JP2003068970A - Automotive electronic circuit devices - Google Patents
Automotive electronic circuit devicesInfo
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- H10W72/5363—
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- H10W90/754—
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- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】電子回路基板やそのリードフレーム(ベース)
までをもモールド樹脂によりパッケージ化する場合に、
低コストで生産しようとするものであり、かつ放熱性や
防水性に優れ、しかも熱応力によるモールド樹脂、回路
基板、及び、ベースとの間の剥離やクラックの発生しな
い、安価な自動車用電子回路装置を提供する。
【解決手段】電子回路素子を載置した回路基板と、該回
路基板を搭載するリードフレームとを備え、前記回路基
板と前記リードフレームの一部を除いた部分とが一括し
てモールド樹脂に埋設された自動車用電子回路装置であ
って、前記リードフレームは、その中央付近に第一の突
起と該突起の周囲に複数の第二の突起を設け、前記第一
の突起を前記第二の突起より所定値その高さを低くし、
前記第一の突起のみに前記回路基板を接着してなる。
(57) [Abstract] [Problem] Electronic circuit board and its lead frame (base)
When packaging up to molding resin,
An inexpensive automotive electronic circuit that is intended to be produced at low cost, has excellent heat dissipation and waterproofness, and does not cause peeling or cracking between the mold resin, circuit board, and base due to thermal stress. Provide equipment. A circuit board on which an electronic circuit element is mounted and a lead frame on which the circuit board is mounted are provided, and the circuit board and a part except for a part of the lead frame are collectively embedded in a mold resin. An electronic circuit device for an automobile, wherein the lead frame is provided with a first protrusion near a center thereof and a plurality of second protrusions around the protrusion, and the first protrusion is provided with the second protrusion. Lower the height by a predetermined value,
The circuit board is bonded only to the first protrusion.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、自動車用の電子回
路装置のパッケージ構造に係り、特に、自動車のエンジ
ンルーム、トランスミッション等に装着され、エンジ
ン、自動変速機等の制御を行う電子回路装置などに好適
なパッケージ構造に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a package structure of an electronic circuit device for an automobile, and more particularly to an electronic circuit device mounted on an automobile engine room, a transmission or the like for controlling an engine, an automatic transmission or the like. The present invention relates to a suitable package structure.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来から自動車の自動変速機の制御を電
子回路で行う方式は、広く採用されており、その電子回
路の実装構造には、各種のものがある。トランスミッシ
ョンに直付けの電子回路装置では、水、油等の浸入で電
子回路がダメージを受けないように、装着場所を選定
し、また、それらが浸入しないような構造がとられてい
る。2. Description of the Related Art Conventionally, a method of controlling an automatic transmission of an automobile by an electronic circuit has been widely adopted, and there are various mounting structures for the electronic circuit. In the electronic circuit device directly attached to the transmission, the mounting place is selected so that the electronic circuit is not damaged by the intrusion of water, oil, or the like, and the electronic circuit device is structured so that they do not infiltrate.
【0003】その構造の一例として、金属のベースに電
子回路基板を装着し、このベースとカバーとを抵抗溶
接、レーザ溶接する等して電子回路装置内部を気密的に
封止するとともに、窒素等の不活性ガスを封入する、い
わゆるハーメチックシール構造が知られている。As an example of the structure, an electronic circuit board is mounted on a metal base, the base and the cover are resistance-welded or laser-welded to hermetically seal the inside of the electronic circuit device, and nitrogen or the like is used. There is known a so-called hermetic seal structure in which an inert gas of
【0004】この構造では、電子回路の入出力端子をベ
ースに設けたスルーホールを通して外部に引き出し、ス
ルーホールは、絶縁抵抗の高いガラスで封止される。し
たがって、ベース、ガラス、端子の線膨張係数を最適に
選定する必要がある。すなわち、数100℃〜1000
℃の高温でガラスを融解し、常温に戻したときに前記三
者の部品間で、お互いに残留圧縮応力が作用するように
する必要があるためである。これらの材料の材質は限定
され、例えば、封止材料にソーダ・バリウムガラスを用
いたときは、ベースの材質としては鋼板を用いると共
に、端子の材質は、鉄ニッケル合金(鉄50%−ニッケ
ル50%)を用い、その組み合わせとなる。In this structure, the input / output terminals of the electronic circuit are led out through the through holes provided in the base, and the through holes are sealed with glass having a high insulation resistance. Therefore, it is necessary to optimally select the linear expansion coefficient of the base, the glass, and the terminal. That is, several 100 ° C. to 1000
This is because it is necessary to cause residual compressive stress to act between the three parts when the glass is melted at a high temperature of ° C and returned to room temperature. The materials of these materials are limited. For example, when soda barium glass is used as the sealing material, a steel plate is used as the material of the base, and the material of the terminals is an iron-nickel alloy (iron 50% -nickel 50%). %) Is used to form the combination.
【0005】このため、高温での酸化防止が必要で、
ベースは、溶融温度の高いニッケルメッキ等が必要とな
る。また、前記溶接では、カバーの組み合わせ材質が
限定され、ベースと同じ鋼板が使用される。電子回路に
発熱素子が多い場合には、放熱し易くするために、ベー
ス材質としてはアルミ、銅等が好適であるが、前記した
ように、鋼板を使用せざるを得ず、鋼板では放熱性が悪
い。Therefore, it is necessary to prevent oxidation at high temperatures,
The base requires nickel plating or the like having a high melting temperature. Further, in the welding, the combination material of the cover is limited, and the same steel plate as the base is used. When there are many heating elements in the electronic circuit, aluminum, copper, etc. are suitable as the base material to facilitate heat dissipation, but as mentioned above, steel plates have to be used and the heat dissipation properties of steel plates Is bad.
【0006】さらには、抵抗溶接では、ベースとカバ
ーとの電気的接触抵抗が均一となるよう、両者の平面度
精度を高くする必要がある等、コストアップ要因があ
る。レーザ溶接では、前記ベースに施したニッケルメ
ッキの厚さのばらつきが溶接に影響し、また、溶接部分
のビードが露出する。それによる錆発生を防止するため
の保護コーティングが必要である。Further, in resistance welding, there is a cost-increasing factor such that it is necessary to improve the flatness accuracy of both the base and the cover so that the electrical contact resistance between the base and the cover becomes uniform. In laser welding, variations in the thickness of the nickel plating applied to the base affect the welding, and the beads of the welded portion are exposed. A protective coating is required to prevent rusting due to it.
【0007】外観では、確実に溶接の良否判定を行う
ことが難しく、気密性を確認するためには、ヘリウムガ
スを用いたチェック法、不活性液体中に入れて気泡の発
生有無をチェックするバブルリークチェック法等が必要
であった。上記した諸々の点を改善するために、電子回
路素子を搭載した回路基板を熱伝導のよい材質で製作し
たベースに接着し、このベースの片面を露出しつつ、回
路基板及びベースをエポキシ樹脂(モールド樹脂)で封
止するパッケージ技術が提案されている。From the appearance, it is difficult to reliably judge the quality of welding, and in order to confirm the airtightness, a check method using helium gas, or a bubble for checking the presence or absence of bubbles in an inert liquid is used. A leak check method was necessary. In order to improve the above-mentioned various points, a circuit board on which an electronic circuit element is mounted is adhered to a base made of a material having good thermal conductivity, and while exposing one side of the base, the circuit board and the base are made of epoxy resin ( A packaging technology for sealing with a mold resin) has been proposed.
【0008】しかしながら、この場合、例えば、電子回
路素子としてシリコンチップを使用し、回路基板として
前記シリコンチップに近似した線膨張係数を有するガラ
ス・セラミック基板を用い、これらの部材をエポキシ樹
脂で封止する構造においては、次のような課題があっ
た。However, in this case, for example, a silicon chip is used as the electronic circuit element, a glass ceramic substrate having a linear expansion coefficient similar to that of the silicon chip is used as the circuit substrate, and these members are sealed with epoxy resin. In the structure to do, there were the following problems.
【0009】すなわち、前記回路基板やベースを埋設す
るエポキシ樹脂のモールド工程(トランスファモールド
工程)時に、そのモールド樹脂(エポキシ樹脂)を、硬
化工程を経て型から取出した後の冷却中に、エポキシ樹
脂の硬化収縮と前記基板やベースに対する線膨張係数差
とによって、エポキシ樹脂と回路基板やベースとの境界
面で剥離、または樹脂クラックが生じる。That is, during the molding process (transfer molding process) of the epoxy resin for embedding the circuit board or base, the molding resin (epoxy resin) is removed from the mold through the curing process, and the epoxy resin is cooled during cooling. Due to the curing shrinkage and the difference in linear expansion coefficient with respect to the substrate or base, peeling or resin cracks occur at the interface between the epoxy resin and the circuit board or base.
【0010】これは、モールド成形時におけるエポキシ
樹脂等価線膨張係数(エポキシ樹脂等価線膨張係数は、
そのモールド樹脂が型から取り出されて室温に冷却され
るまでの成形温度時の樹脂の化学的収縮と、成形温度〜
ガラス転移温度Tgまでの線膨張係数α1と、ガラス転
移温度Tg〜室温までの線膨張係数α2とを合成したも
のであり、常温の線膨張係数に比べて約4倍の値であ
る)が、ベースのそれより大きく、かつ回路基板の線膨
張係数もベースよりさらに小さいため、回路基板に密着
したエポキシ樹脂の収縮応力によって回路基板とベース
とが反り、密着されていないエポキシ樹脂の部分、また
は密着力の弱い部分に引張り応力が働き、境界面で剥離
が発生するものである。This is because the epoxy resin equivalent linear expansion coefficient at the time of molding (the epoxy resin equivalent linear expansion coefficient is
The chemical shrinkage of the resin at the molding temperature until the mold resin is taken out of the mold and cooled to room temperature, and the molding temperature ~
It is a combination of the linear expansion coefficient α1 up to the glass transition temperature Tg and the linear expansion coefficient α2 between the glass transition temperature Tg and room temperature, which is about 4 times the linear expansion coefficient at room temperature). Since the linear expansion coefficient of the circuit board is larger than that of the base, and the linear expansion coefficient of the circuit board is smaller than that of the base, the circuit board and the base warp due to the shrinkage stress of the epoxy resin that adheres to the circuit board, and the epoxy resin portion that is not adhered or adheres Tensile stress acts on the weak part and peeling occurs at the interface.
