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JP2003008191A - Wiring board device - Google Patents

Wiring board device

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Publication number
JP2003008191A
JP2003008191A JP2001188689A JP2001188689A JP2003008191A JP 2003008191 A JP2003008191 A JP 2003008191A JP 2001188689 A JP2001188689 A JP 2001188689A JP 2001188689 A JP2001188689 A JP 2001188689A JP 2003008191 A JP2003008191 A JP 2003008191A
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JP
Japan
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electrode
circuit board
electronic component
solder
resist
Prior art date
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Application number
JP2001188689A
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Japanese (ja)
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Inventor
Miki Mori
三樹 森
Tetsuya Yamamoto
哲也 山本
Tadao Otani
忠夫 大谷
Kenji Ito
健志 伊藤
Yoichiro Maehara
洋一郎 前原
Eiichi Harada
栄一 原田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、回路基板電極が機械的な衝撃に充分
耐えられる構成で、かつはんだボールの発生を極力抑制
する、極めて有効な配線基板装置を提供する。 【解決手段】回路基板4の電極5に電子部品1が搭載さ
れ、かつはんだ6を介して実装され、回路基板上の特定
領域が耐熱性被覆材料からなるソルダーレジスト3で覆
われる配線基板装置において、回路基板電極の、電子部
品端縁gから外側に対向する外側部位5aでは、電極の
少なくとも一部にソルダーレジストが重なって施される
オーバーレジスト構造となし、回路基板電極の、電子部
品の端縁から内側に対向する内側部位5bでは、電極の
少なくとも一部にソルダーレジストが所定間隔を存して
施されるクリアランス構造となす。
(57) Abstract: The present invention provides an extremely effective wiring board device having a structure in which circuit board electrodes can sufficiently withstand mechanical shock and suppressing the generation of solder balls as much as possible. An electronic component (1) is mounted on an electrode (5) of a circuit board (4) and mounted via solder (6), and a specific area on the circuit board is covered with a solder resist (3) made of a heat-resistant coating material. The outer portion 5a of the circuit board electrode facing outward from the edge g of the electronic component has an over-resist structure in which a solder resist is overlapped on at least a part of the electrode. At the inner portion 5b facing inward from the edge, a clearance structure is provided in which a solder resist is applied at a predetermined interval to at least a part of the electrode.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板の電極に
電子部品をはんだを介して実装し、回路基板の特定領域
をソルダーレジストで覆う配線基板装置に係り、特に、
回路基板の電極に対するソルダーレジストの施工条件お
よび、その条件を用いた携帯情報端末装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring board device in which electronic parts are mounted on electrodes of a circuit board via solder and a specific region of the circuit board is covered with a solder resist, and more particularly,
The present invention relates to a solder resist construction condition for an electrode of a circuit board and a portable information terminal device using the condition.

【0002】[0002]

【従来の技術】ノート型パソコンや携帯電話など、電子
情報を取り扱う携帯情報端末装置は、持ち運びの用に供
するため、軽薄短小化が至上命題である。そのため、こ
の携帯情報端末装置に用いられる電気部品についても、
小型化と、薄型化が求められており、また、可能な限り
実装密度を高めるため、リードを有さないリードレスタ
イプの電気部品の採用が多い。
2. Description of the Related Art A portable information terminal device for handling electronic information, such as a notebook type personal computer or a mobile phone, is provided for carrying, and therefore, miniaturization is a top priority. Therefore, regarding the electrical components used in this portable information terminal device,
There is a demand for downsizing and thinning, and leadless leadless electrical components are often used to increase the packaging density as much as possible.

【0003】上記リードレスタイプの部品は、部品表面
に設けられた外部接続用の電極を配線基板上に設けられ
た電極に対し、はんだや異方性導電樹脂などの接合部材
によって接合構造を形成することにより、直接、電気的
かつ機械的に接続される。
In the leadless type component, an external connection electrode provided on the surface of the component is connected to an electrode provided on a wiring board by a joining member such as solder or anisotropic conductive resin. By doing so, they are directly connected electrically and mechanically.

【0004】たとえばLCC(Leadless Ch
ip Carrier)である電子部品を図10(A)
に底面図と側面図として示す。この電子部品を実装した
従来の配線基板装置を図10(B)に概略の平面図(説
明の都合上、透視図とした)として示し、図10(C)
は配線基板装置の一部を拡大した図、図10(D)はそ
の断面図として示す。
For example, LCC (Leadless Ch
Fig. 10 (A) shows an electronic component that is an "IP Carrier".
Are shown as a bottom view and a side view. A conventional wiring board device mounted with this electronic component is shown in FIG. 10B as a schematic plan view (a perspective view is shown for convenience of explanation), and FIG.
Is an enlarged view of a part of the wiring board device, and FIG. 10D is a sectional view thereof.

【0005】図中、100は平面視で矩形状の電子部品
であり、この周辺部には所定間隔を存して電極101が
設けられる。この電子部品100の電極101は、電子
部品100の側端部を略半円状に凹陥形成され、かつ電
子部品側面と両面に亘る表面に、断面略コ字状に配設さ
れる。
In the figure, reference numeral 100 denotes a rectangular electronic component in a plan view, and electrodes 101 are provided on the periphery of the electronic component at predetermined intervals. The electrode 101 of the electronic component 100 is formed by recessing the side end portion of the electronic component 100 into a substantially semicircular shape, and is disposed in a substantially U-shaped cross section on the surface extending over the side surface and both sides of the electronic component.

【0006】102は回路基板であり、この回路基板上
には電極103Aが設けられている。回路基板102上
の電極103Aと電子部品100の電極101とは互い
に対向する位置にあり、しかも回路基板電極103A
は、電子部品100が搭載された状態で、電子部品端縁
100aの内側部分に対向し、さらに電子部品端縁から
外側へ突出する寸法形状をなしている。
Reference numeral 102 is a circuit board, and electrodes 103A are provided on the circuit board. The electrode 103A on the circuit board 102 and the electrode 101 of the electronic component 100 are at positions facing each other, and the circuit board electrode 103A
Has a dimension and shape that face the inner portion of the electronic component edge 100a and project outward from the electronic component edge when the electronic component 100 is mounted.

【0007】このような回路基板102の電極103A
上に電子部品100の電極101が正確に位置決めのう
え搭載され、かつはんだによって互いの電極103A,
101がはんだ付けされている。
The electrode 103A of such a circuit board 102
The electrode 101 of the electronic component 100 is accurately positioned and mounted on the upper part, and the electrodes 103A, 103A,
101 is soldered.

【0008】また、回路基板102上の特定領域は、ソ
ルダーレジスト(はんだレジストとも呼ばれる)104
Aによって覆われている。このソルダーレジスト104
Aは、耐熱性の被覆材料からなり、はんだ付け作業の際
に特定領域にはんだが付かないようにする。
A specific area on the circuit board 102 is a solder resist (also called a solder resist) 104.
Covered by A. This solder resist 104
A is made of a heat-resistant coating material and prevents solder from adhering to a specific area during the soldering work.

【0009】上記回路基板102上の電極103Aに対
するソルダーレジスト104Aの施工条件として2タイ
プある。ここでは、その一方をクリアランス構造と呼
び、他方をオーバーレジスト構造と呼ぶ。
There are two types of conditions for applying the solder resist 104A to the electrodes 103A on the circuit board 102. Here, one of them is called a clearance structure and the other is called an over-resist structure.

【0010】上述の配線基板装置は、上記クリアランス
構造仕様をなしている。すなわち、矩形状をなす電極1
03Aの各辺部d,eに対して、ソルダーレジスト10
4Aの矩形状の開口104a周縁が所定の間隔(クリア
ランス)sを存して施されている。
The wiring board device described above has the clearance structure specifications. That is, the rectangular electrode 1
The solder resist 10 for each side d, e of 03A.
The peripheral edge of the rectangular opening 104a of 4A is provided with a predetermined clearance (clearance) s.

【0011】図11(A)(B)(C)は、さらに異な
る従来の配線基板装置の概略構成を示していて、図11
(A)は平面図、図11(B)は一部を拡大した図、図
11(C)はその断面図である。
11 (A), (B) and (C) show a schematic structure of still another conventional wiring board device.
11A is a plan view, FIG. 11B is a partially enlarged view, and FIG. 11C is a sectional view thereof.

【0012】回路基板102の電極103B上に電子部
品100が搭載され、かつ互いの電極103B,101
がはんだ付けされる。回路基板102上の特定領域はソ
ルダーレジスト104Bによって覆われる。
The electronic component 100 is mounted on the electrode 103B of the circuit board 102, and the electrodes 103B and 101 of each other are mounted.
Is soldered. A specific area on the circuit board 102 is covered with the solder resist 104B.

