JP2003095630A - シリコンシートとそれを含む太陽電池 - Google Patents
シリコンシートとそれを含む太陽電池Info
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Abstract
シリコンシートおよびそれを用いた太陽電池を提供す
る。 【解決手段】 シリコンシートは、シリコン融液に冷却
基体を接触させることによって液相シリコンからの凝固
により直接的に形成されたシリコンシートであって、こ
のシートがシリコン融液に接していた第1主面(1)と
冷却基板に接していた第2主面(2)に現れた平均シリ
コン結晶粒径はそれら両主面のいずれにおいても10m
m未満であり、第1主面(1)に現れた平均結晶粒径は
第2主面(2)に現れた平均結晶粒径より大きいことを
特徴としている。
Description
コスト化に関し、特に、たとえば太陽電池用として十分
な半導体特性を有する低コストのシリコンシートに関す
る。
ン基板としては、例えば特開平11−21120号公報
に開示されているようなキャスト法を用いて製造された
多結晶シリコンが多く利用されている。キャスト法は、
坩堝内で溶解したシリコンを坩堝底面から徐々に冷却す
ることによってシリコン融液を固化させ、坩堝底面から
上方に向けて成長した長い柱状結晶構造を主体とするイ
ンゴット(凝固塊)を製造する方法である。その冷却開
始当初にはシリコンの固液界面が坩堝底部の冷却面に近
いが、固化の進行により固液界面が冷却面から次第に遠
ざかる。また、固相シリコンの熱伝導率は液相に比べて
小さく、このことも半導体特性を均質にするために望ま
れる一定速度の固相成長を困難にしている。
−92284号公報は、シリコン固液界面の上昇移動速
度と坩堝下面からの熱放出量との関係を予め求めてお
き、その熱放出量を制御することによって凝固速度を安
定化して良好な半導体特性のシリコンインゴットを得て
いる。そのインゴットの水平横断面に現れる平均結晶粒
径は、10mmより大きくなる。この技術によれば、坩
堝底から上方に向かう安定した一方向擬固成長が可能に
なる。このキャスト法で作製したインゴットから水平方
向に切り出した基板の厚さ方向断面は、図9に示されて
いるように、その厚さ方向にほぼ平行な結晶粒界を含ん
でいる。すなわち、キャスト法を利用して得られるシリ
コン基板は坩堝底に平行な水平方向にスライスして作製
され、この基板の両主面における半導体特性はほぼ同一
である。
トから多結晶シリコン基板を得るためにスライス工程が
必要であることから、シリコン基板の低コスト化には限
界を来している。他方、約20年前からスライスが不要
なウエブ(web)法やEFG(edge-defined film-fed
growth)法によるシリコンリボンの成長も研究されてい
る。また、近年ではより速い成長を目指して、シリコン
融液から直接的に薄板状のシリコンリボンを作製するR
GS(ribbon growth on substrate)法が注目されるよう
になっている(26thPVSC,1997,pp.9
1−93)。
らの高速熱移動(抜熱)によってシリコンリボンの高速
成長を行うものである。具体的には、溶融シリコンの側
部周囲を支える側部支持枠に対してその開放下面を支え
る下面支持平板を冷却しながら相対的に横方向に移動さ
せることにより、その下面支持平板上にシリコンリボン
を高速成長させる。
平板部分を横方向に引出した直後にはその平板上のシリ
コンは液相であり、引出された支持平板の下面とシリコ
ン表面との両面から同時に冷却されることとなる。この
方法によるシリコンリボンにおいては、支持平板の移動
方向に平行な垂直断面において固液界面が支持平板面に
対して斜めの状態となり、シリコン結晶が斜めに伸びて
固化成長することが示されている。すなわち、成長した
結晶粒の形状は支持平板面に対して斜め方向の柱状晶に
なる。
させて液相からの凝固によって直接的にシリコンシート