【0011】この剥離をなくすために、例えばベースの
端面部分に、密着性のよい皮膜処理を形成すると、境界
面付近のエポキシ樹脂にクラックが発生してしまう問題
があった。その対策として、硬化収縮が少なく、かつ線
膨張係数の小さいエポキシ樹脂を使用する、あるいは前
記ベースの端面に線膨張係数差を吸収する柔軟な樹脂コ
ーティング処理を施す、等が考えられる。しかしなが
ら、いずれも、コストアップが避けられず、安価な構造
が望まれていた。In order to eliminate this peeling, for example, if a film treatment with good adhesion is formed on the end face portion of the base, there is a problem that cracks occur in the epoxy resin near the boundary surface. As a countermeasure, it is conceivable to use an epoxy resin having a small curing shrinkage and a small linear expansion coefficient, or to apply a flexible resin coating treatment for absorbing the difference in the linear expansion coefficient to the end face of the base. However, in each case, an increase in cost is unavoidable, and an inexpensive structure has been desired.
【0012】なお、従来の公知技術には、例えば特開平
7−240493号公報のように、半導体素子をリード
フレームに搭載して、これらの部品をモールド樹脂中に
埋設してパッケージ化したものや、特開平1−2055
56号公報のように、ICチップとそのマウント部材お
よび放熱板をパッケージ化したものがある。これらの従
来技術は、電子回路基板やそのベースまでをもモールド
樹脂でパッケージしようとするものではない。ICパッ
ケージや半導体素子よりもはるかに面積の大きい電子回
路基板やベースまでも一つのモールド樹脂で封止実装し
てしまうという技術は、新たな試みである。[0012] In the prior art, as disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 7-240493, a semiconductor element is mounted on a lead frame and these parts are embedded in a mold resin and packaged. Japanese Patent Laid-Open No. 1-2055
As disclosed in Japanese Patent No. 56, there is a package of an IC chip, its mounting member, and a heat sink. These conventional techniques do not attempt to package the electronic circuit board and even the base thereof with the molding resin. The technique of sealing and mounting an electronic circuit board and a base, which are much larger in area than IC packages and semiconductor elements, with one mold resin is a new attempt.
【0013】[0013]
【発明が解決しようとする課題】ところで、その新たな
実装技術を実現するに当たって、前記したように回路基
板やベースの面積の大きさ故に、それを包むエポキシ樹
脂(モールド樹脂)の収縮応力が大きくなり、それによ
り回路基板やエポキシ樹脂間の境界面で剥離が発生する
といった課題が新たに生じた。In realizing the new mounting technique, the shrinkage stress of the epoxy resin (mold resin) enclosing the circuit board and the base is large due to the large area of the circuit board and the base as described above. As a result, a new problem has arisen that peeling occurs at the interface between the circuit board and the epoxy resin.
【0014】本発明は、前記点に鑑みてなされたもので
あって、その目的とするところは、前記したような新た
な実装技術、すなわち電子回路基板やそのリードフレー
ム(ベース)までをもモールド樹脂によりパッケージ化
する場合に、低コストで生産しようとするものであり、
かつ放熱性や防水性に優れ、しかも熱応力によるモール
ド樹脂、回路基板、及び、ベースとの間の剥離やクラッ
クの発生しない、安価な自動車用電子回路装置を提供す
ることにある。The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to mold a new mounting technique as described above, that is, an electronic circuit board and its lead frame (base). When it is packaged with resin, it is intended to be produced at low cost.
Another object of the present invention is to provide an inexpensive electronic circuit device for an automobile, which has excellent heat dissipation and waterproof properties, and does not cause peeling or cracks between the mold resin, the circuit board, and the base due to thermal stress.
【0015】[0015]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の自動車用電子回路装置は、基本的には、電
子回路素子を載置した回路基板と、該回路基板を搭載す
るリードフレームとを備え、前記回路基板と前記リード
フレームの一部を除いた部分とが一括してモールド樹脂
に埋設された自動車用電子回路装置であって、前記リー
ドフレームは、その中央付近に第一の突起と該突起の周
囲に複数の第二の突起を設け、前記第一の突起を前記第
二の突起より所定値その高さを低くし、前記第一の突起
のみに前記回路基板を接着していることを特徴としてい
る。In order to achieve the above-mentioned object, an electronic circuit device for an automobile according to the present invention is basically a circuit board on which an electronic circuit element is mounted, and leads for mounting the circuit board. An electronic circuit device for an automobile, comprising: a frame, wherein the circuit board and a portion excluding a part of the lead frame are collectively embedded in a mold resin, wherein the lead frame has a first portion near a center thereof. And a plurality of second protrusions around the protrusions, the height of the first protrusion is lower than the second protrusion by a predetermined value, and the circuit board is bonded only to the first protrusion. It is characterized by doing.
【0016】前記の如く構成された本発明の自動車用電
子回路装置は、前記第一の突起の接着層が薄すぎること
なく、かつ厚すぎることなく、最適な厚さを確保するこ
とができ、基板と封止樹脂との界面剥離やクラック発生
を防止できると共に、回路基板やそのリードフレームま
でをもモールド樹脂によりパッケージ化することを、低
コストで実現でき、放熱性、防水性に優れに自動車用電
子回路装置を提供することができる。In the automobile electronic circuit device of the present invention configured as described above, the optimum thickness can be secured without the adhesive layer of the first protrusions being neither too thin nor too thick, It is possible to prevent the interface between the substrate and the encapsulation resin from peeling and cracks, and to package the circuit board and its lead frame with mold resin at a low cost, with excellent heat dissipation and waterproof properties. An electronic circuit device for use can be provided.
【0017】また、本発明の自動車用電子回路装置の具
体的な態様は、前記複数の第二の突起は、前記回路基板
の外周よりも前記第一の突起側に配置され、前記第一の
突起は、一個であり、前記第二の突起は、三個若しくは
4個であり、更に、前記リードフレームは、フランジ部
とリードとを備え、前記回路基板と前記リードとが電気
的に接続され、該リード及び前記フランジの一部を除い
て一括してモールド樹脂に埋設されていることを特徴と
している。Further, in a specific aspect of the electronic circuit device for automobiles of the present invention, the plurality of second protrusions are arranged closer to the first protrusion than the outer periphery of the circuit board, The number of the protrusions is one, and the number of the second protrusions is three or four. Further, the lead frame includes a flange portion and leads, and the circuit board and the leads are electrically connected. It is characterized in that the lead and the flange are collectively embedded in the molding resin except for a part thereof.
【0018】更に、本発明の自動車用電子回路装置の他
の具体的な態様は、前記第一及び第二の突起は、前記リ
ードフレームをプレス加工して形成され、前記フランジ
部の前記モールド樹脂より突出した部分が取り付け部と
され、該フランジ部を介して回路基板の熱が外部に熱伝
導される構造であり、前記回路基板は、ガラス・セラミ
ック或いはセラミックを主体とした材質であることを特
徴としている。更にまた、本発明の自動車用電子回路装
置の更に他の具体的な態様は、前記回路基板は、多層の
回路基板であることを特徴としている。Further, in another specific aspect of the electronic circuit device for an automobile of the present invention, the first and second protrusions are formed by pressing the lead frame, and the mold resin of the flange portion is formed. The more protruding portion serves as a mounting portion, and the heat of the circuit board is conducted to the outside through the flange portion. The circuit board is made of glass-ceramic or ceramic-based material. It has a feature. Still another specific aspect of the electronic circuit device for automobiles of the present invention is characterized in that the circuit board is a multilayer circuit board.
【0019】更にまた、本発明の自動車用電子回路装置
の取り付け構造の態様としては、自動車側の第一のブラ
ケットと第二のブラケットとの間に前記リードフレーム
のフランジ部を挟持してボルト等で締結固定し、前記第
一のブラケットの一部に複数設けた舌片を、前記第二の
ブラケットに設けた小孔に挿入して、先端部を折り曲
げ、両者を一体化したことを特徴としている。Furthermore, as an aspect of the mounting structure of the electronic circuit device for an automobile of the present invention, the flange portion of the lead frame is sandwiched between the first bracket and the second bracket on the automobile side, and the bolt or the like. Characterized in that a plurality of tongue pieces provided in a part of the first bracket are inserted into a small hole provided in the second bracket, the tip portion is bent, and both are integrated. There is.
【0020】前記の如く構成された本発明の自動車用電
子回路装置の取り付け構造は、リードフレームのフラン
ジ部に、ボルト固定用の孔を設ける必要がないので、該
フランジ部の面積を小さくでき、トランスファモールド
成形で製品を一度に多数個取りする場合に、その取り数
が大きくすることができる。また、第一のブラケットと
第二のブラケットにより、リードフレームのフランジ部
を挟み、舌片を折り曲げて一体化したため、相手部材に
装着する際、取扱いが容易となる。In the structure for mounting the electronic circuit device for an automobile of the present invention constructed as described above, since it is not necessary to provide holes for fixing bolts in the flange portion of the lead frame, the area of the flange portion can be reduced, When many products are taken at once by transfer molding, the number of taken products can be increased. Further, since the flange portion of the lead frame is sandwiched by the first bracket and the second bracket, and the tongue piece is bent to be integrated, it is easy to handle when mounting on the mating member.