【0013】上記回路基板電極103Bに対するソルダ
ーレジスト104Bの施工条件は、上記オーバーレジス
ト構造仕様をなしている。すなわち、回路基板電極10
3Bの各辺部e,f上にソルダーレジスト104Bが重
なって施され、ソルダーレジスト104Bと回路基板1
02で電極103Bの各辺部を挟み込んでいる。
The conditions for applying the solder resist 104B to the circuit board electrode 103B are the specifications for the overresist structure. That is, the circuit board electrode 10
The solder resist 104B is applied so as to overlap each side portion e, f of 3B, and the solder resist 104B and the circuit board 1 are provided.
02 sandwiches each side of the electrode 103B.

【0014】なお、電子部品としては上述のLCCばか
りでなく、チップ状の電子部品(以下、チップ部品と呼
ぶ)もある。このチップ部品においても、回路基板の電
極にはんだを介して実装される状態はほぼ同一である。
The electronic components include not only the above-mentioned LCC but also chip-shaped electronic components (hereinafter referred to as chip components). Also in this chip component, the state of being mounted on the electrodes of the circuit board via the solder is almost the same.

【0015】すなわち、図12(A)(B)および図1
3(A)(B)に示すように、回路基板110上の電極
111A,111Bにチップ部品112が搭載される。
このチップ部品112の両側部に形成される電極部11
2aが回路基板110の電極111A,111Bにはん
だ付けされる。
That is, FIGS. 12A and 12B and FIG.
As shown in FIGS. 3A and 3B, the chip component 112 is mounted on the electrodes 111A and 111B on the circuit board 110.
Electrode portions 11 formed on both sides of the chip component 112
2a is soldered to the electrodes 111A and 111B of the circuit board 110.

【0016】特に、図12(A)(B)の配線基板装置
では、回路基板電極111Aの各辺部d,eに対してソ
ルダーレジスト113Aの開口周縁が所定間隔を存して
施されていて、上述のクリアランス構造が採用される。
In particular, in the wiring board device of FIGS. 12A and 12B, the opening edges of the solder resist 113A are provided at predetermined intervals on the sides d and e of the circuit board electrode 111A. The clearance structure described above is adopted.

【0017】また、図13(A)(B)の配線基板装置
では、回路基板電極111Bの各辺部e,f上にソルダ
ーレジスト113Bが重なって施されていて、ソルダー
レジスト113Bと回路基板110で電極111Bを挟
み込むオーバーレジスト構造が採用される。
Further, in the wiring board device of FIGS. 13A and 13B, the solder resist 113B is applied on the respective sides e and f of the circuit board electrode 111B so as to overlap each other, and the solder resist 113B and the circuit board 110 are provided. An overresist structure in which the electrode 111B is sandwiched by is adopted.

【0018】なお、従来では、そのほとんどがマスク開
口の寸法設定により正確に処理できるクリアランス構造
が採用されていて、オーバーレジスト構造は極く近年に
見られるようになった。
Incidentally, in the past, most of them have adopted a clearance structure which can be accurately processed by setting the size of the mask opening, and the over-resist structure has been very recently seen.

【0019】たとえば、ノート型パソコンや携帯電話な
どの携帯情報端末装置の場合は、持ち運びや落下させて
しまったときの衝撃で、回路基板電極が回路基板から剥
離する虞れがある。また、電子部品の動作に不具合が生
じた場合は、その電子部品をはんだごてを用いて取外し
新品と交換するが、その取外しの際に電極が剥離するこ
とがあった。
For example, in the case of a portable information terminal device such as a notebook type personal computer or a mobile phone, the circuit board electrode may be separated from the circuit board due to the impact when it is carried or dropped. Further, when a malfunction occurs in the operation of the electronic component, the electronic component is removed using a soldering iron and replaced with a new one, but the electrode sometimes peels during the removal.

【0020】このような不具合の発生を阻止するのに有
効なのが、オーバーレジスト構造仕様であって、ソルダ
ーレジスト104B,113Bと回路基板102,11
0との間に電極103B,111Bの各辺部e,fを挟
み込んでいるから、衝撃がかかってもソルダーレジスト
104B,113Bが電極103B,111Bを押えて
剥離を阻止する。
It is the over-resist structure specification that is effective in preventing the occurrence of such a problem, that is, the solder resists 104B and 113B and the circuit boards 102 and 11.
Since the side portions e and f of the electrodes 103B and 111B are sandwiched between the electrodes 0 and 0, the solder resists 104B and 113B press the electrodes 103B and 111B and prevent peeling even if a shock is applied.

【0021】[0021]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、オーバーレ
ジスト構造を備えた配線基板装置では、耐衝撃性は向上
するものの、実装プロセスにおいて、はんだボールの発
生が見られるという問題がある。
However, although the wiring board device having the over-resist structure has improved impact resistance, there is a problem in that solder balls are generated in the mounting process.

【0022】すなわち、実装プロセスの本加熱時に、回
路基板と電子部品との間のフラックスが毛管現象によっ
て激しく流動する。そのとき、電極からはみ出たはんだ
がフラックスに押されて動き、あるタイミングではみ出
したときにはんだボールとなる。なお、電極に集められ
たはんだは、フラックスによって動かされない。
That is, at the time of main heating in the mounting process, the flux between the circuit board and the electronic component violently flows due to the capillary phenomenon. At that time, the solder protruding from the electrode moves by being pushed by the flux, and becomes a solder ball when it protrudes at a certain timing. The solder collected on the electrodes is not moved by the flux.

【0023】時系列的に整理すると、はんだが溶ける−
多くのはんだは電極に吸寄せられるが、電極に集められ
ないはんだが存在する−フラックスが激しく流動する−
フラックスの流動に合わせて電極に集められないはんだ
が動く−動いたはんだがフラックスに流されて電子部品
の外に押し出され、はんだボールとなる。
When arranged in chronological order, the solder melts--
Most of the solder is attracted to the electrodes, but there is solder that cannot be collected at the electrodes-flux flows violently-
The solder that cannot be collected on the electrode moves according to the flow of the flux-The moved solder is flowed by the flux and pushed out of the electronic component to form a solder ball.

【0024】すなわち、フラックスは本加熱時に激しく
流動するが、クリアランス構造仕様のようにソルダーレ
ジストの段差がある場合や、シルク印刷等の段差がある
場合には、その段差を乗り越えることはない。
That is, the flux flows violently during the main heating, but if there is a step of the solder resist as in the clearance structure specification or if there is a step of silk printing or the like, it will not get over the step.

【0025】このように、クリアランス構造仕様の配線
基板装置では、電子部品のはんだ接続部にかかる機械的
衝撃によって電極が回路基板から剥離するという不具合
がある。一方、オーバーレジスト構造仕様の配線基板装
置では、耐衝撃性は向上するものの、はんだボールが増
加するという問題があった。
As described above, in the wiring board device having the clearance structure specification, there is a problem that the electrode is separated from the circuit board by the mechanical shock applied to the solder connection portion of the electronic component. On the other hand, the wiring board device having the over-resist structure specification has a problem that the solder balls increase although the impact resistance is improved.

【0026】また、多数の電極を整然と並べ、ここにB
AGタイプの半導体パッケージを実装する配線基板装置
もある。上記半導体パッケージや回路基板は、周囲温度
や半導体素子の発熱により熱歪みが生じ、その影響を回
路基板電極が受ける。
A large number of electrodes are arranged in an orderly manner, and B is placed here.
There is also a wiring board device on which an AG type semiconductor package is mounted. In the semiconductor package and the circuit board, thermal distortion occurs due to the ambient temperature and heat generation of the semiconductor element, and the circuit board electrode is affected by the thermal distortion.

【0027】種々の試験の結果、上記電極における、半
導体パッケージの中心から最も遠い電極部分と最も近い
部分に熱歪みの影響が現れて、歪み変形し易いことが判
明した。また、電極の上記最遠部と上記最近部とを結ぶ
線と直交する方向の部分は熱歪みの影響を受け難く、歪
み変形は小さい。
As a result of various tests, it was found that the effect of thermal strain appears in the electrode portion farthest from the center of the semiconductor package and the portion closest to the center of the semiconductor package, and is likely to be deformed by strain. Further, the portion of the electrode in the direction orthogonal to the line connecting the farthest portion and the most proximal portion is not easily affected by thermal strain, and strain deformation is small.

【0028】そして、電極の歪み変形が大であると、電
極が回路基板から剥離する不良が生じ易くなり、温度サ
イクル試験等を行うと、はんだと回路基板の境界から剥
離が見られるなどの不具合がある。
If the deformation of the electrode is large, the electrode is liable to peel off from the circuit board. When a temperature cycle test or the like is performed, peeling is seen from the boundary between the solder and the circuit board. There is.

