の光を受光でき(ON状態)、貫通穴89のないところ
では、受光素子86bは発光素子86aからの光を受光
できない(OFF状態)。
【0094】前記受光素子86bと発光素子86aには
ケーブル90が接続されており、このケーブル90はコ
ンピュータ18内の検知回路に導かれている。コンピュ
ータ18は前記フォトセンサ部85の受光状況を検知
し、光プローブ9の特徴情報として判別する。
【0095】図22は対となる発光素子86aと受光素
子86bとによる電気系の構成を示したものである。発
光素子86aの光は遮光板88により遮光されて、受光
素子86bとしての例えばフォトトランジスタには入射
しない。そして、この場合にはフォトトランジスタは非
導通となり、そのコレクタ出力をインバータ91で反転
した出力はOFF(Lレベル)となる。
【0096】一方、遮光板88に貫通穴89が設けてあ
る場合には、発光素子86aの光は貫通穴89を通って
受光素子86bで受光される。この場合にはインバータ
91で反転した出力はON(Hレベル)となる。
【0097】前記遮光板88の貫通穴89の配置パター
ンは、光プローブ9の種類に対応している。前記フォト
センサ部85のフォトセンサの数の2乗は、検知できる
光プローブ9の種類の数を表している。たとえば、図2
1に示すようにフォトセンサが4個ある場合には、検知
できるプローブ種類の数は16である。なお、本実施の
形態では発光素子86aからの光を遮断する方式を取っ
ているが、反射させる方式を採用しても良い。
【0098】本実施の形態は以下の効果を有する。第2
の実施の形態によれば、第1の実施の形態に比べてフォ
トセンサを採用しているので、第1の実施の形態の場合
よりも安価で且つ小型にできる。また、本実施の形態で
は円周上の1ケ所のみで軸方向で複数のフォトセンサを
設けられるので、装置構成の簡素化の効果もある。
【0099】(第3の実施の形態)図23と図24は、
本発明の第3の実施の形態の主要部を示したもので本実
施の形態では、光プローブ9と観測装置6との両接続部
にあるプローブ情報検知手段としてメモリ部93を使用
している。このメモリ部93は、光プローブ9の装着部
10の内側に設けられ、このメモリ部93に接続された
メモリコネクタ部94aを介して、観測装置6の接続部
6aに設けられたケーブルコネクタ95と接続する。
【0100】前記メモリコネクタ部94bには、電源線
や信号線などに接続されたピンが設けられ、ケーブルコ
ネクタ95のピン受けに接続されたケーブル96を介し
てコンピュータ18と接続される。すると、メモリ部9
3に必要な電源は前記電源線を通してコンピュータ18
から供給され、あらかじめメモリ部93中に記録された
プローブ情報が前記信号線を通してコンピュータ18に
読み出される。図24はこれらの接続関係を表したもの
であり、メモリ部93の内部にはメモリセル94bが封
止されている。
【0101】前記メモリ部93で構成したその変形例と
して、メモリ部93に代えて抵抗等の電子素子のマトリ
クス(或いはアレイ)を使用することもできる。前記電
子素子のマトリクス等に対し、(その電気特性の検出等
に)必要な電源や信号線は接続コネクタを通し、コンピ
ュータ18に接続され、前記マトリクス内の各々の電子
素子の電気特性値はプローブ特徴情報として検知され
る。前記電子素子は、例えば抵抗の場合、その抵抗値自
身がプローブの情報としてコンピュータ18に検知され
る。
【0102】本実施の形態によって、前記第1、第2の
実施の形態より多くのデータ情報を記録・検知できる効
果がある。
【0103】(第4の実施の形態)本第4の実施の形態
の形態は、直視型の光プローブを用いて、2次元の観察
像(光イメージング像)を得るものに本発明を適用す
る。
【0104】図25ないし図43は本発明の第4の実施
の形態に係り、図25は第4の実施の形態の光イメージ
ング装置に用いられる光プローブを示す概略構成図、図
26は第4の実施の形態の光イメージング装置の概略構
成を示す回路ブロック図、図27は図26の光検出部の
概略構成を示す回路ブロック図、図28はスキャナによ
り走査される光学素子で得た画像データをサンプリング
する際の様子を示す説明図であり、図28(a)は光学
素子がX走査及びY走査される際の様子を示す説明図、
図28(b)はXスキャナの駆動周波数を示すグラフ、
図28(c)はYスキャナの駆動周波数を示すグラフ、
図28(d)はサンプリングされた画像データを実空間
で並べ直した際の説明図、図29は図28(d)の画像
データを等時間間隔のドットとして表示した表示画像を
示す説明図、図30はプローブデータ部に記憶されるデ
ータテーブルであり、図30(a)はプローブの型式や
光路長を示すデータテーブル、図30(b)はXスキャ
ナの駆動条件を示すデータテーブル、図30(c)はY
スキャナの駆動条件を示すデータテーブル、図31は信
号発生器のXドライブの概略構成を示す回路ブロック
図、図32は4点補間法を説明するためのグラフ、図3
3及び図34は図32の4点補間法を本実施の形態に適
用した際のグラフであり、図33はデータ列番号Bjと
X方向の補間係数Kxとの関係を求める際のグラフ、
図34はデータ列番号AiとY方向の補間係数Ky
の関係を求める際のグラフ、図35は画像データに補間
処理を施した際の説明図であり、図35(a)はサンプ
リングされた画像データを実空間で並べ直した際の説明
図、図35(b)は同図35(a)の状態から4点補間
法により奇数フレームで補間抽出を施した際の説明図、
図35(c)は同図(b)の状態から偶数フレームに対
して折り返し処理を施した際の説明図、図36ないし図
42は信号発生器のタイミングチャートを示すグラフで
あり、図36は信号発生器の定常状態のタイミングチャ
ートを示すグラフであり、図36(a)はYスキャナの
駆動信号であるYドライブ信号の波形を示すグラフ、図
36(b)は同図(a)のYドライブ信号により駆動さ
れるYスキャナの往路、復路の識別をする(Y−U/
D)信号の波形を示すグラフ、図36(c)はYトリガ
ー信号(Y−Sync)の波形を示すグラフ、図36
(d)はXトリガー信号(X−Sync)の波形を示す
グラフ、図36(e)はクロック周波数fsの波形を示
すグラフ、図37はYドライブ信号が+の最大値となる
際のタイミングチャートを示すグラフであり、図37
(a)はYスキャナの駆動信号であるYドライブ信号の
波形を示すグラフ、図37(b)は同図(a)のYドラ
イブ信号により駆動されるYスキャナの往路、復路の識
別をする(Y−U/D)信号の波形を示すグラフ、図3
7(c)はYトリガー信号(Y−Sync)の波形を示
すグラフ、図37(d)はXトリガー信号(X−Syn
c)の波形を示すグラフ、図37(e)はクロック周波
数fsの波形を示すグラフ、図37(f)はXスキャナ
の駆動信号であるXドライブ信号の波形を示すグラフ、
図37(g)はXスキャナにより走査される光学素子の
X方向駆動角度を示すグラフ、図38は第1フレーム目
(往路)のYトリガー信号(Y−Sync)が出力され
る際のタイミングチャートを示すグラフであり、図38
(a)はYスキャナの駆動信号であるYドライブ信号の
波形を示すグラフ、図38(b)は同図(a)のYドラ
イブ信号により駆動されるYスキャナの往路、復路の識
別をする(Y−U/D)信号の波形を示すグラフ、図3
8(c)はYトリガー信号(Y−Sync)の波形を示
すグラフ、図38(d)はXトリガー信号(X−Syn
c)の波形を示すグラフ、図38(e)はクロック周波
数fsの波形を示すグラフ、図38(f)はXスキャナ
の駆動信号であるXドライブ信号の波形を示すグラフ、
図38(g)はXスキャナにより走査される光学素子の
X方向駆動角度を示すグラフ、図39は1フレーム分の
サンプリングが終了する直前のタイミングチャートを示
すグラフであり、図39(a)はYスキャナの駆動信号
であるYドライブ信号の波形を示すグラフ、図39
(b)は同図(a)のYドライブ信号により駆動される
Yスキャナの往路、復路の識別をする(Y−U/D)信
号の波形を示すグラフ、図39(c)はYトリガー信号
(Y−Sync)の波形を示すグラフ、図39(d)は
Xトリガー信号(X−Sync)の波形を示すグラフ、
図39(e)はクロック周波数fsの波形を示すグラ
フ、図39(f)はXスキャナの駆動信号であるXドラ
イブ信号の波形を示すグラフ、図39(g)はXスキャ
ナにより走査される光学素子のX方向駆動角度を示すグ
ラフ、図40はYドライブ信号が−の最大値となる際の
タイミングチャートを示すグラフであり、図40(a)
はYスキャナの駆動信号であるYドライブ信号の波形を
示すグラフ、図40(b)は同図(a)のYドライブ信
号により駆動されるYスキャナの往路、復路の識別をす
る(Y−U/D)信号の波形を示すグラフ、図40
(c)はYトリガー信号(Y−Sync)の波形を示す
グラフ、図40(d)はXトリガー信号(X−Syn
c)の波形を示すグラフ、図40(e)はクロック周波
数fsの波形を示すグラフ、図40(f)はXスキャナ
の駆動信号であるXドライブ信号の波形を示すグラフ、
図40(g)はXスキャナにより走査される光学素子の
X方向駆動角度を示すグラフ、図41は第2フレーム目
(復路)のYトリガー信号(Y−Sync)が出力され
る際のタイミングチャートを示すグラフであり、図41
(a)はYスキャナの駆動信号であるYドライブ信号の
波形を示すグラフ、図41(b)は同図(a)のYドラ
イブ信号により駆動されるYスキャナの往路、復路の識
別をする(Y−U/D)信号の波形を示すグラフ、図4
1(c)はYトリガー信号(Y−Sync)の波形を示
すグラフ、図41(d)はXトリガー信号(X−Syn
c)の波形を示すグラフ、図41(e)はクロック周波
数fsの波形を示すグラフ、図41(f)はXスキャナ
の駆動信号であるXドライブ信号の波形を示すグラフ、
図41(g)はXスキャナにより走査される光学素子の
X方向駆動角度を示すグラフ、図42は第2フレームの
サンプリングが終了する直前のタイミングチャートを示
すグラフであり、図42(a)はYスキャナの駆動信号
であるYドライブ信号の波形を示すグラフ、図42
(b)は同図(a)のYドライブ信号により駆動される
Yスキャナの往路、復路の識別をする(Y−U/D)信
号の波形を示すグラフ、図42(c)はYトリガー信号
(Y−Sync)の波形を示すグラフ、図42(d)は
Xトリガー信号(X−Sync)の波形を示すグラフ、
図42(e)はクロック周波数fsの波形を示すグラ
フ、図42(f)はXスキャナの駆動信号であるXドラ
イブ信号の波形を示すグラフ、図42(g)はXスキャ
ナにより走査される光学素子のX方向駆動角度を示すグ
ラフ、図43は歪みを有する駆動波形を示すグラフであ
る。
【0105】図25に示すように本実施の形態の光イメ
ージング装置100に用いられる直視型の光走査プロー
ブ(以下、光プローブと略記)101は、シース110
の内側にシングルモードファイバ又はマルチモードファ
イバ等のファイバ111が挿通されている。
【0106】シース110は、この先端に硬質のベース
部材112により円筒状で硬質の先端カバー113と連
結されている。また、ベース部材112は、スキャナ1
14を構成する変形可能な第1の薄板115aが取り付
けられている。この第1の薄板115aは、途中に中継
部材116を介して変形自在の第2の薄板115bの後
端が直交するようにして取り付けられている。この第2
の薄板115bは、この先端に集光光学系である光学素
子117を取り付けたホルダ118が連結部材119を
介して保持されている。
【0107】また、第1の薄板115aは、この板面に
板状の第1の圧電素子が取り付けられている。また、第
2の薄板115bは、この板面に板状の第2の圧電素子
120bが取り付けられている。これら第1の圧電素子
及び第2の圧電素子120b(の板面にそれぞれ取り付
けた電極)は、駆動ケーブル121を介して後述の装置
本体に接続されている。そして、これら第1の圧電素子
及び第2の圧電素子120b(の板面にそれぞれ取り付
けた電極)は、装置本体の制御により交流の駆動信号を
印加されることで駆動され、光学素子117を直交する
方向に駆動できるようになっている。
【0108】例えば、光プローブ101は、第2の圧電
素子120bを駆動した場合、ホルダ118と共に、光
学素子117を上下方向(図25で示す座標系の場合に
はX方向)に駆動する。即ち、第2の圧電素子120b
及び第2の薄板115bは、後述のXスキャナを構成し
ている。また、光プローブ101は、第1の圧電素子を
駆動した場合、中継部材116を図25の紙面に垂直な
方向に駆動し、この駆動により光学素子117も紙面に
垂直な方向(図25で示す座標系の場合にはY方向)に
駆動する。即ち、第1の圧電素子及び第1の薄板115
aは、後述のYスキャナを構成している。
【0109】つまり、光プローブ101は、光学素子1
17により出射される光をXスキャナ及びYスキャナで
構成されるスキャナ114によりXY平面で2次元的に
走査できるようになっている。尚、光プローブ101
は、スキャナ114の構成が図25に示すものに限ら
ず、例えば特開2001−174744号公報で図示さ
れた各種の構成のものを使用できる。また、光プローブ
101は、カバー37の先端面における光学素子117
に対向して形成した開口部分に保護用のカバーガラス1
22で覆って構成している。
【0110】このような直視型の光プローブ101は、
このプローブ側コネクタ101aが図26に示すように
装置本体130の装置本体側コネクタ130aに交換可
能に着脱自在に接続されて光イメージング装置100を
構成するようになっている。図26に示すように光プロ
ーブ101は、上述したスキャナ114を構成するXス
キャナ114a及びYスキャナ114bを有し、これら
Xスキャナ114a及びYスキャナ114bを駆動させ
ることで光学素子117をXY平面で2次元的に走査す
るようになっている。
【0111】これらXスキャナ114a及びYスキャナ
114bは、プローブ側コネクタ101a及び装置本体
側コネクタ130aを介して装置本体130内の信号発
生器131に接続され、この信号発生器131で生成さ
れた駆動信号をそれぞれAMP(アンプ)132a,1
32bにより増幅されて伝達され、制御駆動されるよう
になっている。
【0112】光学素子117は、装置本体130内の光
源部133からの計測光がシングルモードファイバ等の
ファイバで導光され、プローブ側コネクタ101a及び
装置本体側コネクタ130aを介して伝達されるように
なっている。
【0113】そして、光学素子117は、スキャナ11
4によりXY平面で2次元的に走査されながら被検体に
計測光を照射し、この被検体からの戻り光を取り込む。
取り込まれた戻り光は、上述した計測光とは逆の経路で
装置本体130側へ導光され、装置本体130内の光検
出部134で受光されて電気信号に変換されるようにな
っている。光検出部134は、変換した電気信号をゲイ
ン調整処理やフィルタ処理を施すようになっている。
【0114】ここで、図27に示すように光検出部13
4は、フォトダイオード(PD)や光電子増幅管(PM
T)等の光検出素子134aで戻り光を受光し電気信号
に変換するようになっている。そして、この光検出素子
134aからの電気信号は、I−V変換器134bでI
−V変換(電流値−電圧値)され、AMP134cによ
り増幅される。このとき、AMP133cは、制御部1
35からのゲイン調整信号により、所定のゲイン調整が
行われるようになっている。
【0115】そして、増幅された電気信号は、制御部1
35からの遮断周波数(カットオフ周波数)調整信号に
より、LPF(ローパスフィルタ)134dで低域の信
号を遮断(カットオフ)してノイズ除去され、フレーム
グラバ136に出力されるようになっている。尚、制御
部135は、プローブデータ部137に記憶されている
データに基づき、AMP134c、LPF134dへの
制御信号を出力するようになっている。
【0116】図26に戻り、フレームグラバ136は、
信号発生器131からの信号に基づき、光検出部134
からの電気信号をサンプリングし画像データとして1フ