【0021】[0021]
【発明の実施の形態】以下、添付図面に基づき本発明の
自動車用電子回路装置のいくつかの実施形態を詳細に説
明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, some embodiments of an automobile electronic circuit device of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
【0022】図1は、本実施形態の自動車用電子回路装
置(コントロールユニット)1の平面図であり、図2及
び図3は、その見る方向を変えた一部断面側面図であ
る。自動車用電子回路装置(コントロールユニット)1
は、フランジ部2cを有するリードフレーム2を備え、
該リードフレーム2に、回路素子5及び回路基板6から
なる電子回路4が搭載されている。該電子回路4の搭載
は、回路基板6をリードフレーム2上に接着することで
行われる。その接着態様については後述する。FIG. 1 is a plan view of an automobile electronic circuit device (control unit) 1 of the present embodiment, and FIGS. 2 and 3 are partial cross-sectional side views in which the viewing direction is changed. Automotive electronic circuit device (control unit) 1
Includes a lead frame 2 having a flange portion 2c,
An electronic circuit 4 including a circuit element 5 and a circuit board 6 is mounted on the lead frame 2. The electronic circuit 4 is mounted by bonding the circuit board 6 onto the lead frame 2. The bonding mode will be described later.
【0023】リード(端子)2aは、リードフレーム2
の一部を切り離して形成され、該リード2aと外部の接
続対象物(図示せず)とを電気的に接続する場合には、
リード2aが外部対象物のハーネス・コネクタ、又は、
ハーネス端子に溶接等で接続される。電子回路4とリー
ド2aとは、熱圧着、超音波等のワイヤボンディング法
でアルミ細線8を介して電気的に接続されている。The lead (terminal) 2a is the lead frame 2
When a part of the lead 2a is formed by being cut off and the lead 2a is electrically connected to an external connection target (not shown),
The lead 2a is a harness connector of an external object, or
It is connected to the harness terminal by welding or the like. The electronic circuit 4 and the lead 2a are electrically connected via the aluminum thin wire 8 by a wire bonding method such as thermocompression bonding or ultrasonic wave.
【0024】電子回路4は、リードフレーム2上に搭載
され、該電子回路4とリード2aとを接続した後、これ
らの部品(回路素子5、回路基板6、リードフレーム
2、リード2a)を一括してモールド樹脂(以下、封止
樹脂と称する)3中に、リード2aの一部やフランジ2
cの一部を除いて埋設する。The electronic circuit 4 is mounted on the lead frame 2, and after connecting the electronic circuit 4 and the lead 2a, these parts (circuit element 5, circuit board 6, lead frame 2, lead 2a) are collectively packaged. Then, a part of the lead 2a and the flange 2 are placed in a molding resin (hereinafter referred to as a sealing resin) 3.
It is buried except for part of c.
【0025】封止樹脂3は、トランスファモールド成形
によって製作する。トランスファモールド成形は、一般
に封止樹脂としてエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を使用
する方法で、粉末を圧縮成形したタブレット状のエポキ
シ樹脂を、型内で所定の温度、圧力を印加することによ
り融解および固化させるものである。LSI(大規模集
積回路)等のチップのパッケージとして広く採用されて
いる。The sealing resin 3 is manufactured by transfer molding. Transfer molding is a method that generally uses a thermosetting resin such as epoxy resin as a sealing resin.The tablet-shaped epoxy resin obtained by compression molding powder is melted by applying a predetermined temperature and pressure in the mold. And to solidify. It is widely used as a package for chips such as LSI (Large Scale Integrated Circuit).
【0026】封止樹脂3は、特に、低線膨張係数の樹脂
とし、内部部品を全体的に包む。封止樹脂3は、内部部
品との密着力を常に保持するため、また、はんだ付け部
や半導体チップと回路基板との細線ワイヤボンディング
接続部等に、熱応力によっての剥れ及び断線が生じない
ようにするため、最適な物性値が選定される。The sealing resin 3 is particularly a resin having a low linear expansion coefficient and entirely encloses the internal parts. The encapsulating resin 3 always maintains the adhesive force with the internal parts, and the peeling and the disconnection due to the thermal stress do not occur in the soldering part or the thin wire wire bonding connecting part between the semiconductor chip and the circuit board. Therefore, the optimum physical property value is selected.
【0027】自動車用の電子回路装置1は、使用時の熱
応力の繰返しにより、封止樹脂3とリード2a、リード
フレーム2とのそれぞれの密着界面からの水、油等の浸
入が懸念される。その点については、リード2aおよび
リードフレーム2と封止樹脂3との線膨張係数差を極力
小さくし、それら部材間での熱応力を低減したり、リー
ド2aおよびリードフレーム2に特殊な表面処理(例え
ばアルミキレート処理)を施し、樹脂と部材との境界部
分で共有結合させる手法により解決可能である。リード
2a及びリードフレーム2は、熱伝導の良い銅、または
銅系の合金材が選定される。回路基板6は、セラミッ
ク、ガラス・セラミック、エポキシ・ガラス板等、適宜
の材質が選定され、所定の回路パターンが形成されてい
る。In the electronic circuit device 1 for automobiles, due to repeated thermal stresses during use, there is a concern that water, oil, etc. may enter from the closely contacting interfaces between the sealing resin 3 and the leads 2a and the lead frame 2. . With respect to this point, the linear expansion coefficient difference between the lead 2a and the lead frame 2 and the sealing resin 3 is made as small as possible to reduce the thermal stress between these members, and a special surface treatment is applied to the lead 2a and the lead frame 2. This can be solved by a method of performing (for example, aluminum chelate treatment) and covalently bonding at the boundary between the resin and the member. For the leads 2a and the lead frame 2, copper or a copper-based alloy material having good thermal conductivity is selected. For the circuit board 6, an appropriate material such as ceramic, glass-ceramic, epoxy-glass plate, etc. is selected, and a predetermined circuit pattern is formed.
【0028】図4は、本実施形態に係る電子回路装置1
の要部拡大断面図であり、図3に対応するものである。
図4に示すように、リードフレーム2の中央付近の上面
には、回路基板6よりは面積が小さい突起7が形成さ
れ、該突起7に回路基板6の中央部裏面が接着される基
板支持構造をなしている。FIG. 4 shows an electronic circuit device 1 according to this embodiment.
FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of an essential part of FIG. 3 and corresponds to FIG. 3.
As shown in FIG. 4, a board supporting structure in which a projection 7 having an area smaller than that of the circuit board 6 is formed on the upper surface near the center of the lead frame 2, and the back surface of the central portion of the circuit board 6 is bonded to the projection 7. Is doing.
【0029】回路基板6には、図示されない配線パター
ンが形成され、また、基板6上に回路素子5とボンディ
ングパッド9がはんだ接続されている。リードフレーム
2には、中央付近に回路基板6の中央を接着剤10で接
着支持する突起7を設けるほかに、回路基板6の端部付
近を支持する突起11が、本実施形態では3箇所乃至4
カ箇所配設されている。これらの突起7及び突起11
は、リードフレーム2をプレス加工することで成形され
る。A wiring pattern (not shown) is formed on the circuit board 6, and the circuit elements 5 and the bonding pads 9 are soldered on the board 6. The lead frame 2 is provided with a protrusion 7 for adhering and supporting the center of the circuit board 6 with an adhesive 10 in the vicinity of the center, and three protrusions 11 for supporting the end of the circuit board 6 in this embodiment. Four
It is arranged at various places. These protrusions 7 and 11
Is formed by pressing the lead frame 2.
【0030】突起11は、回路基板6の大きさ、形状、
回路パターンのレイアウト等により、任意の個数を選定
できる。この突起11を設けないと、中央付近のみの接
着領域では、基板6の平面度誤差やリードフレーム2の
平面と突起7の上面との平行度誤差等により、基板6が
傾いて接着されてしまうことがある。ボンディングパッ
ド9とリード2aには、熱圧着,超音波等のワイヤボン
ディング法によりアルミの細線8が接続されている。The protrusion 11 has a size, shape, and
An arbitrary number can be selected depending on the layout of the circuit pattern and the like. If this protrusion 11 is not provided, the substrate 6 will be inclined and adhered in the adhesion region only near the center due to the flatness error of the substrate 6 or the parallelism error between the flat surface of the lead frame 2 and the upper surface of the protrusion 7. Sometimes. An aluminum thin wire 8 is connected to the bonding pad 9 and the lead 2a by a wire bonding method such as thermocompression bonding or ultrasonic wave.
【0031】リードフレーム2の具体的仕様を例示すれ
ば、それは、熱伝導率の高いリン青銅の板を選定して、
プレス加工し、図4を参照すれば、厚さ(t)は0.6
4mm、突起7の外径(d)は5mm、高さ(h)は
1.44mmで、線膨張係数は17.5ppm/℃であ
る。また、突起7の存在により形成された回路基板6・
リードフレーム2間の間隙(g)は、0.8mmであ
る。ちなみに、封止樹脂3に混入される充填剤の最大粒
径は、150μm(0.15mm)である。したがっ
て、この隙間には充填剤を含む封止樹脂3が充分に流入
可能な空間を確保している。To give an example of the specific specifications of the lead frame 2, a phosphor bronze plate having a high thermal conductivity is selected.
After pressing, referring to FIG. 4, the thickness (t) is 0.6
The protrusion 7 has an outer diameter (d) of 5 mm, a height (h) of 1.44 mm, and a linear expansion coefficient of 17.5 ppm / ° C. In addition, the circuit board 6 formed by the presence of the protrusion 7
The gap (g) between the lead frames 2 is 0.8 mm. By the way, the maximum particle diameter of the filler mixed in the sealing resin 3 is 150 μm (0.15 mm). Therefore, a space in which the sealing resin 3 containing the filler can sufficiently flow is secured in this gap.
【0032】図5は、従来一般的とされた方式により回
路基板6をリードフレーム2に接着した構造の、有限要
素法による解析用2次元数値モデルである。Oは、回路
基板6およびリードフレーム2の中心位置である。従来
は、一般的に、回路基板6の裏面全体をリードフレーム
2に接着剤10を用いて接着する構造がとられていた。
この接着構造で回路基板6全体を封止樹脂3中に埋設し
てしまうと、接着剤10の硬化時に残った多数の微小な
気泡が、トランスファモールド工程の熱により膨張して
潰れ、リードフレーム2や回路基板6の接着部と封止樹
脂3との密着界面付近で界面剥離する問題が発生しやす
かった。FIG. 5 shows a two-dimensional numerical model for analysis by the finite element method, which has a structure in which the circuit board 6 is bonded to the lead frame 2 by a conventional method. O is the center position of the circuit board 6 and the lead frame 2. Conventionally, generally, a structure has been adopted in which the entire back surface of the circuit board 6 is adhered to the lead frame 2 using an adhesive 10.