【0029】このような熱歪みの影響を回路基板電極が
受け、その結果の詳細が判明している反面、従来では有
効な手段を講じることができず、電極は変形を生じるに
まかせていた。
Although the circuit board electrode is affected by such thermal strain and the details of the result have been clarified, in the past, effective means could not be taken and the electrode was allowed to deform.

【0030】本発明は上述の事情に鑑みなされたもので
あり、その第1の目的とするところは、回路基板電極に
対するソルダーレジストの施工条件として、機械的な衝
撃に充分耐えられる構成で、かつはんだボールの発生を
極力抑制する、極めて有効な配線基板装置を提供しよう
とするものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances. A first object of the present invention is to construct a solder resist on a circuit board electrode with a structure that can sufficiently withstand mechanical impact, and It is an object of the present invention to provide an extremely effective wiring board device that suppresses the generation of solder balls as much as possible.

【0031】本発明の第2の目的とするところは、回路
基板電極に対するソルダーレジストの施工条件として、
回路基板等の発熱による熱歪みの多少に対応させ、電極
の回路基板からの剥離や、はんだと回路基板の境界から
の剥離を阻止して信頼性の向上を得る、極めて有効な配
線基板装置を提供しようとするものである。
A second object of the present invention is to apply the solder resist to the circuit board electrodes as follows.
An extremely effective wiring board device that can cope with the thermal distortion caused by heat generation of the circuit board or the like and prevent peeling of electrodes from the circuit board or peeling from the boundary between the solder and the circuit board to improve reliability. It is the one we are trying to provide.

【0032】[0032]

【課題を解決するための手段】上記第1の目的を満足す
るため本発明は、請求項1として、回路基板の電極に電
子部品がはんだを介して実装されるよう構成され、上記
回路基板上の特定領域が耐熱性被覆材料からなるソルダ
ーレジストで覆われる配線基板装置において、上記回路
基板電極の、上記電子部品の端縁から外側に対向する外
側部位では、電極の少なくとも一部に上記ソルダーレジ
ストが重なって施されるオーバーレジスト構造となし、
上記回路基板電極の、上記電子部品の端縁から内側に対
向する内側部位では、電極の少なくとも一部に上記ソル
ダーレジストが所定間隔を存して施されるクリアランス
構造となすことを特徴とする。
In order to satisfy the first object, the present invention provides, as claim 1, an electronic component mounted on an electrode of a circuit board via solder, and In a wiring board device in which a specific region of the circuit board electrode is covered with a solder resist made of a heat resistant coating material, the solder resist is formed on at least a part of the electrode at an outer portion of the circuit board electrode facing outward from an edge of the electronic component. No over-resist structure with overlapping
At the inner portion of the circuit board electrode facing inward from the edge of the electronic component, at least a part of the electrode has a clearance structure in which the solder resist is applied at a predetermined interval.

【0033】請求項2として、請求項1記載の配線基板
装置において平面矩形状に形成される上記回路基板電極
の外側部位で、電子部品が配設された場合の端縁に相当
する領域と平行な辺部をオーバーレジスト構造、かつ電
子部品端縁と直交する辺部をクリアランス構造となし、
上記回路基板電極の内側部位で、全ての辺部をクリアラ
ンス構造となすことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the wiring board device according to the first aspect, an outer side portion of the circuit board electrode formed in a rectangular shape in a plane is parallel to an area corresponding to an edge when an electronic component is arranged. The side part that is perpendicular to the edge of the electronic component is an over-resist structure, and the side part that is orthogonal to the edge is a clearance structure.
It is characterized in that all the side portions have a clearance structure inside the circuit board electrode.

【0034】請求項3として、請求項1記載の配線基板
装置において平面矩形状に形成される上記回路基板電極
の外側部位および内側部位で、電子部品が配設された場
合の端縁に相当する領域と平行な辺部をオーバーレジス
ト構造となし、上記回路基板電極の外側部位および内側
部位で、電子部品が配設された場合の端縁に相当する領
域と直交する辺部をクリアランス構造となすことを特徴
とする。
According to a third aspect of the present invention, in the wiring board device according to the first aspect, the outer side portion and the inner side portion of the circuit board electrode formed in a planar rectangular shape correspond to edges when electronic components are arranged. The side portion parallel to the region has an over-resist structure, and the side portion orthogonal to the region corresponding to the edge when the electronic component is arranged is a clearance structure in the outer portion and the inner portion of the circuit board electrode. It is characterized by

【0035】請求項4として、請求項1記載の配線基板
装置において平面矩形状に形成される上記回路基板電極
の外側部位で全ての辺部および内側部位で、電子部品が
配設された場合の端縁に相当する領域と平行な辺部をオ
ーバーレジスト構造となし、上記回路基板電極の内側部
位で、電子部品が配設された場合の端縁に相当する領域
と直交する辺部をクリアランス構造となすことを特徴と
する。
According to a fourth aspect of the present invention, in the wiring board device according to the first aspect, the electronic parts are arranged at all of the outer side portions and inner side portions of the circuit board electrode formed in a planar rectangular shape. The side parallel to the area corresponding to the edge is formed as an over-resist structure, and the side inside the circuit board electrode, which is orthogonal to the area corresponding to the edge when electronic components are arranged, has a clearance structure. It is characterized by

【0036】請求項5として、請求項1記載の配線基板
装置において平面矩形状に形成される上記回路基板電極
の外側部位で、全ての辺部をオーバーレジスト構造とな
し、上記回路基板電極の内側部位で、全ての辺部をクリ
アランス構造となすことを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the wiring board device according to the first aspect, all the side portions are formed in an over-resist structure at the outer side portion of the circuit board electrode formed in a rectangular plane shape, and the inside of the circuit board electrode is formed. It is characterized in that all sides of the part have a clearance structure.

【0037】上記第2の目的を満足するため本発明は、
請求項6として、回路基板上に形成される複数の電極に
半導体パッケージがはんだを介して実装され、上記回路
基板上の特定領域が耐熱性被覆材料からなるソルダーレ
ジストで覆われる配線基板装置において、上記電極の、
半導体パッケージの中心から最も遠い部分と最も近い部
分は、ソルダーレジストが電極と所定間隔を存して施さ
れるクリアランス構造となし、上記電極の、半導体パッ
ケージの中心から最も遠い部分と最も近い部分とを結ぶ
線とは直交する方向の部分は、ソルダーレジストが重な
って施されるオーバーレジスト構造となすことを特徴と
する。
In order to satisfy the above second object, the present invention provides
A wiring board device in which a semiconductor package is mounted on a plurality of electrodes formed on a circuit board via solder, and a specific region on the circuit board is covered with a solder resist made of a heat resistant coating material. Of the above electrode,
The portion farthest from the center of the semiconductor package and the portion closest to the center of the semiconductor package have a clearance structure in which the solder resist is provided at a predetermined distance from the electrode. It is characterized in that the portion in the direction orthogonal to the line connecting the lines has an over-resist structure in which the solder resist is overlapped.

【0038】さらに、請求項7として、上記請求項1な
いし請求項6のいずれかに記載の配線基板装置を備える
ことを特徴とする携帯情報端末装置である。
A seventh aspect of the present invention is a portable information terminal device comprising the wiring board device according to any one of the first to sixth aspects.

【0039】上述の課題を解決するための手段を採用す
ることにより、請求項1ないし請求項5の発明によれ
ば、機械的な衝撃に充分耐えられる構成で、かつはんだ
ボールの発生を極力抑制することができる。
By adopting the means for solving the above-mentioned problems, according to the inventions of claims 1 to 5, it is possible to sufficiently withstand mechanical impact and to suppress the generation of solder balls as much as possible. can do.

【0040】また、請求項6の発明によれば、回路基板
等の発熱による熱歪みの多少に対応させ、電極の回路基
板からの剥離や、はんだと回路基板の境界からの剥離を
確実に阻止し、信頼性の向上を得られる。
Further, according to the invention of claim 6, it is possible to reliably prevent the peeling of the electrode from the circuit board and the peeling from the boundary between the solder and the circuit board by coping with the heat distortion of the circuit board or the like due to the heat generation. The reliability can be improved.

【0041】請求項7の発明によれば、耐衝撃特性に優
れた、高い信頼性の得られる携帯情報端末装置を提供で
きる。
According to the invention of claim 7, it is possible to provide a portable information terminal device excellent in impact resistance and highly reliable.