レーム分記憶するためのフレームメモリや画像データを
A/D(アナログ/デジタル)変換するためのA/D変
換器を有するフレームメモリボードである。このフレー
ムグラバ136は、A/D変換した画像データを1フレ
ームずつ次段のメモリ138へ一時格納し、画像エンジ
ン139に出力するようになっている。
【0117】画像エンジン139は、画像データに補間
処理を施してデータの並び替え等を行った後、画像化処
理部140へ出力するようになっている(図35参
照)。そして、画像化処理部140は、DIB変換、ゲ
イン/コントラスト調整、γ補正、リサイズ、表示転送
等の信号処理を施して図示しないモニタに出力し、その
表示面に観察像(光イメージング像)を表示させるよう
になっている。
【0118】ここで、本実施の形態では、光学素子11
7は、Xスキャナ114a、Yスキャナ114bにより
図28(a)〜図28(c)に示すようにX走査及びY
走査されるようになっている。すると、フレームグラバ
136により同一時間間隔でサンプリングされた画像デ
ータは、実空間で並べ直すと図28(d)に示すように
不等空間間隔でサンプリングされたことになる。
【0119】この図28(d)に示す画像データは、図
29に示すように等時間間隔のドットとして表示すると
画像に歪みが生じる。また、この場合、画像データは、
画像のドット位置とサンプリングポイント位置が一致し
ない現象も生じる。そこで、上記問題を解決するため
に、画像に歪みが生じないように補正した上で表示する
必要がある。
【0120】本実施の形態では、画像エンジン139で
後述するように画像データに補間処理を施してデータの
並び替え等を行うようになっている(図35参照)。ま
た、本実施の形態では、光プローブ101は、そのプロ
ーブに固有の駆動情報を記憶するプローブデータ部13
7が設けてあり、このプローブデータ部137の情報は
制御部135により読み取られるようになっている。そ
して、制御部135は、読みとった駆動情報に基づき、
その光走査プローブ2が最適な光学特性の状態に設定す
るのに必要な調整範囲等を予め決め、駆動情報を読み取
らない場合よりも最適な光学特性の状態に速やかに設定
することができるようにしている。
【0121】制御部135は、光源部133、光検出部
134、画像エンジン139に接続され、これらをプロ
ーブデータ部137の情報に基づき、制御するようにな
っている。また、制御部135は、Xスキャナ114
a、Yスキャナ114b及びフレームグラバ136を駆
動制御するための信号を生成する信号発生器131に接
続され、この信号発生器131を制御して生成した信号
によりXスキャナ114a、Yスキャナ114b、フレ
ームグラバ136及び画像エンジン139を駆動制御す
るようになっている。
【0122】信号発生器131は、Xスキャナ114
a,Yスキャナ114bを例えば、正弦波駆動するため
の駆動信号を生成するようになっており、生成した駆動
信号をX−ドライブ(X−Drive)端子,Y−ドラ
イブ(Y−Drive)端子から出力するようになって
いる。
【0123】また、信号発生器131は、Xスキャナ1
14a、Yスキャナ114bに同期して、フレームグラ
バ136に入力された画像データを同一時間間隔でサン
プリングするためのクロック信号を生成すると共に、こ
のクロック信号に同期するXトリガー信号(X−Syn
c),Yトリガー信号(Y−Sync)を生成するよう
になっている。
【0124】そして、信号発生器131は、生成したク
ロック信号をクロック(Clock)端子から出力する
と共に、生成したトリガー信号をX−トリガー(X−s
ync)端子,Y−トリガー(Y−sync)端子から
出力して、フレームグラバ136でのサンプリングを制
御するようになっている。
【0125】プローブデータ部137は、EEPRO
M、Flash Memory等の不揮発性のメモリデ
バイスで形成されている。このプローブデータ部137
に記憶されるデータは、例えば、図30に示すようなも
のがある。図30(a)に示すようにプローブデータ部
137に記憶されるデータは、プローブの型式(シリア
ルNo.)、戻り光量(の戻り率)、光路長、光学素子
117(レンズ)の開口数(NA)、焦点距離、(光学
的)分解能、適合光源波長、ノイズレベル(プローブと
してのS/N比)、スポット径等がある。
【0126】また、プローブデータ部137に記憶され
るデータは、図30(b)、図30(c)に示すように
Xスキャナ114a,Yスキャナ114bの駆動条件が
ある。Xスキャナ114aの駆動条件は、図30(b)
に示すようにX位相補正(θ )、X駆動周波数
(V)、Xオフセット電圧(VXO)、X視野範囲
(l)、X駆動波形種(駆動波形の種類)、X画像化
範囲(P)、Xスキャンニング式(X=・・・;駆動
波の波形)等のデータがある。Yスキャナ114bの駆
動条件は、図30(c)に示すように前記Xスキャナ1
14aの駆動条件と同様なXをYに変えた表記のデータ
である。
【0127】このようなデータは、光プローブ101を
装置本体130に着脱自在に接続すると、プローブデー
タ部137が制御部135に接続されてこの制御部13
5からの読み込み信号により、制御部135に読み込ま
れるようになっている。
【0128】次に、プローブデータ部137に記憶され
るデータを更に詳細に説明する。プローブデータ部13
7に記憶されるデータとしては、上述したように光学素
子117や光検出部134及び光源部133等のスポッ
ト径や分解能又は適合光源波長等のスキャニング光学系
の光学特性に関するものがある。
【0129】これらスキャニング光学系は、(光学的)
分解能r、走査スピード、サンプリング速度で空間分解
能が決定される。このため、スキャニング光学系は、
(光学的)分解能rを有効に引き出すために光検出部1
34のLPF(ローパスフィルタ)の定数をそれぞれの
条件に適合させる必要がある。
【0130】光検出部134は、帯域を広く取ると画像
にノイズが多く含まれるようになってしまう。そこで、
本実施の形態の形態では、LPFの遮断周波数(カット
オフ周波数)を例えば、 遮断周波数=0.441×最大スキャニング速度/分解
能 の値に設定している。尚、係数0.441は、画像の味
付け(重み)により適宜変更可能である。
【0131】また、光プローブ101は、組立のばらつ
きや、設計の違いにより、光検出素子134aに入射す
る戻り光量が変化する。不要な戻り光は、光検出素子1
34aに入射されることでノイズとして検出される。
【0132】このため、本実施の形態の形態では、光プ
ローブ101は、不要な戻り光によるノイズのフロアレ
ベルより低い信号をデータの分解能とすることなく、フ
レームグラバ136内部のA/D変換器の変換範囲で信
号レベルを調整するようになっている。制御部135
は、上述した設定を行い光検出部134を制御するよう
に構成されている。
【0133】また、プローブデータ部137に記憶され
るデータとしては、上述したようにX位相補正(θ
やX駆動周波数(V)等のスキャナの駆動条件に関す
るものがある。尚、以降、Xスキャナ114aを例にし
て説明する。
【0134】Xスキャナ114aは、振幅(観察範囲)
を稼ぎ、安定的に駆動させるために共振駆動させる。こ
の共振周波数は、スキャナの機械的構造、振動素子の特
性で決定され、組立によりばらつく虞れが生じる。この
値は、上述したようにX駆動周波数fxとしてプローブ
データに保存されている。同様に、Xスキャン方向の視
野範囲は、X視野範囲lxとして保存されている。
【0135】また、光学系の(光学的)分解能rを有効
に画像表示するために、表示画素数L(補間出力データ
の列数)は、 L=lx/d×2 以上の表示点数であることが良い。
【0136】このため、本実施の形態では、フレームグ
ラバ136は、画角の中央でこの値を実現するように
し、画像の中心部付近のサンプリングポイント間隔が最
も長くなるように構成している。
【0137】また、Xスキャナ114aは、正弦波で駆
動されている場合、このスキャナが最大振幅を向かえる
付近でスキャン速度が0に近くなる。すると、フレーム
グラバ136は、サンプリングを行うと、表示画像範囲
に対して、サンプリング点数のみ増え、グラバ内の画像
メモリを大幅に増やさなくてはならず、効率が悪い。
【0138】そこで、本実施の形態では、フレームグラ
バ136は、サンプリング範囲を中心部付近(〜92.
5%)に限定することで、必要以上のデータを取得する
ことなく効率の良いサンプリングを可能に構成してい
る。尚、この範囲は、上述したようにX画像化範囲Px
としてプローブデータ部137に保存されている。
【0139】画角中央でのスキャンニング速度V
XMAXは、 VXMAX=π×lx/(Px×fx)…(1) である。従って、サンプリング周波数は、 fs=VXMAX/d×2 …(2) である。このfsを信号発生器131のクロック周波数
とする。すると、1ライン当たりのサンプリングポイン
ト数Mは、 M=(fs/(2×fx)×sin−1(2π・Px) …(3) である。また、1周期当たりに必要なクロック数Nxc
は、 Nxc=fs/fx …(4) である。
【0140】このクロック数で、X駆動波形種で指定さ
れた波形を生成するように信号発生器131は構成され
ている。この波形データは、 Xscan(N)= (2π×n/Nxc+θx) …(5) (n=0,1,2,…,Nxc−1) である。
【0141】ここで、図31に示すように信号発生器1
31のXドライブ(X−Drive)130aは、クロ
ック信号によりXscan(N)のデータ列141をク
ロック毎に読み出しバッファ142で順次呼び出し、D
/A変換器143でD/A(デジタル/アナログ)変換
を行うことで出力されるようになっている。また、Xド
ライブ130aは、更に、X駆動電圧Vx、Xオフセッ
ト電圧Vxoで指定されるゲイン値、オフセット値をそ
れぞれオフセット調整部144及びAMP(アンプ)1
32aで調整して駆動電圧波形をXスキャナ114aに
出力するようになっている。
【0142】また、信号発生器131は、生成するXト
リガー信号(X−Sync)の生成タイミングを駆動波
形の基準点(振幅が最大になるポイント)から次のクロ
ック分ずれたタイミングで出力するようになっている。
XトリガーポイントNtxは、 Ntx=[(Nxc/2)×(1−P/100)]/2 =[(Nxc/2)−M]/2 …(6) となる。このXトリガーポイントNtxのタイミングで
Xトリガー信号を出力するように信号発生器131は、
構成されている。尚、Xトリガー信号(X−Sync)
は、Yトリガー信号(Y−Sync)が生成されてから
取得ライン数のみ出力するように設定しても良い。
【0143】また、Yスキャナ114bの設定について
もXスキャナ114aと基本的に同様である。この場
合、Yスキャナ114bの設定は、サンプリングポイン
ト数M、サンプリングライン数N及びクロック周波数f
sをfy=fxで読み替えれば良い。
【0144】上述した計算を制御部135内で行うこと
で、補間出力データの列数L,行数W、1ライン当たり
のサンプリングポイント数M,サンプリングライン数
N、クロック周波数fs、1周期当たりに必要なクロッ
ク数Nxc,Nyc、波形データXscan,Ysca
n、XトリガーポイントNtx,YトリガーポイントN
ty、Xスキャナ114aのスタート時点のX方向の位
置tXO,Yスキャナ114bのスタート時点のY方向
の位置tYOを算出できる。これらの算出値を、信号発
生器131に入力し設定することで、後述するタイミン
グチャートに示した駆動を実現することができる。
【0145】また、これら算出値は、フレームグラバ1
36及び画像エンジン139に出力され、サンプリング
及び補間処理に用いられる。画像エンジン139が必要
としているデータは、上述したL、M、W、N、
XO、tYO及び、Xスキャナ114a、Yスキャナ
114bの駆動波形式である。駆動波形式は、 X=cos(t) …(7a) Y=cos(t) …(7b) (t:位相) tXO=(π/Nxc)×(Nxc/2−M) …(8a) tYO=(π/Nyc)×(Nyc/2−N) …(8b) である。画像エンジン139は、上記データを元に変換
テーブルを生成し、上述したように画像データに補間処
理を施してデータの並び替えを行うようになっている。
【0146】次に、画像エンジン139の補間処理につ
いて詳細に説明する。画像エンジン139は、メモリ1
38に一時格納された1フレーム分の画像データに対し
て、例えば、ニアレストネーバー法( Nearest Neighbo
r Interpolation )等の補間処理を施してデータの並び
替えを行うことで、画像のドット位置とサンプリングポ
イント位置とが一致するように構成されている。
【0147】ここで、補間処理とは、原画像構成点の間
に新たな点を生成することで、画像の変形、拡大を行う
際に用いられる処理である。補間処理は、ニアレストネ
ーバー法( Nearest Neighbor Interpolation )の他
に、4点補間法( Bi-linear Interpolation )及びバ
イキュービック法( Cubic Convolution Interpolatio
n)等がある。
【0148】ニアレストネーバー法は、補間点から最も
近くにある画像構成点の色値をそのまま補間点の色値と
するものである。4点補間法は、補間点の周囲にある4
画像構成点の色値の加重平均値を補間点の色値とするも
のである。バイキュービック法は、補間点の周囲にある
16画像構成点をキュービックスプライン法により補間
し、この補間した結果を補間点の色値とするものであ
る。
【0149】本実施の形態では、4点補間法( Bi-line
ar Interpolation )を用いて補間処理を行った場合を
示す。4点補間法を用いると、図32に示すように補間
点vijは、最も近い4点の原画像構成点uAi,Bj
の色値の加重平均値を取ることである。
【0150】すると、補間点vijは、式(1)に示す
ように算出される。 vij=Kyi[Kxj×uAi,Bj+(1−Kxj)×uAi,Bj+1 ]+ (1−Kyi)[Kxj×uAi+1,Bj+(1−Kxj)×uAi+1,B j+1 ]…(11) (i=1,2,3,…,L;j=1,2,3,…,W) この式(11)を用いて、1つの補間点vijを計算す
るには、下記の要素を決定する必要がある。補間点v
ijに最も近い4点の原画像構成点の内に、図32の左
上の点uAi ,Bjのデータ列番号AiとBj。図3
2の左上の点uAi,BjのX方向とY方向の補間係数
xjとKyi
【0151】次に、補間点vijの計算手順を示す。上
述したようにXスキャナ114a,Yスキャナ114b
とも正弦波駆動しているものとする。尚、Lは補間出力
データの列数、Wは補間出力データの行数、tX0はX
スキャナ114aのスタート位置位相、tY0はYスキ
ャナ114bのスタート位置位相である。
【0152】また、XはXスキャナ114aのスター
ト時点のX方向の位置、YはYスキャナ114bのス
タート時点のY方向の位置、ΔXνは補間出力データ各
点のX方向での位置間隔、ΔYυは補間出力データ各点
のY方向での位置間隔である。
【0153】すると、Xスキャナ114aのX方向位
置,Yスキャナ114bのY方向位置及びこれらXスキ
ャナ114a,Yスキャナ114bによる補間出力デー
タの位置は、式(12)に示すように表される。
【0154】 f(t)=cos(t) …(12a) Xν(t)=cos(txν)…(12b) Yυ(t)=cos(tyυ)…(12c) 先ず、左上の点uAi,Bjのデータ列番号Bjと、X
方向の補間係数Kxとの関係を求める。図33に示す
ように補間点vijのX方向(列)の位置Xνは、 Xν=X−ΔXν(j−1) …(13) である。また、vijのX方向の位置位相tXνは、 tXν=arccos(Xν) …(14)である。 データサンプリング間隔Δtの位相量Δtは、 Δt=(π−2tX0)/(M−1) …(15) である。
