JP2003078981A - マイクロホン実装回路基板および該基板を搭載する音声処理装置 - Google Patents
マイクロホン実装回路基板および該基板を搭載する音声処理装置Info
- Publication number
- JP2003078981A JP2003078981A JP2001268520A JP2001268520A JP2003078981A JP 2003078981 A JP2003078981 A JP 2003078981A JP 2001268520 A JP2001268520 A JP 2001268520A JP 2001268520 A JP2001268520 A JP 2001268520A JP 2003078981 A JP2003078981 A JP 2003078981A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microphone
- circuit board
- back plate
- vibrating
- chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Electrostatic, Electromagnetic, Magneto- Strictive, And Variable-Resistance Transducers (AREA)
- Circuit For Audible Band Transducer (AREA)
- Details Of Audible-Bandwidth Transducers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、マイクロホンを実装する回路基板
や装置の小型化・低コスト化や信頼性の向上を図ること
を目的とする。 【解決手段】 基台11の中央部に音圧により振動する
振動膜12を形成するとともに、この振動膜12の周囲
を囲む支持部13が背面板14を支持して振動膜12に
対面させることにより、振動膜12と背面板14との間
に支持部13を介装して振動膜12の振動空間Sを確保
する積層構造に構成することによって、半導体製造技術
により作製可能でコンデンサ型マイクロホンとして機能
するチップマイクロホン10を実現し、このチップマイ
クロホン10をモジュール化して回路基板に実装する。
や装置の小型化・低コスト化や信頼性の向上を図ること
を目的とする。 【解決手段】 基台11の中央部に音圧により振動する
振動膜12を形成するとともに、この振動膜12の周囲
を囲む支持部13が背面板14を支持して振動膜12に
対面させることにより、振動膜12と背面板14との間
に支持部13を介装して振動膜12の振動空間Sを確保
する積層構造に構成することによって、半導体製造技術
により作製可能でコンデンサ型マイクロホンとして機能
するチップマイクロホン10を実現し、このチップマイ
クロホン10をモジュール化して回路基板に実装する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロホン実装
回路基板および該基板を搭載する音声処理装置に関し、
詳しくは、マイクロホンを実装する回路基板や装置の小
型化などを図ることができるものに関する。
回路基板および該基板を搭載する音声処理装置に関し、
詳しくは、マイクロホンを実装する回路基板や装置の小
型化などを図ることができるものに関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、携帯電話機などの音声処理装
置も他の電子機器と同様に小型化・軽量化が進められて
いる。このような小型の音声処理装置に用いられている
マイクロホンは、コンデンサ型が主流であり、振動膜と
背面板の2枚の極板で形成されている。
置も他の電子機器と同様に小型化・軽量化が進められて
いる。このような小型の音声処理装置に用いられている
マイクロホンは、コンデンサ型が主流であり、振動膜と
背面板の2枚の極板で形成されている。
【0003】この種のマイクロホンは、感度、ノイズな
どの性能に優れて、小型化に適しており、例えば、振動
膜と背面板との間にスペーサー(支持部)を介装すると
ともに、ケースに内装することによりモジュール化する
などして回路基板に実装し音声処理装置に搭載されてい
る。
どの性能に優れて、小型化に適しており、例えば、振動
膜と背面板との間にスペーサー(支持部)を介装すると
ともに、ケースに内装することによりモジュール化する
などして回路基板に実装し音声処理装置に搭載されてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のマイクロホンにあっては、複数種の部品を組
み立てて作製するため、次のような問題があった。
うな従来のマイクロホンにあっては、複数種の部品を組
み立てて作製するため、次のような問題があった。
【0005】部品の組立工程の精度の制約により、小型
化するのにも限界があることから、携帯電話機等の小型
の電子機器に搭載されている半導体部品などの他のモジ
ュールに比べて、厚さや占有面積も大きくなってしま
い、回路基板の実装密度を高めることの妨げになってい
る。
化するのにも限界があることから、携帯電話機等の小型
の電子機器に搭載されている半導体部品などの他のモジ
ュールに比べて、厚さや占有面積も大きくなってしま
い、回路基板の実装密度を高めることの妨げになってい
る。
【0006】また、部品の材質が個々に異なって、熱膨
張率に差異があることから、実装工程における半田付け
などの複数回の熱処理(200℃以上)による熱衝撃
で、熱歪みによる変形が生じてしまう。なお、無鉛半田
を用いた実装工程ではさらに高温の240〜260℃の
熱処理に対する耐性が必要になる。
張率に差異があることから、実装工程における半田付け
などの複数回の熱処理(200℃以上)による熱衝撃
で、熱歪みによる変形が生じてしまう。なお、無鉛半田
を用いた実装工程ではさらに高温の240〜260℃の
熱処理に対する耐性が必要になる。
【0007】さらに、振動膜やスペーサー絶縁部などに
樹脂材料からなる部品を採用した場合には、バンプ/リ
フローなどのように高温処理を伴う実装工程により一括
処理することができず、効率化を図ることができない。