【0042】[0042]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
にもとづいて説明する。本発明の配線基板装置を説明す
る前に、この配線基板装置に実装される電子部品である
LCCの概略構成を説明する。図14に、LCCの裏面
を示す。方形で2段状に形成された基板aから構成され
ている。この基板aは、1段目の基板(表面側にあるの
で図示できない)と、2段目の基板a2より構成され、
1段目の基板および2段目の基板a2には、それぞれの
4辺からなる端面bに互いに一定間隔を有する端子電極
cが形成されている。この端子電極cは、基板aの外形
端面に複数のめっきスルーホールを形成し、このめっき
スルーホールを半裁して形成されたものである。以下、
上記LCCを電子部品とよび、端子電極cを電子部品電
極と呼ぶ。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Before describing the wiring board device of the present invention, a schematic configuration of an LCC which is an electronic component mounted on the wiring board device will be described. FIG. 14 shows the back surface of the LCC. The substrate a is formed in a two-step shape in a rectangular shape. This substrate a is composed of a first stage substrate (not shown because it is on the front side) and a second stage substrate a2,
On the first-stage substrate and the second-stage substrate a2, terminal electrodes c having constant intervals are formed on end faces b composed of four sides. The terminal electrode c is formed by forming a plurality of plated through holes on the outer end surface of the substrate a and cutting the plated through holes in half. Less than,
The LCC is called an electronic component, and the terminal electrode c is called an electronic component electrode.

【0043】本発明の第1の実施の形態を図1に示して
いて、図1(A)は配線基板装置の平面図(説明の都合
上、一部を透視状にした)、図1(B)は装置一部を拡
大した平面図、図1(C)は、図1(B)のC−C線に
沿う断面図である。
A first embodiment of the present invention is shown in FIG. 1, and FIG. 1A is a plan view of a wiring board device (a part of which is transparent for convenience of explanation) and FIG. 1B is an enlarged plan view of a part of the apparatus, and FIG. 1C is a cross-sectional view taken along the line C-C of FIG. 1B.

【0044】図中1は、先に説明した電子部品であり、
この電子部品1の周辺部に電極2が形成される。なお、
これら電極2は全て模式的に示している。3は、後述す
るように回路基板4上の特定領域に施される耐熱性被覆
材料からなるソルダーレジストである。5は、回路基板
4上に形成される矩形状の電極であり、上記電子部品1
の電極2とは後述するように対向して設けられる。6
は、電子部品1の電極2と回路基板4の電極5を接続す
るはんだである。
In the figure, 1 is the electronic component described above,
Electrodes 2 are formed around the electronic component 1. In addition,
All of these electrodes 2 are shown schematically. Reference numeral 3 is a solder resist made of a heat resistant coating material applied to a specific region on the circuit board 4 as described later. Reference numeral 5 denotes a rectangular electrode formed on the circuit board 4, and the electronic component 1
The electrode 2 is provided so as to face it, as will be described later. 6
Is solder that connects the electrode 2 of the electronic component 1 and the electrode 5 of the circuit board 4.

【0045】上記回路基板4上の電極5についてなお説
明すると、上記電極5は上記電子部品1の端縁gを境
に、この端縁gから内側および外側に、それぞれ延出し
て設けられている。
The electrode 5 on the circuit board 4 will be further described. The electrode 5 is provided so as to extend from the edge g of the electronic component 1 to the inside and the outside from the edge g. .

【0046】上記電極5の電子部品端縁gから外側に対
向する部分を外側部位5aと呼び、電極5の端縁gの内
側(すなわち、電子部品1の下面)と対向する部分を内
側部位5bと呼ぶとすると、上記電極5は外側部位5a
と内側部位5bに亘って設けられることになる。
The portion of the electrode 5 facing outward from the edge g of the electronic component is called an outer portion 5a, and the portion facing the inner side of the edge g of the electrode 5 (that is, the lower surface of the electronic component 1) is an inner portion 5b. , The electrode 5 has the outer portion 5a.
And the inner portion 5b.

【0047】上記回路基板電極5の外側部位5aで、か
つ電子部品端縁gと平行な辺部上には、ソルダーレジス
ト3の一部が重なって施されていて、以下、このような
形態をオーバーレジスト構造と呼ぶ。
On the outer side portion 5a of the circuit board electrode 5 and on the side portion parallel to the edge g of the electronic component, a part of the solder resist 3 is overlapped and applied. It is called an over-resist structure.

【0048】また、ソルダーレジスト3はオーバーレジ
スト構造以外の全ての辺部である、外側部位5aの電子
部品端縁gと直交する辺部および、内側部位5bの全て
の辺部において、電極5の周縁とは所定の間隙(クリア
ランス)を存して施されていて、以下、このような形態
をクリアランス構造と呼ぶ。
Further, the solder resist 3 is a side portion which is orthogonal to the electronic component end edge g of the outer portion 5a and all the side portions which are the inner portion 5b, which are all side portions other than the overresist structure, of the electrodes 5. The peripheral edge is provided with a predetermined clearance (clearance), and such a form is hereinafter referred to as a clearance structure.

【0049】上述した配線基板装置では、回路基板電極
5における外側部位5aの一部がオーバーレジスト構造
をなし、外側部位5aの残りの辺部および内側部位5b
の全ての辺部がクリアランス構造をなすことになる。
In the wiring board device described above, a part of the outer side portion 5a of the circuit board electrode 5 has an over-resist structure, and the remaining side portions of the outer side portion 5a and the inner side portion 5b.
All of the sides will have a clearance structure.

【0050】なお、回路基板4の電極6に電子部品1の
電極2をはんだ付けするにあたって、あらかじめ、マス
クを用いて回路基板4の電極6上にはんだペーストを印
刷(塗布)する工程がある。
When soldering the electrode 2 of the electronic component 1 to the electrode 6 of the circuit board 4, there is a step of printing (applying) a solder paste on the electrode 6 of the circuit board 4 in advance using a mask.

【0051】ここでは、図2(A)に示すように、回路
基板電極5が外側部位5aと内側部位5bに亘る矩形状
としたとき、マスク開口7の外側部位7aと内側部位7
bに対向する部分が互いに異なる形状をなしている。
Here, as shown in FIG. 2A, when the circuit board electrode 5 has a rectangular shape extending over the outer portion 5a and the inner portion 5b, the outer portion 7a and the inner portion 7 of the mask opening 7 are formed.
The portions facing b are of different shapes.

【0052】すなわち、回路基板電極5の外側部位5a
に対向するマスク開口7の外側部位7aは、全く同一の
形状面積である。また、回路基板電極5の内側部位5b
に対向するマスク開口7の内側部位7bは、ほぼ半分の
面積に設定される。
That is, the outer portion 5a of the circuit board electrode 5
The outer portion 7a of the mask opening 7 facing to each other has the same shape area. Also, the inner portion 5b of the circuit board electrode 5
The inner portion 7b of the mask opening 7 opposed to is set to an approximately half area.

【0053】図2(B)に示すように、回路基板電極5
上にマスク開口7を重ね合わせた状態で、外側部位5a
に対向するマスク開口7aは一致する100%面積であ
り、内側部位5bに対向するマスク開口7bは50%面
積である。
As shown in FIG. 2B, the circuit board electrode 5
With the mask opening 7 superposed on the upper portion, the outer portion 5a
The mask opening 7a facing to the inner side 5b has a corresponding 100% area, and the mask opening 7b facing the inner portion 5b has a 50% area.

【0054】以上のマスク開口7を用いて回路基板電極
5にはんだペーストを印刷し、この電極5上に電子部品
1の電極2を搭載し、そのあと周知のリフロー工程を経
ることで、電子部品1の電極2と回路基板電極5がはん
だ付けされる。
The circuit board electrode 5 is printed with the solder paste by using the mask opening 7 described above, the electrode 2 of the electronic component 1 is mounted on the electrode 5, and then the well-known reflow process is performed to obtain the electronic component. The electrode 2 of 1 and the circuit board electrode 5 are soldered.

【0055】なお、電子部品1の回路基板4搭載時や、
予備加熱時に印刷されたはんだペーストのうち、電子部
品1の下(内側部位)にあるはんだペースト一部は、電
子部品1に押されて周囲に広がる。
When the electronic component 1 is mounted on the circuit board 4,
Among the solder pastes printed at the time of preheating, a part of the solder paste under the electronic component 1 (inner portion) is pressed by the electronic component 1 and spreads around.

【0056】先に説明したように、回路基板電極5の内
側部位5bに対向するマスク開口7の内側部位7bを5
0%面積に設定してあるので、電子部品1に押された状
態で電極5上に広がっても、電極5周縁から流出するこ
とは、ほとんどない。
As described above, the inner portion 7b of the mask opening 7 facing the inner portion 5b of the circuit board electrode 5 is formed to be 5
Since the area is set to 0%, even if it spreads on the electrode 5 while being pressed by the electronic component 1, it hardly flows out from the peripheral edge of the electrode 5.