【0155】従って、データ列番号Bjは、 Bj=int[(t Xν −t X0 )/Δt ]+1 …(16) である。uAi,BjのX方向での位置X及びu
Ai,Bj+1のX方向での位置X u+1は、 X=cos[(Bj−1)Δt+tX0] …(17a) Xu+1=cos[(BjΔt+tX0] …(17b) である。uAi,Bjのvijに対するX方向補間係数
Kxは、 Kx (X u+1 −Xν)/(X u+1 −X │…(18) である。
【0156】次に、左上の点uAi,Bjのデータ列番
号Aiと、Y方向の補間係数Kyとの関係を求める。
図34に示すように補間点vijのY方向(行)の位置
Yυは、 Yυ=Y−ΔYυ(i−1) …(18) である。また、vijのY方向の位置位相tYυは、 tYυ=arccos(Yυ) …(19) である。Y方向ラインのデータサンプリング間隔Δty
の位相量Δtは、 Δt=(π−2tY0)/(N−1) …(20) である。
【0157】従って、データ列番号Aiは、 Ai=int[(t Yυ −t Y0 )/Δt ]+1 …(21) である。uAi,BjのY方向での位置Y及びu
Ai+1,BjのY方向での位置Y u+1は、 Y=cos[(Ai−1)Δt+tY0] …(22a) Yu+1=cos[(AiΔt+tY0] …(22b) である。uAi,Bjのvijに対するY方向補間係数
Kyは、 Ky (Y u+1 −Yυ)/(Y u+1 −Y │ …(23) である。
【0158】以上、まとめると、1.補間点周囲4点の
決定 Bj=int[(t Xν −t X0 )/Δt ]+1 …(16) (j=1、2…L) tXν=arccos(Xν);Xν=X−ΔXν(j−1); Δt=(π−2tX0)/(M−1) Ai=int[(t Yυ −t Y0 )/Δt ]+1 …(21) (i=1、2…W) tYυ=arccos(Yυ);Yυ=Y−ΔYυ(i−1); Δt=(π−2tY0)/(N−1) 2.補間係数Kx,Ky Kx (X u+1 −Xν)/(X u+1 −X │ …(18) (j=1、2…L) X=cos[(Bj−1)Δt+tX0] Xu+1=cos[(BjΔt+tX0Ky (Y u+1 −Yυ)/(Y u+1 −Y │ …(23) (i=1、2…W) Y=cos[(Ai−1)Δt+tY0] Yu+1=cos[(AiΔt+tY0] 従って、補間点vijは、 vij=Ky[Kx×uAi,Bj+(1−Kx)×uAi,Bj+1 ]+ (1−Ky)[Kx×uAi+1,Bj+(1−Kx)×uAi+1,B j+1 ]…(24) (i=1,2,…,L;j=1,2,…,W) となる。
【0159】これら算出値に基づき、画像エンジン13
9は、4点補間法により画像データに補間処理を施して
図35(a)に示す不等空間間隔でサンプリングされた
画像データを図35(b),図35(c)に示すように
データの並び替えを行った後、減衰補正等のSTC処理
を施すようになっている。
【0160】この補間処理は、先ず、図35(b)に示
すように奇数フレームでは、不等空間間隔でサンプリン
グされた画像データを4点補間法により補間抽出を施
す。偶数フレームでは、奇数フレームと同様の補間抽出
を行った後に、図35(c)に示すように折り返し処理
を施して行う。
【0161】このように構成される光イメージング装置
100は、直視型の光プローブ101が装置本体130
に交換可能に着脱自在に接続されて構成される。そし
て、光イメージング装置100は、被検体に光源からの
計測光を照射し、その戻り光の情報から被検体内部の観
察像を構築する。
【0162】この際、光イメージング装置100は、光
プローブ101内のプローブデータ部137が制御部1
35に接続され、プローブデータ部137内のデータが
制御部135に読み込まれる。制御部135は、読み込
んだデータに基づき、必要な計算を行い、各部を制御駆
動することで、接続された光プローブ101に応じた制
御を行う。
【0163】このとき、光イメージング装置100は、
制御部135の制御により信号発生器131が例えば、
図36〜図42に示すタイミングで生成した信号を出力
し、光プローブ101内のXスキャナ114a、Yスキ
ャナ114bを制御駆動する。
【0164】図36は、定常状態における信号発生器1
31のタイミングチャートである。図36(a)は、前
記Yスキャナ114bの駆動信号であるYドライブ信号
の波形を示すグラフである。Yドライブ信号は、上述し
た波形データYscan(N)を元にして生成される。
そして、このYドライブ信号を出力されることで、Yス
キャナ114bは正弦駆動されるようになっている。
尚、このYドライブ信号の1周期は、クロック数Nyc
となる。
【0165】図36(b)は、図36(a)のYドライ
ブ信号により駆動されるYスキャナ114bの奇数フレ
ーム目をオン(Up)とし、偶数フレーム目をオフ(D
oun)とした際のオンオフ(Y−U/D)信号の波形
を示すグラフである。即ち、Y−U/D信号は、Yスキ
ャナ114bの奇数フレーム目でオン(High)とな
り、折り返し駆動されて偶数フレーム目でオフ(Lo
w)となる信号である。尚、Yスキャナ114bのYド
ライブ信号に同期してXスキャナ114aは、下図のA
〜Fの範囲に対応する後述の図36(c)〜図36
(e)に示すように正弦波駆動されるようになってい
る。
【0166】これらXスキャナ114a,Yスキャナ1
14bの駆動により得た画像データをこれらのドライブ
信号に同期して、フレームグラバ136でサンプリング
するためのYトリガー信号(Y−Sync),Xトリガ
ー信号(X−Sync),及びクロック周波数fsは、
図36(c)〜図36(e)に示すように出力される。
【0167】図36(c)に示すYトリガー信号(Y−
Sync)は、Yドライブ信号の最大値から次のクロッ
クNty分ずれたタイミングで出力されるようになって
いる。また、図36(d)に示すXトリガー信号(X−
Sync)も同様に、後述のXドライブ信号の最大値か
ら次のクロックNtx分ずれたタイミングで出力される
ようになっている。尚、1フレームは、Yトリガー信号
(Y−Sync)の出力から次の出力までサンプリング
ライン数Nでサンプリングするようになっている。ま
た、図36(e)に示すクロック周波数fsは、連続ク
ロックであり、Xドライブの位相nπ(n=0,±1,
±2,…)に同期する。尚、クロック周波数fsは、X
ドライブの位相π/2+nπ(n=0,±1,±2,
…)に必ずしも同期する必要がない。
【0168】次に、下図のA〜Fの範囲に対応する図3
7〜図42を用いて更に詳細に説明する。図37はYド
ライブ信号が+の最大値となる際のタイミングチャート
を示し、図38は第1フレーム目(往路)のYトリガー
信号(Y−Sync)が出力される際のタイミングチャ
ートを示し、図39は1フレーム分のサンプリングが終
了する直前のタイミングチャートを示し、図40はYド
ライブ信号が−の最大値となる際のタイミングチャート
を示し、図41は第2フレーム目(復路)のYトリガー
信号(Y−Sync)が出力される際のタイミングチャ
ートを示し、図42は第2フレームのサンプリングが終
了する直前のタイミングチャートを示している。
【0169】また、図37(a)〜図42(a)は、Y
ドライブ信号の波形であり、図37(b)〜図42
(b)はY−U/D信号の波形であり、図37(c)〜
図42(c)はYトリガー信号(Y−Sync)であ
り、図37(d)〜図42(d)はXトリガー信号(X
−Sync)であり、図37(e)〜図42(e)は、
クロック周波数fsの波形である。
【0170】一方、図37(f)〜図42(f)は、X
スキャナ114aの駆動信号であるXドライブ信号の波
形を示すグラフである。このXドライブ信号は、上述し
た波形データXscan(N)を元にして生成される。
そして、このXドライブ信号を出力されることで、Xス
キャナ114aは正弦駆動されるようになっている。
尚、このXドライブ信号の1周期は、クロック数Nxc
となる。また、図37(g)〜図42(g)は、Xスキ
ャナ114aにより走査される光学素子117のX方向
駆動角度を示すグラフである。
【0171】ここで、Yドライブ信号が+の最大値とな
るとき、Y−U/D信号がオンするが、Yスキャナ11
4bの振幅が観測範囲外であるので、Yトリガー信号
(Y−Sync)、Xトリガー信号(X−Sync)は
出力されない。即ち、Yドライブ信号が+の最大値から
Yトリガー信号(Y−Sync)が出力するまで、休止
期間である。
【0172】そして、Y−U/D信号がオンしてクロッ
クNty後、Yドライブ信号は、Yスキャナ114bの
振幅が観測範囲内に入る値となり、Yトリガー信号(Y
−Sync)が出力される。また、このYトリガー信号
(Y−Sync)に同期してクロックNtx後、Xトリ
ガー信号(X−Sync)が出力される。
【0173】すると、信号発生器131は、Yドライブ
信号が−の最大値に近づき、Yスキャナ114bの振幅
が観測範囲外になるまで、有効データ区間として1ライ
ン当たりサンプリングポイント数Mで第Nラインまで1
番目()のフレームのサンプリングを行うようにフレ
ームグラバ136へ信号を出力する。そして、Yドライ
ブ信号が−の最大値に近づき、Yスキャナ114bの振
幅が観測範囲外になると、Xトリガー信号(X−Syn
c)は出力されず、休止期間となる。
【0174】そして、Yドライブ信号が−の最大値とな
り、Yスキャナ114bが折り返して偶数フレーム目を
形成するとき、Yドライブ信号が+の最大値となるとき
と同様にYトリガー信号(Y−Sync)、Xトリガー
信号(X−Sync)は出力されず、Yドライブ信号が
−の最大値からYトリガー信号(Y−Sync)が出力
するまで、休止期間である。
【0175】そして、Y−U/D信号がオンしてクロッ
クNty後、Yドライブ信号は、Yスキャナ114bの
振幅が観測範囲内に入る値となり、Yトリガー信号(Y
−Sync)が出力される。このYトリガー信号(Y−
Sync)に同期して、Xトリガー信号(X−Syn
c)は出力されるが、このXトリガー信号(X−Syn
c)の出力は、Yトリガー信号(Y−Sync)の出力
からクロックNtx後では無く、半波長ずらされて行わ
れる。
【0176】このように制御することで、奇数フレーム
と偶数フレームとのサンプリングポイントのずれをなく
すことができる。そして、信号発生器131は、Yドラ
イブ信号が+の最大値に近づき、Yスキャナ114bの
振幅が観測範囲外になるまで、有効データ区間として1
ライン当たりサンプリングポイント数Mで第Nラインま
で2番目()のサンプリングを行うようにフレームグ
ラバ136へ信号を出力する。
【0177】そして、Yドライブ信号が+の最大値に近
づき、Yスキャナ114bの振幅が観測範囲外になる
と、Xトリガー信号(X−Sync)は出力されず、休
止期間となる。以降、上記動作を繰り返す。
【0178】このようにXスキャナ114a、Yスキャ
ナ114bの駆動により光学素子117で得た画像デー
タは、サンプリングされて、上述した図35(a)に示
すようになる。そして、画像エンジン139は、図35
(a)〜図35(c)で説明したように画像データに上
述した補間処理を施した後、画像化処理部140へ出力
する。そして、画像化処理部140は、表示転送等の信
号処理を施してモニタに出力し、その表示面に観察像
(光イメージング像)を表示させる。
【0179】この結果、本実施の形態の光イメージング
装置100は、歪みのない理想的な画像を得ることが可
能となる。また、本実施の形態の光イメージング装置1
00は、全て同期した動作を実施できるため安定した動
作を実現できる。
【0180】尚、本実施の形態の光イメージング装置1
00は、光学素子117をX方向,Y方向にスキャンす
る表示スキャナを有する場合について説明しているが、
更にZ方向(光軸方向)にスキャンするZスキャンを加
えた3次元表示スキャナを有する場合においても同様に
実施することができることは言うまでもない。
【0181】また、本実施の形態の光イメージング装置
100は、モニタ等の表示装置に表示画素に対する制約
がある場合、L(補間出力データの列数)、W(補間出
力データの行数)の値を基準にスキャンニング、サンプ
リング条件を算出しても良い。
【0182】尚、光イメージング装置は、クロック周波
数fsを細かく設定できる装置とすると高価になってし
まう。そこで、光イメージング装置は、クロック周波数
fsを式(1)で算出された値に最も近い設定値として
その後の計算を実施しても良い。
【0183】また、光イメージング装置は、予め、Nx
c、Nycの値を決めておき、fxとNxcの関係から
fsを決定しても良い。このように構成することで、光
イメージング装置は、信号発生器131の構造を単純化
することができる。
【0184】尚、上記第1の実施の形態に示したタイミ
ングチャートは、Xスキャナ114a,Yスキャナ11
4bがきれいに正弦波駆動しているが、これらスキャナ
の特性によっては、図43に示すように理想的振動をせ
ずに歪みを有する駆動周波数で駆動される場合がある。
【0185】この場合、光イメージング装置100は、
プローブデータ部137にスキャニング特性を近似式と
して記録しておく。例えば、この近似式は、5次の近似
式として表される。 X=a+a+a+a+a…(25a) Y=b+b+b+b+b…(25b) ここで、Xは視野方向の位置を表し、tはスキャニング
周期の位相を表し、a 〜aは近似係数を表してい
る。
【0186】光イメージング装置100は、補間式を上
記近似式に置き換えることで、補間係数を算出すること
ができる。これにより、本変形例は、スキャニングが理
想的にならない歪みをもった運動する場合にも歪みにな
い画像を得ることができる。
【0187】また、光イメージング装置100は、Xス
キャナ114aによる正弦波駆動の片道のみでスキャニ
ングを行うように構成しているが、正弦波の一周期に往
復2回スキャンする構成も考えられる。この場合、光イ
メージング装置100は、波形の生成について、Xトリ
ガー信号(X−Sync)をX駆動波形が1周期の間に
2回(位相はπずれた位置)生成させれば良い。
【0188】光イメージング装置100は、制御部13
5で以下に示す行列式を用い、フレームグラバ136に
てスキャニングの偶数行のデータを予め並べ替え後、画
像エンジン139に出力するようにしている。
【0189】
【式26】 ここで、N21…N2Mは2行目の入力データの値を表
し、N’21…N’ は変換後のデータ値を表し、M
は1ライン当たりのサンプリングポイント数を表してい
る。これにより、本変形例は、スキャニングに対してサ
ンプリングしている時間を長く取ることができるので、
高速なスキャンニングが可能となる。
【0190】(第5の実施の形態)図44及び図45は
本発明の第5の実施の形態に係り、図44は第5の実施
の形態の光イメージング装置の概略構成を示す回路ブロ
ック図、図45は図44の光イメージング装置の変形例
を示す回路ブロック図である。上記第4の実施の形態
は、光プローブ101にプローブデータ部を設けて固有
データを保持させたが、本第5の実施の形態は、使用す
るプローブのデータを制御部135に入力し保存するよ
うに構成する。それ以外の構成は、上記第4の実施の形
態と同様なので説明を省略し、同じ構成には同じ符号を
付して説明する。
【0191】即ち、図44に示すように第5の実施の形
態の光イメージング装置100Bは、制御部135bに
例えば、HDD(ハードディスクドライブ)等の不揮発
性のメモリで形成されるプローブデータデータベース1
51を設けて構成される。このプローブデータデータベ
ース151は、使用する光プローブ101のデータを入
力し保存可能であり、接続されるキーボード等の入力装
置152で数値を設定入力されることで、光プローブ1
01のデータを格納するようになっている。尚、このプ
ローブデータデータベース151は、フロッピー(登録
商標)等の他の記憶手段からデータをコピーするように
しても良い。
【0192】このように構成される光イメージング装置
100Bは、操作者が装着された光プローブ101に基