を得る方法が、たとえば特開2001−223172号
公報に開示されている。
ットにクラックを生じさせないようにして成長させるた
めに、また半導体品質確保の観点から、一つのシリコン
インゴットの製造には数十時間もの長時間を要する。そ
して、インゴットからシリコン基板を切り出す際にも、
マルチワイヤーソーによるスライス技術を用いても数十
時間を要する。したがって、キャスト法を利用してシリ
コン基板を作製するコストの低減は困難な状況にある。
相の安定成長自体に課題が多く、シリコンリボンの結晶
化状態の制御の問題をも含み、太陽電池などに実用化さ
れ得る安定な半導体特性を有するシリコンリボンが得ら
れる段階にはない。
に開示された技術においても、好ましい結晶構造や半導
体特性を有するシリコンシートを得るために、さらなる
改善が望まれている。
体特性を両立させ得るシリコンシートおよびそれを用い
た太陽電池を提供することを目的としている。
ートは、シリコン融液に基体を接触させることによって
液相シリコンからの凝固により直接的に形成されたシリ
コンシートであって、このシートがシリコン融液に接し
ていた第1主面と冷却基板接していた第2主面に現れた
平均結晶粒径はそれら両主面のいずれにおいても10m
m未満であり、第1主面に現れた平均結晶粒径は第2主
面に現れた平均結晶粒径より大きいことを特徴としてい
る。
晶粒径が3mm以下であるシリコンシートは、比較的容
易に低コストで作製され得る。また、第1主面と第2主
面に現れる平均結晶粒径の大きさの差が10μm以上5
mm以下であるシリコンシートを得ることができる。平
均結晶粒径は、第1主面上または第2主面上の任意の直
線と結晶粒界との交点の平均間隔として規定され得る。
さ変化を有してもよい。この厚さ変化において周期的に
現れる厚さの極小値領域には、その厚さ方向に実質的に
平行な結晶粒界が形成されている。その厚さ変化の周期
は、10mm以下であることが適当である。その厚さ変
化における凹凸の高低差はシリコンシートが基体に接し
ていた第2主面側に比べてシリコン融液に接していた第
1主面側において大きくなっている。
の範囲内の平均厚さを有することが好ましい。また、シ
リコンシートは、5ナイン以上の純度を有することが好
ましい。さらに、シリコンシートに含まれる表面凹凸の
高低差は、200μm以下であることが好ましい。シリ
コンシートは、30μm以上のキャリヤ拡散長を有し得
る。
に好ましく用いられ得る。光電変換されるべき光は、シ
リコンシートの比較的大きな結晶粒径を有する第1主面
側から入射させられることが好ましい。
トを作製する基本的な手順について説明する。図1
(a)の模式的な断面図に示されているように、シリコ
ンの融点である1415℃より低い温度に加熱冷却し得
る温度制御手段6によって温度制御された耐熱性の基体
3の表面を坩堝4中のシリコン融液5に接触(または浸
漬)させることによって、基体3の表面にシリコンシー
ト7が成長する。必要な厚さのシリコンシート7が成長
した後に、そのシートが付着した基体3が坩堝4から取
り出される。シート7と一体の基体3が高温から冷却さ
れる段階で、図1(b)に示されているように、それら
の熱膨張係数差に起因して基体3とシート7は自然に分
離し、または小さい衝撃を基体3に加えることにより分
離され、液相からの凝固によって直接的に形成されたシ
リコンシート7が得られる。
初期温度をシリコン融点(1415℃)よりも120℃
から1000℃だけ低い温度範囲で制御すること、適当
な厚さのグラファイト材料を用いることによって基体3
の熱容量を適切にすること、基体3の加熱冷却を行う温
度制御手段6内に冷媒として気体を用いること、シリコ
ン融液5への基体3の浸漬時間を最適厚さのシリコンシ
ートが得られるよう制御すること、さらには基体3の表
面の微細凹凸形状によりシリコン溶液の固化を促進させ
る等の基本的条件を設定することにより、基体3の表面