If the entire circuit board 6 is embedded in the sealing resin 3 with this adhesive structure, a large number of minute bubbles remaining when the adhesive 10 is cured expands and collapses due to the heat of the transfer molding process, and the lead frame 2 In addition, the problem of interface peeling was likely to occur in the vicinity of the contact interface between the adhesive portion of the circuit board 6 and the sealing resin 3.
【0033】特に、封止樹脂3の硬化後、パッケージ
(モールド樹脂)3を型から取出して常温まで冷却する
過程において、エポキシ樹脂等価線膨張係数が、リード
フレーム2の線膨張係数より大きく、かつ回路基板6の
線膨張係数もリードフレーム2よりさらに小さいため、
密着したエポキシ樹脂の収縮応力が回路基板6やリード
フレーム2に作用し、これが前記気泡の膨張と相俟っ
て、密着力の弱い部分に引張り応力が働き、境界面で剥
離が発生する。In particular, in the process of removing the package (mold resin) 3 from the mold after cooling the sealing resin 3 and cooling to room temperature, the epoxy resin equivalent linear expansion coefficient is larger than the linear expansion coefficient of the lead frame 2, and Since the linear expansion coefficient of the circuit board 6 is also smaller than that of the lead frame 2,
The contracting stress of the adhered epoxy resin acts on the circuit board 6 and the lead frame 2, which, in combination with the expansion of the bubbles, causes the tensile stress to act on the portion having a weak adhesive force, resulting in separation at the boundary surface.
【0034】特に、回路基板6と封止樹脂3との線膨張
係数差による熱応力(剥離せん断応力)集中が、形状の
急変する回路基板6の四隅付近に生じ、この部分で剥離
が発生するものである。この部分で剥離が起きると、使
用時の温度変化により更に剥離が進展する。この剥離が
遂には封止樹脂3のクラック、そして回路素子5の電気
的接続部であるはんだ付け部、ワイヤボンディング部の
断線に至る。Particularly, thermal stress (peeling shear stress) concentration due to the difference in linear expansion coefficient between the circuit board 6 and the sealing resin 3 occurs near the four corners of the circuit board 6 where the shape changes abruptly, and peeling occurs at these portions. It is a thing. When peeling occurs in this portion, the peeling progresses further due to the temperature change during use. This peeling eventually leads to cracks in the sealing resin 3 and breaks in the soldering portion and the wire bonding portion, which are the electrical connection portions of the circuit element 5.
【0035】ここで、回路基板6と封止樹脂3との界面
剥離メカニズムについてより詳細に説明する。トランス
ファモールド成形された封止樹脂3とリードフレーム2
とは一体化されているが、電子回路素子5、回路基板
6、リード2a等との材料物性値の組み合わせ、特に線
膨張係数の差により、封止樹脂3には、反りが生じる。Here, the mechanism of interface separation between the circuit board 6 and the sealing resin 3 will be described in more detail. Transfer molding encapsulation resin 3 and lead frame 2
However, the encapsulation resin 3 is warped due to the combination of the physical property values of the electronic circuit element 5, the circuit board 6, the leads 2a, and the like, particularly the difference in the linear expansion coefficient.
【0036】この反りは、図4の例では、封止樹脂3を
型から取出して冷却したとき、下側が凸方向に発生す
る。その理由は、一般に、エポキシ樹脂の融解温度は、
150〜200℃、ガラス転移温度Tgは、150℃前
後であり、型内で硬化する際の収縮があることと、融解
温度〜Tg間の線膨張係数がTg以下に比べて大きく
(約4倍)、エポキシ樹脂等価線膨張係数が回路基板6
の線膨張係数より大きいためである。In the example shown in FIG. 4, this warpage occurs in a convex direction on the lower side when the sealing resin 3 is taken out from the mold and cooled. The reason is that, in general, the melting temperature of epoxy resin is
150 to 200 ° C., glass transition temperature Tg is around 150 ° C., there is shrinkage during curing in the mold, and linear expansion coefficient between melting temperature and Tg is larger than Tg or less (about 4 times). ), The epoxy resin equivalent linear expansion coefficient is the circuit board 6
This is because it is larger than the linear expansion coefficient of.
【0037】例えば、回路基板6がガラス・セラミック
で、その線膨張係数を5.2ppm/℃、リードフレー
ム2の線膨張係数を17.5ppm/℃、封止樹脂3の
みかけの線膨張係数(すなわち、前記収縮率と、溶解温
度〜ガラス転移温度Tg間の線膨張係数と、ガラス転移
温度Tg〜室温までの線膨張係数とを合成したエポキシ
樹脂等価線膨張係数)を30ppm/℃とすると、それ
ぞれの線膨張係数差により、封止樹脂3に大きな収縮応
力が生じる。また、回路基板6の上面には回路素子5を
搭載するスペースが必要なため、回路基板6の位置は封
止樹脂3の高さ方向において中央或いはそれより下側に
配置される。このため樹脂3の厚さは、基板上部の方が
下部より厚く、その結果、樹脂3の収縮による引張り力
も回路基板6の上部の方が大きくなり、下側が凸とな
る。それによって回路基板6とリードフレーム2は、密
着したまま下側に凸となるものである。For example, the circuit board 6 is made of glass ceramic, its linear expansion coefficient is 5.2 ppm / ° C., the linear expansion coefficient of the lead frame 2 is 17.5 ppm / ° C., and the apparent linear expansion coefficient of the sealing resin 3 ( That is, when the shrinkage ratio, the linear expansion coefficient between the melting temperature and the glass transition temperature Tg, and the linear expansion coefficient of the glass transition temperature Tg to the room temperature are combined to 30 ppm / ° C, A large shrinkage stress is generated in the sealing resin 3 due to the difference in the linear expansion coefficients. Further, since a space for mounting the circuit element 5 is required on the upper surface of the circuit board 6, the position of the circuit board 6 is arranged at the center or below the height direction of the sealing resin 3. Therefore, the thickness of the resin 3 is thicker in the upper part of the substrate than in the lower part, and as a result, the tensile force due to the contraction of the resin 3 is larger in the upper part of the circuit board 6 and the lower side is convex. As a result, the circuit board 6 and the lead frame 2 are protruded downward while being in close contact with each other.
【0038】このような反りにより、回路基板6と封止
樹脂3との線膨張係数差による熱応力(剥離せん断応
力)集中が、回路基板6の四隅付近に生じるものであ
る。なお、封止樹脂3の厚さの上下比率、寸法形状等が
異なるときには、反りは下側に凹となる場合もある。し
たがって、本構造においては、接着界面の剥離が発生、
進展しない構造とすることが非常に重要な課題である。Due to such warpage, thermal stress (peeling shear stress) concentration due to the difference in linear expansion coefficient between the circuit board 6 and the sealing resin 3 occurs near the four corners of the circuit board 6. When the thickness ratio of the sealing resin 3 is different, the size and the shape are different, the warp may be concave downward. Therefore, in this structure, peeling of the adhesive interface occurs,
It is a very important issue to have a structure that does not progress.
【0039】回路基板6の材質は、回路素子5の大部分
を占めるシリコンチップに近い線膨張係数を有したもの
で、かつ封止樹脂3との線膨張係数差が少ないものが好
ましく、回路規模が大きくなると、小型化するには多層
の回路基板が好ましく、例えば積層ガラス・セラミック
基板、もしくはセラミック基板が好適である。しかしな
がら、前記接着構造では、既述したように基板の部分的
な剥離を防止することが困難であった。本実施形態で
は、前記問題について次のようにして対処し得るので、
界面剥離防止メカニズムを、図6、図19〜図21を参
照して説明する。The circuit board 6 is preferably made of a material having a linear expansion coefficient close to that of a silicon chip which occupies most of the circuit element 5 and having a small difference in linear expansion coefficient from the sealing resin 3. When the value becomes large, a multilayer circuit board is preferable for miniaturization, and for example, a laminated glass / ceramic board or a ceramic board is suitable. However, with the above-mentioned adhesive structure, it was difficult to prevent partial peeling of the substrate as described above. In this embodiment, since the problem can be dealt with as follows,
The interface peeling prevention mechanism will be described with reference to FIGS. 6 and 19 to 21.
【0040】図19〜図21は、本実施形態の具体的寸
法を示した実施例であり、図6は、この接着構造部分に
ついての有限要素法による解析用2次元数値モデルを示
したものである。ここで、各部材の代表物性値は、表1
のとおりである。FIGS. 19 to 21 are examples showing specific dimensions of the present embodiment, and FIG. 6 shows a two-dimensional numerical model for analysis by the finite element method for this bonded structure portion. is there. Here, the representative physical property values of each member are shown in Table 1.
It is as follows.
【0041】[0041]
【表1】 [Table 1]
【0042】図5と同じく、図6のOは、回路基板6お
よびリードフレーム2の中心位置である。本実施形態で
は、回路基板6及びリードフレーム2全体を封止樹脂3
で包み込むが、リードフレーム2は、回路基板6のうち
熱応力が非常に小さい中央付近の一部のみに突起7を介
して接着する。したがって、接着剤10の硬化時に微小
な気泡が多数接着剤中に残り、トランスファモールド工
程の熱により気泡が膨張しても、それは熱応力の小さい
個所で生じているものであるので、問題はなく、また、
封止樹脂3は、リードフレーム2と回路基板6との間に
も介在することで、基板6下側と基板6上側の肉厚のバ
ランスがとれ、それにより回路基板6の四隅付近の樹脂
による熱応力集中を緩和し、これらが相俟って、封止樹
脂3と回路基板6の四隅との剥離、ひいては、封止樹脂
3のクラックの発生を無くすることができる。As in FIG. 5, O in FIG. 6 is the center position of the circuit board 6 and the lead frame 2. In the present embodiment, the circuit board 6 and the entire lead frame 2 are covered with the sealing resin 3
However, the lead frame 2 is bonded to only a part of the circuit board 6 near the center where the thermal stress is very small through the projection 7. Therefore, when the adhesive 10 is cured, a large number of minute bubbles remain in the adhesive, and even if the bubbles expand due to the heat of the transfer molding process, they are generated at a portion where the thermal stress is small, so there is no problem. ,Also,
By interposing the sealing resin 3 also between the lead frame 2 and the circuit board 6, the thicknesses of the lower side of the board 6 and the upper side of the board 6 are balanced, whereby the resin near the four corners of the circuit board 6 is formed. The concentration of thermal stress can be relaxed, and in combination, the peeling between the sealing resin 3 and the four corners of the circuit board 6 and the occurrence of cracks in the sealing resin 3 can be prevented.