づいて入力装置152を操作し、プローブデータデータ
ベース151から所望のプローブのデータを呼び出す。
すると、制御部135は、上記第4実施の形態と同様に
画像エンジン139、信号発生器131、フレームグラ
バ136に設定数を出力し、観測状態を整える。その
後、操作者は、光イメージング装置100Bを操作して
スキャニングを開始し観察を開始する。
【0193】そして、上記第4の実施の形態と同様に光
イメージング装置100Bは、動作し、ゆがみのない画
像を得ることが可能である。これにより、本第5の実施
の形態の光イメージング装置100Bは、光プローブ1
01にメモリを積んでない場合でも最適な駆動条件を容
易に設定可能である。
【0194】尚、光イメージング装置は、図45に示す
ように構成しても良い。図45に示すように光イメージ
ング装置100Cは、光プローブ101Cにプローブ形
式とプローブのシリアルNo.が記録されたメモリ部1
53を設けて構成されている。
【0195】このように構成される光イメージング装置
100Cは、光プローブ101Cが接続されると、制御
部135が光プローブ101Cのメモリ部153からプ
ローブ形式、シリアルNo.を読み取る。その後、制御
部135は、プローブデータデータベース151から同
プローブの設定情報を選択し、画像エンジン139、フ
レームグラバ136、信号発生器131、光検出部13
4の設定値を算出し、この算出したデータを出力して動
作条件を設定する。その後、操作者は、光イメージング
装置100Cを操作してスキャニングを開始し観察を開
始する。これにより、本変形例の光イメージング装置1
00Cは、光プローブに設けるメモリを小さいものにし
た上で、自動設定が実施でき操作性が向上する。
【0196】(第6の実施の形態)図46ないし図48
は本発明の第6の実施の形態に係り、図46はほぼ同じ
共振周波数でXスキャナとYスキャナとを駆動する際の
駆動周波数の波形を示すグラフ、図47は図46の駆動
周波数で駆動されるXスキャナとYスキャナとのスキャ
ンニングパターンを示すグラフ、図48は図47のスキ
ャンニングを続けた場合に得られるサンプリングポイン
トを示すグラフである。
【0197】本第6の実施の形態は、Xスキャナ114
aとYスキャナ114bとをほぼ同じを共振周波数で駆
動するように構成する。それ以外の構成は、上記第4の
実施の形態と同様なので説明を省略し、同じ構成には同
じ符号を付して説明する。
【0198】即ち、本第6の実施の形態の光イメージン
グ装置は、Yスキャナ114bの駆動周波数fyを、X
スキャナ114aの駆動周波数fxに近い、少しだけ違
う値に設定する。例えば、光イメージング装置は、図4
6に示すようにXスキャナ114aを10kHzの駆動
周波数で駆動し、Yスキャナ114bを11kHzの駆
動周波数で駆動したとすると、1kHz毎にうねりが生
じる。
【0199】そして、Xスキャナ114aとYスキャナ
114bとの位置関係を時間軸で追っていくと、このう
ねりにより図47に示すようなスキャンニングパターン
を描いてスキャニングが行われる。このスキャンニング
は、1kHz間で行うと、図48に示すようなサンプリ
ングポイントにより画像データを得られる。尚、このス
キャンニングとサンプリングポイントとの関係は、上記
第4の実施の形態で説明したのと同様である。
【0200】先ず、制御部135は、上述のようにXス
キャナ114aの駆動周波数fxに近い、少しだけ違う
値に設定したYスキャナ114bの駆動周波数fyをf
y0とする。そして、制御部135は、Yスキャナ11
4bの位相差情報を参照し、駆動波形の位相を設定する
と共に、フレームレートをfx−fyとする。
【0201】すると、1周期のサンプリングポイント数
は、(fy−fy )/fsとなるが、X画像化範囲P
x、Y画像化範囲Pyの範囲内に入っているデータのみ
取得すれば良い。これらX画像化範囲Px、Y画像化範
囲Pyの範囲内に入っているデータに基づき、制御部1
35は、画像データを取得するためのトリガーパターン
をフレームグラバ136に出力し、クロックイネーブル
の区間のみサンプリングを実施する。
【0202】そして、フレームグラバ136は、サンプ
リングした時系列の画像データを1フレームずつ次段の
メモリ138へ一時格納し、画像エンジン139に出力
する。そして、画像エンジン139は、メモリ138か
らの画像データを時系列データから、空間マッピングさ
れた画像データにテーブル変換する。
【0203】その後、テーブル変換された画像データ
は、画像エンジン139で上記第4実施の形態と同様に
補間処理を施され、画像化処理部140で表示処理等を
施された後、図示しないモニタに出力される。
【0204】この結果、本第6の実施の形態の光イメー
ジング装置は、Yスキャナ114bをXスキャナ114
aに近い共振周波数で駆動しているので、Yスキャナに
おいても低い駆動電圧で高いスキャンニング振幅を得ら
れるので、システムとして低い電圧でも駆動させること
が可能であり、フレームレートを高速化して広い範囲の
スキャンニングが実現できる。
【0205】(第7の実施の形態)図49ないし図61
は本発明の第7の実施の形態に係り、図49は第7の実
施の形態の光イメージング装置の要部概略を示す回路ブ
ロック図、図50は図49のD/A入力値変換マトリク
スに入力される特性データのグラフであり、図50
(a)は光路長Lに対する戻り光量の特性を示すグラ
フ、図50(b)は焦点距離Dに対する戻り光量の特性
を示すグラフ、図50(c)は開口数NAに対する戻り
光量の特性を示すグラフ、図51はゲイン調整処理を示
すフローチャート、図52は図49の光イメージング装
置の変形例を示す回路ブロック図、図53はゲイン調整
レベルの算出パターンを示す説明図であり、図53
(a)は特定の1フレーム全領域を対象としてゲイン調
整レベルを算出する算出パターンを示す説明図、図53
(b)は複数連続フレームの全領域を対象としてゲイン
調整レベルを算出する算出パターンを示す説明図、図5
3(c)は複数フレームの特定間隔毎のフレーム全領域
を対象としてゲイン調整レベルを算出する算出パターン
を示す説明図、図53(d)は特定の1フレームの特定
領域を対象としてゲイン調整レベルを算出する算出パタ
ーンを示す説明図、図53(e)は複数連続フレームの
特定領域を対象としてゲイン調整レベルを算出する算出
パターンを示す説明図、図53(f)は複数フレームの
特定間隔毎のフレームの特定領域を対象としてゲイン調
整レベルを算出する算出パターンを示す説明図、図54
はゲイン調整処理を示すフローチャート、図55は図5
4のゲイン算出処理を示すフローチャート、図56は図
55の処理aを示すフローチャート、図57は図55の
処理bを示すフローチャート、図58は図55の処理c
を示すフローチャート、図59は図55の処理dを示す
フローチャート、図60は図55の処理eを示すフロー
チャート、図61は図55の処理fを示すフローチャー
トである。
【0206】本第7の実施の形態は、光検出部の受光感
度を調整するためのゲイン調整手段を設けて構成する。
それ以外の構成は、上記第4の実施の形態と同様なので
説明を省略し、同じ構成には同じ符号を付して説明す
る。
【0207】即ち、図49に示すように第7の実施の形
態の光イメージング装置は、光検出部202の受光感度
を調整するためのゲイン調整部203を制御部201内
に設けて構成される。
【0208】光検出部202は、光検出素子117で光
プローブ101からの戻り光を光電変換して電気信号を
得、この電気信号を可変ゲインAMP204でゲイン調
整して、図示しないBPF(バンドパスフィルタ)で所
定の帯域のみ通過させてフレームグラバ136へ出力す
るようになっている。
【0209】ゲイン調整部203は、プローブデータ部
137から入力される光路長L、焦点距離D、開口数N
A等の特性データをマトリクスデータに変換すると共
に、このマトリクスデータを乗算してゲイン調整のため
の係数補正値としてゲイン調整レベルを算出するD/A
入力値変換マトリクス211と、このD/A入力値変換
マトリクス211で算出されたゲイン調整レベルをD/
A変換し、電圧値として光検出部の可変ゲインAMP2
04の入力部に出力するD/A変換器212とを有して
構成される。
【0210】D/A入力値変換マトリクス211に入力
される特性データは、光路長L、焦点距離D、開口数N
Aに対する光プローブ101からの戻り光量を示す例え
ば、図50(a)〜図50(c)のグラフに示すような
数値である。図50(a)に示すグラフは、光路長Lに
対する光プローブ101からの戻り光量の特性を表して
いる。また、図50(b)に示すグラフは、焦点距離D
に対する光プローブ101からの戻り光量の特性を表し
ている。また、図50(c)に示すグラフは、開口数N
Aに対する光プローブ101からの戻り光量の特性を表
している。
【0211】このように構成される光イメージング装置
は、上記第4の実施の形態で説明したのと同様に、光プ
ローブ101を装置本体に着脱自在に接続すると、プロ
ーブデータ部137が制御部201に接続されてこの制
御部201でプローブデータ部137からのデータが読
み込まれる。すると、制御部201は、図51に示すフ
ローチャートに従い、光検出部のゲイン調整処理を行
う。
【0212】図51に示すように制御部201は、D/
A入力値変換マトリクス211で特性データ(光路長
L、焦点距離D、開口数NA)をプローブデータ部13
7から取得する(ステップS1)。制御部201は、D
/A入力値変換マトリクス211で特性データをマトリ
クスデータに変換すると共に、このマトリクスデータを
乗算してゲイン調整レベルを算出する(ステップS
2)。
【0213】そして、制御部201は、D/A変換器2
12でゲイン調整レベルを例えば、0〜2Vまでのアナ
ログ電圧値に変換する(ステップS3)。次に、制御部
201は、光検出部の可変ゲインAMP204の可変ゲ
イン入力部にアナログ電圧値を出力して、可変ゲインA
MP204でのゲイン調整を行い(ステップS4)、ゲ
イン調整処理が終了となる(ステップS5)。
【0214】これにより、本第7の実施の形態の光イメ
ージング装置は、光検出部のゲイン調整が可能となり、
光プローブ101を交換して光路長等の光学特性が変化
しても最適な受光感度を実現することができる。
【0215】尚、本実施の形態の光イメージング装置
は、用いられるD/A変換器212が電圧出力タイプで
あるが、電流出力タイプのD/A変換器212及びI−
V変換器を用いても良い。また、本実施の形態の光イメ
ージング装置は、D/A変換器212の代わりにアナロ
グスイッチによる抵抗値の切り換えにより、可変ゲイン
AMP204の可変ゲイン入力部への入力値を設定する
ようにしても良い。また、本実施の形態の光イメージン
グ装置は、可変ゲインAMP204の代わりに汎用のA
MPを用い、このAMPの帰還抵抗の比を可変に構成し
ても良い。
【0216】尚、光イメージング装置は、図52に示す
ように構成しても良い。図52に示すように光イメージ
ング装置は、プローブデータ部137から入力される光
路長L、焦点距離D、開口数NA等の特性データをマト
リクスデータに変換すると共に、このマトリクスデータ
を乗算して輝度値を算出するD/A入力値変換マトリク
ス211bと、この算出した輝度値をフレームによる算
出パターンに基づいてゲイン調整レベルを算出し、D/
A変換器212に出力するゲイン算出部213を有する
ゲイン調整部203Bを設けて構成される。
【0217】ここで、算出パターンは、図53(a)〜
図53(f)に示されるようなものがある。図53
(a)に示す算出パターンは、特定の1フレーム全領域
を対象としてゲイン調整レベルを算出するものである。
また、図53(b)に示す算出パターンは、複数連続フ
レームの全領域を対象としてゲイン調整レベルを算出す
るものである。また、図53(c)に示す算出パターン
は、複数フレームの特定間隔毎のフレーム全領域を対象
としてゲイン調整レベルを算出するものである。
【0218】また、図53(d)に示す算出パターン
は、特定の1フレームの特定領域を対象としてゲイン調
整レベルを算出するものである。また、図53(e)に
示す算出パターンは、複数連続フレームの特定領域を対
象としてゲイン調整レベルを算出するものである。ま
た、図53(f)に示す算出パターンは、複数フレーム
の特定間隔毎のフレームの特定領域を対象としてゲイン
調整レベルを算出するものである。
【0219】制御部201は、図53(a)〜図53
(f)に示される算出パターンに基づいて、図54に示
すフローチャートに従い、光検出部のゲイン調整処理を
行うようになっている。図54に示すように制御部20
1は、D/A入力値変換マトリクス211bで特性デー
タ(光路長L、焦点距離D、開口数NA)をプローブデ
ータ部137から取得する(ステップS1’)。
【0220】制御部201は、D/A入力値変換マトリ
クス211bで特性データをマトリクスデータに変換す
ると共に、このマトリクスデータを乗算して輝度値を算
出する(ステップS2’)。そして、制御部201は、
図55に示すゲイン算出処理を行う(ステップS1
0)。そして、制御部201は、D/A変換器212で
ゲイン調整レベルを例えば、0〜2Vまでのアナログ電
圧値に変換する(ステップS3’)。
【0221】次に、制御部201は、光検出部の可変ゲ
インAMP204の可変ゲイン入力部にアナログ電圧値
を出力して、可変ゲインAMP204でのゲイン調整を
行い(ステップS4’)、ゲイン調整処理が終了となる
(ステップS5’)。
【0222】次に、図55のフローチャートを用いて、
ゲイン算出部213によるゲイン算出処理(ステップS
10)を説明する。図55に示すようにゲイン算出部2
13は、算出パターンによるゲイン算出処理を実行する
か否かを判断し(ステップS11)、ゲイン算出処理を
実行する場合、算出パターンがどのパターンであるかを
判断する(ステップS12〜S17)。
【0223】ここで、ゲイン算出部213は、ゲイン算
出処理を実行しない場合、或いは算出パターンがどれに
も該当しない場合、ゲイン調整レベルを例えば、8ビッ
トの場合、0〜255に正規化し(ステップS18)、
ゲイン算出処理を終了する(ステップS19)。
【0224】一方、ゲイン算出部213は、算出パター
ンが該当するいずれかのパターンであることを判断した
場合、該当するパターンに応じて処理a〜処理f(ステ
ップS20〜S70)を実行し、S11に戻るようにな
っている。
【0225】処理a〜処理f(ステップS20〜S7
0)は、図56〜図61のフローチャートに示される。
図56に示すように処理aとして、ゲイン算出部213
は、特定の1フレーム全領域を対象として、対象領域中
の輝度値の最大値、最小値を検出して中央値を算出する
(ステップS21)。
【0226】次に、ゲイン算出部213は、算出した中
央値をD/A変換器212に出力し(ステップS2
2)、処理aを終了する(ステップS23)。尚、ゲイ
ン算出処理は、中央値の代わりに平均値、或いは輝度値
の特性に基づいて算出される値でも良い。以降のフロー
チャートでも同様である。
【0227】また、図57に示すように処理bとして、
ゲイン算出部213は、特定の1フレーム全領域を対象
として処理aを実行し(ステップS20)、処理終了か
否かを判断し(ステップS31)、終了でないなら算出
対象データを次フレームに移行し(ステップS32)、
ステップS20に戻る。一方、処理終了ならば、ゲイン
算出部213は、処理bを終了する(ステップS3
3)。
【0228】また、図58に示すように処理cとして、
ゲイン算出部213は、対象フレームが特定されている
か否かを判断し(ステップS41)、特定されているな
らば、特定のフレーム全領域を対象として処理aを実行
し(ステップS20)、次に、算出対象データを次フレ
ームに移行し(ステップS42)、ステップS20に戻
る。一方、対象フレームが特定されていないならば、ゲ
イン算出部213は、処理cを終了する(ステップS4
3)。
【0229】また、図59に示すように処理dとして、
ゲイン算出部213は、特定フレームの特定領域を対象