上に多結晶シリコンシートを高速かつ安定に形成するこ
とができる。
より低い温度に制御されているので、基体表面にシリコ
ンの結晶核が随所に発生する。そして、これらの結晶核
がシリコン融液に接している方向に向けて一方向に結晶
成長して、多結晶シリコンシートが形成される。基体3
から分離されたシリコンシートにおいては、一方の主面
に現れた平均結晶粒径の大きさが他方の主面に現れた平
均結晶粒と異なる。
の厚さ方向に平行な模式的断面図である図2に示されて
いるように、シートの一方の主面1に現れた結晶粒と他
方の主面2に現れた結晶粒とでは、平均結晶粒径の大き
さが異なる。すなわち、主面2に発生した複数の結晶核
が主面1側へ向かって種々の方向に拡大成長し、その成
長途中で結晶粒同士がぶつかりあうことで新たな小さい
結晶粒の発生や成長が抑制される。その結果として、主
面1と主面2のそれぞれの面上において、任意の直線と
結晶粒界との交点間の平均長さが互いに異なることにな
る。より具体的には、シート作製時に基体3に接してい
た主面2上では任意の直線と結晶粒界との交点間の平均
値長さがが小さく、シリコン融液5に接していた主面1
上では大きくなる。
下原因となる結晶粒界密度が減少してキャリヤの拡散長
が伸び、シリコンシートの半導体特性を改善することが
できる。この改善効果により、液相からの凝固によって
直接的に形成されたシリコンシートが、太陽電池等のデ
バイス用として用いることが可能になる。
粒の平均断面積が他方の主面に現れた結晶粒の平均断面
積よりも大きいことにより、より具体的には、厚さ方向
断面においてシートの一方の主面1と結晶粒界との交点
間の平均値長さ(平均粒径)と、他方の主面2と結晶粒
界との交点間の平均長さ(平均粒径)との差の絶対値が
10μm以上5mm以下であることにより、このシート
を使用した半導体素子たとえば太陽電池の製造が可能と
なる。半導体特性の観点からは、シートの主面1と主面
2との間の平均結晶粒径差は50μm以上1mm以下で
あることがより好ましい。
することにより、そのシートを利用した太陽電池の作製
プロセスにおいて高いハンドリング性を得ることができ
る。また、シート厚を1mm以下にすることにより、シ
ートの製造時間を短縮できて、低コストのシリコン基板
の提供が可能になる。シートの平均厚さを100μmか
ら1mmの範囲内に設定することにより、キャスト法の
場合のようなスライス工程が不要になり、また良好な半
導体特性を得ることができる。シート製造の容易さの観
点からは、平均厚さが200〜600μmの範囲内にあ
ることがより好ましい。
ることにより、太陽電池等へ利用した場合にも、良好な
デバイス特性値を得ることができる。太陽電池の特性の
観点からは、7ナイン以上の純度であることがより好ま
しい。シリコンシートの表面凹凸における高低差の最大
値が200μm以下であることにより、スライスや研磨
等のプロセスを経ることなくシートの太陽電池等への利
用が可能となり、表面エッチング時間の短縮または表面
エッチングの省略が可能になる。シリコンシート内のキ
ャリヤの拡散長が30μm以上であることにより、変換
効率の比較的良好な太陽電池を得ることができる。
関して、前述の平均粒径の具体的な測定と評価の方法に
ついて述べる。まず、シリコンシートのほぼ中央部を含
んで厚さ方向に沿って、そのシートを切断する。その切
り口を2000番以上の砥石研磨仕上げをした後、10
質量%のNaOH水溶液を用いて80℃で10分間のエ
ッチングを行えば、エッチング速度の結晶方位依存性に
起因して結晶粒が明瞭に現れる。次にCCD素子などを
利用した映像拡大装置を用いて、図2に示されているよ
うな拡大断面像を得る。20倍の拡大断面像を用いて、
シートの一方主面における距離10mm(拡大状態では
200mm)当りの表面と結晶粒界との交点の数を数え
る。次に他方主面の距離10mm当たりの表面と結晶粒
界との交点の数を数える。