【0057】しかしながら、はんだペーストの極く一部
は、電極5とソルダーレジスト3との間のクリアランス
部分に広がってしまう。このはんだペーストの大部分
は、本加熱時に電子部品1の電極2に吸寄せられ、残り
のはんだペーストがフラックスとともに激しく流動す
る。
However, a very small part of the solder paste spreads in the clearance between the electrode 5 and the solder resist 3. Most of the solder paste is attracted to the electrode 2 of the electronic component 1 during the main heating, and the remaining solder paste vigorously flows with the flux.

【0058】これに対して上述の構成では、回路基板電
極5の外側部位5aの一部と、内側部位5bの全てをク
リアランス構造としたので、フラックスの流出を確実に
阻止する。このことにより、電極5の内側部位5bでは
んだボールが発生しないですむ。一方、フラックスの流
動にともない、はんだペーストが回路基板4上の電極5
に吸い寄せられ、トラップされることも多い。
On the other hand, in the above-described structure, since a part of the outer side portion 5a of the circuit board electrode 5 and the entire inner side portion 5b have the clearance structure, the outflow of the flux is surely prevented. As a result, solder balls are not generated in the inner portion 5b of the electrode 5. On the other hand, with the flow of flux, the solder paste may be absorbed by the electrodes 5 on the circuit board 4.
Often attracted to and trapped.

【0059】図3に、リフロー後のはんだボールの発生
数と、フィレット形状を観察した結果を示す。上記はん
だボールは、回路基板電極5の外側部位5a近傍にある
ボールをカウントした。
FIG. 3 shows the number of solder balls generated after reflow and the result of observing the fillet shape. As for the solder balls, the balls in the vicinity of the outer portion 5a of the circuit board electrode 5 were counted.

【0060】フィレットの形状とは、先に図1(C)に
示したように、電子部品1の電極2側面に対するはんだ
6の上がりの状態を言う。はんだ6が部品電極2の側面
上端まで上がった場合を5とし、はんだ6が部品電極2
の側面の半分までしか上がらない場合を3とし、下端ま
での上がりでは1とし、側面に上がってこない場合を0
として、6段階評価した。
The shape of the fillet means a state in which the solder 6 has risen to the side surface of the electrode 2 of the electronic component 1 as shown in FIG. 1 (C). The case where the solder 6 goes up to the upper end of the side surface of the component electrode 2 is 5, and the solder 6 is the component electrode 2.
3 when it reaches only half of the side of the, 1 when rising to the bottom, and 0 when it does not reach the side.
Was evaluated in 6 levels.

【0061】そして、同図では、オーバーレジスト構造
とクリアランス構造を併せ備えた本発明の実施形態に対
して、内外側部位の全てをオーバーレジスト構造とした
のものと、内外側部位の全てをクリアランス構造とした
ものを比較対象とした。
Further, in the figure, in the embodiment of the present invention having both the over-resist structure and the clearance structure, the inner and outer parts are all over-resist structure and the inner and outer parts are all clearance. The structure was used for comparison.

【0062】結果として、本発明の実施形態と全クリア
ランス構造仕様では、はんだボールの発生がほとんどゼ
ロであるのに対して、全オーバーレジスト構造仕様で
は、はんだボールの発生が多い。
As a result, in the embodiment of the present invention and the total clearance structure specification, almost no solder balls are generated, whereas in the all over resist structure specification, solder balls are often generated.

【0063】また、フィレット形状に関しては、本発明
の実施形態と全クリアランス構造仕様および全オーバー
レジスト構造仕様において、互いに差がほとんど存在し
ないことが分かった。
Regarding the fillet shape, it has been found that there is almost no difference between the embodiment of the present invention and the specifications of the total clearance structure and the total over-resist structure.

【0064】つぎに、上述の3種類の仕様をなす配線基
板装置のそれぞれに対して、各種の機械的強度の試験
と、部品の交換を行った。この部品の交換は、部品の不
良などがあった場合に必要となる。
Next, for each of the wiring board devices having the above-mentioned three types of specifications, various mechanical strength tests and parts replacement were performed. This replacement of parts is necessary when there is a defect in the parts.

【0065】結果として、本発明の実施形態と全オーバ
ーレジスト構造仕様の回路基板の強度は充分保たれてい
たが、全クリアランス構造仕様の回路基板においては、
電子部品外側に位置する配線基板上の銅箔(回路基板電
極)に多くの剥がれが見られ、強度不足であることが判
明した。
As a result, the strength of the circuit board of the embodiment of the present invention and the specifications of all over-resist structure was sufficiently maintained, but in the circuit board of specification of all clearance structure,
A large amount of peeling was observed on the copper foil (circuit board electrode) on the wiring board located outside the electronic component, and it was found that the strength was insufficient.

【0066】これは、電子部品の交換や、曲げ試験にお
いて、部品外側に最も大きな負荷がかかるためであり、
この部分の回路基板上の電極の密着強度が、全クリアラ
ンス構造仕様と全オーバーレジスト構造仕様では差があ
ることによる。
This is because the largest load is applied to the outside of the component in the replacement of the electronic component or the bending test.
This is because the adhesion strength of the electrodes on the circuit board in this portion is different between the total clearance structure specification and the all over resist structure specification.

【0067】以上説明した本発明の第1の実施形態の配
線基板装置を用いることにより、フィレット形成不足が
ないとともに、はんだボールの発生を抑制して、電子部
品の実装効果を向上せしめ、さらには衝撃などに対する
機械的信頼性の向上を図れることとなる。
By using the wiring board device of the first embodiment of the present invention described above, there is no insufficient fillet formation, the generation of solder balls is suppressed, and the mounting effect of electronic parts is improved. It is possible to improve mechanical reliability with respect to impact.

【0068】なお、回路基板4の電極5に対するソルダ
ーレジスト3の施工条件としては、上述の形態に限定さ
れるものではなく、以下に述べるような種々の変形例が
考えられる。
The conditions for applying the solder resist 3 to the electrodes 5 on the circuit board 4 are not limited to the above-described embodiment, but various modifications as described below are conceivable.

【0069】図4(A)は、回路基板電極5Aの外側部
位5aと内側部位5bにおける、電子部品端縁gと平行
な辺部(二辺)をオーバーレジスト構造となし、これら
辺部と直交する両辺部をクリアランス構造となしてい
る。この場合、電極5Aの形状およびソルダーレジスト
3Aの開口形状は、互いに矩形状をなす。
In FIG. 4A, the side portions (two sides) parallel to the edge g of the electronic component in the outer side portion 5a and the inner side portion 5b of the circuit board electrode 5A are formed as an over-resist structure, and are orthogonal to these side portions. Both sides that have a clearance structure. In this case, the shape of the electrode 5A and the opening shape of the solder resist 3A are rectangular.

【0070】図4(B)は、ソルダーレジスト3Bの開
口形状が矩形状であるのに対して、回路基板電極5Bが
平面視で略凸字状に形成されていて、幅の狭い部位から
広い部位に変わる位置は電子部品端縁gの位置と一致す
る。
In FIG. 4B, the opening shape of the solder resist 3B is rectangular, whereas the circuit board electrode 5B is formed in a substantially convex shape in plan view, and wide from a narrow portion. The position of changing to the part matches the position of the edge g of the electronic component.

【0071】そして、回路基板電極5の外側部位5aと
内側部位5bにおける電子部品端縁gと平行な辺部(二
辺)と、外側部位5aの電子部品端縁gと直交する辺部
をオーバーレジスト構造となし、内側部位5bの電子部
品端縁gと直交する辺部をクリアランス構造となしてい
る。
Then, the side portions (two sides) of the outer side portion 5a and the inner side portion 5b of the circuit board electrode 5 which are parallel to the electronic component edge g and the side portion of the outer portion 5a which is orthogonal to the electronic component edge g are overlaid. The resist structure is formed, and the side portion of the inner portion 5b orthogonal to the electronic component edge g is formed as a clearance structure.

【0072】図4(C)は、図4(B)と同様形状のソ
ルダーレジスト3Cの開口と回路基板電極5Cであっ
て、電子部品端縁gを境にして外側部位5aの全ての辺
部がオーバーレジスト構造をなし、内側部位5bの全て
の辺部がクリアランス構造をなしている。
FIG. 4C shows the opening of the solder resist 3C and the circuit board electrode 5C having the same shape as that of FIG. 4B, and all side portions of the outer part 5a with the electronic component end edge g as a boundary. Has an over-resist structure, and all sides of the inner portion 5b have a clearance structure.

【0073】これらの配線基板装置であっても、フィレ
ット形成不足がないとともに、はんだボールの発生を抑
制して、電子部品の実装効果を向上せしめ、さらには衝
撃などに対する機械的信頼性の向上を図れる。
Even with these wiring board devices, there is no insufficient fillet formation, the generation of solder balls is suppressed, the electronic component mounting effect is improved, and the mechanical reliability against impacts is improved. Can be achieved.