【0043】図7は、図5の従来構造と図6の本実施形
態に係る構造における、回路基板6の接着部の剥離せん
断応力を、有限要素法を用いてシミュレーション解析し
た結果の比較図であり、回路基板6と接着剤10との夫
々の界面A−A’(図5)、B−B’(図6)のせん断
応力分布を比較したものである。FIG. 7 is a comparison diagram of the results of a simulation analysis using a finite element method of the peeling shear stress of the adhesive portion of the circuit board 6 in the conventional structure of FIG. 5 and the structure of this embodiment of FIG. Yes, the shear stress distributions at the interfaces AA ′ (FIG. 5) and BB ′ (FIG. 6) between the circuit board 6 and the adhesive 10 are compared.
【0044】図7における横軸の原点(y=0)は、点
A、Bに対応している。これらの応力は、原点に近づく
に従い増加する分布を示しているため、点A、Bを起点
として界面の剥離を引き起こそうとする作用を持つが、
本実施形態の構造では、常に、従来構造の応力より著し
く小さいことが分かる。The origin (y = 0) on the horizontal axis in FIG. 7 corresponds to points A and B. Since these stresses have a distribution that increases as they approach the origin, they have the action of attempting to cause interface debonding starting from points A and B.
It can be seen that the structure of this embodiment is always significantly smaller than the stress of the conventional structure.
【0045】本実施形態では、前記のような効果を奏す
るほかに、次のような効果も奏し得る。即ち、回路機能
によっては高発熱素子が使用されるが、回路素子5のう
ち高発熱素子については、図4に示すように、該回路素
子5を基板中央、即ち突起7がある位置に相当する箇所
に配置すれば、突起7を介しての放熱効果を高めること
ができる。In addition to the above effects, the present embodiment can also provide the following effects. That is, although the high heat generating element is used depending on the circuit function, as shown in FIG. 4, the high heat generating element of the circuit elements 5 corresponds to the center of the substrate, that is, the position where the protrusion 7 is present. If it is arranged at a location, the heat radiation effect via the projection 7 can be enhanced.
【0046】なお、電子回路4で発生する熱の一部は、
回路基板6に実装された回路素子5の表面から封止樹脂
3の熱伝導で上部に放熱され、他の一部は、回路基板6
の下側封止樹脂3を介し、リードフレーム2の平面方向
にフランジ部2cを経由して、フランジと結合される外
部の相手部材(電子回路装置の取付け位置)に逃げる。Incidentally, a part of the heat generated in the electronic circuit 4 is
The surface of the circuit element 5 mounted on the circuit board 6 is radiated to the upper part by the heat conduction of the sealing resin 3, and the other part is radiated to the circuit board 6.
It escapes to the external mating member (mounting position of the electronic circuit device) connected to the flange via the lower sealing resin 3 and the flange portion 2c in the plane direction of the lead frame 2.
【0047】更に、図18に示すように、突起7の上部
に、回路基板6を介して回路素子5の高発熱素子を配置
するほかに、回路基板6のうち突起7上の箇所を熱伝導
の良い部材、いわゆるサーマルビア20を貫通して設
け、このサーマルビア20を介して高発熱素子5と突起
7とを接触させ、リードフレーム2に熱が伝導するよう
にすれば、回路素子5の温度上昇を低減することができ
る。Further, as shown in FIG. 18, in addition to disposing the high heat generating element of the circuit element 5 on the upper part of the protrusion 7 through the circuit board 6, the portion on the protrusion 7 of the circuit board 6 is thermally conducted. If the heat generating element 5 and the projection 7 are brought into contact with each other through the thermal via 20 so that the heat is conducted to the lead frame 2, the circuit element 5 of The temperature rise can be reduced.
【0048】図8は、リード2を切り離す前のリードフ
レーム2の第一の実施例の詳細を示したものであり、図
9は、第二の実施例の詳細を示したものである。ここ
で、前記第一及び第二の実施例において、図10で示す
ように、突起7と突起11とは、それぞれの高さが異な
っている。突起7の高さh1は、突起11の高さh2よ
り僅かに低く設定する。したがって、その差δが、接着
剤10の厚さとなる。FIG. 8 shows the details of the first embodiment of the lead frame 2 before the lead 2 is separated, and FIG. 9 shows the details of the second embodiment. Here, in the first and second embodiments, as shown in FIG. 10, the heights of the protrusion 7 and the protrusion 11 are different from each other. The height h1 of the protrusion 7 is set slightly lower than the height h2 of the protrusion 11. Therefore, the difference δ becomes the thickness of the adhesive 10.
【0049】突起7、11の高さが同一の場合には、回
路基板6を載置したとき、それぞれの高さ製作誤差、回
路基板6の平面度誤差(反り)によりばらつきが生じ、
どの部位が接しているか不特定となる。本実施形態の第
一及び第二の実施例の構造では、接着剤10が突起7に
塗布され、回路基板6が載置されたとき、所定範囲の接
着剤厚さδが得られるようにすることが重要である。When the heights of the protrusions 7 and 11 are the same, when the circuit board 6 is placed, variations occur due to respective height manufacturing errors and flatness errors (warpage) of the circuit board 6.
It is unspecified which part is in contact. In the structures of the first and second examples of the present embodiment, when the adhesive 10 is applied to the protrusions 7 and the circuit board 6 is placed, an adhesive thickness δ within a predetermined range is obtained. This is very important.
【0050】接着剤の厚さδは、一般には、薄い方が接
着強度は、高く、あまり厚いと強度は、低いと言われて
いる。しかしながら、薄すぎると、本実施形態の実施例
の構造の場合には、回路基板6とリードフレーム2との
線膨張係数差による応力歪みを吸収できないため、接着
界面の剥離が生じ易い。このため歪みを吸収でき、接着
力がある程度得られる最適な厚さがあり、その厚さを確
保できるようにしたものである。It is generally said that the thinner the adhesive thickness δ, the higher the adhesive strength, and the thicker the adhesive thickness, the lower the adhesive strength. However, if it is too thin, in the case of the structure of the example of the present embodiment, the stress strain due to the difference in linear expansion coefficient between the circuit board 6 and the lead frame 2 cannot be absorbed, so that the peeling of the adhesive interface is likely to occur. Therefore, there is an optimum thickness capable of absorbing the strain and obtaining an adhesive force to some extent, and the thickness can be secured.
【0051】接着剤厚さδが製品個々に異なっている
と、あるものは、接着力が不十分となり、トランスファ
モールド成形後、又は、使用環境条件、特に、温度変化
によって剥離が生じる恐れがある。剥離が生じると、そ
の部分での熱抵抗が増大し、リードフレーム2から伝導
する熱量が減少して回路素子5の温度上昇が高くなる。
また、この剥離が起点となり、回路基板6と封止樹脂3
との密着界面付近に影響を及ぼし、その部分で界面剥離
に進展する。When the adhesive thickness δ is different for each product, some of them have insufficient adhesive strength, and peeling may occur after transfer molding or under use environment conditions, particularly, temperature change. . When peeling occurs, the thermal resistance at that portion increases, the amount of heat conducted from the lead frame 2 decreases, and the temperature rise of the circuit element 5 increases.
Further, this peeling serves as a starting point, and the circuit board 6 and the sealing resin 3
Affects the vicinity of the adhesion interface with and develops interfacial peeling at that part.
【0052】この種の接着剤、例えばエポキシ接着剤の
場合は、リードフレーム2および回路基板6との相性が
良いもの、特に、作業時や硬化直前の粘度、引張り強
度、線膨張係数、ヤング率、熱伝導率、伸び率等の物性
値が考慮される。このため、エポキシ成分には、無機質
充填剤、カーボン等のフィラーを所定量含有させてお
り、無機質充填剤としては、数〜数十μm程度の最大粒
径を有した石英粉、アルミナ粉が一般的に使用されてい
る。In the case of this kind of adhesive, for example, an epoxy adhesive, an adhesive having a good compatibility with the lead frame 2 and the circuit board 6, particularly, viscosity during work or immediately before curing, tensile strength, linear expansion coefficient, Young's modulus , Physical properties such as thermal conductivity and elongation are taken into consideration. Therefore, the epoxy component contains a predetermined amount of an inorganic filler, a filler such as carbon, and the inorganic filler is generally quartz powder or alumina powder having a maximum particle diameter of several to several tens of μm. Is being used for.
【0053】したがって、この場合、回路基板6を載置
した際の接着剤厚さδは、この粒径より薄くはならない
が、前記したように歪みの吸収ができず、また厚くなり
すぎるものが生じると、接着力の低下を招く。この厚さ
を所定の範囲に得られるようにすることが、接着力ばら
つきを小さくするとともに、接着信頼性を確保できるこ
とになる。Therefore, in this case, the adhesive thickness δ when the circuit board 6 is mounted is not thinner than this particle size, but as described above, the strain cannot be absorbed and the adhesive thickness becomes too thick. When it occurs, the adhesive strength is reduced. By making this thickness within a predetermined range, it is possible to reduce the variation in the adhesive force and ensure the adhesive reliability.