点の数は、主面1において7個で、主面2では13個と
なっている。この場合、表面と結晶粒界との交点間の平
均値長さである平均粒径としては、主面1上において1
0mm÷(7+1)=1.25mmが得られ、主面2上
においては10mm÷(13+1)=0.714mmが
得られる。
厚さ方向に沿った断面における各主面と結晶粒界との交
点間の平均長さを求める場合には、濃硝酸や王水を加熱
した酸溶液で電極金属などを除去してシリコンシートを
抽出した後に、前述のようにシートのほぼ中央部を含ん
で厚さ方向に沿って切断し、その断面における結晶粒が
明瞭に現れるようにする。しかし、電極金属などを除去
した後でも、合金層形成部分に関してはシリコンシート
の最外表面が不明瞭な場合がある。その場合には、合金
層と半導体層との界面をもってシリコンシートの表面と
する。
めの装置構成と方法について以下に述べる。しかし、本
発明によるシリコンシートを得る装置はこれに限定され
るものはない。もちろん、図1に示した枚葉式でのシー
ト製造装置やその他の装置も利用し得ることは言うまで
もない。
ることができるシート製造装置の模式的な縦断面図を示
している。この装置においては、ステンレス製チャンバ
70内に、坩堝71、ヒータ72、シリコン融液73、
基体74、および基体の回転軸75が設けられ、そして
チャンバ上部のシート取出し孔から外側にシートを巻き
取るための巻取り機構76が設けられている。さらに、
シリコン原料投入機構77が取付けられており、図面に
おいてその詳細は省略されている。ヒータ72には抵抗
加熱方式を用いているが、同等の能力を有する高周波加
熱方式等が用いられてもよい。
付加基体78を取り付けて、付加基体78の表面にシリ
コンシートを成長させることもできる。基体74または
付加基体78の材質としてはグラファイトを基本とした
が、その表面に炭化珪素を熱CVD法で形成した基体を
用いてもよい。付加基体78の材質としては、このほか
に窒化珪素のようなセラミックスや高温に耐える耐熱性
金属も可能であるし、セラミックスを部分的もしくは全
面的にコートしたカーボン、セラミックス、または耐熱
金属も可能である。
平坦面であってもよく、基体74の回転方向に沿った
溝、または規則的もしくは不規則に配置した微細凹凸面
が形成されていてもよい。基体の表面に形成された溝や
微細凹凸面は、シリコンシートの成長を高速化する機能
を有する。
の基体74の内部表面近くに空洞を設けて窒素、アルゴ
ン、または空気のいずれかを加圧導入させるガス冷媒方
式を採用しているが、その基体内にステンレス、銅など
の金属製配管を埋め込んで温度制御を行う液体冷媒方式
を採用してもよい。
を製造する手順について述べる。まず純度6ナイン程度
の原料シリコンを坩堝71内に投入した後に、チャンバ
70内を真空ポンプで排気してアルゴンガスに置換し
た。シリコン原料を加熱しながら、チャンバ70内のA
r圧力は10Torr程度に保たれた。ただし、シリコ
ン原料からの脱ガスを促進するためにさらに真空度を高
めてもよい。シリコンの溶融後には、シリコン原料投入
機構77から顆粒状シリコンを追加投入して、坩堝71
内のシリコン溶湯面高さを調整した。
湯温度は1450℃としたが、シートの成長条件との兼
ね合いに応じて、過冷却温度の1380℃以上からより
高温の1600℃までの範囲内に設定され得る。シリコ
ン融液面が規定の高さになった後に、基体74内に冷媒
ガスを通じて温度制御を行い、基体74の表面温度が1
200℃に安定化した状態でその表面がシリコン融液に
浸漬された。基体74の温度としては、シリコン融点に
比べて1000℃から120℃だけ低い範囲内にあるこ
とが望ましい。
74を回転駆動すれば、その基体74上において、シリ
コン多結晶が高速かつ制御性良く安定してシートに成長
した。こうして形成されたシリコンシートにおいては、
基体74がシリコンの融点温度以下に制御されているこ
とにより、基体表面側からシリコン融液側に向かって多