樹脂材料からなる部品を採用した場合には、バンプ/リ
フローなどのように高温処理を伴う実装工程により一括
処理することができず、効率化を図ることができない。
【0008】そこで、本発明は、マイクロマシン加工技
術を利用してマイクロホンを作製することにより、実装
回路基板や搭載装置の小型化・低コスト化や信頼性の向
上を図ることを目的とする。
術を利用してマイクロホンを作製することにより、実装
回路基板や搭載装置の小型化・低コスト化や信頼性の向
上を図ることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すること
を目的に、本発明は、マイクロホン実装回路基板におい
て、音圧により振動する振動膜と、該振動膜に対面する
背面板と、振動膜と背面板との間に配設されて該振動膜
の振動空間を確保する支持部とを備えて、これら振動
膜、支持部および背面板を積層構造に形成したチップマ
イクロホンをそのまま、あるいは該チップマイクロホン
をパッケージングしたモジュールとして、回路基板に実
装したことを特徴とするものである。
を目的に、本発明は、マイクロホン実装回路基板におい
て、音圧により振動する振動膜と、該振動膜に対面する
背面板と、振動膜と背面板との間に配設されて該振動膜
の振動空間を確保する支持部とを備えて、これら振動
膜、支持部および背面板を積層構造に形成したチップマ
イクロホンをそのまま、あるいは該チップマイクロホン
をパッケージングしたモジュールとして、回路基板に実
装したことを特徴とするものである。
【0010】この発明では、マイクロホンが、振動膜、
支持部および背面板を積層構造に形成してチップ化され
るので、マイクロマシン加工技術を利用して小型のマイ
クロホンを高精度に作製することができる。したがっ
て、このチップマイクロホンをそのまま、あるいはモジ
ュール化して、高密度に回路基板に実装することができ
る。このことから、CSP(チップサイズパッケージン
グ)等の高密度実装にも適用することもできる。
支持部および背面板を積層構造に形成してチップ化され
るので、マイクロマシン加工技術を利用して小型のマイ
クロホンを高精度に作製することができる。したがっ
て、このチップマイクロホンをそのまま、あるいはモジ
ュール化して、高密度に回路基板に実装することができ
る。このことから、CSP(チップサイズパッケージン
グ)等の高密度実装にも適用することもできる。
【0011】ここで、前記チップマイクロホンは、同一
または異質の基板材料を接合して、該基板材料の不要な
部分を取り除くことにより前記振動膜、前記支持部およ
び前記背面板を形成してもよく、また、前記基板材料の
一面側にホウ素を拡散するエッチングストップ層を形成
して、前記振動膜とする部分をエッチングすることによ
り当該振動膜を形成してもよく、さらに、前記支持部は
ホウ素を含んだシリコンの酸化物により形成してもよ
い。
または異質の基板材料を接合して、該基板材料の不要な
部分を取り除くことにより前記振動膜、前記支持部およ
び前記背面板を形成してもよく、また、前記基板材料の
一面側にホウ素を拡散するエッチングストップ層を形成
して、前記振動膜とする部分をエッチングすることによ
り当該振動膜を形成してもよく、さらに、前記支持部は
ホウ素を含んだシリコンの酸化物により形成してもよ
い。
【0012】また、本発明に係る前記チップマイクロホ
ンは、シリコンとシリコンの化合物とを用いて半導体製
造技術により作製してもよい。
ンは、シリコンとシリコンの化合物とを用いて半導体製
造技術により作製してもよい。
【0013】この発明では、半導体製造技術のマイクロ
マシン加工技術を利用してチップマイクロホンを作製す
ることができるので、チップマイクロホンをより小型
に、かつ高精度に作製することができる。また、シリコ
ン系材料を用いてチップマイクロホンを作製した場合、
このチップマイクロホンはシリコン系材料による高耐熱
性を利用して高温熱処理を施すことができ、マイクロホ
ンモジュール作製時や回路基板実装時のリフロー等の複
数回に及ぶ熱衝撃に対する耐性を向上させることができ
る。したがって、複数の部品を組み立てる工程によらず
に、LSIチップのように厚さ1mm以下に薄く、か
つ、実装面積も小さなチップマイクロホンを作製するこ
とができるとともに、バンプ/リフローなどを使って回
路基板に−括実装するなど高温処理を伴う実装工程を採
用して効率化を図ることができる。なお、チップマイク
ロホンの耐熱性は、一般に使われているアルミニウムを
電極に用いた場合でも300℃以上であり、この程度の
耐熱性を有することにより無鉛半田を用いた高温の実装
工程にも適用することができる。また、この電極材料は
シリコンと良好なオーミック接触を持つ材料であればよ
いことはいうまでもない。
マシン加工技術を利用してチップマイクロホンを作製す
ることができるので、チップマイクロホンをより小型
に、かつ高精度に作製することができる。また、シリコ
ン系材料を用いてチップマイクロホンを作製した場合、
このチップマイクロホンはシリコン系材料による高耐熱
性を利用して高温熱処理を施すことができ、マイクロホ
ンモジュール作製時や回路基板実装時のリフロー等の複
数回に及ぶ熱衝撃に対する耐性を向上させることができ
る。したがって、複数の部品を組み立てる工程によらず
に、LSIチップのように厚さ1mm以下に薄く、か
つ、実装面積も小さなチップマイクロホンを作製するこ
とができるとともに、バンプ/リフローなどを使って回
路基板に−括実装するなど高温処理を伴う実装工程を採
用して効率化を図ることができる。なお、チップマイク
ロホンの耐熱性は、一般に使われているアルミニウムを
電極に用いた場合でも300℃以上であり、この程度の
耐熱性を有することにより無鉛半田を用いた高温の実装
工程にも適用することができる。また、この電極材料は
シリコンと良好なオーミック接触を持つ材料であればよ
いことはいうまでもない。
【0014】また、前記チップマイクロホンの前記振動
膜、前記支持部および前記背面板を同一または異質の基
板材料を接合して該基板材料の不要な部分を取り除くこ
とにより形成したり、また、前記基板材料の一面側にホ
ウ素の拡散するエッチングストップ層を形成して前記振
動膜とする部分をエッチングすることにより当該振動膜
を形成したり、さらに、前記支持部をホウ素の拡散する