として、対象領域(x1,y1),(x2,y2)を特
定し(ステップS51)、この特定した対象領域に処理
aを実行し(ステップS20)、処理dを終了する(ス
テップS52)。
【0230】また、図60に示すように処理eとして、
ゲイン算出部213は、特定の1フレームの特定領域を
対象として、対象領域(x1,y1),(x2,y2)
を特定し(ステップS61)、この特定した1フレーム
の対象領域に処理bを実行し(ステップS30)、処理
eを終了する(ステップS62)。
【0231】また、図61に示すように処理fとして、
ゲイン算出部213は、特定フレームの特定領域を対象
として、対象領域(x1,y1),(x2,y2)を特
定し(ステップS71)、この特定した特定フレームの
対象領域に処理cを実行し(ステップS40)、処理f
を終了する(ステップS72)。
【0232】これにより、本変形例の光イメージング装
置は、上記第7の実施の形態と同様な効果を得ることに
加え、更にフレームによる算出パターンに基づいてゲイ
ン算出を行うので更に最適な受光感度を実現することが
できる。
【0233】(第8の実施の形態)図62ないし図65
は本発明の第8の実施の形態に係り、図62は第8の実
施の形態の光イメージング装置の要部概略を示す回路ブ
ロック図、図63は図62のBPF(バンドパスフィル
タ)の周波数特性を示すグラフ、図64はフィルタ調整
処理を示すフローチャート、図65は入力信号xに対す
る出力信号yのγ補正を示すグラフである。
【0234】本第8の実施の形態は、光検出部の遮断周
波数(カットオフ周波数)を調整するためのフィルタ調
整手段を設けて構成する。それ以外の構成は、上記第4
の実施の形態と同様なので説明を省略し、同じ構成には
同じ符号を付して説明する。
【0235】即ち、図62に示すように第8の実施の形
態の光イメージング装置は、光検出部202の遮断周波
数(カットオフ周波数)を調整するためのフィルタ調整
部220を制御部201内に設けて構成される。
【0236】光検出部202は、上記第4の実施の形態
で説明したのとほぼ同様に光検出素子117で光プロー
ブ101からの戻り光を光電変換して電気信号を得、こ
の電気信号を上記第7の実施の形態で説明した可変ゲイ
ンAMP204でゲイン調整して、BPF(バンドパス
フィルタ)230で所定の帯域のみ通過させてフレーム
グラバ136へ出力するようになっている。
【0237】BPF230は、フィルタ調整部220か
ら出力される係数データ(正規化値)に基づき、可変ゲ
インAMP204からの電気信号に対して低域の信号を
遮断(カットオフ)するLPF(ローパスフィルタ)2
31と、このLPF231で低域の信号を遮断された電
気信号に対して、LPF231と同様にフィルタ調整部
220から出力される係数データ(正規化値)に基づ
き、高域の信号を遮断(カットオフ)するHPF(ハイ
パスフィルタ)232とから構成される。
【0238】LPF231は、可変ゲインAMP204
からの電気信号をD/A変換し、フィルタ調整部220
から出力される係数データ(正規化値)に応じた電流値
を出力するL側D/A変換器233aと、このL側D/
A変換器233aからの電流値をI−V(電流値−電圧
値)変換するI−V変換器234と、このI−V変換器
234からの電流値を低周波のみ通過させるコンデンサ
とを有して構成される。
【0239】一方、HPF232は、可変ゲインAMP
204からの電気信号をD/A変換し、フィルタ調整部
220から出力される係数データ(正規化値)に応じた
電流値を出力するH側D/A変換器233bと、このH
側D/A変換器233bからの電流値に基づき、LPF
231で低域の信号を遮断された電気信号に対して高周
波のみ通過させるコンデンサCとを有して構成され
る。
【0240】フィルタ調整部220は、プローブデータ
部137から入力されるスキャナの駆動周波数f(X駆
動周波数V,Y駆動周波数V)、視野範囲w(X視
野範囲l,Y視野範囲l)、光学分解能r等の特性
データからLPF遮断周波数f及びHPF遮断周波数
を算出するフィルタ遮断周波数演算部221と、フ
ィルタ遮断周波数演算部221で算出されたLPF遮断
周波数fを正規化し、低域遮断周波数調整のための係
数データとして正規化値を出力するL側正規化部222
aと、フィルタ遮断周波数演算部221で算出されたH
PF遮断周波数fを正規化し、高域遮断周波数調整の
ための係数データとして正規化値を出力するH側正規化
部222bとを有して構成される。
【0241】ここで、BPF230は、例えば、図63
に示すような周波数特性を有する。図63に示すように
この周波数特性は、ほぼガウシアン分布を呈する。BP
F230の中心周波数fcは、視野範囲w、スキャナの
駆動周波数f、光学分解能rを用いて、 fc=2×w×f/r …(27) である。従って、BPF230のバンド幅Δfは、 Δf=0.882×fc …(28) となる。
【0242】これら中心周波数fc及びバンド幅Δfを
用いて、LPF遮断周波数f、HPF遮断周波数f
を算出するようになっている。尚、上記中心周波数fc
及びバンド幅Δfの算出に用いた係数2及び0.882
は、適宜変更可能である。
【0243】このように構成される光イメージング装置
は、上記第4の実施の形態で説明したのと同様に、光プ
ローブ101を装置本体に着脱自在に接続すると、プロ
ーブデータ部137が制御部201に接続されてこの制
御部201でプローブデータ部137からのデータが読
み込まれる。すると、制御部201は、図64に示すフ
ローチャートに従い、光検出部のフィルタ調整処理(遮
断周波数調整処理)を行う。
【0244】図64に示すように制御部201は、フィ
ルタ遮断周波数演算部221で特性データ(スキャナの
駆動周波数f、視野範囲w、光学分解能r)をプローブ
データ部137から取得する(ステップS81)。制御
部201は、フィルタ遮断周波数演算部221でBPF
230の中心周波数fcを算出する(ステップS8
2)。
【0245】次に、制御部201は、フィルタ遮断周波
数演算部221で中心周波数fcからBPF230のバ
ンド幅Δfを算出する(ステップS83)。そして、制
御部201は、フィルタ遮断周波数演算部221で中心
周波数fc及びバンド幅Δfを用いてLPF遮断周波数
を算出する(ステップS84)と共に、HPF遮断
周波数fを算出する(ステップS85)。
【0246】次に、制御部201は、L側D/A変換器
233aの内部抵抗RとCとで定まる遮断周波数1
/(2πR)となるようにLPF遮断周波数f
を例えば、8ビットの場合、0〜255の値に正規化す
る(ステップS86)と共に、H側D/A変換器233
bの内部抵抗RとCとで定まる遮断周波数1/(2
πR)となるようにHPF遮断周波数fを例え
ば、8ビットの場合、0〜255の値に正規化する(ス
テップS87)。
【0247】次に、制御部201は、可変ゲインAMP
204からの電気信号をLPF231のL側D/A変換
器233aの基準電圧入力部に入力させ、LPF遮断周
波数fの正規化値に応じた電流値をI−V変換器23
4へ出力させる(ステップS88)。
【0248】そして、I−V変換器234は、L側D/
A変換器233aからの電流値をI−V(電流値−電圧
値)変換し、コンデンサCは、I−V変換器234か
らの電流値を低周波のみ通過させて、BPF230のコ
ンデンサCへ出力させる(ステップS89)。そし
て、コンデンサCは、コンデンサCでからの電気信
号に対して、高周波のみ通過させて、フレームグラバ1
36へ出力させ(ステップS90)、フィルタ調整処理
が終了となる(ステップS91)。
【0249】これにより、本第8の実施の形態の光イメ
ージング装置は、光プローブ101を交換しても最適な
フィルタ調整(遮断周波数調整)を実現することができ
る。尚、本実施の形態の光イメージング装置は、用いら
れるD/A変換器212が電流出力タイプであるが、電
圧出力タイプのD/A変換器212及びアナログ乗算器
を用いて、I−V変換器234のゲインを可変とし、遮
断周波数を調整するように構成しても良い。
【0250】また、本実施の形態の光イメージング装置
は、D/A変換器212の代わりにアナログスイッチに
よる抵抗値の切り換えにより、遮断周波数を調整するよ
うに構成しても良い。また、本実施の形態の光イメージ
ング装置は、D/A変換器212の内部抵抗Rとコンデ
ンサCとでフィルタを構成しているが、内部抵抗Rとコ
イルL、或いは内部抵抗RとコイルLとコンデンサCと
の組み合わせ、I−V変換器234の有無等、既知のフ
ィルタで構成しても良い。
【0251】尚、フレームグラバ136からメモリ13
8を介して画像エンジン139に入力される信号は、図
65に示す関数を用いたγ補正を行って図示しないモニ
タの表示面に表示させるようになっている。このγ補正
は、図65に示すように入力信号xに対して出力信号y
が y=xγ …(29) となる関数を用いている。
【0252】尚、このγ値は、0<γ<1の値を取り、
例えば0.45など予め算出した生体情報からの信号が
最適に表示される値を用いる。また、図65中、信号デ
ータは、階調を8ビット(0−255)としているが、
より高階調としても良い。
【0253】尚、本発明は、以上述べた実施の形態のみ
に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範
囲で種々変形実施可能である。
【0254】[付記] 1.被検体に低干渉性光を照射し、前記被検体から反射
・散乱した反射・散乱光の情報から前記被検体の断層像
を構築する光イメージング装置であって、前記低干渉性
光を発生する光源と、前記低干渉性光を計測光と参照光
に二分岐させる光分岐手段と、前記計測光を被検体に伝
送・受光するための交換可能な光コネクタ部を持つ光プ
ローブ部と、前記光プローブと接続し、前記計測光を被
検体に対して走査させるスキャニング駆動手段と、前記
被検体で反射・散乱された計測光と干渉する前記参照光
の光路長を調整する光ディレイ手段と、前記計測光と前
記参照光の光学特性を調整する光学系調整手段と、前記
受信光と参照光との干渉光を検出する光検出手段と、前
記光検出手段が検出した信号を処理し、前記被検体の断
層画像を生成する画像生成手段と、前記被検体の断層画
像の表示パラメータを調整する画像表示調整手段とを有
する光イメージング装置において、前記光プローブに該
光プローブの特徴情報を保持する情報保持手段と前記光
プローブの情報を検知する情報検知手段を設け、前記情
報検知手段からの検知情報により、前記スキャニング駆
動手段、前記光学系調整手段、及び前記画像表示調整手
段の少なくとも何れか一つを制御する制御手段を備えた
ことを特徴とする光イメージング装置。 (付記1、12〜15の背景)従来技術の欄に記載。 (付記1、12〜15の目的)発明の目的に記載。
【0255】2.付記1において、前記計測光を被検体
に対して走査させる前記スキャニング駆動手段が前記光
プローブの出光部を走査させるプローブスキャニング駆
動手段であることを特徴とする。 3.付記2において、前記プローブスキャニング駆動手
段が、前記光プローブを光プローブの軸方向に対して進
退走査させる駆動手段であることを特徴とする。 4.付記2において、前記プローブスキャニング駆動手
段が、前記光プローブを光プローブの軸方向を中心に回
転走査させる駆動手段であることを特徴とする。 (付記2〜4、6〜11の背景)従来技術の欄に記載。 (付記2〜4、6〜11の目的)発明の目的(請求項2
の目的と同じ。
【0256】5.付記1において、前記光学系調整手段
が、前記計測光と前記参照光の光路長差を調整する手段
であることを特徴とする。 (付記5に対する背景)一般に、OCT技術には、計測
光の光路長と参照光の光路長との差は一定な範囲以内に
限り、干渉が起きる。従来技術の特開平11−1488
97では、光走査プローブを交換して使用した場合にお
ける各々の光プローブの長さのバラツキを考慮し、装置
内の光学系の中で前記長さのバラツキを補正する光路長
調整手段を設けることが提案されている。 (付記5の目的)光路長のバラツキにある光プローブの
光路長情報の自動検知により、光路調査を自動的に調整
する光イメージング装置を提供する。
【0257】6.付記1において、前記画像表示手段は
前記情報検知手段からの検知情報に基いて、前記被検体
断層画像及び表示情報を調整することを特徴とする。 7.付記6において、前記検知情報が光プローブの走査
方式であって、前記画像表示調整手段が前記走査方式に
対応した前記被検体断層画像を調整することを特徴とす
る。 8.前記付記7において、前記走査方式がリニア走査方
式であり、前記画像調整手段が前記被検体断層画像をリ
ニア画像表示にすることを特徴とする。
【0258】9.前記付記7において、前記走査方式が
ラジアル走査方式であり、前記画像調整手段が前記被検
体断層画像をラジアル画像表示にすることを特徴とす
る。 10.付記6において、前記検知情報が前記光プローブ
の焦点距離であって、前記画像表示調整手段が前記被検
体断層画像上に、前記光プローブの前記焦点距離に対応
した位置に焦点位置マーカを表示させることを特徴とす
る。 11.付記6において、前記検知情報が前記光プローブ
のシース径であって、前記画像表示調整手段が前記被検
体断層画像上に、前記光プローブのシース径に対応した
位置に前記シースの像を定位させることを特徴とする。
【0259】12.付記1において、前記光プローブの
特徴情報を保持する情報保持手段と前記特徴情報を検知
する情報検知手段が非接触的に反応・感知する手段から
なることを特徴とする。 13.付記12において、前記情報保持手段は遮光手段
であり、前記情報保持手段を非接触的に検知する前記情
報検知手段は光発光・受光手段であることを特徴とす
る。 14.付記1において、前記光プローブの特徴情報を保
持する情報保持手段と前記特徴情報を検知する情報検知
手段が非接触的に反応・感知する手段からなることを特
徴とする。 15.付記14において、前記情報保持手段は電気的な
メモリであり、前記情報保持手段を接触的に検知する前
記情報検知手段は電気コネクタであることを特徴とす
る。
【0260】16.光源からの光束を照射し、被検体か
らの戻り光の情報からこの被検体の観察像を構築する光
イメージング装置において、前記光源からの光束を被検
体に伝達すると共に、この被検体からの戻り光を受光す
るための交換可能な光プローブと、前記光源及び、前記
被検体からの戻り光を受光して電気信号に変換するため
の受光手段を有し、前記光プローブが着脱自在に装着可
能な装置本体と、前記装置本体に装着された光プローブ
の特性を検知する検知手段と、前記検知手段で検知した
前記光プローブの特性に応じて、この光プローブの制御
条件を設定する設定手段と、を具備したことを特徴とす
る光イメージング装置。
【0261】17.光源からの光束を照射し、被検体か
らの戻り光の情報からこの被検体の観察像を構築する光
イメージング検出方法において、前記光源からの光束を
被検体に伝達すると共に、この被検体からの戻り光を受
光するための交換可能な光プローブと、前記光源からの
光束を被検体に伝達し受光するための交換可能な光プロ
ーブと、前記光源及び、前記被検体からの戻り光を受光
して電気信号に変換するための受光手段を有し、前記光
プローブが着脱自在に装着可能な装置本体と、前記装置
本体に装着された光プローブの特性を検知する検知手段
と、を具備した光イメージング装置を用いて、前記検知
手段で検知した前記光プローブの特性に応じて、この光
プローブの制御条件を設定することを特徴とする光イメ
ージング検出方法。
【0262】18.光源からの光束を被検体に伝達する
と共に、この被検体からの戻り光を受光するための光プ
ローブにおいて、装置本体に着脱自在に接続されて読み
出されるための特性条件を記録する記憶手段設けたこと
を特徴とする光プローブ。
【0263】19.付記16において、前記光源からの
光束を走査する少なくとも1つのスキャニング手段と、
前記スキャニング手段を駆動しタイミング信号を発生す
る信号発生手段と、前記光プローブの特性情報を記録す