結晶が均一な厚さで成長していた。基体74とシリコン
シートが室温に冷却される過程では、相互の熱膨張係数
差により自然にまたは小さい衝撃を加えることにより、
その基体からシリコンシートが容易に剥離された。得ら
れたシートの平均厚さは約500μmで、シリコン融液
に接していた側の主面に現れた平均結晶粒径は基体74
と接していた側の主面に比べて大きい。
コンシートの一例の断面写真を示している。この断面写
真において、シリコンシートの下方の主面が基体と接し
ていた面であり、その下方主面と結晶粒界との交点の数
が多く、すなわち交点間の平均長さ(平均粒径)が小さ
い。他方、シリコンシートの上方の主面はシリコン融液
に接していた面であり、その上方主面と結晶粒界との交
点の数が少なく、すなわち交点間の平均長さ(平均粒
径)が大きいことがわかる。このシリコンシートの下方
主面における平均結晶粒径は約0.22mmであり、上
方主面における平均粒径は約0.38mmであった。そ
して、これらの下方主面と上方主面とにおける平均粒径
の差の絶対値は、0.16mmである。
粒界との交点の数は、基体74と接していた下方主面に
おいて45個であり、シリコン融液と接していた上方主
面においては26個であった。その写真断面においてシ
ートの主面と結晶粒界とがなす角のうち、鋭角側の角度
が80度以上90度以下であるものは全体の94%であ
った。キャリヤ拡散長の測定を行なったところでは、基
体と接していた下方主面側では45μmであり、シリコ
ン融液に接していた上方主面側では60μmの値を得る
ことができた。表面の凹凸状態を段差計を用いて測定し
たところでは、最大値はシートの下方主面側で120μ
mであり、上方主面側で150μmであった。シリコン
シート中の不純物濃度を測定したところでは、7ナイン
のシリコン純度が得られていた。この純度の向上は、溶
融シリコンに含まれる不純物の固液分配係数の相違によ
り得られたものと考えられる。
利用して太陽電池を作製する方法について述べる。この
方法は、図5のフロー図に示された手順に従うことがで
きる。この実施例では、シリコンシートがp型半導体に
されたが、n型半導体であってもよい。pまたはnの導
電型のシリコンシートを形成する場合には、原料シリコ
ンの溶融時にボロン(B)またはリン(P)のようなド
ーパントを混入することが望ましい。得られるシリコン
シートにおいては、その両主面に現れる平均結晶粒径が
互いに異なるので作製すべき太陽電池の受光面をどちら
の主面にするかを最初に決める必要がある。これは、シ
リコンシートの表面状態や半導体特性と太陽電池プロセ
スとの適合性を考慮して決定する。この実施例1では、
表面に現れた平均結晶粒径が大きい方の主面が受光面と
して選択された。
S2において、硝酸とフッ酸との混合液を用いてシリコ
ンシートの洗浄と表面エッチングを行った。その後のス
テップS3において、水酸化ナトリウムを用いて、シー
トの光入射側主面にテクスチヤエッチングを行った。こ
のエッチングとしてはプラズマ放電によるドライエッチ
ング法なども可能であるが、ウエットエッチング法を用
いることで、より低コストで表面テクスチャの形成が可
能となる。ステップS4では、PSG拡散(リンシリケ
ートガラス膜を用いた拡散方法)によりn型拡散層を形
成した。ステップS5においては、表面に形成されてい
るPSG膜をフッ酸で除去した後に、受光面側主面に反
射防止膜としてシリコン窒化膜を形成した。次にステッ
プS6において、裏面側に形成された拡散層を硝酸とフ
ッ酸の混合液を用いて除去した。ステップS7では、A
lペーストを用いて裏面側に合金層と裏面電極を同時に
形成した。最後にステップS8において、受光面側の電
極が銀ペースト材料のスクリーン印刷により形成され
た。
されているような太陽電池セルが5つ作製された。図6
の太陽電池セルは、シリコンシート50、拡散層51、
光電変換層52、合金層53、表面電極54、および裏