シリコンの酸化物により形成する場合には、半導体製造
技術のエッチング処理により容易かつ安価にこれらの加
工を行うことができる。
膜、前記支持部および前記背面板を同一または異質の基
板材料を接合して該基板材料の不要な部分を取り除くこ
とにより形成したり、また、前記基板材料の一面側にホ
ウ素の拡散するエッチングストップ層を形成して前記振
動膜とする部分をエッチングすることにより当該振動膜
を形成したり、さらに、前記支持部をホウ素の拡散する
シリコンの酸化物により形成する場合には、半導体製造
技術のエッチング処理により容易かつ安価にこれらの加
工を行うことができる。
【0015】また、少なくとも振動膜と基台が同一素材
であることから、その熱膨張係数がほぼ等しく、振動膜
の熱歪みによる影響を非常に小さくすることができる。
であることから、その熱膨張係数がほぼ等しく、振動膜
の熱歪みによる影響を非常に小さくすることができる。
【0016】さらに、本発明に係る前記チップマイクロ
ホンは、前記振動膜および前記支持部を同一素材により
作製してもよい。
ホンは、前記振動膜および前記支持部を同一素材により
作製してもよい。
【0017】この発明では、振動膜と支持部の熱膨張係
数を等しくして熱歪みが生じるのを防止することがで
き、振動膜が損傷してしまうことを少なくすることがで
きる。したがって、振動膜を高精度に作製することがで
きる。ここで、この振動膜と支持部に限らず、背面板を
も同一素材にしてもよいことはいうまでもなく、また、
振動膜と支持部を一体構造にしてもよい。
数を等しくして熱歪みが生じるのを防止することがで
き、振動膜が損傷してしまうことを少なくすることがで
きる。したがって、振動膜を高精度に作製することがで
きる。ここで、この振動膜と支持部に限らず、背面板を
も同一素材にしてもよいことはいうまでもなく、また、
振動膜と支持部を一体構造にしてもよい。
【0018】そして、上記課題を解決することを目的
に、本発明は、音声処理装置において、上記発明に係る
マイクロホン実装回路基板を搭載したことを特徴とする
ものである。
に、本発明は、音声処理装置において、上記発明に係る
マイクロホン実装回路基板を搭載したことを特徴とする
ものである。
【0019】この発明では、上述したマイクロホン実装
回路基板の発明による作用効果を得ることができ、小型
化、低コスト化を図るとともに、耐熱性を高めて信頼性
を向上させることができる。
回路基板の発明による作用効果を得ることができ、小型
化、低コスト化を図るとともに、耐熱性を高めて信頼性
を向上させることができる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に基づいて説
明する。図1〜図3は本発明に係る音声処理装置に搭載
するマイクロホン実装回路基板の一実施形態を示す図で
ある。なお、本実施形態では、図面における上下を用い
て説明するが、後述するチップマイクロホンにおける上
下を意味するものではない。
明する。図1〜図3は本発明に係る音声処理装置に搭載
するマイクロホン実装回路基板の一実施形態を示す図で
ある。なお、本実施形態では、図面における上下を用い
て説明するが、後述するチップマイクロホンにおける上
下を意味するものではない。
【0021】図1において、10はチップマイクロホン
であり、チップマイクロホン10は、基台11の中央部
に音圧により振動する振動膜12を形成するとともに、
この振動膜12の周囲で支持部13が背面板14を支持
して振動膜12に対面させることにより、振動膜12の
振動空間Sを確保してコンデンサ型マイクロホンとして
機能するように構築されており、このチップマイクロホ
ン10は、後述する半導体製造技術(マイクロマシン加
工技術)で作製することにより振動膜12と背面板14
との間に支持部13を介装した積層構造に構成されてい
る。
であり、チップマイクロホン10は、基台11の中央部
に音圧により振動する振動膜12を形成するとともに、
この振動膜12の周囲で支持部13が背面板14を支持
して振動膜12に対面させることにより、振動膜12の
振動空間Sを確保してコンデンサ型マイクロホンとして
機能するように構築されており、このチップマイクロホ
ン10は、後述する半導体製造技術(マイクロマシン加
工技術)で作製することにより振動膜12と背面板14
との間に支持部13を介装した積層構造に構成されてい
る。
【0022】また、チップマイクロホン10は、背面板
14を覆うようにキャップ15が取り付けられており、
背面板14の上面に形成する電極16は、背面板14に
隣接するように形成する端子台17の上面の電極18と
の間を、ワイヤ19のワイヤボンディングにより電気的
に接続することによって外部に引き出されている。な
お、キャップ15はセラミックス系接着剤等20により
基台11および端子台17の上面に固着されて取り付け
られている。
14を覆うようにキャップ15が取り付けられており、
背面板14の上面に形成する電極16は、背面板14に
隣接するように形成する端子台17の上面の電極18と
の間を、ワイヤ19のワイヤボンディングにより電気的
に接続することによって外部に引き出されている。な
お、キャップ15はセラミックス系接着剤等20により
基台11および端子台17の上面に固着されて取り付け
られている。
【0023】このキャップ15は、その容積によってマ
イクロホンの音響特性を調整する役割を持ち、同時に、
電磁波のシールドに用いることもできる。また、キャッ
プ中央の気体流通孔15aはマイクロホンの指向特性を
制御するためにある。なお、背面板14には、振動膜1
2の振動を妨げないように表裏を連通させる複数の貫通
孔14aが形成されている。
イクロホンの音響特性を調整する役割を持ち、同時に、
電磁波のシールドに用いることもできる。また、キャッ
プ中央の気体流通孔15aはマイクロホンの指向特性を
制御するためにある。なお、背面板14には、振動膜1
2の振動を妨げないように表裏を連通させる複数の貫通
孔14aが形成されている。
【0024】そして、このチップマイクロホン10は、
キャップ15の外側となる基台11および端子台17の
上面に半田バンプ21を形成することにより、不図示の
モジュール基板に張り合わせてモジュールを製作するよ
うになっており、このモジュール基板をマイクロホンの