る記憶手段と、前記光源からの光束を前記被検体に照射
し、この被検体からの戻り光を前記受光手段に導光する
ための光学系と、前記受光手段からの電気信号を保存す
るメモリ手段と、前記メモリ手段に保存されたデータを
変換し画像信号を生成する画像信号生成手段と、前記記
憶手段のデータに基づき、前記画像信号生成手段又は前
記信号発生手段の少なくともいずれか一方の設定を変化
させる制御手段と、を有することを特徴とする光イメー
ジング装置。
【0264】20.付記17において、前記記憶手段か
らデータを読み出す読出工程と、前記読出工程で読み出
したデータから前記光プローブの制御条件を算出する算
出工程と、前記算出工程で算出した制御条件を設定する
設定工程と、前記設定工程で設定した制御条件に基づ
き、前記光プローブを制御駆動する制御駆動工程と、前
記制御駆動工程で駆動された光プローブで得た画像デー
タを表示処理する表示処理工程と、を具備したことを特
徴とする光イメージング検出方法。
【0265】21.付記19において、前記スキャニン
グ手段、前記記憶手段、前記光学系の少なくとも一部が
前記光プローブに構成され、この光プローブが前記画像
信号生成手段又は前記信号発生手段の少なくともいずれ
か一方に対して着脱自在に構成されたことを特徴とする
光イメージング装置。
【0266】22.付記19において、前記画像信号生
成手段が、補間手段を有することを特徴とする光イメー
ジング装置。 23.付記19において、前記制御手段が、前記記憶手
段に記憶される情報に基づき、前記信号発生手段のデー
タを設定することを特徴とする光イメージング装置。 24.付記19において、前記スキャニング手段を、機
械的共振周波数で駆動することを特徴とする光イメージ
ング装置。
【0267】25.付記19において、前記受光手段の
受光感度を調整するゲイン調整手段を設けたことを特徴
とする光イメージング装置。 26.付記19において、前記メモリ手段への電気信号
の帯域調整を行うためのフィルタ調整手段を設けたこと
を特徴とする光イメージング装置。 27.付記19において、前記画像信号生成手段は、入
力信号xに対し、出力信号y=xγを出力することを特
徴とする光イメージング装置。
【0268】28.付記19又は付記21において、前
記記憶手段に記憶される情報に、少なくとも1つのスキ
ャナを駆動するための駆動周波数、駆動電圧、オフセッ
ト電圧、画像化範囲の少なくともいずれか一つが含まれ
ることを特徴とする光イメージング装置。
【0269】29.付記21において、前記記憶手段に
記憶される情報に、プローブ形式又はシリアルナンバの
少なくともいずれか一方が含まれることを特徴とする光
イメージング装置。 30.付記22において、前記制御手段が、前記記憶手
段に記憶される情報に基づき、前記補間手段のデータを
設定することを特徴とする光イメージング装置。
【0270】31.付記23において、前記信号発生手
段のデータが、前記スキャニング手段を駆動するための
駆動波形の振幅であることを特徴とする光イメージング
装置。 32.付記23において、前記信号発生手段のデータ
が、前記スキャニング手段を駆動するための駆動波形の
周波数であることを特徴とする光イメージング装置。
【0271】33.付記23において、前記信号発生手
段のデータが、前記スキャニング手段を駆動するための
駆動波形であることを特徴とする光イメージング装置。 34.付記23において、前記信号発生手段は、クロッ
ク発生部を有し、前記信号発生手段のデータが、前記ク
ロック発生部で発生したクロック周波数であることを特
徴とする光イメージング装置。
【0272】35.付記23において、前記信号発生手
段のデータが、前記メモリ手段に出力するトリガー信号
のタイミングであることを特徴とする光イメージング装
置。 36.付記24において、前記スキャニング手段を2つ
以上有し、これら2つ以上のスキャニング手段によるビ
ート周波数がフレームレートとなる異なる2つ以上の周
波数で駆動されることを特徴とする光イメージング装
置。
【0273】37.付記25において、前記制御手段
が、前記記憶手段に記録された情報に基づき、前記ゲイ
ン調整手段のデータを設定することを特徴とする光イメ
ージング装置。 38.付記25において、前記ゲイン調整手段のデータ
が、前記受光手段の戻り光量であることを特徴とする光
イメージング装置。
【0274】39.付記25において、前記ゲイン調整
手段は、前記戻り光量に基づき、補正値を算出するゲイ
ン算出器を有することを特徴とする光イメージング装
置。 40.付記26において、前記制御手段が、前記記憶手
段に記録された情報に基づき、前記フィルタ調整手段の
データを設定することを特徴とする光イメージング装
置。
【0275】41.付記27において、前記γ値は、画
像化の際に最適な輝度値を再現する、0以上1以下の値
であることを特徴とする光イメージング装置。 42.付記27において、前記γ値は、0.45である
ことを特徴とする光イメージング装置。 43.付記37において、前記戻り光量は、少なくとも
前記光学系の光路長、焦点距離、レンズの開口数により
決定されることを特徴とする光イメージング装置。
【0276】44.付記39において、前記ゲイン調整
手段は、少なくとも画像1フレームのうちの特定領域の
輝度値に基づき、補正値を算出するゲイン算出器を有す
ることを特徴とする光イメージング装置。 45.付記39において、前記ゲイン調整手段は、少な
くとも画像各フレームごとに輝度値を算出し、次にフレ
ームにフィードバックすることを特徴とする光イメージ
ング装置。
【0277】46.付記39において、前記ゲイン調整
手段は、少なくとも特定のフレームでのみ輝度値を算出
し、次フレーム以降にフィードバックすることを特徴と
する光イメージング装置。 47.付記40において、前記フィルタ調整手段のデー
タが、前記スキャニング手段を駆動するための駆動周波
数と、前記光学系の分解能であることを特徴とする光イ
メージング装置。
【0278】(付記16,17,18,19,20,2
1,29の背景)従来、光イメージング装置は、装置本
体に着脱自在に接続する光プローブが多数開示されてい
るが、光プローブの個体差を補正することに関する開示
がない。 (付記16,17,18,19,20,21,29の目
的)本付記の目的は、光プローブの特性に応じた設定を
容易にできる光イメージング装置及び光イメージング検
出方法を提供することを目的とする。 (付記16,17,18,19,20,21,29の効
果)本付記の光イメージング装置及び光イメージング検
出方法は、プローブ特性を検知させその情報をもとに、
設定手段により動作条件を設定できるため、容易な設定
が可能である。
【0279】(付記22,30の背景)従来、光イメー
ジング装置は、スキャナを用いた走査手段を有するもの
が開示されているが、それにより取得された信号を光プ
ローブの特性を考慮して画像生成手段を制御するものに
ついて開示がない。 (付記22,30の目的)本付記の目的は、光プローブ
の特性に合わせて、縮尺が正確で、歪のない画像を容易
に設定することができる光イメージング装置を提供する
ことを目的とする。 (付記22,30の効果)本付記の光イメージング装置
は、補間手段を用いることで、不等間隔のデータサンプ
リングに対しても歪のなく、正確な縮尺の画像を表示す
ることができる。また、本付記の光イメージング装置
は、プローブの特性情報をもとに、補間手段の設定をで
きるためプローブにあった設定を容易に実現することが
できる。
【0280】(付記23,24,28,31,32,3
3,34,35の背景)従来、光イメージング装置は、
スキャナを用いた走査手段を有するものが開示されてい
るが、スキャナの特性に合わせて駆動条件、表示条件を
容易に設定するものが開示されていない。 (付記23,24,28,31,32,33,34,3
5の目的)本付記の目的は、光プローブの特性に応じた
設定が容易にできる光イメージング装置を提供すること
を目的とする。特に、本付記の目的は、表示画像を歪の
ない正確な画像を得ることが可能な光イメージング装置
を提供することを目的とする。 (付記23,24,28,31,32,33,34,3
5の効果)本付記の光イメージング装置は、スキャナの
駆動条件を検知することができるため、駆動条件の設定
が容易にできる。
【0281】(付記25,37−39,43−46の背
景)従来、光イメージング装置は、観察対象の戻り光特
性を予め測定しておき、その特性に基づいてゲイン調整
を行っていた。よって、従来の光イメージング装置は、
光学特性にばらつきのあるプローブごとに戻り光の特性
を測定する必要があるので、ゲイン調整が煩雑であっ
た。 (付記25,37−39,43−46の目的)本付記の
目的は、光プローブを交換しても各々の光プロープ固有
の情報に基づいてゲイン調整可能なゲイン調整手段を設
けることにある。 (付記25,37−39,43−46の効果)本付記の
光イメージング装置は、光プローブを交換しても、各々
のプロープ固有の情報に基づいて自動的にゲイン調整が
可能であるため、容易に最適なゲイン調整が可能とな
る。
【0282】(付記26,40,47の背景)従来、光
イメージング装置は、観察対象を観察し、その上で帯域
制限フィルタを手動により調整し、最適な帯域調整を行
っていた。よって、従来の光イメージング装置は、光学
特性にばらつきのあるプローブを交換する度に、或いは
同じプローブを使用するにしても観察する度に帯域調整
を行う必要があり、面倒であった。 (付記26,40,47の目的)本付記の目的は、光プ
ロープを交換しても各々の光プローブ固有の情報に基づ
いて帯域調整可能な帯域調整手段を設けることにある。 (付記26,40,47の効果)本付記の光イメージン
グ装置は、光プローブを交換しても、各々のプローブ固
有の情報に基づいて自動的に帯域調整が可能であるた
め、容易に最適な帯域調整が可能となる。
【0283】(付記27,41,42の背景)従来、光
イメージング装置は、観察対象に対して予め所定のγ特
性を取得し、それに基づいてγ補正を行っていた。よっ
て、従来の光イメージング装置は、光学特性にばらつき
のある光プローブを交換する度にγ特性を取得して調整
する必要があり、調整が煩雑であった。 (付記27,41,42の目的)本付記の目的は、光プ
ローブを交換しても、各々の光プローブ固有の情報に基
づいてγ補正可能な画像信号生成手段を設けることにあ
る。 (付記27,41,42の効果)本付記の光イメージン
グ装置は、光プローブを交換しても、各々のプローブ固
有の情報に基づいて自動的にγ補正が可能であるため、
容易に最適なγ補正が可能となる。
【0284】(付記36の背景)従来、光イメージング
装置は、例えば、特開2000−75210号公報に記
載されているように、2つのスキャナによりリサージュ
走査を行うものが提案されている。しかしながら、上記
特開2000−75210号公報に記載の光イメージン
グ装置は、スキャナの駆動条件、操作方法の詳細や、画
像化に関する開示がない。 (付記36の目的)本付記の目的は、複数のスキャナを
共振駆動させて低い駆動電圧でスキャナを駆動でき、且
つ観察視野の広い光イメージング装置を提供することを
目的とする。 (付記36の効果)本付記の光イメージング装置は、複
数のスキャナを共振駆動で動作させることができ、駆動
電圧を低くすることができる。また、本付記の光イメー
ジング装置は、複数のスキャナを共振駆動で動作させる
ことができ、観察視野を広くすることができる。更に、
本付記の光イメージング装置は、駆動条件を光プローブ
の特性情報をもとに設定するので、スキャナの駆動位相
を正確に合わせることができ走査にずれが生じない装置
を実現できる。
【0285】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、接
続された光プローブの特徴情報を自動的に検知或いは判
別して、接続された光プローブに適したスキャニング駆
動制御や、光路系の調整、表示画像の調整等ができる。
【0286】対応ができる
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の光イメージング装
置の構成を示す構成図。
【図2】図1内のマイクロスイッチ方式プローブ情報検
知機構の構成を示す構成図。
【図3】図2のマイクロスイッチ検知方式の動作原理を
説明する説明図。
【図4】プローブ情報を検知・処理する手順のフローチ
ャート。
【図5】図4のプローブ情報検知手順の詳細を示すフロ
ーチャート。
【図6】図4の光学系調整・制御の処理手順のフローチ
ャート。
【図7】図4のプローブスキャニング駆動・制御と、画
像化及び表示の設定をする処理手順のフローチャート。
【図8】光路長走査部の参照光の光路長調整機構等の構
成を示す構成図。
【図9】図8の光路長自動調整機構が動作する前と自動
調整後のラジアルスキャン断層像図。
【図10】シース径の細い光プローブを示す構成図。
【図11】シース径の太い光プローブを示す構成図。
【図12】図10のプローブのシースをラジアルスキャ
ン断層像上で表示した説明図。
【図13】光路長調整を行っていない状態で図11の光
プローブのシースをラジアルスキャン断層像上で表示し
た説明図。
【図14】光路長調整を行った状態で図11の光プロー
ブのシースのラジアルスキャン断層像上で表示した説明
図。
【図15】光プローブの計測光の焦点位置と焦点範囲を
示す説明図。
【図16】ラジアルスキャンOCT画像上に光プローブ
の焦点位置を表示した説明図。
【図17】リニアスキャンOCT画像上に光プローブの
焦点位置を表示した説明図。
【図18】ラジアルスキャンOCT画像上に光プローブ
の焦点範囲を表示した説明図。
【図19】リニアスキャンOCT画像上に光プローブの
焦点範囲を表示した説明図。
【図20】本発明の第2の実施の形態における光カプラ
方式のプローブ情報検知機構の構成を示す構成図。
【図21】図20における主要部を示す斜視図。
【図22】光カプラ検知方式の動作原理を説明する説明
図。
【図23】本発明の第3の実施の形態におけるメモリ方
式のプローブ情報検知機構の構成を示す構成図。
【図24】図23のメモリ検知方式の動作原理を説明す
る説明図。
【図25】第4の実施の形態の光イメージング装置に用
いられる光プローブを示す概略構成図。
【図26】第4の実施の形態の光イメージング装置の概
略構成を示す回路ブロック図。
【図27】図26の光検出部の概略構成を示す回路ブロ
ック図。
【図28】スキャナにより走査される光学素子で得た画
像データをサンプリングする際の様子を示す説明図。
【図29】図28(d)の画像データを等時間間隔のド
ットとして表示した表示画像を示す説明図。
【図30】プローブデータ部に記憶されるデータテーブ
ル。
【図31】信号発生器のXドライブの概略構成を示す回
路ブロック図。
【図32】4点補間法を説明するためのグラフ。
【図33】データ列番号BjとX方向の補間係数Kx
との関係を求める際のグラフ。
【図34】データ列番号AiとY方向の補間係数Ky
との関係を求める際のグラフ。
【図35】画像データに補間処理を施した際の説明図。
【図36】信号発生器の定常状態のタイミングチャート
を示すグラフ。
【図37】Yドライブ信号が+の最大値となる際のタイ
ミングチャートを示すグラフ。
【図38】第1フレーム目(往路)のYトリガー信号
(Y−Sync)が出力される際のタイミングチャート
を示すグラフ。
【図39】1フレーム分のサンプリングが終了する直前
のタイミングチャートを示すグラフ。
【図40】Yドライブ信号が−の最大値となる際のタイ
ミングチャートを示すグラフ。
【図41】第2フレーム目(復路)のYトリガー信号
(Y−Sync)が出力される際のタイミングチャート
を示すグラフ。
【図42】第2フレームのサンプリングが終了する直前
のタイミングチャートを示すグラフ。
【図43】歪みを有する駆動波形を示すグラフ。
【図44】第5の実施の形態の光イメージング装置の概
略構成を示す回路ブロック図。
【図45】図44の光イメージング装置の変形例を示す
回路ブロック図。