【0074】以上説明した回路基板電極5に対するソル
ダーレジスト3の施工条件において、ソルダーレジスト
3の開口形状は、全て矩形状をなしているが、以下に述
べるような円形状をなすソルダーレジスト開口であって
もよい。
Under the conditions for applying the solder resist 3 to the circuit board electrode 5 described above, the opening shape of the solder resist 3 is all rectangular, but it is a circular solder resist opening as described below. May be.

【0075】例えば、図5(A)は、回路基板電極5が
矩形状をなし、ソルダーレジスト3Dの開口が円形をな
す場合を示す。電子部品端縁gと平行な辺部(二辺)を
オーバーレジスト構造となし、これらの辺部と直交する
両辺部がクリアランス構造をなしている。
For example, FIG. 5A shows a case where the circuit board electrode 5 has a rectangular shape and the opening of the solder resist 3D has a circular shape. The side portions (two sides) parallel to the edge g of the electronic component have an over-resist structure, and both side portions orthogonal to these side portions have a clearance structure.

【0076】図5(B)は、回路基板電極5が矩形状を
なし、ソルダーレジスト3Eの開口が円形状であって、
電子部品の外側部位における部品端縁gと対向する部分
を円形状のオーバーレジスト構造、他をクリアランス構
造となした例を示す。
In FIG. 5B, the circuit board electrode 5 has a rectangular shape, and the opening of the solder resist 3E has a circular shape.
An example in which a portion of the outer portion of the electronic component facing the component end edge g has a circular over-resist structure and the others have a clearance structure will be shown.

【0077】また、円形のソルダーレジスト開口形状
で、電子部品の外側部位における部品端縁と対向する部
分を矩形状のオーバーレジスト構造となし、他をクリア
ランス構造となす場合など、オーバーレジスト部分を円
形から矩形状に変更したもの、電子部品の外側部位をオ
ーバーレジスト構造となし、他をクリアランス構造とし
たもの、などがある。
In the case where the solder resist opening has a circular shape, the portion of the outer portion of the electronic component facing the component edge has a rectangular over-resist structure, and the other has a clearance structure. From the above to a rectangular shape, the outside part of the electronic component has an over-resist structure, and the others have a clearance structure.

【0078】なお、クリアランスの幅や、オーバーレジ
スト幅は任意でよく、電極の強度や、はんだボールの発
生数を加味して決定すればよい。さらに、クリアランス
幅や、オーバーレジスト幅は辺ごとに設定したり、部分
ごとに設定すればよい。
The width of the clearance and the width of the over-resist may be arbitrary, and may be determined in consideration of the strength of the electrode and the number of solder balls generated. Further, the clearance width and the over-resist width may be set for each side or for each part.

【0079】図6は、本発明の第2の実施の形態を示し
ていて、電子部品としてチップ部品10が回路基板11
に搭載され、はんだ14を介して実装された配線基板装
置の例である。
FIG. 6 shows a second embodiment of the present invention, in which a chip component 10 is a circuit board 11 as an electronic component.
2 is an example of a wiring board device mounted on a substrate and mounted via solder 14.

【0080】この配線基板装置においても、回路基板電
極12に対するソルダーレジスト13の施工条件とし
て、オーバーレジスト構造とクリアランス構造を併せ備
えるようにしている。
Also in this wiring board device, as the conditions for applying the solder resist 13 to the circuit board electrode 12, both an over resist structure and a clearance structure are provided.

【0081】図7(A)(B)(C)に、その具体例を
示している。ここでも、回路基板電極12A,12B,
12Cにおいてチップ部品10の両側端縁gを境に、こ
の外側に対向する部分を外側部位12aと呼び、この内
側に対向する部分を内側部位12bと呼ぶ。
Specific examples are shown in FIGS. 7A, 7B and 7C. Again, the circuit board electrodes 12A, 12B,
A portion of 12C that faces the outside of the chip component 10 on both side edges g is referred to as an outer portion 12a, and a portion that faces the inside is referred to as an inner portion 12b.

【0082】図7(A)に示す配線基板装置では、回路
基板電極12Aにおける外側部位12aの全てをオーバ
ーレジスト構造となし、内側部位12bの全てをクリア
ランス構造となしている。
In the wiring board device shown in FIG. 7A, all of the outer portion 12a of the circuit board electrode 12A has an over-resist structure and all of the inner portion 12b has a clearance structure.

【0083】図7(B)に示す配線基板装置では、回路
基板電極12Bにおける外側部位12aの全ておよび、
内側部位12bのチップ部品両側端縁gと直交する辺部
をオーバーレジスト構造となし、内側部位12bのチッ
プ部品両側端縁gと平行な辺部をクリアランス構造とな
している。
In the wiring board device shown in FIG. 7B, all of the outer portion 12a of the circuit board electrode 12B and
The side portion of the inner portion 12b which is orthogonal to both side edges g of the chip component has an over-resist structure, and the side portion of the inner portion 12b which is parallel to both side edges g of the chip component has a clearance structure.

【0084】図7(C)に示す配線基板装置では、回路
基板電極12Cにおける外側部位12aのチップ部品両
側端縁gと平行な辺部をオーバーレジスト構造となし、
外側部位12aのチップ部品両側端縁gと直交する辺部
および、内側部位12bの全てをクリアランス構造とな
している。
In the wiring board device shown in FIG. 7C, the side portion of the outer portion 12a of the circuit board electrode 12C which is parallel to both side edges g of the chip component has an over resist structure.
All of the side portions of the outer portion 12a orthogonal to both side edges g of the chip component and the inner portion 12b have a clearance structure.

【0085】このように、図7(A)(B)(C)に示
す配線基板装置においても、フィレット形成不足がない
うえに、はんだボールの発生がなく、機械的信頼性の向
上を得られることとなる。
As described above, also in the wiring board device shown in FIGS. 7A, 7B and 7C, the fillet formation is not insufficient and the solder balls are not generated, so that the mechanical reliability can be improved. It will be.

【0086】以上の第1の実施の形態と、第2の実施の
形態で述べてきた配線基板装置を携帯情報端末装置に組
み込み、落下試験を行ったところ、回路基板の電極構造
が全てクリアランス構造となっている配線基板装置を携
帯情報端末装置に組み込んだものよりも、落下に対して
装置が破損・破壊する率が減少した。
When the wiring board device described in the first embodiment and the second embodiment described above is incorporated into a portable information terminal device and a drop test is conducted, all electrode structures of the circuit board are clearance structures. The rate at which the device is damaged or destroyed when dropped is lower than that when the wiring board device, which has been used in the above, is incorporated into a portable information terminal device.

【0087】なお、上述の実施の形態以外でも本発明の
特許請求の範囲を逸脱しない程度で種々の構造を採用で
き、クリアランス幅や、オーバーレジスト幅は任意でよ
く、電極の強度や、はんだボールの発生数を加味して決
定すればよい。
Besides the above-mentioned embodiments, various structures can be adopted without departing from the scope of the claims of the present invention, the clearance width and the over-resist width may be arbitrary, and the strength of the electrode and the solder ball It may be determined in consideration of the number of occurrences of.

【0088】図8は、本発明の第3の実施の形態の配線
基板装置を示している。図9(A)と、図9(B)は、
その部分的な拡大図である。図9(C)は、図9(A)
(B)におけるA−A線もしくはC−C線に沿う断面図
である。図9(D)は、図9(A)(B)におけるa−
a線もしくはc−c線に沿う断面図である。
FIG. 8 shows a wiring board device according to a third embodiment of the present invention. 9 (A) and 9 (B),
It is the partial enlarged view. FIG. 9C shows FIG. 9A.
It is sectional drawing which follows the AA line or CC line in (B). FIG. 9D is a- in FIG. 9A and FIG.
It is sectional drawing which follows the a line or the cc line.

【0089】平面視で円形をなす多数の電極20が整然
と並べられた回路基板21に、BGAタイプの電子部品
である半導体パッケージ22が搭載され、はんだ23を
介して実装されている。また、上記電極20に対して、
矩形状に開口されたソルダーレジスト24が施される。
A semiconductor package 22, which is a BGA type electronic component, is mounted on a circuit board 21 on which a large number of circular electrodes 20 arranged in plan view are arranged, and is mounted via solder 23. Moreover, with respect to the electrode 20,
A solder resist 24 having a rectangular opening is applied.

【0090】これらの半導体パッケージ22や回路基板
21は、周囲温度や半導体素子の発熱により熱歪みが生
じる。このとき、回路基板電極20において熱歪みが大
きく現れるのは、半導体パッケージ22の中心Oから最
も遠い部分と最も近い部分である。
Thermal distortion occurs in the semiconductor package 22 and the circuit board 21 due to the ambient temperature and the heat generated by the semiconductor element. At this time, the large thermal strain appears in the circuit board electrode 20 in the portion farthest from the center O of the semiconductor package 22 and the portion closest thereto.