面電極55を含んでいる。
とこのシートを用いて作製した太陽電池の光電変換効率
が表1に示されている。
4の表面全面に厚さ100μmのSiC層をコーティン
グした状態で、シリコンシートの製造を行った。実施例
2において使用した製造装置と製造方法に関する他の条
件は、実施例1の場合と同様である。したがって、実施
例2のシリコン融液と基体の温度は、実施例1と同様
に、それぞれ1450℃と1200℃である。
74の表面状態は結晶成長に大きな影響を与える。シリ
コン融液に対してグラファイトより濡れ性が高いSiC
層を基体表面にコーティングすることによって、融液か
ら基体への熱流が大きくなってシリコン融液の過冷却度
がより小さくなることで、巨大なデンドライト成長を抑
制しつつより迅速な結晶核生成と結晶成長が可能とな
る。また、本実施例2において、シリコン融液に対する
濡れ性を向上させるためには、SiCに代えて緻密なハ
イドロカーボンをコートしてもよい。
ートの結晶粒の大きさが全面でより均一化し、またシリ
コン融液に接していた側の主面において表面平滑度が向
上した。表面凹凸の高低差の最大値は、基体に接してい
た主面側で30μmであり、シリコン融液に接していた
主面側で50μmであった。なお、実施例2における表
面コーティングにより、基体とシリコンシートとの剥離
が実施例1の場合と同様に容易であった。より表面平滑
度の高いシリコンシートを用いて太陽電池を作製すれ
ば、その電極形成が容易となった。
とこのシートを用いて作製した太陽電池の光電変換効率
も、実施例1の場合と同様に表1に示されている。
(a)に示すように表面に溝加工を施した付加基体78
が用いられた。溝の幅と段差の双方を約1mmとし、そ
の付加基体78は回転軸75の回転方向と溝方向が一致
するようにして冷却回転体74に取付けられた。また、
図7(b)に示すように全面に規則的な間隔でピラミッ
ド状の小突起が形成されるように凹凸加工を施した付加
基体78も用いられた。それらの凹凸の間隔と段差の双
方が、約1mmにされた。実施例3において図7(a)
と(b)に示す付加基体を用いたことを除けば、使用し
た製造装置と製造方法に関する他の条件は、実施例1の
場合と同様である。
付加基体の溝や凹凸は、シリコン結晶成長の起点となり
やすい。したがって、それらの溝や凹凸の分布を決める
ことによって結晶成長の起点を決めることができる。す
なわち、溝間隔や凹凸間隔を規則的に形成することによ
り、シリコン結晶粒の大きさや均一性が改善されると共
に、広い領域に渡るシート厚さの均一性を改善すること
もできる。なお、個々の溝や凹凸の配置が不規則である
場合にも結晶粒の大きさやシート厚さの若干の変化は認
められるが、シートを得ることは可能である。
る表面凹凸の高低差の最大値は、付加基体に接していた
主面側で40μmであり、シリコン融液に接していた主
面側で80μmである。なお、シリコンシート成長の間
において、シリコン融液は付加基体の溝または凹凸(い
ずれも約1mmの段差)の頂点部のみに接して、底部に
は接触しない。また、本実施例3においては、溝間隔ま
たは凹凸間隔を大きめに設定することにより、シリコン
結晶粒を大きくすることができた。
溝付の付加基体を用いて作製されたシリコンシートの一
例の断面写真を示している。この断面写真において、シ
リコンシートの下方の主面が付加基体と接していた面で
あり、上方の主面はシリコン融液に接していた面であ
る。
ートの厚さは、溝幅の周期に対応して周期的に変動して
いる。すなわち、シート厚さの極大値と極小値が周期的
に現れている。そして、その厚さの極小値領域の各々に
は、厚さ方向に実質的に平行な結晶粒界が形成されてい
る。
の付加基体を用いて作製したシリコンシートの構造とこ
のシートを用いて作製した太陽電池の光電変換効率も、
表1においてそれぞれ実施例3(a)および(b)とし
て示されている。
は高速成長が可能であって多結晶状態で良好な半導体特