【0054】ここで、接着剤厚さδの値として、表1、
図19〜図21の実施例では、30μmから200μm
が最適値であった。接着剤厚さδが厚すぎると、前記し
た接着力低下のほか、回路基板6とリードフレーム2と
の接合部における熱抵抗が大きくなる問題がある。接着
剤10を熱伝導率の大きい材料、例えば銀を含有した導
電性エポキシ樹脂とすることも考えられるが、接着力が
低い、価格が高い等の問題がある。したがって、接着剤
基材の種類と、含有物の種類、その配合比率等により前
記した接着剤厚さδは、個々に異なるため、選定したも
のに対する最適値を決定する必要がある。Here, as the value of the adhesive thickness δ, as shown in Table 1,
In the examples of FIGS. 19 to 21, 30 μm to 200 μm
Was the optimum value. If the adhesive thickness δ is too thick, there is a problem that the above-mentioned adhesive strength is reduced and the thermal resistance at the joint between the circuit board 6 and the lead frame 2 is increased. The adhesive 10 may be made of a material having a high thermal conductivity, for example, a conductive epoxy resin containing silver, but there are problems such as low adhesive strength and high price. Therefore, the adhesive thickness δ described above differs depending on the type of adhesive base material, the type of inclusions, the blending ratio thereof, etc., and therefore it is necessary to determine the optimum value for the selected one.
【0055】接着剤10の厚さδのばらつきを小さくす
るため、図8の第一の実施例では回路基板6の支持部と
して突起11を4箇所設けている。回路基板6を載置し
たとき、突起7と突起11のそれぞれの高さの製作誤
差、回路基板6の平面度誤差(反り)により、一箇所は
回路基板6の下面に接しない場合があるが、予めそれぞ
れの前記誤差を考慮し、接着剤10の厚さδが所定値確
保できるようにしておく。In order to reduce variations in the thickness δ of the adhesive 10, in the first embodiment shown in FIG. 8, four protrusions 11 are provided as support portions for the circuit board 6. When the circuit board 6 is placed, there may be a case where one portion is not in contact with the lower surface of the circuit board 6 due to manufacturing errors of the heights of the projections 7 and the projections 11 and a flatness error (warpage) of the circuit board 6. The thickness δ of the adhesive 10 can be ensured to have a predetermined value in consideration of the respective errors.
【0056】図9の第二の実施例では、回路基板6の支
持部として突起11を3箇所設けている。3点支持とす
ることにより、回路基板6を載置したとき必ず3点が回
路基板6の下面に接するため、4点支持のようにどの部
位が接するか、不特定にはならない。この場合には、突
起11と回路基板6との接触状態が全て同一となり、そ
の部分での封止樹脂3、回路基板6、リードフレーム2
相互の密着性に関してバランスし、偏りが生じない利点
がある。リードフレーム2は、突起7、突起11の他、
回路搭載部2′、リード2a、ボンディング部2b、フ
ランジ部2c、孔部2d、つなぎ部2e、フレーム部2
f、切り欠き2gからなり、これらをプレス加工で形成
する。In the second embodiment shown in FIG. 9, the projections 11 are provided at three places as the supporting portions of the circuit board 6. With the three-point support, when the circuit board 6 is placed, the three points always come into contact with the lower surface of the circuit board 6, so that it is not unspecified which portion comes in contact with the four-point support. In this case, the contact states of the protrusion 11 and the circuit board 6 are all the same, and the sealing resin 3, the circuit board 6, and the lead frame 2 in that portion are the same.
There is an advantage that the mutual adhesiveness is balanced and no bias occurs. The lead frame 2 includes the protrusions 7 and 11,
Circuit mounting portion 2 ', lead 2a, bonding portion 2b, flange portion 2c, hole portion 2d, connecting portion 2e, frame portion 2
f and notches 2g, which are formed by pressing.
【0057】次に、図10の突起7と突起11との形状
を、プレス加工で形成する方法について詳細を説明す
る。突起7と突起11とも、絞り加工もしくは張出し加
工(以降は総称して絞り加工として表現する)により成
形するが、いわゆる2回絞り加工で形成する。リードフ
レーム2の材料硬度が低ければ、1回絞りで形成できる
が、硬度が高いと材料の伸び率が小さく、平面から絞り
に至る応力集中部付近で、材料に亀裂が生じ易い。本実
施形態の構造では、例えば、材料がリン青銅、硬度がH
v120(ヴィッカース硬度120)、伸び率5%の場
合、1回絞りでは亀裂が生じたが、伸び率10%の材料
では生じなかった。また、2回絞りでは、5%の伸び率
でも亀裂は生じず、好結果を得た。リードフレーム2の
材料硬度が低いと強度も低く、実機装着した際の耐振性
を高めるためには、硬度は高い方が好ましい。Next, a method for forming the shapes of the protrusion 7 and the protrusion 11 of FIG. 10 by pressing will be described in detail. Both the protrusion 7 and the protrusion 11 are formed by drawing or overhanging (hereinafter collectively referred to as drawing), but they are formed by so-called double drawing. If the material hardness of the lead frame 2 is low, it can be formed by drawing once, but if the hardness is high, the elongation rate of the material is small, and cracks are likely to occur in the material near the stress concentration portion from the flat surface to the drawing. In the structure of this embodiment, for example, the material is phosphor bronze and the hardness is H.
In the case of v120 (Vickers hardness 120) and the elongation rate of 5%, cracking occurred at one drawing, but it did not occur in the material having the elongation rate of 10%. Further, in the case of drawing twice, cracks did not occur even at an elongation of 5%, and good results were obtained. If the material hardness of the lead frame 2 is low, the strength is also low, and it is preferable that the hardness is high in order to enhance the vibration resistance when mounted on an actual machine.
【0058】図11は、図10の形状を得るための2回
絞りを行う前の、1回絞り時の形状例を示したものであ
る。突起7と突起11のそれぞれの高さは、h1’とh
2’で、図10のh1とh2より若干高く設定してい
る。そして2回目の絞りで、図10の形状を得る。FIG. 11 shows an example of the shape at the time of one stop before performing the twice stop to obtain the shape of FIG. The heights of the protrusion 7 and the protrusion 11 are h1 ′ and h, respectively.
2'is set slightly higher than h1 and h2 in FIG. Then, the shape of FIG. 10 is obtained by the second stop.
【0059】図10の形状において、突起10の上面
は、外径dに対して平坦領域が極力広く得られるように
している。1回絞りでこの形状を得ようとすると、前記
した亀裂が生じやすくなるため、上面平坦領域を広くと
れない。平坦領域は接着剤10の接着力を高くするに
は、ある程度広くすることが必要で、2回絞りは効果的
である。In the shape shown in FIG. 10, the upper surface of the protrusion 10 has a flat area as wide as possible with respect to the outer diameter d. If this shape is obtained by drawing once, the above-mentioned cracks are likely to occur, so that the flat upper surface region cannot be made large. The flat area needs to be widened to some extent in order to increase the adhesive strength of the adhesive 10, and the double drawing is effective.
【0060】突起11については、その上面は回路基板
6と接触するのみで、接着しないため、機能的には球面
でも差し支えないが、高さ寸法h2を測定する際、また
はプレス型の製作精度の点から、小面積でも平面があっ
た方がよい。また下面の凹み部11aは、板厚tの一部
を潰して形成しているが、周囲の肉を寄せて同一板厚で
形成する方法より、その付近の残留応力を低減する効果
がある。この残留応力が大きいと、トランスファモール
ド成形時の熱によってリードフレーム2の変形が大きく
なり、封止樹脂3との密着界面の局部的な熱応力変位が
発生し、剥離し易くなる問題がある。The upper surface of the protrusion 11 only comes into contact with the circuit board 6 and does not adhere to it. Therefore, the protrusion 11 may be a spherical surface in terms of function, but when the height dimension h2 is measured or when the press die is manufactured with accuracy. From the point, it is better to have a flat surface even in a small area. Further, the recessed portion 11a on the lower surface is formed by crushing a part of the plate thickness t, but it has an effect of reducing residual stress in the vicinity thereof, as compared with the method of forming the plate thickness t to have the same plate thickness. If the residual stress is large, the lead frame 2 is largely deformed by heat during transfer molding, and a local thermal stress displacement occurs at the contact interface with the encapsulating resin 3 to cause easy peeling.
【0061】図8及び図9に示されているように、アル
ミの細線8をワイヤボンディング接続するための表面部
分(ボンディングパッド)2bには、表面が酸化されな
いようにニッケルメッキ、銀メッキ等が部分的に施され
る。フランジ部2cは、相手部材に固定するためのも
の、孔2dは、組立時の治具を位置決めするために設け
たものである。As shown in FIGS. 8 and 9, the surface portion (bonding pad) 2b for connecting the aluminum thin wire 8 by wire bonding is plated with nickel, silver or the like to prevent the surface from being oxidized. Partially applied. The flange portion 2c is for fixing to a mating member, and the hole 2d is provided for positioning a jig during assembly.
【0062】切り欠き2gは、方向性を決めるもので、
製作誤差で生じるトランスファモールド成形時の型合わ
せ誤差を少なくする目的で設けている。また、この型に
図12で示すサブアッセンブリをセットする際、逆方向
にならないようにする目的も兼ねている。この切り欠き
2gは、リードフレーム2が対称形状の場合、表裏が識
別できる任意の形状、位置を選定すればよい。The notch 2g determines the directionality,
It is provided for the purpose of reducing the mold alignment error at the time of transfer molding that is caused by manufacturing error. Further, when the sub-assembly shown in FIG. 12 is set in this mold, it also serves the purpose of preventing it from going in the opposite direction. When the lead frame 2 has a symmetrical shape, the notch 2g may be selected to have an arbitrary shape and position that can identify the front and back.
【0063】なお、つなぎ部2eとフレーム部2fとフ
ランジ部2cとで閉ループ構成となっている理由は、こ
の部分をトランスファモールド成形型で上下間を締め付
けることにより、型内でエポキシ樹脂が融解して液状に
なった際でも、この閉ループ部により、液状樹脂が外側
に洩れないようにするためである。The connecting portion 2e, the frame portion 2f, and the flange portion 2c have a closed loop structure because the epoxy resin is melted in the die by tightening this portion with a transfer mold. This is to prevent the liquid resin from leaking to the outside even when it becomes liquid by the closed loop portion.