実装基板に電気的に取り付けて音声処理装置に搭載され
ることになる。
キャップ15の外側となる基台11および端子台17の
上面に半田バンプ21を形成することにより、不図示の
モジュール基板に張り合わせてモジュールを製作するよ
うになっており、このモジュール基板をマイクロホンの
実装基板に電気的に取り付けて音声処理装置に搭載され
ることになる。
【0025】次に、チップマイクロホン10の半導体製
造技術による作製手順(方法)を図2および図3を用い
て説明する。
造技術による作製手順(方法)を図2および図3を用い
て説明する。
【0026】まず、図2(a)に示すように、一般的な
半導体用基板であるシリコン基板を背面板基板114と
して準備して、その下面には不純物を含む粉体酸化シリ
コンを塗布する方法または酸化膜をCVD法等により堆
積させる方法などによってその不純物を含む接合膜11
3を形成するとともに、同様に、図2(b)に示すよう
に、シリコン基板を振動膜基板111として準備して、
その上面にはシリコン基板上に不純物を高濃度に熱拡散
させる固体拡散法によってその不純物を高濃度にドープ
させたエッチストップ層112を形成する。
半導体用基板であるシリコン基板を背面板基板114と
して準備して、その下面には不純物を含む粉体酸化シリ
コンを塗布する方法または酸化膜をCVD法等により堆
積させる方法などによってその不純物を含む接合膜11
3を形成するとともに、同様に、図2(b)に示すよう
に、シリコン基板を振動膜基板111として準備して、
その上面にはシリコン基板上に不純物を高濃度に熱拡散
させる固体拡散法によってその不純物を高濃度にドープ
させたエッチストップ層112を形成する。
【0027】このとき、接合膜113およびエッチスト
ップ層112には、同じ不純物を含ませることにより物
性を近似させるとともに、接合膜113には、エッチス
トップ層112から不純物が接合膜113側に拡散しな
いように、そのエッチストップ層112内にドープした
不純物の濃度よりも高い不純物濃度で不純物を含むよう
に設定されている。
ップ層112には、同じ不純物を含ませることにより物
性を近似させるとともに、接合膜113には、エッチス
トップ層112から不純物が接合膜113側に拡散しな
いように、そのエッチストップ層112内にドープした
不純物の濃度よりも高い不純物濃度で不純物を含むよう
に設定されている。
【0028】また、エッチストップ層112は、厚さ数
ミクロンの薄い振動膜12にしてコンデンサ型マイクロ
ホンとしての感度を向上させるために、後述する工程に
おいてエッチングされないようにホウ素を不純物として
拡散させるのが好適であり(このことから、接合膜11
3にもホウ素を不純物として含ませることになる。)、
固体拡散法を採用してホウ素を不純物として高濃度に熱
拡散させて形成する。この不純物の熱拡散は、高濃度不
純物層を得るために高温で熱処理することになり、この
ときにはシリコンウェハに熱変形が生じないようにする
ために1200℃以下の温度で熱処理する。なお、ここ
では固体拡散法を用いてエッチストップ層112を形成
する場合について説明するが、イオン注入法、塗布法等
の他の形成法によって形成してもよく、また、不純物と
してホウ素に限るものではないことは言うまでもない。
ミクロンの薄い振動膜12にしてコンデンサ型マイクロ
ホンとしての感度を向上させるために、後述する工程に
おいてエッチングされないようにホウ素を不純物として
拡散させるのが好適であり(このことから、接合膜11
3にもホウ素を不純物として含ませることになる。)、
固体拡散法を採用してホウ素を不純物として高濃度に熱
拡散させて形成する。この不純物の熱拡散は、高濃度不
純物層を得るために高温で熱処理することになり、この
ときにはシリコンウェハに熱変形が生じないようにする
ために1200℃以下の温度で熱処理する。なお、ここ
では固体拡散法を用いてエッチストップ層112を形成
する場合について説明するが、イオン注入法、塗布法等
の他の形成法によって形成してもよく、また、不純物と
してホウ素に限るものではないことは言うまでもない。
【0029】次いで、図2(c)に示すように、接合膜
113とエッチストップ層112とを、加熱溶着、陽極
接合あるいは直接接合等の接合技術を用いて接合するこ
とにより、背面板基板114と振動膜基板111を接合
した接合基板100を作製した後に、背面板基板114
の上面を研磨して、全体を所望の厚さに調整する。この
後には、接合基板100を酸素雰囲気中で熱処理するこ
とによって、この接合基板100の上下両面にエッチン
グマスク用の酸化膜131、132を、振動膜基板11
1のシリコンエッチング深さから4000Å前後の厚さ
となるように形成する。このとき、酸化膜131、13
2を形成するための熱処理は、エッチストップ層112
中の不純物の再拡散を防ぐために、エッチストップ層1
12を形成する際の処理温度未満で行うのが好適であ
り、本実施形態では、酸化膜131、132を形成する
ための熱処理温度をエッチストップ層112の形成処理
温度未満で900℃以上とする。このような熱処理温度
としたのは、酸化膜131、132の成長に適切な速度
を確保することと、低温処理では振動膜基板111と接
合膜113との間の界面電荷が増加してしまうことが知
られているためである。
113とエッチストップ層112とを、加熱溶着、陽極
接合あるいは直接接合等の接合技術を用いて接合するこ
とにより、背面板基板114と振動膜基板111を接合
した接合基板100を作製した後に、背面板基板114
の上面を研磨して、全体を所望の厚さに調整する。この
後には、接合基板100を酸素雰囲気中で熱処理するこ
とによって、この接合基板100の上下両面にエッチン
グマスク用の酸化膜131、132を、振動膜基板11
1のシリコンエッチング深さから4000Å前後の厚さ
となるように形成する。このとき、酸化膜131、13
2を形成するための熱処理は、エッチストップ層112
中の不純物の再拡散を防ぐために、エッチストップ層1
12を形成する際の処理温度未満で行うのが好適であ
り、本実施形態では、酸化膜131、132を形成する
ための熱処理温度をエッチストップ層112の形成処理
温度未満で900℃以上とする。このような熱処理温度
としたのは、酸化膜131、132の成長に適切な速度