性を有しているので、太陽電池用基板として用いればそ
の大幅な低コスト化を可能にし、その他の各種半導体デ
バイスの低コスト化をも可能にし得る。
る太陽電池の構造と作製プロセスをそのシートの結晶粒
構造と半導体特性の特徴に適合させることにより、良好
な特性の太陽電池を安価に大量生産することができる。
略的に示す模式的断面図であり、(a)はシリコンシー
トの成長段階を示し、(b)は基体からシリコンシート
が剥離される状態を示している。
向に平行な模式的断面図である。
の装置の一例を示す模式的断面図である。
面写真図である。
池を作製する工程の一例を示すフロー図である。
た太陽電池の一例を模式的に示す断面図である。
ために用い得る付加基体の表面形状を示す模式的な斜視
図であり、(a)は表面に周期的溝が形成された付加基
体を示し、(b)は表面に周期的なピラミッド状凹凸が
形成された付加基体を示している。
リコンシートの一例を示す断面写真図である。
出されたシリコン基板の一例を示す厚さ方向に平行な模
式的断面図である。
いた主面、3 基体、4 坩堝、5 シリコン融液、6
冷却手段。
Claims (14)
- 【請求項1】 シリコン融液に基体を接触させることに
よって液相シリコンからの凝固により直接的に形成され
たシリコンシートであって、このシートが前記融液に接
していた第1主面と前記基体に接していた第2主面に現
れた平均結晶粒径はそれら両面のいずれにおいても10
mm未満であり、前記第1主面に現れた平均結晶粒径は
前記第2主面に現れた平均結晶粒径より大きいことを特
徴とするシリコンシート。 - 【請求項2】 前記第1主面と前記第2主面に現れた平
均結晶粒径はそれら両面のいずれにおいても3mm以下
であることを特徴とする請求項1に記載のシリコンシー
ト。 - 【請求項3】 前記第1主面と前記第2主面に現れた平
均結晶粒径の大きさの差が10μm以上5mm以下であ
ることを特徴とする請求項1に記載のシリコンシート。 - 【請求項4】 前記平均結晶粒径は、前記第1主面上ま
たは前記第2主面上の任意の直線と結晶粒界との交点の
平均間隔として規定されたものであることを特徴とする
請求項1から3のいずれかの項に記載のシリコンシー
ト。 - 【請求項5】 前記シートは周期的でなだらかな厚さ変
化を有していることを特徴とする請求項1から4のいず
れかの項に記載のシリコンシート。 - 【請求項6】 前記厚さ変化において周期的に現れる厚
さの極小値領域にはその厚さ方向に実質的に平行な結晶
粒界が形成されていることを特徴とする請求項5に記載
のシリコンシート。 - 【請求項7】 前記厚さ変化の周期は10mm以下であ
ることを特徴とする請求項5または6に記載のシリコン
シート。 - 【請求項8】 前記厚さ変化における凹凸の高低差は前
記第2主面側に比べて前記第1主面側において大きいこ
とを特徴とする請求項5から7のいずれかの項に記載の
シリコンシート。 - 【請求項9】 100μmから1mmの範囲内の平均厚
さを有することを特徴とする請求項1から8のいずれか
の項に記載のシリコンシート。 - 【請求項10】 5ナイン以上の純度を有することを特
徴とする請求項1から9のいずれかの項に記載のシリコ
ンシート。 - 【請求項11】 前記シートに含まれる表面凹凸の高低
差は200μm以下であることを特徴とする請求項1か
ら10のいずれかの項に記載のシリコンシート。 - 【請求項12】 30μm以上のキャリヤ拡散長を有す
ることを特徴とする請求項1から11のいずれかの項に
記載のシリコンシート。 - 【請求項13】 請求項1から12のいずれかの項に記
載されたシリコンシートを含むことを特徴とする太陽電
池。 - 【請求項14】 光電変換されるべき光は前記シリコン
シートの前記第1主面側から入射させられることを特徴
とする請求項13に記載の太陽電池。
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