【図46】ほぼ同じ共振周波数でXスキャナとYスキャ
ナとを駆動する際の駆動周波数の波形を示すグラフ。
【図47】図46の駆動周波数で駆動されるXスキャナ
とYスキャナとのスキャンニングパターンを示すグラ
フ。
【図48】図47のスキャンニングを続けた場合に得ら
れるサンプリングポイントを示すグラフ。
【図49】第7の実施の形態の光イメージング装置の要
部概略を示す回路ブロック図。
【図50】図49のD/A入力値変換マトリクスに入力
される特性データのグラフ。
【図51】ゲイン調整処理を示すフローチャート。
【図52】図49の光イメージング装置の変形例を示す
回路ブロック図。
【図53】ゲイン調整レベルの算出パターンを示す説明
図。
【図54】ゲイン調整処理を示すフローチャート。
【図55】図54のゲイン算出処理を示すフローチャー
ト。
【図56】図55の処理aを示すフローチャート。
【図57】図55の処理bを示すフローチャート。
【図58】図55の処理cを示すフローチャート。
【図59】図55の処理dを示すフローチャート。
【図60】図55の処理eを示すフローチャート。
【図61】図55の処理fを示すフローチャート。
【図62】第8の実施の形態の光イメージング装置の要
部概略を示す回路ブロック図。
【図63】図62のBPF(バンドパスフィルタ)の周
波数特性を示すグラフ。
【図64】フィルタ調整処理を示すフローチャート。
【図65】入力信号xに対する出力信号yのγ補正を示
すグラフ。
【符号の説明】
1…光イメージング装置 2…低干渉性光源 3a、3b、5a、5b、8、11…シングルモードフ
ァイバ(光ファイバ) 4…光カップラ 6…観測装置 7…光ロータリジョイント 9…光プローブ 10…コネクタ部(装着部) 12…生体組織 13…光路長走査部 13a…光路長走査機構 13b…光路長調整機構 14…レンズ 15…ミラー 16…アクチュエータ 17…アクチュエータ制御回路 18…コンピュータ 19…光検出器(PD) 21…信号処理回路 23…モニタ 24…駆動部 25…回転駆動手段 26…固定台 27…進退移動手段 28…駆動制御回路 31…シース 32、35…モータ 33…モータロータ 34…ベルト 36…回転プレート 37…駆動ロッド 38…プローブ情報特定手段 39…プローブ情報保持手段 40…プローブ情報検知手段 45…検知ピン 46…マイクロスイッチ
フロントページの続き (72)発明者 大川 敦 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内 Fターム(参考) 2F064 AA09 BB07 EE01 FF05 GG02 GG12 GG24 GG52 HH01 HH05 KK01 2F065 AA52 FF04 FF51 LL02 LL12 LL22 MM14 MM15 QQ03 QQ24 QQ31 QQ36 SS02 2G059 AA05 AA06 BB12 CC16 EE02 EE09 EE11 FF01 GG10 HH01 HH06 JJ11 JJ12 JJ13 JJ15 JJ17 KK01 LL01 MM01 MM04 MM08 MM09 MM10 MM18 NN01 PP01 PP04 4C061 AA00 BB05 CC07 DD00 FF46 FF47 LL03 MM10 NN01 NN05 QQ01 QQ09 RR06 RR18 RR26 SS11 SS21 WW04 WW20

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検体に低干渉性光を照射し、前記被検
    体から反射・散乱した反射・散乱光の情報から前記被検
    体の断層像を構築する光イメージング装置であって、 前記低干渉性光を発生する光源と、 前記低干渉性光を計測光と参照光に二分岐させる光分岐
    手段と、 前記計測光を被検体に伝送・受光するための交換可能な
    光コネクタ部を持つ光プローブ部と、 前記光プローブと接続し、前記計測光を被検体に対して
    走査させるスキャニング駆動手段と、 前記被検体で反射・散乱された計測光と干渉する前記参
    照光の光路長を調整する光ディレイ手段と、 前記計測光と前記参照光の光学特性を調整する光学系調
    整手段と、 前記受信光と参照光との干渉光を検出する光検出手段
    と、 前記光検出手段が検出した信号を処理し、前記被検体の
    断層画像を生成する画像生成手段と、 前記被検体の断層画像の表示パラメータを調整する画像
    表示調整手段とを有する光イメージング装置において、 前記光プローブに該光プローブの特徴情報を保持する情
    報保持手段と前記光プローブの情報を検知する情報検知
    手段を設け、 前記情報検知手段からの検知情報により、前記スキャニ
    ング駆動手段、前記光学系調整手段、及び前記画像表示
    調整手段の少なくとも何れか一つを制御する制御手段を
    備えたことを特徴とする光イメージング装置。
  2. 【請求項2】 前記計測光を被検体に対して走査させる
    前記スキャニング駆動手段が前記光プローブの出光部を
    走査させるプローブスキャニング駆動手段であることを
    特徴とする請求項1記載の光イメージング装置。
  3. 【請求項3】前記プローブスキャニング駆動手段が、前
    記光プローブを光プローブの軸方向に対して進退走査さ
    せる駆動手段であることを特徴とする請求項2記載の光
    イメージング装置。
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Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004321696A (ja) * 2003-04-28 2004-11-18 Olympus Corp 光イメージング装置
JP2005049820A (ja) * 2003-05-16 2005-02-24 Optiscan Pty Ltd 光コネクタ
JP2005083954A (ja) * 2003-09-10 2005-03-31 Fujinon Corp 断層映像装置
JP2005230549A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Siemens Ag 光コヒーレンス断層画像化による監視の下にレーザ血管形成術を実施するための装置
JP2006095143A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd 光断層画像取得装置
JP2006192059A (ja) * 2005-01-13 2006-07-27 Fujinon Corp 断層測定装置
JP2006215006A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Fujinon Corp 光断層画像化装置
JP2006212355A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Fujinon Corp 光断層画像化装置
JP2006313158A (ja) * 2005-05-06 2006-11-16 Siemens Ag 光コヒーレンス断層撮影による管腔の断層画像表示方法および光コヒーレンス断層撮影装置
JP2008224473A (ja) * 2007-03-14 2008-09-25 Fujifilm Corp 断層画像処理方法および装置ならびにプログラム
WO2010095370A1 (ja) * 2009-02-19 2010-08-26 テルモ株式会社 画像診断装置及びその制御方法
JP2010533301A (ja) * 2007-07-12 2010-10-21 ヴォルカノ コーポレイション 均一周波数のサンプリングクロック制御用の装置および方法
JP2010284269A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Fujifilm Corp Oct装置及びその干渉信号レベル制御方法
JP2011021945A (ja) * 2009-07-14 2011-02-03 Canon Inc 光干渉断層法を用いる撮像装置、制御方法、プログラム、及び、記憶媒体
JP2011103003A (ja) * 2002-10-30 2011-05-26 Optiscan Pty Ltd 走査方法および装置
US8213020B2 (en) 2008-07-07 2012-07-03 Fujifilm Corporation Optical tomographic imaging apparatus including a beam scattering structure
JP2013255822A (ja) * 2006-01-19 2013-12-26 General Hospital Corp ビームスキャニングによる上皮性管腔器官の光学的撮像方法およびシステム
JP2014044265A (ja) * 2012-08-24 2014-03-13 Olympus Corp 光走査装置
JP2014197027A (ja) * 2006-08-25 2014-10-16 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション ボリュメトリック・フィルタリング法を使用して光コヒーレンス・トモグラフィ画像形成の機能を向上させる装置及び方法
JP2016165478A (ja) * 2004-11-02 2016-09-15 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション 試料の画像形成のための光ファイバ回転装置、光学システム及び方法
JP2018132466A (ja) * 2017-02-17 2018-08-23 株式会社Screenホールディングス 撮像方法および撮像装置
JP2018151231A (ja) * 2017-03-13 2018-09-27 オムロン株式会社 光学計測装置および光学計測装置用アダプタ
JP2018200250A (ja) * 2017-05-29 2018-12-20 パナソニックIpマネジメント株式会社 干渉計測装置および干渉計測方法
JP2020085717A (ja) * 2018-11-28 2020-06-04 株式会社日立製作所 形状測定システム、プローブ先端部、及び形状測定方法。
JP2023132738A (ja) * 2022-03-11 2023-09-22 オムロン株式会社 光干渉測距センサ
JP2023155486A (ja) * 2016-04-06 2023-10-20 ケアストリーム デンタル エルエルシー 圧縮センシングによる口腔内oct

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7555333B2 (en) 2000-06-19 2009-06-30 University Of Washington Integrated optical scanning image acquisition and display
US7616986B2 (en) * 2001-05-07 2009-11-10 University Of Washington Optical fiber scanner for performing multimodal optical imaging
US7901348B2 (en) 2003-12-12 2011-03-08 University Of Washington Catheterscope 3D guidance and interface system
EP1808232A1 (en) * 2004-09-30 2007-07-18 Arkray, Inc. Centrifugal separator and analyzer with the same
US7530948B2 (en) 2005-02-28 2009-05-12 University Of Washington Tethered capsule endoscope for Barrett's Esophagus screening
JP2007101263A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Fujifilm Corp 光断層画像化装置
US8047996B2 (en) * 2005-10-31 2011-11-01 Volcano Corporation System and method for reducing angular geometric distortion in an imaging device
EP1954193B1 (en) 2005-11-23 2013-03-06 University of Washington Scanning beam with variable sequential framing using interrupted scanning resonance
WO2007084915A2 (en) * 2006-01-17 2007-07-26 University Of Washington Scanning fiber-optic nonlinear optical imaging and spectroscopy endoscope
WO2007083376A1 (ja) * 2006-01-19 2007-07-26 Shofu Inc. 光コヒーレンストモグラフィー装置および計測ヘッド
US9561078B2 (en) 2006-03-03 2017-02-07 University Of Washington Multi-cladding optical fiber scanner
US20070216908A1 (en) * 2006-03-17 2007-09-20 University Of Washington Clutter rejection filters for optical doppler tomography
US20080039693A1 (en) * 2006-08-14 2008-02-14 University Of Washington Endoscope tip unit and endoscope with scanning optical fiber
US7680373B2 (en) 2006-09-13 2010-03-16 University Of Washington Temperature adjustment in scanning beam devices
US7738762B2 (en) 2006-12-15 2010-06-15 University Of Washington Attaching optical fibers to actuator tubes with beads acting as spacers and adhesives
US8305432B2 (en) 2007-01-10 2012-11-06 University Of Washington Scanning beam device calibration
US7936462B2 (en) * 2007-01-19 2011-05-03 Thorlabs, Inc. Optical coherence tomography imaging system and method
US8705047B2 (en) 2007-01-19 2014-04-22 Thorlabs, Inc. Optical coherence tomography imaging system and method
US8840566B2 (en) 2007-04-02 2014-09-23 University Of Washington Catheter with imaging capability acts as guidewire for cannula tools