を確保することと、低温処理では振動膜基板111と接
合膜113との間の界面電荷が増加してしまうことが知
られているためである。
【0030】次いで、図3(d)に示すように、接合基
板100の酸化膜131、132をホトリソグラフィー
技術を用いて余分な部分を除去する加工を施すことによ
り、その酸化膜131、132を振動膜エッチングマス
ク141、背面板エッチングマスク142および端子台
エッチングマスク143とし、この後に、これらエッチ
ングマスク141〜143を用いて接合基板100の振
動膜基板111と背面板基板114から余分な部分を除
去するエッチングを施すことにより、その振動膜基板1
11から基台11を形成するのと同時にエッチストップ
層112を露出させて振動膜12を形成するとともに、
背面板基板114から背面板14および端子台17を形
成する。このとき、TMAH(Tetramethyl ammonium h
ydroxide)等の所定のアルカリエッチング液を用いてエ
ッチングを行うことができる。
板100の酸化膜131、132をホトリソグラフィー
技術を用いて余分な部分を除去する加工を施すことによ
り、その酸化膜131、132を振動膜エッチングマス
ク141、背面板エッチングマスク142および端子台
エッチングマスク143とし、この後に、これらエッチ
ングマスク141〜143を用いて接合基板100の振
動膜基板111と背面板基板114から余分な部分を除
去するエッチングを施すことにより、その振動膜基板1
11から基台11を形成するのと同時にエッチストップ
層112を露出させて振動膜12を形成するとともに、
背面板基板114から背面板14および端子台17を形
成する。このとき、TMAH(Tetramethyl ammonium h
ydroxide)等の所定のアルカリエッチング液を用いてエ
ッチングを行うことができる。
【0031】次いで、図3(e)に示すように、エッチ
ングマスク141〜143を取り除くエッチングを施す
とともに、接合膜113から支持部13以外の部分を取
り除くエッチングを施した後に、背面板14および端子
台17の上面側にスパッタリングなどにより薄いメタル
電極16、18を形成することにより、一体構造のチッ
プマイクロホン10を構築する。なお、図中における電
極16、18は図示するために厚膜に示されているが、
薄膜で十分であるため、背面板14および端子台17以
外に蒸着マスクを用いる必要はなく、例えば、基台11
のエッチストップ層112上面に薄膜151が形成され
ても問題ない。また、振動膜12側の電極については特
に詳細な説明はしないが、同様にスパッタリングなどに
より電極形成するなどすればよい。なお、蒸着マスクを
省略して両電極を同時に形成することもできる。
ングマスク141〜143を取り除くエッチングを施す
とともに、接合膜113から支持部13以外の部分を取
り除くエッチングを施した後に、背面板14および端子
台17の上面側にスパッタリングなどにより薄いメタル
電極16、18を形成することにより、一体構造のチッ
プマイクロホン10を構築する。なお、図中における電
極16、18は図示するために厚膜に示されているが、
薄膜で十分であるため、背面板14および端子台17以
外に蒸着マスクを用いる必要はなく、例えば、基台11
のエッチストップ層112上面に薄膜151が形成され
ても問題ない。また、振動膜12側の電極については特
に詳細な説明はしないが、同様にスパッタリングなどに
より電極形成するなどすればよい。なお、蒸着マスクを
省略して両電極を同時に形成することもできる。
【0032】そして、チップマイクロホン10は、背面
板14の電極16と端子台17の電極18とをワイヤボ
ンディングにより接続して、キャップ15をセラミック
ス系接着剤20などにより取り付けた後に、基台11の
薄膜151や端子台17の電極18の上に半田バンプ2
1を形成して、モジュール基板に張り合わせてモジュー
ル化することができ、さらに、音声処理装置に搭載する
マイクロホン回路基板上に実装することができる。
板14の電極16と端子台17の電極18とをワイヤボ
ンディングにより接続して、キャップ15をセラミック
ス系接着剤20などにより取り付けた後に、基台11の
薄膜151や端子台17の電極18の上に半田バンプ2
1を形成して、モジュール基板に張り合わせてモジュー
ル化することができ、さらに、音声処理装置に搭載する
マイクロホン回路基板上に実装することができる。
【0033】このように本実施形態においては、チップ
マイクロホン10は、安価かつ容易に作製可能な半導体
製造技術により、振動膜12、支持部13および背面板
14を高精度な積層構造に形成してチップ化することが
でき、例えば、他の部品と共にCSP(チップサイズパ
ッケージング)等として高密度に回路基板に実装するこ
とができる。これら振動膜12、支持部13、背面板1
4などは、シリコン系材料を用いて作製していることか
ら、熱膨張係数の差が小さく熱歪みを生じ難くいので、
振動膜12などが損傷してしまうことを少なくすること
ができるとともに、また、高耐熱性を有するので、各工
程において高温熱処理を施すことができ、モジュール作
製時や回路基板への実装時などに熱衝撃のあるリフロー
等と利用して効率よく作製することができる。
マイクロホン10は、安価かつ容易に作製可能な半導体
製造技術により、振動膜12、支持部13および背面板
14を高精度な積層構造に形成してチップ化することが
でき、例えば、他の部品と共にCSP(チップサイズパ
ッケージング)等として高密度に回路基板に実装するこ
とができる。これら振動膜12、支持部13、背面板1
4などは、シリコン系材料を用いて作製していることか
ら、熱膨張係数の差が小さく熱歪みを生じ難くいので、
振動膜12などが損傷してしまうことを少なくすること
ができるとともに、また、高耐熱性を有するので、各工
程において高温熱処理を施すことができ、モジュール作
製時や回路基板への実装時などに熱衝撃のあるリフロー
等と利用して効率よく作製することができる。
【0034】したがって、チップマイクロホン10は、
振動膜、支持部、背面板などを複数の部品として組み立
てるのではなく、LSIチップのように厚さ1mm以下
に薄く、かつ、実装面積も小さな、高信頼性のある安価
な部品に作製することができるとともに、バンプ/リフ