【0091】なお説明すれば、たとえば、半導体パッケ
ージ22の中心Oを通るA−A線と、B−B線およびC
−C線が横切る電極20では、各線の両側端部において
熱歪みの発生が大きく、これらA−A線、B−B線、C
−C線と直交するa−a線、b−b線、c−c線の両側
端部における熱歪みの発生は小さい。
To explain further, for example, the AA line passing through the center O of the semiconductor package 22, the BB line and the C line.
In the electrode 20 which is crossed by the -C line, thermal strain is largely generated at both end portions of each line, and the AA line, the BB line, the C line, and the
The occurrence of thermal strain is small at both end portions of the aa line, the bb line, and the cc line orthogonal to the -C line.

【0092】上記回路基板電極20に対して、A−A線
と、a−a線に45°の角度と、C−C線と、c−c線
に45°の角度に補助線m−m,n−nを記した。これ
ら補助線m−m,n−nにより4分割された部分のう
ち、A−A線と、C−C線が横切る部分をクリアランス
構造(図9(C)に示す)とし、a−a線と、c−c線
が横切る部分をオーバーレジスト構造(図9(D)に示
す)とした。
With respect to the circuit board electrode 20, an auxiliary line m-m is formed at an angle of 45 ° with respect to the AA line, the aa line, the CC line, and the cc line. , Nn were described. Of the four parts divided by these auxiliary lines m-n and n-n, the part that the A-A line and the C-C line cross is defined as the clearance structure (shown in FIG. 9C), and the a-a line Then, a portion which the cc line crosses was formed into an overresist structure (shown in FIG. 9D).

【0093】上述した実施の形態の半導体パッケージ2
2では、電極20の周部全てをクリアランス構造仕様と
すると、電極20が回路基板21より剥離する不良が生
じ易くなる。その一方で、電極20の周部全てをオーバ
ーレジスト構造とすると、温度サイクル試験等では、は
んだ23と回路基板21上の電極20の境面から剥離す
る。
The semiconductor package 2 of the above-described embodiment
In No. 2, if the entire peripheral portion of the electrode 20 has a clearance structure specification, a defect that the electrode 20 is separated from the circuit board 21 is likely to occur. On the other hand, if the entire peripheral portion of the electrode 20 has an over-resist structure, it peels from the boundary surface between the solder 23 and the electrode 20 on the circuit board 21 in a temperature cycle test or the like.

【0094】したがって、電極20の剥離防止および耐
衝撃性の向上のためには、クリアランス構造とオーバー
レジスト構造を併せ備えることが望ましく、さらには上
述した実施の形態のように、熱歪みが大きく現れる部分
をクリアランス構造となし、熱歪みが小さい部分をオー
バーレジスト構造とするのが最適である。
Therefore, in order to prevent the peeling of the electrode 20 and improve the impact resistance, it is desirable to provide both the clearance structure and the over-resist structure, and further, the thermal strain appears largely as in the above-mentioned embodiment. It is optimal to form the portion as a clearance structure and the portion with a small thermal strain as an over-resist structure.

【0095】なお、第3の実施の形態におけるクリアラ
ンス構造とオーバーレジスト構造の関係は、第1の実施
の形態(図1)で説明したものと同様、特許請求の範囲
を逸脱しない形状構造であれば種々の変形を取り得る。
The relationship between the clearance structure and the over-resist structure in the third embodiment is the same as that described in the first embodiment (FIG. 1) so long as the shape structure does not depart from the scope of the claims. For example, various modifications are possible.

【0096】このようにして構成された配線基板装置を
用いて回路を構成し、これを携帯性を有する電気製品で
ある携帯情報端末装置に適用することにより、信頼性の
高い製品を提供することができるようになる。
By providing a circuit using the wiring board device thus constructed and applying the circuit to a portable information terminal device which is an electric product having portability, a highly reliable product is provided. Will be able to.

【0097】[0097]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、機
械的な衝撃に充分耐えられる構成で、かつはんだボール
の発生を極力抑制する、極めて有効な配線基板装置を提
供できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide an extremely effective wiring board device having a structure capable of sufficiently withstanding mechanical shock and suppressing the generation of solder balls as much as possible.

【0098】そして、回路基板等の発熱による熱歪みの
多少に対応させ、電極の回路基板からの剥離や、はんだ
と回路基板の境界からの剥離を確実に阻止し、信頼性の
向上を得られる、極めて有効な配線基板装置を提供でき
る。
Then, it is possible to prevent the peeling of the electrode from the circuit board and the peeling from the boundary between the solder and the circuit board by making it possible to cope with the heat distortion caused by the heat generation of the circuit board or the like, and to improve the reliability. A very effective wiring board device can be provided.

【0099】また、この配線基板装置を用いることによ
って、耐衝撃特性に優れた携帯情報端末装置を提供でき
る。
By using this wiring board device, it is possible to provide a portable information terminal device having excellent impact resistance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す、配線基板装
置の概略の平面図と、一部を拡大した図および、その断
面図。
FIG. 1 is a schematic plan view of a wiring board device showing a first embodiment of the present invention, a partially enlarged view, and a sectional view thereof.

【図2】同実施の形態の、回路基板電極に対するマスク
開口形状を示す図と、電極にマスク開口を重ね合わせた
図。
FIG. 2 is a diagram showing a mask opening shape for a circuit board electrode and a diagram in which a mask opening is overlapped with an electrode according to the same embodiment;

【図3】同実施の形態の構成と、他の構成の形態の、は
んだボール数とフィレット形状の特性を比較して示す
図。
FIG. 3 is a diagram showing a comparison of the characteristics of the number of solder balls and the fillet shape between the configuration of the same embodiment and another configuration.

【図4】同実施の形態の、互いに異なる変形例の配線基
板装置一部の平面図。
FIG. 4 is a plan view of a part of a wiring board device according to different modifications of the embodiment.

【図5】同実施の形態の、図4とはさらに互いに異なる
変形例の配線基板装置一部の平面図。
FIG. 5 is a plan view of a part of a wiring board device of a modification of the embodiment, which is different from that of FIG. 4;

【図6】本発明の第2の実施の形態を示す、回路基板電
極の概略の断面図。
FIG. 6 is a schematic sectional view of a circuit board electrode showing a second embodiment of the present invention.

【図7】同実施の形態の、互いに異なる回路基板電極に
対するソルダーレジストの施工条件を説明する図。
FIG. 7 is a view for explaining conditions for applying solder resist to different circuit board electrodes of the same embodiment.

【図8】本発明の第3の実施の形態の、配線基板装置の
概略の平面図。
FIG. 8 is a schematic plan view of a wiring board device according to a third embodiment of the present invention.

【図9】同実施の形態の、配線基板装置の互いに異なる
一部を拡大した図と、その断面図。
FIG. 9 is an enlarged view of a different portion of the wiring board device according to the same embodiment, and a cross-sectional view thereof.

【図10】従来の、配線基板装置の平面図と、一部を拡
大した図および、その断面図。
FIG. 10 is a plan view of a conventional wiring board device, a partially enlarged view, and a sectional view thereof.

【図11】さらに異なる従来の、配線基板装置の平面図
と、一部を拡大した図および、その断面図。
11A and 11B are a plan view of a further different conventional wiring board device, a partially enlarged view, and a sectional view thereof.

【図12】さらに異なる従来の、配線基板装置の断面図
と、その平面図。
12A and 12B are a sectional view and a plan view of still another conventional wiring board device.

【図13】さらに異なる従来の、配線基板装置の断面図
と、その平面図。
13A and 13B are a sectional view and a plan view of still another conventional wiring board device.