【0064】嵌合するリード2aの幅とモールド型との
間には、製作誤差による隙間ができるため、この部分で
液状のエポキシ樹脂が外部に洩れるが、閉ループ構成と
なっていることにより、そのループ内で、硬化後に薄い
バリとして残り、このバリは後工程で除去される。Since a gap due to a manufacturing error is formed between the width of the lead 2a to be fitted and the mold, the liquid epoxy resin leaks to the outside at this portion, but due to the closed loop structure, In the loop, after curing, it remains as a thin burr that will be removed in a later step.
【0065】図12は、本実施形態の電子回路4を構成
した回路基板6をリードフレーム2に載置し、この回路
基板6を突起7に接着したサブアッセンブリ状態を示す
ものである。接着剤10は、熱伝導の良いエポキシ樹
脂、アクリル樹脂等の材質で、突起7の上部に塗布した
後、回路基板6を載置する。回路基板6は、接着剤10
の硬化の加熱工程で液状化した際自重で下がるが、予め
突起11は突起7より高く設定しているため、その分以
上には下がらず、所定厚さの接着層が形成されることに
なる。接着剤10は、基板6と突起7とが隙間なく所定
の層厚で結合できるよう、最適な粘度を有したものが選
定される。FIG. 12 shows a sub-assembly state in which the circuit board 6 constituting the electronic circuit 4 of the present embodiment is placed on the lead frame 2 and the circuit board 6 is bonded to the projection 7. The adhesive 10 is made of a material such as epoxy resin or acrylic resin having good thermal conductivity, and is applied on the upper portion of the protrusion 7 and then the circuit board 6 is mounted. The circuit board 6 has an adhesive 10
When it is liquefied in the heating step of curing, it falls by its own weight, but since the protrusion 11 is set higher than the protrusion 7 in advance, it does not fall more than that amount, and an adhesive layer with a predetermined thickness is formed. . The adhesive 10 is selected to have an optimum viscosity so that the substrate 6 and the protrusion 7 can be bonded to each other with a predetermined layer thickness without a gap.
【0066】図13は、図12に示されているサブアッ
センブリの平面図、図14は、その断面図で、ワイヤボ
ンディング作業するための治具の状態を示す図である。
前記接着作業が終了した後、リードフレーム2のリード
2aの上下部を上治具12、下治具13で挟み込むとと
もに、基板6の下部を吸着治具14で真空吸着し、サブ
アッセンブリが動かないように保持する。そしてアルミ
細線8を熱圧着、超音波等のワイヤボンディング法によ
り、電子回路4とリード2aとを電気的に接続する。FIG. 13 is a plan view of the sub-assembly shown in FIG. 12, and FIG. 14 is a cross-sectional view showing a state of a jig for wire bonding work.
After the bonding work is completed, the upper and lower portions of the lead 2a of the lead frame 2 are sandwiched by the upper jig 12 and the lower jig 13, and the lower portion of the substrate 6 is vacuum-sucked by the suction jig 14, so that the sub-assembly does not move. To hold. Then, the aluminum thin wire 8 is electrically connected to the electronic circuit 4 and the lead 2a by a thermocompression bonding or a wire bonding method such as ultrasonic wave.
【0067】ワイヤボンディング作業が終了した後、図
13の点線で示す部分の封止樹脂3でトランスファモー
ルド成形する。この成形後、リードフレーム2のつなぎ
部2e、フレーム部2fを切断し、複数の独立したリー
ド2aを形成するとともに、フランジ部2cを所定の形
状に窓抜き加工、および折り曲げ加工することにより、
コントロールユニット1が完成する。After the wire bonding work is completed, transfer molding is performed with the sealing resin 3 in the portion shown by the dotted line in FIG. After this molding, the connecting portion 2e and the frame portion 2f of the lead frame 2 are cut to form a plurality of independent leads 2a, and the flange portion 2c is punched and bent into a predetermined shape,
The control unit 1 is completed.
【0068】図15は、本実施形態に係る電子回路装置
を外部の相手部材に装着する構造を示す部分平面図、図
16は、その断面図、図17は、その部分断面図であ
る。本実施形態では、一例として電子回路装置1を、自
動車のトランスミッションに取り付けるものを例示して
おり、電子回路装置1を取り付ける場合には、以下に述
べるようにブラケット15でフランジ部2cを押えて固
定する。FIG. 15 is a partial plan view showing a structure for mounting the electronic circuit device according to this embodiment on an external mating member, FIG. 16 is a sectional view thereof, and FIG. 17 is a partial sectional view thereof. In the present embodiment, as an example, the electronic circuit device 1 is attached to a transmission of an automobile. When the electronic circuit device 1 is attached, the flange portion 2c is pressed and fixed by the bracket 15 as described below. To do.
【0069】取付部分は、第一のブラケット15、第二
のブラケット16、座金17、ボルト18で構成され
る。第一のブラケット15には、図示していないセン
サ、コネクタ、ワイヤハーネス等の部品が搭載される。
第一のブラケット15の一部に舌片15aを複数設け、
第二のブラケット16の小孔16aに挿入して先端部を
折り曲げ、両者を一体化している。The mounting portion comprises a first bracket 15, a second bracket 16, a washer 17, and a bolt 18. Components such as a sensor, a connector, and a wire harness (not shown) are mounted on the first bracket 15.
A plurality of tongue pieces 15a are provided on a part of the first bracket 15,
The second bracket 16 is inserted into the small hole 16a and the tip is bent to integrate the two.
【0070】フランジ部2cは、第一と第二のブラケッ
ト15、16間に挟まれる。ボルト18は、フランジ部
2cを回避して、ブラケット15、16を通して締め付
けられる。これによって、フランジ部2cは、ブラケッ
ト15、16で挟持され、座金17、第二のブラケット
16、第一のブラケット15とともに相手部材、例えば
トランミッションのボディに共締めされる形となる。こ
のような取り付け構造によれば、次のような点を改善で
きる。The flange portion 2c is sandwiched between the first and second brackets 15 and 16. The bolt 18 is tightened through the brackets 15 and 16 while avoiding the flange portion 2c. As a result, the flange portion 2c is sandwiched between the brackets 15 and 16, and is fastened together with the washer 17, the second bracket 16, and the first bracket 15 to the mating member, for example, the body of the transmission. With such a mounting structure, the following points can be improved.
【0071】即ち、フランジ部2cに、ボルト固定用の
孔を設ける構造では、フランジ部2cの面積を、その分
大きくしなければならず、それによって、リードフレー
ム2の外側を大きくする必要があり、トランスファモー
ルド成形で製品を一度に多数個取りする場合に、その取
り数が少なくなる欠点がある。最小限のフランジ大きさ
とし、後述するように、これをブラケットで固定する方
式により、この欠点をなくすことができる。That is, in the structure in which the holes for fixing bolts are provided in the flange portion 2c, the area of the flange portion 2c must be increased by that amount, and thus the outside of the lead frame 2 must be increased. However, when a large number of products are taken at one time by transfer molding, there is a drawback that the number taken is small. This defect can be eliminated by using a minimum flange size and fixing it with a bracket as described later.
【0072】さらに、既述したように封止樹脂3は、モ
ールド成形時に熱収縮応力により下側が凸状態になるこ
ともある。相手部材が平面状態のとき、例えば下側に凸
状態で封止樹脂3の下面が直接この面に接したまま、リ
ードフレーム2のフランジ部2cを固定すると、封止樹
脂3の中央部が相手部材に拘束される。それにより、封
止樹脂3の反りを矯正するような形となるため、封止樹
脂3とリードフレーム2との接着界面に、過大な応力が
働き、両者間が剥離する恐れがある。Further, as described above, the sealing resin 3 may be convex on the lower side due to heat shrinkage stress during molding. When the mating member is in a planar state, for example, when the flange portion 2c of the lead frame 2 is fixed while the lower surface of the encapsulating resin 3 is in direct contact with this surface in a convex state on the lower side, the central portion of the encapsulating resin 3 is opposed. Be restrained by members. As a result, the warping of the sealing resin 3 is corrected, so that excessive stress acts on the bonding interface between the sealing resin 3 and the lead frame 2, and there is a risk of peeling between the two.
【0073】前記した構造によれば、ブラケット15が
スペーサとしての機能もなすことで、相手部材と封止樹
脂3下面との間に隙間を設け、リードフレーム2の最外
形付近に設けたフランジ部2cのみを押えるようにでき
る。したがって、上記したような過大な応力は回避で
き、剥離の不具合は生じない。また、第一のブラケット
15と第二のブラケット16により、リードフレーム2
のフランジ部2cを挟み、舌片15aを折り曲げて一体
化したため、相手部材に装着する際、取扱いが容易とな
る利点も有する。According to the above-described structure, the bracket 15 also functions as a spacer, so that a gap is provided between the mating member and the lower surface of the sealing resin 3, and the flange portion provided near the outermost shape of the lead frame 2 is provided. Only 2c can be pressed. Therefore, the excessive stress as described above can be avoided, and the problem of peeling does not occur. Further, the lead frame 2 is formed by the first bracket 15 and the second bracket 16.
Since the flange portion 2c is sandwiched and the tongue piece 15a is bent and integrated, there is also an advantage that it can be easily handled when it is mounted on a mating member.
【0074】[0074]
【発明の効果】以上の記載から理解できるように、本発
明の電子回路装置は、リードフレームの中央付近と、電
子回路基板外形より小さい範囲部分とにそれぞれ突起を
設け、中央付近の突起を他の突起より所定値低くし、こ
の中央付近の突起のみに電子回路基板を接着する構造と
したため、その接着層が薄すぎることなく、かつ厚すぎ
ることなく、最適な厚さを確保でき、基板と封止樹脂と
の界面剥離やクラック発生を防止できる。そのため、電
子回路基板やそのリードフレームまでをもモールド樹脂
によりパッケージ化することを、低コストで実現でき、
放熱性、防水性に優れに自動車用電子回路装置を提供す
ることができる。As can be understood from the above description, in the electronic circuit device of the present invention, protrusions are provided in the vicinity of the center of the lead frame and in the area smaller than the outer shape of the electronic circuit board, and the protrusions near the center are Since it has a structure in which the electronic circuit board is bonded only to the protrusions near the center by making it a predetermined value lower than the protrusions, the optimum thickness can be secured without the adhesive layer being too thin and not too thick. It is possible to prevent peeling of the interface with the sealing resin and generation of cracks. Therefore, it is possible to package the electronic circuit board and its lead frame with molding resin at low cost.