ローなどを使って−括実装するなど効率のよい回路基板
の組立工程を実現することができる。
振動膜、支持部、背面板などを複数の部品として組み立
てるのではなく、LSIチップのように厚さ1mm以下
に薄く、かつ、実装面積も小さな、高信頼性のある安価
な部品に作製することができるとともに、バンプ/リフ
ローなどを使って−括実装するなど効率のよい回路基板
の組立工程を実現することができる。
【0035】この結果、このチップマイクロホン10を
搭載する回路基板や携帯電話などの音声処理装置の小型
化、低コスト化、高信頼性化に貢献することができる。
搭載する回路基板や携帯電話などの音声処理装置の小型
化、低コスト化、高信頼性化に貢献することができる。
【0036】なお、本実施形態では、振動膜12、支持
部13、背面板14などを同じシリコン系材料を用いて
作製しているが、シリコン系材料に限るものではないこ
とは言うまでもなく、また、振動膜12と支持部13と
を熱膨張係数など同程度の物性を有する材質にする限
り、異質の基板材料を接合して作製してもよい。
部13、背面板14などを同じシリコン系材料を用いて
作製しているが、シリコン系材料に限るものではないこ
とは言うまでもなく、また、振動膜12と支持部13と
を熱膨張係数など同程度の物性を有する材質にする限
り、異質の基板材料を接合して作製してもよい。
【0037】
【発明の効果】本発明によれば、振動膜、支持部および
背面板を積層構造に形成してマイクロホンをチップ化す
るので、半導体製造技術等のマイクロマシン加工技術を
利用して小型のマイクロホンを高精度に作製してそのま
ま、あるいはモジュール化して回路基板などに実装する
ことができる。
背面板を積層構造に形成してマイクロホンをチップ化す
るので、半導体製造技術等のマイクロマシン加工技術を
利用して小型のマイクロホンを高精度に作製してそのま
ま、あるいはモジュール化して回路基板などに実装する
ことができる。
【0038】また、シリコン系材料を用いてチップマイ
クロホンを作製することにより、そのシリコン系材料の
高耐熱性を利用して高温熱処理を可能にすることがで
き、回路基板に−括実装するなど高温処理を伴う実装工
程を採用して効率化を図ることができる。
クロホンを作製することにより、そのシリコン系材料の
高耐熱性を利用して高温熱処理を可能にすることがで
き、回路基板に−括実装するなど高温処理を伴う実装工
程を採用して効率化を図ることができる。
【0039】ここで、少なくとも振動膜と基台が同一素
材であることから、その熱膨張係数がほぼ等しく、振動
膜の熱歪みによる影響を非常に小さくできる。さらに、
少なくとも振動膜、基台および支持部を同一素材にする
ことにより、熱歪みの発生を防止することができる。こ
のことは、本マイクロホンがさらに薄型化して歪みの耐
性が低下した時点においても振動膜等の変形を防ぐこと
ができる。
材であることから、その熱膨張係数がほぼ等しく、振動
膜の熱歪みによる影響を非常に小さくできる。さらに、
少なくとも振動膜、基台および支持部を同一素材にする
ことにより、熱歪みの発生を防止することができる。こ
のことは、本マイクロホンがさらに薄型化して歪みの耐
性が低下した時点においても振動膜等の変形を防ぐこと
ができる。
【0040】したがって、小型で高信頼性のチップマイ
クロホンを高精度に、かつ低コストに作製することがで
き、このチップマイクロホンをそのまま、あるいはモジ
ュール化したものを回路基板や音声処理装置に高実装密
度に実装することができる。
クロホンを高精度に、かつ低コストに作製することがで
き、このチップマイクロホンをそのまま、あるいはモジ
ュール化したものを回路基板や音声処理装置に高実装密
度に実装することができる。
【図1】本発明に係る音声処理装置に搭載するマイクロ
ホン実装回路基板の一実施形態の全体構成を示す図であ
り、その縦断面図である。
ホン実装回路基板の一実施形態の全体構成を示す図であ
り、その縦断面図である。
【図2】その作製工程を説明する工程図である。
【図3】その作製工程を説明する図2に続く工程図であ
る。
る。
10 チップマイクロホン
11 基台
12 振動膜
13 支持部
14 背面板
14a 貫通孔
15 キャップ
15a 流通孔
16、18 電極
17 端子台
100 接合基板
111 振動膜基板
112 エッチストップ層
113 接合膜
114 背面板基板
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 斎藤 信雄
東京都世田谷区砧一丁目10番11号 日本放
送協会 放送技術研究所内
(72)発明者 盛田 章
東京都世田谷区砧一丁目10番11号 日本放
送協会 放送技術研究所内
Fターム(参考) 5D017 BD04 BD05
5D020 BB12
5D021 CC19
Claims (7)
- 【請求項1】音圧により振動する振動膜と、該振動膜に
対面する背面板と、振動膜と背面板との間に配設されて
該振動膜の振動空間を確保する支持部とを備えて、これ
ら振動膜、支持部および背面板を積層構造に形成したチ
ップマイクロホンをそのまま、あるいは該チップマイク
ロホンをパッケージングしたモジュールとして、回路基
板に実装したことを特徴とするマイクロホン実装回路基
板。 - 【請求項2】前記チップマイクロホンは、同一または異
質の基板材料を接合して、該基板材料の不要な部分を取
り除くことにより前記振動膜、前記支持部および前記背
面板を形成したことを特徴とする請求項1に記載のマイ
クロホン実装回路基板。 - 【請求項3】前記チップマイクロホンは、前記基板材料
の一面側にホウ素を拡散するエッチングストップ層を形
成して、前記振動膜とする部分をエッチングにより当該
振動膜を形成したことを特徴とする請求項2に記載のマ
イクロホン実装回路基板。 - 【請求項4】前記チップマイクロホンは、前記支持部を
ホウ素の拡散するシリコンの酸化物により形成したこと
を特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のマイク
ロホン実装回路基板。 - 【請求項5】前記チップマイクロホンは、シリコンとシ
リコンの化合物とを用いて半導体製造技術により作製し
たことを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の