US7583872B2 (en) 2007-04-05 2009-09-01 University Of Washington Compact scanning fiber device
US7608842B2 (en) 2007-04-26 2009-10-27 University Of Washington Driving scanning fiber devices with variable frequency drive signals
WO2008137710A1 (en) 2007-05-03 2008-11-13 University Of Washington High resolution optical coherence tomography based imaging for intraluminal and interstitial use implemented with a reduced form factor
US8212884B2 (en) 2007-05-22 2012-07-03 University Of Washington Scanning beam device having different image acquisition modes
US9596993B2 (en) 2007-07-12 2017-03-21 Volcano Corporation Automatic calibration systems and methods of use
US8437587B2 (en) 2007-07-25 2013-05-07 University Of Washington Actuating an optical fiber with a piezoelectric actuator and detecting voltages generated by the piezoelectric actuator
US8411922B2 (en) 2007-11-30 2013-04-02 University Of Washington Reducing noise in images acquired with a scanning beam device
DE102007059903A1 (de) * 2007-12-12 2009-06-18 Robert Bosch Gmbh Sonde und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Messobjekten
JP5149467B2 (ja) * 2010-08-30 2013-02-20 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 内視鏡装置
CN102564339B (zh) * 2011-12-21 2014-06-25 国家电网公司 船舶水下部分轮廓尺寸检测系统及其检测方法
US20140024931A1 (en) * 2012-07-20 2014-01-23 Lightlab Imaging, Inc. Data Encoders for Medical Devices and Related Methods
US20140275765A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-18 Steven C. Gebhart Probe assembly and disposable cover particularly for use in endoscope applications of low coherence interferometry
US20180033814A1 (en) * 2016-07-27 2018-02-01 WcSystems Corporation Photo Sensor

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06133969A (ja) * 1992-10-30 1994-05-17 Shimadzu Corp 超音波診断装置
JP2000503237A (ja) * 1996-02-27 2000-03-21 マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー 光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
JP2000131221A (ja) * 1998-10-20 2000-05-12 Olympus Optical Co Ltd 光走査画像取得システム

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6087198A (ja) 1983-10-18 1985-05-16 鹿島建設株式会社 クレ−ンの監視方法および装置
JPH0693779B2 (ja) * 1985-07-02 1994-11-16 オリンパス光学工業株式会社 映像信号処理回路
JP2624961B2 (ja) * 1987-01-28 1997-06-25 オリンパス光学工業株式会社 電子内視鏡装置
JPH0811111B2 (ja) * 1988-04-22 1996-02-07 オリンパス光学工業株式会社 電子式内視鏡装置
US5048524A (en) 1989-03-03 1991-09-17 Camino Laboratories, Inc. Blood parameter measurement
JPH0549600A (ja) * 1991-08-23 1993-03-02 Olympus Optical Co Ltd 電子内視鏡装置
US5685301A (en) * 1995-06-16 1997-11-11 Ohmeda Inc. Apparatus for precise determination of operating characteristics of optical devices contained in a monitoring probe
US5807247A (en) * 1995-12-20 1998-09-15 Nellcor Puritan Bennett Incorporated Method and apparatus for facilitating compatibility between pulse oximeters and sensor probes
US6069698A (en) * 1997-08-28 2000-05-30 Olympus Optical Co., Ltd. Optical imaging apparatus which radiates a low coherence light beam onto a test object, receives optical information from light scattered by the object, and constructs therefrom a cross-sectional image of the object
JPH11148897A (ja) * 1997-11-14 1999-06-02 Olympus Optical Co Ltd 光イメージング装置
JP3635525B2 (ja) * 1998-02-19 2005-04-06 オリンパス株式会社 内視鏡システム
JP4037538B2 (ja) * 1998-09-21 2008-01-23 オリンパス株式会社 光イメージング装置
US6193669B1 (en) * 1998-12-11 2001-02-27 Florence Medical Ltd. System and method for detecting, localizing, and characterizing occlusions, stent positioning, dissections and aneurysms in a vessel
EP1992278B1 (en) 1999-01-25 2014-05-07 Masimo Corporation Universal/upgrading pulse oximeter
JP2001008199A (ja) * 1999-06-24 2001-01-12 Fuji Photo Optical Co Ltd 電子内視鏡装置
JP4276747B2 (ja) * 1999-09-08 2009-06-10 オリンパス株式会社 内視鏡装置
WO2003038410A1 (en) * 2001-10-31 2003-05-08 Olympus Corporation Optical scanning type observation device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06133969A (ja) * 1992-10-30 1994-05-17 Shimadzu Corp 超音波診断装置
JP2000503237A (ja) * 1996-02-27 2000-03-21 マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー 光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
JP2000131221A (ja) * 1998-10-20 2000-05-12 Olympus Optical Co Ltd 光走査画像取得システム

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011103003A (ja) * 2002-10-30 2011-05-26 Optiscan Pty Ltd 走査方法および装置
JP2004321696A (ja) * 2003-04-28 2004-11-18 Olympus Corp 光イメージング装置
JP2005049820A (ja) * 2003-05-16 2005-02-24 Optiscan Pty Ltd 光コネクタ
JP2010175561A (ja) * 2003-05-16 2010-08-12 Optiscan Pty Ltd 光コネクタ
JP2005083954A (ja) * 2003-09-10 2005-03-31 Fujinon Corp 断層映像装置
JP2005230549A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Siemens Ag 光コヒーレンス断層画像化による監視の下にレーザ血管形成術を実施するための装置
JP2006095143A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd 光断層画像取得装置
JP2016165478A (ja) * 2004-11-02 2016-09-15 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション 試料の画像形成のための光ファイバ回転装置、光学システム及び方法
JP2006192059A (ja) * 2005-01-13 2006-07-27 Fujinon Corp 断層測定装置
JP2006215006A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Fujinon Corp 光断層画像化装置
JP2006212355A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Fujinon Corp 光断層画像化装置
JP2006313158A (ja) * 2005-05-06 2006-11-16 Siemens Ag 光コヒーレンス断層撮影による管腔の断層画像表示方法および光コヒーレンス断層撮影装置
JP2013255822A (ja) * 2006-01-19 2013-12-26 General Hospital Corp ビームスキャニングによる上皮性管腔器官の光学的撮像方法およびシステム
JP2014197027A (ja) * 2006-08-25 2014-10-16 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション ボリュメトリック・フィルタリング法を使用して光コヒーレンス・トモグラフィ画像形成の機能を向上させる装置及び方法
JP2008224473A (ja) * 2007-03-14 2008-09-25 Fujifilm Corp 断層画像処理方法および装置ならびにプログラム
JP2010533301A (ja) * 2007-07-12 2010-10-21 ヴォルカノ コーポレイション 均一周波数のサンプリングクロック制御用の装置および方法
US8213020B2 (en) 2008-07-07 2012-07-03 Fujifilm Corporation Optical tomographic imaging apparatus including a beam scattering structure
WO2010095370A1 (ja) * 2009-02-19 2010-08-26 テルモ株式会社 画像診断装置及びその制御方法
JPWO2010095370A1 (ja) * 2009-02-19 2012-08-23 テルモ株式会社 画像診断装置及びその制御方法
US8564787B2 (en) 2009-06-10 2013-10-22 Carl Zeiss Meditec, Inc. OCT apparatus and interference signal level control method for the same
JP2010284269A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Fujifilm Corp Oct装置及びその干渉信号レベル制御方法
JP2011021945A (ja) * 2009-07-14 2011-02-03 Canon Inc 光干渉断層法を用いる撮像装置、制御方法、プログラム、及び、記憶媒体
JP2014044265A (ja) * 2012-08-24 2014-03-13 Olympus Corp 光走査装置
JP2023155486A (ja) * 2016-04-06 2023-10-20 ケアストリーム デンタル エルエルシー 圧縮センシングによる口腔内oct
JP7629963B2 (ja) 2016-04-06 2025-02-14 デンタル・イメージング・テクノロジーズ・コーポレーション 圧縮センシングによる口腔内oct
JP2018132466A (ja) * 2017-02-17 2018-08-23 株式会社Screenホールディングス 撮像方法および撮像装置
JP2018151231A (ja) * 2017-03-13 2018-09-27 オムロン株式会社 光学計測装置および光学計測装置用アダプタ
JP2018200250A (ja) * 2017-05-29 2018-12-20 パナソニックIpマネジメント株式会社 干渉計測装置および干渉計測方法
JP2020085717A (ja) * 2018-11-28 2020-06-04 株式会社日立製作所 形状測定システム、プローブ先端部、及び形状測定方法。
US11421976B2 (en) 2018-11-28 2022-08-23 Hitachi, Ltd. Shape measurement system, probe tip unit, and shape measurement method
JP7193992B2 (ja) 2018-11-28 2022-12-21 株式会社日立製作所 形状測定システム、プローブ先端部、形状測定方法、及びプログラム
JP2023132738A (ja) * 2022-03-11 2023-09-22 オムロン株式会社 光干渉測距センサ

Also Published As

Publication number Publication date
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