【図14】本発明で説明される電子部品であるLCCの
裏面側斜視図。
FIG. 14 is a rear side perspective view of an LCC which is an electronic component described in the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4…回路基板、 5…(回路基板の)電極、 1…電子部品、 6…はんだ、 3…ソルダーレジスト、 5a…外側部位、 5b…内側部位、 g…電子部品端縁。 4 ... circuit board, 5 ... electrode (on circuit board), 1 ... Electronic parts, 6 ... Solder, 3 ... Solder resist, 5a ... outer part, 5b ... inner part, g ... Edge of electronic component.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大谷 忠夫 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33番地 株 式会社東芝生産技術センター内 (72)発明者 伊藤 健志 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33番地 株 式会社東芝生産技術センター内 (72)発明者 前原 洋一郎 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33番地 株 式会社東芝生産技術センター内 (72)発明者 原田 栄一 東京都日野市旭が丘3丁目1番地の1 株 式会社東芝日野工場内 Fターム(参考) 5E319 AA03 AB05 AC01 AC12 AC15 BB05 CC33 CD04 GG03 GG09 GG11 GG15    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Tadao Otani             33, Shinisogo-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa             Inside the Toshiba Production Technology Center (72) Inventor Takeshi Ito             33, Shinisogo-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa             Inside the Toshiba Production Technology Center (72) Inventor Yoichiro Maehara             33, Shinisogo-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa             Inside the Toshiba Production Technology Center (72) Inventor Eiichi Harada             One share at 3-1, Asahigaoka, Hino City, Tokyo             Ceremony Company Toshiba Hino Factory F-term (reference) 5E319 AA03 AB05 AC01 AC12 AC15                       BB05 CC33 CD04 GG03 GG09                       GG11 GG15

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】回路基板の電極に電子部品がはんだを介し
て実装されるよう構成され、上記回路基板上の特定領域
が耐熱性被覆材料からなるソルダーレジストで覆われる
配線基板装置において、 上記回路基板電極の、上記電子部品の端縁から外側に対
向する外側部位では、電極の少なくとも一部に上記ソル
ダーレジストが重なって施されるオーバーレジスト構造
となし、 上記回路基板電極の、上記電子部品の端縁から内側に対
向する内側部位では、電極の少なくとも一部に上記ソル
ダーレジストが所定間隔を存して施されるクリアランス
構造となすことを特徴とする配線基板装置。
1. A wiring board device in which an electronic component is mounted on electrodes of a circuit board via solder, and a specific region on the circuit board is covered with a solder resist made of a heat-resistant coating material. An outer portion of the board electrode facing outward from the edge of the electronic component has an over-resist structure in which the solder resist is overlapped on at least a part of the electrode, and the circuit board electrode is provided with the electronic component of the electronic component. A wiring board device having a clearance structure in which the solder resist is applied to at least a part of an electrode at a predetermined interval at an inner portion facing inward from an edge.
【請求項2】平面矩形状に形成される上記回路基板電極
の外側部位で、電子部品が配設された場合の端縁に相当
する領域と平行な辺部をオーバーレジスト構造、かつ電
子部品が配設された場合の端縁と直交する辺部をクリア
ランス構造となし、 上記回路基板電極の内側部位で、全ての辺部をクリアラ
ンス構造となすことを特徴とする請求項1記載の配線基
板装置。
2. An outer resisting portion of the circuit board electrode, which is formed in a rectangular shape in a plane, and has a side portion parallel to a region corresponding to an edge when an electronic component is arranged, has an over-resist structure and an electronic component 2. The wiring board device according to claim 1, wherein the side portion orthogonal to the edge when arranged is a clearance structure, and all the side portions are a clearance structure inside the circuit board electrode. .
【請求項3】平面矩形状に形成される上記回路基板電極
の外側部位および内側部位で、電子部品が配設された場
合の端縁に相当する領域と平行な辺部をオーバーレジス
ト構造となし、 上記回路基板電極の外側部位および内側部位で、電子部
品が配設された場合の端縁に相当する領域と直交する辺
部をクリアランス構造となすことを特徴とする請求項1
記載の配線基板装置。
3. A side portion parallel to an area corresponding to an edge when an electronic component is arranged is formed as an over-resist structure in an outer side portion and an inner side portion of the circuit board electrode formed in a planar rectangular shape. The side portions of the outer side portion and the inner side portion of the circuit board electrode, which are orthogonal to a region corresponding to an edge when an electronic component is disposed, have a clearance structure.
The wiring board device described.
【請求項4】平面矩形状に形成される上記回路基板電極
の外側部位で全ての辺部および内側部位で、電子部品が
配設された場合の端縁に相当する領域と平行な辺部をオ
ーバーレジスト構造となし、 上記回路基板電極の内側部位で、電子部品が配設された
場合の端縁に相当する領域と直交する辺部をクリアラン
ス構造となすことを特徴とする請求項1記載の配線基板
装置。
4. A side portion parallel to an area corresponding to an edge when an electronic component is arranged, at all side portions and inside portions of the outside portion of the circuit board electrode formed in a planar rectangular shape. 2. An over-resist structure, wherein a side portion of the inside of the circuit board electrode, which is orthogonal to a region corresponding to an edge when an electronic component is arranged, has a clearance structure. Wiring board device.
【請求項5】平面矩形状に形成される上記回路基板電極
の外側部位で、全ての辺部をオーバーレジスト構造とな
し、上記回路基板電極の内側部位で、全ての辺部をクリ
アランス構造となすことを特徴とする請求項1記載の配
線基板装置。
5. The outside portion of the circuit board electrode formed in a planar rectangular shape has an over-resist structure on all sides, and the inside portion of the circuit board electrode has all sides on a clearance structure. The wiring board device according to claim 1, wherein:
【請求項6】回路基板上に形成される複数の電極に半導
体パッケージがはんだを介して実装され、上記回路基板
上の特定領域が耐熱性被覆材料からなるソルダーレジス
トで覆われる配線基板装置において、 上記電極の、半導体パッケージの中心から最も遠い部分
と最も近い部分は、ソルダーレジストが電極と所定間隔
を存して施されるクリアランス構造となし、 上記電極の、半導体パッケージの中心から最も遠い部分
と最も近い部分とを結ぶ線とは直交する方向の部分は、
ソルダーレジストが重なって施されるオーバーレジスト
構造となすことを特徴とする配線基板装置。
6. A wiring board device in which a semiconductor package is mounted on a plurality of electrodes formed on a circuit board via solder, and a specific region on the circuit board is covered with a solder resist made of a heat resistant coating material. The portion of the electrode farthest from the center of the semiconductor package and the portion closest to the center of the semiconductor package has a clearance structure in which the solder resist is provided at a predetermined distance from the electrode, and the portion of the electrode farthest from the center of the semiconductor package is The part in the direction orthogonal to the line connecting the closest part is
A wiring board device having an over-resist structure in which solder resists are overlapped.
【請求項7】上記請求項1ないし請求項6のいずれかに
記載の配線基板装置を備えることを特徴とする携帯情報
端末装置。
7. A portable information terminal device comprising the wiring board device according to any one of claims 1 to 6.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102629851A (en) * 2011-02-07 2012-08-08 日本电波工业株式会社 Oscillator
JP2013004919A (en) * 2011-06-21 2013-01-07 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and manufacturing method therefor
JP2018152390A (en) * 2017-03-10 2018-09-27 日本電気株式会社 Electronic component and method of manufacturing electronic component
CN112135418A (en) * 2019-06-25 2020-12-25 佳能株式会社 Semiconductor modules, electronic devices and printed wiring boards

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62195195A (en) * 1986-02-21 1987-08-27 日立東部セミコンダクタ株式会社 Hybrid integrated circuit device
JPS6453493A (en) * 1987-08-24 1989-03-01 Ibiden Co Ltd Wiring board for surface packaging
JPH08162746A (en) * 1994-11-30 1996-06-21 Taiyo Yuden Co Ltd Circuit board
JPH09232736A (en) * 1996-02-27 1997-09-05 Ibiden Co Ltd Printed wiring board
JP2000031631A (en) * 1998-07-13 2000-01-28 Nec Corp Printed wiring board

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62195195A (en) * 1986-02-21 1987-08-27 日立東部セミコンダクタ株式会社 Hybrid integrated circuit device
JPS6453493A (en) * 1987-08-24 1989-03-01 Ibiden Co Ltd Wiring board for surface packaging
JPH08162746A (en) * 1994-11-30 1996-06-21 Taiyo Yuden Co Ltd Circuit board
JPH09232736A (en) * 1996-02-27 1997-09-05 Ibiden Co Ltd Printed wiring board
JP2000031631A (en) * 1998-07-13 2000-01-28 Nec Corp Printed wiring board

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102629851A (en) * 2011-02-07 2012-08-08 日本电波工业株式会社 Oscillator
JP2013004919A (en) * 2011-06-21 2013-01-07 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and manufacturing method therefor
JP2018152390A (en) * 2017-03-10 2018-09-27 日本電気株式会社 Electronic component and method of manufacturing electronic component
CN112135418A (en) * 2019-06-25 2020-12-25 佳能株式会社 Semiconductor modules, electronic devices and printed wiring boards
JP2021005586A (en) * 2019-06-25 2021-01-14 キヤノン株式会社 Semiconductor module, electronic apparatus and printed circuit board
US11309235B2 (en) 2019-06-25 2022-04-19 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor module, electronic device, and printed wiring board
JP7080852B2 (en) 2019-06-25 2022-06-06 キヤノン株式会社 Semiconductor modules, electronic devices, and printed wiring boards
CN112135418B (en) * 2019-06-25 2024-11-19 佳能株式会社 Semiconductor modules, electronic devices and printed circuit boards

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