マイクロホン実装回路基板。 - 【請求項6】前記チップマイクロホンは、少なくとも前
記振動膜および前記支持部を同一素材により作製したこ
とを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載のマイ
クロホン実装回路基板。 - 【請求項7】上記請求項1から6のいずれかに記載のマ
イクロホン実装回路基板を搭載したことを特徴とする音
声処理装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001268520A JP2003078981A (ja) | 2001-09-05 | 2001-09-05 | マイクロホン実装回路基板および該基板を搭載する音声処理装置 |
| US10/235,044 US7298856B2 (en) | 2001-09-05 | 2002-09-03 | Chip microphone and method of making same |
| EP02256161A EP1292171A3 (en) | 2001-09-05 | 2002-09-05 | Chip microphone and method of making same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001268520A JP2003078981A (ja) | 2001-09-05 | 2001-09-05 | マイクロホン実装回路基板および該基板を搭載する音声処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003078981A true JP2003078981A (ja) | 2003-03-14 |
Family
ID=19094488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001268520A Pending JP2003078981A (ja) | 2001-09-05 | 2001-09-05 | マイクロホン実装回路基板および該基板を搭載する音声処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003078981A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007504782A (ja) * | 2003-05-26 | 2007-03-01 | センスファブ ピーティーイー エルティーディー | シリコンマイクの製造方法 |
| JP2007259439A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-10-04 | Robert Bosch Gmbh | マイクロマシニング型のコンビ構成素子ならびに該コンビ構成素子のための製造方法 |
| JP2008510378A (ja) * | 2004-08-11 | 2008-04-03 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | シリコンオーディオトランスデューサをもつ統合されたオーディオコーデック |
| JP2008532369A (ja) * | 2005-02-24 | 2008-08-14 | エプコス アクチエンゲゼルシャフト | Memsマイクロフォンを備えた電気モジュール |
| US7466834B2 (en) | 2004-03-09 | 2008-12-16 | Panasonic Corporation | Electret condenser microphone |
| WO2010095596A1 (ja) * | 2009-02-17 | 2010-08-26 | 株式会社 村田製作所 | 音響的トランスデューサユニット |
| JP2010187324A (ja) * | 2009-02-13 | 2010-08-26 | Funai Electric Co Ltd | マイクロホンユニット |
| US8169041B2 (en) | 2005-11-10 | 2012-05-01 | Epcos Ag | MEMS package and method for the production thereof |
| US8229139B2 (en) | 2005-11-10 | 2012-07-24 | Epcos Ag | MEMS microphone, production method and method for installing |
| US8582788B2 (en) | 2005-02-24 | 2013-11-12 | Epcos Ag | MEMS microphone |
| CN109305654A (zh) * | 2017-07-27 | 2019-02-05 | 钰太芯微电子科技(上海)有限公司 | 一种硅基防水膜及其制备工艺及麦克风封装结构 |
-
2001
- 2001-09-05 JP JP2001268520A patent/JP2003078981A/ja active Pending
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007504782A (ja) * | 2003-05-26 | 2007-03-01 | センスファブ ピーティーイー エルティーディー | シリコンマイクの製造方法 |
| US7466834B2 (en) | 2004-03-09 | 2008-12-16 | Panasonic Corporation | Electret condenser microphone |
| US8155355B2 (en) | 2004-03-09 | 2012-04-10 | Panasonic Corporation | Electret condenser microphone |
| JP2008510378A (ja) * | 2004-08-11 | 2008-04-03 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | シリコンオーディオトランスデューサをもつ統合されたオーディオコーデック |