It is possible to provide an automobile electronic circuit device having excellent heat dissipation and waterproof properties.
【図1】本発明の一実施形態に係る自動車用電子回路装
置の一部を破断した平面図。FIG. 1 is a partially cutaway plan view of an automobile electronic circuit device according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の自動車用電子回路装置の一部を判断した
側面図。FIG. 2 is a side view of a part of the automobile electronic circuit device shown in FIG.
【図3】図1の自動車用電子回路装置の一部を判断した
他の側面図。FIG. 3 is another side view of a part of the electronic circuit device for automobiles of FIG.
【図4】図1の自動車用電子回路装置の要部断面図。4 is a cross-sectional view of a main part of the automobile electronic circuit device of FIG.
【図5】従来の基板をリードフレームに接着する構造の
2次元数値モデル。FIG. 5 is a two-dimensional numerical model of a structure in which a conventional substrate is bonded to a lead frame.
【図6】本実施形態の基板をリードフレームに接着する
構造の2次元数値モデル。FIG. 6 is a two-dimensional numerical model of a structure in which the substrate of the present embodiment is bonded to a lead frame.
【図7】従来構造と本実施形態における基板接着部の剥
離せん断応力を、有限要素法を用いてシミュレーション
解析した結果を示す説明図。FIG. 7 is an explanatory diagram showing the results of a simulation analysis of the peeling shear stress of the substrate bonding portion in the conventional structure and the present embodiment using the finite element method.
【図8】本実施形態の第一の実施例であるリードフレー
ムの詳細を示す平面図。FIG. 8 is a plan view showing details of a lead frame that is a first example of the present embodiment.
【図9】本実施形態の第二の実施例であるリードフレー
ムの詳細を示す平面図。FIG. 9 is a plan view showing details of a lead frame that is a second example of the embodiment.
【図10】図8及び図9のリードフレームの突起のCC
断面図とDD断面図。FIG. 10 is a CC of the protrusion of the lead frame of FIGS. 8 and 9;
Sectional drawing and DD sectional view.
【図11】図10の突起の形状を形成するためのプレス
1回絞り形状を示す断面図。11 is a cross-sectional view showing a shape of a single press of the press for forming the shape of the protrusion of FIG.
【図12】本実施形態の電子回路を構成した基板を、リ
ードフレームに接着したサブアッセンブリ状態を示す断
面図。FIG. 12 is a cross-sectional view showing a sub-assembly state in which a substrate that constitutes the electronic circuit of the present embodiment is bonded to a lead frame.
【図13】本実施形態の電子回路装置のサブアッセンブ
リの平面図。FIG. 13 is a plan view of a subassembly of the electronic circuit device of this embodiment.
【図14】図13の電子回路装置のサブアッセンブリを
ワイヤボンディング作業する状態を示す図。FIG. 14 is a view showing a state of performing a wire bonding operation on the subassembly of the electronic circuit device of FIG.
【図15】図13の電子回路装置を外部の相手部材に装
着する構造を示す部分平面図。FIG. 15 is a partial plan view showing a structure for mounting the electronic circuit device of FIG. 13 on an external mating member.
【図16】図15の電子回路装置の側面断面図。16 is a side sectional view of the electronic circuit device of FIG.
【図17】図15の電子回路装置の部分断面図。17 is a partial cross-sectional view of the electronic circuit device of FIG.
【図18】本発明の他の実施形態の電子回路装置の要部
断面図。FIG. 18 is a cross-sectional view of essential parts of an electronic circuit device according to another embodiment of the present invention.
【図19】図4の実施形態の電子回路装置の具体的な実
施寸法例を示す断面図。FIG. 19 is a cross-sectional view showing an example of specific implementation dimensions of the electronic circuit device of the embodiment of FIG.
【図20】図1の実施形態の電子回路装置の具体的な実
施寸法例示す一部破断した平面図。FIG. 20 is a partially cutaway plan view showing an example of specific implementation dimensions of the electronic circuit device according to the embodiment of FIG. 1;
【図21】図20の実施形態の電子回路装置の一部破断
した側面図。21 is a partially cutaway side view of the electronic circuit device according to the embodiment of FIG. 20. FIG.
1…コントロールユニット(電子回路装置) 2…リードフレーム 2a…リード 2c…フランジ部 3…封止樹脂 4…電子回路 5…電子回路素子 6…回路基板 7…突起 11…突起 1 ... Control unit (electronic circuit device) 2 ... Lead frame 2a ... lead 2c ... Flange part 3 ... Sealing resin 4 ... Electronic circuit 5 ... Electronic circuit element 6 ... Circuit board 7 ... Protrusion 11 ... Protrusion
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 雪田 寿 茨城県ひたちなか市大字高場2520番地 株 式会社日立製作所自動車機器グループ内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page (72) Inventor Hisashi Yukita Hitachinaka City, Ibaraki Prefecture 2520 Takaba Ceremony Company Hitachi Ltd. Automotive equipment group
Claims (10)
回路基板を搭載するリードフレームとを備え、前記回路
基板と前記リードフレームの一部を除いた部分とが一括
してモールド樹脂に埋設された自動車用電子回路装置で
あって、 前記リードフレームは、その中央付近に第一の突起と該
突起の周囲に複数の第二の突起を設け、前記第一の突起
を前記第二の突起より所定値その高さを低くし、前記第
一の突起のみに前記回路基板を接着していることを特徴
とする自動車用電子回路装置。1. A circuit board on which an electronic circuit element is mounted and a lead frame on which the circuit board is mounted are provided, and the circuit board and a portion excluding a part of the lead frame are collectively molded resin. An embedded electronic circuit device for an automobile, wherein the lead frame is provided with a first protrusion in the vicinity of the center thereof and a plurality of second protrusions around the protrusion, and the first protrusion is provided with the second protrusion. An electronic circuit device for an automobile, wherein a height of the protrusion is lower than a predetermined value, and the circuit board is bonded only to the first protrusion.
外周よりも前記第一の突起側に配置されていることを特
徴とする請求項1に記載の自動車用電子回路装置。2. The electronic circuit device for an automobile according to claim 1, wherein the plurality of second protrusions are arranged closer to the first protrusion than an outer periphery of the circuit board.
の突起は、三個若しくは4個であることを特徴とする請
求項1又は2に記載の自動車用電子回路装置。3. The electronic circuit device for an automobile according to claim 1, wherein the first protrusion is one and the second protrusion is three or four.
ドとを備え、前記回路基板と前記リードとが電気的に接
続され、該リード及び前記フランジの一部を除いて一括
してモールド樹脂に埋設されていることを特徴とする請
求項1乃至3いずれか一項に記載の自動車用電子回路装
置。4. The lead frame includes a flange portion and a lead, the circuit board and the lead are electrically connected to each other, and the lead frame and the flange are partially embedded in a molding resin except for a part thereof. The electronic circuit device for an automobile according to claim 1, wherein the electronic circuit device is for an automobile.
レームをプレス加工して形成されている請求項1乃至4
の何れか一項に記載の自動車用電子回路装置。5. The first and second protrusions are formed by pressing the lead frame.
The electronic circuit device for an automobile according to any one of 1.
突出した部分が取り付け部とされ、該フランジ部を介し
て回路基板の熱が外部に熱伝導される構造であることを
特徴とする請求項4に記載の自動車用電子回路装置。6. A structure in which a portion of the flange portion protruding from the mold resin is used as a mounting portion, and heat of the circuit board is conducted to the outside through the flange portion. The electronic circuit device for an automobile according to.
いはセラミックを主体とした材質であることを特徴とす
る請求項1乃至6のいずれか一項記載の自動車用電子回
路装置。7. The electronic circuit device for an automobile according to claim 1, wherein the circuit board is made of glass-ceramic or ceramic-based material.
ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載
の自動車用電子回路装置。8. The electronic circuit device for an automobile according to claim 1, wherein the circuit board is a multilayer circuit board.
載の自動車用電子回路装置の取り付け構造において、自
動車側の第一のブラケットと第二のブラケットとの間に
前記リードフレームのフランジ部を挟持してボルト等で
締結固定したことを特徴とする自動車用電子回路装置の
取り付け構造。9. The automobile electronic circuit device mounting structure according to claim 1, wherein the flange of the lead frame is provided between the first bracket and the second bracket on the automobile side. An electronic circuit device mounting structure for an automobile, characterized in that the parts are sandwiched and fastened and fixed by bolts or the like.
た舌片を、前記第二のブラケットに設けた小孔に挿入し
て、先端部を折り曲げ、両者を一体化したことを特徴と
する請求項9に記載の自動車用電子回路装置の取り付け
構造。10. A plurality of tongue pieces provided in a part of the first bracket are inserted into a small hole provided in the second bracket, and a tip portion is bent to integrate the both. The mounting structure for an automobile electronic circuit device according to claim 9.
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7706104B2 (en) | 2003-09-18 | 2010-04-27 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Rotating disk storage device having a carriage formed with non-binding pads |
| JP2010530622A (en) * | 2007-06-21 | 2010-09-09 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | Electrical components |
| JP2011003681A (en) * | 2009-06-18 | 2011-01-06 | Hitachi Automotive Systems Ltd | Electronic control unit |
-
2001
- 2001-08-30 JP JP2001261987A patent/JP2003068970A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7706104B2 (en) | 2003-09-18 | 2010-04-27 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Rotating disk storage device having a carriage formed with non-binding pads |
| JP2010530622A (en) * | 2007-06-21 | 2010-09-09 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | Electrical components |
| JP2011003681A (en) * | 2009-06-18 | 2011-01-06 | Hitachi Automotive Systems Ltd | Electronic control unit |
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