| US8184845B2 (en) | 2005-02-24 | 2012-05-22 | Epcos Ag | Electrical module comprising a MEMS microphone |
| JP2008532369A (ja) * | 2005-02-24 | 2008-08-14 | エプコス アクチエンゲゼルシャフト | Memsマイクロフォンを備えた電気モジュール |
| US8582788B2 (en) | 2005-02-24 | 2013-11-12 | Epcos Ag | MEMS microphone |
| US8169041B2 (en) | 2005-11-10 | 2012-05-01 | Epcos Ag | MEMS package and method for the production thereof |
| US8229139B2 (en) | 2005-11-10 | 2012-07-24 | Epcos Ag | MEMS microphone, production method and method for installing |
| US8432007B2 (en) | 2005-11-10 | 2013-04-30 | Epcos Ag | MEMS package and method for the production thereof |
| JP2007259439A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-10-04 | Robert Bosch Gmbh | マイクロマシニング型のコンビ構成素子ならびに該コンビ構成素子のための製造方法 |
| JP2010187324A (ja) * | 2009-02-13 | 2010-08-26 | Funai Electric Co Ltd | マイクロホンユニット |
| WO2010095596A1 (ja) * | 2009-02-17 | 2010-08-26 | 株式会社 村田製作所 | 音響的トランスデューサユニット |
| JP5019143B2 (ja) * | 2009-02-17 | 2012-09-05 | 株式会社村田製作所 | 音響的トランスデューサユニット |
| CN109305654A (zh) * | 2017-07-27 | 2019-02-05 | 钰太芯微电子科技(上海)有限公司 | 一种硅基防水膜及其制备工艺及麦克风封装结构 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI298913B (ja) | ||
| US7298856B2 (en) | Chip microphone and method of making same | |
| US8796790B2 (en) | Method and structure of monolithetically integrated micromachined microphone using IC foundry-compatiable processes | |
| JP3186941B2 (ja) | 半導体チップおよびマルチチップ半導体モジュール | |
| US10257609B2 (en) | Method of forming a packaged microphone | |
| TWI344310B (ja) | ||
| TWI472235B (zh) | 矽麥克風封裝體 | |
| CN104244152B (zh) | 微机电系统麦克风封装及封装方法 | |
| JP2003078981A (ja) | マイクロホン実装回路基板および該基板を搭載する音声処理装置 | |
| TW201034476A (en) | Microphone unit | |
| US10284986B2 (en) | Piezoelectric speaker and method for forming the same | |
| JP2011512260A (ja) | Mems部品、mems部品の製造方法、及びmems部品の取り扱い方法 | |
| US9258634B2 (en) | Microphone system with offset apertures | |
| US7351641B2 (en) | Structure and method of forming capped chips | |
| US11122360B2 (en) | Microphone assembly with back volume vent | |
| JP2010245645A (ja) | 半導体装置とその製造方法 | |
| CN112794278B (zh) | 传感器封装结构、传感器封装结构制作方法和电子终端 | |
| WO2025112652A1 (zh) | Mems麦克风及其制备方法和电子设备 | |
| JP2013093637A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
| JP2021145072A (ja) | パッケージ及びパッケージの製造方法 | |
| JP3784319B2 (ja) | 半導体装置、半導体積層ユニット、およびその製造方法 | |
| CN100525097C (zh) | 电子零件和电子零件的制造方法 | |
| JP4670699B2 (ja) | マイクロホンチップの実装方法、及びその方法で実装したマイクロホンチップ | |
| JP2022145017A (ja) | 遠赤外線センサ用パッケージ及びその製造方法、並びに、遠赤外線センサ及びその製造方法 | |
| CN221961965U (zh) | Mems麦克风封装结构 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060327 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080430 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20080805 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090303 |